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JP5940328B2 - Exposure drawing apparatus, program, and exposure drawing method - Google Patents

Exposure drawing apparatus, program, and exposure drawing method Download PDF

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JP5940328B2 JP2012057467A JP2012057467A JP5940328B2 JP 5940328 B2 JP5940328 B2 JP 5940328B2 JP 2012057467 A JP2012057467 A JP 2012057467A JP 2012057467 A JP2012057467 A JP 2012057467A JP 5940328 B2 JP5940328 B2 JP 5940328B2
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Description

本発明は、露光描画装置、プログラム及び露光描画方法に係り、特に、被露光基板に対して光ビームを露光することにより回路パターンを描画する露光描画装置、露光描画装置により実行されるプログラム、及び、被露光基板に対して光ビームを露光することにより回路パターンを描画する露光描画方法に関する。   The present invention relates to an exposure drawing apparatus, a program, and an exposure drawing method, and in particular, an exposure drawing apparatus that draws a circuit pattern by exposing a light beam to an exposed substrate, a program executed by the exposure drawing apparatus, and The present invention relates to an exposure drawing method for drawing a circuit pattern by exposing a substrate to be exposed with a light beam.

従来、画像記録装置及び露光描画装置等の装置に対して複数の処理要求を連続して行う場合に、一度に要求された各々関連する複数の処理要求を一括りにして1ジョブとし、処理要求が発生した順序に従って複数のジョブを連続して順次実行する。その際、実行中のジョブに設定されている処理枚数の処理を終えた段階で、実行中のジョブを終了して次のジョブの実行を開始する。   Conventionally, when a plurality of processing requests are continuously made to an apparatus such as an image recording apparatus and an exposure / drawing apparatus, a plurality of related processing requests requested at one time are collectively made into one job, and the processing request A plurality of jobs are successively executed sequentially according to the order in which the occurrences occur. At this time, at the stage where the processing of the number of processing sheets set for the job being executed is completed, the job being executed is ended and the execution of the next job is started.

ところが、複数のジョブを実行する際に、処理対象とする記録媒体が足りなくなったり搬送されてきた記録媒体の種類やサイズがジョブに設定されているものと異なっていたりした場合には、処理を継続することができないためエラーを発生させて処理を停止させる。特に、装置が露光描画装置であった場合は、エラー等により露光処理を一旦停止させてしまうと回復させるのに一定の時間を要するため、可能な限り露光処理を停止させずに最後まで継続させることが望ましい。   However, when executing multiple jobs, if the number of recording media to be processed is insufficient or the type and size of the transported recording media are different from those set for the job, the processing is performed. Since it cannot continue, an error is generated and the process is stopped. In particular, when the apparatus is an exposure drawing apparatus, it takes a certain amount of time to recover once the exposure process is stopped due to an error or the like. Therefore, the exposure process is continued until the end without stopping as much as possible. It is desirable.

これを解決する手法として、特許文献1には、予め実施処理設定されたジョブが異なる場合にダミージョブ露光処理を登録することで、エラー発生によるライン停止や2次被害発生を抑制する技術が開示されている。この技術では、上流から送られてきたジョブ登録データであるレシピがレシピファイルにないものである場合に、ダミージョブを登録し、ダミージョブが登録されたことをオペレータに通知して、イベント待ちに入る。ダミージョブが登録されたことを通知されたオペレータがそのダミージョブを正常なジョブに差し換えることで、そのジョブが実行される段階に至っても正常に露光処理は継続され、露光処理を中断することなく継続させることができる。   As a technique for solving this problem, Patent Document 1 discloses a technique for suppressing a line stop and secondary damage occurrence due to an error by registering a dummy job exposure process when jobs set in advance are different. Has been. In this technology, when the recipe that is the job registration data sent from the upstream is not in the recipe file, the dummy job is registered, the operator is notified that the dummy job has been registered, and waits for an event. enter. The operator who is notified that the dummy job has been registered replaces the dummy job with a normal job, so that the exposure process continues normally and the exposure process is interrupted even when the job is executed. Can continue without.

特開平11−162827号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-162827

上記特許文献1の技術では、ダミージョブが登録されてから当該ダミージョブが実行されるまでにダミージョブを正常なジョブに差し替える必要があり、差し替えが間に合わなかった場合には、露光処理を中断させずに継続させることができても、ダミージョブによる無駄な露光処理が発生してしまうという問題があった。   In the technique disclosed in Patent Document 1, it is necessary to replace a dummy job with a normal job after the dummy job is registered until the dummy job is executed. If the replacement cannot be made in time, the exposure process is interrupted. Even if the process can be continued, there is a problem in that useless exposure processing by a dummy job occurs.

本発明は上記問題に鑑みてなされたものであり、複数のジョブを連続して行う際に、不要な露光処理を極力行わずに不用意なライン停止を抑制することができる露光描画装置、プログラム及び露光描画方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and an exposure drawing apparatus and program capable of suppressing an inadvertent line stop without performing unnecessary exposure processing as much as possible when a plurality of jobs are continuously performed. An object of the present invention is to provide an exposure drawing method.

上記目的を達成するために、本発明に係る露光描画装置は、被露光基板の種類を示す基板情報が各々設定され、露光情報に応じた露光処理を要求する複数の露光処理要求に基づいて、被露光基板に対して露光処理の各々を順に実行する露光処理実行手段と、露光処理対象の被露光基板の基板情報を検出する検出手段と、前記検出手段で検出された検出基板情報と実行中の露光処理要求に設定された実行中基板情報とを比較する比較手段と、前記比較手段の比較結果に基づいて、次に露光処理対象となる被露光基板の検出基板情報が実行中基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して実行中の露光処理要求が継続して実行されると共に、検出基板情報が実行中基板情報と異なりかつ次の露光処理要求に設定された基板情報と同じ場合には、前記実行中の露光処理要求を終了して前記次の露光処理要求の実行が開始されるように、前記露光処理実行手段で実行される露光処理要求を切り替える切替手段と、を備えている。   In order to achieve the above object, the exposure drawing apparatus according to the present invention is set based on a plurality of exposure processing requests that each set substrate information indicating the type of substrate to be exposed and request an exposure process according to the exposure information. Exposure processing execution means for sequentially performing each of the exposure processes on the substrate to be exposed, detection means for detecting the substrate information of the exposure target substrate to be exposed, detection substrate information detected by the detection means and executing A comparison means for comparing the in-execution substrate information set in the exposure processing request, and based on the comparison result of the comparison means, the detected substrate information of the substrate to be exposed next to be subjected to the exposure process is the in-execution substrate information. In the same case, the ongoing exposure processing request is continuously executed for the next substrate to be exposed, and the detected substrate information is different from the executing substrate information and the next exposure processing request Set to If the same as the plate information, the switching means for switching the exposure processing request executed by the exposure processing execution means so as to end the execution of the exposure processing request being executed and start execution of the next exposure processing request. And.

この露光描画装置によれば、露光処理実行手段により、被露光基板の種類を示す基板情報が各々設定され、露光情報に応じた露光処理を要求する複数の露光処理要求に基づいて、被露光基板に対して露光処理の各々が順に実行される。   According to this exposure drawing apparatus, the substrate information indicating the type of the substrate to be exposed is set by the exposure processing execution unit, and the substrate to be exposed is based on a plurality of exposure processing requests that request exposure processing according to the exposure information. Each of the exposure processes is sequentially executed.

ここで、本発明では、検出手段により、露光処理対象の被露光基板の基板情報が検出され、比較手段により、前記検出手段で検出された検出基板情報と実行中の露光処理要求に設定された実行中基板情報とが比較される。   Here, in the present invention, the detection unit detects the substrate information of the exposure target substrate, and the comparison unit sets the detected substrate information detected by the detection unit and the exposure processing request being executed. The substrate information during execution is compared.

また、本発明では、切替手段により、前記比較手段の比較結果に基づいて、次に露光処理対象となる被露光基板の検出基板情報が実行中基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して実行中の露光処理要求が継続して実行されると共に、検出基板情報が実行中基板情報と異なりかつ次の露光処理要求に設定された基板情報と同じ場合には、前記実行中の露光処理要求を終了して前記次の露光処理要求の実行が開始されるように、前記露光処理実行手段で実行される露光処理要求が切り替えられる。   Further, in the present invention, when the detection substrate information of the substrate to be exposed next to be subjected to the exposure processing is the same as the executing substrate information based on the comparison result of the comparison means, the next exposure processing is performed by the switching unit. An ongoing exposure processing request is continuously executed for the target substrate to be exposed, and the detected substrate information is different from the executing substrate information and is the same as the substrate information set in the next exposure processing request. The exposure process request executed by the exposure process execution means is switched so that the currently executed exposure process request is terminated and the execution of the next exposure process request is started.

このように、本発明に係る露光描画装置によれば、複数の露光処理要求(ジョブ)を連続して行う際に、次に処理対象とする被露光基板の基板情報によると、当該被露光基板が実行中のジョブで使用される基板ではなく次のジョブで使用される被露光基板であった場合、実行中のジョブが終了されて次のジョブを開始される結果、不要な露光処理を極力行わずに不用意なライン停止を抑制することができる。   Thus, according to the exposure drawing apparatus according to the present invention, when a plurality of exposure processing requests (jobs) are continuously performed, according to the substrate information of the substrate to be exposed next, the substrate to be exposed Is the substrate to be used in the next job instead of the substrate used in the job being executed, the unnecessary job is processed as much as possible as a result of starting the next job and starting the next job. An inadvertent line stop can be suppressed without performing.

なお、本発明は、前記複数の露光処理要求の各々には、基板の処理枚数を示す枚数情報が各々設定され、前記切替手段は、前記露光処理実行手段により実行された露光処理枚数が実行中の露光処理要求に設定された処理枚数に応じて定められた所定枚数となった際に、前記比較手段の比較結果に基づいて、次に露光処理対象となる被露光基板の検出基板情報が実行中基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して実行中の露光処理要求が継続して実行されると共に、検出基板情報が実行中基板情報と異なりかつ次の露光処理要求に設定された基板情報と同じ場合には、前記実行中の露光処理要求を終了して前記次の露光処理要求の実行が開始されるように、前記露光処理実行手段で実行される露光処理要求を切り替えるようにしても良い。これにより、適切なタイミングでジョブを切り替えるかどうかを判定することができる。   According to the present invention, each of the plurality of exposure processing requests is set with number information indicating the number of processed substrates, and the switching means is executing the number of exposure processing executed by the exposure processing execution means. The detected substrate information of the next substrate to be exposed is executed based on the comparison result of the comparison means when the predetermined number of sheets determined according to the number of sheets set in the exposure processing request is reached. If it is the same as the intermediate substrate information, the ongoing exposure processing request is continuously executed for the next exposure target substrate, and the detected substrate information is different from the active substrate information and the next When the exposure information is the same as the substrate information set in the exposure processing request, it is executed by the exposure processing execution means so as to end the ongoing exposure processing request and start execution of the next exposure processing request. Disconnect the exposure processing request It may be obtained. This makes it possible to determine whether or not to switch jobs at an appropriate timing.

また、上記目的を達成するために、本発明に係る露光描画装置は、被露光基板の種類を示す基板情報が各々設定され、露光情報に応じた露光処理を要求する複数の露光処理要求に基づいて、被露光基板に対して露光処理の各々を順に実行する露光処理実行手段と、露光処理対象の被露光基板の基板情報を検出する検出手段と、前記検出手段で検出された検出基板情報と切り替えられた露光処理要求に設定された切替基板情報とを比較する比較手段と、実行中の露光処理要求を終了して次の露光処理要求の実行が開始されるように切り替えた後、前記比較手段の比較結果に基づいて、次に露光処理対象となる被露光基板の検出基板情報が切替基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して切り替え後の露光処理要求が実行されると共に、検出基板情報が切替基板情報と異なりかつ切替直前に実行していた露光処理要求に設定された基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して切り替え直前に実行していた露光処理要求が継続して実行されるように、前記露光処理実行手段で実行される露光処理要求を切り替える切替手段と、を備えている。   Further, in order to achieve the above object, an exposure drawing apparatus according to the present invention is based on a plurality of exposure processing requests in which substrate information indicating the type of a substrate to be exposed is set and an exposure process corresponding to the exposure information is requested. Exposure processing execution means for sequentially executing each of the exposure processes on the substrate to be exposed, detection means for detecting the substrate information of the exposure target substrate to be exposed, and detection substrate information detected by the detection means, The comparison means for comparing the switching substrate information set in the switched exposure processing request, and the comparison after switching so that the execution of the next exposure processing request is started after finishing the current exposure processing request. Based on the comparison result of the means, when the detected substrate information of the next exposure target substrate is the same as the switching substrate information, the exposure after switching to the next exposure target substrate Processing request When the detected substrate information is different from the switching substrate information and is the same as the substrate information set in the exposure processing request that was executed immediately before switching, the detected substrate information is the next to the exposure target substrate to be exposed. Switching means for switching the exposure processing request executed by the exposure processing execution means so that the exposure processing request executed immediately before the switching is continuously executed.

このように、本発明に係る露光描画装置によれば、複数の露光処理要求(ジョブ)を連続して行う際に、ジョブを切り替えた後、次に処理対象とする被露光基板の基板情報によると、当該被露光基板が切り替え後のジョブで使用される基板ではなく前のジョブで使用される被露光基板であった場合、切り替え直前のジョブが継続して実行される結果、不要な露光処理を極力行わずに不用意なライン停止を抑制することができる。   As described above, according to the exposure drawing apparatus according to the present invention, when a plurality of exposure processing requests (jobs) are continuously performed, after the job is switched, the substrate information of the substrate to be exposed to be processed next is used. If the substrate to be exposed is not the substrate to be used in the job after switching but the substrate to be used in the previous job, the job immediately before switching is continuously executed, resulting in unnecessary exposure processing. Inadvertent line stoppage can be suppressed without performing as much as possible.

なお、本発明は、前記複数の露光処理要求の各々には、基板の処理枚数を示す枚数情報が各々設定され、前記切替手段は、実行中の露光処理要求を終了して次の露光処理要求の実行が開始されるように切り替えた後、前記露光処理実行手段により実行された露光処理枚数が実行中の露光処理要求に設定された処理枚数に応じて定められた所定枚数となった際に、前記比較手段の比較結果に基づいて、次に露光処理対象となる被露光基板の検出基板情報が切替基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して切り替え後の露光処理要求が実行されると共に、検出基板情報が切替基板情報と異なりかつ切替直前に実行していた露光処理要求に設定された基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して切り替え直前に実行していた露光処理要求が継続して実行されるように、前記露光処理実行手段で実行される露光処理要求を切り替えるようにしても良い。これにより、適切なタイミングでジョブを切り替えるかどうかを判定することができる。   In the present invention, each of the plurality of exposure processing requests is set with number information indicating the number of processed substrates, and the switching means terminates the currently executing exposure processing request and performs the next exposure processing request. When the number of exposure processes executed by the exposure process execution means becomes a predetermined number determined according to the number of processes set in the exposure process request being executed. Based on the comparison result of the comparing means, when the detected substrate information of the next exposure target substrate is the same as the switching substrate information, the next exposure target substrate is switched. When the subsequent exposure processing request is executed and the detected substrate information is different from the switching substrate information and is the same as the substrate information set in the exposure processing request executed immediately before switching, the next exposure processing target Substrate to be exposed To run continuously exposure processing request that was being executed immediately before switching for, it may be switched to the exposure processing request to be executed in the exposure process execution means. This makes it possible to determine whether or not to switch jobs at an appropriate timing.

