JP6537901B2 - Measuring device and interpolation processing program - Google Patents
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Description
本発明は、必要な値を線形補間によって導出する処理を実行可能な処理部を備えた測定装置、および測定装置の処理部にそのような処理を実行させる手順が記録された補間処理プログラムに関するものである。 The present invention relates to a measuring apparatus provided with a processing unit capable of executing processing for deriving necessary values by linear interpolation, and an interpolation processing program in which a procedure for causing the processing unit of the measuring apparatus to execute such processing is recorded. It is.
各種の電気的パラメータを測定する測定装置においては、測定条件や測定結果に関する各種の値を補間処理によって導出することが広く行われている。例えば、下記の特許文献には、補間処理によって測定値を導出可能に構成された抵抗値測定装置(以下、「測定装置」ともいう)の発明が開示されている。この測定装置では、コンデンサに蓄えた一定量の電荷を、被測定抵抗や基準抵抗を介してそれらの抵抗値に逆比例する定電流で放電(または、充電)するのに要する時間や放電時の周波数についてのパラメータ(抵抗値に対して線形関係にある値)をそれぞれ測定し、2つの基準抵抗についてそれぞれ演算したパラメータ、および被測定抵抗について演算したパラメータを用いた補間処理によって被測定抵抗の抵抗値を求める構成が採用されている。 In a measuring device that measures various electrical parameters, it is widely used to derive various values regarding measurement conditions and measurement results by interpolation processing. For example, the invention of a resistance value measuring device (hereinafter, also referred to as "measuring device") disclosed in the following patent documents is configured to be able to derive a measured value by interpolation processing. In this measuring device, the time required for discharging (or charging) a fixed amount of charge stored in a capacitor with a constant current that is inversely proportional to the resistance value via the measured resistance or reference resistance, or at the time of discharging The resistance of the resistance to be measured is measured by interpolation processing using the parameters for frequency (values in linear relationship to the resistance value), the parameters calculated for the two reference resistances, and the parameters for the resistance to be measured. A configuration for obtaining a value is adopted.
この場合、この測定装置では、一例として、3つの基準抵抗のうちの1つの抵抗値をR1とすると共に、その基準抵抗についての上記のパラメータ(一例として、周期:充電時間+放電時間)をT1とし、3つの基準抵抗のうちの他の1つの抵抗値をR2とすると共に、その基準抵抗についての上記のパラメータをT2とし、かつ被測定抵抗の抵抗値をRsとすると共に、その被測定抵抗についての上記のパラメータをTsとしたときに、「Rs=(R2−R1)×(Ts−T1)/(T2−T1)+R1)」との数式を用いた線形補間によって抵抗値Rsを導出する構成が採用されている。これにより、この測定装置では、下記の特許文献に従来の技術として開示されている測定装置(測定方法)よりも、被測定抵抗の抵抗値を正確に測定することが可能となっている。 In this case, in this measurement apparatus, as one example, the resistance value of one of the three reference resistances is R1, and the above-described parameter (period: charge time + discharge time) of the reference resistance is T1. Let R2 be the other one of the three reference resistors, T2 be the above parameter for that reference resistor, and Rs be the resistance of the measured resistor, and its measured resistor The resistance value R s is derived by linear interpolation using the equation “Rs = (R2−R1) × (Ts−T1) / (T2−T1) + R1)”, where Ts is the above parameter for Configuration is adopted. Thus, with this measuring device, it is possible to measure the resistance value of the resistance to be measured more accurately than the measuring device (measuring method) disclosed as the prior art in the following patent documents.
ところが、従来の測定装置には、以下のような問題点が存在する。すなわち、従来の測定装置では、抵抗値が既知の2つの基準抵抗を対象として測定したパラメータ(抵抗値に対して線形関係にある値)、および被測定抵抗を対象として測定した同様のパラメータを用いた線形補間によって被測定抵抗の抵抗値を導出する構成が採用されている。具体的には、従来の測定装置は、一例として、抵抗値R2から抵抗値R1を減算する第1の減算処理、周期Tsから周期T1を減算する第2の減算処理、周期T2から周期T1を減算する第3の減算処理、第1の減算処理の算出値に第1の減算処理の算出値を乗算する乗算処理、乗算処理の算出値を第3の減算処理の算出値で除算する除算処理、および除算処理の算出値に抵抗値R1を加算する加算処理の6つの演算処理を実行することによって抵抗値Rsを算出する構成が採用されている。 However, the following problems exist in the conventional measuring apparatus. That is, in the conventional measuring apparatus, parameters measured for two reference resistors whose resistance values are known (values having a linear relationship to the resistance values) and similar parameters measured for the measured resistance are used. A configuration is adopted in which the resistance value of the measured resistance is derived by linear interpolation. Specifically, as an example, the conventional measuring device performs a first subtraction process of subtracting the resistance value R1 from the resistance value R2, a second subtraction process of subtracting the cycle T1 from the cycle Ts, and a cycle T1 from the cycle T2. Third subtraction processing to be subtracted, multiplication processing to multiply the calculation value of the first subtraction processing by the calculation value of the first subtraction processing, division processing to divide the calculation value of the multiplication processing by the calculation value of the third subtraction processing A configuration is adopted in which the resistance value Rs is calculated by executing six arithmetic processings of addition processing of adding the resistance value R1 to the calculated value of the division processing and the division processing.
この場合、この種の装置において上記のような補間処理によって抵抗値Rsを導出する際には、除算処理時に演算処理部に掛かる負担が非常に大きいことが知られている。このため、従来の測定装置において採用されている抵抗値の算出方法によって抵抗値を導出する際には、高性能な演算処理部が必要となっており、これに起因して、測定装置の製造コストが高騰しているという問題点がある。また、PLD(プログラマブル・ロジック・デバイス)によって上記の各演算処理を実行する構成を採用するには、減算処理部、加算処理部、乗算処理部および除算処理部の4種類をプログラミングして各演算処理部を構築する必要が生じるため、補間処理用の回路構成が大掛かりなものとなる。これにより、製造時のプログラミングが煩雑になるだけでなく、PLDの貴重なリソースが消費されて他の処理を実行させるためのリソースが不足するおそれもある。 In this case, it is known that when deriving the resistance value Rs by interpolation processing as described above in this type of apparatus, the load on the arithmetic processing unit at the time of division processing is very large. For this reason, when deriving the resistance value by the method of calculating the resistance value employed in the conventional measuring device, a high-performance arithmetic processing unit is required, and due to this, the manufacturing of the measuring device There is a problem that the cost is rising. In addition, in order to adopt a configuration in which each of the above-described arithmetic processing is performed by PLD (programmable logic device), four types of a subtraction processing unit, an addition processing unit, a multiplication processing unit, and a division processing unit are programmed to perform each operation. Since it is necessary to construct a processing unit, the circuit configuration for interpolation processing becomes large. This not only complicates programming at the time of manufacture but also consumes valuable resources of the PLD and may run out of resources for executing other processes.
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、除算処理を行うことなく、必要な値を線形補間によって導出し得る測定装置および補間処理プログラムを提供することを主目的とする。 The present invention has been made in view of such problems, and has as its main object to provide a measuring device and an interpolation processing program capable of deriving a necessary value by linear interpolation without performing division processing.
上記目的を達成すべく請求項1記載の測定装置は、線形関係にある第1の値および第2の値でそれぞれ特定されるN点(Nは、3以上の自然数)の基準点のうちの2点における当該第1の値および当該第2の値と、前記各基準点とは相違する処理対象点における前記第1の値とに基づいて当該処理対象点における前記第2の値を線形補間によって導出する補間処理を実行可能な処理部を備えた測定装置であって、前記第1の値が小さい順でM番目(Mは、(N−1)以下の各自然数)の前記基準点における当該第1の値と、前記第1の値が小さい順で(M+1)番目の前記基準点における当該第1の値との差をそれぞれ第3の値としたときに、2n/m(nは、2以上の自然数で、mは、自然数)で表すことができる複数種類の第4の値のうちの前記第3の値に最も近い当該第4の値における当該nの値および当該mの値を前記処理対象点毎にそれぞれ特定可能な補間処理用データを記憶する記憶部を備え、前記処理部は、前記第1の値が小さい順でL番目(Lは、M以下の自然数)の前記基準点と、前記第1の値が小さい順で(L+1)番目の前記基準点との間の前記処理対象点における前記第2の値を導出する前記補間処理において、当該処理対象点に対応する前記nの値および前記mの値を前記補間処理用データに基づいてそれぞれ特定する第1の処理、前記L番目の基準点における前記第1の値と前記処理対象点における前記第1の値との差である第5の値を演算する第2の処理、前記L番目の基準点における前記第2の値と前記(L+1)番目の基準点における前記第2の値との差である第6の値を演算する第3の処理、前記第5の値、前記第6の値および前記mの値を乗じて第7の値を演算する第4の処理、並びに前記第7の値を前記nの値に応じてnビット右シフトして第8の値に変換する第5の処理を実行し、かつ前記L番目の基準点における前記第2の値よりも前記(L+1)番目の基準点における前記第2の値が大きいときに当該L番目の基準点における当該第2の値に前記第8の値を加算して前記処理対象点における前記第2の値を導出すると共に、前記L番目の基準点における前記第2の値が前記(L+1)番目の基準点における前記第2の値よりも大きいときに当該L番目の基準点における当該第2の値から前記第8の値を減算して前記処理対象点における前記第2の値を導出する。
In order to achieve the above object, the measuring device according to
また、請求項2記載の測定装置は、請求項1記載の測定装置において、前記記憶部は、前記M番目の基準点から前記(M+1)番目の基準点までの前記第1の値の範囲である(N−1)個の当該各範囲と、当該各範囲に含まれる前記処理対象点に対応する前記nの値および前記mの値とが相互に関連付けられた情報が記録された前記補間処理用データを記憶している。
The measuring device according to claim 2 is the measuring device according to
また、請求項3記載の補間処理プログラムは、線形関係にある第1の値および第2の値でそれぞれ特定されるN点(Nは、3以上の自然数)の基準点のうちの2点における当該第1の値および当該第2の値と、前記各基準点とは相違する処理対象点における前記第1の値とに基づいて当該処理対象点における前記第2の値を線形補間によって導出する補間処理を測定装置の処理部に実行させる手順が記録された補間処理プログラムであって、前記第1の値が小さい順でM番目(Mは、(N−1)以下の各自然数)の前記基準点における当該第1の値と、前記第1の値が小さい順で(M+1)番目の前記基準点における当該第1の値との差をそれぞれ第3の値としたときに、2n/m(nは、2以上の自然数で、mは、自然数)で表すことができる複数種類の第4の値のうちの前記第3の値に最も近い当該第4の値における当該nの値および当該mの値を前記処理対象点毎にそれぞれ特定可能な補間処理用データを使用して、前記第1の値が小さい順でL番目(Lは、M以下の自然数)の前記基準点と、前記第1の値が小さい順で(L+1)番目の前記基準点との間の前記処理対象点における前記第2の値を導出する前記補間処理として、当該処理対象点に対応する前記nの値および前記mの値を前記補間処理用データに基づいてそれぞれ特定する第1の処理、前記L番目の基準点における前記第1の値と前記処理対象点における前記第1の値との差である第5の値を演算する第2の処理、前記L番目の基準点における前記第2の値と前記(L+1)番目の基準点における前記第2の値との差である第6の値を演算する第3の処理、前記第5の値、前記第6の値および前記mの値を乗じて第7の値を演算する第4の処理、並びに前記第7の値を前記nの値に応じてnビット右シフトして第8の値に変換する第5の処理を実行し、かつ前記L番目の基準点における前記第2の値よりも前記(L+1)番目の基準点における前記第2の値が大きいときに当該L番目の基準点における当該第2の値に前記第8の値を加算して前記処理対象点における前記第2の値を導出すると共に、前記L番目の基準点における前記第2の値が前記(L+1)番目の基準点における前記第2の値よりも大きいときに当該L番目の基準点における当該第2の値から前記第8の値を減算して前記処理対象点における前記第2の値を導出する手順が記録されている。 The interpolation processing program according to claim 3 is characterized in that at two points among the reference points of N points (N is a natural number of 3 or more) specified by the first value and the second value in a linear relationship, respectively. The second value at the processing target point is derived by linear interpolation based on the first value and the second value, and the first value at the processing target point different from the reference points. An interpolation processing program in which a procedure for causing a processing unit of a measurement apparatus to execute interpolation processing is recorded, the Mth (M being each natural number of (N-1) or less) in ascending order of the first value. Assuming that the difference between the first value at the reference point and the first value at the (M + 1) th reference point in ascending order of the first value is a third value, 2 n / m (n is a natural number of 2 or more and m is a natural number) Interpolation processing data capable of specifying the value of n and the value of m at the fourth value closest to the third value among the plural types of fourth values that can be specified for each of the processing target points Between the L-th (L is a natural number less than M) reference point and the (L + 1) -th reference point in ascending order of the first value. As the interpolation processing for deriving the second value at the processing target point, the first value specifying the value of n and the value of m corresponding to the processing target point on the basis of the data for interpolation processing A second process of calculating a fifth value which is a difference between the first value at the Lth reference point and the first value at the processing target point, the second process at the Lth reference point A second value and the second at the (L + 1) th reference point; A third process of calculating a sixth value which is a difference from the value, a fourth process of calculating a seventh value by multiplying the fifth value, the sixth value, and the value of m; A fifth process of shifting the seventh value to the right by n bits according to the value of n and converting it to an eighth value is executed, and the second value at the Lth reference point is greater than the second value When the second value at the (L + 1) th reference point is large, the eighth value is added to the second value at the Lth reference point to obtain the second value at the processing target point. And deriving the second value at the Lth reference point when the second value at the Lth reference point is larger than the second value at the (L + 1) th reference point. A procedure for subtracting the eighth value to derive the second value at the processing target point is recorded. To have.
請求項1記載の測定装置では、第1の値が小さい順でL番目の基準点と、第1の値が小さい順で(L+1)番目の基準点との間の処理対象点における第2の値を導出する補間処理において、処理対象点に対応するnの値およびmの値を補間処理用データに基づいてそれぞれ特定する第1の処理、L番目の基準点における第1の値と処理対象点における第1の値との差である第5の値を演算する第2の処理、L番目の基準点における第2の値と(L+1)番目の基準点における第2の値との差である第6の値を演算する第3の処理、第5の値、第6の値およびmの値を乗じて第7の値を演算する第4の処理、並びに第7の値をnビット右シフトして第8の値に変換する第5の処理を実行し、かつL番目の基準点における第2の値よりも(L+1)番目の基準点における第2の値が大きいときにL番目の基準点における第2の値に第8の値を加算して処理対象点における第2の値を導出すると共に、L番目の基準点における第2の値が(L+1)番目の基準点における第2の値よりも大きいときにL番目の基準点における第2の値から第8の値を減算して処理対象点における第2の値を導出する。また、請求項3記載の補間処理プログラムでは、上記の処理を測定装置の処理部に実行させる手順が記録されている。
The measurement apparatus according to
したがって、請求項1記載の測定装置、および請求項3記載の補間処理プログラムによれば、大きな負担が掛かる除算処理を行うことなく、線形補間によって第2の値を導出することができる。これにより、例えば、補間処理用の演算処理回路をPLD上に構成した場合には、除算処理部が不要となることで、PLDの貴重なリソースが消費される事態を好適に回避することができ、演算処理回路によって各演算処理を実行する構成を採用した場合には、補間処理時に演算処理回路に掛かる負担が十分に小さくなるため、低スペックの演算処理回路で処理部を構成したとしても、必要とされる第2の値を確実に導出することができる。したがって、測定装置の製造コストを十分に低減することができるだけでなく、大きな負担が掛かる除算処理を行わない分だけ、補間処理に要する時間を短縮することができる。 Therefore, according to the measuring apparatus of the first aspect and the interpolation processing program of the third aspect, the second value can be derived by linear interpolation without performing division processing which is heavily burdened. As a result, for example, when the arithmetic processing circuit for interpolation processing is configured on PLD, the division processing unit becomes unnecessary, and the situation where valuable resources of PLD are consumed can be suitably avoided. When adopting a configuration in which each arithmetic processing is performed by the arithmetic processing circuit, the load on the arithmetic processing circuit at the time of interpolation processing is sufficiently reduced, so even if the processing unit is configured with a low-spec arithmetic processing circuit, The required second value can be derived reliably. Therefore, not only the manufacturing cost of the measuring apparatus can be sufficiently reduced, but also the time required for the interpolation process can be shortened by the amount of not performing the division process which is heavily burdened.
請求項2記載の測定装置、およびその測定装置の処理部に各種の処理を実行させる手順が記録された補間処理プログラムによれば、M番目の基準点から(M+1)番目の基準点までの第1の値の範囲である(N−1)個の各範囲と、各範囲に含まれる処理対象点に対応するnの値およびmの値とが相互に関連付けられた情報が記録された補間処理用データを使用することにより、例えば、M番目の基準点の第1の値と(M+1)番目の基準点の第1の値との差の種類、すなわち、(N−1)個の範囲の広さの種類毎に、対応するnの値やmの値を特定可能に構成された補間処理用データを使用する際には、処理対象点が含まれる範囲の広さがどの程度であるかを特定するための減算処理等を実行し、その後に、特定した広さに対応するnの値やmの値を特定する必要があるのに対し、補間処理によって第2の値を導出しようとしている処理対象点が(N−1)個の範囲のいずれに含まれるかを特定するだけで、特定した範囲に対応するnの値やmの値を容易に特定することができる。これにより、演算処理の回数(演算処理を実行する演算回路の数)を少数とすることができるため、測定装置の製造コストを一層低減することができ、また、補間処理に要する時間を一層短縮することができる。 Measurement device according to claim 2, and according to the interpolation processing program procedure is recorded to execute various processes in the processing unit of the measuring device, the from M-th reference point to (M + 1) th reference point Interpolation processing in which information in which (N-1) each range which is a range of 1 values and n and m values corresponding to processing target points included in each range are associated with each other is recorded For example, the type of difference between the first value of the Mth reference point and the first value of the (M + 1) th reference point, ie, (N-1) ranges of When using interpolation processing data configured to be able to specify the corresponding n value and m value for each type of area, how wide is the range including the processing target point? To determine the value of n, and after that, the value of n corresponding to the specified width While it is necessary to specify the values of m and m, it is only necessary to specify which of the (N-1) ranges the processing target point for which the second value is to be derived is to be derived by interpolation processing. The value of n or the value of m corresponding to the specified range can be easily specified. As a result, the number of arithmetic processing (the number of arithmetic circuits for executing the arithmetic processing) can be reduced, so that the manufacturing cost of the measuring apparatus can be further reduced, and the time required for the interpolation processing can be further shortened. can do.
以下、測定装置および補間処理プログラムの実施の形態について、添付図面を参照して説明する。 Hereinafter, an embodiment of a measuring device and an interpolation processing program will be described with reference to the attached drawings.
図1に示す測定装置1は、「測定装置」の一例である「インピーダンス測定装置」であって、測定部2、操作部3、表示部4、処理部5および記憶部6を備え、測定対象のインピーダンスを測定可能に構成されている。
The
測定部2は、処理部5の制御に従い、測定対象に対して任意の周波数の交流信号を供給しつつインピーダンスを測定する。操作部3は、測定条件の設定操作や、測定開始/停止を指示する各種の操作スイッチを備え、スイッチ操作に応じた操作信号を処理部5に出力する。表示部4は、測定条件設定画面や測定結果表示画面などの各種の表示画面(いずれも図示せず)を表示する。処理部5は、測定装置1を総括的に制御する。具体的には、処理部5は、測定部2を制御して測定対象に交流信号を供給しつつインピーダンスを測定する測定処理を実行させる。また、処理部5は、測定部2の測定結果を記憶部6に記憶させ、かつ表示部4に表示させる。
The measurement unit 2 measures the impedance while supplying an AC signal of an arbitrary frequency to the measurement object according to the control of the
この場合、処理部5は、測定処理に際して測定部2を制御して測定対象に各種周波数の交流信号を供給させるときに、そのパワーが周波数毎にばらつくことなく一定となるように補正させる。また、本例の測定装置1では、後述するように、基準周波数の交流信号についてのパワー補正係数(以下、単に「補正係数」ともいう)が予め規定されており、基準周波数以外の周波数の交流信号を供給する際には、基準周波数の交流信号についての補正係数に基づき、供給しようとしている交流信号の周波数に対応する補正係数を線形補間によって導出する構成が採用されている。さらに、本例の測定装置1では、一例として、処理部5の一部(線形補間によって補正係数を導出する処理を行う要素など)がPLD(プログラマブル・ロジック・デバイス)によって構成されている。
In this case, the
具体的には、本例の測定装置1では、図2に示すように、減算処理部11,12、絶対値取得部13、乗算処理部14,15、ビットシフト処理部16、加算処理部17および減算処理部18で構成された補間処理回路10がプログラミングによってPLD内に構築されており、この補間処理回路10が「処理部」として機能して所望の補正係数を導出する構成が採用されている。なお、処理部5における補間処理回路10(各構成要素11〜18)によって補正係数を導出する手順については、後に詳細に説明する。また、本例の処理部5では、補間処理回路10だけでなく、他の各種の演算部もPLD内に構築されているが、「測定装置」の構成に関する理解を容易とするために、補間処理回路10以外の演算部に関する図示および説明を省略する。
Specifically, in the
記憶部6は、補正係数データDk、補間処理用テーブルDtおよび測定部2の測定結果などを記憶する。補正係数データDkは、測定対象に供給する交流信号の周波数と、その周波数の交流信号のパワー(電力)を補正するためのパワー補正係数との関係を特定可能な情報で構成されている。具体的には、本例では、図3に示すように、一例として、基準点P1〜P5の5点(N=5点の例)についての周波数(「第1の値」の一例)およびパワー補正係数(「第2の値」の一例)が記録されている。
The
この場合、本例の測定装置1では、同図に示すように、0Hzを超えて1000Hzまでの周波数範囲H1において交流信号の周波数と補正係数とが線形関係にあり、1000Hzを超えて1400Hzまでの周波数範囲H2において交流信号の周波数と補正係数とが他の線形関係にあり、1400Hzを超えて2000Hzまでの周波数範囲H3において交流信号の周波数と補正係数とがさらに他の線形関係にあり、かつ2000Hzを超えて3000Hzまでの周波数範囲H4において交流信号の周波数と補正係数とがさらに他の線形関係にある。
In this case, in the
一方、補間処理用テーブルDtは、「補間処理用データ」の一例であって、補間処理回路10による補正係数の補間処理に際して乗算処理部14が使用する「mの値」(以下、「値Vm」ともいう)や、ビットシフト処理部16が使用する「nの値」(以下、「値Vn」ともいう)を特定可能な情報で構成されている。具体的には、本例では、周波数の値が小さい順(周波数が低い順)でM番目(N=5の本例では、M=1〜4番目)の基準点における周波数の値と、周波数の値が小さい順(周波数が低い順)で(M+1)番目(本例では、2〜5番目)の基準点における周波数の値との差をそれぞれ「第3の値」としたときに、2n/mで表すことができる予め規定された複数種類(一例として、3種類)の「第4の値」のうちの「第3の値」に最も近い「第4の値」における値Vnおよび値Vmを、各周波数範囲H1〜H4内に定める補間点(図3における補間点Pa,Pb等:「処理対象点」の一例)毎にそれぞれ特定可能な情報で構成されている。
On the other hand, the interpolation processing table Dt is an example of the “interpolation data”, and the “m value” (hereinafter referred to as “value Vm”) used by the
より具体的には、図3に示すような基準点P1〜P5が規定されている本例では、M=1番目の基準点P1の周波数の値:0と(M+1)=2番目の基準点P2の周波数の値:1000との差分である「1000」との値、M=2番目の基準点P2の周波数の値:1000と(M+1)=3番目の基準点P3の周波数の値:1400との差分である「400」との値、M=3番目の基準点P3の周波数の値:1400と(M+1)=4番目の基準点P4の周波数の値:2000との差分である「600」との値、およびM=4番目の基準点P4の周波数の値:2000と(M+1)=5番目の基準点P5の周波数の値:3000との差分である「1000」との値がそれぞれ「第3の値」に相当する。 More specifically, in this example in which reference points P1 to P5 as shown in FIG. 3 are defined, the value of the frequency of M = 1st reference point P1: 0 and (M + 1) = 2th reference point The value of the frequency of P2: the value of “1000” which is the difference from 1000, the value of the frequency of M = 2nd reference point P2: 1000 and the value of the frequency of (M + 1) = 3 th reference point P3: 1400 And the value of the frequency of the M = 3th reference point P3: 1400 and the value of the frequency of the (M + 1) = 4th reference point P4: 2000, “600” And the value of the frequency of the M = 4th reference point P4: 2000 and the value of the difference between the value of the frequency of the (M + 1) = 5th reference point P5: 3000 and the value of “1000” are respectively It corresponds to the "third value".
また、「1000」との値、「400」との値、および「600」との値をそれぞれ「第3の値」とする本例では、「210/1=1024」との値(n=10,m=1の例)、「211/5=409.6」との値(n=11,m=5の例)、および「212/7=585.142・・・」との値(n=12,m=7の例)の3種類の値がそれぞれ「2n/mで表すことができる第4の値」に相当する。さらに、本例の補間処理用テーブルDtは、周波数範囲H1〜H4の4個(「(N−1)個の範囲」の一例)と、各周波数範囲H1〜H4に含まれる補間点(周波数範囲H1に含まれている補間点Paや、周波数範囲H3に含まれている補間点Pbなど)に対応する値Vnおよび値Vmとを相互に関連付けた情報で構成されている。 The value of "1000", in the present example to a value of "400", and each "third value" a value of "600", the value of "2 10/1 = 1024" (n = 10, m = 1 in the example), and examples of the values of "2 11 /5=409.6" (n = 11, m = 5 ), and "2 12 /7=585.142 ..." The three types of values (example of n = 12, m = 7) correspond to “the fourth value that can be represented by 2 n / m”. Furthermore, the interpolation processing table Dt of this example includes four frequency ranges H1 to H4 (an example of “ (N−1) ranges”) and interpolation points (frequency ranges included in each of the frequency ranges H1 to H4). It is composed of information in which a value Vn and a value Vm corresponding to the interpolation point Pa included in H1 and the interpolation point Pb included in the frequency range H3 are mutually associated.
具体的には、図4に示すように、補間処理用テーブルDtには、周波数範囲H1を示す「0x00」との符号と、この周波数範囲H1に含まれる補間点の補正係数を導出する際に使用する「m=1」を示す「1」および「n=10」を示す「A」で下位ビットを構成した「0x1A」との符号とが相互に関連付けられて記録されている。また、補間処理用テーブルDtには、周波数範囲H2を示す「0x01」との符号と、この周波数範囲H2に含まれる補間点の補正係数を導出する際に使用する「m=5」を示す「5」および「n=11」を示す「B」で下位ビットを構成した「0x5B」との符号とが相互に関連付けられて記録されている。 Specifically, as shown in FIG. 4, in the interpolation processing table Dt, when the code of "0x00" indicating the frequency range H1 and the correction coefficient of the interpolation point included in the frequency range H1 are derived. The code of “0x1A” in which the lower bits are configured by “1” indicating “m = 1” and “A” indicating “n = 10” to be used is mutually correlated and recorded. Further, in the interpolation processing table Dt, the sign “0x01” indicating the frequency range H2 and “m = 5” indicating the correction coefficient of the interpolation point included in the frequency range H2 are used. A code of “0x5B”, in which lower bits are configured by “B” indicating “5” and “n = 11,” is recorded in association with each other.
さらに、補間処理用テーブルDtには、周波数範囲H3を示す「0x02」との符号と、この周波数範囲H3に含まれる補間点の補正係数を導出する際に使用する「m=7」を示す「7」および「n=12」を示す「C」で下位ビットを構成した「0x7C」との符号とが相互に関連付けられて記録されている。また、補間処理用テーブルDtには、周波数範囲H4を示す「0x03」との符号と、この周波数範囲H4に含まれる補間点の補正係数を導出する際に使用する「m=1」を示す「1」および「n=10」を示す「A」で下位ビットを構成した「0x1A」との符号とが相互に関連付けられて記録されている。 Furthermore, in the interpolation processing table Dt, a sign of “0x02” indicating the frequency range H3 and “m = 7” indicating the correction coefficient of the interpolation point included in the frequency range H3 are shown. A code of “0x7C”, in which lower bits are configured by “C” indicating 7 ”and“ n = 12 ”, is recorded in association with each other. Further, in the interpolation processing table Dt, a sign “0x03” indicating the frequency range H4 and “m = 1” indicating the correction coefficient of the interpolation point included in the frequency range H4 are shown. A code of “0x1A”, in which lower bits are configured by “A” indicating 1 ”and“ n = 10 ”, is recorded in association with each other.
なお、上記の補正係数データDkや補間処理用テーブルDtは、一例として、外部装置において予め生成されて記憶部6に記憶させられる。
The correction coefficient data Dk and the interpolation processing table Dt are generated in advance by an external device and stored in the
この測定装置1によるインピーダンスの測定に際して、処理部5は、まず、測定部2を制御して測定対象に交流信号を供給させる。この際に、一例として、測定対象に対して1000Hzの交流信号を供給させるときに、処理部5は、補正係数データDkに基づき、基準点P2の「100」との補正係数を用いて交流信号のパワーを補正させる。
When measuring the impedance by the measuring
一方、補正係数データDkに記録されている基準点P1〜P5の周波数とは異なる周波数の交流信号を供給させるときに、処理部5(処理部5における主処理回路)は、供給すべき交流信号の周波数が周波数範囲H1〜H4のいずれに含まれるかを特定する。この際に、例えば500Hzの交流信号を供給する際には、その周波数が、周波数範囲H1に含まれると特定し、500Hzに対応する補間点Paについての補正係数を導出する補間処理を開始する。 On the other hand, when supplying an AC signal of a frequency different from the frequency of the reference points P1 to P5 recorded in the correction coefficient data Dk, the processing unit 5 (main processing circuit in the processing unit 5) Is specified in which of the frequency ranges H1 to H4. At this time, when supplying an AC signal of, for example, 500 Hz, it is determined that the frequency is included in the frequency range H1, and interpolation processing is started to derive a correction coefficient for the interpolation point Pa corresponding to 500 Hz.
具体的には、周波数の値が小さい順でL=1番目の基準点P1と、周波数の値が小さい順で(L+1)=2番目の基準点P2との間の補間点Paにおける補正係数を導出する本例の補間処理において、処理部5は、まず、補間処理用テーブルDtに基づき、補間点Paが含まれる周波数範囲H1に関連付けられている値Vnおよび値Vmをそれぞれ特定する(「第1の処理」の一例)。この際には、補間処理用テーブルDtにおける周波数範囲H1に対応する「0x00」との符号(Address )に関連付けられた「0x1A」との符号の「A」および「1」に基づき、「n=10」および「m=1」がそれぞれ特定される。
Specifically, the correction coefficients at the interpolation point Pa between the L = 1st reference point P1 in ascending order of the frequency value and the (L + 1) = 2nd reference point P2 in ascending order of the frequency value are In the interpolation process of the present example to be derived, the
次いで、処理部5は、L=1番目の基準点P1における補正係数の値V1(この例では、「40」)、および(L+1)=2番目の基準点P2における補正係数の値V2(この例では、「100」)をそれぞれ減算処理部11に入力することにより、値V1と値V2との差である値V3(この例では、「60」)を演算させる(値V2から値V1を減算する処理の実行)。また、処理部5は、L=1番目の基準点P1における周波数の値V4(この例では、「0」)、および補間点Paにおける周波数の値V5(この例では、「500」)をそれぞれ減算処理部12に入力することにより、値V4と値V5との差である値V6(「第5の値」の一例:この例では、「500」)を演算させる(値V5から値V4を減算する処理:「第2の処理」の一例)。
Next, the
一方、減算処理部11による演算結果の値V3(この例では、「60」)が出力されたときに、絶対値取得部13は、値V3の絶対値である値V3a(「第6の値」の一例:この例では、「60」)を取得する。なお、本例では、減算処理部11による減算処理および絶対値取得部13による絶対値の取得処理が相俟って「第3の処理」に相当する。また、減算処理部12による演算結果の値V6(この例では、「500」)が出力されたときに、乗算処理部14は、値V6に値Vm(この例では、「1」)を乗じた値V7(この例では、「500」)を演算する。さらに、乗算処理部15は、絶対値取得部13によって取得された値V3a(この例では、「60」)に乗算処理部14による演算結果の値V7(この例では、「500」)を乗じた値V8(「第7の値」の一例:この例では、「30000」)を演算する。なお、本例では、乗算処理部14による乗算処理および乗算処理部15による乗算処理が相俟って「第4の処理」に相当する。
On the other hand, when the value V3 (in this example, "60") of the calculation result by the
また、乗算処理部15による演算結果の値V8が出力されたときに、ビットシフト処理部16は、その値V8を、値Vnに応じてnビット右シフトすることで値V9(「第8の値」の一例)に変換する処理を行う(「第5の処理」の一例)。この場合、値V8が「30000」で値Vnが「10」の本例において、ビットシフト処理部16は、「30000」を「10」ビット分右シフトして値V9に変換する。これにより、値Vn=「10」のときの「2n=1024」との値(基準点P1の周波数の値と基準点P2の周波数の値の差である「1000」に値Vm=「1」を乗じた「1000」に近い値)で「30000」を除した「29.296875」との値における小数点以下の値を切り捨てた値と同値の「29」との値が値V9として特定される。
In addition, when the value V8 of the operation result by the
一方、本例の処理部5(補間処理回路10)では、絶対値取得部13が値V3の絶対値である値V3aを取得する際に、値V3が正の値のとき(すなわち、値V2が値V1よりも大きな値のとき:「L番目の基準点における第2の値よりも(L+1)番目の基準点における第2の値が大きいとき」の一例)には、値V3aの出力と共に、値V3が正の値であることを示す予め規定された1ビット符号からなる値V+を出力する。これに応じて、加算処理部17がL=1番目の基準点P1における補正係数(この例では、40)に、ビットシフト処理部16による演算結果の値V9(この例では、「29」)を加算して補間点Paにおける補正係数である「69」との値V10aを演算する。これにより、500Hzの交流信号を供給する際の補正係数:値V10aの導出が完了する。したがって、処理部5は、補間点Paについて導出された「69」との値V10a(補正係数)を用いて交流信号のパワーを補正させる。
On the other hand, in the processing unit 5 (interpolation processing circuit 10) of this example, when the absolute
なお、従来方法によって補間点Paの補正係数を導出する際には、「(100−40)×(500−0)/(1000−0)+40」との数式により「70」との値が補正係数として演算されるが、本例の測定装置1では、除算処理を行うことなく、この「70」との値に近い「69」との値V10aを導出することが可能となっている。
When the correction coefficient of the interpolation point Pa is derived by the conventional method, the value of “70” is corrected by the equation “(100−40) × (500−0) / (1000−0) +40”. Although calculated as a coefficient, in the measuring
一方、例えば1800Hzの交流信号を供給する際に、処理部5(処理部5における主処理回路)は、その周波数が、周波数範囲H3に含まれると特定し、1800Hzに対応する補間点Pbについての補正係数を導出する補間処理を開始する。 On the other hand, when supplying an alternating current signal of, for example, 1800 Hz, the processing unit 5 (main processing circuit in the processing unit 5) specifies that the frequency is included in the frequency range H3, and supplies the interpolation point Pb corresponding to 1800 Hz. Interpolation processing to derive a correction coefficient is started.
具体的には、周波数の値が小さい順でL=3番目の基準点P3と、周波数の値が小さい順で(L+1)=4番目の基準点P4との間の補間点Pbにおける補正係数を導出する本例の補間処理において、処理部5は、まず、補間処理用テーブルDtに基づき、補間点Pbが含まれる周波数範囲H3に関連付けられている値Vnおよび値Vmをそれぞれ特定する(「第1の処理」の他の一例)。この際には、補間処理用テーブルDtにおける周波数範囲H3に対応する「0x02」との符号(Address )に関連付けられた「0x7C」との符号の「C」および「7」に基づき、「n=12」および「m=7」がそれぞれ特定される。
Specifically, the correction coefficients at the interpolation point Pb between the L = 3th reference point P3 in ascending order of the frequency value and the (L + 1) = 4th reference point P4 in ascending order of the frequency value are In the interpolation process of the present example to be derived, the
次いで、処理部5は、L=3番目の基準点P3における補正係数の値V1(この例では、「200」)、および(L+1)=4番目の基準点P4における補正係数の値V2(この例では、「150」)をそれぞれ減算処理部11に入力することにより、値V1と値V2との差である値V3(この例では、「−50」)を演算させる(値V2から値V1を減算する処理の実行)。また、処理部5は、L=3番目の基準点P3における周波数の値V4(この例では、「1400」)、および補間点Pbにおける周波数の値V5(この例では、「1800」)をそれぞれ減算処理部12に入力することにより、値V4と値V5との差である値V6(「第5の値」の他の一例:この例では、「400」)を演算させる(値V5から値V4を減算する処理:「第2の処理」の他の一例)。
Next, the
一方、減算処理部11による演算結果の値V3(この例では、「−50」)が出力されたときに、絶対値取得部13は、値V3の絶対値である値V3a(「第6の値」の他の一例:この例では、「50」)を取得する。なお、本例においても、減算処理部11による減算処理および絶対値取得部13による絶対値の取得処理が相俟って「第3の処理」に相当する。また、減算処理部12による演算結果の値V6(この例では、「400」)が出力されたときに、乗算処理部14は、値V6に値Vm(この例では、「7」)を乗じた値V7(この例では、「2800」)を演算する。さらに、乗算処理部15は、絶対値取得部13によって取得された値V3a(この例では、「50」)に乗算処理部14による演算結果の値V7(この例では、「2800」)を乗じた値V8(「第7の値」の他の一例:この例では、「140000」)を演算する。なお、本例においても、乗算処理部14による乗算処理および乗算処理部15による乗算処理が相俟って「第4の処理」に相当する。
On the other hand, when the value V3 (in this example, “−50”) of the calculation result by the
また、乗算処理部15による演算結果の値V8が出力されたときに、ビットシフト処理部16は、その値V8を、値Vnに応じてnビット右シフトすることで値V9(「第8の値」の他の一例)に変換する処理を行う(「第5の処理」の他の一例)。この場合、値V8が「140000」で値Vnが「12」の本例において、ビットシフト処理部16は、「140000」を「12」ビット分右シフトして値V9に変換する。これにより、値Vn=「12」のときの「2n=4096」との値(基準点P3の周波数の値と基準点P4の周波数の値の差である「600」に値Vm=「7」を乗じた「4200」に近い値)で「140000」を除した「34.1796875」との値における小数点以下の値を切り捨てた値と同値の「34」との値が値V9として特定される。
In addition, when the value V8 of the operation result by the
一方、本例の処理部5(補間処理回路10)では、絶対値取得部13が値V3の絶対値である値V3aを取得する際に、値V3が負の値のとき(すなわち、値V2よりも値V1が大きな値のとき:L番目の基準点における第2の値が(L+1)番目の基準点における第2の値よりも大きいとき」の一例)には、値V3aの出力と共に、値V3が負の値であることを示す予め規定された1ビット符号からなる値V−を出力する。これに応じて、減算処理部18がL=3番目の基準点P3における補正係数(この例では、200)から、ビットシフト処理部16による演算結果の値V9(この例では、「34」)を減算して補間点Pbにおける補正係数である「166」との値V10bを演算する。これにより、1800Hzの交流信号を供給する際の補正係数:値V10bの導出が完了する。したがって、処理部5は、補間点Pbについて導出された「166」との値V10b(補正係数)を用いて交流信号のパワーを補正させる。
On the other hand, in the processing unit 5 (interpolation processing circuit 10) of this example, when the absolute
なお、従来方法によって補間点Pbの補正係数を導出する際には、「(150−200)×(1800−1400)/(2000−1400)+200」との数式により「166.666・・・」との値が補正係数として演算されるが、本例の測定装置1では、除算処理を行うことなく、この「166.666・・・」との値に近い「166」との値V10bを導出することが可能となっている。
When deriving the correction coefficient of the interpolation point Pb by the conventional method, "166. 666 ..." according to the equation "(150-200) x (1800-1400) / (2000-1400) + 200". Is calculated as a correction factor, but the
このように、この測定装置1では、「第1の値(上記の例では「周波数の値」)」が小さい順でL番目の基準点と、「第1の値」が小さい順で(L+1)番目の基準点との間の処理対象点(補間点Pa,Pbなど)における「第2の値(上記の例では、「パワー補正係数」)」を導出する補間処理において、処理対象点に対応する値Vnおよび値Vmを補間処理用テーブルDtに基づいてそれぞれ特定する「第1の処理」、L番目の基準点における「第1の値(値V4)」と処理対象点における「第1の値(値V5)」との差である「第5の値(値V6)」を演算する「第2の処理」、L番目の基準点における「第2の値(値V1)」と(L+1)番目の基準点における「第2の値(値V2)」との差である「第6の値(値V3a)」を演算する「第3の処理」、「第5の値」、「第6の値」および値Vmを乗じて「第7の値(値V8)」を演算する「第4の処理」、並びに「第7の値」をnビット右シフトして「第8の値(値V9)」に変換する「第5の処理」を実行し、かつL番目の基準点における「第2の値」よりも(L+1)番目の基準点における「第2の値」が大きいときにL番目の基準点における「第2の値」に「第8の値」を加算して処理対象点における「第2の値(値V10a)」を導出すると共に、L番目の基準点における「第2の値」が(L+1)番目の基準点における「第2の値」よりも大きいときにL番目の基準点における「第2の値」から「第8の値」を減算して処理対象点における「第2の値(値V10b)」を導出する。 As described above, in this measuring device 1, the L-th reference point and the “first value” in the ascending order of “first value (“ frequency value ”in the above example)” are in the ascending order (L + 1 As a processing target point in interpolation processing for deriving the “second value (in the above example,“ power correction coefficient ”)” at the processing target point (interpolation point Pa, Pb, etc.) between the second reference point The “first process” that specifies the corresponding values Vn and Vm based on the interpolation process table Dt, the “first value (value V4)” at the Lth reference point, and the “first process” at the processing target point Of “the second value (value V5)” which is the difference between the “value V5” and the “second value (value V1)” at the L-th reference point Calculate the “sixth value (value V3a)” which is the difference between the “L + 1) th reference point and the“ second value (value V2) ” To calculate the "seventh value (value V8)" by multiplying the "third process", the "fifth value", the "sixth value" and the value Vm, and the "fourth process", and Execute the "fifth process" to shift the value of "7" to the "eighth value (value V9)" by shifting it to the right by n bits, and execute the "second value" at the Lth reference point When the “second value” at the (L + 1) th reference point is large, the “eighth value” is added to the “second value” at the Lth reference point, and the “second value (the second value ( While deriving the value V10a ′ ′ and when the “second value” at the Lth reference point is larger than the “second value” at the (L + 1) th reference point, the “second value at the Lth reference point” The “second value (value V10 b)” at the processing target point is derived by subtracting the “eighth value” from the value of “value”.
したがって、この測定装置1によれば、大きな負担が掛かる除算処理を行うことなく、線形補間によって「第2の値」を導出することができる。これにより、補間処理用の演算処理回路をPLD上に構成した場合には、除算処理部が不要となることで、PLDの貴重なリソースが消費される事態を好適に回避することができる結果、測定装置1の製造コストを十分に低減することができるだけでなく、大きな負担が掛かる除算処理を行わない分だけ、補間処理に要する時間を短縮することができる。
Therefore, according to this
また、この測定装置1によれば、M番目の基準点から(M+1)番目の基準点までの第1の値の範囲である(N−1)個の各範囲(本例では、(N−1)=4個の周波数範囲H1〜H4)と、各範囲に含まれる処理対象点に対応する値Vnおよび値Vmとが相互に関連付けられた情報が記録された補間処理用テーブルDtを「補間処理用データ」として使用することにより、例えば、M番目の基準点の「第1の値」と(M+1)番目の基準点の「第1の値」との差の種類、すなわち、(N−1)個の範囲の広さの種類(周波数範囲H1〜H4の広さの種類)毎に、対応する「nの値」や「mの値」を特定可能に構成された「補間処理用データ」を使用する際には、処理対象点(補間点Pa,Pbなど)が含まれる周波数範囲Hの広さがどの程度であるかを特定するための減算処理等を実行し、その後に、特定した広さに対応する「nの値」や「mの値」を特定する必要があるのに対し、補間処理によって「第2の値」を導出しようとしている処理対象点が周波数範囲H1〜H4のいずれに含まれるかを特定するだけで、特定した周波数範囲Hに対応する「nの値」や「mの値」を特定することができる。これにより、演算処理の回数(演算処理を実行する演算回路の数)を少数とすることができるため、測定装置1の製造コストを一層低減することができ、また、補間処理に要する時間を一層短縮することができる。
Further, according to the measuring apparatus 1, in a first range of values (N-1) each range of the number (in this example from M th reference point to (M + 1) th reference point, (N- 1) “Interpolate the interpolation processing table Dt in which information in which four frequency ranges H1 to H4) and values Vn and values Vm corresponding to processing target points included in each range are associated with each other is recorded the use as processing data ", for example, M-th reference point the" first value "(M + 1) th type of difference between the" first value "of the reference point, i.e., (N- 1) “Interpolation data” configured so as to be able to specify the corresponding “value of n” and “value of m” for each type of width in this range (type of width in frequency range H1 to H4) The frequency range H in which the processing target point (interpolation point Pa, Pb, etc.) is included is It is necessary to execute subtraction processing etc. to specify if it is a degree, and then it is necessary to specify “value of n” and “value of m” corresponding to the specified width, but by interpolation processing Only by specifying to which of the frequency ranges H1 to H4 the processing target point for which the “second value” is to be derived is included, “n value” or “m value corresponding to the specified frequency range H Can be identified. As a result, the number of arithmetic processing (the number of arithmetic circuits for executing the arithmetic processing) can be reduced, so that the manufacturing cost of the measuring
なお、「測定装置」の構成は、上記の測定装置1の構成の例に限定されない。例えば、「第2の処理」を実行する減算処理部12と、「第3の処理」を実行する減算処理部11および絶対値取得部13と、「第4の処理」を実行する乗算処理部14,15と、「第5の処理」を実行するビットシフト処理部16と、「第5の処理」の結果に基づいて「処理対象点」における「第2の値(値V10a,V10b)」を演算する加算処理部17および減算処理部18とをPLD上に設けた補間処理回路10を「処理部」として機能させる構成を例に挙げて説明したが、この補間処理回路10を備えた処理部5に代えて、図1に示す測定装置1Aのように、補間処理を行うための要素をPLD内に構築することなく、「加算処理」、「減算処理」、「乗算処理」および「除算処理」等の各種の「演算処理」を実行可能な処理部5aを備え、かつ処理部5aに上記の各処理を実行させる手順を記録した補間処理プログラムDp(「補間処理プログラム」の一例)を記憶部6に記憶させる(インストールする)ことにより、処理部5aを「処理部」として機能させて任意の「第2の値」を線形補間させる構成を採用することもできる。
The configuration of the “measuring device” is not limited to the example of the configuration of the measuring
このような構成の測定装置1A、および測定装置1Aにインストールされた補間処理プログラムDpによれば、大きな負担が掛かる除算処理を行うことなく、線形補間によって「第2の値」を導出することができる。これにより、補間処理時に処理部5aに掛かる負担が十分に小さくなるため、低スペックの演算処理回路で処理部5aを構成したとしても、必要とされる「第2の値」を確実に導出することができる結果、測定装置1Aの製造コストを十分に低減することができるだけでなく、大きな負担が掛かる除算処理を行わない分だけ、補間処理に要する時間を短縮することができる。
According to the
また、「第4の処理」として、「第5の値」に相当する値V6に「mの値」に相当する値Vmを乗じて値V7を導出する処理を行った後に「第6の値」に相当する値V3aに値V7を乗じることで「第7の値」に相当する値V8を導出する構成(処理手順)を例に挙げて説明したが、「第4の処理」を実行する構成(処理手順)は、上記の例に限定されず、「第6の値」に「mの値」を乗じ、その演算結果に「第5の値」を乗じることで「第7の値」を導出する構成(処理手順)や、「第5の値」に「第6の値」を乗じ、その演算結果に「値m」を乗じることで「第7の値」を導出する構成(処理手順)を採用することもできる。このような構成(処理手順)を採用した場合においても、前述した構成(処理手順)による補間処理時と同様の効果を奏することができる。 In addition, after the processing of deriving the value V7 by multiplying the value V6 equivalent to the "fifth value" by the value Vm equivalent to the "value of m" as the "fourth process", the "sixth value" Has been described by taking as an example the configuration (process procedure) of deriving the value V8 equivalent to the “seventh value” by multiplying the value V3 corresponding to “the value V3a by the value V7”, but the “fourth process” is executed The configuration (processing procedure) is not limited to the above example, and the “seventh value” may be obtained by multiplying the “sixth value” by the “value of m” and multiplying the calculation result by the “fifth value”. (Process procedure) for deriving the “fifth value” by “fifth value” and “fifth value” by multiplying “the value m” by “the sixth value” (process (process) Procedure) can also be adopted. Even when such a configuration (processing procedure) is adopted, the same effect as the time of interpolation processing by the above-described configuration (processing procedure) can be achieved.
また、測定対象に供給する交流信号の周波数の値を「第1の値」とし、かつ交流信号のパワーを周波数に応じて補正するためのパワー補正係数を「第2の値」として補間処理する例について説明したが、「第1の値」および「第2の値」は上記の例に限定されず、「第1の値」に対して線形関係にある各種の「第2の値」を、上記の例と同様の構成・手順で補間することができる。さらに、「測定装置」の動作を制御するための値(上記の例では、パワー補正係数)を補間処理する例について説明したが、「測定装置」による「測定値(測定結果)」を示す値を「処理対象点における第2の値」として補間処理することもできる。 Further, the interpolation processing power correction coefficient for the values of the frequency and the "first value", and to correct the power of the AC signal according to the frequency of an AC signal supplied to the measurement object as a "second value" However, the “first value” and the “second value” are not limited to the above example, and various “second values” linearly related to the “first value” Can be interpolated with the same configuration and procedure as the above example. Furthermore, although the example which carries out the interpolation process of the value (the above-mentioned example, power correction coefficient) for controlling operation of a "measurement apparatus" was explained, the value which shows "measurement value (measurement result)" by a "measurement apparatus" It is also possible to interpolate as “the second value at the processing target point”.
この場合、「第1の値」や「第2の値」は、上記の例示に限定されず、一例として、電圧、電流および日射量などの値を「第1の値」とし、これらの値に対してそれぞれ線形関係にある光量、温度および発電量などの値を「第2の値」として補間処理する際にも、上記の各構成(処理手順)と同様の構成(処理手順)に従って補間処理を行うことにより、大きな負担が掛かる除算処理を実行することなく、必要とされる「第2の値」を導出することができる。 In this case, the “first value” and the “second value” are not limited to the above examples, and for example, the values such as voltage, current, and solar radiation amount may be “first values”, and these values may be used. When performing interpolation processing with values such as light quantity, temperature, and power generation amount that are respectively in a linear relationship to the “second value”, interpolation is performed according to the same configuration (processing procedure) as the above configuration (processing procedure) By performing the process, it is possible to derive the required "second value" without executing the division process which is heavily burdened.
1,1A 測定装置
2 測定部
5,5a 処理部
6 記憶部
10 補間処理回路
11,12,18 減算処理部
13 絶対値取得部
14,15 乗算処理部
16 ビットシフト処理部
17 加算処理部
Dk 補正係数データ
Dp 補間処理プログラム
Dt 補間処理用テーブル
H1〜H4 周波数範囲
P1〜P5 基準点
Pa,Pb 補間点
V1〜V3,V3a,V4〜V9,V10a,V10b 値
Vm,Vn 値
V+,V− 値
1, 1A Measurement apparatus 2
Claims (3)
前記第1の値が小さい順でM番目(Mは、(N−1)以下の各自然数)の前記基準点における当該第1の値と、前記第1の値が小さい順で(M+1)番目の前記基準点における当該第1の値との差をそれぞれ第3の値としたときに、2n/m(nは、2以上の自然数で、mは、自然数)で表すことができる複数種類の第4の値のうちの前記第3の値に最も近い当該第4の値における当該nの値および当該mの値を前記処理対象点毎にそれぞれ特定可能な補間処理用データを記憶する記憶部を備え、
前記処理部は、前記第1の値が小さい順でL番目(Lは、M以下の自然数)の前記基準点と、前記第1の値が小さい順で(L+1)番目の前記基準点との間の前記処理対象点における前記第2の値を導出する前記補間処理において、当該処理対象点に対応する前記nの値および前記mの値を前記補間処理用データに基づいてそれぞれ特定する第1の処理、前記L番目の基準点における前記第1の値と前記処理対象点における前記第1の値との差である第5の値を演算する第2の処理、前記L番目の基準点における前記第2の値と前記(L+1)番目の基準点における前記第2の値との差である第6の値を演算する第3の処理、前記第5の値、前記第6の値および前記mの値を乗じて第7の値を演算する第4の処理、並びに前記第7の値を前記nの値に応じてnビット右シフトして第8の値に変換する第5の処理を実行し、かつ前記L番目の基準点における前記第2の値よりも前記(L+1)番目の基準点における前記第2の値が大きいときに当該L番目の基準点における当該第2の値に前記第8の値を加算して前記処理対象点における前記第2の値を導出すると共に、前記L番目の基準点における前記第2の値が前記(L+1)番目の基準点における前記第2の値よりも大きいときに当該L番目の基準点における当該第2の値から前記第8の値を減算して前記処理対象点における前記第2の値を導出する測定装置。 The first value and the second value at two points of N reference points (N is a natural number of 3 or more) specified respectively by the first value and the second value in a linear relationship A measurement unit equipped with a processing unit capable of executing interpolation processing for deriving the second value at the processing target point by linear interpolation based on the first value at the processing target point different from the reference points; A device,
The first value at the reference point of the Mth (M is each natural number of (N-1) or less) in ascending order of the first value and the (M + 1) th in ascending order of the first value A plurality of types that can be represented by 2 n / m (where n is a natural number of 2 or more and m is a natural number) when the difference between the reference point and the first value is the third value. Storage for storing interpolation processing data that can specify the value of n and the value of m in the fourth value closest to the third value among the fourth values of Equipped with
The processing unit is configured to set the L-th (L is a natural number less than M) reference point in ascending order of the first value and the (L + 1) -th reference point in ascending order of the first value. In the interpolation processing for deriving the second value at the processing target point between the first and second methods, the value of n and the value of m corresponding to the processing target point are respectively specified based on the data for interpolation processing. A second process of calculating a fifth value which is a difference between the first value at the L-th reference point and the first value at the processing target point; at the L-th reference point A third process of calculating a sixth value which is a difference between the second value and the second value at the (L + 1) th reference point, the fifth value, the sixth value, and the third value a fourth process of calculating a seventh value by multiplying the value of m, and the seventh value Executes a fifth process of shifting to the eighth value by n-bit right shifting according to the value of (.alpha.), And at the (L + 1) th reference point than the second value at the L.sup.th reference point The eighth value is added to the second value at the Lth reference point when the second value is large to derive the second value at the processing target point, and the Lth When the second value at the reference point is larger than the second value at the (L + 1) th reference point, the eighth value is subtracted from the second value at the Lth reference point The measuring device which derives the 2nd value in the processing object point.
前記第1の値が小さい順でM番目(Mは、(N−1)以下の各自然数)の前記基準点における当該第1の値と、前記第1の値が小さい順で(M+1)番目の前記基準点における当該第1の値との差をそれぞれ第3の値としたときに、2n/m(nは、2以上の自然数で、mは、自然数)で表すことができる複数種類の第4の値のうちの前記第3の値に最も近い当該第4の値における当該nの値および当該mの値を前記処理対象点毎にそれぞれ特定可能な補間処理用データを使用して、前記第1の値が小さい順でL番目(Lは、M以下の自然数)の前記基準点と、前記第1の値が小さい順で(L+1)番目の前記基準点との間の前記処理対象点における前記第2の値を導出する前記補間処理として、当該処理対象点に対応する前記nの値および前記mの値を前記補間処理用データに基づいてそれぞれ特定する第1の処理、前記L番目の基準点における前記第1の値と前記処理対象点における前記第1の値との差である第5の値を演算する第2の処理、前記L番目の基準点における前記第2の値と前記(L+1)番目の基準点における前記第2の値との差である第6の値を演算する第3の処理、前記第5の値、前記第6の値および前記mの値を乗じて第7の値を演算する第4の処理、並びに前記第7の値を前記nの値に応じてnビット右シフトして第8の値に変換する第5の処理を実行し、かつ前記L番目の基準点における前記第2の値よりも前記(L+1)番目の基準点における前記第2の値が大きいときに当該L番目の基準点における当該第2の値に前記第8の値を加算して前記処理対象点における前記第2の値を導出すると共に、前記L番目の基準点における前記第2の値が前記(L+1)番目の基準点における前記第2の値よりも大きいときに当該L番目の基準点における当該第2の値から前記第8の値を減算して前記処理対象点における前記第2の値を導出する手順が記録されている補間処理プログラム。 The first value and the second value at two points of N reference points (N is a natural number of 3 or more) specified respectively by the first value and the second value in a linear relationship A procedure for causing the processing unit of the measuring apparatus to execute interpolation processing for deriving the second value at the processing target point by linear interpolation based on the first value at the processing target point different from the reference points The interpolation processing program in which
The first value at the reference point of the Mth (M is each natural number of (N-1) or less) in ascending order of the first value and the (M + 1) th in ascending order of the first value A plurality of types that can be represented by 2 n / m (where n is a natural number of 2 or more and m is a natural number) when the difference between the reference point and the first value is the third value. Using the data for interpolation processing that can specify the value of n and the value of m at the fourth value closest to the third value among the fourth values of The processing between the L-th (L is a natural number less than M) reference point in ascending order of the first value and the (L + 1) -th reference point in ascending order of the first value As the interpolation processing for deriving the second value at the target point, the value of n corresponding to the processing target point and the value of n A first process of specifying the value of m based on the interpolation process data; a difference between the first value at the Lth reference point and the first value at the process target point; A second process of computing a value of 5; computing a sixth value which is a difference between the second value at the L-th reference point and the second value at the (L + 1) -th reference point A third process, a fourth process for calculating a seventh value by multiplying the fifth value, the sixth value, and the value of m, and the seventh value according to the value of the n performing a fifth process of shifting to the eighth value by n-bit shift right, and the second value at the (L + 1) th reference point than the second value at the Lth reference point Adding the eighth value to the second value at the L-th reference point when The second value at the logic target point is derived, and when the second value at the Lth reference point is larger than the second value at the (L + 1) th reference point, the Lth An interpolation processing program storing a procedure of subtracting the eighth value from the second value at the reference point to derive the second value at the processing target point.
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