JP5900017B2 - 奥行き推定装置、再構成画像生成装置、奥行き推定方法、再構成画像生成方法及びプログラム - Google Patents
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Description
一方、ライトフィールド画像を取得するためには特別な物理センサを必要としない。そのため、ライトフィールド画像から奥行きを推定できれば、特別な物理センサを用いずに被写体の奥行きを推定する事が出来る。ライトフィールド画像から被写体の奥行きを推定できれば、推定結果を再構成画像のノイズ除去等に利用することができるが、特許文献2はライトフィールド画像から再構成した画像の奥行きを示す画像を生成する方法を開示していない。
複数のサブイメージから構成されるライトフィールド画像から被写体の奥行きを推定する奥行き推定装置であって、
前記ライトフィールド画像の前記サブイメージ上に、前記被写体に対応する画素領域を定義する画素領域定義手段と、
前記画素領域定義手段によって定義された画素領域を含む注目サブイメージ上の位置と、前記注目サブイメージの周辺に配置された周辺サブイメージ上の画素領域に対応する対応領域の位置と、の位置のズレに基づいて、前記被写体の奥行きを推定する奥行き推定手段と、
前記ライトフィールド画像から前記被写体の像を再構成した再構成画像と前記再構成画像の画素である再構成画素とを定義する再構成画像定義手段と、
前記画素領域の前記注目サブイメージ上の位置と、前記対応領域の前記周辺サブイメージ上の位置と、の位置のズレに基づいて、前記画素領域に含まれるサブ画素の奥行き係数を求める奥行き係数獲得手段と、
を備え、
前記奥行き推定手段は、前記奥行き係数獲得手段が求めた各前記サブ画素の奥行き係数に基づいて、前記再構成画像の前記再構成画素の奥行き係数を定めることにより、前記被写体の奥行きを推定する、
ことを特徴とする。
複数のサブイメージから構成されるライトフィールド画像から、所定の再構成距離に合焦した再構成画像を生成する再構成画像生成装置であって、
前記ライトフィールド画像の前記サブイメージ上に、被写体に対応する画素領域を定義する画素領域定義手段と、前記画素領域定義手段によって定義された画素領域を含む注目サブイメージ上の位置と、前記注目サブイメージの周辺に配置された周辺サブイメージ上の画素領域に対応する対応領域の位置と、の位置のズレに基づいて、前記被写体の奥行きを推定する奥行き推定手段と、を有する奥行き推定装置と、
前記奥行き推定装置によって推定された前記被写体の奥行きと前記再構成距離との距離の差に基づき、前記再構成画像を構成する再構成画素の画素値を補正する再構成画像補正手段と、
を備える、
ことを特徴とする。
また、上記目的を達成するため、本発明に係る奥行き推定方法の一様態は、
複数のサブイメージから構成されるライトフィールド画像から被写体の奥行きを推定する奥行き推定方法であって、
前記ライトフィールド画像のサブイメージ上に、前記被写体に対応する画素領域を定義するステップと、
前記定義された画素領域を含む注目サブイメージ上の位置と、前記注目サブイメージの周辺に配置された周辺サブイメージ上の画素領域に対応する対応領域の位置と、の位置のズレに基づいて、前記被写体の奥行きを推定するステップと、
前記ライトフィールド画像から前記被写体の像を再構成した再構成画像と前記再構成画像の画素である再構成画素とを定義するステップと、
前記画素領域の前記注目サブイメージ上の位置と、前記対応領域の前記周辺サブイメージ上の位置と、の位置のズレに基づいて、前記画素領域に含まれるサブ画素の奥行き係数を求めるステップと、
を含み、
前記奥行きを推定するステップでは、前記奥行き係数を求めるステップで求めた各前記サブ画素の奥行き係数に基づいて、前記再構成画像の前記再構成画素の奥行き係数を定めることにより、前記被写体の奥行きを推定する、
ことを特徴とする。
また、上記目的を達成するため、本発明に係る再構成画像生成方法の一様態は、
複数のサブイメージから構成されるライトフィールド画像から、所定の再構成距離に合焦した再構成画像を生成する再構成画像生成方法であって、
前記ライトフィールド画像の前記サブイメージ上に、奥行きを推定する対象となる被写体に対応する画素領域を定義するステップと、
前記定義された画素領域を含む注目サブイメージ上の位置と、前記注目サブイメージの周辺に配置された周辺サブイメージ上の画素領域に対応する対応領域の位置と、の位置のズレに基づいて、画素領域を構成する各画素について前記被写体の奥行き係数を求めるステップと、
前記再構成画像を構成する再構成画素に対応する前記ライトフィールド画像上の対応画素を抽出するステップと、
求めた前記奥行き係数に基づいて、前記対応画素と対応する前記再構成画素の奥行き係数を設定するステップと、
前記再構成画素の奥行き係数が示す被写体までの距離と前記再構成距離との距離の差に基づき、前記再構成画素の画素値を補正するステップと、
前記再構成画素の前記補正後の画素値を用いて再構成画像を生成するステップと、
を含む、
ことを特徴とする。
また、上記目的を達成するため、本発明に係るプログラムの一様態は、
複数のサブイメージから構成されるライトフィールド画像から被写体の奥行きを推定するため、コンピュータに、
前記ライトフィールド画像のサブイメージ上に、前記被写体に対応する画素領域を定義する機能、
前記定義された画素領域を含む注目サブイメージ上の位置と、前記注目サブイメージの周辺に配置された周辺サブイメージ上の画素領域に対応する対応領域の位置と、の位置のズレに基づいて、前記被写体の奥行きを推定する機能、
前記ライトフィールド画像から前記被写体の像を再構成した再構成画像と前記再構成画像の画素である再構成画素とを定義する機能、
前記画素領域の前記注目サブイメージ上の位置と、前記対応領域の前記周辺サブイメージ上の位置と、の位置のズレに基づいて、前記画素領域に含まれるサブ画素の奥行き係数を求める機能、
を実現させ、
前記奥行きを推定する機能では、前記奥行き係数を求める機能で求めた各前記サブ画素の奥行き係数に基づいて、前記再構成画像の前記再構成画素の奥行き係数を定めることにより、前記被写体の奥行きを推定する、
ことを特徴とする。
また、上記目的を達成するため、本発明に係るプログラムの一様態は、
複数のサブイメージから構成されるライトフィールド画像から、所定の再構成距離に合焦した再構成画像を生成するため、コンピュータに、
前記ライトフィールド画像のサブイメージ上に、奥行きを推定する対象となる被写体に対応する画素領域を定義する機能、
前記定義された画素領域を含む注目サブイメージ上の位置と、前記注目サブイメージの周辺に配置された周辺サブイメージ上の画素領域に対応する対応領域の位置と、の位置のズレに基づいて、画素領域を構成する各画素について前記被写体の奥行き係数を求める機能、
前記再構成画像を構成する再構成画素に対応する前記ライトフィールド画像上の対応画素を抽出する機能、
求めた奥行き係数に基づいて、前記対応画素と対応する前記再構成画素の奥行き係数を設定する機能、
前記再構成画素の奥行き係数が示す前記被写体までの距離と前記再構成距離との距離の差に基づき、前記再構成画素の画素値を補正する機能、
前記再構成画素の補正後の画素値を用いて再構成画像を生成する機能、
を実現させる、
ことを特徴とする。
実施形態1に係る画像生成装置30(奥行き推定装置)は、図1に示すデジタルカメラ1に搭載されている。デジタルカメラ1は、被写体を撮影して複数のサブイメージからなるライトフィールド画像を撮影し、このライトフィールド画像から被写体の奥行きを推定し、推定結果を示す再構成した画像(奥行き画像、再構成画像)を生成して表示する機能を備える。画像生成装置30は、このうち複数のサブイメージからなるライトフィールド画像から奥行き画像を生成する機能を担当する。
メインレンズMLは、一又は複数の凸レンズ、凹レンズ、非球面レンズ等から構成され、撮影時の被写体OBの光を光学像としてメインレンズMLとサブレンズアレイSLAとの間の仮想的な結像面MIP上に結像させる。なお、撮影時の被写体OBは、図2に示すようにメインレンズMLからそれぞれ異なる距離だけ離れた複数の構成物であるとする。本実施形態では、メインレンズMLは単一の焦点距離fMLを持つ単焦点レンズであるとする。
有効径EDは、上記フィルタ等の物理構造によって光線が遮られる部位を工場出荷時に測定することで定義できる。
ブロック状の被写体OBを撮影したLFIの一例を図3(a)に示す。
このLFIは、格子状に配置されたM×N個のサブレンズSL(マイクロレンズ)のそれぞれに対応する画像(サブイメージSI、S11〜SMN)から構成されている。例えば、左上のサブイメージS11は、被写体OBを左上から撮影した画像に相当し、右下のサブイメージSMNは被写体OBを右下から撮影した画像に相当する。
第i行のサブイメージ(横の一列のサブイメージ)Si1〜SiNは、メインレンズMLが結像した像を、サブレンズアレイSLAの第i行の横に並んだサブレンズSLで結像したステレオ画像に相当する。同様に、第j列のサブイメージ(縦の一列のサブイメージ)S1j〜SMjは、メインレンズMLが結像した像を、サブレンズアレイSLA(マイクロレンズアレイ)の第j列の縦に並んだサブレンズSLで撮影したステレオ画像に相当する。
なお、本実施形態では各サブイメージはグレースケール画像であり、サブイメージを構成する各画素は画素値(スカラー値)を持つ。
画像生成装置30は、生成した出力画像を記憶部40の画像記憶部430に記憶する。
主記憶装置は外部記憶装置に記憶されている制御プログラムや情報をロードし、情報処理部20の作業領域として用いられる。
外部記憶装置は、後述する処理を情報処理部20に行わせるための制御プログラムと情報とをあらかじめ記憶し、これらの制御プログラムや情報を情報処理部20の指示に従って主記憶装置に伝達する。また、情報処理部20の指示に従って、情報処理部20の処理に基づく情報とインターフェース部50から伝達された情報とを記憶する。
撮像設定記憶部410は、撮像パラメータを撮像制御部220に伝達する。
また、撮像設定記憶部410は、撮像部10の撮像設定情報に物理構成に関する情報を付加して、撮影設定情報として画像処理部210に伝達する。
再構成設定情報は、再構成処理の具体的内容を示す情報と再構成パラメータとから構成される。ここでは、LFIから奥行き画像を生成する旨の情報と、新たな画像のフォーカス点とメインレンズMLとの距離を特定する情報と、を含む。
画像生成装置30は、図4(a)に示すように情報処理部31aと、主記憶部32と、外部記憶部33と、入出力部36と、内部バス37と、から構成される。
撮影設定情報は、撮像設定情報に含まれる撮像パラメータ(メインレンズMLとサブレンズアレイSLAとの距離、メインレンズの焦点距離fML、露光時間を特定する情報、F値、シャッタ速度)に加え、既存値としてメインレンズの有効径EDと、サブレンズアレイSLAを構成する各サブレンズSLの位置情報と、サブレンズアレイSLAとイメージセンサ120の撮像面IEとの距離とを含む。また、メインレンズMLからサブレンズアレイSLAまでの距離c1、サブレンズアレイSLAから撮像素子の表面(撮像面IE)までの距離c2、各サブレンズの径、各撮像素子のサブレンズに対する相対位置、等の情報を含む。
本実施形態では、LFIから再構成設定が示す再構成面上に奥行き画像を生成する場合について説明する。このとき、再構成設定情報は奥行き画像を生成する旨の情報を含む。
このなかで、奥行き推定部320はサブイメージを構成する各画素(サブ画素)について、画素に対応する被写体の奥行きを推定し、推定結果を表すライトフィールド奥行き画像(LFDI)を生成する。奥行きとは、推定されたメインレンズMLと被写体OBとの距離である。
周辺サブイメージ選択部3230は、周辺サブイメージを順次注目周辺イメージとして選択する。
このとき、この候補係数に対応する領域は、周辺サブイメージにおける注目画素領域に対応すると推定される領域(対応領域)である。そのため、奥行き係数投票部3250が注目画素領域についてSSSDが最小となる奥行き係数を定めることは、注目画素領域の対応領域として、その奥行き係数が示す周辺サブイメージ上の領域を定義することと等しい。言い換えれば、奥行き係数投票部3250は対応領域を定義し、この対応領域の位置のズレを注目画素領域と対応画素領域の画素の奥行きを推定するために奥行きヒストグラムに登録(投票)するものである。
注目画素選択部3320から画素値決定部3340は奥行き画像に含まれる全ての再構成画素を順次注目画素として画素値を決定し、奥行き画像を生成する。
そして、再構成設定取得部3120が再構成設定を、撮影設定取得部3130が撮影設定を取得する(ステップS102)。
画素領域定義処理では、まずサブイメージから注目サブイメージを選択する(ステップS201)。また、このとき最初の画素領域を定義するラベル(画素領域ラベル)を定義する。
未ラベル画素が残っていると判別すると(ステップS209;NO)、画素領域ラベルを更新して次の画素領域を定義し(ステップS210)、次の画素領域についてステップS202から処理を繰り返す。
そこで、現在の領域を統合する処理(領域統合処理)を実行して、同一の被写体に対応すると推測される画素領域を統合する(ステップS211)。
そして、抽出した隣接画素領域の代表画素値と、注目画素領域の代表画素値とを比較し、代表画素値どうしの差が閾値以下の隣接画素領域が有るか判別する(ステップS303)。
一方、ない場合は(ステップS305;YES)、これ以上統合すべき画素領域はないと判断できるので、領域統合処理を終了する。
奥行き係数算出処理では、まず注目領域選択部3220が、LFIのサブイメージから注目サブイメージを選択する(ステップS401)。さらに、注目サブイメージ上の画素領域の一つを注目画素領域として選択する(ステップS402)。注目画素領域の例を、図9(a)の点線で囲まれた領域として示す。
例えば、注目奥行き係数が画像ズレ0に対応する場合には、注目周辺サブイメージ(ここではSI1とする)の同じ部分に対応領域の候補となる領域(対応候補領域)を配置する。注目画素領域と対応候補領域の対応する画素の画素値の差の二乗和(SSD)を、対応の確かさを示す係数として算出する。
一方、注目奥行き係数が、所定の画像ズレ値と対応する場合には、注目サブイメージと注目周辺サブイメージの中心を通る直線に平行で、注目サブイメージから遠ざかる方向(SI1については図9(b)の矢印d1の方向)であって、画像ズレ値だけずれた位置に対応候補領域を配置し、各位置のSSDを算出する(ステップS503)。ここで、注目周辺サブイメージ上でずらした量(画像ズレ)とSSDとの関係(画像ズレ−SSDグラフ)を、図9(c)に示す。
閾値以下のSSDがない場合(ステップS506;NO)、注目周辺サブイメージはノイズが強く有効な計算対象でないと判断できるので、注目周辺サブイメージを算出対象から排除する(ステップS507)。即ち、各奥行き値のSSSDから、注目周辺サブイメージについて算出したSSDを減算する。
奥行き係数決定処理では、まずサブ画素奥行き係数選択部3260がLFIに含まれる全てのサブ画素から注目画素を選択する(ステップS601)。そして、サブ画素奥行き係数選択部3260は注目画素の信頼係数tpを算出する(ステップS602)。信頼係数は、注目画素のヒストグラムの投票結果が注目画素の奥行き係数を定めるためにどの程度信頼できるかを示す係数であり、ここではヒストグラム上の奥行き係数の最大得票数をnMAXとし、ヒストグラムの総投票数をnALLとして、nMAXをnALLで除算した値とする。
閾値より小さい場合(ステップS705;NO)、注目画素と注目周辺サブ画素との対応は強いとの判断の元、この組み合わせの重みを2と設定する(ステップS706)。図15(a)の例では、iiiで示す縦横線の画素が閾値より小さい画素である。この画素1つについて、2票をヒストグラムに投票する。
なお、重み付けの設定は上記に限らず、注目画素と注目周辺サブ画素との対応の確かさが強い場合により強い影響が出るような任意の重み付け設定と代替可能である。
一方、全サブ画素が処理済の場合には(ステップS710;YES)、奥行きフィルタ処理を終了する。
図8に戻って、ステップS407で奥行き係数決定処理が終了すると、奥行き係数算出処理は終了する。
ステップS105に至ると、奥行き画像生成部330が図16に示す画像生成処理を開始する。まず、奥行き画像生成部330は再構成設定を取得する(ステップS801)。そして、ひな形定義部3310が、再構成設定が指定するメインレンズと再構成面RFとの距離を特定し、再構成面RFに再構成画像のひな形(原型)を定義する(ステップS802)。
注目部位Pからの光線は、メインレンズの主点を通過してマイクロレンズアレイの到達位置(図17のサブレンズ上のMLBC)に到達する。MLBCのサブレンズ上の位置は、撮影設定に基づいて求めることが出来る。MLBCを中心に、注目部位Pからの光が届いた範囲(メインレンズブラーMLB、図17の網線領域)を、レンズの特性からもとめる。メインレンズブラーMLBの直径は、メインレンズMLと再構成面RFとの距離a1、メインレンズと結像面MIPとの距離b1(a1とメインレンズの焦点距離fMLから算出)、結像面MIPとサブレンズアレイSLAとの距離a2と、メインレンズの有効径EDと、から三角形の相似を用いて算出する。
まず、再構成面RFに対応するメインレンズの焦点面までの距離b1は、既知の数値a1及びメインレンズの焦点距離fMLを用い、次の式(1)から算出することが出来る。
さらに、被写体距離a1と、距離b1と、既知の数値x(注目部位Pと光軸OAとの距離)を以下の式(2)に用いて、注目部位PがメインレンズMLを通して結像する点(結像点PF)と光軸OAとの距離x’を算出する。
x’=x・b1/a1…(2)
さらに、光軸OAから注目サブレンズSLの主点までの距離dl、上記の式(2)を用いて算出された距離x’、サブレンズアレイSLAから撮像面IEまでの距離c2、及び距離a2を以下の式(3)に用いて、到達点PEと光軸OAとの距離x’’を算出する。
一方、全再構成画素が処理済の場合には(ステップS807;YES)、図18(c)に示したような、再構成面上での被写体の奥行きを示す奥行き画像DIを生成したので、画像生成処理1を終了する。
被写体の奥行きの推定結果は、再構成画像のノイズ除去・ボケ付加に利用できる他、被写体の3次元モデルの構成や、近すぎる物体の存在を検知したことを察知する等、さまざまな目的で利用できる。
本発明の実施形態2に係るデジタルカメラ及び画像生成装置について説明する。本実施形態のデジタルカメラ1は、画像生成装置が図19に示す画像生成装置31である他は、実施形態1に係るデジタルカメラ1と同様である。本実施形態では、再構成設定には奥行き推定結果に基づいて補正した、被写体の再構成画像を出力する旨の情報が含まれるとする。
1)注目画素からの光線がメインレンズの主点を通過してサブレンズアレイに到達した位置(図17のMLBC)を特定する。
2)特定された位置を中心に再構成面に対応するメインレンズブラーMLBを計算する。
3)サブレンズアレイに含まれるサブレンズの内、一部又は全てがメインレンズブラーに含まれるサブレンズを特定する。
4)特定されたサブレンズの内の一つを選択する。
5)選択されたサブレンズとメインレンズブラーとが重なっている面積を計算し、これをマイクロレンズの面積で割って重み付け係数とする。
6)注目画素からの光線が、選択されたサブレンズによって結像される位置にある、サブ画像上に画素値を取得する。
7)この取得された画素値に先の重み付け係数をかけたものを補正画素値とする。
8)一部又は全てがメインレンズブラーに含まれるサブレンズの全てにわたって補正画素値を計算し総和を取る。
9)補正画素値の総和を、重なり面積の総和で除算して再構成したい画像の画素値とする。
フィルタ処理にあたって、奥行きテーブルを参照し、再構成距離が対応する奥行き係数と、再構成画素の奥行き係数との差が所定の閾値以上あった場合に、設定されたボケ強度に従ってボケ付加処理を行う。ボケ付加処理には例えばガウシアンフィルターを用いる。
さらに、画素値算出部3350が、上述した重み付け加算を用いた方法で注目画素の画素値を算出する(ステップS908)。
一方、全画素処理済である場合(ステップS909;YES)、再構成フィルタ実行部3360が上述の方法でフィルタ処理を実行する。
そして、画像生成処理2は終了する。
さらに、ボケ付加に際して、手前にある画素についてはぼかしに加えない。そのため、手前にある物体の色が奥ににじむことがなく、奥行きを反映した画質が高い画像を生成して出力できる。
本発明は、上記実施形態に限定されず、さまざまな変形が可能である。
例えば、実施形態1乃至2では、周辺サブイメージの想定範囲について画像ズレとSSDとの対応(図9(c)のグラフ)を求めて、奥行き係数のそれぞれについてSSSDを求めて対応領域を定義した。しかし、対応領域を定義する方法はこれに限られず、各周辺サブイメージについてそれぞれ最小のSSDを持つ奥行き係数に対応する領域を対応領域として、各画素の奥行き係数を投票してもよい。
複数のサブイメージから構成されるライトフィールド画像から被写体の奥行きを推定する奥行き推定装置であって、
前記ライトフィールド画像のサブイメージ上に、前記奥行き推定の対象となる対象被写体に対応する画素領域を定義する画素領域定義手段と、
前記画素領域定義手段によって定義された画素領域の、当該画素領域を含む注目サブイメージ上の位置と、当該注目サブイメージの周辺に配置された周辺サブイメージ上の当該画素領域に対応する対応領域の位置と、の位置のズレに基づいて、前記対象被写体の奥行きを推定する奥行き推定手段と、
を備えることを特徴とする奥行き推定装置。
前記周辺サブイメージ上の対応領域を、前記注目サブイメージの画素領域の画素値と、前記周辺サブイメージの画素値と、に基づいて抽出する対応領域抽出手段を更に備え、
前記奥行き推定手段は、
前記画素領域の前記注目サブイメージ上の位置と、前記対応領域抽出手段によって抽出された対応領域の前記周辺サブイメージ上の位置と、の位置のズレに基づいて、前記対象被写体の奥行きを推定する、
ことを特徴とする付記1に記載の奥行き推定装置。
前記ライトフィールド画像から被写体の像を再構成した再構成画像とその画素である再構成画素を定義する再構成画像定義手段と、
前記画素領域の前記注目サブイメージ上の位置と、前記対応領域の前記周辺サブイメージ上の位置と、の位置のズレに基づいて、前記画素領域に含まれるサブ画素の奥行き係数を求める奥行き係数獲得手段と、
を更に備え、
前記奥行き推定手段は、
前記奥行き係数獲得手段が求めた各サブ画素の奥行き係数に基づいて、前記再構成画像の画素の奥行き係数を定めることにより、前記被写体の奥行きを推定する、
ことを特徴とする付記1又は2に記載の奥行き推定装置。
前記再構成画素に対応する前記ライトフィールド画像上の対応画素を抽出する対応画素抽出手段を備え、
前記奥行き推定手段は、
前記対応画素抽出手段によって抽出された対応画素について前記奥行き係数獲得手段が求めた奥行き係数に基づいて、前記再構成画素の奥行き係数を定めることにより、前記被写体の奥行きを推定する、
ことを特徴とする付記3に記載の奥行き推定装置。
前記周辺サブイメージ上の視差に応じた複数の位置に対応候補領域を定義し、当該対応候補領域のそれぞれについて、前記サブイメージの画素領域との対応の確かさを示す対応係数を求める対応係数獲得手段を更に備え、
前記対応領域抽出手段は、
前記対応係数獲得手段が求めた対応係数に基づいて、前記周辺サブイメージ上の対応領域を抽出する、
ことを特徴とする付記2に記載の奥行き推定装置。
前記対応係数獲得手段は、
異なる視差毎に複数の前記周辺サブイメージのそれぞれに前記対応候補領域を定義し、当該対応候補領域のそれぞれについて前記対応係数を求め、
前記対応領域抽出手段は、
前記対応候補領域のそれぞれについて求めた対応係数から、前記視差毎に前記対応係数の確からしさを示す尤度係数を求め、当該尤度係数が最も確からしい対応係数に対応する対応候補領域を前記対応領域として抽出する、
ことを特徴とする付記5に記載の奥行き推定装置。
前記対応係数獲得手段が求める対応係数は、前記画素領域と前記対応候補領域との画素値の差違を示す係数である、
ことを特徴とする付記5又は6に記載の奥行き推定装置。
前記奥行き係数獲得手段は、
前記サブ画素の奥行き係数を、当該サブ画素から所定領域に含まれるサブ画素の奥行き係数に基づき補正する、
ことを特徴とする付記3又は4に記載の奥行き推定装置。
ライトフィールド画像から、所定の再構成距離に合焦した再構成画像を生成する再構成画像生成装置であって、
付記1乃至8の何れか1つに記載の奥行き推定装置と、
前記奥行き推定装置によって推定された被写体の奥行きと前記再構成距離との距離の差に基づき、前記再構成画像を構成する再構成画素の画素値を補正する再構成画像補正手段と、
を備えることを特徴とする再構成画像生成装置。
前記再構成画像補正手段は、前記補正として、対応する被写体の奥行きと前記再構成距離との距離の差が所定の閾値よりも大きい再構成画素に、当該再構成画素から所定範囲にある再構成画素の画素値に基づいてボケを付加する、
ことを特徴とする付記9に記載の再構成画像生成装置。
前記再構成画像補正手段は、前記ボケを付加するにあたって、対応する被写体の奥行きが、前記再構成距離よりも手前である被写体の再構成画素については、前記ボケを付加する処理の処理対象としない、
ことを特徴とする付記10に記載の再構成画像生成装置。
複数のサブイメージから構成されるライトフィールド画像から被写体の奥行きを推定する奥行き推定方法であって、
前記ライトフィールド画像のサブイメージ上に、前記奥行き推定の対象となる対象被写体に対応する画素領域を定義するステップと、
前記定義された画素領域の、当該画素領域を含む注目サブイメージ上の位置と、当該注目サブイメージの周辺に配置された周辺サブイメージ上の当該画素領域に対応する対応領域の位置と、の位置のズレに基づいて、前記対象被写体の奥行きを推定するステップと、
を含むことを特徴とする奥行き推定方法。
複数のサブイメージから構成されるライトフィールド画像から、所定の再構成距離に合焦した再構成画像を生成する再構成画像生成方法であって、
前記ライトフィールド画像のサブイメージ上に、前記奥行き推定の対象となる対象被写体に対応する画素領域を定義するステップと、
前記定義された画素領域の、当該画素領域を含む注目サブイメージ上の位置と、当該注目サブイメージの周辺に配置された周辺サブイメージ上の当該画素領域に対応する対応領域の位置と、の位置のズレに基づいて、当該画素領域を構成する各画素について前記対象被写体の奥行き係数を求めるステップと、
前記再構成画像を構成する再構成画素に対応する前記ライトフィールド画像上の対応画素を抽出するステップと、
前記求めた奥行き係数に基づいて、前記対応画素と対応する前記再構成画素の奥行き係数を設定するステップと、
前記再構成画素の奥行き係数が示す被写体までの距離と前記再構成距離との距離の差に基づき、前記再構成画素の画素値を補正するステップと、
前記再構成画素の前記補正後の画素値を用いて再構成画像を生成するステップと、
を含むことを特徴とする再構成画像生成方法。
複数のサブイメージから構成されるライトフィールド画像から被写体の奥行きを推定するため、コンピュータに、
前記ライトフィールド画像のサブイメージ上に、前記奥行き推定の対象となる対象被写体に対応する画素領域を定義する機能、
前記定義された画素領域の、当該画素領域を含む注目サブイメージ上の位置と、当該注目サブイメージの周辺に配置された周辺サブイメージ上の当該画素領域に対応する対応領域の位置と、の位置のズレに基づいて、前記対象被写体の奥行きを推定する機能、
を実現させることを特徴とするプログラム。
複数のサブイメージから構成されるライトフィールド画像から、所定の再構成距離に合焦した再構成画像を生成するため、コンピュータに、
前記ライトフィールド画像のサブイメージ上に、前記奥行き推定の対象となる対象被写体に対応する画素領域を定義する機能、
前記定義された画素領域の、当該画素領域を含む注目サブイメージ上の位置と、当該注目サブイメージの周辺に配置された周辺サブイメージ上の当該画素領域に対応する対応領域の位置と、の位置のズレに基づいて、当該画素領域を構成する各画素について前記対象被写体の奥行き係数を求める機能、
前記再構成画像を構成する再構成画素に対応する前記ライトフィールド画像上の対応画素を抽出する機能、
前記求めた奥行き係数に基づいて、前記対応画素と対応する前記再構成画素の奥行き係数を設定する機能、
前記再構成画素の奥行き係数が示す被写体までの距離と前記再構成距離との距離の差に基づき、前記再構成画素の画素値を補正する機能、
前記再構成画素の前記補正後の画素値を用いて再構成画像を生成する機能、
を実現させることを特徴とするプログラム。
Claims (14)
- 複数のサブイメージから構成されるライトフィールド画像から被写体の奥行きを推定する奥行き推定装置であって、
前記ライトフィールド画像の前記サブイメージ上に、前記被写体に対応する画素領域を定義する画素領域定義手段と、
前記画素領域定義手段によって定義された画素領域を含む注目サブイメージ上の位置と、前記注目サブイメージの周辺に配置された周辺サブイメージ上の画素領域に対応する対応領域の位置と、の位置のズレに基づいて、前記被写体の奥行きを推定する奥行き推定手段と、
前記ライトフィールド画像から前記被写体の像を再構成した再構成画像と前記再構成画像の画素である再構成画素とを定義する再構成画像定義手段と、
前記画素領域の前記注目サブイメージ上の位置と、前記対応領域の前記周辺サブイメージ上の位置と、の位置のズレに基づいて、前記画素領域に含まれるサブ画素の奥行き係数を求める奥行き係数獲得手段と、
を備え、
前記奥行き推定手段は、前記奥行き係数獲得手段が求めた各前記サブ画素の奥行き係数に基づいて、前記再構成画像の前記再構成画素の奥行き係数を定めることにより、前記被写体の奥行きを推定する、
ことを特徴とする奥行き推定装置。 - 前記周辺サブイメージ上の前記対応領域を、前記注目サブイメージの画素領域の画素値と、前記周辺サブイメージの画素値と、に基づいて抽出する対応領域抽出手段を更に備え、
前記奥行き推定手段は、
前記画素領域の前記注目サブイメージ上の位置と、前記対応領域抽出手段によって抽出された前記対応領域の前記周辺サブイメージ上の位置と、の位置のズレに基づいて、前記被写体の奥行きを推定する、
ことを特徴とする請求項1に記載の奥行き推定装置。 - 前記再構成画素に対応する前記ライトフィールド画像上の対応画素を抽出する対応画素抽出手段を備え、
前記奥行き推定手段は、
前記対応画素抽出手段によって抽出された前記対応画素について前記奥行き係数獲得手段が求めた奥行き係数に基づいて、前記再構成画素の奥行き係数を定めることにより、前記被写体の奥行きを推定する、
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の奥行き推定装置。 - 前記周辺サブイメージ上の視差に応じた複数の位置に対応候補領域を定義し、前記対応候補領域のそれぞれについて、前記サブイメージの画素領域との対応の確かさを示す対応係数を求める対応係数獲得手段を更に備え、
前記対応領域抽出手段は、
前記対応係数獲得手段が求めた対応係数に基づいて、前記周辺サブイメージ上の前記対応領域を抽出する、
ことを特徴とする請求項2に記載の奥行き推定装置。 - 前記対応係数獲得手段は、
異なる視差毎に複数の前記周辺サブイメージのそれぞれに前記対応候補領域を定義し、前記対応候補領域のそれぞれについて前記対応係数を求め、
前記対応領域抽出手段は、
前記対応候補領域のそれぞれについて求めた前記対応係数から、前記視差毎に前記対応係数の確からしさを示す尤度係数を求め、前記尤度係数が最も確からしい前記対応係数に対応する前記対応候補領域を前記対応領域として抽出する、
ことを特徴とする請求項4に記載の奥行き推定装置。 - 前記対応係数獲得手段が求める前記対応係数は、前記画素領域と前記対応候補領域との画素値の差違を示す係数である、
ことを特徴とする請求項4又は5に記載の奥行き推定装置。 - 前記奥行き係数獲得手段は、
前記サブ画素の奥行き係数を、前記サブ画素から所定領域に含まれるサブ画素の奥行き係数に基づき補正する、
ことを特徴とする請求項1乃至6のいずれかに記載の奥行き推定装置。 - 複数のサブイメージから構成されるライトフィールド画像から、所定の再構成距離に合焦した再構成画像を生成する再構成画像生成装置であって、
前記ライトフィールド画像の前記サブイメージ上に、被写体に対応する画素領域を定義する画素領域定義手段と、前記画素領域定義手段によって定義された画素領域を含む注目サブイメージ上の位置と、前記注目サブイメージの周辺に配置された周辺サブイメージ上の画素領域に対応する対応領域の位置と、の位置のズレに基づいて、前記被写体の奥行きを推定する奥行き推定手段と、を有する奥行き推定装置と、
前記奥行き推定装置によって推定された前記被写体の奥行きと前記再構成距離との距離の差に基づき、前記再構成画像を構成する再構成画素の画素値を補正する再構成画像補正手段と、
を備える、
ことを特徴とする再構成画像生成装置。 - 前記再構成画像補正手段は、前記補正として、対応する前記被写体の奥行きと前記再構成距離との距離の差が所定の閾値よりも大きい再構成画素に、前記再構成画素から所定範囲にある再構成画素の画素値に基づいてボケを付加する、
ことを特徴とする請求項8に記載の再構成画像生成装置。 - 前記再構成画像補正手段は、前記ボケを付加するにあたって、対応する前記被写体の奥行きが、前記再構成距離よりも手前である被写体の再構成画素については、前記ボケを付加する処理の処理対象としない、
ことを特徴とする請求項9に記載の再構成画像生成装置。 - 複数のサブイメージから構成されるライトフィールド画像から被写体の奥行きを推定する奥行き推定方法であって、
前記ライトフィールド画像のサブイメージ上に、前記被写体に対応する画素領域を定義するステップと、
前記定義された画素領域を含む注目サブイメージ上の位置と、前記注目サブイメージの周辺に配置された周辺サブイメージ上の画素領域に対応する対応領域の位置と、の位置のズレに基づいて、前記被写体の奥行きを推定するステップと、
前記ライトフィールド画像から前記被写体の像を再構成した再構成画像と前記再構成画像の画素である再構成画素とを定義するステップと、
前記画素領域の前記注目サブイメージ上の位置と、前記対応領域の前記周辺サブイメージ上の位置と、の位置のズレに基づいて、前記画素領域に含まれるサブ画素の奥行き係数を求めるステップと、
を含み、
前記奥行きを推定するステップでは、前記奥行き係数を求めるステップで求めた各前記サブ画素の奥行き係数に基づいて、前記再構成画像の前記再構成画素の奥行き係数を定めることにより、前記被写体の奥行きを推定する、
ことを特徴とする奥行き推定方法。 - 複数のサブイメージから構成されるライトフィールド画像から、所定の再構成距離に合焦した再構成画像を生成する再構成画像生成方法であって、
前記ライトフィールド画像の前記サブイメージ上に、奥行きを推定する対象となる被写体に対応する画素領域を定義するステップと、
前記定義された画素領域を含む注目サブイメージ上の位置と、前記注目サブイメージの周辺に配置された周辺サブイメージ上の画素領域に対応する対応領域の位置と、の位置のズレに基づいて、画素領域を構成する各画素について前記被写体の奥行き係数を求めるステップと、
前記再構成画像を構成する再構成画素に対応する前記ライトフィールド画像上の対応画素を抽出するステップと、
求めた前記奥行き係数に基づいて、前記対応画素と対応する前記再構成画素の奥行き係数を設定するステップと、
前記再構成画素の奥行き係数が示す被写体までの距離と前記再構成距離との距離の差に基づき、前記再構成画素の画素値を補正するステップと、
前記再構成画素の前記補正後の画素値を用いて再構成画像を生成するステップと、
を含む、
ことを特徴とする再構成画像生成方法。 - 複数のサブイメージから構成されるライトフィールド画像から被写体の奥行きを推定するため、コンピュータに、
前記ライトフィールド画像のサブイメージ上に、前記被写体に対応する画素領域を定義する機能、
前記定義された画素領域を含む注目サブイメージ上の位置と、前記注目サブイメージの周辺に配置された周辺サブイメージ上の画素領域に対応する対応領域の位置と、の位置のズレに基づいて、前記被写体の奥行きを推定する機能、
前記ライトフィールド画像から前記被写体の像を再構成した再構成画像と前記再構成画像の画素である再構成画素とを定義する機能、
前記画素領域の前記注目サブイメージ上の位置と、前記対応領域の前記周辺サブイメージ上の位置と、の位置のズレに基づいて、前記画素領域に含まれるサブ画素の奥行き係数を求める機能、
を実現させ、
前記奥行きを推定する機能では、前記奥行き係数を求める機能で求めた各前記サブ画素の奥行き係数に基づいて、前記再構成画像の前記再構成画素の奥行き係数を定めることにより、前記被写体の奥行きを推定する、
ことを特徴とするプログラム。 - 複数のサブイメージから構成されるライトフィールド画像から、所定の再構成距離に合焦した再構成画像を生成するため、コンピュータに、
前記ライトフィールド画像のサブイメージ上に、奥行きを推定する対象となる被写体に対応する画素領域を定義する機能、
前記定義された画素領域を含む注目サブイメージ上の位置と、前記注目サブイメージの周辺に配置された周辺サブイメージ上の画素領域に対応する対応領域の位置と、の位置のズレに基づいて、画素領域を構成する各画素について前記被写体の奥行き係数を求める機能、
前記再構成画像を構成する再構成画素に対応する前記ライトフィールド画像上の対応画素を抽出する機能、
求めた奥行き係数に基づいて、前記対応画素と対応する前記再構成画素の奥行き係数を設定する機能、
前記再構成画素の奥行き係数が示す前記被写体までの距離と前記再構成距離との距離の差に基づき、前記再構成画素の画素値を補正する機能、
前記再構成画素の補正後の画素値を用いて再構成画像を生成する機能、
を実現させる、
ことを特徴とするプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012042573A JP5900017B2 (ja) | 2012-02-28 | 2012-02-28 | 奥行き推定装置、再構成画像生成装置、奥行き推定方法、再構成画像生成方法及びプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012042573A JP5900017B2 (ja) | 2012-02-28 | 2012-02-28 | 奥行き推定装置、再構成画像生成装置、奥行き推定方法、再構成画像生成方法及びプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013178684A JP2013178684A (ja) | 2013-09-09 |
JP5900017B2 true JP5900017B2 (ja) | 2016-04-06 |
Family
ID=49270256
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012042573A Expired - Fee Related JP5900017B2 (ja) | 2012-02-28 | 2012-02-28 | 奥行き推定装置、再構成画像生成装置、奥行き推定方法、再構成画像生成方法及びプログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5900017B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5631935B2 (ja) | 2012-07-11 | 2014-11-26 | 株式会社東芝 | 画像処理装置、画像処理方法およびプログラム、ならびに、撮像装置 |
JP6188531B2 (ja) * | 2013-10-22 | 2017-08-30 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、その制御方法およびプログラム |
EP3026628A1 (en) | 2014-11-26 | 2016-06-01 | Thomson Licensing | Method and apparatus for estimating depth of unfocused plenoptic data |
CN108885778B (zh) * | 2016-04-06 | 2023-04-07 | 索尼公司 | 图像处理设备和图像处理方法 |
CN114119698B (zh) * | 2021-06-18 | 2022-07-19 | 湖南大学 | 基于注意力机制的无监督单目深度估计方法 |
JP7634786B1 (ja) | 2023-12-21 | 2025-02-21 | 三菱電機株式会社 | 画像出力装置、および、画像出力方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008078692A (ja) * | 2006-09-19 | 2008-04-03 | Ricoh Co Ltd | 画像入力装置及び電子機器 |
JP4915859B2 (ja) * | 2007-03-26 | 2012-04-11 | 船井電機株式会社 | 物体の距離導出装置 |
JP2009229125A (ja) * | 2008-03-19 | 2009-10-08 | Sharp Corp | 距離測定装置および距離測定方法 |
JP5229541B2 (ja) * | 2008-05-29 | 2013-07-03 | 株式会社ニコン | 距離測定装置、距離測定方法、及び、プログラム |
JP2010057067A (ja) * | 2008-08-29 | 2010-03-11 | Sony Corp | 撮像装置および画像処理装置 |
JP2010109921A (ja) * | 2008-10-31 | 2010-05-13 | Nikon Corp | 画像合成装置 |
-
2012
- 2012-02-28 JP JP2012042573A patent/JP5900017B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013178684A (ja) | 2013-09-09 |
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