JP6014385B2 - 磁気記録媒体及び磁気記録再生装置 - Google Patents
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Description
また、特許文献2には、TiN、ZrN、HfN、CrNなどの遷移金属窒化物で形成された下地層上に、L10構造を有するFePtやCoPtなどの磁性物質からなるドットと非磁性領域とを備える磁気記録層が備えられた磁気記録媒体が記載されている。
また、マイクロ波アシスト磁気記録媒体において、L10型結晶構造を有する合金からなる磁性層の配向を、より一層良好なものとすることが求められる。すなわち、マイクロ波アシスト磁気記録方式においても、熱アシスト磁気記録方式と同様に、磁性層の材料として、L10型結晶構造を有する合金からなる高Ku材料を用いることができる。また、記録密度を更に上げるためには磁性層の粒径を下げることが必須となる。そのため、マイクロ波アシスト磁気記録方式においても、磁性粒子の粒径を微細化しても熱安定性を維持できるL10型結晶構造を有する合金からなる磁気記録媒体が求められている。
また、本発明は、L10型結晶構造を有する合金からなる磁性層を備え、磁性層が良好な配向を有するマイクロ波アシスト磁気記録媒体、およびこれを備えた磁気記録再生装置を提供することを目的とする。
(1)基板上に形成された配向制御層と、前記配向制御層上に形成された下地層と、前記下地層上に形成されたL10型結晶構造を有する合金を主成分とする磁性層とを有し、前記下地層が、MgOを含む(100)配向を有するMgO下地層と、TaN、NbN、HfNから選ばれた少なくとも一つの窒化物を含む(100)配向を有する窒化物下地層とを含み、熱アシスト磁気記録方式またはマイクロ波アシスト磁気記録方式で記録されるものであることを特徴とする磁気記録媒体。
(4)前記配向制御層が、Cr、Mo、Nb、Ta、V、W、もしくはCrを主成分とし、Mn、Mo、Ru、Ti、V、Wのうち少なくとも一種類を含むBCC構造を有する(100)配向のBCC下地層を含むことを特徴とする(1)乃至(3)の何れか1項に記載の磁気記録媒体。
(5)前記配向制御層が、NiAlまたはRuAlからなるB2構造を有するB2下地層を含むことを特徴とする(1)乃至(4)の何れか1項に記載の磁気記録媒体。
(6)前記磁性層が、L10型結晶構造を有するFePt合金もしくはCoPt合金を主成分とし、かつ、SiO2、TiO2、Cr2O3、Al2O3、Ta2O5、ZrO2、Y2O3、CeO2、MnO、TiO、ZnO、Cから選択される少なくとも一種類の酸化物、もしくは元素を含有していることを特徴とする(1)乃至(5)の何れか1項に記載の磁気記録媒体。
[熱アシスト磁気記録媒体]
図1は、本発明の熱アシスト磁気記録媒体の一例を示した断面図である。
図1に示す熱アシスト磁気記録媒体は、基板101上に、密着層102とヒートシンク層103とシード層104とBCC下地層105(配向制御層)と下地層10と磁性層108と保護膜109と潤滑剤層110とがこの順で積層されたものである。磁性層108は、L10型結晶構造を有する合金を主成分とするものである。
本発明の熱アシスト磁気記録媒体に使用される基板101としては、例えば、円形の非磁性基板を用いることができる。非磁性基板としては、例えば、ガラス、アルミ、セラミックスなどを用いることができる。ガラス基板としては、結晶化ガラスや非晶質ガラス、強化ガラスなどを使用できる。
熱アシスト磁気記録媒体に使用される基板101としては、ガラス転移点の高い耐熱性に優れたものを用いることが望ましく、基板101上に形成される各層の成膜条件や、熱アシスト磁気記録媒体の使用条件などに応じて、表面粗さや熱容量、結晶化状態などを適宜選択して決定できる。
密着層102は、ヒートシンク層103と基板101との密着性を向上させるためのものであり、必要に応じて備えられるものである。密着層102の材料としては、CrTiやNiTaなどが挙げられる。
