JP5858699B2 - Imaging apparatus and control method thereof - Google Patents
Imaging apparatus and control method thereof Download PDFInfo
- Publication number
- JP5858699B2 JP5858699B2 JP2011203186A JP2011203186A JP5858699B2 JP 5858699 B2 JP5858699 B2 JP 5858699B2 JP 2011203186 A JP2011203186 A JP 2011203186A JP 2011203186 A JP2011203186 A JP 2011203186A JP 5858699 B2 JP5858699 B2 JP 5858699B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- photometric
- control
- setting
- photometry
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 8
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 claims description 36
- 238000005375 photometry Methods 0.000 claims description 21
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 26
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 17
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- CNQCVBJFEGMYDW-UHFFFAOYSA-N lawrencium atom Chemical compound [Lr] CNQCVBJFEGMYDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Exposure Control For Cameras (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Studio Devices (AREA)
Description
本発明は、スミアが発生する撮像素子を測光センサに用いる撮像装置に関するものである。 The present invention relates to an imaging apparatus that uses an imaging element in which smear is generated as a photometric sensor.
従来から、CCDやCMOS等のリニアセンサを測光センサに用いる撮像装置が知られている。例えば、特許文献1では、メイン撮像素子とサブ撮像素子を有し、サブ撮像素子の出力信号を用いて測光制御を行うデジタルスチルカメラが提案されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, an imaging apparatus using a linear sensor such as a CCD or CMOS as a photometric sensor is known. For example,
しかしながら、測光センサとしてCCDを使用する場合、高輝度の被写体を測光しようとするとスミアが発生してしまい、スミアの影響で正しい測光値が得られなくなってしまう。図10は、スミアの影響により理想の測光値と実際の測光値との間に生じる差を説明するための図である。理想の測光値とは、本来得られると想定される測光値のことを指す。 However, when a CCD is used as a photometric sensor, smearing occurs when attempting to meter a high-luminance subject, and a correct photometric value cannot be obtained due to smearing. FIG. 10 is a diagram for explaining a difference generated between an ideal photometric value and an actual photometric value due to the effect of smear. An ideal photometric value refers to a photometric value that is supposed to be originally obtained.
図10に示すように、外光の明るさを示す外光BV値がBV9付近までは、スミアの影響がほとんどなく理想の測光値と実際の測光値が一致している。一方、BV10付近からはスミアの影響が出始めて実際の測光値は理想の測光値よりも大きくなり、徐々に理想の測光値と実際の測光値との間に差が大きくなる。 As shown in FIG. 10, until the ambient light BV value indicating the brightness of ambient light is close to BV9, there is almost no smear effect, and the ideal and actual photometric values match. On the other hand, from the vicinity of BV10, the effect of smear begins to appear and the actual photometric value becomes larger than the ideal photometric value, and the difference gradually increases between the ideal photometric value and the actual photometric value.
そのため、理想の測光値よりも大きい実際の測光値に基づいて露出制御を行う場合、外光の明るさを明るめに見積もることになり、結果として露出アンダーになってしまう。 Therefore, when exposure control is performed based on an actual photometric value that is larger than the ideal photometric value, the brightness of the external light is estimated brightly, resulting in underexposure.
そこで、本発明は、測光センサにスミアが発生する状況において、スミアの影響を軽減した露出制御を行うことができるようにすることを目的とする。 Accordingly, an object of the present invention is to enable exposure control with reduced influence of smear in a situation where smear occurs in a photometric sensor.
上記の目的を達成するために、本発明に係わる撮像装置は、被写体像を光電変換して電荷の蓄積を行い蓄積した電荷に応じた信号を出力する測光手段と、前記測光手段により出力される信号の値が目標値となるように前記測光手段を制御するための制御値を設定する設定手段と、前記測光手段により出力される信号に基づいて測光値を算出する算出手段と、前記算出手段により算出された測光値に基づいて露出制御を行う露出制御手段と、を有し、前記設定手段は、前記制御値が前記測光値にスミアの影響が出ない所定範囲を超える場合、前記目標値を大きくすることを特徴とする。 In order to achieve the above object, an imaging apparatus according to the present invention photoelectrically converts an object image, accumulates charges, outputs a signal corresponding to the accumulated charges, and outputs the signals according to the metering means. A setting means for setting a control value for controlling the photometry means so that a signal value becomes a target value; a calculation means for calculating a photometric value based on a signal output from the photometry means; and the calculation means Exposure control means for performing exposure control based on the photometric value calculated by the step, wherein the setting means, when the control value exceeds a predetermined range where smear does not affect the photometric value, the target value It is characterized by increasing.
本発明によれば、測光センサにスミアが発生する状況において、スミアの影響を軽減した露出制御を行うことができる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the exposure control which reduced the influence of a smear can be performed in the condition where a smear generate | occur | produces in a photometry sensor.
以下に、本発明の好ましい実施の形態を、添付の図面に基づいて詳細に説明する。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
図1は、本発明の実施形態に係わる撮像装置であるカメラの構成を示す図である。本実施形態におけるカメラは、カメラ本体100とレンズ200とを有しているが、カメラ本体100とレンズ200とが一体化したカメラであっても構わない。
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration of a camera that is an imaging apparatus according to an embodiment of the present invention. The camera in the present embodiment includes the
カメラ本体100とレンズ200の内部構成について説明する。
The internal structure of the
マイクロコンピュータCPU(以下、カメラマイコン)101は、カメラ本体100の各部を制御するCPUであり、メモリ102は、カメラマイコン101に接続されているRAMやROM等のメモリである。
A microcomputer CPU (hereinafter referred to as camera microcomputer) 101 is a CPU that controls each part of the
赤外カットフィルタやローパスフィルタ等を含むCCD、CMOS等の撮像素子103は、レンズ200によって撮影時に被写体の像が結像される。シャッター104は、非撮影時には撮像素子103を遮光し、撮影時には開いて撮像素子103へ光線を導く。ハーフミラー105は、非撮影時にレンズ200より入射する光の一部を反射しピント板106に結像させる。PN液晶等の表示素子107は、AF測距枠を表示するためのものであり、光学ファインダーを覗いたときにどの位置で焦点調節を行っているかをユーザーに示す。
An
測光センサ(以下、AEセンサとも呼ぶ)108は、CCDを用いており、被写体像を光電変換して電荷の蓄積を行い蓄積した電荷に応じた信号を出力する。なお、AEセンサ108はCCDを用いているため、高輝度の被写体を測光するとスミアが発生する。
A photometric sensor (hereinafter also referred to as an AE sensor) 108 uses a CCD, photoelectrically converts a subject image, accumulates charges, and outputs a signal corresponding to the accumulated charges. Since the
ペンタプリズム109は、ピント板106の被写体像をAEセンサ108及び光学ファインダーに導く。AEセンサ108はペンタプリズム109を介してピント板106に結像された被写体像を斜めの位置から見込んでいる。
The
AFセンサ110は、自動焦点調節(AF)に用いられ、レンズ200より入射し、ハーフミラー105を通過した光線がAFミラー111で反射されて導かれる。
The
AEセンサ108の画像処理・演算用のCPU(以下AECPUと呼ぶ)112は、AEセンサ108から出力される信号に基づいて測光演算やAEセンサ108の制御値補正処理等を行う。
メモリ113は、AECPU112に接続されているRAMやROM等のメモリである。
An image processing / calculation CPU (hereinafter referred to as AECPU) 112 of the
The
本実施形態では、AEセンサ専用のCPUとしてAECPU112を有する構成を説明するが、AECPU112で行う処理をカメラマイコン101で行う構成であっても構わない。
In the present embodiment, a configuration having the AECPU 112 as a CPU dedicated to the AE sensor will be described. However, the
その他、カメラ本体100は、不図示の操作部を有していて、操作部におけるレリーズスイッチをユーザーに操作されることで撮影準備動作や撮影動作を開始させる。
In addition, the
レンズ内のCPU(以下LCPUと呼ぶ)201は、被写体との距離情報や焦点距離情報等を含むレンズ情報をカメラマイコン101に送る。また、LCPU201は、カメラマイコン101から測距演算の結果や測光演算の結果を受け取り、レンズや絞りを駆動させる。
A CPU (hereinafter referred to as LCPU) 201 in the lens sends lens information including distance information to the subject, focal length information, and the like to the
次に、図2を用いて、AEセンサ108にスミアが発生する場合に測光値に対するスミアの影響を軽減させるためのAEセンサ108の制御値補正処理について説明する。
Next, a control value correction process of the
不図示の操作部に含まれる電源スイッチが操作されてカメラの電源が投入されると、ステップS101で、AEセンサ108は初回の測光を行う。このとき、AECPU112はAEセンサ108の蓄積時間を所定の蓄積時間T0に設定し、AEセンサ108は、設定された蓄積時間T0で蓄積を行う。
When a power switch included in an operation unit (not shown) is operated and the camera is turned on, the
ステップS102では、AECPU112は、ステップS101あるいはステップS107で測光を行って得られたAEセンサ108の出力から測光値を算出する。
In step S102, the AECPU 112 calculates a photometric value from the output of the
測光値は、図3のように測光センサの有効画素領域を複数の測光領域に分割して、まず各測光領域の測光値を算出し、その後、各測光領域の測光値に基づいて最終測光値を決定する。例えば、各測光領域の測光値に対してそれぞれ重みづけをした加重平均を行って最終測光値を決定したり、所定の測光領域の測光値を平均して最終測光値を決定したりする。 The photometric value is obtained by dividing the effective pixel area of the photometric sensor into a plurality of photometric areas as shown in FIG. 3, first calculating the photometric value of each photometric area, and then, based on the photometric value of each photometric area, the final photometric value To decide. For example, the final photometric value is determined by performing a weighted average obtained by weighting the photometric value of each photometric region, or the final photometric value is determined by averaging the photometric value of a predetermined photometric region.
各測光領域の測光値BVijは以下の式1で算出できる。
BVij=Yij+LensYij−P (式1)
(ijは測光領域の位置を表すパラメータ、i=0〜9、j=0〜6)
式1において、Yijは各測光領域のセンサ出力、LensYijはレンズ200の周辺光量落ちを補正する補正値、PはAEセンサ108の制御値であり、本実施形態では説明を簡単にするためP=T(蓄積時間)とする。なお、AEセンサ108の制御値は、蓄積時間の他に画素加算数やゲイン等の要素が考えられる。
The photometric value BVij of each photometric area can be calculated by the following
BVij = Yij + LensYij-P (Formula 1)
(Ij is a parameter indicating the position of the photometric area, i = 0 to 9, j = 0 to 6)
In
ここで、式1の蓄積時間T(APEX値)と実際の蓄積時間t(ms)とは、例えば図4のように設定する。また、センサ出力Yij(APEX値)と実際のセンサ出力yij(count)とは、例えばAEセンサ108が14bit出力のセンサだと仮定して図5のように設定する。さらに、レンズ200の周辺光量落ちを補正する補正値LensYijの一例を図6に示す。LensYijはレンズの種類毎に異なる値となる。このレンズの補正値は、LCPU201とカメラマイコン101との通信により装着されているレンズの種類を判定して、予めメモリ102に記憶されているデータから適切なデータを選択すればよい。
Here, the accumulation time T (APEX value) in
以上のような式1から得られた各測光領域のBVijから最終測光値BVを求められる。
The final photometric value BV can be obtained from BVij of each photometric area obtained from
図7は、式1で得られた測光値BV(APEX値)と実際のbv値との関係の一例を示す図である。この測光値BV(APEX値)と実際のbv値との関係はAEセンサ108の感度やカメラの測光光学系等によって変わる。
FIG. 7 is a diagram showing an example of the relationship between the photometric value BV (APEX value) obtained by
最終測光値BVは、測光モード(評価測光、中央重点平均測光、スポット測光等)に従ってそれぞれ重みづけをして加重平均を行って求めればよいが、一例として全測光領域の測光値を単純平均とすると、平均値である最終測光値BVは以下の式2で求められる。
BV=ΣBVij/70 (式2)
続いて、ステップS103で、AECPU112は次回の測光を行う際のAEセンサ108の制御値Tnextを算出する。
The final metering value BV may be obtained by weighting according to each metering mode (evaluation metering, center-weighted average metering, spot metering, etc.) and performing a weighted average. Then, the final photometric value BV, which is an average value, is obtained by the following
BV = ΣBVij / 70 (Formula 2)
Subsequently, in step S103, the
蓄積時間Tnextを算出する際に、AECPU112はまずセンサ出力と狙い値(目標値)とのずれΔBVを求める。被写界の輝度が安定しており、十分な時間が経っていれば(被写界の輝度が安定した状態で測光を十分な回数行っていれば)センサ出力と狙い値とのずれΔBVは0となる。
When calculating the accumulation time Tnext, the
AECPU112は、AEセンサ108の出力が狙い値になるように、各測光における制御値(本実施形態では、蓄積時間)を設定する。通常時においては、狙い値Ytは上下に十分なダイナミックレンジを有する値の近傍とするのがよく、図5においてはYij=78(yij=1000)の近傍にするのが好ましい。
The
ここで、ΔBVは以下の式3により求められる。
ΔBV=ΣYij/70−Yt (式3)
式3で求めたΔBVと今回の蓄積時間Tから次回の蓄積時間Tnextは以下の式4で求めることができる。
Tnext=T−ΔBV (式4)
ステップS104では、AECPU112は、ステップS103により得られた次回制御値(次回蓄積時間Tnext)と、制御値補正をかけるか否かの判断に用いる閾値との比較を行う。ここでは、次回の制御値と閾値との比較を行う場合を説明するが、今回の制御値と閾値とを比較してもよい。また、2回以上の測光を行った状態であれば、今回よりもさらに前に制御値と閾値との比較を行っても構わない。測光値にスミアの影響が出始める制御値について予めデータを取って置き、そのデータに基づいて決定している。
Here, ΔBV is obtained by the following
ΔBV = ΣYij / 70−Yt (Formula 3)
The next accumulation time Tnext can be obtained from the
Tnext = T−ΔBV (Formula 4)
In step S104, the
スミアの影響が測光値に出始める蓄積時間を判定する方法としては、例えば、輝度箱等の均一輝度面のBV値を変えながら測光値と蓄積時間のデータを取り、理想測光値と実測測光値がずれ始める蓄積時間がスミアの影響が出始める蓄積時間と判断できる。ここでは、均一輝度面のBV値が理想測光値に相当する。 As a method of determining the accumulation time at which the smear influence starts to appear in the photometric value, for example, taking the photometric value and accumulation time data while changing the BV value of a uniform luminance surface such as a luminance box, the ideal photometric value and the actual photometric value It can be determined that the accumulation time at which the offset starts to shift is the accumulation time at which the effect of smear begins to appear. Here, the BV value on the uniform luminance surface corresponds to the ideal photometric value.
図8は、蓄積時間Tとスミア量s(count)とセンサ出力yとその時のBV値の関係の一例を示している。なお、BV値は、図6に示した補正値をもつレンズ装着時の値である。また、BV値に関しては、実際の測光値(BV値)と理想的な測光値(外光のBV値)とを示している。 FIG. 8 shows an example of the relationship between the accumulation time T, the smear amount s (count), the sensor output y, and the BV value at that time. The BV value is a value when the lens having the correction value shown in FIG. 6 is attached. Further, regarding the BV value, an actual photometric value (BV value) and an ideal photometric value (external light BV value) are shown.
図8から、スミアの影響が測光値に出始める蓄積時間は、実際の測光値(BV値)と理想的な測光値(外光のBV値)がずれ始めるT=13のときと考えることができる。 From FIG. 8, it can be considered that the accumulation time at which the smear effect starts to appear in the photometric value is T = 13 when the actual photometric value (BV value) and the ideal photometric value (external light BV value) start to shift. it can.
図8に示したデータから制御値補正をかけ始める蓄積時間、すなわち、ステップS104での比較に用いる閾値を、例えば、T=13のときに十分な補正ができるTs=32とする。 The accumulation time for starting the control value correction from the data shown in FIG. 8, that is, the threshold used for the comparison in step S104 is, for example, Ts = 32 that can be corrected sufficiently when T = 13.
以上のように、蓄積時間Tが小さいほどスミアの影響が大きくなるため、次回蓄積時間Tnextが、閾値Tsより小さい場合、ステップS105へ移行し、閾値Ts以上だった場合、S107に移行する。 As described above, the smaller the accumulation time T, the greater the effect of smear. Therefore, when the next accumulation time Tnext is smaller than the threshold value Ts, the process proceeds to step S105, and when it is greater than or equal to the threshold value Ts, the process proceeds to S107.
ステップS105で、AECPU112は、スミアの影響を抑えるための制御補正値を算出する。制御補正値Δsmearの計算は、例えば以下の式5で算出できる。
Δsmear =(Ts−T)×A (式5)
式5において、Tsは制御値補正をかけ始める蓄積時間、Aはどの程度補正をかけるか決める係数であり、本実施形態では、Ts=32、A=1/2とする。なお、TsやAの値は適宜変更可能でこれに限ったものではない。
In step S105, the
Δsmear = (Ts−T) × A (Formula 5)
In
ステップS106では、AECPU112は、S105で算出した制御補正値を加味して、以下の式6にように次回制御値を補正する。
Tnext’= Tnext+Δsmear (式6)
図9は、制御値補正を行った場合のスミアの影響を示した図である。なお、BV値は、図6に示した補正値をもつレンズ装着時の値である。
In step S106, the
Tnext ′ = Tnext + Δsmear (Formula 6)
FIG. 9 is a diagram showing the effect of smear when control value correction is performed. The BV value is a value when the lens having the correction value shown in FIG. 6 is attached.
図9に示すように、制御補正値Δsmearによって蓄積時間を長くする、すなわち、センサの狙い値を高くする(目標値を大きくする)ことによって、センサ出力に対するスミアの影響は小さくなり、実際の測光値と理想的な測光値との間に生じる差が軽減される。例えば、Tnext=13の場合、制御値補正を行わなければ狙い値y=1000に対してスミア量s=97となるが、制御値補正を行うことで狙い値y=2181となり、制御値補正を行うことで狙い値に対するスミア量の相対比は小さくなる。 As shown in FIG. 9, by increasing the accumulation time by the control correction value Δsmear, that is, by increasing the target value of the sensor (increasing the target value), the effect of smear on the sensor output is reduced and actual photometry is performed. The difference between the value and the ideal photometric value is reduced. For example, in the case of Tnext = 13, if the control value is not corrected, the smear amount s = 97 with respect to the target value y = 1000. By doing so, the relative ratio of the smear amount to the target value becomes small.
また、スミアの影響が大きくなるほど制御補正値Δsmearが大きくなるようにしているので、スミアの影響が大きくなるほど制御補正値Δsmearが大きくセンサの狙い値は高くなる。 Further, since the control correction value Δsmear increases as the smear effect increases, the control correction value Δsmear increases and the sensor target value increases as the smear effect increases.
ステップS107では、AECPU112は、ステップS103あるいはステップS106で決定された次回制御値(次回蓄積時間Tnextあるいは次回蓄積時間Tnext’)を用いて測光を行う。その後、ステップS102に戻り、上記のステップS102〜S107を繰り返す。
In step S107, the
なお、制御値補正を行う場合は、補正前の蓄積時間Tnextと補正後の蓄積時間Tnext’の両方をメモリ113に記憶しておく。そして、次回のステップS102では、メモリ113に記憶しておいた蓄積時間Tnext’をPとして用いて測光値BVijを算出すればよい。また、次回のステップS104、S105では、メモリ113に記憶しておいた蓄積時間TnextをTとして用いて新たなTnext、Δsmearを算出すればよい。
When control value correction is performed, both the storage time Tnext before correction and the storage time Tnext ′ after correction are stored in the
撮影を行う場合には、撮影前に算出された測光値に基づいて、カメラマイコン101あるいはAECPU112により絞り値、シャッター速度、撮影感度等を演算して露出制御を行う。
When shooting, exposure control is performed by calculating the aperture value, shutter speed, shooting sensitivity, and the like by the
以上のように、高輝度時にAEセンサ108の平均出力の狙い値を通常時よりも高めに設定することでAEセンサ108の出力におけるスミアの影響を軽減でき、スミアの影響を軽減した露出制御を行うことができる。
As described above, by setting the target value of the average output of the
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。 As mentioned above, although preferable embodiment of this invention was described, this invention is not limited to these embodiment, A various deformation | transformation and change are possible within the range of the summary.
