JP6615666B2 - Radiation detector and radiation inspection apparatus - Google Patents
Radiation detector and radiation inspection apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- JP6615666B2 JP6615666B2 JP2016060717A JP2016060717A JP6615666B2 JP 6615666 B2 JP6615666 B2 JP 6615666B2 JP 2016060717 A JP2016060717 A JP 2016060717A JP 2016060717 A JP2016060717 A JP 2016060717A JP 6615666 B2 JP6615666 B2 JP 6615666B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- peripheral surface
- axis
- contact
- direction along
- collimator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 30
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 7
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 124
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 22
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 35
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 35
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 30
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 28
- 210000000078 claw Anatomy 0.000 description 15
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 11
- 238000003491 array Methods 0.000 description 8
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 6
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 6
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 6
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 5
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 4
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 3
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 3
- QNRATNLHPGXHMA-XZHTYLCXSA-N (r)-(6-ethoxyquinolin-4-yl)-[(2s,4s,5r)-5-ethyl-1-azabicyclo[2.2.2]octan-2-yl]methanol;hydrochloride Chemical compound Cl.C([C@H]([C@H](C1)CC)C2)CN1[C@@H]2[C@H](O)C1=CC=NC2=CC=C(OCC)C=C21 QNRATNLHPGXHMA-XZHTYLCXSA-N 0.000 description 2
- XQPRBTXUXXVTKB-UHFFFAOYSA-M caesium iodide Chemical compound [I-].[Cs+] XQPRBTXUXXVTKB-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 2
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 2
- PBYZMCDFOULPGH-UHFFFAOYSA-N tungstate Chemical compound [O-][W]([O-])(=O)=O PBYZMCDFOULPGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 1
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium atom Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
本発明の実施形態は、放射線検出器及び放射線検査装置に関する。 Embodiments described herein relate generally to a radiation detector and a radiation inspection apparatus.
X線CT装置のような放射線検査装置において、X線を検出する装置は、例えば、フォトダイオード、シンチレータ、及びコリメータを有する。コリメータは、例えば、一方向に、又は格子状に並べられる壁によって形成され、散乱したX線を遮蔽する。シンチレータは、X線を可視光に変換する。フォトダイオードは、光を電気信号に変換する。 In a radiation inspection apparatus such as an X-ray CT apparatus, an apparatus for detecting X-rays includes, for example, a photodiode, a scintillator, and a collimator. The collimator is formed, for example, by walls arranged in one direction or in a lattice shape, and shields scattered X-rays. The scintillator converts X-rays into visible light. The photodiode converts light into an electrical signal.
X線を検出する装置の各部品の位置は、検査精度に影響する。このため、X線を検出する装置の製造時において、各部品の位置決めに長い時間がかかることがある。 The position of each part of the apparatus that detects X-rays affects the inspection accuracy. For this reason, when manufacturing an apparatus for detecting X-rays, it may take a long time to position each component.
一つの実施形態に係る放射線検出器は、検知装置と、シンチレータユニットと、コリメータと、を備える。前記検知装置は、第1の面と、前記第1の面に設けられるとともに光を検知するよう構成された複数の検知部と、前記第1の面に開口する第1の開口を形成する第1の周面と、を有する。前記シンチレータユニットは、互いに接続されるとともに前記複数の検知部にそれぞれ面する複数のシンチレータと、第2の開口を形成する第2の周面と、を有する。前記コリメータは、前記複数のシンチレータにそれぞれ面する複数の貫通口が設けられたコリメート部と、前記コリメート部に接続されるとともに前記第1の周面と前記第2の周面とに接触するよう構成された接触部と、を有し、前記接触部が前記第1の周面と前記第2の周面とに接触する状態で前記コリメート部と前記検知装置との間に前記シンチレータユニットが配置されるよう構成される。 A radiation detector according to one embodiment includes a detection device, a scintillator unit, and a collimator. The detection device includes a first surface, a plurality of detection units that are provided on the first surface and configured to detect light, and a first opening that opens to the first surface. 1 peripheral surface. The scintillator unit includes a plurality of scintillators that are connected to each other and face the plurality of detection units, respectively, and a second peripheral surface that forms a second opening. The collimator is connected to the collimator portion provided with a plurality of through-holes respectively facing the plurality of scintillators, and is in contact with the first peripheral surface and the second peripheral surface. The scintillator unit is disposed between the collimator unit and the detection device in a state where the contact unit is in contact with the first peripheral surface and the second peripheral surface. Configured to be.
以下に、第1の実施形態について、図1乃至図8を参照して説明する。なお、本明細書において、実施形態に係る構成要素及び当該要素の説明について、複数の表現が記載されることがある。複数の表現がされた構成要素及び説明は、記載されていない他の表現がされても良い。さらに、複数の表現がされない構成要素及び説明も、記載されていない他の表現がされても良い。 The first embodiment will be described below with reference to FIGS. 1 to 8. In the present specification, a plurality of expressions may be described for the constituent elements according to the embodiment and the description of the elements. The constituent elements and descriptions in which a plurality of expressions are made may be other expressions that are not described. Further, the constituent elements and descriptions that are not expressed in a plurality may be expressed in other ways that are not described.
図1は、第1の実施形態に係るX線CT装置1の構成例を示す図である。X線CT装置1は、放射線検査装置の一例である。放射線検査装置は他の装置であっても良い。図1に示すように、X線CT装置1は、架台2と、寝台20と、コンソール40とを有する。なお、X線CT装置1の構成は、下記の構成に限定されるものではない。
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration example of an X-ray CT apparatus 1 according to the first embodiment. The X-ray CT apparatus 1 is an example of a radiation inspection apparatus. The radiation inspection apparatus may be another apparatus. As shown in FIG. 1, the X-ray CT apparatus 1 includes a
架台2は、高電圧発生回路3と、コリメータ調整回路4と、架台駆動回路5と、X線管6と、ウェッジ7と、コリメータ8と、X線検出器9と、データ収集回路10と、回転フレーム11とを有する。X線管6は、線源の一例である。X線検出器9は、放射線検出器の一例である。
The
高電圧発生回路3は、X線管6に管電圧を供給する。コリメータ調整回路4は、コリメータ8の開口度及び位置を調整することにより、X線管6が発生させたX線の照射範囲を調整する。架台駆動回路5は、回転フレーム11を回転させる。これにより、架台駆動回路5は、被検体Pを中心とする円軌道上でX線管6及びX線検出器9を旋回させる。高電圧発生回路3、コリメータ調整回路4、及び架台駆動回路5は、例えば、プロセッサにより実現される。
The high voltage generation circuit 3 supplies a tube voltage to the
X線管6は、X線検出器9と、X線管6とX線検出器9との間に位置する被検体Pとに向かってX線を照射する。X線は、放射線の一例である。放射線は、ガンマ線のような他の放射線であっても良い。X線管6は、高電圧発生回路3が供給する管電圧によりX線を発生させる。ウェッジ7は、被検体Pに照射されるX線の線量を調節するX線フィルタである。コリメータ8は、被検体Pに照射されるX線の照射範囲を調整するスリットである。
The
図2は、第1の実施形態の架台2を模式的に示す図である。図2に示すX線検出器9は、X線管6が照射したX線を検出する。X線検出器9は、複数のシンチレータアレイ91と、複数のフォトダイオードアレイ92と、複数のコリメータ93とを有する。シンチレータアレイ91は、シンチレータユニットの一例であり、例えば、放射線変換部、発光部、又は蛍光部とも称され得る。フォトダイオードアレイ92は、検知装置の一例である。コリメータ93は、例えば、整流装置、遮蔽装置、又は部材とも称され得る。
FIG. 2 is a diagram schematically illustrating the
シンチレータアレイ91は、互いに交差する二つの方向にマトリクス状に配列された複数のシンチレータ91aを有する。複数のシンチレータ91aは、例えば、回転フレーム11の円周の接線方向と、被検体Pの体軸方向と、に配列される。シンチレータ91aは、入射したX線を可視光に変換する。シンチレータ91aは、X線に限らず、他の放射線を可視光に変換しても良い。
The
フォトダイオードアレイ92は、シンチレータ91aごとに設けられたフォトダイオード92aを有する。フォトダイオード92aは、検知部の一例である。複数のフォトダイオード92aはそれぞれ、対応するシンチレータ91aに面する。
The
フォトダイオード92aは、シンチレータ91aが放出した可視光を電気信号に変換するアクティブエリアを有する。この電気信号は、データ収集回路10に送信される。アクティブエリアは、アノード(Anode)とも称され得る。このように、フォトダイオード92aは、光を検知する。
The
コリメータ93は、複数の板により格子状に形成される。コリメータ93は、例えば、タングステン又はモリブデンのような、原子番号が高くX線遮蔽能力の高い材料によって作られる。コリメータ93は他の材料によって作られても良い。
The
コリメータ93に、複数の貫通口93aが設けられる。複数の貫通口93aは、例えば、X線管6又は寝台20上の被検体Pに向く孔である。複数の貫通口93aが向く方向は互いに異なる。貫通口93aが向く方向はこれに限らない。複数のシンチレータ91aはそれぞれ、対応する貫通口93aに面する。
The
X線管6が照射したX線は、被検体Pを通過する。被検体Pを通過したX線は、貫通口93aを通り、シンチレータ91aに入射する。一方、X線の一部は、例えば被検体Pにより散乱させられることがある。コリメータ93は、散乱したX線を遮蔽する。
X-rays irradiated by the
図1に示すデータ収集回路10は、フォトダイオード92aが出力した電気信号に基づいて投影データを生成する。投影データは、例えば、サイノグラムである。サイノグラムとは、X線管6の各位置において各フォトダイオード92aが検出した信号を並べたデータである。ここで、X線管6の位置は、ビューと呼ばれる。サイノグラムは、ビュー方向及びチャンネル方向を軸とする二次元直交(交差)座標系に、フォトダイオード92aが検出したX線の実効エネルギーを割り当てたデータである。
The data collection circuit 10 shown in FIG. 1 generates projection data based on the electrical signal output from the
データ収集回路10は、生成したサイノグラムを後述する投影データ記憶回路43へ格納する。なお、データ収集回路10は、DAS(Data Acquisition System)に含まれる。また、データ収集回路10は、例えば、プロセッサにより実現される。
The data collection circuit 10 stores the generated sinogram in the projection
回転フレーム11は、円環状のフレームである。回転フレーム11は、X線管6及びX線検出器9を両者が対向するよう支持する。回転フレーム11は、架台駆動回路5により駆動され、被検体Pを中心として回転する。
The rotating
寝台20は、天板21と、寝台駆動回路22とを備える。天板21は、被検体Pが載せられる板状の部材である。寝台駆動回路22は、被検体Pが載せられた天板21を移動させることにより、被検体Pを架台2の撮影口内で移動させる。また、寝台駆動回路22は、例えば、プロセッサにより実現される。
The
コンソール40は、入力回路41と、ディスプレイ42と、投影データ記憶回路43と、画像記憶回路44と、記憶回路45と、処理回路46とを備える。
The
入力回路41は、指示や設定を入力するユーザにより使用される。入力回路41は、例えば、マウス、キーボードに含まれる。入力回路41は、ユーザが入力した指示や設定を処理回路46に転送する。入力回路41は、例えば、プロセッサにより実現される。
The input circuit 41 is used by a user who inputs instructions and settings. The input circuit 41 is included in, for example, a mouse and a keyboard. The input circuit 41 transfers instructions and settings input by the user to the
ディスプレイ42は、ユーザが参照するモニタである。ディスプレイ42は、例えば、CT画像、ユーザが指示や設定を入力する際に使用するGUI(Graphical User Interface)を表示する旨の指示を処理回路46から受ける。ディスプレイ42は、この指示に基づいてCT画像やGUIを表示する。
The display 42 is a monitor that the user refers to. The display 42 receives, for example, an instruction from the
投影データ記憶回路43は、データ収集回路10が生成した投影データや後述する前処理機能462により生成された生データ(Raw Data)を記憶する。画像記憶回路44は、後述する画像生成機能463により生成されたCT画像を記憶する。
The projection
記憶回路45は、高電圧発生回路3、コリメータ調整回路4、架台駆動回路5、及びデータ収集回路10が上述した機能を実現するためのプログラムを記憶する。記憶回路45は、寝台駆動回路22が上述した機能を実現するためのプログラムを記憶する。記憶回路45は、処理回路46が後述するスキャン制御機能461、前処理機能462、画像生成機能463、表示制御機能464、制御機能465、及びその他の機能それぞれを実現するためのプログラムを記憶する。従って、高電圧発生回路3、コリメータ調整回路4、架台駆動回路5、データ収集回路10、寝台駆動回路22、及び処理回路46は、記憶回路45に記憶されているプログラムを読み出して実行することにより、その機能を実現する。
The storage circuit 45 stores a program for the high voltage generation circuit 3, the collimator adjustment circuit 4, the gantry drive circuit 5, and the data collection circuit 10 to realize the functions described above. The storage circuit 45 stores a program for the
また、投影データ記憶回路43、画像記憶回路44、及び記憶回路45は、記憶されている情報をコンピュータにより読み出すことができる記憶媒体を有する。記憶媒体は、例えば、ハードディスクである。
Further, the projection
処理回路46は、スキャン制御機能461、前処理機能462、画像生成機能463、表示制御機能464、及び制御機能465を有する。これらの機能の詳細は、後述する。処理回路46は、例えば、プロセッサにより実現される。
The
図3は、第1の実施形態のX線CT装置1が行う処理の一例を示すフローチャートである。図3を参照しながら、第1の実施形態に係るX線CT装置1の処理の一例について説明する。 FIG. 3 is a flowchart illustrating an example of processing performed by the X-ray CT apparatus 1 according to the first embodiment. An example of processing of the X-ray CT apparatus 1 according to the first embodiment will be described with reference to FIG.
処理回路46は、図3に示すように、スキャンを実行し、投影データを収集する(S1)。例えば、処理回路46は、記憶回路45からスキャン制御機能461に相当するプログラムを読み出して実行する。
As shown in FIG. 3, the
スキャン制御機能461は、スキャンを実行するためにX線CT装置1を制御する機能である。例えば、処理回路46は、スキャン制御機能461を実行することにより、X線CT装置1を次のように制御する。
The
処理回路46は、寝台駆動回路22を制御することにより、被検体Pを架台2の撮影口内へ移動させる。処理回路46は、架台2に被検体Pのスキャンを実行させる。具体的には、処理回路46は、高電圧発生回路3を制御することにより、X線管6へ管電圧を供給させる。
The
処理回路46は、コリメータ調整回路4を制御することにより、コリメータ8の開口度及び位置を調整する。また、処理回路46は、架台駆動回路5を制御することにより、回転フレーム11を回転させる。そして、処理回路46は、データ収集回路10を制御することにより、データ収集回路10に投影データを収集させる。X線CT装置1が実行するスキャンは、例えば、コンベンショナルスキャン、ヘリカルスキャン、又はステップアンドシュートである。
The
次に、処理回路46は、収集された投影データに前処理を施す(S2)。例えば、処理回路46は、記憶回路45から前処理機能462に相当するプログラムを読み出して実行する。
Next, the
前処理機能462は、データ収集回路10により生成された投影データを補正する機能である。この補正は、例えば、対数変換、オフセット補正、感度補正、ビームハードニング補正、及び散乱線補正である。 The preprocessing function 462 is a function for correcting the projection data generated by the data collection circuit 10. This correction is, for example, logarithmic conversion, offset correction, sensitivity correction, beam hardening correction, and scattered ray correction.
前処理機能462により補正された投影データは、投影データ記憶回路43に格納される。なお、前処理機能462により補正された投影データは、生データとも称され得る。
The projection data corrected by the preprocessing function 462 is stored in the projection
次に、処理回路46は、生データからCT画像を生成し、表示する(S3)。例えば、処理回路46は、記憶回路45から画像生成機能463に相当するプログラムを読み出して実行する。
Next, the
画像生成機能463は、投影データ記憶回路43に格納されている生データを再構成し、CT画像を生成する機能である。再構成方法は、例えば、逆投影処理、又は逐次近似法である。
The
処理回路46は、記憶回路45から表示制御機能464に相当するプログラムを読み出して実行する。表示制御機能464は、画像記憶回路44に格納されているCT画像をディスプレイ42に表示する機能である。
The
なお、処理回路46は、上述した処理を実行する際、適宜、記憶回路45から制御機能465に相当するプログラムを読み出して実行する。制御機能465は、架台2、寝台20及びコンソール40の各構成要素を目的に応じて適切なタイミングで動作させる機能及びその他の機能を含む。
Note that the
以下、X線検出器9について詳しく説明する。図4は、第1の実施形態の検出器ユニット100を分解して示す斜視図である。図5は、第1の実施形態の検出器ユニット100を示す断面図である。本実施形態のX線検出器9は、複数の検出器ユニット100を有する。図4及び図5は、一つの検出器ユニット100を示す。
Hereinafter, the
検出器ユニット100は、上述のシンチレータアレイ91と、フォトダイオードアレイ92と、コリメータ93とを有する。なお、一つの検出器ユニット100が、複数のシンチレータアレイ91、複数のフォトダイオードアレイ92、又は複数のコリメータ93を有しても良い。
The
以下の説明において、各図面に示されるX軸、Y軸、及びZ軸が参照される。X軸、Y軸、及びZ軸は、一つの検出器ユニット100に対して、仮想的に定義される。すなわち、一つの検出器ユニット100の説明で参照されるX軸、Y軸、及びZ軸は、他の検出器ユニット100の説明で参照されるX軸、Y軸、及びZ軸と異なることがある。X軸とY軸とZ軸とは、互いに直交(交差)する。
In the following description, reference is made to the X axis, the Y axis, and the Z axis shown in each drawing. The X axis, the Y axis, and the Z axis are virtually defined for one
X軸は、被検体Pの体軸方向に沿って延びる。Y軸は、回転フレーム11の円周の接線方向に延びる。Z軸は、回転フレーム11の径方向に延びる。なお、X軸、Y軸、及びZ軸はこれに限らない。
The X axis extends along the body axis direction of the subject P. The Y axis extends in the tangential direction of the circumference of the
図6は、第1の実施形態のフォトダイオードアレイ92を示す平面図である。図6に示すように、フォトダイオードアレイ92は、基板111と、複数のフォトダイオード92aとを有する。
FIG. 6 is a plan view showing the
基板111は、例えば、プリント回路板(PCB)である。なお、基板111は、他の基板であっても良い。基板111は、X軸に沿う方向に延びる、略矩形(四角形)の板状に形成される。基板111は、他の形状に形成されても良い。
The
図5に示すように、基板111は、第1の面112と、第2の面113と、二つの第1の端面114とを有する。さらに、図6に示すように、基板111は、二つの第1の側端面115を有する。
As shown in FIG. 5, the
第1の面112は、Z軸に沿う方向に向く略平坦な面である。第1の面112は、例えば、寝台20上の被検体P、又はX線管6に向く。第1の面112は、他の方向に向いても良い。
The
図5に示す第2の面113は、第1の面112の反対側に位置する。第2の面113も、Z軸に沿う方向に向く略平坦な面である。Z軸に沿う方向は、第1の面112が向くZ軸に沿う正方向(Z軸の矢印が示す方向)と、第2の面113が向くZ軸に沿う負方向(Z軸の矢印が示す方向の反対方向)とを含む。
The
図6に示す第1の端面114は、軸に沿う方向における基板111の両端部である。第1の端面114は、X軸に沿う方向に向く。このため、第1の端面114は、第1の面112と交差し、且つ第2の面113と交差する。第1の端面114は、他の方向に向いても良い。
The
第1の側端面115は、Y軸に沿う方向における基板111の両端部である。第1の側端面115は、Y軸に沿う方向に向く。このため、第1の側端面115は、第1の面112と交差し、且つ第2の面113と交差する。第1の側端面115は、他の方向に向いても良い。
The first side end surfaces 115 are both end portions of the
複数のフォトダイオード92aは、第1の面112側に設けられる。例えば、素子であるフォトダイオード92aが、第1の面112上に実装されても良い。また、回路であるフォトダイオード92aが基板111と一体に形成され、当該フォトダイオード92aのアクティブエリアが第1の面112に形成されても良い。フォトダイオード92aは、第1の面112に入射した光を検知し、電気信号を生じる。
The plurality of
複数のフォトダイオード92aは、X軸に沿う方向と、Y軸に沿う方向とに、マトリクス状に並べられる。X軸に沿う方向は、第1の方向の一例である。複数のフォトダイオード92aは、等間隔に配置される。複数のフォトダイオード92aは、他の法則性に従って並べられても良い。
The plurality of
基板111に、二つの溝121が設けられる。溝121は、第1の開口の一例である。本実施形態の溝121は、X軸に沿う方向に延び、基板111の第1の端面114及び第1の側端面115から離間する。溝121は、他の形状に形成されても良い。
Two
図5に示すように、溝121は、Z軸に沿う方向に延び、第1の面112と第2の面113とに開口する。言い換えると、溝121は、基板111を貫通する。溝121はこれに限らず、例えば、第1の面112にのみ開口する有底の穴であっても良い。
As shown in FIG. 5, the
二つの溝121は、X軸に沿う方向に間隔を介して並べられる。図6に示すように、二つの溝121は、Y軸に沿う方向において、同一位置に配置されるが、異なる位置に配置されても良い。本実施形態の二つの溝121は、Y軸に沿う方向において、フォトダイオードアレイ92の中心軸上に位置する。X軸に沿う方向において、複数のフォトダイオード92aは、二つの溝121の間に位置する。
The two
二つの溝121は、基板111の、複数のフォトダイオード92aから離間した部分に設けられる。言い換えると、溝121は、フォトダイオードアレイ92の、光を検知する部分(フォトダイオード92a)から外れた位置に設けられる。
The two
複数のフォトダイオード92aから、それぞれ配線が延びる。当該配線は、基板111の内部に設けられるが、例えば、第1の面112又は第2の面113に設けられても良い。当該配線は、溝121を迂回して延びる。
A wiring extends from each of the plurality of
基板111は、二つの溝121を形成する二つの第1の周面122を有する。言い換えると、基板111の二つの第1の周面122は、対応する溝121に面する。第1の周面122は、基板111の筒状の内周面であり、Z軸に沿う方向に延びる。
The
第1の周面122は、内側面125と、外側面126と、二つの側面127とを有する。内側面125と外側面126とはそれぞれ、X軸に沿う方向における第1の周面122の端部であり、Y軸に沿う方向に延びる。
The first
内側面125は、X軸に沿う方向において、第1の周面122のうち最も複数のフォトダイオード92aに近い部分である。すなわち、内側面125は、外側面126よりも複数のフォトダイオード92aに近い。
The
二つの側面127はそれぞれ、Y軸に沿う方向における第1の周面122の端部であり、X軸に沿う方向に延びる。側面127は、Y軸に沿う方向に向く。側面127は、他の方向に向いても良い。
Each of the two
図7は、第1の実施形態のシンチレータアレイ91を示す平面図である。図7に示すように、シンチレータアレイ91において、複数のシンチレータ91aは、X軸に沿う方向と、Y軸に沿う方向とに、マトリクス状に並べられる。複数のシンチレータ91aは、等間隔に配置される。複数のシンチレータ91aは、他の法則性に従って並べられても良い。
FIG. 7 is a plan view showing the
シンチレータ91aは、例えば、タングステン酸カドミウム(CWO)又はヨウ化セシウム(CsI)によって作られる。シンチレータ91aは、他の材料によって作られても良い。
The
図5に示すように、シンチレータアレイ91は、第3の面131と、第4の面132と、二つの第2の端面133とを有する。さらに、図7に示すように、シンチレータアレイ91は、二つの第2の側端面134を有する。
As shown in FIG. 5, the
図5に示す第3の面131は、Z軸に沿う方向に向く略平坦な面である。第3の面131は、基板111の第1の面112に向く。言い換えると、第3の面131は、複数のフォトダイオード92aに向く。
The
第4の面132は、第3の面131の反対側に位置する。第4の面132も、Z軸に沿う方向に向く略平坦な面である。第4の面132は、例えば、寝台20上の被検体P、又はX線管6に向く。第4の面132は、他の方向に向いても良い。
The
第2の端面133は、X軸に沿う方向におけるシンチレータアレイ91の両端部である。第2の端面133は、X軸に沿う方向に向く。このため、第2の端面133は、第3の面131と交差し、且つ第4の面132と交差する。第2の端面133は、他の方向に向いても良い。
The
図7に示す第2の側端面134は、Y軸に沿う方向におけるシンチレータアレイ91の両端部である。第2の側端面134は、Y軸に沿う方向に向く。このため、第2の側端面134は、第3の面131と交差し、且つ第4の面132と交差する。第2の側端面134は、他の方向に向いても良い。
The second side end surfaces 134 shown in FIG. 7 are both end portions of the
図5に示すように、シンチレータアレイ91は、接着部137と、二つの外縁部138とをさらに有する。接着部137は、例えば、白色の塗料である。接着部137は、並べられた複数のシンチレータ91aを互いに接続する。さらに、接着部137は、シンチレータアレイ91の第4の面132を形成する。言い換えると、接着部137は、Z軸に沿う方向における複数のシンチレータ91aの一方の端面を覆う。なお、例えば図4や図7は、説明のためにシンチレータ91aを実線で示す。
As shown in FIG. 5, the
第3の面131において、複数のシンチレータ91aは露出される。このようなシンチレータ91aは、X線が入射されると発光する。シンチレータ91aがZ軸に沿う正方向、X軸に沿う方向、及びY軸に沿う方向に発した光は、白色の塗料である接着部137によって遮蔽される。また、遮蔽された光は反射してフォトダイオード92aに入射する。一方、シンチレータ91aがZ軸に沿う負方向に発した光は、接着部137に遮られず、対応するフォトダイオード92aに入射する。
On the
二つの外縁部138は、X軸に沿う方向に間隔を介して並べられる。二つの外縁部138の間に、複数のシンチレータ91aが位置する。二つの外縁部138は、マトリクス状に並べられた複数のシンチレータ91aに接続される。
The two
二つの外縁部138は、二つの第2の端面133を形成する。外縁部138は、シンチレータ91aと同じ材料によって作られるが、シンチレータ91aと異なる材料によって作られても良い。
The two
図7に示すように、シンチレータアレイ91に、二つの凹部141が設けられる。凹部141は、第2の開口の一例である。本実施形態の凹部141は、X軸に沿う方向に延び、第2の側端面134から離間する。
As shown in FIG. 7, the
一方の凹部141は、一方の第2の端面133から延びる。他方の凹部141は、他方の第2の端面133から延びる。すなわち、凹部141は、外縁部138に設けられた切欠きである。凹部141は、他の形状に形成されても良いし、他の位置に設けられても良い。
One
図5に示すように、凹部141は、Z軸に沿う方向に延び、第3の面131と第4の面132とに開口する。言い換えると、凹部141は、シンチレータアレイ91を貫通する。
As shown in FIG. 5, the
二つの凹部141は、X軸に沿う方向に間隔を介して並べられる。図7に示すように、二つの凹部141は、Y軸に沿う方向において、同一位置に配置されるが、異なる位置に配置されても良い。本実施形態の二つの凹部141は、Y軸に沿う方向において、シンチレータアレイ91の中心軸上に位置する。X軸に沿う方向において、複数のシンチレータ91aは、二つの凹部141の間に位置する。
The two
シンチレータアレイ91は、二つの凹部141を形成する二つの第2の周面142を有する。第2の周面142は、第2の端面133から窪んだ凹状の面であり、Z軸に沿う方向に延びる。
The
第2の周面142は、内側面145と、二つの側面146とを有する。内側面145は、X軸に沿う方向における第2の周面142の端部であり、Y軸に沿う方向に延びる。内側面145は、X軸に沿う方向において、第2の周面142のうち最も複数のシンチレータ91aに近い部分である。
The second
二つの側面146はそれぞれ、Y軸に沿う方向における第2の周面142の端部であり、X軸に沿う方向に延びる。側面146は、Y軸に沿う方向に向く。側面146は、他の方向に向いても良い。
Each of the two
図5に示すように、シンチレータアレイ91は、フォトダイオードアレイ92に重ねられる。このとき、一方の溝121は、一方の凹部141にZ軸に沿う方向に接続され、他方の溝121は、他方の凹部141にZ軸に沿う方向に接続される。
As shown in FIG. 5, the
一方の第1の周面122は、一方の第2の周面142にZ軸に沿う方向に接続され、他方の第1の周面122は、他方の第2の周面142にZ軸に沿う方向に接続される。第1の周面122の内側面125は、第2の周面142の内側面145にZ軸に沿う方向に接続される。さらに、第1の周面122の二つの側面127は、第2の周面142の二つの側面146にZ軸に沿う方向に接続される。
One first
二つの溝121と二つの凹部141とは、Z軸に沿う方向に平面視した場合に、略同一位置に配置される。言い換えると、二つの第1の周面122と二つの第2の周面142とは、Z軸に沿う方向に平面視した場合に、略同一位置に配置される。
The two
図8は、第1の実施形態のコリメータ93を示す平面図である。図8に示すように、コリメータ93は、コリメート部151と、二つの突起部152とを有する。突起部152は、接触部の一例である。
FIG. 8 is a plan view showing the
コリメート部151は、複数の第1の板155と、複数の第2の板156とを有する。第1及び第2の板155,156は、例えば、壁とも称され得る。複数の第1の板155は、X軸に沿う方向に延びるとともに、Y軸に沿う方向に間隔を介して並べられる。複数の第2の板156は、Y軸に沿う方向に延びるとともに、X軸に沿う方向に間隔を介して並べられる。
The
複数の第1の板155と、複数の第2の板156とは、互いに接続され、格子状に形成される。このような複数の第1及び第2の板155,156は、例えばZ軸に沿う方向に延びる複数の貫通口93aを形成する。なお、コリメート部151は、他の形状に形成されても良い。例えば、コリメート部151は、ハニカム状に形成され、六角形の貫通口93aが設けられても良い。
The plurality of
一方の突起部152は、コリメート部151からX軸に沿う正方向に突出する。他方の突起部152は、コリメート部151からX軸に沿う負方向に突出する。二つの突起部152は、他の方向に突出しても良い。
One
図5に示すように、突起部152は、Z軸に沿う方向に延びる板状に形成される。突起部152は、他の形状に形成されても良い。突起部152はそれぞれ、接続部161と、挿入部162と、爪163とを有する。爪163は、係止部の一例である。
As shown in FIG. 5, the
接続部161は、コリメート部151に接続される。接続部161は、例えば、一つの第1の板155と連続して延びる。なお、接続部161は、第1の板155と異なる位置から延びても良い。
The connecting
挿入部162は、接続部161からZ軸に沿う方向に延びる。挿入部162は、シンチレータアレイ91の凹部141と、フォトダイオードアレイ92の溝121とを通過する。言い換えると、挿入部162は、凹部141に嵌め込まれるとともに、溝121に嵌め込まれる。
The
挿入部162は、内側部166と、外側部167とを有する。内側部166は、X軸に沿う方向において、複数のフォトダイオード92aに向くとともに、複数のシンチレータ91aに向く。
The
内側部166は、第1の周面122の内側面125に接触するとともに、第2の周面142の内側面145に接触する。このため、シンチレータアレイ91は、コリメータ93の二つの突起部152の内側部166の間に挟持される。このため、二つの突起部152は、シンチレータアレイ91が、コリメータ93に対してX軸に沿う方向に移動することを制限する。
The
さらに、フォトダイオードアレイ92は、コリメータ93の二つの突起部152の内側部166の間に挟持される。このため、二つの突起部152は、フォトダイオードアレイ92が、コリメータ93に対してX軸に沿う方向に移動することを制限する。
Further, the
外側部167は、内側部166の反対側に位置する。外側部167は、第1の周面122の外側面126から離間する。すなわち、X軸に沿う方向において、挿入部162の長さは、溝121の長さよりも短い。
The
爪163は、挿入部162の先端部に設けられる。言い換えると、爪163と接続部161との間に、挿入部162が設けられる。爪163は、挿入部162の内側部166からX軸に沿う方向に突出する。
The
挿入部162が溝121及び凹部141に挿入され、挿入部162が第1の周面122及び第2の周面142に接触すると、爪163が基板111の第2の面113に接触する。なお、爪163は、第2の面113から離間しても良い。この場合、コリメータ93がZ軸に沿う正方向に移動すると、爪163が基板111の第2の面113に接触する。すなわち、爪163は、コリメータ93がフォトダイオードアレイ91に対してZ軸に沿う方向に移動することを制限する。
When the
挿入部162が溝121及び凹部141に挿入され、挿入部162が第1の周面122及び第2の周面142に接触する状態で、シンチレータアレイ91は、コリメート部151とフォトダイオードアレイ92との間に配置される。このとき、複数のフォトダイオード92aは、複数のシンチレータ91aに面する。複数のシンチレータ91aは、接着部137を介して、複数の貫通口93aに面する。
The
シンチレータアレイ91及びフォトダイオードアレイ92は、Z軸に沿う方向において、コリメート部151と、爪163との間に位置する。フォトダイオードアレイ92は、シンチレータアレイ91の第3の面131に接触する。さらに、コリメート部151は、シンチレータアレイ91の第4の面132に接触する。このため、コリメート部151は、フォトダイオードアレイ92に固定されるとともに、シンチレータアレイ91をフォトダイオードアレイ92に固定する。なお、コリメート部151は、シンチレータアレイ91の第4の面132から離間しても良い。
The
以上のように、コリメータ93の突起部152が溝121及び凹部141に挿入され、挿入部162が第1の周面122及び第2の周面142に接触すると、複数のシンチレータ91a、複数のフォトダイオード92a、及び複数の貫通口93aが互いに位置合わせされる。さらに、爪163が基板111の第2の面113に接触することで、シンチレータアレイ91、フォトダイオードアレイ92、及びコリメータ93が互いに固定される。従って、シンチレータアレイ91、フォトダイオードアレイ92、及びコリメータ93の位置合わせ及び固定が同時に行われる。
As described above, when the
突起部152が溝121及び凹部141に挿入されるとき、爪163が第1及び第2の周面122,142の内側面125,145に接触する。このため、挿入部162は、内側面125,145から離間する方向に弾性変形する。上述のように、挿入部162の外側部167は、第1の周面122の外側面126から離間する。このため、例えば外側部167が第1の周面122の外側面126に干渉せず、挿入部162が溝121を通過できる。
When the
シンチレータアレイ91、フォトダイオードアレイ92、及びコリメータ93は、例えば、光が透過可能な両面テープ又は接着剤により、互いにさらに固定されても良い。両面テープ又は接着剤は、例えば、基板111の第1の面112と、シンチレータアレイ91の第3の面131との間に介在する。
The
以上説明した複数の検出器ユニット100が、回転フレーム11の円周方向(Y軸に沿う方向)に並べられる。例えば、複数の検出器ユニット100は、回転フレーム11に取り付けられる。これにより、図2に示すアーチ状のX線検出器9が形成される。
The plurality of
本実施形態のシンチレータアレイ91において、複数のシンチレータ91aは、例えば、CWOのようなシンチレータ材料の板からダイシングソーにより切り出される。また、ダイシングソーは、当該シンチレータ材料から外縁部138を切り出すとともに、切欠きである凹部141を形成する。分割された複数のシンチレータ91a及び二つの外縁部138は、接着部137によって互いに接続され、シンチレータアレイ91を形成する。このように、凹部141は、複数のシンチレータ91aと同時に形成される。シンチレータアレイ91は、他の方法により形成されても良い。
In the
フォトダイオードアレイ92において、溝121は、例えばワイヤー放電によって形成される。これにより、基板111を貫通する溝121が容易に形成される。溝121は、他の方法により形成されても良い。
In the
コリメータ93は、例えば、3Dプリンタによって積層造形される。これにより、突起部152を有するコリメータ93が容易に製造され得る。なお、コリメータ93はこれに限らず、他の方法で作られても良い。
The
第1の実施形態に係るX線CT装置1において、フォトダイオードアレイ92は、溝121を形成する第1の周面122を有する。シンチレータアレイ91は、凹部141を形成する第2の周面142を有する。コリメータ93の突起部152は、第1の周面122と第2の周面142とに接触する。これにより、フォトダイオードアレイ92とコリメータ93との位置決めと、シンチレータアレイ91とコリメータ93との位置決めとが一時に行われる。従って、フォトダイオードアレイ92と、シンチレータアレイ91と、コリメータ93との位置決めが容易となり、X線検出器9の製造がより容易になり得る。
In the X-ray CT apparatus 1 according to the first embodiment, the
複数のフォトダイオード92a及び複数のシンチレータ91aは、X軸に沿う方向において二つの溝121の間に位置し、且つ二つの凹部141の間に位置する。X軸に沿う方向において複数のフォトダイオード92a及び複数のシンチレータ91aに向く二つの突起部152の内側部166が、第1及び第2の周面122,142に接触する。これにより、フォトダイオードアレイ92と、シンチレータアレイ91と、コリメータ93とが、少なくともX軸に沿う方向において互いに位置決めされ、ずれることが抑制される。
The plurality of
例えば溝121が有底の穴である場合、穴を形成する加工により、溝121の底に曲面が形成される場合がある。突起部152が当該曲面に干渉すると、フォトダイオードアレイ92と、シンチレータアレイ91と、コリメータ93との位置がずれることがある。しかし、本実施形態においては、溝121は、第1の面112と第2の面113とに開口する。言い換えると、溝121は、フォトダイオードアレイ92を貫通し、上記曲面が形成されることが抑制される。これにより、フォトダイオードアレイ92と、シンチレータアレイ91と、コリメータ93との位置がずれることが抑制される。
For example, when the
突起部152は、第2の面113に接触するよう構成された爪163を有する。これにより、シンチレータアレイ91がコリメート部151とフォトダイオードアレイ92との間に挟まれた状態で、コリメータ93がフォトダイオードアレイ92に固定される。従って、フォトダイオードアレイ92、シンチレータアレイ91、及びコリメータ93が互いに位置決めされると同時に、フォトダイオードアレイ92、シンチレータアレイ91、及びコリメータ93が互いに固定される。従って、X線検出器9の製造がより容易になり得る。
The
凹部141は、シンチレータアレイ91の第2の端面133から延びる。これにより、例えば、シンチレータアレイ91の第2の端面133からダイシングソーやワイヤー放電により凹部141を容易に形成することができる。
The
本実施形態のプロセッサは、例えば、CPU(Central Processing Unit)、GPU(Graphics Processing Unit)、特定用途向け集積回路(Application Specific Integrated Circuit:ASIC)、プログラマブル論理デバイス(Programmable Logic Device:PLD)、又はフィールドプログラマブルゲートアレイ(Field Programmable Gate Array:FPGA)である。また、プログラマブル論理デバイス(Programmable Logic Device:PLD)は、例えば、単純プログラマブル論理デバイス(Simple Programmable Logic Device:SPLD)、又は複合プログラマブル論理デバイス(Complex Programmable Logic Device:CPLD)である。 The processor of the present embodiment is, for example, a CPU (Central Processing Unit), a GPU (Graphics Processing Unit), an application specific integrated circuit (ASIC), a programmable logic device (Programmable PL), or a programmable logic device (Programmable PL). It is a programmable gate array (Field Programmable Gate Array: FPGA). Moreover, the programmable logic device (Programmable Logic Device (PLD)) is, for example, a simple programmable logic device (Simple Programmable Logic Device: SPLD) or a complex programmable logic device (Complex Programmable Logic Device: CPLD).
以下に、第2の実施形態について、図9を参照して説明する。なお、以下の複数の実施形態の説明において、既に説明された構成要素と同様の機能を持つ構成要素は、当該既述の構成要素と同じ符号が付され、さらに説明が省略される場合がある。また、同じ符号が付された複数の構成要素は、全ての機能及び性質が共通するとは限らず、各実施形態に応じた異なる機能及び性質を有していても良い。 Hereinafter, the second embodiment will be described with reference to FIG. In the following description of the plurality of embodiments, components having the same functions as the components already described are denoted by the same reference numerals as those described above, and further description may be omitted. . In addition, a plurality of components to which the same reference numerals are attached do not necessarily have the same functions and properties, and may have different functions and properties according to each embodiment.
図9は、第2の実施形態に係る検出器ユニット100を分解して示す斜視図である。図9に示すように、第2の実施形態の溝121は、基板111の第1の端面114からX軸に沿う方向に延びる。言い換えると、第2の実施形態の溝121は、基板111に設けられた切欠きである。
FIG. 9 is an exploded perspective view showing the
第2の実施形態のX線CT装置1において、溝121は、第1の端面114から延びる。これにより、例えば、第1の端面114からダイシングソーやワイヤー放電により溝121を容易に形成することができる。
In the X-ray CT apparatus 1 of the second embodiment, the
以下に、第3の実施形態について、図10を参照して説明する。図10は、第3の実施形態に係る検出器ユニット100の一部を示す平面図である。図10は、コリメータ93について、突起部152の断面を示す。
The third embodiment will be described below with reference to FIG. FIG. 10 is a plan view showing a part of the
図10に示すように、第3の実施形態の溝121はそれぞれ、T字状に形成され、第1の部分171と、第2の部分172とを有する。第1の部分171は、X軸に沿う方向に延びる。第2の部分172は、Y軸に沿う方向に延びる。第2の部分172は、第1の部分171よりも、複数のフォトダイオード92aから離間している。
As shown in FIG. 10, the
第1の周面122の第1の部分171を形成する部分は、内側面175と、二つの側面176とを有する。内側面175は、X軸に沿う方向における、第1の周面122の第1の部分171を形成する部分の端部であり、Y軸に沿う方向に延びる。内側面175は、X軸に沿う方向において、第1の周面122の第1の部分171を形成する部分のうち最も複数のフォトダイオード92aに近い部分である。
A portion of the first
二つの側面176はそれぞれ、Y軸に沿う方向における第1の周面122の第1の部分171を形成する部分の端部であり、X軸に沿う方向に延びる。側面176は、Y軸に沿う方向に向く。側面176は、他の方向に向いても良い。
Each of the two
第1の周面122の第2の部分172を形成する部分は、内側面177と、外側面178と、二つの側面179とを有する。内側面177と外側面178とはそれぞれ、X軸に沿う方向における、第1の周面122の第2の部分172を形成する部分の端部であり、Y軸に沿う方向に延びる。
The portion forming the second portion 172 of the first
内側面177は、X軸に沿う方向において、第1の周面122の第2の部分172を形成する部分のうち、最も複数のフォトダイオード92aに近い部分である。すなわち、内側面177は、外側面178よりも複数のフォトダイオード92aに近い。
The
二つの側面179はそれぞれ、Y軸に沿う方向における第1の周面122の第2の部分172を形成する部分の端部であり、X軸に沿う方向に延びる。側面179は、Y軸に沿う方向に向く。側面179は、他の方向に向いても良い。
Each of the two
第3の実施形態の挿入部162はそれぞれ、T字状に形成され、第1の延部181と、第2の延部182とを有する。第1の延部181は、X軸に沿う方向に延びる。第2の延部182は、Y軸に沿う方向に延びる。第2の延部182は、第1の延部181よりも、複数のフォトダイオード92a及び複数のシンチレータ91aから離間している。
Each of the
挿入部162が溝121に挿入されると、第1の延部181が溝121の第1の部分171に嵌め込まれ、第2の延部182が第2の部分172に嵌め込まれる。さらに、第1の延部181は、シンチレータアレイ91の凹部141に嵌め込まれる。一方、第2の部分182は、シンチレータアレイ91から離間する。
When the
第1の延部181は、二つの側部185を有する。二つの側部185はそれぞれ、Y軸に沿う方向における第1の延部181の端部であり、X軸に沿う方向に延びる。側部185は、Y軸に沿う方向に向く。Y軸に沿う方向は、第2の方向の一例であり、基板111の第1の面112に沿って延びる。側部185は、他の方向に向いても良い。
The first extending
二つの側部185は、第1の周面122の第1の部分171を形成する部分の二つの側面176に接触するとともに、第2の周面142の二つの側面146に接触する。このため、第1の延部181は、第1の周面122の第1の部分171を形成する部分の二つの側面176の間に挟持される。さらに、第1の延部181は、第2の周面142の二つの側面146の間に挟持される。
The two
第1の延部181は、第1の周面122の第1の部分171を形成する部分の内側面175から離間する。なお、第1の延部181は、第1の周面122の第1の部分171を形成する部分の内側面175に接触しても良い。
The first extending
第1の延部181は、第2の周面142の内側面145に接触する。このため、シンチレータアレイ91は、コリメータ93の二つの突起部152の第1の延部181の間に挟持される。
The first extending
第2の延部182は、内側部186と、外側部187とを有する。内側部186は、X軸に沿う方向において、複数のフォトダイオード92aに向くとともに、複数のシンチレータ91aに向く。
The
内側部186は、第1の周面122の第2の部分172を形成する部分の内側面177に接触する。このため、フォトダイオードアレイ92は、コリメータ93の二つの突起部152の内側部186の間に挟持される。
The
外側部187は、第1の周面122の第2の部分172を形成する部分の外側面178から離間する。なお、外側部187は、第1の周面122の第2の部分172を形成する部分の外側面178に接触しても良い。
The
第3の実施形態のX線CT装置1において、Y軸に沿う方向に向く側部185が、第1及び第2の周面122,142に接触する。これにより、フォトダイオードアレイ92と、シンチレータアレイ91と、コリメータ93とが、X軸に沿う方向及びY軸に沿う方向において互いに位置決めされ、ずれることが抑制される。
In the X-ray CT apparatus 1 according to the third embodiment, the
以下に、第4の実施形態について、図11を参照して説明する。図11は、第4の実施形態に係る検出器ユニット100の一部を示す平面図である。図11は、コリメータ93について、突起部152の断面を示す。
The fourth embodiment will be described below with reference to FIG. FIG. 11 is a plan view showing a part of the
図11に示すように、第4の実施形態の溝121はそれぞれ、第3の実施形態と同じくT字状に形成され、第1の部分171と、第2の部分172とを有する。第4の実施形態において、第2の部分172は、第1の部分171よりも、複数のフォトダイオード92aに近い。
As shown in FIG. 11, each of the
第1の周面122の第1の部分171を形成する部分は、二つの側面176と、外側面191とを有する。外側面191は、X軸に沿う方向における、第1の周面122の第1の部分171を形成する部分の端部であり、Y軸に沿う方向に延びる。外側面191は、X軸に沿う方向において、第1の周面122の第1の部分171を形成する部分のうち最も複数のフォトダイオード92aから離間した部分である。
The portion forming the
第4の実施形態の挿入部162はそれぞれ、第3の実施形態と同じくT字状に形成され、第1の延部181と、第2の延部182とを有する。第4の実施形態において、第2の延部182は、第1の延部181よりも、複数のフォトダイオード92a及び複数のシンチレータ91aに近い。
Each of the
挿入部162が溝121に挿入されると、第1の延部181が溝121の第1の部分171に嵌め込まれ、第2の延部182が第2の部分172に嵌め込まれる。さらに、第2の延部182は、シンチレータアレイ91の凹部141に嵌め込まれる。一方、第1の延部181は、シンチレータアレイ91から離間する。
When the
第1の延部181の二つの側部185は、第1の周面122の第1の部分171を形成する部分の二つの側面176に接触する。このため、第1の延部181は、第1の周面122の第1の部分171を形成する部分の二つの側面176の間に挟持される。
The two
第1の延部181は、第1の周面122の第1の部分171を形成する部分の外側面191から離間する。なお、第1の延部181は、第1の周面122の第1の部分171を形成する部分の外側面191に接触しても良い。
The first extending
第2の延部182の内側部186は、第1の周面122の第2の部分172を形成する部分の内側面177に接触する。このため、フォトダイオードアレイ92は、コリメータ93の二つの突起部152の内側部186の間に挟持される。
The
外側部187は、第1の周面122の第2の部分172を形成する部分の外側面178から離間する。なお、外側部187は、第1の周面122の第2の部分172を形成する部分の外側面178に接触しても良い。
The
第2の延部182は、第2の周面142の内側面145と二つの側面146とに接触する。このため、シンチレータアレイ91は、コリメータ93の二つの突起部152の第2の延部182の間に挟持される。
The second extending
第4の実施形態のX線CT装置1において、Y軸に沿う方向に向く側部185が、第1及び第2の周面122,142に接触する。これにより、フォトダイオードアレイ92と、シンチレータアレイ91と、コリメータ93とが、X軸に沿う方向及びY軸に沿う方向において互いに位置決めされ、ずれることが抑制される。
In the X-ray CT apparatus 1 according to the fourth embodiment, the
以下に、第5の実施形態について、図12を参照して説明する。図12は、第5の実施形態に係る検出器ユニット100の一部を示す平面図である。図12は、コリメータ93について、突起部152の断面を示す。
The fifth embodiment will be described below with reference to FIG. FIG. 12 is a plan view showing a part of the
図12に示すように、第5の実施形態の溝121は菱形状(四角形状)に形成される。第1の周面122は、二つの内側面195と、二つの外側面196とを有する。二つの内側面195と、二つの外側面196とは、互いに接続される。
As shown in FIG. 12, the
二つの内側面195は、菱形状の溝121の二つの辺を形成し、互いに略直交する方向に延びる。二つの内側面195は、複数のフォトダイオード92aに近づくに従って互いに近付く。
The two inner side surfaces 195 form two sides of the
二つの外側面196は、菱形状の溝121の二つの辺を形成し、互いに略直交する方向に延びる。二つの外側面196は、複数のフォトダイオード92aから離間するに従って互いに近付く。
The two
第5の実施形態の凹部141は、三角形状の切欠きである。第2の周面142は、二つの内側面198を有する。二つの内側面198は、互いに略直交する方向に延び、複数のシンチレータ91aに近づくに従って互いに近付く。
The
溝121は、凹部141にZ軸に沿う方向に接続される。第1の周面122の一方の内側面195は、第2の周面142の一方の内側面198にZ軸に沿う方向に接続される。第1の周面122の他方の内側面195は、第2の周面142の他方の内側面198にZ軸に沿う方向に接続される。
The
第5の実施形態の挿入部162はそれぞれ、円柱状に形成される。挿入部162が溝121に挿入されると、円柱状の挿入部162が、溝121及び凹部141に嵌め込まれる。
Each of the
挿入部162は、第1の周面122の二つの内側面195に接触する。このため、フォトダイオードアレイ92は、コリメータ93の二つの突起部152の間に挟持される。挿入部162は、第1の周面122の外側面196から離間する。なお、挿入部162は、第1の周面122の外側面196に接触しても良い。
The
挿入部162は、第2の周面142の二つの内側面198に接触する。このため、シンチレータアレイ91は、コリメータ93の二つの突起部152の間に挟持される。
The
第5の実施形態のX線CT装置1において、円柱状の突起部152が、第1の周面122の交差する二つの内側面195に接触する。さらに、円柱状の突起部152が、第2の周面142の交差する二つの内側面198に接触する。これにより、フォトダイオードアレイ92と、シンチレータアレイ91と、コリメータ93とが、X軸に沿う方向及びY軸に沿う方向において互いに位置決めされ、ずれることが抑制される。
In the X-ray CT apparatus 1 of the fifth embodiment, the
以下に、第6の実施形態について、図13及び図14を参照して説明する。図13は、第6の実施形態に係るX線検出器9の一部を示す平面図である。図14は、第6の実施形態のX線検出器9の一部を示す断面図である。
The sixth embodiment will be described below with reference to FIGS. 13 and 14. FIG. 13 is a plan view showing a part of the
図13に示すように、第6の実施形態のフォトダイオードアレイ92に、四つの溝121が設けられる。フォトダイオードアレイ92に、さらに多くの溝121が設けられても良い。複数のフォトダイオード92aは、X軸に沿う方向において、Y軸に沿う方向に並べられた二つの溝121と、Y軸に沿う方向に並べられた他の二つの121との間に位置する。
As shown in FIG. 13, four
第6の実施形態のシンチレータアレイ91に、四つの凹部141が設けられる。シンチレータアレイ91に、さらに多くの凹部141が設けられても良い。複数のシンチレータ91aは、X軸に沿う方向において、Y軸に沿う方向に並べられた二つの凹部141と、Y軸に沿う方向に並べられた他の二つの凹部141との間に位置する。
Four
第6の実施形態のコリメータ93は、二つの第1の突起部201と、二つの第2の突起部202とを有する。第1及び第2の突起部201,202はそれぞれ、例えば、第1の実施形態の突起部152と同一の形状を有し、接続部161と、挿入部162と、爪163とを有する。
The
二つの第1の突起部201は、X軸に沿う方向に並べられる。コリメート部151は、X軸に沿う方向において、二つの第1の突起部201の間に位置する。二つの第2の突起部202も、X軸に沿う方向に並べられる。コリメート部151は、X軸に沿う方向において、二つの第2の突起部202の間に位置する。
The two
一方の第1の突起部201と一方の第2の突起部202とは、Y軸に沿う方向に並べられる。他方の第1の突起部201と他方の第2の突起部202とは、Y軸に沿う方向に並べられる。
One
図14に示すように、第1の突起部201の挿入部162は、一つのフォトダイオードアレイ92の二つの溝121に嵌め込まれるとともに、一つのシンチレータアレイ91の二つの凹部141に嵌め込まれる。このため、第1の突起部201の挿入部162は、一つのフォトダイオードアレイ92の第1の周面122に接触するとともに、一つのシンチレータアレイ91の第2の周面142に接触する。
As shown in FIG. 14, the
第2の突起部202の挿入部162は、他の一つのフォトダイオードアレイ92の二つの溝121に嵌め込まれるとともに、他の一つのシンチレータアレイ91の二つの凹部141に嵌め込まれる。このため、第2の突起部202の挿入部162は、他の一つのフォトダイオードアレイ92の第1の周面122に接触するとともに、他の一つのシンチレータアレイ91の第2の周面142に接触する。
The
一つのコリメータ93において、複数の貫通口93aが向く方向はそれぞれ異なる。第1の突起部201が延びる方向と、第2の突起部202が延びる方向とは、斜めに交差する。このため、コリメータ93は、一つのシンチレータアレイ91及びフォトダイオードアレイ92と、他の一つのシンチレータアレイ91及びフォトダイオードアレイ92とを、斜めに接続する。なお、コリメータ93は、一つのシンチレータアレイ91及びフォトダイオードアレイ92と、他の一つのシンチレータアレイ91及びフォトダイオードアレイ92とを、一つの方向に並ぶよう接続しても良い。
In one
一つのフォトダイオードアレイ92の他の二つの溝121と、一つのシンチレータアレイ91の他の二つの凹部141とに、図14の二点鎖線で示す他のコリメータ93の第2の突起部202が嵌め込まれる。さらに、他の一つのフォトダイオードアレイ92の他の二つの溝121と、他の一つのシンチレータアレイ91の他の二つの凹部141とに、図14の二点鎖線で示すさらに別のコリメータ93の第1の突起部201が嵌め込まれる。
In the other two
図13に示すように、コリメータ93の複数の第2の板156の一部は、並べられた複数の第1の板155のうち一方の端の第1の板155(図13における最も上側の第1の板155)から突出する。複数の第2の板156の当該突出した部分と、第1の板155とは、凹状の開口を形成する。
As shown in FIG. 13, a part of the plurality of
複数の第2の板156の突出した部分は、図13に二点鎖線で示す他のコリメータ93の第1の板155に接触する。コリメータ93の複数の第2の板156の突出した部分及び第1の板155と、他のコリメータ93の第1の板155とは、複数の貫通口93aを形成する。すなわち、貫通口93aは、一つのコリメータ93によって形成されるのみならず、複数のコリメータ93によって形成されても良い。
The protruding portions of the plurality of
第6の実施形態のX線CT装置1において、コリメータ93は、一つのフォトダイオードアレイ92の第1の周面122に接触する第1の突起部201と、他の一つのフォトダイオードアレイ92の第1の周面122に接触する第2の突起部202と、を有する。このように、一つのコリメータ93により、一つのフォトダイオードアレイ92と、他の一つのフォトダイオードアレイ92とが位置決めされる。従って、複数のフォトダイオードアレイ92と、シンチレータアレイ91と、コリメータ93との位置決めが容易となり、X線検出器9の製造がより容易になり得る。
In the X-ray CT apparatus 1 of the sixth embodiment, the
第1の突起部201は、一つのフォトダイオードアレイ92の第1の周面122及び一つのシンチレータアレイ91の第2の周面142に接触する。第2の突起部202は、他の一つのフォトダイオードアレイ92の第1の周面122及び他の一つのシンチレータアレイ91の第2の周面142に接触する。このように、一つのコリメータ93により、一つのフォトダイオードアレイ92と、他の一つのフォトダイオードアレイ92と、一つのシンチレータアレイ91と、他の一つのシンチレータアレイ91とが位置決めされる。従って、複数のフォトダイオードアレイ92と、複数のシンチレータアレイ91と、コリメータ93との位置決めが容易となり、X線検出器9の製造がより容易になり得る。
The
以下に、第7の実施形態について、図15を参照して説明する。図15は、第7の実施形態に係るX線検出器9の一部を示す断面図である。図15に示すように、第7の実施形態のシンチレータアレイ91は、第1の掛部211と、第2の掛部212とを有する。
The seventh embodiment will be described below with reference to FIG. FIG. 15 is a cross-sectional view showing a part of the
第1の掛部211は、シンチレータアレイ91の、一方の第2の側端面134に近い半分である。第2の掛部212は、シンチレータアレイ91の、他方の第2の側端面134に近い半分である。
The
図15のように第2の端面133を平面視した場合、第1の掛部211が延びる方向と、第2の掛部212が延びる方向とは、斜めに交差する。第1の掛部211は、一つのフォトダイオードアレイ92に重ねられる。第2の掛部212は、他の一つのフォトダイオードアレイ92に重ねられる。
When the
四つの凹部141のうち、X軸に沿う方向に並べられた二つの凹部141が、第1の掛部211に設けられる。X軸に沿う方向に並べられた他の二つの凹部141が、第2の掛部212に設けられる。
Of the four
第1の突起部201の挿入部162は、一つのフォトダイオードアレイ92の溝121に嵌め込まれるとともに、シンチレータアレイ91の第1の掛部211に設けられた凹部141に嵌め込まれる。このため、第1の突起部201の挿入部162は、一つのフォトダイオードアレイ92の第1の周面122に接触するとともに、シンチレータアレイ91の第2の周面142に接触する。
The
第2の突起部202の挿入部162は、他の一つのフォトダイオードアレイ92の溝121に嵌め込まれるとともに、シンチレータアレイ91の第2の掛部212に設けられた凹部141に嵌め込まれる。このため、第2の突起部202の挿入部162は、他の一つのフォトダイオードアレイ92の第1の周面122に接触するとともに、シンチレータアレイ91の第2の周面142に接触する。
The
本実施形態のコリメータ93は、一つのシンチレータアレイ91と、斜めに交差する方向に延びた二つのフォトダイオードアレイ92とを接続する。シンチレータアレイ91の第1の掛部211は、一つのフォトダイオードアレイ92を支持する。第2の掛部212は、他の一つのフォトダイオードアレイ92を支持する。
The
以上説明した少なくとも一つの実施形態によれば、コリメータの接触部は、検知装置の第1の周面と、シンチレータアレイの第2の周面とに接触する。これにより、放射線検出器の製造がより容易になり得る。 According to at least one embodiment described above, the contact portion of the collimator is in contact with the first peripheral surface of the detection device and the second peripheral surface of the scintillator array. Thereby, manufacture of a radiation detector may become easier.
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。これら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれる。 Although several embodiments of the present invention have been described, these embodiments are presented by way of example and are not intended to limit the scope of the invention. These novel embodiments can be implemented in various other forms, and various omissions, replacements, and changes can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and gist of the invention, and are included in the invention described in the claims and the equivalents thereof.
1…X線CT装置、9…X線検出器、91…シンチレータアレイ、91a…シンチレータ、92…フォトダイオードアレイ、92a…フォトダイオード、93…コリメータ、93a…貫通孔、112…第1の面、113…第2の面、114…第1の端面、121…溝、122…第1の周面、131…第3の面、133…第2の端面、141…凹部、142…第2の周面、151…コリメート部、152…突起部、163…爪、166…内側部、185…側部、186…内側部、201…第1の突起部、202…第2の突起部。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... X-ray CT apparatus, 9 ... X-ray detector, 91 ... Scintillator array, 91a ... Scintillator, 92 ... Photodiode array, 92a ... Photodiode, 93 ... Collimator, 93a ... Through-hole, 112 ... 1st surface, 113: 2nd surface, 114 ... 1st end surface, 121 ... Groove, 122 ... 1st surrounding surface, 131 ... 3rd surface, 133 ... 2nd end surface, 141 ... Recessed part, 142 ... 2nd periphery Surfaces 151,
Claims (10)
互いに接続されるとともに前記複数の検知部にそれぞれ面する複数のシンチレータと、第2の開口を形成する第2の周面と、を有するシンチレータユニットと、
前記複数のシンチレータにそれぞれ面する複数の貫通口が設けられたコリメート部と、前記コリメート部に接続されるとともに前記第1の周面と前記第2の周面とに接触するよう構成された接触部と、を有し、前記接触部が前記第1の周面と前記第2の周面とに接触する状態で前記コリメート部と前記検知装置との間に前記シンチレータユニットが配置されるよう構成されたコリメータと、
を具備する放射線検出器。 A first surface, a plurality of detectors provided on the first surface and configured to detect light, and a first peripheral surface forming a first opening opening in the first surface; A detection device comprising:
A scintillator unit having a plurality of scintillators connected to each other and facing each of the plurality of detection units; and a second peripheral surface forming a second opening;
A collimating portion provided with a plurality of through-holes respectively facing the plurality of scintillators, and a contact connected to the collimating portion and configured to contact the first peripheral surface and the second peripheral surface And the scintillator unit is arranged between the collimator unit and the detection device in a state where the contact portion is in contact with the first peripheral surface and the second peripheral surface. Collimated,
A radiation detector comprising:
前記複数の検知部は、第1の方向に並べられるとともに、前記第1の方向において前記二つの第1の開口の間に位置し、
前記シンチレータユニットは、二つの前記第2の開口を形成する二つの前記第2の周面を有し、
前記複数のシンチレータは、前記第1の方向において前記二つの第2の開口の間に位置し、
前記コリメータは、前記第1の方向において前記複数の検知部に向くとともに前記複数のシンチレータに向く内側部をそれぞれ有する二つの前記接触部を有し、
前記内側部は、前記第1の周面に接触するとともに前記第2の周面に接触するよう構成された、
請求項1の放射線検出器。 The detection device has two first peripheral surfaces that form two first openings,
The plurality of detection units are arranged in a first direction and located between the two first openings in the first direction,
The scintillator unit has two second peripheral surfaces that form two second openings,
The plurality of scintillators are located between the two second openings in the first direction,
The collimator has two contact portions each having an inner portion facing the plurality of detection portions and facing the plurality of scintillators in the first direction,
The inner portion is configured to contact the first peripheral surface and to contact the second peripheral surface,
The radiation detector according to claim 1.
前記側部は、前記第1の周面に接触するとともに前記第2の周面に接触するよう構成された、
請求項2の放射線検出器。 Each of the two contact portions has a side portion that intersects the first direction and faces the second direction along the first surface;
The side portion is configured to be in contact with the first peripheral surface and to be in contact with the second peripheral surface.
The radiation detector according to claim 2.
前記第1の開口は、前記第1の面と前記第2の面とを貫通するよう開口する、
請求項1乃至請求項3のいずれか一つの放射線検出器。 The detection device has a second surface located on the opposite side of the first surface;
The first opening opens through the first surface and the second surface;
The radiation detector according to any one of claims 1 to 3.
前記第1の開口は、前記第1の端面から延びる、
請求項4又は請求項5の放射線検出器。 The detection device has a first end surface that intersects the first surface;
The first opening extends from the first end surface.
The radiation detector according to claim 4 or 5.
前記第2の開口は、前記第2の端面から延び、前記第3の面に開口する、
請求項1乃至請求項6のいずれか一つの放射線検出器。 The scintillator unit has a third surface facing the first surface, and a second end surface intersecting the third surface,
The second opening extends from the second end surface and opens in the third surface.
The radiation detector according to any one of claims 1 to 6.
前記接触部は、一つの前記検知装置の前記第1の周面に接触するよう構成された第1の接触部と、他の一つの前記検知装置の前記第1の周面に接触するよう構成された第2の接触部と、を有する、
請求項1乃至請求項7のいずれか一つの放射線検出器。 Comprising a plurality of the detection devices;
The contact portion is configured to contact the first peripheral surface of one of the detection devices and the first contact portion configured to contact the first peripheral surface of one of the detection devices. A second contact portion,
The radiation detector according to claim 1.
前記第1の接触部は、前記一つの検知装置の前記第1の周面に接触するとともに一つの前記シンチレータユニットの前記第2の周面に接触するよう構成され、
前記第2の接触部は、前記他の一つの検知装置の前記第1の周面に接触するとともに他の一つの前記シンチレータユニットの前記第2の周面に接触するよう構成された、
請求項8の放射線検出器。 A plurality of scintillator units;
The first contact portion is configured to contact the first peripheral surface of the one detection device and to contact the second peripheral surface of one scintillator unit,
The second contact portion is configured to contact the first peripheral surface of the other one detection device and to contact the second peripheral surface of the other scintillator unit.
The radiation detector according to claim 8.
前記放射線検出器に向かって放射線を照射するよう構成された線源と、
を具備する放射線検査装置。 A radiation detector according to any one of claims 1 to 9,
A radiation source configured to emit radiation toward the radiation detector;
A radiation inspection apparatus comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016060717A JP6615666B2 (en) | 2016-03-24 | 2016-03-24 | Radiation detector and radiation inspection apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016060717A JP6615666B2 (en) | 2016-03-24 | 2016-03-24 | Radiation detector and radiation inspection apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017173177A JP2017173177A (en) | 2017-09-28 |
JP6615666B2 true JP6615666B2 (en) | 2019-12-04 |
Family
ID=59971954
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016060717A Active JP6615666B2 (en) | 2016-03-24 | 2016-03-24 | Radiation detector and radiation inspection apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6615666B2 (en) |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001042044A (en) * | 1999-07-29 | 2001-02-16 | Hitachi Medical Corp | X-ray detector and x-ray ct device using the same |
US6982423B2 (en) * | 2001-11-20 | 2006-01-03 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | CT detector-module having radiation shielding for the processing circuitry |
JP2013200290A (en) * | 2012-03-26 | 2013-10-03 | Katsuhiro Dobashi | Method of manufacturing scintillator array radiation detector |
JP5815488B2 (en) * | 2012-08-28 | 2015-11-17 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | Radiation detection apparatus and radiation imaging apparatus |
-
2016
- 2016-03-24 JP JP2016060717A patent/JP6615666B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2017173177A (en) | 2017-09-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6162444B2 (en) | Spectral X-ray computed tomography system | |
US8891727B2 (en) | Radiation imaging apparatus, radiation detecting apparatus and radiation focal-point movement detecting method | |
US20130235972A1 (en) | Method for manufacturing collimator, collimator and x-ray ct apparatus | |
JP3961468B2 (en) | Radiation computed tomography apparatus and radiation detector used therefor | |
JP2015104664A (en) | X-ray ct apparatus, module-type x-ray detection apparatus and x-ray ct imaging method | |
US20170209106A1 (en) | Pre-patient collimator with focal spot tracking capability | |
US10492746B2 (en) | Spherical detector for CT system | |
JP2018000496A (en) | X-ray detector, x-ray detector module, holding member and x-ray ct apparatus | |
US10353085B2 (en) | Radiation detector, detector module, and medical image diagnosis apparatus | |
CN110430815B (en) | Anti-scatter collimator for radiation imaging mode | |
CN112006705A (en) | X-ray imaging device comprising a detection unit with a scattered radiation collimator | |
US10473796B2 (en) | Scintillating array with alignment features | |
US11166685B2 (en) | Radiation detector and radiation detector module | |
CN105074501B (en) | Radiation detector and the X ray CT device for possessing the radiation detector | |
JP6818592B2 (en) | Collimator, radiation detector, and radiation inspection equipment | |
JP6615666B2 (en) | Radiation detector and radiation inspection apparatus | |
JP2012152304A (en) | X-ray detector, and x-ray ct apparatus including the same | |
JP2005308748A (en) | Detector module and detector for detecting X-rays | |
JP7058998B2 (en) | Detector module and X-ray CT device | |
JP6523451B2 (en) | Radiation detector and X-ray CT apparatus equipped with the same | |
WO2017163788A1 (en) | Collimator, radiation detector, and radiographic inspection device | |
US10186340B2 (en) | Anti-scatter collimator for high speed rotation | |
US10722196B2 (en) | Radiographic diagnosis apparatus, radiation detector and collimator | |
US11510637B2 (en) | Collimator and collimator module | |
US20250090127A1 (en) | Electric brush module and x-ray ct apparatus |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A712 Effective date: 20170228 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20170228 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20181227 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190930 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20191008 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20191106 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6615666 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |