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JP6413388B2 - Electronic component package conveying apparatus and electronic component package conveying method - Google Patents

Electronic component package conveying apparatus and electronic component package conveying method Download PDF

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JP6413388B2 JP2014131674A JP2014131674A JP6413388B2 JP 6413388 B2 JP6413388 B2 JP 6413388B2 JP 2014131674 A JP2014131674 A JP 2014131674A JP 2014131674 A JP2014131674 A JP 2014131674A JP 6413388 B2 JP6413388 B2 JP 6413388B2
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Description

本発明は、電子部品包装体搬送装置および電子部品包装体の搬送方法に関する。   The present invention relates to an electronic component package conveying apparatus and an electronic component package conveying method.

従来から、不良品となった半導体チップが貼付されたテープと、テープが接着されたリングフレームから当該テープを剥離する剥離装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。   2. Description of the Related Art Conventionally, a peeling device that peels a tape from a tape to which a defective semiconductor chip is attached and a ring frame to which the tape is bonded is known (for example, see Patent Document 1).

特許文献1に記載の剥離装置において、不良品となった半導体チップに代えて、良品か否かが不明の半導体チップ(以下「新品の半導体チップ」と言う)を適用した場合を考えてみる。この場合、新品の半導体チップが貼付されたテープを、リングフレームから剥離したときに静電気が生じ、当該静電気の程度によっては、その静電気の影響を受けて新品の半導体チップが不良品となることがある。しかしながら、この時点では、新品の半導体チップが不良品となったことを確認することができず、そのまま出荷されてしまうおそれがあった。   In the peeling apparatus described in Patent Document 1, a case where a semiconductor chip whose quality is unknown (hereinafter referred to as “new semiconductor chip”) is applied instead of a defective semiconductor chip. In this case, static electricity is generated when the tape with the new semiconductor chip is peeled off from the ring frame, and depending on the level of the static electricity, the new semiconductor chip may be defective due to the influence of the static electricity. is there. However, at this time, it was not possible to confirm that the new semiconductor chip was defective, and there was a possibility that it would be shipped as it was.

特開平11−274186号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-274186

本発明の目的は、開封後の電子部品に対して、静電気による影響が防止または抑制されていることを確認することができる電子部品包装体搬送装置および電子部品包装体の搬送方法を提供することにある。   An object of the present invention is to provide an electronic component package transport apparatus and an electronic component package transport method capable of confirming that the influence of static electricity is prevented or suppressed on an electronic component after opening. It is in.

このような目的は、下記(1)〜(10)の本発明により達成される。
(1) 電子部品と、該電子部品を包装する包材とを有する電子部品包装体を搬送する電子部品包装体搬送装置であって、
前記包材は、前記電子部品を収納する凹部を少なくとも1つ有する基材と、前記基材に剥離可能に接合され、その状態で前記凹部を該凹部内の前記電子部品ごと封止するシート状をなす封止材とを有するものであり、
当該電子部品包装体搬送装置は、未開封状態の前記電子部品包装体を搬送元から搬送先に搬送する搬送手段と、
前記搬送先で前記封止材を前記基材から剥離して、前記電子部品包装体を開封する剥離手段と、
前記電子部品包装体の開封後、前記封止材の前記基材から剥離された剥離部の表面電位を測定する機能を有する測定手段とを備え
前記測定手段は、前記基材の前記封止材が剥離された基材側剥離部の表面電位を測定する機能を有することを特徴とする電子部品包装体搬送装置。
(2) 前記測定手段は、前記基材側剥離部に近接して配置され、該基材側剥離部との間で電位差を生じる補助プローブを有する上記(1)に記載の電子部品包装体搬送装置。
(3) 電子部品と、該電子部品を包装する包材とを有する電子部品包装体を搬送する電子部品包装体搬送装置であって、
前記包材は、前記電子部品を収納する凹部を少なくとも1つ有する基材と、前記基材に剥離可能に接合され、その状態で前記凹部を該凹部内の前記電子部品ごと封止するシート状をなす封止材とを有するものであり、
当該電子部品包装体搬送装置は、未開封状態の前記電子部品包装体を搬送元から搬送先に搬送する搬送手段と、
前記搬送先で前記封止材を前記基材から剥離して、前記電子部品包装体を開封する剥離手段と、
前記電子部品包装体の開封後、前記封止材の前記基材から剥離された剥離部の表面電位を測定する機能を有する測定手段とを備え、
前記測定手段は、前記未開封状態で前記封止材の前記基材から剥離される以前の表面電位を測定する機能を有することを特徴とする電子部品包装体搬送装置。
(4) 前記測定手段は、前記未開封状態での前記封止材に近接して配置され、該封止材との間で電位差を生じる補助プローブを有する上記(3)に記載の電子部品包装体搬送装置。
Such an object is achieved by the present inventions (1) to (10) below.
(1) An electronic component package transport apparatus for transporting an electronic component package having an electronic component and a packaging material for packaging the electronic component,
The packaging material is a sheet having at least one recess for storing the electronic component, and a sheet-like shape that is detachably bonded to the substrate and seals the recess together with the electronic component in the recess. And a sealing material forming
The electronic component package transport apparatus includes a transport unit that transports the unopened electronic component package from a transport source to a transport destination;
Peeling means for peeling the sealing material from the base material at the transport destination and opening the electronic component package;
After opening of the electronic component package, and a measuring means having a function for measuring the surface potential of the peel portion peeled from the base material of the sealing material,
The electronic component package transport apparatus according to claim 1, wherein the measuring means has a function of measuring a surface potential of a base material side peeling portion where the sealing material of the base material is peeled off .
(2) The electronic component package transport according to (1), wherein the measurement unit includes an auxiliary probe that is disposed in the vicinity of the base material side peeling portion and generates a potential difference with the base material side peeling portion. apparatus.
(3) An electronic component package transport apparatus for transporting an electronic component package having an electronic component and a packaging material for packaging the electronic component,
The packaging material is a sheet having at least one recess for storing the electronic component, and a sheet-like shape that is detachably bonded to the substrate and seals the recess together with the electronic component in the recess. And a sealing material forming
The electronic component package transport apparatus includes a transport unit that transports the unopened electronic component package from a transport source to a transport destination;
Peeling means for peeling the sealing material from the base material at the transport destination and opening the electronic component package;
A measuring means having a function of measuring the surface potential of the peeled portion peeled from the base material of the sealing material after opening the electronic component package;
The electronic component package transport apparatus according to claim 1, wherein the measuring means has a function of measuring a surface potential of the sealing material before being peeled from the base material in the unopened state.
(4) The electronic component packaging according to (3), wherein the measurement unit includes an auxiliary probe that is arranged in proximity to the sealing material in the unopened state and generates a potential difference with the sealing material. Body transport device.

(5) 前記測定手段は、前記剥離部に近接して配置され、該剥離部との間で電位差を生じるプローブを有する上記(1)ないし(4)のいずれかに記載の電子部品包装体搬送装置。 (5) The electronic component package transport according to any one of (1) to (4), wherein the measurement unit includes a probe that is disposed in the vicinity of the peeling portion and generates a potential difference with the peeling portion. apparatus.

(6) 前記剥離手段は、前記基材に前記封止材を押し付けつつ回転して、該封止材に対する剥離を開始する剥離ローラと、剥離された前記封止材を巻き取る巻取りローラとを有する上記(1)ないし(5)のいずれかに記載の電子部品包装体搬送装置。 (6) The peeling means rotates while pressing the sealing material against the base material, and starts to peel off the sealing material, and a take-up roller that winds the peeled sealing material The electronic component package transporter according to any one of the above (1) to (5) .

(7) 前記基材は、帯状をなし、その長手方向に沿って前記凹部が複数配置されており、
前記搬送手段は、前記長手方向に隣接する前記凹部同士の中心間距離分、間欠的に搬送する上記(1)ないし(6)のいずれかに記載の電子部品包装体搬送装置。
(7) The base material has a band shape, and a plurality of the concave portions are arranged along the longitudinal direction thereof.
The electronic component package conveying apparatus according to any one of (1) to (6) , wherein the conveying means intermittently conveys the distance between the centers of the recesses adjacent in the longitudinal direction.

(8) 前記搬送手段は、無端ベルトを有し、該無端ベルト上に前記電子部品包装体を載置して搬送するよう構成されている上記(1)ないし(7)のいずれかに記載の電子部品包装体搬送装置。 (8) The transport unit according to any one of (1) to (7) , wherein the transport unit includes an endless belt, and the electronic component package is placed and transported on the endless belt. Electronic parts package transport device.

(9) 電子部品と、該電子部品を包装する包材とを有する電子部品包装体を搬送する方法であって、
前記包材は、前記電子部品を収納する凹部を少なくとも1つ有する基材と、前記基材に剥離可能に接合され、その状態で前記凹部を該凹部内の前記電子部品ごと封止するシート状をなす封止材とを有するものであり、
当該電子部品包装体の搬送方法は、未開封状態の前記電子部品包装体を搬送元から搬送先に搬送するとともに、該搬送先で前記封止材を前記基材から剥離して、前記電子部品包装体を開封し、その開封後、前記封止材の前記基材から剥離された部分の表面電位を測定するとともに、前記基材の前記封止材が剥離された部分の表面電位を測定することを特徴とする電子部品包装体の搬送方法。
(10) 電子部品と、該電子部品を包装する包材とを有する電子部品包装体を搬送する方法であって、
前記包材は、前記電子部品を収納する凹部を少なくとも1つ有する基材と、前記基材に剥離可能に接合され、その状態で前記凹部を該凹部内の前記電子部品ごと封止するシート状をなす封止材とを有するものであり、
当該電子部品包装体の搬送方法は、未開封状態の前記電子部品包装体を搬送元から搬送先に搬送し、かつ、前記未開封状態で前記封止材の前記基材から剥離される以前の表面電位を測定するとともに、該搬送先で前記封止材を前記基材から剥離して、前記電子部品包装体を開封し、その開封後、前記封止材の前記基材から剥離された部分の表面電位を測定することを特徴とする電子部品包装体の搬送方法。
(9) A method of transporting an electronic component package having an electronic component and a packaging material for packaging the electronic component,
The packaging material is a sheet having at least one recess for storing the electronic component, and a sheet-like shape that is detachably bonded to the substrate and seals the recess together with the electronic component in the recess. And a sealing material forming
The method for transporting the electronic component package includes transporting the unopened electronic component package from a transport source to a transport destination, and peeling the sealing material from the base material at the transport destination. The package is opened, and after opening, the surface potential of the part of the sealing material peeled from the base material is measured, and the surface potential of the part of the base material from which the sealing material is peeled is measured. A method for transporting a packaged electronic component, wherein:
(10) A method for transporting an electronic component package having an electronic component and a packaging material for packaging the electronic component,
The packaging material is a sheet having at least one recess for storing the electronic component, and a sheet-like shape that is detachably bonded to the substrate and seals the recess together with the electronic component in the recess. And a sealing material forming
The method for transporting the electronic component package includes transporting the unopened electronic component package from a transport source to a transport destination, and before peeling off the sealing material from the base material in the unopened state. The surface potential is measured, the sealing material is peeled off from the base material at the transport destination, the electronic component package is opened, and the part of the sealing material peeled off from the base material after the opening. A method for transporting a packaged electronic component, wherein the surface potential of the electronic component package is measured.

本発明によれば、開封後の電子部品に対して、静電気による影響が防止または抑制されていることを確認することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, it can confirm that the influence by static electricity is prevented or suppressed with respect to the electronic component after opening.

図1は、本発明の電子部品包装体搬送装置の第1実施形態を示す断面側面図である。FIG. 1 is a cross-sectional side view showing a first embodiment of an electronic component package conveying apparatus according to the present invention. 図2は、図1に示す電子部品包装体搬送装置の主要部のブロック図である。FIG. 2 is a block diagram of the main part of the electronic component package conveying apparatus shown in FIG. 図3は、図1に示す電子部品包装体搬送装置が備える測定手段の動作原理を説明するための図である。FIG. 3 is a view for explaining the operating principle of the measuring means provided in the electronic component package conveying apparatus shown in FIG. 図4は、図1に示す電子部品包装体搬送装置が備える表示手段に表示された表面電圧を示すグラフである。FIG. 4 is a graph showing the surface voltage displayed on the display means provided in the electronic component package conveying apparatus shown in FIG. 図5は、図1に示す電子部品包装体搬送装置が備える表示手段に表示された表面電圧を示すグラフである。FIG. 5 is a graph showing the surface voltage displayed on the display means included in the electronic component package conveying apparatus shown in FIG. 図6は、本発明の電子部品包装体搬送装置の第2実施形態を示す断面側面図である。FIG. 6 is a sectional side view showing a second embodiment of the electronic component package conveying apparatus of the present invention. 図7は、図6に示す電子部品包装体搬送装置が備える表示手段に表示された表面電圧を示すグラフである。FIG. 7 is a graph showing the surface voltage displayed on the display means included in the electronic component package conveying apparatus shown in FIG. 図8は、本発明の電子部品包装体搬送装置の第3実施形態を示す断面側面図である。FIG. 8 is a cross-sectional side view showing a third embodiment of the electronic component package conveying apparatus of the present invention. 図9は、図8に示す電子部品包装体搬送装置が備える表示手段に表示された表面電圧を示すグラフである。FIG. 9 is a graph showing the surface voltage displayed on the display means included in the electronic component package conveying apparatus shown in FIG. 図10は、図8に示す電子部品包装体搬送装置が備える表示手段に表示された表面電圧を示すグラフである。FIG. 10 is a graph showing the surface voltage displayed on the display means included in the electronic component package conveying apparatus shown in FIG.

以下、本発明の電子部品包装体搬送装置および電子部品包装体の搬送方法を添付図面に示す好適な実施形態に基づいて詳細に説明する。   Hereinafter, the electronic component package transport apparatus and the electronic component package transport method of the present invention will be described in detail based on preferred embodiments shown in the accompanying drawings.

<第1実施形態>
図1は、本発明の電子部品包装体搬送装置の第1実施形態を示す断面側面図である。図2は、図1に示す電子部品包装体搬送装置の主要部のブロック図である。図3は、図1に示す電子部品包装体搬送装置が備える測定手段の動作原理を説明するための図である。図4および図5は、それぞれ、図1に示す電子部品包装体搬送装置が備える表示手段に表示された表面電圧を示すグラフである。なお、以下では、説明の都合上、図1中(図6、図8についても同様)の上側を「上」または「上方」、下側を「下」または「下方」と言う。
<First Embodiment>
FIG. 1 is a cross-sectional side view showing a first embodiment of an electronic component package conveying apparatus according to the present invention. FIG. 2 is a block diagram of the main part of the electronic component package conveying apparatus shown in FIG. FIG. 3 is a view for explaining the operating principle of the measuring means provided in the electronic component package conveying apparatus shown in FIG. 4 and 5 are graphs showing the surface voltages displayed on the display means provided in the electronic component package conveying apparatus shown in FIG. In the following, for convenience of explanation, the upper side in FIG. 1 (the same applies to FIGS. 6 and 8) is referred to as “upper” or “upper”, and the lower side is referred to as “lower” or “lower”.

図1に示す電子部品包装体搬送装置(以下単に「搬送装置」と言う)1は、電子部品包装体(以下単に「包装体」と言う)100を搬送する装置であり、本発明の電子部品包装体の搬送方法を実施することができる。   1 is an apparatus for transporting an electronic component package (hereinafter simply referred to as “packaging”) 100, and the electronic component of the present invention. A method for transporting the package can be implemented.

まず、搬送装置1について説明する前に、包装体100について説明する。包装体100は、包材101と、包材101に包装された複数の電子部品104とを有している。   First, the packaging body 100 will be described before describing the conveyance device 1. The package 100 includes a packaging material 101 and a plurality of electronic components 104 packaged in the packaging material 101.

包材101は、キャリアテープ(基材)102と、キャリアテープ102に剥離可能に接合されたカバーテープ(封止材)103で構成されている。   The packaging material 101 includes a carrier tape (base material) 102 and a cover tape (sealing material) 103 detachably joined to the carrier tape 102.

キャリアテープ102は、帯状をなす樹脂製の部材で構成されている。このキャリアテープ102の上面には、電子部品104を1つずつ収納する凹部102aが多数形成されている。これらの凹部102aは、キャリアテープ102の長手方向に沿って等間隔に配置されている。なお、キャリアテープ102の長手方向に沿って隣接する凹部102a同士の中心間距離pは、電子部品104の大きさにもよるが、例えば、0.5mm以上、100mm以下であるのが好ましく、1mm以上、16mm以下であるのがより好ましい。   The carrier tape 102 is made of a resin member having a belt shape. On the upper surface of the carrier tape 102, a large number of recesses 102a for storing the electronic components 104 one by one are formed. These recesses 102 a are arranged at equal intervals along the longitudinal direction of the carrier tape 102. The center-to-center distance p between the recesses 102a adjacent to each other in the longitudinal direction of the carrier tape 102 is preferably 0.5 mm or more and 100 mm or less, for example, although it depends on the size of the electronic component 104. As mentioned above, it is more preferable that it is 16 mm or less.

キャリアテープ102の上面には、帯状をなすカバーテープ103が接合されている。そして、この接合状態で、カバーテープ103は、各凹部102aを一括して上側から覆うことができる。これにより、各凹部102a内を電子部品104ごと封止することができる。   A cover tape 103 having a belt shape is joined to the upper surface of the carrier tape 102. And in this joining state, the cover tape 103 can cover each recessed part 102a collectively from the upper side. Thereby, the inside of each recessed part 102a can be sealed with the electronic component 104. FIG.

なお、キャリアテープ102とカバーテープ103との接合方法としては、特に限定されず、例えば、ヒートシールによる方法、接着(接着剤や溶媒による接着)による方法等を用いることができる。   The method for joining the carrier tape 102 and the cover tape 103 is not particularly limited, and for example, a method by heat sealing, a method by adhesion (adhesion with an adhesive or a solvent), or the like can be used.

また、カバーテープ103は、キャリアテープ102よりも薄いシート材であり、搬送装置1による搬送途中でキャリアテープ102から剥離される。これにより、各凹部102aからそれぞれ電子部品104を取り出すことができる。   The cover tape 103 is a sheet material thinner than the carrier tape 102 and is peeled off from the carrier tape 102 during the conveyance by the conveyance device 1. Thereby, the electronic component 104 can be taken out from each recess 102a.

キャリアテープ102、カバーテープ103は、それぞれ、樹脂材料で構成され、その樹脂材料としては、特に限定されないが、例えば、ポリスチレン、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリエステル(ポリエチレンテレフタレート等)、ポリカーボネート、ポリ塩化ビニル、ポリアミド、ポリアセタールのような各種樹脂(各種熱可塑性樹脂)が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を組み合せて用いることができる。このようなキャリアテープ102としては、住友ベークライト社製「スミライト(登録商標)CEL/FSL」が挙げられ、カバーテープ103としては、住友ベークライト社製「スミライト(登録商標)CSL−Z」が挙げられる。   Each of the carrier tape 102 and the cover tape 103 is made of a resin material, and the resin material is not particularly limited. For example, polystyrene, polyethylene, polypropylene, polyester (polyethylene terephthalate, etc.), polycarbonate, polyvinyl chloride, polyamide And various resins (various thermoplastic resins) such as polyacetal, and one or more of them can be used in combination. Examples of such carrier tape 102 include “Sumilite (registered trademark) CEL / FSL” manufactured by Sumitomo Bakelite, and examples of cover tape 103 include “Sumilite (registered trademark) CSL-Z” manufactured by Sumitomo Bakelite. .

電子部品104は、キャリアテープ102の凹部102aに収納される程度の大きさのものであり、例えば、半導体素子(半導体チップ)を備える半導体パッケージ等であるのが好ましい。   The electronic component 104 is large enough to be accommodated in the recess 102 a of the carrier tape 102, and is preferably a semiconductor package including a semiconductor element (semiconductor chip), for example.

次に、搬送装置1について説明する。図2に示すように、搬送装置1は、搬送手段2と、剥離手段3と、測定手段4と、表示手段5と、制御手段6とを備えている。   Next, the conveying apparatus 1 will be described. As shown in FIG. 2, the conveyance device 1 includes a conveyance unit 2, a peeling unit 3, a measurement unit 4, a display unit 5, and a control unit 6.

制御手段6は、搬送手段2、剥離手段3、測定手段4、表示手段5等と電気的に接続されており、これらの作動を制御する機能を有している。制御手段6は、CPU(Central Processing Unit)61と、メモリ62とを有している。   The control means 6 is electrically connected to the conveying means 2, the peeling means 3, the measuring means 4, the display means 5, and the like, and has a function of controlling these operations. The control means 6 has a CPU (Central Processing Unit) 61 and a memory 62.

CPU61は、樹脂フィルム20に孔加工を施すための処理等の各種処理用のプログラムを実行することができる。   The CPU 61 can execute programs for various processes such as a process for performing hole processing on the resin film 20.

メモリ62は、例えばフラッシュメモリであり、各種プログラム等を記憶することができる。   The memory 62 is a flash memory, for example, and can store various programs.

表示手段5は、例えば、搬送装置1の正面に配置され、液晶パネルを有するディスプレイである。この表示手段5により、搬送装置1を操作するオペレータが入力した入力情報や、測定手段4による測定結果(出力情報)等の各種情報を表示することができる。   The display means 5 is a display which has a liquid crystal panel, for example, is disposed in front of the transport device 1. By this display means 5, it is possible to display various information such as input information input by an operator who operates the transport device 1 and measurement results (output information) by the measurement means 4.

図1に示すように、搬送手段2は、包装体100を搬送する機構である。この搬送手段2は、駆動ローラ21と、従動ローラ(図示せず)と、複数のアイドラ22と、無端ベルト23とを有している。なお、本実施形態では、包装体100の搬送方向は水平方向となっている。   As shown in FIG. 1, the transport unit 2 is a mechanism that transports the package 100. The transport unit 2 includes a driving roller 21, a driven roller (not shown), a plurality of idlers 22, and an endless belt 23. In the present embodiment, the transport direction of the package 100 is a horizontal direction.

駆動ローラ21は、モータ24と接続されており、当該モータ24を駆動源として回転することができる。   The drive roller 21 is connected to a motor 24 and can be rotated using the motor 24 as a drive source.

この駆動ローラ21に対して包装体100の搬送方向上流側、すなわち、図1中の左側には、従動ローラが離間して配置されている。そして、無端ベルト23が駆動ローラ21と従動ローラとに掛け回されている。駆動ローラ21が回転すると、この回転力が無端ベルト23を介して従動ローラに伝達される。これにより、無端ベルト23上に包装体100を載置しつつ、搬送元から搬送先に確実に搬送することができる。なお、「搬送元」では、未開封状態の包装体100が無端ベルト23上に供給、載置され、「搬送先」では、カバーテープ103が剥離されて、包装体100が開封状態となる。   A driven roller is spaced from the drive roller 21 on the upstream side in the transport direction of the package 100, that is, on the left side in FIG. An endless belt 23 is wound around the driving roller 21 and the driven roller. When the drive roller 21 rotates, this rotational force is transmitted to the driven roller via the endless belt 23. Thereby, it can convey reliably from a conveyance source to a conveyance destination, mounting the package 100 on the endless belt 23. FIG. At the “conveyance source”, the unopened package 100 is supplied and placed on the endless belt 23, and at the “conveyance destination”, the cover tape 103 is peeled off and the package 100 is opened.

また、駆動ローラ21と従動ローラとの間には、アイドラ22が間隔をおいて配置されている。これらのアイドラ22により、包装体100を無端ベルト23を介して下側から支持することができる。これにより、包装体100を安定して搬送することができる。   Further, an idler 22 is disposed between the driving roller 21 and the driven roller with an interval. With these idlers 22, the package 100 can be supported from below via the endless belt 23. Thereby, the package 100 can be conveyed stably.

剥離手段3は、キャリアテープ102からカバーテープ103を剥離する機構である。この剥離により、包装体100が開封されることとなる。剥離手段3は、剥離ローラ(第1のローラ)31と、巻取りローラ(第2のローラ)32とを有している。   The peeling means 3 is a mechanism for peeling the cover tape 103 from the carrier tape 102. By this peeling, the package 100 is opened. The peeling means 3 includes a peeling roller (first roller) 31 and a winding roller (second roller) 32.

剥離ローラ31は、カバーテープ103に対する剥離を開始するものである。剥離ローラ31は、キャリアテープ102にカバーテープ103をその上方から押し付けつつ回転することができる。これにより、カバーテープ103は、その長手方向の途中が剥離ローラ31に巻き付けられて、当該剥離ローラ31の上方にある巻取りローラ32に向かって方向転換させられる。この方向転換により、カバーテープ103を容易かつ確実に剥離することができる。   The peeling roller 31 starts peeling from the cover tape 103. The peeling roller 31 can rotate while pressing the cover tape 103 against the carrier tape 102 from above. As a result, the cover tape 103 is wound around the peeling roller 31 in the middle of the longitudinal direction, and is turned toward the winding roller 32 above the peeling roller 31. By this change of direction, the cover tape 103 can be easily and reliably peeled off.

そして、この剥離により包装体100が開封され、その後、キャリアテープ102の凹部102aから電子部品104を取り出すことができる。   And the package 100 is opened by this peeling, and the electronic component 104 can be taken out from the recessed part 102a of the carrier tape 102 after that.

なお、剥離速度としては、特に限定されず、例えば、1秒当たり、0.4mm以上、200mm以下の範囲で剥がすのが好ましく、20mm以上、160mm以下の範囲で剥がすのがより好ましい。   In addition, it does not specifically limit as peeling speed, For example, it is preferable to peel in the range of 0.4 mm or more and 200 mm or less per second, and it is more preferable to peel in the range of 20 mm or more and 160 mm or less.

また、剥離ローラ31の無端ベルト23を介して反対側には、複数のアイドラ22のうちの1つのアイドラ22(図1中のアイドラ22a)が配置されている。このアイドラ22aにより、剥離ローラ31のカバーテープ103に対する押圧力をカバーテープ103ごと受けることができ、よって、カバーテープ103の剥離を安定して行なうことができる。   Further, one idler 22 (the idler 22a in FIG. 1) of the plurality of idlers 22 is disposed on the opposite side of the peeling roller 31 via the endless belt 23. By this idler 22a, the pressing force of the peeling roller 31 against the cover tape 103 can be received together with the cover tape 103, so that the cover tape 103 can be peeled stably.

剥離ローラ31の鉛直上方には、巻取りローラ32が配置されている。巻取りローラ32は、剥離ローラ31で剥離されたカバーテープ103を巻き取るものである。この巻取りローラ32は、モータ33と接続されており、当該モータ33を駆動源として回転することができる。この回転により、カバーテープ103を確実に巻き取ることができる。   A winding roller 32 is disposed vertically above the peeling roller 31. The winding roller 32 winds the cover tape 103 peeled off by the peeling roller 31. The take-up roller 32 is connected to a motor 33 and can be rotated using the motor 33 as a drive source. By this rotation, the cover tape 103 can be reliably wound.

なお、搬送手段2が作動するタイミングと、剥離手段3が作動するタイミングとは、同期しており、包装体100の搬送速度と、カバーテープ103の巻取り速度も同じ大きさとなっている。   In addition, the timing at which the transport unit 2 operates and the timing at which the peeling unit 3 operates are synchronized, and the transport speed of the package 100 and the winding speed of the cover tape 103 are the same.

さて、カバーテープ103をキャリアテープ102から剥離したときに静電気が生じる。そして、この静電気の程度によっては、当該静電気の影響を受けて未使用状態の電子部品104が不良品となることがある。搬送装置1では、剥離時に生じた静電気がどの程度の大きさであるのかを測定手段4によって測定することができる。   Now, when the cover tape 103 is peeled off from the carrier tape 102, static electricity is generated. Depending on the level of static electricity, the unused electronic component 104 may be defective due to the influence of the static electricity. In the transfer device 1, it is possible to measure the magnitude of the static electricity generated at the time of peeling by the measuring unit 4.

図1に示すように、測定手段4は、プローブ(第1のプローブ)41Aを有している。また、図3に示すように、測定手段4は、本体部(制御部)42も有している。   As shown in FIG. 1, the measuring means 4 has a probe (first probe) 41A. As shown in FIG. 3, the measuring means 4 also has a main body part (control part) 42.

プローブ41Aは、カバーテープ103のキャリアテープ102から剥離された剥離部(封止材側剥離部)103aに、搬送方向下流側から近接して配置されている。これにより、プローブ41Aは、カバーテープ103がキャリアテープ102から剥離されて包装体100が開封された直後に、剥離部103aとの間で電位差を生じることとなり、当該剥離部103aの表面電位を測定することができる。   The probe 41A is disposed close to the peeling portion (sealing material side peeling portion) 103a peeled from the carrier tape 102 of the cover tape 103 from the downstream side in the transport direction. Accordingly, the probe 41A generates a potential difference with the peeling portion 103a immediately after the cover tape 103 is peeled from the carrier tape 102 and the package 100 is opened, and the surface potential of the peeling portion 103a is measured. can do.

測定手段4としては、特に限定されず、例えば、図3に示す構成のもの(トレック・ジャパン社製「表面電位計 MODEL 541A−1」)を用いることができる。図3に示すように、プローブ41Aは、センサ電極411と、音叉412と、アンプ413とを有している。本体部42は、増幅器421と、積分器422と、高圧発生器423と、発振器424と、同期検波器425と、インピータンス整合回路426とを有している。   The measuring means 4 is not particularly limited, and for example, the one shown in FIG. 3 (“Surface Potential Meter MODEL 541A-1” manufactured by Trek Japan Co., Ltd.) can be used. As shown in FIG. 3, the probe 41 </ b> A includes a sensor electrode 411, a tuning fork 412, and an amplifier 413. The main body 42 includes an amplifier 421, an integrator 422, a high voltage generator 423, an oscillator 424, a synchronous detector 425, and an impedance matching circuit 426.

測定手段4の動作原理としては、まず、センサ電極411が、剥離部103aに近接した状態で当該剥離部103aと間に静電容量cが生じる。この静電容量cは、音叉412によって変化する。この変化により、センサ電極411には、表面電位を交流変調した信号が誘起される。交流信号は、アンプ413と、増幅器421とによって増幅される。この増幅された信号と、音叉412から発振器424を経由した信号とを同期検波器425で同期検波することにより、出力信号が得られる。そして、出力信号を積分器422、高圧発生器423に順に入力して、高電位を発生させ、プローブ41Aにフィードバックする。これにより、プローブ41Aの電位が上昇し、やがて剥離部103aと同電位になる。プローブ41Aの電位が剥離部103aと同電位になった状態では、静電容量cが打ち消される。このとき電圧を分圧し、インピータンス整合回路426で出力インピーダンスとして出力することができる。   As an operation principle of the measuring means 4, first, a capacitance c is generated between the sensor electrode 411 and the peeling portion 103a in a state where the sensor electrode 411 is close to the peeling portion 103a. This capacitance c varies with the tuning fork 412. Due to this change, a signal obtained by alternating-modulating the surface potential is induced in the sensor electrode 411. The AC signal is amplified by the amplifier 413 and the amplifier 421. An output signal is obtained by synchronously detecting the amplified signal and the signal from the tuning fork 412 via the oscillator 424 by the synchronous detector 425. Then, the output signal is sequentially input to the integrator 422 and the high voltage generator 423 to generate a high potential and feed back to the probe 41A. As a result, the potential of the probe 41A increases and eventually becomes the same potential as that of the peeling portion 103a. In a state where the potential of the probe 41A is the same as that of the peeling portion 103a, the capacitance c is canceled. At this time, the voltage can be divided and output as output impedance by the impedance matching circuit 426.

以上のような構成の測定手段4により、剥離部103aの表面電位を正確かつ確実に測定することができる。そして、例えば、測定された表面電位が閾値未満であれば、そこでの電子部品104は、「良品」のままであるとみなし(または予想され)、測定された表面電位が閾値以上であれば、そこでの電子部品104は、「不良品」であるとみなすことができる(または予想される)。「不良品」とみなされた電子部品104は、破棄される。   With the measuring means 4 configured as described above, the surface potential of the peeling portion 103a can be accurately and reliably measured. And, for example, if the measured surface potential is less than the threshold value, the electronic component 104 is regarded as being “good” (or expected), and if the measured surface potential is equal to or greater than the threshold value, The electronic component 104 there can be considered (or expected) to be a “defective product”. The electronic component 104 regarded as “defective” is discarded.

このように、測定手段4で測定された表面電位を電子部品104の良・不良を判断する判断基準とすることができる。これにより、包装体100を開封した後の電子部品104に対して、静電気による影響が防止または抑制されていることを確認して、電子部品104の品質を保証することができる。   As described above, the surface potential measured by the measuring unit 4 can be used as a criterion for judging whether the electronic component 104 is good or bad. Thereby, it can be confirmed that the influence of static electricity is prevented or suppressed on the electronic component 104 after the package 100 is opened, and the quality of the electronic component 104 can be guaranteed.

また、その他、開封後の電子部品104を取り出す際に吸引装置を用いてその取り出しを行なう場合、測定された表面電位の大小に応じて、吸引装置の吸引力を調整することができる。表面電位が「大」の場合、吸引力を増加させれば、電子部品104をキャリアテープ102から確実に引き上げることができる。その反対に、表面電位が「小」の場合、吸引力を減少させても電子部品104をキャリアテープ102から確実に引き上げることができ、吸引装置の省電力化に寄与する。   In addition, when the electronic device 104 after opening is taken out using the suction device, the suction force of the suction device can be adjusted according to the measured surface potential. When the surface potential is “large”, the electronic component 104 can be reliably lifted from the carrier tape 102 by increasing the suction force. On the other hand, when the surface potential is “small”, the electronic component 104 can be reliably pulled up from the carrier tape 102 even if the suction force is reduced, which contributes to power saving of the suction device.

なお、表面電位は、キャリアテープ102の構成材料とカバーテープ103の構成材料との組み合わせによっても変わる。   Note that the surface potential also varies depending on the combination of the constituent material of the carrier tape 102 and the constituent material of the cover tape 103.

搬送装置1では、搬送手段2は、包装体100を連続的に搬送してもよいが、搬送と停止とを繰り返す間欠的な搬送が好ましい。この場合、キャリアテープ102の凹部102a同士の中心間距離p分だけ搬送したら、一旦停止し、その間に表面電位を測定することができる。このような間欠搬送により、1つの電子部品104を取り出すためにカバーテープ103を1回剥離するごとに、当該剥離された剥離部103aの表面電位を安定してより確実に測定することができる。図4、図5には、一例として、剥離部103a、1つ当たりに、30000点の測定点を設定して、各測定点での表面電位がどの程度の大きさとなっているのかを示すグラフが描かれている。そして、例えば、各測定点での表面電位の平均値を剥離部103aでの表面電位として用いることができたり、各測定点での表面電位のうちの最大値となった表面電位を剥離部103aでの表面電位として用いることができる。なお、グラフは、表示手段5で表示される。   In the transport apparatus 1, the transport unit 2 may transport the package 100 continuously, but intermittent transport that repeats transport and stop is preferable. In this case, when the carrier tape 102 is conveyed by the distance p between the centers of the recesses 102a, the carrier tape 102 is stopped once and the surface potential can be measured during that time. By such intermittent conveyance, every time the cover tape 103 is peeled once in order to take out one electronic component 104, the surface potential of the peeled peeling portion 103a can be stably and reliably measured. 4 and 5, as an example, a graph showing how large the surface potential is at each measurement point by setting 30000 measurement points for each peeling portion 103a. Is drawn. For example, the average value of the surface potential at each measurement point can be used as the surface potential at the peeling portion 103a, or the surface potential that becomes the maximum value of the surface potential at each measurement point can be used as the peeling portion 103a. It can be used as the surface potential at The graph is displayed by the display means 5.

<第2実施形態>
図6は、本発明の電子部品包装体搬送装置の第2実施形態を示す断面側面図である。図7は、図6に示す電子部品包装体搬送装置が備える表示手段に表示された表面電圧を示すグラフである。
Second Embodiment
FIG. 6 is a sectional side view showing a second embodiment of the electronic component package conveying apparatus of the present invention. FIG. 7 is a graph showing the surface voltage displayed on the display means included in the electronic component package conveying apparatus shown in FIG.

以下、これらの図を参照して本発明の電子部品包装体搬送装置および電子部品包装体の搬送方法の第2実施形態について説明するが、前述した実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項はその説明を省略する。   Hereinafter, the second embodiment of the electronic component package transport apparatus and the electronic component package transport method of the present invention will be described with reference to these drawings. Description of similar matters is omitted.

本実施形態は、測定手段の構成が異なること以外は前記第1実施形態と同様である。
図6に示すように、本実施形態では、測定手段4は、プローブ41Aの他に、プローブ41Aと同様の内部構成を有するプローブ(補助プローブ)41Bを有している。
This embodiment is the same as the first embodiment except that the configuration of the measuring means is different.
As shown in FIG. 6, in this embodiment, the measurement means 4 has a probe (auxiliary probe) 41B having the same internal configuration as the probe 41A in addition to the probe 41A.

プローブ41Bは、キャリアテープ102のカバーテープ103が剥離された剥離部(基材側剥離部)102bに、鉛直上方から近接して配置されている。これにより、プローブ41Bは、カバーテープ103がキャリアテープ102から剥離されて包装体100が開封された直後に、剥離部102bとの間で電位差を生じることとなり、当該剥離部102bの表面電位を測定することができる。   The probe 41B is disposed close to the peeling portion (base material side peeling portion) 102b from which the cover tape 103 of the carrier tape 102 has been peeled, from vertically above. As a result, the probe 41B generates a potential difference with the peeling portion 102b immediately after the cover tape 103 is peeled from the carrier tape 102 and the package 100 is opened, and the surface potential of the peeling portion 102b is measured. can do.

そして、表示手段5には、測定結果として、図7に示すグラフが表示される。図7では、プローブ41Aから測定された剥離部103aの表面電位(図中「E1」で示す)と、プローブ41Bから測定された剥離部102bの表面電位(図中「E2」で示す)と、測定手段4の本体部42で演算されたこれらの平均電位(図中「E3」で示す)とが挙げられている。例えば、この平均電位を電子部品104の良・不良を判断する判断基準とすることができ、よって、正確な良否判断を行なうことができる。   And the graph shown in FIG. 7 is displayed on the display means 5 as a measurement result. In FIG. 7, the surface potential of the peeling portion 103a measured from the probe 41A (indicated by “E1” in the drawing), the surface potential of the peeling portion 102b measured from the probe 41B (indicated by “E2” in the drawing), These average potentials (indicated by “E3” in the figure) calculated by the main body 42 of the measuring means 4 are mentioned. For example, this average potential can be used as a judgment criterion for judging whether the electronic component 104 is good or bad, and therefore it is possible to make an accurate quality judgment.

<第3実施形態>
図8は、本発明の電子部品包装体搬送装置の第3実施形態を示す断面側面図である。図9および図10は、それぞれ、図8に示す電子部品包装体搬送装置が備える表示手段に表示された表面電圧を示すグラフである。
<Third Embodiment>
FIG. 8 is a cross-sectional side view showing a third embodiment of the electronic component package conveying apparatus of the present invention. 9 and 10 are graphs showing the surface voltages displayed on the display means provided in the electronic component package transport apparatus shown in FIG. 8, respectively.

以下、これらの図を参照して本発明の電子部品包装体搬送装置および電子部品包装体の搬送方法の第3実施形態について説明するが、前述した実施形態との相違点を中心に説明し、同様の事項はその説明を省略する。   Hereinafter, a third embodiment of the electronic component package transport apparatus and the electronic component package transport method of the present invention will be described with reference to these drawings. The third embodiment of the present invention will be described with a focus on differences from the above-described embodiments. Description of similar matters is omitted.

本実施形態は、測定手段の構成が異なること以外は前記第1実施形態と同様である。
図8に示すように、本実施形態では、測定手段4は、プローブ41Aの他に、プローブ41Aと同様の内部構成を有するプローブ(補助プローブ)41Cを有している。
This embodiment is the same as the first embodiment except that the configuration of the measuring means is different.
As shown in FIG. 8, in this embodiment, the measurement means 4 has a probe (auxiliary probe) 41C having the same internal configuration as the probe 41A in addition to the probe 41A.

プローブ41Cは、剥離ローラ31よりも搬送方向上流側近傍で、キャリアテープ102から剥離される以前のカバーテープ103に、鉛直上方から近接して配置されている。これにより、プローブ41Cは、未開封状態でキャリアテープ102から剥離される以前のカバーテープ103との間で電位差を生じることとなり、当該カバーテープ103の表面電位を測定することができる。   The probe 41 </ b> C is disposed in the vicinity of the cover tape 103 before being peeled from the carrier tape 102 in the vicinity of the upstream side in the transport direction from the peeling roller 31, close to the cover tape 103. Accordingly, the probe 41C generates a potential difference with the cover tape 103 before being peeled off from the carrier tape 102 in an unopened state, and the surface potential of the cover tape 103 can be measured.

そして、表示手段5には、測定結果として、図9や図10に示すグラフが表示される。図9では、プローブ41Cから測定された剥離前のカバーテープ103の表面電位(図中「E4」で示す)と、プローブ41Aから測定された剥離部103aの表面電位(図中「E5」で示す)とが挙げられている。図10では、前者の表面電位(E4)と後者の表面電位(E5)との差(オフセット値(図中「ΔE」で示す))が挙げられている。例えば、このオフセット値を電子部品104の良・不良を判断する判断基準とすることができ、よって、正確な良否判断を行なうことができる。   And the graph shown in FIG.9 and FIG.10 is displayed on the display means 5 as a measurement result. In FIG. 9, the surface potential of the cover tape 103 before peeling measured from the probe 41C (indicated by “E4” in the figure) and the surface potential of the peeling portion 103a measured from the probe 41A (indicated by “E5” in the figure). ). In FIG. 10, the difference (offset value (indicated by “ΔE” in the figure)) between the former surface potential (E4) and the latter surface potential (E5) is given. For example, this offset value can be used as a judgment criterion for judging whether the electronic component 104 is good or bad, and therefore it is possible to make an accurate quality judgment.

以上、本発明の電子部品包装体搬送装置および電子部品包装体の搬送方法を図示の実施形態について説明したが、本発明は、これに限定されるものではなく、電子部品包装体搬送装置を構成する各部は、同様の機能を発揮し得る任意の構成のものと置換することができる。また、任意の構成物が付加されていてもよい。   As mentioned above, although the electronic component package transport apparatus and the electronic component package transport method of the present invention have been described with respect to the illustrated embodiment, the present invention is not limited to this and constitutes an electronic component package transport apparatus. Each part to be replaced can be replaced with one having any configuration capable of performing the same function. Moreover, arbitrary components may be added.

また、本発明の電子部品包装体搬送装置および電子部品包装体の搬送方法は、前記各実施形態のうちの、任意の2以上の構成(特徴)を組み合わせたものであってもよい。   Moreover, the electronic component package transport apparatus and electronic component package transport method of the present invention may be a combination of any two or more configurations (features) of the above embodiments.

また、剥離ローラは、包装体の厚さに応じて上下に移動可能に支持され、その移動先で位置決めがなされるよう構成されていてもよい。   Further, the peeling roller may be supported so as to be movable up and down in accordance with the thickness of the package, and may be configured to be positioned at the moving destination.

また、搬送手段による搬送は、前記各実施形態ではベルトを用いた搬送であるが、これに限定されず、例えばキャリアテープに予めその長手方向に沿って多数個の孔が形成されている場合には、当該各孔に係合しつつ回転するスプロケット(歯車)を用いた搬送であってもよい。   Further, the transport by the transport means is transport using a belt in each of the above embodiments, but is not limited to this. For example, when a plurality of holes are formed in advance along the longitudinal direction of the carrier tape. May be transport using sprockets (gears) that rotate while engaging the holes.

1 電子部品包装体搬送装置(搬送装置)
2 搬送手段
21 駆動ローラ
22、22a アイドラ
23 無端ベルト
24 モータ
3 剥離手段
31 剥離ローラ(第1のローラ)
32 巻取りローラ(第2のローラ)
33 モータ
4 測定手段
41A プローブ(第1のプローブ)
41B プローブ(補助プローブ)
41C プローブ(補助プローブ)
411 センサ電極
412 音叉
413 アンプ
42 本体部(制御部)
421 増幅器
422 積分器
423 高圧発生器
424 発振器
425 同期検波器
426 インピータンス整合回路
5 表示手段
6 制御手段
61 CPU(Central Processing Unit)
62 メモリ
20 メモリ
100 電子部品包装体(包装体)
101 包材
102 キャリアテープ(基材)
102a 凹部
102b 剥離部(基材側剥離部)
103 カバーテープ(封止材)
103a 剥離部(封止材側剥離部)
104 電子部品
c 静電容量
p 中心間距離
1 Electronic parts packaging transport device (transport device)
2 Conveying means 21 Drive rollers 22, 22a Idler 23 Endless belt 24 Motor 3 Peeling means 31 Peeling roller (first roller)
32 Winding roller (second roller)
33 motor 4 measuring means 41A probe (first probe)
41B probe (auxiliary probe)
41C probe (auxiliary probe)
411 Sensor electrode 412 Tuning fork 413 Amplifier 42 Main unit (control unit)
421 Amplifier 422 Integrator 423 High voltage generator 424 Oscillator 425 Synchronous detector 426 Impedance matching circuit 5 Display means 6 Control means 61 CPU (Central Processing Unit)
62 Memory 20 Memory 100 Electronic component packaging (packaging)
101 Packaging material 102 Carrier tape (base material)
102a Concave part 102b Peeling part (base material side peeling part)
103 Cover tape (sealing material)
103a peeling part (sealing material side peeling part)
104 Electronic parts c Capacitance p Center-to-center distance

Claims (10)

電子部品と、該電子部品を包装する包材とを有する電子部品包装体を搬送する電子部品包装体搬送装置であって、
前記包材は、前記電子部品を収納する凹部を少なくとも1つ有する基材と、前記基材に剥離可能に接合され、その状態で前記凹部を該凹部内の前記電子部品ごと封止するシート状をなす封止材とを有するものであり、
当該電子部品包装体搬送装置は、未開封状態の前記電子部品包装体を搬送元から搬送先に搬送する搬送手段と、
前記搬送先で前記封止材を前記基材から剥離して、前記電子部品包装体を開封する剥離手段と、
前記電子部品包装体の開封後、前記封止材の前記基材から剥離された剥離部の表面電位を測定する機能を有する測定手段とを備え
前記測定手段は、前記基材の前記封止材が剥離された基材側剥離部の表面電位を測定する機能を有することを特徴とする電子部品包装体搬送装置。
An electronic component package transport apparatus for transporting an electronic component package having an electronic component and a packaging material for packaging the electronic component,
The packaging material is a sheet having at least one recess for storing the electronic component, and a sheet-like shape that is detachably bonded to the substrate and seals the recess together with the electronic component in the recess. And a sealing material forming
The electronic component package transport apparatus includes a transport unit that transports the unopened electronic component package from a transport source to a transport destination;
Peeling means for peeling the sealing material from the base material at the transport destination and opening the electronic component package;
After opening of the electronic component package, and a measuring means having a function for measuring the surface potential of the peel portion peeled from the base material of the sealing material,
The electronic component package transport apparatus according to claim 1, wherein the measuring means has a function of measuring a surface potential of a base material side peeling portion where the sealing material of the base material is peeled off .
前記測定手段は、前記基材側剥離部に近接して配置され、該基材側剥離部との間で電位差を生じる補助プローブを有する請求項1に記載の電子部品包装体搬送装置。 2. The electronic component package conveying apparatus according to claim 1 , wherein the measurement unit includes an auxiliary probe that is disposed in the vicinity of the base material side peeling portion and generates a potential difference with the base material side peeling portion. 電子部品と、該電子部品を包装する包材とを有する電子部品包装体を搬送する電子部品包装体搬送装置であって、
前記包材は、前記電子部品を収納する凹部を少なくとも1つ有する基材と、前記基材に剥離可能に接合され、その状態で前記凹部を該凹部内の前記電子部品ごと封止するシート状をなす封止材とを有するものであり、
当該電子部品包装体搬送装置は、未開封状態の前記電子部品包装体を搬送元から搬送先に搬送する搬送手段と、
前記搬送先で前記封止材を前記基材から剥離して、前記電子部品包装体を開封する剥離手段と、
前記電子部品包装体の開封後、前記封止材の前記基材から剥離された剥離部の表面電位を測定する機能を有する測定手段とを備え、
前記測定手段は、前記未開封状態で前記封止材の前記基材から剥離される以前の表面電位を測定する機能を有することを特徴とする電子部品包装体搬送装置。
An electronic component package transport apparatus for transporting an electronic component package having an electronic component and a packaging material for packaging the electronic component,
The packaging material is a sheet having at least one recess for storing the electronic component, and a sheet-like shape that is detachably bonded to the substrate and seals the recess together with the electronic component in the recess. And a sealing material forming
The electronic component package transport apparatus includes a transport unit that transports the unopened electronic component package from a transport source to a transport destination;
Peeling means for peeling the sealing material from the base material at the transport destination and opening the electronic component package;
A measuring means having a function of measuring the surface potential of the peeled portion peeled from the base material of the sealing material after opening the electronic component package;
The electronic component package transport apparatus according to claim 1, wherein the measuring means has a function of measuring a surface potential of the sealing material before being peeled from the base material in the unopened state .
前記測定手段は、前記未開封状態での前記封止材に近接して配置され、該封止材との間で電位差を生じる補助プローブを有する請求項3に記載の電子部品包装体搬送装置。 The electronic component package transport apparatus according to claim 3 , wherein the measuring unit includes an auxiliary probe that is disposed in proximity to the sealing material in the unopened state and generates a potential difference with the sealing material. 前記測定手段は、前記剥離部に近接して配置され、該剥離部との間で電位差を生じるプローブを有する請求項1ないし4のいずれか1項に記載の電子部品包装体搬送装置。 5. The electronic component package conveying apparatus according to claim 1 , wherein the measuring unit includes a probe that is disposed in the vicinity of the peeling portion and generates a potential difference with the peeling portion. 前記剥離手段は、前記基材に前記封止材を押し付けつつ回転して、該封止材に対する剥離を開始する剥離ローラと、剥離された前記封止材を巻き取る巻取りローラとを有する請求項1ないし5のいずれか1項に記載の電子部品包装体搬送装置。 The stripping means is rotated while pressing the sealant to the substrate, wherein with the flaking roller to initiate peel to sealing material, and a take-up roller for taking up said sealing member is peeled off Item 6. The electronic component package conveying apparatus according to any one of Items 1 to 5 . 前記基材は、帯状をなし、その長手方向に沿って前記凹部が複数配置されており、
前記搬送手段は、前記長手方向に隣接する前記凹部同士の中心間距離分、間欠的に搬送する請求項1ないし6のいずれか1項に記載の電子部品包装体搬送装置。
The base material has a strip shape, and a plurality of the concave portions are arranged along the longitudinal direction thereof,
The electronic component package transport apparatus according to any one of claims 1 to 6 , wherein the transport means intermittently transports the center-to-center distance between the recesses adjacent in the longitudinal direction.
前記搬送手段は、無端ベルトを有し、該無端ベルト上に前記電子部品包装体を載置して搬送するよう構成されている請求項1ないし7のいずれか1項に記載の電子部品包装体搬送装置。 The electronic component package according to any one of claims 1 to 7 , wherein the conveying means has an endless belt, and the electronic component package is placed on the endless belt and conveyed. Conveying device. 電子部品と、該電子部品を包装する包材とを有する電子部品包装体を搬送する方法であって、
前記包材は、前記電子部品を収納する凹部を少なくとも1つ有する基材と、前記基材に剥離可能に接合され、その状態で前記凹部を該凹部内の前記電子部品ごと封止するシート状をなす封止材とを有するものであり、
当該電子部品包装体の搬送方法は、未開封状態の前記電子部品包装体を搬送元から搬送先に搬送するとともに、該搬送先で前記封止材を前記基材から剥離して、前記電子部品包装体を開封し、その開封後、前記封止材の前記基材から剥離された部分の表面電位を測定するとともに、前記基材の前記封止材が剥離された部分の表面電位を測定することを特徴とする電子部品包装体の搬送方法。
A method of transporting an electronic component package having an electronic component and a packaging material for packaging the electronic component,
The packaging material is a sheet having at least one recess for storing the electronic component, and a sheet-like shape that is detachably bonded to the substrate and seals the recess together with the electronic component in the recess. And a sealing material forming
The method for transporting the electronic component package includes transporting the unopened electronic component package from a transport source to a transport destination, and peeling the sealing material from the base material at the transport destination. The package is opened, and after opening, the surface potential of the part of the sealing material peeled from the base material is measured, and the surface potential of the part of the base material from which the sealing material is peeled is measured. A method for transporting a packaged electronic component, wherein:
電子部品と、該電子部品を包装する包材とを有する電子部品包装体を搬送する方法であって、
前記包材は、前記電子部品を収納する凹部を少なくとも1つ有する基材と、前記基材に剥離可能に接合され、その状態で前記凹部を該凹部内の前記電子部品ごと封止するシート状をなす封止材とを有するものであり、
当該電子部品包装体の搬送方法は、未開封状態の前記電子部品包装体を搬送元から搬送先に搬送し、かつ、前記未開封状態で前記封止材の前記基材から剥離される以前の表面電位を測定するとともに、該搬送先で前記封止材を前記基材から剥離して、前記電子部品包装体を開封し、その開封後、前記封止材の前記基材から剥離された部分の表面電位を測定することを特徴とする電子部品包装体の搬送方法。
A method of transporting an electronic component package having an electronic component and a packaging material for packaging the electronic component,
The packaging material is a sheet having at least one recess for storing the electronic component, and a sheet-like shape that is detachably bonded to the substrate and seals the recess together with the electronic component in the recess. And a sealing material forming
The method for transporting the electronic component package includes transporting the unopened electronic component package from a transport source to a transport destination , and before peeling off the sealing material from the base material in the unopened state. The surface potential is measured, the sealing material is peeled off from the base material at the transport destination, the electronic component package is opened, and the part of the sealing material peeled off from the base material after the opening. A method for transporting a packaged electronic component, wherein the surface potential of the electronic component package is measured.
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