JP6999434B2 - 表示装置、表示システム、および表示装置の製造方法 - Google Patents
表示装置、表示システム、および表示装置の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6999434B2 JP6999434B2 JP2018012573A JP2018012573A JP6999434B2 JP 6999434 B2 JP6999434 B2 JP 6999434B2 JP 2018012573 A JP2018012573 A JP 2018012573A JP 2018012573 A JP2018012573 A JP 2018012573A JP 6999434 B2 JP6999434 B2 JP 6999434B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- display device
- pixel element
- pixel
- manufacturing
- display
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/544—Marks applied to semiconductor devices or parts, e.g. registration marks, alignment structures, wafer maps
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H29/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one light-emitting semiconductor element covered by group H10H20/00
- H10H29/10—Integrated devices comprising at least one light-emitting semiconductor component covered by group H10H20/00
- H10H29/14—Integrated devices comprising at least one light-emitting semiconductor component covered by group H10H20/00 comprising multiple light-emitting semiconductor components
- H10H29/142—Two-dimensional arrangements, e.g. asymmetric LED layout
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
- H01L22/10—Measuring as part of the manufacturing process
- H01L22/12—Measuring as part of the manufacturing process for structural parameters, e.g. thickness, line width, refractive index, temperature, warp, bond strength, defects, optical inspection, electrical measurement of structural dimensions, metallurgic measurement of diffusions
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/075—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H10H20/00
- H01L25/0753—Assemblies consisting of a plurality of semiconductor or other solid state devices all the devices being of a type provided for in a single subclass of subclasses H10B, H10F, H10H, H10K or H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H10H20/00 the devices being arranged next to each other
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
- H10H20/01—Manufacture or treatment
- H10H20/011—Manufacture or treatment of bodies, e.g. forming semiconductor layers
- H10H20/018—Bonding of wafers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
- H10H20/80—Constructional details
- H10H20/85—Packages
- H10H20/851—Wavelength conversion means
- H10H20/8511—Wavelength conversion means characterised by their material, e.g. binder
- H10H20/8512—Wavelength conversion materials
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
- H10H20/80—Constructional details
- H10H20/85—Packages
- H10H20/852—Encapsulations
- H10H20/854—Encapsulations characterised by their material, e.g. epoxy or silicone resins
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2607—Circuits therefor
- G01R31/2632—Circuits therefor for testing diodes
- G01R31/2635—Testing light-emitting diodes, laser diodes or photodiodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the groups H01L21/18 - H01L21/326 or H10D48/04 - H10D48/07 e.g. sealing of a cap to a base of a container
- H01L21/56—Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
- H01L21/565—Moulds
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the groups H01L21/18 - H01L21/326 or H10D48/04 - H10D48/07 e.g. sealing of a cap to a base of a container
- H01L21/56—Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
- H01L21/568—Temporary substrate used as encapsulation process aid
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2223/00—Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
- H01L2223/544—Marks applied to semiconductor devices or parts
- H01L2223/54406—Marks applied to semiconductor devices or parts comprising alphanumeric information
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2223/00—Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
- H01L2223/544—Marks applied to semiconductor devices or parts
- H01L2223/54413—Marks applied to semiconductor devices or parts comprising digital information, e.g. bar codes, data matrix
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2223/00—Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
- H01L2223/544—Marks applied to semiconductor devices or parts
- H01L2223/54433—Marks applied to semiconductor devices or parts containing identification or tracking information
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2223/00—Details relating to semiconductor or other solid state devices covered by the group H01L23/00
- H01L2223/544—Marks applied to semiconductor devices or parts
- H01L2223/54473—Marks applied to semiconductor devices or parts for use after dicing
- H01L2223/54486—Located on package parts, e.g. encapsulation, leads, package substrate
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
- H10H20/01—Manufacture or treatment
- H10H20/036—Manufacture or treatment of packages
- H10H20/0361—Manufacture or treatment of packages of wavelength conversion means
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10H—INORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
- H10H20/00—Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
- H10H20/01—Manufacture or treatment
- H10H20/036—Manufacture or treatment of packages
- H10H20/0362—Manufacture or treatment of packages of encapsulations
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Led Device Packages (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Description
以下、本発明の第1実施形態に係る表示装置について、図面を参照して説明する。
次に、本発明の第2実施形態に係る表示装置について、図面を参照して説明する。なお、第1実施形態と同様の機能を有する構成要素については同じ符号を付し、その説明を省略する。
次に、本発明の第3実施形態に係る表示装置について、図面を参照して説明する。なお、第1実施形態および第2実施形態と同様の機能を有する構成要素については同じ符号を付し、その説明を省略する。
2 下地基板(基板の一例)
3 画素素子
3a 内側画素素子
3b 外側画素素子
4a 内側電極(電極の一例)
4b 外側電極(電極の一例)
5a 内側樹脂(樹脂の一例)
5b 外側樹脂(樹脂の一例)
6 蛍光体層
7 遮光性樹脂
10 成長基板
11 半導体層
R1 表示領域
R2 非表示領域
SP 識別パターン
Claims (12)
- 基板に複数の画素素子がマトリクス状に配置された表示装置であって、
前記複数の画素素子のうち、外周に位置する外側画素素子を非表示領域とし、前記外側画素素子よりも内側に位置する内側画素素子を表示領域とし、
前記内側画素素子の上面を覆う蛍光体層と、
前記外側画素素子の上面を覆う遮光部とを備え、
前記外側画素素子は、隣接する前記内側画素素子の側に向けて側面光を照射すること
を特徴とする表示装置。 - 請求項1に記載の表示装置であって、
前記外側画素素子は、前記内側画素素子の行列を示す識別パターンが設けられていること
を特徴とする表示装置。 - 請求項2に記載の表示装置であって、
前記識別パターンは、文字または図形を描く形状とされていること
を特徴とする表示装置。 - 請求項1から請求項3までのいずれか1つに記載の表示装置であって、
前記複数の画素素子は、それぞれ分離されており、
前記複数の画素素子同士の間には、樹脂が充填されていること
を特徴とする表示装置。 - 請求項4に記載の表示装置であって、
上面視において、前記表示領域のうち、前記樹脂が占める面積は、30%以下とされていること
を特徴とする表示装置。 - 請求項1から請求項5までのいずれか1つに記載の表示装置を備えた表示システム。
- 基板に複数の画素素子がマトリクス状に配置された表示装置の製造方法であって、
前記複数の画素素子を同一の成長基板に形成する成長工程と、
前記成長基板に形成された画素素子を下地基板に接合する接合工程とを含み、
前記複数の画素素子のうち、外周に位置する外側画素素子を非表示領域とし、前記外側画素素子よりも内側に位置する内側画素素子を表示領域とし、
前記内側画素素子の上面を覆う蛍光体層と、
前記外側画素素子の上面を覆う遮光部とを形成し、
前記外側画素素子は、隣接する前記内側画素素子の側に向けて側面光を照射させる構成とすること
を特徴とする表示装置の製造方法。 - 請求項7に記載の表示装置の製造方法であって、
前記複数の画素素子をそれぞれ分離する分離工程と、
前記複数の画素素子同士の間に樹脂を充填する充填工程とを含むこと
を特徴とする表示装置の製造方法。 - 請求項7または請求項8に記載の表示装置の製造方法であって、
前記複数の画素素子を前記成長基板から剥離する剥離工程を含むこと
を特徴とする表示装置の製造方法。 - 請求項9に記載の表示装置の製造方法であって、
前記成長基板から剥離された複数の画素素子の表面を研磨する研磨工程を含むこと
を特徴とする表示装置の製造方法。 - 請求項7から請求項10までのいずれか1つに記載の表示装置の製造方法であって、
前記画素素子は、前記外側画素素子の電極の面積が、前記内側画素素子の電極の面積よりも大きく構成されていること
を特徴とする表示装置の製造方法。 - 請求項7から請求項11までのいずれか1つに記載の表示装置の製造方法であって、
前記外側画素素子は、発光素子とされ、
前記外側画素素子を発光させる評価工程を含むこと
を特徴とする表示装置の製造方法。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018012573A JP6999434B2 (ja) | 2018-01-29 | 2018-01-29 | 表示装置、表示システム、および表示装置の製造方法 |
US16/237,129 US20190237441A1 (en) | 2018-01-29 | 2018-12-31 | Display device, display system, and manufacturing method of display device |
TW108102446A TWI708978B (zh) | 2018-01-29 | 2019-01-22 | 顯示裝置、顯示系統以及顯示裝置的製造方法 |
CN201910060584.4A CN110098214A (zh) | 2018-01-29 | 2019-01-22 | 显示装置、显示系统以及显示装置的制造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018012573A JP6999434B2 (ja) | 2018-01-29 | 2018-01-29 | 表示装置、表示システム、および表示装置の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2019132893A JP2019132893A (ja) | 2019-08-08 |
JP6999434B2 true JP6999434B2 (ja) | 2022-01-18 |
Family
ID=67392365
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018012573A Active JP6999434B2 (ja) | 2018-01-29 | 2018-01-29 | 表示装置、表示システム、および表示装置の製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20190237441A1 (ja) |
JP (1) | JP6999434B2 (ja) |
CN (1) | CN110098214A (ja) |
TW (1) | TWI708978B (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114628403B (zh) * | 2020-11-27 | 2025-02-07 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板母板及其制备方法、显示基板及显示装置 |
JP7381911B2 (ja) | 2021-09-28 | 2023-11-16 | 日亜化学工業株式会社 | 光源及び発光モジュール |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003241683A (ja) | 2001-12-11 | 2003-08-29 | Seiko Epson Corp | 表示装置及び電子機器 |
JP2003345267A (ja) | 2002-05-30 | 2003-12-03 | Canon Inc | 表示装置及びその製造方法 |
JP2004163600A (ja) | 2002-11-12 | 2004-06-10 | Seiko Epson Corp | 電気光学パネル及びその製造方法 |
JP2015049948A (ja) | 2013-08-29 | 2015-03-16 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 有機el表示装置 |
JP2015111636A (ja) | 2013-12-06 | 2015-06-18 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置及び発光装置の製造方法 |
US20170069609A1 (en) | 2015-09-04 | 2017-03-09 | Hong Kong Beida Jade Bird Display Limited | Semiconductor apparatus and method of manufacturing the same |
JP2017098568A (ja) | 2011-12-22 | 2017-06-01 | オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram Opto Semiconductors GmbH | 表示装置および表示装置の製造方法 |
WO2017094461A1 (ja) | 2015-12-01 | 2017-06-08 | シャープ株式会社 | 画像形成素子 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100498849B1 (ko) * | 2001-12-11 | 2005-07-04 | 세이코 엡슨 가부시키가이샤 | 표시 장치 및 전자 기기 |
CN1209662C (zh) * | 2001-12-17 | 2005-07-06 | 精工爱普生株式会社 | 显示装置及电子机器 |
KR101003406B1 (ko) * | 2002-10-09 | 2010-12-23 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 발광장치의 제조방법 |
JP5207670B2 (ja) * | 2006-07-19 | 2013-06-12 | キヤノン株式会社 | 表示装置 |
CN101449202B (zh) * | 2006-08-31 | 2011-02-09 | 夏普株式会社 | 显示面板和包括该显示面板的显示装置 |
EP2530516A4 (en) * | 2010-01-29 | 2014-07-02 | Sharp Kk | LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE |
JP2012208301A (ja) * | 2011-03-29 | 2012-10-25 | Seiko Epson Corp | 液晶装置および投射型表示装置 |
CN105144361B (zh) * | 2013-04-22 | 2019-09-27 | 伊格尼斯创新公司 | 用于oled显示面板的检测系统 |
US9111464B2 (en) * | 2013-06-18 | 2015-08-18 | LuxVue Technology Corporation | LED display with wavelength conversion layer |
KR20150104263A (ko) * | 2014-03-04 | 2015-09-15 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기발광표시장치 |
CN105789251B (zh) * | 2014-12-26 | 2019-03-26 | 昆山国显光电有限公司 | Amoled显示装置 |
US10032757B2 (en) * | 2015-09-04 | 2018-07-24 | Hong Kong Beida Jade Bird Display Limited | Projection display system |
KR102423443B1 (ko) * | 2016-01-15 | 2022-07-21 | 삼성디스플레이 주식회사 | 액정표시장치 및 액정표시장치의 제조 방법 |
WO2017172375A1 (en) * | 2016-03-28 | 2017-10-05 | Groturbel Research Llc | Light-emitting diode displays |
-
2018
- 2018-01-29 JP JP2018012573A patent/JP6999434B2/ja active Active
- 2018-12-31 US US16/237,129 patent/US20190237441A1/en not_active Abandoned
-
2019
- 2019-01-22 TW TW108102446A patent/TWI708978B/zh active
- 2019-01-22 CN CN201910060584.4A patent/CN110098214A/zh active Pending
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003241683A (ja) | 2001-12-11 | 2003-08-29 | Seiko Epson Corp | 表示装置及び電子機器 |
JP2003345267A (ja) | 2002-05-30 | 2003-12-03 | Canon Inc | 表示装置及びその製造方法 |
JP2004163600A (ja) | 2002-11-12 | 2004-06-10 | Seiko Epson Corp | 電気光学パネル及びその製造方法 |
JP2017098568A (ja) | 2011-12-22 | 2017-06-01 | オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram Opto Semiconductors GmbH | 表示装置および表示装置の製造方法 |
JP2015049948A (ja) | 2013-08-29 | 2015-03-16 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 有機el表示装置 |
JP2015111636A (ja) | 2013-12-06 | 2015-06-18 | 日亜化学工業株式会社 | 発光装置及び発光装置の製造方法 |
US20170069609A1 (en) | 2015-09-04 | 2017-03-09 | Hong Kong Beida Jade Bird Display Limited | Semiconductor apparatus and method of manufacturing the same |
WO2017094461A1 (ja) | 2015-12-01 | 2017-06-08 | シャープ株式会社 | 画像形成素子 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2019132893A (ja) | 2019-08-08 |
US20190237441A1 (en) | 2019-08-01 |
TW201932937A (zh) | 2019-08-16 |
CN110098214A (zh) | 2019-08-06 |
TWI708978B (zh) | 2020-11-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7248828B2 (ja) | シリコン上のカラーiledディスプレイ | |
US10700121B2 (en) | Integrated multilayer monolithic assembly LED displays and method of making thereof | |
JP6606517B2 (ja) | 発光装置の製造方法 | |
JP5678629B2 (ja) | 発光装置の製造方法 | |
JPWO2017094461A1 (ja) | 画像形成素子 | |
CN111819687B (zh) | 包括有源像素ic的led像素封装及其制造方法 | |
US20150021634A1 (en) | Display unit using led light sources | |
US20190019781A1 (en) | Transparent active matrix display comprising emitting pixels with colored light-emitting diodes | |
JP4386789B2 (ja) | 発光ダイオード素子の製造方法 | |
JP7670712B2 (ja) | 表示装置 | |
US10746356B2 (en) | Light emitting device | |
JP2015197544A (ja) | 実装基板および電子機器 | |
US11145630B2 (en) | Light emitting diode panel and manufacturing method thereof | |
JP2006313825A (ja) | 表示装置および表示装置の製造方法 | |
JP6999434B2 (ja) | 表示装置、表示システム、および表示装置の製造方法 | |
KR20210006241A (ko) | 마이크로 led 그룹 기판 및 이의 제조 방법 및 마이크로 led 디스플레이 패널 및 이의 제조 방법 | |
KR20220123660A (ko) | 표시 장치 | |
CN113330588A (zh) | 发光元件封装件以及包括该发光元件封装件的显示装置 | |
JP4840371B2 (ja) | 素子転写方法 | |
US11530804B2 (en) | Light-emitting device | |
JP2001326388A (ja) | 半導体発光装置 | |
JP2008263082A (ja) | 表示装置及びその製造方法 | |
JP2008205985A (ja) | Led表示装置及び投射表示装置 | |
JP7585048B2 (ja) | 表示装置の製造方法 | |
CN113851388A (zh) | 显示装置的制造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200917 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210616 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210622 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210818 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20211207 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20211222 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6999434 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |