JP6082512B2 - 液冷一体型基板の製造方法 - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 80
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 22
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 12
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 90
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 90
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 35
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 22
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 18
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims description 18
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 15
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical group [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 238000005219 brazing Methods 0.000 claims description 15
- 229910000838 Al alloy Chemical group 0.000 claims description 14
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 claims description 8
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 19
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 13
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 12
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 10
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 10
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 7
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 5
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 5
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 5
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 4
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 description 4
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 3
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 2
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 1
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 230000005496 eutectics Effects 0.000 description 1
- 230000001747 exhibiting effect Effects 0.000 description 1
- 239000004519 grease Substances 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 description 1
- 238000009736 wetting Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/0201—Thermal arrangements, e.g. for cooling, heating or preventing overheating
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
- H01L23/373—Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
- H01L23/3735—Laminates or multilayers, e.g. direct bond copper ceramic substrates
-
- H—ELECTRICITY
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/46—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids
- H01L23/473—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements involving the transfer of heat by flowing fluids by flowing liquids
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
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- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/0306—Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/0058—Laminating printed circuit boards onto other substrates, e.g. metallic substrates
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
- Structure Of Printed Boards (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
- Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)
Description
t2/t1≧2・・・(1)
t2/t1≧2・・・(1)
また、この時の各値としては、t1が0.4〜3mmであり、t2が0.8〜6mmである。金属回路板15の高さt1と、金属ベース板20の高さt2の関係が上記(1)に示すような関係であることが望ましいのは、充分な過渡熱の放熱性を得ること、一体型基板の反りを抑制するためである。また、t1が0.4〜3mmであり、t2が0.8〜6mmであることが望ましいのは、充分な過渡熱の放熱性を得ること、一体型基板の反りを抑制するためである。なお、t1が0.4〜1.0mm、t2が0.8〜2mmであることがさらに好ましい。
t2/t1≧2・・・(1)
各値を、それぞれt1が0.4〜3mmであり、t2が0.8〜6mmであるとしたことにより、十分な放熱性を発揮する液冷一体型基板1が得られることとなる。
10 セラミックス基板
15 金属回路板
20 金属ベース板
30 放熱器
31 間隙部
33 ろう材層
35 仕切り板
38 流路
40 蓋部材
41 蓋部
45(45a、45b) 液循環ポート
Claims (2)
- セラミックス基板の一方の面にアルミニウムまたはアルミニウム合金からなる金属回路板が接合されると共に、他方の面にアルミニウムまたはアルミニウム合金からなる平板状の金属ベース板の一方の面が接合され、前記金属ベース板の他方の面には一体的に押出し成形された一つの押出し材で構成される液冷式の放熱器が接合された液冷一体型基板の製造方法であって、
前記放熱器、前記金属ベース板および前記金属回路板は、熱伝導率が170W/mK以上であるアルミニウムまたはアルミニウム合金からなり、
前記放熱器は、中空押出し材の内部に互いに平行な複数の仕切り板と、該複数の仕切り板と直交する仕切り板を備えており、2つの液循環ポートを備える蓋部材が前記中空押出し材の一方の開口部を覆うように設けられ、液循環ポートを備えない蓋部材が前記中空押出し材の他方の開口部を覆うように設けられ、
前記金属回路板および前記金属ベース板と前記セラミックス基板との接合は溶湯接合法によって行われ、
前記金属ベース板の放熱器接合側の面の表面粗さを、Ra1.0〜2.0μmとして、4枚の前記金属ベース板を1つの前記放熱器の天板の上面に配置し、4枚の前記金属ベース板と1つの前記放熱器との接合はろう接合法によって行われ、
前記金属回路板の表面粗さを、Ra0.3超え〜2.0μmとし、
前記金属回路板の厚さt1と前記金属ベース板の厚さt2の関係は次式(1)を満たす厚さに形成される、液冷一体型基板の製造方法。
t2/t1≧2・・・(1) - 前記金属回路板の厚さt1は0.4〜3mmであり、前記金属ベース板の厚さt2は0.8〜6mmである、請求項1に記載の液冷一体型基板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011004429A JP6082512B2 (ja) | 2010-01-12 | 2011-01-12 | 液冷一体型基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010003631 | 2010-01-12 | ||
JP2010003631 | 2010-01-12 | ||
JP2011004429A JP6082512B2 (ja) | 2010-01-12 | 2011-01-12 | 液冷一体型基板の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011166126A JP2011166126A (ja) | 2011-08-25 |
JP6082512B2 true JP6082512B2 (ja) | 2017-02-15 |
Family
ID=44304300
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011004430A Active JP5876654B2 (ja) | 2010-01-12 | 2011-01-12 | 液冷一体型基板の製造方法 |
JP2011004429A Active JP6082512B2 (ja) | 2010-01-12 | 2011-01-12 | 液冷一体型基板の製造方法 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011004430A Active JP5876654B2 (ja) | 2010-01-12 | 2011-01-12 | 液冷一体型基板の製造方法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9320129B2 (ja) |
EP (1) | EP2525637B1 (ja) |
JP (2) | JP5876654B2 (ja) |
KR (1) | KR101708964B1 (ja) |
CN (1) | CN102714930B (ja) |
RU (1) | RU2556020C2 (ja) |
WO (1) | WO2011087027A1 (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8754338B2 (en) * | 2011-05-28 | 2014-06-17 | Banpil Photonics, Inc. | On-chip interconnects with reduced capacitance and method of afbrication |
JP6012990B2 (ja) * | 2012-03-19 | 2016-10-25 | 日本軽金属株式会社 | 放熱器一体型基板の製造方法 |
JP5838949B2 (ja) * | 2012-10-17 | 2016-01-06 | 日本軽金属株式会社 | 複合型中空容器の製造方法及び複合型中空容器 |
JP6099453B2 (ja) * | 2012-11-28 | 2017-03-22 | Dowaメタルテック株式会社 | 電子部品搭載基板およびその製造方法 |
JP6524709B2 (ja) * | 2014-06-13 | 2019-06-05 | 日産自動車株式会社 | 半導体装置 |
JP6248841B2 (ja) * | 2014-07-16 | 2017-12-20 | 日本軽金属株式会社 | 液冷ジャケット及び液冷ジャケットの製造方法 |
JP6248842B2 (ja) * | 2014-07-16 | 2017-12-20 | 日本軽金属株式会社 | 液冷ジャケットの製造方法及び液冷ジャケット |
CN106537585B (zh) * | 2014-07-16 | 2019-03-01 | 日本轻金属株式会社 | 液体套及液冷套的制造方法 |
JP5935933B2 (ja) * | 2015-07-16 | 2016-06-15 | 日本軽金属株式会社 | 複合型中空容器の製造方法 |
IT201600129385A1 (it) * | 2016-12-21 | 2018-06-21 | Leonardo Spa | Sistema di raffreddamento passivo a fluido bifase, particolarmente per il raffreddamento di apparati elettronici, quali apparati avionici. |
CN110543069A (zh) * | 2018-05-28 | 2019-12-06 | 中强光电股份有限公司 | 液冷式散热器 |
JP7202213B2 (ja) * | 2019-02-22 | 2023-01-11 | Dowaメタルテック株式会社 | 金属-セラミックス接合基板およびその製造方法 |
CN111197857B (zh) * | 2020-02-17 | 2024-05-24 | 阜新瀚邦科技有限公司 | 高温型有机载体加热装置 |
CN116657780B (zh) * | 2023-06-08 | 2023-11-21 | 北京城建集团有限责任公司 | 一种电离辐射防护双层吊顶系统及其施工方法 |
Family Cites Families (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU737144A1 (ru) * | 1978-01-11 | 1980-05-30 | Предприятие П/Я А-1998 | Способ пайки деталей из разнородных материалов |
JP4472833B2 (ja) | 2000-04-24 | 2010-06-02 | 昭和電工株式会社 | ヒートシンクおよびその製造方法 |
JP3613759B2 (ja) | 2000-09-11 | 2005-01-26 | 同和鉱業株式会社 | 金属−セラミックス複合基板 |
JP4133170B2 (ja) * | 2002-09-27 | 2008-08-13 | Dowaホールディングス株式会社 | アルミニウム−セラミックス接合体 |
JP4485835B2 (ja) * | 2004-04-09 | 2010-06-23 | 古河スカイ株式会社 | 放熱器 |
RU2282956C1 (ru) | 2004-12-21 | 2006-08-27 | Александр Степанович Гынку | Радиатор |
JP2006240955A (ja) | 2005-03-07 | 2006-09-14 | Denki Kagaku Kogyo Kk | セラミック基板、セラミック回路基板及びそれを用いた電力制御部品。 |
JP4687541B2 (ja) * | 2005-04-21 | 2011-05-25 | 日本軽金属株式会社 | 液冷ジャケット |
WO2006115073A1 (ja) * | 2005-04-21 | 2006-11-02 | Nippon Light Metal Company, Ltd. | 液冷ジャケット |
JP4687706B2 (ja) | 2005-04-21 | 2011-05-25 | 日本軽金属株式会社 | 液冷ジャケット |
JP4600220B2 (ja) * | 2005-09-01 | 2010-12-15 | 三菱マテリアル株式会社 | 冷却器及びパワーモジュール |
JP4747284B2 (ja) | 2005-09-15 | 2011-08-17 | 三菱マテリアル株式会社 | 冷却シンク部付き絶縁回路基板 |
JP4710798B2 (ja) | 2006-11-01 | 2011-06-29 | 三菱マテリアル株式会社 | パワーモジュール用基板及びパワーモジュール用基板の製造方法並びにパワーモジュール |
JP2008218938A (ja) | 2007-03-08 | 2008-09-18 | Dowa Metaltech Kk | 金属−セラミックス接合基板 |
JP5028147B2 (ja) | 2007-05-29 | 2012-09-19 | 株式会社アライドマテリアル | 半導体装置用ヒートスプレッダとその製造方法 |
JP5119753B2 (ja) | 2007-06-11 | 2013-01-16 | 三菱マテリアル株式会社 | パワーモジュール用基板並びにパワーモジュール |
JP2009026957A (ja) * | 2007-07-19 | 2009-02-05 | Ngk Insulators Ltd | 絶縁フィン及びヒートシンク |
US20100258233A1 (en) * | 2007-11-06 | 2010-10-14 | Mitsubishi Materials Corporation | Ceramic substrate, method of manufacturing ceramic substrate, and method of manufacturing power module substrate |
JP5067187B2 (ja) * | 2007-11-06 | 2012-11-07 | 三菱マテリアル株式会社 | ヒートシンク付パワーモジュール用基板及びヒートシンク付パワーモジュール |
US8637777B2 (en) | 2008-03-17 | 2014-01-28 | Mitsubishi Materials Corporation | Power module substrate having heatsink, method for manufacturing the same, power module having heatsink, and power module substrate |
RU2373472C1 (ru) * | 2008-07-09 | 2009-11-20 | Александр Иванович Абросимов | Гравитационная тепловая труба |
-
2011
- 2011-01-12 EP EP11732897.1A patent/EP2525637B1/en active Active
- 2011-01-12 KR KR1020127018074A patent/KR101708964B1/ko not_active Application Discontinuation
- 2011-01-12 CN CN201180005829.5A patent/CN102714930B/zh active Active
- 2011-01-12 US US13/521,928 patent/US9320129B2/en active Active
- 2011-01-12 WO PCT/JP2011/050380 patent/WO2011087027A1/ja active Application Filing
- 2011-01-12 RU RU2012134381/07A patent/RU2556020C2/ru active
- 2011-01-12 JP JP2011004430A patent/JP5876654B2/ja active Active
- 2011-01-12 JP JP2011004429A patent/JP6082512B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2525637A1 (en) | 2012-11-21 |
CN102714930A (zh) | 2012-10-03 |
KR101708964B1 (ko) | 2017-02-21 |
RU2012134381A (ru) | 2014-02-20 |
EP2525637A4 (en) | 2015-06-24 |
KR20120129887A (ko) | 2012-11-28 |
EP2525637B1 (en) | 2020-10-28 |
JP2011166127A (ja) | 2011-08-25 |
CN102714930B (zh) | 2015-04-22 |
RU2556020C2 (ru) | 2015-07-10 |
WO2011087027A1 (ja) | 2011-07-21 |
JP5876654B2 (ja) | 2016-03-02 |
US20120305292A1 (en) | 2012-12-06 |
JP2011166126A (ja) | 2011-08-25 |
US9320129B2 (en) | 2016-04-19 |
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Date | Code | Title | Description |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20151224 |
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A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
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A521 | Request for written amendment filed |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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