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JP5963194B2 - Exposure equipment - Google Patents

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JP5963194B2
JP5963194B2 JP2012158850A JP2012158850A JP5963194B2 JP 5963194 B2 JP5963194 B2 JP 5963194B2 JP 2012158850 A JP2012158850 A JP 2012158850A JP 2012158850 A JP2012158850 A JP 2012158850A JP 5963194 B2 JP5963194 B2 JP 5963194B2
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Description

本発明は、被露光体に各種パターンを露光する露光装置に関するものである。   The present invention relates to an exposure apparatus that exposes various patterns on an object to be exposed.

基材を一方向に搬送しながら、この基材に位相差パターン,フィルタパターン,回路パターンなどの各種パターンを露光する露光装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。
また、基材としてのフィルムに液体状の配向膜形成材を塗布し、それに偏光した紫外線などを照射し、配向膜を同一方向に配向させる、いわゆる光配向技術が知られている。
There is known an exposure apparatus that exposes various patterns such as a phase difference pattern, a filter pattern, and a circuit pattern to the substrate while conveying the substrate in one direction (see, for example, Patent Document 1).
In addition, a so-called photo-alignment technique is known in which a liquid alignment film forming material is applied to a film as a base material and irradiated with polarized ultraviolet rays or the like to align the alignment film in the same direction.

また、配向膜形成材の被塗布領域の近傍に、マスク位置補正用のアライメントマークを形成し、フィルム上の被露光体としての配向膜にマスクパターンを露光する場合、アライメントマークの位置に基づいて、フィルム上の被露光体とマスクパターンとの位置を調整する露光装置が知られている。この際、アライメントマークの形成位置は、配向膜形成材の被塗布領域に近いほど、フィルム上の被露光体とマスクパターンとの位置調整の精度が高くなる。   In addition, when an alignment mark for mask position correction is formed in the vicinity of the application region of the alignment film forming material, and the mask pattern is exposed to the alignment film as an exposure object on the film, the alignment mark is based on the position of the alignment mark. An exposure apparatus that adjusts the positions of an object to be exposed and a mask pattern on a film is known. At this time, the closer the alignment mark formation position is to the alignment film forming material application region, the higher the accuracy of position adjustment between the exposure object on the film and the mask pattern.

また、上記アライメントマークとして、レーザー光をフィルムに照射し、フィルム表面に所定形状の凹凸を形成する技術が知られている。   As the alignment mark, a technique is known in which a film is irradiated with laser light to form irregularities of a predetermined shape on the film surface.

特開2009−53383号公報JP 2009-53383 A

しかしながら、フィルム表面にレーザー光を照射してフィルム表面に凹凸状のアライメントマークを形成した後、液体状の配向膜形成材を塗布したとき、アライメントマークの凹凸部に配向膜形成材が塗布されて、アライメントマークが判別できなくなる場合がある。アライメントマークが判別できないとき、フィルム上の被露光体とマスクパターンとの位置調整の精度が低下する場合がある。   However, after the film surface is irradiated with laser light to form an uneven alignment mark on the film surface and then a liquid alignment film forming material is applied, the alignment film forming material is applied to the uneven portion of the alignment mark. In some cases, the alignment mark cannot be identified. When the alignment mark cannot be determined, the accuracy of position adjustment between the exposure object on the film and the mask pattern may be lowered.

また、インクによりアライメントマークを形成した後、有機溶液を含む配向膜形成材をフィルム上の被塗布領域に塗布したとき、被塗布領域の近傍に形成したインク式のアライメントマークに有機溶液が浸透し、アライメントマークを溶解させて、アライメントマークをにじませる場合がある。アライメントマークのにじみの程度が大きいと、フィルム上の被露光体とマスクパターンとの位置調整の精度が低下する場合がある。マスク位置の補正の精度が低下すると、マスクパターンの露光精度が低下する場合がある。   In addition, when an alignment film forming material containing an organic solution is applied to the coated area on the film after forming the alignment mark with ink, the organic solution penetrates into the ink type alignment mark formed in the vicinity of the coated area. In some cases, the alignment mark is dissolved to cause the alignment mark to bleed. If the degree of bleeding of the alignment mark is large, the accuracy of position adjustment between the exposure object on the film and the mask pattern may be lowered. If the mask position correction accuracy decreases, the mask pattern exposure accuracy may decrease.

本発明は、このような問題に対処することを課題の一例とするものである。すなわち、配向膜形成材の被塗布領域の近傍にマスク位置調整用のアライメントマークをインクにより形成した後、被塗布領域に液体状の配向膜形成材を塗布する場合であっても、マスクとフィルムとの位置調整を高精度に行うこと、所定のマスクパターンを高精度にフィルム上の被露光体に露光すること、等が本発明の目的である。   This invention makes it an example of a subject to cope with such a problem. That is, even when an alignment mark for adjusting the mask position is formed with an ink in the vicinity of the application region of the alignment film forming material, the mask and the film are applied even when the liquid alignment film formation material is applied to the application region. It is an object of the present invention to perform the positional adjustment with high accuracy and to expose a predetermined mask pattern onto the exposure object on the film with high accuracy.

このような目的を達成するために、本発明による露光装置は、以下の構成を少なくとも具備するものである。   In order to achieve such an object, an exposure apparatus according to the present invention comprises at least the following arrangement.

フィルム上の被露光体にマスクパターンを露光する露光装置であって、フィルムを一方向に沿って搬送するフィルム搬送部と、前記フィルム搬送部に配置され、前記フィルム上へ配向膜形成材が塗布される被塗布領域の近傍に、インクにてアライメントマークを形成するマーキング部と、前記アライメントマークが形成されたフィルム上の前記被塗布領域に液体状の配向膜形成材を塗布する塗布部と、前記フィルムに形成されたアライメントマークと前記被塗布領域の配向膜形成材とを乾燥させる乾燥装置と、前記乾燥装置により乾燥されたフィルム上の配向膜形成材に近接配置されるフォトマスクと、前記フォトマスクのマスクパターンの開口を介して光を照射する光照射部と、前記フォトマスクを保持するマスク保持部と、前記アライメントマークに基づいて、前記フォトマスクと前記被露光体との位置調整を行う位置調整部と、を有し、前記乾燥装置は、前記アライメントマークが前記配向膜形成材による溶解でにじむ前に、前記アライメントマークを乾燥させる位置に配置されていることを特徴とする露光装置。   An exposure apparatus that exposes a mask pattern on an object to be exposed on a film, the film transport unit transporting the film along one direction, and the film transport unit disposed on the film, and an alignment film forming material is applied onto the film A marking portion that forms an alignment mark with ink in the vicinity of the coating region to be applied, and a coating portion that applies a liquid alignment film forming material to the coating region on the film on which the alignment mark is formed, A drying device that dries the alignment mark formed on the film and the alignment film forming material in the coated region, a photomask that is disposed close to the alignment film forming material on the film dried by the drying device, and A light irradiating unit configured to irradiate light through an opening of a mask pattern of the photomask; a mask holding unit configured to hold the photomask; and the aligner. A position adjusting unit that adjusts the position of the photomask and the object to be exposed based on the mark, and the drying apparatus is configured to allow the alignment mark to be blurred before being melted by the alignment film forming material. An exposure apparatus, wherein the alignment mark is disposed at a position for drying the alignment mark.

このような構成を有する本発明によると、配向膜形成材の被塗布領域の近傍にマスク位置調整用のアライメントマークをインクにより形成した後、被塗布領域に液体状の配向膜形成材を塗布した場合であっても、マスクとフィルムとの位置調整を高精度に行うことができる。本発明によると、所定のマスクパターンを高精度にフィルム上の被露光体に露光することができる。   According to the present invention having such a configuration, after an alignment mark for adjusting the mask position is formed with ink in the vicinity of the application region of the alignment film forming material, the liquid alignment film formation material is applied to the application region. Even in this case, the position adjustment between the mask and the film can be performed with high accuracy. According to the present invention, a predetermined mask pattern can be exposed on an exposure object on a film with high accuracy.

本発明の実施形態に係る露光装置を採用したロールトゥロール方式のフィルム製造ラインの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the film manufacturing line of the roll to roll system which employ | adopted the exposure apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る露光装置の動作の概念図である。It is a conceptual diagram of operation | movement of the exposure apparatus which concerns on embodiment of this invention. マーキング部と塗布部とフィルムの正面図である。It is a front view of a marking part, an application part, and a film. マーキング部と塗布部とフィルムの斜視図である。It is a perspective view of a marking part, an application part, and a film. マーキング部と塗布部と乾燥装置と露光部の説明図である。It is explanatory drawing of a marking part, an application part, a drying apparatus, and an exposure part. 本発明の実施形態に係る露光装置の露光部の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the exposure part of the exposure apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る露光装置の制御装置の一例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows an example of the control apparatus of the exposure apparatus which concerns on embodiment of this invention. インクによるアライメントマークの一例を示す図であり、(a)はにじみのないアライメントマークの一例を示す図、(b)は(a)に示したアライメントマークを撮像した画像の画素値を示す図、(c)は僅かににじんだ状態のアライメントマークの一例を示す図、(d)は(c)に示したアライメントマークを撮像した画像の画素値を示す図、(e)は大きくにじんだ状態のアライメントマークの一例を示す図、(f)は(c)に示したアライメントマークを撮像した画像の画素値を示す図である。It is a figure which shows an example of the alignment mark by an ink, (a) is a figure which shows an example of an alignment mark without a blur, (b) is a figure which shows the pixel value of the image which imaged the alignment mark shown to (a), (C) is a diagram showing an example of an alignment mark in a slightly blurred state, (d) is a diagram showing a pixel value of an image obtained by imaging the alignment mark shown in (c), and (e) is in a greatly blurred state. FIG. 5 is a diagram illustrating an example of an alignment mark, and FIG. 5F is a diagram illustrating pixel values of an image obtained by imaging the alignment mark illustrated in FIG. アライメントマークを撮像した画像のコントラスト(エッジの鮮明度)と、フィルムの搬送方向への移動距離(移動時間)の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the contrast (edge sharpness) of the image which imaged the alignment mark, and the movement distance (movement time) to the conveyance direction of a film.

以下、図面を参照しながら本発明の実施形態を説明する。図1は、本発明の実施形態に係る露光装置100の一例を示す図である。図2は本発明の実施形態に係る露光装置100の動作の概念図である。図3はマーキング部4と塗布部としてのスリットコーター5とフィルム2の正面図である。図4はマーキング部4とスリットコーター5とフィルム2の斜視図である。図5はマーキング部4とスリットコーター5と乾燥装置6と露光部7の説明図である。尚、マーキング部4、スリットコーター5、乾燥装置6、露光部7の位置や距離などは図示したものに限られるものではない。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a view showing an example of an exposure apparatus 100 according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a conceptual view of the operation of the exposure apparatus 100 according to the embodiment of the present invention. FIG. 3 is a front view of the marking unit 4, the slit coater 5 as the coating unit, and the film 2. FIG. 4 is a perspective view of the marking unit 4, the slit coater 5, and the film 2. FIG. 5 is an explanatory diagram of the marking unit 4, the slit coater 5, the drying device 6, and the exposure unit 7. The positions and distances of the marking unit 4, the slit coater 5, the drying device 6, and the exposure unit 7 are not limited to those illustrated.

本発明の実施形態に係る露光装置100は、液体状の有機溶液を含む配向膜形成材51が塗布される被塗布領域52(配向膜塗布領域)の近傍のマーキング領域に、インクにてアライメントマーク41を形成するマーキング部4と、フィルム2上の被塗布領域52に液体状の有機溶液を含む配向膜形成材51を塗布する塗布部としてのスリットコーター5と、アライメントマーク41と被塗布領域52の配向膜形成材51を乾燥させる乾燥装置6と、アライメントマーク41に基づいて、フォトマスク77とフィルム2上の被露光体としての配向膜形成材51との位置調整を行う露光部7と、を有する。本実施形態では、フィルム2上にアライメントマーク41を形成したのち、スリットコーター5で塗工された配向膜形成材51による溶解でアライメントマーク41がにじむ前に、アライメントマーク41を乾燥させる位置に、乾燥装置6が配置されている。   An exposure apparatus 100 according to an embodiment of the present invention uses an alignment mark in ink in a marking area near an application area 52 (alignment film application area) to which an alignment film forming material 51 containing a liquid organic solution is applied. Marking part 4 for forming 41, slit coater 5 as an application part for applying alignment film forming material 51 containing a liquid organic solution to application area 52 on film 2, alignment mark 41 and application area 52 A drying device 6 that dries the alignment film forming material 51, an exposure unit 7 that adjusts the position of the photomask 77 and the alignment film forming material 51 as an object to be exposed on the film 2 based on the alignment mark 41, Have In this embodiment, after forming the alignment mark 41 on the film 2, before the alignment mark 41 is blurred by melting with the alignment film forming material 51 applied by the slit coater 5, the alignment mark 41 is dried at a position. A drying device 6 is arranged.

以下、本発明の実施形態に係る露光装置100の各構成要素を詳細に説明する。
本実施形態においては、図1に示したように、一例として、FPR方式用偏光フィルムを製造する、ロールトゥロール方式のフィルム製造ライン101に本発明に係る露光装置100を適用した場合について説明するが、この形態に限らず、あらゆる露光装置に適用することができる。
Hereinafter, each component of the exposure apparatus 100 according to the embodiment of the present invention will be described in detail.
In the present embodiment, as shown in FIG. 1, as an example, a case will be described in which the exposure apparatus 100 according to the present invention is applied to a roll-to-roll film manufacturing line 101 for manufacturing an FPR polarizing film. However, the present invention is not limited to this form and can be applied to any exposure apparatus.

図1に示したように、ロールトゥロール方式のフィルムの製造ライン101は、フィルム搬送部15と、前処理部3と、マーキング部4と、塗布部としてのスリットコーター5と、乾燥装置6と、露光部7と、温度調節装置8と、後処理部11と、などを有する。   As shown in FIG. 1, a roll-to-roll film production line 101 includes a film transport unit 15, a pretreatment unit 3, a marking unit 4, a slit coater 5 as an application unit, and a drying device 6. , Exposure unit 7, temperature control device 8, post-processing unit 11, and the like.

フィルム搬送部15は、フィルム2を一方向に沿って搬送する。フィルム搬送部15は、一対の搬送ロール15a,15b、ローラ9などを有し、各搬送ロール15a,15bは駆動モータなどにより駆動され、フィルム2を搬送する。本実施形態では、フィルム搬送部15の搬送ロール15aと搬送ロール15bの間に、前処理部3と、マーキング部4と、塗布部としてのスリットコーター5と、乾燥装置6と、露光部7と、温度調節装置8と、後処理部11と、などが配置されている。   The film transport unit 15 transports the film 2 along one direction. The film transport unit 15 includes a pair of transport rolls 15a and 15b, a roller 9, and the like. Each transport roll 15a and 15b is driven by a drive motor or the like to transport the film 2. In this embodiment, between the conveyance roll 15a and the conveyance roll 15b of the film conveyance part 15, the pre-processing part 3, the marking part 4, the slit coater 5 as an application | coating part, the drying apparatus 6, and the exposure part 7 The temperature control device 8, the post-processing unit 11, and the like are arranged.

被露光体が塗布されるフィルム2は、図1に示したように、搬送ロール15aから巻き解かれて前処理部3に供給され、前処理部3にてドライ洗浄および表面改質などの前処理が施された後、マーキング部4によりフォトマスクの位置決めの基準となるアライメントマークが形成され、スリットコーター5によりフィルムの表面に、有機溶液を含む配向膜形成材などの規定材料が塗工され、乾燥装置6により乾燥された後、搬送ローラ12により、露光部7内に供給される。フィルム2は、各装置間をローラ9上に支持されて、その回転により搬送される。   As shown in FIG. 1, the film 2 on which the object to be exposed is unwound from the transport roll 15 a and supplied to the pretreatment unit 3. After the processing, an alignment mark serving as a reference for positioning the photomask is formed by the marking unit 4, and a prescribed material such as an alignment film forming material containing an organic solution is applied to the surface of the film by the slit coater 5. After being dried by the drying device 6, the paper is supplied into the exposure unit 7 by the transport roller 12. The film 2 is supported on the roller 9 between the apparatuses and is conveyed by its rotation.

露光部7の入り口には、モータにより駆動される搬送ローラなどのフィルム供給部が設けられており、フィルム2を露光部7内で、その長さ方向に沿って搬送するように構成されている。露光部7は、フィルム2上の被露光体にマスクパターンを露光する。露光部7は、アライメントマーク41の位置に基づいて、フォトマスクとフィルム2上の被露光体との位置調整を高精度に行い、マスクパターンを高精度に被露光体の規定位置に露光する。   At the entrance of the exposure unit 7, a film supply unit such as a conveyance roller driven by a motor is provided, and the film 2 is configured to be conveyed along the length direction in the exposure unit 7. . The exposure unit 7 exposes the mask pattern on the object to be exposed on the film 2. The exposure unit 7 adjusts the position of the photomask and the object to be exposed on the film 2 with high accuracy based on the position of the alignment mark 41, and exposes the mask pattern to the specified position of the object to be exposed with high accuracy.

その後、フィルム2は温度調節装置8に供給され、所定温度となるように調整された後、後処理部11にて、保護膜の貼着などの所定の後処理が施された後、ローラ12に巻き取られる。   Thereafter, the film 2 is supplied to the temperature control device 8 and adjusted to have a predetermined temperature, and then subjected to a predetermined post-treatment such as adhesion of a protective film in the post-processing unit 11, and then the roller 12. Rolled up.

上述したように、本実施形態では、基材としてフィルム2を採用している。フィルム2の形成材料としては、例えば、TAC(トリアセチルセルロース)などが挙げられる。   As described above, in this embodiment, the film 2 is employed as the base material. Examples of the material for forming the film 2 include TAC (triacetyl cellulose).

図2に示したように、フィルム2の基材幅(フィルム幅)は、各加工工程で湿分により変動する。各加工工程におけるフィルム2の基材幅について説明する。   As shown in FIG. 2, the base material width (film width) of the film 2 varies depending on moisture in each processing step. The substrate width of the film 2 in each processing step will be described.

詳細には、図2に示したように、フィルム巻出し時(ST1)、フィルム2の基材幅(搬送方向に直交する方向(幅方向)の長さ)は予め規定された長さである。   Specifically, as shown in FIG. 2, when unwinding the film (ST1), the substrate width of the film 2 (the length in the direction (width direction) orthogonal to the transport direction) is a predetermined length. .

マーキング部4によるマーキング工程(ST2)では、フィルム2の基材幅は略規定の長さとなっている。この安定状態のフィルム2に、マスクパターンの位置決めの基準となるアライメントマークがマーキング部4により形成される。   In the marking step (ST2) by the marking unit 4, the base material width of the film 2 is a substantially prescribed length. An alignment mark serving as a reference for positioning the mask pattern is formed on the film 2 in the stable state by the marking portion 4.

次に、塗布部としてのスリットコーター5による配向膜塗工工程(ST3)にて、有機溶液を含む配向膜形成材がフィルム2上に塗工されると、フィルム2が僅かに膨張し、フィルム2の基材幅が僅かに大きくなる。   Next, when the alignment film forming material containing the organic solution is applied onto the film 2 in the alignment film coating step (ST3) by the slit coater 5 as the application part, the film 2 slightly expands, The substrate width of 2 is slightly increased.

乾燥装置6による乾燥工程(ST4)では、基材の湿分が最小値(湿度約0%)となり、フィルム2が収縮し、基材幅が最小値となる。   In the drying step (ST4) by the drying device 6, the moisture content of the base material becomes the minimum value (humidity of about 0%), the film 2 contracts, and the base material width becomes the minimum value.

加湿搬送工程(ST5)では、フィルム2が乾燥装置6外に搬送されると、乾燥装置6外の空気中の湿分を吸収し始め、フィルム2の基材幅が増大する。   In the humidifying and conveying step (ST5), when the film 2 is conveyed outside the drying device 6, moisture in the air outside the drying device 6 begins to be absorbed, and the substrate width of the film 2 increases.

その後、露光部7による追従露光工程(ST6)で、アライメントマークの位置に基づいて、フィルム2の露光体に対してマスク位置を随時補正しながら、追従露光を行う。   Thereafter, in the follow-up exposure step (ST6) by the exposure unit 7, follow-up exposure is performed while correcting the mask position on the exposed body of the film 2 as needed based on the position of the alignment mark.

本実施形態では、追従露光工程(ST6)において、それぞれ異なるマスクパターンを露光する追従露光工程A(ST6a)の次に追従露光工程B(ST6b)を行う。その後、所定処理、例えば、温度調整装置による温度調整工程、後処理工程により規定の幅となる。   In the present embodiment, in the follow-up exposure step (ST6), the follow-up exposure step B (ST6b) is performed after the follow-up exposure step A (ST6a) for exposing different mask patterns. After that, a predetermined width is obtained by a predetermined process, for example, a temperature adjustment process by the temperature adjustment apparatus and a post-processing process.

上記工程ST5からST6において、フィルム2が乾燥装置6外に搬送されると、乾燥装置6外の空気中の湿分を吸収し始め、フィルム2の基材幅が増大し、所定時間経過後、湿度の吸収が飽和して、基材幅が規定の長さとなり安定する。この基材幅の増大の速度や安定状態までの時間などは、製造ラインが設置されている室内の空気中の湿度などに影響される。   In the above steps ST5 to ST6, when the film 2 is transported outside the drying device 6, it begins to absorb moisture in the air outside the drying device 6, the substrate width of the film 2 increases, and after a predetermined time, Absorption of humidity is saturated, and the substrate width becomes a specified length and is stable. The rate of increase in the width of the base material and the time until the stable state are affected by the humidity in the air in the room where the production line is installed.

本発明の実施形態では、マーキング工程ST2において、フィルム2の湿分の安定した状態のときに、追従露光において基準となるアライメントマーク41をフィルム2の規定位置に形成している。このため、乾燥装置6による焼成(ベーク)時や、乾燥装置6による焼成(ベーク)後の環境湿度、基材の湿分の変化により、フィルム2の基材幅が変動した場合であっても、追従露光工程ST6において、そのフィルム2に形成されたアライメントマーク41の位置に基づいて、フィルム2の露光体に対してマスク位置を随時補正しながら容易に、且つ、高精度に追従露光を行うことが可能である。   In the embodiment of the present invention, in the marking step ST2, when the moisture content of the film 2 is stable, the alignment mark 41 serving as a reference in the follow-up exposure is formed at the specified position of the film 2. For this reason, even when the substrate width of the film 2 fluctuates due to changes in environmental humidity and substrate moisture after baking (baking) by the drying device 6 or after baking (baking) by the drying device 6 In the follow-up exposure step ST6, the follow-up exposure is performed easily and with high accuracy while correcting the mask position as needed with respect to the exposure body of the film 2 based on the position of the alignment mark 41 formed on the film 2. It is possible.

すなわち、フィルム2の湿分に応じて、フィルム2の基材幅が変動する場合であっても、高精度にフィルム2の規定位置に規定のマスクパターンを露光することができる。このため、フィルム2の露光パターンの直線性が良好となる。製造ラインが設置されている室内の湿度が±20%程度変動したとしても、フィルム2の露光パターンの直線性が良好である。   That is, even if the base material width of the film 2 varies according to the moisture content of the film 2, the specified mask pattern can be exposed to the specified position of the film 2 with high accuracy. For this reason, the linearity of the exposure pattern of the film 2 becomes favorable. Even if the humidity in the room where the production line is installed fluctuates by about ± 20%, the linearity of the exposure pattern of the film 2 is good.

図3、図4、図5に示したように、フィルム2は搬送ローラにより搬送方向に規定の速度で搬送されている。マーキング部4はフィルム2の上流側に配置され、下流側に塗布部としてのスリットコーター5や露光部7などが配置されている。   As shown in FIGS. 3, 4, and 5, the film 2 is transported at a specified speed in the transport direction by a transport roller. The marking unit 4 is disposed on the upstream side of the film 2, and the slit coater 5, the exposure unit 7, and the like serving as an application unit are disposed on the downstream side.

マーキング部4は、フィルム2が規定の基材幅の時、フィルム2上の所定位置にインクによりアライメントマーク41を形成する。本実施形態では、図3に示すように、フィルム2上の幅方向の略中央に配向膜形成材が塗布される被塗布領域52が設定されている。アライメントマーク41は、被塗布領域52の近傍で、被塗布領域52とフィルム2の端部との間に形成される。詳細には、アライメントマーク41が、フィルム2の幅方向の端部からフィルム内側に規定距離42だけ離れた位置に形成されるように設定されている。   The marking unit 4 forms an alignment mark 41 with ink at a predetermined position on the film 2 when the film 2 has a prescribed substrate width. In the present embodiment, as shown in FIG. 3, an application region 52 to which the alignment film forming material is applied is set at the approximate center in the width direction on the film 2. The alignment mark 41 is formed between the coated region 52 and the end of the film 2 in the vicinity of the coated region 52. Specifically, the alignment mark 41 is set so as to be formed at a position away from the end in the width direction of the film 2 by a specified distance 42 inside the film.

図3に示したように、このアライメントマーク41は、被塗布領域52の幅方向に沿った端部からフィルム中央側に所定距離43だけ離れた位置に形成されている。
本実施形態では、マーキング領域は、被塗布領域52の幅方向に沿った端部からフィルム2の端部までの間の領域(縁部)である。
As shown in FIG. 3, the alignment mark 41 is formed at a position separated from the end portion along the width direction of the coated region 52 by a predetermined distance 43 toward the center of the film.
In the present embodiment, the marking region is a region (edge) between the end portion along the width direction of the coated region 52 and the end portion of the film 2.

アライメントマーク41の形成位置は、配向膜形成材の被塗布領域52に近いほど、マスクパターンとフィルム2上の被露光体としての配向膜形成材の位置調整の精度が高くなる。   The closer the alignment mark 41 is formed to the alignment film forming material application region 52, the higher the accuracy of position adjustment of the alignment film forming material as the exposure object on the mask pattern and film 2.

本実施形態では、マーキング部4は、フィルム基材20の側部に有色のインクを塗布する。有色のインクとしては、有色の顔料や染料等を含有する液状又はペースト状のインク、有色の光硬化性材料を液状又はペースト状としたインク、などを採用することができる。
好ましくは、乾燥装置6で溶媒成分を揮発させて有色の膜を形成できるインク、例えば、油性インクを採用することができる。
In the present embodiment, the marking unit 4 applies colored ink to the side of the film substrate 20. As the colored ink, a liquid or paste ink containing a colored pigment or dye, an ink in which a colored photocurable material is liquid or paste, and the like can be used.
Preferably, an ink capable of forming a colored film by volatilizing the solvent component with the drying device 6, for example, an oil-based ink, can be employed.

また、マーキング部4で用いられるインクとしては、速乾性のインク材料を採用することが好ましい。速乾性のインクを用いることで、配向膜形成材塗工時のインクのにじみを低減することができる。   Further, as the ink used in the marking portion 4, it is preferable to employ a quick-drying ink material. By using the quick-drying ink, it is possible to reduce ink bleeding at the time of applying the alignment film forming material.

マーキング部4のインクの塗布方式としては、例えば、滴化したインクをフィルムに吹き付ける、いわゆるインクジェット方式、インクを滴下する方式、フェルト質の繊維等により形成された塗布部材にインクを浸透させてこの塗布部材を送給されてくるフィルム2の側部の被露光体を塗布しない領域に接触させる方式、などを採用することができる。   As the ink application method of the marking unit 4, for example, a so-called ink jet method in which droplets of ink are sprayed onto a film, a method of dropping ink, and an ink is penetrated into an application member formed of felt-like fibers. For example, a method in which the exposed member on the side of the film 2 to which the coating member is fed is brought into contact with an area where coating is not performed can be employed.

アライメントマーク41の形状は、図4、図5に示したように、搬送方向に沿って所定間隔で点線状に形成してもよいし、直線状、十字形状など所定形状であってもよい。   As shown in FIGS. 4 and 5, the alignment mark 41 may be formed in a dotted line shape at a predetermined interval along the transport direction, or may be a predetermined shape such as a linear shape or a cross shape.

塗布部としてのスリットコーター5は、表面に所定の材料をフィルムの表面に所定の材料を塗工する。スリットコーター5は、配向膜形成材とその配向膜形成材を溶解する有機溶液との混合液をフィルム2上の被塗布領域52に塗工する。   The slit coater 5 as an application unit applies a predetermined material on the surface and a predetermined material on the surface of the film. The slit coater 5 applies a mixed liquid of an alignment film forming material and an organic solution that dissolves the alignment film forming material to the application region 52 on the film 2.

配向膜形成材51としては、公知の配向膜形成用材料、例えば、アゾベンゼン化合物、桂皮酸化合物、ヒドラゾノ−β−ケトエステル化合物、スチルベン化合物、スピロピラン化合物、などが挙げられる。有機溶液としては、アセトンなどを採用することができる。また、有機溶液としては、非プロトン性極性溶媒、フェノール系溶媒、などを採用することができる。   Examples of the alignment film forming material 51 include known alignment film forming materials such as azobenzene compounds, cinnamic acid compounds, hydrazono-β-ketoester compounds, stilbene compounds, and spiropyran compounds. As the organic solution, acetone or the like can be used. As the organic solution, an aprotic polar solvent, a phenol solvent, or the like can be used.

次に、乾燥装置6は、フィルム2、フィルム2上の被露光体としての配向膜形成材51、および、アライメントマーク41を乾燥させる。   Next, the drying device 6 dries the film 2, the alignment film forming material 51 as the object to be exposed on the film 2, and the alignment mark 41.

スリットコーター5により有機溶液を含む配向膜形成材51を被塗布領域52に塗工したとき、例えば、被塗布領域52の近傍に形成されたアライメントマーク41が、上記スリットコーター5により塗布された有機溶液に接触した場合、インクで形成されたアライメントマーク41がにじむ可能性がある。
本発明の実施形態では、有機溶液がアライメントマーク41に接触することによりアライメントマーク41がにじむ前に、乾燥装置6がフィルム2上に形成されたインクのアライメントマーク41および配向膜形成材51を乾燥させる。こうすることで、アライメントマーク41のにじみによるアライメントマーク41の位置の判別不能を防止し、アライメントマーク41の位置に基づいて、マスクとフィルムとの位置調整を高精度に行うことができる。
When the alignment film forming material 51 containing the organic solution is applied to the application region 52 by the slit coater 5, for example, the alignment mark 41 formed in the vicinity of the application region 52 is applied by the slit coater 5. When contacted with the solution, the alignment mark 41 formed of ink may be blurred.
In the embodiment of the present invention, the drying device 6 dries the ink alignment mark 41 and the alignment film forming material 51 formed on the film 2 before the organic mark comes into contact with the alignment mark 41 and the alignment mark 41 is blurred. Let By doing so, it is possible to prevent the position of the alignment mark 41 from being indistinguishable due to bleeding of the alignment mark 41, and to perform position adjustment between the mask and the film with high accuracy based on the position of the alignment mark 41.

図6は、本発明の実施形態に係る露光装置100の露光部7の一例を示す図である。
露光部7は、光源71と、反射ミラー72,73と、フライアイレンズ(インテグレータ)74と、コンデンサレンズ75と、偏光ビームスプリッタ等の偏光変換素子76と、などを有する。露光部7の各構成要素は、筐体7a内に配置されている。
FIG. 6 is a view showing an example of the exposure unit 7 of the exposure apparatus 100 according to the embodiment of the present invention.
The exposure unit 7 includes a light source 71, reflection mirrors 72 and 73, a fly-eye lens (integrator) 74, a condenser lens 75, a polarization conversion element 76 such as a polarization beam splitter, and the like. Each component of the exposure unit 7 is disposed in the housing 7a.

光源71は、例えば、紫外線などを出射する。光源71としては、水銀ランプ、キセノンランプ、エキシマランプ、紫外線LEDなどを採用することができる。   The light source 71 emits, for example, ultraviolet rays. As the light source 71, a mercury lamp, a xenon lamp, an excimer lamp, an ultraviolet LED, or the like can be used.

光源71から出射された光は、反射ミラー72,73により反射され、フライアイレンズ(インテグレータ)74によりその強度を光軸に垂直な面内で均一化される。そして、フライアイレンズ74の透過光がコンデンサレンズ75にて平行光に変換される。
コンデンサレンズ75の透過光は、マスク保持部78により保持されたフォトマスク77のマスクパターン77aに対応した開口を介して、フィルム2上の被露光体としての配向膜形成材51に照射される。
The light emitted from the light source 71 is reflected by the reflection mirrors 72 and 73, and its intensity is made uniform by a fly-eye lens (integrator) 74 in a plane perpendicular to the optical axis. The light transmitted through the fly-eye lens 74 is converted into parallel light by the condenser lens 75.
The transmitted light from the condenser lens 75 is applied to the alignment film forming material 51 as an object to be exposed on the film 2 through an opening corresponding to the mask pattern 77 a of the photomask 77 held by the mask holding unit 78.

本実施形態では、図5に示したように、フォトマスク77にはフィルム2のスキャン方向である搬送方向に長手方向を有するような光透過領域のパターン(開口)が一定間隔に形成され、詳細には、透過光の照射領域が画素の幅ずつ離隔するように複数本形成されている(光透過領域群)。露光装置100は、光透過領域群に露光光を連続的に照射しながら、フィルム上に形成された被露光体をスキャン方向に移動させることにより、同一の方向に配向した配向膜をスキャン方向に帯状に形成する。
また、本実施形態に係る露光装置100は、帯状に形成された配向膜間の未露光領域に、照射する露光光の偏光方向を変える、または、異なる方向から露光光を照射することで、配向方向が異なる帯状の配向膜を、それらが相互に隣接するようにフィルム2上に形成することができる。
In this embodiment, as shown in FIG. 5, the photomask 77 is formed with a pattern (aperture) of a light transmission region having a longitudinal direction in the transport direction which is the scanning direction of the film 2 at regular intervals. A plurality of transmission light irradiation regions are formed so as to be separated by the width of the pixel (light transmission region group). The exposure apparatus 100 moves an object to be exposed formed on the film in the scan direction while continuously irradiating the light transmission region group with exposure light, thereby aligning the alignment film oriented in the same direction in the scan direction. It is formed in a strip shape.
In addition, the exposure apparatus 100 according to this embodiment changes the polarization direction of the exposure light to be irradiated to the unexposed areas between the alignment films formed in a strip shape, or irradiates the exposure light from different directions, thereby aligning the exposure light. Band-shaped alignment films having different directions can be formed on the film 2 so that they are adjacent to each other.

例えば、3Dディスプレイ用偏光フィルムを製造する際、露光装置100は、1回目の露光による配向膜の形成領域を3Dディスプレイ装置の画素の幅ごとに隔離するように構成し、2回目に照射する露光光の偏光方向を、隣接する画素となる領域ごとにP偏光およびS偏光の直線偏光にする。尚、フィルム2上の被露光体への露光方法は、上述した形態に限られるものではない。   For example, when manufacturing a polarizing film for a 3D display, the exposure apparatus 100 is configured to isolate the formation region of the alignment film formed by the first exposure for each pixel width of the 3D display apparatus, and to perform the second exposure. The polarization direction of light is changed to linear polarization of P-polarized light and S-polarized light for each region serving as an adjacent pixel. In addition, the exposure method to the to-be-exposed body on the film 2 is not restricted to the form mentioned above.

露光装置100は、フィルム搬送方向の下流側にアライメントマーク検出部90が設けられている。アライメントマーク検出部90は、マーキング部4によりフィルム2の縁部に形成したインクによるアライメントマーク41の位置、具体的には、アライメントマーク41のフィルム2の幅方向の位置などを検出する。アライメントマーク検出部90は、フォトマスク77の近傍、且つ、フィルム2の縁部に形成されたアライメントマーク41上に配置されている。また、アライメントマーク検出部90は、CCDカメラなどの撮像装置であり、撮像した画像などを制御装置80に出力する。   In the exposure apparatus 100, an alignment mark detector 90 is provided on the downstream side in the film transport direction. The alignment mark detection unit 90 detects the position of the alignment mark 41 by the ink formed on the edge of the film 2 by the marking unit 4, specifically, the position of the alignment mark 41 in the width direction of the film 2. The alignment mark detection unit 90 is disposed on the alignment mark 41 formed in the vicinity of the photomask 77 and on the edge of the film 2. The alignment mark detection unit 90 is an imaging device such as a CCD camera, and outputs a captured image to the control device 80.

図7は本発明の実施形態に係る露光装置100の制御装置80の一例を示すブロック図である。制御装置80は、露光装置100の各構成要素を統括的に制御する。
制御装置80は、詳細には、図7に示したように、制御部81と、演算部82と、記憶部としてのメモリ83と、位置調整部としてのマスクステージ駆動制御部84と、画像処理部85と、モータ駆動制御部86と、光源駆動部87と、などを有する。
FIG. 7 is a block diagram showing an example of the control device 80 of the exposure apparatus 100 according to the embodiment of the present invention. The control device 80 comprehensively controls each component of the exposure apparatus 100.
Specifically, as shown in FIG. 7, the control device 80 includes a control unit 81, a calculation unit 82, a memory 83 as a storage unit, a mask stage drive control unit 84 as a position adjustment unit, and image processing. A unit 85, a motor drive control unit 86, a light source drive unit 87, and the like.

メモリ83は、RAM、ROM、ハードディスクドライブなどの記憶装置を有し、露光装置100の制御用のプログラムや、各加工工程で用いられる各種データを記憶する。メモリ83は、制御部81によるワークメモリとしても用いられる。   The memory 83 includes a storage device such as a RAM, a ROM, and a hard disk drive, and stores a program for controlling the exposure apparatus 100 and various data used in each processing step. The memory 83 is also used as a work memory by the control unit 81.

制御部81は、メモリ83から読み出した制御用のプログラムを実行することにより、各構成要素を統括的に制御し、露光装置100に本発明に係る機能を実現する。   The control unit 81 executes the control program read from the memory 83 to control the respective components in an integrated manner, thereby realizing the functions according to the present invention in the exposure apparatus 100.

画像処理部85は、アライメントマーク検出部90により撮像されたアライメントマーク41の画像処理を行い、例えば、アライメントマーク41のフィルム幅方向における中心位置を検出する。   The image processing unit 85 performs image processing of the alignment mark 41 imaged by the alignment mark detection unit 90 and detects, for example, the center position of the alignment mark 41 in the film width direction.

演算部82は、画像処理部85から出力されたアライメントマーク41の中心位置とフォトマスク77のマスクパターンの開口部との間の距離と、予め規定された距離とのずれ量を算出し、メモリ83に記憶する。また、演算部82は、アライメントマーク41の中心位置と、規定された基準位置とのずれを算出量し、メモリ83に記憶する。   The calculation unit 82 calculates a deviation amount between the distance between the center position of the alignment mark 41 output from the image processing unit 85 and the opening of the mask pattern of the photomask 77 and a predetermined distance, and the memory 83. Further, the calculation unit 82 calculates the amount of deviation between the center position of the alignment mark 41 and the defined reference position, and stores it in the memory 83.

マスクステージ駆動制御部84は、制御部81の制御により、露光部7のフォトマスク77を保持するマスクステージとしてのマスク保持部78の移動方向、移動量を制御する。   The mask stage drive control unit 84 controls the movement direction and amount of movement of the mask holding unit 78 as a mask stage that holds the photomask 77 of the exposure unit 7 under the control of the control unit 81.

モータ駆動制御部86は、制御部81の制御により、フィルム搬送部15の搬送ロール15bの駆動、停止、回転速度などを制御する。
光源駆動部87は、光源71の点灯、消灯、出力、発振周波数などを制御する。
The motor drive control unit 86 controls the drive, stop, rotation speed, and the like of the transport roll 15b of the film transport unit 15 under the control of the control unit 81.
The light source driving unit 87 controls lighting, extinguishing, output, oscillation frequency, and the like of the light source 71.

制御部81は、アライメントマーク検出部90、画像処理部85、および演算部82により検出されたアライメントマーク41に基づいて、フォトマスク77と被露光体との位置調整をマスクステージ駆動制御部84(位置調整部)により行う。   The control unit 81 adjusts the position of the photomask 77 and the object to be exposed based on the alignment mark 41 detected by the alignment mark detection unit 90, the image processing unit 85, and the calculation unit 82. Position adjustment unit).

図8は、インクによるアライメントマーク41の一例を示す図である。詳細には、図8(a)は、にじみのないアライメントマーク41の一例を示す図、図8(b)は図8(a)に示したアライメントマーク41を撮像した画像の画素値を示す図、図8(c)は僅かににじんだ状態のアライメントマーク41の一例を示す図、図8(d)は図8(c)に示したアライメントマーク41を撮像した画像の画素値を示す図、図8(e)は大きくにじんだ状態のアライメントマーク41の一例を示す図、図8(f)は図8(c)に示したアライメントマーク41を撮像した画像の画素値を示す図である。図8において、横軸は画素値を示し、横軸はY軸方向(フィルム幅方向)の距離を示す。
図9は、アライメントマーク41を撮像した画像のコントラスト(エッジの鮮明度)と搬送方向(X軸方向)への移動距離(移動時間)の一例を示す図である。
FIG. 8 is a diagram showing an example of the alignment mark 41 made of ink. Specifically, FIG. 8A is a diagram illustrating an example of the alignment mark 41 without blur, and FIG. 8B is a diagram illustrating a pixel value of an image obtained by imaging the alignment mark 41 illustrated in FIG. FIG. 8C is a view showing an example of the alignment mark 41 in a slightly blurred state, FIG. 8D is a view showing pixel values of an image obtained by imaging the alignment mark 41 shown in FIG. FIG. 8E is a diagram illustrating an example of the alignment mark 41 in a largely blurred state, and FIG. 8F is a diagram illustrating pixel values of an image obtained by imaging the alignment mark 41 illustrated in FIG. In FIG. 8, the horizontal axis indicates the pixel value, and the horizontal axis indicates the distance in the Y-axis direction (film width direction).
FIG. 9 is a diagram illustrating an example of contrast (edge sharpness) of an image obtained by imaging the alignment mark 41 and a movement distance (movement time) in the transport direction (X-axis direction).

図8(a)に示したように、フィルム2上に、マーキング部4がインクによりアライメントマーク41を形成した時、撮像部などで撮像して得られる画像は、図8(b)に示したように、アライメントマーク41の存在する位置では最高画素値PHを示し、それ以外では最低画素値PLを示す。アライメントマーク41のエッジYeが鋭い。
この時、図9に示したように、最高画素値PHと最低画素値の差であるコントラストは、最大値A0を示す。アライメントマーク41のY軸方向(フィルム幅方向)に沿った中心位置Yaは、立ち上がりエッジと立下りエッジYeの間の位置とする。
As shown in FIG. 8A, when the marking unit 4 forms the alignment mark 41 with ink on the film 2, the image obtained by imaging with the imaging unit or the like is shown in FIG. 8B. Thus, the highest pixel value PH is indicated at the position where the alignment mark 41 is present, and the lowest pixel value PL is indicated otherwise. The edge Ye of the alignment mark 41 is sharp.
At this time, as shown in FIG. 9, the contrast is a difference between the maximum pixel value PH and minimum pixel value, the maximum value A 0. The center position Ya along the Y-axis direction (film width direction) of the alignment mark 41 is a position between the rising edge and the falling edge Ye.

図8(c)に示したように、有機溶液を含む配向膜形成材を被塗布領域52に塗工し、有機溶剤によりアライメントマーク41が僅かににじむ場合、撮像部などで撮像して得られる画像は、図8(d)に示したように、アライメントマーク41の存在する位置では最高画素値PHを示し、エッジ部分が僅かに幅Ydを有し、つまり、エッジ部分の画素値の変化量(Y軸方向に沿った変化量)が小さく、それ以外では最低画素値PLを示す。
エッジ部分の幅Ydは、エッジ部分の最高画素値を示す画素と最高画素値を示す画素との間のY軸方向の距離に相当する。このエッジ部分の幅Ydの逆数などをエッジの鮮明度として用いてもよい。
As shown in FIG. 8C, when an alignment film forming material containing an organic solution is applied to the application region 52 and the alignment mark 41 is slightly blurred by an organic solvent, the image is obtained by imaging with an imaging unit or the like. As shown in FIG. 8D, the image shows the maximum pixel value PH at the position where the alignment mark 41 is present, and the edge portion has a slight width Yd, that is, the amount of change in the pixel value of the edge portion. (Amount of change along the Y-axis direction) is small, and otherwise the minimum pixel value PL is indicated.
The width Yd of the edge portion corresponds to the distance in the Y-axis direction between the pixel indicating the highest pixel value of the edge portion and the pixel indicating the highest pixel value. The reciprocal of the width Yd of the edge portion may be used as the edge sharpness.

図8(e)に示したように、有機溶剤によりアライメントマーク41が溶解して大きくにじむ場合、撮像部などで撮像して得られる画像は、図8(f)に示したように、アライメントマーク41の存在する位置の最高画素値PHとそれ以外の位置の最低画素値PLとの差(コントラスト)が小さい。また、アライメントマーク41のエッジ部分の画素値の変化量が非常に小さく、エッジ部分の幅Ydが大きく、エッジの鮮明度が小さい。
このため、アライメントマーク41のY軸方向(フィルム幅方向)に沿った中心位置Yaを特定するのが困難となる。
As shown in FIG. 8E, when the alignment mark 41 is dissolved and smeared greatly by an organic solvent, an image obtained by imaging with an imaging unit or the like is an alignment mark as shown in FIG. The difference (contrast) between the highest pixel value PH at the position 41 and the lowest pixel value PL at other positions is small. Further, the amount of change in the pixel value of the edge portion of the alignment mark 41 is very small, the width Yd of the edge portion is large, and the sharpness of the edge is small.
For this reason, it becomes difficult to specify the center position Ya along the Y-axis direction (film width direction) of the alignment mark 41.

上述したように、本発明に係る乾燥装置6の設置位置は、インクのアライメントマーク41が配向膜形成材による溶解でにじむ前に、アライメントマーク41を乾燥させる位置に配置されていることが好ましい。
また、本発明に係る乾燥装置6の設置位置は、インクのアライメントマーク41が配向膜形成材による溶解でにじむ場合であっても、アライメントマーク41の中心位置が判別可能な位置であってもよい。
As described above, the installation position of the drying device 6 according to the present invention is preferably arranged at a position where the alignment mark 41 is dried before the ink alignment mark 41 is blurred by dissolution by the alignment film forming material.
Further, the installation position of the drying device 6 according to the present invention may be a position where the alignment position of the alignment mark 41 can be determined even when the alignment mark 41 of ink bleeds due to dissolution by the alignment film forming material. .

詳細には、図9に示したように、マーキング部4によりインクのアライメントマーク41が形成されたとき、アライメントマーク41のコントラストが最大値A0を示す。
被塗布領域52に有機溶液を含む配向膜形成材が塗工された直後から所定距離(所定時間)までは、アライメントマーク41のコントラストが最大値A0である。
その後、有機溶液によりアライメントマーク41のにじみが開始すると、コントラストが徐々に低下する。
乾燥装置6により、フィルム2上のアライメントマーク41および配向膜形成材51に対して、乾燥が完了したとき、アライメントマーク41のコントラストが値A1を示す。
Specifically, as shown in FIG. 9, when the alignment mark 41 of the ink is formed by the marking unit 4, the contrast of the alignment mark 41 indicates the maximum value A 0.
The contrast of the alignment mark 41 is the maximum value A 0 immediately after the alignment film forming material containing the organic solution is applied to the coated region 52 until a predetermined distance (predetermined time).
Thereafter, when the bleeding of the alignment mark 41 is started by the organic solution, the contrast gradually decreases.
Drying device 6, with respect to the alignment marks 41 and the alignment film forming material 51 on the film 2, when the drying is completed, the contrast of the alignment mark 41 has a value A 1.

例えば、図8(e)、図8(f)に示したように、アライメントマーク41のにじみが非常に大きい、つまり、アライメントマーク41のコントラストが値Atよりも小さい場合、アライメントマーク41のY軸方向(フィルム幅方向)に沿った中心位置Yaを特定するのが困難となる。
このため、乾燥装置6による乾燥完了時に、アライメントマーク41のコントラストが値At以上となるように、乾燥装置6の位置を規定してもよい。
For example, as shown in FIG. 8 (e), FIG. 8 (f), the alignment mark 41 bleeding is very large, i.e., if the contrast of the alignment mark 41 is smaller than the value A t, the alignment mark 41 Y It becomes difficult to specify the center position Ya along the axial direction (film width direction).
Therefore, upon completion of drying by the drying device 6, as the contrast of the alignment mark 41 is equal to or greater than the value A t, may define the position of the drying device 6.

すなわち、乾燥装置6は、アライメントマーク41の乾燥完了時に、アライメントマーク41のコントラストが最大値A0となる位置であってもよいし、アライメントマーク41のコントラストが最大値A0より小さく、値At以上となる位置としてもよい。 That is, the drying device 6 may be at a position where the contrast of the alignment mark 41 reaches the maximum value A 0 when the drying of the alignment mark 41 is completed, or the contrast of the alignment mark 41 is smaller than the maximum value A 0 and the value A The position may be t or more.

尚、図9において縦軸にアライメントマーク41のコントラストを示したが、縦軸にエッジの鮮明度を示してもよい。   In FIG. 9, the vertical axis indicates the contrast of the alignment mark 41, but the vertical axis may indicate the sharpness of the edge.

また、インクにより形成されたアライメントマーク41のにじみの速度は、インクの種類、有機溶液の種類、配向膜形成材の種類、フィルム2の形成材料などにより規定される。   Further, the speed of bleeding of the alignment mark 41 formed of ink is defined by the type of ink, the type of organic solution, the type of alignment film forming material, the forming material of the film 2, and the like.

以上、説明したように、本発明の実施形態に係る露光装置100は、フィルム2上の被露光体にマスクパターンを露光する。
また、露光装置100は、フィルム2を一方向に沿って搬送するフィルム搬送部15と、フィルム搬送部15に配置され、フィルム2上へ、液体状の有機溶液を含む配向膜形成材51が塗布される被塗布領域52(配向膜塗布領域)の近傍のマーキング領域に、インクにてアライメントマーク41を形成するマーキング部4と、アライメントマーク41が形成されたフィルム2上の被塗布領域52に液体状の有機溶液を含む配向膜形成材を塗布する塗布部としてのスリットコーター5と、フィルム2に形成されたアライメントマーク41と被塗布領域52の配向膜形成材51を乾燥させる乾燥装置6と、乾燥装置6により乾燥されたフィルム上の被露光体としての配向膜形成材51に近接配置されるフォトマスク77と、フォトマスク77のマスクパターン77aの開口を介して光を照射する光照射部としての光源71と、フォトマスク77を保持するマスク保持部78と、アライメントマーク41に基づいて、フォトマスク77と被露光体としての配向膜形成材51との位置調整を行う位置調整部としてのマスクステージ駆動制御部84と、を有する。
乾燥装置6は、アライメントマーク41が配向膜形成材による溶解でにじむ前に、アライメントマーク41を乾燥させる位置に配置されている。
As described above, the exposure apparatus 100 according to the embodiment of the present invention exposes the mask pattern onto the object to be exposed on the film 2.
In addition, the exposure apparatus 100 is arranged in a film transport unit 15 that transports the film 2 along one direction, and the film transport unit 15, and an alignment film forming material 51 containing a liquid organic solution is applied onto the film 2. In the marking area in the vicinity of the coated area 52 (alignment film coated area) to be applied, the marking portion 4 for forming the alignment mark 41 with ink and the coated area 52 on the film 2 on which the alignment mark 41 is formed are liquid. A slit coater 5 as an application part for applying an alignment film forming material containing an organic solution, a drying device 6 for drying the alignment mark 41 formed on the film 2 and the alignment film forming material 51 in the application region 52; A photomask 77 disposed in proximity to the alignment film forming material 51 as an object to be exposed on the film dried by the drying device 6; Based on the light source 71 as a light irradiating part that irradiates light through the openings of the mask pattern 77 a, the mask holding part 78 that holds the photomask 77, and the alignment mark 41, the photomask 77 and the alignment as the object to be exposed And a mask stage drive control unit 84 as a position adjustment unit that performs position adjustment with the film forming material 51.
The drying device 6 is disposed at a position where the alignment mark 41 is dried before the alignment mark 41 is blurred by dissolution with the alignment film forming material.

このため、本発明によれば、配向膜形成材の被塗布領域の近傍にマスク位置調整用のアライメントマークをインクにより形成した後、被塗布領域に液体状の配向膜形成材を塗布する場合であっても、マスクとフィルム2との位置調整を高精度に行うことができる。
また、本発明によれば、フィルム2に所定のマスクパターンを高精度に被露光体に露光することができる。
Therefore, according to the present invention, after an alignment mark for adjusting the mask position is formed with ink in the vicinity of the application region of the alignment film forming material, the liquid alignment film formation material is applied to the application region. Even if it exists, position adjustment with a mask and the film 2 can be performed with high precision.
Moreover, according to this invention, a predetermined mask pattern can be exposed to a to-be-exposed body on the film 2 with high precision.

また、本発明の実施形態によれば、マーキング部4が有色インクにてアライメントマーク41を形成し、CCDカメラなどのアライメントマーク検出部90により、有色インクにてアライメントマーク41を撮像し、制御部81がアライメントマーク検出部90、画像処理部85、演算部82を介して、アライメントマーク41の位置を検出するので、簡単な構造で、アライメントマーク41の位置を高精度に検出することができる。   Further, according to the embodiment of the present invention, the marking unit 4 forms the alignment mark 41 with colored ink, the alignment mark detection unit 90 such as a CCD camera images the alignment mark 41 with the colored ink, and the control unit Since 81 detects the position of the alignment mark 41 via the alignment mark detection unit 90, the image processing unit 85, and the calculation unit 82, the position of the alignment mark 41 can be detected with high accuracy with a simple structure.

また、マーキング部4は、黒などの濃色の有色インクにてアライメントマーク41を形成することで、インクのにじみがある場合であっても、アライメントマーク検出部90により、アライメントマーク41の位置を高精度に検出することができる。
また、黒などの濃色の有色インクを採用することで、塗布部としてのスリットコーター5と乾燥装置6との間の距離が比較的長い場合であっても、アライメントマーク検出部90により、アライメントマーク41の位置を高精度に検出することができる。
In addition, the marking unit 4 forms the alignment mark 41 with dark colored ink such as black, so that the alignment mark detection unit 90 moves the position of the alignment mark 41 even when the ink is blurred. It can be detected with high accuracy.
Further, by using dark colored ink such as black, the alignment mark detection unit 90 performs alignment even when the distance between the slit coater 5 serving as the application unit and the drying device 6 is relatively long. The position of the mark 41 can be detected with high accuracy.

また、速乾性の有色インクを採用することで、マーキング部4とスリットコーター5との間の距離を短く設定することができる。また、マーキング部4と乾燥装置6との間の距離を短く設定することができる。
すなわち、露光装置100を採用したロールトゥロール方式のフィルム製造ラインを小型化することができる。
速乾性の有色インクとしては、例えば、具体的には、マジックインク、MK−10(キーエンス社製)、などを挙げることができる。
Moreover, the distance between the marking part 4 and the slit coater 5 can be set short by adopting quick-drying colored ink. Moreover, the distance between the marking part 4 and the drying apparatus 6 can be set short.
That is, a roll-to-roll film production line employing the exposure apparatus 100 can be downsized.
Specific examples of the quick-drying colored ink include magic ink, MK-10 (manufactured by Keyence Corporation), and the like.

上記実施形態では有色インクを採用したが、この形態に限られるものではなく、例えば、紫外線非照射時に無色で、紫外線を照射すると発色する紫外線発色インクを採用してもよい。   In the above embodiment, colored ink is used. However, the present invention is not limited to this mode. For example, ultraviolet coloring ink that is colorless when not irradiated with ultraviolet light and develops color when irradiated with ultraviolet light may be used.

また、本発明の実施形態では、乾燥装置6は、アライメントマーク41の乾燥完了時に、アライメントマーク41のコントラスト(エッジの鮮明度)が最大値A0となる位置に設けたが、アライメントマーク41のコントラストが最大値A0より小さく、値At以上となる位置に乾燥装置6を設けてもよい。
こうすることで、有機溶液によりアライメントマーク41ににじみが生じた場合であっても、制御部81はアライメントマーク41の位置を特定することができる。すなわち、マスクとフィルム2との位置調整を高精度に行うことができる。
In the embodiment of the present invention, the drying device 6 is provided at a position where the contrast (edge sharpness) of the alignment mark 41 becomes the maximum value A 0 when the drying of the alignment mark 41 is completed. contrast is smaller than the maximum value a 0, may be provided located to the drying device 6 as a more value a t.
By doing so, the control unit 81 can specify the position of the alignment mark 41 even when the organic mark causes bleeding on the alignment mark 41. That is, the position adjustment between the mask and the film 2 can be performed with high accuracy.

また、本発明の実施形態では、マーキング工程ST2において、フィルム2の湿分の安定した状態のときに、追従露光において基準となるアライメントマーク41をフィルム2の規定位置に形成している。このため、乾燥装置6による焼成(ベーク)時や、乾燥装置6による焼成(ベーク)後の環境湿度、基材の湿分の変化により、フィルム2の基材幅が変動した場合であっても、追従露光工程ST6において、そのフィルム2に形成されたアライメントマーク41の位置に基づいて、フィルム2の露光体に対してマスク位置を随時補正しながら容易に、且つ、高精度に追従露光を行うことが可能である。   In the embodiment of the present invention, in the marking step ST2, when the moisture content of the film 2 is stable, the alignment mark 41 serving as a reference in the follow-up exposure is formed at a specified position of the film 2. For this reason, even when the substrate width of the film 2 fluctuates due to changes in environmental humidity and substrate moisture after baking (baking) by the drying device 6 or after baking (baking) by the drying device 6 In the follow-up exposure step ST6, the follow-up exposure is performed easily and with high accuracy while correcting the mask position as needed with respect to the exposure body of the film 2 based on the position of the alignment mark 41 formed on the film 2. It is possible.

また、上記実施形態では、フィルム2の幅方向片側の縁部にアライメントマーク41を設けたが、この形態に限られるものではなく、フィルム2の両側の縁部にアライメントマーク41を設けてもよい。   Moreover, in the said embodiment, although the alignment mark 41 was provided in the edge of the width direction one side of the film 2, it is not restricted to this form, You may provide the alignment mark 41 in the edge of the both sides of the film 2 .

また、本発明の実施形態では、マーキング部4がインクをフィルム2に塗布することでマーキングを行ったが、この形態に限られるものではない。例えば、マーキング部4は、速乾性の有色インクを連続して帯状に、フィルム2の規定位置に塗布し、且つ、レーザ装置から出射したレーザー光で、フィルム2の上記規定位置を加工することで、上記マーキングを行ってもよい。こうすることで、容易に(低エネルギーで)マーキングを形成することができ、エッジの判別も容易となる。   Moreover, in embodiment of this invention, although the marking part 4 performed marking by apply | coating an ink to the film 2, it is not restricted to this form. For example, the marking unit 4 applies a quick-drying colored ink continuously in a band shape to a specified position of the film 2 and processes the specified position of the film 2 with laser light emitted from the laser device. The marking may be performed. By doing so, the marking can be easily formed (with low energy), and the edge can be easily identified.

以上、本発明の実施形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこれらの実施形態に限られるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等があっても本発明に含まれる。
また、上述の各図で示した実施形態は、その目的及び構成等に特に矛盾や問題がない限り、互いの記載内容を組み合わせることが可能である。
また、各図の記載内容はそれぞれ独立した実施形態になり得るものであり、本発明の実施形態は各図を組み合わせた一つの実施形態に限定されるものではない。
As described above, the embodiments of the present invention have been described in detail with reference to the drawings. However, the specific configuration is not limited to these embodiments, and there are design changes and the like without departing from the gist of the present invention. Is included in the present invention.
Further, the embodiments described in the above drawings can be combined with each other as long as there is no particular contradiction or problem in the purpose and configuration.
Moreover, the description content of each figure can become independent embodiment, respectively, and embodiment of this invention is not limited to one embodiment which combined each figure.

2:フィルム,3:前処理部,4:マーキング部,5:スリットコーター(塗布部),6:乾燥装置,7:露光部,8:温度調整装置,9:ローラ,11:後処理部,12:搬送ローラ,15:フィルム搬送部,15a,15b:搬送ロール,20:ロール,41:アライメントマーク,42:アライメントマークとフィルム端部の間の距離,43:被塗布領域とアライメントマークの間の距離,51:配向膜形成材(被露光体),52:被塗布領域,71:光源,72,73:反射ミラー,74:フライアイレンズ(インテグレータ),75:コンデンサレンズ,76:偏光変換素子,77:フォトマスク,78:マスク保持部,80:制御装置,81:制御部,82:演算部,83:メモリ(記憶部),84:マスクステージ駆動制御部(位置調整部),85:画像処理部,86:モータ駆動制御部,87:光源駆動部,90:アライメントマーク検出部,100:露光装置,101:ロールトゥロール方式のフィルム製造ライン   2: Film, 3: Pre-processing unit, 4: Marking unit, 5: Slit coater (application unit), 6: Drying device, 7: Exposure unit, 8: Temperature adjusting device, 9: Roller, 11: Post-processing unit, 12: Transport roller, 15: Film transport section, 15a, 15b: Transport roll, 20: Roll, 41: Alignment mark, 42: Distance between alignment mark and film edge, 43: Between coated area and alignment mark 51: Alignment film forming material (exposed body) 52: Area to be coated 71: Light source 72, 73: Reflecting mirror 74: Fly eye lens (integrator) 75: Condenser lens 76: Polarization conversion Element: 77: Photomask 78: Mask holding unit 80: Control device 81: Control unit 82: Calculation unit 83: Memory (storage unit) 84: Mask stage drive control unit Position adjusting section) 85: image processing unit, 86: motor drive controller, 87: light source driving unit, 90: alignment mark detector, 100: exposure apparatus, 101: roll-to-roll type film production line

Claims (2)

フィルム上の被露光体にマスクパターンを露光する露光装置であって、
フィルムを一方向に沿って搬送するフィルム搬送部と、
前記フィルム搬送部に配置され、前記フィルム上へ配向膜形成材が塗布される被塗布領域の近傍に、インクにてアライメントマークを形成するマーキング部と、
前記アライメントマークが形成されたフィルム上の前記被塗布領域に液体状の配向膜形成材を塗布する塗布部と、
前記フィルムに形成されたアライメントマークと前記被塗布領域の配向膜形成材とを乾燥させる乾燥装置と、
前記乾燥装置により乾燥されたフィルム上の配向膜形成材に近接配置されるフォトマスクと、
前記フォトマスクのマスクパターンの開口を介して光を照射する光照射部と、
前記フォトマスクを保持するマスク保持部と、
前記アライメントマークに基づいて、前記フォトマスクと前記被露光体との位置調整を行う位置調整部と、を有し、
前記乾燥装置は、前記アライメントマークが前記配向膜形成材による溶解でにじむ前に、前記アライメントマークを乾燥させる位置に配置されていることを特徴とする露光装置。
An exposure apparatus that exposes a mask pattern onto an object to be exposed on a film,
A film transport section for transporting the film along one direction;
A marking unit that is arranged in the film transport unit and forms an alignment mark with ink in the vicinity of the application region where the alignment film forming material is applied onto the film,
An application part for applying a liquid alignment film forming material to the application area on the film on which the alignment mark is formed;
A drying device for drying the alignment mark formed on the film and the alignment film forming material of the coated area;
A photomask disposed close to the alignment film forming material on the film dried by the drying device;
A light irradiator that irradiates light through an opening of a mask pattern of the photomask;
A mask holding unit for holding the photomask;
A position adjusting unit that adjusts the position of the photomask and the object to be exposed based on the alignment mark;
2. The exposure apparatus according to claim 1, wherein the drying apparatus is disposed at a position where the alignment mark is dried before the alignment mark is blurred by dissolution by the alignment film forming material.
前記マーキング部は、有色のインクにて前記アライメントマークを形成することを特徴とする請求項1に記載の露光装置。   The exposure apparatus according to claim 1, wherein the marking unit forms the alignment mark with colored ink.
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