JP6892277B2 - プローブ及び電気的接続装置 - Google Patents
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Description
<検査装置の構成>
図1は、本発明の第1実施形態に係るプローブ20を備えた電気的接続装置を含む検査装置1を概略的に示す側面図である。なお、説明のため、図面において、上下方向Zと、上下方向Zに直交する左右方向Xと、上下方向Z及び左右方向Xに直交する前後方向Yを規定する。また、上下方向Zは、プローブ20の長手方向とも言い換えられる。
次に、図2を参照して、プローブ支持体18の構成について詳細に説明する。図2は、プローブ支持体18の概略構成を説明するための断面図である。ここで、図2では、説明の簡単化のために9本のプローブ20を示しているが、9本に限定されるものではない。また、図2には、複数のプローブ20の配列が、1列の場合を例示しているが、これ限定されず、上下方向Zから見てマトリックス状の配置など、任意に配置されていても良い。なお、図2では、プローブ20の概略構成を示しており、プローブ20の詳細な構成についは後述する(図3参照)。
次に、図3〜5を参照して、第1実施形態に係るプローブ20の構成について詳細に説明する。図3は、プローブ20の側面図であり、図4は、プローブ支持体18に組み付けたプローブ20の中心軸に沿った断面図であり、図5は、プローブ20をプローブ支持体18への組み付け状況を示す断面図である。
以上のように、本発明の第1実施形態に係るプローブ20では、バレル部50と、第1プランジャー部60と、第2プランジャー部70とを備える。バレル部50は、内径φ1i(所定の内径)を有する第1バレル部51と、第1バレル部51の内側(中心軸CL側)に配置され、内径φ1iよりも小さい外径φ2oを有する第2バレル部52とを備える。すなわち、第1バレル部51と第2バレル部52とは、互いに同心円状に配置される。そして、第1バレル部51は、第1スプリング部151を備え、第2バレル部52は、第2スプリング部152を備える。また、第1プランジャー部60は、第1バレル部51の内径φ1iよりも大きい寸法(幅、又は径)の本体部分61を有する。
次いで、本発明の第1実施形態に係るプローブ20の変形例1について説明する。図6は、本変形例に係るプローブ20を示す側面図である。
次いで、本発明の第1実施形態に係るプローブ20の変形例2について説明する。図7は、本変形例に係るプローブ20を示す断面図である。
以上、上述の実施形態を用いて本発明について詳細に説明したが、当業者にとっては、本発明が本明細書中に説明した実施形態に限定されるものではないということは明らかである。
2…カード状接続装置
12…チャック
14…半導体ウエハ
14a…電極パッド
16…プローブ基板
18…プローブ支持体
20…プローブ
20a…先端部
20b…基端部
31…上方ガイド板
32…下方ガイド板
33…中間ガイド板
50…バレル部
51…第1バレル部
52…第2バレル部
60…第1プランジャー部
70…第2プランジャー部
151…第1スプリング部
152…第2スプリング部
Claims (8)
- 第1接触対象と第2接触対象とを電気的に接続するプローブであって、
上下方向に延びる筒状のバレル部と、
一部が前記バレル部の一端から挿入され、前記第1接触対象に電気的に接触する第1プランジャー部と、
一部が前記バレル部の他端から挿入され、上記第2接触対象に電気的に接触する第2プランジャー部と、を備え、
前記バレル部は、
所定の内径を有する第1バレル部と、
前記第1バレル部の内側に配置され、前記所定の内径よりも小さい外径を有する第2バレル部と、を備え、
前記第1バレル部は、上下方向においてスプリング機能を発揮する第1スプリング部を備え、
前記第2バレル部は、上下方向においてスプリング機能を発揮する第2スプリング部を備え、
前記第1プランジャー部は、前記第1バレル部の内径よりも大きい寸法の本体部分を有し、
前記第1スプリング部と前記第2スプリング部とは、共に、前記第1プランジャー部を前記第1接触対象に向けて押圧する
ことを特徴とするプローブ。 - 前記第1バレル部の上下方向の長さは、前記第2バレル部の上下方向の長さよりも短いことを特徴とする請求項1に記載のプローブ。
- 前記第1スプリング部は、上方第1スプリング部と、前記上方第1スプリング部よりも上下方向の下方に配置される下方第1スプリング部とを備えることを特徴とする請求項1または2記載のプローブ。
- 前記上方第1スプリング部と前記下方第1スプリング部とは、互いの旋回方向が逆の螺旋形状に形成されることを特徴とする請求項3に記載のプローブ。
- 前記第1バレル部と前記第2バレル部とは、分離可能に構成されることを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載のプローブ。
- 前記第1バレル部は、
他の内径を有する外側第1バレル部と、
前記外側第1バレル部の内側に配置され、前記他の内径よりも小さい外径を有する内側第1バレル部と、を備え、
前記外側第1バレル部は、上下方向においてスプリング機能を発揮する外側第1スプリング部を備え、
前記内側第1バレル部は、上下方向においてスプリング機能を発揮する内側第1スプリング部を備えることを特徴とする請求項1乃至5の何れか一項に記載のプローブ。 - 前記バレル部に挿入される前記第2プランジャー部の上端部は、前記第2バレル部に備えられる前記第2スプリング部の下端部よりも上下方向の上方に位置することを特徴とする請求項1乃至6の何れか一項に記載のプローブ。
- 第1接触対象と第2接触対象とを電気的に接続する複数のプローブを備える電気的接続装置であって、
前記プローブは、
上下方向に延びる筒状のバレル部と、
一部が前記バレル部の一端から挿入され、前記第1接触対象に電気的に接触する第1プランジャー部と、
一部が前記バレル部の他端から挿入され、上記第2接触対象に電気的に接触する第2プランジャー部と、を備え、
前記バレル部は、
所定の内径を有する第1バレル部と、
前記第1バレル部の内側に配置され、前記所定の内径よりも小さい外径を有する第2バレル部と、を備え、
前記第1バレル部は、上下方向においてスプリング機能を発揮する第1スプリング部を備え、
前記第2バレル部は、上下方向においてスプリング機能を発揮する第2スプリング部を備え、
前記第1プランジャー部は、前記第1バレル部の内径よりも大きい寸法の本体部分を有し、
前記第1スプリング部と前記第2スプリング部とは、共に、前記第1プランジャー部を前記第1接触対象に向けて押圧する
することを特徴とする電気的接続装置。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017022792A JP6892277B2 (ja) | 2017-02-10 | 2017-02-10 | プローブ及び電気的接続装置 |
CN201880011164.0A CN110268275B (zh) | 2017-02-10 | 2018-01-17 | 探针和电连接装置 |
EP18750952.6A EP3581945B1 (en) | 2017-02-10 | 2018-01-17 | Probe and electrical connection device |
KR1020197024185A KR102137185B1 (ko) | 2017-02-10 | 2018-01-17 | 프로브 및 전기적 접속 장치 |
PCT/JP2018/001240 WO2018147024A1 (ja) | 2017-02-10 | 2018-01-17 | プローブ及び電気的接続装置 |
US16/484,443 US11022627B2 (en) | 2017-02-10 | 2018-01-17 | Probe and electric connecting apparatus |
TW107102546A TWI661201B (zh) | 2017-02-10 | 2018-01-24 | 探針及電連接裝置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017022792A JP6892277B2 (ja) | 2017-02-10 | 2017-02-10 | プローブ及び電気的接続装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018128404A JP2018128404A (ja) | 2018-08-16 |
JP6892277B2 true JP6892277B2 (ja) | 2021-06-23 |
Family
ID=63107424
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017022792A Active JP6892277B2 (ja) | 2017-02-10 | 2017-02-10 | プローブ及び電気的接続装置 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11022627B2 (ja) |
EP (1) | EP3581945B1 (ja) |
JP (1) | JP6892277B2 (ja) |
KR (1) | KR102137185B1 (ja) |
CN (1) | CN110268275B (ja) |
TW (1) | TWI661201B (ja) |
WO (1) | WO2018147024A1 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113167817B (zh) * | 2018-12-13 | 2024-04-23 | 株式会社村田制作所 | 探针 |
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2017
- 2017-02-10 JP JP2017022792A patent/JP6892277B2/ja active Active
-
2018
- 2018-01-17 CN CN201880011164.0A patent/CN110268275B/zh active Active
- 2018-01-17 US US16/484,443 patent/US11022627B2/en active Active
- 2018-01-17 KR KR1020197024185A patent/KR102137185B1/ko active Active
- 2018-01-17 EP EP18750952.6A patent/EP3581945B1/en active Active
- 2018-01-17 WO PCT/JP2018/001240 patent/WO2018147024A1/ja unknown
- 2018-01-24 TW TW107102546A patent/TWI661201B/zh active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3581945B1 (en) | 2021-03-03 |
TWI661201B (zh) | 2019-06-01 |
US20200025797A1 (en) | 2020-01-23 |
CN110268275B (zh) | 2021-08-06 |
KR102137185B1 (ko) | 2020-08-13 |
EP3581945A4 (en) | 2020-09-02 |
CN110268275A (zh) | 2019-09-20 |
JP2018128404A (ja) | 2018-08-16 |
US11022627B2 (en) | 2021-06-01 |
WO2018147024A1 (ja) | 2018-08-16 |
TW201831912A (zh) | 2018-09-01 |
KR20190105082A (ko) | 2019-09-11 |
EP3581945A1 (en) | 2019-12-18 |
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A621 | Written request for application examination |
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