JP6831657B2 - カソード電極 - Google Patents
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Description
[1]還元反応を行なうためのカソード電極であって、改質処理した外層をもつ2層以上の複層カーボンナノチューブを含む複数本のカーボンナノチューブからなり、空隙率が8〜80%である多孔質炭素皮膜を有することを特徴とするカソード電極。
[2]還元反応を行なうためのカソード電極であって、改質処理した外層をもつ2層以上の複層カーボンナノチューブを含む複数本のカーボンナノチューブからなり、ラマンスペクトルにおけるDバンドピーク強度に対するGバンドピーク強度の比(G/D比)が30未満である多孔質炭素皮膜を有することを特徴とするカソード電極。
[3]還元反応を行なうためのカソード電極であって、改質処理した外層をもつ2層以上の複層カーボンナノチューブを含む複数本のカーボンナノチューブからなり、空隙率が8〜80%であり、かつラマンスペクトルにおけるDバンドピーク強度に対するGバンドピーク強度の比(G/D比)が30未満である多孔質炭素皮膜を有することを特徴とするカソード電極。
[4]前記多孔質炭素皮膜を構成する前記カーボンナノチューブは、5〜20質量%のカルボン酸を含有する上記[1]〜[3]のいずれか1項に記載のカソード電極。
[5]前記多孔質炭素皮膜の比表面積が、10〜10,000m2/gの範囲である上記[1]〜[4]のいずれか1項に記載のカソード電極。
[6]前記複数本のカーボンナノチューブに占める、2層および3層の複層カーボンナノチューブの本数割合が、30%以上である上記[1]〜[5]のいずれか1項に記載のカソード電極。
[7]前記多孔質炭素皮膜は、水に対する接触角が90°以下である上記[1]〜[6]のいずれか1項に記載のカソード電極。
[8]還元反応における出発物質が二酸化炭素である上記[1]〜[7]のいずれか1項に記載のカソード電極。
[9]前記多孔質炭素皮膜の厚さは、0.1〜300mmの範囲である上記[1]〜[8]のいずれか1項に記載のカソード電極。
[10]前記多孔質炭素皮膜を表面層として積層形成してなる基材をさらに有する上記[1]〜[9]のいずれか1項に記載のカソード電極。
[11]前記基材が、ニオブ、銅、アルミニウムおよびチタンから選択される1種の金属もしくは該金属の1種以上を含有する合金、ステンレス鋼、シリコンまたはアルミナである上記[10]に記載のカソード電極。
図1は、第1の実施形態のカソード電極の概略断面を示したものである。
図1に示すカソード電極1は、還元反応を行なうためのカソード電極であって、基材2と、該基材2上に、改質処理した外層をもつ2層以上の複層カーボンナノチューブ(図示せず)を含む複数本のカーボンナノチューブCからなる多孔質炭素皮膜3を有している。
第2の実施形態に係るカソード電極は、上述した第1の実施形態と基本的な構成が同じであることから、第1の実施形態とは異なる点についてだけ以下で説明する。
第3の実施形態に係るカソード電極は、上述した第1及び第2の実施形態の双方を満足する構成および効果を有するものであるので、説明は省略する。
その他の実施形態としては、多孔質炭素皮膜3を構成するカーボンナノチューブCが、5〜20質量%のカルボン酸を含有することが好ましい。カーボンナノチューブC中に占めるカルボン酸の含有量が5質量%未満だと、電極の反応性が低く、過電圧が高くなるおそれがあり、20質量%超えだと、導入した欠陥が多すぎて、導電性が低下し、電流密度が低下するおそれがある。
特開2016−17005号公報の実施例1に記載の縦型の浮遊触媒気相成長法(CCVD)による製造装置と同様の装置を用いることにより、カーボンナノチューブを合成し、続いて硝酸と硫酸の混合液中で一定時間静置することでカーボンナノチューブに所定量のカルボン酸を導入した。さらに基材上にカーボンナノチューブの分散液をスピンコーティングでコーティングし乾燥することで、表1に示す基材上に、表1に示す空隙率、G/D比、カルボン酸含有量、比表面積、皮膜を構成する全CNTに占める2、3層のCNTの本数割合、水の接触角、皮膜厚さを有する多孔質炭素皮膜を形成し、カソード電極を得た。なお、空隙率と比表面積は、スピンコーティングするカーボンナノチューブ溶液の濃度とスピンコーティングの条件で制御した。G/D比は、カーボンナノチューブの合成温度と硝酸と硫酸の混合液中での静置時間で制御した。カルボン酸含有量と水の接触角は、硝酸と硫酸の混合液中での静置時間で制御した。皮膜を構成する全CNTに占める2、3層のCNTの本数割合は、カーボンナノチューブの合成条件で制御した。皮膜厚さは、スピンコーティングの際に使うカーボンナノチューブ分散液の量で制御した。
カソード電極として、市販のダイヤモンド電極(デノラ・ペルメレック社製)を用いた。
カソード電極として、市販のグラッシーカーボン電極(ビー・エー・エス社製)を用いた。
上記実施例および比較例に係るカソード電極について、下記に示す各種測定および特性評価を行った。各特性の評価条件は下記の通りである。結果を表1に示す。
空隙率の測定は、以下の手順で行った。まず、多孔質炭素皮膜の断面のSEM写真から多孔質炭素皮膜の膜厚を求めた。続いて、5cm x5cm程度の範囲の多孔質炭素皮膜を基材から剥がして回収し、重量を測定した。続いて、カーボンナノチューブの比重を2として、基材から剥がした多孔質炭素皮膜の重量を比重で割ることで、多孔質炭素皮膜のうちカーボンナノチューブが占有する体積を求めた。続いて、基材から剥がした多孔質炭素皮膜の面積とSEMで算出した膜厚を掛けることで、多孔質炭素皮膜の外容積を求めた。続いて、外容積からカーボンナノチューブが占有する体積を引くことで、空隙の体積を求めた。続いて、空隙の体積を多孔質炭素皮膜の外容積で割り、100を乗じることによって空隙率(%)を求めた。
G/D比は、ラマンスペクトルを測定し、グラファイト構造に由来する1590cm-1付近のG-bandのピーク強度と、欠陥由来の1350cm-1付近のD-bandのピーク強度を求め、前者の値を後者の値で割ることで求めた。
カルボン酸含有量は、XPSによりO=C-Oに対応するピーク強度から測定した。
多孔質炭素皮膜を構成する全CNTに占める2、3層のCNTの本数割合は、多孔質炭素皮膜の断面をTEMで観察し、任意の100本のカーボンナノチューブを選び、そのうち2層および3層の層数のカーボンナノチューブの本数を数え、これを総本数(100本)で割って算出した。
多孔質炭素皮膜に対する水の接触角は、カソード電極上に水を1μL滴下し、接触角計により測定した。
多孔質炭素皮膜の比表面積の測定方法は、気体吸着法で行なった。
上記実施例および比較例のカソード電極を用いて、下記に示す特性評価を行った。各特性の評価条件は下記の通りである。
実施例1〜10および比較例1〜4で得られたカソード電極を、二酸化炭素のカソード還元装置のカソード電極として用い、二酸化炭素の還元試験を行った。
なお、電解液は、50mMの炭酸水素カリウム水溶液を用い、各槽26a、26bに30mLずつ用いた。アノード電極30には、白金板(ニラコ社製)を用いた。電気分解は、電圧2.0Vで60分の条件で行った。また、電気分解中は、供給管35より、二酸化炭素ガスを10mL/分でバブリングした(図中矢印Gin方向)。また、カソードより発生したガスは、分析管33により収集し(図中矢印Gout方向)、ガスクロマトグラフィーで一酸化炭素とメタンの分析を行った。カラムは、SUPELCO CARBOXEN 1010PLOT 30m×0.32mmlDを用い、検出器はFID(島津製作所社製)を用いた。反応後の溶液はHPLC分析を行い、ホルムアルデヒドとギ酸の分析を行った。ホルムアルデヒドの検出は、カラムはInertsil ODS-3(ジーエルサイエンス社製)を用い、検出はUV検出器(ジーエルサイエンス社製)を用いた。ギ酸の検出は、カラムは、Inertsil Ph-3(ジーエルサイエンス社製)とGL-C610H(ジーエルサイエンス社製)を用い、検出はRI検出器(ジーエルサイエンス社製)を用いた。
CO2+2H++2e− → CO+H2O
CO2+4H++4e− → HCHO+H2O
CO2+8H++8e− → CH4+2H2O
CO2+2H++2e− → HCOOH
結果を表1に示す。なお、本実施例では、生成した各ガス量をファラデー効率(%)として数値化し、その数値で各ガスの生成量を評価した。本実施例では、生成した、一酸化炭素(CO)、ホルムアルデヒド(HCHO)、メタン(CH4)およびギ酸(HCOOH)のファラデー効率の和が40%以上のものを合格レベルとして評価した。
2 基材
3 多孔質炭素皮膜
11 電解装置
13 電解セル(CO2カソード還元試験装置)
15 ガス回収装置
17 電解液循環装置
19 二酸化炭素供給部
21 電源
25a、25b 電解液
26a、26b 槽
27 金属メッシュ
28 参照電極(銀/塩化銀)
29 カソード電極
30 アノード電極
31 陽イオン交換膜
33 ガス回収管
35 CO2ガス供給管
37 シール部材
Claims (9)
- 二酸化炭素をC含有物質に変換するためのカソード電極であり、
酸処理した外層をもつ2層以上の複層カーボンナノチューブを含む複数本のカーボンナノチューブからなり、空隙率が28〜37%であり、かつラマンスペクトルにおけるDバンドピーク強度に対するGバンドピーク強度の比(G/D比)が6.3以下である多孔質炭素皮膜を有し、前記酸処理により、前記多孔質炭素皮膜は、水に対する接触角が90°以下となっていることを特徴とするカソード電極。 - 二酸化炭素をC含有物質に変換するためのカソード電極であり、
改質処理により欠陥を導入した外層をもつ2層以上の複層カーボンナノチューブを含む複数本のカーボンナノチューブからなり、空隙率が28〜37%であり、かつラマンスペクトルにおけるDバンドピーク強度に対するGバンドピーク強度の比(G/D比)が6.3以下である多孔質炭素皮膜を有し、前記欠陥を導入した結果、前記多孔質炭素皮膜は、水に対する接触角が90°以下となっていることを特徴とするカソード電極。 - 前記多孔質炭素皮膜を構成する前記カーボンナノチューブは、5〜20質量%のカルボン酸を含有する請求項1または2に記載のカソード電極。
- 前記多孔質炭素皮膜の比表面積が、10〜10,000m2/gの範囲である請求項1〜3のいずれか1項に記載のカソード電極。
- 前記複数本のカーボンナノチューブに占める、2層および3層の複層カーボンナノチューブの本数割合が、30%以上である請求項1〜4のいずれか1項に記載のカソード電極。
- 還元反応における出発物質が二酸化炭素である請求項1〜5のいずれか1項に記載のカソード電極。
- 前記多孔質炭素皮膜の厚さは、0.1〜300mmの範囲である請求項1〜6のいずれか1項に記載のカソード電極。
- 前記多孔質炭素皮膜を表面層として積層形成してなる基材をさらに有する請求項1〜7のいずれか1項に記載のカソード電極。
- 前記基材が、ニオブ、銅、アルミニウムおよびチタンから選択される1種の金属もしくは該金属の1種以上を含有する合金、ステンレス鋼、シリコンまたはアルミナである請求項8に記載のカソード電極。
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