JP7060244B2 - A light source for an exposure device, an exposure device using the light source, and an exposure method for a resist. - Google Patents
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Description
本発明は、例えば、半導体基板等の露光装置に用いられる多灯式の露光装置用光源に関する。 The present invention relates to, for example, a light source for a multi-lamp type exposure apparatus used in an exposure apparatus such as a semiconductor substrate.
従前より、複数の放電灯を使用した光源が露光装置に用いられている(例えば、特許文献1)。 Conventionally, a light source using a plurality of discharge lamps has been used in an exposure apparatus (for example, Patent Document 1).
特許文献1に係る光源では、使用する複数の放電灯において水銀の封入量が異なるようにしている。これにより、光源から照射される光の波長領域を変化させられるようになっている。
In the light source according to
一般に水銀灯から照射される光の波長には、図21に示すように、複数のピーク波長と、所定の波長範囲において最小限の分光強度(以下、「ベースライン」という。)とが存在している。 Generally, as shown in FIG. 21, the wavelength of light emitted from a mercury lamp has a plurality of peak wavelengths and a minimum spectral intensity (hereinafter referred to as “baseline”) in a predetermined wavelength range. There is.
しかしながら、精度の良い露光を行おうとすると、露光するレジストの特性に応じた波長のみの光で露光を行うことが望ましく、対象となるレジストの露光に寄与しないピーク波長は不要となる。例えば、特定のレジストでは、図21における長波長側のピーク(405nmおよび436nm)はレジスト感度がないことから不要である。 However, in order to perform accurate exposure, it is desirable to perform exposure with light having only a wavelength corresponding to the characteristics of the resist to be exposed, and a peak wavelength that does not contribute to the exposure of the target resist becomes unnecessary. For example, in a specific resist, the peaks on the long wavelength side (405 nm and 436 nm) in FIG. 21 are unnecessary because they have no resist sensitivity.
同様の理由で、所定の波長範囲に広がるベースライン以下の光も不要である。 For the same reason, light below the baseline that extends over a predetermined wavelength range is also unnecessary.
このように、従来の、放電灯を用いた露光用光源では、レジストの露光に寄与しないピーク波長の光まで照射しており無駄なエネルギーを使用しているという問題と、加えて、所定の波長範囲に広がるベースライン以下の光も露光に寄与するものが少ないわりにレジストに与えるエネルギー自体は大きいものであることから、大きなエネルギーを受けたレジストが剥離してしまうことがあった。 As described above, the conventional light source for exposure using a discharge lamp irradiates light having a peak wavelength that does not contribute to the exposure of the resist and uses wasteful energy. In addition, the predetermined wavelength is used. Even though the light below the baseline that spreads over the range does not contribute much to the exposure, the energy itself given to the resist is large, so that the resist that received the large energy may be peeled off.
本発明は、前述した問題に鑑みてなされたものであり、その目的は、レジストの特性に合わせて、必要な波長の光をピンポイントで照射することができ、また、ベースライン以下の光量を最小限に押さえることができ、さらに、特性が異なる別のレジストを露光する際には照射する光の波長を適切に変化させることのできる露光装置用光源、それを用いた露光装置、および露光装置用光源の制御方法を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and an object thereof is to be able to pinpoint light of a required wavelength according to the characteristics of a resist, and to reduce the amount of light below the baseline. A light source for an exposure apparatus that can be kept to a minimum and can appropriately change the wavelength of the emitted light when exposing another resist having different characteristics, an exposure apparatus using the same, and an exposure apparatus. The purpose is to provide a method for controlling a light source.
本発明の一局面によれば、
単波長光を照射する複数の光源ユニット、および、複数の前記光源ユニットを保持する光源ユニットホルダを備える露光装置用光源において、
複数の前記光源ユニットから照射される前記単波長光は少なくとも2種類であり、
一方の種類の前記単波長光を照射する前記光源ユニットが前記光源ユニットホルダの中心側に配置され、
他方の種類の前記単波長光を照射する前記光源ユニットが、一方の種類の前記単波長光を照射する前記光源ユニットとは逆に前記光源ユニットホルダの外周側に配置されており、
1回の連続露光期間における第1露光時間と第2露光時間とで照射する光の照射強度が変化する
露光装置用光源が提供される。
また、本発明の他の局面によれば、
単波長光を照射する複数の光源ユニット、および、複数の前記光源ユニットを保持する光源ユニットホルダを備える露光装置用光源において、
複数の前記光源ユニットから照射される前記単波長光は少なくとも2種類であり、
一方の種類の前記単波長光を照射する前記光源ユニットが前記光源ユニットホルダの中心側に配置され、
他方の種類の前記単波長光を照射する前記光源ユニットが、一方の種類の前記単波長光を照射する前記光源ユニットとは逆に前記光源ユニットホルダの外周側に配置されており、
1回の連続露光期間における第1露光時間と第2露光時間とで前記各単波長光の照射強度のバランスが変化する
露光装置用光源が提供される。
According to one aspect of the invention
In a light source for an exposure apparatus including a plurality of light source units that irradiate single-wavelength light and a light source unit holder that holds the plurality of the light source units.
There are at least two types of single-wavelength light emitted from the plurality of light source units.
The light source unit that irradiates one type of the single wavelength light is arranged on the center side of the light source unit holder.
The light source unit that irradiates the other type of the single wavelength light is arranged on the outer peripheral side of the light source unit holder, which is opposite to the light source unit that irradiates the one type of the single wavelength light .
The irradiation intensity of the light to be irradiated changes between the first exposure time and the second exposure time in one continuous exposure period.
A light source for an exposure apparatus is provided.
Further, according to another aspect of the present invention.
In a light source for an exposure apparatus including a plurality of light source units that irradiate single-wavelength light and a light source unit holder that holds the plurality of the light source units.
There are at least two types of single-wavelength light emitted from the plurality of light source units.
The light source unit that irradiates one type of the single wavelength light is arranged on the center side of the light source unit holder.
The light source unit that irradiates the other type of the single wavelength light is arranged on the outer peripheral side of the light source unit holder, which is opposite to the light source unit that irradiates the one type of the single wavelength light.
The balance of the irradiation intensity of each single wavelength light changes depending on the first exposure time and the second exposure time in one continuous exposure period.
A light source for an exposure apparatus is provided.
好適には、1回の連続露光期間における第1露光時間と第2露光時間とで照射する光の照射強度が変化する。 Preferably, the irradiation intensity of the light to be irradiated changes between the first exposure time and the second exposure time in one continuous exposure period.
好適には、1回の連続露光期間における第1露光時間と第2露光時間とで前記各単波長光の照射強度のバランスが変化する。 Preferably, the balance of the irradiation intensity of each single wavelength light changes depending on the first exposure time and the second exposure time in one continuous exposure period.
好適には、1回の連続露光期間は、少なくとも第1露光時間と第2露光時間と第3露光時間とに分かれている。 Preferably, one continuous exposure period is divided into at least a first exposure time, a second exposure time, and a third exposure time.
好適には、前記各単波長光の照射強度のバランスは、前記各単波長光を照射する前記各光源ユニットの数、および、前記各光源ユニットからの光の照射強度の少なくとも一方を調整して実施している。 Preferably, the balance of the irradiation intensity of each single wavelength light is adjusted by adjusting at least one of the number of the light source units irradiating the single wavelength light and the irradiation intensity of the light from the light source units. It is being carried out.
好適には、前記各光源ユニットは、純正品判定を行うための判別部材を有している。 Preferably, each of the light source units has a discrimination member for determining a genuine product.
好適には、前記判別部材は白熱灯である。 Preferably, the discriminating member is an incandescent lamp.
好適には、複数の前記光源ユニットから照射される光の照射強度は少なくとも2種類である。 Preferably, the irradiation intensity of the light emitted from the plurality of light source units is at least two kinds.
本発明の他の局面によれば、
前記露光用光源を備える露光装置が提供される。
According to other aspects of the invention
An exposure apparatus including the exposure light source is provided.
本発明の別の局面によれば、
単波長光を照射する複数の光源ユニットを備えており、
複数の前記光源ユニットから照射される前記単波長光は少なくとも2種類であり、
露光するレジストの受光感度が低い一方の前記単波長光を照射する低感度の前記光源ユニットが、複数の前記光源ユニットを保持する光源ユニットホルダの中心側あるいは外周側に配置され、
前記受光感度が高い他方の前記単波長光を照射する高感度の前記光源ユニットが、低感度の前記光源ユニットとは逆に、前記光源ユニットホルダの外周側あるいは中心側に配置されている露光装置用光源を用いて、
1回の連続露光期間における第1露光時間と第2露光時間とで照射する光の照射強度を変化させて前記レジストの露光を行う、
レジストの露光方法が提供される。
また、本発明のさらに別の局面によれば、
単波長光を照射する複数の光源ユニットを備えており、
複数の前記光源ユニットから照射される前記単波長光は少なくとも2種類であり、
露光するレジストの受光感度が低い一方の前記単波長光を照射する低感度の前記光源ユニットが、複数の前記光源ユニットを保持する光源ユニットホルダの中心側あるいは外周側に配置され、
前記受光感度が高い他方の前記単波長光を照射する高感度の前記光源ユニットが、低感度の前記光源ユニットとは逆に、前記光源ユニットホルダの外周側あるいは中心側に配置されている露光装置用光源を用いて、
1回の連続露光期間における第1露光時間と第2露光時間とで前記各単波長光の照射強度のバランスを変化させて前記レジストの露光を行う、
レジストの露光方法が提供される。
According to another aspect of the invention
Equipped with multiple light source units that irradiate single wavelength light,
There are at least two types of single-wavelength light emitted from the plurality of light source units.
The low-sensitivity light source unit that irradiates the single-wavelength light while the light-receiving sensitivity of the resist to be exposed is low is arranged on the center side or the outer peripheral side of the light source unit holder that holds the plurality of the light source units.
The exposure device in which the high-sensitivity light source unit that irradiates the other single-wavelength light having high light-receiving sensitivity is arranged on the outer peripheral side or the center side of the light source unit holder, as opposed to the low-sensitivity light source unit. Using a light source for
The resist is exposed by changing the irradiation intensity of the light to be irradiated between the first exposure time and the second exposure time in one continuous exposure period.
A method of exposing the resist is provided.
Further, according to yet another aspect of the present invention,
Equipped with multiple light source units that irradiate single wavelength light,
There are at least two types of single-wavelength light emitted from the plurality of light source units.
The low-sensitivity light source unit that irradiates the single-wavelength light while the light-receiving sensitivity of the resist to be exposed is low is arranged on the center side or the outer peripheral side of the light source unit holder that holds the plurality of the light source units.
The exposure device in which the high-sensitivity light source unit that irradiates the other single-wavelength light having high light-receiving sensitivity is arranged on the outer peripheral side or the center side of the light source unit holder, as opposed to the low-sensitivity light source unit. Using a light source for
The resist is exposed by changing the balance of the irradiation intensity of each single wavelength light between the first exposure time and the second exposure time in one continuous exposure period.
