JP6685078B2 - X線回折装置およびx線回折装置駆動方法 - Google Patents
X線回折装置およびx線回折装置駆動方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6685078B2 JP6685078B2 JP2014051311A JP2014051311A JP6685078B2 JP 6685078 B2 JP6685078 B2 JP 6685078B2 JP 2014051311 A JP2014051311 A JP 2014051311A JP 2014051311 A JP2014051311 A JP 2014051311A JP 6685078 B2 JP6685078 B2 JP 6685078B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- guide member
- ray
- carriage
- axis
- drive mechanism
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 17
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 63
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 claims description 40
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 5
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229910001566 austenite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002178 crystalline material Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000000452 restraining effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/06—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/20008—Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/207—Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/05—Investigating materials by wave or particle radiation by diffraction, scatter or reflection
- G01N2223/056—Investigating materials by wave or particle radiation by diffraction, scatter or reflection diffraction
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
Claims (32)
- X線ヘッドと、
前記X線ヘッドを支持するフレームと、
前記X線ヘッドを第1の軸の周囲で移動させるよう構成された前記フレームの第1の駆動機構と、
前記第1の軸を横切る方向にX線を照射するよう構成された前記X線ヘッドのコリメータと、
前記フレームの第2の駆動機構であって、前記X線ヘッド、前記第1の駆動機構および前記第2の駆動機構を、前記第1の軸に略垂直な第2の軸の周囲で共に移動させるよう構成された第2の駆動機構と
を具備するX線回折装置。 - 請求項1に記載のX線回折装置であって、
前記フレームは、前記第2の軸周囲に延在する弓形ガイド部材を有し、
前記第2の駆動機構は、前記X線ヘッド、前記第1の駆動機構および前記第2の駆動機構を同時に前記弓形ガイド部材に沿って移動するよう構成される
X線回折装置。 - 請求項1に記載のX線回折装置であって、
前記フレームは、弓形ガイド部材と、前記弓形ガイド部材に沿って移動するように構成されたキャリッジとを有し、
前記X線ヘッドは、前記キャリッジにマウントされる
X線回折装置。 - 請求項3に記載のX線回折装置であって、
前記第2の駆動機構は、前記キャリッジおよびそれにマウントされたX線ヘッドを前記弓形ガイド部材に沿って駆動するように構成される
X線回折装置。 - 請求項3に記載のX線回折装置であって、
前記第1の駆動機構および第2の駆動機構は、前記キャリッジにマウントされており、前記弓形ガイド部材に沿って移動可能である
X線回折装置。 - 請求項1に記載のX線回折装置であって、
前記フレームは、ラックを有し、
前記第2の駆動機構は、前記ラックと係合した回転可能な駆動部材を有し、
前記X線ヘッド、第1の駆動機構および第2の駆動機構は、前記駆動部材の回転によって、前記ラックに沿って駆動される
X線回折装置。 - 請求項1に記載のX線回折装置であって、
前記フレームは、ガイド部材と、前記ガイド部材に接続され、前記ガイド部材の片側に沿って移動し前記ガイド部材の片側へ延在するキャリッジとを有し、
前記X線ヘッドは、前記ガイド部材の片側で前記ガイド部材から間隔をあけて前記キャリッジにマウントされる
X線回折装置。 - 請求項7に記載のX線回折装置であって、
前記第1の駆動機構は、前記ガイド部材の片側で前記ガイド部材から間隔をあけて前記キャリッジにマウントされる
前記X線回折装置。 - 請求項1に記載のX線回折装置であって、
前記フレームは、ガイド部材と、キャリッジとを有し、
前記キャリッジは、
当該キャリッジにマウントされた前記X線ヘッドならびに第1および第2の駆動機構と共に、前記ガイド部材に沿って移動可能であり、
前記ガイド部材に係合し前記第2の駆動機構の駆動により前記ガイド部材に沿って当該キャリッジを回転駆動させるローラアセンブリを有する
X線回折装置。 - 請求項9に記載のX線回折装置であって、
前記ガイド部材は、曲率半径を備えた弓形構成を有し、
前記曲率半径の中心は、前記第2の軸と交差する
X線回折装置。 - 請求項1に記載のX線回折装置であって、
前記フレームは、弓形ガイド部材と、キャリッジとを有し、
前記第1の駆動機構は、前記キャリッジにマウントされ、
前記キャリッジは、複数の所定の位置まで移動するために前記弓形ガイド部材に接続され、
前記複数の所定の位置は、
前記第1の軸が水平軸に関してプラス45度の角度となるように、前記キャリッジが前記ガイド部材に沿って移動される上位置と、
