JP6811168B2 - 電源劣化判定方法、電源劣化評価方法、電源劣化判定装置、電源劣化評価装置、およびプログラム - Google Patents
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Description
[第1の実施形態]
(構成)
図1は、この発明の第1の実施形態に係る、電気機器の電源ユニットの劣化状態を評価するためのシステムの概略構成図である。
電源ユニット評価装置1は、ハードウェアとして、制御ユニット11と、記憶ユニット12と、外部インタフェースユニット13と、入出力インタフェースユニット14とを備えている。
特徴量算出部1121は、記憶ユニット12の時系列データ記憶部121に記憶される上記時系列データを読み出し、当該読み出された時系列データに基づいて、当該時系列データの所定の時間区間として例えば数十から数百サンプルごとに、当該時系列データに含まれる波形成分の周波数と減衰率との組み合わせを特徴量として算出する処理を実行する。特徴量算出部1121は、当該算出された特徴量のデータを、記憶ユニット12の特徴量データ記憶部122に記憶させる処理を実行する。
次に、以上のように構成された電源ユニット評価装置1の動作を説明する。
(1)特徴量算出処理の具体例
先ず、データ解析部112の特徴量算出部1121の制御の下、制御ユニット11が実行する特徴量算出処理について、一般的な例を挙げて詳細に説明する。
図6は、図2に示した制御ユニット11によって実行される電源ユニット評価処理の一例を示すフロー図である。
ステップS5において、制御ユニット11は、劣化評価部113の制御の下、上記抽出された特徴量に基づいて、電気機器3の電源ユニットの劣化度を評価する。なお、劣化度評価処理は、電気機器3の電源ユニットが劣化していると判定された場合に実行されるものとして説明するが、電気機器3の電源ユニットが劣化していないと判定された場合に実行するようにしてもよい。
(1)時系列データ取得部111の制御の下、電気機器3が通常動作状態にあるときの電源線4上の電流値または電圧値のアナログデータがプローブ2から受信され、当該電流値または電圧値から、例えば250kHzのサンプリング周波数で、電流値または電圧値の複数電源周期分の時系列データが測定および取得される。次に、特徴量算出部1121の制御の下、当該時系列データに基づいて、当該時系列データの所定の時間区間として例えば電流値または電圧値の50サンプル分の時間区間ごとに、当該時系列データに含まれる波形成分の周波数と減衰率との組み合わせが例えば10組、特徴量として算出される。また、特徴量算出部1121の制御の下、上記算出された特徴量の各々について、当該特徴量の算出に用いた上記時系列データの時間区間に対応するタイミングのデータが対応付けられる。さらに、特徴量算出部1121の制御の下、上記算出された特徴量の各々について、当該特徴量に対応する振幅値も算出され、当該特徴量の各々に、当該算出された振幅値のデータも対応付けられてもよい。データ抽出部1122の制御の下、上記算出された特徴量のうち、当該特徴量に係る周波数が70〜90kHzの周波数範囲に含まれ、かつ、当該特徴量に係る減衰率[1/ms]/周波数[kHz]の絶対値が0.05の閾値より小さい特徴量が抽出される。劣化評価部113の制御の下、上記時系列データが表す波形が極大となるタイミングを含む所定の時間窓の各々について、上記抽出された特徴量の各々に対応付けられているタイミングのうちいずれかが定常的に含まれるか否かを判定し、上記抽出された特徴量の各々に対応付けられているタイミングのうちいずれかが含まれると判定された時間窓の数が、予め設定された割合を超えたと判定された場合に、電気機器3の電源ユニットが劣化していると判定される。
図10は、この発明の第1の実施形態の変形例に係る、電気機器の電源ユニットの劣化状態を評価するためのシステムの概略構成図である。
なお、この発明は上記実施形態に限定されるものではない。例えば、上記では特徴量の抽出条件として、周波数範囲と、減衰率/周波数の絶対値の範囲とをともに用いる場合を説明した。しかしながら、抽出条件はこれに限定されるわけではなく、例えば、特徴量に係る他の何らかの値の条件を適宜組み合わせたものであってもよい。
Claims (8)
- ハードウェアプロセッサおよびメモリを備える装置が実行する、電気機器の電源ユニットが劣化しているか否かを判定する電源劣化判定方法であって、
前記電気機器と電源とが電源線を介して接続され前記電気機器が通常動作状態にあるときの、前記電源線上の電流値または電圧値の時系列データを取得するデータ取得過程と、
前記取得された時系列データに基づいて、当該時系列データの所定の時間区間ごとに、当該時系列データに含まれる波形成分の周波数と減衰率との組み合わせを特徴量として算出する特徴量算出過程と、
前記算出された特徴量のうち、予め設定された条件を満たす特徴量を抽出する特徴量抽出過程と、
前記抽出された特徴量に基づいて、前記電気機器の電源ユニットが劣化しているか否かを判定する劣化判定過程と
を備える電源劣化判定方法。 - 前記特徴量抽出過程は、前記算出された特徴量のうち、当該特徴量に係る周波数が所定の周波数範囲に含まれ、かつ、当該特徴量に係る減衰率/周波数の絶対値が閾値より小さい特徴量を、前記予め設定された条件を満たす特徴量として抽出する過程を備え、
前記劣化判定過程は、
前記時系列データが表す波形が極大となるタイミングを含む時間窓の各々について、前記抽出された特徴量の各々に係る、当該特徴量の算出に用いた前記時系列データの時間区間に対応するタイミングのうち、いずれかが含まれるか否かを判定する過程と、
前記抽出された特徴量の各々に係る、当該特徴量の算出に用いた前記時系列データの時間区間に対応するタイミングのうち、いずれかが含まれると判定された前記時間窓の数が、予め設定された割合を超えたと判定された場合に、前記電気機器の電源ユニットが劣化していると判定する過程と
を備える請求項1に記載の電源劣化判定方法。 - 請求項1又は2に記載の電源劣化判定方法を使用して、ハードウェアプロセッサおよびメモリを備える前記装置が実行する電源劣化評価方法であって、
前記電気機器の電源ユニットが劣化していると判定された場合に、前記抽出された特徴量の各々に係る、当該特徴量の算出に用いた前記時系列データの時間区間に対応するタイミングに基づいて、前記抽出された特徴量が連続して検出された時間を算出する時間算出過程と、
前記算出された時間に基づいて、前記電源ユニットの劣化度を評価する劣化度評価過程とを備える、電源劣化評価方法。 - 請求項1又は2に記載の電源劣化判定方法を使用して、ハードウェアプロセッサおよびメモリを備える前記装置が実行する電源劣化評価方法であって、
前記特徴量算出過程は、前記特徴量の各々について、当該特徴量に対応する振幅値を算出する過程を備え、
前記電気機器の電源ユニットが劣化していると判定された場合に、前記抽出された特徴量に対応する前記振幅値の最大値、平均値、および中央値のいずれかに基づいて、前記電源ユニットの劣化度を評価する劣化度評価過程を備える、電源劣化評価方法。 - 電気機器の電源ユニットが劣化しているか否かを判定する電源劣化判定装置であって、
前記電気機器と電源とが電源線を介して接続され前記電気機器が通常動作状態にあるときの、前記電源線上の電流値または電圧値の時系列データを取得するデータ取得部と、
前記取得された時系列データに基づいて、当該時系列データの所定の時間区間ごとに、当該時系列データに含まれる波形成分の周波数と減衰率との組み合わせを特徴量として算出する特徴量算出部と、
前記算出された特徴量のうち、予め設定された条件を満たす特徴量を抽出する特徴量抽出部と、
前記抽出された特徴量に基づいて、前記電気機器の電源ユニットが劣化しているか否かを判定する劣化判定部と
を備える電源劣化判定装置。 - 請求項5に記載の電源劣化判定装置を備える電源劣化評価装置であって、
前記電気機器の電源ユニットが劣化していると判定された場合に、前記抽出された特徴量の各々に係る、当該特徴量の算出に用いた前記時系列データの時間区間に対応するタイミングに基づいて、前記抽出された特徴量が連続して検出された時間を算出する時間算出部と、
前記算出された時間に基づいて、前記電源ユニットの劣化度を評価する劣化度評価部とを備える、電源劣化評価装置。 - 請求項5に記載の電源劣化判定装置を備える電源劣化評価装置であって、
前記特徴量算出部は、前記特徴量の各々について、当該特徴量に対応する振幅値を算出し、
前記電気機器の電源ユニットが劣化していると判定された場合に、前記抽出された特徴量に対応する前記振幅値の最大値、平均値、および中央値のいずれかに基づいて、前記電源ユニットの劣化度を評価する劣化度評価部を備える、電源劣化評価装置。 - 請求項1又は2に記載の電源劣化判定方法が備える各過程、あるいは、請求項3又は4に記載の電源劣化評価方法が備える各過程を、前記ハードウェアプロセッサに実現させるプログラム。
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