JP6495323B2 - デュアルソースサイクロンプラズマ反応器を用いたガラスバッチ処理方法及び装置 - Google Patents
デュアルソースサイクロンプラズマ反応器を用いたガラスバッチ処理方法及び装置 Download PDFInfo
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Description
以下、本発明の好ましい実施形態を項分け記載する。
中心軸を有する内部容積を画成する少なくとも1つの壁部材、入口端部、及び対向する出口端部を有するプラズマ格納容器と、
前記プラズマ格納容器の前記入口端部に配置された入口構造体であって、(i)ガラスバッチ材料を受け取り、該ガラスバッチ材料を、前記プラズマ格納容器の、前記内部容積の前記入口端部の近傍に供給するための材料入口、(ii)プラズマガスの1つ以上の供給源を受け取り、該プラズマガスが、前記中心軸の接線方向に誘導されるように、該プラズマガスを前記内部容積の前記入口端部に供給するための、少なくとも1つのガス入口、及び前記内部容積の前記出口端部におけるプラズマガスを放出するための、少なくとも1つのガス出口であって、前記プラズマガスが、前記内部容積を通して、サイクロン渦を巻くように配置された、ガス入口及びガス出口を含む入口構造体と、
前記プラズマ格納容器の、前記少なくとも1つの壁部材の外面の周囲に、環状に配置された第1及び第2のリング電極であって、(i)前記第1のリング電極が、前記入口端部の周囲に環状に配置され、前記第2のリング電極が、前記出力端部の周囲に環状に配置され、(ii)前記第1及び第2のリング電極が、該第1及び第2のリング電極間に延び、前記プラズマ格納容器の前記中心軸に対し、概して平行な力線を有する、第1の電磁場を形成するのに十分な特性を有する、RF電力の供給源を受け取るように動作可能である第1及び第2のリング電極と、
前記プラズマ格納容器の前記中心軸に沿って配置された誘導コイルであって、該誘導コイルのコア及び前記内部容積を通して、前記プラズマ格納容器の前記中心軸に対し、概して平行に延びる力線を有する、第2の電磁場を形成するのに十分な特性を有する、AC電力の供給源を受け取るように動作可能である誘導コイルと、
を備え、前記第1の電磁場及び前記第2の電磁場が協働して、前記プラズマ格納容器の内部に、プラズマプルームを生成することを特徴とする装置。
前記プラズマプルームが、実質的に円筒形状を成し、前記ガラスバッチ材料を熱反応させるのに十分な熱エネルギーを有している、実施形態1記載の装置。
前記熱反応が、
前記ガラスバッチ材料を、少なくとも部分的に融解することを含む、
少なくとも1つの前記ガラスバッチ材料、及び1つ以上の別の材料を少なくとも部分的に融解して、被覆ガラスバッチ材料粒子を形成することを含む、及び
前記ガラスバッチ材料を、少なくとも部分的に融解して、実質的に均一な回転楕円体状のガラス中間粒子を形成することを含む、
のうちの少なくとも1つである、実施形態2記載の装置。
前記RF電力が、前記第1の電磁場が、(i)少なくとも1MHz、(ii)少なくとも3MHz、(iii)少なくとも4MHz、(iv)少なくとも5MHz、(v)少なくとも10MHz、(vi)少なくとも15MHz、(vii)少なくとも20MHz、(viii)少なくとも30MHz、(ix)少なくとも40MHz、及び(x)約1〜50MHzのうちの少なくとも1つの周波数を示すような特性を有する、実施形態1記載の装置。
前記AC電力が、前記第2の電磁場が、(i)少なくとも10kHz、(ii)少なくとも15kHz、(iii)少なくとも20kHz、(iv)少なくとも30kHz、(v)少なくとも40kHz、(vi)少なくとも50kHz、(vii)少なくとも100kHz、(viii)少なくとも150kHz、(ix)少なくとも200kHz、及び(x)約10〜250kHzのうちの少なくとも1つの周波数を示すような特性を有する、実施形態1記載の装置。
前記誘導コイルが、前記プラズマ格納容器の前記内部容積の内部に位置する、密閉チャンバー内に配置されている、実施形態1記載の装置。
前記AC電力の電力レベルを制御するように動作して、前記第2の電磁場の強度を制御し、それによって、前記プラズマプルームの温度を制御するコントローラを更に備えた、実施形態1記載の装置。
前記プラズマプルームが、(i)約9,000K〜約18,000K、(ii)約11,000K〜約15,000K、及び(iii)少なくとも約11,000Kのうちの、少なくとも1つの範囲の温度を有する、実施形態1記載の装置。
プラズマガスの前記1つ以上の供給源の圧力及び流量を調整するように動作して、前記内部容積を通した、前記プラズマガスのサイクロン渦の1つ以上の特性を制御し、それによって、前記プラズマプルーム中における、前記ガラスバッチ材料の滞留時間を制御するコントローラを更に備えた、実施形態1記載の装置。
前記材料入口が、前記ガラスバッチ材料が、前記クラズマ格納容器の前記中心軸に対し概して平行、且つ該中心軸の接線方向に向けて前記内部容積に入ってくる、前記プラズマガスを横断して供給されるように配向されている、実施形態1記載の装置。
前記ガラスバッチ材料の平均粒径が、(i)少なくとも約10μm、(ii)少なくとも約50μm、(iii)少なくとも約75μm、(iv)少なくとも約100μm、(v)少なくとも約150μm、(vi)少なくとも約200μm、(vii)少なくとも約500μm、(viii)少なくとも約750μm、(ix)少なくとも約1000μm、及び(x)約5〜約1000μmのうちの少なくとも1つである、実施形態1記載の装置。
前記入口構造体が、前記プラズマプルームの存在下において、前記入口構造体を冷却するために、内部を通して流体を運ぶように動作する1つ以上の内部チャンネルを備え、
前記少なくとも1つの壁部材が、前記プラズマプルームの存在下において、前記プラズマ格納容器を冷却するために、内部を通して流体を運ぶように動作する、それぞれの内部チャンネルを備え、
前記誘導コイルが、少なくとも1つの内部壁部材で形成された密閉チャンバー内に配置され、前記内部壁部材が、前記プラズマプルームの存在下において、前記密閉チャンバーを冷却するために、内部を通して流体を運ぶように動作する、それぞれの内部チャンネルを備えた、実施形態1記載の装置。
前記プラズマガスが、アルゴン、空気、ヘリウム、窒素、酸素、及びこれらの混合物のうちの少なくとも1つを含む、実施形態1記載の装置。
前記熱反応したガラスバッチ材料が、前記出口端部を通して、前記プラズマ格納容器を出る、実施形態1記載の装置。
中心軸を有する内部容積を画成する少なくとも1つの壁部材、入口端部、及び対向する出口端部を有するプラズマ格納容器を用意するステップと、
前記プラズマ格納容器の前記入口端部に配置された入口構造体であって、(i)ガラスバッチ材料を受け取り、該ガラスバッチ材料を、前記プラズマ格納容器の、前記内部容積の前記入口端部の近傍に供給するための材料入口、(ii)プラズマガスの1つ以上の供給源を受け取り、該プラズマガスが、前記中心軸の接線方向に誘導されるように、該プラズマガスを前記内部容積の前記入口端部に供給するための、少なくとも1つのガス入口、及び前記内部容積の前記出口端部におけるプラズマガスを放出するための、少なくとも1つのガス出口であって、前記プラズマガスが、前記内部容積を通して、サイクロン渦を巻くように配置された、ガス入口及びガス出口を含む入口構造体を用意するステップと、
前記プラズマ格納容器の、前記少なくとも1つの壁部材の外面の周囲に、環状に配置された第1及び第2のリング電極であって、(i)前記第1のリング電極が、前記入口端部の周囲に環状に配置され、前記第2のリング電極が、前記出力端部の周囲に環状に配置され、(ii)前記第1及び第2のリング電極が、該第1及び第2のリング電極間に延び、前記プラズマ格納容器の前記中心軸に対し、概して平行な力線を有する、第1の電磁場を形成するのに十分な特性を有する、RF電力の供給源を受け取るように動作可能である第1及び第2のリング電極を用意するステップと、
前記プラズマ格納容器の前記中心軸に沿って配置された誘導コイルであって、該誘導コイルのコア及び前記内部容積を通して、前記プラズマ格納容器の前記中心軸に対し、概して平行に延びる力線を有する、第2の電磁場を形成するのに十分な特性を有する、AC電力の供給源を受け取るように動作可能である誘導コイルを用意するステップと、
を備えた方法。
実質的に円筒形状を成し、前記ガラスバッチ材料を熱反応させるのに十分な熱エネルギーを有する、プラズマプルームを生成するステップを更に備えた、実施形態15記載の方法。
前記熱反応が、
前記ガラスバッチ材料を、少なくとも部分的に融解することを含む、
少なくとも1つの前記ガラスバッチ材料、及び1つ以上の別の材料を、少なくとも部分的に融解することによって、被覆ガラスバッチ材料粒子を形成することを含む、及び
前記ガラスバッチ材料を、少なくとも部分的に融解して、実質的に均一な回転楕円体状のガラス中間粒子を形成することを含む、
のうちの少なくとも1つである、実施形態16記載の方法。
前記RF電力が、前記第1の電磁場が、(i)少なくとも1MHz、(ii)少なくとも3MHz、(iii)少なくとも4MHz、(iv)少なくとも5MHz、(v)少なくとも10MHz、(vi)少なくとも15MHz、(vii)少なくとも20MHz、(viii)少なくとも30MHz、(ix)少なくとも40MHz、及び(x)約1〜50MHzのうちの少なくとも1つの周波数を示すような特性を有する、実施形態15記載の方法。
前記AC電力が、前記第2の電磁場が、(i)少なくとも10kHz、(ii)少なくとも15kHz、(iii)少なくとも20kHz、(iv)少なくとも30kHz、(v)少なくとも40kHz、(vi)少なくとも50kHz、(vii)少なくとも100kHz、(viii)少なくとも150kHz、(ix)少なくとも200kHz、及び(x)約10〜250kHzのうちの少なくとも1つの周波数を示すような特性を有する、実施形態15記載の方法。
前記AC電力の電力レベルを制御して、前記第2の電磁場の強度を制御し、それによって、前記プラズマプルームの温度を制御するステップであって、該プラズマプルームが、(i)約9,000K〜約18,000K、(ii)約11,000K〜約15,000K、及び(iii)少なくとも約11,000Kのうちの少なくとも1つの温度を有する、ステップを更に備えた、実施形態15記載の方法。
プラズマガスの前記1つ以上の供給源の圧力及び流量を調整して、前記内部容積を通した、前記プラズマガスのサイクロン渦の1つ以上の特性を制御し、それによって、前記プラズマプルーム中における、前記ガラスバッチ材料の滞留時間を制御するステップを更に備えた、実施形態15記載の方法。
前記カラスバッチ材料を、前記クラズマ格納容器の前記中心軸に対し概して平行、且つ該中心軸の接線方向に向けて前記内部容積に入ってくる、前記プラズマガスを横断して供給するステップを更に備えた、実施形態15記載の方法。
前記ガラスバッチ材料の平均粒径が、(i)少なくとも約10μm、(ii)少なくとも約50μm、(iii)少なくとも約75μm、(iv)少なくとも約100μm、(v)少なくとも約150μm、(vi)少なくとも約200μm、(vii)少なくとも約500μm、(viii)少なくとも約750μm、(ix)少なくとも約1000μm、及び(x)約5〜約1000μmのうちの少なくとも1つである、実施形態15記載の方法。
前記プラズマガスが、アルゴン、空気、ヘリウム、窒素、酸素、及びこれらの混合物のうちの少なくとも1つを含む、実施形態15記載の方法。
102 バッチ投入装置(混合装置)
104 バッチ篩装置
110 プラズマガスの供給源
120 冷却流体供給源
130 RF電源
140 AC電源
150 制御装置
170 回収容器
200 プラズマ格納容器
202 第1のリング電極
204 第2のリング電極
206 誘導コイル
208、210 壁部材
214 入口端部
216 出口端部
220 プラズマプルーム
226 ガス入口
228 ガス出口
230 入口構造体
232 材料入口
Claims (15)
- 中心軸を有する内部容積を画成する少なくとも1つの壁部材、入口端部、及び対向する出口端部を有するプラズマ格納容器と、
前記プラズマ格納容器の前記入口端部に配置された入口構造体であって、(i)ガラスバッチ材料を受け取り、該ガラスバッチ材料を、前記プラズマ格納容器の、前記内部容積の前記入口端部の近傍に供給するための材料入口、(ii)プラズマガスの1つ以上の供給源を受け取り、該プラズマガスが、前記中心軸の接線方向に誘導されるように、該プラズマガスを前記内部容積の前記入口端部に供給するための、少なくとも1つのガス入口、及び前記内部容積の前記出口端部におけるプラズマガスを放出するための、少なくとも1つのガス出口であって、前記プラズマガスが、前記内部容積を通して、サイクロン渦を巻くように配置された、ガス入口及びガス出口を含む入口構造体と、
前記プラズマ格納容器の、前記少なくとも1つの壁部材の外面の周囲に、環状に配置された第1及び第2のリング電極であって、(i)前記第1のリング電極が、前記入口端部の周囲に環状に配置され、前記第2のリング電極が、前記出力端部の周囲に環状に配置され、(ii)前記第1及び第2のリング電極が、該第1及び第2のリング電極間に延び、前記プラズマ格納容器の前記中心軸に対し、概して平行な力線を有する、第1の電磁場を形成するのに十分な特性を有する、RF電力の供給源を受け取るように動作可能である第1及び第2のリング電極と、
前記プラズマ格納容器の前記中心軸に沿って配置された誘導コイルであって、該誘導コイルのコア及び前記内部容積を通して、前記プラズマ格納容器の前記中心軸に対し、概して平行に延びる力線を有する、第2の電磁場を形成するのに十分な特性を有する、AC電力の供給源を受け取るように動作可能である誘導コイルと、を備え、
前記第1の電磁場及び前記第2の電磁場が協働して、前記プラズマ格納容器の内部に、プラズマプルームを生成することを特徴とする装置。 - 前記プラズマプルームが、実質的に円筒形状を成し、前記ガラスバッチ材料を熱反応させるのに十分な熱エネルギーを有していることを特徴とする、請求項1記載の装置。
- 前記熱反応が、
前記ガラスバッチ材料を、少なくとも部分的に融解することを含む、
少なくとも1つの前記ガラスバッチ材料、及び1つ以上の別の材料を少なくとも部分的に融解して、被覆ガラスバッチ材料粒子を形成することを含む、及び
前記ガラスバッチ材料を、少なくとも部分的に融解して、実質的に均一な回転楕円体状のガラス中間粒子を形成することを含む、
のうちの少なくとも1つであることを特徴とする、請求項2記載の装置。 - 前記RF電力が、前記第1の電磁場が、(i)少なくとも1MHz、(ii)少なくとも3MHz、(iii)少なくとも4MHz、(iv)少なくとも5MHz、(v)少なくとも10MHz、(vi)少なくとも15MHz、(vii)少なくとも20MHz、(viii)少なくとも30MHz、(ix)少なくとも40MHz、及び(x)約1〜50MHzのうちの少なくとも1つの周波数を示すような特性を有することを特徴とする、請求項1〜3いずれか1項記載の装置。
- 前記AC電力が、前記第2の電磁場が、(i)少なくとも10kHz、(ii)少なくとも15kHz、(iii)少なくとも20kHz、(iv)少なくとも30kHz、(v)少なくとも40kHz、(vi)少なくとも50kHz、(vii)少なくとも100kHz、(viii)少なくとも150kHz、(ix)少なくとも200kHz、及び(x)約10〜250kHzのうちの少なくとも1つの周波数を示すような特性を有することを特徴とする、請求項1〜4いずれか1項記載の装置。
- 前記誘導コイルが、前記プラズマ格納容器の前記内部容積の内部に位置する、密閉チャンバー内に配置されていることを特徴とする、請求項1〜5いずれか1項記載の装置。
- 前記AC電力の電力レベルを制御するように動作して、前記第2の電磁場の強度を制御し、それによって、前記プラズマプルームの温度を制御するコントローラを更に備えたことを特徴とする、請求項1〜6いずれか1項記載の装置。
- 前記プラズマプルームが、(i)約9,000K〜約18,000K、(ii)約11,000K〜約15,000K、及び(iii)少なくとも約11,000Kのうちの、少なくとも1つの範囲の温度を有することを特徴とする、請求項1〜7いずれか1項記載の装置。
- プラズマガスの前記1つ以上の供給源の圧力及び流量を調整するように動作して、前記内部容積を通した、前記プラズマガスのサイクロン渦の1つ以上の特性を制御し、それによって、前記プラズマプルーム中における、前記ガラスバッチ材料の滞留時間を制御するコントローラを更に備えたことを特徴とする、請求項1〜8いずれか1項記載の装置。
- 前記材料入口が、前記ガラスバッチ材料が、前記クラズマ格納容器の前記中心軸に対し概して平行、且つ該中心軸の接線方向に向けて前記内部容積に入ってくる、前記プラズマガスを横断して供給されるように配向されていることを特徴とする、請求項1〜9いずれか1項記載の装置。
- 前記ガラスバッチ材料の平均粒径が、(i)少なくとも約10μm、(ii)少なくとも約50μm、(iii)少なくとも約75μm、(iv)少なくとも約100μm、(v)少なくとも約150μm、(vi)少なくとも約200μm、(vii)少なくとも約500μm、(viii)少なくとも約750μm、(ix)少なくとも約1000μm、及び(x)約5〜約1000μmのうちの少なくとも1つであることを特徴とする、請求項1〜10いずれか1項記載の装置。
- 前記入口構造体が、前記プラズマプルームの存在下において、前記入口構造体を冷却するために、内部を通して流体を運ぶように動作する1つ以上の内部チャンネルを備え、
前記少なくとも1つの壁部材が、前記プラズマプルームの存在下において、前記プラズマ格納容器を冷却するために、内部を通して流体を運ぶように動作する、それぞれの内部チャンネルを備え、
前記誘導コイルが、少なくとも1つの内部壁部材で形成された密閉チャンバー内に配置され、前記内部壁部材が、前記プラズマプルームの存在下において、前記密閉チャンバーを冷却するために、内部を通して流体を運ぶように動作する、それぞれの内部チャンネルを備えたことを特徴とする、請求項1〜11いずれか1項記載の装置。 - 前記プラズマガスが、アルゴン、空気、ヘリウム、窒素、酸素、及びこれらの混合物のうちの少なくとも1つを含むことを特徴とする、請求項1〜12いずれか1項記載の装置。
- 前記熱反応したガラスバッチ材料が、前記出口端部を通して、前記プラズマ格納容器を出ることを特徴とする、請求項1〜13いずれか1項記載の装置。
- 中心軸を有する内部容積を画成する少なくとも1つの壁部材、入口端部、及び対向する出口端部を有するプラズマ格納容器を用意するステップと、
前記プラズマ格納容器の前記入口端部に配置された入口構造体であって、(i)ガラスバッチ材料を受け取り、該ガラスバッチ材料を、前記プラズマ格納容器の、前記内部容積の前記入口端部の近傍に供給するための材料入口、(ii)プラズマガスの1つ以上の供給源を受け取り、該プラズマガスが、前記中心軸の接線方向に誘導されるように、該プラズマガスを前記内部容積の前記入口端部に供給するための、少なくとも1つのガス入口、及び前記内部容積の前記出口端部におけるプラズマガスを放出するための、少なくとも1つのガス出口であって、前記プラズマガスが、前記内部容積を通して、サイクロン渦を巻くように配置された、ガス入口及びガス出口を含む入口構造体を用意するステップと、
前記プラズマ格納容器の、前記少なくとも1つの壁部材の外面の周囲に、環状に配置された第1及び第2のリング電極であって、(i)前記第1のリング電極が、前記入口端部の周囲に環状に配置され、前記第2のリング電極が、前記出力端部の周囲に環状に配置され、(ii)前記第1及び第2のリング電極が、該第1及び第2のリング電極間に延び、前記プラズマ格納容器の前記中心軸に対し、概して平行な力線を有する、第1の電磁場を形成するのに十分な特性を有する、RF電力の供給源を受け取るように動作可能である第1及び第2のリング電極を用意するステップと、
前記プラズマ格納容器の前記中心軸に沿って配置された誘導コイルであって、該誘導コイルのコア及び前記内部容積を通して、前記プラズマ格納容器の前記中心軸に対し、概して平行に延びる力線を有する、第2の電磁場を形成するのに十分な特性を有する、AC電力の供給源を受け取るように動作可能である誘導コイルを用意するステップと、
を備えたことを特徴とする方法。
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KR102381323B1 (ko) * | 2020-05-15 | 2022-03-31 | (주)엘오티씨이에스 | 유도결합 플라즈마 반응기 및 유도결합 플라즈마 반응기의 안테나 코일용 와이어 구조물 |
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US5938854A (en) | 1993-05-28 | 1999-08-17 | The University Of Tennessee Research Corporation | Method and apparatus for cleaning surfaces with a glow discharge plasma at one atmosphere of pressure |
US5414324A (en) | 1993-05-28 | 1995-05-09 | The University Of Tennessee Research Corporation | One atmosphere, uniform glow discharge plasma |
US5669583A (en) | 1994-06-06 | 1997-09-23 | University Of Tennessee Research Corporation | Method and apparatus for covering bodies with a uniform glow discharge plasma and applications thereof |
FR2737554B1 (fr) | 1995-08-03 | 1997-08-29 | Commissariat Energie Atomique | Four de fusion tournant |
US5750822A (en) * | 1995-11-13 | 1998-05-12 | Institute Of Chemical Technology (Plastech) | Processing of solid mixed waste containing radioactive and hazardous materials |
US5743961A (en) * | 1996-05-09 | 1998-04-28 | United Technologies Corporation | Thermal spray coating apparatus |
US6150628A (en) | 1997-06-26 | 2000-11-21 | Applied Science And Technology, Inc. | Toroidal low-field reactive gas source |
US6042370A (en) | 1999-08-20 | 2000-03-28 | Haper International Corp. | Graphite rotary tube furnace |
US20070042580A1 (en) | 2000-08-10 | 2007-02-22 | Amir Al-Bayati | Ion implanted insulator material with reduced dielectric constant |
US6939434B2 (en) | 2000-08-11 | 2005-09-06 | Applied Materials, Inc. | Externally excited torroidal plasma source with magnetic control of ion distribution |
US7223676B2 (en) | 2002-06-05 | 2007-05-29 | Applied Materials, Inc. | Very low temperature CVD process with independently variable conformality, stress and composition of the CVD layer |
US7166524B2 (en) | 2000-08-11 | 2007-01-23 | Applied Materials, Inc. | Method for ion implanting insulator material to reduce dielectric constant |
US6893907B2 (en) | 2002-06-05 | 2005-05-17 | Applied Materials, Inc. | Fabrication of silicon-on-insulator structure using plasma immersion ion implantation |
US7294563B2 (en) | 2000-08-10 | 2007-11-13 | Applied Materials, Inc. | Semiconductor on insulator vertical transistor fabrication and doping process |
US7094670B2 (en) | 2000-08-11 | 2006-08-22 | Applied Materials, Inc. | Plasma immersion ion implantation process |
US20050230047A1 (en) | 2000-08-11 | 2005-10-20 | Applied Materials, Inc. | Plasma immersion ion implantation apparatus |
US7479456B2 (en) | 2004-08-26 | 2009-01-20 | Applied Materials, Inc. | Gasless high voltage high contact force wafer contact-cooling electrostatic chuck |
US7320734B2 (en) | 2000-08-11 | 2008-01-22 | Applied Materials, Inc. | Plasma immersion ion implantation system including a plasma source having low dissociation and low minimum plasma voltage |
US6410449B1 (en) | 2000-08-11 | 2002-06-25 | Applied Materials, Inc. | Method of processing a workpiece using an externally excited torroidal plasma source |
US6551446B1 (en) | 2000-08-11 | 2003-04-22 | Applied Materials Inc. | Externally excited torroidal plasma source with a gas distribution plate |
US6468388B1 (en) | 2000-08-11 | 2002-10-22 | Applied Materials, Inc. | Reactor chamber for an externally excited torroidal plasma source with a gas distribution plate |
US7137354B2 (en) | 2000-08-11 | 2006-11-21 | Applied Materials, Inc. | Plasma immersion ion implantation apparatus including a plasma source having low dissociation and low minimum plasma voltage |
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US7430984B2 (en) | 2000-08-11 | 2008-10-07 | Applied Materials, Inc. | Method to drive spatially separate resonant structure with spatially distinct plasma secondaries using a single generator and switching elements |
US7857972B2 (en) | 2003-09-05 | 2010-12-28 | Foret Plasma Labs, Llc | Apparatus for treating liquids with wave energy from an electrical arc |
US7622693B2 (en) | 2001-07-16 | 2009-11-24 | Foret Plasma Labs, Llc | Plasma whirl reactor apparatus and methods of use |
US7422695B2 (en) | 2003-09-05 | 2008-09-09 | Foret Plasma Labs, Llc | Treatment of fluids with wave energy from a carbon arc |
US8734643B2 (en) | 2001-07-16 | 2014-05-27 | Foret Plasma Labs, Llc | Apparatus for treating a substance with wave energy from an electrical arc and a second source |
US6693253B2 (en) | 2001-10-05 | 2004-02-17 | Universite De Sherbrooke | Multi-coil induction plasma torch for solid state power supply |
US8361404B2 (en) | 2003-06-20 | 2013-01-29 | Drexel University | Cyclonic reactor with non-equilibrium gliding discharge and plasma process for reforming of solid hydrocarbons |
US7867457B2 (en) * | 2003-06-20 | 2011-01-11 | Drexel University | Plasma reactor for the production of hydrogen-rich gas |
US7510665B2 (en) * | 2003-08-15 | 2009-03-31 | Applied Materials, Inc. | Plasma generation and control using dual frequency RF signals |
KR100582753B1 (ko) | 2004-04-29 | 2006-05-23 | 주식회사 애드플라텍 | 선회식 플라즈마 열분해/용융로 |
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US7743730B2 (en) | 2005-12-21 | 2010-06-29 | Lam Research Corporation | Apparatus for an optimized plasma chamber grounded electrode assembly |
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US7264688B1 (en) | 2006-04-24 | 2007-09-04 | Applied Materials, Inc. | Plasma reactor apparatus with independent capacitive and toroidal plasma sources |
RU2008147149A (ru) * | 2006-05-01 | 2010-06-10 | Асахи Гласс Компани, Лимитед (Jp) | Способ получения стекла |
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