前記第1の軸が水平軸に関してゼロ度の角度となるように、前記キャリッジが前記ガイド部材に沿って移動される中間位置と、
前記第1の軸が水平軸に関してマイナス45度の角度となるように、前記キャリッジが前記ガイド部材に沿って移動される下位置とを含む
X線回折装置。 - 請求項1に記載のX線回折装置であって、
前記第1の軸は、前記X線回折装置のΩ軸であり、
前記第2の軸は、前記X線回折装置のχ軸である
X線回折装置。 - 請求項1に記載のX線回折装置であって、
前記フレームは、一定の曲率半径を有する弓形ガイド部材と、前記弓形ガイド部材に沿って移動するよう構成された前記X線ヘッドを有するキャリッジとを有する
X線回折装置。 - ある曲率半径を有する弓形ガイド部材と、
前記弓形ガイド部材の前記曲率半径の中心を通る所定のガイド軸の周囲を移動する前記弓形ガイド部材にマウントされたキャリッジと、
前記キャリッジにマウントされたX線ヘッドと、
前記キャリッジにマウントされ、前記X線ヘッドを前記キャリッジに対して異なる位置に移動させることを可能にする前記ガイド軸に略垂直な所定のX線ヘッド軸の周囲で前記X線ヘッドを前記キャリッジに対して移動させる第1の駆動機構と、
前記キャリッジにマウントされた第2の駆動機構であって、前記弓形ガイド部材に沿って、前記ガイド軸の周囲で、前記キャリッジ、前記X線ヘッド及び当該第2の駆動機構を共に駆動するよう構成された第2の駆動機構と
を具備するX線回折装置。 - 請求項14に記載のX線回折装置であって、
前記キャリッジは、前記ガイド部材に係合し、前記第2の駆動機構の駆動により前記ガイド部材に沿って当該キャリッジを回転駆動させるローラアセンブリを有する
X線回折装置。 - 請求項14に記載のX線回折装置であって、
前記キャリッジは、前記弓形ガイド部材の対向する両側部に前記弓形ガイド部材と係合した複数の回転可能な部材を有する
X線回折装置。 - 請求項14に記載のX線回折装置であって、
前記弓形ガイド部材は、ラックを有し、
前記第2の駆動機構は、前記ラックと係合した回転可能な駆動部材を有し、当該駆動部材により、前記キャリッジを前記ガイド軸の周囲で駆動する
X線回折装置。 - 請求項14に記載のX線回折装置であって、
前記キャリッジおよび前記弓形ガイド部材のうち一方は、溝を有し、
前記キャリッジおよび前記弓形ガイド部材の他方は、前記溝と係合するレールを有する
X線回折装置。 - 請求項14に記載のX線回折装置であって、
前記キャリッジおよび前記弓形ガイド部材のうち一方は、一対の溝を有し、
前記キャリッジおよび前記弓形ガイド部材の他方は、前記弓形ガイド部材の対向する両側部に前記溝と係合する一対のレールを有する
X線回折装置。 - X線回折装置であって、
横軸の周囲に延在する弓形ガイド部材と、
前記弓形ガイド部材にマウントされ、当該弓形ガイド部材に沿って移動可能なキャリッジと、
前記弓形ガイド部材の1つの側面から横方向に前記キャリッジにマウントされたX線ヘッドと、
前記キャリッジにマウントされ、前記横軸に略垂直なX線ヘッド軸の周囲で、前記X線ヘッドを前記キャリッジに対して移動させるよう構成された駆動機構と、
前記X線ヘッド軸に略垂直な方向にX線を照射するように構成された前記X線ヘッドのコリメータと
を具備するX線回折装置。 - 請求項20に記載のX線回折装置であって、
前記駆動機構は、前記弓形ガイド部材の前記1つの側面から横方向に前記キャリッジにマウントされる
X線回折装置。 - 請求項20に記載のX線回折装置であって、
前記キャリッジにマウントされ、前記弓形ガイド部材に沿って前記キャリッジを移動させるよう構成された他の駆動機構をさらに具備する
X線回折装置。 - 請求項に22記載のX線回折装置であって、
前記他の駆動機構は、前記弓形ガイド部材の前記1つの側面から横方向に前記キャリッジにマウントされる
X線回折装置。 - 請求項20に記載のX線回折装置であって、
前記駆動機構は、前記X線ヘッドよりも遠くに、前記弓形ガイド部材から横方向に配置されたモータを有する
X線回折装置。 - 請求項20に記載のX線回折装置であって、
前記キャリッジは、前記弓形ガイド部材の片側に面する第1の側と、前記弓形ガイド部材の前記片側には向いていない第2の側とを有する伝達プレートを有し、
前記X線ヘッドは、前記伝達プレートの前記第2の側にマウントされる
X線回折装置。 - 請求項20に記載のX線回折装置であって、
前記キャリッジは、前記弓形ガイド部材に沿って当該キャリッジを回転駆動させるローラアセンブリを有する
X線回折装置。 - 第1のモータの駆動によりX線ヘッドを第1の軸の周囲で移動させ、
第2のモータの駆動により前記X線ヘッド、前記第1のモータおよび前記第2のモータを共に前記第1の軸に略垂直な第2の軸の周囲で弓形ガイド部材に沿って移動させる
X線回折装置駆動方法。 - 請求項27に記載のX線回折装置駆動方法であって、
前記第2のモータの駆動は、前記X線ヘッドおよび前記第1のモータを、前記弓形ガイド部材に沿って搬送するキャリッジを移動させることを含む
X線回折装置駆動方法。 - 第1のモータの駆動によりX線ヘッドを第1の軸の周囲で移動させ、
第2のモータの駆動により前記X線ヘッド、前記第1のモータおよび前記第2のモータを共に前記第1の軸に略垂直な第2の軸の周囲で移動させ、
前記第2のモータの駆動は、ラックと係合する駆動部材を回転させ、前記X線ヘッド、第1のモータおよび第2のモータを、前記ラックに沿って駆動することを含む
X線回折装置駆動方法。 - 請求項27に記載のX線回折装置駆動方法であって、
前記第2のモータの駆動は、前記X線ヘッド、第1のモータおよび第2のモータを、前記第1の軸が水平軸に関して略プラス45度の角度となる上位置まで移動させることを含む
X線回折装置駆動方法。 - 請求項27に記載のX線回折装置駆動方法であって、
前記第2のモータの駆動は、前記X線ヘッド、第1のモータおよび第2のモータを、前記第1の軸が水平軸に関して略ゼロ度の角度となる中間位置まで移動させることを含む
X線回折装置駆動方法。 - 請求項27に記載のX線回折装置駆動方法であって、
前記第2のモータの駆動は、前記X線ヘッド、第1のモータおよび第2のモータを、前記第1の軸が水平軸に関して略マイナス45度の角度となる下位置まで移動させることを含む
X線回折装置駆動方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201361801250P | 2013-03-15 | 2013-03-15 | |
US61/801,250 | 2013-03-15 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014182135A JP2014182135A (ja) | 2014-09-29 |
