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JP6522447B2 - Vacuum processing apparatus and power distribution unit used therefor - Google Patents

Vacuum processing apparatus and power distribution unit used therefor Download PDF

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JP6522447B2
JP6522447B2 JP2015133192A JP2015133192A JP6522447B2 JP 6522447 B2 JP6522447 B2 JP 6522447B2 JP 2015133192 A JP2015133192 A JP 2015133192A JP 2015133192 A JP2015133192 A JP 2015133192A JP 6522447 B2 JP6522447 B2 JP 6522447B2
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Description

本発明は、真空処理装置およびそれに用いる分電ユニットに関する。   The present invention relates to a vacuum processing apparatus and a power distribution unit used therefor.

従来の真空処理装置は、特許文献1に記載のように真空処理ユニットの処理室内での試料の処理中に電力を供給する電源、当該処理室内に供給されるガスの流量を調整する調節ユニットを収納するベッド部を有し、当該ベッド部は、前記電源を収納する収納部分をスライド可能な引き出し構造としたものが知られている。   The conventional vacuum processing apparatus comprises a power supply for supplying power during processing of a sample in a processing chamber of the vacuum processing unit as described in Patent Document 1, and an adjusting unit for adjusting the flow rate of gas supplied to the processing chamber. It is known to have a bed portion to be stored, and the bed portion has a drawer structure that can slide the storage portion for storing the power supply.

特開2015−8243号公報JP, 2015-8243, A

真空処理装置は、メンテナンス作業や各機器の交換作業の際、感電防止のため当該メンテナンス作業に関わる遮断機をオフし、安全に作業を実施する必要がある。しかしながら、上記従来技術は、メンテナンス作業の効率化の点で十分に配慮されていなかった。   In the case of a maintenance operation or a replacement operation of each device, the vacuum processing apparatus needs to turn off a circuit breaker related to the maintenance operation to prevent an electric shock and carry out the operation safely. However, the above-described conventional techniques have not been sufficiently considered in terms of the efficiency of maintenance work.

本発明者等が検討した真空処理装置における分電ユニットを図6に示す。この真空処理装置用分電ユニット511は、真空処理装置下方の限られた空間(ベッド部5300)に実装され、分電盤より給電される電力を受電し、真空処理装置内で使用する動力機器に分配するため、負荷容量に適合した過電流保護機能を持つ遮断機5111、5112と電磁接触器5113を介し、分電ユニット511の背面のコネクタ5115から各機器に分配されていた。このため、メンテナンス時に操作したい遮断機5111を実装している分電ユニット511が真空処理装置下方のベッド部5300に実装されており遮断機5111の操作性が悪い。また、真空処理装置の大型化に伴いその周りに踏み台となるステップ516が設置される場合が多く、メンテナンス作業でベッド部に実装された分電ユニットの遮断機5111を操作しようとしたとき、ステップ516の取外し作業を行わないと遮断機5111の操作が出来ないといった、無駄な作業が発生する。なお、符号5114は電磁接触器5113をON/OFFするための制御信号と通信するための制御コネクタ、符号5100はプラズマ形成部、符号5200は処理部である。   The electricity distribution unit in the vacuum processing apparatus which the present inventors examined is shown in FIG. The power distribution unit 511 for a vacuum processing apparatus is mounted in a limited space (bed 5300) below the vacuum processing apparatus, receives power supplied from the distribution board, and is a power unit used in the vacuum processing apparatus. In order to distribute the voltage, the connectors 5115 on the back surface of the electricity distribution unit 511 are distributed to the respective devices via the circuit breakers 5111 and 5112 having an overcurrent protection function adapted to the load capacity and the electromagnetic contactor 5113. For this reason, the electricity distribution unit 511 which mounts the circuit breaker 5111 to operate at the time of a maintenance is mounted in the bed part 5300 below a vacuum processing apparatus, and the operativity of the circuit breaker 5111 is bad. Moreover, step 516 which becomes a step board is installed around it with the enlargement of the vacuum processing apparatus in many cases, and when it is going to operate the breaker 5111 of the electricity distribution unit mounted in the bed part by maintenance work, step Unnecessary work occurs such that the user can not operate the circuit breaker 5111 unless the work 516 is removed. Reference numeral 5114 denotes a control connector for communicating with a control signal for turning the electromagnetic contactor 5113 ON / OFF, reference numeral 5100 denotes a plasma forming unit, and reference numeral 5200 denotes a processing unit.

本発明の目的は、メンテナンス時に分電ユニット遮断機の操作性を向上可能な真空処理装置および真空処理装置用分電ユニットを提供することにある。   An object of the present invention is to provide a vacuum processing apparatus and a power distribution unit for a vacuum processing apparatus capable of improving the operability of the power distribution unit breaker at the time of maintenance.

上記目的を達成するための一実施形態として、大気雰囲気側で基板を収納し該基板を搬送する大気ユニットと、前記大気ユニットから搬送されてきた前記基板を真空雰囲気内で搬送・処理する真空ユニットとを備えた真空処理装置において、
前記真空ユニットは、上から順に配置されたプラズマ形成部と処理部とベッド部とを備え、分電ユニットを含む真空処理ユニットを有し、
前記分電ユニットは、分電盤より給電される電力を受電し、負荷容量に適合した過電流保護機能を持つ遮断機と電磁接触器を介し、前記真空処理装置内で使用する各機器に前記電力を分配するものであり、
前記遮断機のうちメンテナンス時に操作を行う遮断機は、前記ベッド部より上方に配置され、メンテナンス時に操作を行う必要ない遮断機や電磁接触器は前記ベッド部より下方に配置されていることを特徴とする真空処理装置とする。
As one embodiment for achieving the above object, an atmosphere unit for storing a substrate on the atmosphere side and transporting the substrate, and a vacuum unit for transporting and processing the substrate transported from the atmosphere unit in a vacuum atmosphere In a vacuum processing apparatus comprising
The vacuum unit includes a plasma processing unit, a processing unit, and a bed unit arranged in order from the top, and includes a vacuum processing unit including a power distribution unit.
The distribution unit receives the power supplied from the distribution board, and is connected to each device used in the vacuum processing apparatus via a breaker having an overcurrent protection function adapted to the load capacity and a magnetic contactor. To distribute power,
Among the circuit breakers, a circuit breaker operating at the time of maintenance is disposed above the bed section, and a circuit breaker or an electromagnetic contactor which does not need to be operated at the time of maintenance is disposed below the bed section. And a vacuum processing system.

また、上から順に配置されたプラズマ形成部と、処理部と、ベッド部とを備えた真空処理ユニットを有する真空処理装置で用いる分電ユニットにおいて、
前記分電ユニットは遮断機と電磁接触器とを介して前記真空処理装置内で使用する各機器に電力を分配するものであり、メンテナンス時に操作を行う遮断機は前記ベッド部より上方に配置され、メンテナンス時に操作を行う必要ない遮断機や電磁接触器は前記ベッド部より下方に配置されることを特徴とする分電ユニットとする。
Further, in a power distribution unit used in a vacuum processing apparatus having a vacuum processing unit provided with a plasma forming unit, a processing unit, and a bed unit arranged in order from the top,
The electricity distribution unit distributes electric power to each device used in the vacuum processing apparatus via a circuit breaker and an electromagnetic contactor, and the circuit breaker operated at the time of maintenance is disposed above the bed section Further, a circuit breaker or an electromagnetic contactor which does not need to be operated at the time of maintenance is disposed below the bed section.

本発明によれば、メンテナンス時に分電ユニット遮断機の操作性を向上可能な真空処理装置および真空処理装置用分電ユニットを提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the vacuum processing apparatus which can improve the operativity of a electricity distribution unit breaker at the time of a maintenance, and the electricity distribution unit for vacuum processing apparatuses can be provided.

本発明の実施例に係る真空処理装置の概略構成を示す上図面である。It is an upper drawing which shows schematic structure of the vacuum processing apparatus which concerns on the Example of this invention. 図1に示す真空処理装置における真空処理ユニットの概略構成の一例を示す側面図である。It is a side view which shows an example of schematic structure of the vacuum processing unit in the vacuum processing apparatus shown in FIG. 図2に示す真空処理ユニットのA−A面における概略構成を示す側面図である。It is a side view which shows schematic structure in the AA surface of the vacuum processing unit shown in FIG. 図2に示す真空処理ユニットにおける分電ユニット511の拡大図である。It is an enlarged view of the electricity distribution unit 511 in the vacuum processing unit shown in FIG. 図3に示す真空処理ユニットにおける分電ユニット511の拡大図である。It is an enlarged view of electricity distribution unit 511 in the vacuum processing unit shown in FIG. 発明者等が検討した真空処理ユニットの概略構成を示す側面図(図3対応)である。It is a side view (corresponding to FIG. 3) which shows the schematic structure of the vacuum processing unit which inventors examined.

以下、本発明を実施例により説明する。なお、同一符号は同一構成要素を示す。   Hereinafter, the present invention will be described by way of examples. The same reference numerals indicate the same components.

本発明の実施例に係る真空処理装置およびそれに用いる分電ユニットについて図を用いて説明する。本実施例は、真空処理装置に搭載する分電ユニットを下方の限られた空間に設置したときの構成例である。   A vacuum processing apparatus according to an embodiment of the present invention and a power distribution unit used therefor will be described with reference to the drawings. A present Example is a structural example when the electricity distribution unit mounted in a vacuum processing apparatus is installed in the downward limited space.

図1は、本実施例に係る真空処理装置の概略構成の一例を示す上面図である。本実施例の真空処理装置は、大気搬送ユニット20とロック室30と真空搬送室40と真空処理室を含む真空処理ユニット50と中間室60との組合せにより構成され、クリーンルーム内の2階部分に配置される。1階部分には、真空処理装置と連結されてこれに供給あるいはこれとの間で循環される流体の貯留部及びポンプ部や分電盤10が配置されている。   FIG. 1 is a top view showing an example of a schematic configuration of a vacuum processing apparatus according to the present embodiment. The vacuum processing apparatus of the present embodiment is constituted by a combination of the vacuum processing unit 50 including the atmosphere transfer unit 20, the lock chamber 30, the vacuum transfer chamber 40, and the vacuum processing chamber, and the intermediate chamber 60. Be placed. In the first floor portion, a fluid reservoir, a pump portion and a distribution board 10 which are connected to the vacuum processing apparatus and are supplied to or circulated through the vacuum processing apparatus are disposed.

大気搬送ユニット20は内部の空間内に搬送ロボット(図示省略)が配置され、その内部を基板収納容器(図示省略)とロック室30との間で半導体ウエハ等の試料である基板の搬送が行われる筐体である。大気搬送ユニット20の背面側(図面上側)は、ロック室30を挟んで所定の真空度の低圧に維持されている真空ブロックであり、当該ブロックはロック室30、真空搬送室40、真空処理室を含む真空処理ユニット50、中間室60を備えている。   In the atmosphere transfer unit 20, a transfer robot (not shown) is disposed in the internal space, and the transfer of a substrate, which is a sample such as a semiconductor wafer, is performed between the substrate storage container (not shown) and the lock chamber 30 It is a case to be The back side (the upper side in the drawing) of the atmosphere transfer unit 20 is a vacuum block which is maintained at a low pressure with a predetermined degree of vacuum across the lock chamber 30, and the block is the lock chamber 30, the vacuum transfer chamber 40, and the vacuum processing chamber And an intermediate chamber 60.

複数の真空搬送室40は各々が内部に基板の搬送用の空間を備えた平面形が略矩形状の真空容器であり、搬送用の空間に真空搬送ロボット(図示省略)を有している。真空搬送ロボットは、ロック室30と複数の真空処理ユニット50の真空処理室と中間室60との間、または中間室60と真空処理ユニット50の真空処理室との間で、アーム先端部に基板を載置、保持して回転とアームの伸縮とを組み合わせて搬送を行う。   Each of the plurality of vacuum transfer chambers 40 is a vacuum container having a substantially rectangular planar shape provided with a space for transferring a substrate therein, and has a vacuum transfer robot (not shown) in the transfer space. The vacuum transfer robot is configured such that the arm tip portion of the substrate is provided between the lock chamber 30 and the vacuum processing chambers of the plurality of vacuum processing units 50 and the intermediate chamber 60 or between the intermediate chamber 60 and the vacuum processing chamber of the vacuum processing unit 50. Is placed and held, and rotation is combined with extension and contraction of the arm to carry.

基板は搬送された真空処理ユニット50の真空処理室内部で試料台(図示省略)に保持されて処理される。この際、真空搬送室40や真空処理ユニット50の真空処理室内部は真空排気装置によって常に減圧排気される。また、真空処理ユニット50の真空処理室には図示を省略したチラーユニットによって温度制御された試料台が設けられており、当該試料台に基板を配置して処理が行われる。基板の処理は、真空処理室内に、例えば、高周波電源からの電力を供給し真空処理室内に供給した処理ガスをプラズマ化して行われる。   The substrate is held and processed on a sample stage (not shown) inside the vacuum processing chamber of the vacuum processing unit 50 which has been transported. At this time, the vacuum transfer chamber 40 and the inside of the vacuum processing chamber of the vacuum processing unit 50 are always evacuated by the vacuum evacuation device. Further, the vacuum processing chamber of the vacuum processing unit 50 is provided with a sample table whose temperature is controlled by a chiller unit (not shown), and a substrate is placed on the sample table to perform processing. The processing of the substrate is performed by, for example, supplying electric power from a high frequency power supply into the vacuum processing chamber and converting the processing gas supplied into the vacuum processing chamber into a plasma.

各真空処理ユニット50の真空処理室におけるこのような基板処理のために、図示を省略した真空排気装置、搬送ロボット、高周波電源、チラーユニット等に分電盤10から電力が供給される。このような真空処理装置では、真空の立上に時間を要するため真空排気装置は連続運転を必要とする。   For such substrate processing in the vacuum processing chamber of each vacuum processing unit 50, power is supplied from the distribution board 10 to an evacuation apparatus, a transfer robot, a high frequency power supply, a chiller unit, etc. (not shown). In such a vacuum processing apparatus, the vacuum exhaust system requires continuous operation since it takes time to start up the vacuum.

なお、通常は2階に配置する装置のフットプリントをできるだけ小さくするために、チラーユニットや分電盤10はクリーンルームの1階に配置される。   The chiller unit and the distribution board 10 are usually disposed on the first floor of the clean room in order to minimize the footprint of the apparatus disposed on the second floor as much as possible.

次に真空処理ユニット50の構成について図2を用いて説明する。図2は、図1に示す真空処理装置における真空処理ユニットの概略構成の一例を示す側面図である。   Next, the configuration of the vacuum processing unit 50 will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a side view showing an example of a schematic configuration of a vacuum processing unit in the vacuum processing apparatus shown in FIG.

真空処理ユニット50は大別すると、以下の3つの部分に分けられる。
(1)1つは内部に処理室(真空処理室)を有する真空チャンバ512および真空チャンバ512の下方に配置され、処理室内を排気するターボ分子ポンプを含む真空ポンプ508を含む処理部5200である。
(2)他の1つは、真空チャンバ512の上方に配置され、処理室内に供給する電界または磁界を形成して伝播させる部分であるプラズマ形成部5100である。
(3)残りの1つは、処理部5200の下方に配置され、該当処理部で用いられる電力およびガス等の流体の供給を調節する調節ユニット(ガス供給ユニット510)が直方体、あるいはこれと見做せる程度に近似した形状を備える筺体の内部と上面とに配置され処理部5200およびこの上方のプラズマ形成部5100とを下方から指示する台となっているベッド部5300である。
The vacuum processing unit 50 can be roughly divided into the following three parts.
(1) One is a processing unit 5200 including a vacuum chamber 512 having a processing chamber (vacuum processing chamber) inside and a vacuum pump 508 including a turbo molecular pump disposed below the vacuum chamber 512 and exhausting the processing chamber from inside .
(2) The other one is a plasma forming portion 5100 which is disposed above the vacuum chamber 512 to form and propagate an electric field or magnetic field supplied into the processing chamber.
(3) The remaining one is disposed below the processing unit 5200, and a control unit (gas supply unit 510) for adjusting the supply of power and fluid such as gas used in the corresponding processing unit is a rectangular parallelepiped or A bed 5300 is disposed on the inside and the top of a casing having a shape approximating a thinness, and serves as a table for instructing the processing unit 5200 and the plasma forming unit 5100 thereabove from below.

処理部5200は、外側チャンバを構成する真空チャンバ512、ターボ分子ポンプ等の真空ポンプ508などを備えている。   The processing unit 5200 includes a vacuum chamber 512 that constitutes an outer chamber, a vacuum pump 508 such as a turbo molecular pump, and the like.

真空チャンバ512(外側チャンバ)は、内部に円筒形を有した処理室(図示省略)を有して外部の大気に対して内側が気密に封止されて区画されている。また、真空チャンバ512は、図示していないが、例えば、上部に試料を処理室内に搬入する搬入口、つまり開口部を有し、当該開口部側の内側開口空間を仕切り弁によって仕切れる構造となっている。   The vacuum chamber 512 (outer chamber) has a processing chamber (not shown) having a cylindrical shape inside, and is hermetically sealed on the inside against the outside atmosphere and partitioned. Further, although not shown, the vacuum chamber 512 has, for example, a loading port for loading the sample into the processing chamber at the top, that is, an opening, and the inner opening space on the opening side is partitioned by a gate valve. It has become.

換言すれば、処理室は、基板を搬入する開口部を有し、当該開口部側の内部空間を仕切り弁によって気密に保持する構造となっている。   In other words, the processing chamber has an opening for loading the substrate, and the internal space on the opening side is airtightly held by the gate valve.

なお、本例の真空チャンバ512は、その内部の室は、さらに別の容器である円筒形を有した真空容器506(内側チャンバ)によって気密に区画されており、当該容器の処理室は円筒形の内側側壁面を有した真空容器506内に配置された真空処理室である。つまり、本例の真空チャンバ512内部の空間は、多重(二重)に配された容器により多重に仕切られている。   In the vacuum chamber 512 of this example, the chamber inside is airtightly partitioned by a cylindrical vacuum vessel 506 (inner chamber) which is another vessel, and the processing chamber of the vessel is cylindrical. The vacuum processing chamber is disposed in a vacuum vessel 506 having an inner side wall surface. That is, the space inside the vacuum chamber 512 of the present example is divided into multiples by multiple (double) containers.

また、この処理室内には、円筒形を有した当該処理室と、その中心軸同士を合致またはこれと見做せる程度に近接させて配置され円筒形を有した試料台513および試料台513内部に配置され、高周波のバイアス電力が供給される基板電極を有する。   In the processing chamber, the processing chamber having a cylindrical shape and the sample table 513 and the sample table 513 having a cylindrical shape disposed close to each other such that their central axes coincide or can be regarded as the same. And a substrate electrode to which high frequency bias power is supplied.

試料は、処理室内の試料台513の載置面上に搬送され、これに保持された状態で真空容器506の内部(真空処理室)に導入された処理用のガスを用い形成されたプラズマにより、試料表面に予め形成、配置された膜構造の対象の膜がエッチング処理される。   The sample is conveyed onto the mounting surface of the sample table 513 in the processing chamber, and is held by the plasma by the processing gas introduced into the interior (vacuum processing chamber) of the vacuum vessel 506 in a state of being held by this The target film of the film structure formed and disposed in advance on the sample surface is etched.

真空ポンプ508は、真空チャンバ512の下方に配置され、また当該真空チャンバ512に連結し、真空チャンバ内のガスを排気する。   The vacuum pump 508 is disposed below the vacuum chamber 512 and connected to the vacuum chamber 512 to evacuate the gas in the vacuum chamber.

プラズマ形成部5100は、処理部5200の処理容器上方に配置されている。そして、高周波発振部501、高周波電源502、ウエハバイアス電源装置503、ウエハバイアス整合器504、ESC電源505、コイル部507などを備えている。   The plasma forming unit 5100 is disposed above the processing container of the processing unit 5200. A high frequency oscillation unit 501, a high frequency power supply 502, a wafer bias power supply 503, a wafer bias matching unit 504, an ESC power supply 505, a coil unit 507, and the like are provided.

高周波発振機501はプラズマ生成手段を構成するものであって、例えば、処理室内にプラズマを生成するための電界を形成するマグネトロン等からなる。   The high frequency oscillator 501 constitutes a plasma generation means, and comprises, for example, a magnetron which forms an electric field for generating plasma in the processing chamber.

ウエハバイアス電源装置503は、基板電極にバイアス電力を供給する。基板電極は、真空チャンバ512内に配置され、試料が処理中にその上面である載置面に載せられて吸着、保持される試料台513の内部に配置される金属製円板形状を有する。ウエハバイアス整合器504は、基板電極に供給するバイアス電力を調整する。ESC電源505は、基板電極に被処理体を静電吸着するものであって、当該基板電極の載置面を構成する誘電体膜の内部に配置された電極に直流電力を供給する。基板電極は、試料台513上面に載置面上に試料を静電吸着させるため、試料台513の上面を覆うように配置される。   The wafer bias power supply 503 supplies bias power to the substrate electrode. The substrate electrode is disposed in a vacuum chamber 512, and has a metal disk shape disposed inside a sample stage 513 on which a sample is placed, adsorbed, and held on a mounting surface which is an upper surface thereof during processing. The wafer bias matcher 504 adjusts the bias power supplied to the substrate electrode. The ESC power supply 505 electrostatically attracts the object to be processed to the substrate electrode, and supplies DC power to the electrode disposed inside the dielectric film forming the mounting surface of the substrate electrode. The substrate electrode is disposed on the upper surface of the sample table 513 so as to cover the upper surface of the sample table 513 in order to electrostatically adsorb the sample on the mounting surface.

そして、これらは、処理部5200の真空チャンバ512上方で処理室の上方と側方外周を囲んで配置され、直流電力が供給され円筒形を有したコイル部507の上面上方に配置されている。コイル部507は、真空容器506の上方に配置され、電界、磁界の発生手段を含むプラズマ発生手段を構成する。なお、符号515はコイル上下装置である。   These components are disposed above the vacuum chamber 512 of the processing unit 5200 and surround the upper side and the outer periphery of the processing chamber, and are disposed above the upper surface of the cylindrical coil portion 507 supplied with DC power. The coil portion 507 is disposed above the vacuum vessel 506, and constitutes a plasma generation means including electric field and magnetic field generation means. Reference numeral 515 denotes a coil upper and lower device.

ベッド部5300は、処理部5200の真空チャンバ512および真空ポンプ508の下方配置されている。そして、コイル電源509、ガス供給ユニット510、分電ユニット511、処理室架台514、などを備えている。コイル電源509は、複数個(本実施例では3個)のコイル電源509からなり、コイル部507への電力の供給を調節する。ガス供給ユニット510は、複数種類のガス毎の供給管との取り合い部である複数のコネクタを有し、処理室内へのガスの供給を調節する。ガス供給ユニット510は、コイル電源509がベッド部5300に収納された状態の上方に収納されている。   The bed 5300 is disposed below the vacuum chamber 512 of the processing unit 5200 and the vacuum pump 508. And the coil power supply 509, the gas supply unit 510, the electricity distribution unit 511, the process chamber mount frame 514, etc. are provided. The coil power supply 509 is composed of a plurality of (three in this embodiment) coil power supplies 509, and regulates the supply of power to the coil section 507. The gas supply unit 510 has a plurality of connectors, which are connections with a plurality of types of gas supply pipes, and regulates the supply of gas into the processing chamber. The gas supply unit 510 is accommodated above the state in which the coil power supply 509 is accommodated in the bed 5300.

以上のような本実施例に係る真空処理装置における分電ユニットの一例を以下図2乃至図5により説明する。図3は、図2に示す真空処理ユニットのA−A面における概略構成を示す側面図である。図4は、図2に示す真空処理ユニットにおける分電ユニット511の拡大図である。図5は、図3に示す真空処理ユニットにおける分電ユニット511の拡大図である。   An example of the electricity distribution unit in the vacuum processing apparatus according to the present embodiment as described above will be described below with reference to FIGS. 2 to 5. FIG. 3 is a side view showing a schematic configuration on the AA plane of the vacuum processing unit shown in FIG. FIG. 4 is an enlarged view of power distribution unit 511 in the vacuum processing unit shown in FIG. FIG. 5 is an enlarged view of a power distribution unit 511 in the vacuum processing unit shown in FIG.

先ず、分電ユニット511の詳細を説明する。分電ユニット511は分電盤10より配電された電源を真空処理室の各機器に分配供給する為のユニットであり、図3や図5に示すように各機器への過電流保護の遮断機5111、5112と、各機器への電力供給条件によってON/OFFする電磁接触器5113と、各機器へケーブルで電力を供給する動力出力用コネクタ5115と、前記電磁接触器5113をON/OFFするための制御信号と通信するための制御コネクタ5114によって構成されている。なお、本実施例において、電源ユニット511の一部(遮断機5111)がステップ(設置位置)516よりも高い位置に配置されている。   First, details of the distribution unit 511 will be described. The distribution unit 511 is a unit for distributing and supplying the power distributed from the distribution board 10 to each device in the vacuum processing chamber, and as shown in FIG. 3 and FIG. 5, a circuit breaker for overcurrent protection to each device 5111, 5112, an electromagnetic contactor 5113 which is turned on / off according to the power supply condition to each device, a power output connector 5115 for supplying power to each device with a cable, and to turn the electromagnetic contactor 5113 on / off And a control connector 5114 for communicating with the control signal of In the present embodiment, part of the power supply unit 511 (the circuit breaker 5111) is disposed at a position higher than the step (installation position) 516.

次に、ウエハバイアス電源装置503に電力を供給する場合の一例を説明する。分電盤10から供給された電源が、分電ユニット511内で分配され、ウエハバイアス電源装置503への過電流保護を行う遮断機5111の一次側に接続される。遮断機5111の二次側から、電磁接触器5113の一次側に接続され、電磁接触器5113の二次側から出力コネクタ5115に接続され、出力コネクタ5115からケーブルでウエハバイアス電源装置503に供給される。電磁接触器5113は、制御コネクタ5114の信号によって、ON条件信号がきたときのみONするように制御されている。   Next, an example of supplying power to wafer bias power supply 503 will be described. The power supplied from distribution board 10 is distributed in power distribution unit 511 and connected to the primary side of circuit breaker 5111 that performs overcurrent protection to wafer bias power supply 503. The secondary side of the circuit breaker 5111 is connected to the primary side of the magnetic contactor 5113, the secondary side of the magnetic contactor 5113 is connected to the output connector 5115, and the output connector 5115 is supplied to the wafer bias power supply 503 by a cable. Ru. The electromagnetic contactor 5113 is controlled by the signal of the control connector 5114 to turn ON only when the ON condition signal is received.

次に、ウエハバイアス電源装置503をメンテナンスする場合の一例を説明する。ウエハバイアス電源装置503が故障して交換が必要となった場合、メンテナンス者の感電防止のためウエハバイアス電源装置503への電源供給をOFFする手順が必要となる。従って前記分電ユニット511内のウエハバイアス電源装置503の遮断機5111をOFFする必要がある。前記の通り、ウエハバイアス電源装置503をメンテナンスする場合、遮断機5111をOFFする作業が発生するため、分電ユニット511へのアクセスが必要となる。しかしながら、図6に示すように分電ユニット511がベッド部5300エリアに配置されていると、低い位置になるため非常に操作性が悪い。   Next, an example of maintaining the wafer bias power supply 503 will be described. When the wafer bias power supply 503 breaks down and needs to be replaced, a procedure for turning off the power supply to the wafer bias power supply 503 is necessary to prevent a maintenance person from receiving an electric shock. Therefore, it is necessary to turn off the breaker 5111 of the wafer bias power supply 503 in the power distribution unit 511. As described above, when the wafer bias power supply 503 is maintained, an operation to turn off the circuit breaker 5111 occurs, so access to the power distribution unit 511 is required. However, as shown in FIG. 6, when the electricity distribution unit 511 is disposed in the bed 5300 area, the operability is extremely low because it is at a low position.

本実施例では、分電ユニット511は、図4に示すようにメンテナンス時に電力供給をOFFすることでメンテナンス作業を安全に行うことのできる遮断機5111は、ベッド部5300より高い位置(ステップ(設置位置)516よりも高い位置)に実装し、メンテナンス作業時に電力供給遮断を行うことがない遮断機5112はベッド部5300のエリアに実装する。また、電磁接触器5113は、メンテナンス時に操作する必要性がないため、ベッド部5300エリアに実装することで問題はない。さらに、各機器へケーブルで電力を供給する動力出力用コネクタ5115と、前記電磁接触器5113をON/OFFするための制御信号と通信するための制御コネクタ5114については、各機器への動力分配、及び制御信号の取り合いのため、ベッド部5300の後方に準備した。前記目的を達成するため、分電ユニット511の構造をL字形構造とし、ベッド部5300より上部に実装する遮断機5111と、ベッド部5300に実装する遮断機5112に分割配置とした。   In the present embodiment, as shown in FIG. 4, the power distribution unit 511 can safely perform the maintenance operation by turning off the power supply at the time of maintenance. The circuit breaker 5112 which is mounted at a position higher than the position 516) and which does not cut off the power supply at the time of maintenance work is mounted in the area of the bed 5300. In addition, since the electromagnetic contactor 5113 does not have to be operated at the time of maintenance, there is no problem in mounting it in the bed 5300 area. Furthermore, the power output connector 5115 for supplying power to each device with a cable and the control connector 5114 for communicating with the control signal for turning on / off the electromagnetic contact 5113 are power distribution to each device, And, in order to exchange control signals, it was prepared at the back of the bed 5300. In order to achieve the above object, the power distribution unit 511 has an L-shaped structure, and the circuit breaker 5111 mounted above the bed 5300 and the circuit breaker 5112 mounted on the bed 5300 are divided.

動力出力用コネクタ5115と、制御コネクタ5114とをベッド部5300の後方に準備し、さらに、遮断機5111をベッド部5300より上方に配置したため、分電ユニット511は、図5のように前方(矢印方向)に引き出し可能となる。これにより、限られたスペースに実装される真空処理装置の分電ユニットの操作性及び安全性が向上できる。   Since the power output connector 5115 and the control connector 5114 are provided at the rear of the bed 5300 and the breaker 5111 is disposed above the bed 5300, the power distribution unit 511 is forward (arrowed as shown in FIG. Direction) can be pulled out. As a result, the operability and safety of the power distribution unit of the vacuum processing apparatus mounted in a limited space can be improved.

また、ユーザサイトによっては、真空処理室50の周りにはステップ516が設置されることが多く、ステップ516が設置された場合、ベッド部5300へアクセスする場合、ステップを取り除いてからでないと遮断機の操作が容易に行えない問題がある。そのため、前記同様、分電ユニット511に実装されている遮断機はベッド部5300より上部に設置することが望ましい。   In addition, depending on the user site, step 516 is often installed around the vacuum processing chamber 50, and when step 516 is installed, when accessing the bed unit 5300, the step breaker must be removed after the step is removed. There is a problem that the operation of can not be performed easily. Therefore, it is desirable to install the circuit breaker mounted on the electricity distribution unit 511 above the bed 5300 as described above.

以上、本実施例によれば、メンテナンス時に分電ユニット遮断機の操作性を向上可能な真空処理装置および真空処理装置用分電ユニットを提供することができる。   As described above, according to the present embodiment, it is possible to provide a vacuum processing apparatus and a power distribution unit for a vacuum processing apparatus capable of improving the operability of the power distribution unit breaker at the time of maintenance.

なお、本発明は上記した実施例に限定されるものではなく、様々な変形例が含まれる。例えば、上記した実施例は本発明を分かりやすく説明する為に詳細に説明したものであり、必ずしも説明をした全ての構成を備えるものに限定されるものではない。   The present invention is not limited to the embodiments described above, but includes various modifications. For example, the embodiments described above are described in detail in order to explain the present invention in an easy-to-understand manner, and are not necessarily limited to those having all the configurations described.

また、各実施例の構成の一部について、他の構成の追加・削除・置換をすることが可能である。   In addition, with respect to a part of the configuration of each embodiment, it is possible to add, delete, and replace other configurations.

10…分電盤、20…大気搬送ユニット、30…ロック室、40…真空搬送室、50…真空処理ユニット、60…中間室、501…高周波発振部、502…高周波電源、503…ウエハバイアス電源装置、504…ウエハバイアス整合器、505…ESC電源、506…真空容器、507…コイル部、508…真空ポンプ、509…コイル電源、510…ガス供給ユニット、511…分電ユニット、512…真空チャンバ、513…試料台、514…処理室架台、515…コイル上下装置、516…ステップ(設置位置)、5100…プラズマ形成部、5111…遮断機(メンテナンス作業時使用)、5112…遮断機(メンテナンス作業時未使用)、5113…電磁接触器、5114…制御コネクタ、5115…出力コネクタ、5200…処理部、5300…ベッド部。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Distribution board 20 atmosphere conveyance unit 30 lock chamber 40 vacuum conveyance chamber 50 vacuum processing unit 60 intermediate chamber 501 high frequency oscillation unit 502 high frequency power supply 503 wafer bias power supply Apparatus, 504: Wafer bias alignment unit, 505: ESC power supply, 506: vacuum vessel, 507: coil unit, 508: vacuum pump, 509: coil power supply, 510: gas supply unit, 511: electrical distribution unit, 512: vacuum chamber , 513: sample holder, 514: processing chamber frame, 515: coil up-down device, 516: step (installation position), 5100: plasma forming part, 5111: circuit breaker (used for maintenance work), 5112: circuit breaker (maintenance work) When unused, 5113 ... Magnetic contactor, 5114 ... Control connector, 5115 ... Output connector, 5200 ... Processing section, 5300 ... the bed.

Claims (6)

大気雰囲気側で基板を収納し該基板を搬送する大気ユニットと、前記大気ユニットから搬送されてきた前記基板を真空雰囲気内で搬送・処理する真空ユニットとを備えた真空処理装置において、
前記真空ユニットは、上から順に配置されたプラズマ形成部と処理部とベッド部とを備え、分電ユニットを含む真空処理ユニットを有し、
前記分電ユニットは、分電盤より給電される電力を受電し、負荷容量に適合した過電流保護機能を持つ遮断機と電磁接触器を介し、前記真空処理装置内で使用する各機器に前記電力を分配するものであり、
前記遮断機のうちメンテナンス時に操作を行う遮断機は、前記ベッド部より上方に配置され、メンテナンス時に操作を行う必要ない遮断機や電磁接触器は前記ベッド部より下方に配置されていることを特徴とする真空処理装置。
A vacuum processing apparatus comprising: an atmosphere unit for storing a substrate on the atmosphere side and transporting the substrate; and a vacuum unit for transporting and processing the substrate transported from the atmosphere unit in a vacuum atmosphere.
The vacuum unit includes a plasma processing unit, a processing unit, and a bed unit arranged in order from the top, and includes a vacuum processing unit including a power distribution unit.
The distribution unit receives the power supplied from the distribution board, and is connected to each device used in the vacuum processing apparatus via a breaker having an overcurrent protection function adapted to the load capacity and a magnetic contactor. To distribute power,
Among the circuit breakers, a circuit breaker operating at the time of maintenance is disposed above the bed section, and a circuit breaker or an electromagnetic contactor which does not need to be operated at the time of maintenance is disposed below the bed section. Vacuum processing equipment.
請求項1に記載の真空処理装置において、
前記分電ユニットと前記各機器とを配線するためのコネクタは前記分電ユニットの背面に配置され、前記分電ユニットを収納する部分は前方に引き出し可能であることを特徴とする真空処理装置。
In the vacuum processing apparatus according to claim 1,
A connector for wiring the power distribution unit and each of the devices is disposed on a back surface of the power distribution unit, and a portion for housing the power distribution unit can be pulled forward.
請求項1に記載の真空処理装置において、
前記分電ユニットはL字型を有し、
前記メンテナンス時に操作を行う遮断機は、前記L字型の縦上部に配置されていることを特徴とする真空処理装置。
In the vacuum processing apparatus according to claim 1,
The distribution unit has an L shape,
The vacuum processing apparatus characterized in that the circuit breaker operating at the time of maintenance is disposed at the upper portion of the L-shaped vertical.
上から順に配置されたプラズマ形成部と、処理部と、ベッド部とを備えた真空処理ユニットを有する真空処理装置で用いる分電ユニットにおいて、
前記分電ユニットは遮断機と電磁接触器とを介して前記真空処理装置内で使用する各機器に電力を分配するものであり、メンテナンス時に操作を行う遮断機は前記ベッド部より上方に配置され、メンテナンス時に操作を行う必要ない遮断機や電磁接触器は前記ベッド部より下方に配置されることを特徴とする分電ユニット。
A power distribution unit used in a vacuum processing apparatus having a vacuum processing unit including a plasma forming unit, a processing unit, and a bed unit arranged in order from the top
The electricity distribution unit distributes electric power to each device used in the vacuum processing apparatus via a circuit breaker and an electromagnetic contactor, and the circuit breaker operated at the time of maintenance is disposed above the bed section A power distribution unit characterized in that a circuit breaker or an electromagnetic contactor which does not need to be operated at the time of maintenance is disposed below the bed portion.
請求項4に記載の分電ユニットにおいて、
前記分電ユニットと前記各機器とを配線するためのコネクタは前記分電ユニットの背面に配置され、前記分電ユニットを収納する部分は前方に引き出し可能であることを特徴とする分電ユニット。
In the distribution unit according to claim 4,
The connector for wiring the said electricity distribution unit and each said apparatus is arrange | positioned at the back surface of the said electricity distribution unit, and the part which accommodates the said electricity distribution unit can be pulled out ahead, The electricity distribution unit characterized by the above-mentioned.
請求項4に記載の分電ユニットにおいて、
前記分電ユニットはL字型を有し、
前記メンテナンス時に操作を行う遮断機は、前記L字型の縦上部に配置されていることを特徴とする分電ユニット。
In the distribution unit according to claim 4,
The distribution unit has an L shape,
A power distribution unit characterized in that the circuit breaker operating at the time of maintenance is disposed at the upper portion of the L-shaped vertical.
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