また、本発明は、露光処理要求の切り替えを許容する前記被露光基板の枚数の入力を受け付ける受付手段をさらに備え、前記所定枚数は、実行中の露光処理に設定された処理枚数及び前記受付手段により受け付けられた枚数に応じて定められるようにしても良い。これにより、露光処理要求の切り替えを許容する被露光基板の枚数に従ってジョブを切り替えるか否かを判定することができる。   The present invention further includes accepting means for accepting an input of the number of substrates to be exposed that allows switching of exposure processing requests, wherein the predetermined number is the number of processed sheets set for an ongoing exposure process and the accepting means. It may be determined in accordance with the number of sheets received by. This makes it possible to determine whether or not to switch jobs according to the number of substrates to be exposed that allow switching of exposure processing requests.

また、本発明は、露光処理要求の切り替えを許容する前記被露光基板の枚数の入力を受け付ける受付手段をさらに備え、前記切替手段は、前記露光処理実行手段により実行中の露光処理要求において実行された露光処理枚数が、実行中の露光処理に設定された処理枚数から前記受付手段により受け付けられた枚数を減算して1を加算した枚数以上である際に、前記比較手段の比較結果に基づいて、次に露光処理対象となる被露光基板の検出基板情報が切替基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して切り替え後の露光処理要求が実行されると共に、検出基板情報が切替基板情報と異なりかつ切替直前に実行していた露光処理要求に設定された基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して切り替え直前に実行していた露光処理要求が継続して実行されるように、前記露光処理実行手段で実行される露光処理要求を切り替えるようにしても良い。また、本発明は、露光処理要求の切り替えを許容する前記被露光基板の枚数の入力を受け付ける受付手段をさらに備え、前記切替手段は、前記露光処理実行手段により実行中の露光処理要求において実行された露光処理枚数が前記受付手段により受け付けられた枚数以下である際に、前記比較手段の比較結果に基づいて、次に露光処理対象となる被露光基板の検出基板情報が切替基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して切り替え後の露光処理要求が実行されると共に、検出基板情報が切替基板情報と異なりかつ切替直前に実行していた露光処理要求に設定された基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して切り替え直前に実行していた露光処理要求が継続して実行されるように、前記露光処理実行手段で実行される露光処理要求を切り替えるようにしても良い。これにより、露光処理要求の切り替えを許容する被露光基板の枚数に従ってジョブを切り替えるか否かを判定することができる。   In addition, the present invention further includes a receiving unit that receives an input of the number of substrates to be exposed that allows switching of an exposure processing request, and the switching unit is executed in the exposure processing request being executed by the exposure processing execution unit. When the number of exposure processes is equal to or greater than the number obtained by subtracting the number accepted by the accepting unit from the number set for the exposure process being executed, and adding one, based on the comparison result of the comparing unit If the detected substrate information of the substrate to be exposed next is the same as the switching substrate information, an exposure processing request after switching is executed on the substrate to be exposed next. When the detected substrate information is different from the switching substrate information and is the same as the substrate information set in the exposure processing request executed immediately before switching, the next exposure processing target substrate To run continuously exposure processing request was being executed immediately before switching to, and is may be switched to the exposure processing request executed by the exposure process execution means. In addition, the present invention further includes a receiving unit that receives an input of the number of substrates to be exposed that allows switching of an exposure processing request, and the switching unit is executed in the exposure processing request being executed by the exposure processing execution unit. The detected substrate information of the substrate to be exposed next is the same as the switching substrate information based on the comparison result of the comparing means when the number of exposure processing sheets is less than or equal to the number accepted by the accepting means. The exposure processing request after switching is executed for the substrate to be exposed next, and the detected substrate information is different from the switching substrate information and is executed immediately before switching. If it is the same as the set substrate information, the exposure processing request that was executed immediately before switching is continuously executed for the next exposure target substrate to be exposed. It may be switched to the exposure processing request to be executed in the exposure process execution means. This makes it possible to determine whether or not to switch jobs according to the number of substrates to be exposed that allow switching of exposure processing requests.

また、本発明は、前記切替手段が、前記露光処理実行手段で実行される露光処理要求を切り替えた場合、予め定められた情報を出力する出力手段をさらに備えるようにしても良い。これにより、ジョブが切り替えられたことを作業者に報知することができる。 Further, the present invention, the switching means, when switching an exposure processing request to be executed in the exposure process real Gyote stage may further include an output means for outputting information determined in advance. Thereby, it is possible to notify the operator that the job has been switched.

また、本発明は、前記基板情報は、基板のサイズ、並びに基板に形成されたアライメントマークの位置及び種類を含む情報であり、前記検出手段は、前記露光処理対象の被露光基板のサイズ、被露光基板に形成されたアライメントマークの位置、及び被露光基板に形成されたアライメントマークの種類の少なくとも1つを基板情報として検出するようにしても良い。これにより、簡易に被露光基板の基板情報を検出することができる。   According to the present invention, the substrate information is information including a size of the substrate and a position and a type of an alignment mark formed on the substrate, and the detection means includes the size of the substrate to be exposed, the size of the substrate to be exposed. You may make it detect at least 1 of the position of the alignment mark formed in the exposure board | substrate, and the kind of alignment mark formed in the to-be-exposed board | substrate as board | substrate information. Thereby, the board | substrate information of a to-be-exposed board | substrate can be detected easily.

また、本発明は、前記検出基板情報が実行中基板情報と異なり、かつ前記次の露光処理要求に設定された基板情報と異なる場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板を露光処理を行わずに装置外部に排出する排出手段をさらに備えるようにしても良い。また、本発明は、前記検出基板情報が切替基板情報と異なり、かつ切り替え直前に実行していた露光処理要求に設定された基板情報と異なる場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板を露光処理を行わずに装置外部に排出する排出手段をさらに備えるようにしても良い。これにより、露光処理を継続できない場合に無駄な露光処理が行われることを回避することができる。   In the present invention, when the detected substrate information is different from the executing substrate information and different from the substrate information set in the next exposure processing request, the exposure substrate to be exposed next is exposed. You may make it further provide the discharge means which discharges outside the apparatus without performing a process. In the present invention, when the detected substrate information is different from the switching substrate information and different from the substrate information set in the exposure processing request executed immediately before the switching, the exposure target to be subjected to the next exposure processing target You may make it further provide the discharge means which discharges | emits a board | substrate outside the apparatus, without performing an exposure process. Thereby, it is possible to avoid performing unnecessary exposure processing when the exposure processing cannot be continued.

また、本発明は、前記検出手段は、前記次に露光処理対象となる被露光基板の搬入時に前記露光処理対象の被露光基板のサイズを検出し、前記比較手段の比較結果に基づいて、検出基板情報が実行中基板情報と異なり、かつ次の露光処理要求に設定された基板情報と異なる場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板を露光処理を行わずにそのまま装置外部に排出する排出手段をさらに備えるようにしても良い。また、本発明は、前記検出手段は、前記次に露光処理対象となる被露光基板の搬入時に前記露光処理対象の被露光基板のサイズを検出し、前記比較手段の比較結果に基づいて、検出基板情報が切替基板情報と異なり、かつ切り替え直前に実行していた露光処理要求に設定された基板情報と異なる場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板を露光処理を行わずにそのまま装置外部に排出する排出手段をさらに備えるようにしても良い。これにより、露光処理を継続できない場合に無駄な露光処理が行われることを回避することができる。   In the present invention, the detection means detects the size of the exposure target substrate when the next exposure target substrate is carried in, and detects the size based on the comparison result of the comparison means. If the substrate information is different from the substrate information being executed and is different from the substrate information set in the next exposure processing request, the substrate to be exposed next is directly exposed outside the apparatus without performing the exposure processing. You may make it further provide the discharge means to discharge | emit. In the present invention, the detection means detects the size of the exposure target substrate when the next exposure target substrate is carried in, and detects the size based on the comparison result of the comparison means. If the substrate information is different from the switching substrate information and different from the substrate information set in the exposure processing request that was executed immediately before switching, the exposure substrate to be exposed next is not subjected to the exposure processing. You may make it further provide the discharge means which discharges to the apparatus exterior as it is. Thereby, it is possible to avoid performing unnecessary exposure processing when the exposure processing cannot be continued.

一方、上記目的を達成するために、本発明に係るプログラムは、コンピュータを、請求項1乃至13の何れか1項記載の露光描画装置における比較手段及び切替手段と、として機能させる。   On the other hand, in order to achieve the above object, a program according to the present invention causes a computer to function as a comparison unit and a switching unit in an exposure drawing apparatus according to any one of claims 1 to 13.

従って、本発明に係るプログラムによれば、コンピュータを露光描画装置と同様に作用させることができるので、露光描画装置と同様に作用するので、露光描画装置と同様に、複数のジョブを連続して行う際に、不要な露光処理を極力行わずに不用意なライン停止を抑制することができる。   Therefore, according to the program according to the present invention, since the computer can be operated in the same manner as the exposure drawing apparatus, the computer operates in the same manner as the exposure drawing apparatus. When performing, unnecessary line stop can be suppressed without performing unnecessary exposure processing as much as possible.

一方、上記目的を達成するために、本発明に係る露光描画方法は、被露光基板の種類を示す基板情報が各々設定され、露光情報に応じた露光処理を要求する複数の露光処理要求に基づいて、被露光基板に対して露光処理の各々を順に実行する露光処理実行ステップと、露光処理対象の被露光基板の基板情報を検出する検出ステップと、前記検出ステップで検出された検出基板情報と実行中の露光処理要求に設定された実行中基板情報とを比較する比較ステップと、前記比較ステップの比較結果に基づいて、次に露光処理対象となる被露光基板の検出基板情報が実行中基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して実行中の露光処理要求が継続して実行されると共に、検出基板情報が実行中基板情報と異なりかつ次の露光処理要求に設定された基板情報と同じ場合には、前記実行中の露光処理要求を終了して前記次の露光処理要求の実行が開始されるように、前記露光処理実行ステップで実行される露光処理要求を切り替える切替ステップと、を備えている。 On the other hand, in order to achieve the above object, an exposure drawing method according to the present invention is based on a plurality of exposure processing requests in which substrate information indicating the type of a substrate to be exposed is set and an exposure process corresponding to the exposure information is requested An exposure process execution step for sequentially executing each of the exposure processes on the substrate to be exposed, a detection step for detecting substrate information of the exposure target substrate to be exposed, and detected substrate information detected in the detection step; Based on the comparison step of comparing the execution substrate information set in the exposure processing request being executed and the comparison result of the comparison step , the detection substrate information of the substrate to be exposed next is the execution substrate. If the information is the same as the information, the exposure processing request being executed for the next exposure target substrate is continuously executed, and the detected substrate information is different from the executing substrate information and the next If it is the same as the substrate information set in the exposure process request, it is executed in the exposure process execution step so that the currently executed exposure process request is terminated and the execution of the next exposure process request is started. And a switching step for switching the exposure processing request.

従って、本発明に係る露光描画方法によれば、露光描画装置と同様に作用するので、露光描画装置と同様に、複数のジョブを連続して行う際に、不要な露光処理を極力行わずに不用意なライン停止を抑制することができる。   Therefore, according to the exposure drawing method according to the present invention, since it operates in the same manner as the exposure drawing apparatus, when performing a plurality of jobs in succession as in the exposure drawing apparatus, unnecessary exposure processing is performed as much as possible. An inadvertent line stop can be suppressed.

また、上記目的を達成するために、本発明に係る露光描画方法は、被露光基板の種類を示す基板情報が各々設定され、露光情報に応じた露光処理を要求する複数の露光処理要求に基づいて、被露光基板に対して露光処理の各々を順に実行する露光処理実行ステップと、露光処理対象の被露光基板の基板情報を検出する検出ステップと、前記検出ステップで検出された検出基板情報と切り替えられた露光処理要求に設定された切替基板情報とを比較する比較ステップと、実行中の露光処理要求を終了して次の露光処理要求の実行が開始されるように切り替えた後、前記比較ステップの比較結果に基づいて、次に露光処理対象となる被露光基板の検出基板情報が切替基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して切り替え後の露光処理要求が実行されると共に、検出基板情報が切替基板情報と異なりかつ切替直前に実行していた露光処理要求に設定された基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して切り替え直前に実行していた露光処理要求が継続して実行されるように、前記露光処理実行ステップで実行される露光処理要求を切り替える切替ステップと、を備えている。 In order to achieve the above object, an exposure drawing method according to the present invention is based on a plurality of exposure processing requests that each set substrate information indicating the type of a substrate to be exposed and request an exposure process according to the exposure information. An exposure process execution step for sequentially executing each of the exposure processes on the substrate to be exposed, a detection step for detecting substrate information of the exposure target substrate to be exposed, and detected substrate information detected in the detection step; The comparison step for comparing the switched substrate information set in the switched exposure processing request, and the comparison after the switching is performed so that the execution of the next exposure processing request is started after finishing the exposure processing request being executed. based on the comparison result of the step, then when the detection board information to be exposed substrate to be exposed processed is the same as the switching board information, turn with respect to the exposed substrate to be exposed processed to the next When the subsequent exposure processing request is executed and the detected substrate information is different from the switching substrate information and is the same as the substrate information set in the exposure processing request executed immediately before switching, the next exposure processing target A switching step of switching the exposure processing request executed in the exposure processing execution step so that the exposure processing request executed immediately before switching is continuously executed for the substrate to be exposed. .

従って、本発明に係る露光描画方法によれば、露光描画装置と同様に作用するので、露光描画装置と同様に、複数のジョブを連続して行う際に、不要な露光処理を極力行わずに不用意なライン停止を抑制することができる。   Therefore, according to the exposure drawing method according to the present invention, since it operates in the same manner as the exposure drawing apparatus, when performing a plurality of jobs in succession as in the exposure drawing apparatus, unnecessary exposure processing is performed as much as possible. An inadvertent line stop can be suppressed.

本発明によれば、複数のジョブを連続して行う際に、不要な露光処理を極力行わずに不用意なライン停止を抑制することができる、という効果を奏する。   According to the present invention, when a plurality of jobs are continuously performed, an inadvertent line stop can be suppressed without performing unnecessary exposure processing as much as possible.

実施形態に係る露光描画システムの全体の構成を示す構成図である。It is a block diagram which shows the whole structure of the exposure drawing system which concerns on embodiment. 実施形態に係る露光描画装置の内部構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the internal structure of the exposure drawing apparatus which concerns on embodiment. 実施形態に係る露光描画装置の基板サイズ計測部の設置位置を示す概略上面図である。It is a schematic top view which shows the installation position of the board | substrate size measurement part of the exposure drawing apparatus which concerns on embodiment. 実施形態に係る露光描画装置の電気系統の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the electric system of the exposure drawing apparatus which concerns on embodiment. 実施形態に係る露光描画システムの制御装置の電気系統の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of the electric system of the control apparatus of the exposure drawing system which concerns on embodiment. 実施形態に係るジョブ設定処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of a process of the job setting process program which concerns on embodiment. (A)は、実施形態に係る露光描画システムにおける実行ジョブ情報の一例を示す模式図であり、(B)は、実施形態に係る露光描画システムにおける基板種類情報の一例を示す模式図である。(A) is a schematic diagram which shows an example of the execution job information in the exposure drawing system which concerns on embodiment, (B) is a schematic diagram which shows an example of the board | substrate type information in the exposure drawing system which concerns on embodiment. 実施形態に係る露光描画システムにおける露光描画処理を説明するための概念図である。It is a conceptual diagram for demonstrating the exposure drawing process in the exposure drawing system which concerns on embodiment. 第1実施形態に係る第1露光監視処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of a process of the 1st exposure monitoring process program which concerns on 1st Embodiment. (A)及び(B)は、第1実施形態に係る露光描画システムにおける第1監視処理を説明するための概念図である。(A) And (B) is a conceptual diagram for demonstrating the 1st monitoring process in the exposure drawing system which concerns on 1st Embodiment. (A)及び(B)は、第1実施形態に係る露光描画システムにおける第1監視処理の他の例を説明するための概念図である。(A) And (B) is a conceptual diagram for demonstrating the other example of the 1st monitoring process in the exposure drawing system which concerns on 1st Embodiment. 第1実施形態に係る第2露光監視処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of a process of the 2nd exposure monitoring process program which concerns on 1st Embodiment. (A)及び(B)は、第1実施形態に係る露光描画システム1における第2監視処理を説明するための概念図である。(A) And (B) is a conceptual diagram for demonstrating the 2nd monitoring process in the exposure drawing system 1 which concerns on 1st Embodiment. 第2実施形態に係る第3露光監視処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the flow of a process of the 3rd exposure monitoring process program which concerns on 2nd Embodiment.

〔第1実施形態〕
以下、第1実施形態に係る露光描画システムについて添付図面を用いて詳細に説明する。なお、第1実施形態では、露光描画システム1として、プリント配線基板及びフラットパネルディスプレイ用ガラス基板等の平板基板を被露光基板として、被露光基板の片面または両面に露光描画を行うシステムを例として説明する。
[First Embodiment]
Hereinafter, the exposure drawing system according to the first embodiment will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the first embodiment, the exposure drawing system 1 is an example of a system that performs exposure drawing on one or both sides of a substrate to be exposed using a flat substrate such as a printed wiring board and a glass substrate for a flat panel display as the substrate to be exposed. explain.

図1は、第1実施形態に係る露光描画システム1の全体の構成を示す構成図である。図1に示すように、露光描画システム1は、被露光基板(後述する被露光基板C)に光ビームを露光して回路パターン等の画像を描画する露光描画装置2、及び、露光描画装置2による露光描画を制御する制御装置3を備えている。   FIG. 1 is a configuration diagram showing the overall configuration of an exposure drawing system 1 according to the first embodiment. As shown in FIG. 1, an exposure drawing system 1 includes an exposure drawing apparatus 2 that draws an image such as a circuit pattern by exposing a substrate to be exposed (exposed substrate C to be described later) to a light beam, and an exposure drawing apparatus 2. Is provided with a control device 3 for controlling exposure drawing.

図2は、第1実施形態に係る露光描画装置2の内部構成を示す斜視図である。なお、以下では、ステージ10が移動する方向をY方向と定め、このY方向に対して水平面内で直交する方向をX方向と定め、Y方向に鉛直面内で直交する方向をZ方向と定め、さらにZ軸を中心として時計回りの方向に回転する回転方向をθ方向と定める。   FIG. 2 is a perspective view showing an internal configuration of the exposure drawing apparatus 2 according to the first embodiment. In the following, the direction in which the stage 10 moves is defined as the Y direction, the direction perpendicular to the Y direction in the horizontal plane is defined as the X direction, and the direction orthogonal to the Y direction in the vertical plane is defined as the Z direction. Further, the rotation direction that rotates clockwise about the Z axis is defined as the θ direction.

図2に示すように、露光描画装置2は、被露光基板Cを固定するための平板状のステージ10を備えている。ステージ10は、上面に被露光基板Cが載置された際に、被露光基板C及びステージ10間の空気を吸入して、被露光基板Cを上面に真空吸着させる。   As shown in FIG. 2, the exposure drawing apparatus 2 includes a flat stage 10 for fixing the substrate C to be exposed. When the exposed substrate C is placed on the upper surface, the stage 10 sucks air between the exposed substrate C and the stage 10 and causes the exposed substrate C to be vacuum-adsorbed on the upper surface.

ステージ10は、卓状の基体11の上面に移動可能に設けられた平板状の基台12に支持されている。基体11の上面には、1本または複数本(本実施形態では、2本)のガイドレール14が設けられている。基台12は、ガイドレール14に沿ってY方向に自在に移動できるように支持されていて、モータ等により構成されたステージ駆動部(後述するステージ駆動部41)により移動する。そして、ステージ10は、この移動可能な基台12の上面に支持されることにより、基台12の移動に連動してガイドレール14に沿って移動する。また、ステージ10に固定された被露光基板Cは、ステージ10の移動に伴って露光位置まで移動し、後述する露光部16により光ビームが照射されて回路パターン等の画像が描画される。   The stage 10 is supported by a flat base 12 that is movably provided on the upper surface of a table-like base 11. One or a plurality of (in this embodiment, two) guide rails 14 are provided on the upper surface of the base 11. The base 12 is supported so as to be freely movable in the Y direction along the guide rail 14, and is moved by a stage drive unit (stage drive unit 41 described later) configured by a motor or the like. The stage 10 is supported on the upper surface of the movable base 12 and moves along the guide rail 14 in conjunction with the movement of the base 12. In addition, the substrate C to be exposed fixed to the stage 10 moves to an exposure position as the stage 10 moves, and an image such as a circuit pattern is drawn by being irradiated with a light beam by an exposure unit 16 described later.

基体11の上面には、ガイドレール14を跨ぐように門型のゲート15が立設されており、このゲート15には、ステージ10に載置された被露光基板Cの表面に対して露光する露光部16が取り付けられている。露光部16は、複数個(本実施形態では、16個)の露光ヘッド16aを含んで構成されていて、ステージ10の移動経路上に固定配置されている。露光部16には、後述する光源ユニット17から引き出された光ファイバ18と、後述する画像処理ユニット19から引き出された信号ケーブル20とがそれぞれ接続されている。   A gate-type gate 15 is erected on the upper surface of the base 11 so as to straddle the guide rail 14. The gate 15 exposes the surface of the substrate C to be exposed placed on the stage 10. An exposure unit 16 is attached. The exposure unit 16 includes a plurality (16 in the present embodiment) of exposure heads 16 a and is fixedly arranged on the moving path of the stage 10. An optical fiber 18 drawn from a light source unit 17 described later and a signal cable 20 drawn from an image processing unit 19 described later are connected to the exposure unit 16.

各露光ヘッド16aは、反射型の空間光変調素子としてのデジタルマイクロミラーデバイス(DMD)を有し、画像処理ユニット19から入力される画像データに基づいてDMDを制御して光源ユニット17からの光ビームを変調する。露光描画装置2は、この変調した光ビームを被露光基板Cに照射することにより露光描画を行う。なお、空間光変調素子として、液晶等の透過型の空間光変調素子を用いても良い。   Each exposure head 16 a has a digital micromirror device (DMD) as a reflective spatial light modulation element, and controls the DMD based on the image data input from the image processing unit 19 to emit light from the light source unit 17. Modulate the beam. The exposure drawing apparatus 2 performs exposure drawing by irradiating the substrate C to be exposed with the modulated light beam. Note that a transmissive spatial light modulator such as liquid crystal may be used as the spatial light modulator.

基体11の上面には、さらにガイドレール14を跨ぐように、ゲート22が設けられている。ゲート22には、ステージ10に載置された被露光基板Cに設けられた露光基準用のアライメントマークを撮影するための1個または複数個(本実施形態では、2個)の撮像部23が取り付けられている。撮影部23は、1回の発光時間が極めて短いストロボを内蔵したCCDカメラ等である。各々の撮影部23は、水平面内においてステージ10の移動方向(Y方向)に対して垂直な方向(X方向)に移動可能に設置されている。   A gate 22 is provided on the upper surface of the base 11 so as to straddle the guide rail 14. The gate 22 includes one or a plurality (two in the present embodiment) of image capturing units 23 for photographing the alignment marks for exposure reference provided on the substrate C to be exposed placed on the stage 10. It is attached. The photographing unit 23 is a CCD camera or the like having a built-in strobe with a very short light emission time. Each photographing unit 23 is installed to be movable in a direction (X direction) perpendicular to the moving direction (Y direction) of the stage 10 in a horizontal plane.

露光描画装置2は、外部から第1搬送部5に搬入された被露光基板Cをステージ10の上面に搬送するとともに露光済みの被露光基板Cをステージ10から第2搬送部6に搬送するオートキャリアハンド(以下、ACハンドという。)24を備えている。ACハンド24は平板状に形成されるとともに、水平方向及び鉛直方向に移動可能に設けられている。また、ACハンド24の下面には、空気を吸引することにより被露光基板Cを真空吸着により吸着保持する吸着部25を有する吸着機構と、被露光基板Cを下方に向けて押し付ける上下移動自在な押付部26を有する押付機構とが設けられている。ACハンド24は、第1搬送部5に載置された未露光の被露光基板Cを吸着機構により吸着保持することにより上方に吊り上げ、吊り上げた被露光基板Cをステージ10の上面の予め定められた位置に載置する。   The exposure drawing apparatus 2 is an auto that transports the exposed substrate C carried from the outside to the first transport unit 5 to the upper surface of the stage 10 and transports the exposed substrate C exposed from the stage 10 to the second transport unit 6. A carrier hand (hereinafter referred to as an AC hand) 24 is provided. The AC hand 24 is formed in a flat plate shape and is movably provided in the horizontal direction and the vertical direction. Further, on the lower surface of the AC hand 24, a suction mechanism having a suction portion 25 that sucks and holds the substrate C to be exposed by vacuum suction by sucking air, and a vertically movable member that presses the substrate C to be exposed downward are freely movable. A pressing mechanism having a pressing portion 26 is provided. The AC hand 24 lifts the unexposed substrate C placed on the first transport unit 5 upward by sucking and holding it by a suction mechanism, and the lifted exposed substrate C is predetermined on the upper surface of the stage 10. Place it at a different position.

ACハンド24は、被露光基板Cをステージ10に載置させる際に、押付機構により被露光基板Cをステージ10に押し付けながら吸着部25による吸着を解除することにより、被露光基板Cをステージ10に真空吸着させ、被露光基板Cをステージ10に吸着固定させる。また、ACハンド24は、ステージ10の上面に載置された露光済みの被露光基板Cを吸着機構により吸着保持することにより上方に吊り上げ、吊り上げた被露光基板Cを吸着保持した状態で第2搬送部6まで移動させた上で、吸着機構による吸着を解除することにより、被露光基板Cを第2搬送部6に移動させる。第2搬送部6に搬送された被露光基板Cは、露光描画装置2の外部に排出される。   When the AC hand 24 places the exposed substrate C on the stage 10, the AC hand 24 releases the suction by the suction unit 25 while pressing the exposed substrate C against the stage 10 by a pressing mechanism, thereby bringing the exposed substrate C into the stage 10. The substrate to be exposed C is sucked and fixed to the stage 10. The AC hand 24 lifts the exposed substrate C, which has been exposed, placed on the upper surface of the stage 10 by suction and holds it by a suction mechanism, and holds the lifted exposed substrate C by suction. The substrate C to be exposed is moved to the second transport unit 6 by moving to the transport unit 6 and then releasing the suction by the suction mechanism. The exposed substrate C transported to the second transport unit 6 is discharged outside the exposure drawing apparatus 2.

また、第1搬送部5の上面には、被露光基板Cを搬送するコンベア部5aが設けられている。コンベア部5aは、複数の回転ローラと回転ローラを回転する駆動モータとを有している。回転ローラは複数本が平行に敷設され、回転ローラの一端にはベルト又はワイヤーによって伝達される回転力を受けるスプロケット又は滑車が取り付けられる。回転ローラを回転する駆動モータの回転力を伝達する手段としては、ベルト又はワイヤー以外に円筒状のマグネットによる伝達方法も採用できる。また、コンベア部5aには、被露光基板Cのサイズを計測する基板サイズ計測部27が設けられている。基板サイズ計測部27は、被露光基板Cの幅(短辺)を測定する幅計測部27aと、被露光基板Cの長さ(長辺)を測定する長さ計測部27bとを有している。   Further, a conveyor unit 5 a that conveys the substrate to be exposed C is provided on the upper surface of the first conveyance unit 5. The conveyor unit 5a includes a plurality of rotating rollers and a drive motor that rotates the rotating rollers. A plurality of rotating rollers are laid in parallel, and a sprocket or pulley that receives a rotational force transmitted by a belt or a wire is attached to one end of the rotating roller. As a means for transmitting the rotational force of the drive motor that rotates the rotating roller, a transmission method using a cylindrical magnet can be employed in addition to the belt or the wire. The conveyor unit 5a is provided with a substrate size measuring unit 27 that measures the size of the substrate C to be exposed. The substrate size measuring unit 27 includes a width measuring unit 27a that measures the width (short side) of the substrate C to be exposed and a length measuring unit 27b that measures the length (long side) of the substrate C to be exposed. Yes.

図3は、第1実施形態に係る露光描画装置2の基板サイズ計測部27の設置位置を示す概略上面図である。図3に示すように、幅計測部27aは、コンベア部5aの上面において被露光基板Cがサイズによらずに必ず通過する中央付近に設置されている。幅計測部27aは、被露光基板Cがコンベア部5aを搬送される際に、被露光基板Cの搬送時間を計測し、搬送速度と被露光基板Cの搬送時間との積から被露光基板Cの幅を導出する。   FIG. 3 is a schematic top view showing an installation position of the substrate size measuring unit 27 of the exposure drawing apparatus 2 according to the first embodiment. As shown in FIG. 3, the width measuring unit 27a is installed in the vicinity of the center where the exposed substrate C always passes through the upper surface of the conveyor unit 5a regardless of the size. The width measuring unit 27a measures the transport time of the exposed substrate C when the exposed substrate C is transported on the conveyor unit 5a, and calculates the exposed substrate C from the product of the transport speed and the transport time of the exposed substrate C. The width of is derived.

一方、長さ計測部27bは、コンベア部5aの上面においてY方向に移動可能に複数(本実施形態では、2個)設けられている。複数の長さ計測部27bは、被露光基板Cがコンベア部5aをX方向に搬送される際に、各々被露光基板Cの側面に当接するようにY方向において両側から被露光基板Cを挟み込み、各々の長さ計測部27b間の距離を計測し、計測した距離から被露光基板Cの長さを導出する。   On the other hand, a plurality of length measuring units 27b (two in the present embodiment) are provided so as to be movable in the Y direction on the upper surface of the conveyor unit 5a. The plurality of length measuring units 27b sandwich the exposed substrate C from both sides in the Y direction so that the exposed substrate C is in contact with the side surface of the exposed substrate C when the exposed substrate C is conveyed in the X direction. Then, the distance between each length measuring unit 27b is measured, and the length of the substrate C to be exposed is derived from the measured distance.

図4は、第1実施形態に係る露光描画装置2の電気系統の構成を示すブロック図である。図4に示すように、露光描画装置2には、装置各部にそれぞれ電気的に接続されるシステム制御部40が設けられており、このシステム制御部40が各部を統括的に制御している。システム制御部40は、ACハンド24を制御して被露光基板Cのステージ10への搬入動作及びステージ10からの排出動作を行わせる。また、システム制御部40は、基板サイズ計測部27から被露光基板のサイズ(幅及び長さ)を示す情報を取得する。さらに、システム制御部40は、ステージ駆動部41を制御してステージ10の移動を行わせながら、後述する移動制御部43を介して撮影部23を移動させて被露光基板Cのアライメントマークの撮影を行って露光位置を調整するとともに、光源ユニット17及び画像処理ユニット19を制御して露光ヘッド16aに露光処理を行わせる。なお、システム制御部40は、制御装置3から露光開始を指示するための信号を受信したタイミングで、被露光基板Cに対する露光処理を開始するとともに、露光停止を指示するための信号を受信したタイミングで、そのとき行われている被露光基板Cに対する露光処理を完了した時点で露光処理を停止する。   FIG. 4 is a block diagram showing the configuration of the electrical system of the exposure drawing apparatus 2 according to the first embodiment. As shown in FIG. 4, the exposure drawing apparatus 2 is provided with a system control unit 40 that is electrically connected to each part of the apparatus, and the system control unit 40 controls each part in an integrated manner. The system control unit 40 controls the AC hand 24 to perform an operation for loading the substrate C to be exposed into the stage 10 and an operation for discharging it from the stage 10. In addition, the system control unit 40 acquires information indicating the size (width and length) of the substrate to be exposed from the substrate size measurement unit 27. Further, the system control unit 40 controls the stage driving unit 41 to move the stage 10 and moves the imaging unit 23 via a movement control unit 43 described later to capture the alignment mark of the substrate C to be exposed. To adjust the exposure position and control the light source unit 17 and the image processing unit 19 to cause the exposure head 16a to perform the exposure process. The system control unit 40 starts the exposure process for the exposure target substrate C at the timing when the signal for instructing the start of exposure is received from the control device 3, and the timing at which the signal for instructing the stop of exposure is received. The exposure process is stopped when the exposure process for the substrate C to be exposed is completed.

また、露光描画装置2は操作装置42を備えている。操作装置42は、システム制御部40の制御により情報を表示する表示部とユーザ操作により情報を入力する入力部とを有する。当該入力部は、例えば、被露光基板Cに対する露光処理の強制停止指示等を入力するときにユーザにより操作される。   The exposure drawing apparatus 2 includes an operation device 42. The operation device 42 includes a display unit that displays information under the control of the system control unit 40 and an input unit that inputs information through a user operation. The input unit is operated by the user when inputting, for example, an instruction to forcibly stop exposure processing on the substrate C to be exposed.

さらに、露光描画装置2は移動制御部43を備えている。移動制御部43は、システム制御部40の指示に基づいて、被露光基板Cのアライメントマークが、ステージ10の移動に際して複数の撮影部23の何れかまたは各々の撮影領域の中央を通過するように、撮影部23の移動駆動を制御している。   Further, the exposure drawing apparatus 2 includes a movement control unit 43. Based on an instruction from the system control unit 40, the movement control unit 43 causes the alignment mark of the substrate to be exposed C to pass through one of the plurality of imaging units 23 or the center of each imaging region when the stage 10 is moved. The moving drive of the photographing unit 23 is controlled.

図5は、第1実施形態に係る露光描画システム1の制御装置3の電気系統の構成を示すブロック図である。図5に示すように、露光描画システム1は、露光描画システム1における露光処理を制御する制御部50、制御部50による露光処理に必要な露光処理プログラムや各種データを記憶するROM及びHDD等を有する記憶部51、制御部50の制御に基づいてデータを表示するディスプレイ等の表示部52、ユーザ操作によりデータを入力するキーボード等の入力部53、及び、制御部50の制御に基づいて露光描画装置2に対するデータの送受信を行う通信インタフェース54を備えている。   FIG. 5 is a block diagram showing the configuration of the electrical system of the control device 3 of the exposure drawing system 1 according to the first embodiment. As shown in FIG. 5, the exposure drawing system 1 includes a control unit 50 that controls exposure processing in the exposure drawing system 1, an exposure processing program necessary for exposure processing by the control unit 50, and a ROM and HDD that store various data. A storage unit 51, a display unit 52 such as a display for displaying data based on the control of the control unit 50, an input unit 53 such as a keyboard for inputting data by a user operation, and an exposure drawing based on the control of the control unit 50 A communication interface 54 for transmitting / receiving data to / from the apparatus 2 is provided.

ここで、本実施形態に係る露光描画装置2は、制御装置3から、同一種類の複数の被露光基板Cに対して同一の画像を同一条件で露光描画する一括りの露光処理要求(以下、「ジョブ」ともいう。)を受け付けた際、受け付けたジョブの内容に従って複数の被露光基板Cに対して露光処理を実行する。また、露光描画装置2は、制御装置3から、複数のジョブを実行順序を指定された状態で受け付けた場合には、指定されたジョブの実行順序に従って、複数の被露光基板Cに対してジョブ毎に連続的に露光処理を行う機能を備えている。   Here, the exposure drawing apparatus 2 according to the present embodiment receives a batch exposure processing request (hereinafter, referred to as the following) from the control apparatus 3 for exposing and drawing the same image on a plurality of exposed substrates C of the same type under the same conditions. When “Job” is also received, exposure processing is performed on a plurality of exposed substrates C according to the contents of the received job. Further, when the exposure drawing apparatus 2 receives a plurality of jobs from the control apparatus 3 in a state in which the execution order is designated, the exposure drawing apparatus 2 performs jobs for the plurality of exposed substrates C according to the designated job execution order. It has a function to perform exposure processing continuously every time.

作業者は、露光描画装置2に複数のジョブを連続的に実行させたい場合に、制御装置3に、各々のジョブについて、対象とする被露光基板Cの基板種類、処理枚数、表面画像、裏面画像、及び画像倍率等を入力するとともに、各々のジョブの実行順序を入力する。制御装置3は、入力された複数のジョブが入力された実行順序で行われるように各々のジョブを設定するジョブ設定処理を行う。   When the operator wants the exposure drawing apparatus 2 to continuously execute a plurality of jobs, the control apparatus 3 causes the control apparatus 3 to perform processing for each type of substrate C to be exposed, the number of processed substrates, the front image, and the back surface. An image, image magnification, etc. are input, and the execution order of each job is input. The control device 3 performs job setting processing for setting each job so that a plurality of input jobs are performed in the input execution order.

ここで、第1実施形態に係る露光描画システム1によるジョブ設定処理の流れについて説明する。   Here, a flow of job setting processing by the exposure drawing system 1 according to the first embodiment will be described.

図6は、第1実施形態に係るジョブ設定処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートであり、当該プログラムは制御装置3の記憶部51に備えられた記録媒体であるROMの所定領域に予め記憶されている。   FIG. 6 is a flowchart showing a processing flow of the job setting processing program according to the first embodiment, and the program is stored in advance in a predetermined area of a ROM which is a recording medium provided in the storage unit 51 of the control device 3. ing.

制御装置3の制御部50は、予め定められたタイミング(本実施形態では、作業者により入力部53を介してジョブの設定が指示するための予め定められた操作がされたタイミング)で、当該ジョブ設定処理プログラムを実行する。   The control unit 50 of the control device 3 has a predetermined timing (in this embodiment, a timing when a predetermined operation for instructing job setting via the input unit 53 is performed by the operator). Execute the job setting processing program.

始めに、ステップS101において、制御部50は、作業者により入力部53を介してジョブの作成指示が入力されたか否かを判定する。当該ジョブの作成指示は、入力部53の予め定められた操作によって入力される。ステップS101においてジョブの作成指示が入力されていない場合は、制御部50は、ジョブの作成指示が入力されるまで待機する。   First, in step S <b> 101, the control unit 50 determines whether a job creation instruction has been input via the input unit 53 by the operator. The job creation instruction is input by a predetermined operation of the input unit 53. If no job creation instruction is input in step S101, the control unit 50 waits until a job creation instruction is input.

ステップS101においてジョブの作成指示が入力された場合は、ステップS103において、制御部50は、ステップS101において作成指示されたジョブにおいて露光対象となる被露光基板Cに基板種類の入力を受け付ける。複数の基板種類に関する情報が予め記憶部51に記憶されていて、ユーザが入力部53を介して当該複数の基板種類の何れかを選択することにより基板種類の情報を入力しても良い。なお、記憶部51には、基板種類毎に、当該基板のサイズ(幅及び長さ等)及びアライメントマークの位置及び種類等(以下、「位置等」ともいう。)が記憶されている。   If a job creation instruction is input in step S101, in step S103, the control unit 50 accepts an input of the substrate type to the substrate C to be exposed in the job instructed in step S101. Information regarding a plurality of substrate types may be stored in advance in the storage unit 51, and the user may input information on the substrate types by selecting one of the plurality of substrate types via the input unit 53. The storage unit 51 stores the size (width, length, etc.) of the substrate and the position and type of the alignment mark (hereinafter also referred to as “position, etc.”) for each substrate type.

ステップS105において、制御部50は、ステップS101において作成指示されたジョブにおける被露光基板Cの処理枚数の入力を受け付ける。また、ステップS107において、制御部50は、ステップS101において作成指示されたジョブにおいて被露光基板Cの主面である第1面(以下、表面ともいう。)に露光描画する表面画像、及び第1面C1に対向する主面である第2面(以下、裏面ともいう。)に露光描画する裏面画像の入力を受け付ける。   In step S105, the control unit 50 receives an input of the number of processed substrates C in the job instructed to be created in step S101. In step S107, the control unit 50 exposes and draws a surface image on the first surface (hereinafter also referred to as a surface) that is the main surface of the substrate C to be exposed in the job instructed to create in step S101, and the first image. An input of a back surface image to be exposed and drawn on a second surface (hereinafter also referred to as a back surface) which is a main surface facing the surface C1 is received.

ステップS109において、制御部50は、ステップS101において作成指示されたジョブにおける露光条件の入力を受け付ける。このとき入力される露光条件は、露光描画される画像の倍率等である。ステップS111において、制御部50は、ステップS101において作成指示されたジョブの実行順位の入力を受け付ける。このとき入力される実行順位は、露光処理を行う際の順序を示す情報である。   In step S109, the control unit 50 receives an input of exposure conditions in the job instructed to create in step S101. The exposure condition input at this time is the magnification of the image to be exposed and drawn. In step S111, the control unit 50 receives an input of the execution order of the job instructed to create in step S101. The execution order input at this time is information indicating the order in which exposure processing is performed.

ステップS113において、制御部50は、ステップS101において作成指示されたジョブを、ステップS103乃至S111において入力された情報に基づいて作成し、作成したジョブに関する情報を記憶部51に記憶する。   In step S113, the control unit 50 creates the job instructed to be created in step S101 based on the information input in steps S103 to S111, and stores information related to the created job in the storage unit 51.

図7(A)は、第1実施形態に係る露光描画システムにおける実行ジョブ情報60の一例を示す模式図であり、図7(B)は、第1実施形態に係る露光描画システムにおける基板種類情報70の一例を示す模式図である。制御装置3は、連続して実行する一連のジョブに関する情報を実行ジョブ情報60として記憶部51に記憶している。   FIG. 7A is a schematic diagram showing an example of execution job information 60 in the exposure drawing system according to the first embodiment, and FIG. 7B is substrate type information in the exposure drawing system according to the first embodiment. FIG. The control device 3 stores information relating to a series of jobs to be continuously executed in the storage unit 51 as execution job information 60.

図7(A)に示すように、実行ジョブ情報60は、各々のジョブについて、ジョブの実行順位を示すジョブ順位情報61、そのジョブを識別するためのジョブ識別情報62、そのジョブにおける被露光基板Cの処理枚数を示す処理枚数情報63、そのジョブにおいて被露光基板Cの表面に露光描画する画像を示す表面画像情報64、被露光基板Cの裏面に露光描画する画像を示す裏面画像情報65、被露光基板Cに露光描画する画像の倍率を示す倍率情報66、及び露光対象の被露光基板Cの種類を示す基板識別情報67等がそれぞれ対応付けられた情報である。なお、実行ジョブ情報60は、その他の画像の露光ピッチを示す情報や、使用材料を示す情報等を各々のジョブについて適宜記憶している。制御装置3は、この実行ジョブ情報60に基づいて、複数のジョブを予め決定された実行順序(ジョブ順位情報61に記された順位)に従って、連続的に複数の被露光基板Cに対してジョブを切り替えながら露光処理を行う。   As shown in FIG. 7A, the execution job information 60 includes, for each job, job order information 61 indicating job execution order, job identification information 62 for identifying the job, and an exposed substrate in the job. Process number information 63 indicating the number of processed sheets of C, front surface image information 64 indicating an image to be exposed and drawn on the surface of the exposed substrate C in the job, back surface image information 65 indicating an image to be exposed and drawn on the back surface of the exposed substrate C, The magnification information 66 indicating the magnification of the image to be exposed and drawn on the substrate C to be exposed, the substrate identification information 67 indicating the type of the substrate C to be exposed, and the like are associated with each other. The execution job information 60 appropriately stores information indicating the exposure pitch of other images, information indicating materials used, and the like for each job. Based on the execution job information 60, the control device 3 continuously executes jobs for a plurality of exposed substrates C in accordance with a predetermined execution order (the order described in the job order information 61). The exposure process is performed while switching.

また、記憶部51は、基板種類毎の基板の特徴を示す基板種類情報70を予め記憶している。図7(B)に示すように、基板種類情報70は、基板種類を示す基板識別情報67に対して、基板の幅、長さ及び厚さを示す基板のサイズを示すサイズ情報72、基板に予め形成されているアライメントマークの位置及び種類(例えば形状及び大きさ)等を示すマーク情報73がそれぞれ対応付けられた情報である。露光描画システム1では、制御部50は、被露光基板Cのサイズまたは被露光基板Cのアライメントマークの位置等から、当該被露光基板Cの基板種類を特定することができる。   In addition, the storage unit 51 stores in advance substrate type information 70 indicating the characteristics of the substrate for each substrate type. As shown in FIG. 7B, the substrate type information 70 includes size information 72 indicating the width, length and thickness of the substrate, the size information 72 indicating the size of the substrate, and the substrate identification information 67 indicating the substrate type. The mark information 73 indicating the position and type (for example, shape and size) of the alignment mark formed in advance is information associated with each other. In the exposure drawing system 1, the control unit 50 can specify the substrate type of the substrate C to be exposed from the size of the substrate C to be exposed or the position of the alignment mark on the substrate C to be exposed.

そして、ステップS115において、制御部50は、入力を継続するか否か、すなわち次のジョブを作成するか否かを判定する。この際、制御部50は、例えば入力部53を介して次のジョブを作成するための操作が行われた場合に、次のジョブを作成すると判定する。   In step S115, the control unit 50 determines whether to continue input, that is, whether to create a next job. At this time, for example, when an operation for creating a next job is performed via the input unit 53, the control unit 50 determines to create the next job.

制御部50は、ステップS115において次のジョブを作成すると判定された場合は、次のジョブについてステップS101乃至S115の処理を行う一方、ステップS115において次のジョブを作成しないと判定された場合は、制御部50は、ステップS117において、実行ジョブ情報60に基づいて露光処理を実行する。なお、制御部50は、ステップS117において露光処理を実行せずに、作業者により入力部53を介して露光処理の実行指示が別途入力された際に、露光処理を実行するようにしても良い。   If it is determined in step S115 that the next job is to be created, the control unit 50 performs the processing of steps S101 to S115 for the next job, while if it is determined in step S115 that the next job is not to be created, In step S117, the control unit 50 executes an exposure process based on the execution job information 60. Note that the control unit 50 may execute the exposure process when an operator inputs an exposure process execution instruction via the input unit 53 without executing the exposure process in step S117. .

図8は、第1実施形態に係る露光描画システム1における露光描画処理を説明するための概念図である。本発明に係る露光描画システム1では、実行ジョブ情報60に従って、複数のジョブを実行順序に基づいて連続して実行する。例えば、図7(A)に示す実行ジョブ情報60による露光処理では、ジョブA(処理枚数10枚)、ジョブB(処理枚数15枚)、ジョブC(処理枚数20枚)の実行順序でジョブが実行される。そして、複数のジョブを連続的に実行する際、実行ジョブ情報60で設定されている処理枚数と、実際に露光処理を行っている被露光基板Cの枚数とを比較し、実行中のジョブに設定されている処理枚数の被露光基板Cに対する露光処理を終えた段階で、ジョブの切り替え、実行中のジョブを終了して次のジョブの実行を開始する。   FIG. 8 is a conceptual diagram for explaining exposure drawing processing in the exposure drawing system 1 according to the first embodiment. In the exposure drawing system 1 according to the present invention, a plurality of jobs are continuously executed based on the execution order according to the execution job information 60. For example, in the exposure processing based on the execution job information 60 shown in FIG. 7A, jobs are executed in the execution order of job A (10 processed sheets), job B (15 processed sheets), and job C (20 processed sheets). Executed. Then, when a plurality of jobs are continuously executed, the number of processed sheets set in the execution job information 60 is compared with the number of exposed substrates C that are actually subjected to exposure processing, and the job being executed is compared. At the stage where the exposure processing for the set number of substrates to be exposed C has been completed, job switching, the job being executed is terminated, and execution of the next job is started.

作業者は、実行ジョブ情報60に設定されている実行順序に従って、複数のジョブの各々において被露光基板Cの種類や処理枚数を確認し、露光対象とする被露光基板Cを待機させる位置である基板待機位置に配置する。一方、露光描画装置2は、基板待機位置に配置されている被露光基板Cを順次取得して、実行ジョブ情報60に記されている内容に従って露光処理を行う。   The operator confirms the type and the number of processed substrates C in each of the plurality of jobs according to the execution order set in the execution job information 60, and waits for the exposed substrate C to be exposed. Arranged at the substrate standby position. On the other hand, the exposure drawing apparatus 2 sequentially acquires the exposed substrate C arranged at the substrate standby position, and performs the exposure process according to the contents described in the execution job information 60.

また、ステップS119において、制御部50は、ステップS117において複数のジョブが実行された場合に、実行されたジョブが実行ジョブ情報60で設定された通りに実行されているかどうかを監視する監視処理(後述する第1露光監視処理、第2露光監視処理、及び、第2実施形態の第3露光監視処理)を実行する。   In step S119, the control unit 50 monitors whether or not the executed job is executed as set in the execution job information 60 when a plurality of jobs are executed in step S117. A first exposure monitoring process, a second exposure monitoring process, and a third exposure monitoring process of the second embodiment, which will be described later, are executed.

このように、作業者が、実行ジョブ情報60を参照しながら露光対象とする被露光基板Cを種類や枚数を確認しつつ手動で露光描画装置2に投入するための位置に配置するため、作業者の不注意によって被露光基板Cの枚数を誤って配置してしまうことが考えられる。この場合には、従来の露光描画装置においてはエラーが発生して露光処理が停止してしまう。   In this way, the operator places the exposed substrate C to be exposed with reference to the execution job information 60 at a position for manually loading the exposure drawing apparatus 2 while confirming the type and number of sheets. It is conceivable that the number of substrates C to be exposed is mistakenly arranged due to carelessness of a person. In this case, in the conventional exposure drawing apparatus, an error occurs and the exposure process stops.

特に、作業者が被露光基板Cの枚数を数える際に1枚多く(または少なく)数えてしまった場合等には、実行ジョブ情報が正しく設定されていても、作業者により配置された被露光基板Cがたった1枚ずれているために、露光描画装置がジョブの切り替えを正しく認識できず、エラーが発生してしまう。露光描画装置がエラー等により停止してしまうと回復するのに時間を要するため、可能な限り露光処理を停止させずに露光処理を最後まで継続させることが望ましい。   In particular, when the operator counts one more (or less) when the number of substrates C to be exposed is counted, even if the execution job information is correctly set, the exposure to be arranged by the operator Since only one substrate C is displaced, the exposure drawing apparatus cannot correctly recognize job switching, and an error occurs. Since it takes time to recover if the exposure drawing apparatus stops due to an error or the like, it is desirable to continue the exposure process to the end without stopping the exposure process as much as possible.

そこで、本実施形態に係る露光描画システム1では、制御装置3は、露光直前に計測して得た被露光基板Cのサイズ及び被露光基板Cのアライメントマークの位置等に基づいて、露光対象となっている被露光基板Cの基板種類と設定されているジョブの基板種類とを比較することにより、実行されているジョブと設定されているジョブが一致しているかどうかを監視する第1露光監視処理及び第2露光監視処理を行う。   Therefore, in the exposure drawing system 1 according to the present embodiment, the control device 3 determines the exposure target based on the size of the substrate C to be exposed and the position of the alignment mark of the substrate C to be obtained, which are obtained immediately before exposure. A first exposure monitor that monitors whether the job being executed matches the set job by comparing the substrate type of the substrate C to be exposed with the substrate type of the set job. Processing and second exposure monitoring processing are performed.

図9は、第1実施形態に係る第1露光監視処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートであり、当該プログラムは制御装置3の記憶部51に備えられた記録媒体であるROMの所定領域に予め記憶されている。   FIG. 9 is a flowchart showing the flow of processing of the first exposure monitoring processing program according to the first embodiment. This program is stored in advance in a predetermined area of a ROM, which is a recording medium provided in the storage unit 51 of the control device 3. It is remembered.

制御装置3の制御部50は、予め定められたタイミング(本実施形態では、ステップS119等で露光描画装置2による露光処理が開始されたタイミング)で、当該露光監視処理プログラムを実行する。   The control unit 50 of the control device 3 executes the exposure monitoring processing program at a predetermined timing (in this embodiment, the timing when the exposure processing by the exposure drawing device 2 is started in step S119 or the like).

なお、本実施形態では、ジョブ切り替えの直前のk枚(処理枚数がN枚のジョブにおいて、N−k+1枚目からN枚目までのk枚)と、ジョブ切り替えの直後のk枚(処理枚数がN枚のジョブにおいて、1枚目からk枚目までのk枚)について、ジョブ切り替えを行うタイミングか否かを判定する。kの値は、Nより小さい値(例えばNが10であった場合にkは2または3)であって、作業者によって予め入力53を介して入力されて記憶部51に記憶されている。   In this embodiment, k sheets immediately before job switching (k sheets from N−k + 1 to N sheets in a job with N processing sheets) and k sheets (number of processing sheets) immediately after job switching. In the N jobs, it is determined whether or not it is the timing for job switching for k sheets from the first sheet to the kth sheet. The value of k is a value smaller than N (for example, k is 2 or 3 when N is 10), and is input in advance by the operator via the input 53 and stored in the storage unit 51.

始めに、ステップS117において露光処理が実行されている状態において、ステップS201において、制御部50は、現在実行中のジョブの全体の処理枚数がN枚だとした際に、次に処理対象とする被露光基板Cが現在実行中のジョブにおいてN−k+1枚目以上であるか否かを判定する。   First, in the state in which the exposure process is being executed in step S117, in step S201, the control unit 50 determines that the total number of processed jobs currently being executed is N. It is determined whether the exposed substrate C is N−k + 1 or more in the job currently being executed.

ステップS201においてN−k+1枚目以上であると判定された場合は、ステップS203において、制御部50は、次に処理対象とする被露光基板Cの計測されたサイズを取得する。この際、制御部50は、次に処理対象とする被露光基板Cが第1搬送部5により搬送されているときに、露光描画装置2の基板サイズ計測部27により計測された被露光基板Cのサイズに関する情報を取得する。   If it is determined in step S201 that the number is N−k + 1 or more, the control unit 50 acquires the measured size of the substrate C to be processed next in step S203. At this time, the control unit 50 detects the substrate C to be exposed measured by the substrate size measuring unit 27 of the exposure drawing apparatus 2 when the substrate C to be processed next is being transported by the first transport unit 5. Get information about the size of the.

ステップ205において、制御部50は、次に処理対象とする被露光基板Cのアライメントマークの位置等を取得する。この際、システム制御部40が、次に処理対象とする被露光基板Cが撮影部23により撮影されている撮影画像からアライメントマークを検出し、検出したアライメントマークの位置等を示す情報を生成する。制御部50は、システム制御部40から当該アライメントマークの位置等を示す情報を受信することにより取得する。   In step 205, the control unit 50 acquires the position and the like of the alignment mark of the substrate C to be processed next. At this time, the system control unit 40 detects the alignment mark from the captured image in which the substrate C to be processed next is imaged by the imaging unit 23 and generates information indicating the position of the detected alignment mark. . The control unit 50 acquires the information indicating the position and the like of the alignment mark from the system control unit 40.

ステップS207において、制御部50は、ステップS203において取得した被露光基板Cのサイズと、ステップS205において取得した被露光基板のアライメントマークの位置等を、記憶部51に予め記憶されている基板種類毎のサイズやアライメントマークの位置等と比較することにより、次に処理対象とする被露光基板Cの基板種類を判定する。   In step S207, the control unit 50 stores the size of the exposed substrate C acquired in step S203, the position of the alignment mark of the exposed substrate acquired in step S205, and the like for each substrate type stored in the storage unit 51 in advance. Next, the substrate type of the substrate C to be exposed to be processed is determined by comparing the size and the position of the alignment mark.

ステップS209において、制御部50は、ステップS207により判定された次に処理対象とする被露光基板Cの基板種類と、実行中のジョブにおいて設定されている基板種類とを比較することにより、基板種類が、実行ジョブ情報60に設定されているジョブに適合しているか否かを判定する。この際、制御部50は、次に処理対象とする被露光基板Cの基板種類が実行中のジョブにおいて設定されている基板種類と一致した場合に、実行中のジョブに適合していると判定する。   In step S209, the control unit 50 compares the substrate type of the exposed substrate C to be processed next determined in step S207 with the substrate type set in the job being executed, thereby obtaining the substrate type. Is determined to be suitable for the job set in the execution job information 60. At this time, if the substrate type of the substrate C to be processed next matches the substrate type set in the job being executed, the control unit 50 determines that the job is being executed. To do.

ステップS209において実行中のジョブに適合していると判定された場合は、ステップS211において、制御部50は、そのまま実行中のジョブで露光処理を継続する。   If it is determined in step S209 that the job is compatible with the job being executed, in step S211, the control unit 50 continues the exposure process with the job being executed as it is.

ステップS209において実行中のジョブに適合していないと判定された場合は、ステップS213において、制御部50は、ステップS207により判定された次に処理対象とする被露光基板Cの基板種類と、実行中のジョブの次のジョブにおいて設定されている基板種類とを比較することにより、基板種類が次のジョブに適合しているか否かを判定する。   If it is determined in step S209 that the job is not compatible with the job being executed, in step S213, the control unit 50 determines the substrate type of the substrate C to be processed next determined in step S207 and the execution type. By comparing the board type set in the next job of the middle job, it is determined whether or not the board type is suitable for the next job.

ステップS213において次のジョブに適合していると判定された場合は、ステップS215において、制御部50は、実行中のジョブのための被露光基板Cの枚数が足りなかったものと判断し、現在実行中のジョブを1つ進め次に露光対象となる被露光基板Cに対して実行中のジョブの次のジョブが実行されるように次のジョブに切り替える。   If it is determined in step S213 that it is suitable for the next job, in step S215, the control unit 50 determines that the number of exposed substrates C for the job being executed is insufficient, The current job is advanced by one, and the next job is switched so that the next job of the current job is executed for the substrate C to be exposed next.

図10(A)及び(B)は、第1実施形態に係る露光描画システム1における第1監視処理を説明するための概念図である。なお、図10は、kが1以上に設定されている場合を示している。図10(A)に示すように、処理枚数がN枚のジョブAのN(=N−1+1)枚目の被露光基板Cについて露光処理を行う際に、この被露光基板CがジョブBに使用される基板であった場合には、図10(B)に示すように、制御部50は、ジョブAからジョブBに切り替えるタイミングを1枚分前にずらし、ジョブAのN枚目の被露光基板CをジョブBの1枚目の被露光基板Cとして、この時点でジョブAを終了してジョブBを開始する。   FIGS. 10A and 10B are conceptual diagrams for explaining the first monitoring process in the exposure drawing system 1 according to the first embodiment. FIG. 10 shows a case where k is set to 1 or more. As shown in FIG. 10A, when the exposure process is performed on the N (= N−1 + 1) th exposed substrate C of N jobs A, the exposed substrate C becomes job B. If it is a board to be used, as shown in FIG. 10B, the control unit 50 shifts the timing of switching from job A to job B one sheet ahead, and the Nth substrate of job A is covered. Assuming that the exposure substrate C is the first substrate C to be exposed in job B, at this point, job A is completed and job B is started.

図11(A)及び(B)は、第1実施形態に係る露光描画システム1における第1監視処理の他の例を説明するための概念図である。なお、図11は、k=3以上に設定されている場合を示している。図11(A)に示すように、処理枚数がN枚のジョブAのN−2(=N−3+1)枚目の被露光基板Cについて露光処理を行う際にも同様に、この被露光基板CがジョブBに使用される基板であった場合には、図11(B)に示すように、制御部50は、ジョブAからジョブBに切り替えるタイミングを3枚分前にずらし、ジョブAのN−2枚目の被露光基板CをジョブBの1枚目の被露光基板Cとして、この時点でジョブAを終了してジョブBを開始する。   FIGS. 11A and 11B are conceptual diagrams for explaining another example of the first monitoring process in the exposure drawing system 1 according to the first embodiment. FIG. 11 shows a case where k = 3 or more. As shown in FIG. 11A, when the exposure process is performed on the N-2 (= N-3 + 1) th exposed substrate C of the job A with N processed sheets, this exposed substrate is similarly used. When C is a substrate used for job B, as shown in FIG. 11B, the control unit 50 shifts the timing of switching from job A to job B by three sheets before, The N-2th exposed substrate C is set as the first exposed substrate C of job B, and at this point, job A is terminated and job B is started.

ステップS217において、制御部50は、ジョブAの被露光基板Cの枚数が少なかったためジョブを進めた旨を出力し、ステップS211において、次のジョブで露光処理を継続する。その旨を出力する方法は、表示部52にその旨を表示させる方法であっても、音声でその旨を出力する方法であっても良い。   In step S217, the control unit 50 outputs that the job has proceeded because the number of substrates C to be exposed for job A is small, and in step S211, the exposure processing is continued with the next job. The method for outputting the message may be a method for displaying the message on the display unit 52 or a method for outputting the message by voice.

ステップS213において次のジョブに適合していないと判定された場合は、ステップS219において、制御部50は、露光処理を継続できないと判断し、被露光基板Cを露光描画装置2の外部に排出する。   If it is determined in step S213 that the job does not conform to the next job, in step S219, the control unit 50 determines that the exposure process cannot be continued, and discharges the exposed substrate C to the outside of the exposure drawing apparatus 2. .

このようにして、第1実施形態に係る露光描画システム1では、複数のジョブを連続して行う際に、被露光基板Cのサイズにより実行されているジョブと設定されているジョブとが一致しているかどうかを判定し、異なっていた場合には、さらに実行されているジョブと設定されているジョブの次のジョブとが一致しているかどうかを判定し、一致していた場合には、実行対象のジョブを設定されているジョブの次のジョブに切り替えて実行を継続することで、不要な露光処理を極力行わずに不用意なライン停止を抑制することができる。   Thus, in the exposure drawing system 1 according to the first embodiment, when a plurality of jobs are continuously performed, the job executed according to the size of the substrate C to be exposed matches the set job. If they are different, it is further determined whether the job being executed and the next job of the set job match. By switching the target job to the job next to the set job and continuing the execution, an inadvertent line stop can be suppressed without performing unnecessary exposure processing as much as possible.

図12は、第1実施形態に係る第2露光監視処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートであり、当該プログラムは制御装置3の記憶部51に備えられた記録媒体であるROMの所定領域に予め記憶されている。   FIG. 12 is a flowchart showing the flow of processing of the second exposure monitoring processing program according to the first embodiment. The program is stored in advance in a predetermined area of a ROM, which is a recording medium provided in the storage unit 51 of the control device 3. It is remembered.

制御装置3の制御部50は、予め定められたタイミング(本実施形態では、ステップS119等で露光描画装置2による露光処理が開始されたタイミング)で、当該露光監視処理プログラムを実行する。   The control unit 50 of the control device 3 executes the exposure monitoring processing program at a predetermined timing (in this embodiment, the timing when the exposure processing by the exposure drawing device 2 is started in step S119 or the like).

始めに、ステップS117において露光処理が実行されている状態において、ステップS301において、制御部50は、現在実行中のジョブの全体の処理枚数がN枚だとした際に、次に処理対象とする被露光基板Cが現在実行中のジョブにおいてk枚目以下であるか否かを判定する。   First, in a state where the exposure process is being executed in step S117, in step S301, when the total number of processed jobs currently being executed is N, the control unit 50 sets the next processing target. It is determined whether or not the exposed substrate C is the kth or less in the job currently being executed.

ステップS301においてk枚目以下であると判定された場合は、ステップS303において、制御部50は、ステップS203と同様の手法で、次に処理対象とする被露光基板Cのサイズを取得する。また、ステップ305において、制御部50は、ステップS205と同様の手法で、次に処理対象とする被露光基板Cのアライメントマークの位置等を取得する。   If it is determined in step S301 that the number is the kth or less, in step S303, the control unit 50 acquires the size of the substrate C to be processed next by the same method as in step S203. In step 305, the control unit 50 acquires the position of the alignment mark of the substrate C to be processed next, etc., using the same method as in step S205.

ステップS307において、制御部50は、ステップS303において取得した被露光基板Cのサイズと、ステップS305において取得した被露光基板Cのアライメントマークの位置等を、記憶部51に予め記憶されている基板種類毎のサイズやアライメントマークの位置等と比較することにより、次に処理対象とする被露光基板Cの基板種類を判定する。   In step S307, the control unit 50 stores the size of the exposed substrate C acquired in step S303 and the position of the alignment mark of the exposed substrate C acquired in step S305 in the storage unit 51 in advance. The substrate type of the substrate to be exposed C to be processed next is determined by comparing each size, the position of the alignment mark, and the like.

ステップS309において、制御部50は、ステップS209の処理と同様の手法で、ステップS307により判定された次に処理対象とする被露光基板Cの基板種類と、切り替え後のジョブにおいて設定されている基板種類とを比較することにより、基板種類が切り替え後のジョブに適合しているか否かを判定する。   In step S309, the control unit 50 uses the same method as the process in step S209, and the substrate type of the exposure target substrate C to be processed next determined in step S307 and the substrate set in the job after switching. By comparing the type, it is determined whether or not the board type is suitable for the job after switching.

ステップS309において切り替え後のジョブに適合していると判定された場合は、ステップS311において、制御部50は、そのまま切り替え後のジョブで露光処理を継続する。   If it is determined in step S309 that the job is suitable for the job after switching, in step S311, the control unit 50 continues the exposure process for the job after switching as it is.

ステップS309において切り替え後のジョブに適合していないと判定された場合は、ステップS313において、制御部50は、ステップS307により判定された次に処理対象とする被露光基板Cの基板種類と、切り替え後のジョブの1つ前のジョブにおいて設定されている基板種類とを比較することにより、基板種類が前のジョブに適合しているか否かを判定する。   If it is determined in step S309 that the job is not suitable for the switched job, in step S313, the control unit 50 switches the substrate type of the exposed substrate C to be processed next determined in step S307, and the switching type. By comparing the substrate type set in the job immediately before the subsequent job, it is determined whether or not the substrate type is suitable for the previous job.

ステップS313において前のジョブに適合していると判定された場合は、ステップS315において、制御部50は、切り替え後のジョブの前のジョブの被露光基板Cの枚数が多かったものと判断し、ジョブの切り替えタイミングとなってもジョブを切り替えることなく、実行中のジョブを1つ戻して切り替え後のジョブの1つ前のジョブを設定する。   If it is determined in step S313 that the job conforms to the previous job, in step S315, the control unit 50 determines that the number of exposed substrates C of the job before the job after switching is large, Even when the job switching timing is reached, without switching the job, the current job is returned to one, and the job immediately before the switched job is set.

図13(A)及び(B)は、第1実施形態に係る露光描画システム1における第2監視処理を説明するための概念図である。なお、図13は、kが1以上に設定されている場合を示している。図13(A)に示すように、処理枚数がN枚のジョブBの1枚目の被露光基板Cについて露光処理を行う際に、この被露光基板CがジョブAに使用される基板であった場合には、図13(B)に示すように、制御部50は、ジョブAからジョブBに切り替えるタイミングを1枚分後ろにずらし、ジョブBの1枚目の被露光基板CをジョブAの最後の被露光基板Cとして、この時点でジョブBを開始せずにジョブAに切り替えて実行する。   13A and 13B are conceptual diagrams for explaining the second monitoring process in the exposure drawing system 1 according to the first embodiment. FIG. 13 shows a case where k is set to 1 or more. As shown in FIG. 13A, when the exposure processing is performed on the first exposed substrate C of the job B with N processed sheets, the exposed substrate C is a substrate used for the job A. In this case, as shown in FIG. 13B, the control unit 50 shifts the timing of switching from the job A to the job B by one sheet, and moves the first exposed substrate C of the job B to the job A. As the last substrate to be exposed C, the job B is not started at this point and is switched to the job A and executed.

ステップS317において、制御部50は、ジョブAの被露光基板Cの枚数が多かったためジョブを戻した(進めなかった)旨を出力し、ステップS311において、前のジョブで露光処理を継続する。その旨を出力する方法は、表示部52にその旨を表示させる方法であっても、音声でその旨を出力する方法であっても良い。   In step S317, the control unit 50 outputs that the job has been returned (not advanced) because the number of substrates C to be exposed in job A is large, and in step S311, the exposure processing is continued with the previous job. The method for outputting the message may be a method for displaying the message on the display unit 52 or a method for outputting the message by voice.

ステップS313において次のジョブに適合していないと判定された場合は、ステップS319において、制御部50は、露光処理を継続できないと判断し、被露光基板Cを露光描画装置2の外部に排出する。   If it is determined in step S313 that the job does not conform to the next job, in step S319, the control unit 50 determines that the exposure process cannot be continued, and discharges the exposed substrate C to the outside of the exposure drawing apparatus 2. .

このようにして、第1実施形態に係る露光描画システム1では、複数のジョブを連続して行う際に、被露光基板Cのサイズ及びアライメントマークの位置等により実行されているジョブと設定されているジョブとが一致しているかどうかを判定し、異なっていた場合には、さらに実行されているジョブと設定されているジョブの次のジョブとが一致しているかどうかを判定し、一致していた場合には、実行対象のジョブを設定されているジョブの次のジョブに切り替えて実行を継続することで、不要な露光処理を極力行わずに不用意なライン停止を抑制することができる。   Thus, in the exposure drawing system 1 according to the first embodiment, when a plurality of jobs are continuously performed, the job is set as a job that is executed depending on the size of the substrate C to be exposed and the position of the alignment mark. If they are different, and if they are different, it is further determined whether the job being executed and the next job of the set job match. In such a case, by switching the execution target job to the job next to the set job and continuing the execution, an inadvertent line stop can be suppressed without performing unnecessary exposure processing as much as possible.

また、第1実施形態に係る露光描画システム1では、複数のジョブを連続して行う際に、被露光基板Cのサイズ及びアライメントマークの位置等により実行されているジョブと設定されているジョブとが一致しているかどうかを判定し、異なっていた場合には、さらに実行されているジョブと設定されているジョブの前のジョブとが一致しているかどうかを判定し、一致していた場合には、実行対象のジョブを設定されているジョブの前のジョブに切り替えて実行を継続することで、不要な露光処理を極力行わずに不用意なライン停止を抑制することができる。   In the exposure drawing system 1 according to the first embodiment, when a plurality of jobs are continuously performed, a job that is executed according to the size of the substrate C to be exposed, the position of the alignment mark, and the like are set. If they are different, it is determined whether the job being executed and the job before the set job match. By switching the execution target job to a job before the set job and continuing the execution, an inadvertent line stop can be suppressed without performing unnecessary exposure processing as much as possible.

さらに、第1実施形態に係る露光描画システム1では、ジョブを監視するタイミングを、ジョブの切り替えが予定されているタイミングの直前のk枚からジョブの切り替えが行われた直後のk枚までとし、kの値を作業者が適宜設定できるようにすることにより、ジョブの切り替えが不用意に行われることが回避される。なお、k=0と設定された場合には、実行ジョブ情報60で設定されているジョブの切り替えタイミングを実行時に変更することが許容されない。   Furthermore, in the exposure drawing system 1 according to the first embodiment, the timing for monitoring a job is from k sheets immediately before the job switching is scheduled to k sheets immediately after the job switching is performed, By allowing the operator to appropriately set the value of k, it is possible to avoid inadvertent job switching. When k = 0 is set, it is not allowed to change the job switching timing set in the execution job information 60 at the time of execution.

そのうえ、第1実施形態に係る露光描画システム1では、ステップS207(S307)において、ステップS203(S303)で取得した被露光基板Cのサイズ、及びステップS205(S305)で取得したアライメントマークの位置等の双方を用いて基板種類を判定しているため、連続して実行されるジョブ間で被露光基板Cのサイズが同一であった場合でも、的確にジョブを判定することができ、これにより、ジョブの切り替えを的確に行うことができる。   In addition, in the exposure drawing system 1 according to the first embodiment, in step S207 (S307), the size of the exposed substrate C acquired in step S203 (S303), the position of the alignment mark acquired in step S205 (S305), and the like. Therefore, even if the size of the exposed substrate C is the same between continuously executed jobs, the job can be accurately determined. Job switching can be performed accurately.

なお、第1実施形態に係る露光描画装置2では、ジョブに関する情報を入力するが、これに限定されず、予め記憶部51に記憶されている実行ジョブ情報を、作業者が入力部53を介して選択することにより、実行対象とするジョブを設定しても良い。   In the exposure drawing apparatus 2 according to the first embodiment, information related to a job is input. However, the present invention is not limited to this, and the operator inputs the execution job information stored in advance in the storage unit 51 via the input unit 53. In this case, a job to be executed may be set.

また、第1実施形態に係る露光描画システム1では、ステップS207(S307)において、ステップS203(S303)で取得した被露光基板Cのサイズ、及びステップS205(S305)で取得したアライメントマークの位置等を用いて基板種類を判定しているが、これに限定されず、ステップS207(S307)において、被露光基板Cのサイズ、被露光基板Cに形成されているアライメントマークの位置、被露光基板Cに形成されているアライメントマークの種類の少なくとも一つを用いて基板種類を判定しても良い。   In the exposure drawing system 1 according to the first embodiment, in step S207 (S307), the size of the exposed substrate C acquired in step S203 (S303), the position of the alignment mark acquired in step S205 (S305), and the like. However, the present invention is not limited to this. In step S207 (S307), the size of the substrate C to be exposed, the position of the alignment mark formed on the substrate C to be exposed, and the substrate C to be exposed. The substrate type may be determined using at least one of the types of alignment marks formed on the substrate.

〔第2実施形態〕
以下、第2実施形態に係る露光描画システム1について添付図面を参照して詳細に説明する。なお、第2実施形態に係る露光描画システム1は、第1実施形態に係る露光描画システム1と同様に、図1乃至図5に示す構成を有しているため、当該構成に関して重複する説明を省略する。
[Second Embodiment]
Hereinafter, the exposure drawing system 1 according to the second embodiment will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Since the exposure / drawing system 1 according to the second embodiment has the configuration shown in FIGS. 1 to 5 like the exposure / drawing system 1 according to the first embodiment, overlapping description of the configuration is given. Omitted.

第1実施形態に係る露光描画システム1では、複数のジョブを予め定められた実行順序に従って実行する際に、被露光基板Cのサイズ及びアライメントマークの位置等によって被露光基板Cの基板種類を推測し、推測された基板種類がジョブに設定されている基板種類と異なっていた場合に、ジョブが異なっていると判定するものであるが、第2実施形態に係る露光描画システム1は、露光対象とする被露光基板Cのサイズが被露光基板Cの基板種類を推測し、推測された基板種類がジョブに設定されている基板種類と異なっていた場合に、ジョブが異なっていると判定するものである。   In the exposure drawing system 1 according to the first embodiment, when executing a plurality of jobs according to a predetermined execution order, the substrate type of the substrate C to be exposed is estimated based on the size of the substrate C to be exposed, the position of the alignment mark, and the like. When the estimated substrate type is different from the substrate type set for the job, it is determined that the job is different. However, the exposure drawing system 1 according to the second embodiment If the size of the exposed substrate C is assumed to be the substrate type of the exposed substrate C, and the estimated substrate type is different from the substrate type set in the job, it is determined that the job is different. It is.

第2実施形態に係る露光描画システム1では、第1実施形態の実行ジョブ情報60に従って、複数のジョブを連続的に実行し、その際に実行されているジョブと設定されているジョブとが異なっていないかどうか監視する第3露光監視処理を実行する。   In the exposure drawing system 1 according to the second embodiment, a plurality of jobs are continuously executed according to the execution job information 60 of the first embodiment, and the job being executed at that time is different from the set job. A third exposure monitoring process is performed to monitor whether or not there is any.

第2実施形態に係る露光描画システム1における第3露光監視処理の流れについて説明する。   A flow of the third exposure monitoring process in the exposure drawing system 1 according to the second embodiment will be described.

図14は、第2実施形態に係る第3露光監視処理プログラムの処理の流れを示すフローチャートであり、当該プログラムは制御装置3の記憶部51に備えられた記録媒体であるROMの所定領域に予め記憶されている。   FIG. 14 is a flowchart showing the flow of processing of the third exposure monitoring processing program according to the second embodiment. This program is stored in advance in a predetermined area of a ROM, which is a recording medium provided in the storage unit 51 of the control device 3. It is remembered.

制御装置3の制御部50は、予め定められたタイミング(本実施形態では、ステップS119等で露光描画装置2による露光処理が開始されたタイミング)で、当該露光監視処理プログラムを実行する。   The control unit 50 of the control device 3 executes the exposure monitoring processing program at a predetermined timing (in this embodiment, the timing when the exposure processing by the exposure drawing device 2 is started in step S119 or the like).

なお、本実施形態では、ジョブ切り替えの直前のk枚(処理枚数がN枚のジョブにおいて、N−k+1枚目からN枚目までのk枚)と、ジョブ切り替えの直後のk枚(処理枚数がN枚のジョブにおいて、1枚目からk枚目までのk枚)について、ジョブ切り替えを行うタイミングか否かを判定する。kの値は、Nより小さい値であって、作業者によって予め入力53を介して入力されて記憶部51に記憶されている。   In this embodiment, k sheets immediately before job switching (k sheets from N−k + 1 to N sheets in a job with N processing sheets) and k sheets (number of processing sheets) immediately after job switching. In the N jobs, it is determined whether or not it is the timing for job switching for k sheets from the first sheet to the kth sheet. The value of k is a value smaller than N, which is input in advance by the operator via the input 53 and stored in the storage unit 51.

始めに、ステップS401において、ステップS117において露光処理が実行されている状態において、制御部50は、現在実行中のジョブの全体の処理枚数がN枚だとした際に、次に処理対象とする被露光基板Cが現在実行中のジョブにおいてN−k+1枚目以上であるか否かを判定する。   First, in step S401, in a state where the exposure process is being executed in step S117, the control unit 50 determines that the total number of processed jobs currently being executed is N, and sets the next processing target. It is determined whether the exposed substrate C is N−k + 1 or more in the job currently being executed.

ステップS401においてN−k+1枚目以上であると判定された場合は、ステップS403において、制御部50は、ステップS201の処理と同様の手法で、次に処理対象とする被露光基板Cのサイズを取得する。   When it is determined in step S401 that the number is N−k + 1 or more, in step S403, the control unit 50 sets the size of the substrate C to be processed next in the same manner as the process in step S201. get.

ステップS405において、制御部50は、ステップS403において取得した被露光基板Cのサイズと、記憶部51に予め記憶されている基板種類毎のサイズと比較することにより、次に処理対象とする被露光基板Cの基板種類を判定する。   In step S405, the control unit 50 compares the size of the substrate C to be exposed acquired in step S403 with the size of each substrate type stored in advance in the storage unit 51, thereby exposing the object to be processed next. The board type of the board C is determined.

ステップS405において実行中のジョブに適合していると判定された場合は、ステップ407において、制御部50は、ステップS205の処理と同様の手法で、次に処理対象とする被露光基板Cのアライメントマークの位置等を取得する。   If it is determined in step S405 that the job is suitable for the job being executed, in step 407, the control unit 50 uses the same method as that in step S205 to align the substrate C to be processed next. Get the mark position and so on.

ステップS409において、制御部50は、ステップS407において取得した被露光基板のアライメントマークの位置等を、記憶部51に予め記憶されているアライメントマークの位置等と比較することにより、実行中のジョブに適合しているか否かを判定する。   In step S409, the control unit 50 compares the position or the like of the alignment mark of the substrate to be exposed acquired in step S407 with the position or the like of the alignment mark stored in advance in the storage unit 51. Judge whether it conforms.

ステップS409において実行中のジョブに適合していると判定された場合は、ステップS411において、制御部50は、実行中のジョブでそのまま露光処理を継続する。   If it is determined in step S409 that it is suitable for the job being executed, in step S411, the control unit 50 continues the exposure process for the job being executed.

ステップS409において実行中のジョブに適合していないと判定された場合は、ステップS413において、制御部50は、ステップS409により判定された次に処理対象とする被露光基板Cの基板種類と、実行中のジョブの次のジョブにおいて設定されている基板種類とを比較することにより、基板種類が次のジョブに適合しているか否かを判定する。   If it is determined in step S409 that the job is not compatible with the job being executed, in step S413, the control unit 50 determines the substrate type of the exposure target substrate C to be processed next determined in step S409, and the execution. By comparing the board type set in the next job of the middle job, it is determined whether or not the board type is suitable for the next job.

ステップS413において次のジョブに適合していると判定された場合は、ステップS415において、制御部50は、実行中のジョブのための被露光基板Cの枚数が足りなかったものと判断し、現在実行中のジョブを1つ進めて次に処理対象とする被露光基板Cに対して実行中のジョブの次のジョブが実行されるように切り替える。   If it is determined in step S413 that the job conforms to the next job, in step S415, the control unit 50 determines that the number of exposed substrates C for the job being executed is insufficient, The current job is advanced by one, and the next job of the job being executed is switched to the next target substrate C to be processed.

ステップS417において、制御部50は、ジョブAの被露光基板Cの枚数が少なかったためジョブを進めた旨を出力し、ステップS411において、次のジョブで露光処理を継続する。その旨を出力する方法は、表示部52にその旨を表示させる方法であっても、音声でその旨を出力する方法であっても良い。   In step S417, the control unit 50 outputs that the job has proceeded because the number of substrates C to be exposed for job A is small, and in step S411, the exposure processing is continued with the next job. The method for outputting the message may be a method for displaying the message on the display unit 52 or a method for outputting the message by voice.

一方、ステップS405において実行中のジョブに適合していないと判定された場合は、ステップS419において、制御部50は、ステップS409により判定された次に処理対象とする被露光基板Cのサイズと、実行中のジョブの次のジョブにおいて設定されている基板のサイズとを比較することにより、基板種類が次のジョブに適合しているか否かを判定する。   On the other hand, if it is determined in step S405 that it is not suitable for the job being executed, in step S419, the control unit 50 determines the size of the substrate C to be processed next determined in step S409, It is determined whether or not the board type is suitable for the next job by comparing the size of the board set in the next job of the job being executed.

ステップS419において次のジョブに適合していると判定された場合は、ステップS421において、制御部50は、ステップS205の処理と同様の手法で、次に処理対象とする被露光基板Cのアライメントマークの位置等を取得する。   If it is determined in step S419 that the job conforms to the next job, in step S421, the control unit 50 uses the same method as that in step S205 to align the alignment mark of the substrate C to be processed next. Get the position etc.

ステップS421において、制御部50は、ステップS419において取得した被露光基板Cのアライメントマークの位置等を、記憶部51に予め記憶されているアライメントマークの位置等と比較することにより、実行中のジョブの次のジョブに適合するか否かを判定する。ステップS423において次のジョブに適合すると判定された場合は、ステップS415に移行する。   In step S <b> 421, the control unit 50 compares the position of the alignment mark on the substrate C to be exposed acquired in step S <b> 419 with the position of the alignment mark stored in the storage unit 51 in advance, thereby executing the job being executed. It is determined whether or not the job matches the next job. If it is determined in step S423 that the job matches the next job, the process proceeds to step S415.

ステップS419またはステップS423において次のジョブに適合しないと判定された場合は、ステップS425において、制御部50は、露光処理を継続できないと判断し、次に処理対象とする被露光基板Cを露光描画装置2の外部に排出する。   If it is determined in step S419 or step S423 that it does not conform to the next job, in step S425, the control unit 50 determines that the exposure process cannot be continued, and exposes the substrate C to be processed next as an exposure drawing. Discharge to the outside of the device 2.

このようにして、第2実施形態に係る露光描画システム1では、被露光基板Cが搬送されてきた段階で、被露光基板Cのサイズにより実行されているジョブと設定されているジョブとが異なっているかどうかを判定するため、被露光基板Cが搬入されてきた段階でジョブが異なっているかどうかを判定でき、ジョブが異なっていると判定された場合には、露光処理を行うことなく(被露光基板Cをステージ10に載置することなく)被露光基板Cを速やかに露光描画装置2の外部に排出することができる。   In this way, in the exposure drawing system 1 according to the second embodiment, the job executed and the set job differ depending on the size of the exposure substrate C when the exposure substrate C has been transported. In order to determine whether or not the job is different at the stage when the substrate C to be exposed is carried in, if it is determined that the job is different, the exposure process is not performed (the target The exposed substrate C can be quickly discharged out of the exposure drawing apparatus 2 (without placing the exposed substrate C on the stage 10).

また、第2実施形態に係る露光描画システム1では、被露光基板Cが搬送されてきた段階で、搬送された被露光基板Cのジョブを切り替えるか否かを事前に(被露光基板Cをステージ10に載置する前段階において)判断するため、画像データ切り替えの開始タイミングを早めることができる。特に露光対象画像の画像データのデータ容量が大きい場合には画像データの切り替えに一定の時間を要するが、この画像データの切り替えのための待機時間を短縮させることができる。   Further, in the exposure drawing system 1 according to the second embodiment, whether or not the job of the transferred substrate C to be transferred is switched in advance at the stage where the exposed substrate C has been transferred (the exposure substrate C is staged). Therefore, the image data switching start timing can be advanced. In particular, when the data volume of the image data of the exposure target image is large, it takes a certain time to switch the image data, but the waiting time for switching the image data can be shortened.

なお、第2実施形態に係る露光描画システム1において、ジョブの切り替え直前に基板種類が次のジョブに適合しているか否かを判定する場合(第1露光監視処理に対応)について説明したが、これに限定されず、ジョブの切り替え直後に基板種類が前のジョブに適合しているか否かを判定しても良い(第2露光監視処理に対応)。この場合、ステップS401において、処理枚数がN枚のジョブにおいて現在の処理枚数がk枚目以下であるかを判定し、ステップS409にて切り替え後のジョブに適合しているか否かを判定し、ステップS413、S419及びS423において、基板種類が切り替え後のジョブの前のジョブに適合しているか否かを判定し、ステップS415において、切り替え後のジョブを1つ戻して前のジョブを設定し、また、ステップS417において、ジョブを戻した旨を出力する。   In the exposure drawing system 1 according to the second embodiment, the case where it is determined whether or not the substrate type is suitable for the next job immediately before job switching (corresponding to the first exposure monitoring process) has been described. However, the present invention is not limited to this, and it may be determined immediately after job switching whether the substrate type is compatible with the previous job (corresponding to the second exposure monitoring process). In this case, in step S401, it is determined whether or not the current number of processed sheets is N or less in the N number of processed jobs. In step S409, it is determined whether or not the job is suitable for the switched job. In steps S413, S419, and S423, it is determined whether or not the board type is compatible with the job before the job after switching, and in step S415, the job after switching is returned to one, and the previous job is set. In step S417, the fact that the job has been returned is output.

また、第1露光監視処理、第2露光監視処理、及び第3監視処理は、被露光基板Cに対して露光処理を行っている間に、当該被露光基板Cの次に露光対象とする被露光基板Cに対して行われるようにすると良い。これにより、ジョブの切り替えの判断を露光処理を開始する前に前もって行うことができる。   In the first exposure monitoring process, the second exposure monitoring process, and the third monitoring process, the exposure target to be exposed next to the exposure target substrate C while the exposure target substrate C is being exposed. It may be performed on the exposure substrate C. Thus, it is possible to make a judgment on job switching in advance before starting the exposure process.

1…露光描画システム,2…露光描画装置,3…制御装置,5…第1搬送部,5a…コンベア部,6…第2搬送部,10…ステージ,11…基体,12…基台,14…ガイドレール,15…ゲート,16…露光部,16a…露光ヘッド,17…光源ユニット,18…光ファイバ,19…画像処理ユニット,20…信号ケーブル,22…ゲート,23…撮影部,24…ACハンド,25…吸着部,26…押付部,27…基板サイズ計測部,27a…幅計測部,27b…長さ計測部,40…システム制御部,41…ステージ駆動部,42…操作装置,43…移動駆動部,50…制御部,51…記憶部,52…表示部,53…入力部,54…通信インタフェース,60…実行ジョブ情報,70…基板種類情報,C…被露光基板。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Exposure drawing system, 2 ... Exposure drawing apparatus, 3 ... Control apparatus, 5 ... 1st conveyance part, 5a ... Conveyor part, 6 ... 2nd conveyance part, 10 ... Stage, 11 ... Base | substrate, 12 ... Base, 14 Guide rail, 15 Gate, 16 Exposure unit, 16a Exposure head, 17 Light source unit, 18 Optical fiber, 19 Image processing unit, 20 Signal cable, 22 Gate, 23 Shooting unit, 24 AC hand, 25 ... suction part, 26 ... pressing part, 27 ... substrate size measurement part, 27a ... width measurement part, 27b ... length measurement part, 40 ... system control part, 41 ... stage drive part, 42 ... operation device, DESCRIPTION OF SYMBOLS 43 ... Movement drive part, 50 ... Control part, 51 ... Memory | storage part, 52 ... Display part, 53 ... Input part, 54 ... Communication interface, 60 ... Execution job information, 70 ... Substrate type information, C ... Substrate to be exposed.

Claims (16)

被露光基板の種類を示す基板情報が各々設定され、露光情報に応じた露光処理を要求する複数の露光処理要求に基づいて、被露光基板に対して露光処理の各々を順に実行する露光処理実行手段と、
露光処理対象の被露光基板の基板情報を検出する検出手段と、
前記検出手段で検出された検出基板情報と実行中の露光処理要求に設定された実行中基板情報とを比較する比較手段と、
前記比較手段の比較結果に基づいて、次に露光処理対象となる被露光基板の検出基板情報が実行中基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して実行中の露光処理要求が継続して実行されると共に、検出基板情報が実行中基板情報と異なりかつ次の露光処理要求に設定された基板情報と同じ場合には、前記実行中の露光処理要求を終了して前記次の露光処理要求の実行が開始されるように、前記露光処理実行手段で実行される露光処理要求を切り替える切替手段と、
を備えた露光描画装置。
Substrate information indicating the type of substrate to be exposed is set, and exposure processing is executed to sequentially execute each of the exposure processing on the substrate to be exposed based on a plurality of exposure processing requests that require exposure processing according to the exposure information. Means,
Detecting means for detecting substrate information of a substrate to be exposed;
Comparison means for comparing the detected substrate information detected by the detection means with the in-execution substrate information set in the exposure processing request being executed;
Based on the comparison result of the comparison means, if the detected substrate information of the next exposure target substrate is the same as the in-execution substrate information, it is executed on the next exposure target substrate. If the detected substrate information is different from the currently executed substrate information and is the same as the substrate information set in the next exposure process request, the currently executed exposure process request is Switching means for switching the exposure process request executed by the exposure process execution means so that the execution of the next exposure process request is started after finishing,
An exposure drawing apparatus comprising:
前記複数の露光処理要求の各々には、基板の処理枚数を示す枚数情報が各々設定され、
前記切替手段は、前記露光処理実行手段により実行された露光処理枚数が実行中の露光処理要求に設定された処理枚数に応じて定められた所定枚数となった際に、前記比較手段の比較結果に基づいて、次に露光処理対象となる被露光基板の検出基板情報が実行中基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して実行中の露光処理要求が継続して実行されると共に、検出基板情報が実行中基板情報と異なりかつ次の露光処理要求に設定された基板情報と同じ場合には、前記実行中の露光処理要求を終了して前記次の露光処理要求の実行が開始されるように、前記露光処理実行手段で実行される露光処理要求を切り替える
請求項1記載の露光描画装置。
In each of the plurality of exposure processing requests, number information indicating the number of processed substrates is set,
The switching means, when the number of exposure processing executed by the exposure processing execution means becomes a predetermined number determined according to the number of processing set in the exposure processing request being executed, the comparison result of the comparison means If the detected substrate information of the substrate to be exposed next to be subjected to exposure processing is the same as the substrate information being executed, an exposure processing request being executed for the substrate to be exposed next is processed. If the detected substrate information is different from the currently executed substrate information and is the same as the substrate information set in the next exposure process request, the currently executed exposure process request is terminated and the next The exposure drawing apparatus according to claim 1, wherein the exposure processing request executed by the exposure processing execution unit is switched so that execution of the exposure processing request is started.
被露光基板の種類を示す基板情報が各々設定され、露光情報に応じた露光処理を要求する複数の露光処理要求に基づいて、被露光基板に対して露光処理の各々を順に実行する露光処理実行手段と、
露光処理対象の被露光基板の基板情報を検出する検出手段と、
前記検出手段で検出された検出基板情報と切り替えられた露光処理要求に設定された切替基板情報とを比較する比較手段と、
実行中の露光処理要求を終了して次の露光処理要求の実行が開始されるように切り替えた後、前記比較手段の比較結果に基づいて、次に露光処理対象となる被露光基板の検出基板情報が切替基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して切り替え後の露光処理要求が実行されると共に、検出基板情報が切替基板情報と異なりかつ切替直前に実行していた露光処理要求に設定された基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して切り替え直前に実行していた露光処理要求が継続して実行されるように、前記露光処理実行手段で実行される露光処理要求を切り替える切替手段と、
を備えた露光描画装置。
Substrate information indicating the type of substrate to be exposed is set, and exposure processing is executed to sequentially execute each of the exposure processing on the substrate to be exposed based on a plurality of exposure processing requests that require exposure processing according to the exposure information. Means,
Detecting means for detecting substrate information of a substrate to be exposed;
Comparison means for comparing the detected substrate information detected by the detection means with the switched substrate information set in the switched exposure processing request;
After the current exposure process request is terminated and the execution of the next exposure process request is started, based on the comparison result of the comparison means, the detection substrate of the next substrate to be exposed is detected. When the information is the same as the switching substrate information, an exposure processing request after switching is executed for the next exposure target substrate, and the detected substrate information is different from the switching substrate information and immediately before switching. When the same substrate information is set in the exposure processing request that has been executed, the exposure processing request that was executed immediately before switching is continuously executed for the next exposure target substrate to be exposed. Switching means for switching an exposure processing request executed by the exposure processing execution means,
An exposure drawing apparatus comprising:
前記複数の露光処理要求の各々には、基板の処理枚数を示す枚数情報が各々設定され、
前記切替手段は、実行中の露光処理要求を終了して次の露光処理要求の実行が開始されるように切り替えた後、前記露光処理実行手段により実行された露光処理枚数が実行中の露光処理要求に設定された処理枚数に応じて定められた所定枚数となった際に、前記比較手段の比較結果に基づいて、次に露光処理対象となる被露光基板の検出基板情報が切替基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して切り替え後の露光処理要求が実行されると共に、検出基板情報が切替基板情報と異なりかつ切替直前に実行していた露光処理要求に設定された基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して切り替え直前に実行していた露光処理要求が継続して実行されるように、前記露光処理実行手段で実行される露光処理要求を切り替える
請求項記載の露光描画装置。
In each of the plurality of exposure processing requests, number information indicating the number of processed substrates is set,
The switching means switches the exposure processing request being executed and ends the next exposure processing request so that the exposure processing number of exposure processing executed by the exposure processing execution means is being executed. When the predetermined number of sheets determined according to the number of processing sheets set in the request is reached, based on the comparison result of the comparison means, the detected substrate information of the substrate to be exposed next is the switching substrate information. In the same case, the exposure processing request after switching is executed for the next substrate to be exposed, and the exposure processing executed before the switching is different from the switching substrate information. When the substrate information set in the request is the same, the exposure processing is executed so that the exposure processing request executed immediately before switching is continuously executed for the exposure target substrate to be exposed next. Execution means Exposure drawing device according to claim 3, wherein switching the exposure processing request to be executed.
露光処理要求の切り替えを許容する前記被露光基板の枚数の入力を受け付ける受付手段をさらに備え、
前記所定枚数は、実行中の露光処理に設定された処理枚数及び前記受付手段により受け付けられた枚数に応じて定められる
請求項2または4記載の露光描画装置。
Receiving means for accepting an input of the number of substrates to be exposed that allows switching of exposure processing requests;
The exposure drawing apparatus according to claim 2, wherein the predetermined number is determined according to a processing number set for an exposure process being executed and a number received by the receiving unit.
露光処理要求の切り替えを許容する前記被露光基板の枚数の入力を受け付ける受付手段をさらに備え、
前記切替手段は、前記露光処理実行手段により実行中の露光処理要求において実行された露光処理枚数が、実行中の露光処理に設定された処理枚数から前記受付手段により受け付けられた枚数を減算して1を加算した枚数以上である際に、前記比較手段の比較結果に基づいて、次に露光処理対象となる被露光基板の検出基板情報が切替基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して切り替え後の露光処理要求が実行されると共に、検出基板情報が切替基板情報と異なりかつ切替直前に実行していた露光処理要求に設定された基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して切り替え直前に実行していた露光処理要求が継続して実行されるように、前記露光処理実行手段で実行される露光処理要求を切り替える
請求項2記載の露光描画装置。
Receiving means for accepting an input of the number of substrates to be exposed that allows switching of exposure processing requests;
The switching means subtracts the number of exposure processes executed in the exposure process request being executed by the exposure process execution means from the number of processes set in the exposure process being executed from the number of processes accepted by the reception means. If the detected substrate information of the next substrate to be exposed is the same as the switching substrate information based on the comparison result of the comparing means when the number is equal to or greater than 1, the next exposure processing When the exposure processing request after switching is executed for the target substrate to be exposed, and the detected substrate information is different from the switching substrate information and is the same as the substrate information set in the exposure processing request executed immediately before switching Includes an exposure process executed by the exposure process execution means so that the exposure process request executed immediately before switching is continuously executed for the exposure target substrate to be exposed next. Exposure drawing device according to claim 2, wherein switching the management request.
露光処理要求の切り替えを許容する前記被露光基板の枚数の入力を受け付ける受付手段をさらに備え、
前記切替手段は、前記露光処理実行手段により実行中の露光処理要求において実行された露光処理枚数が前記受付手段により受け付けられた枚数以下である際に、前記比較手段の比較結果に基づいて、次に露光処理対象となる被露光基板の検出基板情報が切替基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して切り替え後の露光処理要求が実行されると共に、検出基板情報が切替基板情報と異なりかつ切替直前に実行していた露光処理要求に設定された基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して切り替え直前に実行していた露光処理要求が継続して実行されるように、前記露光処理実行手段で実行される露光処理要求を切り替える
請求項4記載の露光描画装置。
Receiving means for accepting an input of the number of substrates to be exposed that allows switching of exposure processing requests;
The switching means, when the number of exposure processing executed in the exposure processing request being executed by the exposure processing execution means is equal to or less than the number accepted by the accepting means, based on the comparison result of the comparison means, If the detected substrate information of the substrate to be exposed is the same as the switching substrate information, the exposure processing request after switching is executed for the next substrate to be exposed and detected. If the substrate information is different from the switching substrate information and is the same as the substrate information set in the exposure processing request that was executed immediately before switching, the processing is executed immediately before switching for the substrate to be exposed next. The exposure drawing apparatus according to claim 4, wherein the exposure process request executed by the exposure process execution unit is switched so that the exposure process request that has been performed is continuously executed.
前記切替手段が、前記露光処理実行手段で実行される露光処理要求を切り替えた場合、予め定められた情報を出力する出力手段をさらに備えた
請求項1乃至7の何れか1項記載の露光描画装置。
It said switching means, said exposure process when switching exposure processing request to be executed in real Gyote stage, of any one of claims 1 to 7, further comprising output means for outputting information to a predetermined Exposure drawing device.
前記基板情報は、基板のサイズ、並びに基板に形成されたアライメントマークの位置及び種類を含む情報であり、
前記検出手段は、前記露光処理対象の被露光基板のサイズ、被露光基板に形成されたアライメントマークの位置、及び被露光基板に形成されたアライメントマークの種類の少なくとも1つを基板情報として検出する
請求項1乃至8の何れか1項記載の露光描画装置。
The substrate information is information including the size of the substrate and the position and type of the alignment mark formed on the substrate,
The detection means detects at least one of the size of the substrate to be exposed, the position of the alignment mark formed on the substrate to be exposed, and the type of alignment mark formed on the substrate to be exposed as substrate information. The exposure drawing apparatus according to any one of claims 1 to 8.
前記検出基板情報が実行中基板情報と異なり、かつ前記次の露光処理要求に設定された基板情報と異なる場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板を露光処理を行わずに装置外部に排出する排出手段をさらに備えた
請求項1または2記載の露光描画装置。
When the detected substrate information is different from the executing substrate information and different from the substrate information set in the next exposure processing request, the exposure substrate to be exposed next is not subjected to the exposure processing. The exposure drawing apparatus according to claim 1, further comprising discharge means for discharging to the outside.
前記検出基板情報が切替基板情報と異なり、かつ切り替え直前に実行していた露光処理要求に設定された基板情報と異なる場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板を露光処理を行わずに装置外部に排出する排出手段をさらに備えた
請求項3または4記載の露光描画装置。
If the detected substrate information is different from the switching substrate information and different from the substrate information set in the exposure processing request that was executed immediately before switching, exposure processing is performed on the substrate to be exposed next. The exposure drawing apparatus according to claim 3, further comprising discharge means for discharging to the outside of the apparatus.
前記検出手段は、前記次に露光処理対象となる被露光基板の搬入時に前記露光処理対象の被露光基板のサイズを検出し、
前記比較手段の比較結果に基づいて、検出基板情報が実行中基板情報と異なり、かつ次の露光処理要求に設定された基板情報と異なる場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板を露光処理を行わずにそのまま装置外部に排出する排出手段をさらに備えた
請求項1または2記載の露光描画装置。
The detecting means detects the size of the substrate to be exposed when the next substrate to be exposed is carried in,
Based on the comparison result of the comparison means, if the detected substrate information is different from the executing substrate information and different from the substrate information set in the next exposure processing request, the substrate to be exposed next to the exposure processing target The exposure drawing apparatus according to claim 1, further comprising discharge means for discharging the light as it is to the outside of the apparatus without performing exposure processing.
前記検出手段は、前記次に露光処理対象となる被露光基板の搬入時に前記露光処理対象の被露光基板のサイズを検出し、
前記比較手段の比較結果に基づいて、検出基板情報が切替基板情報と異なり、かつ切り替え直前に実行していた露光処理要求に設定された基板情報と異なる場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板を露光処理を行わずにそのまま装置外部に排出する排出手段をさらに備えた
請求項3または4記載の露光描画装置。
The detecting means detects the size of the substrate to be exposed when the next substrate to be exposed is carried in,
Based on the comparison result of the comparison means, if the detected substrate information is different from the switching substrate information and different from the substrate information set in the exposure processing request executed immediately before switching, the next exposure processing target The exposure drawing apparatus according to claim 3, further comprising discharge means for discharging the exposed substrate as it is to the outside of the apparatus without performing exposure processing.
コンピュータを、請求項1乃至13の何れか1項記載の露光描画装置における比較手段及び切替手段として機能させるためのプログラム。   A program for causing a computer to function as a comparison unit and a switching unit in the exposure drawing apparatus according to any one of claims 1 to 13. 被露光基板の種類を示す基板情報が各々設定され、露光情報に応じた露光処理を要求する複数の露光処理要求に基づいて、被露光基板に対して露光処理の各々を順に実行する露光処理実行ステップと、
露光処理対象の被露光基板の基板情報を検出する検出ステップと、
前記検出ステップで検出された検出基板情報と実行中の露光処理要求に設定された実行中基板情報とを比較する比較ステップと、
前記比較ステップの比較結果に基づいて、次に露光処理対象となる被露光基板の検出基板情報が実行中基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して実行中の露光処理要求が継続して実行されると共に、検出基板情報が実行中基板情報と異なりかつ次の露光処理要求に設定された基板情報と同じ場合には、前記実行中の露光処理要求を終了して前記次の露光処理要求の実行が開始されるように、前記露光処理実行ステップで実行される露光処理要求を切り替える切替ステップと、
を備えた露光描画方法。
Substrate information indicating the type of substrate to be exposed is set, and exposure processing is executed to sequentially execute each of the exposure processing on the substrate to be exposed based on a plurality of exposure processing requests that require exposure processing according to the exposure information. Steps,
A detection step of detecting substrate information of an exposure target substrate to be exposed;
A comparison step of comparing the detected substrate information detected in the detection step with the in-execution substrate information set in the exposure processing request being executed;
Based on the comparison result of the comparison step , if the detected substrate information of the substrate to be exposed next is the same as the in-execution substrate information, the processing is performed on the substrate to be exposed next. If the detected substrate information is different from the currently executed substrate information and is the same as the substrate information set in the next exposure process request, the currently executed exposure process request is A switching step of switching the exposure processing request executed in the exposure processing execution step so that the execution of the next exposure processing request is started after being terminated;
An exposure drawing method comprising:
被露光基板の種類を示す基板情報が各々設定され、露光情報に応じた露光処理を要求する複数の露光処理要求に基づいて、被露光基板に対して露光処理の各々を順に実行する露光処理実行ステップと、
露光処理対象の被露光基板の基板情報を検出する検出ステップと、
前記検出ステップで検出された検出基板情報と切り替えられた露光処理要求に設定された切替基板情報とを比較する比較ステップと、
実行中の露光処理要求を終了して次の露光処理要求の実行が開始されるように切り替えた後、前記比較ステップの比較結果に基づいて、次に露光処理対象となる被露光基板の検出基板情報が切替基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して切り替え後の露光処理要求が実行されると共に、検出基板情報が切替基板情報と異なりかつ切替直前に実行していた露光処理要求に設定された基板情報と同じ場合には、前記次に露光処理対象となる被露光基板に対して切り替え直前に実行していた露光処理要求が継続して実行されるように、前記露光処理実行ステップで実行される露光処理要求を切り替える切替ステップと、
を備えた露光処理方法。
Substrate information indicating the type of substrate to be exposed is set, and exposure processing is executed to sequentially execute each of the exposure processing on the substrate to be exposed based on a plurality of exposure processing requests that require exposure processing according to the exposure information. Steps,
A detection step of detecting substrate information of an exposure target substrate to be exposed;
A comparison step of comparing the detected substrate information detected in the detection step with the switched substrate information set in the switched exposure processing request;
After switching so that the exposure process request being executed is terminated and execution of the next exposure process request is started, based on the comparison result of the comparison step , the substrate to be exposed to be exposed next is detected. When the information is the same as the switching substrate information, an exposure processing request after switching is executed for the next exposure target substrate, and the detected substrate information is different from the switching substrate information and immediately before switching. When the same substrate information is set in the exposure processing request that has been executed, the exposure processing request that was executed immediately before switching is continuously executed for the next exposure target substrate to be exposed. A switching step for switching the exposure processing request executed in the exposure processing execution step,
An exposure processing method comprising:
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