JP7026943B2 - 研磨パッド及び該研磨パッドによる研磨方法 - Google Patents
研磨パッド及び該研磨パッドによる研磨方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP7026943B2 JP7026943B2 JP2018089603A JP2018089603A JP7026943B2 JP 7026943 B2 JP7026943 B2 JP 7026943B2 JP 2018089603 A JP2018089603 A JP 2018089603A JP 2018089603 A JP2018089603 A JP 2018089603A JP 7026943 B2 JP7026943 B2 JP 7026943B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polishing
- polishing pad
- surface plate
- adsorption layer
- shield member
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/11—Lapping tools
- B24B37/20—Lapping pads for working plane surfaces
- B24B37/22—Lapping pads for working plane surfaces characterised by a multi-layered structure
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/11—Lapping tools
- B24B37/20—Lapping pads for working plane surfaces
- B24B37/24—Lapping pads for working plane surfaces characterised by the composition or properties of the pad materials
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/30—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
- H01L21/302—Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
- H01L21/304—Mechanical treatment, e.g. grinding, polishing, cutting
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67092—Apparatus for mechanical treatment
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Description
本発明に係る研磨パッドは、基材、研磨層、吸着層、及びリング状のシールド部材で構成される。
基材は、研磨層及び吸着層を支持するための部材であり、研磨パッドの取扱い性を確保するための部材である。基材は、薄い有機物からなる円形のシート状の部材である。基材は、破断強度が210~290MPa、破断伸度が80~130%である樹脂材料からなるものが好ましい。より好ましくは、破断強度が210~240MPaであり、破断伸度が110~130%である。尚、この引張強度は、乾燥時に測定される値とする。
研磨層は、その名称が示すとおり、被研磨部材を研磨するための層である。研磨層は、供給された研磨スラリーを適切に保持し、被研磨部材表面を研磨する。本発明の研磨層は、従来からある一般的な研磨パッドに適用される研磨布が適用できる。例えば、ナイロン、ポリウレタン、ポリエチレンテレフタレート等で形成された不織布、発泡成形体等が適用できる。また、その表面(研磨面)の形状は、平坦であるものに限られず、研磨剤を保持するための溝等を適宜形成しても良い。研磨層となる研磨布の厚さは、0.5~3mmのものが好ましい。
吸着層は、その構成材料に由来する吸着作用により、研磨パッドを定盤に固定するための部材である。これまで述べたように、吸着層はシリコーン組成物で構成されており、基本的に、上記した本発明者等による従来の研磨パッド(特許文献1、2)で適用されるものと同様である。即ち、吸着層を構成するシリコーン組成物は、両末端にのみビニル基を有する直鎖状ポリオルガノシロキサンからなるシリコーン、両末端及び側鎖にビニル基を有する直鎖状ポリオルガノシロキサンからなるシリコーン、末端にのみビニル基を有する分岐状ポリオルガノシロキサンからなるシリコーン、及び末端及び側鎖にビニル基を有する分岐状ポリオルガノシロキサンからなるシリコーンから選ばれる少なくとも1種のシリコーンを架橋させてなる組成物である。
これまで述べたとおり、本発明に係る研磨パッドは、吸着層の面上に、研磨パッドの外周に沿ったリング状のシールド部材を備えることを特徴とする。このシールド部材は、研磨作業中に供給される研磨スラリーを研磨パッドの外周部分でせき止め、研磨スラリーが吸着層と定盤との界面に侵入しないようするための部材である。
次に、本発明に係る研磨パッドを適用する研磨方法について説明する。本発明に係る研磨方法は、従来の吸着層を有する研磨パッドによるものと基本的な工程は共通する。即ち、研磨パッドを定盤に吸着固定し、研磨スラリーを供給しつつ研磨パッドを回転させると共に、研磨パッドに被研磨部材を押圧して研磨作業を行う。研磨パッドの固定は、定盤に研磨パッドを載置し、研磨パッドを研磨層側から定盤方向に押圧することで完了する。このとき、厳密に全面を均等な力で押圧する必要もなく、研磨層の表面を撫でるようにして押すことで吸着層の吸着作用は発揮できる
・研磨圧力:0.163kgf/cm2
・研磨パッドの回転速度:45rpm
・被研磨部材の回転速度:47rpm
・ヘッドの揺動速度:250mm/min
・研磨時間:60min、480min
Claims (4)
- 基材と、前記基材の一方の面に形成された吸着層と、前記基材の他方の面に形成された研磨層とで構成され、
研磨作業の際、定盤に前記吸着層を吸着・固定し、研磨スラリーを前記研磨層上に供給して使用される研磨パッドにおいて、
前記吸着層は、両末端にのみビニル基を有する直鎖状ポリオルガノシロキサンからなるシリコーン、両末端及び側鎖にビニル基を有する直鎖状ポリオルガノシロキサンからなるシリコーン、末端にのみビニル基を有する分岐状ポリオルガノシロキサンからなるシリコーン、及び末端及び側鎖にビニル基を有する分岐状ポリオルガノシロキサンからなるシリコーンから選ばれる少なくとも1種のシリコーンを架橋させてなる組成物からなり、
前記研磨パッドは、前記定盤に対して大径であり、
前記研磨パッドには、前記定盤より幅広となった部分の吸着層の上に、前記吸着層と前記定盤との界面への前記研磨スラリーの侵入を抑制するため、研磨パッドの外周に沿った高さを有するリング状のシールド部材を備え、
前記リング状のシールド部材は、繊維、ゴム、ビニル系樹脂、スチレン系樹脂、ポリカーボネート、フッ素樹脂、ポリウレタンのいずれかの材料からなることを特徴とする研磨パッド。 - シールド部材の断面形状は、矩形、又は、下端部の片側又は両側が面取りされた矩形である請求項1記載の研磨パッド。
- シールド部材は、幅5mm以上であり、厚さは10mm以上50mm以下である請求項1又は請求項2記載の研磨パッド。
- 請求項1~請求項3のいずれかに記載の研磨パッドを用いて研磨作業を行う研磨方法であって、
前記定盤の直径より大きい直径の研磨パッドであって、吸着層上にリング状のシールド部材を備える研磨パッドを用い、
前記研磨パッドを前記定盤に吸着固定し、
研磨パッドの研磨層に研磨スラリーを供給して研磨作業を行う研磨方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018089603A JP7026943B2 (ja) | 2018-05-08 | 2018-05-08 | 研磨パッド及び該研磨パッドによる研磨方法 |
TW108113809A TW201946725A (zh) | 2018-05-08 | 2019-04-19 | 研磨墊及以該研磨墊進行的研磨方法 |
KR1020207027235A KR102639470B1 (ko) | 2018-05-08 | 2019-05-07 | 연마 패드 및 그 연마 패드에 의한 연마방법 |
CN201980017337.4A CN111819033B (zh) | 2018-05-08 | 2019-05-07 | 研磨垫及以该研磨垫进行的研磨方法 |
PCT/JP2019/018209 WO2019216301A1 (ja) | 2018-05-08 | 2019-05-07 | 研磨パッド及び該研磨パッドによる研磨方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018089603A JP7026943B2 (ja) | 2018-05-08 | 2018-05-08 | 研磨パッド及び該研磨パッドによる研磨方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019195855A JP2019195855A (ja) | 2019-11-14 |
JP7026943B2 true JP7026943B2 (ja) | 2022-03-01 |
Family
ID=68468265
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018089603A Active JP7026943B2 (ja) | 2018-05-08 | 2018-05-08 | 研磨パッド及び該研磨パッドによる研磨方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP7026943B2 (ja) |
KR (1) | KR102639470B1 (ja) |
CN (1) | CN111819033B (ja) |
TW (1) | TW201946725A (ja) |
WO (1) | WO2019216301A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20230173637A1 (en) * | 2020-03-26 | 2023-06-08 | Fujibo Holdings, Inc. | Polishing pad, polishing unit, polishing device, and method for manufacturing polishing pad |
KR20240049977A (ko) | 2022-10-11 | 2024-04-18 | 건국대학교 글로컬산학협력단 | 미산성 차아염소산수의 제조장치 및 이를 이용한 미산성 차아염소산수의 제조방법 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001287157A (ja) | 2000-04-07 | 2001-10-16 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 試料研磨装置及び試料研磨方法 |
JP2002036097A (ja) | 2000-07-18 | 2002-02-05 | Rodel Nitta Co | 研磨パッド |
US20050003738A1 (en) | 2003-05-08 | 2005-01-06 | Yanghua He | Edge-sealed pad for CMP process |
JP2010274336A (ja) | 2009-05-26 | 2010-12-09 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 研磨装置およびワークの研磨方法 |
JP2013059830A (ja) | 2011-09-14 | 2013-04-04 | Toho Engineering Kk | 防浸構造を備えた研磨パッド用補助板および研磨装置 |
JP2014108498A (ja) | 2012-12-04 | 2014-06-12 | Maruishi Sangyo Kk | 研磨パッド |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3175511B2 (ja) * | 1994-12-26 | 2001-06-11 | 住友金属工業株式会社 | 研磨装置及び研磨パッドの着脱装置 |
JP2842865B1 (ja) * | 1997-08-22 | 1999-01-06 | 九州日本電気株式会社 | 研磨装置 |
JPH11243135A (ja) * | 1998-02-26 | 1999-09-07 | Kyocera Corp | 真空吸着盤 |
JP4041577B2 (ja) * | 1998-03-16 | 2008-01-30 | スピードファム株式会社 | ポリッシング装置の定盤及び研磨パッド貼着方法 |
US6227950B1 (en) * | 1999-03-08 | 2001-05-08 | Speedfam-Ipec Corporation | Dual purpose handoff station for workpiece polishing machine |
US6464576B1 (en) * | 1999-08-31 | 2002-10-15 | Rodel Holdings Inc. | Stacked polishing pad having sealed edge |
DE60011798T2 (de) * | 1999-09-29 | 2005-11-10 | Rohm and Haas Electronic Materials CMP Holdings, Inc., Wilmington | Schleifkissen |
US7201647B2 (en) * | 2002-06-07 | 2007-04-10 | Praxair Technology, Inc. | Subpad having robust, sealed edges |
JP2006255809A (ja) * | 2005-03-15 | 2006-09-28 | Disco Abrasive Syst Ltd | 研磨装置 |
JP5061308B2 (ja) * | 2007-01-05 | 2012-10-31 | フジコピアン株式会社 | 密着シート |
JP4680314B1 (ja) * | 2010-02-04 | 2011-05-11 | 東邦エンジニアリング株式会社 | 研磨パッド用補助板およびそれを用いた研磨パッドの再生方法 |
JP6074245B2 (ja) * | 2012-12-07 | 2017-02-01 | ニッタ・ハース株式会社 | 研磨パッド |
-
2018
- 2018-05-08 JP JP2018089603A patent/JP7026943B2/ja active Active
-
2019
- 2019-04-19 TW TW108113809A patent/TW201946725A/zh unknown
- 2019-05-07 KR KR1020207027235A patent/KR102639470B1/ko active Active
- 2019-05-07 CN CN201980017337.4A patent/CN111819033B/zh active Active
- 2019-05-07 WO PCT/JP2019/018209 patent/WO2019216301A1/ja active Application Filing
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001287157A (ja) | 2000-04-07 | 2001-10-16 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 試料研磨装置及び試料研磨方法 |
JP2002036097A (ja) | 2000-07-18 | 2002-02-05 | Rodel Nitta Co | 研磨パッド |
US20050003738A1 (en) | 2003-05-08 | 2005-01-06 | Yanghua He | Edge-sealed pad for CMP process |
JP2010274336A (ja) | 2009-05-26 | 2010-12-09 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 研磨装置およびワークの研磨方法 |
JP2013059830A (ja) | 2011-09-14 | 2013-04-04 | Toho Engineering Kk | 防浸構造を備えた研磨パッド用補助板および研磨装置 |
JP2014108498A (ja) | 2012-12-04 | 2014-06-12 | Maruishi Sangyo Kk | 研磨パッド |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20210006325A (ko) | 2021-01-18 |
KR102639470B1 (ko) | 2024-02-21 |
JP2019195855A (ja) | 2019-11-14 |
CN111819033B (zh) | 2022-05-13 |
CN111819033A (zh) | 2020-10-23 |
TW201946725A (zh) | 2019-12-16 |
WO2019216301A1 (ja) | 2019-11-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5765858B2 (ja) | 研磨パッド | |
US10201886B2 (en) | Polishing pad and method for manufacturing the same | |
JP7026943B2 (ja) | 研磨パッド及び該研磨パッドによる研磨方法 | |
JP4445383B2 (ja) | 頑丈な密封された縁を有するサブパッド | |
JP6393127B2 (ja) | 保持パッド | |
JPH09155730A (ja) | 研磨のための被加工物の保持具及びその製法 | |
JP3166396U (ja) | 研磨パッド | |
JPH0547392B2 (ja) | ||
JP7026942B2 (ja) | 研磨パッド用の下敷及び該下敷を使用する研磨方法 | |
CN107849404A (zh) | 用于化学机械平坦化应用的粘合剂 | |
TWI740042B (zh) | 使用具備吸附層之研磨墊的研磨方法 | |
JP2007245276A (ja) | 研磨パッド固定用両面テープ | |
JP2009095944A (ja) | 研磨パッド | |
JP2013034018A (ja) | 研磨パッド | |
JP2014108485A (ja) | バッキング材およびそれを用いた基板のキャリアヘッド構造 | |
TW202222492A (zh) | 研磨墊、雙面研磨裝置及晶圓之雙面研磨方法 | |
CN218755530U (zh) | 一种抗静电的切割保护胶带 | |
JP2011000670A (ja) | 基板ホルダー | |
TWM595014U (zh) | 研磨墊 | |
TWI356089B (en) | Carrier film for mounting polishing workpiece and | |
TW201032953A (en) | Sheet having discontinuous adhesion points and the method for making the same | |
TW202041324A (zh) | 研磨裝置用的平台及研磨裝置和研磨方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20201117 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210705 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20210830 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20211101 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20220131 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20220208 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7026943 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |