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JP7259913B2 - Adhesive sheet with support - Google Patents

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JP7259913B2 JP2021170850A JP2021170850A JP7259913B2 JP 7259913 B2 JP7259913 B2 JP 7259913B2 JP 2021170850 A JP2021170850 A JP 2021170850A JP 2021170850 A JP2021170850 A JP 2021170850A JP 7259913 B2 JP7259913 B2 JP 7259913B2
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Description

本発明は、支持体付き接着シート;当該支持体付き接着シートを用いる回路基板に関する。 TECHNICAL FIELD The present invention relates to an adhesive sheet with a support; a circuit board using the adhesive sheet with a support.

プリント配線板の製造技術として、絶縁層と導体層とを交互に積み重ねるビルドアップ方式による製造方法が知られている。ビルドアップ方式による製造方法において、絶縁層は、例えば、樹脂組成物層/支持体の層構成を有する接着シートを用いて樹脂組成物層を回路基板上に積層した後、樹脂組成物層を硬化させることにより形成することができる(特許文献1)。 2. Description of the Related Art As a technique for manufacturing a printed wiring board, a manufacturing method using a build-up method in which insulating layers and conductor layers are alternately stacked is known. In the build-up manufacturing method, the insulating layer is formed by, for example, laminating a resin composition layer on a circuit board using an adhesive sheet having a layer structure of a resin composition layer/support, and then curing the resin composition layer. (Patent Document 1).

特開2016-20480号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2016-20480

接着シートを用いてプリント配線板の絶縁層を効率よく形成する方法として、真空ラミネート装置により回路基板に絶縁層を形成する方法が提案されている。 As a method of efficiently forming an insulating layer on a printed wiring board using an adhesive sheet, a method of forming an insulating layer on a circuit board using a vacuum laminator has been proposed.

本発明者らは、昨今の小型化の要求に応えるために、コンデンサ等の部品を内蔵させた部品内蔵回路基板に絶縁層を形成することを検討した。真空ラミネート装置を用いて部品内蔵回路基板に絶縁層を形成するにあたって、部品内蔵回路基板の部品が配される凹部に樹脂組成物層を埋め込むことがある。しかし、例えば、無機充填材を多く含んだ樹脂組成物においては、樹脂組成物層の流動性(部品埋め込み性)が低く、回路基板と樹脂組成物層との間に隙間が発生しやすいとの知見を得た。そこで、凹部に配される部品を十分に埋め込むために樹脂組成物層の流動性(部品埋め込み性)を向上させることが求められ、そのために樹脂組成物層の溶融粘度を低くする工夫が求められる。 In order to meet the recent demand for miniaturization, the present inventors have studied forming an insulating layer on a component built-in circuit board in which a component such as a capacitor is built. When forming an insulating layer on a circuit board with a built-in component using a vacuum laminator, a resin composition layer may be embedded in recesses of the circuit board with a built-in component where components are arranged. However, for example, in a resin composition containing a large amount of inorganic filler, the resin composition layer has low fluidity (part embedding property), and a gap is likely to occur between the circuit board and the resin composition layer. I got some insight. Therefore, it is required to improve the fluidity (part embedding property) of the resin composition layer in order to sufficiently embed the parts arranged in the recess, and for this reason, a device to lower the melt viscosity of the resin composition layer is required. .

一方、樹脂組成物層を、部品が配される凹部への十分な埋め込みのために溶融粘度を低くした場合、樹脂組成物層の表面のタック力が大きく向上してしまい、ラミネート作業時に回路基板と樹脂組成物層とが貼りついてしまうことが分かった。例えば、加圧以前の工程で回路基板と樹脂組成物層とを重ねると、その接触部位で貼り付きが生じる。この貼り付きが生じると、回路基板と樹脂組成物層との間にエアが入り込み、そのエアが抜け出ることができずにボイドの原因となりうる。このように、樹脂組成物層の部品埋め込み性の向上と、樹脂組成物層のボイドの発生の抑制とはトレードオフの関係にあり、このトレードオフの解消はまだ改善の余地が大きい。 On the other hand, when the melt viscosity of the resin composition layer is lowered in order to sufficiently embed the recessed portions where the parts are arranged, the tackiness of the surface of the resin composition layer is greatly improved, and the circuit board is laminated during lamination. and the resin composition layer stick to each other. For example, if the circuit board and the resin composition layer are overlapped in a step prior to pressurization, sticking occurs at the contact portion. When this sticking occurs, air enters between the circuit board and the resin composition layer, and the air cannot escape, which may cause voids. As described above, there is a trade-off relationship between the improvement of the part-embedding property of the resin composition layer and the suppression of the generation of voids in the resin composition layer.

そこで、本発明が解決しようとする課題は、ボイドの発生を抑制でき、かつ、部品埋め込み性も良好な支持体付き接着シート;当該支持体付き接着シートを用いる回路基板;を提供することを課題とする。 Accordingly, the problem to be solved by the present invention is to provide an adhesive sheet with a support that can suppress the generation of voids and has good component embedding properties; a circuit board that uses the adhesive sheet with a support; and

本発明者らは、上記の課題につき鋭意検討した結果、支持体と接合している面と反対側の面の算術平均粗さ(Ra2)及びタック力が特定の範囲にある樹脂組成物層を使用することにより上記課題を解決し得ることを見出し、本発明を完成するに至った。 As a result of intensive studies on the above-mentioned problems, the present inventors have found that a resin composition layer having a specific range of arithmetic mean roughness (Ra2) and tack force on the surface opposite to the surface bonded to the support. The inventors have found that the above problems can be solved by using them, and have completed the present invention.

すなわち、本発明は以下の内容を含む。
[1] 第1面及び第2面を有する樹脂組成物層と、該樹脂組成物層の第1面と接合している支持体とを含む支持体付き接着シートであって、
樹脂組成物層の第2面の算術平均粗さ(Ra2)が、150nm以上であり、
樹脂組成物層の第2面の80℃でのタック力が、1.1N以上1.5N以下である、支持体付き接着シート。
[2] 真空ラミネート装置を使用して絶縁層を形成するために用いられる、[1]に記載の支持体付き接着シート。
[3] 真空ラミネート装置における真空度が、0.01hPa以上4hPa以下である、[2]に記載の支持体付き接着シート。
[4] 電子部品を埋め込むための絶縁層を形成するために用いられる、[1]~[3]のいずれかに記載の支持体付き接着シート。
[5] 回路基板上に絶縁層を形成するために用いられる、[1]~[4]のいずれかに記載の支持体付き接着シート。
[6] 樹脂組成物層の60℃~200℃における最低溶融粘度が、2000poise以下である、[1]~[5]のいずれかに記載の支持体付き接着シート。
[7] 樹脂組成物層が樹脂組成物を含み、樹脂組成物が無機充填材を含み、無機充填材の含有量が、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%としたとき、70質量%以上である、[1]~[6]のいずれかに記載の支持体付き接着シート。
[8] 樹脂組成物層が樹脂組成物を含み、樹脂組成物が液状エポキシ樹脂及び固体状エポキシ樹脂を含む、[1]~[7]のいずれかに記載の支持体付き接着シート。
[9] さらに、第1面及び第2面を有する保護フィルムを含み、該保護フィルムの第1面が、樹脂組成物層の第2面と接合している、[1]~[8]のいずれかに記載の支持体付き接着シート。
[10] 保護フィルムの第1面の算術平均粗さが、150nm以上である、[9]に記載の支持体付き接着シート。
[11] [1]~[10]のいずれかに記載の支持体付き接着シートの樹脂組成物層の硬化物により形成された絶縁層を含む、回路基板。
That is, the present invention includes the following contents.
[1] A support-attached adhesive sheet comprising a resin composition layer having a first surface and a second surface, and a support bonded to the first surface of the resin composition layer,
The arithmetic mean roughness (Ra2) of the second surface of the resin composition layer is 150 nm or more,
A support-attached adhesive sheet, wherein the second surface of the resin composition layer has a tack force of 1.1 N or more and 1.5 N or less at 80°C.
[2] The adhesive sheet with a support according to [1], which is used for forming an insulating layer using a vacuum laminator.
[3] The adhesive sheet with a support according to [2], wherein the degree of vacuum in the vacuum laminator is 0.01 hPa or more and 4 hPa or less.
[4] The support-attached adhesive sheet according to any one of [1] to [3], which is used for forming an insulating layer for embedding electronic components.
[5] The support-attached adhesive sheet according to any one of [1] to [4], which is used for forming an insulating layer on a circuit board.
[6] The adhesive sheet with a support according to any one of [1] to [5], wherein the resin composition layer has a minimum melt viscosity of 2000 poise or less at 60°C to 200°C.
[7] The resin composition layer contains a resin composition, the resin composition contains an inorganic filler, and the content of the inorganic filler is 70% by mass when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass. The adhesive sheet with a support according to any one of the above [1] to [6].
[8] The adhesive sheet with a support according to any one of [1] to [7], wherein the resin composition layer contains a resin composition, and the resin composition contains a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin.
[9] Further comprising a protective film having a first surface and a second surface, the first surface of the protective film is bonded to the second surface of the resin composition layer of [1] to [8] The support-attached adhesive sheet according to any one of the above.
[10] The adhesive sheet with support of [9], wherein the first surface of the protective film has an arithmetic mean roughness of 150 nm or more.
[11] A circuit board comprising an insulating layer formed from a cured resin composition layer of the adhesive sheet with a support according to any one of [1] to [10].

本発明によれば、ボイドの発生を抑制でき、かつ、部品埋め込み性も良好な支持体付き接着シート;当該支持体付き接着シートを用いる回路基板;を提供することができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the adhesive sheet with a support which can suppress generation|occurrence|production of a void and the component embedding property is favorable, A circuit board using the adhesive sheet with a support, The circuit board can be provided.

図1は、本発明の支持体付き接着シートの一例を説明するための概略断面図である。FIG. 1 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the adhesive sheet with a support of the present invention. 図2は、本発明の支持体付き接着シートの一例を説明するための概略断面図である。FIG. 2 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of the support-attached adhesive sheet of the present invention. 図3は、回路基板の一例を説明するための概略断面図である。FIG. 3 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of a circuit board. 図4は、キャビティを設けた回路基板の一例を説明するための概略断面図である。FIG. 4 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of a circuit board provided with a cavity. 図5は、キャビティを設けた回路基板に仮付け材料を積層した様子の一例を説明するための概略断面図である。FIG. 5 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of how a temporary attachment material is laminated on a circuit board provided with a cavity. 図6は、キャビティを介して露出した仮付け材料の粘着面に電子部品を仮付けする様子の一例を説明するための概略断面図である。FIG. 6 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of temporarily attaching an electronic component to the adhesive surface of the temporary attaching material exposed through the cavity. 図7は、真空ラミネート装置を用いて支持体付き接着シートの樹脂組成物層を回路基板に接合するように積層する様子の一例を説明するための概略断面図である。FIG. 7 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of laminating a resin composition layer of an adhesive sheet with a support so as to be bonded to a circuit board using a vacuum laminator. 図8は、電子部品が樹脂組成物層に埋め込まれる様子の一例を説明するための概略断面図である。FIG. 8 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of how an electronic component is embedded in a resin composition layer. 図9は、仮付け材料を剥離した様子の一例を説明するための概略断面図である。FIG. 9 is a schematic cross-sectional view for explaining an example of how the temporary attachment material is peeled off.

以下、実施形態及び例示物を示して、本発明について詳細に説明する。ただし、本発明は、以下に挙げる実施形態及び例示物に限定されるものでは無く、本発明の特許請求の範囲及びその均等の範囲を逸脱しない範囲において任意に変更して実施しうる。 BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The present invention will be described in detail below with reference to embodiments and examples. However, the present invention is not limited to the following embodiments and examples, and can be arbitrarily modified without departing from the scope of the claims of the present invention and their equivalents.

[支持体付き接着シート]
本発明の支持体付き接着シートは、第1面及び第2面を有する樹脂組成物層と、該樹脂組成物層の第1面と接合している支持体とを含む支持体付き接着シートであって、樹脂組成物層の第2面の算術平均粗さ(Ra2)が、150nm以上であり、樹脂組成物層の第2面の80℃でのタック力が、1.1N以上1.5N以下である。
[Adhesive sheet with support]
A support-attached adhesive sheet of the present invention is a support-attached adhesive sheet comprising a resin composition layer having a first surface and a second surface, and a support bonded to the first surface of the resin composition layer. The arithmetic average roughness (Ra2) of the second surface of the resin composition layer is 150 nm or more, and the tack force at 80 ° C. of the second surface of the resin composition layer is 1.1 N or more and 1.5 N It is below.

図1に、本発明の支持体付き接着シートの一例の概略断面図を示す。本発明の支持体付き接着シート1は、支持体3と、第1面2a及び第2面2bを有する樹脂組成物層2とを含む。第1面2aと第2面2bとは、樹脂組成物層2の厚み方向において互いに反対側にある。よって、第1面2aをうら面と見ると、第2面2bはおもて面である。また、支持体3は、樹脂組成物層2の第1面2aと接合している。図2に一例を示すように、支持体付き接着シート1は、第1面4a及び第2面4bを有する保護フィルム4を含んでいてもよい。第1面4aと第2面4bとは、保護フィルム4の厚み方向において互いに反対側にある。また、保護フィルム4の第1面4aが樹脂組成物層2の第2面2bと接合するように設けられている。支持体付き接着シート1は、通常、ロール状に巻き取られることで、ロール状支持体付き接着シートとして保管、運搬することができる。 FIG. 1 shows a schematic cross-sectional view of an example of the adhesive sheet with a support of the present invention. A support-attached adhesive sheet 1 of the present invention includes a support 3 and a resin composition layer 2 having a first surface 2a and a second surface 2b. The first surface 2a and the second surface 2b are opposite to each other in the thickness direction of the resin composition layer 2 . Therefore, when the first surface 2a is viewed as the back surface, the second surface 2b is the front surface. Further, the support 3 is bonded to the first surface 2 a of the resin composition layer 2 . As an example is shown in FIG. 2, the support-attached adhesive sheet 1 may include a protective film 4 having a first surface 4a and a second surface 4b. The first surface 4a and the second surface 4b are opposite to each other in the thickness direction of the protective film 4 . Moreover, the first surface 4 a of the protective film 4 is provided so as to be bonded to the second surface 2 b of the resin composition layer 2 . The support-attached adhesive sheet 1 is usually wound into a roll so that it can be stored and transported as a roll-shaped support-attached adhesive sheet.

支持体付き接着シート1は、下記の条件(I)及び(II)を満たす。本発明者は、回路基板の製造に際して、条件(I)及び(II)を満たす樹脂組成物層を含む支持体付き接着シートを用いることで、ボイドの発生が抑制され、かつ、部品埋め込み性も良好になることを見出した。
(I)樹脂組成物層の第2面の算術平均粗さ(Ra2)が、150nm以上。
(II)樹脂組成物層の第2面の80℃でのタック力が、1.1N以上1.5N以下。
The backing-attached adhesive sheet 1 satisfies the following conditions (I) and (II). The present inventors have found that the use of an adhesive sheet with a support containing a resin composition layer that satisfies the conditions (I) and (II) in the production of a circuit board suppresses the generation of voids and improves the embeddability of parts. found to be better.
(I) The arithmetic mean roughness (Ra2) of the second surface of the resin composition layer is 150 nm or more.
(II) The tack force at 80° C. of the second surface of the resin composition layer is 1.1 N or more and 1.5 N or less.

条件(I)は、樹脂組成物層の第2面の算術平均粗さ(Ra2)が、150nm以上であることに関する。支持体付き接着シートが条件(I)を満たすことで、樹脂組成物層と回路基板との間にエアを排出できる通路が形成されやすいので、特に真空ラミネート時に樹脂組成物層の第2面の表面凹凸を介してエア抜けをすることができ、その結果ボイドの発生を抑制することが可能となる。 Condition (I) relates to the arithmetic mean roughness (Ra2) of the second surface of the resin composition layer being 150 nm or more. When the adhesive sheet with a support satisfies the condition (I), a passage through which air can be discharged is easily formed between the resin composition layer and the circuit board. Air can escape through the surface unevenness, and as a result, it is possible to suppress the generation of voids.

樹脂組成物層の第2面の算術平均粗さ(Ra2)は、150nm以上であり、好ましくは200nm以上、より好ましくは250nm以上である。上限値は、特に制限はないが、好ましくは2000nm以下、より好ましくは1500nm以下、さらに好ましくは1200nm以下である。算術平均粗さ(Ra2)は、樹脂組成物層の第2面を回路基板に積層する前15分以内に測定した値であり、例えば保護フィルムを剥離してから15分以内に測定した値である。算術平均粗さ(Ra2)は、非接触型表面粗さ計を用いて測定することができる。非接触型表面粗さ計の具体例としては、ビーコインスツルメンツ社製の「WYKO NT3300」が挙げられる。算術平均粗さ(Ra2)は、例えば、非接触型表面粗さ計を用いてVSIモード、50倍レンズにより測定範囲を121μm×92μmとして測定することができる。 The arithmetic mean roughness (Ra2) of the second surface of the resin composition layer is 150 nm or more, preferably 200 nm or more, more preferably 250 nm or more. Although the upper limit is not particularly limited, it is preferably 2000 nm or less, more preferably 1500 nm or less, and still more preferably 1200 nm or less. The arithmetic mean roughness (Ra2) is a value measured within 15 minutes before laminating the second surface of the resin composition layer to the circuit board, for example, within 15 minutes after peeling off the protective film. be. Arithmetic mean roughness (Ra2) can be measured using a non-contact surface roughness meter. A specific example of the non-contact surface roughness meter is "WYKO NT3300" manufactured by Beecoinstruments. The arithmetic mean roughness (Ra2) can be measured, for example, using a non-contact surface roughness meter in VSI mode with a 50x lens and a measurement range of 121 μm×92 μm.

樹脂組成物層の第2面の算術平均粗さを150nm以上に調整する方法としては、例えば、表面凹凸を有する型、例えば支持体や保護フィルム、を用いて、樹脂組成物層に表面凹凸を転写する方法が挙げられる。表面凹凸を有する面の算術平均粗さは、樹脂組成物層の第2面の算術平均粗さと同様である。詳細は、支持体の樹脂組成物層の第1面と接合している側の面とは反対側の面に前記の表面凹凸が形成されており、該支持体に形成された表面凹凸を樹脂組成物層の第2面に転写する方法;保護フィルムの第1面に前記の表面凹凸が形成されており、該保護フィルムの第1面に形成された表面凹凸を樹脂組成物層の第2面に転写する方法である。支持体及び保護フィルムについては後述する。 As a method for adjusting the arithmetic mean roughness of the second surface of the resin composition layer to 150 nm or more, for example, the surface unevenness is formed on the resin composition layer using a mold having surface unevenness, such as a support or a protective film. A method of transcription can be mentioned. The arithmetic mean roughness of the surface having surface irregularities is the same as the arithmetic mean roughness of the second surface of the resin composition layer. In detail, the surface unevenness is formed on the surface opposite to the surface bonded to the first surface of the resin composition layer of the support, and the surface unevenness formed on the support is formed by resin. A method of transferring to the second surface of the composition layer; It is a method of transferring to a surface. The support and protective film will be described later.

条件(II)は、樹脂組成物層の第2面の80℃でのタック力が、1.1N以上1.5N以下であることに関する。上記したように、タック力は、通常、最低溶融粘度が低下すると上昇する。本発明の支持体付き接着シートは、部品埋め込み性を良好とするために最低溶融粘度を低くすることが求められ、樹脂組成物層の第2面の80℃でのタック力が、1.1N以上と大きくなる。これにより、一般にはボイドが生じやすいが、本発明の支持体付き接着シートは、条件(I)を満たすので、回路基板と樹脂組成物層との間にボイドが発生することを抑制することが可能となる。また、タック力が、大きくなりすぎるとボイドの発生を抑制しきれないが、樹脂組成物層の第2面の80℃でのタック力を1.5N以下とすることにより、ボイドの発生を抑制することが可能となる。 Condition (II) relates to the tack force at 80° C. of the second surface of the resin composition layer being 1.1 N or more and 1.5 N or less. As noted above, tack force generally increases as the minimum melt viscosity decreases. The adhesive sheet with a support of the present invention is required to have a low minimum melt viscosity in order to improve the embedding property of parts, and the tack force at 80° C. of the second surface of the resin composition layer is 1.1 N. It becomes bigger than above. As a result, voids are generally likely to occur, but since the adhesive sheet with a support of the present invention satisfies the condition (I), it is possible to suppress the generation of voids between the circuit board and the resin composition layer. It becomes possible. In addition, if the tack force is too large, the generation of voids cannot be suppressed completely, but by setting the tack force of the second surface of the resin composition layer at 80 ° C. to 1.5 N or less, the generation of voids is suppressed. It becomes possible to

樹脂組成物層の第2面の80℃でのタック力としては、1.1N以上であり、好ましくは1.15N以上、より好ましくは1.2N以上である。上限値は、1.5N以下であり、好ましくは1.45N以下、より好ましくは1.4N以下である。80℃でのタック力は、プローブタックテスターを用いて測定することができる。プローブタックテスターの具体例としては、テスター産業社製の「TE-6002」が挙げられる。80℃でのタック力は、例えば、プローブタックテスターを用いて直径5mmのガラスプローブにて荷重1kgf/cm、接触速度0.5mm/秒、引張速度0.5mm/秒、保持時間10秒の測定条件にて測定することができる。 The tack force of the second surface of the resin composition layer at 80° C. is 1.1 N or more, preferably 1.15 N or more, and more preferably 1.2 N or more. The upper limit is 1.5N or less, preferably 1.45N or less, more preferably 1.4N or less. The tack force at 80°C can be measured using a probe tack tester. A specific example of the probe tack tester is "TE-6002" manufactured by Tester Sangyo Co., Ltd. The tack force at 80° C. is measured, for example, using a probe tack tester with a glass probe having a diameter of 5 mm under a load of 1 kgf/cm 2 , a contact speed of 0.5 mm/sec, a tensile speed of 0.5 mm/sec, and a holding time of 10 seconds. It can be measured under the measurement conditions.

樹脂組成物層の最低溶融粘度としては、好ましくは2000poise以下、より好ましくは1500poise以下、さらに好ましくは1000poise以下である。下限値は特に限定されないが、10poise以上等とし得る。ここで、用語「最低溶融粘度」は、60℃~200℃での最低溶融粘度を指す。最低溶融粘度は、動的粘弾性測定装置を用いて測定することができる。動的粘弾性測定装置の具体例としては、ユー・ビー・エム社製の「Rheosol-G3000」が挙げられる。最低溶融粘度は、例えば、動的粘弾性測定装置を用いて、試料1gについて、直径18mmのパラレルプレートを使用して、開始温度60℃から200℃までを昇温速度5℃/分にて昇温し、測定温度間隔2.5℃、振動数1Hz、ひずみ1degの測定条件にて測定することができる。 The minimum melt viscosity of the resin composition layer is preferably 2000 poise or less, more preferably 1500 poise or less, and even more preferably 1000 poise or less. Although the lower limit is not particularly limited, it can be set to 10 poise or more. Here, the term "minimum melt viscosity" refers to the minimum melt viscosity between 60°C and 200°C. The minimum melt viscosity can be measured using a dynamic viscoelasticity measuring device. A specific example of the dynamic viscoelasticity measuring device is "Rheosol-G3000" manufactured by UBM. For the lowest melt viscosity, for example, using a dynamic viscoelasticity measuring device, a parallel plate with a diameter of 18 mm is used for 1 g of the sample, and the starting temperature is 60 ° C. to 200 ° C. at a heating rate of 5 ° C./min. It can be measured under the measurement conditions of a temperature interval of 2.5° C., a frequency of 1 Hz, and a strain of 1 deg.

樹脂組成物層の第2面の80℃でのタック力を1.1N以上1.5N以下に調整する方法としては、例えば、液状エポキシ樹脂及び固体状エポキシ樹脂を含む樹脂組成物で樹脂組成物層を形成する方法;支持体付き接着シートを作製するにあたって、樹脂組成物を溶剤に溶解した樹脂ワニスを支持体上に塗布したあとの乾燥条件を調整する方法等が挙げられる。 As a method for adjusting the tack force of the second surface of the resin composition layer at 80° C. to 1.1 N or more and 1.5 N or less, for example, a resin composition containing a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin is used. A method of forming a layer; a method of adjusting drying conditions after coating a resin varnish obtained by dissolving a resin composition in a solvent on a support in producing an adhesive sheet with a support, and the like.

<樹脂組成物層>
樹脂組成物層は、樹脂組成物で形成された層であるので、樹脂組成物を含む。樹脂組成物が含有する成分としては、例えば、熱硬化性樹脂が挙げられる。熱硬化性樹脂としては、プリント配線板の絶縁層を形成する際に使用される任意の熱硬化性樹脂を用いることができ、中でもエポキシ樹脂及び硬化剤を用いることが好ましい。したがって、一実施形態において、樹脂組成物は(A)エポキシ樹脂及び(B)硬化剤を含む。樹脂組成物は、必要に応じて、さらに(C)無機充填材、(D)熱可塑性樹脂、(E)硬化促進剤、(F)難燃剤及び(G)その他の添加剤を含んでいてもよい。以下、本発明の樹脂組成物に含まれる各成分について詳細に説明する。
<Resin composition layer>
Since the resin composition layer is a layer formed of a resin composition, it contains the resin composition. Examples of components contained in the resin composition include thermosetting resins. As the thermosetting resin, any thermosetting resin that is used when forming the insulating layer of a printed wiring board can be used, and among them, it is preferable to use an epoxy resin and a curing agent. Accordingly, in one embodiment, the resin composition comprises (A) an epoxy resin and (B) a curing agent. The resin composition may further contain (C) an inorganic filler, (D) a thermoplastic resin, (E) a curing accelerator, (F) a flame retardant and (G) other additives, if necessary. good. Each component contained in the resin composition of the present invention will be described in detail below.

-(A)エポキシ樹脂-
(A)エポキシ樹脂としては、例えば、ビキシレノール型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、トリスフェノール型エポキシ樹脂、ナフトールノボラック型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、tert-ブチル-カテコール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、線状脂肪族エポキシ樹脂、ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂、脂環式エポキシ樹脂、複素環式エポキシ樹脂、スピロ環含有エポキシ樹脂、シクロヘキサン型エポキシ樹脂、シクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、トリメチロール型エポキシ樹脂、テトラフェニルエタン型エポキシ樹脂等が挙げられる。エポキシ樹脂は、1種類単独で用いてもよく、2種類以上を組み合わせて用いてもよい。
-(A) epoxy resin-
(A) Epoxy resins include, for example, bixylenol type epoxy resins, bisphenol A type epoxy resins, bisphenol F type epoxy resins, bisphenol S type epoxy resins, bisphenol AF type epoxy resins, dicyclopentadiene type epoxy resins, and trisphenol type epoxy resins. Epoxy resin, naphthol novolac type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, tert-butyl-catechol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin , cresol novolac type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, linear aliphatic epoxy resin, epoxy resin having a butadiene structure, alicyclic epoxy resin, heterocyclic epoxy resin, spiro ring-containing epoxy resin, cyclohexane type epoxy resin, cyclohexane Examples include dimethanol type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, trimethylol type epoxy resin, tetraphenylethane type epoxy resin and the like. Epoxy resins may be used singly or in combination of two or more.

樹脂組成物は、(A)エポキシ樹脂として、1分子中に2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂を含むことが好ましい。本発明の所望の効果を顕著に得る観点から、(A)エポキシ樹脂の不揮発成分100質量%に対して、1分子中に2個以上のエポキシ基を有するエポキシ樹脂の割合は、好ましくは50質量%以上、より好ましくは60質量%以上、特に好ましくは70質量%以上である。 The resin composition preferably contains an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule as (A) the epoxy resin. From the viewpoint of obtaining the desired effects of the present invention remarkably, the ratio of the epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule to 100% by mass of the non-volatile components of the epoxy resin (A) is preferably 50% by mass. % or more, more preferably 60 mass % or more, and particularly preferably 70 mass % or more.

エポキシ樹脂には、温度20℃で液状のエポキシ樹脂(以下「液状エポキシ樹脂」ということがある。)と、温度20℃で固体状のエポキシ樹脂(以下「固体状エポキシ樹脂」ということがある。)とがある。樹脂組成物は、(A)エポキシ樹脂として、液状エポキシ樹脂のみを含んでいてもよく、固体状エポキシ樹脂のみを含んでいてもよいが、条件(II)を満たす樹脂組成物層を形成する観点から、液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂とを組み合わせて含むことが好ましい。固体状エポキシ樹脂は、温度20℃で結晶状の結晶性エポキシ樹脂を含む概念である。樹脂組成物が、固体状エポキシ樹脂として結晶性エポキシ樹脂を含む場合、樹脂組成物層の第2面の80℃のタック力を所定の範囲内とする観点から、結晶性エポキシ樹脂に加えて、それ以外の固体状エポキシ樹脂を含むことが好ましい。 Epoxy resins include liquid epoxy resins at a temperature of 20° C. (hereinafter sometimes referred to as “liquid epoxy resins”) and solid epoxy resins at a temperature of 20° C. (hereinafter sometimes referred to as “solid epoxy resins”). ). The resin composition may contain only a liquid epoxy resin as the (A) epoxy resin, or may contain only a solid epoxy resin. Therefore, it is preferable to include a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin in combination. A solid epoxy resin is a concept including a crystalline epoxy resin that is crystalline at a temperature of 20°C. When the resin composition contains a crystalline epoxy resin as a solid epoxy resin, in order to keep the 80° C. tack force of the second surface of the resin composition layer within a predetermined range, in addition to the crystalline epoxy resin, It is preferable to contain other solid epoxy resins.

液状エポキシ樹脂としては、1分子中に2個以上のエポキシ基を有する液状エポキシ樹脂が好ましい。 A liquid epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule is preferable as the liquid epoxy resin.

液状エポキシ樹脂としては、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、グリシジルエステル型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、エステル骨格を有する脂環式エポキシ樹脂、シクロヘキサン型エポキシ樹脂、シクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂、グリシジルアミン型エポキシ樹脂、及びブタジエン構造を有するエポキシ樹脂が好ましく、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、シクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂がより好ましい。 Examples of liquid epoxy resins include bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, glycidyl amine type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, ester skeleton. An alicyclic epoxy resin, a cyclohexane type epoxy resin, a cyclohexanedimethanol type epoxy resin, a glycidylamine type epoxy resin, and an epoxy resin having a butadiene structure are preferable, and bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, cyclohexanedimethanol type epoxy resins are more preferred.

液状エポキシ樹脂の具体例としては、DIC社製の「HP4032」、「HP4032D」、「HP4032SS」(ナフタレン型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「828US」、「jER828EL」、「825」、「エピコート828EL」(ビスフェノールA型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「jER807」、「1750」(ビスフェノールF型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「jER152」(フェノールノボラック型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「630」、「630LSD」(グリシジルアミン型エポキシ樹脂);新日鉄住金化学社製の「ZX1059」(ビスフェノールA型エポキシ樹脂とビスフェノールF型エポキシ樹脂の混合品);ナガセケムテックス社製の「EX-721」(グリシジルエステル型エポキシ樹脂);ダイセル社製の「セロキサイド2021P」(エステル骨格を有する脂環式エポキシ樹脂);ダイセル社製の「PB-3600」(ブタジエン構造を有するエポキシ樹脂);新日鉄住金化学社製の「ZX1658」、「ZX1658GS」(シクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂)等が挙げられる。これらは、1種類単独で用いてもよく、2種類以上を組み合わせて用いてもよい。 Specific examples of liquid epoxy resins include "HP4032", "HP4032D", and "HP4032SS" (naphthalene-type epoxy resins) manufactured by DIC; 828EL" (bisphenol A type epoxy resin); Mitsubishi Chemical Corporation "jER807", "1750" (bisphenol F type epoxy resin); Mitsubishi Chemical Corporation "jER152" (phenol novolac type epoxy resin); Mitsubishi Chemical Corporation "630", "630LSD" (glycidylamine type epoxy resin); Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd. "ZX1059" (mixture of bisphenol A type epoxy resin and bisphenol F type epoxy resin); Nagase ChemteX Co., Ltd. "EX -721" (glycidyl ester type epoxy resin); Daicel's "Celoxide 2021P" (alicyclic epoxy resin having an ester skeleton); Daicel's "PB-3600" (epoxy resin having a butadiene structure); Nippon Steel "ZX1658" and "ZX1658GS" (cyclohexane dimethanol type epoxy resin) manufactured by Sumikin Chemical Co., Ltd., and the like can be mentioned. These may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more types.

固体状エポキシ樹脂としては、1分子中に3個以上のエポキシ基を有する固体状エポキシ樹脂が好ましく、1分子中に3個以上のエポキシ基を有する芳香族系の固体状エポキシ樹脂がより好ましい。 The solid epoxy resin is preferably a solid epoxy resin having 3 or more epoxy groups per molecule, more preferably an aromatic solid epoxy resin having 3 or more epoxy groups per molecule.

固体状エポキシ樹脂としては、ビキシレノール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、ナフタレン型4官能エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂、トリスフェノール型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂、アントラセン型エポキシ樹脂、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、テトラフェニルエタン型エポキシ樹脂が好ましく、ビキシレノール型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂がより好ましい。 Solid epoxy resins include bixylenol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthalene type tetrafunctional epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, trisphenol type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, naphthylene ether type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, and tetraphenylethane type epoxy resin are preferred, and bixylenol type epoxy resin and biphenyl type epoxy resin are more preferred. .

固体状エポキシ樹脂の具体例としては、DIC社製の「HP4032H」(ナフタレン型エポキシ樹脂);DIC社製の「HP-4700」、「HP-4710」(ナフタレン型4官能エポキシ樹脂);DIC社製の「N-690」(クレゾールノボラック型エポキシ樹脂);DIC社製の「N-695」(クレゾールノボラック型エポキシ樹脂);DIC社製の「HP-7200」(ジシクロペンタジエン型エポキシ樹脂);DIC社製の「HP-7200HH」、「HP-7200H」、「EXA-7311」、「EXA-7311-G3」、「EXA-7311-G4」、「EXA-7311-G4S」、「HP6000」(ナフチレンエーテル型エポキシ樹脂);日本化薬社製の「EPPN-502H」(トリスフェノール型エポキシ樹脂);日本化薬社製の「NC7000L」(ナフトールノボラック型エポキシ樹脂);日本化薬社製の「NC3000H」、「NC3000」、「NC3000L」、「NC3100」(ビフェニル型エポキシ樹脂);新日鉄住金化学社製の「ESN475V」(ナフトール型エポキシ樹脂);新日鉄住金化学社製の「ESN485」(ナフトールノボラック型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「YX4000H」、「YX4000」、「YL6121」(ビフェニル型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「YX4000HK」(ビキシレノール型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「YX8800」(アントラセン型エポキシ樹脂);大阪ガスケミカル社製の「PG-100」、「CG-500」;三菱ケミカル社製の「YL7760」(ビスフェノールAF型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「YL7800」(フルオレン型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「jER1010」(固体状ビスフェノールA型エポキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「jER1031S」(テトラフェニルエタン型エポキシ樹脂)等が挙げられる。これらは、1種類単独で用いてもよく、2種類以上を組み合わせて用いてもよい。 Specific examples of solid epoxy resins include "HP4032H" (naphthalene-type epoxy resin) manufactured by DIC; "HP-4700" and "HP-4710" (naphthalene-type tetrafunctional epoxy resin) manufactured by DIC; "N-690" (cresol novolac type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation; "N-695" (cresol novolac type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation; "HP-7200" (dicyclopentadiene type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation; DIC's "HP-7200HH", "HP-7200H", "EXA-7311", "EXA-7311-G3", "EXA-7311-G4", "EXA-7311-G4S", "HP6000" ( Naphthylene ether type epoxy resin); Nippon Kayaku Co., Ltd. "EPPN-502H" (trisphenol type epoxy resin); Nippon Kayaku Co., Ltd. "NC7000L" (naphthol novolac type epoxy resin); "NC3000H", "NC3000", "NC3000L", "NC3100" (biphenyl type epoxy resin); "ESN475V" (naphthol type epoxy resin) manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.; type epoxy resin); "YX4000H", "YX4000", "YL6121" (biphenyl type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; "YX4000HK" (bixylenol type epoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation; YX8800" (anthracene type epoxy resin); Osaka Gas Chemicals Co., Ltd. "PG-100", "CG-500"; Mitsubishi Chemical Co., Ltd. "YL7760" (bisphenol AF type epoxy resin); Mitsubishi Chemical Co., Ltd. "YL7800 (fluorene type epoxy resin); Mitsubishi Chemical Corp.'s "jER1010" (solid bisphenol A type epoxy resin); Mitsubishi Chemical Corp.'s "jER1031S" (tetraphenylethane type epoxy resin). These may be used individually by 1 type, and may be used in combination of 2 or more types.

(A)エポキシ樹脂として液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂とを組み合わせて用いる場合、それらの量比(固体状エポキシ樹脂:液状エポキシ樹脂)は、質量比で、好ましくは1:0.3~1:10、より好ましくは1:0.35~1:5、特に好ましくは1:0.4~1:3である。液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂との量比が斯かる範囲にあることにより、樹脂組成物層が条件(II)を満たしやすくなり、よって、部品埋め込み性が良好になる。 (A) When a combination of a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin is used as the epoxy resin, the ratio by mass (solid epoxy resin: liquid epoxy resin) is preferably 1:0.3 to 1:0.3 to 1:0.3. :10, more preferably 1:0.35 to 1:5, particularly preferably 1:0.4 to 1:3. When the ratio of the liquid epoxy resin to the solid epoxy resin is in such a range, the resin composition layer easily satisfies the condition (II), thereby improving the part embedding property.

(A)エポキシ樹脂のエポキシ当量は、好ましくは50~5000、より好ましくは50~3000、さらに好ましくは80~2000、さらにより好ましくは110~1000である。この範囲となることで、樹脂組成物層の硬化物の架橋密度が十分となり、表面粗さの小さい絶縁層をもたらすことができる。エポキシ当量は、1当量のエポキシ基を含む樹脂の質量である。このエポキシ当量は、JIS K7236に従って測定することができる。 (A) The epoxy equivalent of the epoxy resin is preferably 50-5000, more preferably 50-3000, even more preferably 80-2000, still more preferably 110-1000. Within this range, the crosslink density of the cured product of the resin composition layer is sufficient, and an insulating layer with a small surface roughness can be obtained. Epoxy equivalent weight is the mass of resin containing one equivalent of epoxy groups. This epoxy equivalent can be measured according to JIS K7236.

(A)エポキシ樹脂の重量平均分子量(Mw)は、本発明の所望の効果を顕著に得る観点から、好ましくは100~5000、より好ましくは250~3000、さらに好ましくは400~1500である。
樹脂の重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法により、ポリスチレン換算の値として測定できる。
(A) The weight average molecular weight (Mw) of the epoxy resin is preferably 100 to 5000, more preferably 250 to 3000, still more preferably 400 to 1500, from the viewpoint of significantly obtaining the desired effects of the present invention.
The weight average molecular weight of the resin can be measured as a polystyrene-equivalent value by a gel permeation chromatography (GPC) method.

(A)エポキシ樹脂の含有量は、良好な機械強度、絶縁信頼性を示す絶縁層を得る観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%としたとき、好ましくは1質量%以上、より好ましくは5質量%以上、さらに好ましくは10質量%以上である。エポキシ樹脂の含有量の上限は、本発明の所望の効果を顕著に得る観点から、好ましくは30質量%以下、より好ましくは25質量%以下、特に好ましくは20質量%以下である。なお、本発明において、樹脂組成物中の各成分の含有量は、別途明示のない限り、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%としたときの値である。 (A) From the viewpoint of obtaining an insulating layer exhibiting good mechanical strength and insulation reliability, the content of the epoxy resin is preferably 1% by mass or more, when the nonvolatile component in the resin composition is 100% by mass. It is preferably 5% by mass or more, more preferably 10% by mass or more. The upper limit of the epoxy resin content is preferably 30% by mass or less, more preferably 25% by mass or less, and particularly preferably 20% by mass or less, from the viewpoint of significantly obtaining the desired effects of the present invention. In the present invention, the content of each component in the resin composition is a value when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, unless otherwise specified.

-(B)硬化剤-
(B)硬化剤は、通常、(A)エポキシ樹脂と反応して樹脂組成物を硬化させる機能を有する。
-(B) Curing agent-
(B) Curing agent usually has a function of reacting with (A) epoxy resin to cure the resin composition.

(B)硬化剤としては、例えば、活性エステル系硬化剤、フェノール系硬化剤、ナフトール系硬化剤、ベンゾオキサジン系硬化剤、シアネートエステル系硬化剤、カルボジイミド系硬化剤、アミン系硬化剤、酸無水物系硬化剤などが挙げられる。(B)硬化剤としては、活性エステル系硬化剤、フェノール系硬化剤が好ましい。(B)硬化剤は1種類単独で用いてもよく、又は2種類以上を併用してもよい。 (B) Curing agents include, for example, active ester curing agents, phenol curing agents, naphthol curing agents, benzoxazine curing agents, cyanate ester curing agents, carbodiimide curing agents, amine curing agents, and acid anhydrides. physical curing agents, and the like. (B) As the curing agent, an active ester curing agent and a phenolic curing agent are preferable. (B) Curing agents may be used singly or in combination of two or more.

活性エステル系硬化剤としては、1分子中に1個以上の活性エステル基を有する化合物を用いることができる。中でも、活性エステル系硬化剤としては、フェノールエステル類、チオフェノールエステル類、N-ヒドロキシアミンエステル類、複素環ヒドロキシ化合物のエステル類等の、反応活性の高いエステル基を1分子中に2個以上有する化合物が好ましい。当該活性エステル系硬化剤は、カルボン酸化合物及び/又はチオカルボン酸化合物とヒドロキシ化合物及び/又はチオール化合物との縮合反応によって得られるものが好ましい。特に、耐熱性向上の観点から、カルボン酸化合物とヒドロキシ化合物とから得られる活性エステル系硬化剤が好ましく、カルボン酸化合物とフェノール化合物及び/又はナフトール化合物とから得られる活性エステル系硬化剤がより好ましい。 A compound having one or more active ester groups in one molecule can be used as the active ester curing agent. Among them, active ester curing agents include phenol esters, thiophenol esters, N-hydroxyamine esters, esters of heterocyclic hydroxy compounds, and the like, and have two or more ester groups per molecule with high reaction activity. Preferred are compounds having The active ester curing agent is preferably obtained by a condensation reaction between a carboxylic acid compound and/or a thiocarboxylic acid compound and a hydroxy compound and/or a thiol compound. In particular, from the viewpoint of improving heat resistance, an active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound is preferred, and an active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a phenol compound and/or a naphthol compound is more preferred. .

カルボン酸化合物としては、例えば、安息香酸、酢酸、コハク酸、マレイン酸、イタコン酸、フタル酸、イソフタル酸、テレフタル酸、ピロメリット酸等が挙げられる。 Examples of carboxylic acid compounds include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, and pyromellitic acid.

フェノール化合物又はナフトール化合物としては、例えば、ハイドロキノン、レゾルシン、ビスフェノールA、ビスフェノールF、ビスフェノールS、フェノールフタリン、メチル化ビスフェノールA、メチル化ビスフェノールF、メチル化ビスフェノールS、フェノール、o-クレゾール、m-クレゾール、p-クレゾール、カテコール、α-ナフトール、β-ナフトール、1,5-ジヒドロキシナフタレン、1,6-ジヒドロキシナフタレン、2,6-ジヒドロキシナフタレン、ジヒドロキシベンゾフェノン、トリヒドロキシベンゾフェノン、テトラヒドロキシベンゾフェノン、フロログルシン、ベンゼントリオール、ジシクロペンタジエン型ジフェノール化合物、フェノールノボラック等が挙げられる。ここで、「ジシクロペンタジエン型ジフェノール化合物」とは、ジシクロペンタジエン1分子にフェノール2分子が縮合して得られるジフェノール化合物をいう。 Examples of phenol compounds or naphthol compounds include hydroquinone, resorcinol, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthalin, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o-cresol, m- cresol, p-cresol, catechol, α-naphthol, β-naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxynaphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone, trihydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, phloroglucine, Benzenetriol, dicyclopentadiene-type diphenol compound, phenol novolak, and the like. Here, the term "dicyclopentadiene-type diphenol compound" refers to a diphenol compound obtained by condensing one molecule of dicyclopentadiene with two molecules of phenol.

活性エステル系硬化剤の好ましい具体例としては、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル系硬化剤、ナフタレン構造を含む活性エステル系硬化剤、フェノールノボラックのアセチル化物を含む活性エステル系硬化剤、フェノールノボラックのベンゾイル化物を含む活性エステル系硬化剤が挙げられる。中でも、ナフタレン構造を含む活性エステル系硬化剤、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル系硬化剤がより好ましい。「ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造」とは、フェニレン-ジシクロペンチレン-フェニレンからなる2価の構造単位を表す。 Preferred specific examples of the active ester curing agent include an active ester curing agent containing a dicyclopentadiene type diphenol structure, an active ester curing agent containing a naphthalene structure, an active ester curing agent containing an acetylated phenol novolac, Examples include active ester curing agents containing benzoylated phenol novolacs. Among them, an active ester curing agent containing a naphthalene structure and an active ester curing agent containing a dicyclopentadiene type diphenol structure are more preferable. "Dicyclopentadiene-type diphenol structure" represents a divalent structural unit consisting of phenylene-dicyclopentylene-phenylene.

活性エステル系硬化剤の市販品としては、ジシクロペンタジエン型ジフェノール構造を含む活性エステル系硬化剤として、「EXB9451」、「EXB9460」、「EXB9460S」、「HPC-8000-65T」、「HPC-8000H-65TM」、「EXB-8000L-65TM」、「EXB-8150-65T」、「EXB-8500-65T」(DIC社製);ナフタレン構造を含む活性エステル系硬化剤として「EXB9416-70BK」(DIC社製);フェノールノボラックのアセチル化物を含む活性エステル系硬化剤として「DC808」(三菱ケミカル社製);フェノールノボラックのベンゾイル化物を含む活性エステル系硬化剤として「YLH1026」(三菱ケミカル社製);フェノールノボラックのアセチル化物である活性エステル系硬化剤として「DC808」(三菱ケミカル社製);フェノールノボラックのベンゾイル化物である活性エステル系硬化剤として「YLH1026」(三菱ケミカル社製)、「YLH1030」(三菱ケミカル社製)、「YLH1048」(三菱ケミカル社製);等が挙げられる。 Commercially available active ester curing agents include "EXB9451", "EXB9460", "EXB9460S", "HPC-8000-65T", "HPC- 8000H-65TM", "EXB-8000L-65TM", "EXB-8150-65T", "EXB-8500-65T" (manufactured by DIC); "EXB9416-70BK" as an active ester curing agent containing a naphthalene structure ( DIC Corporation); "DC808" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) as an active ester curing agent containing an acetylated phenol novolak; "YLH1026" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) as an active ester curing agent containing a benzoylated phenol novolak. "DC808" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) as an active ester curing agent that is an acetylated product of phenol novolac; "YLH1026" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) and "YLH1030" as an active ester curing agent that is a benzoylated product of phenol novolak. (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), "YLH1048" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation); and the like.

フェノール系硬化剤及びナフトール系硬化剤としては、耐熱性及び耐水性の観点から、ノボラック構造を有するものが好ましい。また、導体層との密着性の観点から、含窒素フェノール系硬化剤が好ましく、トリアジン骨格含有フェノール系硬化剤がより好ましい。 From the viewpoint of heat resistance and water resistance, the phenol-based curing agent and naphthol-based curing agent preferably have a novolac structure. From the viewpoint of adhesion to the conductor layer, a nitrogen-containing phenolic curing agent is preferable, and a triazine skeleton-containing phenolic curing agent is more preferable.

フェノール系硬化剤及びナフトール系硬化剤の具体例としては、例えば、明和化成社製の「MEH-7700」、「MEH-7810」、「MEH-7851」;日本化薬社製の「NHN」、「CBN」、「GPH」;新日鉄住金化学社製の「SN170」、「SN180」、「SN190」、「SN475」、「SN485」、「SN495」、「SN-495V」、「SN375」;DIC社製の「TD-2090」、「LA-7052」、「LA-7054」、「LA-1356」、「LA-3018-50P」、「EXB-9500」;等が挙げられる。 Specific examples of phenol-based curing agents and naphthol-based curing agents include "MEH-7700", "MEH-7810", and "MEH-7851" manufactured by Meiwa Kasei; "NHN" manufactured by Nippon Kayaku; "CBN", "GPH"; "SN170", "SN180", "SN190", "SN475", "SN485", "SN495", "SN-495V", "SN375" manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.; DIC Corporation "TD-2090", "LA-7052", "LA-7054", "LA-1356", "LA-3018-50P", "EXB-9500";

ベンゾオキサジン系硬化剤の具体例としては、昭和高分子社製の「HFB2006M」、四国化成工業社製の「P-d」、「F-a」が挙げられる。 Specific examples of the benzoxazine-based curing agent include "HFB2006M" manufactured by Showa High Polymer Co., Ltd., and "Pd" and "Fa" manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.

シアネートエステル系硬化剤としては、例えば、ビスフェノールAジシアネート、ポリフェノールシアネート、オリゴ(3-メチレン-1,5-フェニレンシアネート)、4,4’-メチレンビス(2,6-ジメチルフェニルシアネート)、4,4’-エチリデンジフェニルジシアネート、ヘキサフルオロビスフェノールAジシアネート、2,2-ビス(4-シアネート)フェニルプロパン、1,1-ビス(4-シアネートフェニルメタン)、ビス(4-シアネート-3,5-ジメチルフェニル)メタン、1,3-ビス(4-シアネートフェニル-1-(メチルエチリデン))ベンゼン、ビス(4-シアネートフェニル)チオエーテル、及びビス(4-シアネートフェニル)エーテル、等の2官能シアネート樹脂;フェノールノボラック及びクレゾールノボラック等から誘導される多官能シアネート樹脂;これらシアネート樹脂が一部トリアジン化したプレポリマー;などが挙げられる。シアネートエステル系硬化剤の具体例としては、ロンザジャパン社製の「PT30」及び「PT60」(フェノールノボラック型多官能シアネートエステル樹脂)、「ULL-950S」(多官能シアネートエステル樹脂)、「BA230」、「BA230S75」(ビスフェノールAジシアネートの一部又は全部がトリアジン化され三量体となったプレポリマー)等が挙げられる。 Examples of cyanate ester curing agents include bisphenol A dicyanate, polyphenolcyanate, oligo(3-methylene-1,5-phenylenecyanate), 4,4′-methylenebis(2,6-dimethylphenylcyanate), 4,4 '-ethylidene diphenyl dicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis(4-cyanate)phenylpropane, 1,1-bis(4-cyanatophenylmethane), bis(4-cyanate-3,5-dimethyl Bifunctional cyanate resins such as phenyl)methane, 1,3-bis(4-cyanatophenyl-1-(methylethylidene))benzene, bis(4-cyanatophenyl)thioether, and bis(4-cyanatophenyl)ether; polyfunctional cyanate resins derived from phenol novolak, cresol novolak, etc.; prepolymers obtained by partially triazinizing these cyanate resins; and the like. Specific examples of cyanate ester curing agents include "PT30" and "PT60" (phenol novolac type polyfunctional cyanate ester resins), "ULL-950S" (polyfunctional cyanate ester resins) and "BA230" manufactured by Lonza Japan. , "BA230S75" (a prepolymer in which part or all of bisphenol A dicyanate is triazined to form a trimer), and the like.

カルボジイミド系硬化剤の具体例としては、日清紡ケミカル社製の「V-03」、「V-07」等が挙げられる。 Specific examples of carbodiimide curing agents include "V-03" and "V-07" manufactured by Nisshinbo Chemical Co., Ltd., and the like.

アミン系硬化剤としては、1分子内中に1個以上のアミノ基を有する硬化剤が挙げられ、例えば、脂肪族アミン類、ポリエーテルアミン類、脂環式アミン類、芳香族アミン類等が挙げられ、中でも、本発明の所望の効果を奏する観点から、芳香族アミン類が好ましい。アミン系硬化剤は、第1級アミン又は第2級アミンが好ましく、第1級アミンがより好ましい。アミン系硬化剤の具体例としては、4,4’-メチレンビス(2,6-ジメチルアニリン)、ジフェニルジアミノスルホン、4,4’-ジアミノジフェニルメタン、4,4’-ジアミノジフェニルスルホン、3,3’-ジアミノジフェニルスルホン、m-フェニレンジアミン、m-キシリレンジアミン、ジエチルトルエンジアミン、4,4’-ジアミノジフェニルエーテル、3,3’-ジメチル-4,4’-ジアミノビフェニル、2,2’-ジメチル-4,4’-ジアミノビフェニル、3,3’-ジヒドロキシベンジジン、2,2-ビス(3-アミノ-4-ヒドロキシフェニル)プロパン、3,3-ジメチル-5,5-ジエチル-4,4-ジフェニルメタンジアミン、2,2-ビス(4-アミノフェニル)プロパン、2,2-ビス(4-(4-アミノフェノキシ)フェニル)プロパン、1,3-ビス(3-アミノフェノキシ)ベンゼン、1,3-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、1,4-ビス(4-アミノフェノキシ)ベンゼン、4,4’-ビス(4-アミノフェノキシ)ビフェニル、ビス(4-(4-アミノフェノキシ)フェニル)スルホン、ビス(4-(3-アミノフェノキシ)フェニル)スルホン、等が挙げられる。アミン系硬化剤は市販品を用いてもよく、例えば、日本化薬社製の「KAYABOND C-200S」、「KAYABOND C-100」、「カヤハードA-A」、「カヤハードA-B」、「カヤハードA-S」、三菱ケミカル社製の「エピキュアW」等が挙げられる。 Amine-based curing agents include curing agents having one or more amino groups in one molecule, such as aliphatic amines, polyether amines, alicyclic amines, and aromatic amines. Among them, aromatic amines are preferred from the viewpoint of achieving the desired effects of the present invention. Amine-based curing agents are preferably primary amines or secondary amines, more preferably primary amines. Specific examples of amine-based curing agents include 4,4′-methylenebis(2,6-dimethylaniline), diphenyldiaminosulfone, 4,4′-diaminodiphenylmethane, 4,4′-diaminodiphenylsulfone, and 3,3′. -diaminodiphenyl sulfone, m-phenylenediamine, m-xylylenediamine, diethyltoluenediamine, 4,4'-diaminodiphenyl ether, 3,3'-dimethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 2,2'-dimethyl- 4,4'-diaminobiphenyl, 3,3'-dihydroxybenzidine, 2,2-bis(3-amino-4-hydroxyphenyl)propane, 3,3-dimethyl-5,5-diethyl-4,4-diphenylmethane Diamine, 2,2-bis(4-aminophenyl)propane, 2,2-bis(4-(4-aminophenoxy)phenyl)propane, 1,3-bis(3-aminophenoxy)benzene, 1,3- bis(4-aminophenoxy)benzene, 1,4-bis(4-aminophenoxy)benzene, 4,4′-bis(4-aminophenoxy)biphenyl, bis(4-(4-aminophenoxy)phenyl)sulfone, bis(4-(3-aminophenoxy)phenyl)sulfone, and the like. Commercially available amine-based curing agents may be used. Kayahard AS", "Epicure W" manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., and the like.

酸無水物系硬化剤としては、1分子内中に1個以上の酸無水物基を有する硬化剤が挙げられる。酸無水物系硬化剤の具体例としては、無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルナジック酸無水物、水素化メチルナジック酸無水物、トリアルキルテトラヒドロ無水フタル酸、ドデセニル無水コハク酸、5-(2,5-ジオキソテトラヒドロ-3-フラニル)-3-メチル-3-シクロヘキセン-1,2-ジカルボン酸無水物、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸、ベンソフェノンテトラカルボン酸二無水物、ビフェニルテトラカルボン酸二無水物、ナフタレンテトラカルボン酸二無水物、オキシジフタル酸二無水物、3,3’-4,4’-ジフェニルスルホンテトラカルボン酸二無水物、1,3,3a,4,5,9b-ヘキサヒドロ-5-(テトラヒドロ-2,5-ジオキソ-3-フラニル)-ナフト[1,2-C]フラン-1,3-ジオン、エチレングリコールビス(アンヒドロトリメリテート)、スチレンとマレイン酸とが共重合したスチレン・マレイン酸樹脂などのポリマー型の酸無水物などが挙げられる。 Acid anhydride curing agents include curing agents having one or more acid anhydride groups in one molecule. Specific examples of acid anhydride curing agents include phthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, methyltetrahydrophthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, methylnadic anhydride, and hydrogenated methylnadic acid. anhydride, trialkyltetrahydrophthalic anhydride, dodecenylsuccinic anhydride, 5-(2,5-dioxotetrahydro-3-furanyl)-3-methyl-3-cyclohexene-1,2-dicarboxylic anhydride, trianhydride mellitic acid, pyromellitic anhydride, benzophenonetetracarboxylic dianhydride, biphenyltetracarboxylic dianhydride, naphthalenetetracarboxylic dianhydride, oxydiphthalic dianhydride, 3,3'-4,4'- Diphenylsulfonetetracarboxylic dianhydride, 1,3,3a,4,5,9b-hexahydro-5-(tetrahydro-2,5-dioxo-3-furanyl)-naphtho[1,2-C]furan-1 , 3-dione, ethylene glycol bis(anhydrotrimellitate), polymer-type acid anhydrides such as styrene/maleic acid resin obtained by copolymerizing styrene and maleic acid.

上述した中でも、(B)硬化剤としては、本発明の所望の効果を顕著に得る観点から、フェノール系硬化剤、活性エステル系硬化剤、シアネートエステル系硬化剤、ベンゾオキサジン系硬化剤から選択される1種以上であることが好ましく、活性エステル系硬化剤又はフェノール系硬化剤であることがより好ましい。 Among those mentioned above, the curing agent (B) is selected from phenol-based curing agents, active ester-based curing agents, cyanate ester-based curing agents, and benzoxazine-based curing agents from the viewpoint of significantly obtaining the desired effects of the present invention. and more preferably an active ester curing agent or a phenolic curing agent.

(A)エポキシ樹脂と(B)硬化剤との量比は、[(A)成分のエポキシ基の合計数]:[(B)成分の反応基の合計数]の比率で、1:0.01~1:3の範囲が好ましく、1:0.05~1:2がより好ましく、1:0.1~1:1がさらに好ましい。ここで、「(A)成分のエポキシ基の合計数」とは、樹脂組成物中に存在する(A)エポキシ樹脂の不揮発成分の質量をエポキシ当量で除した値を全て合計した値である。また、「(B)成分の反応基の合計数」とは、樹脂組成物中に存在する(B)硬化剤の不揮発成分の質量を活性基当量で除した値を全て合計した値である。(A)エポキシ樹脂と(B)硬化剤との量比をかかる範囲内とすることにより、本発明の所望の効果を顕著に得ることができ、更に通常は、樹脂組成物層の硬化物の耐熱性がより向上する。 The ratio of (A) epoxy resin to (B) curing agent is [total number of epoxy groups in component (A)]:[total number of reactive groups in component (B)], which is 1:0. A range of 01 to 1:3 is preferred, 1:0.05 to 1:2 is more preferred, and 1:0.1 to 1:1 is even more preferred. Here, the "total number of epoxy groups in the component (A)" is the sum of all the values obtained by dividing the mass of the non-volatile component of the epoxy resin (A) present in the resin composition by the epoxy equivalent. The "total number of reactive groups of component (B)" is the sum of all the values obtained by dividing the mass of the non-volatile component of the curing agent (B) present in the resin composition by the active group equivalent. By setting the ratio between (A) the epoxy resin and (B) the curing agent within such a range, the desired effect of the present invention can be significantly obtained, and moreover, usually, the cured product of the resin composition layer Heat resistance is further improved.

(B)硬化剤の含有量は、本発明の所望の効果を顕著に得る観点から、樹脂組成物中の不揮発成分100質量%に対して、好ましくは1質量%以上、より好ましくは3質量%以上、さらに好ましくは5質量%以上であり、好ましくは20質量%以下、より好ましくは15質量%以下、さらに好ましくは10質量%以下である。 (B) The content of the curing agent is preferably 1% by mass or more, more preferably 3% by mass, based on 100% by mass of the non-volatile components in the resin composition, from the viewpoint of significantly obtaining the desired effects of the present invention. Above, more preferably 5% by mass or more, preferably 20% by mass or less, more preferably 15% by mass or less, still more preferably 10% by mass or less.

-(C)無機充填材-
無機充填材の材料の例としては、シリカ、アルミナ、ガラス、コーディエライト、シリコン酸化物、硫酸バリウム、炭酸バリウム、タルク、クレー、雲母粉、酸化亜鉛、ハイドロタルサイト、ベーマイト、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム、炭酸カルシウム、炭酸マグネシウム、酸化マグネシウム、窒化ホウ素、窒化アルミニウム、窒化マンガン、ホウ酸アルミニウム、炭酸ストロンチウム、チタン酸ストロンチウム、チタン酸カルシウム、チタン酸マグネシウム、チタン酸ビスマス、酸化チタン、酸化ジルコニウム、チタン酸バリウム、チタン酸ジルコン酸バリウム、ジルコン酸バリウム、ジルコン酸カルシウム、リン酸ジルコニウム、及びリン酸タングステン酸ジルコニウム等が挙げられる。これらの中でもシリカが特に好適である。シリカとしては、例えば、無定形シリカ、溶融シリカ、結晶シリカ、合成シリカ、中空シリカ等が挙げられる。また、シリカとしては、球状シリカが好ましい。(C)無機充填材は、1種類単独で用いてもよく、2種類以上を組み合わせて用いてもよい。
-(C) Inorganic filler-
Examples of inorganic filler materials include silica, alumina, glass, cordierite, silicon oxide, barium sulfate, barium carbonate, talc, clay, mica powder, zinc oxide, hydrotalcite, boehmite, aluminum hydroxide, Magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum nitride, manganese nitride, aluminum borate, strontium carbonate, strontium titanate, calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, zirconium oxide , barium titanate, barium zirconate titanate, barium zirconate, calcium zirconate, zirconium phosphate, and zirconium tungstate phosphate. Among these, silica is particularly suitable. Examples of silica include amorphous silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica, and hollow silica. Moreover, as silica, spherical silica is preferable. (C) Inorganic fillers may be used singly or in combination of two or more.

(C)無機充填材の市販品としては、例えば、新日鉄住金マテリアルズ社製の「SP60-05」、「SP507-05」;アドマテックス社製の「YC100C」、「YA050C」、「YA050C-MJE」、「YA010C」;デンカ社製の「UFP-30」;トクヤマ社製の「シルフィルNSS-3N」、「シルフィルNSS-4N」、「シルフィルNSS-5N」;アドマテックス社製の「SC2500SQ」、「SO-C4」、「SO-C2」、「SO-C1」;などが挙げられる。 (C) Commercially available inorganic fillers include, for example, "SP60-05" and "SP507-05" manufactured by Nippon Steel & Sumikin Materials; "YC100C", "YA050C" and "YA050C-MJE" manufactured by Admatechs. ”, “YA010C”; “UFP-30” manufactured by Denka; "SO-C4", "SO-C2", "SO-C1";

(C)無機充填材の平均粒径は、本発明の所望の効果を顕著に得る観点から、好ましくは0.01μm以上、より好ましくは0.05μm以上、特に好ましくは0.1μm以上であり、好ましくは5μm以下、より好ましくは2μm以下、さらに好ましくは1μm以下である。 (C) The average particle size of the inorganic filler is preferably 0.01 μm or more, more preferably 0.05 μm or more, and particularly preferably 0.1 μm or more, from the viewpoint of significantly obtaining the desired effects of the present invention, It is preferably 5 µm or less, more preferably 2 µm or less, and still more preferably 1 µm or less.

(C)無機充填材の平均粒径は、ミー(Mie)散乱理論に基づくレーザー回折・散乱法により測定することができる。具体的には、レーザー回折散乱式粒径分布測定装置により、無機充填材の粒径分布を体積基準で作成し、そのメディアン径を平均粒径とすることで測定することができる。測定サンプルは、無機充填材100mg、メチルエチルケトン10gをバイアル瓶に秤取り、超音波にて10分間分散させたものを使用することができる。測定サンプルを、レーザー回折式粒径分布測定装置を使用して、使用光源波長を青色及び赤色とし、フローセル方式で(C)無機充填材の体積基準の粒径分布を測定し、得られた粒径分布からメディアン径として平均粒径を算出した。レーザー回折式粒径分布測定装置としては、例えば堀場製作所社製「LA-960」等が挙げられる。 (C) The average particle size of the inorganic filler can be measured by a laser diffraction/scattering method based on Mie scattering theory. Specifically, the particle size distribution of the inorganic filler is prepared on a volume basis using a laser diffraction/scattering type particle size distribution measuring device, and the median diameter can be used as the average particle size for measurement. A measurement sample can be obtained by weighing 100 mg of an inorganic filler and 10 g of methyl ethyl ketone in a vial and dispersing them with ultrasonic waves for 10 minutes. The measurement sample is measured using a laser diffraction particle size distribution measuring device, the wavelengths of the light source used are blue and red, and the volume-based particle size distribution of the inorganic filler (C) is measured by the flow cell method. The average particle size was calculated as the median size from the size distribution. Examples of the laser diffraction particle size distribution analyzer include "LA-960" manufactured by Horiba, Ltd., and the like.

(C)無機充填材の比表面積は、本発明の所望の効果を顕著に得る観点から、好ましくは1m/g以上、より好ましくは3m/g以上、特に好ましくは5m/g以上である。上限に特段の制限は無いが、好ましくは60m/g以下、50m/g以下又は40m/g以下である。比表面積は、BET法に従って、比表面積測定装置(マウンテック社製Macsorb HM-1210)を使用して試料表面に窒素ガスを吸着させ、BET多点法を用いて比表面積を算出することで得られる。 (C) The specific surface area of the inorganic filler is preferably 1 m 2 /g or more, more preferably 3 m 2 /g or more, and particularly preferably 5 m 2 /g or more, from the viewpoint of significantly obtaining the desired effects of the present invention. be. Although there is no particular upper limit, it is preferably 60 m 2 /g or less, 50 m 2 /g or less, or 40 m 2 /g or less. The specific surface area is obtained by adsorbing nitrogen gas on the sample surface using a specific surface area measuring device (Macsorb HM-1210 manufactured by Mountech) according to the BET method and calculating the specific surface area using the BET multipoint method. .

(C)無機充填材は、耐湿性及び分散性を高める観点から、表面処理剤で処理されていることが好ましい。表面処理剤としては、例えば、フッ素含有シランカップリング剤、アミノシラン系カップリング剤、エポキシシラン系カップリング剤、メルカプトシラン系カップリング剤、シラン系カップリング剤、アルコキシシラン、オルガノシラザン化合物、チタネート系カップリング剤等が挙げられる。また、表面処理剤は、1種類単独で用いてもよく、2種類以上を任意に組み合わせて用いてもよい。 (C) The inorganic filler is preferably treated with a surface treatment agent from the viewpoint of enhancing moisture resistance and dispersibility. Examples of surface treatment agents include fluorine-containing silane coupling agents, aminosilane coupling agents, epoxysilane coupling agents, mercaptosilane coupling agents, silane coupling agents, alkoxysilanes, organosilazane compounds, and titanate compounds. A coupling agent etc. are mentioned. Moreover, one type of surface treatment agent may be used alone, or two or more types may be used in combination.

表面処理剤の市販品としては、例えば、信越化学工業社製「KBM403」(3-グリシドキシプロピルトリメトキシシラン)、信越化学工業社製「KBM803」(3-メルカプトプロピルトリメトキシシラン)、信越化学工業社製「KBE903」(3-アミノプロピルトリエトキシシラン)、信越化学工業社製「KBM573」(N-フェニル-3-アミノプロピルトリメトキシシラン)、信越化学工業社製「SZ-31」(ヘキサメチルジシラザン)、信越化学工業社製「KBM103」(フェニルトリメトキシシラン)、信越化学工業社製「KBM-4803」(長鎖エポキシ型シランカップリング剤)、信越化学工業社製「KBM-7103」(3,3,3-トリフルオロプロピルトリメトキシシラン)等が挙げられる。 Examples of commercially available surface treatment agents include "KBM403" (3-glycidoxypropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., "KBM803" (3-mercaptopropyltrimethoxysilane) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., Shin-Etsu Chemical Industry Co., Ltd. "KBE903" (3-aminopropyltriethoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBM573" (N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "SZ-31" ( Hexamethyldisilazane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBM103" (phenyltrimethoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBM-4803" (long-chain epoxy type silane coupling agent), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBM- 7103” (3,3,3-trifluoropropyltrimethoxysilane).

表面処理剤による表面処理の程度は、無機充填材の分散性向上の観点から、所定の範囲に収まることが好ましい。具体的には、無機充填材100質量部は、0.2質量部~5質量部の表面処理剤で表面処理されていることが好ましく、0.2質量部~3質量部で表面処理されていることが好ましく、0.3質量部~2質量部で表面処理されていることが好ましい。 From the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler, the degree of surface treatment with the surface treatment agent is preferably within a predetermined range. Specifically, 100 parts by mass of the inorganic filler is preferably surface-treated with 0.2-5 parts by mass of a surface treatment agent, and is surface-treated with 0.2-3 parts by mass. preferably 0.3 parts by mass to 2 parts by mass of the surface treatment.

表面処理剤による表面処理の程度は、無機充填材の単位表面積当たりのカーボン量によって評価することができる。無機充填材の単位表面積当たりのカーボン量は、無機充填材の分散性向上の観点から、0.02mg/m以上が好ましく、0.1mg/m以上がより好ましく、0.2mg/m以上が更に好ましい。一方、樹脂ワニスの溶融粘度及びシート形態での溶融粘度の上昇を抑制する観点から、1mg/m以下が好ましく、0.8mg/m以下がより好ましく、0.5mg/m以下が更に好ましい。 The degree of surface treatment by the surface treatment agent can be evaluated by the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler. The amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler is preferably 0.02 mg/m 2 or more, more preferably 0.1 mg/m 2 or more, and more preferably 0.2 mg/m 2 from the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler. The above is more preferable. On the other hand, from the viewpoint of suppressing the melt viscosity of the resin varnish and the melt viscosity in the sheet form, it is preferably 1 mg/m 2 or less, more preferably 0.8 mg/m 2 or less, and further preferably 0.5 mg/m 2 or less. preferable.

無機充填材の単位表面積当たりのカーボン量は、表面処理後の無機充填材を溶剤(例えば、メチルエチルケトン(MEK))により洗浄処理した後に測定することができる。具体的には、溶剤として十分な量のMEKを表面処理剤で表面処理された無機充填材に加えて、25℃で5分間超音波洗浄する。上澄液を除去し、固形分を乾燥させた後、カーボン分析計を用いて無機充填材の単位表面積当たりのカーボン量を測定することができる。カーボン分析計としては、堀場製作所社製「EMIA-320V」等を使用することができる。 The amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured after the surface-treated inorganic filler is washed with a solvent (eg, methyl ethyl ketone (MEK)). Specifically, a sufficient amount of MEK as a solvent is added to the inorganic filler surface-treated with the surface treatment agent, and ultrasonic cleaning is performed at 25° C. for 5 minutes. After removing the supernatant liquid and drying the solid content, a carbon analyzer can be used to measure the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler. As a carbon analyzer, "EMIA-320V" manufactured by Horiba Ltd. can be used.

(C)無機充填材の含有量は、タック力を低下させる観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、70質量%以上であり、好ましくは71質量%以上、より好ましくは72質量%以上であり、部品埋め込み性を向上させる観点から、好ましくは90質量%以下、より好ましくは85質量%以下、さらに好ましくは80質量%以下である。 (C) The content of the inorganic filler is 70% by mass or more, preferably 71% by mass or more, more preferably 71% by mass or more, when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, from the viewpoint of reducing the tackiness. is 72% by mass or more, and is preferably 90% by mass or less, more preferably 85% by mass or less, and even more preferably 80% by mass or less from the viewpoint of improving part embedding properties.

-(D)熱可塑性樹脂-
(D)成分としての熱可塑性樹脂としては、例えば、フェノキシ樹脂、ポリビニルアセタール樹脂、ポリオレフィン樹脂、ポリブタジエン樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリエーテルイミド樹脂、ポリスルホン樹脂、ポリエーテルスルホン樹脂、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリエーテルエーテルケトン樹脂、ポリエステル樹脂等が挙げられる。中でも、本発明の所望の効果を顕著に得る観点、並びに、表面粗さが小さく導体層との密着性に特に優れる絶縁層を得る観点から、フェノキシ樹脂が好ましい。また、(D)熱可塑性樹脂は、1種類単独で用いてもよく、又は2種類以上を組み合わせて用いてもよい。
-(D) thermoplastic resin-
Examples of thermoplastic resins as component (D) include phenoxy resins, polyvinyl acetal resins, polyolefin resins, polybutadiene resins, polyimide resins, polyamideimide resins, polyetherimide resins, polysulfone resins, polyethersulfone resins, and polyphenylene ether resins. , polycarbonate resins, polyetheretherketone resins, polyester resins, and the like. Among them, the phenoxy resin is preferable from the viewpoint of obtaining the desired effects of the present invention remarkably and from the viewpoint of obtaining an insulating layer having a small surface roughness and particularly excellent adhesion to the conductor layer. In addition, (D) the thermoplastic resin may be used alone or in combination of two or more.

フェノキシ樹脂としては、例えば、ビスフェノールA骨格、ビスフェノールF骨格、ビスフェノールS骨格、ビスフェノールアセトフェノン骨格、ノボラック骨格、ビフェニル骨格、フルオレン骨格、ジシクロペンタジエン骨格、ノルボルネン骨格、ナフタレン骨格、アントラセン骨格、アダマンタン骨格、テルペン骨格、及びトリメチルシクロヘキサン骨格からなる群から選択される1種類以上の骨格を有するフェノキシ樹脂が挙げられる。フェノキシ樹脂の末端は、フェノール性水酸基、エポキシ基等のいずれの官能基でもよい。 Examples of phenoxy resins include bisphenol A skeleton, bisphenol F skeleton, bisphenol S skeleton, bisphenolacetophenone skeleton, novolac skeleton, biphenyl skeleton, fluorene skeleton, dicyclopentadiene skeleton, norbornene skeleton, naphthalene skeleton, anthracene skeleton, adamantane skeleton, and terpene. Examples include phenoxy resins having one or more skeletons selected from the group consisting of skeletons and trimethylcyclohexane skeletons. The terminal of the phenoxy resin may be any functional group such as a phenolic hydroxyl group or an epoxy group.

フェノキシ樹脂の具体例としては、三菱ケミカル社製の「1256」及び「4250」(いずれもビスフェノールA骨格含有フェノキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「YX8100」(ビスフェノールS骨格含有フェノキシ樹脂);三菱ケミカル社製の「YX6954」(ビスフェノールアセトフェノン骨格含有フェノキシ樹脂);新日鉄住金化学社製の「FX280」及び「FX293」;三菱ケミカル社製の「YL7500BH30」、「YX6954BH30」、「YX7553」、「YX7553BH30」、「YL7769BH30」、「YL6794」、「YL7213」、「YL7290」及び「YL7482」、「YL7482BH30」;等が挙げられる。 Specific examples of the phenoxy resin include Mitsubishi Chemical's "1256" and "4250" (both bisphenol A skeleton-containing phenoxy resins); Mitsubishi Chemical's "YX8100" (bisphenol S skeleton-containing phenoxy resin); Mitsubishi Chemical "YX6954" (bisphenolacetophenone skeleton-containing phenoxy resin) manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.; "FX280" and "FX293" manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.; "YL7769BH30", "YL6794", "YL7213", "YL7290" and "YL7482", "YL7482BH30";

ポリビニルアセタール樹脂としては、例えば、ポリビニルホルマール樹脂、ポリビニルブチラール樹脂が挙げられ、ポリビニルブチラール樹脂が好ましい。ポリビニルアセタール樹脂の具体例としては、電気化学工業社製の「電化ブチラール4000-2」、「電化ブチラール5000-A」、「電化ブチラール6000-C」、「電化ブチラール6000-EP」;積水化学工業社製のエスレックBHシリーズ、BXシリーズ(例えばBX-5Z)、KSシリーズ(例えばKS-1)、BLシリーズ、BMシリーズ;等が挙げられる。 Examples of polyvinyl acetal resins include polyvinyl formal resins and polyvinyl butyral resins, and polyvinyl butyral resins are preferred. Specific examples of polyvinyl acetal resins include Denka Butyral 4000-2, Denka Butyral 5000-A, Denka Butyral 6000-C, and Denka Butyral 6000-EP manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd. S-LEC BH series, BX series (eg BX-5Z), KS series (eg KS-1), BL series, BM series;

ポリイミド樹脂の具体例としては、新日本理化社製の「リカコートSN20」及び「リカコートPN20」が挙げられる。ポリイミド樹脂の具体例としてはまた、2官能性ヒドロキシル基末端ポリブタジエン、ジイソシアネート化合物及び四塩基酸無水物を反応させて得られる線状ポリイミド(特開2006-37083号公報記載のポリイミド)、ポリシロキサン骨格含有ポリイミド(特開2002-12667号公報及び特開2000-319386号公報等に記載のポリイミド)等の変性ポリイミドが挙げられる。 Specific examples of the polyimide resin include "Ricacoat SN20" and "Ricacoat PN20" manufactured by Shin Nippon Rika. Specific examples of polyimide resins also include linear polyimides obtained by reacting bifunctional hydroxyl group-terminated polybutadiene, diisocyanate compounds and tetrabasic acid anhydrides (polyimides described in JP-A-2006-37083), and polysiloxane skeletons. Examples include modified polyimides such as polyimide containing (polyimides described in JP-A-2002-12667 and JP-A-2000-319386).

ポリアミドイミド樹脂の具体例としては、東洋紡社製の「バイロマックスHR11NN」及び「バイロマックスHR16NN」が挙げられる。ポリアミドイミド樹脂の具体例としてはまた、日立化成社製の「KS9100」、「KS9300」(ポリシロキサン骨格含有ポリアミドイミド)等の変性ポリアミドイミドが挙げられる。 Specific examples of polyamide-imide resins include "VYLOMAX HR11NN" and "VYLOMAX HR16NN" manufactured by Toyobo Co., Ltd. Specific examples of polyamideimide resins include modified polyamideimides such as "KS9100" and "KS9300" (polysiloxane skeleton-containing polyamideimides) manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.

ポリエーテルスルホン樹脂の具体例としては、住友化学社製の「PES5003P」等が挙げられる。 Specific examples of the polyethersulfone resin include "PES5003P" manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd., and the like.

ポリフェニレンエーテル樹脂の具体例としては、三菱ガス化学社製のオリゴフェニレンエーテル・スチレン樹脂「OPE-2St 1200」等が挙げられる。 Specific examples of the polyphenylene ether resin include oligophenylene ether/styrene resin "OPE-2St 1200" manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Company, Inc., and the like.

ポリスルホン樹脂の具体例としては、ソルベイアドバンストポリマーズ社製のポリスルホン「P1700」、「P3500」等が挙げられる。 Specific examples of the polysulfone resin include polysulfone "P1700" and "P3500" manufactured by Solvay Advanced Polymers.

(D)熱可塑性樹脂の重量平均分子量(Mw)は、本発明の所望の効果を顕著に得る観点から、好ましくは8,000以上、より好ましくは10,000以上、特に好ましくは20,000以上であり、好ましくは70,000以下、より好ましくは60,000以下、特に好ましくは50,000以下である。 (D) The weight average molecular weight (Mw) of the thermoplastic resin is preferably 8,000 or more, more preferably 10,000 or more, and particularly preferably 20,000 or more, from the viewpoint of significantly obtaining the desired effects of the present invention. is preferably 70,000 or less, more preferably 60,000 or less, and particularly preferably 50,000 or less.

(D)熱可塑性樹脂の含有量は、本発明の所望の効果を顕著に得る観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは0.1質量%以上、より好ましくは0.5質量%以上、さらに好ましくは1質量%以上であり、好ましくは5質量%以下、より好ましくは4質量%以下、さらに好ましくは3質量%以下である。 (D) The content of the thermoplastic resin is preferably 0.1% by mass or more, more preferably 0.1% by mass or more, when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, from the viewpoint of significantly obtaining the desired effects of the present invention. is 0.5% by mass or more, more preferably 1% by mass or more, preferably 5% by mass or less, more preferably 4% by mass or less, and even more preferably 3% by mass or less.

-(E)硬化促進剤-
硬化促進剤としては、例えば、リン系硬化促進剤、アミン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、グアニジン系硬化促進剤、金属系硬化促進剤等が挙げられる。中でも、リン系硬化促進剤、アミン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、金属系硬化促進剤が好ましく、アミン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、金属系硬化促進剤がより好ましい。硬化促進剤は、1種類単独で用いてもよく、2種類以上を組み合わせて用いてもよい。
-(E) Curing accelerator-
Examples of curing accelerators include phosphorus-based curing accelerators, amine-based curing accelerators, imidazole-based curing accelerators, guanidine-based curing accelerators, metal-based curing accelerators, and the like. Among them, phosphorus curing accelerators, amine curing accelerators, imidazole curing accelerators, and metallic curing accelerators are preferred, and amine curing accelerators, imidazole curing accelerators, and metallic curing accelerators are more preferred. The curing accelerator may be used singly or in combination of two or more.

リン系硬化促進剤としては、例えば、トリフェニルホスフィン、ホスホニウムボレート化合物、テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート、n-ブチルホスホニウムテトラフェニルボレート、テトラブチルホスホニウムデカン酸塩、(4-メチルフェニル)トリフェニルホスホニウムチオシアネート、テトラフェニルホスホニウムチオシアネート、ブチルトリフェニルホスホニウムチオシアネート等が挙げられ、トリフェニルホスフィン、テトラブチルホスホニウムデカン酸塩が好ましい。 Phosphorus curing accelerators include, for example, triphenylphosphine, phosphonium borate compounds, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, n-butylphosphonium tetraphenylborate, tetrabutylphosphonium decanoate, (4-methylphenyl)triphenylphosphonium thiocyanate. , tetraphenylphosphonium thiocyanate, and butyltriphenylphosphonium thiocyanate, and triphenylphosphine and tetrabutylphosphonium decanoate are preferred.

アミン系硬化促進剤としては、例えば、トリエチルアミン、トリブチルアミン等のトリアルキルアミン、4-ジメチルアミノピリジン、ベンジルジメチルアミン、2,4,6,-トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール、1,8-ジアザビシクロ(5,4,0)-ウンデセン等が挙げられ、4-ジメチルアミノピリジン、1,8-ジアザビシクロ(5,4,0)-ウンデセンが好ましい。 Examples of amine curing accelerators include trialkylamines such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6-tris(dimethylaminomethyl)phenol, 1,8-diazabicyclo (5,4,0)-undecene and the like, with 4-dimethylaminopyridine and 1,8-diazabicyclo(5,4,0)-undecene being preferred.

イミダゾール系硬化促進剤としては、例えば、2-メチルイミダゾール、2-ウンデシルイミダゾール、2-ヘプタデシルイミダゾール、1,2-ジメチルイミダゾール、2-エチル-4-メチルイミダゾール、1,2-ジメチルイミダゾール、2-エチル-4-メチルイミダゾール、2-フェニルイミダゾール、2-フェニル-4-メチルイミダゾール、1-ベンジル-2-メチルイミダゾール、1-ベンジル-2-フェニルイミダゾール、1-シアノエチル-2-メチルイミダゾール、1-シアノエチル-2-ウンデシルイミダゾール、1-シアノエチル-2-エチル-4-メチルイミダゾール、1-シアノエチル-2-フェニルイミダゾール、1-シアノエチル-2-ウンデシルイミダゾリウムトリメリテイト、1-シアノエチル-2-フェニルイミダゾリウムトリメリテイト、2,4-ジアミノ-6-[2’-メチルイミダゾリル-(1’)]-エチル-s-トリアジン、2,4-ジアミノ-6-[2’-ウンデシルイミダゾリル-(1’)]-エチル-s-トリアジン、2,4-ジアミノ-6-[2’-エチル-4’-メチルイミダゾリル-(1’)]-エチル-s-トリアジン、2,4-ジアミノ-6-[2’-メチルイミダゾリル-(1’)]-エチル-s-トリアジンイソシアヌル酸付加物、2-フェニルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2-フェニル-4,5-ジヒドロキシメチルイミダゾール、2-フェニル-4-メチル-5-ヒドロキシメチルイミダゾール、2,3-ジヒドロ-1H-ピロロ[1,2-a]ベンズイミダゾール、1-ドデシル-2-メチル-3-ベンジルイミダゾリウムクロライド、2-メチルイミダゾリン、2-フェニルイミダゾリン等のイミダゾール化合物及びイミダゾール化合物とエポキシ樹脂とのアダクト体が挙げられ、2-エチル-4-メチルイミダゾール、1-ベンジル-2-フェニルイミダゾールが好ましい。 Examples of imidazole curing accelerators include 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl- 2-phenylimidazolium trimellitate, 2,4-diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2'-undecyl imidazolyl-(1′)]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2′-ethyl-4′-methylimidazolyl-(1′)]-ethyl-s-triazine, 2,4- Diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine isocyanurate, 2-phenylimidazole isocyanurate, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2- Phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo[1,2-a]benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline , 2-phenylimidazoline and the like, and adducts of imidazole compounds and epoxy resins, with 2-ethyl-4-methylimidazole and 1-benzyl-2-phenylimidazole being preferred.

イミダゾール系硬化促進剤としては、市販品を用いてもよく、例えば、三菱ケミカル社製の「P200-H50」等が挙げられる。 As the imidazole-based curing accelerator, a commercially available product may be used, such as "P200-H50" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation.

グアニジン系硬化促進剤としては、例えば、ジシアンジアミド、1-メチルグアニジン、1-エチルグアニジン、1-シクロヘキシルグアニジン、1-フェニルグアニジン、1-(o-トリル)グアニジン、ジメチルグアニジン、ジフェニルグアニジン、トリメチルグアニジン、テトラメチルグアニジン、ペンタメチルグアニジン、1,5,7-トリアザビシクロ[4.4.0]デカ-5-エン、7-メチル-1,5,7-トリアザビシクロ[4.4.0]デカ-5-エン、1-メチルビグアニド、1-エチルビグアニド、1-n-ブチルビグアニド、1-n-オクタデシルビグアニド、1,1-ジメチルビグアニド、1,1-ジエチルビグアニド、1-シクロヘキシルビグアニド、1-アリルビグアニド、1-フェニルビグアニド、1-(o-トリル)ビグアニド等が挙げられ、ジシアンジアミド、1,5,7-トリアザビシクロ[4.4.0]デカ-5-エンが好ましい。 Guanidine curing accelerators include, for example, dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, 1-(o-tolyl)guanidine, dimethylguanidine, diphenylguanidine, trimethylguanidine, Tetramethylguanidine, Pentamethylguanidine, 1,5,7-triazabicyclo[4.4.0]dec-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo[4.4.0] Dec-5-ene, 1-methylbiguanide, 1-ethylbiguanide, 1-n-butylbiguanide, 1-n-octadecylbiguanide, 1,1-dimethylbiguanide, 1,1-diethylbiguanide, 1-cyclohexylbiguanide, 1 -allylbiguanide, 1-phenylbiguanide, 1-(o-tolyl)biguanide and the like, with dicyandiamide and 1,5,7-triazabicyclo[4.4.0]dec-5-ene being preferred.

金属系硬化促進剤としては、例えば、コバルト、銅、亜鉛、鉄、ニッケル、マンガン、スズ等の金属の、有機金属錯体又は有機金属塩が挙げられる。有機金属錯体の具体例としては、コバルト(II)アセチルアセトナート、コバルト(III)アセチルアセトナート等の有機コバルト錯体、銅(II)アセチルアセトナート等の有機銅錯体、亜鉛(II)アセチルアセトナート等の有機亜鉛錯体、鉄(III)アセチルアセトナート等の有機鉄錯体、ニッケル(II)アセチルアセトナート等の有機ニッケル錯体、マンガン(II)アセチルアセトナート等の有機マンガン錯体等が挙げられる。有機金属塩としては、例えば、オクチル酸亜鉛、オクチル酸錫、ナフテン酸亜鉛、ナフテン酸コバルト、ステアリン酸スズ、ステアリン酸亜鉛等が挙げられる。 Metal-based curing accelerators include, for example, organometallic complexes or organometallic salts of metals such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese, and tin. Specific examples of organometallic complexes include organocobalt complexes such as cobalt (II) acetylacetonate and cobalt (III) acetylacetonate, organocopper complexes such as copper (II) acetylacetonate, and zinc (II) acetylacetonate. organic zinc complexes such as iron (III) acetylacetonate; organic nickel complexes such as nickel (II) acetylacetonate; organic manganese complexes such as manganese (II) acetylacetonate; Examples of organic metal salts include zinc octoate, tin octoate, zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin stearate, and zinc stearate.

(E)硬化促進剤の含有量は、本発明の所望の効果を顕著に得る観点から、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは0.01質量%以上、より好ましくは0.02質量%以上、さらに好ましくは0.03質量%以上であり、好ましくは0.3質量%以下、より好ましくは0.2質量%以下、さらに好ましくは0.1質量%以下である。 (E) The content of the curing accelerator is preferably 0.01% by mass or more, more preferably 0.01% by mass or more, when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass, from the viewpoint of significantly obtaining the desired effects of the present invention. is 0.02% by mass or more, more preferably 0.03% by mass or more, preferably 0.3% by mass or less, more preferably 0.2% by mass or less, and still more preferably 0.1% by mass or less .

-(F)難燃剤-
一実施形態において、樹脂組成物は、(F)難燃剤を含有し得る。難燃剤としては、例えば、有機リン系難燃剤、有機系窒素含有リン化合物、窒素化合物、シリコーン系難燃剤、金属水酸化物等が挙げられる。難燃剤は1種単独で用いてもよく、又は2種以上を併用してもよい。
-(F) flame retardant-
In one embodiment, the resin composition may contain (F) a flame retardant. Examples of flame retardants include organic phosphorus flame retardants, organic nitrogen-containing phosphorus compounds, nitrogen compounds, silicone flame retardants, and metal hydroxides. A flame retardant may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.

難燃剤としては、市販品を用いてもよく、例えば、三光社製の「HCA-HQ」、大八化学工業社製の「PX-200」等が挙げられる。難燃剤としては加水分解しにくいものが好ましく、例えば、10-(2,5-ジヒドロキシフェニル)-10-ヒドロ-9-オキサ-10-フォスファフェナンスレン-10-オキサイド等が好ましい。 As the flame retardant, a commercially available product may be used, and examples thereof include “HCA-HQ” manufactured by Sanko Co., Ltd., and “PX-200” manufactured by Daihachi Chemical Industry Co., Ltd. As the flame retardant, one that is difficult to hydrolyze is preferable, and for example, 10-(2,5-dihydroxyphenyl)-10-hydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide is preferable.

(F)難燃剤の含有量は、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%とした場合、好ましくは0.1質量%以上、より好ましくは0.5質量%以上、さらに好ましくは1質量%以上であり、好ましくは5質量%以下、より好ましく4質量%以下、さらに好ましくは3質量%以下である。 (F) The content of the flame retardant is preferably 0.1% by mass or more, more preferably 0.5% by mass or more, and still more preferably 1% by mass, when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass. or more, preferably 5% by mass or less, more preferably 4% by mass or less, and even more preferably 3% by mass or less.

-(G)その他の添加剤-
樹脂組成物は、上述した成分以外に、任意の成分として、更にその他の添加剤を含んでいてもよい。このような添加剤としては、例えば、有機充填材;増粘剤、消泡剤、レベリング剤、密着性付与剤等の樹脂添加剤;などが挙げられる。これらの添加剤は、1種類単独で用いてもよく、2種類以上を組み合わせて用いてもよい。
-(G) Other additives-
The resin composition may further contain other additives as optional components in addition to the components described above. Such additives include, for example, organic fillers; resin additives such as thickeners, antifoaming agents, leveling agents, adhesion imparting agents; and the like. These additives may be used singly or in combination of two or more.

樹脂組成物層の厚さは、部品埋め込み性向上の観点から、好ましくは1μm以上、より好ましくは10μm以上、さらに好ましくは15μm以上である。タック力を抑制するという観点から、好ましくは100μm以下、より好ましくは80μm以下、さらに好ましくは50μm以下、40μm以下、30μm以下である。好適な一実施形態において、樹脂組成物層の厚さは、10~40μmの範囲である。 The thickness of the resin composition layer is preferably 1 μm or more, more preferably 10 μm or more, and still more preferably 15 μm or more, from the viewpoint of improving part embedding properties. From the viewpoint of suppressing the tack force, the thickness is preferably 100 μm or less, more preferably 80 μm or less, even more preferably 50 μm or less, 40 μm or less, and 30 μm or less. In one preferred embodiment, the thickness of the resin composition layer is in the range of 10-40 μm.

<支持体>
支持体としては、例えば、プラスチック材料からなるフィルム、金属箔、離型紙が挙げられ、プラスチック材料からなるフィルム、金属箔が好ましい。
<Support>
Examples of the support include a film made of a plastic material, a metal foil, and a release paper, and a film made of a plastic material and a metal foil are preferable.

支持体としてプラスチック材料からなるフィルムを使用する場合、プラスチック材料としては、例えば、ポリエチレンテレフタレート(以下「PET」と略称することがある。)、ポリエチレンナフタレート(以下「PEN」と略称することがある。)等のポリエステル、ポリカーボネート(以下「PC」と略称することがある。)、ポリメチルメタクリレート(PMMA)等のアクリル、環状ポリオレフィン、トリアセチルセルロース(TAC)、ポリエーテルサルファイド(PES)、ポリエーテルケトン、ポリイミド等が挙げられる。中でも、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレートが好ましく、安価なポリエチレンテレフタレートが特に好ましい。 When a film made of a plastic material is used as the support, examples of the plastic material include polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as "PET") and polyethylene naphthalate (hereinafter sometimes abbreviated as "PEN"). ), polycarbonate (hereinafter sometimes abbreviated as "PC"), acrylic such as polymethyl methacrylate (PMMA), cyclic polyolefin, triacetyl cellulose (TAC), polyether sulfide (PES), polyether ketones, polyimides, and the like. Among them, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are preferable, and inexpensive polyethylene terephthalate is particularly preferable.

支持体として金属箔を使用する場合、金属箔としては、例えば、銅箔、アルミニウム箔等が挙げられ、銅箔が好ましい。銅箔としては、銅の単金属からなる箔を用いてもよく、銅と他の金属(例えば、スズ、クロム、銀、マグネシウム、ニッケル、ジルコニウム、ケイ素、チタン等)との合金からなる箔を用いてもよい。 When a metal foil is used as the support, examples of the metal foil include copper foil and aluminum foil, with copper foil being preferred. As the copper foil, a foil made of a single metal of copper may be used, and a foil made of an alloy of copper and other metals (for example, tin, chromium, silver, magnesium, nickel, zirconium, silicon, titanium, etc.) may be used. may be used.

支持体は、樹脂組成物層と接合する面にマット処理、コロナ処理、帯電防止処理を施してあってもよい。 The support may be subjected to matte treatment, corona treatment, or antistatic treatment on the surface to be bonded to the resin composition layer.

また、支持体としては、樹脂組成物層と接合する面に離型層を有する離型層付き支持体を使用してもよい。離型層付き支持体の離型層に使用する離型剤としては、例えば、アルキド樹脂、ポリオレフィン樹脂、ウレタン樹脂、及びシリコーン樹脂からなる群から選択される1種以上の離型剤が挙げられる。離型層付き支持体は、市販品を用いてもよく、例えば、アルキド樹脂系離型剤を主成分とする離型層を有するPETフィルムである、リンテック社製の「SK-1」、「AL-5」、「AL-7」、東レ社製の「ルミラーT60」、帝人社製の「ピューレックス」、ユニチカ社製の「ユニピール」等が挙げられる。 Further, as the support, a support with a release layer having a release layer on the surface to be bonded to the resin composition layer may be used. The release agent used in the release layer of the release layer-attached support includes, for example, one or more release agents selected from the group consisting of alkyd resins, polyolefin resins, urethane resins, and silicone resins. . As the support with a release layer, a commercially available product may be used, for example, "SK-1" manufactured by Lintec Co., Ltd., "SK-1", " AL-5", "AL-7", Toray's "Lumirror T60", Teijin's "Purex", and Unitika's "Unipeel".

支持体の厚さとしては、特に限定されないが、5μm~75μmの範囲が好ましく、10μm~60μmの範囲がより好ましい。好適な一実施形態において、支持体の厚さは、20~50μmの範囲である。なお、離型層付き支持体を使用する場合、離型層付き支持体全体の厚さが上記範囲であることが好ましい。 The thickness of the support is not particularly limited, but is preferably in the range of 5 μm to 75 μm, more preferably in the range of 10 μm to 60 μm. In one preferred embodiment, the thickness of the support is in the range of 20-50 μm. When a release layer-attached support is used, the thickness of the release layer-attached support as a whole is preferably within the above range.

樹脂組成物層と接合しない支持体の表面の算術平均粗さ(Ra)は、好ましくは150nm以上、より好ましくは200nm以上、さらに好ましくは250nm以上である。上限値は、好ましくは2000nm以下、より好ましくは1500nm以下、さらに好ましくは1200nm以下である。算術平均粗さは、樹脂組成物層の第2面の算術平均粗さ(Ra2)にて説明したものと同じ方法にて測定することが可能である。 The arithmetic mean roughness (Ra) of the surface of the support that is not bonded to the resin composition layer is preferably 150 nm or more, more preferably 200 nm or more, and even more preferably 250 nm or more. The upper limit is preferably 2000 nm or less, more preferably 1500 nm or less, still more preferably 1200 nm or less. The arithmetic mean roughness can be measured by the same method as described for the arithmetic mean roughness (Ra2) of the second surface of the resin composition layer.

<保護フィルム>
保護フィルムによれば、樹脂組成物層の第2面を物理的ダメージから守り、またゴミ等の異物付着を抑制できる。さらに本発明においては、上記条件(I)を満たす樹脂組成物層を形成するために、保護フィルムの第1面の算術平均粗さが特定の範囲にある保護フィルムを使用することが好ましい。樹脂組成物層に保護フィルムの第1面の表面凹凸を転写することによって、樹脂組成物層の第2面の算術平均粗さが条件(I)を満たすように調整することができる。
<Protective film>
The protective film can protect the second surface of the resin composition layer from physical damage, and can suppress adhesion of foreign matter such as dust. Furthermore, in the present invention, in order to form a resin composition layer that satisfies the above condition (I), it is preferable to use a protective film whose first surface has an arithmetic mean roughness within a specific range. By transferring the surface unevenness of the first surface of the protective film to the resin composition layer, the arithmetic mean roughness of the second surface of the resin composition layer can be adjusted so as to satisfy the condition (I).

樹脂組成物層と接合する保護フィルムの表面、すなわち保護フィルムの第1面の算術平均粗さは、好ましくは150nm以上、より好ましくは200nm以上、さらに好ましくは250nm以上である。上限値は、好ましくは2000nm以下、より好ましくは1500nm以下、さらに好ましくは1200nm以下である。算術平均粗さは、樹脂組成物層の第2面の算術平均粗さ(Ra2)にて説明したものと同じ方法にて測定することが可能である。 The surface of the protective film that joins the resin composition layer, that is, the first surface of the protective film preferably has an arithmetic mean roughness of 150 nm or more, more preferably 200 nm or more, and still more preferably 250 nm or more. The upper limit is preferably 2000 nm or less, more preferably 1500 nm or less, still more preferably 1200 nm or less. The arithmetic mean roughness can be measured by the same method as described for the arithmetic mean roughness (Ra2) of the second surface of the resin composition layer.

保護フィルムとしてプラスチック材料からなるフィルムを使用する場合、プラスチック材料としては、支持体について説明したものと同様の材料を使用することができる。また、保護フィルムとして金属箔を使用する場合、金属箔としては、支持体について説明したものと同様の金属箔を使用することができる。 When a film made of a plastic material is used as the protective film, as the plastic material, the same materials as those described for the support can be used. Moreover, when a metal foil is used as the protective film, the same metal foil as that described for the support can be used as the metal foil.

保護フィルムの市販品としては、例えば、王子エフテックス社製の「MA430」、「MA411」(二軸延伸ポリプロピレンフィルム)等が挙げられる。 Examples of commercially available protective films include "MA430" and "MA411" (biaxially stretched polypropylene film) manufactured by Oji F-Tex.

保護フィルムの厚さは、好ましくは5μm以上、より好ましくは10μm以上である。保護フィルムの厚さの上限は、好ましくは75μm以下、より好ましくは50μm以下、さらに好ましくは40μm以下である。好適な一実施形態において、保護フィルムの厚さは、10~30μmの範囲である。なお、離型層付き保護フィルムを使用する場合、離型層付き保護フィルムの全体厚さが上記範囲にあることが好適である。 The thickness of the protective film is preferably 5 μm or more, more preferably 10 μm or more. The upper limit of the thickness of the protective film is preferably 75 μm or less, more preferably 50 μm or less, still more preferably 40 μm or less. In one preferred embodiment, the thickness of the protective film is in the range of 10-30 μm. When using a release layer-attached protective film, the overall thickness of the release layer-attached protective film is preferably within the above range.

<支持体付き接着シートの製造方法>
本発明の支持体付き接着シートは、例えば、下記工程(i)を含む製造方法により製造することができる。また、支持体付き接着シートは、下記工程(ii)をさらに含んでいてもよい。
(i)支持体と接合するように樹脂組成物層を設ける工程
(ii)樹脂組成物層の第1面と接合するように保護フィルムを設ける工程
<Method for manufacturing adhesive sheet with support>
The adhesive sheet with a support of the present invention can be produced, for example, by a production method including the following step (i). In addition, the support-attached adhesive sheet may further include the following step (ii).
(i) Step of providing a resin composition layer so as to be bonded to the support (ii) Step of providing a protective film so as to be bonded to the first surface of the resin composition layer

工程(i)において、樹脂組成物層は、公知の方法で、樹脂組成物層の第2面と支持体とを接合するように設けることができる。例えば、溶剤に樹脂組成物を溶解した樹脂ワニスを調製し、この樹脂ワニスを、ダイコーターなどの塗布装置を用いて支持体表面に塗布し、樹脂ワニスを乾燥させて樹脂組成物層を設けることができる。 In step (i), the resin composition layer can be provided by a known method so as to bond the second surface of the resin composition layer to the support. For example, a resin varnish is prepared by dissolving a resin composition in a solvent, the resin varnish is applied to the surface of a support using a coating device such as a die coater, and the resin varnish is dried to provide a resin composition layer. can be done.

樹脂ワニスの調製に用いる溶剤としては、例えば、アセトン、メチルエチルケトン及びシクロヘキサノン等のケトン類、酢酸エチル、酢酸ブチル、セロソルブアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート及びカルビトールアセテート等の酢酸エステル類、セロソルブ及びブチルカルビトール等のカルビトール類、トルエン及びキシレン等の芳香族炭化水素類、ジメチルホルムアミド、ジメチルアセトアミド及びN-メチルピロリドン等のアミド系溶媒等を挙げることができる。溶剤は1種単独で用いてもよく、又は2種以上を組み合わせて用いてもよい。 Solvents used for the preparation of resin varnish include, for example, ketones such as acetone, methyl ethyl ketone and cyclohexanone; acetate esters such as ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate; Examples include carbitols such as toll, aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene, and amide solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide and N-methylpyrrolidone. A solvent may be used individually by 1 type, or may be used in combination of 2 or more type.

樹脂ワニスの乾燥は、加熱、熱風吹きつけ等の公知の乾燥方法により実施してよい。上記条件(II)を満たす観点から樹脂組成物層中の残留溶剤量が通常10質量%以下、好ましくは5質量%以下となるように乾燥させる。樹脂ワニス中の溶剤の沸点によっても異なるが、例えば30質量%~60質量%の溶剤を含む樹脂ワニスを用いる場合、50~150℃で3~10分間乾燥させることにより、樹脂組成物層を設けることができる。 Drying of the resin varnish may be carried out by a known drying method such as heating or blowing hot air. From the viewpoint of satisfying the above condition (II), drying is performed so that the amount of residual solvent in the resin composition layer is usually 10% by mass or less, preferably 5% by mass or less. Depending on the boiling point of the solvent in the resin varnish, for example, when using a resin varnish containing 30% to 60% by mass of solvent, the resin composition layer is provided by drying at 50 to 150° C. for 3 to 10 minutes. be able to.

工程(ii)において、樹脂組成物層の第1面と接合するように保護フィルムを設ける。 In step (ii), a protective film is provided so as to be bonded to the first surface of the resin composition layer.

工程(ii)は、ロールやプレス圧着等で保護フィルムの第1面を樹脂組成物層にラミネート処理することにより実施してよい。ラミネート処理の条件は特に限定されず、例えば、後述するプリント配線板の製造方法について説明する条件と同様としてよい。 Step (ii) may be carried out by laminating the first surface of the protective film to the resin composition layer by rolls, press crimping, or the like. Conditions for the lamination process are not particularly limited, and may be, for example, the same as the conditions described later for the method of manufacturing a printed wiring board.

上記の支持体付き接着シートの製造方法は、ロール状に巻き取られた支持体から支持体を連続的に搬送し、樹脂ワニスの塗布及び乾燥により支持体上に樹脂組成物層を形成した後、樹脂組成物層と接合するように保護フィルム(ロール状に巻き取られた保護フィルムを利用し得る)を設けることにより、連続的に実施することができる。 In the above method for producing a support-attached adhesive sheet, the support is continuously conveyed from the support wound into a roll, and a resin varnish is applied and dried to form a resin composition layer on the support. , by providing a protective film (a protective film wound into a roll can be used) so as to join with the resin composition layer.

得られた支持体付き接着シートをロール状に巻き取ることで、ロール状支持体付き接着シートを製造することができる。 By winding the obtained adhesive sheet with a support into a roll, a roll-shaped adhesive sheet with a support can be produced.

<支持体付き接着シートの用途>
本発明の支持体付き接着シートは、ボイドの発生を抑制でき、かつ、部品埋め込み性も良好である。したがって、本発明の支持体付き接着シートは、真空ラミネート装置を使用して絶縁層を形成するために用いられる支持体付き接着シートとして好適に使用することができる。このとき、真空ラミネート装置における真空度は、好ましくは0.01hPa以上、より好ましくは0.1hPa以上、さらに好ましくは0.3hPa以上であり、好ましくは4hPa以下、より好ましくは3hPa以下、さらに好ましくは1hPa以下である。本発明の支持体付き接着シートは、電子部品を埋め込むための絶縁層を形成するために用いられる支持体付き接着シートとしても好適に使用することができる。つまり、電子部品が内蔵されている部品内蔵回路基板における電子部品を埋め込むための絶縁層を形成するために用いられる支持体付き接着シートや電子部品を封止するための絶縁層を形成するために用いられる支持体付き接着シートとしても好適に使用することができる。電子部品としては、例えば、コンデンサ、インダクタ、抵抗等の受動部品、半導体チップ等の能動部品を挙げることができる。
<Application of Adhesive Sheet with Support>
The support-attached adhesive sheet of the present invention can suppress the generation of voids and has good part-embedding properties. Therefore, the adhesive sheet with a support of the present invention can be suitably used as an adhesive sheet with a support for forming an insulating layer using a vacuum laminator. At this time, the degree of vacuum in the vacuum laminator is preferably 0.01 hPa or more, more preferably 0.1 hPa or more, still more preferably 0.3 hPa or more, preferably 4 hPa or less, more preferably 3 hPa or less, and still more preferably. It is 1 hPa or less. The support-attached adhesive sheet of the present invention can also be suitably used as a support-attached adhesive sheet for forming an insulating layer for embedding electronic components. That is, for forming an adhesive sheet with a support used for forming an insulating layer for embedding an electronic component in a component-embedded circuit board in which the electronic component is built-in, or an insulating layer for sealing the electronic component. It can also be suitably used as an adhesive sheet with a support. Examples of electronic components include passive components such as capacitors, inductors and resistors, and active components such as semiconductor chips.

また、本発明の支持体付き接着シートは、回路基板上に絶縁層を形成するために用いられる支持体付き接着シートとして好適に使用することができる。具体的には、多層プリント配線板の絶縁層を形成するために用いられる支持体付き接着シート、プリント配線板の層間絶縁層を形成するために用いられる支持体付き接着シートとして好適に使用することができる。 Further, the adhesive sheet with a support of the present invention can be suitably used as an adhesive sheet with a support for forming an insulating layer on a circuit board. Specifically, it can be suitably used as an adhesive sheet with a support used for forming an insulating layer of a multilayer printed wiring board and an adhesive sheet with a support used for forming an interlayer insulating layer of a printed wiring board. can be done.

[回路基板]
本発明の回路基板は、本発明の支持体付き樹脂シートの樹脂組成物層の硬化物により形成された絶縁層を含む。本発明の支持体付き接着シートは、回路基板の製造に好適に用いられる。特に、本発明の支持体付き接着シートは、樹脂組成物層を回路基板等にラミネートする際にボイドの発生を抑制でき、かつ、部品埋め込み性も良好であるので、部品内臓回路基板の製造に好適に用いられる。
[Circuit board]
The circuit board of the present invention includes an insulating layer formed from the cured resin composition layer of the resin sheet with the support of the present invention. The support-attached adhesive sheet of the present invention is suitable for use in the production of circuit boards. In particular, the support-attached adhesive sheet of the present invention can suppress the generation of voids when the resin composition layer is laminated on a circuit board or the like, and has good component embedding properties. It is preferably used.

<部品内蔵回路基板の製造方法>
本発明の部品内蔵回路基板の製造方法は、
(1)第1及び第2の主面を有し、該第1及び第2の主面間を貫通するキャビティが形成された回路基板と、該回路基板の第2の主面と接合している仮付け材料と、前記回路基板のキャビティの内部において前記仮付け材料によって仮付けされた電子部品とを含む、電子部品が仮付けされた回路基板に、本発明の支持体付き接着シートを、前記樹脂組成物層の第2面が回路基板の第1の主面と接合するように、真空ラミネート装置を用いて積層する積層工程と、
(2)回路基板の第2の主面から仮付け材料を剥離する剥離工程と、をこの順序で含む。
<Manufacturing method of component-embedded circuit board>
The method for manufacturing a component-embedded circuit board of the present invention comprises:
(1) A circuit board having first and second principal surfaces and having a cavity penetrating between the first and second principal surfaces, and a circuit board bonded to the second principal surface of the circuit board and an electronic component temporarily attached by the temporary attaching material inside the cavity of the circuit board, the adhesive sheet with the support of the present invention is applied to the circuit board to which the electronic component is temporarily attached, A lamination step of laminating using a vacuum laminator so that the second surface of the resin composition layer is bonded to the first main surface of the circuit board;
(2) a peeling step of peeling the temporary attachment material from the second main surface of the circuit board, in this order.

各工程の説明に先立ち、本発明の支持体付き接着シートを使用する「電子部品が仮付けされた回路基板」について説明する。 Before describing each step, the "circuit board to which electronic components are temporarily attached" using the adhesive sheet with support of the present invention will be described.

-電子部品が仮付けされた回路基板-
電子部品が仮付けされた回路基板(以下、「電子部品仮付け回路基板」、「キャビティ基板」ともいう。)は、第1及び第2の主面を有し、該第1及び第2の主面間を貫通するキャビティが形成された回路基板と、該回路基板の第2の主面と接合している仮付け材料と、前記回路基板のキャビティの内部において前記仮付け材料によって仮付けされた電子部品とを含む。
- Circuit board with electronic parts temporarily attached -
A circuit board to which electronic components are temporarily attached (hereinafter also referred to as "electronic component temporarily attached circuit board" or "cavity substrate") has first and second main surfaces, and the first and second main surfaces are A circuit board in which a cavity penetrating between main surfaces is formed, a tacking material bonded to a second main surface of the circuit board, and a tacking material tacked inside the cavity of the circuit board by the tacking material. including electronic components.

電子部品仮付け回路基板は、部品内蔵回路基板の製造に際し、従来公知の任意の手順に従って用意することができる。以下、図3~図6を参照して、電子部品仮付け回路基板を用意する手順の一例を説明するが、下記手順に限定されるものではない。 The electronic component temporary attachment circuit board can be prepared according to any conventionally known procedure in manufacturing the component-embedded circuit board. An example of the procedure for preparing the circuit board for temporarily attaching electronic components will be described below with reference to FIGS. 3 to 6, but the procedure is not limited to the following procedure.

まず、図3に一例を示すように回路基板10を用意する。「回路基板」とは、第1及び第2の主面を有し、該第1及び第2の主面の片方又は両方にパターン加工された回路配線を有する板状の基板をいう。第1の主面及び第2の主面は、互いに反対側にある。図3においては、回路基板10の端面を模式的に示しており、回路基板10は、基板20と、ビア配線、表面配線等の回路配線30とを含む。以下の説明においては、便宜的に、回路基板の第1の主面とは、図示する回路基板の上側主面を表し、回路基板の第2の主面とは、図示する回路基板の下側主面を表すこととする。 First, a circuit board 10 is prepared as shown in FIG. The term "circuit board" refers to a plate-like substrate having first and second main surfaces and circuit wiring patterned on one or both of the first and second main surfaces. The first major surface and the second major surface are opposite each other. FIG. 3 schematically shows an end surface of the circuit board 10, and the circuit board 10 includes a substrate 20 and circuit wiring 30 such as via wiring and surface wiring. In the following description, for convenience, the first principal surface of the circuit board represents the upper principal surface of the illustrated circuit board, and the second principal surface of the circuit board refers to the lower surface of the illustrated circuit board. It is assumed that the main surface is represented.

基板20としては、例えば、ガラスエポキシ基板、金属基板、ポリエステル基板、ポリイミド基板、BTレジン基板、熱硬化型ポリフェニレンエーテル基板等が挙げられ、ガラスエポキシ基板が好ましい。またプリント配線板を製造する際に、さらに絶縁層及び/又は導体層が形成されるべき中間製造物の内層回路基板も本発明でいう「回路基板」に含まれる。 Examples of the substrate 20 include glass epoxy substrates, metal substrates, polyester substrates, polyimide substrates, BT resin substrates, thermosetting polyphenylene ether substrates, and the like, with glass epoxy substrates being preferred. The term "circuit board" as used in the present invention also includes an inner-layer circuit board, which is an intermediate product on which an insulating layer and/or a conductor layer are to be further formed when manufacturing a printed wiring board.

基板20の厚みは、部品内蔵回路基板の薄型化の観点から、好ましくは400μm未満、より好ましくは350μm以下、さらに好ましくは300μm以下、さらにより好ましくは250μm以下、特に好ましくは200μm以下、180μm以下、170μm以下、160μm以下、又は150μm以下である。基板20の厚みの下限は、搬送時の取り扱い性向上の観点から、好ましくは50μm以上、より好ましくは80μm以上、さらに好ましくは100μm以上である。 The thickness of the substrate 20 is preferably less than 400 μm, more preferably 350 μm or less, even more preferably 300 μm or less, even more preferably 250 μm or less, particularly preferably 200 μm or less, 180 μm or less, from the viewpoint of thinning the component-embedded circuit board. 170 μm or less, 160 μm or less, or 150 μm or less. The lower limit of the thickness of the substrate 20 is preferably 50 μm or more, more preferably 80 μm or more, and even more preferably 100 μm or more, from the viewpoint of improving handling during transportation.

回路配線30の寸法は、所望の特性に応じて決定してよい。例えば、表面配線の厚みは、部品内蔵回路基板の薄型化の観点から、好ましくは40μm以下、より好ましくは35μm以下、さらに好ましくは30μm以下、さらにより好ましくは25μm以下、特に好ましくは20μm以下、19μm以下、又は18μm以下である。表面配線の厚みの下限は、通常、1μm以上、3μm以上、5μm以上などである。 The dimensions of the circuit traces 30 may be determined according to the desired properties. For example, the thickness of the surface wiring is preferably 40 μm or less, more preferably 35 μm or less, even more preferably 30 μm or less, even more preferably 25 μm or less, particularly preferably 20 μm or less, or 19 μm, from the viewpoint of thinning the component-embedded circuit board. or less, or 18 μm or less. The lower limit of the thickness of the surface wiring is usually 1 μm or more, 3 μm or more, or 5 μm or more.

図4に一例を示すように電子部品を収容するためのキャビティ(凹部)を回路基板に設ける。図4に模式的に示すように、基板20の所定の位置に、回路基板の第1及び第2の主面間を貫通するキャビティ20aを設ける。キャビティ20aは、基板20の特性を考慮して、例えば、ドリル、レーザー、プラズマ、エッチング媒体等を用いる公知の方法により形成することができる。 A cavity (recess) for accommodating an electronic component is provided in the circuit board as shown in an example in FIG. As schematically shown in FIG. 4, a cavity 20a is provided at a predetermined position of the substrate 20 so as to penetrate between the first and second main surfaces of the circuit board. The cavity 20a can be formed by a known method using, for example, a drill, laser, plasma, etching medium, etc., taking into consideration the properties of the substrate 20. FIG.

図4には、1つのキャビティ20aのみを示しているが、キャビティ20aは、互いに所定の間隔をあけて複数設けることができる。キャビティ20a間のピッチは、キャビティ20a自体の開口寸法にもよるが、部品内蔵回路基板の小型化の観点から、好ましくは10mm以下、より好ましくは9mm以下、さらに好ましくは8mm以下、さらにより好ましくは7mm以下、特に好ましくは6mm以下である。下限は、通常、1mm以上、2mm以上などである。キャビティ20a間の各ピッチは、回路基板にわたって同じである必要はなく、異なっていてもよい。 Although only one cavity 20a is shown in FIG. 4, a plurality of cavities 20a can be provided at predetermined intervals from each other. The pitch between the cavities 20a is preferably 10 mm or less, more preferably 9 mm or less, still more preferably 8 mm or less, still more preferably 8 mm or less, from the viewpoint of miniaturization of the component-embedded circuit board, although it depends on the opening size of the cavities 20a themselves. 7 mm or less, particularly preferably 6 mm or less. The lower limit is usually 1 mm or more, 2 mm or more, and the like. Each pitch between cavities 20a need not be the same across the circuit board and may be different.

キャビティ20aの開口形状は特に制限されず、矩形、円形、略矩形、略円形等の任意の形状としてよい。キャビティ20aの開口形状及び開口寸法は、回路基板にわたって同じである必要はなく、異なっていてもよい。 The opening shape of the cavity 20a is not particularly limited, and may be any shape such as a rectangle, a circle, a substantially rectangle, and a substantially circle. The opening shape and opening size of the cavity 20a need not be the same across the circuit board and may be different.

図5に一例を示すように、キャビティ20aを設けた回路基板10の第2の主面に仮付け材料40を積層する。仮付け材料40としては、電子部品を仮付けするのに十分な粘着性を示す粘着面を有する限り特に制限されず、部品内蔵回路基板の製造に際し従来公知の任意の仮付け材料を使用してよい。図5に模式的に示す態様では、フィルム状の仮付け材料40を、該仮付け材料40の粘着面が回路基板の第2の主面と接合するように積層している。これにより、キャビティ20aを介して仮付け材料40の粘着面が露出するようになる。 As an example is shown in FIG. 5, a tacking material 40 is laminated on the second main surface of the circuit board 10 provided with the cavity 20a. The temporary attachment material 40 is not particularly limited as long as it has an adhesive surface exhibiting sufficient adhesiveness to temporarily attach the electronic component, and any conventionally known temporary attachment material can be used in manufacturing the component-embedded circuit board. good. In the embodiment schematically shown in FIG. 5, a film-like temporary attachment material 40 is laminated such that the adhesive surface of the temporary attachment material 40 is bonded to the second main surface of the circuit board. As a result, the adhesive surface of the temporary attachment material 40 is exposed through the cavity 20a.

フィルム状の仮付け材料としては、例えば、有沢製作所社製の「PFDKE-1525TT」(粘着剤付きポリイミドフィルム)、古河電気工業社製のUCシリーズ(ウエハダイシング用UVテープ)等が挙げられる。 Examples of the film-like temporary attachment material include "PFDKE-1525TT" (polyimide film with adhesive) manufactured by Arisawa Seisakusho Co., Ltd., UC series (UV tape for wafer dicing) manufactured by Furukawa Electric Co., Ltd., and the like.

図6に一例を示すように、キャビティ20aを介して露出した仮付け材料40の粘着面に電子部品50を仮付けし、電子部品が仮付された回路基板10Aを作製する。図6に模式的に示す態様では、キャビティ20aを介して露出した仮付け材料40の粘着面に電子部品50を仮付けしている。 As an example is shown in FIG. 6, the electronic component 50 is temporarily attached to the adhesive surface of the temporary attachment material 40 exposed through the cavity 20a to fabricate the circuit board 10A to which the electronic component is temporarily attached. In the embodiment schematically shown in FIG. 6, the electronic component 50 is temporarily attached to the adhesive surface of the temporary attachment material 40 exposed through the cavity 20a.

電子部品50としては、所望の特性に応じて適切な電気部品を選択してよく、例えば、コンデンサ、インダクタ、抵抗等の受動部品、半導体チップ等の能動部品を挙げることができる。全てのキャビティに同じ電子部品50を用いてもよく、キャビティごとに異なる電子部品50を用いてもよい。 As the electronic component 50, an appropriate electrical component may be selected according to desired characteristics, and examples include passive components such as capacitors, inductors, and resistors, and active components such as semiconductor chips. The same electronic component 50 may be used for all cavities, or a different electronic component 50 may be used for each cavity.

-(1)工程-
(1)工程では、図7に一例を示すように、電子部品が仮付けされた回路基板10Aに本発明の支持体付き接着シート1を積層する。詳細は、電子部品が仮付けされた回路基板10Aに、支持体付き接着シート1を、樹脂組成物層2が回路基板10Aの第1の主面と接合するように真空ラミネート装置を用いて積層する。ここで、支持体付き接着シート1が図示しない保護フィルムを備える構成である場合、保護フィルムを剥離してから、回路基板への積層を行う。
-(1) Process-
In the step (1), as shown in FIG. 7, the adhesive sheet 1 with a support of the present invention is laminated on a circuit board 10A to which electronic components are temporarily attached. Specifically, the adhesive sheet 1 with support is laminated on the circuit board 10A to which the electronic components are temporarily attached using a vacuum laminator so that the resin composition layer 2 is bonded to the first main surface of the circuit board 10A. do. Here, when the adhesive sheet 1 with a support is provided with a protective film (not shown), the protective film is peeled off before lamination on the circuit board.

真空ラミネート装置を用いた、支持体付き接着シート1の電子部品仮付け回路基板10Aへの積層は、例えば、減圧条件下、支持体3側から、支持体付き接着シート1を電子部品仮付け回路基板10Aに加熱圧着することにより行うことができる。支持体付き接着シート1を電子部品仮付け回路基板10Aに加熱圧着する部材(図示せず;以下、「加熱圧着部材」ともいう。)としては、例えば、加熱された金属板(SUS鏡板等)又は金属ロール(SUSロール)等が挙げられる。なお、加熱圧着部材を支持体付き接着シート1に直接プレスするのではなく、電子部品仮付け回路基板10Aの回路配線30やキャビティ20aに起因する凹凸に支持体付き接着シート1が十分に追随するよう、耐熱ゴム等の弾性材を介してプレスするのが好ましい。 Lamination of the adhesive sheet 1 with the support onto the circuit board 10A for temporary attachment of electronic components using a vacuum laminator is performed, for example, by placing the adhesive sheet 1 with the support from the side of the support 3 under reduced pressure conditions. It can be performed by thermocompression bonding to the substrate 10A. As a member (not shown; hereinafter also referred to as a "thermocompression member") for thermocompression bonding the adhesive sheet 1 with a support to the circuit board 10A for temporary attachment of electronic components, for example, a heated metal plate (SUS panel, etc.) Alternatively, a metal roll (SUS roll) or the like may be used. The thermocompression bonding member is not directly pressed onto the adhesive sheet 1 with the support, but the adhesive sheet 1 with the support sufficiently follows the unevenness caused by the circuit wiring 30 and the cavity 20a of the circuit board 10A for temporary attachment of electronic components. Therefore, it is preferable to press through an elastic material such as heat-resistant rubber.

加熱圧着温度は、好ましくは80℃~160℃、より好ましくは100℃~140℃の範囲であり、加熱圧着圧力は、好ましくは0.098MPa~1.77MPa、より好ましくは0.29MPa~1.47MPaの範囲であり、加熱圧着時間は、好ましくは20秒間~400秒間、より好ましくは30秒間~300秒間の範囲である。真空ラミネート装置の真空度は、好ましくは0.01hPa以上、より好ましくは0.1hPa以上、さらに好ましくは0.3hPa以上であり、好ましくは4hPa以下、より好ましくは3hPa以下、さらに好ましくは1hPa以下である。 The thermocompression temperature is preferably in the range of 80° C. to 160° C., more preferably 100° C. to 140° C., and the thermocompression pressure is preferably 0.098 MPa to 1.77 MPa, more preferably 0.29 MPa to 1.5 MPa. It is in the range of 47 MPa, and the thermocompression bonding time is preferably in the range of 20 seconds to 400 seconds, more preferably in the range of 30 seconds to 300 seconds. The degree of vacuum of the vacuum laminator is preferably 0.01 hPa or more, more preferably 0.1 hPa or more, still more preferably 0.3 hPa or more, preferably 4 hPa or less, more preferably 3 hPa or less, and still more preferably 1 hPa or less. be.

真空ラミネート装置は、市販の真空ラミネーター装置を用いることによって行うことができる。市販の真空ラミネーター装置としては、例えば、名機製作所社製の真空加圧式ラミネーター、ニッコー・マテリアルズ社製バキュームアップリケーター、ニッコー・マテリアルズ社製2ステージビルドアップラミネーター「CVP700」等が挙げられる。 Vacuum lamination can be carried out using a commercially available vacuum laminator. Commercially available vacuum laminator devices include, for example, a vacuum pressurized laminator manufactured by Meiki Seisakusho, a vacuum applicator manufactured by Nikko Materials, and a two-stage build-up laminator “CVP700” manufactured by Nikko Materials.

(1)工程後、支持体付き接着シート1を積層した回路基板を加熱処理する加熱処理工程を行ってもよい。当該工程における加熱温度は、好ましくは155℃以下、より好ましくは150℃以下、さらに好ましくは145℃以下、さらにより好ましくは140℃以下である。加熱温度の下限は、好ましくは110℃以上、より好ましくは115℃以上、さらに好ましくは120℃以上、さらにより好ましくは125℃以上である。 (1) After the step, a heat treatment step of heat-treating the circuit board on which the adhesive sheet 1 with support is laminated may be performed. The heating temperature in this step is preferably 155° C. or lower, more preferably 150° C. or lower, still more preferably 145° C. or lower, and even more preferably 140° C. or lower. The lower limit of the heating temperature is preferably 110° C. or higher, more preferably 115° C. or higher, still more preferably 120° C. or higher, and even more preferably 125° C. or higher.

加熱処理工程における加熱時間は、加熱温度にもよるが、好ましくは10分間以上、より好ましくは15分間以上、さらに好ましくは20分間以上である。加熱時間の上限は特に制限されないが、通常、60分間以下とし得る。 The heating time in the heat treatment step depends on the heating temperature, but is preferably 10 minutes or longer, more preferably 15 minutes or longer, and still more preferably 20 minutes or longer. Although the upper limit of the heating time is not particularly limited, it can usually be 60 minutes or less.

加熱処理工程における支持体付き接着シート1の加熱処理は、大気圧下(常圧下)にて行うことが好ましい。 The heat treatment of the support-attached adhesive sheet 1 in the heat treatment step is preferably performed under atmospheric pressure (normal pressure).

加熱処理工程における支持体付き接着シート1の加熱処理は、支持体3を剥離する前に実施してもよく、支持体3を剥離した後に実施してもよい。 The heat treatment of the support-attached adhesive sheet 1 in the heat treatment step may be performed before the support 3 is peeled off, or may be performed after the support 3 is peeled off.

また、(1)工程の後に、常圧下(大気圧下)、例えば、加熱圧着部材を支持体3側からプレスすることにより、積層された支持体付き接着シート1の平滑化処理を行う平滑化工程を行うことが好ましい。平滑化工程のプレス条件は、上記真空ラミネート装置を用いた積層の加熱圧着条件と同様の条件とすることができる。 Further, after the step (1), the laminated adhesive sheet 1 with support is smoothed under normal pressure (atmospheric pressure), for example, by pressing a thermocompression member from the support 3 side. It is preferred to carry out the steps. The press conditions in the smoothing step can be the same conditions as the thermocompression bonding conditions for lamination using the vacuum laminator.

(1)工程を経た後、図8に一例を示すように、樹脂組成物層2は、キャビティ20a内に充填され、キャビティ20a内に仮付けされていた電子部品50は樹脂組成物層2に埋め込まれる。 (1) After the step, as shown in an example in FIG. Embedded.

-(2)工程-
(2)工程は、図9に一例を示すように、回路基板の第2の主面から仮付け材料40を剥離して、回路基板の第2の主面を露出させる。
-(2) Process-
In the step (2), as an example is shown in FIG. 9, the temporary attachment material 40 is removed from the second main surface of the circuit board to expose the second main surface of the circuit board.

仮付け材料40の剥離は、仮付け材料40の種類に応じて、従来公知の方法に従って行ってよい。例えば、仮付け材料40として、有沢製作所社製の「PFDKE-1525TT」(粘着剤付きポリイミドフィルム)を使用する場合、室温まで冷却することで仮付け材料40を剥離することができる。また、古河電気工業社製のUCシリーズ等のウエハダイシング用UVテープを使用する場合、仮付け材料40をUV照射した後、仮付け材料40を剥離することができる。UV照射量等の条件は、部品内蔵回路基板の製造に際して通常採用される公知の条件とし得る。 The temporary attachment material 40 may be peeled off according to a conventionally known method depending on the type of the temporary attachment material 40 . For example, when "PFDKE-1525TT" (polyimide film with adhesive) manufactured by Arisawa Seisakusho Co., Ltd. is used as the temporary attachment material 40, the temporary attachment material 40 can be peeled off by cooling to room temperature. Further, when using a wafer dicing UV tape such as the UC series manufactured by Furukawa Electric Co., Ltd., the temporary bonding material 40 can be peeled off after the temporary bonding material 40 is irradiated with UV. The conditions such as the amount of UV irradiation can be known conditions that are usually employed in the manufacture of component-embedded circuit boards.

-その他の工程-
本発明の部品内蔵回路基板の製造するに際しては、(3)樹脂組成物層を熱硬化させ、絶縁層を形成する工程、(4)絶縁層に穴あけする工程、(5)絶縁層の表面を粗化処理する工程、(6)粗化された絶縁層表面に導体層を形成する工程をさらに含んでもよい。また、(1)工程後(2)工程を行う前に(3)工程を行ってもよく、(2)工程後、回路基板の第2の主面に、支持体付き接着シートを積層する工程をさらに含んでいてもよい。
-Other processes-
When manufacturing the component-embedded circuit board of the present invention, the steps of (3) thermosetting the resin composition layer to form an insulating layer, (4) forming holes in the insulating layer, and (5) removing the surface of the insulating layer It may further include a step of roughening, and (6) a step of forming a conductor layer on the roughened surface of the insulating layer. Further, the step (3) may be performed after the step (1) and before the step (2) is performed, and after the step (2), a step of laminating an adhesive sheet with a support on the second main surface of the circuit board. may further include

(3)工程における樹脂組成物層を熱硬化させる条件は、樹脂組成物層に用いる樹脂組成物の組成等によっても異なるが、硬化温度は120℃~240℃の範囲(好ましくは150℃~210℃の範囲、より好ましくは170℃~190℃の範囲)、硬化時間は5分間~90分間の範囲(好ましくは10分間~75分間、より好ましくは15分間~60分間)とすることができる。 The conditions for thermosetting the resin composition layer in the step (3) vary depending on the composition of the resin composition used in the resin composition layer, but the curing temperature is in the range of 120 ° C. to 240 ° C. (preferably 150 ° C. to 210 ° C. ° C. range, more preferably 170° C. to 190° C. range), and the curing time can be in the range of 5 minutes to 90 minutes (preferably 10 minutes to 75 minutes, more preferably 15 minutes to 60 minutes).

熱硬化させる前に、支持体付き接着シート1を硬化温度よりも低い温度にて予備加熱してもよい。例えば、熱硬化に先立ち、50℃以上120℃未満(好ましくは60℃以上110℃以下、より好ましくは70℃以上100℃以下)の温度にて、支持体付き接着シート1を5分間以上(好ましくは5分間~150分間、より好ましくは15分間~120分間)予備加熱してもよい。予備加熱を行う場合、斯かる予備加熱も硬化工程に含まれることとする。 Prior to thermal curing, the adhesive sheet 1 with support may be preheated at a temperature lower than the curing temperature. For example, prior to heat curing, the adhesive sheet 1 with a support is heated for 5 minutes or more (preferably 5 minutes to 150 minutes, more preferably 15 minutes to 120 minutes) may be preheated. When preheating is performed, such preheating is also included in the curing step.

(4)工程は、絶縁層に穴あけする工程であり、これにより絶縁層にビアホール、スルーホール等のホールを形成することができる。(4)工程は、絶縁層の形成に使用した樹脂組成物の組成等に応じて、例えば、ドリル、レーザー、プラズマ等を使用して実施してよい。ホールの寸法や形状は、部品内蔵回路基板のデザインに応じて適宜決定してよい。 The step (4) is a step of drilling holes in the insulating layer, whereby holes such as via holes and through holes can be formed in the insulating layer. The step (4) may be carried out using, for example, a drill, laser, plasma, etc., depending on the composition of the resin composition used for forming the insulating layer. The dimensions and shape of the hole may be appropriately determined according to the design of the component-embedded circuit board.

(5)工程は、絶縁層を粗化処理する工程である。通常、この(5)工程において、スミアの除去も行われる。粗化処理の手順、条件は特に限定されず、部品内蔵回路基板の絶縁層を形成するに際して通常使用される公知の手順、条件を採用することができる。例えば、絶縁層の粗化処理は、膨潤液による膨潤処理、酸化剤による粗化処理、中和液による中和処理をこの順に実施して絶縁層を粗化処理することができる。膨潤液としては特に限定されないが、アルカリ溶液、界面活性剤溶液等が挙げられ、好ましくはアルカリ溶液であり、該アルカリ溶液としては、水酸化ナトリウム溶液、水酸化カリウム溶液がより好ましい。市販されている膨潤液としては、例えば、アトテックジャパン社製のスウェリング・ディップ・セキュリガンスP、スウェリング・ディップ・セキュリガンスSBU等が挙げられる。膨潤液による膨潤処理は、特に限定されないが、例えば、30~90℃の膨潤液に絶縁層を1分間~20分間浸漬することにより行うことができる。絶縁層の樹脂の膨潤を適度なレベルに抑える観点から、40~80℃の膨潤液に絶縁層を5秒間~15分間浸漬させることが好ましい。酸化剤としては、特に限定されないが、例えば、水酸化ナトリウムの水溶液に過マンガン酸カリウムや過マンガン酸ナトリウムを溶解したアルカリ性過マンガン酸溶液が挙げられる。アルカリ性過マンガン酸溶液等の酸化剤による粗化処理は、60℃~80℃に加熱した酸化剤溶液に絶縁層を10分間~30分間浸漬させて行うことが好ましい。また、アルカリ性過マンガン酸溶液における過マンガン酸塩の濃度は5質量%~10質量%が好ましい。市販されている酸化剤としては、例えば、アトテックジャパン社製のコンセントレート・コンパクトP、ドージングソリューション・セキュリガンスP等のアルカリ性過マンガン酸溶液が挙げられる。また、中和液としては、酸性の水溶液が好ましく、市販品としては、例えば、アトテックジャパン社製のリダクションショリューシン・セキュリガントPが挙げられる。中和液による処理は、酸化剤溶液による粗化処理がなされた処理面を30~80℃の中和液に5分間~30分間浸漬させることにより行うことができる。作業性等の点から、酸化剤溶液による粗化処理がなされた対象物を、40~70℃の中和液に5分間~20分間浸漬する方法が好ましい。 The step (5) is a step of roughening the insulating layer. In this step (5), smear is usually removed. The procedure and conditions of the roughening treatment are not particularly limited, and known procedures and conditions that are commonly used for forming an insulating layer of a component-embedded circuit board can be employed. For example, the insulating layer can be roughened by performing a swelling treatment with a swelling liquid, a roughening treatment with an oxidizing agent, and a neutralization treatment with a neutralizing solution in this order. The swelling liquid is not particularly limited, but may be an alkaline solution, a surfactant solution, or the like, preferably an alkaline solution, and more preferably a sodium hydroxide solution or a potassium hydroxide solution. Examples of commercially available swelling liquids include Swelling Dip Securigans P and Swelling Dip Securigans SBU manufactured by Atotech Japan. The swelling treatment with the swelling liquid is not particularly limited, but can be performed, for example, by immersing the insulating layer in the swelling liquid at 30 to 90° C. for 1 to 20 minutes. From the viewpoint of suppressing the swelling of the resin of the insulating layer to an appropriate level, it is preferable to immerse the insulating layer in the swelling liquid at 40 to 80° C. for 5 seconds to 15 minutes. Examples of the oxidizing agent include, but are not limited to, an alkaline permanganate solution in which potassium permanganate or sodium permanganate is dissolved in an aqueous solution of sodium hydroxide. The roughening treatment with an oxidizing agent such as an alkaline permanganate solution is preferably carried out by immersing the insulating layer in an oxidizing agent solution heated to 60° C. to 80° C. for 10 to 30 minutes. Further, the permanganate concentration in the alkaline permanganate solution is preferably 5% by mass to 10% by mass. Examples of commercially available oxidizing agents include alkaline permanganate solutions such as Concentrate Compact P and Dosing Solution Securigans P manufactured by Atotech Japan. Moreover, as a neutralizing liquid, an acidic aqueous solution is preferable, and as a commercial product, for example, Reduction Shoryusin Securigant P manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. can be mentioned. The treatment with the neutralizing solution can be carried out by immersing the treated surface roughened with the oxidant solution in the neutralizing solution at 30 to 80° C. for 5 to 30 minutes. From the viewpoint of workability, etc., a method of immersing an object roughened with an oxidizing agent solution in a neutralizing solution at 40 to 70° C. for 5 to 20 minutes is preferable.

(6)工程は、粗化された絶縁層表面に導体層(回路配線)を形成する工程である。 The step (6) is a step of forming a conductor layer (circuit wiring) on the surface of the roughened insulating layer.

導体層に使用する導体材料は特に限定されない。好適な実施形態では、導体層は、金、白金、パラジウム、銀、銅、アルミニウム、コバルト、クロム、亜鉛、ニッケル、チタン、タングステン、鉄、スズ及びインジウムからなる群から選択される1種以上の金属を含む。導体層は、単金属層であっても合金層であってもよく、合金層としては、例えば、上記の群から選択される2種以上の金属の合金(例えば、ニッケル・クロム合金、銅・ニッケル合金及び銅・チタン合金)から形成された層が挙げられる。中でも、導体層形成の汎用性、コスト、パターニングの容易性等の観点から、クロム、ニッケル、チタン、アルミニウム、亜鉛、金、パラジウム、銀若しくは銅の単金属層、又はニッケル・クロム合金、銅・ニッケル合金、銅・チタン合金の合金層が好ましく、クロム、ニッケル、チタン、アルミニウム、亜鉛、金、パラジウム、銀若しくは銅の単金属層、又はニッケル・クロム合金の合金層がより好ましく、銅の単金属層が更に好ましい。 The conductor material used for the conductor layer is not particularly limited. In a preferred embodiment, the conductor layer contains one or more selected from the group consisting of gold, platinum, palladium, silver, copper, aluminum, cobalt, chromium, zinc, nickel, titanium, tungsten, iron, tin and indium. Contains metal. The conductor layer may be a single metal layer or an alloy layer, and the alloy layer may be, for example, an alloy of two or more metals selected from the above group (for example, a nickel-chromium alloy, a copper- nickel alloys and copper-titanium alloys). Among them, from the viewpoint of versatility of conductor layer formation, cost, ease of patterning, etc., single metal layers of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, nickel-chromium alloys, copper- Nickel alloys and copper/titanium alloy alloy layers are preferred, and single metal layers of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, palladium, silver or copper, or nickel/chromium alloy alloy layers are more preferred, and copper single metal layers are preferred. A metal layer is more preferred.

導体層は、単層構造であっても、異なる種類の金属若しくは合金からなる単金属層又は合金層が2層以上積層した複層構造であってもよい。導体層が複層構造である場合、絶縁層と接する層は、クロム、亜鉛若しくはチタンの単金属層、又はニッケル・クロム合金の合金層であることが好ましい。 The conductor layer may have a single layer structure or a multi-layer structure in which two or more single metal layers or alloy layers made of different kinds of metals or alloys are laminated. When the conductor layer has a multilayer structure, the layer in contact with the insulating layer is preferably a single metal layer of chromium, zinc or titanium, or an alloy layer of nickel-chromium alloy.

導体層の厚みは、所望の部品内蔵回路基板のデザインによるが、一般に3μm~35μm、好ましくは5μm~30μmである。 The thickness of the conductor layer is generally 3 μm to 35 μm, preferably 5 μm to 30 μm, depending on the design of the desired component-embedded circuit board.

一実施形態において、導体層は、めっきにより形成してよい。例えば、セミアディティブ法、フルアディティブ法等の従来公知の技術により絶縁層の表面にめっきして、所望の配線パターンを有する導体層を形成することができ、製造の簡便性の観点から、セミアディティブ法により形成することが好ましい。以下、導体層をセミアディティブ法により形成する例を示す。 In one embodiment, the conductor layer may be formed by plating. For example, a conductive layer having a desired wiring pattern can be formed by plating the surface of an insulating layer by a conventionally known technique such as a semi-additive method or a full-additive method. It is preferably formed by a method. An example of forming a conductor layer by a semi-additive method is shown below.

まず、絶縁層の表面に、無電解めっきによりめっきシード層を形成する。次いで、形成されためっきシード層上に、所望の配線パターンに対応してめっきシード層の一部を露出させるマスクパターンを形成する。露出しためっきシード層上に、電解めっきにより金属層を形成した後、マスクパターンを除去する。その後、不要なめっきシード層をエッチング等により除去して、所望の配線パターンを有する導体層を形成することができる。 First, a plating seed layer is formed on the surface of the insulating layer by electroless plating. Next, a mask pattern is formed on the formed plating seed layer to expose a portion of the plating seed layer corresponding to a desired wiring pattern. After forming a metal layer on the exposed plating seed layer by electroplating, the mask pattern is removed. After that, the unnecessary plating seed layer is removed by etching or the like, and a conductor layer having a desired wiring pattern can be formed.

[半導体装置]
本発明の半導体装置は上記方法で製造された回路基板を含む。
[Semiconductor device]
A semiconductor device of the present invention includes a circuit board manufactured by the above method.

かかる半導体装置としては、電気製品(例えば、コンピューター、携帯電話、デジタルカメラ及びテレビ等)及び乗物(例えば、自動二輪車、自動車、電車、船舶及び航空機等)等に供される各種半導体装置が挙げられる。 Examples of such semiconductor devices include various semiconductor devices used in electrical appliances (e.g., computers, mobile phones, digital cameras, televisions, etc.) and vehicles (e.g., motorcycles, automobiles, trains, ships, aircraft, etc.). .

以下、本発明を実施例により具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。なお、量を表す「部」は特に断らない限り質量部を意味する。 EXAMPLES The present invention will be specifically described below by way of examples, but the present invention is not limited to these examples. In addition, unless otherwise indicated, the "part" showing an amount means a mass part.

<調製例1:樹脂ワニス(組成物1)の調製>
ビスフェノール型エポキシ樹脂(エポキシ当量約165、新日鉄住金化学社製「ZX1059」、ビスフェノールA型とビスフェノールF型の1:1混合品)10部、ビキシレノール型エポキシ樹脂(エポキシ当量約185、三菱ケミカル社製「YX4000HK」)10部、及びビフェニル型エポキシ樹脂(エポキシ当量約271、日本化薬社製「NC3000L」)10部、を、ソルベントナフサ30部に撹拌しながら加熱溶解させた。室温にまで冷却した後、そこへ、フェノキシ樹脂(三菱ケミカル社製「YX7482BH30」、固形分30質量%のメチルエチルケトン(MEK)溶液)10部、トリアジン骨格含有フェノールノボラック系硬化剤(水酸基当量151、DIC社製「LA-3018-50P」、固形分50%の2-メトキシプロパノール溶液)8部、活性エステル系硬化剤(DIC社製「EXB-8500-65T」、活性基当量約223、不揮発成分65質量%のトルエン溶液)10部、硬化促進剤(4-ジメチルアミノピリジン(DMAP)、固形分2質量%のMEK溶液)4部、難燃剤(三光社製「HCA-HQ」、10-(2,5-ジヒドロキシフェニル)-10-ヒドロ-9-オキサ-10-フォスファフェナンスレン-10-オキサイド、平均粒径1μm)2部、アミノシラン系カップリング剤(信越化学工業社製「KBM573」)で表面処理された球形シリカ(アドマテックス社製「SC2050SQ」、平均粒径0.5μm、比表面積5.9m/g、単位表面積当たりのカーボン量0.38mg/m)130部を混合し、高速回転ミキサーで均一に分散して、樹脂ワニス(組成物1)を調製した。
<Preparation Example 1: Preparation of resin varnish (composition 1)>
Bisphenol type epoxy resin (epoxy equivalent about 165, "ZX1059" manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., 1:1 mixture of bisphenol A type and bisphenol F type) 10 parts, bixylenol type epoxy resin (epoxy equivalent about 185, Mitsubishi Chemical Co., Ltd.) "YX4000HK" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) and 10 parts of a biphenyl type epoxy resin (epoxy equivalent of about 271, "NC3000L" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) were heated and dissolved in 30 parts of solvent naphtha with stirring. After cooling to room temperature, 10 parts of phenoxy resin (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation "YX7482BH30", solid content 30% by mass methyl ethyl ketone (MEK) solution), triazine skeleton-containing phenol novolac curing agent (hydroxyl equivalent 151, DIC Company "LA-3018-50P", 2-methoxypropanol solution with a solid content of 50%) 8 parts, active ester curing agent (DIC "EXB-8500-65T", active group equivalent about 223, non-volatile components 65 mass% toluene solution) 10 parts, curing accelerator (4-dimethylaminopyridine (DMAP), solid content 2% by mass MEK solution) 4 parts, flame retardant (manufactured by Sanko Co., Ltd. "HCA-HQ", 10-(2 ,5-dihydroxyphenyl)-10-hydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide, average particle size 1 μm) 2 parts, aminosilane coupling agent (“KBM573” manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) 130 parts of spherical silica (“SC2050SQ” manufactured by Admatechs, average particle size 0.5 μm, specific surface area 5.9 m 2 /g, carbon amount per unit surface area 0.38 mg/m 2 ) surface-treated with , and dispersed uniformly with a high-speed rotating mixer to prepare a resin varnish (composition 1).

<調製例2:樹脂ワニス(組成物2)の調製>
調製例1において、
1)ビスフェノール型エポキシ樹脂(エポキシ当量約165、新日鉄住金化学社製「ZX1059」、ビスフェノールA型とビスフェノールF型の1:1混合品)の量を10部から5部に変え、
2)ビキシレノール型エポキシ樹脂(エポキシ当量約185、三菱ケミカル社製「YX4000HK」)の量を10部から5部に変え、
3)ビフェニル型エポキシ樹脂(エポキシ当量約271、日本化薬社製「NC3000L」)の量を10部から15部に変え、
4)さらに、樹脂ワニスの材料にシクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂(エポキシ当量130、新日鉄住金化学社製「ZX1658GS」)5部を追加した。
以上の事項以外は調製例1と同様にして樹脂ワニス(組成物2)を得た。
<Preparation Example 2: Preparation of resin varnish (composition 2)>
In Preparation Example 1,
1) Change the amount of bisphenol type epoxy resin (epoxy equivalent about 165, "ZX1059" manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., 1:1 mixture of bisphenol A type and bisphenol F type) from 10 parts to 5 parts,
2) Change the amount of bixylenol type epoxy resin (epoxy equivalent of about 185, "YX4000HK" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) from 10 parts to 5 parts,
3) Change the amount of biphenyl type epoxy resin (epoxy equivalent of about 271, "NC3000L" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) from 10 parts to 15 parts,
4) Furthermore, 5 parts of cyclohexanedimethanol-type epoxy resin (epoxy equivalent: 130, "ZX1658GS" manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.) was added to the resin varnish material.
A resin varnish (composition 2) was obtained in the same manner as in Preparation Example 1 except for the above matters.

<調製例3:樹脂ワニス(組成物3)の調製>
調製例1において、
1)ビスフェノール型エポキシ樹脂(エポキシ当量約165、新日鉄住金化学社製「ZX1059」、ビスフェノールA型とビスフェノールF型の1:1混合品)10部を、シクロヘキサンジメタノール型エポキシ樹脂(エポキシ当量130、新日鉄住金化学社製「ZX1658GS」)10部に変え、
2)ビフェニル型エポキシ樹脂(エポキシ当量約271、日本化薬社製「NC3000L」)10部を、ビフェニル型エポキシ樹脂(エポキシ当量約291、日本化薬社製「NC3000H」)10部に変えた。
以上の事項以外は調製例1と同様にして樹脂ワニス(組成物3)を得た。
<Preparation Example 3: Preparation of resin varnish (composition 3)>
In Preparation Example 1,
1) 10 parts of a bisphenol type epoxy resin (epoxy equivalent of about 165, "ZX1059" manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., a 1:1 mixture of bisphenol A type and bisphenol F type) was added to cyclohexanedimethanol type epoxy resin (epoxy equivalent of 130, "ZX1658GS" manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd.) changed to 10 copies,
2) 10 parts of biphenyl type epoxy resin (epoxy equivalent about 271, "NC3000L" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) was changed to 10 parts of biphenyl type epoxy resin (epoxy equivalent about 291, "NC3000H" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.).
A resin varnish (composition 3) was obtained in the same manner as in Preparation Example 1 except for the above matters.

<調製例4:樹脂ワニス(組成物4)の調製>
調製例1において、
1)ビスフェノール型エポキシ樹脂(エポキシ当量約165、新日鉄住金化学社製「ZX1059」、ビスフェノールA型とビスフェノールF型の1:1混合品)の量を10部から20部に変え、
2)ビフェニル型エポキシ樹脂(エポキシ当量約271、日本化薬社製「NC3000L」)10部を、ビフェニル型エポキシ樹脂(エポキシ当量約291、日本化薬社製「NC3000H」)10部に変え、
3)ビキシレノール型エポキシ樹脂(エポキシ当量約185、三菱ケミカル社製「YX4000HK」)10部を用いなかった。
以上の事項以外は調製例1と同様にして樹脂ワニス(組成物4)を得た。
<Preparation Example 4: Preparation of resin varnish (composition 4)>
In Preparation Example 1,
1) Change the amount of bisphenol type epoxy resin (epoxy equivalent about 165, "ZX1059" manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., 1:1 mixture of bisphenol A type and bisphenol F type) from 10 parts to 20 parts,
2) 10 parts of biphenyl-type epoxy resin (epoxy equivalent of about 271, Nippon Kayaku "NC3000L") was changed to 10 parts of biphenyl-type epoxy resin (epoxy equivalent of about 291, Nippon Kayaku "NC3000H"),
3) 10 parts of bixylenol-type epoxy resin (epoxy equivalent: about 185, "YX4000HK" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) was not used.
A resin varnish (composition 4) was obtained in the same manner as in Preparation Example 1 except for the above matters.

<調製例5:樹脂ワニス(組成物5)の調製>
調製例1において、
1)ビキシレノール型エポキシ樹脂(エポキシ当量約185、三菱ケミカル社製「YX4000HK」)の量を10部から15部に変え、
2)ビフェニル型エポキシ樹脂(エポキシ当量約271、日本化薬社製「NC3000L」)10部を、ビフェニル型エポキシ樹脂(エポキシ当量約291、日本化薬社製「NC3000H」)5部に変えた。
以上の事項以外は調製例1と同様にして樹脂ワニス(組成物5)を得た。
<Preparation Example 5: Preparation of resin varnish (composition 5)>
In Preparation Example 1,
1) Change the amount of bixylenol type epoxy resin (epoxy equivalent of about 185, "YX4000HK" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) from 10 parts to 15 parts,
2) 10 parts of biphenyl type epoxy resin (epoxy equivalent of about 271, "NC3000L" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) was changed to 5 parts of biphenyl type epoxy resin (epoxy equivalent of about 291, "NC3000H" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.).
A resin varnish (composition 5) was obtained in the same manner as in Preparation Example 1 except for the above matters.

<調製例6:樹脂ワニス(組成物6)の調製>
調製例1において、
1)ビスフェノール型エポキシ樹脂(エポキシ当量約165、新日鉄住金化学社製「ZX1059」、ビスフェノールA型とビスフェノールF型の1:1混合品)の量を10部から5部に変え、
2)ビフェニル型エポキシ樹脂(エポキシ当量約271、日本化薬社製「NC3000L」)10部を、ビフェニル型エポキシ樹脂(エポキシ当量約291、日本化薬社製「NC3000H」)25部に変え、
3)ビキシレノール型エポキシ樹脂(エポキシ当量約185、三菱ケミカル社製「YX4000HK」)10部を用いなかった。
以上の事項以外は調製例1と同様にして樹脂ワニス(組成物6)を得た。
<Preparation Example 6: Preparation of resin varnish (composition 6)>
In Preparation Example 1,
1) Change the amount of bisphenol type epoxy resin (epoxy equivalent about 165, "ZX1059" manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., 1:1 mixture of bisphenol A type and bisphenol F type) from 10 parts to 5 parts,
2) 10 parts of biphenyl-type epoxy resin (epoxy equivalent of about 271, Nippon Kayaku "NC3000L") was changed to 25 parts of biphenyl-type epoxy resin (epoxy equivalent of about 291, Nippon Kayaku "NC3000H"),
3) 10 parts of bixylenol-type epoxy resin (epoxy equivalent: about 185, "YX4000HK" manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) was not used.
A resin varnish (composition 6) was obtained in the same manner as in Preparation Example 1 except for the above matters.

<調製例7:樹脂ワニス(組成物7)の調製>
調製例1において、
1)ビスフェノール型エポキシ樹脂(エポキシ当量約165、新日鉄住金化学社製「ZX1059」、ビスフェノールA型とビスフェノールF型の1:1混合品)の量を10部から20部に変え、
2)ビフェニル型エポキシ樹脂(エポキシ当量約271、日本化薬社製「NC3000L」)10部を用いなかった。
以上の事項以外は調製例1と同様にして樹脂ワニス(組成物7)を得た。
<Preparation Example 7: Preparation of resin varnish (composition 7)>
In Preparation Example 1,
1) Change the amount of bisphenol type epoxy resin (epoxy equivalent about 165, "ZX1059" manufactured by Nippon Steel & Sumikin Chemical Co., Ltd., 1:1 mixture of bisphenol A type and bisphenol F type) from 10 parts to 20 parts,
2) 10 parts of a biphenyl-type epoxy resin (epoxy equivalent: about 271, "NC3000L" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) was not used.
A resin varnish (composition 7) was obtained in the same manner as in Preparation Example 1 except for the above matters.

組成物1~7の調製に用いた成分とその配合量(質量部)を下記表に示した。

Figure 0007259913000001
The components used in the preparation of Compositions 1 to 7 and their blending amounts (parts by mass) are shown in the table below.
Figure 0007259913000001

<実施例1:支持体付き接着シートの作製>
支持体として、非シリコーン系離型剤(リンテック社製「AL-5」)で離型処理したPETフィルム(東レ社製「ルミラーT6AM」、厚さ38μm)の離型面に、ダイコーターにて樹脂ワニス(組成物1)を塗布し、80℃~110℃(平均100℃)にて3分間乾燥させ、樹脂組成物層を形成した。樹脂組成物層の厚さは20μmであった。次いで、樹脂組成物層と接合するように保護フィルムを設けた。保護フィルムとしては、ポリプロピレンフィルム(王子エフテックス社製「二軸延伸ポリプロピレンフィルム、「MA430」、厚さ20μm、算術平均粗さ1000nm)を使用した。
<Example 1: Preparation of adhesive sheet with support>
As a support, on the release surface of a PET film ("Lumirror T6AM" manufactured by Toray Industries, Inc., thickness 38 μm) that has been release-treated with a non-silicone release agent ("AL-5" manufactured by Lintec), a die coater was used. A resin varnish (composition 1) was applied and dried at 80° C. to 110° C. (average 100° C.) for 3 minutes to form a resin composition layer. The thickness of the resin composition layer was 20 μm. Then, a protective film was provided so as to join with the resin composition layer. As the protective film, a polypropylene film (manufactured by Oji F-Tex Co., Ltd., “biaxially stretched polypropylene film, “MA430”, thickness: 20 μm, arithmetic mean roughness: 1000 nm) was used.

<実施例2:支持体付き接着シートの作製>
実施例1において、保護フィルムとして、ポリプロピレンフィルム(王子エフテックス社製「二軸延伸ポリプロピレンフィルム、製品名:MA411」、厚さ15μm)の粗化面(算術平均粗さ250nm)を、樹脂組成物層と接合するように設けた。以上の事項以外は、実施例1と同様にして支持体付き接着シートを作製した。
<Example 2: Preparation of adhesive sheet with support>
In Example 1, as a protective film, the roughened surface (arithmetic average roughness 250 nm) of a polypropylene film (manufactured by Oji F-Tex Co., Ltd. "Biaxially oriented polypropylene film, product name: MA411", thickness 15 μm) was used as a resin composition. It was provided so as to join with the layer. An adhesive sheet with a support was produced in the same manner as in Example 1 except for the above items.

<実施例3:支持体付き接着シートの作製>
実施例1において、組成物1を組成物2に変えた。以上の事項以外は、実施例1と同様にして支持体付き接着シートを作製した。
<Example 3: Preparation of adhesive sheet with support>
In Example 1, composition 1 was changed to composition 2. An adhesive sheet with a support was produced in the same manner as in Example 1 except for the above items.

<実施例4:支持体付き接着シートの作製>
実施例1において、組成物1を組成物3に変えた。以上の事項以外は、実施例1と同様にして支持体付き接着シートを作製した。
<Example 4: Preparation of adhesive sheet with support>
In Example 1, composition 1 was changed to composition 3. An adhesive sheet with a support was produced in the same manner as in Example 1 except for the above items.

<実施例5:支持体付き接着シートの作製>
実施例1において、組成物1を組成物4に変えた。以上の事項以外は、実施例1と同様にして支持体付き接着シートを作製した。
<Example 5: Preparation of adhesive sheet with support>
In Example 1, Composition 1 was changed to Composition 4. An adhesive sheet with a support was produced in the same manner as in Example 1 except for the above items.

<実施例6:支持体付き接着シートの作製>
実施例1において、組成物1を組成物5に変えた。以上の事項以外は、実施例1と同様にして支持体付き接着シートを作製した。
<Example 6: Preparation of adhesive sheet with support>
In Example 1, Composition 1 was changed to Composition 5. An adhesive sheet with a support was produced in the same manner as in Example 1 except for the above items.

<比較例1:支持体付き接着シートの作製>
実施例1において、組成物1を組成物6に変えた。以上の事項以外は、実施例1と同様にして支持体付き接着シートを作製した。
<Comparative Example 1: Production of Adhesive Sheet with Support>
In Example 1, composition 1 was changed to composition 6. An adhesive sheet with a support was produced in the same manner as in Example 1 except for the above items.

<比較例2:支持体付き接着シートの作製>
実施例1において、保護フィルムとして、ポリプロピレンフィルム(王子エフテックス社製「二軸延伸ポリプロピレンフィルム、製品名:MA411」、厚さ15μm)の平滑面(算術平均粗さ50nm)を、樹脂組成物層と接合するように設けた。以上の事項以外は、実施例1と同様にして支持体付き接着シートを作製した。
<Comparative Example 2: Production of Adhesive Sheet with Support>
In Example 1, as a protective film, a smooth surface (arithmetic mean roughness 50 nm) of a polypropylene film (manufactured by Oji F-Tex Co., Ltd. "Biaxially oriented polypropylene film, product name: MA411", thickness 15 μm) was used as a resin composition layer. It was provided so as to join with. An adhesive sheet with a support was produced in the same manner as in Example 1 except for the above items.

<比較例3:支持体付き接着シートの作製>
実施例1において、組成物1を組成物7に変えた。以上の事項以外は、実施例1と同様にして支持体付き接着シートを作製した。
<Comparative Example 3: Production of Adhesive Sheet with Support>
In Example 1, Composition 1 was changed to Composition 7. An adhesive sheet with a support was produced in the same manner as in Example 1 except for the above items.

<樹脂組成物層の第2面の算術平均粗さ(Ra2)の測定>
実施例及び比較例で得られた支持体付き付き接着シートから保護フィルムを剥離した。保護フィルムを剥離後15分以内に、樹脂組成物層表面の算術平均粗さを、非接触型表面粗さ計(ビーコインスツルメンツ社製「WYKO NT3300」)を用いて、VSIモード、50倍レンズにより測定範囲を121μm×92μmとして得られる数値により求めた。各サンプルについて、無作為に選んだ10点の平均値を求めることにより測定した。
<Measurement of arithmetic mean roughness (Ra2) of second surface of resin composition layer>
The protective film was peeled off from the adhesive sheets with a support obtained in Examples and Comparative Examples. Within 15 minutes after peeling off the protective film, the arithmetic mean roughness of the surface of the resin composition layer was measured using a non-contact surface roughness meter ("WYKO NT3300" manufactured by Bcoinstruments) in VSI mode with a 50x lens. It was obtained from a numerical value obtained with a measurement range of 121 μm×92 μm. Each sample was measured by averaging 10 randomly selected points.

<樹脂組成物層の最低溶融粘度の測定>
支持体付き接着シートの樹脂組成物層について、動的粘弾性測定装置(ユー・ビー・エム社製「Rheosol-G3000」)を使用して最低溶融粘度を測定した。樹脂組成物層から採取した試料樹脂組成物1gについて、直径18mmのパラレルプレートを使用して、開始温度60℃から200℃まで昇温速度5℃/分にて昇温し、測定温度間隔2.5℃、振動数1Hz、ひずみ1degの測定条件にて動的粘弾性率を測定し、最低溶融粘度(ポイズ)を測定した。
<Measurement of minimum melt viscosity of resin composition layer>
The minimum melt viscosity of the resin composition layer of the adhesive sheet with support was measured using a dynamic viscoelasticity measuring device ("Rheosol-G3000" manufactured by UBM). Using a parallel plate with a diameter of 18 mm, 1 g of a sample resin composition sampled from the resin composition layer was heated from a starting temperature of 60° C. to 200° C. at a heating rate of 5° C./min. The dynamic viscoelastic modulus was measured under the measurement conditions of 5° C., frequency of 1 Hz, and strain of 1 deg, and the lowest melt viscosity (poise) was measured.

<樹脂組成物層の第2面の80℃でのタック力の測定>
実施例及び比較例で得られた支持体付き接着シートから保護フィルムを剥離し、樹脂組成物層について、プローブタックテスター(テスター産業社製、「TE-6002」)を用い、直径5mmのガラスプローブにて荷重1kgf/cm、接触速度0.5mm/秒、引張速度0.5mm/秒、保持時間10秒、温度80℃でのタック力を測定した。
<Measurement of tack force at 80°C of the second surface of the resin composition layer>
The protective film was peeled off from the support-attached adhesive sheets obtained in Examples and Comparative Examples, and the resin composition layer was measured using a probe tack tester (manufactured by Tester Sangyo Co., Ltd., "TE-6002") using a glass probe with a diameter of 5 mm. The tack force was measured at a load of 1 kgf/cm 2 , a contact speed of 0.5 mm/sec, a tensile speed of 0.5 mm/sec, a holding time of 10 seconds, and a temperature of 80°C.

<部品埋め込み性の評価>
実施例及び比較例で得られた支持体付き接着シートを用いて、以下の手順に沿って電子部品仮付回路基板を作製し埋め込み性を評価した。
<Evaluation of component embeddability>
Using the adhesive sheets with supports obtained in Examples and Comparative Examples, circuit boards with temporarily attached electronic components were produced according to the following procedure, and embedding properties were evaluated.

(1)電子部品仮付け回路基板(キャビティ基板)の準備
ガラス布基材BTレジン両面銅張積層板(銅箔の厚み18μm、基板厚み0.15mm、三菱ガス化学社製「HL832NSF LCA」)255mm×340mmサイズの全面に、0.7mm×1.1mmのキャビティを3mmピッチで形成した。次いで、両面をマイクロエッチング剤(メック社製「CZ8101」)にて1μmエッチングして銅表面の粗化処理を行い、さらに防錆処理(メック社製「CL8300」)を施し、190℃で30分間乾燥した。
(1) Preparation of electronic component temporary mounting circuit board (cavity board) Glass cloth base BT resin double-sided copper clad laminate (copper foil thickness 18 μm, substrate thickness 0.15 mm, Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd. “HL832NSF LCA”) 255 mm Cavities of 0.7 mm×1.1 mm were formed at a pitch of 3 mm on the entire surface of a size of 340 mm×340 mm. Next, both sides were etched with a micro-etching agent (“CZ8101” manufactured by MEC Co., Ltd.) to a thickness of 1 μm to roughen the copper surface. Dried.

(2)電子部品仮付け回路基板の作製
(1)で得られた基板の片面に、厚みが25μmの粘着剤付ポリイミドフィルム(ポリイミド、厚み38μm、有沢製作所社製、「PFDKE-1525TT」)をバッチ式真空加圧ラミネーター(ニッコー・マテリアルズ社製2ステージビルドアップラミネーター「CVP700」)を用いて、粘着剤が基板と接合するように配置し、片面に積層した。積層は、30秒間減圧して気圧を13hPa以下とした後、80℃、圧力0.74MPaにて30秒間圧着させることにより実施した。次いで、積層セラミックコンデンサ部品(1005=1mm×0.5mmサイズ、厚み0.14mm)をキャビティ内に1つずつ仮付けし、電子部品仮付け回路基板(キャビティ基板)を作製した。
(2) Preparation of electronic component temporary attachment circuit board On one side of the substrate obtained in (1), a 25 μm thick adhesive-attached polyimide film (polyimide, 38 μm thick, manufactured by Arisawa Seisakusho Co., Ltd., “PFDKE-1525TT”). Using a batch-type vacuum pressurized laminator (2-stage build-up laminator "CVP700" manufactured by Nikko Materials Co., Ltd.), the adhesive was arranged so as to be bonded to the substrate and laminated on one side. Lamination was carried out by pressure bonding for 30 seconds at 80° C. and a pressure of 0.74 MPa after reducing the pressure to 13 hPa or less for 30 seconds. Next, laminated ceramic capacitor parts (1005=1 mm×0.5 mm size, thickness 0.14 mm) were temporarily mounted one by one in the cavity to prepare a circuit board (cavity board) for temporarily mounting electronic parts.

(3)部品埋め込み性の評価
試験バッチ式真空加圧ラミネーター(ニッコー・マテリアルズ社製2ステージビルドアップラミネーター「CVP700」)を用いて、実施例及び比較例で作製した支持体付き接着シートから保護フィルムを剥離して露出した樹脂組成物層を、(2)で作製した電子部品仮付け回路基板(キャビティ基板)の粘着剤付ポリイミドフィルム配置面とは反対側の面と接合するように積層した。積層は、保護フィルムの剥離後15分以内に行い、30秒間減圧して気圧を13hPa以下とした後(積層時の真空度0.5hPa)、100℃、圧力0.74MPaにて30秒間圧着させることにより実施した。次いで、積層された支持体付き接着シートを、大気圧下、100℃、圧力0.5MPaにて60秒間熱プレスして平滑化した。室温にまで冷却した電子部品仮付回路基板から粘着剤付ポリイミドフィルムを剥離することにより評価用基板Aを作製した。評価用基板Aのポリイミドフィルムを剥離した面から、キャビティ内の樹脂流れを光学顕微鏡(150倍)で観察した。この観察を10のキャビティについて行い、下記基準により部品埋め込み性を評価した。
○:全てのキャビティにおいて、積層セラミックコンデンサ部品の外周部が樹脂組成物層で覆われている。
×:キャビティの1つでも、隙間が発生しているか又は積層セラミックコンデンサ部品の外周部に樹脂組成物層が埋め込まれていないものがある。
(3) Evaluation of part embedding properties Using a test batch type vacuum pressure laminator (2-stage build-up laminator "CVP700" manufactured by Nikko Materials Co., Ltd.), protected from the adhesive sheet with support prepared in Examples and Comparative Examples The resin composition layer exposed by peeling the film was laminated so as to be bonded to the surface of the electronic component temporary attachment circuit board (cavity substrate) prepared in (2) opposite to the surface on which the polyimide film with adhesive was arranged. . Lamination is performed within 15 minutes after peeling of the protective film, and after reducing the pressure for 30 seconds to 13 hPa or less (degree of vacuum during lamination: 0.5 hPa), pressure bonding is performed for 30 seconds at 100 ° C. and a pressure of 0.74 MPa. It was implemented by Then, the laminated adhesive sheet with a support was hot-pressed for 60 seconds at 100° C. under atmospheric pressure and a pressure of 0.5 MPa to smoothen. An evaluation substrate A was prepared by peeling off the adhesive-attached polyimide film from the circuit board with the electronic parts temporarily attached, which had been cooled to room temperature. The resin flow in the cavity was observed with an optical microscope (150x magnification) from the surface of the substrate for evaluation A from which the polyimide film was peeled off. This observation was performed for 10 cavities, and the component embedding properties were evaluated according to the following criteria.
○: In all the cavities, the outer periphery of the multilayer ceramic capacitor component was covered with the resin composition layer.
x: Even one of the cavities has a gap or the resin composition layer is not embedded in the outer peripheral portion of the multilayer ceramic capacitor part.

<ボイドの評価>
評価用基板Aにおいて、キャビティ部以外を光学顕微鏡(150倍)で観察し、樹脂組成物層と電子部品仮付け回路基板との間のボイドの有無を評価し、以下の基準で評価した。
○:ボイドが存在しない。
×:ボイドが存在する。
<Void evaluation>
In the substrate for evaluation A, the portion other than the cavity portion was observed with an optical microscope (150x magnification) to evaluate the presence or absence of voids between the resin composition layer and the circuit board for temporary attachment of electronic components, and evaluated according to the following criteria.
◯: No voids exist.
x: Voids are present.

Figure 0007259913000002
Figure 0007259913000002

1 支持体付き接着シート
2 樹脂組成物層
2a 樹脂組成物層の第1面
2b 樹脂組成物層の第2面
3 支持体
4 保護フィルム
4a 保護フィルムの第1面
4b 保護フィルムの第2面
10 回路基板
10A 電子部品仮付け回路基板
20 基板
20a キャビティ
30 回路配線
40 仮付け材料
50 電子部品
REFERENCE SIGNS LIST 1 support-attached adhesive sheet 2 resin composition layer 2a first surface of resin composition layer 2b second surface of resin composition layer 3 support 4 protective film 4a first surface of protective film 4b second surface of protective film 10 Circuit board 10A Electronic component temporary attachment circuit board 20 Board 20a Cavity 30 Circuit wiring 40 Temporary attachment material 50 Electronic component

Claims (10)

第1面及び第2面を有する樹脂組成物層と、該樹脂組成物層の第1面と接合している支持体と、第1面及び第2面を有し、第1面が、樹脂組成物層の第2面と接合している保護フィルムとを含む支持体付き接着シートであって、
樹脂組成物層が、無機充填材を含み、
無機充填材の含有量が、樹脂組成物中の不揮発成分を100質量%としたとき、70質量%以上90質量%以下であり、
保護フィルムの第1面の算術平均粗さが、150nm以上であり、
樹脂組成物層の第2面の算術平均粗さ(Ra2)が、150nm以上であり、
樹脂組成物層の第2面の80℃でのタック力が、1.1N以上1.5N以下である、支持体付き接着シート。
a resin composition layer having a first surface and a second surface; a support bonded to the first surface of the resin composition layer; A support-attached adhesive sheet comprising a protective film bonded to the second surface of the composition layer,
The resin composition layer contains an inorganic filler,
The content of the inorganic filler is 70% by mass or more and 90% by mass or less when the non-volatile component in the resin composition is 100% by mass,
The arithmetic mean roughness of the first surface of the protective film is 150 nm or more,
The arithmetic mean roughness (Ra2) of the second surface of the resin composition layer is 150 nm or more,
A support-attached adhesive sheet, wherein the second surface of the resin composition layer has a tack force of 1.1 N or more and 1.5 N or less at 80°C.
第1面及び第2面を有する樹脂組成物層と、該樹脂組成物層の第1面と接合している支持体と、第1面及び第2面を有し、第1面が、樹脂組成物層の第2面と接合している保護フィルムとを含む支持体付き接着シートであって、
樹脂組成物層が、エポキシ樹脂、活性エステル系硬化剤、及び無機充填材を含み、
保護フィルムの第1面の算術平均粗さが、150nm以上であり、
樹脂組成物層の第2面の算術平均粗さ(Ra2)が、150nm以上であり、
樹脂組成物層の第2面の80℃でのタック力が、1.1N以上1.5N以下である、支持体付き接着シート。
a resin composition layer having a first surface and a second surface; a support bonded to the first surface of the resin composition layer; A support-attached adhesive sheet comprising a protective film bonded to the second surface of the composition layer,
The resin composition layer contains an epoxy resin, an active ester curing agent, and an inorganic filler,
The arithmetic mean roughness of the first surface of the protective film is 150 nm or more,
The arithmetic mean roughness (Ra2) of the second surface of the resin composition layer is 150 nm or more,
A support-attached adhesive sheet, wherein the second surface of the resin composition layer has a tack force of 1.1 N or more and 1.5 N or less at 80°C.
真空ラミネート装置を使用して絶縁層を形成するために用いられる、請求項1又は2に記載の支持体付き接着シート。 3. The adhesive sheet with a support according to claim 1, which is used for forming an insulating layer using a vacuum laminator. 真空ラミネート装置における真空度が、0.01hPa以上4hPa以下である、請求項3に記載の支持体付き接着シート。 4. The adhesive sheet with a support according to claim 3, wherein the degree of vacuum in the vacuum laminator is 0.01 hPa or more and 4 hPa or less. 電子部品を埋め込むための絶縁層を形成するために用いられる、請求項1~4のいずれか1項に記載の支持体付き接着シート。 The support-attached adhesive sheet according to any one of claims 1 to 4, which is used for forming an insulating layer for embedding electronic parts. 回路基板上に絶縁層を形成するために用いられる、請求項1~5のいずれか1項に記載の支持体付き接着シート。 The support-attached adhesive sheet according to any one of claims 1 to 5, which is used for forming an insulating layer on a circuit board. 樹脂組成物層の60℃~200℃における最低溶融粘度が、2000poise以下である、請求項1~6のいずれか1項に記載の支持体付き接着シート。 The adhesive sheet with a support according to any one of claims 1 to 6, wherein the resin composition layer has a minimum melt viscosity of 2000 poise or less at 60°C to 200°C. 樹脂組成物層が樹脂組成物を含み、樹脂組成物が液状エポキシ樹脂及び固体状エポキシ樹脂を含む、請求項1~7のいずれか1項に記載の支持体付き接着シート。 The adhesive sheet with a support according to any one of claims 1 to 7, wherein the resin composition layer contains a resin composition, and the resin composition contains a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin. 液状エポキシ樹脂と固体状エポキシ樹脂との量比(固体状エポキシ樹脂:液状エポキシ樹脂)が、1:0.3~1:10である、請求項8に記載の支持体付き樹脂シート。 9. The resin sheet with a support according to claim 8, wherein the ratio of liquid epoxy resin to solid epoxy resin (solid epoxy resin:liquid epoxy resin) is 1:0.3 to 1:10. 第1及び第2の主面を有し、該第1及び第2の主面間を貫通するキャビティが形成された回路基板と、該回路基板の第2の主面と接合している仮付け材料と、前記回路基板のキャビティの内部において前記仮付け材料によって仮付けされた電子部品とを含む、電子部品が仮付けされた回路基板に、請求項1~9のいずれか1項に記載の支持体付き接着シートを、前記樹脂組成物層の第2面が回路基板の第1の主面と接合するように、真空ラミネート装置を用いて積層する積層工程と、
回路基板の第2の主面から仮付け材料を剥離する剥離工程と、をこの順序で含む、部品内蔵回路基板の製造方法。
A circuit board having first and second principal surfaces and having a cavity penetrating between the first and second principal surfaces, and a temporary attachment bonded to the second principal surface of the circuit board. A circuit board to which an electronic component is tacked, comprising a material and an electronic component tacked by the tacking material inside a cavity of the circuit board, according to any one of claims 1 to 9. a lamination step of laminating the adhesive sheet with a support using a vacuum laminator so that the second surface of the resin composition layer is bonded to the first main surface of the circuit board;
A method of manufacturing a component-embedded circuit board, comprising, in this order, a peeling step of peeling the temporary attachment material from the second main surface of the circuit board.
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