ヒートシンク層103は、記録後に磁性層108に溜まった熱を速やかに散逸させるためのものであり、必要に応じて備えられるものである。ヒートシンク層103の材料としては、Ag、Al、Cu、W、Moもしくはこれらを主成分とする熱伝導率の高い合金などが挙げられる。基板101と磁性層108との間にヒートシンク層103が設けられている場合、下地層10による磁性層108の配向制御効果を確保できる範囲で、下地層10の厚みをできるだけ薄くすることが望ましい。下地層10の膜厚を薄くすることで、ヒートシンク層103と磁性層108との距離が短くなり、ヒートシンク層103の散熱効果を大きくでき、遷移幅を急峻にできる。
シード層104は、ヒートシンク層103の配向を打ち消して、その上のBCC下地層105に良好な(100)配向を取らせるために設けられた下地層である。シード層104は、シード層104の直下の層が(100)配向を示し、その上のBCC下地層105が良好な(100)配向を示す場合には設けなくてもよいが、図1に示す熱アシスト磁気記録媒体の場合、ヒートシンク層103が(111)配向を示すので、この(111)配向を打ち消すためにCrTiからなるシード層104が形成されている。シード層104の材料としては、CrTiやNiTa、AlTiのような軟磁性層が挙げられる。
BCC下地層105は、磁性層108の配向を制御する配向制御層として形成されたものである。
BCC下地層105は、Cr、Mo、Nb、Ta、V、W、もしくはCrを主成分とし、Mn、Mo、Ru、Ti、V、Wのうち少なくとも一種類を含むBCC構造を有する(100)配向のものである。また、BCC下地層105は、(100)配向した窒化物下地層106を形成するための下地層として機能するものである。なお、BCC下地層105は、(100)配向したMgO下地層107を形成するための下地層として形成されていてもよい。
なお、BCC下地層105およびB2下地層は、DC放電成膜法を用いて形成することができる。このことにより、BCC下地層105およびB2下地層は、窒化物下地層106やMgO下地層107と比較して容易に膜厚の厚いものとすることができる。このため、BCC下地層105およびB2下地層は、配向を制御する層のうち最も基板101側に配置される層として好ましい。
下地層10は、主に磁性層108の結晶粒径や結晶配向、平坦性などを制御して、磁性層108の性能を向上させるものである。
図1に示す熱アシスト磁気記録媒体における下地層10は、BCC下地層105上に形成されたものであり、窒化物下地層106とMgO下地層107とがこの順で積層されたものとされている。
窒化物下地層106は、TaN、NbN、HfNから選ばれた少なくとも一つの窒化物を含むものである。TaN、NbN、HfNは、(100)配向のNaCl構造を有するものであり、(100)配向したMgO下地層107を形成するための下地層として機能するものである。図1に示す下地層10においては、(100)配向した窒化物下地層106が形成されていることにより、窒化物下地層106上に形成されたMgO下地層107が(100)配向したものとされている。
また、窒化物下地層106の厚みは、均一で良好な配向性を示す磁性層108を得るために、0.5nm〜30nmであることが好ましい。窒化物下地層106の厚みが上記範囲未満である場合、MgO下地層107の配向およびMgO下地層107上に配置される磁性層108の配向を制御する機能が十分に得られず、良好な磁性層108の(001)配向が得られにくくなる。また、窒化物下地層106の厚みが上記範囲を超えると、窒化物下地層106の厚みが不均一になりやすく、窒化物下地層106上に形成されるMgO下地層107および磁性層108の平坦性が不十分となりやすくなる。
MgO下地層107は、MgOを含むものであり、(100)配向のNaCl構造を有するものである。MgOの格子定数は、L10型結晶構造を有する合金を主成分とする磁性層108のa軸長と近似している。具体的には、NaCl構造のMgOの格子定数は、0.421nmであり、磁性層108の主成分として使用されるL10型結晶構造を有するFePtのa軸長は0.385nmであり、L10型結晶構造を有するCoPtのa軸長は0.381nmである。このため、MgO下地層107上に、FePt合金もしくはCoPt合金を主成分とする磁性層108を形成することにより、磁性層108に良好な(001)配向をとらせることができる。また、MgO下地層107は、磁性層108に使用されるL10型結晶構造を有する合金との格子不整合が、窒化物下地層106よりも小さいものである。
次に、下地層の製造方法の一例として、図1に示す下地層10の製造方法を例に挙げて説明する。
図1に示す下地層10を形成するには、まず、窒化物下地層106となる窒化物膜を(100)配向させるために、基板101上に、窒化物下地層106の下地層として機能する(100)配向したBCC下地層105(配向制御層)を設ける。
(100)配向したBCC下地層105は、具体的には例えば、250℃程度に加熱した基板101にCr膜を成膜する方法などにより形成できる。
すなわち、下地層10の形成された基板101を450〜700℃に加熱して、磁性層108となるFePt膜をエピタキシャル成長させる。本実施形態においては、下地層10の配向制御効果によって、L10型結晶構造を有するFePtからなり、良好な(001)配向を示す磁性層108が形成される。
なお、下地層10の磁性層108に対する配向制御効果は、下地層10として形成されている窒化物下地層106とMgO下地層107との格子定数が異なっていることにより、効果的に機能すると推定される。したがって、下地層10として窒化物下地層106とMgO下地層107とが設けられている場合、格子定数が同じ複数層からなる下地層が設けられている場合と比較して、良好な(001)配向を示す磁性層108が形成される。
なお、本発明の熱アシスト磁気記録媒体は、配向制御層と、配向制御層上に形成された下地層10と、下地層10上に形成された磁性層108とを有するものであればよく、下地層10を構成する各層の積層順序や積層数は設計に応じて任意に選択でき、図1に示す例に限定されるものではない。
具体的には例えば、下地層10は、図1に示すように、BCC下地層105上に窒化物下地層106とMgO下地層107とがこの順で積層されたものであってもよいし、MgO下地層107および/または窒化物下地層106が2層以上積層されているものであってもよい。
また、MgO下地層107は水に溶けるため、高温高湿条件によるコロージョンが起こりやすい。MgO下地層107上に窒化物下地層106が形成されている場合、窒化物下地層106によってMgO下地層107が保護されるため、高温高湿条件によるコロージョンの発生が防止され、コロージョン特性が良好なものとなる。
磁性層108は、L10型結晶構造を有する合金を主成分とするものである。高記録密度を達成するためには、磁性層108は、粒界偏析材料で分離された数nmの磁性粒子で形成されていることが好ましいが、磁性粒子の体積が小さくなり熱的に不安定になる。そのため、本実施形態においては、磁性層108の主成分として、磁気異方性エネルギーの高いL10型結晶構造を有する合金が用いられる。
保護膜109としては、耐熱性に優れる材料からなるものであること望ましく、単層または複数層のカーボン膜などを用いることができる。カーボン膜としては、水素や窒素、金属を添加したものを用いてもよい。カーボン膜は、CVD法やイオンビーム法によって形成できる。
「潤滑剤層」
潤滑剤層110としては、パーフルオロポリエーテルからなる液体潤滑剤層などを用いることができる。
また、MgO下地層107がBCC下地層105上に形成されている場合には、容易に良好な配向を有するMgO下地層107が得られるため、MgO下地層107上に良好な(001)配向を有する磁性層108が形成された熱アシスト磁気記録媒体となる。
本発明の磁気記録媒体は、マイクロ波アシスト磁気記録媒体にも適用可能である。
本実施形態のマイクロ波アシスト磁気記録媒体としては、例えば、基板上に、BCC下地層(配向制御層)と下地層と磁性層とがこの順で積層されたものが挙げられる。BCC下地層(配向制御層)と下地層と磁性層としては、上述した図1に示す熱アシスト磁気記録媒体と同様のものを用いることができる。
マイクロ波アシスト磁気記録媒体においては、媒体表面を加熱しないためヒートシンク層は必要としない。図1に示す磁気記録媒体の場合、ヒートシンク層103を除くこともできるし、密着層102上に直接BCC下地層105を形成することもできる。
次に、本発明の磁気記録再生装置について説明する。図3は、本発明の磁気記録再生装置の一例を示した斜視図であり、図4は、図3に示す磁気記録再生装置に備えられた磁気ヘッドの構成を模式的に示した断面図である。
図3に示す磁気記録再生装置は、本発明の熱アシスト磁気記録媒体からなる磁気記録媒体301と、磁気記録媒体301を回転させ、記録方向に駆動する媒体駆動部302と、磁気記録媒体301に対する記録動作と再生動作とを行う磁気ヘッド303と、磁気ヘッド303を磁気記録媒体301に対して相対移動させるヘッド駆動部304と、磁気ヘッド303への信号入力と磁気ヘッド303からの出力信号の再生とを行う記録再生信号処理系305とから概略構成されている。
次に、本発明の磁気記録再生装置の他の例について説明する。
本発明の磁気記録再生装置は、マイクロ波アシスト磁気記録媒体からなる磁気記録媒体を備えるものであってもよい。このような磁気記録再生装置としては、例えば、マイクロ波アシスト磁気記録媒体からなる磁気記録媒体と、磁気記録媒体を記録方向に駆動する媒体駆動部と、磁気記録媒体にマイクロ波を照射する素子と、磁気記録媒体に対する記録動作と再生動作とを行う磁気ヘッドと、磁気ヘッドを前記磁気記録媒体に対して相対移動させるヘッド移動部と、磁気ヘッドへの信号入力と前記磁気ヘッドからの出力信号の再生とを行う記録再生信号処理系とを備えるものが挙げられる。
このような磁気記録再生装置は、高い保磁力と高いシグナルノイズ比(SNR)とを有する本発明のマイクロ波アシスト磁気記録媒体からなる磁気記録媒体を備えているので、エラーレートが低く、優れた記録再生特性が得られるものとなる。
(実施例1−1〜1−5)
以下に示す方法により、図1に示す熱アシスト磁気記録媒体を製造した。
その後、基板101を250℃まで加熱して、Cr−20at%Vからなる厚み30nmのBCC下地層105(配向制御層)(第一下地層)と、TaNからなる厚み5nmの窒化物下地層106(第二下地層)と、MgOからなる厚み5nmのMgO下地層107(第三下地層)とを順次形成した。
以上の工程により、実施例1−1の熱アシスト磁気記録媒体を得た。
実施例1−1〜1−5の配向制御層(第一下地層)、窒化物下地層(第二下地層)、MgO下地層(第三下地層)の材料を表1に示す。
実施例1−1、1−2および1−4の熱アシスト磁気記録媒体におけるMgO下地層(第三下地層)を除き、他の層は全て実施例1−1と同様にして比較例1−1〜1−3の熱アシスト磁気記録媒体を作製した。
また、実施例1−1、1−2および1−4の熱アシスト磁気記録媒体における窒化物下地層(第二下地層)を除き、他の層は全て実施例1−1と同様にして比較例1−4〜1−6の熱アシスト磁気記録媒体を作製した。
また、実施例1−1の熱アシスト磁気記録媒体におけるBCC下地層(第一下地層)とMgO下地層を除き、他の層は全て実施例1−1と同様にして比較例1−10の熱アシスト磁気記録媒体を作製した。
比較例1−1〜1−11の配向制御層(第一下地層)、窒化物下地層(第二下地層)、MgO下地層(第三下地層)の材料を表2に示す。
保磁力は、物理特性測定装置(PPMS)により室温で7Tの磁界を印加して測定した。また、電磁変換特性のSNRは、レーザースポット加熱機構を搭載したヘッドを用い、スピンスタンドテスターにて測定を行った。
実施例1−1、1−2及び1−4の磁気記録媒体における磁性層108を膜厚9nmの(Fe−45at%Pt−5at%Ag)−35mol%Cに置き換え、他の層は全て実施例1−1と同様にして実施例2−1〜2−3の磁気記録媒体を作製した。
次に、実施例2−1〜2−3の磁気記録媒体における窒化物下地層(第二下地層)をNbN層に置き換え、他の層は全て実施例2−1〜2−3のぞれぞれと同様にして実施例2−4〜2−6の磁気記録媒体とし、また、窒化物下地層をHfN層に置き換え、他の層は全て実施例2−1〜2−3のぞれぞれと同様にして実施例2−7〜2−9の磁気記録媒体を作製した。
また、実施例2−1〜2−9の熱アシスト磁気記録媒体について、実施例1−1と同様にして保持力およびSNRを測定した。その結果を表3に示す。
磁気記録媒体の表面粗さ(Ra)は、Veeco社製AFMのタッピングモードを用いて、10μm視野で測定した。磁気記録媒体のパーティクル数の計測には、CANDELA社製OSA−6100を用い、磁気記録媒体一面のパーティクル数として記した。
実施例2−1、2−3の磁気記録媒体における第二下地層をMgO層に置き換え、他の層は全て実施例2−1、2−3と同様にして比較例2−1、2−2の磁気記録媒体とし、さらに、実施例2−1、2−3の磁気記録媒体における第三下地層をTaN層に置き換え、他の層は全て実施例2−1、2−3と同様にして比較例2−3、2−4の磁気記録媒体とした。
このようにして作製した比較例2−1〜2−4の熱アシスト磁気記録媒体について、実施例1と同様にして保持力およびSNRを測定した。その結果を表4に示す。
これは、下地層として、格子定数の異なるTaN層とMgO層とを配置することにより、良好な配向を有する磁性層が得られたためと考えられる。
以下に示す方法により、図2の断面模式図に示す熱アシスト磁気記録媒体を作製した。
2.5インチガラス基板201上に、Cr−50at%Tiからなる厚み40nmの密着層202を成膜し、続けてCuからなる厚み30nmのヒートシンク層203、続けてCr−50at%Tiからなる厚み30nmのシード層204を成膜した。
その後、基板201を280℃まで加熱して、Cr−20at%Moからなる厚み30nmのBCC下地層205(配向制御層)(第一下地層)と、MgOからなる厚み5nmのMgO下地層206(第二下地層)と、TaNからなる厚み5nmの窒化物下地層207(第三下地層)とを順次形成した。
以上の工程により、実施例3−1の熱アシスト磁気記録媒体を得た。
実施例3−1〜3−7の配向制御層(第一下地層)、MgO下地層(第二下地層)、窒化物下地層(第三下地層)の材料を表5に示す。
実施例3−1、3−6の熱アシスト磁気記録媒体における窒化物下地層(第三下地層)を除き、他の層は全て実施例3−1、3−6と同様にして、比較例3−1、3−2の熱アシスト磁気記録媒体を作製した。
また、実施例3−1、3−6の熱アシスト磁気記録媒体におけるMgO下地層(第二下地層)を除き、他の層は全て実施例3−1、3−6と同様にして比較例3−3、3−4の熱アシスト磁気記録媒体を作製した。
実施例3−1〜3−7および比較例3−1〜3−4の熱アシスト磁気記録媒体について、実施例1−1と同様にして保持力およびSNRを測定した。その結果を表5および表6に示す。
また、表5に示すように、Cr−MoからなるBCC下地層(配向制御層)を有する実施例3−1〜3−3の磁気記録媒体において比較すると、BCC下地層に含まれるMoの含有量が少ないほど保磁力およびSNRが高い傾向が見られた。
実施例3−1の熱アシスト磁気記録媒体における磁性層208を(Fe−45at%Pt)−18mol%SiO2に置き換えて、実施例4−1の熱アシスト磁気記録媒体を作製した。また、実施例4−1の熱アシスト磁気記録媒体における配向制御層(第一下地層)をRu−50at%Al(B2下地層)に置き換えて実施例4−2の磁気記録媒体を作製した。
実施例4−1〜4−6の熱アシスト磁気記録媒体の配向制御層(第一下地層)、MgO下地層(第二下地層)、窒化物下地層(第三下地層)の材料を表7に示す。
実施例1−1〜1−5、2−1〜2−9、4−1〜4−6、比較例1−1〜1−11、2−1〜2−4の熱アシスト磁気記録媒体を図3に示す磁気記録再生装置の磁気記録媒体として用い、エラーレートを測定した。
エラーレートは、線記録密度1600kFCI、トラック密度500kFCI(面記録密度800Gbit/inch2)の条件で記録して測定した。
その結果、実施例1−1〜1−5、2−1〜2−9、及び実施例4−1〜4−6の熱アシスト磁気記録媒体を組み込んだ磁気記憶装置は、1×10−7以下の低いエラーレートを示した。また、比較例1−1〜1−11、2−1〜2−4の熱アシスト磁気記録媒体を組み込んだ磁気記憶発生装置のエラーレートは1×10−4程度であった。
Claims (8)
- 基板上に形成された配向制御層と、
前記配向制御層上に形成された下地層と、
前記下地層上に形成されたL10型結晶構造を有する合金を主成分とする磁性層とを有し、
前記下地層が、MgOを含む(100)配向を有するMgO下地層と、TaN、NbN、HfNから選ばれた少なくとも一つの窒化物を含む(100)配向を有する窒化物下地層とを含み、
熱アシスト磁気記録方式またはマイクロ波アシスト磁気記録方式で記録されるものであることを特徴とする磁気記録媒体。 - 前記窒化物下地層上に前記MgO下地層が形成されていることを特徴とする請求項1に記載の磁気記録媒体。
- 前記MgO下地層上に前記窒化物下地層が形成されていることを特徴とする請求項1に記載の磁気記録媒体。
- 前記配向制御層が、Cr、Mo、Nb、Ta、V、W、もしくはCrを主成分とし、Mn、Mo、Ru、Ti、V、Wのうち少なくとも一種類を含むBCC構造を有する(100)配向のBCC下地層を含むことを特徴とする請求項1乃至3の何れか1項に記載の磁気記録媒体。
- 前記配向制御層が、NiAlまたはRuAlからなるB2構造を有するB2下地層を含むことを特徴とする請求項1乃至4の何れか1項に記載の磁気記録媒体。
- 前記磁性層が、L10型結晶構造を有するFePt合金もしくはCoPt合金を主成分とし、かつ、SiO2、TiO2、Cr2O3、Al2O3、Ta2O5、ZrO2、Y2O3、CeO2、MnO、TiO、ZnO、Cから選択される少なくとも一種類の酸化物、もしくは元素を含有していることを特徴とする請求項1乃至5の何れか1項に記載の磁気記録媒体。
- 請求項1乃至請求項6のいずれか1項に記載の磁気記録媒体と、
前記磁気記録媒体を記録方向に駆動する媒体駆動部と、
前記磁気記録媒体を加熱するレーザー発生部と前記レーザー発生部から発生したレーザー光を先端部へと導く導波路と前記先端部に設けられた近接場発生素子とを有して前記磁気記録媒体に対する記録動作と再生動作とを行う磁気ヘッドと、
前記磁気ヘッドを前記磁気記録媒体に対して相対移動させるヘッド移動部と、
前記磁気ヘッドへの信号入力と前記磁気ヘッドからの出力信号の再生とを行う記録再生信号処理系とを備える磁気記録再生装置。 - 請求項1乃至請求項6のいずれか1項に記載の磁気記録媒体と、
前記磁気記録媒体を記録方向に駆動する媒体駆動部と、
前記磁気記録媒体にマイクロ波を照射する素子と、
前記磁気記録媒体に対する記録動作と再生動作とを行う磁気ヘッドと、
前記磁気ヘッドを前記磁気記録媒体に対して相対移動させるヘッド移動部と、
前記磁気ヘッドへの信号入力と前記磁気ヘッドからの出力信号の再生とを行う記録再生信号処理系とを備える磁気記録再生装置。
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