A method of exposing the resist is provided.
本発明によれば、レジストの特性に合わせて、必要な波長の光をピンポイントで照射することができ、また、ベースライン以下の光量を最小限に押さえることができ、さらに、特性が異なる別のレジストを露光する際には照射する光の波長を適切に変化させることのできる露光装置用光源、それを用いた露光装置、および露光装置用光源の制御方法を提供することができた。 According to the present invention, light of a required wavelength can be radiated pinpointly according to the characteristics of the resist, the amount of light below the baseline can be minimized, and the characteristics are different. It was possible to provide a light source for an exposure apparatus capable of appropriately changing the wavelength of the emitted light when exposing the resist, an exposure apparatus using the same, and a control method for a light source for the exposure apparatus.
(露光装置10の構造)
以下、本発明を図面に従って説明する。図1は本発明に係る露光装置用光源100が組み込まれた露光装置10の概要を示した図である。ここで、露光装置10は、露光対象物X(本実施形態では、プリント配線板のベースとなる絶縁板P上に形成されたレジストXをその一例として説明する。)を露光するためのものであり、露光装置用光源100と、露光対象物Xを支持する支持台12と、露光装置用光源100から照射される光を平行光として支持台12の直上から照射するよう誘導する光学系14と、露光装置用光源100の点灯 を制御する点灯装置16とで大略構成されている。
(Structure of exposure apparatus 10)
Hereinafter, the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram showing an outline of an
以下では、先ず、露光装置用光源100以外の部材等について説明し、然る後、当該露光装置用光源100について詳細に説明する。
Hereinafter, the members and the like other than the
支持台12は、露光対象物Xを支持するものであり、これまでに周知の構成を適宜採用することが可能である。
The
光学系14は、露光装置用光源100から照射される光を照度の均一な平行光として支持台12の直上から照射するよう誘導するためのものであり、露光装置用光源100から照射された光の照度を均一化するインテグレータレンズ20(インテグレータレンズ20の具体例としては、例えば、フライアイレンズやロッドレンズと呼ばれるレンズが知られており、本実施形態では、フライアイレンズが採用されている)と、インテグレータレンズ20の前面側に配置され、露光装置用光源100から照射された光(本実施形態では、インテグレータレンズ20を通過した後の照度が均一な光)の照射光路を開閉制御する露光制御用シャッター22と、露光制御用シャッター22を通過した均一光の照射光路を屈折させる露光用反射鏡24とで大略構成されている。
The
なお、ここで示した光学系14の構成はその一例であり、本実施形態の構成に限定されるものではない。例えば、露光装置用光源100から照射された光を露光用反射鏡24で屈折させた後、インテグレータレンズ20に入光するような構成としてもよく、目的とする光学経路に応じて適宜その構成を変更することが可能である。
The configuration of the
点灯装置16は、露光装置用光源100を露光条件に応じて選択的に点灯させるための装置であり、図2の点灯回路図に示すように、個々の露光装置用光源100に接続された電力供給線30が点灯装置16に接続されている。そして、点灯装置16は制御装置40によってオン・オフを制御され、これによって各露光装置用光源100を露光対象物Xに合わせて選択的に点灯できるようになっている。なお、各露光装置用光源100と点灯装置16とはコネクタ(図示省略)を介して接続されており、コネクタの部分から各露光装置用光源100と点灯装置16とを簡単に電気的に脱着できるようになっている。
The
(露光装置用光源100の構造)
次に、露光装置用光源100の構造の一例について説明する。この露光装置用光源100は、図1に示すように、大略、複数の光源ユニット102と、光源ユニットホルダ104とで構成されている。なお、光源ユニットホルダ104は本発明における必須の構成要素ではない。このため、光源ユニットホルダ104を設けることなく、各光源ユニット102を所定の位置に固定する等してもよい。
(Structure of
Next, an example of the structure of the
各光源ユニット102は、図3および図4に示すように、大略、椀状の反射鏡110と、光源112とで構成されている。
As shown in FIGS. 3 and 4, each
反射鏡110は、その内側に形成された反射面114と、反射面114で反射した光を放出する開口116と、当該開口116に対向する位置で反射面114の底部中央に設けられた略円筒状の中央取付筒部118とを有している。また、反射鏡110の中心を通り開口116に直交する直線を、反射鏡110(および反射面114)の中心軸Cとする。
The reflecting
反射鏡110の材質としては、ガラスあるいはアルミニウム等が使用され、アルミニウムの場合は反射面114に金属蒸着がなされ、ガラスの場合は金属蒸着の他、多層膜の反射面114が椀状部分の内表面(つまり、反射面114が形成される面)に形成される。
As the material of the reflecting
とりわけ、光源ユニット102では、光源112を構成する発光ダイオード126(後述)からの熱が支柱124(後述)によって効率的に放散されることから、ガラスやアルミニウム等に比べて熱に弱い樹脂等も反射鏡110の材料として使用することができる。
In particular, in the
なお、本実施形態では、反射鏡110の開口116を覆うポリカーボネート製の前面カバー120が取り付けられているが、当該前面カバー120は光源ユニット102の必須構成要素ではない。また、透明材料であれば、前面カバー120の材料としてガラス等他の材料を用いることができる。
