[go: up one dir, main page]

JP7253905B2 - Mounting device and mounting method - Google Patents

Mounting device and mounting method Download PDF

Info

Publication number
JP7253905B2
JP7253905B2 JP2018222540A JP2018222540A JP7253905B2 JP 7253905 B2 JP7253905 B2 JP 7253905B2 JP 2018222540 A JP2018222540 A JP 2018222540A JP 2018222540 A JP2018222540 A JP 2018222540A JP 7253905 B2 JP7253905 B2 JP 7253905B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mounting
electronic component
axis direction
difference
board
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2018222540A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2020088244A (en
Inventor
弘朗 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Juki Corp
Original Assignee
Juki Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Juki Corp filed Critical Juki Corp
Priority to JP2018222540A priority Critical patent/JP7253905B2/en
Priority to CN201910543742.1A priority patent/CN111246721B/en
Publication of JP2020088244A publication Critical patent/JP2020088244A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP7253905B2 publication Critical patent/JP7253905B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components
    • H05K13/0404Pick-and-place heads or apparatus, e.g. with jaws
    • H05K13/0406Drive mechanisms for pick-and-place heads, e.g. details relating to power transmission, motors or vibration damping
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/08Monitoring manufacture of assemblages
    • H05K13/081Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines
    • H05K13/0812Integration of optical monitoring devices in assembly lines; Processes using optical monitoring devices specially adapted for controlling devices or machines in assembly lines the monitoring devices being integrated in the mounting machine, e.g. for monitoring components, leads, component placement

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Operations Research (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Description

本開示は、実装装置及び実装方法に関する。 The present disclosure relates to a mounting device and a mounting method.

電子部品の実装位置のずれを、実装中の移動動作によるずれとして補正する技術が特許文献1に開示されている。 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-200002 discloses a technique for correcting a shift in the mounting position of an electronic component as a shift caused by a movement operation during mounting.

特開2007-019201号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 2007-019201

電子部品の実装位置が、実装中の移動動作の方向とは異なる方向にずれてしまう可能性がある。その結果、実装不良が起きてしまう可能性がある。 The mounting position of the electronic component may shift in a direction different from the direction of movement during mounting. As a result, mounting defects may occur.

本発明の態様は、実装中の移動動作の方向とは異なる方向のずれを抑制することを目的とする。 An object of the present invention is to suppress deviation in a direction different from the direction of movement operation during mounting.

本発明の態様に従えば、電子部品を解放可能に保持するノズルを有し、前記ノズルに保持されている前記電子部品を基板に実装する実装ヘッドと、前記実装ヘッドに支持された基板カメラと、前記実装ヘッドを移動する移動機構と、制御装置と、を備え、前記制御装置は、前記基板の表面と平行な所定面に規定された前記基板カメラの位置を基準として、前記実装ヘッドにより位置検出用基板に前記電子部品を実装させる実装処理部と、前記基板カメラにより前記位置検出用基板に実装した前記電子部品を検出させる検出処理部と、前記所定面の第1軸方向及び前記第1軸方向と直交する前記所定面の第2軸方向のそれぞれにおいて前記電子部品の実装設定位置と検出位置との差異を算出する差異算出処理部と、前記実装設定位置の前記第1軸方向の座標に対する前記差異の前記第2軸方向の座標の成分と、前記実装設定位置の前記第2軸方向の座標に対する前記差異の前記第1軸方向の座標の成分と、を打ち消す方向に前記電子部品の実装位置を補正する補正処理部と、を有する、実装装置が提供される。 According to an aspect of the present invention, a mounting head having a nozzle for releasably holding an electronic component and mounting the electronic component held by the nozzle onto a board; and a board camera supported by the mounting head. a moving mechanism for moving the mounting head; and a control device, wherein the control device moves the mounting head to a position based on the position of the substrate camera defined on a predetermined plane parallel to the surface of the substrate. a mounting processing unit for mounting the electronic component on the detection substrate; a detection processing unit for detecting the electronic component mounted on the position detection substrate by the substrate camera; a difference calculation processing unit that calculates a difference between the mounting set position and the detected position of the electronic component in each of the second axial directions of the predetermined plane perpendicular to the axial direction; and coordinates of the mounting set positions in the first axial direction. of the electronic component in a direction that cancels out the component of the coordinate in the second axis direction of the difference with respect to and a correction processing unit that corrects a mounting position.

本発明の態様によれば、実装中の移動動作の方向とは異なる方向のずれを抑制することができる。 According to the aspect of the present invention, deviation in a direction different from the direction of movement operation during mounting can be suppressed.

図1は、第1実施形態に係る実装装置の一例を模式的に示す図である。FIG. 1 is a diagram schematically showing an example of a mounting apparatus according to the first embodiment. 図2は、第1実施形態に係る実装装置の一例を模式的に示す図である。FIG. 2 is a diagram schematically showing an example of the mounting apparatus according to the first embodiment; 図3は、第1実施形態に係る実装装置の制御装置を示す機能ブロック図である。FIG. 3 is a functional block diagram showing the control device of the mounting device according to the first embodiment. 図4は、第1実施形態に係る実装方法を示すフローチャートである。FIG. 4 is a flow chart showing the mounting method according to the first embodiment. 図5は、第1実施形態に係る実装方法の一例を模式的に示す図である。FIG. 5 is a diagram schematically showing an example of the mounting method according to the first embodiment. 図6は、第1実施形態に係る実装方法の一例を模式的に示す図である。FIG. 6 is a diagram schematically showing an example of the mounting method according to the first embodiment. 図7は、第1実施形態に係る実装方法の一例を模式的に示す図である。FIG. 7 is a diagram schematically showing an example of the mounting method according to the first embodiment. 図8は、第1実施形態に係る実装方法の一例を模式的に示す図である。FIG. 8 is a diagram schematically showing an example of the mounting method according to the first embodiment. 図9は、第2実施形態に係る実装方法の一例を模式的に示す図である。FIG. 9 is a diagram schematically showing an example of a mounting method according to the second embodiment.

以下、本発明に係る実施形態について図面を参照しながら説明するが、本発明はこれに限定されない。以下で説明する実施形態の構成要素は、適宜組み合わせることができる。また、一部の構成要素を用いない場合もある。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings, but the present invention is not limited thereto. The constituent elements of the embodiments described below can be combined as appropriate. Also, some components may not be used.

以下の説明においては、XYZ直交座標系を設定し、このXYZ直交座標系を参照しつつ各部の位置関係について説明する。所定面のX軸と平行な方向をX軸方向とし、所定面においてX軸と直交するY軸と平行な方向をY軸方向とし、所定面と直交するZ軸と平行な方向をZ軸方向とする。 In the following description, an XYZ orthogonal coordinate system is set, and the positional relationship of each part will be described with reference to this XYZ orthogonal coordinate system. The direction parallel to the X-axis of a predetermined surface is the X-axis direction, the direction parallel to the Y-axis perpendicular to the X-axis on the predetermined surface is the Y-axis direction, and the direction parallel to the Z-axis perpendicular to the predetermined surface is the Z-axis direction. and

[第1実施形態]
<実装装置>
第1実施形態について説明する。図1及び図2は、本実施形態に係る実装装置1の一例を模式的に示す図である。図1は、実装装置1を示す側面図である。図2は、実装装置1を示す上面図である。
[First embodiment]
<Mounting equipment>
A first embodiment will be described. 1 and 2 are diagrams schematically showing an example of a mounting apparatus 1 according to this embodiment. FIG. 1 is a side view showing the mounting apparatus 1. FIG. FIG. 2 is a top view showing the mounting apparatus 1. FIG.

実装装置1は、フィーダ20によって供給された電子部品Cを基板Pに実装する。図1及び図2に示すように、実装装置1は、電子部品Cを基板Pに実装する実装ヘッド2と、実装ヘッド2に支持された基板カメラ3と、実装ヘッド2を基板カメラ3と共に移動する移動機構4と、制御装置5と、を備える。 The mounting apparatus 1 mounts the electronic component C supplied by the feeder 20 on the substrate P. As shown in FIG. As shown in FIGS. 1 and 2, the mounting apparatus 1 includes a mounting head 2 that mounts an electronic component C on a board P, a board camera 3 supported by the mounting head 2, and a board camera 3 that moves the mounting head 2 together with the board camera 3. A moving mechanism 4 and a control device 5 are provided.

図2に示すように、実装装置1の基台10の中央付近には、X軸方向に基板Pを搬送する基板搬送部11が配設されている。基板搬送部11は、X軸方向の一方側から電子部品Cを実装前の基板Pを実装ヘッド2の下方に搬入して位置決めし、電子部品Cを実装後の基板PをX軸方向の他方側へ搬出する。 As shown in FIG. 2, near the center of the base 10 of the mounting apparatus 1, a board transfer section 11 for transferring the board P in the X-axis direction is arranged. The substrate transfer unit 11 carries the substrate P before mounting the electronic components C from one side in the X-axis direction below the mounting head 2 and positions it, and transfers the substrate P after mounting the electronic components C to the other side in the X-axis direction. Carry out to the side.

図1及び図2に示すように、基板搬送部11を挟んだ両側には、複数のフィーダ20がX軸方向に配置されている。フィーダ20は、本実施形態では着脱自在に装着されたテープリールによって実装ヘッド2に電子部品Cを供給するテープフィーダが例示されているが、本発明はこれに限定されず、他の形態のフィーダであってもよい。 As shown in FIGS. 1 and 2 , a plurality of feeders 20 are arranged in the X-axis direction on both sides of the substrate transfer section 11 . In this embodiment, the feeder 20 is exemplified by a tape feeder that supplies the electronic component C to the mounting head 2 by means of a detachably attached tape reel, but the present invention is not limited to this, and feeders of other forms may be used. may be

図1に示すように、実装ヘッド2は、電子部品Cを解放可能に保持する複数のノズル21と、複数のノズル21の回転軸22を中心に旋回可能に保持するヘッド基台23と、ヘッド基台23を回転可能に支持するヘッド筐体24と、を有する。実装ヘッド2は、本実施形態ではノズル21が1本ずつ電子部品Cを実装するロータリー式の実装ヘッド2が例示されているが、本発明はこれに限定されず、複数の電子部品Cを同時に実装可能なインライン式の実装ヘッド等のその他の形態の実装ヘッドであってもよい。 As shown in FIG. 1, the mounting head 2 includes a plurality of nozzles 21 that releasably hold the electronic component C, a head base 23 that holds the plurality of nozzles 21 so as to be rotatable around a rotation axis 22, and a head and a head housing 24 that rotatably supports the base 23 . In this embodiment, the mounting head 2 is exemplified by a rotary type mounting head 2 in which the nozzles 21 mount the electronic components C one by one. Other forms of mounting heads, such as mountable in-line mounting heads, may also be used.

基板カメラ3は、ヘッド筐体24に支持されている。基板カメラ3の基板P上の撮像位置3Pは、実装ヘッド2のノズル21の基板P上の実装位置2Pを基準として、相対位置ベクトルRで示される所定の相対位置にある。基板カメラ3は、実装ヘッド2が電子部品Cを基板Pに実装する際、基板Pを上方から撮像して基板Pの画像データを取得することにより、撮像位置3Pを検出することで、実装位置2Pを検出する。また、基板カメラ3は、基板P上に実装された電子部品Cを上方から撮像して電子部品Cの画像データを取得することにより、電子部品Cを検出することができる。 The board camera 3 is supported by the head housing 24 . An imaging position 3P on the board P of the board camera 3 is at a predetermined relative position indicated by a relative position vector R with the mounting position 2P of the nozzle 21 of the mounting head 2 on the board P as a reference. When the mounting head 2 mounts the electronic component C on the board P, the board camera 3 captures an image of the board P from above and acquires image data of the board P, thereby detecting the image pickup position 3P. 2P is detected. Further, the board camera 3 can detect the electronic component C by capturing an image of the electronic component C mounted on the board P from above and acquiring image data of the electronic component C. FIG.

移動機構4は、基台10の上方に設けられている。移動機構4は、実装ヘッド2及び基板カメラ3をZ軸方向に昇降可能に支持しているZ軸方向に延びるZ軸ガイド43と、Z軸ガイド43に沿って実装ヘッド2及び基板カメラ3を昇降方向に移動するための動力を発生する図示しないZ軸駆動部と、Z軸ガイド43をX軸方向に移動可能に支持しているX軸ガイド41と、X軸ガイド41に沿ってZ軸ガイド43をX軸方向に移動するための動力を発生する図示しないX軸駆動部と、X軸ガイド41をY軸方向に移動可能に支持している一対のY軸ガイド42と、Y軸ガイド42に沿ってX軸ガイド41をY軸方向に移動するための動力を発生する図示しないY軸駆動部と、を有する。一対のY軸ガイド42は、基台10の四隅に立設する支持部17によって支持されている。 The moving mechanism 4 is provided above the base 10 . The moving mechanism 4 includes a Z-axis guide 43 extending in the Z-axis direction that supports the mounting head 2 and the board camera 3 so that they can move up and down in the Z-axis direction, and a Z-axis guide 43 that moves the mounting head 2 and the board camera 3 along the Z-axis guide 43 . A Z-axis drive unit (not shown) that generates power for moving in the vertical direction, an X-axis guide 41 that supports a Z-axis guide 43 so as to be movable in the X-axis direction, and a Z-axis guide 41 along the X-axis guide 41. An X-axis drive unit (not shown) that generates power for moving the guide 43 in the X-axis direction, a pair of Y-axis guides 42 that support the X-axis guide 41 so as to be movable in the Y-axis direction, and a Y-axis guide. and a Y-axis drive unit (not shown) that generates power for moving the X-axis guide 41 in the Y-axis direction along 42 . The pair of Y-axis guides 42 are supported by supporting portions 17 erected at the four corners of the base 10 .

<制御装置>
図3は、第1実施形態に係る実装装置1の制御装置5を示す機能ブロック図である。制御装置5は、実装装置1を制御するコンピュータシステムを含む。図3に示すように、制御装置5は、CPU(Central Processing Unit)のようなマイクロプロセッサを含む処理装置5Aと、ROM(Read Only Memory)又はストレージのような不揮発性メモリ及びRAM(Random Access Memory)のような揮発性メモリを含む記憶装置5Bと、信号及びデータを入出力可能な入出力回路を含む入出力インターフェース5Cと、を有する。
<Control device>
FIG. 3 is a functional block diagram showing the control device 5 of the mounting device 1 according to the first embodiment. The control device 5 includes a computer system that controls the mounting device 1 . As shown in FIG. 3, the control device 5 includes a processing device 5A including a microprocessor such as a CPU (Central Processing Unit), a non-volatile memory such as ROM (Read Only Memory) or storage, and a RAM (Random Access Memory). ), and an input/output interface 5C including an input/output circuit capable of inputting/outputting signals and data.

処理装置5Aは、実装処理部51と、検出処理部52と、差異算出処理部53と、補正処理部54と、を有する。制御装置5の入出力インターフェース5Cには、実装ヘッド2と、基板カメラ3と、移動機構4とが接続される。 The processing device 5A has a mounting processing unit 51, a detection processing unit 52, a difference calculation processing unit 53, and a correction processing unit . The input/output interface 5C of the control device 5 is connected with the mounting head 2, the substrate camera 3, and the moving mechanism 4. FIG.

実装処理部51は、基板Pの表面と平行な所定面に規定された基板カメラ3の位置を基準として、実装ヘッド2により、後述する位置検出用基板6(図5参照)に電子部品Cを実装させる制御指令を出力する。なお、処理装置5Aは、電子部品Cを位置検出用基板6(図5参照)に実装する前に、予め、実装装置1における所定面の第1軸方向であるX軸方向及び第1軸方向と直交する所定面の第2軸方向であるY軸方向に基づいて、位置検出用基板6(図5参照)のX軸方向の座標であるX座標及びY軸方向の座標であるY座標のそれぞれを設定する。 The mounting processing unit 51 uses the mounting head 2 to mount the electronic component C on the position detection board 6 (see FIG. 5) described later, using the position of the board camera 3 defined on a predetermined plane parallel to the surface of the board P as a reference. Outputs control commands to be implemented. In addition, before mounting the electronic component C on the position detection substrate 6 (see FIG. 5), the processing device 5A preliminarily mounts the predetermined surface of the mounting device 1 in the X-axis direction and the first-axis direction. Based on the Y-axis direction, which is the second axis direction of a predetermined plane orthogonal to set each.

検出処理部52は、基板カメラ3により位置検出用基板6(図5参照)に実装した複数の電子部品Cを検出させる制御指令を出力する。 The detection processing unit 52 outputs a control command for detecting a plurality of electronic components C mounted on the position detection board 6 (see FIG. 5) by the board camera 3 .

差異算出処理部53は、X軸方向及びY軸方向のそれぞれにおいて、電子部品Cの実装設定位置CP(図6参照)と検出位置RP(図6参照)との差異D(図6参照)を算出する。 The difference calculation processing unit 53 calculates the difference D (see FIG. 6) between the mounting setting position CP (see FIG. 6) and the detection position RP (see FIG. 6) of the electronic component C in each of the X-axis direction and the Y-axis direction. calculate.

補正処理部54は、実装設定位置CP(図6参照)のX座標に対する差異D(図6参照)のY座標の成分と、実装設定位置CP(図6参照)のY座標に対する差異D(図6参照)のX座標の成分と、を打ち消す方向に電子部品Cの実装位置2Pを補正する。補正処理部54は、具体的には、実装処理部51が電子部品Cを実装する実装設定位置CPの座標(X1,Y1)に対して、実装設定位置CPのY1に対する差異DのX座標の成分ΔX1をX1から差し引き、実装設定位置CPのX1に対する差異DのY座標の成分ΔY1をY1から差し引くことで、座標(X1-ΔX1,Y1-ΔY1)に補正する。 The correction processing unit 54 calculates the component of the Y coordinate of the difference D (see FIG. 6) with respect to the X coordinate of the mounting setting position CP (see FIG. 6) and the difference D (see FIG. 6) with respect to the Y coordinate of the mounting setting position CP (see FIG. 6). 6), the mounting position 2P of the electronic component C is corrected in the direction of canceling out the component of the X coordinate. Specifically, the correction processing unit 54 corrects the X coordinate of the difference D with respect to Y1 of the mounting setting position CP with respect to the coordinates (X1, Y1) of the mounting setting position CP where the electronic component C is mounted by the mounting processing unit 51. By subtracting the component ΔX1 from X1 and subtracting the Y coordinate component ΔY1 of the difference D of the mounting setting position CP from X1 from Y1, the coordinates are corrected to (X1−ΔX1, Y1−ΔY1).

実装処理部51、検出処理部52、差異算出処理部53及び補正処理部54は、いずれも、処理装置5Aが、第1実施形態に係る実装装置1が第1実施形態に係る実装方法を実行するための実装プログラムを実行することにより、実現される機能部である。処理装置5Aの詳細な機能、すなわち、実装処理部51、検出処理部52、差異算出処理部53及び補正処理部54の詳細な機能は、後述する第1実施形態に係る実装方法の詳細な説明の箇所で説明する。 The mounting processing unit 51, the detection processing unit 52, the difference calculation processing unit 53, and the correction processing unit 54 all perform the mounting method according to the first embodiment. It is a functional part realized by executing an implementation program for Detailed functions of the processing device 5A, that is, the detailed functions of the mounting processing unit 51, the detection processing unit 52, the difference calculation processing unit 53, and the correction processing unit 54 will be described later in detail in the mounting method according to the first embodiment. will be explained in the section below.

<実装方法>
第1実施形態に係る実装装置1の作用について以下に説明する。図4は、第1実施形態に係る実装方法を示すフローチャートである。図5、図6、図7及び図8のそれぞれは、第1実施形態に係る実装方法の一例を模式的に示す図である。
<Mounting method>
The operation of the mounting apparatus 1 according to the first embodiment will be described below. FIG. 4 is a flow chart showing the mounting method according to the first embodiment. 5, 6, 7 and 8 are diagrams schematically showing an example of the mounting method according to the first embodiment.

図5は、実装ステップS10で用いる位置検出用基板6、実装ステップS10における電子部品Cの実装例について示している。図6は、実装ステップS10において設定される電子部品Cの実装設定位置CPと、検出ステップS20において検出される電子部品Cの検出位置RPと、差異算出ステップS30で算出される差異Dとの関係について示している。図7は、補正ステップS40で取り纏められる実装設定位置CPのY座標に対する差異DのベクトルのX成分のデータについて示している。図7は、補正ステップS40で取り纏められる実装設定位置CPのX座標に対する差異DのベクトルのY成分のデータについて示している。 FIG. 5 shows a mounting example of the position detection substrate 6 used in the mounting step S10 and the electronic component C in the mounting step S10. FIG. 6 shows the relationship between the mounting setting position CP of the electronic component C set in the mounting step S10, the detection position RP of the electronic component C detected in the detecting step S20, and the difference D calculated in the difference calculating step S30. It shows about FIG. 7 shows the data of the X component of the vector of the difference D with respect to the Y coordinate of the mounting setting position CP compiled in the correction step S40. FIG. 7 shows the data of the Y component of the vector of the difference D with respect to the X coordinate of the mounting setting position CP collected in the correction step S40.

実装装置1によって実行される第1実施形態に係る実装方法について、実装装置1の処理装置5Aにおける実装処理部51、検出処理部52、差異算出処理部53及び補正処理部54の詳細な機能と併せて、図4~図8を用いて説明する。 Regarding the mounting method according to the first embodiment executed by the mounting apparatus 1, the detailed functions and In addition, description will be made with reference to FIGS. 4 to 8. FIG.

図4に示すように、第1実施形態に係る実装方法は、実装ステップS10と、検出ステップS20と、差異算出ステップS30と、補正ステップS40と、を有する。 As shown in FIG. 4, the mounting method according to the first embodiment includes mounting step S10, detection step S20, difference calculation step S30, and correction step S40.

図5に示すように、第1実施形態に係る実装方法で用いる位置検出用基板6は、四隅に基準マーク61が設けられている。位置検出用基板6は、基板Pと同様に、実装ヘッド2の下方に搬入されて位置決めされる。なお、位置検出用基板6は、位置決め精度の高いガラス板で構成されていることが好ましい。 As shown in FIG. 5, the position detection board 6 used in the mounting method according to the first embodiment is provided with reference marks 61 at the four corners. Like the substrate P, the position detection substrate 6 is loaded under the mounting head 2 and positioned. It should be noted that the position detection substrate 6 is preferably made of a glass plate with high positioning accuracy.

処理装置5Aは、実装ステップS10を実行する前に、予め、実装装置1のX軸及びY軸のそれぞれに基づいて、基準マーク61を基準として位置検出用基板6のX座標及びY座標のそれぞれを設定し、実装ヘッド2のキャリブレーション処理と、実装ヘッド2と位置検出用基板6とにおけるアライメント処理(位置補正処理)と、を実行する。 Before executing the mounting step S10, the processing device 5A calculates the X coordinate and the Y coordinate of the position detection board 6 with reference to the reference mark 61 based on the X axis and the Y axis of the mounting device 1, respectively. is set, and calibration processing of the mounting head 2 and alignment processing (position correction processing) between the mounting head 2 and the position detection board 6 are executed.

実装処理部51は、実装ヘッド2により、基板カメラ3の位置を基準として、位置検出用基板6に電子部品Cを実装させる制御指令を出力する(実装ステップS10)。 The mounting processing unit 51 outputs a control command to mount the electronic component C on the position detecting board 6 with the mounting head 2 on the basis of the position of the board camera 3 (mounting step S10).

実装ステップS10では、まず、実装処理部51が、図5に示すように、電子部品Cごとに位置検出用基板6おける実装設定位置CPを設定する。本実施形態では、電子部品Cにおける-X方向及び-Y方向の角を基準に実装設定位置CPを設定しているが、本発明はこれに限定されることなく、電子部品Cのその他の角を基準に実装設定位置CPを設定してもよいし、電子部品Cの中心を基準に実装設定位置CPを設定してもよい。 In the mounting step S10, first, the mounting processing unit 51 sets the mounting setting position CP on the position detecting board 6 for each electronic component C, as shown in FIG. In this embodiment, the mounting setting position CP is set with reference to the corners of the -X direction and the -Y direction of the electronic component C, but the present invention is not limited to this. , or the center of the electronic component C may be used as a reference.

実装ステップS10では、次に、実装処理部51が、基板カメラ3の撮像機能と移動機構4の移動機能とを使用して、基板カメラ3の撮像位置3Pを電子部品Cの実装設定位置CPに対して、実装位置2Pと撮像位置3Pとの相対位置ベクトルRだけ移動した位置に向けて移動させる。これにより、実装処理部51は、実装ヘッド2のノズル21の実装位置2Pを実装設定位置CPに向けて移動させる。 In the mounting step S10, the mounting processing unit 51 next uses the imaging function of the board camera 3 and the moving function of the moving mechanism 4 to move the imaging position 3P of the board camera 3 to the mounting setting position CP of the electronic component C. On the other hand, it is moved toward a position moved by the relative position vector R between the mounting position 2P and the imaging position 3P. Accordingly, the mounting processing section 51 moves the mounting position 2P of the nozzle 21 of the mounting head 2 toward the mounting setting position CP.

実装ステップS10では、その次に、実装処理部51が、実装位置2Pを実装設定位置CPに向けて移動させた状態で、実装ヘッド2の実装機能を使用して、電子部品Cを位置検出用基板6に実装させる。 In the mounting step S10, the mounting processing unit 51 moves the mounting position 2P toward the mounting setting position CP, and uses the mounting function of the mounting head 2 to position the electronic component C for position detection. It is mounted on the substrate 6.

実装ステップS10では、図5に示すように、実装処理部51が、上記した1つの電子部品Cの実装動作を、実装設定位置CPを設定した全ての電子部品Cについて繰り返して実行させる。この結果、実装予定であった全ての電子部品Cを、位置検出用基板6における全ての実装設定位置CPに向けて実装させる。 In the mounting step S10, as shown in FIG. 5, the mounting processing unit 51 causes the mounting operation of one electronic component C described above to be repeatedly performed for all the electronic components C for which the mounting setting positions CP are set. As a result, all electronic components C to be mounted are mounted toward all mounting setting positions CP on the position detection substrate 6 .

なお、本実施形態では、実装処理部51は、X軸方向に等間隔に12列、Y軸方向に等間隔に7行に規則的に配列された計84箇所の実装設定位置CPを設定しているが、本発明はこれに限定されることなく、実装設定位置CPがその他の規則的な配列をとっていても、不規則な配列をとっていてもよい。実装処理部51は、規則的に配列された実装設定位置CPを設定することが好ましく、この場合、補正処理部54が、後述する補正ステップS40で誤差を考慮してより正確に電子部品Cの実装位置2Pを補正することができる。 In this embodiment, the mounting processing unit 51 sets a total of 84 mounting setting positions CP, which are regularly arranged in 12 columns at equal intervals in the X-axis direction and 7 rows at equal intervals in the Y-axis direction. However, the present invention is not limited to this, and the mounting setting positions CP may be arranged in other regular or irregular arrangements. It is preferable that the mounting processing unit 51 sets the mounting setting positions CP arranged regularly. The mounting position 2P can be corrected.

また、実装ステップS10では、実装処理部51は、電子部品Cを位置検出用基板6の広範囲に実装させることが好ましい。すなわち、実装ステップS10では、実装処理部51が電子部品Cを実装する実装設定位置CPが、位置検出用基板6において広く分布していることが好ましい。この場合、差異算出処理部53が、後述する差異算出ステップS30でより広範囲において差異Dを算出することができるので、補正処理部54が、後述する補正ステップS40でより広範囲において電子部品Cの実装位置2Pを補正することができる。 Moreover, in the mounting step S10, the mounting processing section 51 preferably mounts the electronic component C over a wide area of the position detecting board 6. FIG. That is, in the mounting step S<b>10 , it is preferable that the mounting setting positions CP where the electronic components C are mounted by the mounting processing section 51 are widely distributed on the position detecting board 6 . In this case, the difference calculation processing unit 53 can calculate the difference D in a wider range in the difference calculation step S30 described later, so that the correction processing unit 54 can mount the electronic component C in a wider range in the correction step S40 described later. Position 2P can be corrected.

検出処理部52は、基板カメラ3により、位置検出用基板6に実装した複数の電子部品Cを検出させる制御指令を出力する(検出ステップS20)。 The detection processing unit 52 outputs a control command to detect the plurality of electronic components C mounted on the position detection board 6 by the board camera 3 (detection step S20).

検出ステップS20では、まず、検出処理部52が、基板カメラ3の撮像機能と移動機構4の移動機能とを使用して、基板カメラ3の撮像位置3Pを位置検出用基板6上のそれぞれの実装設定位置CPに向けて移動させる。 In the detection step S20, first, the detection processing unit 52 uses the imaging function of the board camera 3 and the moving function of the moving mechanism 4 to set the imaging position 3P of the board camera 3 on each mounting position detection board 6. Move it toward the setting position CP.

検出ステップS20では、次に、検出処理部52が、移動した基板カメラ3で、それぞれの実装設定位置CP及びその付近に実装されたそれぞれの電子部品Cを撮像させて、電子部品Cの画像データを取得させる。これにより、検出処理部52は、それぞれの電子部品Cを検出させて、それぞれの電子部品Cが実装された位置を検出位置RPとして検出させる。 In the detection step S20, next, the detection processing unit 52 causes the board camera 3 that has moved to pick up images of the respective mounting setting positions CP and the respective electronic components C mounted in the vicinity thereof, thereby obtaining image data of the electronic components C. get Thereby, the detection processing unit 52 detects each electronic component C and detects the position where each electronic component C is mounted as the detection position RP.

差異算出処理部53は、電子部品Cの実装設定位置CPと検出位置RPとの差異Dを算出する(差異算出ステップS30)。 The difference calculation processing unit 53 calculates the difference D between the mounting setting position CP and the detection position RP of the electronic component C (difference calculation step S30).

差異算出ステップS30では、図6に示すように、差異算出処理部53が、検出位置RPのXY座標から実装設定位置CPのXY座標を差し引くことで、差異DのベクトルのXY座標を算出する。差異算出ステップS30では、差異算出処理部53が、実装ステップS10で実装して検出ステップS20で検出した全ての電子部品Cについて、差異DのベクトルのXY座標を算出する。 In the difference calculation step S30, as shown in FIG. 6, the difference calculation processing unit 53 calculates the XY coordinates of the vector of the difference D by subtracting the XY coordinates of the mounting setting position CP from the XY coordinates of the detection position RP. In the difference calculation step S30, the difference calculation processing unit 53 calculates the XY coordinates of the vector of the difference D for all the electronic components C mounted in the mounting step S10 and detected in the detection step S20.

補正処理部54は、実装設定位置CPのX座標に対する差異DのY座標の成分と、実装設定位置CPのY座標に対する差異DのX座標の成分と、を打ち消す方向に電子部品Cの実装位置2Pを補正する(補正ステップS40)。補正処理部54は、具体的には、実装処理部51が電子部品Cを実装する実装設定位置CPの座標(X1,Y1)に対して、実装設定位置CPのY1に対する差異DのX座標の成分ΔX1をX1から差し引き、実装設定位置CPのX1に対する差異DのY座標の成分ΔY1をY1から差し引くことで、座標(X1-ΔX1,Y1-ΔY1)に補正する。 The correction processing unit 54 adjusts the mounting position of the electronic component C in a direction that cancels out the Y-coordinate component of the difference D with respect to the X-coordinate of the mounting setting position CP and the X-coordinate component of the difference D with respect to the Y-coordinate of the mounting setting position CP. 2P is corrected (correction step S40). Specifically, the correction processing unit 54 corrects the X coordinate of the difference D with respect to Y1 of the mounting setting position CP with respect to the coordinates (X1, Y1) of the mounting setting position CP where the electronic component C is mounted by the mounting processing unit 51. By subtracting the component ΔX1 from X1 and subtracting the Y coordinate component ΔY1 of the difference D of the mounting setting position CP from X1 from Y1, the coordinates are corrected to (X1−ΔX1, Y1−ΔY1).

補正ステップS40では、まず、補正処理部54が、図7に示すように、実装されたそれぞれの電子部品Cについて、実装設定位置CPのY座標に対する差異DのベクトルのX座標のデータを取り纏める。補正ステップS40では、例えば、補正処理部54が、実装設定位置CPのY座標が等しいものについて取り纏めて扱い、複数の差異DのベクトルのX座標のデータに対して相加平均などの統計処理を施して、データ点DPXYとエラーバーEBXYとを算出する。 In the correction step S40, first, as shown in FIG. 7, the correction processing unit 54 collects the X-coordinate data of the vector of the difference D with respect to the Y-coordinate of the mounting setting position CP for each of the mounted electronic components C. . In the correction step S40, for example, the correction processing unit 54 collectively handles the mounting setting positions CP having the same Y coordinate, and performs statistical processing such as arithmetic averaging on the X coordinate data of the vectors of the plurality of differences D. to calculate data points DP XY and error bars EB XY .

補正ステップS40では、次に、補正処理部54が、図7に示すように、データ点DPXYとエラーバーEBXYとに対して、多項式関数でフィッティング処理を施して、データ点DPXYとエラーバーEBXYとに基づく第1近似関数FΔX(Y)を求める。この第1近似関数FΔX(Y)は、図7において、第1近似関数曲線FCXYで示される。 In the correction step S40, as shown in FIG. 7, the correction processing unit 54 performs fitting processing on the data points DP XY and the error bars EB XY using a polynomial function to obtain the data points DP XY and the error bars EB XY. A first approximation function F ΔX (Y) based on EB XY is obtained. This first approximation function F ΔX (Y) is indicated by a first approximation function curve FC XY in FIG.

補正ステップS40では、その後、補正処理部54が、この求めた第1近似関数FΔX(Y)に基づいて、差異DのベクトルのX座標の成分を打ち消す方向に、電子部品Cの実装位置2Pを補正する。補正ステップS40では、補正処理部54は、具体的には、実装処理部51が電子部品Cを実装する実装設定位置CPの座標(X1,Y1)に対して、第1近似関数FΔX(Y)のY=Y1における値FΔX(Y1)をX1から差し引くことで、座標(X1-FΔX(Y1),Y1)に補正する。 In the correction step S40, the correction processing unit 54 then adjusts the mounting position 2P of the electronic component C in the direction of canceling out the X-coordinate component of the vector of the difference D based on the obtained first approximation function F ΔX (Y). correct. Specifically, in the correction step S40, the correction processing unit 54 applies a first approximation function F ΔX (Y ) at Y=Y1 is subtracted from X1 to correct the coordinates (X1−F ΔX ( Y1), Y1).

補正ステップS40では、上記した実装設定位置CPのY座標に対する差異DのベクトルのX座標のデータの処理と並行して、実装設定位置CPのX座標に対する差異DのベクトルのY座標のデータの処理も実行する。すなわち、補正ステップS40では、まず、補正処理部54が、図8に示すように、実装されたそれぞれの電子部品Cについて、実装設定位置CPのX座標に対する差異DのベクトルのY座標のデータを取り纏める。補正ステップS40では、例えば、補正処理部54が、実装設定位置CPのX座標が等しいものについて取り纏めて扱い、複数の差異DのベクトルのY座標のデータに対して相加平均などの統計処理を施して、データ点DPYXとエラーバーEBYXとを算出する。 In the correction step S40, in parallel with the processing of the X-coordinate data of the vector of the difference D with respect to the Y-coordinate of the mounting setting position CP, the Y-coordinate data of the vector of the difference D with respect to the X-coordinate of the mounting setting position CP is processed. Also run That is, in the correction step S40, first, as shown in FIG. gather up. In the correction step S40, for example, the correction processing unit 54 collectively handles the mounting setting positions CP having the same X coordinate, and performs statistical processing such as arithmetic averaging on the Y coordinate data of the vectors of the plurality of differences D. to calculate data points DP YX and error bars EB YX .

補正ステップS40では、次に、補正処理部54が、図8に示すように、データ点DPYXとエラーバーEBYXとに対して、多項式関数でフィッティング処理を施して、データ点DPYXとエラーバーEBYXとに基づく第2近似関数FΔY(X)を求める。この第2近似関数FΔY(X)は、図8において、第2近似関数曲線FCYXで示される。 In the correction step S40, as shown in FIG. 8, the correction processing unit 54 performs fitting processing on the data point DP YX and the error bar EB YX using a polynomial function to obtain the data point DP YX and the error bar EB YX. A second approximation function F ΔY (X) based on EB YX is obtained. This second approximation function F ΔY (X) is indicated by a second approximation function curve FC YX in FIG.

補正ステップS40では、その後、補正処理部54が、この求めた第2近似関数FΔY(X)に基づいて、差異DのベクトルのY座標の成分を打ち消す方向に、電子部品Cの実装位置2Pを補正する。補正ステップS40では、補正処理部54は、具体的には、実装処理部51が電子部品Cを実装する実装設定位置CPの座標(X1,Y1)に対して、第2近似関数FΔY(X)のX=X1における値FΔY(X1)をY1から差し引くことで、座標(X1,Y1-FΔY(X1))に補正する。 In the correction step S40, the correction processing unit 54 then adjusts the mounting position 2P of the electronic component C in the direction of canceling out the Y-coordinate component of the vector of the difference D based on the obtained second approximation function F ΔY (X). correct. Specifically, in the correction step S40, the correction processing unit 54 applies a second approximation function F ΔY (X ) at X=X1 is subtracted from Y1 to correct the coordinate (X1, Y1-F ΔY (X1)) .

以上の補正ステップS40での処理を合わせると、補正ステップS40では、補正処理部54は、実装処理部51が電子部品Cを実装する実装設定位置CPの座標(X1,Y1)に対して、第1近似関数FΔX(Y)のY=Y1における値FΔX(Y1)をX1から差し引き、第2近似関数FΔY(X)のX=X1における値FΔY(X1)をY1から差し引くことで、座標(X1-FΔX(Y1),Y1-FΔY(X1))に補正する。 Combining the processing in the above correction step S40, in the correction step S40, the correction processing unit 54 performs the coordinate (X1, Y1) of the mounting setting position CP at which the mounting processing unit 51 mounts the electronic component C as the first By subtracting the value F ΔX (Y1) of the first approximation function F ΔX (Y) at Y=Y1 from X1 and subtracting the value F ΔY (X1) of the second approximation function F ΔY (X) at X=X1 from Y1, , coordinates (X1-F ΔX (Y1), Y1-F ΔY (X1)).

<効果>
以上説明したように、本実施形態によれば、補正処理部54が、実装設定位置CPのX座標に対する差異DのY座標の成分と、実装設定位置CPのY座標に対する差異DのX座標の成分と、を打ち消す方向に電子部品Cの実装位置2Pを補正するので、実装中の移動動作の方向とは異なる方向のずれを抑制することができる。
<effect>
As described above, according to the present embodiment, the correction processing unit 54 calculates the component of the Y coordinate of the difference D with respect to the X coordinate of the mounting setting position CP and the X coordinate of the difference D with respect to the Y coordinate of the mounting setting position CP. Since the mounting position 2P of the electronic component C is corrected in the direction of canceling out the components , and , it is possible to suppress deviation in a direction different from the direction of the movement operation during mounting.

発明者は、鋭意検討の結果、実装ヘッド2のキャリブレーション処理と、実装ヘッド2と位置検出用基板6とにおけるアライメント処理と、を実行して、電子部品Cの実装位置2Pの実装設定位置CPに対するずれが数μmオーダーまで抑えられる状態とした場合であっても、250mmに渡って複数の電子部品Cを実装すると、Y軸方向の座標によって、ノズル21の先端だけが機械的歪みで曲がってしまう等の要因により、相対位置ベクトルRが変化してしまうことに伴い、X軸方向に20μm程度の実装位置2Pの実装設定位置CPに対するずれが生じてしまう傾向があることを見出した。本実施形態に係る実装装置1は、この種のずれの傾向に基づいて、この種のずれを抑制することを可能にしたものである。 As a result of diligent studies, the inventor performed a calibration process of the mounting head 2 and an alignment process between the mounting head 2 and the position detection board 6 to set the mounting position CP of the mounting position 2P of the electronic component C. Even if the deviation from the nozzle 21 is suppressed to the order of several μm, when a plurality of electronic components C are mounted over 250 mm, only the tip of the nozzle 21 is bent due to mechanical distortion depending on the coordinates in the Y-axis direction. It has been found that there is a tendency for the mounting position 2P to deviate from the mounting set position CP by about 20 μm in the X-axis direction as the relative position vector R changes due to factors such as shifting. The mounting apparatus 1 according to the present embodiment makes it possible to suppress this type of deviation based on the tendency of this type of deviation.

本実施形態によれば、実装設定位置CPのY座標に対する差異DのベクトルのX座標のデータに対して第1近似関数FΔX(Y)を求め、実装設定位置CPのX座標に対する差異DのベクトルのY座標のデータに対して第2近似関数FΔY(X)を求め、第1近似関数FΔX(Y)及び第2近似関数FΔY(X)に基づいて、差異DのベクトルのXY両成分をそれぞれ打ち消す方向に、電子部品Cの実装位置2Pを補正する。このため、本実施形態によれば、実装ステップS10で電子部品Cを実装しなかった各座標においても、電子部品Cの実装位置2Pを適切に補正して、実装中の移動動作の方向とは異なる方向のずれを抑制することができる。 According to this embodiment, the first approximation function F ΔX (Y) is obtained for the data of the X coordinate of the vector of the difference D with respect to the Y coordinate of the mounting setting position CP, and the difference D with respect to the X coordinate of the mounting setting position CP is obtained. A second approximation function F ΔY (X) is obtained for the Y-coordinate data of the vector, and the XY The mounting position 2P of the electronic component C is corrected in the direction of canceling both components. Therefore, according to the present embodiment, even at each coordinate where the electronic component C is not mounted in the mounting step S10, the mounting position 2P of the electronic component C is appropriately corrected, and the direction of the movement operation during mounting is changed. Misalignment in different directions can be suppressed.

[第2実施形態]
第2実施形態について説明する。以下の説明において、上述の実施形態と同一の構成要素については同一の符号を付し、その説明を簡略又は省略する。
[Second embodiment]
A second embodiment will be described. In the following description, the same reference numerals are given to the same constituent elements as in the above-described embodiment, and the description thereof will be simplified or omitted.

本実施形態においては、補正処理部54が、位置検出用基板6を第1領域6A(図9参照)に載置した際に取得及び算出したデータと、位置検出用基板6を第1領域6Aとは異なる第2領域6B(図9参照)に載置した際に取得及び算出したデータと、を合わせて1つのデータとして処理をする例について説明する。 In the present embodiment, the correction processing unit 54 uses the data acquired and calculated when the position detection substrate 6 is placed in the first area 6A (see FIG. 9) and the position detection substrate 6 in the first area 6A. An example will be described in which the data acquired and calculated when placed in a different second area 6B (see FIG. 9) are combined and processed as one piece of data.

<実装方法>
図9は、第2実施形態に係る実装方法の一例を模式的に示す図である。図9は、位置検出用基板6を載置する2通りの領域である第1領域6A及び第2領域6Bと、各領域に位置検出用基板6を載置した際の電子部品Cの実装例について示している。
<Mounting method>
FIG. 9 is a diagram schematically showing an example of a mounting method according to the second embodiment. FIG. 9 shows a first region 6A and a second region 6B, which are two regions where the position detection substrate 6 is placed, and an example of mounting the electronic component C when the position detection substrate 6 is placed in each region. It shows about

第2実施形態に係る実装方法では、第1領域6Aに位置検出用基板6を載置した場合において、第1実施形態に係る実装方法と同様の実装ステップS10、検出ステップS20及び差異算出ステップS30を実行する。 In the mounting method according to the second embodiment, when the position detection substrate 6 is placed in the first area 6A, the same mounting step S10, detection step S20, and difference calculation step S30 as in the mounting method according to the first embodiment are performed. to run.

また、第2実施形態に係る実装方法では、第2領域6Bに位置検出用基板6を載置した場合において、第1領域6Aに位置検出用基板6を載置した場合において用いたものと同じXY座標系を用いて、第1実施形態に係る実装方法と同様の実装ステップS10、検出ステップS20及び差異算出ステップS30を実行する。 In addition, in the mounting method according to the second embodiment, when the position detection substrate 6 is placed on the second region 6B, the same mounting method is used when the position detection substrate 6 is placed on the first region 6A. Using the XY coordinate system, the same mounting step S10, detection step S20, and difference calculation step S30 as in the mounting method according to the first embodiment are executed.

第2実施形態に係る実装方法における補正ステップS40では、まず、補正処理部54が、第1領域6Aに位置検出用基板6を載置した際に取得した電子部品Cの実装設定位置CPと差異Dとのデータと、第2領域6Bに位置検出用基板6を載置した際に取得した電子部品Cの実装設定位置CPと差異Dとのデータとを、合わせて1つのデータとする。 In the correction step S40 in the mounting method according to the second embodiment, first, the correction processing unit 54 determines the difference from the mounting set position CP of the electronic component C acquired when the position detection board 6 is placed in the first area 6A. D and the data of the difference D and the mounting set position CP of the electronic component C obtained when the position detection board 6 is placed in the second area 6B are combined into one piece of data.

第2実施形態に係る実装方法における補正ステップS40では、その後、合わせて1つのデータとしたものについて、第1実施形態に係る実装方法における補正ステップS40と同様の処理をして、差異DのベクトルのXY座標の各成分を打ち消す方向に、電子部品Cの実装位置2Pを補正する。 In the correction step S40 in the mounting method according to the second embodiment, after that, the same data as in the correction step S40 in the mounting method according to the first embodiment is performed on the combined data, and the vector of the difference D is The mounting position 2P of the electronic component C is corrected in the direction of canceling each component of the XY coordinates of .

<効果>
以上説明したように、本実施形態によれば、補正処理部54が、位置検出用基板6を第1領域6Aに載置した際に取得及び算出したデータと、位置検出用基板6を第1領域6Aとは異なる第2領域6Bに載置した際に取得及び算出したデータと、を合わせて1つのデータとして処理をするので、1枚の位置検出用基板6でカバーできない広範囲の領域についても、統一した1つの基準に基づいて電子部品Cの実装位置2Pを補正することができる。
<effect>
As described above, according to the present embodiment, the correction processing unit 54 obtains and calculates the data obtained and calculated when the position detection substrate 6 is placed on the first area 6A, and the position detection substrate 6 as the first position detection substrate. Since the data obtained and calculated when placed in the second area 6B different from the area 6A is combined and processed as one piece of data, a wide area that cannot be covered by a single substrate 6 for position detection can also be processed. , the mounting position 2P of the electronic component C can be corrected based on one unified reference.

1…実装装置、2…実装ヘッド、2P…実装位置、3…基板カメラ、3P…撮像位置、4…移動機構、5…制御装置、5A…処理装置、5B…記憶装置、5C…入出力インターフェース、6…位置検出用基板、6A…第1領域、6B…第2領域、10…基台、11…基板搬送部、17…支持部、20…フィーダ、21…ノズル、22…回転軸、23…ヘッド基台、24…ヘッド筐体、41…X軸ガイド、42…Y軸ガイド、43…Z軸ガイド、51…実装処理部、52…検出処理部、53…差異算出処理部、54…補正処理部、61…基準マーク、C…電子部品、CP…実装設定位置、D…差異、P…基板、R…相対位置ベクトル、RP…検出位置、DPXY…データ点、DPYX…データ点、EBXY…エラーバー、EBYX…エラーバー、FCXY…第1近似関数曲線、FCYX…第2近似関数曲線。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Mounting apparatus, 2... Mounting head, 2P... Mounting position, 3... Board camera, 3P... Imaging position, 4... Moving mechanism, 5... Control device, 5A... Processing device, 5B... Storage device, 5C... Input/output interface , 6... substrate for position detection, 6A... first area, 6B... second area, 10... base, 11... substrate conveying part, 17... support part, 20... feeder, 21... nozzle, 22... rotating shaft, 23 Head base 24 Head housing 41 X-axis guide 42 Y-axis guide 43 Z-axis guide 51 Mounting processing unit 52 Detection processing unit 53 Difference calculation processing unit 54 Correction processing unit 61: Reference mark C: Electronic component CP: Mounting setting position D: Difference P: Board R: Relative position vector RP: Detection position DP XY : Data point DP YX : Data point , EB XY ... error bar, EB YX ... error bar, FC XY ... first approximate function curve, FC YX ... second approximate function curve.

Claims (4)

電子部品を解放可能に保持するノズルを有し、前記ノズルに保持されている前記電子部品を基板に実装する実装ヘッドと、
前記実装ヘッドに支持された基板カメラと、
前記実装ヘッドを移動する移動機構と、
制御装置と、を備え、
前記制御装置は、
前記基板の表面と平行な所定面に規定された前記基板カメラの位置を基準として、前記実装ヘッドにより位置検出用基板に前記電子部品を実装させる実装処理部と、
前記基板カメラにより前記位置検出用基板に実装した前記電子部品を検出させる検出処理部と、
前記所定面の第1軸方向及び前記第1軸方向と直交する前記所定面の第2軸方向のそれぞれにおいて前記電子部品の実装設定位置と検出位置との差異を算出する差異算出処理部と、
前記実装設定位置の前記第1軸方向の座標に対する前記差異の前記第2軸方向の座標の成分と、前記実装設定位置の前記第2軸方向の座標に対する前記差異の前記第1軸方向の座標の成分と、を打ち消す方向に前記電子部品の実装位置を補正する補正処理部と、を有
前記補正処理部は、前記実装設定位置の前記第1軸方向の座標に対する前記差異の前記第2軸方向の座標の成分と、前記実装設定位置の前記第2軸方向の座標に対する前記差異の前記第1軸方向の座標の成分と、のそれぞれの近似関数を求め、前記近似関数に基づいて前記実装位置を補正する、
実装装置。
a mounting head having a nozzle for releasably holding an electronic component, and for mounting the electronic component held by the nozzle onto a substrate;
a substrate camera supported by the mounting head;
a moving mechanism for moving the mounting head;
a controller;
The control device is
a mounting processing unit that mounts the electronic component on the position detection board by the mounting head with reference to the position of the board camera defined on a predetermined plane parallel to the surface of the board;
a detection processing unit that detects the electronic component mounted on the position detection board by the board camera;
a difference calculation processing unit that calculates a difference between a mounting set position and a detection position of the electronic component in each of a first axial direction of the predetermined surface and a second axial direction of the predetermined surface orthogonal to the first axial direction;
a component of the second axis direction coordinate of the difference with respect to the first axis direction coordinate of the mounting setting position; and a first axis direction coordinate of the difference with respect to the second axis direction coordinate of the mounting setting position. and a correction processing unit that corrects the mounting position of the electronic component in a direction to cancel the component of
The correction processing unit is configured to calculate the component of the second axis direction coordinate of the difference with respect to the first axis direction coordinate of the mounting setting position and the component of the difference with respect to the second axis direction coordinate of the mounting setting position. obtaining an approximation function for each of the coordinate component in the first axis direction and correcting the mounting position based on the approximation function;
mounting equipment.
電子部品を解放可能に保持するノズルを有し、前記ノズルに保持されている前記電子部品を基板に実装する実装ヘッドと、
前記実装ヘッドに支持された基板カメラと、
前記実装ヘッドを移動する移動機構と、
制御装置と、を備え、
前記制御装置は、
前記基板の表面と平行な所定面に規定された前記基板カメラの位置を基準として、前記実装ヘッドにより位置検出用基板に前記電子部品を実装させる実装処理部と、
前記基板カメラにより前記位置検出用基板に実装した前記電子部品を検出させる検出処理部と、
前記所定面の第1軸方向及び前記第1軸方向と直交する前記所定面の第2軸方向のそれぞれにおいて前記電子部品の実装設定位置と検出位置との差異を算出する差異算出処理部と、
前記実装設定位置の前記第1軸方向の座標に対する前記差異の前記第2軸方向の座標の成分と、前記実装設定位置の前記第2軸方向の座標に対する前記差異の前記第1軸方向の座標の成分と、を打ち消す方向に前記電子部品の実装位置を補正する補正処理部と、を有
前記補正処理部は、前記位置検出用基板を第1領域に載置した際に取得及び算出したデータと、前記位置検出用基板を前記第1領域とは異なる第2領域に載置した際に取得及び算出したデータと、を合わせて1つのデータとして処理をする、
実装装置。
a mounting head having a nozzle for releasably holding an electronic component, and for mounting the electronic component held by the nozzle onto a substrate;
a substrate camera supported by the mounting head;
a moving mechanism for moving the mounting head;
a controller;
The control device is
a mounting processing unit that mounts the electronic component on the position detection board by the mounting head with reference to the position of the board camera defined on a predetermined plane parallel to the surface of the board;
a detection processing unit that detects the electronic component mounted on the position detection board by the board camera;
a difference calculation processing unit that calculates a difference between a mounting set position and a detection position of the electronic component in each of a first axial direction of the predetermined surface and a second axial direction of the predetermined surface orthogonal to the first axial direction;
a component of the second axis direction coordinate of the difference with respect to the first axis direction coordinate of the mounting setting position; and a first axis direction coordinate of the difference with respect to the second axis direction coordinate of the mounting setting position. and a correction processing unit that corrects the mounting position of the electronic component in a direction to cancel the component of
The correction processing unit obtains and calculates data obtained when the position detection substrate is placed on the first region and data obtained when the position detection substrate is placed on the second region different from the first region. Process the obtained and calculated data together as one data,
mounting equipment.
基板の表面と平行な所定面に規定された基板カメラの位置を基準として、実装ヘッドにより位置検出用基板に電子部品を実装させる実装ステップと、
前記基板カメラにより前記位置検出用基板に実装した前記電子部品を検出させる検出ステップと、
前記所定面の第1軸方向及び前記第1軸方向と直交する前記所定面の第2軸方向のそれぞれにおいて前記電子部品の実装設定位置と検出位置との差異を算出する差異算出ステップと、
前記実装設定位置の前記第1軸方向の座標に対する前記差異の前記第2軸方向の座標の成分と、前記実装設定位置の前記第2軸方向の座標に対する前記差異の前記第1軸方向の座標の成分と、を打ち消す方向に前記電子部品の実装位置を補正する補正ステップと、を有
前記補正ステップにおいて、前記実装設定位置の前記第1軸方向の座標に対する前記差異の前記第2軸方向の座標の成分と、前記実装設定位置の前記第2軸方向の座標に対する前記差異の前記第1軸方向の座標の成分と、のそれぞれの近似関数を求め、前記近似関数に基づいて前記実装位置を補正する、
実装方法。
a mounting step of mounting an electronic component on a position detection board by means of a mounting head with reference to the position of the board camera defined on a predetermined plane parallel to the surface of the board;
a detection step of detecting the electronic component mounted on the position detection board by the board camera;
a difference calculating step of calculating a difference between a mounting set position and a detected position of the electronic component in each of a first axial direction of the predetermined surface and a second axial direction of the predetermined surface orthogonal to the first axial direction;
a component of the second axis direction coordinate of the difference with respect to the first axis direction coordinate of the mounting setting position; and a first axis direction coordinate of the difference with respect to the second axis direction coordinate of the mounting setting position. and a correction step of correcting the mounting position of the electronic component in a direction to cancel the component of
In the correcting step, the components of the second axis direction coordinates of the difference with respect to the first axis direction coordinates of the mounting setting position and the second component of the difference with respect to the second axis direction coordinates of the mounting setting position Obtaining an approximation function for each of a coordinate component in one axis direction and correcting the mounting position based on the approximation function;
How to implement.
基板の表面と平行な所定面に規定された基板カメラの位置を基準として、実装ヘッドにより位置検出用基板に電子部品を実装させる実装ステップと、
前記基板カメラにより前記位置検出用基板に実装した前記電子部品を検出させる検出ステップと、
前記所定面の第1軸方向及び前記第1軸方向と直交する前記所定面の第2軸方向のそれぞれにおいて前記電子部品の実装設定位置と検出位置との差異を算出する差異算出ステップと、
前記実装設定位置の前記第1軸方向の座標に対する前記差異の前記第2軸方向の座標の成分と、前記実装設定位置の前記第2軸方向の座標に対する前記差異の前記第1軸方向の座標の成分と、を打ち消す方向に前記電子部品の実装位置を補正する補正ステップと、を有
前記補正ステップにおいて、前記位置検出用基板を第1領域に載置した際に取得及び算出したデータと、前記位置検出用基板を前記第1領域とは異なる第2領域に載置した際に取得及び算出したデータと、を合わせて1つのデータとして処理をする、
実装方法。
a mounting step of mounting an electronic component on a position detection board by means of a mounting head with reference to the position of the board camera defined on a predetermined plane parallel to the surface of the board;
a detection step of detecting the electronic component mounted on the position detection board by the board camera;
a difference calculating step of calculating a difference between a mounting set position and a detected position of the electronic component in each of a first axial direction of the predetermined surface and a second axial direction of the predetermined surface orthogonal to the first axial direction;
a component of the second axis direction coordinate of the difference with respect to the first axis direction coordinate of the mounting setting position; and a first axis direction coordinate of the difference with respect to the second axis direction coordinate of the mounting setting position. and a correction step of correcting the mounting position of the electronic component in a direction to cancel the component of
In the correcting step, data acquired and calculated when the position detection substrate is placed on the first region and data acquired when the position detection substrate is placed on the second region different from the first region and the calculated data are combined and processed as one data,
How to implement.
JP2018222540A 2018-11-28 2018-11-28 Mounting device and mounting method Active JP7253905B2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018222540A JP7253905B2 (en) 2018-11-28 2018-11-28 Mounting device and mounting method
CN201910543742.1A CN111246721B (en) 2018-11-28 2019-06-21 Installation device and installation method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018222540A JP7253905B2 (en) 2018-11-28 2018-11-28 Mounting device and mounting method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2020088244A JP2020088244A (en) 2020-06-04
JP7253905B2 true JP7253905B2 (en) 2023-04-07

Family

ID=70863943

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018222540A Active JP7253905B2 (en) 2018-11-28 2018-11-28 Mounting device and mounting method

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP7253905B2 (en)
CN (1) CN111246721B (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7523060B2 (en) 2020-08-04 2024-07-26 パナソニックIpマネジメント株式会社 Component mounting device and component mounting method

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003051700A (en) 2001-08-06 2003-02-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method for measuring offset and measuring jig therefor
JP2006108457A (en) 2004-10-07 2006-04-20 Juki Corp Method and apparatus for detecting mounting error of electronic component mounting apparatus
JP2011191307A (en) 2011-03-25 2011-09-29 Sony Corp Correction tool

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3765888B2 (en) * 1996-10-09 2006-04-12 Juki株式会社 Part position detection method
JP3271244B2 (en) * 1998-04-23 2002-04-02 ソニー株式会社 Electronic component mounting method and electronic component mounting machine
JP2007019201A (en) * 2005-07-07 2007-01-25 Yamagata Casio Co Ltd Device and method for loading electronic component
JP2011129710A (en) * 2009-12-17 2011-06-30 Shibaura Mechatronics Corp Apparatus and method for measurement of mounting accuracy of mounting device
JP5304739B2 (en) * 2010-07-09 2013-10-02 パナソニック株式会社 Component mounting method
JP5918622B2 (en) * 2012-05-11 2016-05-18 ヤマハ発動機株式会社 Component or board working device and component mounting device
WO2014174598A1 (en) * 2013-04-24 2014-10-30 株式会社日立製作所 Component mounting device, mounting head, and control device

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003051700A (en) 2001-08-06 2003-02-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd Method for measuring offset and measuring jig therefor
JP2006108457A (en) 2004-10-07 2006-04-20 Juki Corp Method and apparatus for detecting mounting error of electronic component mounting apparatus
JP2011191307A (en) 2011-03-25 2011-09-29 Sony Corp Correction tool

Also Published As

Publication number Publication date
JP2020088244A (en) 2020-06-04
CN111246721A (en) 2020-06-05
CN111246721B (en) 2023-03-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7129619B2 (en) COMPONENT MOUNTING SYSTEM, COMPONENT MOUNTING METHOD, AND CORRECTION VALUE CALCULATION DEVICE
WO2016194136A1 (en) Component mounting device and suction position setting method
JP6889778B2 (en) Component mounting device
JP7253905B2 (en) Mounting device and mounting method
JP6767613B2 (en) Component mounting device and component mounting method
JPWO2019064428A1 (en) Component mounting device, shooting method, and mounting order determination method
JP6547137B2 (en) Component mounting system, component mounting method, and correction value calculation device
JP6840230B2 (en) Information processing equipment, 3D mounting related equipment, mounting system and information processing method
JP6547136B2 (en) Component mounting system, component mounting method, and correction value calculation device
JP2017045913A (en) Component mounting device and component mounting method
JP7061690B2 (en) Component mounting device
JP7319264B2 (en) Control method, electronic component mounting device
JP6660524B2 (en) Component mounting device and component mounting method
JP6706769B2 (en) Component mounting system, component mounting method, and correction value calculation device
JP6706768B2 (en) Component mounting system, component mounting method, and correction value calculation device
JP6517048B2 (en) Component mounting machine
JP4401193B2 (en) Electronic component mounting equipment
JP5482683B2 (en) Adsorption position teaching method for component mounting equipment
JP5909649B2 (en) Component mounting method and component mounting system
JP4860366B2 (en) Surface mount equipment
JP7523060B2 (en) Component mounting device and component mounting method
JP7478993B2 (en) Component mounting device and component mounting system
JP7581564B2 (en) Component Mounting Equipment
JP6994630B2 (en) Component mounting system, component mounting method, and correction value calculation device
JP6603318B2 (en) Component mounting equipment

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20211014

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20220922

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220927

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20221125

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20230307

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20230328

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7253905

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150