例えば、上記の実施形態では、AEセンサ108の制御値P=蓄積時間Tとしたが、蓄積時間以外に画素加算数やゲイン等の要素に基づいた値を制御値としても構わない。
For example, in the above-described embodiment, the control value P of the
また、制御値P=蓄積時間Tとすると蓄積時間Tが小さいほどスミアの影響が大きくなるため、制御値Pが閾値よりも小さいと制御値補正を行うようにしたが、制御値の定義によっては制御値が大きいほどスミアの影響が大きくなる場合も考えられる。そのような場合には、制御値が閾値以上だと制御値補正を行うようにすればよい。すなわち、制御値が所定範囲を超えなければ制御値補正をせずに、制御値が所定範囲を超える場合は狙い値が大きくなる(目標値が大きくなる)ように制御値補正を行うようにすればよい。また、制御値が所定範囲から大きく離れるほど狙い値を高くする(目標値を大きくする)ようにすればよい。 Further, if the control value P = accumulation time T, the smaller the accumulation time T, the greater the effect of smear. Therefore, the control value correction is performed when the control value P is smaller than the threshold value, but depending on the definition of the control value It can be considered that the larger the control value, the greater the effect of smear. In such a case, the control value correction may be performed when the control value is equal to or greater than the threshold value. That is, if the control value does not exceed the predetermined range, the control value is not corrected. If the control value exceeds the predetermined range, the target value is increased (the target value is increased). That's fine. The target value may be increased (the target value is increased) as the control value is far from the predetermined range.
100 カメラ
101 カメラマイコン
103 撮像素子
108 測光センサ
112 AECPU
DESCRIPTION OF
Claims (7)
前記測光手段により出力される信号の値が目標値となるように前記測光手段を制御するための制御値を設定する設定手段と、
前記測光手段により出力される信号に基づいて測光値を算出する算出手段と、
前記算出手段により算出された測光値に基づいて露出制御を行う露出制御手段と、を有し、
前記設定手段は、前記制御値が前記測光値にスミアの影響が出ない所定範囲を超える場合、前記目標値を大きくすることを特徴とする撮像装置。 Photometric means for photoelectrically converting a subject image to accumulate charges and outputting a signal corresponding to the accumulated charges;
Setting means for setting a control value for controlling the photometric means so that the value of the signal output by the photometric means becomes a target value;
Calculating means for calculating a photometric value based on a signal output by the photometric means;
Exposure control means for performing exposure control based on the photometric value calculated by the calculation means,
The setting device increases the target value when the control value exceeds a predetermined range where smear does not affect the photometric value .
当該算出された制御値が前記所定範囲を超える場合、前記目標値を大きくして前記測光手段により出力される信号の値が前記大きくした目標値となるように前記算出された制御値を補正することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。 The setting means calculates the control value based on the photometric value calculated by the calculation means,
When the calculated control value exceeds the predetermined range, the target value is increased and the calculated control value is corrected so that the value of the signal output from the photometry means becomes the increased target value. The imaging apparatus according to claim 1.
前記測光手段により出力される信号の値が目標値となるように前記測光手段を制御するための制御値を設定する設定ステップと、
前記測光手段により出力される信号に基づいて測光値を算出する算出ステップと、
前記算出ステップで算出された測光値に基づいて露出制御を行う露出制御ステップと、を有し、
前記設定ステップは、前記制御値が前記測光値にスミアの影響が出ない所定範囲を超える場合、前記目標値を大きくすることを特徴とする撮像装置の制御方法。 A method for controlling an imaging apparatus having photometric means for photoelectrically converting a subject image to accumulate charges and outputting a signal corresponding to the accumulated charges,
A setting step for setting a control value for controlling the photometric means so that the value of the signal output by the photometric means becomes a target value;
A calculation step of calculating a photometric value based on a signal output by the photometric means;
An exposure control step for performing exposure control based on the photometric value calculated in the calculation step,
The method of controlling an image pickup apparatus, wherein the setting step increases the target value when the control value exceeds a predetermined range where smear does not affect the photometric value .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011203186A JP5858699B2 (en) | 2011-09-16 | 2011-09-16 | Imaging apparatus and control method thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011203186A JP5858699B2 (en) | 2011-09-16 | 2011-09-16 | Imaging apparatus and control method thereof |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013066037A JP2013066037A (en) | 2013-04-11 |
JP5858699B2 true JP5858699B2 (en) | 2016-02-10 |
Family
ID=48189146
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011203186A Expired - Fee Related JP5858699B2 (en) | 2011-09-16 | 2011-09-16 | Imaging apparatus and control method thereof |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5858699B2 (en) |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11234573A (en) * | 1998-02-16 | 1999-08-27 | Fuji Photo Film Co Ltd | Photographing method for electronic camera |
JP2001346095A (en) * | 2000-06-02 | 2001-12-14 | Nec Corp | Digital still camera |
JP4393299B2 (en) * | 2004-07-27 | 2010-01-06 | キヤノン株式会社 | Image processing apparatus and control method thereof |
-
2011
- 2011-09-16 JP JP2011203186A patent/JP5858699B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013066037A (en) | 2013-04-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8779341B2 (en) | Imaging apparatus and exposure control method | |
US7688353B2 (en) | Image-taking apparatus and image-taking method | |
US8471935B2 (en) | Imaging apparatus having an image correction function and method for controlling the same | |
JP4357471B2 (en) | Image acquisition apparatus and program | |
US9307137B2 (en) | Imaging apparatus and imaging method which perform focus adjustment while performing live-view display | |
JP2007243774A (en) | Electronic blur correction apparatus | |
US9961269B2 (en) | Imaging device, imaging device body, and lens barrel that can prevent an image diaphragm value from frequently changing | |
US9456145B2 (en) | Apparatus for photographing that carries out a pre-flash photography | |
US8497919B2 (en) | Imaging apparatus and control method thereof for controlling a display of an image and an imaging condition | |
US20090290859A1 (en) | Image pickup device and method of correcting camera shake of the image pickup device | |
JP4816337B2 (en) | Image correction apparatus, camera, and image correction program | |
JP4793141B2 (en) | Image correction apparatus, camera, and image correction program | |
EP1667438A2 (en) | Imaging apparatus, imaging method and imaging processing program | |
JP5858699B2 (en) | Imaging apparatus and control method thereof | |
JP2013044938A (en) | Imaging apparatus and imaging method | |
JP4816363B2 (en) | Correction necessity determination device, camera, and correction necessity determination program | |
JP4813439B2 (en) | Imaging apparatus and control method thereof | |
JP4859194B2 (en) | IMAGING DEVICE, ITS CONTROL METHOD, PROGRAM, AND STORAGE MEDIUM | |
JP6573382B2 (en) | Imaging apparatus and photometric method | |
JP5888910B2 (en) | Imaging apparatus and control method thereof | |
JP5887759B2 (en) | Imaging apparatus and imaging method | |
JP2005024857A (en) | Digital single lens reflex camera | |
JP2009188879A (en) | Digital camera | |
JP2010130211A (en) | Imaging apparatus and method for calibrating shutter characteristics of the same | |
JP2006017854A (en) | Imaging apparatus and flash light emitting device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140916 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150609 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150728 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150928 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20151117 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20151215 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5858699 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |