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JP5867110B2 - Semiconductor device assembling apparatus and method - Google Patents

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JP5867110B2 JP2012013062A JP2012013062A JP5867110B2 JP 5867110 B2 JP5867110 B2 JP 5867110B2 JP 2012013062 A JP2012013062 A JP 2012013062A JP 2012013062 A JP2012013062 A JP 2012013062A JP 5867110 B2 JP5867110 B2 JP 5867110B2
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Description

本発明は、センサ部とリードフレーム体が接着剤にて接合される半導体装置の組み付け装置および方法に関するものである。   The present invention relates to an assembling apparatus and method for a semiconductor device in which a sensor section and a lead frame body are joined with an adhesive.

従来、加速度検出用のセンサチップを備える半導体装置は、センサチップが収容されたセンサ部とリードフレームの一部が樹脂にて覆われたリードフレーム体との間にギャップが形成され、ギャップに配置された熱硬化性の接着剤にてセンサ部とリードフレーム体が接合されている。なお、接着剤を加熱して硬化させる際には、センサ部とリードフレーム体を治具にて保持し、製造ラインの加熱装置にそれらを搬送して接着剤を加熱する。   Conventionally, a semiconductor device including a sensor chip for detecting an acceleration has a gap formed between a sensor portion in which the sensor chip is accommodated and a lead frame body in which a part of the lead frame is covered with resin, and is arranged in the gap. The sensor portion and the lead frame body are joined with the thermosetting adhesive thus prepared. When the adhesive is heated and cured, the sensor unit and the lead frame body are held by a jig, and are transported to a heating device of a production line to heat the adhesive.

接着剤は、ノイズに相当する振動がリードフレーム体からセンサ部へ伝達されるのを防止するダンパー機能を有している。そして、所定のダンパー特性を得るために、接着材の厚みを高精度に管理している。   The adhesive has a damper function to prevent vibration corresponding to noise from being transmitted from the lead frame body to the sensor unit. And in order to obtain a predetermined damper characteristic, the thickness of the adhesive is managed with high accuracy.

接着材の厚みを高精度に管理するためには、接着剤を加熱硬化させる工程の間、センサ部とリードフレーム体を治具にて保持して、センサ部とリードフレーム体との間のギャップを所定寸法に維持する必要がある。また、治具には、センサ部とリードフレーム体を確実に保持する保持力とともに、脱着のしやすさや、搬送のしやすさが要求される。   In order to manage the thickness of the adhesive with high accuracy, the gap between the sensor part and the lead frame body is maintained by holding the sensor part and the lead frame body with a jig during the process of heating and curing the adhesive. Must be maintained at a predetermined dimension. In addition, the jig is required to have a holding force for securely holding the sensor portion and the lead frame body, as well as ease of attachment / detachment and ease of conveyance.

ところで、特許文献1には、ウエハと支持基板との間にワックスを介在させ、それらを上部定盤と下部定盤とでプレスするとともに、電磁石の磁力によりウエハおよび支持基板を引き寄せた状態で、ウエハと支持基板とをワックスにて接合する装置が開示されている。そして、これによると、保持力と脱着のしやすさの要求は満たされる。   Incidentally, in Patent Document 1, wax is interposed between the wafer and the support substrate, they are pressed by the upper surface plate and the lower surface plate, and the wafer and the support substrate are attracted by the magnetic force of the electromagnet. An apparatus for bonding a wafer and a support substrate with wax is disclosed. According to this, the requirements for holding power and ease of attachment / detachment are satisfied.

特開平10−154671号公報JP-A-10-154671

しかしながら、特許文献1に示された従来装置は、上部定盤と下部定盤とでウエハや支持基板をプレスしてウエハと支持基板とを密着させるようにしており、接着剤としてのワックスの厚みを高精度に管理することは困難である。また、ウエハや支持基板を保持する治具は、上部定盤、下部定盤、さらには電磁石を備えているため、構成が複雑である。さらに、定盤を駆動する機構や電磁石のハーネス等があるため、治具にてウエハや支持基板を保持したままそれらを製造ライン間で移動させることが困難である。   However, in the conventional apparatus shown in Patent Document 1, the wafer and the support substrate are pressed by the upper surface plate and the lower surface plate to bring the wafer and the support substrate into close contact with each other, and the thickness of the wax as an adhesive is increased. Is difficult to manage with high accuracy. In addition, since the jig for holding the wafer and the support substrate includes an upper surface plate, a lower surface plate, and an electromagnet, the configuration is complicated. Furthermore, since there is a mechanism for driving the surface plate, an electromagnet harness, and the like, it is difficult to move them between the production lines while holding the wafer and the support substrate with a jig.

本発明は上記点に鑑みて、接着材の厚みを高精度に管理可能にするとともに、センサ部とリードフレーム体を接着剤にて接合する際に用いる治具の簡素化を図ることを目的とする。   SUMMARY OF THE INVENTION In view of the above points, the present invention has an object to make it possible to manage the thickness of an adhesive with high accuracy and to simplify a jig used when joining a sensor portion and a lead frame body with an adhesive. To do.

上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明では、少なくとも一部が磁性体よりなるセンサケース(10、11)内に加速度検出用のセンサチップ(12)が収容されたセンサ部(1)と非磁性体よりなるリードフレーム(20)の一部が樹脂にて覆われたリードフレーム体(2)との間にギャップが形成され、ギャップに配置された接着剤(5)にてセンサ部とリードフレーム体が接合される半導体装置組み付け装置であって、センサ部を載せてセンサ部の天地方向位置を決める第1基準面(310)およびリードフレーム体を載せてリードフレーム体の天地方向位置を決める第2基準面(302)を有するとともに第1永久磁石(34)および第2永久磁石(35)が埋設された第1治具(3)と、リードフレーム体を第1治具との間に挟持する磁性体製の第2治具(4)とを備え、第1永久磁石によりセンサ部が第1基準面側に吸引され、第2永久磁石により第2治具が吸引されることにより第2治具を介してリードフレーム体が第2基準面側に付勢されることを特徴とする。 In order to achieve the above object, according to the first aspect of the present invention, a sensor unit (1) in which a sensor chip (12) for acceleration detection is housed in a sensor case (10, 11) at least partially made of a magnetic material. ) And a lead frame body (2) in which a part of the lead frame (20) made of a non-magnetic material is covered with a resin, and a sensor is formed by an adhesive (5) disposed in the gap. 1 is a semiconductor device assembling apparatus in which a lead frame body is joined to a first reference plane (310) on which the sensor section is placed and the top and bottom direction position of the sensor section is determined and the lead frame body is placed A first jig (3) having a second reference surface (302) for determining the position and having the first permanent magnet (34) and the second permanent magnet (35) embedded therein, and the lead frame body as the first jig of And a second jig magnetic body made of sandwich (4), the sensor portion by the first permanent magnet is attracted to the first reference surface, by the second permanent magnet and the second jig is sucked The lead frame body is urged toward the second reference surface via the second jig.

これによると、第1基準面によってセンサ部の天地方向の位置が決められ、第2基準面によってリードフレーム体の天地方向の位置が決められるため、センサ部とリードフレーム体との間の天地方向のギャップ寸法を高精度に管理することができ、ひいては接着材の厚みを高精度に管理することができる。その結果、接着剤に所定のダンパー特性を与えることができる。   According to this, since the position of the sensor unit in the vertical direction is determined by the first reference plane, and the position of the lead frame body in the vertical direction is determined by the second reference plane, the vertical direction between the sensor unit and the lead frame body is determined. It is possible to manage the gap dimension of the adhesive with high accuracy, and consequently to manage the thickness of the adhesive with high accuracy. As a result, a predetermined damper characteristic can be given to the adhesive.

また、永久磁石の磁力によりセンサ部やリードフレーム体を保持するため、換言すると、従来装置のような定盤や電磁石を備えていないため、治具を簡素にすることができる。   In addition, since the sensor unit and the lead frame body are held by the magnetic force of the permanent magnet, in other words, since there is no surface plate or electromagnet as in the conventional device, the jig can be simplified.

さらに、定盤を駆動する機構や電磁石のハーネス等が不要であるため、治具にてセンサ部やリードフレーム体を保持したままそれらを製造ライン内で移動させることが可能である。   Furthermore, since a mechanism for driving the surface plate, an electromagnet harness, and the like are unnecessary, it is possible to move them in the production line while holding the sensor portion and the lead frame body with a jig.

請求項2に記載の発明のように、請求項1に記載の半導体装置組み付け装置において、接着剤は熱硬化性樹脂を用いることができる。   As in the invention described in claim 2, in the semiconductor device assembling apparatus described in claim 1, a thermosetting resin can be used as the adhesive.

請求項3に記載の発明では、請求項1または2に記載の半導体装置組み付け装置において、第1治具に形成されたピン(33)が、リードフレーム体に形成されたピン挿入穴(200)に挿入されて、第1治具とリードフレーム体の水平方向の相対位置が決められる構成であることを特徴とする。   According to a third aspect of the present invention, in the semiconductor device assembling apparatus according to the first or second aspect, the pin (33) formed in the first jig is a pin insertion hole (200) formed in the lead frame body. And the horizontal relative position between the first jig and the lead frame body is determined.

これによると、第1治具とリードフレーム体の水平方向の相対位置決めを、簡単な構成で精度よく行うことができる。   According to this, the relative positioning of the first jig and the lead frame body in the horizontal direction can be accurately performed with a simple configuration.

請求項4に記載の発明では、少なくとも一部が磁性体よりなるセンサケース(10、11)内に加速度検出用のセンサチップ(12)が収容されたセンサ部(1)と非磁性体よりなるリードフレーム(20)の一部が樹脂にて覆われたリードフレーム体(2)との間にギャップが形成され、ギャップに配置された接着剤(5)にてセンサ部とリードフレーム体が接合される半導体装置組み付け方法であって、センサ部を載せてセンサ部の天地方向位置を決める第1基準面(310)およびリードフレーム体を載せてリードフレーム体の天地方向位置を決める第2基準面(302)を有するとともに第1永久磁石(34)および第2永久磁石(35)が埋設された第1治具(3)と、リードフレーム体を第1治具との間に挟持する磁性体製の第2治具(4)とを用意し、センサ部およびリードフレーム体の少なくとも一方に接着剤を塗布し、第1永久磁石によりセンサ部を第1基準面側に吸引するとともに、第2永久磁石により第2治具を吸引することにより第2治具を介してリードフレーム体を第2基準面側に付勢した状態で、センサ部とリードフレーム体とを接着剤にて接合することを特徴とする。 In the invention according to claim 4, the sensor part (1) in which at least a part is made of a magnetic material and the sensor chip (12) for detecting acceleration is housed in the sensor case (10, 11) and the non-magnetic material. A gap is formed between the lead frame (2) and a part of the lead frame (20) covered with resin, and the sensor part and the lead frame body are joined by the adhesive (5) disposed in the gap. 1st reference surface (310) which mounts a sensor part and determines the top-and-bottom direction position of a sensor part, and the 2nd reference surface which mounts a lead frame body and determines the top-and-bottom direction position of a lead frame body (302) and a magnetic body sandwiching the lead frame body between the first jig (3) in which the first permanent magnet (34) and the second permanent magnet (35) are embedded, and the first jig Made of Prepared and the jig (4), an adhesive is applied to at least one of the sensor unit and the lead frame body, it sucks the sensor unit to the first reference surface by the first permanent magnet, the first by the second permanent magnet 2. The sensor part and the lead frame body are bonded with an adhesive in a state where the lead frame body is biased to the second reference plane side via the second jig by sucking the two jigs. .

これによると、請求項1に記載の発明と同様の効果を得ることができる。   Accordingly, the same effect as that of the first aspect of the invention can be obtained.

なお、この欄および特許請求の範囲で記載した各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものである。   In addition, the code | symbol in the bracket | parenthesis of each means described in this column and the claim shows the correspondence with the specific means as described in embodiment mentioned later.

半導体装置におけるセンサ部の正面断面図である。It is front sectional drawing of the sensor part in a semiconductor device. 半導体装置におけるリードフレーム体を示す図である。It is a figure which shows the lead frame body in a semiconductor device. 本発明の一実施形態に係る組み付け装置における第1治具を示す図である。It is a figure which shows the 1st jig | tool in the assembly | attachment apparatus which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る組み付け装置における第2治具を示す図である。It is a figure which shows the 2nd jig | tool in the assembly | attachment apparatus which concerns on one Embodiment of this invention. 本発明の一実施形態に係る組み付け装置に半導体装置が保持された状態を示す正面断面図である。It is front sectional drawing which shows the state by which the semiconductor device was hold | maintained at the assembly | attachment apparatus which concerns on one Embodiment of this invention.

以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。図1は本発明の一実施形態に係る組み付け装置によって組み付けられる半導体装置におけるセンサ部の正面断面図、図2(a)は本発明の一実施形態に係る組み付け装置によって組み付けられる半導体装置におけるリードフレーム体の平面図、図2(b)は図2(a)のA−A線に沿う拡大断面図、図2(c)は図2(a)のB−B線に沿う拡大断面図である。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a front sectional view of a sensor portion in a semiconductor device assembled by an assembling apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2A is a lead frame in the semiconductor device assembled by the assembling apparatus according to an embodiment of the present invention. 2B is an enlarged sectional view taken along the line AA in FIG. 2A, and FIG. 2C is an enlarged sectional view taken along the line BB in FIG. 2A. .

本実施形態に係る組み付け装置によって組み付けられる半導体装置は、図1に示すセンサ部1と、図2に示すリードフレーム体2とを備えている。   A semiconductor device assembled by the assembling apparatus according to the present embodiment includes a sensor unit 1 shown in FIG. 1 and a lead frame body 2 shown in FIG.

図1に示すように、センサ部1は、セラミックよりなる第1センサケース10、鉄等の磁性体金属よりなる板状の第2センサケース11、および加速度検出用のセンサチップ12を備えている。   As shown in FIG. 1, the sensor unit 1 includes a first sensor case 10 made of ceramic, a plate-like second sensor case 11 made of a magnetic metal such as iron, and a sensor chip 12 for detecting acceleration. .

第1センサケース10は、直方体の箱の一面が開口した形状、換言すると、略升形状になっている。そして、第1センサケース10内にセンサチップ12が収容され、第1センサケース10の開口部が第2センサケース11にて塞がれている。   The first sensor case 10 has a shape in which one surface of a rectangular parallelepiped box is opened, in other words, a substantially bowl shape. The sensor chip 12 is accommodated in the first sensor case 10, and the opening of the first sensor case 10 is closed by the second sensor case 11.

図2に示すように、リードフレーム体2は、銅等の非磁性体導電性金属よりなる板状のリードフレーム20と、リードフレーム20の一部を樹脂にて覆うリードケース21とを備えている。   As shown in FIG. 2, the lead frame body 2 includes a plate-like lead frame 20 made of a non-magnetic conductive metal such as copper, and a lead case 21 that covers a part of the lead frame 20 with a resin. Yes.

リードケース21は、筒状であり、軸線に直交する断面の形状が矩形になっている。リードケース21には、軸方向中間部にリードケース隔壁210が形成されており、リードケース隔壁210には、十字状のリードケース孔211が形成されている。リードケース隔壁210におけるリードケース孔211の周囲には、環状のリードケース溝212にて囲まれた円形の接着剤塗布部213が4個形成されている。   The lead case 21 is cylindrical and has a rectangular cross section perpendicular to the axis. In the lead case 21, a lead case partition wall 210 is formed at an axially intermediate portion, and the lead case partition wall 210 is formed with a cross-shaped lead case hole 211. Four circular adhesive application portions 213 surrounded by an annular lead case groove 212 are formed around the lead case hole 211 in the lead case partition wall 210.

リードフレーム20には、後述する第1治具のピンが挿入されるリード部ピン挿入孔200が2個形成されている。これらのリード部ピン挿入孔200は、リードケース孔211を挟んで略対角線上に配置されている。   The lead frame 20 is formed with two lead portion pin insertion holes 200 into which pins of a first jig described later are inserted. These lead portion pin insertion holes 200 are disposed substantially diagonally across the lead case hole 211.

次に、本実施形態に係る組み付け装置について説明する。図3(a)は本発明の一実施形態に係る組み付け装置における第1治具の平面図、図3(b)は図3(a)のC−C線に沿う拡大断面図、図4(a)は本発明の一実施形態に係る組み付け装置における第2治具の平面図、図4(b)は図4(a)の第2治具の正面図、図5は本発明の一実施形態に係る組み付け装置に半導体装置が保持された状態を示す正面断面図である。   Next, the assembling apparatus according to this embodiment will be described. 3A is a plan view of the first jig in the assembling apparatus according to the embodiment of the present invention, FIG. 3B is an enlarged cross-sectional view taken along the line CC of FIG. 3A, and FIG. a) is a plan view of the second jig in the assembling apparatus according to one embodiment of the present invention, FIG. 4B is a front view of the second jig of FIG. 4A, and FIG. 5 is one embodiment of the present invention. It is front sectional drawing which shows the state with which the semiconductor device was hold | maintained at the assembly | attachment apparatus which concerns on a form.

本実施形態に係る組み付け装置は、図3に示す第1治具3と、図4に示す第2治具4とを備えている。   The assembling apparatus according to the present embodiment includes a first jig 3 shown in FIG. 3 and a second jig 4 shown in FIG.

図3に示すように、第1治具3は、ステンレス等の金属よりなり、板状のベース板部30、ベース板部30から上方に向かって突出する第1突起部31、ベース板部30から上方に向かって突出する第2突起部32、ベース板部30から上方に向かって突出するピン33、第1突起部31内に埋設された第1永久磁石34、および第2突起部32内に埋設された第2永久磁石35を備えている。   As shown in FIG. 3, the first jig 3 is made of a metal such as stainless steel, and has a plate-like base plate portion 30, a first protrusion 31 protruding upward from the base plate portion 30, and the base plate portion 30. A second projection 32 projecting upward from the base plate 30, a pin 33 projecting upward from the base plate 30, a first permanent magnet 34 embedded in the first projection 31, and the second projection 32 The second permanent magnet 35 is embedded.

なお、1個の第1突起部31、一対の第2突起部32、一対のピン33、1個の第1永久磁石34、および一対の第2永久磁石35と、1個の第2治具4とによって、1個の半導体装置を保持するようになっている。そして、第1治具3は、第1突起部31等を多数備えており、1個の第1治具3と複数個の第2治具4とによって、複数個の半導体装置を保持可能になっている。   In addition, one 1st projection part 31, a pair of 2nd projection part 32, a pair of pin 33, one 1st permanent magnet 34, a pair of 2nd permanent magnet 35, and one 2nd jig | tool 4, one semiconductor device is held. The first jig 3 includes a number of first protrusions 31 and the like, and a plurality of semiconductor devices can be held by one first jig 3 and a plurality of second jigs 4. It has become.

一対の第2突起部32は、ベース板部幅方向(図3(a)の紙面左右方向)に離れた位置で、ベース板部長手方向(図3(a)の紙面上下方向)に沿って平行に延びている。第1突起部31は、一対の第2突起部32間に配置されている。   The pair of second protrusions 32 is located in the base plate portion width direction (left and right direction in FIG. 3A) and along the base plate portion longitudinal direction (up and down direction in FIG. 3A). It extends in parallel. The first protrusion 31 is disposed between the pair of second protrusions 32.

一方のピン33は、一方の第2突起部32に近接して配置され、他方のピン33は、他方の第2突起部32に近接して配置されている。より詳細には、一対のピン33は、第1突起部31を挟んで略対角線上に配置されている。   One pin 33 is disposed close to one second protrusion 32, and the other pin 33 is disposed close to the other second protrusion 32. More specifically, the pair of pins 33 are arranged substantially diagonally with the first protrusion 31 interposed therebetween.

ベース板部30には、第1突起部31における平面視中央部に相当する位置に、ベース板部30の下面側から第1磁石挿入孔300が形成され、第2突起部32におけるベース板部長手方向中央部に相当する位置に、ベース板部30の下面側から第2磁石挿入孔301が形成されている。   In the base plate portion 30, a first magnet insertion hole 300 is formed from the lower surface side of the base plate portion 30 at a position corresponding to the central portion in plan view of the first protrusion portion 31, and the length of the base plate portion in the second protrusion portion 32. A second magnet insertion hole 301 is formed from the lower surface side of the base plate portion 30 at a position corresponding to the center portion in the hand direction.

第1磁石挿入孔300に第1永久磁石34が埋設され、第1磁石挿入孔300の開口側に圧入されたプラグ(図示せず)により、第1永久磁石34が所定位置に保持されている。また、第2磁石挿入孔301に第2永久磁石35が埋設され、第2磁石挿入孔301の開口側に圧入されたプラグ(図示せず)により、第2永久磁石35が所定位置に保持されている。   The first permanent magnet 34 is embedded in the first magnet insertion hole 300, and the first permanent magnet 34 is held at a predetermined position by a plug (not shown) press-fitted into the opening side of the first magnet insertion hole 300. . The second permanent magnet 35 is embedded in the second magnet insertion hole 301, and the second permanent magnet 35 is held at a predetermined position by a plug (not shown) press-fitted into the opening side of the second magnet insertion hole 301. ing.

第1永久磁石34および第2永久磁石35は、サマコバ磁石を用いることができる。サマコバ磁石は、主にサマリウム(Sm)とコバルト(Co)で構成された焼結製品で、防錆処理なしでも耐食性が高く、温度特性も優れた高温に強い希土類磁石である。ただし、サマコバ磁石は、機械的な強度が低いため、欠けや割れが発生しやすい。そこで、本実施形態では、第1永久磁石34および第2永久磁石35を第1治具3内に埋め込むことにより、欠けや割れの発生を防止するようにしている。   The first permanent magnet 34 and the second permanent magnet 35 may be sumaboko magnets. The samakoba magnet is a sintered product mainly composed of samarium (Sm) and cobalt (Co), and is a rare earth magnet that is resistant to high temperatures and has high corrosion resistance and excellent temperature characteristics even without rust prevention treatment. However, the Samakoba magnet has a low mechanical strength, and is likely to be chipped or cracked. Therefore, in this embodiment, the first permanent magnet 34 and the second permanent magnet 35 are embedded in the first jig 3 to prevent the occurrence of chipping or cracking.

半導体装置の組み付け工程の際には、第1突起部31の上面310(以下、第1基準面310という)にセンサ部1が載せられ(図5参照)、第1基準面310によってセンサ部1の天地方向位置が決められる。   In the process of assembling the semiconductor device, the sensor unit 1 is placed on the upper surface 310 (hereinafter referred to as a first reference surface 310) of the first protrusion 31 (see FIG. 5), and the sensor unit 1 is formed by the first reference surface 310. The top and bottom direction position is determined.

また、半導体装置の組み付け工程の際には、ベース板部30の上面のうち一対の第2突起部32間で且つ第1突起部31を除く領域302(以下、第2基準面302という)に、リードフレーム体2が載せられ(図5参照)、第2基準面302によってリードフレーム体2の天地方向位置が決められる。   Further, in the process of assembling the semiconductor device, a region 302 (hereinafter referred to as a second reference surface 302) excluding the first protrusion 31 between the pair of second protrusions 32 on the upper surface of the base plate 30. The lead frame body 2 is placed (see FIG. 5), and the position of the lead frame body 2 in the vertical direction is determined by the second reference surface 302.

図4に示すように、第2治具4は、鉄等の磁性体金属よりなる矩形の板部材であり、リードフレーム体2を第1治具3との間に挟持するために用いられる(図5参照)。この第2治具4には、平面視中央部に矩形の第2治具部開口部40が形成されている。また、第2治具4には、第1治具3のピン33が挿入される第2治具部ピン挿入孔41が2個形成されている。これらの第2治具部ピン挿入孔41は、第2治具部開口部40を挟んで略対角線上に配置されている。   As shown in FIG. 4, the second jig 4 is a rectangular plate member made of a magnetic metal such as iron, and is used to hold the lead frame body 2 between the first jig 3 ( (See FIG. 5). In the second jig 4, a rectangular second jig portion opening 40 is formed in the central portion in plan view. The second jig 4 has two second jig portion pin insertion holes 41 into which the pins 33 of the first jig 3 are inserted. These second jig part pin insertion holes 41 are arranged substantially diagonally with the second jig part opening 40 interposed therebetween.

次に、本実施形態に係る組み付け装置による半導体装置の組み付け工程について説明する。   Next, a semiconductor device assembling process by the assembling apparatus according to the present embodiment will be described.

まず、リード部ピン挿入孔200に第1治具3のピン33を挿入しつつ、また、リードケース孔211に第1突起部31を挿入しつつ、第1治具3にリードフレーム体2を組み付ける。これにより、リードケース21の底部が第1治具3の第2基準面302に当接し、第2基準面302によってリードフレーム体2の天地方向位置が決められる。また、第1治具3のピン33がリード部ピン挿入孔200に挿入されることにより、第1治具3とリードフレーム体2の水平方向の相対位置が決められる。   First, the lead frame body 2 is inserted into the first jig 3 while the pin 33 of the first jig 3 is inserted into the lead part pin insertion hole 200 and the first protrusion 31 is inserted into the lead case hole 211. Assemble. As a result, the bottom portion of the lead case 21 contacts the second reference surface 302 of the first jig 3, and the top and bottom position of the lead frame body 2 is determined by the second reference surface 302. Further, by inserting the pin 33 of the first jig 3 into the lead portion pin insertion hole 200, the relative position in the horizontal direction between the first jig 3 and the lead frame body 2 is determined.

続いて、第2治具部ピン挿入孔41に第1治具3のピン33を挿入しつつ、また、第2治具部開口部40にリードケース21を挿入しつつ、第2治具4を第1治具3に組み付ける。これにより、第1治具3の第2突起部32と第2治具4との間にリードフレーム20が挟持される。そして、第2永久磁石35にて第2治具4が吸引されることにより、第2治具4を介してリードフレーム体2が第2基準面302側に付勢され、リードケース21の底部が第1治具3の第2基準面302に押し付けられる。   Subsequently, the second jig 4 is inserted while the pin 33 of the first jig 3 is inserted into the second jig part pin insertion hole 41 and the lead case 21 is inserted into the second jig part opening 40. Is assembled to the first jig 3. As a result, the lead frame 20 is sandwiched between the second protrusion 32 of the first jig 3 and the second jig 4. Then, when the second jig 4 is attracted by the second permanent magnet 35, the lead frame body 2 is biased toward the second reference surface 302 via the second jig 4, and the bottom portion of the lead case 21. Is pressed against the second reference surface 302 of the first jig 3.

続いて、リードケース21の接着剤塗布部213に、接着剤5を所定量塗布する。ここで、リードケース溝212は、接着剤5が接着剤塗布部213の外に拡がることを防止する。なお、接着剤5は、熱硬化性樹脂、より詳細にはシリコン系の樹脂を用いることができる。   Subsequently, a predetermined amount of the adhesive 5 is applied to the adhesive application portion 213 of the lead case 21. Here, the lead case groove 212 prevents the adhesive 5 from spreading outside the adhesive application portion 213. The adhesive 5 can be a thermosetting resin, more specifically, a silicon-based resin.

続いて、第2センサケース11を下方にした状態でリードケース21内にセンサ部1を挿入して、第1治具3の第1基準面310にセンサ部1を載せる。より詳細には、負圧が供給されるノズル(図示せず)によりセンサ部1を吸引して保持し、リードフレーム体2に対するセンサ部1の水平方向の相対位置を画像処理装置により確認しつつセンサ部1の位置を制御してリードケース21内にセンサ部1を挿入し、第1基準面310にセンサ部1を載せた後にノズルへの負圧供給を停止してノズルからセンサ部1を分離し、ノズルを退避させる。これにより、センサ部1が第1永久磁石34に吸引されて、第2センサケース11の底部が第1基準面310に当接し、第1基準面310によってセンサ部1の天地方向位置が決められる。   Subsequently, the sensor unit 1 is inserted into the lead case 21 with the second sensor case 11 facing downward, and the sensor unit 1 is placed on the first reference surface 310 of the first jig 3. More specifically, the sensor unit 1 is sucked and held by a nozzle (not shown) to which negative pressure is supplied, and the horizontal relative position of the sensor unit 1 with respect to the lead frame body 2 is confirmed by the image processing apparatus. The sensor unit 1 is inserted into the lead case 21 by controlling the position of the sensor unit 1, and after the sensor unit 1 is placed on the first reference surface 310, the negative pressure supply to the nozzle is stopped and the sensor unit 1 is moved from the nozzle. Separate and retract the nozzle. Thereby, the sensor unit 1 is attracted by the first permanent magnet 34, the bottom portion of the second sensor case 11 abuts on the first reference surface 310, and the top-and-bottom position of the sensor unit 1 is determined by the first reference surface 310. .

ここで、第1基準面310にセンサ部1を載せ、且つ第2基準面302にリードフレーム体2を載せた状態では、第2センサケース11とリードケース21の接着剤塗布部213との間にギャップが形成されるようになっている。また、接着剤5は、第2センサケース11に密着するとともに、リードケース溝212の外側まではみ出さないように、その塗布量が設定されている。   Here, in a state where the sensor unit 1 is placed on the first reference surface 310 and the lead frame body 2 is placed on the second reference surface 302, the gap between the second sensor case 11 and the adhesive application portion 213 of the lead case 21. A gap is formed in the gap. Further, the amount of application of the adhesive 5 is set so that it adheres to the second sensor case 11 and does not protrude outside the lead case groove 212.

そして、ギャップの寸法は、センサ部1およびリードフレーム体2の天地方向位置によって決まるが、本実施形態では、第1基準面310によってセンサ部1の天地方向位置が決められ、第2基準面302によってリードフレーム体2の天地方向位置が決められるため、そのギャップ寸法が高精度に管理される。   The dimension of the gap is determined by the vertical position of the sensor unit 1 and the lead frame body 2. In this embodiment, the vertical position of the sensor unit 1 is determined by the first reference surface 310, and the second reference surface 302 is determined. Since the position of the lead frame body 2 in the vertical direction is determined, the gap dimension is managed with high accuracy.

続いて、センサ部1およびリードフレーム体2を第1治具3および第2治具4にて保持したまま加熱装置(図示せず)に搬送し、接着剤5を加熱して硬化させ、接着剤5にてセンサ部1とリードフレーム体2を接合する。   Subsequently, the sensor unit 1 and the lead frame body 2 are conveyed to a heating device (not shown) while being held by the first jig 3 and the second jig 4, and the adhesive 5 is heated to be cured and bonded. The sensor unit 1 and the lead frame body 2 are joined with the agent 5.

以上述べたように、本実施形態では、第1基準面310によってセンサ部1の天地方向位置が決められ、第2基準面302によってリードフレーム体2の天地方向位置が決められるため、そのギャップ寸法が高精度に管理され、ひいては接着材5の厚みが高精度に管理される。したがって、接着剤5に所定のダンパー特性を与えることができる。   As described above, in this embodiment, the vertical direction position of the sensor unit 1 is determined by the first reference surface 310, and the vertical position of the lead frame body 2 is determined by the second reference surface 302. Is managed with high accuracy, and as a result, the thickness of the adhesive 5 is managed with high accuracy. Therefore, a predetermined damper characteristic can be given to the adhesive 5.

また、第1永久磁石34および第2永久磁石35の磁力によりセンサ部1やリードフレーム体2を保持するため、換言すると、従来装置のような定盤や電磁石を備えていないため、治具を簡素にすることができる。   In addition, since the sensor unit 1 and the lead frame body 2 are held by the magnetic force of the first permanent magnet 34 and the second permanent magnet 35, in other words, since there is no surface plate or electromagnet as in the conventional device, a jig is used. It can be simplified.

さらに、定盤を駆動する機構や電磁石のハーネス等が不要であるため、治具にてセンサ部1やリードフレーム体2を保持したままそれらを製造ライン間で移動させることが可能である。   Furthermore, since a mechanism for driving the surface plate, an electromagnet harness, and the like are not required, the sensor unit 1 and the lead frame body 2 can be moved between the production lines while being held by the jig.

さらにまた、第1治具3のピン33とリード部ピン挿入孔200とによって1治具3とリードフレーム体2の水平方向の相対位置を決めるようにしているため、第1治具3とリードフレーム体2の水平方向の相対位置決めを、簡単な構成で精度よく行うことができる。   Furthermore, since the relative position of the first jig 3 and the lead frame body 2 in the horizontal direction is determined by the pin 33 of the first jig 3 and the lead portion pin insertion hole 200, the first jig 3 and the lead Relative positioning of the frame body 2 in the horizontal direction can be performed with a simple configuration with high accuracy.

1 センサ部
2 リードフレーム体
3 第1治具
4 第2治具
5 接着剤
10 第1センサケース
11 第2センサケース
12 センサチップ
20 リードフレーム
34 第1永久磁石
35 第2永久磁石
310 第1基準面
302 第2基準面
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Sensor part 2 Lead frame body 3 1st jig | tool 4 2nd jig | tool 5 Adhesive 10 1st sensor case 11 2nd sensor case 12 Sensor chip 20 Lead frame 34 1st permanent magnet 35 2nd permanent magnet 310 1st reference | standard Surface 302 Second reference surface

Claims (4)

少なくとも一部が磁性体よりなるセンサケース(10、11)内に加速度検出用のセンサチップ(12)が収容されたセンサ部(1)と非磁性体よりなるリードフレーム(20)の一部が樹脂にて覆われたリードフレーム体(2)との間にギャップが形成され、前記ギャップに配置された接着剤(5)にて前記センサ部と前記リードフレーム体が接合される半導体装置組み付け装置であって、
前記センサ部を載せて前記センサ部の天地方向位置を決める第1基準面(310)および前記リードフレーム体を載せて前記リードフレーム体の天地方向位置を決める第2基準面(302)を有するとともに第1永久磁石(34)および第2永久磁石(35)が埋設された第1治具(3)と、
前記リードフレーム体を前記第1治具との間に挟持する磁性体製の第2治具(4)とを備え、
前記第1永久磁石により前記センサ部が前記第1基準面側に吸引され、
前記第2永久磁石により前記第2治具が吸引されることにより前記第2治具を介して前記リードフレーム体が前記第2基準面側に付勢されることを特徴とする半導体装置組み付け装置。
A sensor part (1) in which a sensor chip (12) for acceleration detection is accommodated in a sensor case (10, 11) at least partially made of a magnetic material and a part of a lead frame (20) made of a non-magnetic material. A semiconductor device assembling apparatus in which a gap is formed between the lead frame body (2) covered with resin, and the sensor section and the lead frame body are joined by the adhesive (5) disposed in the gap. Because
The first reference surface (310) for determining the vertical position of the sensor unit by mounting the sensor unit and the second reference surface (302) for determining the vertical position of the lead frame body by mounting the lead frame body. A first jig (3) in which a first permanent magnet (34) and a second permanent magnet (35) are embedded;
A second jig (4) made of a magnetic material for sandwiching the lead frame body with the first jig;
The sensor part is attracted to the first reference plane side by the first permanent magnet,
The semiconductor device assembling apparatus, wherein the second permanent magnet attracts the second jig to bias the lead frame body toward the second reference surface via the second jig. .
前記接着剤は熱硬化性樹脂であることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置組み付け装置。   The semiconductor device assembling apparatus according to claim 1, wherein the adhesive is a thermosetting resin. 前記第1治具に形成されたピン(33)が、前記リードフレーム体に形成されたピン挿入穴(200)に挿入されて、前記第1治具と前記リードフレーム体の水平方向の相対位置が決められる構成であることを特徴とする請求項1または2に記載の半導体装置組み付け装置。   A pin (33) formed on the first jig is inserted into a pin insertion hole (200) formed on the lead frame body, and the horizontal relative position of the first jig and the lead frame body is determined. The semiconductor device assembling apparatus according to claim 1, wherein the structure is determined. 少なくとも一部が磁性体よりなるセンサケース(10、11)内に加速度検出用のセンサチップ(12)が収容されたセンサ部(1)と非磁性体よりなるリードフレーム(20)の一部が樹脂にて覆われたリードフレーム体(2)との間にギャップが形成され、前記ギャップに配置された接着剤(5)にて前記センサ部と前記リードフレーム体が接合される半導体装置組み付け方法であって、
前記センサ部を載せて前記センサ部の天地方向位置を決める第1基準面(310)および前記リードフレーム体を載せて前記リードフレーム体の天地方向位置を決める第2基準面(302)を有するとともに第1永久磁石(34)および第2永久磁石(35)が埋設された第1治具(3)と、
前記リードフレーム体を前記第1治具との間に挟持する磁性体製の第2治具(4)とを用意し、
前記センサ部および前記リードフレーム体の少なくとも一方に前記接着剤を塗布し、
前記第1永久磁石により前記センサ部を前記第1基準面側に吸引するとともに、前記第2永久磁石により第2治具を吸引することにより前記第2治具を介して前記リードフレーム体を前記第2基準面側に付勢した状態で、前記センサ部と前記リードフレーム体とを前記接着剤にて接合することを特徴とする半導体装置組み付け方法。
A sensor part (1) in which a sensor chip (12) for acceleration detection is accommodated in a sensor case (10, 11) at least partially made of a magnetic material and a part of a lead frame (20) made of a non-magnetic material. A semiconductor device assembling method in which a gap is formed between the lead frame body (2) covered with a resin, and the sensor portion and the lead frame body are joined by an adhesive (5) disposed in the gap. Because
The first reference surface (310) for determining the vertical position of the sensor unit by mounting the sensor unit and the second reference surface (302) for determining the vertical position of the lead frame body by mounting the lead frame body. A first jig (3) in which a first permanent magnet (34) and a second permanent magnet (35) are embedded;
Preparing a second jig (4) made of a magnetic material for sandwiching the lead frame body with the first jig;
Applying the adhesive to at least one of the sensor part and the lead frame body,
Sucks the sensor portion by the first permanent magnet to said first reference surface, the said lead frame body via the second jig by sucking second jig by said second permanent magnet A method of assembling a semiconductor device, wherein the sensor portion and the lead frame body are joined with the adhesive while being biased toward the second reference plane side.
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