JP6685078B2 true JP6685078B2 (ja) | 2020-04-22 |
Family
ID=50439137
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014051311A Active JP6685078B2 (ja) | 2013-03-15 | 2014-03-14 | X線回折装置およびx線回折装置駆動方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9613728B2 (ja) |
EP (1) | EP2778666B1 (ja) |
JP (1) | JP6685078B2 (ja) |
CN (2) | CN110133018A (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6394513B2 (ja) | 2015-06-18 | 2018-09-26 | 新東工業株式会社 | 残留応力測定装置及び残留応力測定方法 |
KR102373431B1 (ko) | 2016-05-16 | 2022-03-11 | 신토고교 가부시키가이샤 | 표면 처리 가공 방법 및 표면 처리 가공 장치 |
CA3033090A1 (en) | 2016-08-10 | 2018-02-15 | Proto Manufacturing Ltd. | Mounting system and sample holder for x-ray diffraction apparatus |
EP3574359A4 (en) * | 2017-01-29 | 2020-10-21 | Newport Corporation | DIFFUSION GRID CARDAN SUSPENSION |
US10613042B2 (en) | 2017-09-28 | 2020-04-07 | International Business Machines Corporation | Measuring and analyzing residual stresses and their gradients in materials using high resolution grazing incidence X-ray diffraction |
US11519798B2 (en) * | 2018-12-18 | 2022-12-06 | Metal Industries Research & Development Centre | Residual stress detection device and detection method thereof |
CN110542507B (zh) * | 2019-10-16 | 2021-07-27 | 丹东浩元仪器有限公司 | 一种x射线应力测定仪检测装置的检测方法 |
CN114858586B (zh) * | 2022-05-19 | 2023-09-29 | 成都飞机工业(集团)有限责任公司 | 一种受力轴可自行对正的残余应力测量标定装置 |
Family Cites Families (45)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2695362A (en) * | 1954-11-23 | Gerneth | ||
NL77696C (ja) * | 1948-11-26 | |||
US2947214A (en) | 1958-06-02 | 1960-08-02 | Sylvania Electric Prod | Crystal orientation device |
US3082322A (en) * | 1958-11-28 | 1963-03-19 | Westinghouse Electric Corp | Therapy unit |
US3322948A (en) * | 1964-12-21 | 1967-05-30 | Owens Illinois Inc | X-ray diffraction goniometer wherein the specimen is stationary and the source and detector are movable |
US3394255A (en) * | 1965-06-28 | 1968-07-23 | Picker Corp | Diffraction mechanism in which a monochromator diffracts the X-ray beam in planes transverse to an axis of specimen rotation |
JPS4919239B1 (ja) * | 1969-03-07 | 1974-05-16 | ||
IL32247A (en) * | 1969-05-20 | 1972-08-30 | Yeda Res & Dev | X-ray diffractometer |
US3714426A (en) * | 1970-08-18 | 1973-01-30 | Stoe & Cie Gmbh | Method of x-ray analysis of crystal structure an x-ray goniometer for carrying out said method |
JPS539109B2 (ja) * | 1971-11-24 | 1978-04-03 | ||
JPS5222553B2 (ja) | 1973-02-20 | 1977-06-17 | ||
US4149079A (en) * | 1976-07-14 | 1979-04-10 | Elscint, Ltd. | Method of and means for scanning a body to enable a cross-section thereof to be reconstructed |
NL171222C (nl) * | 1976-10-01 | 1983-03-01 | Philips Nv | Apparaat voor het meten van lokale absorptieverschillen. |
US4199678A (en) * | 1979-01-31 | 1980-04-22 | U.S. Philips Corporation | Asymmetric texture sensitive X-ray powder diffractometer |
