[go: up one dir, main page]

JP5903930B2 - Substrate transfer apparatus and semiconductor manufacturing apparatus using the substrate transfer apparatus - Google Patents

Substrate transfer apparatus and semiconductor manufacturing apparatus using the substrate transfer apparatus Download PDF

Info

Publication number
JP5903930B2
JP5903930B2 JP2012040458A JP2012040458A JP5903930B2 JP 5903930 B2 JP5903930 B2 JP 5903930B2 JP 2012040458 A JP2012040458 A JP 2012040458A JP 2012040458 A JP2012040458 A JP 2012040458A JP 5903930 B2 JP5903930 B2 JP 5903930B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
rod
substrate
vacuum
toggle link
chamber
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2012040458A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2013175670A (en
Inventor
正敏 小野田
正敏 小野田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissin Ion Equipment Co Ltd
Original Assignee
Nissin Ion Equipment Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nissin Ion Equipment Co Ltd filed Critical Nissin Ion Equipment Co Ltd
Priority to JP2012040458A priority Critical patent/JP5903930B2/en
Priority to CN201210425485.XA priority patent/CN103295943B/en
Priority to KR1020120132278A priority patent/KR101401279B1/en
Priority to TW101148332A priority patent/TWI492327B/en
Publication of JP2013175670A publication Critical patent/JP2013175670A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5903930B2 publication Critical patent/JP5903930B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67724Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations by means of a cart or a vehicule
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67763Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
    • H01L21/67772Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving removal of lid, door, cover
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67763Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
    • H01L21/67775Docking arrangements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Description

本発明は、内部が真空に保たれている真空室内に設けられた基板搬送台を前記真空室の外部に設けられた駆動機構により移動させる基板搬送装置及びこの基板搬送装置を用いた半導体製造装置に関するものである。   The present invention relates to a substrate transfer device for moving a substrate transfer table provided in a vacuum chamber whose inside is maintained in a vacuum by a drive mechanism provided outside the vacuum chamber, and a semiconductor manufacturing apparatus using the substrate transfer device It is about.

例えば液晶テレビ等に用いられる半導体基板の製造においては、イオン注入により所望の特性を付与するために半導体製造装置の一種であるイオン注入装置が用いられている。   For example, in the manufacture of a semiconductor substrate used for a liquid crystal television or the like, an ion implantation apparatus which is a kind of semiconductor manufacturing apparatus is used in order to impart desired characteristics by ion implantation.

このようなイオン注入装置においてイオンビームが基板に対して照射されるイオン注入室は所定の真空度に保たれている必要がある。このため、大気圧中にある基板を前記イオン注入室に搬入する場合、まず真空予備室に基板を搬入して、大気圧から所定の真空度まで減圧した後に、前記真空予備室から前記イオン注入室へと基板を搬送するようにして、前記イオン注入室の真空度を保つようにしている。   In such an ion implantation apparatus, an ion implantation chamber in which an ion beam is irradiated onto a substrate needs to be maintained at a predetermined degree of vacuum. For this reason, when a substrate in atmospheric pressure is carried into the ion implantation chamber, the substrate is first carried into the vacuum preparatory chamber, the pressure is reduced from atmospheric pressure to a predetermined degree of vacuum, and then the ion implantation is performed from the vacuum preparatory chamber. The substrate is transferred to the chamber so as to maintain the degree of vacuum in the ion implantation chamber.

例えば、特許文献1には大気圧中にある基板が搬入され、所定の圧力まで減圧される真空予備室と、常時真空に保たれており、前記真空予備室において減圧が終わったあとに基板が搬送され、前記イオン注入室へ基板を受渡が行われる真空室と、前記真空予備室から前記真空室内へと基板を搬送するための基板搬送台とを備えたイオン注入装置が示されている。   For example, in Patent Document 1, a substrate in atmospheric pressure is carried in, and a vacuum preliminary chamber in which the pressure is reduced to a predetermined pressure, and a vacuum is constantly maintained. There is shown an ion implantation apparatus including a vacuum chamber that is transported and a substrate is transferred to the ion implantation chamber, and a substrate transport table for transporting the substrate from the vacuum preliminary chamber to the vacuum chamber.

前記基板搬送台は、前記真空予備室に基板が搬入される時には、当該真空予備室と前記真空室との境界開口を気密に閉塞する閉塞位置に配置され、前記真空室と前記真空予備室を完全に隔離するためにも用いられている。そして、前記真空予備室での減圧が完了すると、前記基板搬送台は前記真空室側に設定されている開放位置に移動し、前記境界開口を開放する。   When the substrate is carried into the vacuum preparatory chamber, the substrate carrier is disposed at a closed position that hermetically closes a boundary opening between the vacuum preparatory chamber and the vacuum chamber, and the vacuum chamber and the vacuum preparatory chamber are It is also used for complete isolation. When the decompression in the vacuum preparatory chamber is completed, the substrate transfer table moves to an open position set on the vacuum chamber side, and opens the boundary opening.

ところで、前記基板搬送台は真空室内の真空度や清浄度を保つために、前記真空室及び前記真空予備室の外部に駆動装置が設けられている。より具体的には、前記基板搬送台は、前記真空室及び前記真空予備室の外部に設けられた駆動装置であるトグルリンク機構と前記真空室を形成する壁体を貫通して設けられたロッドによって接続されており、前記トグルリンク機構が前記ロッドを進退させることにより外部の動力により駆動されるように構成されている。   By the way, in order to maintain the degree of vacuum and cleanliness in the vacuum chamber, a driving device is provided outside the vacuum chamber and the vacuum preliminary chamber. More specifically, the substrate transfer table is a rod provided through a toggle link mechanism which is a driving device provided outside the vacuum chamber and the vacuum preliminary chamber and a wall forming the vacuum chamber. And the toggle link mechanism is driven by external power by moving the rod forward and backward.

しかしながら、このようなものでは前記壁体と前記ロッドの隙間から外部の空気が前記真空室内へと流入し、真空度が所定の値に保てないことがある。また、前記ロッドは高い真空度の保たれている真空室と、大気との間を行き来することになるので、大気中でロッドに付着した粉塵等が当該ロッドからイオン注入装置の真空室内に飛散してしまい、前記真空室内の清浄度を保てなくなる恐れがある。   However, in such a case, external air may flow into the vacuum chamber from the gap between the wall and the rod, and the degree of vacuum may not be maintained at a predetermined value. Further, since the rod moves back and forth between the vacuum chamber in which a high degree of vacuum is maintained and the atmosphere, dust or the like adhering to the rod in the atmosphere is scattered from the rod into the vacuum chamber of the ion implantation apparatus. As a result, the cleanliness in the vacuum chamber may not be maintained.

特開2011−18799号公報JP 2011-18799 A

本発明は、上述したような問題を鑑みてなされたものであり、真空室又は真空予備室の内部に空気や粉塵等が侵入しないように前記ロッドと前記真空室又は真空予備室を形成する壁体との間を気密に密閉できる基板搬送装置及びそれを用いた半導体製造装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and a wall that forms the rod and the vacuum chamber or the vacuum preparatory chamber so that air, dust or the like does not enter the inside of the vacuum chamber or the vacuum preparatory chamber. It is an object of the present invention to provide a substrate transfer device capable of hermetically sealing with a body and a semiconductor manufacturing apparatus using the same.

すなわち、本発明の基板搬送装置は、所定の真空度に保たれている真空室と、外部との間で基板の搬出入を行うための真空予備室との境界開口を気密に閉塞する閉塞位置と前記境界開口を開放する前記真空室内の開放位置との間を移動可能に構成された基板搬送台と、前記真空室及び前記真空予備室の外部に設けられたものであって、互いに枢結された複数のリンク要素からなるトグルリンクを具備し、前記トグルリンクを屈伸させることによって出力端を進退させるトグルリンク機構と、前記真空室又は前記真空予備室を形成する壁体を貫通して前記基板搬送台と前記トグルリンク機構の出力端との間に介在し、前記出力端の進退動作を前記基板搬送台に伝達する1又は複数のロッドとを備え、前記ロッドと前記壁体との間を気密に密閉するシール構造が設けられていることを特徴とする。   That is, the substrate transfer apparatus of the present invention is a closed position that hermetically closes a boundary opening between a vacuum chamber maintained at a predetermined degree of vacuum and a vacuum preliminary chamber for carrying the substrate in and out of the outside. And a substrate transfer table configured to be movable between an opening position in the vacuum chamber that opens the boundary opening, and provided outside the vacuum chamber and the vacuum preliminary chamber, and are pivotally connected to each other. A toggle link mechanism that includes a toggle link composed of a plurality of linked elements, and that extends and retracts the output end by bending and stretching the toggle link; and a wall that forms the vacuum chamber or the vacuum preparatory chamber. One or a plurality of rods interposed between the substrate transfer table and the output end of the toggle link mechanism and transmitting the advancing / retreating operation of the output end to the substrate transfer table, between the rod and the wall body Airtightly sealed Wherein the seal structure is provided.

このようなものであれば、前記ロッドと前記壁体との隙間を気密に密閉するシール構造が設けられているので、外部からの空気が真空室内に流入するのを防ぎ真空度を保つことができる。また、前記真空室の内部と外部との間を行き来するロッドを介して、真空室又は真空予備室の内部に粉塵が侵入することがなく、粉塵等が内部において飛散することにより、清浄度が低下する事態も防ぐことができる。   If this is the case, since a seal structure is provided to hermetically seal the gap between the rod and the wall body, air from outside can be prevented from flowing into the vacuum chamber, and the degree of vacuum can be maintained. it can. In addition, dust does not enter the inside of the vacuum chamber or the vacuum preparatory chamber via the rod that goes back and forth between the inside and the outside of the vacuum chamber, and the cleanliness is improved by the dust scattering inside. The situation of decline can also be prevented.

前記ロッドの保守作業や基板搬送時の安定性等を考慮すると、前記ロッドが複数設けられており、前記ロッドの進退方向から視て前記トグルリンク機構が、各ロッドの内側に設けられているものであればよい。   In consideration of the maintenance work of the rods, stability at the time of substrate transfer, etc., a plurality of the rods are provided, and the toggle link mechanism is provided on the inner side of each rod as viewed from the forward and backward directions of the rods. If it is.

このようなものであれば、各ロッドの間に前記トグルリンク機構が配置されることになるので、各ロッドの離間間隔を広くすることができ、ロッドの保守作業等に必要なスペースを広く取りやすい。また、前記トグルリンク機構が各ロッドの内側に設けられていない従来例の構成に比べて、次に示す格別の効果が得られる。   In such a case, since the toggle link mechanism is arranged between the rods, the spacing between the rods can be widened, and the space necessary for the maintenance work of the rods can be widened. Cheap. In addition, the following special effects can be obtained as compared with the conventional configuration in which the toggle link mechanism is not provided inside each rod.

前記基板搬送台上に寸法の大きな基板や複数枚の基板が搭載されても各ロッドの離間間隔が広いので前記基板搬送台を安定して支持することができる。また、取り付け誤差により各ロッドの長さ方向に差が生じたとしても、各ロッドの離間間隔が広いので前記基板搬送台の姿勢が所定のものから大きく変化しない。このようなことから、基板の搬送を安定して行うことができる。   Even when a large-sized substrate or a plurality of substrates are mounted on the substrate transfer table, the spacing between the rods is wide, so that the substrate transfer table can be stably supported. Even if a difference occurs in the length direction of each rod due to an attachment error, the distance between the rods is wide, so that the posture of the substrate transfer table does not change greatly from a predetermined one. For this reason, the substrate can be transported stably.

さらに、各ロッドの離間間隔が広くなるので、設計自由度が飛躍的に向上することが期待できる。   Furthermore, since the spacing between the rods is widened, it can be expected that the degree of freedom in design is greatly improved.

より具体的な構成例としては、前記トグルリンク機構が、その出力端の移動方向を前記ロッドの進退方向に規制する案内部を更に備え、前記ロッドの進退方向から視て前記案内部が各ロッドよりも内側に配置されているものが挙げられる。このようなものであれば、前記ロッドを前記案内部に貫通させた上でさらに壁体を貫通させることがない。つまり、1つの部材に形成された穴にしか前記ロッドが挿入されていないので、ロッドの保守作業時に容易に取り外すことが可能となる。   As a more specific configuration example, the toggle link mechanism further includes a guide portion that restricts the moving direction of the output end to the forward / backward direction of the rod, and the guide portion is viewed from the forward / backward direction of the rod. What is arrange | positioned inside is mentioned. If it is such, after making the said rod penetrate the said guide part, a wall body is not penetrated further. That is, since the rod is inserted only into the hole formed in one member, it can be easily removed at the time of maintenance work of the rod.

前記トグルリンク機構を前記真空室又は前記真空予備室を形成する壁体の外表面に取り付けて地面から離している場合において、作業スペースを広くとることができる構成としては、前記案内部が、前記ロッドの進退方向に延びるガイドバーと、前記トグルリンク機構及び前記ロッドの一端が取り付けられ、前記ガイドバーに沿って移動するスライダーと、前記ガイドバーを前記壁体に取り付けるための取り付け部と、を具備し、前記ロッドの進退方向から視て前記取り付け部及びガイドバーが各ロッドの内側に配置されているものであればよい。   In the case where the toggle link mechanism is attached to the outer surface of the wall body forming the vacuum chamber or the vacuum preparatory chamber and separated from the ground, as a configuration capable of taking a wide working space, the guide portion includes the A guide bar extending in the forward / backward direction of the rod, a toggle link mechanism and one end of the rod attached, a slider that moves along the guide bar, and an attachment portion for attaching the guide bar to the wall. Provided that the mounting portion and the guide bar are disposed inside each rod as viewed from the advancing / retreating direction of the rod.

前記ロッドの移動の繰り替えしによる前記シール構造の劣化の進行をできるだけ遅くし、当該シール構造を長持ちさせられるようにするには、前記シール構造が、前記壁体の外表面と前記トグルリンク機構との間に設けられて前記ロッドを覆うベローズを有したものであればよい。このようなものであれば、狭い真空室内に比べて前記ロッドにおいて外部に露出している部分は必要に応じて長くすることができるので、ベローズも容易に長くすることができ、前記ロッドの移動時に生じる単位長さ当たりのべローズの変形量を小さくすることができる。したがって、繰り返しロッドが移動することにより、周期的な変形がベローズに生じてもその変形量を小さくすることができるので、ベローズの耐久性を向上させることができる。   In order to make the progress of deterioration of the seal structure due to repeated movement of the rod as slow as possible and to make the seal structure last longer, the seal structure includes an outer surface of the wall body, the toggle link mechanism, What is necessary is just to have a bellows provided between and covering the rod. If it is such, since the part exposed to the outside in the rod can be lengthened if necessary as compared with a narrow vacuum chamber, the bellows can be easily lengthened, and the movement of the rod The amount of deformation of the bellows per unit length that occurs sometimes can be reduced. Therefore, by moving the rod repeatedly, even if periodic deformation occurs in the bellows, the amount of deformation can be reduced, so that the durability of the bellows can be improved.

前記真空室内の真空度や清浄度を保つための別の構成例としては、前記シール構造が、前記壁体の内表面と前記基板搬送台との間に設けられて前記ロッドを覆うベローズを有したものが挙げられる。   As another configuration example for maintaining the degree of vacuum and cleanliness in the vacuum chamber, the seal structure includes a bellows that is provided between the inner surface of the wall body and the substrate transfer table and covers the rod. The thing which was done is mentioned.

簡単な構成で前記真空室内の真空度を保つことができ、前記ロッドの内外の行き来による粉塵等の飛散を防ぐことができるようにするには、前記シール構造が、前記ロッドが貫通する貫通孔の内面に設けられたシールリングを有したものであればよい。   In order to be able to maintain the degree of vacuum in the vacuum chamber with a simple configuration and prevent scattering of dust and the like due to the movement of the rod inside and outside, the seal structure has a through-hole through which the rod passes. What is necessary is just to have the seal ring provided in the inner surface.

前記駆動部からの動力を用いずに閉塞位置にある基板搬送台に対して基板搬出入時に外部の気圧による力を支えられるようにするには、前記トグルリンクが、前記基板搬送台が前記閉塞位置にある場合に各リンク要素の少なくとも3つの枢結点が直線上に並ぶ伸びた状態となるように構成されたものであればよい。   In order to support the force due to the external atmospheric pressure when the substrate is carried in and out of the substrate transport table in the closed position without using power from the driving unit, the toggle link is configured so that the substrate transport table is closed. What is necessary is just to be comprised so that it may become the state where the at least 3 pivot point of each link element was located in a line when it exists in a position.

具体的には、各リンク要素の少なくとも3つの枢結点が直線上に並んだ状態であれば、その並んでいる方向に沿って力が作用するので、並んでいる各枢結点に回転モーメントは発生しない。したがって、前記トグルリンクが屈曲せずに前記基板搬送台を支持している状態となるので、前記基板搬送台に気圧差により大きな力がかかった状態でもモータ等の動力を使うことなく前記閉塞位置で前記基板搬送台を静止させて気密性を保つことができる。   Specifically, if at least three pivot points of each link element are arranged in a straight line, a force acts along the direction in which the link elements are arranged. Does not occur. Accordingly, since the toggle link is in a state of supporting the substrate transfer table without bending, the closed position can be used without using a power of a motor or the like even when a large force is applied to the substrate transfer table due to a pressure difference. Thus, the substrate transfer table can be kept stationary to maintain airtightness.

また、例えば直圧式シリンダにより基板搬送台を前記境界開口に力をかけて押し付け続けているのに比べて本発明であれば適切な力で気密性を保ちやすい。したがって、前記基板搬送台が前記閉塞位置にある時に気密性を保つために設けられるパッキンに過剰な力がかかるのを防ぐことができ、必要な気密性を保ちながらパッキンを長持ちさせることができるようになる。   Further, for example, in the present invention, airtightness can be easily maintained with an appropriate force as compared with the case where the substrate transfer table is continuously pressed against the boundary opening by a direct pressure cylinder. Therefore, it is possible to prevent an excessive force from being applied to the packing provided to maintain the airtightness when the substrate transport table is in the closed position, and to make the packing last longer while maintaining the required airtightness. become.

加えて、前記基板搬送台を油圧シリンダで移動させて前記真空予備室と前記真空室との間の隔壁を形成する位置に保持し続けるのと比べると、油圧シリンダであれば、常時作業油を動作させ続けなくてはならず、作業油量が増えてランニングコストが高いものとなっていたところを、本発明であれば伸びた状態の前記トグルリンクが前記基板搬送台を支持するものとなるので、余計なエネルギーを使わずに済みランニングコストも低減できる。   In addition, as compared with the case where the substrate transfer table is moved by a hydraulic cylinder and kept at a position where a partition wall is formed between the vacuum preparatory chamber and the vacuum chamber, a hydraulic cylinder always has working oil. In the present invention, the toggle link in an extended state supports the substrate carrier, where the amount of working oil is increased and the running cost is high. Therefore, it is possible to reduce the running cost without using extra energy.

簡単な構成で前記基板搬送台の姿勢を調整でき、前記閉塞位置において前記真空予備室と前記真空室との間における気密隔壁としての機能を十分に発揮できるようにするには、前記トグルリンク機構から前記基板搬送台までの前記ロッドの長さを調整する調整機構が設けられたものであればよい。   In order to be able to adjust the posture of the substrate transfer table with a simple configuration and to sufficiently exhibit the function as an airtight partition between the vacuum preliminary chamber and the vacuum chamber at the closed position, the toggle link mechanism What is necessary is just to provide the adjustment mechanism which adjusts the length of the said rod from the said board | substrate conveyance stand.

本発明の基板搬送装置の好ましい適用例としては、前記基板搬送装置を備えた半導体製造装置が挙げられる。   A preferable application example of the substrate transfer apparatus of the present invention is a semiconductor manufacturing apparatus provided with the substrate transfer apparatus.

このように本発明の基板搬送装置及び半導体製造装置によれば、前記シール構造により前記ロッドと当該ロッドが貫通している壁体との間を気密に密閉することができるので、真空室の内外を行き来するロッドによって真空室の内部に設けられた基板搬送台を移動させるように構成していても、外部から真空室内への空気の流入や、前記ロッドを介して外部の粉塵等が真空室内部へと侵入し飛散することを防ぐことができる。従って、前記ロッドを壁体に対して貫通させていても前記真空室内の真空度や清浄度を保つことができる。また、本発明であれば各ロッドの調整作業やメンテナンス作業について作業スペースを取りやすく構成することができ、作業における負担や手間を軽減することができる。
As described above, according to the substrate transfer apparatus and the semiconductor manufacturing apparatus of the present invention, the seal structure can hermetically seal between the rod and the wall through which the rod passes, so that the inside and outside of the vacuum chamber Even if the substrate carrier provided inside the vacuum chamber is moved by a rod that moves back and forth, the inflow of air from the outside into the vacuum chamber, and external dust or the like through the rod It can be prevented from entering and scattering inside. Therefore, the degree of vacuum and cleanliness in the vacuum chamber can be maintained even if the rod penetrates the wall. Moreover, if it is this invention, it can comprise so that work space can be easily taken about the adjustment operation | work of each rod, and a maintenance operation | work, and the burden and effort in an operation | work can be reduced.

本発明の第1実施形態に係るイオン注入装置の全体構成を示す模式図。The schematic diagram which shows the whole structure of the ion implantation apparatus which concerns on 1st Embodiment of this invention. 第1実施形態における基板搬送台が閉塞位置にある場合の基板搬送装置の構造を示す模式図。The schematic diagram which shows the structure of a board | substrate conveyance apparatus in case the board | substrate conveyance stand in 1st Embodiment exists in a blockade position. 第1実施形態における基板搬送台が開放位置にある場合の基板搬送装置の構造を示す模式図。The schematic diagram which shows the structure of a board | substrate conveyance apparatus in case the board | substrate conveyance stand in 1st Embodiment exists in an open position. 本発明の第2実施形態に係る基板搬送装置の構造を示す模式図。The schematic diagram which shows the structure of the board | substrate conveyance apparatus which concerns on 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態に係る基板搬送装置の構造を示す模式図。The schematic diagram which shows the structure of the board | substrate conveyance apparatus which concerns on 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第4実施形態に係る基板搬送装置の調整機構の例を示す模式図。The schematic diagram which shows the example of the adjustment mechanism of the board | substrate conveyance apparatus which concerns on 4th Embodiment of this invention. 本発明のその他の実施形態に係る基板搬送装置の構造を示す模式図。The schematic diagram which shows the structure of the board | substrate conveyance apparatus which concerns on other embodiment of this invention. 本発明のさらに別の実施形態に係る閉塞位置における密閉構造を示す模式的拡大図。The typical enlarged view which shows the sealing structure in the obstruction | occlusion position which concerns on another embodiment of this invention.

本発明の第1実施形態について図1乃至3を参照しながら説明する。   A first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

第1実施形態のイオン注入装置200は、内部が所定の真空度に保たれる半導体製造装置の一種であって、例えば液晶パネル用の基板Wに所望の特性を付加するために用いられるものである。より具体的には、前記イオン注入装置200は、基板Wに対してイオンビームを照射することにより、イオン注入を行って半導体としての特性を調節するためのものである。   The ion implantation apparatus 200 of the first embodiment is a kind of semiconductor manufacturing apparatus in which the inside is maintained at a predetermined degree of vacuum, and is used, for example, to add desired characteristics to a substrate W for a liquid crystal panel. is there. More specifically, the ion implantation apparatus 200 is for irradiating the substrate W with an ion beam to perform ion implantation and adjust the characteristics as a semiconductor.

図1に示すように前記イオン注入装置200は、大気圧中であってロボットによる基板Wのピックアップが行われる大気搬送室Aと、前記ロボットにより基板Wが搬入されると大気圧から所定の真空度まで減圧が行われる基板搬入室Bと、前記基板搬入室Bから基板Wを受け取ると水平状態の基板Wを起立させてイオンビームを照射する前の前処理が行われる前処理室Cと、起立した基板Wに対してイオン源からイオンビームが照射されるイオン注入室Dと、を備えたものである。なお、イオンビームが照射された後の流れとしては、上述した工程を逆向きに進行するものであってもよいし、別途基板搬出室等を備えた構成であってもよい。   As shown in FIG. 1, the ion implantation apparatus 200 includes an atmospheric transfer chamber A in which atmospheric pressure is picked up by a robot to pick up a substrate W, and a predetermined vacuum from atmospheric pressure when the substrate W is loaded by the robot. A substrate loading chamber B in which the pressure is reduced to a degree, a pretreatment chamber C in which pretreatment is performed before the substrate W in a horizontal state is erected and irradiated with an ion beam when the substrate W is received from the substrate loading chamber B; And an ion implantation chamber D in which an ion beam is irradiated from an ion source onto a standing substrate W. In addition, as a flow after the ion beam irradiation, the above-described process may be performed in the reverse direction, or a structure including a separate substrate unloading chamber may be used.

以下では、前記基板搬入室Bの構造及びそこで用いられている基板搬送装置100の詳細について説明する。   Hereinafter, the structure of the substrate carry-in chamber B and details of the substrate transfer apparatus 100 used therein will be described.

前記基板搬入室Bは、図2に示すように大気圧から所定の真空度まで減圧される真空予備室8と、所定の真空度に保たれ続ける真空室9とから構成してあり、前記真空予備室8と前記真空室9は、隣接しており各々の境界に境界開口42が形成してある。そして、ロボットによりピックアップされた基板Wが載置される基板搬送台4がこの前記境界開口42を閉塞して隔壁となることにより、完全に仕切られるようにしてある。この基板搬送台4は、前記真空室9を形成する壁体の下面外表面に取り付けられた前記基板搬送装置100により上下方向に移動できるように構成してある。   As shown in FIG. 2, the substrate carry-in chamber B includes a vacuum preparatory chamber 8 that is depressurized from atmospheric pressure to a predetermined degree of vacuum, and a vacuum chamber 9 that is kept at a predetermined degree of vacuum. The preliminary chamber 8 and the vacuum chamber 9 are adjacent to each other, and a boundary opening 42 is formed at each boundary. The substrate transport table 4 on which the substrate W picked up by the robot is placed closes the boundary opening 42 to form a partition, thereby being completely partitioned. The substrate transfer table 4 is configured to be movable in the vertical direction by the substrate transfer device 100 attached to the outer surface of the lower surface of the wall body forming the vacuum chamber 9.

前記真空予備室8は、大気圧中にある基板Wを高真空度に保たれている前記イオン注入装置200の内部に導入するための準備を行うためのチャンバーであり、前記ロボットにより基板Wが導入されるときは大気開放され、前記基板Wが導入された後は蓋体81により搬入口が閉じられ、図示しない真空ポンプにより前記真空室9の真空度と同程度となるまで真空引きが行われるように構成してある。   The preliminary vacuum chamber 8 is a chamber for preparing to introduce the substrate W in atmospheric pressure into the ion implantation apparatus 200 maintained at a high degree of vacuum. When the substrate W is introduced, the atmosphere is opened. After the substrate W is introduced, the carry-in port is closed by the lid 81, and vacuuming is performed by a vacuum pump (not shown) until the degree of vacuum of the vacuum chamber 9 becomes approximately the same. It is configured to be

前記真空室9は、前記基板搬送装置100の前記基板搬送台4が下方へと下ろされた後、前記基板搬送台4上に載置されている基板Wが前記前処理室Cへと受け渡されるための部屋である。   In the vacuum chamber 9, after the substrate transfer table 4 of the substrate transfer apparatus 100 is lowered, the substrate W placed on the substrate transfer table 4 is transferred to the pretreatment chamber C. It is a room for being.

次に、前記基板搬送装置100の詳細について説明する。   Next, details of the substrate transfer apparatus 100 will be described.

前記基板搬送装置100は、前記イオン注入装置200の内部、すなわち、主として前記真空室9内に設けられた前記基板搬送台4と、前記真空室9の外部であって当該真空室9を形成する壁体下側に設けられた駆動装置たるトグルリンク機構1と、前記真空室9の内外にある前記基板搬送台4と前記トグルリンク機構1との間を2本のロッド21で接続したものである。より具体的には、前記トグルリンク機構1により前記ロッド21を上下方向に進退させることにより、前記基板搬送台4を上下に移動させるものである。さらに、当該基板搬送装置100は、前記ロッド21を介して基板搬入室B内に大気中の粉塵等が侵入するのを防ぐシール構造や、前記基板搬送台4の傾き等を調整するための調整機構22を備えたものである。   The substrate transfer apparatus 100 forms the vacuum chamber 9 inside the ion implantation apparatus 200, that is, the substrate transfer table 4 provided mainly in the vacuum chamber 9 and outside the vacuum chamber 9. The toggle link mechanism 1 which is a driving device provided on the lower side of the wall body, and the substrate transport table 4 inside and outside the vacuum chamber 9 and the toggle link mechanism 1 are connected by two rods 21. is there. More specifically, by moving the rod 21 up and down by the toggle link mechanism 1, the substrate transport table 4 is moved up and down. Further, the substrate transport apparatus 100 is adjusted to adjust the seal structure for preventing dust and the like in the atmosphere from entering the substrate carry-in chamber B through the rod 21 and the inclination of the substrate transport table 4. A mechanism 22 is provided.

各部について説明する。   Each part will be described.

前記基板搬送台4は、図2に示すように概略平円盤状のものであり、外周部に円環状の弾性変形可能なパッキン41が取り付けられている。そして、この基板搬送台4は、前記真空予備室8と前記真空室9との間にある境界開口42を気密に閉塞する閉塞位置と、前記閉塞位置から前記真空室9側へ所定距離下方に離間しており、前記境界開口42を開放する開放位置との間を移動可能に構成したものである。ここで、前記閉塞位置は、前記基板搬送台4が最も上方にある状態であり、前記開放位置は前記基板搬送台4が最も下方にあり、前記真空室9において前記前処理室Cへの基板Wの受渡が行われる位置である。   As shown in FIG. 2, the substrate carrier 4 has a substantially flat disk shape, and an annular elastically deformable packing 41 is attached to the outer periphery. The substrate transport table 4 includes a closed position that airtightly closes the boundary opening 42 between the vacuum preliminary chamber 8 and the vacuum chamber 9, and a predetermined distance downward from the closed position toward the vacuum chamber 9. It is separated and configured to be movable between an open position where the boundary opening 42 is opened. Here, the closed position is a state where the substrate transfer table 4 is at the uppermost position, and the open position is the position where the substrate transfer table 4 is positioned at the lowest position, and the substrate to the pretreatment chamber C in the vacuum chamber 9 is provided. This is the position where W is delivered.

より具体的には図2に示すように前記基板搬送台4は、前記閉塞位置において前記境界開口42の周辺の壁と前記パッキン41を当該パッキン41が所定量変形して接触するように構成してあり、基板Wの導入時に外部大気からの空気が前記真空室9及びそれ以降の高真空度に保たれている部屋内に流入しないようにシールするものである。つまり、弾性体である前記パッキン41を押し潰して所定量変形させて前記境界開口42を密閉する。この際、その変形量からどの程度の力が前記基板搬送台4と壁体との間で生じているのかが分かるので、適切な押圧力で前記パッキン41を押し潰すことができる。したがって、過剰な押圧力がかかることによりパッキン41が劣化するのを防ぎ、その寿命を長くすることができる。   More specifically, as shown in FIG. 2, the substrate transport table 4 is configured such that the packing 41 deforms and contacts a wall around the boundary opening 42 and the packing 41 by a predetermined amount at the closed position. In addition, when the substrate W is introduced, sealing is performed so that air from the outside atmosphere does not flow into the vacuum chamber 9 and the chambers maintained at a high vacuum after that. That is, the packing 41 that is an elastic body is crushed and deformed by a predetermined amount to seal the boundary opening 42. At this time, it can be seen from the deformation amount how much force is generated between the substrate carrier 4 and the wall body, so that the packing 41 can be crushed with an appropriate pressing force. Therefore, it is possible to prevent the packing 41 from deteriorating due to an excessive pressing force, and to extend its life.

また、前記基板搬送台4は、前記閉塞位置において外部から基板Wが載置され、前記真空予備室8内が所定の真空度まで減圧された後は前記開放位置まで移動し、前記真空室9内に基板Wを搬送する。   The substrate transport table 4 moves to the open position after the substrate W is placed from the outside at the closed position and the inside of the vacuum preliminary chamber 8 is depressurized to a predetermined degree of vacuum. The substrate W is transported inside.

前記ロッド21は、前記トグルリンク機構1の出力端の進退移動を前記基板搬送台4へと伝達する概略丸棒形状のものであり、前記真空室9の下部壁体に形成された貫通孔をスライド移動可能に貫通するものである。各ロッド21は、前記基板搬送台4の下面の外周部において線対称となるように一端を取り付けてある。なお、前記ロッド21の他端については前記トグルリンク機構1に取り付けてある。   The rod 21 has a substantially round bar shape that transmits the forward / backward movement of the output end of the toggle link mechanism 1 to the substrate carrier 4, and has a through hole formed in the lower wall of the vacuum chamber 9. It penetrates to be slidable. One end of each rod 21 is attached so as to be line symmetric at the outer peripheral portion of the lower surface of the substrate carrier 4. The other end of the rod 21 is attached to the toggle link mechanism 1.

前記トグルリンク機構1は、前記トグルリンク11の屈伸により前記ロッド21を進退させることによって前記基板搬送台4を移動させるものであって、上下方向に屈伸可能に取り付けられたトグルリンク11と、前記トグルリンク11を屈伸させる駆動部12と、前記駆動部12からの動力を前記トグルリンク11へと伝達するとともに、前記トグルリンク機構1の出力端の進退方向を前記ロッド21の進退方向に規制する案内部13とから構成してある。なお、本実施形態ではトグルリンク機構1の出力端は、トグルリンク11の先端部又は後述する案内部13のスライダー133に相当する。   The toggle link mechanism 1 moves the substrate transport table 4 by moving the rod 21 forward and backward by the bending and stretching of the toggle link 11, and the toggle link 11 attached to be able to bend and stretch in the vertical direction; A drive unit 12 that bends and extends the toggle link 11 and power from the drive unit 12 are transmitted to the toggle link 11 and the advancing / retreating direction of the output end of the toggle link mechanism 1 is restricted to the advancing / retreating direction of the rod 21. It is comprised from the guide part 13. FIG. In the present embodiment, the output end of the toggle link mechanism 1 corresponds to the tip end portion of the toggle link 11 or a slider 133 of the guide portion 13 described later.

前記トグルリンク11は、3つのリンク要素を互いに枢結した(すなわち、互いに回転可能に取り付けた)ものであり、一端が前記案内部13に枢結された第1リンク要素11aと、一端が前記案内部13の可動部に枢結され、他端が第1リンク要素11aに枢結されたた第2リンク要素11bと、一端が前記駆動部12に枢結され、他端が前記第1リンク要素11aに対して、前記第2リンク要素11bが枢結されている点から若干ずらして枢結された第3リンク要素11cとから構成してある。そして、前記第1リンク要素11aと前記第2リンク要素11bの枢結点P1、P2、P3によって第1トグルリンクT1を形成するとともに、前記第1リンク要素11aと前記第3リンク要素11cによりP4、P5、P2により第2トグルリンクT2を形成するようにダブルトグルリンクが形成してある。つまり、前記第1リンク要素11aは、第1トグルリンクT1及び第2トグルリンクT2を構成する共通のリンク要素となっている。   The toggle link 11 is formed by pivotally connecting three link elements to each other (that is, rotatably attached to each other), one end of the first link element 11a pivotally connected to the guide portion 13, and one end of the toggle link 11 The second link element 11b is pivotally connected to the movable part of the guide part 13 and the other end is pivotally connected to the first link element 11a, and one end is pivotally connected to the drive part 12, and the other end is the first link. The second link element 11b is pivotally shifted from the point where the second link element 11b is pivoted with respect to the element 11a. A first toggle link T1 is formed by the pivot points P1, P2, P3 of the first link element 11a and the second link element 11b, and P4 is formed by the first link element 11a and the third link element 11c. , P5 and P2 form a double toggle link so as to form a second toggle link T2. That is, the first link element 11a is a common link element constituting the first toggle link T1 and the second toggle link T2.

この第1トグルリンクT1と前記第2トグルリンクT2は、水平方向から視た場合に図2に示すように伸びた状態で概略人の字状となり、図3に示すように屈曲した状態で概略N字状をなすように形成したものである。すなわち、前記トグルリンク11は変形が生じたとしても常に内側に突出するように構成してあり、前記基板搬送台4の位置にかかわらず、各ロッド21よりも内側にあるように構成してある。従って、前記トグルリンク11が変形しても各ロッド21と干渉することがないので、干渉を考慮して各部材の離間距離を大きく取る必要がなく、前記基板搬送装置100自体をコンパクトに形成することができる。   When viewed from the horizontal direction, the first toggle link T1 and the second toggle link T2 are substantially human characters when extended as shown in FIG. 2, and are bent as shown in FIG. It is formed so as to form an N shape. That is, the toggle link 11 is configured to always protrude inward even if deformation occurs, and is configured to be inside the rods 21 regardless of the position of the substrate transport table 4. . Therefore, even if the toggle link 11 is deformed, it does not interfere with the rods 21. Therefore, it is not necessary to take a large separation distance between the members in consideration of the interference, and the substrate transport apparatus 100 itself is made compact. be able to.

また、前記基板搬送台4が前記閉塞位置にある場合に、前記第1トグルリンクT1の枢結点P1、P2、P3又は前記第2トグルリンクT2の枢結点P4、P5、P2が直線上に並ぶようにしてある。図2に示すように本実施形態では、第2トグルリンクT2を構成する枢結点P4、P5、P2が直線上に並ぶようにしてあるが、第1トグルリンクT1を構成する3つの枢結点P1、P2、P3が直線上に並ぶようにしてもよい。   Further, when the substrate transport table 4 is in the closed position, the pivot points P1, P2, P3 of the first toggle link T1 or the pivot points P4, P5, P2 of the second toggle link T2 are linear. To be lined up. As shown in FIG. 2, in this embodiment, the pivot points P4, P5, P2 constituting the second toggle link T2 are arranged on a straight line, but the three pivot links constituting the first toggle link T1 are arranged. The points P1, P2, and P3 may be arranged on a straight line.

このように各枢結点P4、P5、P2が直線上に並ぶ部分を構成することにより、基板Wの搬入時において大気圧による力がかかっている基板搬送台4を前記トグルリンク機構1により支持した場合に、直線上に並んでいる枢結点Pにはその直線の延びる方向に沿ってしか力が発生しないため、枢結点P4、P5、P2の周りに回転モーメントが発生せず、トグルリンク11が屈曲しないようにすることができる。つまり、前記基板搬送台4が閉塞位置にある場合には、前記トグルリンク11は変節点が実質的に存在しないことになり、1つのリジッドな構造体として前記基板搬送台4を支持しつづけることができる。   In this way, by forming a portion where the pivot points P4, P5, and P2 are arranged in a straight line, the substrate transport table 4 to which a force due to atmospheric pressure is applied when the substrate W is loaded is supported by the toggle link mechanism 1. In this case, since the force is generated only in the extending direction of the straight line at the pivot points P arranged on the straight line, no rotational moment is generated around the pivot points P4, P5, P2, and the toggle point P is toggled. The link 11 can be prevented from bending. That is, when the substrate transport table 4 is in the closed position, the toggle link 11 has substantially no inflection point, and continues to support the substrate transport table 4 as one rigid structure. Can do.

前記駆動部12は、前記基板搬送台4と同じ方向に移動する駆動体125を有するものであり、モータ121、プーリー123、ベルト122、ボールネジ124、駆動体125から構成してある。より具体的には、前記ボールネジ124は前記基板搬送装置100の中央において上下方向に延びるように取り付けられており、このボールネジ124の回転をナットに相当する前記駆動体125により直線運動に変換するように構成してある。また、前記駆動体125には前記第3リンク要素11cが回転可能に取り付けられており、当該駆動体125が上方向に移動することで、前記トグルリンク11を伸ばしていき、その出力端を上方向へと移動させる。   The driving unit 12 includes a driving body 125 that moves in the same direction as the substrate transport table 4, and includes a motor 121, a pulley 123, a belt 122, a ball screw 124, and a driving body 125. More specifically, the ball screw 124 is attached so as to extend in the vertical direction in the center of the substrate transport apparatus 100, and the rotation of the ball screw 124 is converted into a linear motion by the driver 125 corresponding to a nut. It is configured. Further, the third link element 11c is rotatably attached to the drive body 125, and the toggle body 11 is extended by moving the drive body 125 upward, and the output end thereof is raised. Move in the direction.

前記案内部13は、前記ロッド21の進退方向である上下方向に延びる2本のガイドバー132と、前記トグルリンク11の出力端と前記ロッド21の一端が取り付けられ、前記ガイドバー132に沿って移動するスライダー133と、前記ガイドバー132を前記壁体に取り付けるための取り付け部131と、前記トグルリンク11において位置が変化しない固定端が回転可能に取り付けられる固定端接続部134とを具備し、前記ロッド21の進退方向及び進退方向に垂直な方向から視た場合に前記各ロッド21の内側に配置されるようにしてある。より具体的には、前記ロッド21の進退方向から視て前記取り付け部131及びガイドバー132が各ロッド21の内側に配置してある。   The guide portion 13 is provided with two guide bars 132 extending in the vertical direction that is the forward and backward direction of the rod 21, an output end of the toggle link 11, and one end of the rod 21. A slider 133 that moves, an attachment portion 131 for attaching the guide bar 132 to the wall body, and a fixed end connection portion 134 to which a fixed end whose position does not change in the toggle link 11 is rotatably attached; The rods 21 are arranged inside the rods 21 when viewed from the forward / backward direction and the direction perpendicular to the forward / backward direction. More specifically, the attachment portion 131 and the guide bar 132 are disposed inside each rod 21 as viewed from the advancing / retreating direction of the rod 21.

このように構成されたトグルリンク11により前記スライダー133及び前記ロッド21がどのように上下方向に移動するかについて説明する。図3に示すように前記駆動体125が最下点にある場合、前記トグルリンク11は屈曲した状態となっている。この状態から前記駆動体125が上方へと移動していくと、前記第3リンク要素11cにより前記第1リンク要素11aが水平方向に押されることになる。すると、前記第1リンク要素11aの一端は固定されているので、前記第2リンク要素11bの前記スライダー133側へと力がかかり、前記スライダー133及び前記ロッド21が上方へと押し上げられることになる。   A description will be given of how the slider 133 and the rod 21 are moved in the vertical direction by the toggle link 11 configured as described above. As shown in FIG. 3, when the driving body 125 is at the lowest point, the toggle link 11 is bent. When the driving body 125 moves upward from this state, the first link element 11a is pushed in the horizontal direction by the third link element 11c. Then, since one end of the first link element 11a is fixed, a force is applied to the slider 133 side of the second link element 11b, and the slider 133 and the rod 21 are pushed upward. .

言い換えると、前記駆動体125が上方に移動するにしたがって、屈曲していた第1リンク要素11aと第2リンク要素11bが押し広げられていき、最終的に図2に示すように前記第1リンク要素11aと第2リンク要素11bが略直線状の伸びた状態となってスライダー133の位置が固定されることになる。この状態が、前記トグルリンク11が伸びた状態に相当し、前記基板搬送台4を最も高い位置である閉塞位置に配置させるとともに、前記基板搬送台4により適切な力で前記境界開口42を閉塞させるようにしてある。   In other words, as the driving body 125 moves upward, the bent first link element 11a and second link element 11b are expanded and finally the first link as shown in FIG. The element 11a and the second link element 11b are extended in a substantially linear shape, and the position of the slider 133 is fixed. This state corresponds to a state in which the toggle link 11 is extended, and the substrate transport table 4 is disposed at the highest closed position, and the boundary opening 42 is closed with an appropriate force by the substrate transport table 4. I am trying to make it.

次に、前記シール構造について説明する。   Next, the seal structure will be described.

前記シール構造は、前記壁体の外表面と前記トグルリンク機構1との間に設けられて前記ロッド21を覆うベローズ3を有したものである。より具体的には前記ベローズ3は、一端が前記スライダー133において前記ロッド21が取り付けられている箇所に取り付けられ、他端が当該ロッド21の挿入されている貫通孔の外側開口を覆うように取り付けられたものである。すなわち、前記基板搬入室Bの外部において前記ロッド21が大気に露出する部分を全て覆うようにベローズ3を設けてある。   The seal structure has a bellows 3 that is provided between the outer surface of the wall and the toggle link mechanism 1 and covers the rod 21. More specifically, the bellows 3 is attached so that one end is attached to a position where the rod 21 is attached in the slider 133 and the other end is covered with an outer opening of the through hole in which the rod 21 is inserted. It is what was done. That is, the bellows 3 is provided so as to cover all the portions where the rod 21 is exposed to the atmosphere outside the substrate loading chamber B.

つまり、前記ベローズ3により前記ロッド21は実質的に大気と接触する部分が存在せず、前記ロッド21と前記壁体との間を気密に密閉している。従って、外部からの空気が基板搬入室B内に流入することがなく、前記ロッド21が存在することにより真空度が低下するのを防ぐことができる。また、外気に存在する粉塵等が基板搬入室Bの内部においてロッド21が露出する部分に付着することはなく、内部に粉塵等が飛散することはない。このため、基板搬入室B内あるいは以降の部屋について清浄度を保つことができる。   In other words, the rod 21 does not substantially have a portion in contact with the atmosphere by the bellows 3 and hermetically seals the rod 21 and the wall body. Therefore, air from the outside does not flow into the substrate carry-in chamber B, and the vacuum degree can be prevented from lowering due to the presence of the rod 21. Further, dust or the like existing in the outside air does not adhere to the portion where the rod 21 is exposed inside the substrate loading chamber B, and dust or the like does not scatter inside. For this reason, the cleanliness can be maintained in the substrate carry-in chamber B or the subsequent rooms.

さらに、図2及び図3に示すように本第1実施形態のロッド21は、前記取り付け部131等を貫通して設けられていないことや、前記ロッド21が前記トグルリンク機構1よりも外側に配置されていることから、前記ロッド21の外部に露出している部分の長さを自由に設定しやすい。したがって、ベローズ3の自然長をできるだけ長くとることができ、単位長さ当たりの変形量を小さくすることができる。したがって、前記イオン注入装置200において非常に多数の基板Wが処理され、ベローズ3の変形が繰り返されても、その劣化の進行を遅くすることができ、耐久性を大きく向上させることができる。   Further, as shown in FIGS. 2 and 3, the rod 21 of the first embodiment is not provided so as to penetrate the attachment portion 131 or the like, or the rod 21 is located outside the toggle link mechanism 1. Since it is arranged, it is easy to freely set the length of the portion exposed to the outside of the rod 21. Therefore, the natural length of the bellows 3 can be as long as possible, and the amount of deformation per unit length can be reduced. Therefore, even if a very large number of substrates W are processed in the ion implantation apparatus 200 and the deformation of the bellows 3 is repeated, the progress of the deterioration can be slowed and the durability can be greatly improved.

次に、前記調整機構22について説明する。   Next, the adjustment mechanism 22 will be described.

前記調整機構22は、前記トグルリンク機構1から前記基板搬送台4までの前記ロッド21の長さを調整する機構である。より具体的には、前記ロッド21はスライダー133に設けられたねじ穴に対して他端に形成されたねじを螺合させることで取り付けるようにしてあるので、この螺合の程度を微調整することにより、前記基板搬送台4と前記スライダー133間の前記ロッド21の長さを変更できるようにしてある。すなわち、左右のロッド21の前記スライダー133からの突出量を変更することで、前記基板搬送台4の傾きを補正し、水平等の好ましい状態として前記境界開口42を気密に封鎖できるようにしてある。より具体的には、前記スライダー133に対する前記ロッド21の突出量は、前記トグルリンク11が伸びた状態において前記基板搬送台4が前記境界開口42の周辺壁体に対して所定の押圧力で接触するように調整してある。   The adjustment mechanism 22 is a mechanism that adjusts the length of the rod 21 from the toggle link mechanism 1 to the substrate carrier 4. More specifically, the rod 21 is attached by screwing a screw formed at the other end into a screw hole provided in the slider 133, so that the degree of this screwing is finely adjusted. Thus, the length of the rod 21 between the substrate carrier 4 and the slider 133 can be changed. That is, by changing the amount of protrusion of the left and right rods 21 from the slider 133, the inclination of the substrate transport table 4 is corrected, and the boundary opening 42 can be hermetically sealed as a preferred state such as horizontal. . More specifically, the protrusion amount of the rod 21 with respect to the slider 133 is determined so that the substrate transport table 4 contacts the peripheral wall body of the boundary opening 42 with a predetermined pressing force when the toggle link 11 is extended. It has been adjusted to do.

このように第1実施形態の基板搬送装置100及びイオン注入装置200によれば、前記ロッド21と前記壁体との間を密閉するシール構造が設けられているので、外部から内部へ空気が流入することがなく、イオン注入装置200の内部と外部との間を行き来するロッド21を介して、真空度の保たれている内部に粉塵が侵入することがない。従って、前記真空室9の真空度を好適に保つことができるとともに、粉塵等が内部において飛散することにより清浄度が低下する事態も防ぐことができる。   As described above, according to the substrate transfer apparatus 100 and the ion implantation apparatus 200 of the first embodiment, since the seal structure for sealing between the rod 21 and the wall body is provided, air flows from the outside to the inside. Thus, dust does not enter the inside where the degree of vacuum is maintained through the rod 21 that goes back and forth between the inside and the outside of the ion implantation apparatus 200. Accordingly, the degree of vacuum of the vacuum chamber 9 can be suitably maintained, and a situation where the cleanliness is lowered due to dust or the like being scattered inside can be prevented.

また、トグルリンク11の枢結点Pが直線上に並んだ状態で前記基板搬送台4が閉塞位置にあり、前記境界開口42を気密に閉塞するように構成してあるので、基板Wの搬入時に大気圧側から真空側へと大きな力がかかることになる基板搬送台4を所定の位置に維持し続けるのに大量にエネルギーを消費したり、圧力に対して対抗するのに必要以上に大きな力を基板搬送台4にかけて、パッキン41などの耐久性を落としたりすることもない。   In addition, since the substrate transport table 4 is in the closed position with the pivot points P of the toggle links 11 aligned on a straight line, the boundary opening 42 is airtightly closed. A large force is sometimes applied from the atmospheric pressure side to the vacuum side. A large amount of energy is consumed to keep the substrate transport table 4 in a predetermined position, and it is larger than necessary to counter pressure. The force is not applied to the substrate carrier 4 and the durability of the packing 41 or the like is not reduced.

さらに、ロッド21の進退方向から視た場合に前記各ロッド21に対して、前記トグルリンク機構1が内側に配置されるように構成してあるので、各ロッド21間の離間距離を大きくとることができ、調節作業やメンテナンス時における作業スペースを大きくとることができる。また、前記ロッド21が外側にあることにより、前記基板搬入室Bの壁体外面から前記ロッド21の一端が取り付けられているスライダー133までの離間距離を大きくすることができ、ベローズ3の自然長の長いものを適用することができる。つまり、メンテナンス性を向上させられるだけでなく、シール構造の耐久性を向上させるのにも本構造は寄与することになる。   Further, since the toggle link mechanism 1 is arranged on the inner side of each rod 21 when viewed from the advancing / retreating direction of the rod 21, the separation distance between the rods 21 should be increased. It is possible to increase the work space for adjustment work and maintenance. Further, since the rod 21 is on the outside, the distance from the outer surface of the wall of the substrate loading chamber B to the slider 133 to which one end of the rod 21 is attached can be increased, and the natural length of the bellows 3 can be increased. Long ones can be applied. In other words, this structure not only improves the maintainability but also contributes to improving the durability of the seal structure.

加えて、従来に比べてモータ121等を用いていない簡素な調整機構22により前記基板搬送台4の姿勢等を調節することができ、製造コストの低減も実現できる。   In addition, the posture and the like of the substrate transport table 4 can be adjusted by a simple adjustment mechanism 22 that does not use the motor 121 or the like as compared with the prior art, and the manufacturing cost can be reduced.

次に本発明の第2実施形態について図4を参照しながら説明する。なお、第1実施形態で説明した部材に対応する部材には同じ符号を付すこととする。   Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In addition, the same code | symbol shall be attached | subjected to the member corresponding to the member demonstrated in 1st Embodiment.

前記第1実施形態では、シール構造としてのベローズ3は前記ロッド21において外部に露出している部分を全て覆うように設けていたが、図4に示される第2実施形態のようにベローズ3を基板搬入室Bの内部においてロッド21を挿入するための貫通孔の開口から、基板搬送台4の下面までを覆うように取り付けてもよい。要するにロッド21において外部に露出する部分があったとしても、内部においてロッド21が直接真空雰囲気中にさらされないようにすれば、内部に粉塵等が飛散する事を防ぐことができる。   In the first embodiment, the bellows 3 as the sealing structure is provided so as to cover all the exposed portions of the rod 21 to the outside. However, as in the second embodiment shown in FIG. You may attach so that the inside of the board | substrate carrying-in chamber B may cover from the opening of the through-hole for inserting the rod 21 to the lower surface of the board | substrate conveyance stand 4. FIG. In short, even if there is a portion exposed to the outside in the rod 21, if the rod 21 is not directly exposed to the vacuum atmosphere inside, it is possible to prevent dust and the like from scattering inside.

次に本発明の第3実施形態について図5を参照しながら説明する。なお、第1実施形態で説明した部材に対応する部材には同じ符号を付すこととする。   Next, a third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In addition, the same code | symbol shall be attached | subjected to the member corresponding to the member demonstrated in 1st Embodiment.

第3実施形態では、前記第1及び第2実施形態のようにベローズ3を用いるのでは無くシールリングを用いている。より具体的には、シールリングとして、基板搬入室B内において前記貫通孔の開口周辺にOリング31を設けてある。
In the third embodiment, instead of using the bellows 3 as in the first and second embodiments, a seal ring is used. More specifically, an O-ring 31 is provided around the opening of the through hole in the substrate loading chamber B as a seal ring.

このように第3実施形態であれば、より簡易な構造により基板搬入室B内等の真空度や清浄度を保つことができる。   Thus, if it is 3rd Embodiment, the degree of vacuum and cleanliness in the board | substrate carrying-in chamber B etc. can be maintained with a simpler structure.

次に本発明の第4実施形態について図6を参照しながら説明する。なお、第1実施形態で説明した部材に対応する部材には同じ符号を付すこととする。   Next, a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In addition, the same code | symbol shall be attached | subjected to the member corresponding to the member demonstrated in 1st Embodiment.

前記基板搬送台4の姿勢等を調節するための調整機構22は、第1実施形態に示したものに限られず、例えば、スライダー133と、前記ロッド21との間に高さ調整用のシムを挟めるようにしても構わない。このようなものであっても、従来よりも調整機構22を簡素化しつつ、簡単に基板搬送台4の姿勢調節を行うことができ、真空予備室8におけるシール機能を高精度に保つことができる。   The adjustment mechanism 22 for adjusting the posture or the like of the substrate carrier 4 is not limited to that shown in the first embodiment. For example, a height adjustment shim is provided between the slider 133 and the rod 21. You may make it pinch. Even in such a case, it is possible to easily adjust the posture of the substrate transport table 4 while simplifying the adjustment mechanism 22 as compared with the prior art, and to maintain the sealing function in the vacuum preliminary chamber 8 with high accuracy. .

その他の実施形態について説明する。   Other embodiments will be described.

前記各実施形態では、前記トグルリンク機構1は前記壁体に吊り下げられるように取り付けてあったが、図7に示すように地面に設けられて、地面から前記基板搬送台4を移動させるように構成してもよい。また、前記ロッドは前記真空室を形成する壁体を貫通して設けられていたが、前記真空予備室を形成する壁体を貫通して前記基板搬送台と前記トグルリンク機構とを接続するものであってもよい。前記トグルリンク機構については、前記トグルリンクを伸びた状態と屈曲した状態に変形させることができればよい、場合によっては前記案内部を省略してもよい。   In each of the embodiments described above, the toggle link mechanism 1 is mounted so as to be suspended from the wall body. However, the toggle link mechanism 1 is provided on the ground as shown in FIG. 7 so as to move the substrate carrier 4 from the ground. You may comprise. Further, the rod is provided through the wall forming the vacuum chamber, but connects the substrate transport table and the toggle link mechanism through the wall forming the vacuum prechamber. It may be. As for the toggle link mechanism, it is only necessary that the toggle link can be deformed into an extended state and a bent state. In some cases, the guide portion may be omitted.

前記各実施形態では、イオン注入装置における基板搬送装置の適用例に基づいて説明を行ったが、本発明の基板搬送装置はイオン注入装置に限られるものではなく、その他の半導体製造装置について適用可能である。例えば、スパッタリング装置、真空蒸着装置、イオンビーム配向装置への適用が考えられる。また、基板搬送台の移動方向は上下方向に限られるものではなく、例えば左右方向等であってもよい。   In each of the above embodiments, the description has been made based on the application example of the substrate transfer apparatus in the ion implantation apparatus. However, the substrate transfer apparatus of the present invention is not limited to the ion implantation apparatus, and can be applied to other semiconductor manufacturing apparatuses. It is. For example, application to a sputtering apparatus, a vacuum evaporation apparatus, and an ion beam alignment apparatus is conceivable. Further, the moving direction of the substrate transfer table is not limited to the vertical direction, and may be, for example, the horizontal direction.

さらに、前記基板搬送装置は基板搬入室にのみ適用されるものではなく、例えば、真空中での処理が終了した基板を再び大気圧中に導出するための基板搬出室にも適用することができる。   Furthermore, the substrate transfer apparatus is not only applied to the substrate carry-in chamber, but can also be applied to, for example, a substrate carry-out chamber for deriving a substrate that has been processed in a vacuum to atmospheric pressure again. .

また、図8に示すようなパッキン41であれば、前記基板搬送台4が閉塞位置にある場合において、前記境界開口42をより好適に気密に閉塞することができる。具体的には、前記パッキン41は基板搬送台4の周辺部に形成された凹部において取り外し可能に設けられているものであり、前記基板搬送台4に取り付けられた概略円環状のテフロン(登録商標)製のものである。なお、この実施形態では、パッキン41は、樹脂であるテフロンを用いているが、メタル製のパッキン41を用いても構わない。   Further, if the packing 41 is as shown in FIG. 8, the boundary opening 42 can be more preferably airtightly closed when the substrate transport table 4 is in the closed position. Specifically, the packing 41 is detachably provided in a recess formed in the peripheral portion of the substrate transport table 4, and is a substantially annular Teflon (registered trademark) attached to the substrate transport table 4. ). In this embodiment, the packing 41 uses Teflon, which is a resin, but metal packing 41 may be used.

このパッキン41の上面内側の一部は、前記基板搬送台に取り付けねじ412により固定される概略円環状の押さえ部411により基板搬送台4に押さえつけて取り付けてある。すなわち、前記取り付けねじ412を外し、前記押さえ部411を取り外すことにより、例えば、前記パッキン41の交換等も容易に行うことができる。
A part of the inside of the upper surface of the packing 41 is attached to the substrate transport table 4 by being pressed by a substantially annular pressing part 411 fixed to the substrate transport table 4 with mounting screws 412. That is, by removing the mounting screw 412 and removing the pressing portion 411, for example, the packing 41 can be easily replaced.

また、閉塞位置において前記真空予備室8から前記真空室9への空気の流入を防ぐために、前記パッキン41の下面と、前記基板搬送台4との間には、Oリング413を設けてあり、前記真空予備室8を形成する壁体と、前記パッキン41の上面が接触する部分の間にもOリング414を設けてある。   Further, in order to prevent the inflow of air from the vacuum preliminary chamber 8 to the vacuum chamber 9 at the closed position, an O-ring 413 is provided between the lower surface of the packing 41 and the substrate carrier 4. An O-ring 414 is also provided between the wall forming the vacuum preliminary chamber 8 and the portion where the upper surface of the packing 41 contacts.

その他、本発明の趣旨に反しない限りにおいて、様々な変形や、実施形態の組み合わせを行っても構わない。   In addition, various modifications and combinations of embodiments may be performed without departing from the spirit of the present invention.

1 :トグルリンク機構
11 :トグルリンク
12 :駆動部
13 :案内部
21 :ロッド
22 :調整機構
3 :ベローズ(シール構造)
31 :Oリング(シール構造)
4 :基板搬送台
42 :境界開口
100 :基板搬送装置
200 :イオン注入装置
W :基板
1: Toggle link mechanism 11: Toggle link 12: Drive part 13: Guide part 21: Rod 22: Adjustment mechanism 3: Bellows (seal structure)
31: O-ring (seal structure)
4: substrate transfer table 42: boundary opening 100: substrate transfer device 200: ion implantation device W: substrate

Claims (8)

所定の真空度に保たれている真空室と、外部との間で基板の搬出入を行うための真空予備室との境界開口を気密に閉塞する閉塞位置と前記境界開口を開放する前記真空室内の開放位置との間を移動可能に構成された基板搬送台と、
前記真空室及び前記真空予備室の外部に設けられたものであって、互いに枢結された複数のリンク要素からなるトグルリンクを具備し、前記トグルリンクを屈伸させることによって出力端を進退させるトグルリンク機構と、
前記真空室又は前記真空予備室を形成する壁体を貫通して前記基板搬送台と前記トグルリンク機構の出力端との間に介在し、前記出力端の進退動作を前記基板搬送台に伝達する1又は複数のロッドとを備え、
前記ロッドと前記壁体との間を気密に密閉するシール構造が設けられており、
前記ロッドが複数設けられ、前記トグルリンク機構の出力端とともに進退するように構成されており、
前記ロッドの進退方向から視て前記トグルリンク機構が、各ロッドの内側に設けられていることを特徴とする基板搬送装置。
A closed position for airtightly closing a boundary opening between a vacuum chamber maintained at a predetermined degree of vacuum and a vacuum preliminary chamber for carrying in and out of the substrate between the outside and the vacuum chamber for opening the boundary opening A substrate carrier configured to be movable between the open position of
A toggle provided outside the vacuum chamber and the vacuum preparatory chamber, comprising a toggle link composed of a plurality of link elements pivoted to each other, wherein the toggle is bent and stretched to advance and retract the output end. A link mechanism;
It passes through the wall forming the vacuum chamber or the vacuum preparatory chamber and is interposed between the substrate transport table and the output end of the toggle link mechanism, and transmits the advance / retreat operation of the output end to the substrate transport table. One or more rods,
A seal structure that hermetically seals between the rod and the wall body is provided,
A plurality of the rods are provided , and are configured to advance and retract together with the output end of the toggle link mechanism .
The substrate transfer apparatus, wherein the toggle link mechanism is provided inside each rod when viewed from the forward / backward direction of the rod.
前記トグルリンク機構が、その出力端の移動方向を前記ロッドの進退方向に規制する案内部を更に備え、
前記ロッドの進退方向から視て前記案内部が各ロッドよりも内側に配置されている請求項1記載の基板搬送装置。
The toggle link mechanism further comprises a guide part for restricting the moving direction of the output end to the forward / backward direction of the rod,
The substrate transfer apparatus according to claim 1, wherein the guide portion is disposed on the inner side of each rod when viewed from the advancing and retracting direction of the rod.
前記案内部が、前記ロッドの進退方向に延びるガイドバーと、前記トグルリンク及び前記ロッドの一端が取り付けられ、前記ガイドバーに沿って移動するスライダーと、前記ガイドバーを前記壁体の外側に取り付けるための取り付け部とを具備し、
前記ロッドの進退方向から視て前記取り付け部及びガイドバーが各ロッドの内側に配置されている請求項2に記載の基板搬送装置。
The guide portion has a guide bar extending in the forward / backward direction of the rod, a toggle link and one end of the rod attached, a slider that moves along the guide bar, and the guide bar attached to the outside of the wall body. A mounting portion for,
The board | substrate conveyance apparatus of Claim 2 with which the said attaching part and guide bar are arrange | positioned inside each rod seeing from the advance / retreat direction of the said rod.
前記シール構造が、前記壁体の外表面と前記トグルリンク機構との間に設けられて前記ロッドを覆うベローズを有したものである請求項1乃至3いずれかに記載の基板搬送装置。   4. The substrate transfer apparatus according to claim 1, wherein the seal structure includes a bellows provided between the outer surface of the wall body and the toggle link mechanism to cover the rod. 前記シール構造が、前記ロッドが貫通する貫通孔の内面に設けられたシールリングを有したものである請求項1乃至4いずれかに記載の基板搬送装置。   The substrate transfer apparatus according to claim 1, wherein the seal structure has a seal ring provided on an inner surface of a through hole through which the rod passes. 前記トグルリンクが、前記基板搬送台が前記閉塞位置にある場合に各リンク要素の少なくとも3つの枢結点が直線上に並ぶ伸びた状態となるように構成された請求項1乃至5いずれかに記載の基板搬送装置。   6. The toggle link according to any one of claims 1 to 5, wherein the toggle link is configured to be in an extended state in which at least three pivot points of each link element are arranged in a straight line when the substrate carrier is in the closed position. The board | substrate conveyance apparatus of description. 前記トグルリンク機構から前記基板搬送台までの前記ロッドの長さを調整する調整機構が設けられた請求項1乃至6いずれかに記載の基板搬送装置。   The substrate transfer apparatus according to claim 1, further comprising an adjustment mechanism that adjusts a length of the rod from the toggle link mechanism to the substrate transfer table. 請求項1乃至7いずれかに記載の基板搬送装置を備えた半導体製造装置。   A semiconductor manufacturing apparatus comprising the substrate transfer apparatus according to claim 1.
JP2012040458A 2012-02-27 2012-02-27 Substrate transfer apparatus and semiconductor manufacturing apparatus using the substrate transfer apparatus Active JP5903930B2 (en)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012040458A JP5903930B2 (en) 2012-02-27 2012-02-27 Substrate transfer apparatus and semiconductor manufacturing apparatus using the substrate transfer apparatus
CN201210425485.XA CN103295943B (en) 2012-02-27 2012-10-30 The semiconductor-fabricating device of base board delivery device and this base board delivery device of use
KR1020120132278A KR101401279B1 (en) 2012-02-27 2012-11-21 A substrate handling mechanism and a semiconductor manufacturing apparatus with the use of the substrate handling mechanism
TW101148332A TWI492327B (en) 2012-02-27 2012-12-19 A substrate transfer device, and a semiconductor manufacturing apparatus using the substrate transfer device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012040458A JP5903930B2 (en) 2012-02-27 2012-02-27 Substrate transfer apparatus and semiconductor manufacturing apparatus using the substrate transfer apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013175670A JP2013175670A (en) 2013-09-05
JP5903930B2 true JP5903930B2 (en) 2016-04-13

Family

ID=49096605

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012040458A Active JP5903930B2 (en) 2012-02-27 2012-02-27 Substrate transfer apparatus and semiconductor manufacturing apparatus using the substrate transfer apparatus

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP5903930B2 (en)
KR (1) KR101401279B1 (en)
CN (1) CN103295943B (en)
TW (1) TWI492327B (en)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104597715B (en) * 2013-10-30 2016-04-13 沈阳芯源微电子设备有限公司 The pullable level(l)ing device of litho machine mating interface module
CN104593744A (en) * 2013-11-01 2015-05-06 韦学运 Automation equipment for processing shield cutter by plasma
CN105702599B (en) * 2014-11-27 2018-07-06 北京北方华创微电子装备有限公司 The superstructure and reaction chamber of reaction chamber
WO2017146204A1 (en) * 2016-02-25 2017-08-31 株式会社アルバック Vacuum device
CN110144564A (en) * 2019-06-27 2019-08-20 浙江工业大学 An automatic adjustment device for the distance between the target and the base suitable for a magnetron sputtering apparatus
CN111232658B (en) * 2020-01-14 2021-07-30 黄桂婷 Stacker crane with good adsorption effect and reliable work

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08288361A (en) * 1995-04-13 1996-11-01 Nissin Electric Co Ltd Vacuum processing device
JPH1096074A (en) * 1996-09-19 1998-04-14 Nissin Electric Co Ltd Substrate treating device
JP3798309B2 (en) * 2001-12-13 2006-07-19 株式会社浅野研究所 Thermoforming apparatus and thermoforming method
JP3982402B2 (en) * 2002-02-28 2007-09-26 東京エレクトロン株式会社 Processing apparatus and processing method
KR100631822B1 (en) * 2004-09-14 2006-10-09 한국표준과학연구원 Substrate Cooling Device and Method of Plasma Process Chamber
JP4736564B2 (en) * 2005-06-23 2011-07-27 東京エレクトロン株式会社 Mounting structure and processing device of mounting table device
WO2010019430A2 (en) * 2008-08-12 2010-02-18 Applied Materials, Inc. Electrostatic chuck assembly
JP2010135536A (en) * 2008-12-04 2010-06-17 Tokyo Electron Ltd Load lock device, and vacuum processing system
JP2011018799A (en) * 2009-07-09 2011-01-27 Toyo Mach & Metal Co Ltd Ion doping device
TWI395633B (en) * 2010-04-23 2013-05-11 私立中原大學 Toggle joint positioning platform

Also Published As

Publication number Publication date
KR20130098125A (en) 2013-09-04
KR101401279B1 (en) 2014-05-30
TWI492327B (en) 2015-07-11
TW201336011A (en) 2013-09-01
CN103295943B (en) 2016-03-30
JP2013175670A (en) 2013-09-05
CN103295943A (en) 2013-09-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5903930B2 (en) Substrate transfer apparatus and semiconductor manufacturing apparatus using the substrate transfer apparatus
KR20110052454A (en) Arm mechanism and vacuum robot provided with the same
CN1574271A (en) Substrate conveying device and conveying method, and vacuum disposal device
JP4903027B2 (en) Substrate transport device and substrate support
JP5357694B2 (en) Position shift prevention device, substrate holder provided with the same, substrate transport device, and substrate transport method
CN101329995A (en) Substrate processing device and substrate conveying device
WO2011137691A1 (en) Driving mechanism for valve plate of sealing chamber
JP4838357B2 (en) Vacuum transfer device
US6799394B2 (en) Apparatus for sealing a vacuum chamber
CN116613101A (en) Substrate transfer robot for transferring substrates within a vacuum chamber
US20080251019A1 (en) System and method for transferring a substrate into and out of a reduced volume chamber accommodating multiple substrates
CN101319313B (en) Power transmission mechanism and plasma-assisted chemical vapor deposition apparatus using same
KR20040103379A (en) Substrate transporting apparatus, substrate transporting method and vacuum processing apparatus
JP2016066684A (en) Gate valve and substrate processing system
JP3350234B2 (en) Object buffer device, processing device using the same, and method of transporting the same
KR101069544B1 (en) Gate valve
JP5264050B2 (en) Lifting mechanism and transfer device
CN107611054B (en) Reaction chamber
JP2014020552A (en) Gate valve using inclination driving
KR20150091310A (en) Link-type transportation robot
CN108538692B (en) Lifting door device and wafer transmission system
CN201918432U (en) Vacuum heating degassing treatment device
JP5809718B2 (en) Substrate transfer apparatus and substrate processing system
KR100915156B1 (en) Flat panel display manufacturing machine
KR20080004723U (en) Systems and methods for transferring substrates into and out of a chamber having a reduced volume containing a plurality of substrates

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140819

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150416

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150521

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150706

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20151203

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160120

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160216

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160229

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5903930

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250