JP6562977B2 - 粉末積層造形に用いる粉末材料およびそれを用いた粉末積層造形法 - Google Patents
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Description
そして他の一つは、粉末材料を薄層状に堆積させた後、この堆積層にインクジェットによりバインダ(結合剤)を目的の断面形状に噴射し、粉末粒子を接合させて接合層を形成する、インクジェット方式である(例えば、特許文献2参照)。
まず、前提として、本明細書における以下の用語は、以下のように定義される。
本明細書において、「粉末材料」とは、粉末積層造形に用いる粉末状の材料を指す。粉末材料は、典型的には、後述の二次粒子が集合して構成されるが、後述の一次粒子の混入が許容されることは言うまでもない。
本明細書において、「一次粒子」とは、上記粉末材料を構成している形態的な構成要素のうち、外観から粒状物として識別できる最小単位を意味する。特に、後述の二次粒子を構成する一粒子(一つの粒状物)を指す。
なお、ここでいう「結合」とは、直接的または間接的に、2つ以上の一次粒子が結びつくことを指し、例えば、化学反応による一次粒子同士の結合、単純吸着によって一次粒子同士が引き合う結合、一次粒子表面の凹凸に接着材等を入り込ませるアンカー効果を利用した結合、静電気により引き合う効果を利用した一次粒子同士の結合、一次粒子の表面が溶融して一体化した結合等が含まれる。
(1)粉末積層造形装置の積層エリアに粉末材料を供給する工程
(2)当該供給された粉末材料を、積層エリアに均一に薄く堆積するようにワイパ等で平坦化して薄層を形成する工程
(3)形成された粉末材料の薄層に、粉末材料を接合および焼結等する手段を与えて、粉末材料を固化する工程
(4)固化した粉末材料の上に、新たな粉末材料を供給し(上記工程(1))、以後、工程(2)〜(4)を繰り返すことで積層し、目的の三次元造形物を得る。
つまり、ここでいう「平坦化工程」とは、主に、上記工程(2)において、粉末材料を積層エリア全体に均一に薄く堆積させて薄層を得る工程をいう。なお、上記の「固化」は、粉末材料を構成する二次粒子同士を、溶融・凝固により直接的に結合させたり、バインダを介して間接的に結合させたりして、形状を所定の断面形状に固定化することを含む。
本明細書において、粉末材料(典型的には二次粒子)に関する「平均粒子径」とは、特筆しない限り、レーザ散乱・回折法に基づく粒度分布測定装置により測定された体積基準の粒度分布における積算値50%での粒子径(50%体積平均粒子径;D50)を意味する。
本明細書において、粉末材料の一次粒子に関する「平均粒子径」は、球形粒子の直径(球相当径)として算出される値である。かかる一次粒子の平均粒子径(Dave)は、粉末材料全体の比表面積をSm、密度をρとしたとき、次式に基づき求めることができる。なお、粉末材料が複数の原料粒子の混合物から製造される場合、密度は、それら複数の二次材料の密度を配合割合に応じて足し合わせた値(加重合計値)を採用することができる。
Dave=6/(ρSm)
本明細書において、「比表面積」は、BET法に基づき、粉末材料の表面に物理吸着したガス(典型的には窒素(N2)ガス)の量を測定することによって決定される、当該粉末材料を構成する粒子の外部および内部の全ての表面積をその質量で除した値を意味している。かかる比表面積は、JIS Z 8830:2013(ISO9277:2010)「ガス吸着による粉体(固体)の比表面積測定方法」の規定に準じて測定することができる。
本明細書における、粉末材料の粒度分布とは、その粉末材料を構成する粒子群に、どの様な大きさ(粒子径)の粒子が、どの様な割合(粉末材料の全体を100%としたときの相対粒子量)で含まれているかを示す。また「粒度範囲」とは、その粉末材料の粒子径の下限と上限までの幅(広がり)を示す指標である。本明細書における粒度範囲の下限の値は、粉末材料中に占めるその値以下の粒子径を有する粒子の割合が5%以下であることを意味している。また、粒度範囲の上限の値は、粉末材料中に占めるその値以上の粒子径を有する粒子の割合が5%以下であることを意味している。なお、粉末材料の粒度分布については、当該粉末材料の粒度に応じた適切な粒度分布測定装置により測定することができる。例えば、ロータップ試験機(JIS R6002参照)や、レーザ回折/散乱方式を採用する測定器を用いて求められる。また、例えば粒度範囲が5〜75μmである粉末材料であれば、5μm以下の粒子径を有する粒子の割合が5%以下であり、かつ、75μm以上の粒子径を有する粒子の割合は5%以下であることを意味する。
本明細書において原料粒子の「平均粒子径」の測定に際しては、本質的には、上記粉末材料と同様に、レーザ散乱・回折法に基づき測定を実施している。しかしながら、例えば、平均粒子径が1μmに満たない粒子群については、上述の一次粒子の平均粒子径の測定方法にしたがい、比表面積に基づいてその平均粒子径を算出している。
本明細書における、粉末材料の「真円度」とは、電子顕微鏡等の観察手段により観察された100以上の二次粒子の平面視像(例えば、二次電子像等)について求められた真円度の算術平均値を意味する。また、真円度は、二次粒子の平面視像において、当該二次粒子の輪郭の長さである周囲長と、かかる輪郭で囲まれた面積とから、下記式により規定される値である。なお、かかる真円度は、二次粒子の表面形態の滑らかさをより反映しやすい指標であり、幾何学的円(真円)は真円度=1となり、真円から離れるにつれて真円度は1より大きな値となる。かかる平均真円度は、例えば、適切な倍率で取得した電子顕微鏡像を画像処理ソフト等を用いて解析することで求めることができる。
真円度=(周囲長2)÷(4×π×面積)
本明細書において「アスペクト比」とは、電子顕微鏡等の観察手段により観察された100以上の二次粒子の平面視像(二次電子像等)について求められたアスペクト比の算術平均値を意味する。かかるアスペクト比は、当該二次粒子の相当楕円における長軸の長さをa、短軸の長さをbとしたとき、a/bで定義される。また、相当楕円とは、当該二次粒子と同面積で、かつ一次および二次モーメントが等しい楕円をいう。かかる平均アスペクト比は、例えば、適切な倍率で取得した電子顕微鏡像を画像処理ソフト等を用いて解析することで求めることができる。
本明細書において、「フラクタル次元」とは、電子顕微鏡等の観察手段により観察された100以上の二次粒子の平面視像(二次電子像等)について求められたフラクタル次元の算術平均値を意味する。また、本明細書において、フラクタル次元は、ディバイダーズメソッドにより求められる値を採用しており、二次粒子の平面視像における当該二次粒子の周囲長とストライド長の対数を関連づける関数の、線形部分の傾きとして定義される。かかるフラクタル次元の測定値は、1(=実線)以上2(=平面)未満の値となり、1に近い程二次粒子の表面が滑らかなことを意味する。かかる平均フラクタル次元は、例えば、適切な倍率で取得した電子顕微鏡像を画像処理ソフト等を用いて解析することで求めることができる。
本明細書において、「安息角」は、粉末材料を一定の高さの漏斗から水平な基板の上に落下させることで生成した円すい状の堆積物の直径および高さから算出される底角を意味している。かかる安息角は、JIS R 9301−2−2:1999「アルミナ粉末物性測定方法−2:安息角」の規定に準じて測定することができる。
本明細書において、「フローファンクション」は、いわゆる相対流動性指数(Relative Flow Index:RFI)とも呼ばれる値であって、内径が50mmの容器内に所定の量の粉末材料を入れ、常温常湿下、当該粉末材料に9kPaの剪断力を与えたときの粉末材料の最大主応力と単軸崩壊応力とを測定し、最大主応力の測定値を単軸崩壊応力の測定値で除することで求められる値である。このフローファンクションが大きいほど、当該粉末材料の流動性が良いことを意味する。
本明細書において、粉末材料に関する「圧縮強度」は、電磁力負荷方式の圧縮試験機を用いて測定される。具体的には、加圧圧子と加圧板の間に測定試料を固定し電磁力により一定の増加割合で負荷力を与えていく。圧縮は定負荷速度圧縮方式で行い、その際の測定試料の変形量を測定していく。測定した試料の変形特性結果は専用のプログラムで処理し強度値を計算する。
本実施形態の粉末積層造形に用いる粉末材料は、一次粒子が間隙をもって三次元的に結合されてなる二次粒子の形態を有している粒子から構成される(以下、「一次粒子が間隙をもって三次元的に結合されてなる二次粒子の形態を有している粒子」を単純に「二次粒子」という。)。なお、ここでいう「構成される」とは、粉末積層造形に用いる粉末材料の構成成分が、主として上記の二次粒子からなることを意味し、「主として」とは、粉末材料のうち90質量%以上を上記二次粒子が占めることが好ましく、より好ましくは95質量%以上、さらに好ましくは98質量%以上である。
このような粉末材料は、例えば、造粒粒子、造粒焼結粒子、コア粒子の周りに微粒子が結合されてなる微粒子被覆粒子、等の形態により実現される。なお、特に三次元造型に適した流動性に優れる粉末材料が実現されるとの観点から、好ましくは造粒粒子または造粒焼結粒子である。
本実施形態における粉末材料は、一次粒子が間隙をもって三次元的に結合されてなる二次粒子の形態を有している粒子であり、その製造方法は、かかる形態を実現できる製造方法であれば特に制限されない。ここからは造粒焼結法について例示するが、本実施形態における二次粒子の製造方法はこの限りではない。
造粒焼結法とは、原料粒子を二次粒子の形態に造粒した後、焼結して、原料粒子同士を強固に結合(焼結)させる手法である。この造粒焼結法において、造粒は、例えば、乾式造粒あるいは湿式造粒等の造粒方法を利用して実施することができる。造粒方法としては、具体的には、例えば、転動造粒法、流動層造粒法、撹枠造粒法、破砕造粒法、溶融造粒法、噴霧造粒法、マイクロエマルション造粒法等が挙げられる。なかでも好適な造粒方法として、噴霧造粒法が挙げられる。
粉末材料において、二次粒子の構成(組成)については特に限定されない。作製したい目的の三次元造形物によって適宜選択されればよく、例えば、プラスチック、樹脂、金属、合金、セラミックス、サーメット、またはそれらの混合物からなる二次粒子が挙げられる。例えば、サーメットの二次粒子は、セラミックス粒子からなる原料粒子と金属粒子からなる原料粒子の混合物から得られる、セラミックス一次粒子と金属一次粒子が結合して間隙をもって三次元的に結合されてなる二次粒子である。これら二次粒子の構成(組成)は、原料粒子の選択により決定する。
ここで、酸化物系セラミックスとしては、特に限定されることなく各種の金属の酸化物とすることができる。かかる酸化物系セラミックスを構成する金属元素としては、例えば、B、Si、Ge、Sb、Bi等の半金属元素、Mg、Ca、Sr、Ba、Zn、Al、Ga、In、Sn、Pb等の典型元素、Sc、Y、Ti、Zr、Hf、V、Nb、Ta、Cr、Mo、W、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Ag、Au等の遷移金属元素、La、Ce、Pr、Nd、Sm、Er、Lu等のランタノイド元素から選択される1種または2種以上が挙げられる。なかでも、Mg、Y、Ti、Zr、Cr、Mn、Fe、Zn、Al、Erから選択される1種または2種以上の元素であることが好ましい。
粉末材料の平均粒子径自体は、粉末積層造形の粉末材料の平坦化工程において、粉末材料の供給に適した大きさであり得る。二次粒子の平均粒子径(体積平均径)の上限は、特に制限はない。より大きいものとする場合には、例えば、100μm超過とすることができるが、典型的には100μm以下であり、好ましくは75μm以下、より好ましくは50μm以下、さらに好ましくは35μmとすることができる。二次粒子の平均粒子径が小さくなるにつれて、例えば積層エリアにおいて粉末材料の充填率が向上する。その結果、作製される三次元造形物の緻密度が増し、仕上がりが良くなる。
一次粒子の平均粒子径については特に限定されない。
例えば、第1の一次粒子としてのコア粒子の表面に、第2の一次粒子としての微粒子が備えられた微粒子被覆粒子の形態の粉末材料を構成する場合は、これらの粒子の平均粒子径を以下のように調整することができる。
すなわち、コア粒子の平均粒子径は、粉末材料の平均粒子径に近いか、粉末材料の平均粒子径概ね一致する。したがって、コア粒子の平均粒子径は比較的大きく設定することができる。例えば、平均粒子径を100μm以下とすることができ、典型的には50μm以下であり、30μm以下とすることが好ましく、20μm以下とすることがより好ましく、10μm以下とすることが特に好ましい。コア粒子の平均粒子径の下限は特に制限されないが、コア粒子によってある程度の流動性を確保するために、1μm以上とすることが好ましい。コア粒子の平均粒子径は、原料粒子の平均粒子径により調整することができる。
なお、一般に、ナノメートルオーダーの粉末は単一粒子の重みが小さいことから、僅かな気流にも流され易く、流動性が劣るのが通常である。しかしながら、造粒粒子および造粒焼結粒子においては、二次粒子において重量が確保されるため、一次粒子をナノメートルオーダーで微細にしても流動性が損なわれることがない。かかる観点から、一次粒子の平均粒子径は2μm以下であるのが好ましく、例えば、1μm以下、500nm以下、100nm以下のナノ粒子とすることができる。一次粒子の平均粒子径は特に制限されず、例えば1nm以上とすることができ、例えば2nm以上、5nm以上とすることができる。
なお、造粒粒子および造粒焼結粒子の形態の粉末材料は、二次粒子を構成する一次粒子の間に十分な間隙が設けられる。このような「間隙」とは、例えば、一次粒子が最密充填された場合に必然的に形成される空間よりも、より広い空間を意味している。かかる「間隙」は、好ましくは、当該一次粒子が最密充填された場合に必然的に形成される空間の、1.2倍以上の空間であり得る。この間隙については、例えば、比表面積・細孔分布測定装置等で確認することができる。
粉末材料の比表面積については、特に限定はされないものの、例えば、0.1m2/gより大きいことが好ましい。すなわち、かかる粉末材料は、比表面積が(極めて)大きい二次粒子を主として構成されているほうが好ましい。具体的には、例えば、シリカ(SiO2)の比重が2.2g/mlであることから、半径がrmの真球のシリカ粒子の比表面積は1.36/r×10−6m2/gで表される。したがって、例えば、半径が30μmの真球のシリカ粒子の比表面積は0.045m2/gで表される。また、αアルミナ(Al2O3)の比重が3.98g/mlであることから、半径がrmの真球のアルミナの比表面積は0.75/r×10−6m2/gで表される。したがって、例えば、半径が30μmの真球のアルミナ粒子の比表面積は0.025m2/gで表される。さらには、市販の溶融粉砕したアルミナを、JIS Z 8830:2013(ISO9277:2010)「ガス吸着による粉体(固体)の比表面積測定方法」の規定に準じて測定すると、約0.1m2/g程度となる。これに対し、ここに開示される粉末材料の比表面積は0.1m2/g以上が好ましい。このような比表面積の増大に伴い、ここに開示される粉末材料は、表面形態が三次元的に入り組んだ複雑な形状(構造)を有することになる。すなわち、実質的な寸法(例えば、表面の凹凸部分の厚み等)は、粉末材料自体の平均粒子径に拘束されることなく、大幅に低減され得る。したがって、このような極めて大きな比表面積を有することにより、融点の高いセラミックス材料であっても、比較的低温のレーザ等の熱源の熱を効率良く吸収して十分な軟化および溶融が実現され得る。延いては、セラミックスからなる三次元造形物効率良く作製することが可能な粉末材料が提供される。
粉末材料の粒度範囲は、粉末積層造形に使用される装置の種類や条件に応じて適宜設定されることが好ましい。例えば、具体的には、粉末材料の粒度範囲は、5〜20μm、45〜150μm、5〜75μm、32〜75μm、15〜45μm、20〜63μm、あるいは25〜75μmのように適宜調整することができる。
さらに、ここに開示される粉末材料は、平均真円度が1.5未満(例えば、1以上1.5未満)であるのが好ましい。なお、かかる平均真円度は、粉末材料を構成する二次粒子の平均真球度を間接的に表し得る指標として採用されたものであり、当該二次粒子を任意の方向から平面視した場合の平均真円度を意味している。したがって、かかる平均真円度は、当該二次粒子が、必ずしも二次元的に真円に近い形態であることを意図するものではなく、本質的には、三次元的に真球に近い形態であることを意図するものである。
なお、二次粒子の外形については、平面視における平均アスペクト比が1.4未満であるとより好ましい。というのは、上記のとおり、平均真円度がより1に近い二次粒子において、真円度は、二次粒子の全体的な形態よりも表面形態をより反映するものであり得る。換言すると、上述の真円度は、真円に近い二次粒子を評価する場合については、二次粒子の平面視における輪郭線がミクロなレベルで複雑になればなるほど、その値は二次粒子の全体の外形の変化の度合いを超えて大きくなりやすい傾向にある。したがって、真円度に加えて、さらにアスペクト比により二次粒子の外形について規定することで、全体としての外形がより真球に近い、すなわち平面視においては真円に近い、二次粒子とすることができる。
かかる平均アスペクト比は、粉末材料の流動性を考慮すると、1.5以下であるのが好ましく、1.3以下であるのがより好ましい。さらには、例えば、1.15以下とすることができ、1あるいは1により近いことが望ましい。
また、この二次粒子については、平均フラクタル次元が1.5未満であることも好ましい態様の一つである。かかる二次粒子は、表面形態がミクロなレベルで複雑なものであり得る。したがって、かかる粒子表面の複雑な形態を更に多様な指標で規定することで、外形がより真球に近い二次粒子とすることができる。フラクタル次元は、個々の粒子表面の複雑な形態を測るために広く一般に利用される指標であり、平均フラクタル次元はここに開示される二次粒子の表面の滑らかさを指し図るには好適な指標であり得る。平均フラクタル次元を1.5未満に規定することで、さらに流動性の向上された粉末材料を実現し得る。かかる平均フラクタル次元は、粉末材料の流動性を考慮すると、1.1以下であるのが好ましく、1.05以下であるのがより好ましい。
加えて、ここに開示される粉末材料については、安息角が39度未満であることも好ましい態様の一つである。安息角は、従来より粉体の流動性を示すために広く採用されてきた指標の一つであり得る。そして、例えば、粉末材料が供給装置内および造形装置内を搬送される際の、自発的な流動性を実際的に反映し得る指標であり得る。したがって、かかる安息角を小さく規定することで、流動性が高い粉末材料を実現することができる。延いては、均質な三次元造形物をより生産性良く作製することができる粉末材料であり得る。
かかる安息角は、粉末材料の流動性を考慮すると、36度以下であるのが好ましく、32度以下であるのがより好ましい。さらには、例えば、30度以下とすることもできる。安息角の下限に特に制限はないが、安息角が小さすぎると粉末材料が飛散し易くなったり、粉末材料の供給量の制御が困難になったりする場合がある。したがって、おおよその目安として、安息角は20度以上とすることが例示される。
なお、特に制限されるものではないが、ここに開示される粉末材料は、フローファンクションが5.5以上であることが好ましい。
上記の安息角は、無荷重状態での粉末材料の流動性を評価し得る指標であった。一方で、このフローファンクションは、粉末材料を圧密した状態でせん断応力を測定することによりその流動特性を評価するものであって、粉末材料のハンドリング性をより実際的に表現し得る指標となり得る。したがって、かかる構成によっても、例えば、平均粒子径が30μm未満の粉末材料について流動性が高いと判断することができ、三次元造形物をより一層生産性良く作製し得る粉末材料を提供することができる。
粉末材料を構成する二次粒子の圧縮強度の下限は、一般的な粉末材料に用いる造粒−焼結セラミックス粒子の圧縮強度の範囲であれば特に制限はなく、好ましくは1MPaであり、より好ましくは10MPaであり、さらに好ましくは100MPaである。二次粒子の圧縮強度が高くなるにつれて、粉末材料を構成する二次粒子の形態の保持力が高まり、二次粒子の崩壊を防止できる。その結果、積層エリアへの材料粉末の供給が安定する。
本発明における粉末材料を用いた三次元造形物の粉末積層による製造方法は、例えば、次のような方法がある。図1は粉末積層造形のための積層造形装置の簡略図の一例を示しており、大まかな構成として、積層造形が行われる空間である積層エリア10と、粉末材料を貯留しておくストック12と、積層エリア10への粉末材料の供給を補助するワイパ11と、粉末材料を固化するための固化手段(インクジェットヘッド、レーザ発振器等)13と、を備えている。積層エリア10は、典型的には、外周が囲まれた造形空間内を造形面より下方に有し、この造形空間内に昇降可能な昇降テーブル14を備えている。この昇降テーブル14は、所定厚みΔt1ずつ降下することができ、この昇降テーブル14上に目的の造形物を造形してゆく。ストック12は、積層エリア10の傍に配置され、例えば、外周が囲まれた貯留空間内に、シリンダー等によって昇降可能な底板(昇降テーブル)を備えている。底板が上昇することで、所定量の粉末材料を造形面に供給(押し出し)することができる。
・ 粉末材料中およびそれを構成する二次粒子、さらには二次粒子を構成する一次粒子は、不可避不純物あるいは添加剤などの主となる成分以外の成分を含有してもよい。つまり、純度は特に制限されない。しかしながら、例えば、より機能性の高い三次元造形物を形成する用途の場合には、意図しない物質(元素)の混入は避けることが好ましく、粉末材料の純度は高い方が好ましい。かかる観点においては、二次粒子およびそれを構成する一次粒子の純度は高い方が好ましい。例えば、純度が95質量%以上であることが好ましく、さらには99質量%以上、より好ましくは99.9質量%以上、例えば99.99質量%以上とすることができる。
・ これらの粉末材料は、例えば、形成される三次元造形物の色調を調整する目的で他の元素、例えば、セラミックスやサーメットであれば、移金属元素や、Na、K、Rb等の元素)が導入されたり、機能性を高める目的で他の元素が導入されるなどしてもよい。また、上記の粉末材料を構成する元素は、一部がイオンまたは錯体等の形態で含まれていても良い。
以下、本発明に関する実施例を説明するが、本発明を以下の実施例に示すものに限定することを意図したものではない。
(造粒焼結粉)
サンプル1〜4−2の粉末材料は、それぞれ表1に示す平均粒子径を有するタングステンカーバイド(WC)からなる原料粒子およびコバルト(Co)からなる原料粒子が、造粒および焼結されることにより、表1に示す平均粒子径のWC/12質量%Coサーメット粉末材料を構成している。同様に、サンプル101〜112の粉末材料は、それぞれ、表1に示す平均粒子径を有するタングステンカーバイド(WC)およびニッケル(Ni)、クロムカーバイド(CrC)およびニッケルクロム合金(NiCr)、タングステンカーバイド(WC)およびステライトを原料粒子とし、この組み合わせの原料粒子が造粒および焼結されることにより、表1に示す平均粒子径のサーメット粉末材料を構成している。
サンプル16〜17−2および114〜118の粉末材料は、表2に示す平均粒子径のAl2O3ナノ粒子付着粉末材料(微粒子被覆粉)である。この粉末材料は、表2に示すように、一次粒子(平均粒子径:3μm,6μm,24μm,23μm,13μm)からなるアルミナ(Al2O3)コア粒子と、一次粒子(平均粒子径:0.1μm,0.01μm,0.5μm)からなるアルミナ(Al2O3)ナノ粒子とを適宜ブレンドすることにより、コア粒子の表面にナノ粒子を静電引力により付着させることで調製したものである。
サンプル5〜8の粉末材料は、焼結−粉砕法により製造される、表1に示す平均粒子径を有するWC/12質量%Coサーメット粒子により構成されている。
(溶融粉砕粉)
サンプル18〜32の粉末材料は、溶融−粉砕法により製造される、表2に示す平均粒子径を有するAl2O3セラミックス粒子により構成されている。
(PEG被覆粉)
サンプル33および33−2の粉末材料は、ポリエチレングリコール(PEG)によってAl2O3粒子が被覆されることにより、表2に示す平均粒子径のPEG被覆Al2O3粒子により構成されている。
(アトマイズ粉)
サンプル34は、アトマイズ法により製造される、表3に示す平均粒子径を有するNiCr合金粒子により構成されている。
また、サンプル33の粉末材料は、原料粒子として用いたAl2O3粒子の形態を反映して、比較的緻密かつ強固であって、エッジを有した角状あるいは塊状の形状を有するものであった。また、サンプル34の粉末材料は、エッジは見られないものの比較的いびつな球形を有するものであった。
粉末材料の平均粒子径は、それぞれの粉末材料をレーザ回折/散乱式粒度測定器(株式会社堀場製作所製、LA−300)を用いて測定した、体積基準の粒度分布に基づくD50粒径である。粉末材料の平均粒子径の測定結果を、各表の粉末材料(二次粒子)の「平均粒子径」の欄に示した。
原料粒子の平均粒子径は、上記粉末材料と同様であって、平均粒子径が1μm以上の原料粒子についてはレーザ回折/散乱式粒度測定器(株式会社堀場製作所製、LA−300)を用いて測定した、体積基準の粒度分布に基づくD50粒径である。なお、平均粒子径が1μm未満の原料粒子粉については、後述の粉末材料の一次粒子径と同様に、比表面積を基に平均粒子径を算出した。原料粒子の平均粒子径の測定結果を、各表の原料粒子の「平均粒子径」の欄に示した。
なお、原料粒子と製造された粉末材料との比較として、粉末材料の平均粒子径に対する原料粒子の平均粒子径の比を、「D原料/D粉末」として併せて示した。
粉末材料の平均粒子径は、それぞれの粉末材料の比表面積をもとに算出した値を採用した。すなわち、粉末材料に関する「平均粒子径(Dave)」は、別途測定した粉末材料の比表面積をSm、密度をρとして、下式に基づき求めた値である。なお、各粉末材料の密度としては、例えば、WC/12質量%Co:14.31g/ml、Al2O3:3.98g/ml、Y2O3:5.03g/mlの値を採用した。その他の材料については、製品シートおよび公称組成などから算出した値を用いることができる。このようにして求めた二次粒子を構成する一次粒子の平均粒子径の値を、各表の原料粒子(一次粒子)の「平均粒子径」の欄に示した。
Dave=6/(ρSm)
粉末材料の比表面積は、流動式比表面積自動測定装置(島津製作所製、フローソーブII 2300)を用い、吸着ガスとして窒素ガスを使用したBET法に基づき測定した。具体的には、試料としての粉末材料を試料管に投入したのち、当該試料を冷却し、試料管内に窒素ガスを導入して、定容量法ガス吸着法による吸脱着等温線を作成する。そしてかかる吸脱着等温線における、一層目の単分子層吸着から多層吸着に移行する過程をBET法に基づき解析することにより単分子層吸着量を算出し、さらに窒素ガス分子一個の占める断面積を積算することで、比表面積を得る。このようにして求めた粉末材料の比表面積の測定結果を、各表の「比表面積」の欄に示した。
粉末材料の粒度分布は、それぞれの粉末材料をレーザ回折/散乱式粒度測定器を用いて測定した。粒度範囲の下限の値は、粉末材料の全体積に占める、ある粒径以下の粒子の体積の合計が5%となるときの粒径値であり、レーザ回折/散乱式粒度測定器(株式会社堀場製作所製、LA−300)を用いて求められる。一方で、粒度範囲の上限の値は、粉末材料の全体積に占める、ある粒径以上の粒子の体積の合計が5%となるときの粒径値を示し、レーザ回折/散乱式粒度測定器(株式会社堀場製作所製、LA−300)を用いて求められる。二次粒子から構成される粉末材料の粒度範囲の測定結果を、各表の「粒度範囲」の欄に示した。
粉末材料の平均真円度は、それぞれの粉末材料を走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope:SEM、株式会社日立ハイテクノロジーズ製、S−3000N)により観察して得た平面視像(倍率1000〜2000倍)について、画像解析ソフト(株式会社日本ローバー製、Image−Pro Plus)を用い、100以上の二次粒子について測定した真円度の算術平均値を算出することで求めた。なお、真円度は、SEM像のコントラストから二次粒子の輪郭をトレースすることで、かかる二次粒子の周囲長および面積(平面視)を算出し、これらの値から、真円度=(周囲長2)÷(4×π×面積)の関係に基づき求めた値である。粉末材料の平均真円度の測定結果を、各表の「真円度」の欄に示した。
粉末材料の平均アスペクト比は、それぞれの粉末材料を走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope:SEM、株式会社日立ハイテクノロジーズ製、S−3000N)により観察して得た平面視像(倍率1000〜2000倍)について、画像解析ソフト(株式会社日本ローバー製、Image−Pro Plus)を用い、100以上の二次粒子について測定したアスペクト比の算術平均値を算出することで求めた。なお、アスペクト比は、SEM像のコントラストから二次粒子の輪郭をトレースし、その相当楕円(同面積でかつ一次および二次モーメントが等しい楕円)の長軸の長さを長径a、短軸の長さを短径bとし、これらの値からa/bで定義されるアスペクト比を求めた値である。粉末材料の平均アスペクト比の測定結果を、各表の「アスペクト比」の欄に示した。
粉末材料子の平均フラクタル次元は、それぞれの粉末材料を走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope:SEM、株式会社日立ハイテクノロジーズ製、S−3000N)により観察して得た平面視像について、画像解析ソフト(株式会社日本ローバー製、Image−Pro Plus)を用い、100以上の二次粒子について測定したフラクタル次元の算術平均値を算出することで求めた。SEMでの解析条件は、倍率:2000倍、ビット深さ:8、走査速度:80/100sとした。なお、フラクタル次元の測定に用いるSEM像は、二次粒子の周囲長が30ピクセル以上(好ましくは1280ピクセル以上。本実施形態では、960×1280ピクセルとした。)となる解像度を実現するものを用意した。そして、フラクタル次元の測定では、かかるSEM像のコントラストから二次粒子の輪郭をトレースすることで、二次粒子の周囲長および面積(平面視)を算出し、これらの値から、真円度=(周囲長2)÷(4×π×面積)の関係に基づきフラクタル次元を求めた。粉末材料の平均真円度の測定結果を、各表の「フラクタル次元」の欄に示した。
フラクタル次元の圧縮強度は、それぞれの粉末材料を微小圧縮試験装置(株式会社島津製作所製、MCTE−500)を用いて10個の二次粒子について測定した圧縮強度の算術平均値を算出することで求めた。具体的には、式:σ=2.8×L/π/d2に従って算出される二次粒子の圧縮強度σ[MPa]を示す。上式中、Lは臨界荷重[N]を表し、dは二次粒子の平均粒子径[mm]を表す。臨界荷重は、一定速度で増加する圧縮荷重を圧子で二次粒子に加えたときに、圧子の変位量が急激に増加する時点において二次粒子に加えられた圧縮荷重の大きさである。二次粒子の圧縮強度の測定結果を、各表の「圧縮強度」の欄に示した。
粉末材料の流動性を評価する指標として、安息角を測定した。安息角は、それぞれの粉末材料をA.B.D.粉体特性測定器(筒井理科器械株式会社製、ABD−72形)に供することで得た値である。粉末材料の安息角の測定結果を、各表の「安息角」の欄に示した。この評価において、二次粒子の組成が、サーメット(例えば、WC/12質量%Co)の場合は33度以下、セラミックス(例えば、Al2O3やY2O3)の場合は34度以下、金属や合金(例えば、NiCr)の場合は50度以下の安息角であれば実用上好適なレベルであるといえる。
粉末材料の流動性を評価する別の指標として、それぞれの粉末材料を粉体流動性分析装置(Freeman Tchnology社製、パウダーレオメーターFT4)により測定した。粉末材料のフローファンクションの測定結果を、各表の「F.F.」の欄に示した。
上記で用意した粉末材料を、粉末積層造形であるレーザ粉体肉盛り法により積層造形し、三次元造形物を得た。具体的には、上記の粉末材料を用いて、基材としてのSS400鋼板(50mm×70mm×10mm)に対してLD励起YAGレーザを照射するとともに、アルゴン(Ar)シールドガスを供給しながら、基材上の三次元造形物としての積層体の厚さが約10mmとなるようにレーザ粉体肉盛り加工を行った。レーザ発振器としては、固定レーザとダイオードレーザとの発信が可能なディスクレーザ発振器(トルンプ(株)製,TruDisc−4006)を用いた。なお、加工時の条件として、レーザ焦点は約2.0φmm、レーザ出力は約500W、加工速度は1000mm/minであった。表5、表6および表7の「方法」の欄における表示「LMD」とは、そのサンプルを用いて、レーザ粉体肉盛り法により三次元造形物が作製されたことを意味する。
上記で用意した粉末材料を、粉末積層造形である選択的レーザ溶融法により積層造形し、三次元造形物を得た。積層造形には、レーザ焼結型粉末積層造形システム(ドイツEOS社製,EOSINT−M250)を用いた。具体的には、上記の粉末材料を積層エリアに供給して、装置に付随のワイパで粉末材料を平坦化して薄層(40μm)を形成した。その粉末材料からなる薄層に対してYAGレーザを照射し、三次元造形物(単層)を形成した。そして、粉末材料の供給と平坦化の工程、それに対してレーザ照射する工程を繰り返し、三次元造形物としての積層体(積層数250層、約100mm×100mm×10mm)を形成した。なお、加工時の条件として、レーザ焦点は約150φμm、レーザ出力は約400W、温度環境は常温、粉末材料周囲の雰囲気はArガスであった。表5、表6および表7の「方法」の欄における表示「SLM」とは、そのサンプルを用いて、選択的レーザ溶融法により三次元造形物が作製されたことを意味する。
上記で用意した粉末材料を、粉末積層造形である電子ビーム溶融法により積層造形し、三次元造形物を得た。積層造形には、三次元電子ビーム積層造形装置(ARCAM AB社製,Q10)を用いた。具体的には、上記の粉末材料を積層エリアに供給して、装置に付随のワイパで粉末材料を平坦化して薄層(150μm)を形成した。その粉末材料からなる薄層に対して電子ビームを照射し、三次元造形物(単層)を形成した。そして、粉末材料の供給と平坦化の工程、それに対して電子ビーム照射する工程を繰り返し、三次元造形物としての積層体(積層数67層、約100mm×100mm×10mm)を形成した。なお、加工時の条件として、電子ビーム焦点は約0.2φmm、電子ビーム出力は粉末材料がWC/12質量%Coの場合は約500、NiCrの場合は約800、Al2O3の場合は約2000W、温度環境は常温、粉末材料周囲の雰囲気は高真空後にHeガス導入であった。表5、表6および表7の「方法」の欄における表示「EBM」とは、そのサンプルを用いて、電子ビーム溶融法により三次元造形物が作製されたことを意味する。
作製した三次元造形物の仕上がりを評価する指標として、三次元造形物の硬度を測定した。硬度は、それぞれの三次元造形物に対して、JIS Z 2244:2009およびJIS R1610:2003に規定されるビッカース硬さ試験方法に基づき測定した。具体的には、硬微小硬度測定器(株式会社島津製作所製、HMV−1)を用い、三次元造形物の表面に対面角136°のダイヤモンド圧子を試験力1.96Nで押圧したときに得られる圧痕から、ビッカース硬さ(Hv0.2)を算出した。また、上記三次元造形物を作製した粉末材料と同じ粉末材料のバルク体の表面について同様にビッカース硬さ(Hv0.2)を算出した。そして、次式に基づき硬度比を算出した。三次元造形物の硬度比の結果を、表5、表6および表7の「硬度」の欄に示した。具体的には、ビッカース硬さが1以上の場合には「◎」とし、0.95以上1より小さい場合は「○」、0.90以上0.95より小さい場合は「△」、0.90より小さい場合は「×」とした。
硬度比=(三次元造形物のビッカース硬さ)/(バルク体のビッカース硬さ)
作製した三次元造形物の仕上がりを評価する指標として、三次元造形物の表面粗さを測定した。表面粗さは、それぞれの三次元造形物の表面に対して、JIS B 0601:2001準拠して測定された算術平均粗さRaを求めた。三次元造形物の表面粗さの測定結果を、表5、表6および表7の「Ra」の欄に示した。具体的には、表面粗さが50μm以下の場合には「◎」とし、50μmより大きく80μm以下の場合は「○」、80μmより大きく100μm以下の場合は「△」、100μmより大きい場合は「×」とした。
作製した三次元造形物の仕上がりを評価する指標として、三次元造形物の気孔率を測定した。気孔率は、それぞれの三次元造形物の断面に対して、画像解析法により測定された値を求めた。具体的に、本実施形態では、画像解析ソフトとして、Image−Pro(Media Cybernetics社製)を使用した。三次元造形物の気孔率の測定結果を、表5、表6および表7の「気孔率」の欄に示した。気孔率が1%以下の場合には「◎」とし、1%より大きく10%以下の場合は「○」、10%より大きく20%以下の場合は「△」、20%より大きい場合は「×」とした。
11 ワイパ
12 粉末材料ストック
13 粉末材料を固化するための手段
14 昇降テーブル
20 粉末材料層
21 粉末固化層
Claims (5)
- 供給した粉末材料を平坦化して薄層状に堆積させたのち、熱源となるビームを照射するビーム照射方式による粉末積層造形に用いられる粉末材料であって、
前記粉末材料は、一次粒子が間隙をもって三次元的に結合されてなる二次粒子の形態を有している粒子から構成され、
前記二次粒子は、
前記一次粒子を球形に造粒し、焼結してなる造粒焼結粒子であって、
平均粒子径が1μm以上100μm以下であり、
フローファンクションが5.5以上である、粉末材料。 - 金属材料、セラミック材料およびサーメットからなる群から選択される少なくとも一種の材料により構成されている、請求項1に記載の粉末材料。
- 供給した粉末材料を平坦化して薄層状に堆積させたのち、熱源となるビームを照射するビーム照射方式による粉末積層造形に用いられる粉末材料であって、
前記粉末材料は、
金属材料、セラミック材料およびサーメットからなる群から選択される少なくとも一種の材料により構成されており、
一次粒子が間隙をもって三次元的に結合されてなる二次粒子の形態を有している粒子から構成され、前記二次粒子の平均粒子径は1μm以上100μm以下であり、
フローファンクションが5.5以上である、粉末材料。 - 前記二次粒子は、前記一次粒子が球形に造粒されてなる造粒粒子である、請求項3に記載の粉末材料。
- 前記一次粒子の平均粒子径が1nm以上10μm以下である請求項1〜4のいずれか一項に記載の粉末材料。
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