JP6031426B2 - Polishing apparatus and polishing method - Google Patents
Polishing apparatus and polishing method Download PDFInfo
- Publication number
- JP6031426B2 JP6031426B2 JP2013216656A JP2013216656A JP6031426B2 JP 6031426 B2 JP6031426 B2 JP 6031426B2 JP 2013216656 A JP2013216656 A JP 2013216656A JP 2013216656 A JP2013216656 A JP 2013216656A JP 6031426 B2 JP6031426 B2 JP 6031426B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polishing
- cover
- atomizer
- top ring
- liquid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Description
本発明は、研磨装置及び研磨方法に係り、特にウェハなどの研磨対象物(基板)の表面に、飛散して乾燥した研磨液によってスクラッチが発生することを防止しつつ、研磨対象物の表面を研磨して平坦化する研磨装置及び研磨方法に関する。
また、本発明は、研磨装置に係り、特に研磨テーブルの周囲に配置される各種カバー等が研磨液によって汚染されてしまうことを防止しつつ、ウェハなどの研磨対象物(基板)の表面を研磨して平坦化する研磨装置に関する。
The present invention relates to a polishing apparatus and a polishing method, and in particular, the surface of an object to be polished is prevented from being generated on the surface of an object to be polished (substrate) such as a wafer by the scattered and dried polishing liquid. The present invention relates to a polishing apparatus and a polishing method for polishing and flattening.
The present invention also relates to a polishing apparatus, and in particular, polishes the surface of an object to be polished (substrate) such as a wafer while preventing various covers disposed around the polishing table from being contaminated by the polishing liquid. And a polishing apparatus for flattening.
ウェハの表面を研磨する研磨装置は、一般に、研磨面を有する研磨パッドを支持するための研磨テーブルと、ウェハを保持するトップリング(研磨ヘッド)とを備えている。そして、トップリングで保持したウェハを研磨パッドの研磨面に対して所定の圧力で押圧しつつ、研磨テーブルとトップリングとを相対運動させることにより、ウェハを研磨面に摺接させて、ウェハの表面を平坦かつ鏡面に研磨する。化学的機械研磨(CMP)にあっては、研磨時に、研磨パッド上に研磨液(スラリー)が供給される。 A polishing apparatus for polishing the surface of a wafer generally includes a polishing table for supporting a polishing pad having a polishing surface and a top ring (polishing head) for holding the wafer. Then, while pressing the wafer held by the top ring with a predetermined pressure against the polishing surface of the polishing pad, the polishing table and the top ring are moved relative to each other to bring the wafer into sliding contact with the polishing surface. Polish the surface to a flat and mirror surface. In chemical mechanical polishing (CMP), a polishing liquid (slurry) is supplied onto the polishing pad during polishing.
このように、研磨液を供給しながらウェハ等の基板の表面を研磨すると、研磨液が研磨テーブルの周辺に飛散する。研磨後には、研磨パッドの研磨面にアトマイザから液体(例えば純水)と気体(例えば窒素ガス)の混合流体または液体(例えば純水)を霧状に噴霧して研磨面が洗浄される。この研磨面のアトマイザによる洗浄時にも研磨面上に残留した研磨液が研磨テーブルの周辺に飛散する。そして、この飛散した研磨液が研磨テーブルの周囲に配置されている種々の構成部品や研磨装置を収納しているチャンバの内壁面等に付着し乾燥すると、この乾燥した研磨液が剥離して研磨テーブル上に落下し、基板にスクラッチを発生させる要因となる。 Thus, when the surface of a substrate such as a wafer is polished while supplying the polishing liquid, the polishing liquid is scattered around the polishing table. After polishing, the polishing surface is cleaned by spraying a liquid mixture (for example, pure water) of a liquid (for example, pure water) and a gas (for example, nitrogen gas) or a liquid (for example, pure water) from the atomizer onto the polishing surface of the polishing pad. Even when the polishing surface is cleaned by the atomizer, the polishing liquid remaining on the polishing surface is scattered around the polishing table. Then, when the scattered polishing liquid adheres to various components arranged around the polishing table and the inner wall surface of the chamber containing the polishing apparatus and is dried, the dried polishing liquid is peeled off and polished. It falls on the table and causes scratches on the substrate.
一般に、研磨装置の所定位置には、種々の洗浄ノズルが配置されており、この洗浄ノズルから研磨装置の所定の部位に向けて洗浄液を定期的に噴射することで、研磨テーブル及びその周辺に配置される構成部品等の表面に付着した研磨液を洗浄液で洗い流す。しかしながら、研磨液を洗浄液で洗い流すようにしても、研磨液が研磨テーブルの周辺に配置した構成部品等の表面に付着して乾燥してしまう場合がある。このように、研磨液が構成部品等の表面に付着して乾燥すると、乾燥した研磨液を洗浄液で洗い流すことが困難となる。そして、乾燥した研磨液が堆積を繰り返すと、やがて剥がれて研磨パッド上に落下して、基板にスクラッチを発生させる要因となる。 In general, various cleaning nozzles are disposed at predetermined positions of the polishing apparatus, and the cleaning liquid is periodically sprayed from the cleaning nozzles toward predetermined portions of the polishing apparatus to be disposed around the polishing table and its periphery. Wash away the polishing liquid adhering to the surface of the components to be washed with the cleaning liquid. However, even if the polishing liquid is washed away with the cleaning liquid, the polishing liquid may adhere to the surface of components or the like disposed around the polishing table and may dry. As described above, when the polishing liquid adheres to the surface of the component or the like and is dried, it becomes difficult to wash the dried polishing liquid with the cleaning liquid. When the dry polishing liquid repeatedly accumulates, it eventually peels off and falls onto the polishing pad, causing a scratch on the substrate.
飛散した研磨液から、トップリングを有するトップリングヘッドを保護するため、トップリングヘッドをトップリングヘッドカバーで包囲することもある。研磨装置には、研磨面をドレッシングするドレッサが一般に備えられる。このドレッサを有するドレッシングヘッドをドレッシングヘッドカバーで包囲して、飛散する洗浄液から保護することもある。さらに、アトマイザの噴霧ノズルをアトマイザカバーで囲うことで、研磨パッドから跳ね返った混合流体や研磨液が飛散することを防止することもある。 In order to protect the top ring head having the top ring from the scattered polishing liquid, the top ring head may be surrounded by a top ring head cover. The polishing apparatus is generally provided with a dresser for dressing the polishing surface. The dressing head having this dresser may be surrounded by a dressing head cover to be protected from the scattered cleaning liquid. Further, by surrounding the atomizing nozzle of the atomizer with an atomizer cover, the mixed fluid or polishing liquid bounced off the polishing pad may be prevented from scattering.
アトマイザカバーは、一般にかなり複雑な形状を有しており、研磨パッドから跳ね返った研磨液を含む液体がアトマイザカバー内に留まり易い。また、アトマイザカバーは液体が溜まり易い角部を多く有しているため、その外面を洗浄液で洗浄することは一般に困難である。そして、アトマイザカバーに研磨液を含む液体が付着して固化すると、この固化物が研磨面上に落下して研磨面を汚染してしまう。 The atomizer cover generally has a considerably complicated shape, and the liquid containing the polishing liquid bounced off the polishing pad tends to stay in the atomizer cover. In addition, since the atomizer cover has many corners where liquid tends to accumulate, it is generally difficult to clean the outer surface with a cleaning liquid. And if the liquid containing polishing liquid adheres and solidifies to an atomizer cover, this solidified material will fall on a grinding | polishing surface and will contaminate a grinding | polishing surface.
また、飛散した研磨液がトップリングヘッドカバーの内部に流入することを完全に防止することは困難である。このため、研磨液が、トップリングヘッドカバーの内部に入り込み、その内部に留まって、トップリングヘッドカバーやトップリングヘッドを汚染したり、研磨面に滴下して該研磨面を汚染したりすることがある。 In addition, it is difficult to completely prevent the scattered polishing liquid from flowing into the top ring head cover. For this reason, the polishing liquid may enter the top ring head cover and stay inside the top ring head cover, contaminating the top ring head cover or the top ring head, or dropping on the polishing surface to contaminate the polishing surface. .
本発明は、基板の研磨時等に研磨テーブルの周囲に飛散した研磨液が研磨テーブルの周囲に配置されている種々の構成部品の表面に付着して乾燥することを防止することができ、基板表面でのスクラッチの発生を防止することができる研磨装置及び研磨方法を提供することを第1の目的とする。 The present invention can prevent the polishing liquid scattered around the polishing table during polishing of the substrate from adhering to the surfaces of various components arranged around the polishing table and drying. A first object is to provide a polishing apparatus and a polishing method capable of preventing the occurrence of scratches on the surface.
また、本発明は、研磨面から跳ね返った液体が内面に留まることを防止でき、しかも洗浄液による洗浄が比較的容易で、固形物の落下による研磨面の汚染を防止できるようにしたアトマイザカバーを有する研磨装置を提供することを第2の目的とする。 In addition, the present invention has an atomizer cover that can prevent the liquid bounced off the polishing surface from staying on the inner surface, is relatively easy to clean with the cleaning liquid, and can prevent contamination of the polishing surface due to falling solids. A second object is to provide a polishing apparatus.
また、本発明は、トップリングヘッドカバーの内部に研磨液が入り込んでも、この研磨液でトップリングヘッドカバーやトップリングヘッドが汚染されることを防止することができ、さらに研磨液が研磨面に滴下して該研磨面が汚染されることを防止することができるトップリングヘッドカバーを有する研磨装置を提供することを第3の目的とする。 Further, the present invention can prevent the top ring head cover or the top ring head from being contaminated by the polishing liquid even if the polishing liquid enters the inside of the top ring head cover, and the polishing liquid can be dripped onto the polishing surface. It is a third object of the present invention to provide a polishing apparatus having a top ring head cover that can prevent the polishing surface from being contaminated.
研磨装置の一参考例は、研磨面を有する研磨パッドを支持するための回転自在な研磨テーブルと、前記研磨テーブルの上方の研磨位置と前記研磨テーブルの側方の基板受渡し位置との間を移動自在で基板を前記研磨面に押し付けるトップリングを有するトップリングヘッドと、前記トップリングヘッドを包囲するトップリングヘッドカバーと、前記研磨テーブルの上方のドレッシング位置と前記研磨テーブルの側方の退避位置との間を移動自在で前記研磨面をドレッシングするドレッサを有するドレッサヘッドと、前記ドレッサヘッドを包囲するドレッサヘッドカバーと、前記トップリングが前記基板受渡し位置にあるときに、前記トップリングの上面及び前記トップリングヘッドカバーの外面に洗浄液を噴霧する噴霧ノズルと、前記ドレッサが前記退避位置にあるときに、前記ドレッサヘッドカバーの外面に洗浄液を噴霧する噴霧ノズルを有する。 One reference example of a polishing apparatus is a rotatable polishing table for supporting a polishing pad having a polishing surface, and a movement between a polishing position above the polishing table and a substrate delivery position on the side of the polishing table. A top ring head having a top ring that freely presses the substrate against the polishing surface, a top ring head cover surrounding the top ring head, a dressing position above the polishing table, and a retreat position at a side of the polishing table. A dresser head having a dresser for dressing the polishing surface while being freely movable; a dresser head cover surrounding the dresser head; and an upper surface of the top ring and the top ring when the top ring is at the substrate delivery position. A spray nozzle for spraying a cleaning liquid on the outer surface of the head cover; There when in the retracted position, having a spray nozzle for spraying the cleaning fluid on the outer surface of the dresser head cover.
この構成によれば、トップリングが基板受渡し位置に位置している時に、トップリングの上面及びトップリングヘッドカバーの外面に噴霧ノズルから洗浄液を噴霧してトップリングの上面及びトップリングヘッドカバーの外面を湿潤状態に保つ。また、ドレッサが退避位置に位置している時に、ドレッサヘッドカバーの外面に噴霧ノズルから洗浄液を噴霧してドレッサヘッドカバーの外面を湿潤状態に保つ。したがって、トップリングの上面、トップリングヘッドカバーの外面、及びドレッサヘッドカバーの外面に研磨液が付着して乾燥することを防止することができる。 According to this configuration, when the top ring is located at the substrate delivery position, the cleaning liquid is sprayed from the spray nozzle onto the upper surface of the top ring and the outer surface of the top ring head cover to wet the upper surface of the top ring and the outer surface of the top ring head cover. Keep in state. Further, when the dresser is in the retracted position, the cleaning liquid is sprayed from the spray nozzle onto the outer surface of the dresser head cover to keep the outer surface of the dresser head cover wet. Therefore, it is possible to prevent the polishing liquid from adhering to the upper surface of the top ring, the outer surface of the top ring head cover, and the outer surface of the dresser head cover and drying.
上記参考例の好ましい態様において、研磨装置は、前記研磨面に洗浄流体を噴霧して該研磨面を洗浄するアトマイザと、前記アトマイザの外面に洗浄液を噴霧する噴霧ノズルを更に有する。 In preferred hurts like the reference example, the polishing apparatus further comprises an atomizer for cleaning the polished surface by spraying the cleaning fluid on the polishing surface, a spray nozzle for spraying the cleaning fluid on the outer surface of the atomizer.
この構成によれば、例えばアトマイザから研磨面に洗浄流体を噴霧して研磨面を洗浄している時やドレッサで研磨面をドレッシングしている時を含め、基板を実際に研磨していない時に、アトマイザの外面に噴霧ノズルから洗浄液を噴霧してアトマイザの外面を湿潤状態に保つことで、アトマイザの外面に研磨液が付着して乾燥することを防止することができる。 According to this configuration, for example, when the polishing surface is cleaned by spraying a cleaning fluid from the atomizer to the polishing surface or when the polishing surface is dressed with a dresser, when the substrate is not actually polished, By spraying the cleaning liquid from the spray nozzle onto the outer surface of the atomizer and keeping the outer surface of the atomizer in a wet state, it is possible to prevent the polishing liquid from adhering to the outer surface of the atomizer and drying.
上記参考例の好ましい態様において、研磨装置は、前記研磨面に研磨液を供給する研磨液供給ノズルと、前記研磨液供給ノズルに洗浄液を噴霧する噴霧ノズルを更に有する。 In preferred hurts like the reference example, the polishing apparatus further comprises a polishing liquid supply nozzle for supplying a polishing liquid to the polishing surface, a spray nozzle for spraying a cleaning liquid to the polishing liquid supply nozzle.
この構成によれば、例えばアトマイザから研磨面に洗浄流体を噴霧して研磨面を洗浄している時やドレッサで研磨面をドレッシングしている時を含め、基板を実際に研磨していない時に、研磨液供給ノズルに噴霧ノズルから洗浄液を噴霧して研磨液供給ノズルを湿潤状態に保つことで、研磨液供給ノズルの外面に研磨液が付着して乾燥することを防止することができる。 According to this configuration, for example, when the polishing surface is cleaned by spraying a cleaning fluid from the atomizer to the polishing surface or when the polishing surface is dressed with a dresser, when the substrate is not actually polished, By spraying the cleaning liquid from the spray nozzle onto the polishing liquid supply nozzle to keep the polishing liquid supply nozzle in a wet state, it is possible to prevent the polishing liquid from adhering to the outer surface of the polishing liquid supply nozzle and drying.
上記参考例の好ましい態様において、研磨装置は、前記研磨装置を内部に収納するチャンバの内壁面に洗浄液を噴霧する噴霧ノズルを更に有する。 In preferred hurts like the reference example, the polishing apparatus further comprises a spray nozzle for spraying a cleaning liquid on the inner wall surface of the chamber housing the polishing unit therein.
この構成によれば、例えば基板を実際に研磨していない時に、噴霧ノズルからチャンバの内壁面に洗浄液を噴霧してチャンバの内壁面を湿潤状態に保つことで、チャンバの内壁面に研磨液が付着して乾燥することを防止することができる。 According to this configuration, for example, when the substrate is not actually polished, the cleaning liquid is sprayed onto the inner wall surface of the chamber from the spray nozzle to keep the inner wall surface of the chamber in a wet state, so that the polishing liquid is applied to the inner wall surface of the chamber. It can prevent adhering and drying.
研磨方法の一参考例は、基板を保持したトップリングを研磨テーブルの上方の研磨位置に移動させ、前記研磨テーブルを回転させ、研磨液供給ノズルから前記研磨テーブル上の研磨パッドの研磨面に研磨液を供給しながら、前記トップリングで基板を前記研磨面に押し付けて該基板を研磨し、研磨された基板を保持した前記トップリングを前記研磨位置から前記研磨テーブルの側方の基板受渡し位置に移動させ、前記トップリングの上面、及び該トップリングを有するトップリングヘッドを包囲するトップリングヘッドカバーの外面に洗浄液を噴霧する。 One reference example of the polishing method is to move the top ring holding the substrate to a polishing position above the polishing table, rotate the polishing table, and polish from the polishing liquid supply nozzle to the polishing surface of the polishing pad on the polishing table. While supplying the liquid, the top ring presses the substrate against the polishing surface to polish the substrate, and the top ring holding the polished substrate is moved from the polishing position to the substrate delivery position on the side of the polishing table. The cleaning liquid is sprayed on the upper surface of the top ring and the outer surface of the top ring head cover surrounding the top ring head having the top ring.
上記参考例の好ましい態様において、研磨方法は、前記トップリングが前記基板受渡し位置にあるとき、ドレッサを該研磨テーブルの上方のドレッシング位置に移動させ、前記ドレッサを前記研磨面に押し付けて該研磨面のドレッシングを行い、前記ドレッサを前記ドレッシング位置から前記研磨テーブルの側方の退避位置に移動させ、前記ドレッサを有するドレッサヘッドを包囲するドレッサヘッドカバーの外面に洗浄液を噴霧する。 In preferred hurts like the reference example, the polishing method, when the top ring is in said substrate delivery position, the dresser is moved to the dressing position above of the polishing table, is pressed against the dresser to the grinding surface The polishing surface is dressed, the dresser is moved from the dressing position to a retracted position on the side of the polishing table, and the cleaning liquid is sprayed on the outer surface of the dresser head cover surrounding the dresser head having the dresser.
上記参考例の好ましい態様において、研磨方法は、基板を研磨していない時に、アトマイザから前記研磨面に洗浄流体を噴霧して該研磨面を洗浄しつつ、前記アトマイザの外面に洗浄液を噴霧する。 In preferred hurts like the reference example, the polishing method, when not polishing a substrate, while washing the polished surface by spraying the cleaning fluid on the polishing surface from the atomizer, the cleaning liquid to the outer surface of the atomizer Spray.
上記参考例の好ましい態様において、研磨方法は、基板を研磨していない時に、前記研磨液供給ノズルに洗浄液を噴霧する。 In preferred hurts like the reference example, the polishing method, when not polishing a substrate, spraying a cleaning liquid to the polishing liquid supply nozzle.
研磨装置の一態様は、研磨面を有する研磨パッドを支持するための回転自在な研磨テーブルと、前記研磨面に洗浄流体を噴霧して該研磨面を洗浄するアトマイザヘッドと、前記アトマイザヘッドの上面を覆うアトマイザカバーと、前記アトマイザカバーは、半円筒形状を有する半円筒頂板と、前記半円筒頂板の両下端から下方に延びる第1側板及び第2側板を有し、前記半円筒頂板は、前記アトマイザカバーの基端から先端まで半径が一定である円弧状の縦断面を有する第1頂板と、前記アトマイザカバーの基端から先端に向けて半径が徐々に小さくなる円弧状の縦断面を有する第2頂板を有し、前記第1頂板の頂部と前記第2頂板の頂部が互いに接続されて、前記半円筒頂板を形成する。 One aspect of a polishing apparatus includes a rotatable polishing table for supporting a polishing pad having a polishing surface, an atomizer head that sprays a cleaning fluid onto the polishing surface to clean the polishing surface, and an upper surface of the atomizer head The atomizer cover, the atomizer cover has a semi-cylindrical top plate having a semi-cylindrical shape, a first side plate and a second side plate extending downward from both lower ends of the semi-cylindrical top plate, the semi-cylindrical top plate, A first top plate having an arcuate longitudinal section with a constant radius from the base end to the tip of the atomizer cover, and a first top plate having an arcuate longitudinal section with a gradually decreasing radius from the base end to the tip of the atomizer cover. The top of the first top plate and the top of the second top plate are connected to each other to form the semi-cylindrical top plate.
この構成によれば、アトマイザカバーを、その内面や外面に液体が飛散しても流れ落ちやすい、角部のない平滑な形状にして、アトマイザカバーが研磨液を含む液体で汚染されることを防止することができる。さらに、アトマイザカバーに付着した研磨液を含む液体の払拭性を良くすることができる。したがって、研磨液を含む液体がアトマイザカバーの内面や外面で固化することを防止でき、さらに固化物の落下による研磨面の汚染を防止することができる。 According to this configuration, the atomizer cover is formed into a smooth shape with no corners that is easy to flow even if liquid is scattered on the inner surface or outer surface thereof, and the atomizer cover is prevented from being contaminated with the liquid containing the polishing liquid. be able to. Furthermore, the wiping property of the liquid containing the polishing liquid adhering to the atomizer cover can be improved. Therefore, the liquid containing the polishing liquid can be prevented from solidifying on the inner surface and the outer surface of the atomizer cover, and further, contamination of the polished surface due to the fall of the solidified product can be prevented.
好ましい一態様において、前記半円筒頂板、前記第1側板、及び前記第2側板は、樹脂で一体成形されている。
アトマイザカバーを角部のない平滑な形状にすることで、樹脂による一体成形が可能となる。
In a preferred aspect, the semi-cylindrical top plate, the first side plate, and the second side plate are integrally formed of resin.
By making the atomizer cover a smooth shape with no corners, integral molding with resin becomes possible.
好ましい一態様において、前記第1側板及び前記第2側板の下端面は、前記アトマイザカバーの先端から基端に向けて下方に傾斜する。
この構成によれば、アトマイザカバーの半円筒頂板から側板上を流下して側板の下端面に達した液体が、該下端面上をアトマイザカバーの先端から基端に向けて流れるようにすることができる。
In a preferred aspect, lower end surfaces of the first side plate and the second side plate are inclined downward from the tip end of the atomizer cover toward the base end.
According to this configuration, the liquid flowing down on the side plate from the semi-cylindrical top plate of the atomizer cover and reaching the lower end surface of the side plate can flow on the lower end surface from the front end to the base end of the atomizer cover. it can.
好ましい一態様において、前記第2側板は前記第2頂板に接続されており、前記第2側板には、水平方向に突出する突出部が設けられている。
このように第2側板に突出部を一体に設けることで、アトマイザカバーを突出部で補強することができる。さらに、突出部によって液体の飛散を防止することができる。
In a preferred aspect, the second side plate is connected to the second top plate, and the second side plate is provided with a protruding portion that protrudes in the horizontal direction.
Thus, the atomizer cover can be reinforced with the protrusion by providing the protrusion on the second side plate. Furthermore, the splashing of the liquid can be prevented by the protrusion.
好ましい一態様において、研磨装置は、基板を保持し回転させながら前記研磨面に押し付けるトップリングを有するトップリングヘッドと、前記トップリングヘッドを包囲するトップリングヘッドカバーを更に有し、前記トップリングヘッドカバーは、前記トップリングヘッドを囲む側部カバーと、前記側部カバーの下端開口部を閉塞する下部カバーを有し、前記下部カバーは、前記トップリングが前記研磨テーブルの上方の研磨位置にある時に、前記研磨テーブルの半径方向の外方に向けて下方に傾斜する底板を有する。 In a preferred aspect, the polishing apparatus further includes a top ring head having a top ring that presses against the polishing surface while holding and rotating the substrate, and a top ring head cover surrounding the top ring head, the top ring head cover being A side cover that surrounds the top ring head, and a lower cover that closes a lower end opening of the side cover, and the lower cover is located when the top ring is in a polishing position above the polishing table. A bottom plate that slopes downwardly outwardly in the radial direction of the polishing table;
この構成によれば、トップリングヘッドカバーの内部に入り込んだ研磨液は、下部カバーの底板に達し、この底板の勾配に沿って流れて、研磨テーブルの側方に集められる。従って、研磨液でトップリングヘッドカバーやトップリングヘッドが汚染されたり、研磨液が研磨面に滴下して該研磨面が汚染されたりすることを防止することができる。 According to this configuration, the polishing liquid that has entered the inside of the top ring head cover reaches the bottom plate of the lower cover, flows along the gradient of the bottom plate, and is collected on the side of the polishing table. Therefore, it is possible to prevent the top ring head cover and the top ring head from being contaminated by the polishing liquid, and the polishing liquid from being dripped onto the polishing surface and contaminating the polishing surface.
好ましい一態様において、前記下部カバーは、前記底板の外周部から上方に延び、前記側部カバーの側板に接触または近接する側板を有する。
この構成によれば、側部カバーと下部カバーとの連結部を、側部カバーと下部カバーの間の角部よりも上方に位置させることができ、これによって、両者の間の角部に研磨液が溜まってしまうことを防止することができる。
In a preferred aspect, the lower cover includes a side plate that extends upward from the outer peripheral portion of the bottom plate and contacts or is close to the side plate of the side cover.
According to this configuration, the connecting portion between the side cover and the lower cover can be positioned above the corner portion between the side cover and the lower cover, thereby polishing the corner portion between the two. It is possible to prevent the liquid from accumulating.
上述した研磨装置によれば、トップリングの上面、トップリングヘッドカバーの外面、及びドレッサヘッドカバーの外面等の研磨テーブルの周辺に配置される構成部品を湿潤状態に保ち、これによって、上記構成部品上に研磨液が付着して乾燥することを防止することができる。結果として、乾燥した研磨液が研磨テーブル上に落下することを防止し、基板にスクラッチを発生させることを防止することができる。 According to the polishing apparatus described above, the components arranged around the polishing table such as the top ring top surface, the top ring head cover outer surface, and the dresser head cover outer surface are kept in a wet state. It is possible to prevent the polishing liquid from adhering and drying. As a result, it is possible to prevent the dried polishing liquid from falling on the polishing table and to prevent the substrate from being scratched.
上述した研磨装置によれば、アトマイザカバーが研磨液を含む液体で汚染されることを防止すると共に、アトマイザカバーに付着した研磨液を含む液体の払拭性を良くすることができる。したがって、研磨液を含む液体がアトマイザカバーの内面や外面で固化することを防止でき、さらに固化物の落下による研磨面の汚染を防止することができる。更に、トップリングヘッドカバーの内部に研磨液が入り込んでも、研磨液でトップリングヘッドカバーやトップリングヘッドが汚染されたり、研磨液が研磨面に滴下して該研磨面が汚染されたりすることを防止することができる。 According to the above-described polishing apparatus, the atomizer cover can be prevented from being contaminated with the liquid containing the polishing liquid, and the wiping property of the liquid containing the polishing liquid attached to the atomizer cover can be improved. Therefore, the liquid containing the polishing liquid can be prevented from solidifying on the inner surface and the outer surface of the atomizer cover, and further, contamination of the polished surface due to the fall of the solidified product can be prevented. Furthermore, even if the polishing liquid enters the inside of the top ring head cover, the top ring head cover and the top ring head are prevented from being contaminated by the polishing liquid, and the polishing liquid is prevented from being dripped onto the polishing surface and contaminating the polishing surface. be able to.
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。図1は、本発明の一実施形態の研磨装置を示す斜視図である。図1は、トップリング14が研磨テーブル12の上方の研磨位置にあり、ドレッサ20が研磨テーブル12の上方のドレッシング位置にある状態を示している。なお、図1は、噴霧ノズルを全て省略している。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a perspective view showing a polishing apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 1 shows a state in which the
図1に示すように、この研磨装置は、上面を研磨面10aとした研磨パッド10と、上面に研磨パッド10を取付けた研磨テーブル12と、ウェハなどの基板(被研磨物)を研磨パッド10の研磨面(上面)10aに摺接させて研磨するトップリング14を有するトップリングヘッド16と、研磨パッド10の研磨面10aの目立て(ドレッシング)を行うドレッサ20を有するドレッサヘッド22とを備えている。研磨テーブル12は、図示しないモータに連結されており、このモータによって、研磨テーブル12および研磨パッド10は、矢印で示す方向に回転する。
As shown in FIG. 1, this polishing apparatus includes a
トップリングヘッド16の、トップリング14を除く主要部は、トップリングヘッドカバー24で包囲されている。トップリングヘッド16は、回転自在なトップリングヘッド揺動軸26の上端に連結されている。トップリングヘッド揺動軸26は、トップリングヘッドカバー24の底板を貫通して上方に延びている。トップリング14は、トップリングヘッドカバー24の底板を貫通して下方に延出するトップリング駆動軸28の下端に連結されている。トップリング14の下面は、真空吸着などにより基板を保持する基板保持面を構成している。
A main portion of the
トップリング14は、トップリングヘッド揺動軸26の回転に伴うトップリングヘッド16の揺動によって、図1に示す、研磨テーブル12の直上方の研磨位置と、図2及び図3に示す、研磨テーブル12の側方の基板受渡し位置との間を移動する。
The
ドレッサヘッド22の、ドレッサ20を除く主要部は、3つのドレッサヘッドカバー、すなわち第1ドレッサヘッドカバー30a、第2ドレッサヘッドカバー30b、及び第3ドレッサヘッドカバー30cで包囲されている。ドレッサヘッド22は、第1ドレッサヘッドカバー30aの底板を貫通して上方に延びる回転自在なドレッサヘッド揺動軸32の上端に連結されている。ドレッサ20は、第2ドレッサヘッドカバー30bの底板を貫通して下方に延出するドレッサ駆動軸38の下端に連結されている。
The main part of the
ドレッサ20は、ドレッサヘッド揺動軸32の回転に伴うドレッサヘッド22の揺動によって、図1に示す、研磨テーブル12の直上方のドレッシング位置と、図2及び図3に示す、研磨テーブル12の側方の退避位置との間を移動する。
The
研磨テーブル12に隣接して、研磨パッド10の研磨面10aに液体(例えば純水)と気体(例えば窒素ガス)の混合流体または液体(例えば純水)などの洗浄流体を霧状に噴霧(噴射も含む)して該研磨面10aを洗浄するアトマイザ40が配置されている。アトマイザ40の上面はアトマイザカバー42から構成されている。アトマイザ40の下面には、その長手方向に沿った所定間隔で、洗浄流体を下方に噴出する多数の噴出口(図示せず)が設けられている。このアトマイザ40は、アトマイザ揺動軸44の上端に連結され、このアトマイザ揺動軸44の回転に伴って、図1に実線で示す研磨テーブル12の側方に位置する退避位置と、図1に想像線で示す研磨テーブル12の上方に位置する洗浄位置との間を揺動する。
Adjacent to the polishing table 12, the
研磨テーブル12に隣接して、先端の供給口46aから研磨パッド10の研磨面10aに研磨液(スラリー)を供給する研磨液供給ノズル46が配置されている。この研磨液供給ノズル46は、ノズル揺動軸48の上端に連結され、このノズル揺動軸48の回転に伴って、図1に示す、供給口46aが研磨テーブル12の上方に位置する研磨液供給位置と、供給口46aが研磨テーブル12の側方に位置する退避位置(図示せず)との間を揺動する。研磨液供給ノズル46は、この例では、複数の研磨液チューブを1本のパイプ50の中に纏めて構成されている。
A polishing
研磨テーブル12、トップリングヘッド16、ドレッサヘッド22、アトマイザ40、及び研磨液供給ノズル46は動作制御部5に接続されており、これらの機器の動作は動作制御部5によって制御される。
The polishing table 12, the
図2及び図3に示すように、研磨装置は、チャンバ52の内部に収容されている。チャンバ52の内部には、チャンバ52の内壁面に純水等の洗浄液を噴霧する噴霧ノズル、つまり、天井壁52aに洗浄液を噴霧する天井壁噴霧ノズル54と、周壁52bに洗浄液を噴霧する周壁噴霧ノズル56が配置されている。
As shown in FIGS. 2 and 3, the polishing apparatus is accommodated in the
チャンバ52の内部には、トップリング14が研磨テーブル12の側方の基板受渡し位置にある時に、トップリング14の上面に洗浄液を噴霧するトップリング噴霧ノズル58が配置されている。このトップリング噴霧ノズル58は、基板受渡し位置にあるトップリング14の側上方に配置されている。更に、トップリングヘッドカバー24の外面に洗浄液を噴霧する噴霧ノズル、つまりトップリングヘッドカバー24の研磨テーブル側の側面に斜め上方から洗浄液を噴霧する上部噴霧ノズル60、及びトップリングヘッドカバー24の研磨テーブル側の側面に向けて水平方向に洗浄液を噴霧する側部噴霧ノズル62が配置されている。この上部噴霧ノズル60は、その長手方向に沿って多数の噴出口60aを有し、水平方向に配置されている。
Inside the
チャンバ52の内部には、ドレッサ20が研磨テーブル12の側方の退避位置にある時に、ドレッサヘッドカバー30a,30b,30cの外面に洗浄液を噴霧する噴霧ノズル、つまりドレッサヘッドカバー30a,30b,30cの研磨テーブル側の側面に斜め上方から洗浄液を噴霧する上部噴霧ノズル64、及びドレッサヘッドカバー30a,30b,30cの研磨テーブル側の側面に向けて水平方向に洗浄液を噴霧する側部噴霧ノズル66が配置されている。この上部噴霧ノズル64は、その長手方向に沿って多数の噴出口64aを有し、水平方向に配置されている。
Inside the
図4に示すように、アトマイザ揺動軸44の上端には、アトマイザ揺動軸44と一体に回転するブラケット70が連結されている。このブラケット70には、アトマイザカバー42が洗浄位置及び退避位置の双方に位置する時に、アトマイザカバー42の全域に洗浄液を噴霧する噴霧ノズル72が取付けられている。この例では2個の噴霧ノズル72が設けられている。
As shown in FIG. 4, a
図5に示すように、ノズル揺動軸48の上端には、ノズル揺動軸48と一体に回転するブラケット74が連結されている。このブラケット74には、研磨液供給ノズル46の供給口46aが研磨テーブル12の側方の退避位置に位置するときに、研磨液供給ノズル46の全域に、つまりパイプ50の外面に洗浄液を噴霧する噴霧ノズル76が取付けられている。この例では2個の噴霧ノズル76が設けられている。
As shown in FIG. 5, a
上述した噴霧ノズル54,56,58,60,62,64,66,72,76の、洗浄液の噴霧開始及び停止を含む動作は、動作制御部5によって制御される。
Operations of the
以下、上述した研磨装置の動作シーケンスについて説明する。この動作シーケンスは、動作制御部5に予め設定されている動作レシピに従って動作制御部5により制御される。基板受渡し位置にあるときにトップリング14が基板を受け取り、トップリング14を研磨テーブル12の上方の研磨位置に移動させた後、基板を回転させながら下降させ、回転中の研磨パッド10の研磨面10aに基板を摺接させることで基板を研磨する。この研磨時に、退避位置から研磨液供給位置に移動させた研磨液供給ノズル46から研磨面10aに研磨液を供給する。
Hereinafter, an operation sequence of the above-described polishing apparatus will be described. This operation sequence is controlled by the
基板の研磨が終了した後、トップリング14を上昇させる。さらに、トップリング14を研磨テーブル12の側方の基板受渡し位置に移動させて、研磨された基板を次工程に渡す。同時に、研磨液供給ノズル46を研磨液供給位置から退避位置に移動させる。
After the polishing of the substrate is completed, the
基板の研磨が終了した後、ドレッサ20を退避位置からドレッシング位置に移動させる。さらにドレッサ20を回転させながら下降させて、ドレッサ20の下面を回転中の研磨パッド10の研磨面10aに摺接させることで、研磨面10aをドレッシングする。研磨面10aのドレッシングが終了した後は、ドレッサ20をドレッシング位置から退避位置に移動させる。
After the polishing of the substrate is completed, the
更に、アトマイザ40を退避位置から洗浄位置に移動させ、その後アトマイザ40から研磨パッド10の研磨面10aに洗浄流体を噴出し、これによって、研磨面10aの洗浄を行う。そして、研磨面10aの洗浄が終了した時に、アトマイザ40を洗浄位置から退避位置に移動させる。この例では、アトマイザ40を洗浄位置から退避位置に移動できるようにしているが、アトマイザ40を洗浄位置に固定するようにしてもよい。
Further, the
トップリング14が基板受渡し位置にある時に、トップリング14の側上方に配置されたトップリング噴霧ノズル58からトップリング14の上面に洗浄液を噴霧し、同時に、トップリングヘッドカバー24の周囲に配置された上部噴霧ノズル60及び側部噴霧ノズル62からトップリングヘッドカバー24の外面に洗浄液を噴霧する。これによって、トップリング14の上面及びトップリングヘッドカバー24の外面を、噴霧された洗浄液で湿潤状態に保つ。このように、洗浄液で湿潤状態に保つことによって、研磨液が湿潤状態の表面に接触しても、その表面に研磨液が付着してしまうことを防ぐことができ、しかも研磨液が乾燥してしまうことを防ぐことができる。また、トップリング14が基板受渡し位置に位置している時に、トップリング噴霧ノズル58、上部噴霧ノズル60、及び側部噴霧ノズル62から洗浄液を噴霧するので、この噴霧した洗浄液が研磨パッド10の上に落ちることはなく、研磨パッド10の研磨性能に影響を与えることはない。
When the
トップリング14が基板受渡し位置から研磨位置に移動する前に、トップリング噴霧ノズル58、上部噴霧ノズル60、及び側部噴霧ノズル62からの洗浄液の噴霧が停止される。このように、動作制御部5は、トップリング14の位置に基づいて噴霧ノズル58,60,62からの洗浄液の噴霧開始及び停止を制御する。
Before the
ドレッサ20が研磨テーブル12の側方の退避位置にある時に、ドレッサヘッドカバー30a,30b,30cの周囲に配置された上部噴霧ノズル64及び側部噴霧ノズル66からドレッサヘッドカバー30a,30b,30cの外面に洗浄液を噴霧する。これによって、ドレッサヘッドカバー30a,30b,30cの外面を、噴霧された洗浄液で湿潤状態に保つ。このように、洗浄液で湿潤状態に保つことによって、研磨液が湿潤状態の表面に接触しても、その表面に研磨液が付着してしまうことを防ぐことができ、しかも研磨液が乾燥してしまうことを防ぐことができる。
When the
ドレッサ20が退避位置からドレッシング位置に移動する前に、上部噴霧ノズル64及び側部噴霧ノズル66からの洗浄液の噴霧が停止される。このように、動作制御部5は、ドレッサ20の位置に基づいて上部噴霧ノズル64及び側部噴霧ノズル66からの洗浄液の噴霧開始及び停止を制御する。
Before the
洗浄位置にあるアトマイザ40が研磨面10aに混合流体または液体などの洗浄流体を噴霧して研磨面10aを洗浄している時や、アトマイザ40が退避位置に位置しつつドレッサ20で研磨面10aをドレッシングしている時を含め、基板を実際に研磨していない時に、アトマイザカバー42の外面に噴霧ノズル72から洗浄液を噴霧する。これによって、アトマイザカバー42の外面を、噴霧された洗浄液で湿潤状態に保つ。このように、洗浄液で湿潤状態に保つことによって、研磨液が湿潤状態の表面に接触しても、その表面に研磨液が付着してしまうことを防ぐことができ、しかも研磨液が乾燥してしまうことを防ぐことができる。
When the
特に、アトマイザ40から研磨面10aに洗浄流体を噴霧して研磨面10aを洗浄している時に、アトマイザカバー42の外面に噴霧ノズル72から洗浄液を噴霧することで、研磨面10aから跳ね返った洗浄流体がアトマイザカバー42に付着するのを防止することができる。
In particular, when the polishing
研磨パッド10上で基板が研磨されているときは、洗浄液はアトマイザカバー42には噴霧されない。このように、動作制御部5は、基板が研磨されているか否かに基づいて、噴霧ノズル72からの洗浄液の噴霧開始及び停止を制御する。
When the substrate is being polished on the
なお、前述のように、アトマイザ40を洗浄位置に固定して、基板を研磨していない時に、アトマイザカバー42の外面に噴霧ノズル72から洗浄液を噴霧するようにしてもよい。アトマイザカバー42を覆う洗浄液は、研磨パッド10上にある液がドレッシング中に飛び散ってアトマイザ40に付着することを防止することができる。なお、この場合、噴霧ノズル72から噴霧した洗浄液が研磨パッド10の上に落下するが、その洗浄液は、アトマイザ40から研磨面10aに同時に供給される洗浄流体で除去されるので、研磨パッド10の上に残留することはない。
As described above, the
アトマイザ40から研磨面10aに混合流体または液体などの洗浄流体を噴霧して研磨面10aを洗浄している時や、ドレッサ20で研磨面10aをドレッシングしている時を含め、研磨液供給ノズル46が退避位置に位置して、基板を実際に研磨していない時に、研磨液供給ノズル46、つまりパイプ50に噴霧ノズル76から洗浄液を噴霧する。これによって、研磨液供給ノズル46、つまりパイプ50の外面を、噴霧された洗浄液で湿潤状態に保つ。このように、洗浄液で湿潤状態に保つことによって、研磨液が湿潤状態の表面に接触しても、その表面に研磨液が付着してしまうことを防ぐことができ、しかも研磨液が乾燥してしまうことを防ぐことができる。
The polishing
研磨液供給ノズル46が退避位置から研磨液供給位置に移動する前に、噴霧ノズル76からの洗浄液の噴霧が停止される。このように、動作制御部5は、研磨液供給ノズル46の位置に基づいて噴霧ノズル76からの洗浄液の噴霧開始及び停止を制御する。
Before the polishing
この例では、研磨液供給ノズル46を研磨液供給位置から退避位置に移動できるようにしているが、前述のアトマイザ40と同様に、研磨液供給ノズル46を研磨液供給位置に固定するようにしてもよい。この場合、アトマイザ40から研磨面10aに洗浄流体を噴霧して研磨面10aを洗浄している時や、ドレッサ20で研磨面10aをドレッシングしている時に、研磨液供給位置に位置する研磨液供給ノズル46に洗浄液を噴霧して研磨液供給ノズル46を湿潤に保つことができる。
In this example, the polishing
更に、基板を実際に研磨していない時に、チャンバ52の天井壁52aに天井壁噴霧ノズル54から、チャンバ52の周壁52bに周壁噴霧ノズル56から洗浄液をそれぞれ噴霧する。これによって、チャンバ52の内壁面を構成する天井壁52a及び周壁52bを洗浄液で湿潤状態に保つ。このように、洗浄液で湿潤状態に保つことによって、研磨液が湿潤状態の表面に接触しても、その表面に研磨液が付着してしまうことを防ぐことができ、しかも研磨液が乾燥してしまうことを防ぐことができる。
Further, when the substrate is not actually polished, the cleaning liquid is sprayed from the ceiling
研磨パッド10上で基板が研磨されているときは、洗浄液はチャンバ52の天井壁52a及び周壁52bには噴霧されない。このように、動作制御部5は、基板が研磨されているか否かに基づいて、天井壁噴霧ノズル54及び周壁噴霧ノズル56からの洗浄液の噴霧開始及び停止を制御する。
When the substrate is being polished on the
図6に示すように、防水プレート84をチャンバ52の周壁52bの所定位置に設けてもよい。防水プレート84は、平板状の支持板80と、鉛直方向に沿って所定間隔で支持板80に取り付けられた複数の折返し板82とを有している。各折返し板82は、下方に傾斜している。このように構成された防水プレート84は、研磨パッド10からの気流の跳ね返りを防止することができる。
As shown in FIG. 6, the
この研磨装置によれば、トップリング14の上面、トップリングヘッドカバー24の外面、及びドレッサヘッドカバー30a,30b,30cの外面等の研磨テーブル12の周辺に配置される構成部品を、研磨等の各処理に影響を与えることなく、湿潤状態に保ことができる。これによって、研磨テーブル12の周辺に配置される構成部品に研磨液が付着して乾燥することを防止することができ、さらに乾燥した研磨液が研磨テーブル12上に落下して基板にスクラッチを発生させることを防止することができる。
According to this polishing apparatus, the components arranged around the polishing table 12 such as the upper surface of the
上述したすべての噴霧ノズルからの洗浄液の噴霧開始及び停止は、動作制御部5に設定されている動作レシピに従って実行される。これらの噴霧ノズルから供給された洗浄液は、研磨装置がアイドル運転(待機運転)中においても上記構成部品を湿潤状態に保つことができる。研磨装置のアイドル運転とは、比較的長い時間基板の研磨が実行されないときの待機運転であり、例としては、1つのロット内のすべての基板の研磨を完了してから、次のロット内の基板の研磨を開始するまでの間の待機運転が挙げられる。
The start and stop of spraying of the cleaning liquid from all the spray nozzles described above are executed according to the operation recipe set in the
なお、研磨液等が付着し難くするため、研磨テーブル12の周辺に配置される構成部品の一部または全てに、撥水コートを施してもよい。 In order to make it difficult for the polishing liquid or the like to adhere, a water repellent coat may be applied to some or all of the components arranged around the polishing table 12.
図7は、本発明の他の実施形態の研磨装置を示す斜視図である。特に説明しない構成及び動作は、図1に示す実施形態の構成及び動作と同様であるので、その重複する説明を省略する。図7においては、動作制御部5の図示は省略されている。
FIG. 7 is a perspective view showing a polishing apparatus according to another embodiment of the present invention. Since the configuration and operation that are not particularly described are the same as the configuration and operation of the embodiment shown in FIG. In FIG. 7, the illustration of the
図7に示すように、アトマイザ40は、研磨パッド10の研磨面10aに液体(例えば純水)と気体(例えば窒素ガス)の混合流体または液体(例えば純水)などの洗浄流体を霧状に噴霧(噴射も含む)して該研磨面10aを洗浄するアトマイザヘッド89(図8参照)と、アトマイザヘッド89の上面を覆うアトマイザカバー42とを有している。アトマイザヘッド89の下面には、その長手方向に沿った所定間隔で、洗浄流体を下方に噴出する多数の噴霧ノズル89a(図8参照)が設けられている。このアトマイザ40は、アトマイザ揺動軸44の上端に連結され、このアトマイザ揺動軸44の回転に伴って、図7に実線で示す研磨テーブル12の側方に位置する退避位置と、図7に想像線で示す研磨テーブル12の上方に位置する洗浄位置との間を揺動する。
As shown in FIG. 7, the
図8乃至図11は、アトマイザカバー42を示す。図8及び図9において、左側がアトマイザカバー42の基端側で、右側がアトマイザカバー42の先端側である。図8乃至図11に示すように、アトマイザカバー42は、半径R1が一定で1/4円状の縦断面を有する第1頂板90aと、基端から先端に向けて半径が徐々に小さくなる、すなわち基端側の半径R2が先端側半径の半径R3よりも大きい(R2>R3)1/4円状の縦断面を有する第2頂板90bとを有している。第1頂板90aの頂部と第2頂板90bの頂部は互いに接続されて、半円筒形状の半円筒頂板90を構成している。この半円筒頂板90は半円状の縦断面を有している。さらに、アトマイザカバー42は、半円筒頂板90の両下端からスムーズに連続して鉛直方向に垂下する2つの側板、すなわち第1側板92及び第2側板94を有している。第1側板92の上端は第1頂板90aの下端に一体に接続され、第2側板94の上端は第2頂板90bの下端に一体に接続されている。
8 to 11 show the
第1頂板90a、第2頂板90b、及び側板92,94は、下端が開口した空間96をアトマイザカバー42内に形成している。第1頂板90aの頂部及び第2頂板90bの頂部(すなわち半円筒頂板90の頂部)を鉛直方向に通る想像面を鉛直面Y−Yと定義すると、アトマイザカバー42内の空間96では、鉛直面Y−Yから第1側板92までの幅aは一定であり、鉛直面Y−Yから第2側板94までの幅bは、基端から先端に向けて、徐々に小さくなる。アトマイザカバー42内の空間96は、鉛直面Y−Yを中心として非対称である。この空間96内には、図8に示すように、研磨面10aに液体(例えば純水)と気体(例えば窒素ガス)の混合流体または液体(例えば純水)などの洗浄流体を霧状に噴霧して研磨面10aを洗浄する噴霧ノズル89aを有するアトマイザヘッド89が、その上面をアトマイザカバー42で覆われて収納される。
The first
この例では、共に1/4円状の縦断面を有する第1頂板90aと第2頂板90bとを頂部において互いに連結して半円筒頂板90を形成しているが、共に円弧状の縦断面を有する第1頂板と第2頂板とをそれらの頂部において互いに連結して半円筒頂板を形成するようにしてもよい。
In this example, the semi-cylindrical
第2頂板90bに接続された第2側板94には、外方への突出量が基端から先端に向けて徐々に小さくなる突出部98が一体に設けられている。この突出部98は、噴霧ノズル89aから研磨パッド10に洗浄流体を噴霧したときに、研磨パッド10から巻き上がる洗浄流体がチャンバ52(図2参照)内に拡散するのを防止する役目を果たす。突出部98が形成されていない第2側板94の部分の下端面94aと、突出部98の下端面98aは連続的に接続されている。この例では、第2頂板90bに接続された第2側板94にのみ突出部98を設けているが、第1頂板90aに接続された第1側板92にも突出部を設けるようにしてもよい。
The
第1側板92の下端面92aは、図8に示すように、水平面X−Xに対して、アトマイザカバー42の先端から基端に向けて下方に傾斜する勾配を有している。同様に、互いに接続された第2側板94の下端面94aと突出部98の下端面98aは、先端から基端に向けて下方に傾斜する勾配を有している。
As shown in FIG. 8, the
このアトマイザカバー42は、例えばポリ塩化ビニル等の樹脂で一体成型される。樹脂の一体成型における抜き勾配は、例えば1.5°である。つまり、図10において、第1頂板90aに接続された第1側板92の鉛直部92Aと、第2頂板90bに接続された第2側板94の鉛直部94Bは、互いに平行ではなく、両者間の距離が下向きの方向に沿って徐々に拡がるようになっている。このアトマイザカバー42は、このように樹脂で一体成型可能な形状を有している。
The
このアトマイザカバー42の頂板90の先端側裏面には、矩形状のノルシール100が取付けられ、基端側に設けられた切欠き部にはボルト取付け具102が取付けられている。このボルト取付け具102の内部には、アトマイザカバー42の長手方向に延びる長穴102aが設けられている。
A rectangular nor
アトマイザカバー42は、ボルト取付け具102の長穴102a内に、図示しないボルトの軸部を挿通させ、ボルトを締付けてボルトの頭部をボルト取付け具102に当接させることで、所定位置に1本のボルトで固定される。長穴102aを介して、アトマイザカバー42の長手方向に沿った取付け位置が微調整される。
The
アトマイザカバー42は、その内面や外面に液体が接触しても流れ落ちやすい、角部のない平滑な形状を有している。このような形状により、アトマイザカバー42が研磨液を含む液体で汚染されることを防止すると共に、アトマイザカバー42に付着した研磨液を含む液体の払拭性を良くすることができる。しかも、アトマイザカバー42を角部のない平滑な形状にすることで、樹脂による一体成形が可能となる。
The
上述したように、第1頂板90aに接続された第1側板92の下端面92aは、水平面X−Xに対して、アトマイザカバー42の先端から基端に向けて下方に傾斜している。同様に、第2頂板90bに接続された第2側板94の下端面94aと突出部98の下端面98aは、アトマイザカバー42の先端から基端に向けて下方に傾斜している。液体は、アトマイザカバー42の半円筒頂板90から側板92,94に流下し、更には突出部98上を流下して側板92,94の下端面92a,94a及び突出部98の下端部98aに達する。下端面92a,94a,98aは水平面X−Xに対して傾斜しているので、液体はこれらの下端面92a,94a,98a上をアトマイザカバー42の先端から基端に向けて流れる。
As described above, the
更に、第2頂板90bに接続された第2側板94に突出部98を一体に設けることで、アトマイザカバー42を突出部98で補強することができる。
Furthermore, the
図7に示すように、トップリングヘッドカバー24は、側板110を有する側部カバー112と、側部カバー112の下端開口部を閉塞する下部カバー114を有している。図12は、下部カバー114の詳細を示す。図12に示すように、下部カバー114は、底板116と、該底板116の外周部から上方に延び、側部カバー112の側板110と共に、トップリングヘッド16の周囲を囲繞する側板118を有している。トップリング14は、下部カバー114の底板116を貫通して下方に延出するトップリング駆動軸28の下端に連結されている。
As shown in FIG. 7, the top
下部カバー114の底板116は、トップリング14が研磨面10aの上方の研磨位置にある時に、研磨テーブル12の半径方向の外方に向けて下方に傾斜する勾配を有している。つまり、下部カバー114の底板116は、トップリングヘッド揺動軸26に向かって下方に傾斜する勾配を有している。
The
トップリングヘッドカバー24の内部に入り込んだ研磨液は、下部カバー114の底板116に達し、この底板116の勾配に沿って流れて、研磨テーブル12の側方に集められる。従って、研磨液でトップリングヘッドカバー24やトップリングヘッド16が汚染されたり、研磨液が研磨面10aに滴下して該研磨面10aが汚染されたりすることを防止することができる。
The polishing liquid that has entered the top
図13は、図12のA−A線拡大断面図を示す。図13に示すように、下部カバー114の側板118の上端面が、側部カバー112の側板110の下端面に接触または近接した状態で、側板118及び側板110の裏面にノルシール120が取り付けられている。このノルシール120によってこれら側板110,78の間の隙間がシールされている。このような構造は、側部カバー112と下部カバー114との連結部を、側部カバー112と下部カバー114の間の角部よりも上方に位置させることができる。側部カバー112と下部カバー114との連結部が角部に存在すると、研磨液が角部に滞留しやすくなる。図13に示す構成は、このような問題を解決することができる。さらに、ノルシール120は、研磨液のトップリングヘッドカバー24内への侵入を防ぐことができる。
FIG. 13 is an enlarged sectional view taken along line AA in FIG. As shown in FIG. 13, the nor
図14は、第2ドレッサヘッドカバー30bの縦断面図を示す。図14に示すように、第2ドレッサヘッドカバー30bは、略円筒状の上部側板122と下部側板124とを有している。上部側板122の下端面を下部側板124の上端面に接触または近接させた状態で、上部側板122及び下部側板124の外周面にテープ126が貼り付けられている。このテープ126によって上部側板122と下部側板124との間の隙間がシールされている。そして、上部側板122の内周面に取付けた突条部128と下部側板124の内周面に取付けた突条部130との間に緩衝材132が配置されている。このような構造により、上部側板122と下部側板124との連結部を上方に移動させるとともに、第2ドレッサヘッドカバー30b内への液体の侵入を防ぐことができる。
FIG. 14 is a longitudinal sectional view of the second
上部側板122の上部には、上部側板122の鉛直部を水平部にスムーズに接続する曲面部120aが形成されている。このような曲面部120aにより、上部側板122の外面上を水滴がスムーズに流れるようにすることができる。
A
なお、第2ドレッサヘッドカバー30bと同様な構成を、第1ドレッサヘッドカバー30aに採用してもよい。
A configuration similar to that of the second
図15は、研磨液供給ノズル46の詳細を示す。図15に示すように、研磨液供給ノズル46は、複数の研磨液チューブ134を一本のパイプ50内に纏めて構成されている。これにより、研磨液チューブ134間の隙間内への研磨液の侵入を防止するとともに、研磨液供給ノズル46の洗浄性を向上させることができる。
FIG. 15 shows details of the polishing
上述した実施形態は、本発明が属する技術分野における通常の知識を有する者が本発明を実施できることを目的として記載されたものである。上記実施形態の種々の変形例は、当業者であれば当然になしうることであり、本発明の技術的思想は他の実施形態にも適用しうることである。したがって、本発明は、記載された実施形態に限定されることはなく、特許請求の範囲によって定義される技術的思想に従った最も広い範囲とすべきである。 The embodiment described above is described for the purpose of enabling the person having ordinary knowledge in the technical field to which the present invention belongs to implement the present invention. Various modifications of the above embodiment can be naturally made by those skilled in the art, and the technical idea of the present invention can be applied to other embodiments. Therefore, the present invention should not be limited to the described embodiments, but should be the widest scope according to the technical idea defined by the claims.
5 動作制御部
10 研磨パッド
10a 研磨面
12 研磨テーブル
14 トップリング
16 トップリングヘッド
20 ドレッサ
22 ドレッサヘッド
24 トップリングヘッドカバー
30a,30b,30c ドレッサヘッドカバー
40 アトマイザ
42 アトマイザカバー
46 研磨液供給ノズル
50 パイプ
52 チャンバ
54 天井壁噴霧ノズル
56 周壁噴霧ノズル
58 トップリング噴霧ノズル
60,64 上部噴霧ノズル
62,66 側部噴霧ノズル
72,76 噴霧ノズル
84 防水プレート
89 アトマイザヘッド
90 半円筒頂板
90a 第1頂板
90b 第2頂板
92,94 側板
96 空間
98 突出部
100 ノルシール
102 ボルト取付け具
110 側板
112 側部カバー
114 下部カバー
116 底板
118 側板
120 ノルシール
122 上部側板
124 下部側板
126 テープ
132 緩衝材
134 研磨液チューブ
DESCRIPTION OF
Claims (6)
前記研磨面に洗浄流体を噴霧して該研磨面を洗浄するアトマイザヘッドと、
前記アトマイザヘッドの上面を覆うアトマイザカバーと、
前記アトマイザカバーは、
半円筒形状を有する半円筒頂板と、
前記半円筒頂板の両下端から下方に延びる第1側板及び第2側板を有し、
前記半円筒頂板は、
前記アトマイザカバーの基端から先端まで半径が一定である円弧状の縦断面を有する第1頂板と、
前記アトマイザカバーの基端から先端に向けて半径が徐々に小さくなる円弧状の縦断面を有する第2頂板を有し、
前記第1頂板の頂部と前記第2頂板の頂部が互いに接続されて、前記半円筒頂板を形成することを特徴とする研磨装置。 A rotatable polishing table for supporting a polishing pad having a polishing surface;
An atomizer head for spraying a cleaning fluid onto the polishing surface to clean the polishing surface;
An atomizer cover covering the upper surface of the atomizer head;
The atomizer cover is
A semi-cylindrical top plate having a semi-cylindrical shape;
A first side plate and a second side plate extending downward from both lower ends of the semi-cylindrical top plate;
The semi-cylindrical top plate is
A first top plate having an arcuate longitudinal section with a constant radius from the base end to the tip of the atomizer cover;
A second top plate having an arcuate longitudinal section with a gradually decreasing radius from the base end to the tip of the atomizer cover;
A polishing apparatus, wherein a top part of the first top plate and a top part of the second top plate are connected to each other to form the semi-cylindrical top plate.
前記第2側板には、水平方向に突出する突出部が設けられていることを特徴とする請求項1に記載の研磨装置。 The second side plate is connected to the second top plate;
The polishing apparatus according to claim 1 , wherein the second side plate is provided with a protruding portion that protrudes in a horizontal direction.
前記トップリングヘッドを包囲するトップリングヘッドカバーを更に有し、
前記トップリングヘッドカバーは、前記トップリングヘッドを囲む側部カバーと、前記側部カバーの下端開口部を閉塞する下部カバーを有し、
前記下部カバーは、前記トップリングが前記研磨テーブルの上方の研磨位置にある時に、前記研磨テーブルの半径方向の外方に向けて下方に傾斜する底板を有することを特徴とする請求項1に記載の研磨装置。 A top ring head having a top ring pressed against the polishing surface while holding and rotating the substrate;
A top ring head cover surrounding the top ring head;
The top ring head cover has a side cover that surrounds the top ring head, and a lower cover that closes a lower end opening of the side cover,
It said lower cover, when the top ring is in a polishing position above the polishing table, according to claim 1, characterized in that it comprises a bottom plate which is inclined downward toward the outside in the radial direction of the polishing table Polishing equipment.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013216656A JP6031426B2 (en) | 2012-11-02 | 2013-10-17 | Polishing apparatus and polishing method |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012242951 | 2012-11-02 | ||
JP2012242951 | 2012-11-02 | ||
JP2013216656A JP6031426B2 (en) | 2012-11-02 | 2013-10-17 | Polishing apparatus and polishing method |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014111301A JP2014111301A (en) | 2014-06-19 |
JP2014111301A5 JP2014111301A5 (en) | 2016-07-28 |
JP6031426B2 true JP6031426B2 (en) | 2016-11-24 |
Family
ID=51168848
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013216656A Expired - Fee Related JP6031426B2 (en) | 2012-11-02 | 2013-10-17 | Polishing apparatus and polishing method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6031426B2 (en) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9700988B2 (en) | 2014-08-26 | 2017-07-11 | Ebara Corporation | Substrate processing apparatus |
JP2016043471A (en) * | 2014-08-26 | 2016-04-04 | 株式会社荏原製作所 | Substrate processing apparatus |
JP6313196B2 (en) | 2014-11-20 | 2018-04-18 | 株式会社荏原製作所 | Polishing surface cleaning apparatus, polishing apparatus, and manufacturing method of polishing surface cleaning apparatus |
JP6353774B2 (en) * | 2014-12-03 | 2018-07-04 | 株式会社東京精密 | Wafer grinding equipment |
JP2017177303A (en) * | 2016-03-31 | 2017-10-05 | 株式会社荏原製作所 | Substrate polishing device, method for cleaning the same and device for supplying liquid to substrate polishing device |
JP6758066B2 (en) * | 2016-03-31 | 2020-09-23 | 株式会社荏原製作所 | Polishing equipment |
JP2022014055A (en) * | 2020-07-06 | 2022-01-19 | 株式会社荏原製作所 | Liquid supply device and polishing device |
CN111790669A (en) * | 2020-07-14 | 2020-10-20 | 东阳市俊华电器销售有限公司 | Hardware fitting polishing, cleaning and spraying all-in-one machine |
WO2024057951A1 (en) * | 2022-09-16 | 2024-03-21 | 東京エレクトロン株式会社 | Substrate processing apparatus and substrate processing method |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5893753A (en) * | 1997-06-05 | 1999-04-13 | Texas Instruments Incorporated | Vibrating polishing pad conditioning system and method |
US6139406A (en) * | 1997-06-24 | 2000-10-31 | Applied Materials, Inc. | Combined slurry dispenser and rinse arm and method of operation |
US6283840B1 (en) * | 1999-08-03 | 2001-09-04 | Applied Materials, Inc. | Cleaning and slurry distribution system assembly for use in chemical mechanical polishing apparatus |
US6284092B1 (en) * | 1999-08-06 | 2001-09-04 | International Business Machines Corporation | CMP slurry atomization slurry dispense system |
JP5744382B2 (en) * | 2008-07-24 | 2015-07-08 | 株式会社荏原製作所 | Substrate processing apparatus and substrate processing method |
-
2013
- 2013-10-17 JP JP2013216656A patent/JP6031426B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2014111301A (en) | 2014-06-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6031426B2 (en) | Polishing apparatus and polishing method | |
KR101689428B1 (en) | Polishing apparatus and polishing method | |
US9174324B2 (en) | Polishing apparatus with polishing head cover | |
KR100328607B1 (en) | Combined slurry dispenser and rinse arm and method of operation | |
US10350728B2 (en) | System and process for in situ byproduct removal and platen cooling during CMP | |
TW201330148A (en) | Substrate cleaning method and substrate cleaning device | |
JPH11347917A (en) | Polishing device | |
JP2014111301A5 (en) | ||
JP2023013332A5 (en) | ||
JP6313196B2 (en) | Polishing surface cleaning apparatus, polishing apparatus, and manufacturing method of polishing surface cleaning apparatus | |
JP2016055408A (en) | Polishing device | |
JP5911792B2 (en) | Polishing method | |
JP2002079461A (en) | Polishing device | |
JP6758066B2 (en) | Polishing equipment | |
JP2007168039A (en) | Polishing surface washing mechanism of polishing table and polishing device | |
KR100445634B1 (en) | an apparatus for polishing semiconductor wafer | |
JP2003133277A (en) | Apparatus for cleaning polishing surface of polishing apparatus | |
TWI824755B (en) | A device for carrying and cleaning silicon wafers | |
JP5911786B2 (en) | Polishing equipment | |
JP7288370B2 (en) | Wafer cleaning mechanism | |
JP2019209410A (en) | Polishing device and cleaning method for the same | |
JP2004273530A (en) | Washing device and method therefor | |
CN218692049U (en) | Wafer cleaning device | |
US20230182262A1 (en) | Substrate cleaning device and substrate polishing device | |
JP5088984B2 (en) | Coating equipment |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160613 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160613 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20160613 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20160629 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160915 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20160927 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20161024 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6031426 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |