JP6853440B2 - 金属銅及び酸化銅含有粉、金属銅及び酸化銅含有粉の製造方法、及び、スパッタリングターゲット材、スパッタリングターゲット材の製造方法 - Google Patents
金属銅及び酸化銅含有粉、金属銅及び酸化銅含有粉の製造方法、及び、スパッタリングターゲット材、スパッタリングターゲット材の製造方法 Download PDFInfo
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Description
ここで、上述の導電性フィルムにおいては、ロール状に巻いた際に、隣接する導電性フィルム同士が密着してしまい、密着した導電性フィルムを剥がした際に、透明導電体層に傷が生じるといった問題があった。
しかしながら、酸化銅ターゲットを用いた場合には、ターゲット自体の抵抗が非常に高く、DC(直流)スパッタが困難であることから、通常、RF(高周波)スパッタを行っている。このRF(高周波)スパッタにおいては、成膜速度が遅く、生産性が低下するといった問題があった。
また、無酸素銅ターゲットを用いて酸素ガスの存在下でスパッタリングを行う場合には、銅と酸素との反応を十分に制御することができず、均一な酸化銅膜を成膜することが困難であった。
これら特許文献2,3に開示されたスパッタリングターゲット材においては、金属銅相を有しているので、比抵抗値が低くなり、DC(直流)スパッタによって酸化銅膜を成膜することが可能となる。
しかしながら、ホットプレスによって焼結体を製造する場合には、加圧方向が限定されるため、得られた焼結体の形状によっては、その後の機械加工における加工量を多くする必要がある。このため、スパッタリングターゲット材を効率良く製造することが困難であった。
また、装置サイズの制限が比較的緩和で大型なチャンバー構造が取れるHIPで製造する方がターゲットの大型化には有利である。
上述の熱間等方加圧法(HIP)によって焼結する場合には、成形容器内に原料粉を充填し、この成形容器を等方加圧することになる。このため、成形容器内への原料粉の充填率が重要となる。なお、成形容器への充填率が60%未満となると、加圧時に容器が大きく変形してしまい、焼結体を得ることが困難となる。
上述の金属銅粉と酸化銅粉とを混合した混合粉においては、流動性が低く、成形容器内への充填率が不十分であった。このため、成形容器内への原料粉の充填率を60%以上と高くすることが困難であった。
よって、金属銅粉と酸化銅粉の混合粉末を用いて、上述の熱間等方加圧法(HIP)によって焼結を行うことができなかった。
金属銅粉においては、粒子間の摩擦力が低いため、流動性は高くなるが、タッピングしても充填が促進されず、充填率が低くなることが分かった。一方、酸化銅粉においては、粒子同士の摩擦力が高いため、タッピングした際に充填が促進され、充填率が高くなるが、流動性が不十分であることが分かった。このため、単に金属銅粉と酸化銅粉とを混合した混合粉においては、流動性が低くなり、かつ、充填率が不十分となった。
そこで、容器内への充填率を高くするためには、流動性を確保しつつ、タッピングした際に充填が十分に促進されるように構成する必要があるとの知見を得た。
よって、容器内への充填率を高くすることができ、熱間等方加圧法(HIP)によって焼結を行うことができる。
この場合、前記複合粒子が、前記金属銅粉の外周部に形成された前記凹部に前記酸化銅粉が充填された構造とされているので、前記金属銅粉の外周部に前記酸化銅粉を確実に付着させることができる。よって、流動性を確保することができ、かつ、充填率を向上させることができる。
この場合、前記金属銅粉のモル分率が50%以上とされているので、流動性の低い酸化銅粉の存在比率が相対的に少なくなり、流動性を確保することができる。一方、前記金属銅粉のモル分率が75%以下とされているので、タッピング時に充填を十分に促進させることができ、充填率を向上させることができる。
この場合、金属銅及び酸化銅含有粉の安息角が40°以上とされているので、流動性が必要以上に高くなく、粒子間の摩擦力が確保されることになり、タッピング時に充填を十分に促進させることができ、充填率を向上させることが可能となる。一方、金属銅/酸化銅含有粉の安息角が56°以下とされているので、十分な流動性を確保することができる。
この場合、前記金属銅粉の平均粒径および前記酸化銅粉の平均粒径が上述の範囲内とされているので、前記金属銅粉の外周部に前記酸化銅粉を確実に付着させることができ、複合粒子を確実に生成することが可能となる。
よって、流動性が確保され、タッピング時に充填率を十分に向上させることが可能な金属銅/酸化銅含有粉を製造することができる。
この構成のスパッタリングターゲット材によれば、金属銅及び酸化銅含有粉の焼結体で構成されているので、比抵抗値が低く、DC(直流)スパッタによって酸化銅膜を成膜することが可能となる。そして、断面組織に占めるボイドの面積率が2%未満に制限されているので、スパッタ時における異常放電の発生を抑制でき、安定して、酸化銅膜を成膜することができる。
あるいは、本発明のスパッタリングターゲット材においては、板形状をなし、スパッタ面の絶対最大長が450mm以上とされていてもよい。ここで、絶対最大長とは、スパッタ面の輪郭上の任意の2点間の距離の内、最大のものを意味する。
これらの場合、スパッタ面の面積が確保され、大面積の基材に対して効率的に酸化銅膜を成膜することができる。
また、HIP焼結工程で、加圧圧力を80MPa以上としているので、十分な加圧圧力を負荷して焼結することにより、ボイドを減少させることができ、断面組織に占めるボイドの面積率を2%未満とすることができる。
さらに、熱間等方加圧法によって焼結しているので、大型のスパッタリングターゲット材を効率的に製造することができる。
本実施形態に係る金属銅/酸化銅含有粉は、例えば、酸化銅膜を成膜する際に使用されるスパッタリングターゲット材を構成する焼結体を製造する際に、焼結原料として好適に用いられるものである。
本実施形態の金属銅/酸化銅含有粉の観察写真を図1に示す。また、金属銅粉と酸化銅粉を混合した混合粉の観察写真を図2に示す。
そして、本実施形態に係る金属銅/酸化銅含有粉10においては、金属銅粉11の外周部に酸化銅粉12が付着した構造の複合粒子15を有している。
そして、上述の複合粒子15は、金属銅粉11の外周部に形成された前記凹部に酸化銅粉12が充填された構造とされている。
また、本実施形態では、金属銅粉11の平均粒径は、30μm以上200μm以下の範囲内とされている。
また、本実施形態では、酸化銅粉12の平均粒径は、1μm以上10μm以下の範囲内とされている。
さらに、本実施形態に係る金属銅/酸化銅含有粉10においては、安息角が40°以上56°以下の範囲内とされていることが好ましい。
金属銅粉11は、流動性が高いが、タッピングを実施しても充填率が向上しない。これは、タッピングを実施しても、粒子間の摩擦力が低いため、タッピング時に粒子が滑るように移動するためと推測される。そこで、本実施形態では、金属銅粉11の外周部に酸化銅粉12を付着させることにより、粒子間の摩擦力を確保し、タッピング時に充填を十分に促進させ、充填率の向上を図っている。
また、複合粒子15が存在することにより、流動性の低い酸化銅粉12の存在比率が相対的に少なくなり、流動性が確保されることになる。
ここで、複合粒子15を、金属銅粉11の外周部に形成された前記凹部に酸化銅粉12が充填された構造とすることにより、金属銅粉11と酸化銅粉12とが強固に固着されることになる。
本実施形態である金属銅/酸化銅含有粉10において、金属銅粉11のモル分率を50%以上とした場合には、流動性の低い酸化銅粉12の含有量が相対的に少なくなり、流動性を確保することができる。一方、金属銅粉11のモル分率を75%以下とした場合には、複合粒子15を形成しない酸化銅粉12が存在することを抑制でき、タッピング時に充填を十分に促進させることができ、充填率を向上させることが可能となる。
なお、金属銅粉11のモル分率の下限は、55%以上とすることが好ましく、60%以上とすることがさらに好ましい。一方、金属銅粉11のモル分率の上限は、70%以下とすることが好ましく、65%以下とすることがさらに好ましい。
粉体を自由落下させた際に形成される粉体層の安息角が小さいほど、粉体の流動性が高いことになる。なお、粉体の安息角は、例えばJIS R9301−2−2「アルミナ粉末−第2部:物性測定方法−2:安息角」に規定された方法で測定することができる。
ここで、本実施形態である金属銅/酸化銅含有粉10において、安息角を40°以上とした場合には、流動性が必要以上に高くならず、粒子同士の摩擦力が確保され、タッピング時に充填を十分に促進させることができ、充填率を向上させることが可能となる。一方、本実施形態である金属銅/酸化銅含有粉10において、安息角を56°以下とした場合には、流動性を確保することが可能となる。
なお、金属銅/酸化銅含有粉10の安息角の下限は、45°以上とすることが好ましく、48°以上とすることがさらに好ましい。一方、金属銅/酸化銅含有粉10の安息角の上限は、54°以下とすることが好ましく、52°以下とすることがさらに好ましい。
本実施形態である金属銅/酸化銅含有粉10においては、上述のように、金属銅粉11は、酸化銅粉12よりも平均粒径が大きくされている。そして、金属銅粉の平均粒径を30μm以上200μm以下の範囲内とし、酸化銅粉12の平均粒径を1μm以上10μm以下の範囲内とした場合には、金属銅粉11の外周部に酸化銅粉12を確実に付着させることができ、上述の複合粒子15を確実に生成することが可能となる。
なお、金属銅粉11の平均粒径の下限は、40μm以上とすることが好ましく、50μm以上とすることがさらに好ましい。一方、金属銅粉11の平均粒径の上限は、150μm以下とすることが好ましく、100μm以下とすることがさらに好ましい。
また、酸化銅粉12の平均粒径の下限は、2μm以上とすることが好ましく、3μm以上とすることがさらに好ましい。一方、酸化銅粉12の平均粒径の上限は、8μm以下とすることが好ましく、7μm以下とすることがさらに好ましい。
まず、上述した金属銅粉11と酸化銅粉12を準備する。そして、金属銅粉11と酸化銅粉12をそれぞれ所定の比率となるように秤量し、ヘンシェルミキサー等の混合装置を用いて混合する。このとき、金属銅粉の酸化を防ぐために、混合装置内の雰囲気をAr等の不活性ガス雰囲気とすることが好ましい。
次に、上述のようにして得られた混合粉を加圧して圧粉体を成形する。ここで、圧粉体を成形する際には、一軸加圧プレス機を用いてもよい。なお、加圧圧力は、100MPa以上200MPa以下の範囲内とすることが好ましい。
この圧縮工程S02において、金属銅粉11の外周部に酸化銅粉12が圧着されるとともに、金属銅粉11の外周部に形成された凹部に酸化銅粉12が充填される。
上述のようにして得られた圧粉体を粉砕して粉砕粉を得る。ここで、粉砕方法については、特に制限はなく、手動で粉砕してもよいし、粉砕装置を用いて粉砕してもよい。
次に、得られた粉砕粉を篩等によって分級して、所定の粒度分布の金属銅/酸化銅含有粉10を得る。この金属銅/酸化銅含有粉10には、金属銅粉11の外周部に酸化銅粉12が付着した構造の複合粒子15が含まれることになる。
次に、本実施形態に係るスパッタリングターゲット材について説明する。本実施形態に係るスパッタリングターゲット材は、DC(直流)スパッタにより、酸化銅膜を成膜する際に使用されるものである。
このスパッタリングターゲット20は、図4に示すように、軸線Oに沿って延在する円筒形状をなすスパッタリングターゲット材21と、このスパッタリングターゲット材21の内周側に挿入された円筒形状のバッキングチューブ22とを備えている。
そして、円筒形状のスパッタリングターゲット材21とバッキングチューブ22は、In又はIn合金からなる接合層23を介して接合されている。
なお、ボイドの面積率は、断面観察写真を、市販の画像ソフト等によって画像処理して二値化し、二値化した画像でボイドと認識された領域の面積を測定することで算出することができる。
このため、バッキングチューブ22としては、機械的強度、電気伝導性及び熱伝導性に優れていることが求められており、例えばSUS304等のステンレス鋼、チタン等で構成されている。
ここで、このバッキングチューブ22のサイズは、例えば外径DBが119.5mm≦DB≦139.5mmの範囲内、内径dBが110mm≦dB≦130mmの範囲内、軸線O方向長さLBが170mm≦LB≦2000mmの範囲内とされている。
まず、上述した本実施形態である金属銅/酸化銅含有粉10を準備する。この金属銅/酸化銅含有粉10を成形容器内に充填する。充填時には、治具を用いて金属銅/酸化銅含有粉10を押し固めた。これにより、充填率を60%以上とした。なお、成形容器への充填率は、以下のようにして算出することができる。
つぎに、金属銅粉の重量WCu(g)、酸化銅粉(CuO)の重量WCuO(g)、酸化銅粉(Cu2O)の重量WCu2O(g)、金属銅の理論密度DCu=8.9g/cm3、酸化銅(CuO)の理論密度DCuO=6.3g/cm3、酸化銅(Cu2O)の理論密度DCu2O=6.0g/cm3を用いて、以下の式によって、金属銅/酸化銅含有粉10の理論密度を算出する。
(理論密度)=(WCu+WCuO+WCu2O)/(WCu/DCu+WCuO/DCuO+WCu2O/DCu2O)
そして、上述の嵩密度と理論密度から、以下の式により、「充填率(%)」が算出される。
(充填率)=(嵩密度)/(理論密度)×100
次に、金属銅/酸化銅含有粉10を充填した成形容器の蓋を溶接で封止し、事前に蓋に接続した脱気管を真空ポンプへ接続し、成形容器内部を真空引きしながら加熱し、内部のガスを脱気し、脱気が終了したら脱気管を封止する。
次に、成形容器内に充填された金属銅/酸化銅含有粉10を、熱間等方加圧法によって、加圧及び加熱して焼結し、焼結体を得る。
ここで、加圧圧力を80MPa以上150MPa以下の範囲内、加熱温度を700℃以上850℃以下の範囲内とする。
また、加熱温度の下限は720℃以上とすることが好ましく、740℃以上とすることがさらに好ましい。一方、加熱温度の上限は850℃以下とすることが好ましく、800℃以下とすることがさらに好ましい。
HIP焼結工程S13で得られた焼結体に対して、機械加工を行うことにより、所定の形状及び寸法のスパッタリングターゲットを得る。
また、金属銅粉11の外周部に凹部が形成されている場合には、この凹部に酸化銅粉12を十分に充填させることが可能となる。
よって、流動性が確保され、かつ、充填率に優れた金属銅/酸化銅含有粉10を製造することができる。
また、断面組織に占めるボイドの面積率が2%未満に制限されているので、スパッタ時における異常放電の発生を抑制でき、安定して、酸化銅膜を成膜することができる。
さらに、本実施形態においては、スパッタリングターゲット材21は、円筒形状をなしており、軸線O方向長さLTが150mm≦LT≦300mmの範囲内とされているので、スパッタ面(円筒面)の面積が確保され、大面積の基材に対して効率的に酸化銅膜を成膜することができる。
また、HIP焼結工程S13で、加圧圧力を80MPa以上150MPa以下の範囲内としているので、十分な加圧圧力を負荷して焼結することにより、ボイドを減少させることができ、断面組織に占めるボイドの面積率を2%未満とすることができる。
さらに、熱間等方加圧法によって焼結しているので、大型のスパッタリングターゲット材21を効率的に製造することができる。
例えば、本実施形態では、金属銅粉として電解銅粉を用いるものとして説明したが、これに限定されることはなく、他の金属銅粉を用いてもよい。
金属銅粉として、電解銅粉(純度:99.99mass%以上、平均粒径:75μm)を準備した。また、酸化銅粉として、CuO粉(純度:99.99mass%以上、平均粒径:5μm)を準備した。
これら金属銅粉及び酸化銅粉を、表1に記載のモル比になるように秤量し、ヘンシェルミキサーを用いてAr雰囲気下で混合し、金属銅粉及び酸化銅粉の混合粉を得た。
なお、比較例においては、ヘンシェルミキサーを用いて混合した金属銅粉及び酸化銅粉の混合粉とした。
得られた金属銅/酸化銅含有粉をエポキシ樹脂内に分散させ、これを硬化させた後、研磨、イオンミリング加工を実施して観察試料を作成した。この観察試料を倍率50倍から500倍でSEM観察した。BSE−COMPO像における元素コントラストから、金属銅粉の外周部に酸化銅粉が付着した構造の複合粒子の有無を確認した。評価結果を表1に示す。
ホソカワミクロン株式会社製パウダーテスターPT−Xを用いて、注入法によって測定した。
まず、200cm3の粉体を、装置内に設置した篩付き供給容器に充填した。篩は、目開きが710μmのものを使用した。
供給容器を上下方向に20秒間振動させ、粉体を自由落下でふるい落とし、装置に設置した安息角テーブル上に堆積させた。
安息角テーブルから粉体が溢れた時点で粉体の供給を停止し、形成された粉体層の安息角を測定した。評価結果を表1に示す。
SPCC(普通鋼)からなる成形容器に、粉体を充填した。充填時は、治具を押すことによって粉体を押し固めた。この時の充填率を表1に示す。なお、充填率は、上述の実施形態の欄に記載した式によって算出した。
成形容器の蓋を溶接で封止し、事前に蓋に接続した脱気管を真空ポンプへ接続し、成形容器内部を真空引きしながら380℃まで加熱し、内部のガスを脱気した。脱気後は、脱気管を封止した。脱気後の成形容器を、800℃、98MPaでHIP処理を行った。
そして、HIP処理を実施した際の成形容器の変形状態、成形容器の割れの有無、ボイドの面積率について評価した。
なお、参考例1として、ヘンシェルミキサーを用いて混合した金属銅粉及び酸化銅粉の混合粉を用いて、ホットプレス法(加圧圧力30MPa)によって焼結体を製造し、焼結体のボイドの面積率を評価した。
得られた焼結体から観察試料を採取し、切断面を研磨してSEM観察した。倍率は500倍、視野は245μm×170μmとした。得られたSEM画像に対して、Windows用のフリーウエアであるFiji(https://imagej.net/Fiji)を用いてボイド部分と非ボイド部の分離を実施した。フリーハンドラインで断面組織中のボイド部、及び非ボイド部をそれぞれ10か所指定し、得られた分離後の画像を白黒画像に変換して二値化処理を実施した。得られた二値化像から、ボイド部の面積を算出し、全てのボイド部の面積の合計値を、SEM画像中の二値化処理を行った全領域の面積で割ってボイド面積率を算出した。
ここで、図6に、焼結体の断面観察結果の二値化処理像を示す。(a)がHIP焼結した本発明例1、(b)がホットプレス焼結した参考例1である。
また、ホットプレス焼結した参考例1においては、図6(b)に示すように、ボイドが多く存在し、ボイドの面積率が2%を超えた。
よって、本発明例であれば、HIPによって焼結体を安定して製造することが可能であった。
表2に示す形状及び寸法のSPCC(普通鋼)からなる成形容器を準備し、実施例1における本発明例1の金属銅/酸化銅含有粉を充填して、実施例1と同様の条件において、HIP焼結を実施した。その後、機械加工により成型容器を除去して焼結体を取り出し、寸法の測定を実施した。
本発明例1の金属銅/酸化銅含有粉を用いることにより、一般的な規模の真空ホットプレス装置では焼結することが困難である、スパッタ面の絶対最大長が450mm以上の平板、及び、軸方向の長さ150mm以上の円筒の、割れの無い焼結体を得ることができた。
本発明例21,22として、上述の実施例1における本発明例1の金属銅/酸化銅含有粉、本発明例5の金属銅/酸化銅含有粉を準備した。これらを、実施例2の本発明例16に示す形状及び寸法の円筒型の焼結体を各3本ずつ作製し、これを機械加工することにより、外径155mm、内径135mm、長さ198mmの寸法の3本のスパッタリングターゲット材を得た。
これをTi製の長さ640mmのバッキングチューブに3本並べて接合し、円筒型のスパッタリングターゲットを得た。
これを上記と同じバッキングチューブに接合し、参考例のスパッタリングターゲットとした。
上述のスパッタリングターゲットを、昭和真空株式会社製の円筒型スパッタ装置SPH−2324−MFに装着し、スパッタ試験を行った。スパッタ条件は、電力:直流1500W、ガス圧:Arガス、0.4Paとした。
この条件で1時間の放電を行い、発生した異常放電の回数を直流電源付属のアークカウント機能により計数し記録した。その結果を表3に示す
スパッタ試験後のスパッタリングターゲット材をバッキングチューブから取り外し、所定のサイズに切断して、樹脂埋めして断面観察し、実施例1と同様に、ボイドの面積率を測定した。その結果を表3に示す。
これに対して、本発明の金属銅/酸化銅含有粉を用いてHIP焼結した本発明例21,22においては、ボイドの面積率が2%未満に抑えられており、異常放電回数も9回以下となった。よって、本発明のスパッタリングターゲットにおいては、安定して酸化銅膜が成膜可能であった。
11 金属銅粉
12 酸化銅粉
15 複合粒子
21 スパッタリングターゲット材
Claims (10)
- 金属銅粉と酸化銅粉と不可避不純物からなる金属銅及び酸化銅含有粉であって、
前記金属銅粉は、前記酸化銅粉よりも平均粒径が大きくされており、
前記金属銅粉の外周部に前記酸化銅粉が付着した構造の複合粒子を有していることを特徴とする金属銅及び酸化銅含有粉。 - 前記金属銅粉の外周部には、凹部が形成されており、前記複合粒子は、前記金属銅粉の外周部に形成された前記凹部に前記酸化銅粉が充填された構造とされていることを特徴とする請求項1に記載の金属銅及び酸化銅含有粉。
- 前記金属銅粉のモル分率が50%以上75%以下の範囲内とされていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の金属銅及び酸化銅含有粉。
- 安息角が40°以上56°以下の範囲内とされていることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか一項に記載の金属銅及び酸化銅含有粉。
- 前記金属銅粉の平均粒径が30μm以上200μm以下の範囲内とされ、前記酸化銅粉の平均粒径が1μm以上10μm以下の範囲内とされていることを特徴とする請求項1から請求項4のいずれか一項に記載の金属銅及び酸化銅含有粉。
- 請求項1から請求項5のいずれか一項に記載の金属銅及び酸化銅含有粉を製造する金属銅及び酸化銅含有粉の製造方法であって、
金属銅粉と酸化銅粉とを混合する混合工程と、
得られた混合粉を圧縮して圧粉体を形成する圧縮工程と、
前記圧粉体を粉砕する粉砕工程と、
を備えていることを特徴とする金属銅及び酸化銅含有粉の製造方法。 - 金属銅及び酸化銅含有粉の焼結体からなり、断面組織に占めるボイドの面積率が2%未満であることを特徴とするスパッタリングターゲット材。
- 円筒形状をなし、軸線方向長さが150mm以上とされていることを特徴とする請求項7に記載のスパッタリングターゲット材。
- 板形状をなし、スパッタ面の絶対最大長が450mm以上とされていることを特徴とする請求項7に記載のスパッタリングターゲット材。
- 金属銅及び酸化銅含有粉の焼結体からなるスパッタリングターゲット材の製造方法であって、
請求項1から請求項5のいずれか一項に記載の金属銅及び酸化銅含有粉を成形容器に充填する粉末充填工程と、前記成形容器内に充填した前記金属銅及び酸化銅含有粉を、熱間等方加圧法によって加圧及び加熱して焼結するHIP焼結工程と、を有し、
前記粉末充填工程では、前記金属銅及び酸化銅含有粉の充填率を60%以上とし、
前記HIP焼結工程では、加圧圧力を80MPa以上とすることを特徴とするスパッタリングターゲット材の製造方法。
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