In the present embodiment, the
反射面114は、上述した中心軸Cを中心とする回転面で規定されており、反射鏡110の内側における当該中心軸C上に焦点Fが設定されている。この焦点Fの位置は反射鏡110の内側に収容する光源112における発光ダイオード126の大きさや個数等の要素に基づいて最適な位置に設定されている。例えば、発光ダイオード126が大きく、あるいは発光ダイオード126の個数が多い場合には、焦点Fの位置は反射面114の底部からやや距離をおいて設定され、逆に、発光ダイオード126が小さく、あるいは発光ダイオード126の個数が少ない場合には、焦点Fの位置は反射面114の底部寄りに設定されることになる。なお、反射面114を規定する回転面が回転楕円面や回転放物面である場合、これらを規定する楕円や放物線の焦点が反射面114の焦点Fとなる。
The reflecting
光源112は、図3および図4に加えて図5を参照し、4つの発光体122と、これらを所定の位置で保持する支柱124とで構成されている。なお、発光体122の数は4つに限られるものではなく、発光体122を2つ以上用いることにより、本発明の効果を奏することができる。
The
発光体122は、図6に示すように、発光ダイオード126と、レンズ128と、レンズ保持部材130とで構成されている。本実施形態で使用されている4つの発光体122は、反射面114の底部から中心軸Cに沿って延びる略四角柱状の支柱124の先端部において、それぞれ反射面114の焦点Fを中心として周方向に均等間隔で放射状に配設されている。
As shown in FIG. 6, the
発光ダイオード126は、図7に示すように、複数の発光ダイオード素子132で構成されている。なお、本実施形態では、9つの発光ダイオード素子132を碁盤目状に並べて1つの発光ダイオード126が構成されている。発光ダイオード126を構成する発光ダイオード素子132の数はこれに限定されるものではなく、1つ以上の発光ダイオード素子132で1つの発光ダイオード126が構成されればよい。
As shown in FIG. 7, the
発光ダイオード素子132は、所定の電流を流すことにより、例えば120°の光放射角(光放射角θはもちろんこれに限られない。)で特定波長の光を放射する電子部品である。本実施形態において、1つの発光ダイオード126を構成する複数の発光ダイオード素子132は、すべて同じ波長の光を放射するようになっている。また、1つの光源ユニット102を構成する複数の発光ダイオード126も、すべて同じ波長の光を放射するようになっている。さらに、各光源ユニット102から放射される光の波長は少なくとも2種類あるようになっている。
The light emitting
もちろん、これに限定されることはなく、1つの光源ユニット102を構成する複数の発光ダイオード126から放射される光の波長を互いに異なる波長にしてもよい。さらに言えば、1つの発光ダイオード126を構成する複数の発光ダイオード素子132から放射される光の波長を互いに異なる波長にしてもよい。
Of course, the wavelength is not limited to this, and the wavelengths of the light emitted from the plurality of
また、各発光ダイオード126から放射される光の波長については、紫外光、可視光、あるいは赤外光等、どのような波長の光を組み合わせてもよい。
Further, as for the wavelength of the light emitted from each
図3および図6に戻り、レンズ128は、発光ダイオード126と反射面114との間において、発光ダイオード126に対向離間して配設されたポリカーボネート製の凸メニスカスレンズ(略短冊形状の断面を有しており、一方の面が凸面、他方の面が凹面となっているレンズ)であり、発光ダイオード126から放射された光を反射面114に向けて屈折させる光学部品である。もちろん、レンズ128の材質はポリカーボネートに限定されることはなく、ガラス等の材料を使用することができる。また、レンズ128は本発明に必須の構成要素ではなく、レンズ128を設けない態様であってもよい。
Returning to FIGS. 3 and 6, the
レンズ保持部材130は、金属や不透明樹脂あるいは透光性樹脂等で形成された環状体であり、発光ダイオード126を囲繞するようにして、その一方端が支柱124の表面に取り付けられているとともに、他方端部にレンズ128が嵌め込まれている(あるいは、レンズ128と一体に形成されてもよい。)。レンズ保持部材130が金属や不透明樹脂で形成されている場合、発光ダイオード126から放射される光のすべてがレンズ128を通して放射される。また、レンズ保持部材130が透光性樹脂で形成されている場合、大部分がレンズ128を通して放射されるが、一部は透光性樹脂製のレンズ保持部材130を通って放射される。
The
支柱124は、反射面114の底部から中心軸Cに沿って延びるアルミニウム製(熱伝導性の高い材料であれば銅など他の材料を使用してもよい。)の四角柱材(例えば、発光体122の数が3つであれば三角柱材を用い、5つであれば五角柱材を用いるのが好適である。)であり、その先端部において4つの発光体122がそれぞれ反射面114の焦点Fを中心として周方向に均等間隔で放射状に配設されている。
The
このように、支柱124は、熱伝導性の高いアルミニウムで形成されていることから、発光ダイオード126が発光すると同時に発生する熱を発光ダイオード126から素早く受け取ることができるようになっている。つまり、支柱124は、単に発光ダイオード126やレンズ128を保持するだけでなく、発光ダイオード126の放熱材としての役割も有している。また、支柱124の他方端部は、反射鏡110の中央取付筒部118に挿入された後、シリコン系接着剤等によって反射鏡110に接着されている(図3)。
As described above, since the
支柱124における4つの側面には、それぞれ発光ダイオード126に給電するための給電部材134が配設されており(図6)、この給電部材134を通じて発光ダイオード126に電力が供給されるようになっている。本実施形態では、支柱124がアルミニウム製であることから、支柱124と給電部材134との間を絶縁する必要がある。なお、給電部材134への給電は、外部の電源(図示せず)からリード線(図示せず)を介して行われる。また、リード線を用いて発光ダイオード126に直接給電するようにしてもよい。
A feeding
光源ユニットホルダ104は、図8に示すように、複数の光源ユニット102が取り付けられる複数の凹所136が形成された略直方体状の部材である。
As shown in FIG. 8, the light
(露光装置10による露光対象物Xへの露光について)
点灯装置16を起動させると、露光装置用光源100が発光し、露光装置用光源100から放射された光が前方に向けて照射される。露光装置用光源100から出た光は、インテグレータレンズ20を通過することによって照度が均一な光となる。点灯装置16の起動から所定時間が経過し、出光量が所定の値に達したと推定される時点で露光制御用シャッター22を開にする。そして、この均一光が露光制御用シャッター22を通過すると、露光用反射鏡24によってその光路が支持台12側に曲げられ、支持台12上に載置されている露光対象物Xにその直上から平行光が、回路パターンが形成されているマスクを介して照射される。露光が終了すると、露光制御用シャッター22が閉じられ、マスク下の露光対象物Xが未処理物と交換される。ここで前記露光制御用シャッター22の開閉時間を制御することにより、露光対象物Xの露光時間が適切に調整される。
(Exposure to the exposure object X by the exposure apparatus 10)
When the
(本実施形態に係る露光装置用光源100の特徴)
上述のように、本実施形態に係る露光装置用光源100では、光源ユニット102の光源112として発光ダイオード126が使用されている。また、露光装置用光源100全体で見たとき、少なくとも2種類の単波長光を照射できるように、複数の光源ユニット102のうち、一部の光源ユニット102には一の単波長光を照射できる発光ダイオード126が使用されており、他部の光源ユニット102には他の単波長光を照射できる発光ダイオード126が使用されている。
(Characteristics of the
As described above, in the
発光ダイオード126は、放電灯に比べて、特定の波長に特化した単波長光をピンポイントで照射できる。これにより、本実施形態に係る露光装置用光源100によれば、露光対象物Xに用いられているレジストの感度特性に適した、少なくとも2種類の波長を照射することができ、かつ、放電灯の場合におけるベースライン以下の光量を最小限に押さえることができるので、露光に無駄なエネルギーを使用することもなく、また、大きなエネルギーを受けたレジストが剥離してしまう可能性を極小化できる。
The
(露光装置10による露光対象物Xへの露光に関する変形例1)
一般に、露光対象物Xを露光する際、その露光時間内は露光装置用光源100から照射される光の照射強度を一定にしている。これに代えて、図9に示すように、連続露光時間を例えば2つ(「第1露光時間」と「第2露光時間」)に分けて、これら第1露光時間と第2露光時間とで、露光装置用光源100から照射される光の照射強度を変化させるようにしてもよい。
(
Generally, when the exposure object X is exposed, the irradiation intensity of the light emitted from the
例えば、図9では、第1露光時間では照射強度を強く、第2露光時間ではこれに比べて照射強度を弱くする例を示している。もちろん、図10に示すように、第1露光時間では照射強度を弱く、第2露光時間ではこれに比べて照射強度を強くしてもよい。また、図11に示すように、第1露光時間では照射強度を漸増していき、第2露光時間では照射強度を一定にしてもよい。さらに言えば、連続露光時間を3つ以上に分けてもよく、例えば、図12に示すように、第1露光時間では照射強度を漸増していき、第2露光時間では照射強度を一定にし、第3露光時間では照射強度を漸減してもよい。また、図13に示すように、第1露光時間では照射強度を急激に漸増していき、第2露光時間では照射強度を最初に急落させた後に一定とし、第3露光時間では照射強度を最初に急増させた後に二次関数的に漸減させてもよい。 For example, FIG. 9 shows an example in which the irradiation intensity is strong in the first exposure time and the irradiation intensity is weaker in the second exposure time. Of course, as shown in FIG. 10, the irradiation intensity may be weaker in the first exposure time and stronger than this in the second exposure time. Further, as shown in FIG. 11, the irradiation intensity may be gradually increased in the first exposure time, and the irradiation intensity may be constant in the second exposure time. Furthermore, the continuous exposure time may be divided into three or more. For example, as shown in FIG. 12, the irradiation intensity is gradually increased in the first exposure time, and the irradiation intensity is kept constant in the second exposure time. The irradiation intensity may be gradually reduced in the third exposure time. Further, as shown in FIG. 13, in the first exposure time, the irradiation intensity is rapidly increased, in the second exposure time, the irradiation intensity is first sharply dropped and then kept constant, and in the third exposure time, the irradiation intensity is first. It may be rapidly increased to and then gradually decreased in a quadratic function.
(露光装置10による露光対象物Xへの露光に関する変形例2)
また、例えば連続露光時間を2つに分けて、これら第1露光時間と第2露光時間とで、露光装置用光源100から照射される各単波長光の照射強度のバランスを変化させるようにしてもよい。例えば、図14では、露光装置用光源100から照射される4種類の単波長(302nm、313nm、334nm、および、365nm)の照射強度のバランスが「365nm>313nm>334nm>302nm」となっている第1露光時間を示している。これを図15に示す第2露光時間では「302nm>313nm>334nm=365nm」に変化させている。もちろん、この変形例2の場合も、連続露光時間を3つ以上に分けてもよい。
(Modification 2 regarding exposure to the exposure object X by the exposure apparatus 10)
Further, for example, the continuous exposure time is divided into two, and the balance of the irradiation intensity of each single wavelength light emitted from the
(露光装置10による露光対象物Xへの露光に関する変形例3)
さらに、レジストの感度特性に合わせて各光源ユニット102から照射される光の単波長を選択するだけでなく、露光装置用光源100から照射される各単波長光の分光強度を調整してもよい。各単波長光の分光強度の調整は、例えば、当該単波長光を照射する光源ユニット102の数で調整してもよいし、各光源ユニット102からの光の照射強度を調整してもよい。もちろん、これらの調整方法を組み合わせてもよいし、他の手段を用いて各単波長光の分光強度の調整を行ってもよい。
(Modification 3 regarding exposure to the exposure object X by the exposure apparatus 10)
Further, not only the single wavelength of the light emitted from each
(露光装置10による露光対象物Xへの露光に関する変形例4)
また、各単波長光と露光するレジストの受光感度との関係に着目し、例えば、レジストの受光感度が低い単波長光を照射する低感度の光源ユニット102を光源ユニットホルダ104における中心側に配置し、受光感度が高い単波長光を照射する高感度の光源ユニット102を、低感度の光源ユニット102とは逆に、光源ユニットホルダ104における外周側に配置してもよい。
(Variation Example 4 Regarding Exposure to Exposure Object X by Exposure Device 10)
Further, paying attention to the relationship between each single wavelength light and the light receiving sensitivity of the exposed resist, for example, a low-sensitivity
これとは逆に、レジストの受光感度が低い単波長光を照射する低感度の光源ユニット102を光源ユニットホルダ104における外周側に配置し、受光感度が高い単波長光を照射する高感度の光源ユニット102を光源ユニットホルダ104における中心側に配置してもよい。
On the contrary, a low-sensitivity
一般に、光源ユニットホルダ104における外周側に配置した光源ユニット102から照射された光は、その光の一部が露光対象物Xから外れた迷光になって露光に寄与しない光となる。このような特徴を利用して、高感度の光源ユニット102を光源ユニット102の外周側に配置したり、逆に低感度の光源ユニット102を光源ユニット102の外周側に配置したりすることにより、レジストの露光速度を調整することができる。
Generally, the light emitted from the
(その他の変形例1)
上述した実施形態における光源ユニット102では、光源112を反射鏡110と組み合わせ用いる場合について説明したが、反射鏡110に代えて、図16から図20に示すように、別のレンズ(第2レンズ140)を使用してもよい。
(Other variants 1)
In the
この変形例1の実施形態に係る光源ユニット102は、大略、本体142と、上述した発光体122と、ヒートシンク144と、第2レンズ140とを備えている。
The
本体142は、天端から底端に至る内部空間146を有する角柱筒状体である。なお、この本体142の材質は特に限定されるものではないが、発光体122からの光が不所望に透過しない不透明材質であり、発光体122からの熱を伝導させることのできるものが好適である。
The
発光体122は、本体142の内部空間146における底端部に配設されており、上述した実施形態と同様に、発光ダイオード126と、レンズ128と、レンズ保持部材130とで構成されている。これらについての説明については、上述した実施形態における説明を援用する。なお、この変形例1の実施形態では、レンズ128として両凸レンズが使用されており、発光ダイオード126からの光を平行化する役割を有している。もちろん、レンズ128は、両凸レンズに限定されるものではなく、発光体122からの光の利用効率の最適化と平行化とを満足させる役割を果たすものであれば平凸レンズやフレネルレンズ等であってもよい。また、更に平行化の精度を求める場合、非球面レンズを使用してもよい。
The
なお、変形例1における発光ダイオード126の発光面側の近傍には、発光ダイオード126から放射された光の配光角を狭めるための前面レンズ127が配設されているが、この前面レンズ127はなくてもよい。
A
ヒートシンク144は、本体142の内部空間146における底端部において、上述した発光体122の底面(発光ダイオード126が取り付けられた面とは反対側の面)に当接するように取り付けられており、発光ダイオード126を点灯させたときの熱を放散する(放熱する)役割を有している。このため、ヒートシンク144は、熱伝導率の高い材質で形成するのが好適である。
The
第2レンズ140は、発光体122から離間して、本体142の内部空間146における天端部に配設された平凸レンズであり、レンズ128だけでは発光体122からの光の利用効率の最適化と平行化とを満足させることができない場合に、更に当該光の利用効率の最適化と平行化とを満足させるために使用される。第2レンズ140も、両凸レンズに限定されるものではなく、両凸レンズやフレネルレンズ等であってもよい。また、レンズ128と同様に、更に平行化の精度を求める場合、非球面レンズを使用してもよい。
The
さらに言えば、第2レンズ140を入れても発光体122からの光の利用効率の最適化と平行化とを満足させることができない場合は、図示しない第3、第4のレンズを追加してもよい。
Furthermore, if the optimization and parallelization of the utilization efficiency of the light from the
(その他の変形例2)
上述した実施形態では、光源112として発光ダイオード126を使用する例について説明したが、基本的に単波長光を放射できるものであれば発光ダイオード126に限定されるものではなく、例えば、レーザーを使用してもよい。
(Other modified examples 2)
In the above-described embodiment, an example in which the
(その他の変形例3)
また、各光源ユニット102に、当該光源ユニット102が純正品であるか否かを判定するための判別部材を付加してもよい。この判別部材は、例えば、所定の情報が入力されたICチップやRFID等が考えられる。また、この判別部材は、光源ユニット102内に埋め込んでもよいし、光源ユニット102における反射鏡110や光源112から離間した状態で取り付けられていてもよい。
(Other variants 3)
Further, a discriminating member for determining whether or not the
さらに、判別部材として白熱灯を用いてもよい。純正品か否かを判定する際に、白熱灯に所定の電力を供給して、当該白熱灯を点灯させる。そして、点灯中の白熱灯の電圧を測定することにより、光源ユニット102が純正品であるか否かを判定する。
Further, an incandescent lamp may be used as the discrimination member. When determining whether it is a genuine product, a predetermined electric power is supplied to the incandescent lamp to turn on the incandescent lamp. Then, by measuring the voltage of the incandescent lamp during lighting, it is determined whether or not the
具体的に説明すると、白熱灯に定電流を供給した所定時間後(例えば供給開始から約10秒後)、当該白熱灯の両端電圧を測定する。この測定電圧と、予め測定・登録しておいた複数の純正品判定用の白熱灯の電圧分布範囲とを比較する。そして、測定電圧が登録電圧範囲内であれば、当該白熱灯が付加された光源ユニット102を純正品であると判定する。逆に、測定電圧が登録電圧範囲外であれば、当該白熱灯が付加された光源ユニット102を非純正品と判定する。
Specifically, after a predetermined time of supplying a constant current to the incandescent lamp (for example, about 10 seconds after the start of supply), the voltage across the incandescent lamp is measured. This measured voltage is compared with the voltage distribution range of a plurality of incandescent lamps for determining genuine products that have been measured and registered in advance. Then, if the measured voltage is within the registered voltage range, it is determined that the
上述した判定方法とは別の判定方法を用いてもよい。例えば、白熱灯に定電流の供給を開始した直後に当該白熱灯の両端電圧を測定する。そして、1回目の電圧測定から所定時間後(例えば約10秒後)に、再度、当該白熱灯の両端電圧を測定する(2回目)。その後、1回目の測定電圧と2回目の測定電圧との差が、予め測定・登録しておいた複数の純正品判定用の白熱灯における2回分の測定電圧の電圧差範囲内であるか否かを確認する。登録電圧差範囲内であれば、当該白熱灯が付加された光源ユニット102を純正品であると判定する。逆に、登録電圧差範囲外であれば、当該白熱灯が付加された光源ユニット102を非純正品と判定する。
A determination method different from the determination method described above may be used. For example, the voltage across the incandescent lamp is measured immediately after the constant current supply to the incandescent lamp is started. Then, after a predetermined time (for example, about 10 seconds) after the first voltage measurement, the voltage across the incandescent lamp is measured again (second time). After that, whether or not the difference between the first measurement voltage and the second measurement voltage is within the voltage difference range of the two measurement voltages in a plurality of incandescent lamps for determining genuine products that have been measured and registered in advance. Check if. If it is within the registered voltage difference range, it is determined that the
(その他の変形例4)
各光源ユニット102からは単波長光を照射するようにしていたが、すでに述べているように、これに代えて、1つの発光ダイオード126を構成する複数の発光ダイオード素子132から放射される光の波長を互いに異なる波長にして、ひとつの光源ユニット102だけで露光装置用光源100を構成してもよい。
(Other variants 4)
The
(その他の変形例5)
露光対象物Xにおける照度ムラや露光ムラを少なくするために、複数の光源ユニット102のそれぞれからの光の照射強度を調整および変化させてもよい。例えば、露光対象物Xの被照射面における中央部の照度や露光強度が大きい場合、複数の光源ユニット102における中央部に配置された光源ユニット102からの光の照射強度を低下させることが考えられる。
(Other variants 5)
In order to reduce the illuminance unevenness and the exposure unevenness in the exposed object X, the irradiation intensity of the light from each of the plurality of
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上述した説明ではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。 It should be considered that the embodiments disclosed this time are exemplary in all respects and not restrictive. The scope of the present invention is shown by the scope of claims, not the description described above, and is intended to include all modifications within the meaning and scope equivalent to the scope of claims.
10…露光装置、12…支持台、14…光学系、16…点灯装置
20…インテグレータレンズ、22…露光制御用シャッター、24…露光用反射鏡、30…電力供給線、40…制御装置
100…露光装置用光源、102…光源ユニット、104…光源ユニットホルダ
110…反射鏡、112…光源、114…反射面、116…開口、118…中央取付筒部、120…前面カバー、122…発光体、124…支柱、126…発光ダイオード、127…前面レンズ、128…レンズ、130…レンズ保持部材、132…発光ダイオード素子、134…給電部材、136…凹所、140…第2レンズ、142…本体、144…ヒートシンク、146…内部空間
X…露光対象物(レジスト)、C…(反射鏡110の)中心軸、P…絶縁板
10 ... exposure device, 12 ... support base, 14 ... optical system, 16 ...
Claims (10)
複数の前記光源ユニットから照射される前記単波長光は少なくとも2種類であり、
一方の種類の前記単波長光を照射する前記光源ユニットが前記光源ユニットホルダの中心側に配置され、
他方の種類の前記単波長光を照射する前記光源ユニットが、一方の種類の前記単波長光を照射する前記光源ユニットとは逆に前記光源ユニットホルダの外周側に配置されており、
1回の連続露光期間における第1露光時間と第2露光時間とで照射する光の照射強度が変化する
露光装置用光源。 In a light source for an exposure apparatus including a plurality of light source units that irradiate single-wavelength light and a light source unit holder that holds the plurality of the light source units.
There are at least two types of single-wavelength light emitted from the plurality of light source units.
The light source unit that irradiates one type of the single wavelength light is arranged on the center side of the light source unit holder.
The light source unit that irradiates the other type of the single wavelength light is arranged on the outer peripheral side of the light source unit holder, which is opposite to the light source unit that irradiates the one type of the single wavelength light .
The irradiation intensity of the light to be irradiated changes between the first exposure time and the second exposure time in one continuous exposure period.
Light source for exposure equipment.
複数の前記光源ユニットから照射される前記単波長光は少なくとも2種類であり、
一方の種類の前記単波長光を照射する前記光源ユニットが前記光源ユニットホルダの中心側に配置され、
他方の種類の前記単波長光を照射する前記光源ユニットが、一方の種類の前記単波長光を照射する前記光源ユニットとは逆に前記光源ユニットホルダの外周側に配置されており、
1回の連続露光期間における第1露光時間と第2露光時間とで前記各単波長光の照射強度のバランスが変化する
露光装置用光源。 In a light source for an exposure apparatus including a plurality of light source units that irradiate single-wavelength light and a light source unit holder that holds the plurality of the light source units.
There are at least two types of single-wavelength light emitted from the plurality of light source units.
The light source unit that irradiates one type of the single wavelength light is arranged on the center side of the light source unit holder.
The light source unit that irradiates the other type of the single wavelength light is arranged on the outer peripheral side of the light source unit holder, which is opposite to the light source unit that irradiates the one type of the single wavelength light .
The balance of the irradiation intensity of each single wavelength light changes depending on the first exposure time and the second exposure time in one continuous exposure period.
Light source for exposure equipment.
請求項1または2に記載の露光装置用光源。 The light source for an exposure apparatus according to claim 1 or 2 , wherein one continuous exposure period is divided into at least a first exposure time, a second exposure time, and a third exposure time.
請求項2に記載の露光装置用光源。 The balance of the irradiation intensity of each single wavelength light is carried out by adjusting at least one of the number of the light source units irradiating the single wavelength light and the irradiation intensity of the light from each light source unit. The light source for an exposure apparatus according to claim 2 .
請求項1から4のいずれか1項に記載の露光装置用光源。 The light source for an exposure apparatus according to any one of claims 1 to 4 , wherein each light source unit has a discrimination member for determining a genuine product.
請求項5に記載の露光装置用光源。 The light source for an exposure apparatus according to claim 5 , wherein the discrimination member is an incandescent lamp.
請求項1から6のいずれか1項に記載の露光装置用光源。 The light source for an exposure apparatus according to any one of claims 1 to 6 , wherein the irradiation intensity of the light emitted from the plurality of light source units is at least two types.
複数の前記光源ユニットから照射される前記単波長光は少なくとも2種類であり、
露光するレジストの受光感度が低い一方の前記単波長光を照射する低感度の前記光源ユニットが、複数の前記光源ユニットを保持する光源ユニットホルダの中心側あるいは外周側に配置され、
前記受光感度が高い他方の前記単波長光を照射する高感度の前記光源ユニットが、低感度の前記光源ユニットとは逆に、前記光源ユニットホルダの外周側あるいは中心側に配置されている露光装置用光源を用いて、
1回の連続露光期間における第1露光時間と第2露光時間とで照射する光の照射強度を変化させて前記レジストの露光を行う、
レジストの露光方法。 Equipped with multiple light source units that irradiate single wavelength light,
There are at least two types of single-wavelength light emitted from the plurality of light source units.
The low-sensitivity light source unit that irradiates the single-wavelength light while the light-receiving sensitivity of the resist to be exposed is low is arranged on the center side or the outer peripheral side of the light source unit holder that holds the plurality of the light source units.
The exposure device in which the high-sensitivity light source unit that irradiates the other single-wavelength light having high light-receiving sensitivity is arranged on the outer peripheral side or the center side of the light source unit holder, as opposed to the low-sensitivity light source unit. Using a light source for
The resist is exposed by changing the irradiation intensity of the light to be irradiated between the first exposure time and the second exposure time in one continuous exposure period.
Resist exposure method.
複数の前記光源ユニットから照射される前記単波長光は少なくとも2種類であり、
露光するレジストの受光感度が低い一方の前記単波長光を照射する低感度の前記光源ユニットが、複数の前記光源ユニットを保持する光源ユニットホルダの中心側あるいは外周側に配置され、
前記受光感度が高い他方の前記単波長光を照射する高感度の前記光源ユニットが、低感度の前記光源ユニットとは逆に、前記光源ユニットホルダの外周側あるいは中心側に配置されている露光装置用光源を用いて、
1回の連続露光期間における第1露光時間と第2露光時間とで前記各単波長光の照射強度のバランスを変化させて前記レジストの露光を行う、
レジストの露光方法。
Equipped with multiple light source units that irradiate single wavelength light,
There are at least two types of single-wavelength light emitted from the plurality of light source units.
The low-sensitivity light source unit that irradiates the single-wavelength light while the light-receiving sensitivity of the resist to be exposed is low is arranged on the center side or the outer peripheral side of the light source unit holder that holds the plurality of the light source units.
The exposure device in which the high-sensitivity light source unit that irradiates the other single-wavelength light having high light-receiving sensitivity is arranged on the outer peripheral side or the center side of the light source unit holder, as opposed to the low-sensitivity light source unit. Using a light source for
The resist is exposed by changing the balance of the irradiation intensity of each single wavelength light between the first exposure time and the second exposure time in one continuous exposure period.
Resist exposure method.
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