JP6054805B2 - 基板洗浄装置 - Google Patents
基板洗浄装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6054805B2 JP6054805B2 JP2013092182A JP2013092182A JP6054805B2 JP 6054805 B2 JP6054805 B2 JP 6054805B2 JP 2013092182 A JP2013092182 A JP 2013092182A JP 2013092182 A JP2013092182 A JP 2013092182A JP 6054805 B2 JP6054805 B2 JP 6054805B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cleaning
- scrub
- substrate
- nozzle
- peripheral surface
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 title claims description 382
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 67
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 85
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 78
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 55
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 37
- 238000005406 washing Methods 0.000 claims description 13
- 238000005201 scrubbing Methods 0.000 claims description 8
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 claims description 5
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 96
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 77
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 17
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 13
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 11
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 5
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 4
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 4
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 4
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 description 3
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000003749 cleanliness Effects 0.000 description 2
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 2
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 2
- 229910001111 Fine metal Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000003595 mist Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000004745 nonwoven fabric Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 1
- 229910021642 ultra pure water Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012498 ultrapure water Substances 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67028—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
- H01L21/6704—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
- H01L21/67046—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing using mainly scrubbing means, e.g. brushes
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B11/00—Cleaning flexible or delicate articles by methods or apparatus specially adapted thereto
- B08B11/02—Devices for holding articles during cleaning
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67028—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
- H01L21/6704—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
- H01L21/67051—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing using mainly spraying means, e.g. nozzles
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
Description
本発明の好ましい態様は、前記洗浄ノズルは、前記スクラブ洗浄具の軸心に沿って配列された複数のスリットノズルから構成されていることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記洗浄流体は、洗浄液と高圧の気体との混合からなることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記洗浄流体は、高圧の洗浄液からなることを特徴とする。
本発明の他の態様は、基板を水平に保持して回転させる基板保持部と、前記基板の表面に摺接する円柱状のスクラブ洗浄具と、前記スクラブ洗浄具をその軸心まわりに回転させる回転機構と、前記スクラブ洗浄具を洗浄するセルフクリーニング機構とを備え、前記セルフクリーニング機構は、前記スクラブ洗浄具の外周面に沿った形状の内周面を有するクリーニング本体部と、前記スクラブ洗浄具の外周面と前記クリーニング本体部の内周面との間の隙間を通じて、洗浄流体を前記スクラブ洗浄具の外周面に向かって噴射する少なくとも1つの洗浄ノズルと、前記隙間から気体を吸引するための吸引流路とを備えたことを特徴とする基板洗浄装置である。
本発明の好ましい態様は、前記セルフクリーニング機構は、前記クリーニング本体部の内周面内に流体入口を有するドレインをさらに備えたことを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記スクラブ洗浄具は、前記基板の下面に摺接するように配置され、前記セルフクリーニング機構は、前記スクラブ洗浄具の下方に配置されていることを特徴とする。
本発明の好ましい態様は、前記スクラブ洗浄具を前記セルフクリーニング機構に搬送する搬送機構をさらに備え、前記スクラブ洗浄具は、前記基板の上面に摺接するように配置され、前記セルフクリーニング機構は、前記基板保持部に隣接して設置されていることを特徴とする。
図1は、研磨ユニット、洗浄ユニット、および乾燥ユニットを備えた研磨装置を示す図である。この研磨装置は、ウェーハ(基板)を研磨し、洗浄し、乾燥させる一連の工程を行うことができる装置である。図1に示すように、研磨装置は、略矩形状のハウジング2を備えており、ハウジング2の内部は隔壁2a,2bによってロード/アンロード部6と研磨部1と洗浄部8とに区画されている。研磨装置は、ウェーハ処理動作を制御する動作制御部10を有している。
2 ハウジング
6 ロード/アンロード部
8 洗浄部
10 動作制御部
12 フロントロード部
14 走行機構
16 搬送ロボット
20 研磨パッド
22A〜22D 研磨テーブル
24A〜24D トップリング
26A〜26D 研磨液供給ノズル
28A〜28D ドレッシングユニット
30A〜30D アトマイザ
31 トップリングアーム
40 第1リニアトランスポータ
42 第2リニアトランスポータ
44 リフタ
46 スイングトランスポータ
48 仮置き台
50 第1の搬送ロボット
52 一次洗浄ユニット
54 二次洗浄ユニット
56 乾燥ユニット
58 第2の搬送ロボット
71〜74 保持ローラ(基板保持部)
77,78 ロールスポンジ
80,81 回転機構
82 昇降駆動機構
85,86 純水供給ノズル
87,88 洗浄液供給ノズル
110,112 セルフクリーニング機構
115 クリーニング本体部
117 ドレイン
121 第1の洗浄ノズル
122 第2の洗浄ノズル
123 第3の洗浄ノズル
124 第4の洗浄ノズル
126 ブローノズル
131 第1の流体流路
132 第2の流体流路
133 第3の流体流路
134 第4の流体流路
136 ガス流路
137 吸引流路
138 真空排気ライン
140 洗浄流体供給源
142 ガス供給源
150 搬送機構
Claims (11)
- 基板を水平に保持して回転させる基板保持部と、
前記基板の表面に摺接する円柱状のスクラブ洗浄具と、
前記スクラブ洗浄具をその軸心まわりに回転させる回転機構と、
前記スクラブ洗浄具を洗浄するセルフクリーニング機構とを備え、
前記セルフクリーニング機構は、
前記スクラブ洗浄具の外周面に沿った形状の内周面を有するクリーニング本体部と、
前記スクラブ洗浄具の外周面と前記クリーニング本体部の内周面との間の隙間を通じて、洗浄流体を前記スクラブ洗浄具の外周面に向かって噴射する少なくとも1つの洗浄ノズルと、
前記隙間を通じて気体を前記スクラブ洗浄具の外周面に向かって噴射するブローノズルとを備え、
前記ブローノズルは、前記スクラブ洗浄具の回転方向において、前記洗浄ノズルの下流側に配置されていることを特徴とする基板洗浄装置。 - 基板を水平に保持して回転させる基板保持部と、
前記基板の表面に摺接する円柱状のスクラブ洗浄具と、
前記スクラブ洗浄具をその軸心まわりに回転させる回転機構と、
前記スクラブ洗浄具を洗浄するセルフクリーニング機構とを備え、
前記セルフクリーニング機構は、
前記スクラブ洗浄具の外周面に沿った形状の内周面を有するクリーニング本体部と、
前記スクラブ洗浄具の外周面と前記クリーニング本体部の内周面との間の隙間を通じて、洗浄流体を前記スクラブ洗浄具の外周面に向かって噴射する少なくとも1つの洗浄ノズルと、
前記隙間から気体を吸引するための吸引流路とを備えたことを特徴とする基板洗浄装置。 - 基板を水平に保持して回転させる基板保持部と、
前記基板の表面に摺接する円柱状のスクラブ洗浄具と、
前記スクラブ洗浄具をその軸心まわりに回転させる回転機構と、
前記スクラブ洗浄具を洗浄するセルフクリーニング機構とを備え、
前記セルフクリーニング機構は、
前記スクラブ洗浄具の外周面に沿った形状の内周面を有するクリーニング本体部と、
前記スクラブ洗浄具の外周面と前記クリーニング本体部の内周面との間の隙間を通じて、洗浄流体を前記スクラブ洗浄具の外周面に向かって噴射する少なくとも1つの洗浄ノズルとを備え、
前記少なくとも1つの洗浄ノズルは、前記スクラブ洗浄具の両側に配置された第1の洗浄ノズルおよび第2の洗浄ノズルと、前記第1の洗浄ノズルの下方に配置された第3の洗浄ノズルと、前記第2の洗浄ノズルの下方に配置された第4の洗浄ノズルであることを特徴とする基板洗浄装置。 - 前記少なくとも1つの洗浄ノズルは、前記スクラブ洗浄具の両側に配置された第1の洗浄ノズルと第2の洗浄ノズルであることを特徴とする請求項1または2に記載の基板洗浄装置。
- 前記洗浄ノズルは、前記スクラブ洗浄具の軸心に沿って配列された複数のスリットノズルから構成されていることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の基板洗浄装置。
- 前記洗浄ノズルは、下方に傾斜していることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の基板洗浄装置。
- 前記洗浄流体は、洗浄液と高圧の気体との混合からなることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の基板洗浄装置。
- 前記洗浄流体は、高圧の洗浄液からなることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の基板洗浄装置。
- 前記セルフクリーニング機構は、前記クリーニング本体部の内周面内に流体入口を有するドレインをさらに備えたことを特徴とする請求項1乃至8のいずれか一項に記載の基板洗浄装置。
- 前記スクラブ洗浄具は、前記基板の下面に摺接するように配置され、
前記セルフクリーニング機構は、前記スクラブ洗浄具の下方に配置されていることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか一項に記載の基板洗浄装置。 - 前記スクラブ洗浄具を前記セルフクリーニング機構に搬送する搬送機構をさらに備え、
前記スクラブ洗浄具は、前記基板の上面に摺接するように配置され、
前記セルフクリーニング機構は、前記基板保持部に隣接して設置されていることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか一項に記載の基板洗浄装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013092182A JP6054805B2 (ja) | 2013-04-25 | 2013-04-25 | 基板洗浄装置 |
SG10201401558XA SG10201401558XA (en) | 2013-04-25 | 2014-04-16 | Substrate cleaning apparatus |
US14/260,220 US9824903B2 (en) | 2013-04-25 | 2014-04-23 | Substrate cleaning apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013092182A JP6054805B2 (ja) | 2013-04-25 | 2013-04-25 | 基板洗浄装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014216456A JP2014216456A (ja) | 2014-11-17 |
JP6054805B2 true JP6054805B2 (ja) | 2016-12-27 |
Family
ID=51863726
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013092182A Active JP6054805B2 (ja) | 2013-04-25 | 2013-04-25 | 基板洗浄装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9824903B2 (ja) |
JP (1) | JP6054805B2 (ja) |
SG (1) | SG10201401558XA (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102622807B1 (ko) | 2016-04-12 | 2024-01-10 | 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 | 세정 부재, 기판 세정 장치, 및 기판 처리 장치 |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102272661B1 (ko) | 2014-10-02 | 2021-07-06 | 삼성디스플레이 주식회사 | 기판 세정 장치 |
KR102454775B1 (ko) | 2015-02-18 | 2022-10-17 | 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 | 기판 세정 장치, 기판 세정 방법 및 기판 처리 장치 |
JP6546748B2 (ja) * | 2015-02-18 | 2019-07-17 | 株式会社荏原製作所 | 基板洗浄装置および方法 |
JP6581915B2 (ja) * | 2016-02-15 | 2019-09-25 | 株式会社荏原製作所 | 洗浄部材の初期化方法 |
JP6609197B2 (ja) * | 2016-02-25 | 2019-11-20 | 株式会社ディスコ | 洗浄装置 |
JP6875154B2 (ja) * | 2017-03-06 | 2021-05-19 | 株式会社荏原製作所 | セルフクリーニング装置、基板処理装置、および洗浄具のセルフクリーニング方法 |
JP7152918B2 (ja) * | 2018-09-27 | 2022-10-13 | 芝浦メカトロニクス株式会社 | ブラシ洗浄装置、基板処理装置及びブラシ洗浄方法 |
JP7161418B2 (ja) * | 2019-01-30 | 2022-10-26 | 株式会社荏原製作所 | 基板洗浄装置、基板処理装置、洗浄部材のセルフクリーニング方法 |
JP7623226B2 (ja) | 2021-06-11 | 2025-01-28 | 株式会社Screenホールディングス | 基板洗浄装置および基板洗浄方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW353784B (en) * | 1996-11-19 | 1999-03-01 | Tokyo Electron Ltd | Apparatus and method for washing substrate |
JP3320640B2 (ja) * | 1997-07-23 | 2002-09-03 | 東京エレクトロン株式会社 | 洗浄装置 |
JP2001121096A (ja) * | 1999-10-28 | 2001-05-08 | Tokyo Electron Ltd | ロールブラシ洗浄装置 |
JP3865602B2 (ja) * | 2001-06-18 | 2007-01-10 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板洗浄装置 |
JP2005012238A (ja) | 2004-09-02 | 2005-01-13 | Ebara Corp | 基板洗浄方法及び装置 |
JP2011165751A (ja) * | 2010-02-05 | 2011-08-25 | Toshiba Corp | 洗浄装置及び半導体装置の製造方法 |
-
2013
- 2013-04-25 JP JP2013092182A patent/JP6054805B2/ja active Active
-
2014
- 2014-04-16 SG SG10201401558XA patent/SG10201401558XA/en unknown
- 2014-04-23 US US14/260,220 patent/US9824903B2/en active Active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102622807B1 (ko) | 2016-04-12 | 2024-01-10 | 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 | 세정 부재, 기판 세정 장치, 및 기판 처리 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9824903B2 (en) | 2017-11-21 |
JP2014216456A (ja) | 2014-11-17 |
SG10201401558XA (en) | 2014-11-27 |
US20140331440A1 (en) | 2014-11-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6054805B2 (ja) | 基板洗浄装置 | |
CN112908901B (zh) | 基板清洗装置、基板清洗方法以及基板处理装置 | |
TWI616239B (zh) | 擦洗器 | |
US9144881B2 (en) | Polishing apparatus and polishing method | |
KR101841549B1 (ko) | 드레싱 장치 및 이를 포함하는 웨이퍼 연마 장치 | |
JP6502430B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP2014203906A (ja) | 基板処理方法 | |
JP6159282B2 (ja) | 基板処理装置、および基板処理装置の配管洗浄方法 | |
TWI788454B (zh) | 基板處理裝置及基板處理方法 | |
US10651057B2 (en) | Apparatus and method for cleaning a back surface of a substrate | |
JP2017147334A (ja) | 基板の裏面を洗浄する装置および方法 | |
JP2015015284A (ja) | 基板洗浄装置および基板洗浄方法 | |
JP4963411B2 (ja) | 半導体装置または半導体ウェハの製造方法 | |
JP2020184581A (ja) | 基板処理装置および基板処理方法 | |
JP6625461B2 (ja) | 研磨装置 | |
JP6412385B2 (ja) | コンディショニング部、バフ処理モジュール、基板処理装置、及び、ドレスリンス方法 | |
KR20190054965A (ko) | 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법 | |
EP3396707A1 (en) | Apparatus and method for cleaning a back surface of a substrate | |
TWI706813B (zh) | 基板處理裝置 | |
WO2022201665A1 (ja) | ウエハ吸着チャック機構の洗浄装置 | |
JP2024122252A (ja) | 基板処理装置および基板処理方法 | |
JP2015230940A (ja) | 基板処理モジュール | |
KR20050070419A (ko) | 웨이퍼 스크래치 저감되는 화학기계적 연마장비 | |
JP2018011087A (ja) | 基板洗浄装置 | |
JP2005045035A (ja) | 基板の洗浄方法、基板の研磨及び洗浄方法、基板洗浄装置並びに基板研磨及び洗浄システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20151118 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20160426 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20160801 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160809 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20161007 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20161108 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20161201 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6054805 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |