JP6749839B2 - コーティングされたグレイジング - Google Patents
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Description
透明なガラス基材を含み、
この基材の表面が、透明導電性コーティング(TCC)に基づく少なくとも1つの層及び/または少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく少なくとも1つの層で直接的もしくは間接的にコーティングされ、
該表面が、該表面の該コーティングの前に少なくとも0.4nmの表面の算術平均高さ値、Saを有する。
a) 透明なガラス基材を準備するステップと、
b) 基材の表面を酸性ガスでエッチングするステップと、
c) 透明導電性コーティング(TCC)に基づく少なくとも1つの層及び/または少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく少なくとも1つの層で、直接的または間接的に該表面をコーティングするステップと、を含む。
a) 透明なガラス基材を準備するステップと、
b) 基材の表面を酸性ガスでエッチングするステップと、
c) 透明導電性コーティング(TCC)に基づく少なくとも1つの層及び/または少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく少なくとも1つの層で、直接的または間接的に該表面をコーティングするステップと、を含む。
表1に示される実施例は、14.4m/分のライン速度で、3.2mmのガラス基材を用いたフロートライン上で行われた。コーティング機Aの上流のガラス温度は680.5℃であった。
● 「HFのみ」処理は、85slm(毎分の標準リットル)のN2ガス及び10slmのHFガスから成った。
● 「HCIのみ」処理は、85slmのN2ガス及び15slmのHCIガスから成った。
● 「HCI+H2O」処理は、10slmのN2ガス、30slmのHCIガス、及び161slmH2Oから成った。
● 「HFのみ」処理は、85slmのN2ガス及び10slmのHFガスから成った。
● 「HCIのみ」処理は、85slmのN2ガス及び30slmのHCIガスから成った。
● 「HCI+H2O」処理は、25slmのN2ガス、30slmのHCIガス、及び161slmのH2Oから成った。
SiO2層(約25nmの厚み)はコーティング機B2(Aから下流)を用いて処理されたガラス表面上に堆積された。
● シリカ堆積のためのガス流は、370slmのN2キャリアガス、200slmのHeキャリアガス、27slmのO2、32slmのC2H4、及び4.5slmのSiH4から成った。
SnO2:F層(約330nmの厚さ)はコーティング機C及びD(B2から下流の次のコーティング機)を用いて処理されたガラス表面上に堆積された。
● コーティング機Cのためのガス流は、140slmのHeキャリアガス、230slmのO2、31ポンド/時の二塩化ジメチルスズ、12slmのHF、及び322slmのH2Oから成った。
● コーティング機Dのためのガス流は140slmのHeキャリアガス、230slmのO2、31ポンド/時の二塩化ジメチルスズ、15slmのHF、及び267slmのH2Oから成った。
Claims (22)
- コーティングされたグレイジングであって、
透明なガラス基材を含み、
前記基材の表面が、透明導電性コーティング(TCC)に基づく少なくとも1つの層及び/または少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく少なくとも1つの層で直接的もしくは間接的にコーティングされ、
前記表面が、前記表面の前記コーティングの前に、少なくとも0.4nmの前記表面の算術平均高さ値、Saを有し、
前記グレイジングが、少なくとも0.4%、4.60%以下のヘイズを示し、
前記TCCが透明導電性酸化物(TCO)であり、前記TCOがフッ素ドープ酸化スズ(SnO 2 :F)、アルミニウム、ガリウム、またはホウ素がドープされた酸化亜鉛(ZnO:Al、ZnO:Ga、ZnO:B)、スズがドープされた酸化インジウム(ITO)、スズ酸カドミウム、ITO:ZnO、ITO:Ti、In 2 O 3 、In 2 O 3 −ZnO(IZO)、In 2 O 3 :Ti、In 2 O 3 :Mo、In 2 O 3 :Ga、In 2 O 3 :W、In 2 O 3 :Zr、In 2 O 3 :Nb、In 2−2x M x Sn x O 3 (式中、MはZnまたはCuである)、ZnO:F、Zn 0.9 Mg 0.1 O:Ga、及び(Zn、Mg)O:P、ITO:Fe、SnO 2 :Co、In 2 O 3 :Ni、In 2 O 3 :(Sn、Ni)、ZnO:Mn、並びにZnO:Coのうちの1つ以上であり、
TCCに基づく前記少なくとも1つの層の各層が、少なくとも100nmであるが、最大でも450nmの厚さを有する、前記コーティングされたグレイジング。 - 前記表面が、前記表面の前記コーティングの前に、少なくとも0.6nmの前記表面の算術平均高さ値、Saを有する、請求項1に記載の前記グレイジング。
- 前記グレイジングが、最大で4.0%のヘイズを示す、請求項1に記載の前記グレイジング。
- 少なくとも1.75の屈折率を有する前記材料が、SnO2、TiO2、及びZnOのうちの1つ以上である、請求項1〜3のいずれかに記載の前記グレイジング。
- 少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく前記少なくとも1つの層の各層が、少なくとも50nmであるが、最大でも200nmの厚さを有する、請求項1〜4のいずれかに記載の前記グレイジング。
- 前記グレイジングが、SiO2、SnO2、TiO2、オキシ窒化ケイ素、及び/または酸化アルミニウムなどの、金属または半金属の酸化物に基づく少なくとも1つの層を更に含む、請求項1〜5のいずれかに記載の前記グレイジング。
- 金属または半金属の酸化物に基づく前記少なくとも1つの層のうちの1つの層が、前記ガラス基材の前記表面と直接接触して位置している、請求項6に記載の前記グレイジング。
- 金属または半金属の酸化物に基づく少なくとも1つの層の各層が、少なくとも10nmであるが、最大でも35nmの厚さを有する、請求項6または請求項7に記載の前記グレイジング。
- 前記グレイジングが熱処理可能である、請求項1〜8のいずれかに記載の前記グレイジング。
- コーティングされたグレイジングの製造方法であって、順に、
a) 透明なガラス基材を準備するステップと、
b) 前記基材の表面を、1つ以上の塩素含有酸を含む酸性ガスでエッチングするステップと、
c) 透明導電性コーティング(TCC)に基づく少なくとも1つの層及び/または少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく少なくとも1つの層で、直接的または間接的に前記表面をコーティングするステップと、を含み、
前記TCCが透明導電性酸化物(TCO)であり、前記TCOがフッ素ドープ酸化スズ(SnO 2 :F)、アルミニウム、ガリウム、またはホウ素がドープされた酸化亜鉛(ZnO:Al、ZnO:Ga、ZnO:B)、スズがドープされた酸化インジウム(ITO)、スズ酸カドミウム、ITO:ZnO、ITO:Ti、In 2 O 3 、In 2 O 3 −ZnO(IZO)、In 2 O 3 :Ti、In 2 O 3 :Mo、In 2 O 3 :Ga、In 2 O 3 :W、In 2 O 3 :Zr、In 2 O 3 :Nb、In 2−2x M x Sn x O 3 (式中、MはZnまたはCuである)、ZnO:F、Zn 0.9 Mg 0.1 O:Ga、及び(Zn、Mg)O:P、ITO:Fe、SnO 2 :Co、In 2 O 3 :Ni、In 2 O 3 :(Sn、Ni)、ZnO:Mn、並びにZnO:Coのうちの1つ以上であり、
TCCに基づく前記少なくとも1つの層の各層が、少なくとも100nmであるが、最大でも450nmの厚さを有する、前記コーティングされたグレイジングの製造方法。 - ステップb)、好ましくはステップb)及びステップc)の両方が、化学蒸着(CVD)を使用して行われる、請求項10に記載の前記コーティングされたグレイジングの製造方法。
- ステップc)が、金属または半金属の酸化物に基づく少なくとも1つの層で、直接的または間接的に前記ガラス基材の前記表面をコーティングすることを更に含む、請求項10または請求項11に記載の前記コーティングされたグレイジングの製造方法。
- 前記ガラス基材から最も遠い層の外表面の表面積が、ステップb)が省略されたことを除いて同じ方法で製造された、同様にコーティングされたグレイジングの前記ガラス基材から最も遠い層の外表面の表面積よりも大きい、請求項10〜12のいずれかに記載の前記コーティングされたグレイジングの製造方法。
- 前記塩素含有酸がHClである、請求項10〜13のいずれかに記載の前記コーティングされたグレイジングの製造方法。
- 前記酸性ガスが水蒸気を更に含む、請求項10〜14のいずれかに記載の前記コーティングされたグレイジングの製造方法。
- 前記水蒸気の体積と前記酸性ガス中の酸の体積との比率が少なくとも0.5であるが、好ましくは最大でも30である、請求項15に記載の前記コーティングされたグレイジングの製造方法。
- ステップb)が、HCl、窒素、ならびに水を含む前駆体ガス混合物を使用して行われる、請求項15または請求項16に記載の前記コーティングされたグレイジングの製造方法。
- コーティングされたグレイジングにより示される前記ヘイズを増加させるための、酸性ガスの使用であって、
a) 透明なガラス基材を準備することと、
b) 前記基材の表面を、1つ以上の塩素含有酸を含む酸性ガスでエッチングすることと、
c) 透明導電性コーティング(TCC)に基づく少なくとも1つの層及び/または少なくとも1.75の屈折率を有する材料に基づく少なくとも1つの層で、直接的または間接的に前記表面をコーティングすることと、を含み、
前記TCCが透明導電性酸化物(TCO)であり、前記TCOがフッ素ドープ酸化スズ(SnO 2 :F)、アルミニウム、ガリウム、またはホウ素がドープされた酸化亜鉛(ZnO:Al、ZnO:Ga、ZnO:B)、スズがドープされた酸化インジウム(ITO)、スズ酸カドミウム、ITO:ZnO、ITO:Ti、In 2 O 3 、In 2 O 3 −ZnO(IZO)、In 2 O 3 :Ti、In 2 O 3 :Mo、In 2 O 3 :Ga、In 2 O 3 :W、In 2 O 3 :Zr、In 2 O 3 :Nb、In 2−2x M x Sn x O 3 (式中、MはZnまたはCuである)、ZnO:F、Zn 0.9 Mg 0.1 O:Ga、及び(Zn、Mg)O:P、ITO:Fe、SnO 2 :Co、In 2 O 3 :Ni、In 2 O 3 :(Sn、Ni)、ZnO:Mn、並びにZnO:Coのうちの1つ以上であり、
TCCに基づく前記少なくとも1つの層の各層が、少なくとも100nmであるが、最大でも450nmの厚さを有する、前記使用。 - 園芸用のグレイジングとしての、またはPVモジュール、LED、もしくはOLEDの構成要素としての、請求項1〜9のいずれかに記載のコーティングされたグレイジングの使用。
- 請求項1〜9のいずれかに記載の前記コーティングされたグレイジングを組み込む、PVモジュール。
- 請求項1〜9のいずれかに記載の前記コーティングされたグレイジングを組み込む、LED。
- 請求項1〜9のいずれかに記載の前記コーティングされたグレイジングを組み込む、OLED。
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GB201702168D0 (en) * | 2017-02-09 | 2017-03-29 | Pilkington Group Ltd | Coated glazing |
WO2019043398A1 (en) * | 2017-08-31 | 2019-03-07 | Pilkington Group Limited | COATED GLASS ARTICLE, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND PHOTOVOLTAIC CELL MADE THEREWITH |
CN110316978B (zh) * | 2018-03-28 | 2021-12-17 | 许浒 | 结构功能一体光伏真空玻璃及其制作方法 |
CN110316981A (zh) * | 2018-03-28 | 2019-10-11 | 许浒 | 光伏真空陶瓷的制作方法及光伏真空陶瓷 |
CN110316980B (zh) * | 2018-03-28 | 2021-11-19 | 许浒 | 结构功能一体钢化真空玻璃及其制作方法 |
US11251406B2 (en) * | 2019-03-07 | 2022-02-15 | Vitro Flat Glass Llc | Borosilicate light extraction region |
EP3972835A1 (en) | 2019-05-20 | 2022-03-30 | Pilkington Group Limited | Laminated window assembly |
Family Cites Families (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01230451A (ja) | 1988-03-08 | 1989-09-13 | Kubota Ltd | 導電性結晶化ガラス |
JPH08165144A (ja) | 1994-12-12 | 1996-06-25 | Teijin Ltd | 透明導電性硝子および透明タブレット |
WO2006061964A1 (ja) | 2004-12-08 | 2006-06-15 | Asahi Glass Company, Limited | 導電膜付き基体およびその製造方法 |
US20080178932A1 (en) | 2006-11-02 | 2008-07-31 | Guardian Industries Corp. | Front electrode including transparent conductive coating on patterned glass substrate for use in photovoltaic device and method of making same |
US20080308145A1 (en) | 2007-06-12 | 2008-12-18 | Guardian Industries Corp | Front electrode including transparent conductive coating on etched glass substrate for use in photovoltaic device and method of making same |
US20080308146A1 (en) * | 2007-06-14 | 2008-12-18 | Guardian Industries Corp. | Front electrode including pyrolytic transparent conductive coating on textured glass substrate for use in photovoltaic device and method of making same |
US20090194157A1 (en) * | 2008-02-01 | 2009-08-06 | Guardian Industries Corp. | Front electrode having etched surface for use in photovoltaic device and method of making same |
EP2104145A1 (fr) | 2008-03-18 | 2009-09-23 | AGC Flat Glass Europe SA | Substrat de type verrier revêtu de couches minces et procédé de fabrication |
US8022291B2 (en) * | 2008-10-15 | 2011-09-20 | Guardian Industries Corp. | Method of making front electrode of photovoltaic device having etched surface and corresponding photovoltaic device |
US7998586B2 (en) | 2008-11-19 | 2011-08-16 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Undercoating layers providing improved topcoat functionality |
CN101764169B (zh) | 2008-12-25 | 2012-01-25 | 太阳海科技股份有限公司 | 太阳能电池元件及其制作方法 |
FR2944145B1 (fr) | 2009-04-02 | 2011-08-26 | Saint Gobain | Procede de fabrication d'une structure a surface texturee pour dispositif a diode electroluminescente organique et structure a surface texturee |
EP2287120A1 (en) | 2009-07-16 | 2011-02-23 | AGC Glass Europe | Decorative glass article |
CN102034881A (zh) | 2009-09-25 | 2011-04-27 | 绿阳光电股份有限公司 | 太阳电池及其制法 |
US20110126890A1 (en) * | 2009-11-30 | 2011-06-02 | Nicholas Francis Borrelli | Textured superstrates for photovoltaics |
JP5431186B2 (ja) | 2010-01-25 | 2014-03-05 | 株式会社Nsc | 表示装置の製造方法 |
EP2612363A2 (en) * | 2010-09-03 | 2013-07-10 | Corning Incorporated | Thin film silicon solar cell in multi-junction configuration on textured glass |
JP2012133944A (ja) * | 2010-12-20 | 2012-07-12 | Samsung Yokohama Research Institute Co Ltd | 面発光素子用基板、面発光素子用基板の製造方法、面発光素子、照明器具及び表示装置。 |
GB201106553D0 (en) * | 2011-04-19 | 2011-06-01 | Pilkington Glass Ltd | Mthod for coating substrates |
JP5455142B2 (ja) | 2011-08-30 | 2014-03-26 | エルシード株式会社 | 凹凸構造膜付きガラス基板のドライエッチングを用いた製造方法、凹凸構造膜付きガラス基板、太陽電池、及び、太陽電池の製造方法 |
EP2754645A4 (en) | 2011-09-05 | 2015-06-24 | Asahi Glass Co Ltd | GLASS SUBSTRATE HAVING AN ALKAL SPRAY LAYER AND GLASS SUBSTANCE THERE WITH A TRANSPARENT AND CONDUCTIVE OXID FILM THEREOF |
JP2013087043A (ja) | 2011-10-21 | 2013-05-13 | Mitsubishi Electric Corp | 基板処理装置とその方法、および薄膜太陽電池 |
WO2013171846A1 (ja) | 2012-05-15 | 2013-11-21 | 三菱電機株式会社 | ガラス基板の製造方法および薄膜太陽電池の製造方法 |
CN102863156B (zh) * | 2012-09-21 | 2015-05-20 | 蚌埠玻璃工业设计研究院 | 一种绒面azo透明导电膜的制备方法 |
EP2712851B1 (en) | 2012-09-28 | 2015-09-09 | Saint-Gobain Glass France | Method of producing a transparent diffusive oled substrate |
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