US5014292A (en) * | 1990-01-29 | 1991-05-07 | Siczek Bernard W | Tiltable x-ray table integrated with carriage for x-ray source and receptor |
JPH0820384B2 (ja) * | 1991-02-19 | 1996-03-04 | 信越半導体株式会社 | 単結晶のof方位検出方法及び装置 |
JPH0549628A (ja) * | 1991-08-29 | 1993-03-02 | Toshiba Corp | X線撮影装置 |
US5515416A (en) * | 1995-05-30 | 1996-05-07 | Siczek; Bernard W. | Bi-plane imaging device |
JPH10160688A (ja) * | 1996-12-04 | 1998-06-19 | Rigaku Corp | 単結晶インゴットのx線トポグラフィー方法および装置 |
US5966423A (en) * | 1997-03-28 | 1999-10-12 | Philips Electronics North America Corporation | Arc diffractometer |
US6064717A (en) | 1997-11-21 | 2000-05-16 | Rigaku/Usa, Inc. | Unrestricted motion apparatus and method for x-ray diffraction analysis |
US6751287B1 (en) * | 1998-05-15 | 2004-06-15 | The Trustees Of The Stevens Institute Of Technology | Method and apparatus for x-ray analysis of particle size (XAPS) |
JP3027361B2 (ja) * | 1998-07-17 | 2000-04-04 | 科学技術振興事業団 | イメージングプレートx線回折装置 |
DE19900346A1 (de) * | 1999-01-07 | 2000-07-13 | Europ Lab Molekularbiolog | Präzisions-Probendrehvorrichtung |
US6778850B1 (en) * | 1999-03-16 | 2004-08-17 | Accuray, Inc. | Frameless radiosurgery treatment system and method |
US6721393B1 (en) * | 1999-03-31 | 2004-04-13 | Proto Manufacturing Ltd. | X-ray diffraction apparatus and method |
SE9902163D0 (sv) * | 1999-06-09 | 1999-06-09 | Scanditronix Medical Ab | Stable rotable radiation gantry |
US6965661B2 (en) * | 2001-06-19 | 2005-11-15 | Hitachi, Ltd. | Radiological imaging apparatus and radiological imaging method |
EP1419800B1 (en) * | 2001-08-24 | 2008-01-23 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Radiotherapy device |
GB0222334D0 (en) | 2001-10-04 | 2002-10-30 | X Ray Res Gmbh | Automatic adjusting method for a goniometer and associated device |
ITMI20020097A1 (it) * | 2002-01-21 | 2003-07-21 | Consorzio Pisa Ricerche | Diffrattometro e metodo per svolgere analisi diffrattrometriche |
WO2003081221A2 (en) * | 2002-03-21 | 2003-10-02 | Bruker Axs, Inc. | Transmission mode x-ray diffraction screening system |
US6925146B2 (en) * | 2003-03-17 | 2005-08-02 | Proto Manufacturing Ltd. | X-ray diffraction system |
JP3697246B2 (ja) * | 2003-03-26 | 2005-09-21 | 株式会社リガク | X線回折装置 |
JP3731207B2 (ja) * | 2003-09-17 | 2006-01-05 | 株式会社リガク | X線分析装置 |
ITFI20050016A1 (it) * | 2005-02-02 | 2006-08-03 | Giovanni Berti | Diffrattometro a centro variabile |
WO2007052688A1 (ja) * | 2005-11-02 | 2007-05-10 | Rigaku Corporation | 微結晶粒の方位分布測定方法及びその装置 |
GB2476255B (en) * | 2009-12-17 | 2012-03-07 | Thermo Fisher Scient Ecublens Sarl | Method and apparatus for performing x-ray analysis of a sample |
US8477904B2 (en) * | 2010-02-16 | 2013-07-02 | Panalytical B.V. | X-ray diffraction and computed tomography |
CN202305445U (zh) * | 2010-04-28 | 2012-07-04 | 约旦河谷半导体有限公司 | 用于分析样品的装置 |
IT1403478B1 (it) | 2010-12-28 | 2013-10-17 | Fond Bruno Kessler | Diffrattometro a raggi x del tipo portatile perfezionato |
US8536547B2 (en) * | 2011-01-20 | 2013-09-17 | Accuray Incorporated | Ring gantry radiation treatment delivery system with dynamically controllable inward extension of treatment head |
EP2596750A4 (en) * | 2011-06-30 | 2013-09-25 | Kanzaki Clinic Of Cardiovascular Medicine Medical Corp | X-RAY DIAGNOSTIC DEVICE |
CN102435626A (zh) * | 2011-09-13 | 2012-05-02 | 丹东通达科技有限公司 | 一种台式x射线衍射仪 |
US9320427B2 (en) * | 2012-07-09 | 2016-04-26 | Arcscan, Inc. | Combination optical and ultrasonic imaging of an eye |
-
2014
- 2014-03-14 US US14/213,047 patent/US9613728B2/en active Active
- 2014-03-14 JP JP2014051311A patent/JP6685078B2/ja active Active
- 2014-03-17 EP EP14160214.4A patent/EP2778666B1/en active Active
- 2014-03-17 CN CN201910491639.7A patent/CN110133018A/zh active Pending
- 2014-03-17 CN CN201410099208.3A patent/CN104048978B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2778666B1 (en) | 2024-06-19 |
CN104048978A (zh) | 2014-09-17 |
CN110133018A (zh) | 2019-08-16 |
EP2778666A2 (en) | 2014-09-17 |
CN104048978B (zh) | 2020-01-10 |
US20140270090A1 (en) | 2014-09-18 |
EP2778666A3 (en) | 2014-12-03 |
JP2014182135A (ja) | 2014-09-29 |
US9613728B2 (en) | 2017-04-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6685078B2 (ja) | X線回折装置およびx線回折装置駆動方法 | |
JP6308997B2 (ja) | X線検出器およびx線システム | |
JP6318163B2 (ja) | 輪郭付きワークを検査するための装置 | |
JP2017529268A5 (ja) | ||
JP2005527800A5 (ja) | ||
US20200316728A1 (en) | Automated welding apparatus | |
CN117320632A (zh) | 用于多个运动脉冲x射线源断层合成成像的带有弯曲轨道的传送系统 | |
CN106041272B (zh) | 一种窄间隙埋弧焊机 | |
JP5385798B2 (ja) | パノラマx線装置 | |
JP4185071B2 (ja) | ガントリー装置{gantryapparatus} | |
JP4922586B2 (ja) | 放射線投射型断層撮影用の装置 | |
CN117183003A (zh) | 塑料外护管生产切割装置 | |
TWI482966B (zh) | 測試裝置 | |
KR20130086482A (ko) | 레이저 센서를 이용한 소형 스퍼기어 측정 장치 및 방법 | |
JP2020003478A (ja) | 実験機器のための位置決めアセンブリ | |
CN102332318A (zh) | 中子织构衍射仪的第一准直器调整装置 | |
JP4784984B2 (ja) | X線回折装置とその制御方法 | |
JP6035266B2 (ja) | X線撮影装置 | |
JP2010117368A (ja) | X線回折装置及びx線調整方法 | |
JP2666462B2 (ja) | リングect装置の感度補正装置 | |
JP3703125B2 (ja) | X線装置及びx線測定方法 | |
CN1680771A (zh) | 滑动装置和测量机 | |
JP2008196962A (ja) | タイヤ測定装置 | |
CN103712997A (zh) | 用于通过射线进行检查的背散射系统 | |
CN220542002U (zh) | 一种角度测量仪的生产系统 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20170223 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20171222 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180130 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180427 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180918 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20181213 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190208 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190716 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191016 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200303 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200331 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6685078 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |