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JP6669429B2 - 弾性波素子および通信装置 - Google Patents

弾性波素子および通信装置 Download PDF

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Description

本発明は、弾性波素子および通信装置に関するものである。
近年、移動体端末等の通信装置において、アンテナから送信・受信される信号をフィルタリングする分波器として弾性波素子が用いられている。弾性波素子は、圧電基板と、圧電基板の主面に形成された励振電極によって構成されている。弾性波素子は、励振電極と圧電基板との関係で電気信号と弾性表面波とを相互に変換することができる特性を利用して信号をフィルタリングするものである。
近年、移動体端末の小型化が進むにつれて、弾性波素子の低背化が必須となっている。弾性波素子を低背化する構造として、例えばウェハーレベルパッケージ(Wafer Level Package:以下、単にWLPという)構造が知られている(例えば、特許文献1参照)。WLP構造の弾性波素子は、弾性波素子を圧電基板のウエハー状態で形成できるように、圧電基板に形成された励振電極に電気的に接続された導体が、励振電極を封止するカバー体内またはカバー体外に配置された構造である。
特開2002−217673号公報
ところで、近年の弾性波素子において、弾性波素子の使用環境および、例えば弾性波素子を回路基板等に実装する際に生じる熱履歴に耐えることのできる高信頼性が求められている。
そこで、本発明は、上述の事情のもとで考え出されたものであって、熱履歴に対するカバー体の変形を低減することが可能な弾性波素子または通信装置を提供することを目的とする。
本発明の弾性波素子は、圧電基板と、該圧電基板上に配置された励振電極と、前記圧電基板上に配置された、前記励振電極を囲む枠部と、該枠部上に配置された蓋部とを有し、前記励振電極との間に振動空間を形成するカバー体と、前記枠部の内側において前記圧電基板上に配置され、前記励振電極と電気的に接続された電極パッドと、前記カバー体に配置され、前記電極パッドと電気的に接続された回路パターンと、を有し、該回路パターンは、平面透視で前記枠部の内側であって前記振動空間と重なる領域に配置されているものである。
本発明の通信装置は、上述の弾性波素子と、該弾性波素子がバンプを介して実装された回路基板とを有するものである。
本発明によれば、カバー体の変形を低減することが可能な弾性波素子および通信装置を提供することができる。
本発明の一実施形態にかかる弾性波素子を上方からみたときの平面図である。 図1の弾性波素子において、蓋部を取り外したときの平面図である。 図1の弾性波素子において、蓋部および枠部を取り外し、一部を拡大した拡大平面図である。 図1の弾性波素子において、図2および図3のIa−Ia線で切断したときの断面図である。 図1の弾性波素子において、図2のIb−Ib線で切断したときの断面図である。 本発明の一実施形態の変形例にかかる弾性波素子において、蓋部を取り外したときの平面図である。 図6に示す弾性波素子において、図6のVII−VII線で切断したときの断面図である。 本発明の一実施形態の変形例にかかる弾性波素子において、蓋部を取り外したときの平面図である。 図8に示す弾性波素子において、図8のVIII−VIII線で切断したときの断面図である。 本発明の一実施形態の変形例にかかる弾性波素子において、図6のVII−VII線に相当する位置で切断したときの断面に相当する。 本発明の一実施形態の変形例に係る弾性波素子において、蓋部を取り外したときに平面図である。 本発明の一実施形態の変形例に係る弾性波素子において、図11のXII−XII線に相当する位置で切断したときの断面に相当する。 本発明の一実施形態に係る分波器の回路図を示すものである。 本発明の一実施形態に係る分波器を含む通信装置の構成を模式的に示す図である。 図1の弾性波素子を回路基板に実装したものを示す断面図である。 本発明の一実施形態の変形例にかかる弾性波素子において、蓋部を取り外したときの平面図である。
以下、本発明の一実施形態に係る弾性波素子および通信装置について、図面を参照して説明する。なお、以下の説明で用いられる図は模式的なものであり、図面上の寸法比率等は現実のものとは必ずしも一致していない。
<弾性波素子>
本発明の一実施形態に係る弾性波素子について以下説明する。本実施形態に係る弾性波(Surface Acoustic Wave:SAW)素子1は、図1〜5に示すように、圧電基板2、励
振電極3、カバー体6(枠部4および蓋部5)および回路パターン7を有している。
SAW素子1は、それぞれの構成をウェハーレベルで形成することができる。SAW素子1は、移動体端末等において、アンテナと信号演算回路(例えば、ICなど)がやり取りする電気信号をフィルタリングする機能を有する。
圧電基板2は、タンタル酸リチウム単結晶、二オブ酸リチウム単結晶、四ホウ酸リチウム単結晶など圧電性を有する結晶の基板によって構成されている。圧電基板2は、例えば、直方体状に形成されており、平面視形状が矩形状となっている。圧電基板2は、例えば、平坦な上面2Aを有している。圧電基板2は、厚みが、例えば、0.2mm以上0.5mm以下に設定されている。圧電基板2は、一辺の長さが、例えば、0.6mm以上3mm以下に設定されている。
圧電基板2の上面2Aには励振電極3および電極パッド3aが設けられている。励振電極3は、図3に示すように、櫛歯状電極で構成されている。励振電極3は、少なくとも2本のバスバー電極3bが対向するように配置されている。電極指3cは、互いのバスバー電極3bの方向に延びるとともに、両者が交差するように配置されている。
複数の励振電極3は、直接接続または並列接続などにより接続されたラダー型SAWフィルタを構成していてもよい。また、励振電極3は、複数の励振電極3が一方向に配列された多重モードSAW共振器フィルタであってもよい。さらに、励振電極3は、図2または図3に示すように、反射器3dを有していてもよい。
電極パッド3aは、図3等に示すように、圧電基板2上に配置されている。電極パッド3aの平面視形状は適宜設定すればよい。本実施形態では、電極パッド3aは円形状の場合である。電極パッド3aの数および配置位置は、複数の励振電極3によって構成されるフィルタの構成に応じて適宜設定すればよい。電極パッド3aの幅は、例えば60μm以上100μm以下となるように設定することができる。
SAW素子1は、電極パッド3aを複数有しており、そのうちのいずれかの電極パッド3aを介して信号の入力がなされる。入力された信号は、励振電極3等によってフィルタリングされる。そして、SAW素子1は、フィルタリングした信号を、複数の電極パッド3aのうち入力信号が入った電極パッド3a以外の電極パッド3aを介して出力する。なお、信号の入出力に使用されない電極パッド3aは、例えば浮き電極であってもよいし、基準電位に接続されていてもよい。
電極パッド3aは、図3に示すように、配線導体3aaを介して励振電極3と電気的に接続されている。配線導体3aaは、上面2Aの上に層状に形成され、励振電極3のバスバー電極3bと電極パッド3aを電気的に接続している。なお、配線導体3aaは上面2Aに形成されている必要はなく、例えば絶縁体を介して立体交差させている部分があってもよい。
励振電極3、電極パッド3aおよび配線導体3aa(上面2Aに形成された部分)は、同じ製造プロセスで形成することができる。そのため、励振電極3、電極パッド3aおよび配線導体3aaは、例えば同じ導電材料によって構成されている。導電材料としては、例えばAl−Cu合金等を用いることができる。また、励振電極3、電極パッド3aおよび配線導体3aaは、例えば、同じ膜厚に設定される。これらの厚さとしては、例えば100nm以上500nm以下に設定することができる。
このような励振電極3、電極パッド3aおよび配線導体3aaは、例えば、スパッタリング法、蒸着法、CVD(Chemical Vapor Deposition)法等の薄膜形成法により金属膜
を圧電基板2の主面に形成する。その後、その金属膜を微小投影露光機(ステッパー)またはRIE(Reactive Ion Etching)装置を用いたフォトリソグラフィ法によりパターニングすることにより、励振電極3、電極パッド3aおよび配線導体3aaを形成することができる。
励振電極3、電極パッド3aおよび配線導体3aa上には、保護膜を形成してもよい。保護膜は、絶縁性材料によって構成されており、例えば、酸化ケイ素(SiO)、窒化ケイ素(Si)またはシリコン(Si)等を用いることができる。保護膜の厚みは、例えば、5nm以上50nm以下に設定することができる。このような保護膜を形成することにより、励振電極3および配線導体3aaを保護することができる。具体的には、励振電極3等を酸化されにくくすることができたり、後の工程中のダメージを防止したりすることができる。なお、保護膜は、電極パッド3aの上面が露出するように設けられる。保護膜を形成する場合は、CVD法、スパッタリング法等の薄膜形成法により形成した膜をフォトリソグラフィ法によりパターニングすることで形成することができる。
電極パッド3a上には、後述する柱状電極8との密着性または電気特性を向上させるために、金属材料を積層させた接続電極(図示せず)を配置してもよい。接続電極の厚みは、例えば1μm以上2μm以下となるように設定することができる。このような接続電極は、リフトオフ法により形成することができる。接続電極の材料は、適宜を選択すればよい。
電極パッド3aとしてアルミニウムと銅の合金を用いるとともに、柱状電極8として銅を用いる場合には、接続電極として電極パッド3a側からクロム、ニッケルおよび金を積層したものを用いることができる。本実施形態のSAW素子1は、図4および図5に示すように、柱状電極8として、圧電基板2側に配置された第1柱状電極8aと、蓋部5側に配置された第2柱状電極8bと、によって構成されている。第1柱状電極8aの外側面には筒部16が配置されている。筒部16は、内部に貫通孔16aのある絶縁性の材料からなり、柱状電極8がこの貫通孔16aの内壁と接するように配置されている。筒部16は、一方の面を圧電基板2に、他方の面を蓋部5に接続されており、柱状電極8を保護するとともに支える機能を備える。このような筒部16は後述する枠部4と同一の材料で同一の工程にて形成してもよい。
柱状電極8を形成する方法は、筒部16の貫通孔16aに露出する面および蓋部5の貫通孔に露出する面に形成したメッキ下地層上に、導電性材料を充填することで形成できる。メッキ下地層は、例えばスパッタリング法で、チタン、クロムを積層して形成すればよい。導電性材料は、例えば、銅を電解メッキ法で貫通孔を充填するように形成すればよい。なお、導電性材料としては、銀ペーストや導電性樹脂を用いることもでき、印刷やディスペンスで貫通孔を充填するように形成することもできる。メッキ下地層およびメッキ下地層をパターニングするフォトレジストを除去する前に、柱状電極8の露出面をCMP加工して平坦化してもよい。
カバー体6は、枠部4および蓋部5によって概ね構成されている。蓋部5は枠部4上に配置されることにより、圧電基板2とカバー体6との間に振動空間Spが形成される。枠部4は複数の励振電極3の周りを囲むように配置されており、枠部4の厚みによって振動空間Spの高さが概ね決定される。また、この例では、複数の電極パッド3aは、平面視で、枠部4の内側に配置されている。すなわち、振動空間Sp内に電極パッド3aの直上に立設された柱状電極8および筒部16が島状に位置している。言い換えると、複数の励振電極3の周りと電極パッド3aとは、圧電基板2の上面2Aのうち、枠部4の外縁よりも内側であって、かつ枠部4から露出する領域に形成されている。そして、電極パッド3aは、平面視で、枠部4の内側においてカバー体6の外側に導出されている。具体的には、平面透視で、筒部16を枠部4の内側に、枠部4とは分離された島状に配置することで、電極パッド3aを平面視で、枠部4の内側においてカバー体6の外側に導出することができる。
なお、カバー体6は本実施形態に限定されるものではなく、枠部4と蓋部5が一体的に形成されていてもよい。
SAW素子1は、図1および図2に示すように、励振電極3を複数有していて、全ての励振電極3が内側に位置するように枠部4で囲む場合を示している。なお、枠部4は各励振電極3を囲むように形成してもよいし、全部ではない複数の励振電極3を囲んでもよい
カバー体6の枠部4または蓋部5は、それぞれの厚みが、例えば5μm以上60μm以下となるように設定することができる。カバー体6の全体厚みは、例えば10μm以上300μm以下となるように設定することができる。カバー体6の平面方向の幅は、例えば0.6mm以上3mm以下となるように設定することができる。
カバー体6は、例えば光硬化性樹脂などを用いることができる。光硬化性樹脂としては、例えば、ネガ型またはポジ型のフォトレジストを用いることができる。光硬化性樹脂は、例えば、アクリル基またはメタクリル基などのラジカル重合する樹脂を用いることができる。より具体的には、光硬化性樹脂として、ウレタンアクリレート系、ポリエステルアクリレート系、エポキシアクリレート系またはポリイミド系の樹脂を用いることができる。光硬化性樹脂としては、ネガ型であってもよいし、ポジ型であってもよい。
カバー体6を光硬化性樹脂で形成する場合、液状の樹脂またはフィルム状の樹脂を用いることができる。具体的には、フィルム状の樹脂を用いてカバー体6を形成する場合、圧電基板2上にフィルム状の樹脂を貼り付けた後、特定波長の光によるパターニング、加熱等の方法を用いたフォトリソグラフィ法により枠部4を形成する。そして、枠部4上に、蓋部5となるフィルム状の樹脂を配置した後、フォトリソグラフィ法によりパターニングを行なうことで蓋部5を形成する。これにより、枠部4および蓋部5で構成されたカバー体6を圧電基板2上に形成することができる。なお、液状の樹脂を用いる場合はスピンコート法により圧電基板2上に形成することができる。また、枠部4を液状の樹脂を用いて形成し、蓋部5をフィルム状の樹脂を用いて形成してもよい。
カバー体6を構成する枠部4と蓋部5とを上述に示すような同一材料にて形成する場合には、枠部4と蓋部5とを一体化することができ、両者の接合強度を高めることができる。
また、カバー体6は、樹脂だけでなく、板部材を用いることもできる。板部材としては、例えば圧電性を有する基板、セラミックからなる基板、シリコンからなる基板、または有機基板などを用いることができる。このように、樹脂よりもヤング率が高い材料をカバー体6に用いることで、耐衝撃性または耐トランスファーモールドによる耐圧力性などを向上させることができる。カバー体6全体に板部材を用いてもよいし、カバー体6の一部に板部材を用いてもよい。カバー体6の一部に板部材を用いる場合は、例えば、枠部4に樹脂を用いるとともに蓋部5に板部材を用いる。
カバー体6には、回路パターン7が配置されている。回路パターン7は、蓋部5の上に配置されていてもよいし、蓋部5の厚みの途中に配置されていてもよいし、蓋部5の下面(振動空間Sp側の面)に配置されていてもよい。この例では、回路パターン7は、蓋部5の上に配置されている場合を示す。
回路パターン7は、電極パッド3aと電気的に接続されている。具体的には、回路パターン7は、柱状電極8を介して、電極パッド3aと電気的に接続されている。柱状電極8は、筒部16の貫通孔16a内および蓋部5の貫通孔内に配置されて、蓋部5の上面に露出している。本実施形態では柱状電極8が、第1柱状電極8aおよび第2柱状電極8bで構成されている場合である。第2柱状電極8bの横幅が、第1柱状電極8aの横幅よりも大きく構成している場合、柱状電極8の作製時にメッキしやすくすることができる。その結果、柱状電極8の信頼性を向上させることができる。
このようにして、電極パッド3aと電気的に接続された回路パターン7は、一部が、例
えば渦巻き状に形成されていたり、矩形状に形成されていたり、ミアンダ状に形成されていたりする。これにより、回路パターン7は、例えばインダクタ成分を有するようになる。回路パターン7は、導体であればよく、例えば、銅などを用いることができる。
また、回路パターン7として柱状電極8と同じ材料を用いることにより、回路パターン7を形成することにより工程が増えることを低減することができる。すなわち、柱状電極8を筒部16の貫通孔16a内および蓋部5の貫通孔内に形成する際に、柱状電極8と回路パターン7を電気メッキにより形成できる。回路パターン7は、メッキ下地層をパターニングしておくことにより任意の形状を形成することができる。なお、回路パターン7および柱状電極8は、例えば銀ペーストまたは導電性樹脂等を印刷またはディスペンスで形成してもよい。
このような回路パターン7は、例えば銅により構成され、その厚みは、例えば10μm以上20μm以下となるように設定することができる。そして、この回路パターン7は平面透視で振動空間Spと重なる領域に配置されている。この場合は、カバー体6が周囲の温度変化等により変形されにくくすることができる。このメカニズムについて詳述する。
本実施形態のSAW素子1によれば、回路パターン7が平面透視でカバー体6の振動空間Spと重なる領域に配置されている。ここで、振動空間Spと重なる、とは、枠部4の内側であって枠部4で形成される閉空間の内側に位置することをさす。そして、この例では、回路パターン7が振動空間Spと重なる領域のみに形成されており、枠部4とは重ならない。
回路パターン7が、枠部4と蓋部5との接合部と重なるように形成されている場合には、回路パターン7を構成する材料と枠部4及び蓋部5を構成する材料との線膨張係数の違いから、温度変化により枠部4や蓋部5に応力が加わる。その結果、枠部4と蓋部5との接合界面に応力が集中し、両者の接合強度が低下し、カバー体4が変形する虞があった。この場合には、変形した部分の強度が低下したり、気密性が低下し電気特性が劣化したりする虞があった。カバー体4の変形には、枠部4と蓋部5との剥離も含むものとする。
これに対して、本実施形態のSAW素子1によれば、接合強度および気密性確保に大きな影響を及ぼす枠部4と蓋部5との接合部ではなく、振動空間Spと重なる領域に回路パターン7を形成している。このため、温度変化が生じても、カバー体6の変形を抑制することができる。さらに、回路パターン7により蓋部5を補強することができるので、振動空間Spを安定して維持することができる。
なお、SAW素子1においても、筒部16と蓋部5との接合部直上に回路パターン7が位置しているが、筒部16の貫通孔16aの内部には、柱状電極8が配置されているため、柱状電極8が柱として機能し、蓋部5と筒部16との接合部における歪は小さい。
また、平面視で筒部16および蓋部5の接合部と、回路パターン7とが重なる部分は、回路パターン7が接合部から振動空間Sp側へ向かって横切る部分のみのため、面積も小さいのでカバー体6を変形させる程の応力は生じない。さらに、万が一、筒部16と蓋部5との接合部において応力が生じてその接合強度が低下したとしても、振動空間Spとカバー体6の外側とをつなぐ部分では強固な接合が維持されているため、外部から振動空間Spへ水分が侵入したりする虞は少なく、SAW素子1の電気特性を維持することができる。
このことから、SAW素子1に温度履歴が加わった場合であってもカバー体6が変形することを低減することができる。その結果、SAW素子1は、安定した電気特性を得るこ
とができる。
(SAW素子の変形例1)
カバー体6は、図6,図7に示すように、平面視で、枠部4の内側において圧電基板2の上面2Aに配置され、蓋部5と接合される支持部17を設けてもよい。支持部17は、圧電基板2の上面2Aのうち、励振電極3が配置されていない部分に形成される。このような支持部17により、蓋部5を支えることができる。このため、振動空間Sp上に圧力が加わった場合に蓋部5が変形することを防ぎ、振動空間Spを維持することができる。特に振動空間Spが大きくなったときに、支持部17は有効となる。
このような支持部17を設けた場合には、回路パターン7は、平面視で、支持部17と重ならないようにしてもよいし、一部が支持部17と重なるようにしてもよい。回路パターン7を図1と同様の配置とする場合には、回路パターン7は平面透視で支持部17とが重ならないように配置されることとなる。この場合には、熱履歴が加わった場合であっても、支持部17と蓋部5との接合強度を低下させることがないため、安定して蓋部5を保持することができ、カバー体6の変形を抑制することができる。
また、図8,9に示すように、枠部4の一部の幅を太くしてもよい。図8,9に示す例では、平面透視で、枠部4に囲まれる領域(振動空間Sp)の外側に第2電極パッド3eが形成されている。このような第2電極パッド3eは回路パターン7と直接接続されない。電極パッド3aが平面透視で枠部4の内側においてカバー体6の外側に引き出されるのに対して、第2電極パッド3eは、平面透視で振動空間Spの外側においてカバー体6の外側に引き出されるものをいう。この第2電極パッド3eも、励振電極3と接続され、信号の入力また出力、基準電位への接続等を実現するものである。
この第2電極パッド3eは、この例では、平面透視で枠部4と重なる領域に形成されていて、第2電極パッド3e上には枠部4および蓋部5を貫通する貫通孔6aが形成されており、この貫通孔6aの内部に貫通導体18が形成されている。そして、枠部4は、第2電極パッド3eと重なるように枠部4の振動空間Sp側の面が内側に向けて張り出すように形成されている。このように構成することで、枠部4と蓋部5との接合面積を大きくし、その結果、カバー体6を変形しにくくすることができる。
(SAW素子の変形例2)
上述の例において、図10に示すように、蓋部5の厚みを場所によって異ならせてもよい。図10は、図6のVII−VII線に相当する部分における断面図である。
図8に示すように、蓋部5の厚みは、枠部4に接合される側よりも励振電極3の直上において薄くなっている。そして、回路パターン7は、平面透視でこの励振電極3と重なる領域に配置されている。
枠部4と蓋部5との接合部側において蓋部5の厚みが厚くなっていることから、回路パターン7と蓋部5との線膨張係数の違いにより生じる応力が接合部に伝達することを抑制することができる。これにより、枠部4と蓋部5との接合強度を維持することができる。特に、図10に示すように、枠部4と蓋部5との接合部に近づくにつれて、蓋部5の厚みが厚くなる場合には、回路パターン7により生じる応力を厚み方向に逃がすことができる。
さらに、蓋部5の圧電基板2側の面は、枠部4と蓋部5との接合部の側に近づくにつれて支持基板2との距離が小さくなるように形成する場合には、励振電極3の直上においては蓋部5との距離を安定して維持することができる。これにより、SAW素子1は、安定
して振動空間Spを確保できるものとなる。
なお、このような蓋部5の形状は、支持部17に対しても同様とすることで、支持部16と蓋部5との接合強度を維持することができる。すなわち、蓋部5は支持部17との接合部側に比べ、励振電極3の直上において厚みが薄くなっていてもよいし、接合部の側に近づくにつれて厚みが厚くなるようにしてもよいし、蓋部5の圧電基板2側の面は接合部の側に近づくにつれて支持基板2との距離が小さくなるようにしてもよい。
回路パターン7の弾性率が蓋部5の弾性率より大きいときには、蓋部5の厚みの薄い部分において回路パターン7が補強材としての機能を有することができ、蓋部5の変形を抑制することができる。これは、SAW素子1が実装基板に実装され、更にトランスファモールド法等により樹脂封止される場合に有効である。蓋部5を構成する材料の弾性率が回路パターン7を構成する材料の弾性率よりも小さい例としては、蓋部5を光硬化性樹脂で構成し、回路パターン7を銅で構成する場合を挙げられる。このように回路パターン7お補強層として用いるためには、回路パターン7を蓋部5の厚みの薄い部分から厚い部分へ連続するように形成すればよい。具体的には、図10において、回路パターン7は、x方向のみに延びることなく、y方向に伸びる部分を備えるように形成すればよい。
また、蓋部5上に回路パターン7が形成されている場合、カバー体6は、回路パターン7を覆う絶縁性の第2蓋部5aを有していてもよい。第2蓋部5aは、例えば蓋部5または枠部4の材料に加えて、フィラーなどを含む封止樹脂を用いることができる。第2蓋部5aを有していることにより、回路パターン7が短絡されることなどを防止することができる。なお、この第2蓋部5aには、必要に応じて貫通孔を形成し、柱状電極8や貫通導体18,回路パターン7をカバー体6の外側に引き出してもよい。
回路パターン7は、グランド電位の電極パッド3aに電気的に接続されていてもよい。回路パターン7がグランド電位に接続されている場合には、後述する受信フィルタおよび送信フィルタの整合回路として用いることができる。この場合は、アンテナ端子と、受信フィルタおよび送信フィルタの分岐点との間の配線に回路パターン7が接続される。また、送信フィルタにおいて減衰極調整用のインダクタとして回路パターン7を用いてもよい。この場合は、並列共振子とグランドの間に回路パターン7が位置するように配置される。
また、振動空間Spには、空気または窒素を充填させてもよい。この場合には、励振電極3と回路パターン7との間に比誘電率の低い雰囲気が介在していることとなり、意図せぬ寄生容量の発生を抑制することができる。
(SAW素子の変形例3)
本変形例のSAW素子1は、図11,図12に示す通り、第2電極パッド3eを含み、第2電極パッド3eに接続された枠部4の側壁に沿って設けられた外部接続端子19を有する。具体的には、第2電極パッド3eの一部が枠部4の外側にまで延出しており、この延出部上からから、枠部4および蓋部5の外側面(側壁)にかけて設けられた外部接続端子19によって、励振電極3を外部回路に接続することができる。この例では、枠部4の外縁が振動空間Sp側に向けて凹む凹部6bが設けられている。そして、外部接続端子19はこの凹部6bを埋めるように形成されている。このような場合は、カバー体6の面積を小さくすることができる。
カバー体6の枠部4は、図11に示す通り、平面視したときに、圧電基板2の外周2aよりも内側に配置されていてもよい。具体的には、平面視において、カバー体6の外縁6cが、圧電基板2の外周2aから距離D1を開けて配置される。距離D1は、例えば、1
μm以上10μm以下となるように設定することができる。本実施形態は、カバー体6のうち枠部4および蓋部5が、圧電基板2の外周2aから距離D1を開けて配置されている場合である。
このようにカバー体6が、圧電基板2の外周2aから距離を空けて配置されている場合には、SAW素子1をモールドする封止樹脂を配置する際に、封止樹脂と圧電基板2(または保護膜)とを接触させることができるため、SAW素子1と封止樹脂の接触面積を大きくすることができる。その結果、SAW素子1と封止樹脂の密着性を向上させることができるので、封止樹脂の剥がれを低減したり、水分の侵入などを低減したりすることができる。
さらに、外部接続端子19,柱状電極8は、封止樹脂の外側に導出されており、封止樹脂の上面には、外部パッド19c,8cがそれぞれ形成されている。このような外部パッド19c,8cにより、外部回路との接続を容易に実現することができる。
(SAW素子の変形例4)
上述の例では、回路パターン7が蓋部5の上面に形成した場合を例に説明したが、蓋部5の圧電基板2側の面に形成してもよい。この場合には、回路パターン7が変質することを抑制することいができるので、所望の電気的特性を維持することができる。
(SAW素子の変形例5)
上述の例では、回路パターン7は、平面透視で枠部4と重ならないように配置された場合について説明したが、回路パターン7は、枠部4のうち振動空間Spとカバー体6の外側とをつなぐ仮想線上に位置する枠部4を横切らないように配置されていれば上述の例に限定されない。換言すれば、振動空間Spとカバー体6の外側とをつなぐ仮想線上に位置する枠部4を横切らなければ、枠部4と重なっていてもよい。
図16に、回路パターン7が、枠部4と重なる例を示す。図16において、枠部4に説明のためにパターンを付し、蓋部5上に形成される回路パターン7を点線で記載している。図16において、枠部4は、振動空間Spの最外周を囲む環状部4aと環状部4aから環状部4aで形成される閉空間の内側に張り出す突出部4bとを備えている。そして、回路パターン7は突出部4bと平面視で重なるように配置されている。
一方で、回路パターン7は、枠部4のうち、カバー体6の外側から振動空間Spまでの最短距離を結ぶ仮想線上に位置する領域においては平面透視で重ならないように配置されている。すなわち、回路パターン7と環状部4aとは平面透視で重ならないように配置されている。
このように構成することで、環状部4aと蓋部5との接合強度は低下することがないため、カバー体6の外側から振動空間Spへ水分等が侵入することを抑制することができる。一方で、仮に、突出部4bと蓋部5との接合強度が低下した場合には、突出部4bは振動空間Spの内部において蓋部5と圧電基板2との隔離距離を定めるスペーサーとして機能しうるものとなる。
(分波器)
SAW素子1は、図13に示すように、アンテナ端子9、送信フィルタ10および受信フィルタ11を有する分波器100に適用してもよい。アンテナ端子9は、移動体端末等の通信装置において、アンテナに接続される端子である。送信フィルタ10は送信端子10aから入力された送信信号TSをフィルタリングしてアンテナ端子9に出力するフィルタである。受信フィルタ11はアンテナ端子9から入力された受信信号RSをフィルタリングするフィルタである。フィルタリングされた受信信号RSは出力端子11aから出力される。送信フィルタ10および受信フィルタ11はアンテナ端子9に電気的に接続されている。なお、図13において、Gはグランドを示しており、Lはインダクタを示すものである。また、受信フィルタ11は、ダブルモードSAWフィルタDを示すものである。
送信フィルタ10は、アンテナ端子9および送信端子10aに直列的に接続した直列共振子S1〜S3と、アンテナ端子9および送信端子10aに並列的に接続した並列共振子P1〜P3とを有するラダー型フィルタで構成されている。本実施形態の分波器100では、3段のラダー型フィルタの例を用いているがこれに限定されず、何段のラダー型フィルタであってもよい。
上述のSAW素子1の構造を分波器100に適用したときに、回路パターン7を、減衰極調整用のインダクタとして用いる場合には、図13に示す、インダクタLに相当する部分に用いることができる。本実施形態では、複数の並列共振子P1〜P3と電気的に接続するようにグランド電位に接続された回路パターン7が配置されている。
(通信装置)
図14に示すように、アンテナ12と、アンテナ12に電気的に接続された分波器100と、分波器100に電気的に接続されたRF−IC13とを備える通信装置200であってもよい。通信装置200によれば、図15に示すように、SAW素子1(または分波器100)を回路基板14に実装した場合でも、カバー体6の変形を低減することができる。
図15は、SAW素子1(または分波器100)を回路基板14に実装した状態を示している。回路基板14には、回路電極14aが形成されている。SAW素子1は、例えば半田等からなるバンプ15を介して回路基板14に実装される。SAW素子1の外部接続端子8は、バンプ15を介して回路電極14aに電気的に接続される。
本変形例のSAW素子1は、蓋部5および第2蓋部5aを貫通する貫通孔6aにおいて、第1柱状電極8aが筒部16の貫通孔16aに、第2柱状電極8bが蓋部5の貫通孔6aにそれぞれ配置されている。本変形例において、第2蓋部5aの貫通孔6aには、柱状電極8は設けられていないが、第3柱状電極を設けてもよい。本変形例のように第2蓋部5aの貫通孔6aに柱状電極8を設けずに、バンプ15の一部を入りこませることにすることで、SAW素子1が回路基板14へ実装する際に位置ずれすることを低減することができる。また、バンプ15が第2蓋部5aと接触することで密着強度を向上させることができる。
1…弾性波素子(SAW素子)
2…圧電基板
2A…上面
2a…外周
3…励振電極
3a…電極パッド
3aa…配線導体
3b…バスバー電極
3c…電極指
3d…反射器
3e…第2電極パッド
4…枠部
5…蓋部
5a…第2蓋部
6…カバー体
6a…貫通孔
6b…凹部
6c…外縁
7…回路パターン
8…柱状電極
8a…第1柱状電極
8b…第2柱状電極
8c…外部パッド
9…アンテナ端子
10…送信フィルタ
11…受信フィルタ
12…アンテナ
13…RFIC
14…回路基板
14a…回路電極
15…バンプ
16…筒部
16a…貫通孔
17…支持部
18…貫通導体
100…分波器
200…通信装置
Sp…振動空間

Claims (15)

  1. 圧電基板と、
    該圧電基板上に配置された励振電極と、
    前記圧電基板上に配置された、前記励振電極を囲む枠部と、該枠部上に配置された蓋部とを有し、前記励振電極との間に振動空間を形成するカバー体と、
    前記枠部の内側において前記圧電基板上に配置され、前記励振電極と電気的に接続された電極パッドと、
    前記カバー体に配置され、前記電極パッドと電気的に接続された回路パターンと、を有し、
    該回路パターンは、平面透視で、前記枠部のうち、前記カバー体の外側から前記振動空間までの最短距離を結ぶ仮想線上には重ならず、かつ、前記枠部の内側で前記振動空間と重なる領域に配置されており、
    前記カバー体は、平面視で前記圧電基板の外周からはみ出す部分を備えない、弾性波素子。
  2. 前記カバー体は、前記枠部の内側において前記圧電基板上に配置され、前記蓋部と接合された支持部を含む、請求項1に記載の弾性波素子。
  3. 前記蓋部は、前記枠部に接合される側よりも、平面透視で前記励振電極と重なる領域において厚みが薄くなっており、
    前記回路パターンは、平面透視で前記励振電極と重なる領域に形成されている、請求項1または2に記載の弾性波素子。
  4. 前記回路パターンは、平面透視で、前記枠部と重ならない、請求項1乃至3のいずれかに記載の弾性波素子。
  5. 前記蓋部の前記圧電基板側の面は、前記枠部に接合される側に近づくにつれて前記圧電基板との距離が小さくなる、請求項1乃至4のいずれかに記載の弾性波素子。
  6. 前記枠部と前記蓋部とは、同一材料からなる、請求項1乃至5のいずれかに記載の弾性波素子。
  7. 前記電極パッド上に配置され、前記回路パターンに接続される柱状電極と、前記柱状電極の外周を覆う筒部と、を有する、請求項1乃至6のいずれかに記載の弾性波素子。
  8. 前記回路パターンは、グランド電位の前記電極パッドに電気的に接続されている請求項1乃至7のいずれかに記載の弾性波素子。
  9. 前記圧電基板上に配置された前記励振電極と電気的に接続され、平面透視で、前記振動空間の外側において、前記カバー体の外側に導出される第2電極パッドを備える、請求項1乃至8のいずれかに記載の弾性波素子。
  10. 前記枠部の外縁は、平面視したときに、前記圧電基板の外周よりも内側に配置されており、
    前記枠部は、平面視したときに、前記外縁が前記振動空間側に窪んだ凹部が形成されている、請求項1乃至9のいずれかに記載の弾性波素子。
  11. 前記第2電極パッドは、平面透視で前記枠部と重なるように配置されており、
    前記カバー体は、前記第2電極パッド上に配置された貫通導体を有する請求項9に記載の弾性波素子。
  12. 前記第2電極パッドは、前記枠部の外周側の側壁に沿って配置された外部接続端子に電気的に接続されている、請求項9に記載の弾性波素子。
  13. 前記回路パターンの少なくとも一部は前記蓋部の上面に配置されており、前記蓋部上に配置された、前記回路パターンを覆う絶縁性の第2蓋部をさらに有する請求項1乃至12のいずれかに記載の弾性波素子。
  14. 請求項1乃至13のいずれかに記載の弾性波素子と、
    該弾性波素子がバンプを介して実装された回路基板とを有する通信装置。
  15. 前記弾性波素子と電気的に接続されたアンテナをさらに有する請求項14に記載の通信装置。
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