JP7218539B2 - 表面被覆層形成用塗工液及び多孔質ケイ素積層体 - Google Patents
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さらには、多孔質膜を部材の最表面に設けて使用する場合、使用環境において、多孔質膜の表面に、指紋、化粧品、薬液、汗などが付着して空孔に浸み込むことで、空孔が消失する問題もある。しかも浸み込んだものは容易に拭き取ることができず、汚染物質として空孔内に残留することとなる。
また、特許文献1では、無機層状化合物の吸着層の形成で多孔質膜の表面が平滑化されたことの評価しか行われておらず、吸着層形成後の多孔質膜内の空孔の維持状態についての評価や吸着層の密着性の評価はなされていない。
本発明は以下の通りである。
本発明によれば、多孔質ケイ素体本来の光学特性を損なうことなく、耐薬品性、耐擦傷性、耐浸み込み性、耐汚染性等に優れた表面被覆層を密着性よく形成することができ、形成された表面被覆層上にウェットコーティング法等により容易に機能性膜を形成したり、光学接着剤又は粘着剤を介してガラス基板や他の機能性膜を積層一体化したりすることができる。
まず、本発明の表面被覆層形成用塗工液により表面被覆層を形成する多孔質体として好適な多孔質ケイ素体について説明する。
なお、本発明を適用する多孔質体は多孔質ケイ素体に限らず、多孔質金属、多孔質無機有機ハイブリット体等であってもよい。ただし、低屈折率、透明性、電気絶縁性などの優れた特性を有し、その適用範囲が広く実用性に優れることから、多孔質体としては多孔質ケイ素体が好ましい。
多孔質ケイ素体の形状は特に制限されず、バルク基材にも利用できるが、膜状であることが好ましい。特に光学用途に用いる場合、一般的には透明基板の上に形成された膜(以下、「多孔質ケイ素層」ということがある。)として使用される。また、多孔質ケイ素層の表面は平滑であることが好ましく、凹凸段差が5nm以下であることが好ましく、3nm以下であることがより好ましく、2nm以下であることが最も好ましい。凹凸段差が大きい場合、表面被覆層による浸み込み防止効果が十分に発揮されない恐れがある。
多孔質ケイ素体の屈折率は通常1.15以上1.40以下であり、用途に応じて適宜選択して用いられる。ガラスやプラスチックの基板の反射防止膜に用いる場合、屈折率は1.20以上1.35以下が好ましい。多孔質ケイ素層を単層で反射防止膜を形成する場合、基板の屈折率に応じて多孔質ケイ素層の屈折率を選択することで、最小反射率を限りなく0%に近づけることができる。全反射膜に用いる場合、屈折率は1.25以下が好ましく、1.20以下がより好ましく、1.18以下が特に好ましい。屈折率は低いほど、透明基板と多孔質ケイ素層の界面で全反射させる光の割合を増加させることができ好ましいが、一方で多孔質ケイ素層の空隙率が増加するため、多孔質ケイ素層の機械的強度が低下する可能性がある。
多孔質ケイ素体の構造は特に制限はなく、その空孔は、通常、トンネル状や独立空孔がつながった連結孔であるが、詳細な空孔の構造にも特に制限はない。また、空孔サイズや空隙率を調整することで、屈折率、誘電率、密度を調整することができ、それらを調整することで、光学用途の他にも、様々な用途にも応用することができる。空孔サイズや空隙率は、後述の多孔質ケイ素層形成用の塗工液の組成および塗工方法により調整することができる。
また、多孔質ケイ素体の空隙率はローレンツ・ローレンツの式による空隙率及び屈折率の関係式により求めることができる。
以下に、本発明に好適な多孔質ケイ素層の製造方法の一例を説明するが、本発明に用いる多孔質ケイ素層の製造方法は、以下の方法に限定されるものではない。
多孔質形成用塗工液は、例えば、アルコキシシラン、水、有機溶媒を原料に触媒を添加して加水分解、縮合反応により得られるシロキサンオリゴマーに、シリカ微粒子を添加して製造される。
シリカ微粒子としては、特に制限されず、凝集シリカ微粒子又は非凝集シリカ微粒子のいずれでもよいが、例えば、平均粒子径5~100nmの非凝集シリカ微粒子、平均粒子径10~100nmの中空状非凝集シリカ微粒子、平均一次粒径5~100nmの鎖状凝集シリカ微粒子の少なくとも一種からなるシリカ微粒子などが挙げられる。これらは、形成される多孔質ケイ素層の目的に応じて適宜選択される。
多孔質形成用塗工液を塗工する基板にはガラス、プラスチックスなどの透明基板が用いられる。透明基板はある特定波長において透光性が高く、紫外光、可視光、赤外光を利用する用途に応じて適宜選択される。該特定波長は、可視光の範囲に限定されないが、レンズや、ディスプレイ、太陽電池、太陽熱発電などの光デバイス、建材や自動車の内外装の用途においては、可視光領域の波長の光に対して高い透過性を有することが好ましい。通常は、全光線透過率が60%以上であるものが使用される。
基板への多孔質形成用塗工液の塗工方法は、特に制限されず、ディップコート法、スピンコート法、ダイコート法、スプレーコート法、グラビアコート法、ロールコート法、カーテンコート法、スクリーン印刷法、インクジェット印刷法を挙げることができる。
ウェット膜の乾燥は溶媒を除去するために行われ、乾燥温度は通常50~80℃であり、熱風乾燥機などが好適に使用される。乾燥時間は通常1~10分、好ましくは1~5分である。
次に、本発明の表面被覆層形成用塗工液を用いて、上記の多孔質ケイ素体等の多孔質体に表面被覆層を形成する方法について説明する。
無機ナノシートは多孔質体の表面に数層から数十層重なり多孔質体表面を覆うことで、多孔質体の空孔への各種材料の浸み込みを防止する役割があり、シリケートオリゴマーは、無機ナノシート同士の密着および無機ナノシートと多孔質体表面との密着を強化する役割がある。
シリケートオリゴマーは、例えば、加水分解性シラン化合物、水、及び有機溶媒を含む組成物を用いて製造される。
一般式(I)中、Rはアルキル基であり、nは多量体の多量化度を表す。通常入手できる多量体はnが異なる多量体の組成物であり、従って、分子量分布を有する。なお、多量化度は平均したnで表される。
シリカ分(質量部)=多量化度×SiO2の分子量/該化合物の分子量 …(II)
加水分解性シラン組成物中の多量体の割合が少な過ぎる場合は、本発明の目的を達成することは困難である。その理由は次のように推定される。
すなわち、単量体の受ける後述の加水分解および縮合反応により、OH基が減少することや、反応組成物中に分枝状、環状、網目状構造が増加することで、無機層状化合物への吸着性が低下し、表面被覆層の密着性向上効果が損なわれる傾向があるからである。
加水分解性シラン組成物中の多量体の割合は、90質量%以下であることが好ましい。この上限値以下では、ゲル化しにくく保存安定性が高い傾向がある。
加水分解性シラン組成物中の単量体である2官能の加水分解性シラン化合物の割合は、10質量%以上、30質量%以下が好ましい。
この反応は、上記の加水分解性シラン組成物を溶解した親水性溶媒溶液中に撹拌条件下で酸触媒水溶液を連続的に滴下して行う。
すなわち、触媒を使用しない場合、中性付近での反応となり加水分解反応は非常に遅いが縮合反応は速やかに進行する条件であるため、加水分解反応が十分に進行していない状態から並行して縮合反応が起こり生成物の分子量分布が広くなるからである。また、加水分解が不十分で、生成物には多くの未反応アルコキシ基が残るため、シリケートオリゴマー溶液の保存安定性が悪く、ゲル化に至ることがある。
加水分解反応は、撹拌条件下に加水分解性シラン組成物の親水性溶媒溶液に酸触媒水溶液を滴下することによって行う。反応温度は、通常5~50℃、好ましく10~40℃である。反応温度が上記下限未満では加水分解反応が遅くなり過ぎ、上記上限超過では縮合反応の回避が困難となる。反応温度の制御は、反応器のジャケットに導通される冷媒の温度・循環量や酸触媒水溶液の滴下速度などによって行われる。親水性溶媒の沸点が低い場合は還流条件下に加水分解反応を行う。反応時間は、通常1~60分、好ましくは5~30分である。
前記工程に引き続き、必要に応じて反応温度を高め、撹拌条件下に縮合反応を行う。反応温度は、通常40~80℃、好ましく50~60℃である。反応温度が上記下限未満では縮合反応が遅くなり過ぎ、上記上限超過では過剰な縮合反応の回避が困難となる。昇温速度は、通常0.1~10℃/分とされる。反応時間は、通常1~120分、好ましくは5~60分である。
反応液を冷却して縮合反応を停止する。冷却温度は通常10~30℃である。この際、縮合反応組成物の濃度低減のために溶媒を添加する冷却希釈により縮合反応を停止するのが効果的である。なお、溶媒は反応溶媒と同一のものが好適であるが、液性調整のため別の溶媒を使用しても良い。
溶媒:テトラヒドロフラン
装置名:TOSOH HLC-8220GPC
カラム:TOSOH TSKgel Super HM-N(2本)とHZ1000(1本)を接続して使用
カラム温度:40℃
試料濃度:0.01質量%
流速:0.6ml/min
較正曲線:PEG(分子量20000、4000、1000、200の4点3次式近似による較正曲線を使用
本発明で用いる無機層状化合物は、多孔質体への浸み込み防止性の観点からスメクタイト族粘土鉱物であることが好ましく、スメクタイト族粘土鉱物は分散媒体中に分散させて用いることができる。
次に、本発明の実施形態に係る表面被覆層形成用塗工液の製造方法について説明する。
表面被覆層形成用塗工液は、無機層状化合物、好ましくは上記の無機ナノシートを含む分散液と、前述のシリケートオリゴマー溶液とを混合することで得られる。
このような観点から無機層状化合物とシリケートオリゴマーとの混合比は、無機層状化合物:シリケートオリゴマー=1:0.1~10(質量比)であることが好ましく、特に1:0.2~1(質量比)であることが好ましい。
シリケートオリゴマーは、分子サイズが小さく、そのまま使用すると多孔質体の空孔に浸み込み、空孔を塞ぐ問題が起こるため、無機層状化合物にシリケートオリゴマーを吸着させて使用することが必須である。
前述の製造法により得られるシリケートオリゴマーは、OH基を多量に備えた直鎖構造に富む反応組成物で、親水性溶媒中に安定化されているが、濃縮などによる溶媒除去、酸性やアルカリ性の溶液に混合すると、OH基が縮合反応により減少する。一方で、無機層状化合物の分散液はアルカリ性であるので、シリケートオリゴマー溶液と無機層状化合物の分散液を混合することで速やかにOH基は縮合し、一部は無機層状化合物の表面に吸着し、一部はシリケートオリゴマー同士で縮合するものと推定される。ここで、吸着状態はシリケートオリゴマー溶液およびシリケートオリゴマー溶液に無機層状化合物を加えた分散液の1H-NMRを測定し比較することで観察することができる。つまり、シリケートオリゴマー溶液の1H-NMR測定によりOH基と推定される化学シフト値(δ値)が6~8ppmに観察され、この溶液に無機層状化合物を加えた分散液では6~8ppmのピークが消失することから、シリケートオリゴマーと無機層状化合物が吸着したものと推定している。
従って、上記の製造法により、無機層状化合物にシリケートオリゴマーを吸着させることができ、さらに溶媒中に透明かつ安定な状態で保管が可能になる。表面被覆層形成用塗工液をこの状態で多孔質体表面に塗工することにより、多孔質体の空孔を維持したまま表面に無機層状化合物の表面被覆層を密着性よく形成することができる。
尚、本発明における「吸着」とは、化学吸着又は物理吸着のいずれでもよく、水素結合、イオン性結合、共有結合、van der Walls力などの相互作用による結合が挙げられる。中でも、水素結合、イオン結合、共有結合による相互作用が好ましい。上記実施形態では、一部イオン性の相互作用、一部縮合反応で吸着していると思われる。
多孔質体の表面に表面被覆層形成用塗工液を塗工して、加熱、乾燥して溶媒を除去することにより、多孔質体上に本発明の表面被覆層を形成することができる。
上記の通り、例えば、基板上に前述の多孔質ケイ素層の製造方法で形成した多孔質ケイ素層上に本発明の表面被覆層を形成することで、図1に示すように、基板1/多孔質ケイ素層2/表面被覆層3の多孔質ケイ素積層体を得ることができる。
即ち、表面被覆層を形成することで、多孔質体の空孔が埋められてしまうと、屈折率が増加する結果、表面被覆層形成前の多孔質体に比べて最小反射率が大きくなる。
本発明の表面被覆層形成用塗工液により、多孔質ケイ素体の表面に表面被覆層を形成した場合、表面被覆層形成前の多孔質ケイ素体に比べて最小反射率の増加の程度は小さく、その増加の割合は好ましくは1.0%未満、より好ましくは0.8%以下である。
本発明の多孔質ケイ素積層体の最小反射率は好ましくは1.5%未満、より好ましくは1.0%以下である。
なお、多孔質ケイ素層の最小反射率は、多孔質ケイ素層の屈折率(空隙率)および塗工する基板によっても異なり、屈折率1.52のガラス基板の表面に屈折率1.25の多孔質ケイ素層を形成したものでは最小反射率は0.05%、屈折率1.32の多孔質ケイ素層を形成したものでは最小反射率は0.5%程度である。
[多孔質ケイ素積層体の作製]
<シリケートオリゴマーの製造>
(1)加水分解反応工程:
500mLのジャケット付き反応器に、信越シリコーン社製の商品「KBM22」(ジメチルジメトキシシラン含量99質量%)5質量部、三菱ケミカル社製商品「シリケートMS51」(平均多量化度n:7、メチルシリケートオリゴマー含量99.8質量%)20質量部、エタノール50質量部を仕込み、反応上限温度を40℃に設定し、攪拌条件下、0.007質量%の塩酸水溶液33質量部を10分かけて滴下した。この時、発熱反応により5~10℃反応温度が上昇した。反応温度が5~10℃低下するまで撹拌を続行した。なお、2官能の加水分解性シラン化合物中の多量体の割合(「KBM22」と「シリケートMS51」の合計量に対する「シリケートMS51」の割合)は80質量%である。
塩酸水溶液滴下後、撹拌条件下、30分かけて60℃に昇温し、60℃で30分間保持した。その後、室温まで冷却した。
冷却後、エタノール110質量部を混合し、30分攪拌することにより、シリケートオリゴマー溶液(A)218質量部を得た。このシリケートオリゴマー溶液(A)のシリケートオリゴマー濃度は7質量%である。
純水99質量部の撹拌状態に、クニミネ工業社製の商品「スメクトンSWN」(合成スメクタイト)1質量部を数回に分けて仕込み、30分撹拌混合し、濃度1質量%の無機層状化合物分散液(B)100質量部を得た。
上記で得られたシリケートオリゴマー溶液(A)218質量部に、上記で得られた無機層状化合物分散液(B)を3612質量部、エタノールを1335質量部加え、撹拌混合することで、表面被覆層形成用塗工液を5165質量部得た。この表面被覆層形成用塗工液に含まれる無機層状化合物とシリケートオリゴマーの割合は無機層状化合物:シリケートオリゴマー=1:0.43(質量比)であり、固形分濃度は1質量%である。
厚み1mmのスライドガラス板(松浪硝子社製「S9111」)に形成した屈折率1.32の多孔質ケイ素層(空隙率29%、厚み132nm)の表面に、上記で得られた表面被覆層形成用塗工液を滴下し、スピンコーター(ミカサ社製「MS-A150」)により1500rpmで30秒コートし、その後、溶媒を除去するために、定温恒温送風機(ヤマト科学社製)に入れ、120℃で1分乾燥することで、表面被覆層が積層された多孔質ケイ素積層体(C)を得た。
なお、上記の屈折率1.32の多孔質ケイ素層の空孔サイズを電子顕微鏡による観察像の解析により測定したところ、50nm以下であることが確認された。
<多孔質ケイ素層と表面被覆層との密着性評価>
上記で得た多孔質ケイ素積層体(C)の表面にニチバン(株)製の工業用24mmセロテープを貼付け、垂直方向に引き離して、多孔質ケイ素層と表面被覆層との密着性を下記基準で評価した。
(密着性の評価基準)
○:層間において剥離しないもの
×:層間において剥離するもの
上記で得た多孔質ケイ素積層体(C)において、表面被覆層の形成前後の積層体に、表面被覆層側から光を入射させたときの反射率を測定することで、表面被覆層形成用塗工液の塗工による多孔質ケイ素層の空孔への浸み込み状態を評価した。評価する積層体サンプルは、ガラス基板の裏面からの反射を抑えるため、裏面にデンカ社製のビニテープ(黒)を貼りつけたものを準備し、フィルメトリクス社製干渉式膜厚測定装置F20により反射スペクトルの測定し、最小反射率を求めた。
なお、ガラス基板上に屈折率1.32の多孔質ケイ素層を形成した積層体の最小反射率は0.5%であった。多孔質ケイ素層の空孔に浸み込みが起きた場合、多孔質ケイ素層の屈折率は高くなるため、その結果、最小反射率は高くなる。
実施例1において、シリケートオリゴマーを使用しなかったこと以外は、実施例1と同様に多孔質ケイ素積層体を作製して評価を行なった。結果を表1に示す。
実施例1において、無機層状化合物を使用しなかったこと以外は、実施例1と同様にして多孔質ケイ素積層体を作製して評価を行なった。結果を表1に示す。
実施例1は、シリケートオリゴマーが吸着した無機層状化合物の表面被覆層と多孔質ケイ素層表面との密着性に優れ、多孔質ケイ素積層体の反射率も1.5%未満であった。
一方、比較例1は、無機層状化合物のみが積層されたことで、表面被覆層と多孔質ケイ素層との密着性がないことが分かる。このことから、多孔質体との密着性には、シリケートオリゴマー成分が必須であることが言える。
また、比較例2は、密着性は良好であるが、最小反射率が1.5%以上となり、シリケートオリゴマーの多孔質ケイ素層の空孔への浸み込みがあり、本来の多孔質ケイ素層の性能が低下したことが言える。
[多孔質ケイ素体/ガラス基板積層体の作製]
52×76mmにカットした市販の離型層付のポリエチレンテレフタレートフィルム(以下、離型PETフィルム)の離型層面に形成された屈折率1.32の多孔質ケイ素層の表面に、実施例1で得られた表面被覆層形成用塗工液を滴下し、スピンコーター(ミカサ社製の「MS-A150」)にて1500rpmで30秒コートし、その後、溶媒を除去するために、定温恒温送風機(ヤマト科学社製)に入れ、120℃で1分乾燥することで、表面被覆層が積層された多孔質ケイ素積層体を得た。
次に、離型PETフィルムを剥がすことで、ガラス基板側から、ガラス基板/光学粘着シート/表面被覆層/多孔質ケイ素層の積層構造の積層体(D)を得た。
<多孔質ケイ素層と表面被覆層との密着性の評価>
上記積層体(D)の製造において、離型PETフィルムを剥がした後、離型PETフィルム側に多孔質ケイ素体が残っていないものを密着性良好「○」(多孔質ケイ素層が光学粘着剤側に転写できた)と評価し、離型PETフィルム側に多孔質ケイ素体が残っているものを密着性不良「×」(表面被覆層が光学粘着剤側に転写し、多孔質ケイ素層は離型PETフィルムに残った)と評価した。
上記で得た積層体(D)に、ガラス基板側から光を入射させたときの反射率を測定することで、光学粘着剤の多孔質ケイ素層の空孔への浸み込み状態を評価した。評価する積層体(D)は、積層体(D)の裏面(多孔質ケイ素層側)からの反射を抑えるため、裏面にデンカ社製のビニテープ(黒)を貼りつけたものを準備し、フィルメトリクス社製干渉式膜厚測定装置F20により反射スペクトルの測定し、最小反射率を求めた。
なお、ガラス基板上に屈折率1.32の多孔質ケイ素層を形成した積層体の最小反射率は0.5%であった。多孔質ケイ素層の空孔に光学粘着剤の浸み込みが起きた場合、多孔質ケイ素層の屈折率は高くなるため、その結果、最小反射率は高くなる。
また、上記浸み込み性の評価を行ったサンプルを、70℃にて30分保存後に、再度同様に最小反射率を測定した。
実施例2において、表面被覆層形成用塗工液を使用しなかったこと以外は、実施例2と同様にして多孔質ケイ素体/ガラス基板積層体を作製して同様に評価を行った。結果を表2に示す。
実施例2において、シリケートオリゴマーを使用しなかったこと以外は、実施例2と同様にして多孔質ケイ素体/ガラス基板積層体を作製して評価を行った。なお、本比較例の積層体は密着性が悪かったで、浸み込み性の評価は行わなかった。結果を表2に示す。
実施例2は、シリケートオリゴマー及び無機層状化合物を用いた表面被覆層と多孔質ケイ素層表面との密着性が良好であるとともに、積層体の反射率が1.0%以下で、70℃、30分保持においても、その変化はないものであった。
一方、比較例3は、積層体の反射率が1.0%以上で、70℃、30分保持すると、反射率の変化が見られた。これは、多孔質ケイ素層表面に表面被覆層がないため、光学粘着剤の成分が多孔質ケイ素層の空孔に浸み込むことで反射率が高くなったことによるものと言える。
また、比較例4は、離型PETフィルム側に多孔質ケイ素層が残っていた。つまり、多孔質ケイ素体と無機層状化合物との密着性がないために、無機層状化合物のみが光学粘着剤側に移行したことが言える。
2 多孔質ケイ素層
3 表面被覆層
4 表面処理層
Claims (7)
- 多孔質ケイ素体、多孔質金属、多孔質無機有機ハイブリッド体のいずれかである多孔質体の表面に被覆層を形成するための塗工液であって、シリケートオリゴマーが吸着したスメクタイト族粘土鉱物を含み、スメクタイト族粘土鉱物とシリケートオリゴマーとの質量比が、スメクタイト族粘土鉱物:シリケートオリゴマー=1:0.2~1である表面被覆層形成用塗工液。
- 多孔質ケイ素体、多孔質金属、多孔質無機有機ハイブリッド体のいずれかである多孔質体の表面に被覆層を形成するための塗工液を製造する方法であって、
2官能の加水分解性シラン化合物と加水分解性シラン化合物の多量体とを含み且つ該加水分解シラン化合物の多量体を50質量%以上含む加水分解性シラン組成物が溶解した親水性溶媒溶液に、撹拌下、酸濃度が0.0001~0.01質量%である酸触媒水溶液を連続的に滴下して該加水分解性シラン組成物の加水分解および縮合反応を行い、
得られた反応液を溶媒で希釈してシリケートオリゴマー溶液を得、
得られたシリケートオリゴマー溶液と、スメクタイト族粘土鉱物無機層状化合物が分散媒体に分散した分散液とを、スメクタイト族粘土鉱物とシリケートオリゴマーとの混合比が、スメクタイト族粘土鉱物:シリケートオリゴマー=1:0.2~1(質量比)となるように混合することを特徴とする表面被覆層形成用塗工液の製造方法。 - 多孔質ケイ素体と、シリケートオリゴマーが吸着したスメクタイト族粘土鉱物を含み、スメクタイト族粘土鉱物とシリケートオリゴマーとの質量比が、スメクタイト族粘土鉱物:シリケートオリゴマー=1:0.2~1である表面被覆層とが積層されてなる多孔質ケイ素積層体。
- 前記多孔質ケイ素体の空孔サイズが50nm以下であることを特徴とする請求項3に記載の多孔質ケイ素積層体。
- 前記表面被覆層側から前記多孔質ケイ素積層体に入射する光に対する最小反射率において、前記表面被覆層を形成する前と形成した後の最少反射率の差が1.0%未満であることを特徴とする請求項3又は4に記載の多孔質ケイ素積層体。
- 前記表面被覆層の表面がシランカップリング剤で処理されている請求項3ないし5のいずれか1項に記載の多孔質ケイ素積層体。
- 請求項3ないし6のいずれか1項に記載の多孔質ケイ素積層体を製造する方法であって、空孔サイズが50nm以下の多孔質ケイ素体の表面に、シリケートオリゴマーが吸着したスメクタイト族粘土鉱物を含む表面被覆層形成用塗工液を塗工した後乾燥する工程を含むことを特徴とする多孔質ケイ素積層体の製造方法。
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