JP5751163B2 - Pointer position detection device and pointer position detection program - Google Patents
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本件は、指示具位置検出装置及び指示具位置検出プログラムに関する。 The present case relates to an indicator position detection device and an indicator position detection program.
近年、プレゼンテーションや会議、学校教育等では、パソコン端末からの画像信号を大型のモニタに拡大表示し、ユーザによる指示具(ペン等)の操作に応じて、表示を変更する技術が導入されてきている。この場合、ユーザは、映し出される画像を指示具を用いて直接タッチすることで表示ソフトを実行することができ、また、指示具を用いてアイコン選択を行ったり、文字や図、絵等を描画したりすることができるようになっている。 In recent years, in presentations, meetings, school education, and the like, a technique has been introduced in which an image signal from a personal computer terminal is enlarged and displayed on a large monitor, and the display is changed in accordance with an operation of a pointing tool (such as a pen) by a user. Yes. In this case, the user can execute the display software by directly touching the projected image with the pointing tool, select an icon with the pointing tool, or draw characters, diagrams, pictures, etc. You can do that.
指示具の位置(絶対座標)を検出する方式として、赤外線の遮断を利用した検出方式が知られている(例えば、特許文献1、2等参照)。また、電子ペンにより受光した情報に基づき電子ペンの位置を検出する方法も知られている(例えば、特許文献3参照)。
As a method for detecting the position (absolute coordinates) of the pointing tool, a detection method using infrared blocking is known (see, for example,
モニタが大型である場合、指示具の位置を検出する方式として、上記赤外線の遮断を利用した検出方式が採用されることが多い。しかしながら、赤外線の遮断を利用した検出方式は、指示具が光を遮った位置を検出するため、ユーザの手や衣服の一部(袖等)が画面に触れた場合、遮光箇所が複数検出され、指示具の位置を正しく検出することができなくなるおそれがある。 When the monitor is large, a detection method using the infrared blocking is often used as a method for detecting the position of the pointing tool. However, since the detection method using infrared blocking detects the position where the pointing device blocks the light, when a part of the user's hand or clothes (sleeves, etc.) touches the screen, a plurality of light blocking portions are detected. There is a possibility that the position of the pointing tool cannot be detected correctly.
本件は、指示具の位置を精度よく検出することが可能な指示具位置検出装置及び指示具位置検出プログラムを提供することを目的とする。 The object of the present invention is to provide an indicator position detection device and an indicator position detection program capable of accurately detecting the position of an indicator.
本明細書に記載の指示具位置検出装置は、表示装置の表示面の第1方向一側から、第1波長の複数の光を前記第1方向に向けて照射するとともに、前記表示面の第1方向と交差する第2方向一側から、第1波長とは異なる第2波長の複数の光を前記第2方向に向けて照射する照射部と、前記表示面の前記第1方向他側で、前記第1波長の複数の光を受光するとともに、前記表示面の前記第2方向他側で、前記第2波長の複数の光を受光する受光部と、指示具に設けられ、前記第1波長の光と前記第2波長の光とを受光し、各光の受光強度を検出する受光強度検出部と、前記受光部の受光結果と、前記受光強度検出部の検出結果と、に基づいて、前記表示装置に対する前記指示具の位置を検出する位置検出部と、を備えている。 The pointing device position detection device described in the present specification irradiates a plurality of lights having a first wavelength in the first direction from one side in the first direction of the display surface of the display device, and An irradiation unit configured to irradiate a plurality of lights having a second wavelength different from the first wavelength toward the second direction from one side in the second direction intersecting with the one direction; and on the other side of the display surface in the first direction. A light receiving unit that receives the plurality of lights having the first wavelength and receives the plurality of lights having the second wavelength on the other side in the second direction of the display surface; and an indicator. Based on the light reception intensity detection unit that receives the light of the wavelength and the light of the second wavelength and detects the light reception intensity of each light, the light reception result of the light reception unit, and the detection result of the light reception intensity detection unit And a position detection unit for detecting the position of the pointing tool with respect to the display device.
本明細書に記載の指示具位置検出プログラムは、表示装置の表示面の第1方向一側から前記第1方向に照射した第1波長の複数の光を前記表示面の前記第1方向他側で受光した受光結果と、前記表示面の第1方向に交差する第2方向一側から前記第2方向に照射した第2波長の複数の光を前記表示面の前記第2方向他側で受光した受光結果と、を取得し、指示具において前記第1波長の光と前記第2波長の光とを受光したときの各光の受光強度を取得し、前記受光結果と、前記受光強度の取得結果と、に基づいて、前記表示装置に対する前記指示具の位置を検出する、処理をコンピュータに実行させるプログラムである。 The pointing tool position detection program according to the present specification provides a plurality of lights having a first wavelength irradiated in the first direction from one side in the first direction of the display surface of the display device. And a plurality of lights having the second wavelength irradiated in the second direction from one side in the second direction intersecting the first direction of the display surface are received on the other side in the second direction of the display surface. And obtaining the light reception intensity of each light when the indicator receives the light of the first wavelength and the light of the second wavelength, and obtaining the light reception result and the light reception intensity. A program for causing a computer to execute a process of detecting a position of the pointing tool with respect to the display device based on a result.
本明細書に記載の指示具位置検出装置及び指示具位置検出プログラムは、指示具の位置を精度よく検出することができるという効果を奏する。 The pointing tool position detection device and the pointing tool position detection program described in this specification have an effect that the position of the pointing tool can be detected with high accuracy.
以下、一実施形態に係る表示システム100について、図1〜図14に基づいて詳細に説明する。図1には、本実施形態の表示システム100の構成を概略的に示す図である。
Hereinafter, a
図1に示すように、表示システム100は、表示モニタ10と、マトリクス方式検出ユニット20と、指示具30と、検出・制御装置70と、PC80と、を備える。なお、本実施形態では、マトリクス方式検出ユニット20と、指示具30と、検出・制御装置70とにより、指示具位置検出装置としての機能が実現されている。なお、図1では、表示モニタ10の左右方向(長辺方向)がX軸方向であり、上下方向(短辺方向)がY軸方向であるものとする。
As shown in FIG. 1, the
表示モニタ10は、プラズマ式モニタや液晶式モニタ、背面投射型プロジェクタ、電子ボードなどであり、例えば、一般的に市販されているモニタを用いることができる。
The
マトリクス方式検出ユニット20は、図1に示すように表示モニタ10の表示面(画面)10aの周辺に設けられる枠状(額縁状)のユニットである。このマトリクス方式検出ユニット20は、赤外線の遮断を利用して支持具30の位置を検出するユニットであり、図2に示すように、照射部としてのX軸赤外線発光部22X1及びY軸赤外線発光部22Y1と、受光部としてのX軸赤外線受光部22X2及びY軸赤外線受光部22Y2と、を有する。
The
X軸赤外線発光部22X1は、複数(図2ではm個)の発光素子Dx1〜Dxmと、発光駆動部24X1と、を有する。 The X-axis infrared light emitting unit 22X1 includes a plurality (m pieces in FIG. 2) of light emitting elements D x1 to D xm and a light emission driving unit 24X1.
発光素子Dx1〜Dxmは、表示モニタ10のY軸方向一側(+Y側)においてX軸方向に沿って所定間隔で配置されており、各発光素子Dx1〜Dxmからは、Y軸に平行な方向に赤外線が放射される。なお、一般的な発光素子の幅(素子ピッチ)は4〜5mm程度であり、X軸に沿って配置することができる発光素子の数(m個)は、この素子ピッチと表示モニタ10の画面サイズによって決まる。たとえば、表示モニタ10の画面サイズが50V型である場合には、X軸に沿って276個程度の発光素子を配置することができる。なお、発光素子Dx1〜Dxmは、波長λ1の赤外線を放射するものとする。
Emitting element D x1 to D xm are arranged at predetermined intervals along the X-axis direction in the Y-axis direction one side (+ Y side) of the
発光駆動部24X1は、発光素子Dx1〜Dxmに供給する順電流を調整して、発光素子Dx1〜Dxmから放射される赤外線の発光強度を制御する。なお、発光駆動部24X1は、後述する検出・制御装置70の発光レベル調整制御部74の指示に基づいて、発光素子Dx1〜Dxmに対して供給する順電流を調整する。
Emission driving unit 24X1 adjusts the supplying forward current to the light emitting element D x1 to D xm, controls the light emission intensity of the infrared rays emitted from the light emitting element D x1 to D xm. The light emission drive unit 24X1 adjusts the forward current supplied to the light emitting elements D x1 to D xm based on an instruction from a light emission level adjustment control unit 74 of the detection /
Y軸赤外線発光部22Y1は、複数(図2ではn個)の発光素子Dy1〜Dynと、発光駆動部24Y1と、を有する。 The Y-axis infrared light emitting unit 22Y1 includes a plurality (n in FIG. 2) of light emitting elements D y1 to D yn and a light emission driving unit 24Y1.
発光素子Dy1〜Dynは、表示モニタ10のX軸方向一側(−X側)においてY軸方向に沿って所定間隔で配置されており、各発光素子Dy1〜Dynからは、X軸に平行な赤外線が放射される。なお、発光素子Dy1〜Dynの配置方法は、発光素子Dx1〜Dxmと同様の配置方法となるため、たとえば、表示モニタ10の画面サイズが50V型である場合には、X軸に沿って156個程度の発光素子を配置することができる。なお、発光素子Dy1〜Dynは、上述した波長λ1とは異なる波長λ2の赤外線を放射するものとする。
The light emitting elements D y1 to D yn are arranged at predetermined intervals along the Y axis direction on one side in the X axis direction (−X side) of the
発光駆動部24Y1は、発光駆動部24X1と同様、発光レベル調整制御部74の指示に基づいて、発光素子Dy1〜Dynに供給する順電流を調整して、発光素子Dy1〜Dynから放射される赤外線の発光強度を制御する。 Similarly to the light emission drive unit 24X1, the light emission drive unit 24Y1 adjusts the forward current supplied to the light emitting elements D y1 to D yn based on an instruction from the light emission level adjustment control unit 74, and the light emission elements D y1 to D yn Controls the intensity of emitted infrared light.
なお、X軸、Y軸赤外線発光部22X1、22Y1によると、X軸及びY軸に沿った赤外線が格子状(マトリクス状)に放射されることになる。 In addition, according to the X-axis and Y-axis infrared light emitting units 22X1 and 22Y1, infrared rays along the X-axis and the Y-axis are emitted in a lattice shape (matrix shape).
X軸赤外線受光部22X2は、X軸赤外線発光部22X1に対してY軸方向に対向する位置に設けられている。X軸赤外線受光部22X2は、複数(m個)の受光素子Tx1〜Txmと、受光レベル変換部24X2とを有する。受光素子Tx1〜Txmは、表示モニタ10のY軸方向他側(−Y側)に設けられ、発光素子Dx1〜Dxmから放射された赤外線を受光し、受光信号(受光強度レベル)を出力する。受光レベル変換部24X2は、受光素子(Tx1〜Txm)から出力された受光強度レベル(アナログ値)を定量化するため、A/D変換を行い、変換後のデジタル値(受光強度レベル値)を、検出・制御装置70に対して出力する。
The X-axis infrared light receiving unit 22X2 is provided at a position facing the X-axis infrared light emitting unit 22X1 in the Y-axis direction. The X-axis infrared light receiving unit 22X2 includes a plurality (m) of light receiving elements T x1 to T xm and a light receiving level conversion unit 24X2. The light receiving elements T x1 to T xm are provided on the other side (−Y side) of the display monitor 10 in the Y-axis direction, receive infrared rays emitted from the light emitting elements D x1 to D xm , and receive light signals (light receiving intensity levels). Is output. The received light level converter 24X2 performs A / D conversion to quantify the received light intensity level (analog value) output from the light receiving elements (T x1 to T xm ), and converts the converted digital value (received light intensity level value). ) Is output to the detection /
Y軸赤外線受光部22Y2は、Y軸赤外線発光部22Y1に対してX軸方向に対向する位置に設けられている。Y軸赤外線受光部22Y2は、複数(n個)の受光素子Ty1〜Tynと、受光レベル変換部24Y2とを有する。受光素子Ty1〜Tynは、表示モニタ10のX軸方向他側(+X側)に設けられ、発光素子Dy1〜Dynから放射された赤外線を受光し、受光信号(受光強度レベル)を出力する。受光レベル変換部24Y2は、受光素子(Ty1〜Tym)から出力された受光強度レベル(アナログ値)を定量化するため、A/D変換を行い、変換後のデジタル値(受光強度レベル値)を、検出・制御装置70に対して出力する。
The Y-axis infrared light receiving unit 22Y2 is provided at a position facing the Y-axis infrared light emitting unit 22Y1 in the X-axis direction. The Y-axis infrared light receiving unit 22Y2 includes a plurality (n pieces) of light receiving elements T y1 to T yn and a light receiving level conversion unit 24Y2. The light receiving elements T y1 to T yn are provided on the other side (+ X side) of the display monitor 10 in the X-axis direction, receive infrared rays emitted from the light emitting elements D y1 to D yn , and receive light reception signals (light reception intensity levels). Output. The received light level conversion unit 24Y2 performs A / D conversion to quantify the received light intensity level (analog value) output from the light receiving elements (T y1 to T ym ), and converts the converted digital value (received light intensity level value). ) Is output to the detection /
図1に戻り、指示具30は、ユーザが文字や図を描いたり、アイコンを選択するために用いる器具である。指示具30は、図3に示すような構造を有する。具体的には、指示具30は、図3に示すように、外装体46と、集光プリズム32と、分光プリズム34と、X軸赤外線受光素子36Xと、Y軸赤外線受光素子36Yと、受光レベル変換部38と、筆圧感知センサ40と、データ転送制御部42と、通信制御部44と、を備える。
Returning to FIG. 1, the
外装体46は、ペン型の形状を有し、内部に指示具30の各部を収容な可能な空間が形成されている。集光プリズム32は、指示具30の先端(図3の下端)を表示モニタ10に接触又は接近させたときに、発光素子Dx1〜Dxmのいずれかから放射された赤外線(波長λ1)及び発光素子Dy1〜Dynのいずれかから放射された赤外線(波長λ2)を集光する。分光プリズム34は、各波長の赤外線を2方向に配光する。
The
X軸赤外線受光素子36Xは、波長λ1の赤外線を受光し、受光信号(受光強度レベル)を受光レベル変換部38に対して送信する。Y軸赤外線受光素子36Yは、波長λ2の赤外線を受光し、受光信号(受光強度レベル)を受光レベル変換部38に対して送信する。
The X-axis infrared light receiving element 36 </ b> X receives infrared light having a wavelength λ <b> 1 and transmits a light reception signal (light reception intensity level) to the light reception
受光レベル変換部38は、X軸、Y軸赤外線受光素子36X、36Yから送信されてきた受光強度レベル(アナログ値)をA/D変換し、定量化されたデジタル値(受光強度レベル値)をデータ転送制御部42に送信する。なお、X軸赤外線受光素子36X、Y軸赤外線受光素子36Y、及び受光レベル変換部38により、受光強度検出部としての機能が実現されている。
The received light level conversion unit 38 A / D converts the received light intensity level (analog value) transmitted from the X-axis and Y-axis infrared
筆圧感知センサ40は、集光プリズム32の移動を検出することで、筆圧(指示具30の先端が表示モニタ10に接触していること)を感知するセンサである。筆圧感知センサ40は、筆圧を感知したときにデータ転送制御部42に対して、通知を行う。
The
データ転送制御部42は、受光レベル変換部38から送信されてきた受光強度レベル値を一時記憶する。また、データ転送制御部42は、筆圧感知センサ40からの通知があったときに、一時記憶している受光強度レベル値を、通信制御部44に対して出力する。
The data transfer control unit 42 temporarily stores the received light intensity level value transmitted from the received light
通信制御部44は、データ転送制御部42から出力された受光強度レベル値を、伝送プロトコルに変換した後、所定の転送周期で、無線通信又は赤外線通信などにより、検出・制御装置70に対して送信する。
The
図1に戻り、検出・制御装置70は、マトリクス方式検出ユニット20とPC80とに接続されている。図4には、検出・制御装置70のハードウェア構成が示されている。図4に示すように、検出・制御装置70は、CPU90、ROM92、RAM94、記憶部(ここではHDD(Hard Disk Drive))96、通信インタフェース97、及び可搬型記憶媒体用ドライブ99等を備えている。これら検出・制御装置70の構成各部は、バス98に接続されている。検出・制御装置70では、ROM92あるいはHDD96に格納されているプログラム(指示具位置検出プログラム)、或いは可搬型記憶媒体用ドライブ99が可搬型記憶媒体91から読み取ったプログラム(指示具位置検出プログラム)をCPU90が実行することにより、図2に示す各部の機能が実現される。なお、図2には、HDD96等に格納されているルックアップテーブル68についても図示されている。
Returning to FIG. 1, the detection /
図2に示すように、検出・制御装置70では、CPU90がプログラムを実行することにより、取得部72、発光レベル調整制御部74、通信制御部76、及び位置検出部78の機能が実現されている。
As shown in FIG. 2, in the detection /
取得部72は、X軸赤外線受光部22X2及びY軸赤外線受光部22Y2から送信されてくる受光強度レベル値を取得し、発光レベル調整制御部74及び位置検出部78に送信する。
The
発光レベル調整制御部74は、X軸、Y軸赤外線受光部22X2、22Y2から送信される受光強度レベル値を取得する。そして、発光レベル調整制御部74は、各受光強度レベル値に基づいて、各受光素子Tx1〜Txm、Ty1〜Tynの受光強度レベルが所定範囲となるように、X軸、Y軸赤外線発光部22X1、22Y1に対して指示を出す。すなわち、発光レベル調整制御部74は、X軸、Y軸赤外線発光部22X1、22Y1の発光駆動部24X1、24Y1を制御する。 The light emission level adjustment control unit 74 acquires the received light intensity level value transmitted from the X-axis and Y-axis infrared light receiving units 22X2 and 22Y2. The light emission level adjustment control unit 74 then adjusts the X axis and Y axis so that the received light intensity levels of the respective light receiving elements T x1 to T xm and T y1 to T yn are based on the respective received light intensity levels. An instruction is given to the infrared light emitting units 22X1 and 22Y1. That is, the light emission level adjustment control unit 74 controls the light emission drive units 24X1 and 24Y1 of the X-axis and Y-axis infrared light emission units 22X1 and 22Y1.
通信制御部76は、指示具30の通信制御部44から無線通信又は赤外線通信などにより送信されてくる受光強度レベル値を取得し、位置検出部78に送信する。
The communication control unit 76 acquires the received light intensity level value transmitted from the
位置検出部78は、取得部72から受信した受光強度レベル値と、通信制御部76から受信した受光強度レベル値のうち、少なくとも取得部72から受信した受光強度レベル値に基づいて、指示具30の位置(座標)を検出する。ここで、位置検出部78は、指示具30の位置(座標)を検出する際に、ルックアップテーブル68を参照するものとする。なお、ルックアップテーブル68の詳細については、後述する。位置検出部78は、検出した指示具30の位置(座標)をフォーマット変換し、座標信号としてPC80に対して送信する。
Based on at least the received light intensity level value received from the
PC80は、表示モニタ10に表示する画像を生成して、表示モニタ10上の画面10a上に表示する。この場合、PC80は、検出・制御装置70の位置検出部78から送信されてきた座標信号に基づいて、画面10a上に文字や絵を表示したり、画面10a上の画像を変更したりする。
The
次に、本実施形態の表示システム100の処理について、図5〜図14に基づいて詳細に説明する。
Next, the process of the
(発光レベル調整処理)
まず、図5(a)、図5(b)に沿って、各発光素子Dx1〜Dxm、Dy1〜Dynの発光レベル調整処理について詳細に説明する。図5(a)は、発光駆動部24X1,24Y1と、受光レベル変換部24X2、24Y2の処理フローを示す図であり、図5(b)は、発光レベル調整制御部74の処理フローを示す図である。本実施形態では、一例として、これらの処理が、表示システム100の起動時に行われるものとする。
(Light emission level adjustment process)
First, FIG. 5 (a), along in FIG. 5 (b), the light-emitting elements D x1 to D xm, will be described in detail emission level adjusting process of D y1 to D yn. FIG. 5A is a diagram illustrating a processing flow of the light emission driving units 24X1 and 24Y1 and the light reception level conversion units 24X2 and 24Y2. FIG. 5B is a diagram illustrating a processing flow of the light emission level adjustment control unit 74. It is. In the present embodiment, as an example, these processes are performed when the
図5(a)の処理では、まず、ステップS10において、発光駆動部24X1,24Y1が、発光素子Dx1〜Dxm、Dy1〜Dynからの赤外線の発光を行う。この場合、発光素子Dx1〜Dxmからは、波長λ1の赤外線が発光され、発光素子Dy1〜Dynからは、波長λ2の赤外線が発光される。 In the process of FIG. 5A, first, in step S10, the light emission drive units 24X1 and 24Y1 emit infrared light from the light emitting elements D x1 to D xm and D y1 to D yn . In this case, infrared light having a wavelength λ1 is emitted from the light emitting elements D x1 to D xm , and infrared light having a wavelength λ2 is emitted from the light emitting elements D y1 to D yn .
次いで、ステップS12では、受光レベル変換部24X2、24Y2が、受光素子Tx1〜Txm、Ty1〜Tynから出力される受光信号を取得する。次いで、ステップS14では、受光レベル変換部24X2、24Y2が、取得した受光信号の受光強度レベル(アナログ値)を定量化するためのA/D変換を行い、受光強度レベル値(デジタル値)を取得する。 Next, in step S12, the light receiving level converters 24X2 and 24Y2 obtain light receiving signals output from the light receiving elements T x1 to T xm and T y1 to T yn . Next, in step S14, the received light level conversion units 24X2 and 24Y2 perform A / D conversion for quantifying the received light intensity level (analog value) of the acquired received light signal, and acquire the received light intensity level value (digital value). To do.
次いで、ステップS16では、受光レベル変換部24X2、24Y2が、ステップS14で取得した受光強度レベル値を、検出・制御装置70(取得部72)に対して送信する。 Next, in step S16, the light reception level conversion units 24X2 and 24Y2 transmit the light reception intensity level value acquired in step S14 to the detection / control device 70 (acquisition unit 72).
以上の処理により、図5(a)の全処理が終了する。図5(a)の処理が終了すると、図5(b)の処理が開始される。 With the above processing, the entire processing in FIG. When the process of FIG. 5A ends, the process of FIG. 5B is started.
図5(b)の処理では、まず、ステップS20において、取得部72が、受光レベル変換部24X2、24Y2から送信されてきた受光強度レベル値を発光レベル調整制御部74に対して送信する。次いで、ステップS22では、発光レベル調整制御部74が、受信した受光強度レベル値を基準値と比較する。
5B, first, in step S20, the
この場合、発光レベル調整制御部74は、予め設定したX軸方向の基準値Px(BL)と各受光素子Tx1〜Txmの受光強度レベル値とを比較する。また、発光レベル調整制御部74は、予め設定したY軸方向の基準値Py(BL)と各受光素子Ty1〜Tynの受光強度レベル値とを比較する。 In this case, the light emission level adjustment control unit 74 compares the preset reference value Px (BL) in the X-axis direction with the light reception intensity level values of the light receiving elements T x1 to T xm . Further, the light emission level adjustment control unit 74 compares a preset reference value Py (BL) in the Y-axis direction with the light reception intensity level values of the light receiving elements T y1 to T yn .
次いで、ステップS24では、発光レベル調整制御部74が、各受光強度レベルが、基準値(Px(BL)又はPy(BL))とほぼ一致しているか、すなわち、各受光素子の受光強度レベル値と基準値との差分が所定範囲内か否かを判断する。 Next, in step S24, the light emission level adjustment control unit 74 determines whether each received light intensity level substantially matches the reference value (Px (BL) or Py (BL)), that is, the received light intensity level value of each light receiving element. And whether the difference between the reference value and the reference value is within a predetermined range.
ここでの判断が肯定された場合、すなわち、すべての受光素子の受光強度レベルが基準値とほぼ一致していた場合には、図5(b)の全処理を終了する。一方、ステップS24の判断が否定された場合、すなわち、少なくとも1つの受光素子の受光強度レベルが基準値とほぼ一致していなかった場合には、ステップS26に移行する。 If the determination here is affirmative, that is, if the received light intensity levels of all the light receiving elements substantially coincide with the reference value, the entire processing of FIG. On the other hand, if the determination in step S24 is negative, that is, if the light reception intensity level of at least one light receiving element does not substantially match the reference value, the process proceeds to step S26.
ステップS26に移行した場合、発光レベル調整制御部74は、受光強度レベルが基準値とほぼ一致していなかった発光素子に関し、受光強度レベルと受光レベル基準値との差分を求める。そして、発光レベル調整制御部74は、差分ごとに予め設定されている補正値データを、発光駆動部24X1又は24Y1に対して送信する。なお、発光駆動部24X1又は24Y1は、補正値データをD/A変換し、これに基づいて発光素子の順電流を変更する。これにより、順電流を変更した発光素子から放射される赤外線の受光強度レベルを、基準値(Px(BL)又はPy(BL))とほぼ一致させることが可能となる。 When the process proceeds to step S <b> 26, the light emission level adjustment control unit 74 obtains a difference between the light reception intensity level and the light reception level reference value for the light emitting element whose light reception intensity level does not substantially match the reference value. And the light emission level adjustment control part 74 transmits the correction value data preset for every difference with respect to the light emission drive part 24X1 or 24Y1. Note that the light emission drive unit 24X1 or 24Y1 performs D / A conversion on the correction value data, and changes the forward current of the light emitting element based on the D / A conversion. As a result, it is possible to make the received light intensity level of infrared rays emitted from the light emitting element whose forward current is changed substantially coincide with the reference value (Px (BL) or Py (BL)).
以上のようにすることで、受光素子Tx1〜Txmの受光強度レベルのすべてを、基準値Px(BL)とほぼ一致させることができ、かつ、受光素子Ty1〜Tynの受光強度レベルのすべてを、基準値Py(BL)とほぼ一致させることができる。 By doing as described above, all of the light receiving intensity levels of the light receiving elements T x1 to T xm can be substantially matched with the reference value Px (BL), and the light receiving intensity levels of the light receiving elements T y1 to T yn are set. Can be substantially matched with the reference value Py (BL).
図6は、受光強度レベルをほぼ一定に調整した場合のX軸方向における受光強度レベルと位置の相関を示した図である。また、図7は、受光強度レベルをほぼ一定に調整した場合のY軸方向における受光強度レベルと位置の相関を示した図である。 FIG. 6 is a diagram showing the correlation between the received light intensity level and the position in the X-axis direction when the received light intensity level is adjusted to be substantially constant. FIG. 7 is a diagram showing the correlation between the received light intensity level and the position in the Y-axis direction when the received light intensity level is adjusted to be substantially constant.
図6において、受光強度レベルPは、発光素子が有する相対発光出力/距離特性(Po/R)の対数関係(ただし図6のグラフは簡素にするため、直線にて表示)にしたがって変化する。ここで、例えば、発光素子Dy1から放射した赤外線の受光強度レベルは、座標(Xe,y1)ではPe(y1)、座標(Xf,y1)ではPf(y1)、座標(Xg,y1)ではPg(y1)と変移するとする。また、発光素子Dynから放射した赤外線の受光強度レベルは、座標(Xe,yn)ではPe(yn)、座標(Xf,yn)ではPf(yn)、座標(Xg,yn)ではPg(yn)と変移するとする。この場合、前述した図5(a)、図5(b)の処理を行い各受光素子における受光強度レベルをほぼ一定に調整することで、X座標がXeにおける受光強度レベルをPe(y1)≒Pe(yn)=Pxeとすることができる。また、X座標がXfにおける受光強度レベルをPf(y1)≒Pf(yn)=Pxfとすることができる。さらに、X座標がXgにおける受光強度レベルを、Pg(y1)≒Pg(yn)=Pxgとすることができる。 In FIG. 6, the received light intensity level P changes according to the logarithmic relationship of the relative light emission output / distance characteristic (Po / R) of the light emitting element (however, the graph of FIG. 6 is displayed as a straight line for simplicity). Here, for example, the received light intensity level of infrared rays emitted from the light emitting element Dy1 is Pe (y1) at coordinates (Xe, y1), Pf (y1) at coordinates (Xf, y1), and at coordinates (Xg, y1). Suppose that it changes to Pg (y1). The received light intensity level of the infrared rays emitted from the light emitting element Dyn is Pe (yn) at coordinates (Xe, yn), Pf (yn) at coordinates (Xf, yn), and Pg (yn) at coordinates (Xg, yn). ). In this case, the received light intensity level at the X coordinate Xe is set to Pe (y1) ≈Pe by adjusting the received light intensity level in each light receiving element to be almost constant by performing the above-described processing of FIGS. 5 (a) and 5 (b). Pe (yn) = Pxe. The received light intensity level when the X coordinate is Xf can be set to Pf (y1) ≈Pf (yn) = Pxf. Further, the received light intensity level when the X coordinate is Xg can be set to Pg (y1) ≈Pg (yn) = Pxg.
同様に、図7において、受光強度レベルPは、発光素子が有する相対発光出力/距離特性(Po/R)の対数関係(ただし図6のグラフは簡素にするため、直線にて表示)にしたがって変化する。ここで、例えば、発光素子Dx1から放射した赤外線の受光強度レベルは、座標(x1,Yh)ではPh(x1)、座標(x1,Yi)ではPi(x1)、座標(x1,Yj)ではPj(x1)と変移するとする。また、発光素子Dxmから放射した赤外線の受光強度レベルは、座標(xm,Yh)ではPh(xm)、座標(xm,Yi)ではPi(xm)、座標(xm,Yj)ではPj(xm)と変移するとする。この場合、前述した図5(a)、図5(b)の処理を行い各受光素子における受光強度レベルをほぼ一定に調整することで、Y座標がYhにおける受光強度レベルをPh(x1)≒Ph(xm)=Pyhとすることができる。また、Y座標がYiにおける受光強度レベルをPi(x1)≒Pi(xm)=Pyiとすることができる。さらに、Y座標がYjにおける受光強度レベルをPj(x1)≒Pj(xm)=Pyjとすることができる。 Similarly, in FIG. 7, the received light intensity level P is in accordance with the logarithmic relationship of the relative light emission output / distance characteristic (Po / R) of the light emitting element (however, the graph of FIG. 6 is displayed as a straight line for simplicity). Change. Here, for example, the received light intensity level of the infrared rays emitted from the light emitting element D x1 is Ph (x1) at coordinates (x1, Yh), Pi (x1) at coordinates (x1, Yi), and at coordinates (x1, Yj). Suppose that it changes to Pj (x1). The received light intensity level of infrared rays emitted from the light emitting element D xm is Ph (xm) at coordinates (xm, Yh), Pi (xm) at coordinates (xm, Yi), and Pj (xm) at coordinates (xm, Yj). ). In this case, by performing the processes shown in FIGS. 5A and 5B and adjusting the light receiving intensity level of each light receiving element to be substantially constant, the light receiving intensity level when the Y coordinate is Yh is set to Ph (x1) ≈ Ph (xm) = Pyh. Further, the received light intensity level when the Y coordinate is Yi can be set to Pi (x1) ≈Pi (xm) = Pyi. Further, the received light intensity level when the Y coordinate is Yj can be set as Pj (x1) ≈Pj (xm) = Pyj.
なお、上記受光強度レベルPxe、Pxf、Pxg…をA/D変換したときの値(受光強度レベル値)と、X座標の関係を示したテーブルが、図8(a)のルックアップテーブル(X軸)である。また、上記受光強度レベルPyh、Pyi、Pyj…をA/D変換したときの値(受光強度レベル値)と、Y座標の関係を示したテーブルが、図8(b)のルックアップテーブル(Y軸)である。 A table showing the relationship between the X-coordinate values (light-receiving intensity level values) when the light-receiving intensity levels Pxe, Pxf, Pxg... Are A / D converted is a lookup table (X) in FIG. Axis). Further, a table showing the relationship between the values (light reception intensity level values) when the light reception intensity levels Pyh, Pyi, Pyj... Are A / D converted and the Y coordinates is a lookup table (Y) in FIG. Axis).
(キャリブレーション処理)
次に、図9に沿って、指示具30の位置(座標)検出にルックアップテーブル68を用いるために必要なキャリブレーション処理について、説明する。このキャリブレーション処理は、表示システム100の起動時等に行われるものとする。
(Calibration process)
Next, a calibration process necessary for using the lookup table 68 for detecting the position (coordinates) of the
なお、キャリブレーション処理は、受光素子Tx1〜Txm、Ty1〜Tynを用いて検出される受光強度レベルと、X軸、Y軸赤外線受光素子36X,36Yを用いて検出される受光強度レベルとの誤差を較正するための処理である。なお、この誤差は、赤外線がX軸、Y軸赤外線受光素子36X,36Yに至るまでに集光プリズム32、分光プリズム34等を通過し、これらの部材で赤外線強度が減衰するために生じる。
The calibration processing includes the light reception intensity level detected using the light receiving elements T x1 to T xm and T y1 to T yn and the light reception intensity detected using the X-axis and Y-axis infrared
図9の処理では、まず、ステップS30において、位置検出部78が、ユーザに対して指示具30で画面10a上に触れるよう指示を出す。この場合、位置検出部78は、PC80を介して、表示モニタ10の画面10a上に上記指示を表示するなどする。なお、指示具30で触れる位置は、予め定めた基準点(画面10aの隅など)であってもよいし、任意の点であってもよい。
In the process of FIG. 9, first, in step S <b> 30, the
次いで、ステップS32では、位置検出部78が、指示具30によって赤外線が遮光された位置(座標)を、受光レベル変換部24X2、24Y2の出力から取得し、当該取得位置を、指示具30の位置座標として特定する。
Next, in step S <b> 32, the
次いで、ステップS34では、位置検出部78が、指示具30から送信されてきた受光強度レベル値(X軸、Y軸受光素子36X,36Yにおける受光強度レベルをA/D変換した値)を取得する。
Next, in step S34, the
次いで、ステップS36では、位置検出部78が、取得した受光強度レベル値と、ステップS32で特定された位置座標に対応するルックアップテーブルの受光強度レベル値と、の差を取得する。
Next, in step S36, the
次いで、ステップS38では、位置検出部78が、ステップS36で取得した差を、ルックアップテーブル68に反映させる。この場合、位置検出部78は、例えば、ステップS36で取得した差の分だけ、ルックアップテーブル68の受光強度レベル値と座標とをずらす(図10(a)、図10(b)に示すように、「座標」の列を、「受光強度レベル値」の列に対して、上側又は下側に差の分だけシフトさせる)ようにすればよい。
Next, in step S38, the
以上の処理により、図9のキャリブレーション処理が完了する。本処理が終了した後は、図11、図12の位置座標検出処理が実行される。なお、図11、図12の処理では、上記キャリブレーション処理で得られたルックアップテーブル(図10(a)、図10(b))が用いられる。 With the above process, the calibration process of FIG. 9 is completed. After this process is completed, the position coordinate detection process of FIGS. 11 and 12 is executed. In the processes of FIGS. 11 and 12, the lookup tables (FIGS. 10A and 10B) obtained by the calibration process are used.
(位置座標検出処理)
以下、図11、図12に沿って、位置座標検出処理について説明する。これら図11、図12は、表示システム100の起動後、常時行われる処理のフローを示す図である。なお、図11の処理(指示具30の処理)と図12の処理(検出・制御装置70の処理)は同時並行的に実行される。また、図11、図12の処理が行われている間は、発光素子Dx1〜Dxm、Dy1〜Dynから、常時、赤外線が放射されているものとする。
(Position coordinate detection processing)
Hereinafter, the position coordinate detection process will be described with reference to FIGS. 11 and 12. FIG. 11 and FIG. 12 are diagrams showing a flow of processing that is always performed after the
図11の処理では、まず、ステップS50において、受光レベル変換部38が、X軸、Y軸赤外線受光素子36X、36Yの少なくとも一方において受光されたか、すなわち、各赤外線受光素子36X、36Yから受光強度レベルが出力されたか否かを判断する。ここでの判断が否定された場合には、ステップS50を繰り返すが、判断が肯定された場合には、ステップS52に移行する。
In the process of FIG. 11, first, in step S50, the light reception
ステップS52に移行すると、受光レベル変換部38は、各赤外線受光素子36X、36Yから出力された受光強度レベル(アナログ値)を取得する。
In step S52, the light reception
次いで、ステップS54では、受光レベル変換部38が、受光強度レベル(アナログ値)をデジタル値(定量化)にA/D変換して、受光強度レベル値(デジタル値)を得る。 Next, in step S54, the light reception level conversion unit 38 A / D converts the light reception intensity level (analog value) into a digital value (quantification) to obtain a light reception intensity level value (digital value).
次いで、ステップS56では、受光レベル変換部38が、X,Y軸の両方の受光強度レベル値を取得できたか否かを判断する。ここでの判断が否定された場合には、ステップS50に戻る。一方、ステップS56の判断が肯定された場合には、ステップS58に移行する。
Next, in step S56, the light reception
ステップS58では、受光レベル変換部38が、データ転送制御部42に対して、受光強度レベル値を送信する。なお、データ転送制御部42は、受光強度レベル値を一時記憶する。
In step S <b> 58, the light reception
次いで、ステップS60では、データ転送制御部42が、受光レベル変換部38によって受光強度レベルが取得されたタイミング(ステップS52のタイミング)で、筆圧感知センサ40による感知があったか否かを判断する。ここでの判断が否定された場合には、ステップS62に移行する。ステップS62では、データ転送制御部42が、一時記憶しておいた受光強度レベル値を削除し、ステップS50に戻る。一方、ステップS60の判断が肯定された場合には、ステップS64に移行する。
Next, in step S60, the data transfer control unit 42 determines whether or not the writing
ステップS64に移行した場合、受光レベル変換部38は、ステップS54で得られた受光強度レベル値を通信制御部44に送信する。そして、通信制御部44は、受光強度レベル値を、検出・制御装置70の取得部72に対して送信する。その後は、ステップS50に戻る。
When the process proceeds to step S64, the light reception
図11の処理では、上記ステップS50〜S64の繰り返しにより、指示具30が表示モニタ10の画面10aに接触したときの指示具30における受光強度レベル値(X軸及びY軸)を、取得部72に対して送信することになる。
In the process of FIG. 11, the light receiving intensity level values (X axis and Y axis) in the
次に、図12の処理について説明する。図12の処理では、まず、ステップS12において、位置検出部78が、取得部72を介して、受光素子Tx1〜Txm,Ty1〜Tymにおいて検出された受光強度レベルのA/D変換後の値(受光強度レベル値)を取得する。次いで、ステップS81では、いずれかの受光素子Tx1〜Txm,Ty1〜Tymにおける受光強度レベルが0になったか否か、すなわち遮光を検出したか否かを判断する。ここでの判断が否定されている間は、ステップS80、S81の処理・判断を繰り返すが、ステップS81の判断が肯定された場合には、ステップS82に移行する。
Next, the process of FIG. 12 will be described. In the processing of FIG. 12, first, in step S12, the
遮光が検出され、ステップS82に移行すると、位置検出部78は、遮光の検出箇所(受光強度レベルがほぼ0となった受光素子に対応する座標)が複数あるか否かを判断する。ここで、遮光の検出箇所が複数ある場合には、図13(a)に示すように、指示具30を持っている手とは反対側の手が表示モニタ10に触れてしまった場合が含まれる。また、遮光の検出箇所が複数ある場合には、図13(b)に示すように、指示具30を持っている手や服が表示モニタ10に触れてしまった場合が含まれる。なお、図13(a)、図13(b)では、複数の検出箇所のうち、指示具30の位置が丸印で示され、指示具30以外の位置がバツ印で示されている。
When the light shielding is detected and the process proceeds to step S82, the
図12に戻り、ステップS82の判断が否定された場合、すなわち、遮光の検出箇所が1箇所であった場合には、ステップS84に移行する。ステップS84では、位置検出部78は、遮光の検出箇所を指示具30の真の位置座標とし、当該位置座標をフォーマット変換した後、その座標信号をPC80に対して送信する。その後は、ステップS80に戻る。
Returning to FIG. 12, if the determination in step S82 is negative, that is, if the number of light-shielding detection points is one, the process proceeds to step S84. In step S <b> 84, the
一方、ステップS82の判断が肯定された場合、すなわち、遮光の検出箇所が複数箇所であった場合には、ステップS86に移行する。ステップS86では、位置検出部78は、指示具30から送信されてきた受光強度レベル値を参照する。また、位置検出部78は、ルックアップテーブル68を用いて、指示具30から送信されてきた受光強度レベル値に基づくX軸座標とY軸座標とを決定する。ここでは、例えば、図14(a)に示すように、座標(Xa’,Ya’)が決定されたものとする。
On the other hand, if the determination in step S82 is affirmative, that is, if there are a plurality of light-shielding detection locations, the process proceeds to step S86. In step S86, the
次いで、ステップS88では、位置検出部78が、遮光が検出された箇所と、ステップS86で決定された座標(Xa’,Ya’)とを照合する。ここでは、例えば、遮光が検出された箇所が、図14(b)に示す3箇所(座標(Xa,Ya)、(Xs,Yt)、(Xq,Yr))であったとする。
Next, in step S88, the
次いで、ステップS90では、位置検出部78が、照合結果に基づいて、ステップS86で決定された座標(Xa’,Ya’)に最も近い遮光検出箇所の座標を、真の座標として決定する。図14(a)、図14(b)の場合、座標(Xa,Ya)、(Xs,Yt)、(Xq,Yr)のうち、座標(Xa’,Ya’)に最も近い座標(Xa,Ya)が真の座標となる。なお、最も近い遮光検出箇所を求める方法としては、座標(Xa’,Ya’)と各遮光検出箇所の座標との距離を算出する方法を用いることができる。また、計算量を減らすため、座標(Xa’,Ya’)から所定範囲内(例えば所定半径の円内)に存在する遮光検出箇所の座標を最も近いとする方法を用いてもよい。
Next, in step S90, the
上記のようにして真の座標が決定した後は、ステップS92において、位置検出部78が、真の座標をフォーマット変換し、当該変換後の座標信号をPC80に対して送信する。その後は、ステップS80に戻る。
After the true coordinates are determined as described above, in step S92, the
図12の処理では、ステップS80〜S92の処理・判断が繰り返し行われることで、遮光検出箇所が1つの場合には、その遮光検出箇所の座標(座標信号)が位置検出部78からPC80に送信され、遮光検出箇所が複数の場合には、指示具30における検出結果を考慮して決定される真の座標(座標信号)が位置検出部78からPC80に送信されるようになっている。PC80では、検出・制御装置70(位置検出部78)から送信されてきた座標信号に基づいて、文字や絵を表示したり、画像を変更したりする。
In the processing of FIG. 12, when the processing / determination of steps S80 to S92 is repeated, when there is one light shielding detection location, the coordinates (coordinate signal) of the light shielding detection location are transmitted from the
なお、ユーザが指差しなどのポインティングを行った場合には、位置検出部78は、受光素子の遮光検出による座標判定を行えばよい。ユーザがいずれの機能を利用しようとしているかは、指示具30の有効性を筆圧感知センサ40の感知結果や受光強度レベル値が送信されているかどうかに基づいて判別すればよい。
When the user performs pointing such as pointing, the
以上、詳細に説明したように、本実施形態によると、マトリクス方式検出ユニット20は、表示モニタ10の画面10aのY軸方向一側(+Y側)から、波長λ1の複数の赤外線をY軸方向に向けて照射するX軸赤外線発光部22X1と、画面10aのX軸方向一側(−X側)から、波長λ2の複数の赤外線をX軸方向に向けて照射するY軸赤外線発光部22Y1と、画面10aのY軸方向他側(−Y側)で、波長λ1の複数の赤外線を受光するX軸赤外線受光部22X2と、画面10aのX軸方向他側(+X側)で、波長λ2の複数の赤外線を受光するY軸赤外線受光部22Y2と、を有しており、指示具30のX軸、Y軸赤外線受光素子36X,36Y、受光レベル変換部38は、波長λ1、λ2の赤外線の受光強度を検出する。そして、位置検出部78は、X軸、Y軸赤外線受光部22X2,22Y2の受光結果と、指示具30における検出結果と、に基づいて、表示モニタ10に対する指示具30の位置(座標)を検出する。これにより、本実施形態では、図13(a)、図13(b)に示すようにマトリクス方式検出ユニット20で、複数の遮光箇所が検出された場合であっても、指示具30における検出結果を用いることで、当該複数の検出箇所の中から表示モニタ10に対する指示具30の位置(座標)を精度よく検出することができる。これにより、ユーザが意図しない文字や絵などが描画されたり、ユーザが意図しない操作がPC80によって認識されたりすることが抑制されるので、ユーザによる使い勝手を向上することができる。
As described above in detail, according to the present embodiment, the
また、本実施形態では、発光レベル調整制御部74は、X軸赤外線受光部22X2における受光結果それぞれが所定範囲(≒Px(BL))となるように、及びY軸赤外線受光部22Y2における受光結果それぞれが所定範囲(≒Py(BL))となるように、X軸、Y軸赤外線発光部22X1,22Y1における赤外線照射を制御する。これにより、1種類のルックアップテーブル68(図10(a),図10(b))を用いた、簡易な、指示具30の位置(座標)検出が可能となる。
Further, in the present embodiment, the light emission level adjustment control unit 74 causes the light reception results in the X-axis infrared light reception unit 22X2 to be within a predetermined range (≈Px (BL)) and the light reception results in the Y-axis infrared light reception unit 22Y2. Infrared irradiation in the X-axis and Y-axis infrared light emitting units 22X1 and 22Y1 is controlled so that each is within a predetermined range (≈Py (BL)). This makes it possible to easily detect the position (coordinates) of the
また、本実施形態では、データ転送制御部42が、筆圧感知センサ40からの通知があったときにのみ受光強度レベル値を通信制御部44に対して出力することとしている。これにより、表示モニタ10に指示具30が接触する前又は後にX軸、Y軸赤外線受光素子36X、36Yで受光された赤外線により、指示具30の移動軌跡上に不要な線(尾引き)が描画されてしまうのを防止することができる。
In the present embodiment, the data transfer control unit 42 outputs the received light intensity level value to the
なお、上記実施形態では、図5(a)、図5(b)の各発光素子Dx1〜Dxm、Dy1〜Dynの発光レベル調整処理を、表示システム100の起動時に行うこととしたが、これに限られるものではない。例えば、所定時間ごと、あるいは、受光素子Tx1〜Txm、Ty1〜Tynの受光結果を取得部72を介して取得するたびに行うこととしてもよい。このように発光レベル調整処理を周期的に行うことで、各受光素子において一定した受光強度レベルを得ることができるようになる。また、発光素子のフィードバック制御により、各発光素子が有する特性のバラツキや経年劣化による影響を抑制することができる。
In the above-described embodiment, the light emission level adjustment process for each of the light emitting elements D x1 to D xm and D y1 to D yn in FIGS. 5A and 5B is performed when the
なお、上記実施形態では、検出・制御装置70とPC80とが別の装置である場合について説明したが、これに限られるものではない。例えば、PC80のCPUがプログラム(指示具位置検出プログラム)を実行することで、上記実施形態で説明した検出・制御装置70の各機能を実現するようにしてもよい。また、PC80が、検出・制御装置70の一部の機能を実現するようにしてもよい。
In the above embodiment, the case where the detection /
なお、上記の処理機能は、コンピュータによって実現することができる。その場合、処理装置が有すべき機能の処理内容を記述したプログラムが提供される。そのプログラムをコンピュータで実行することにより、上記処理機能がコンピュータ上で実現される。処理内容を記述したプログラムは、コンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録しておくことができる。 The above processing functions can be realized by a computer. In that case, a program describing the processing contents of the functions that the processing apparatus should have is provided. By executing the program on a computer, the above processing functions are realized on the computer. The program describing the processing contents can be recorded on a computer-readable recording medium.
プログラムを流通させる場合には、例えば、そのプログラムが記録されたDVD(Digital Versatile Disc)、CD−ROM(Compact Disc Read Only Memory)などの可搬型記録媒体の形態で販売される。また、プログラムをサーバコンピュータの記憶装置に格納しておき、ネットワークを介して、サーバコンピュータから他のコンピュータにそのプログラムを転送することもできる。 When the program is distributed, for example, it is sold in the form of a portable recording medium such as a DVD (Digital Versatile Disc) or a CD-ROM (Compact Disc Read Only Memory) on which the program is recorded. It is also possible to store the program in a storage device of a server computer and transfer the program from the server computer to another computer via a network.
プログラムを実行するコンピュータは、例えば、可搬型記録媒体に記録されたプログラムもしくはサーバコンピュータから転送されたプログラムを、自己の記憶装置に格納する。そして、コンピュータは、自己の記憶装置からプログラムを読み取り、プログラムに従った処理を実行する。なお、コンピュータは、可搬型記録媒体から直接プログラムを読み取り、そのプログラムに従った処理を実行することもできる。また、コンピュータは、サーバコンピュータからプログラムが転送されるごとに、逐次、受け取ったプログラムに従った処理を実行することもできる。 The computer that executes the program stores, for example, the program recorded on the portable recording medium or the program transferred from the server computer in its own storage device. Then, the computer reads the program from its own storage device and executes processing according to the program. The computer can also read the program directly from the portable recording medium and execute processing according to the program. Further, each time the program is transferred from the server computer, the computer can sequentially execute processing according to the received program.
上述した実施形態は本発明の好適な実施の例である。但し、これに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変形実施可能である。 The above-described embodiment is an example of a preferred embodiment of the present invention. However, the present invention is not limited to this, and various modifications can be made without departing from the scope of the present invention.
なお、以上の説明に関して更に以下の付記を開示する。
(付記1) 表示装置の表示面の第1方向一側から、第1波長の複数の光を前記第1方向に向けて照射するとともに、前記表示面の第1方向と交差する第2方向一側から、第1波長とは異なる第2波長の複数の光を前記第2方向に向けて照射する照射部と、
前記表示面の前記第1方向他側で、前記第1波長の複数の光を受光するとともに、前記表示面の前記第2方向他側で、前記第2波長の複数の光を受光する受光部と、
指示具に設けられ、前記第1波長の光と前記第2波長の光とを受光し、各光の受光強度を検出する受光強度検出部と、
前記受光部の受光結果と、前記受光強度検出部の検出結果と、に基づいて、前記表示装置に対する前記指示具の位置を検出する位置検出部と、を備える指示具位置検出装置。
(付記2) 前記位置検出部は、前記受光部の受光結果から検出される前記指示具の位置候補が複数あった場合に、前記受光強度検出部の検出結果に基づいて、前記複数の位置候補の1つを選択し、前記指示具の位置とすることを特徴とする付記1に記載の指示具位置検出装置。
(付記3) 前記受光部における前記第1波長の複数の光の受光結果それぞれが所定範囲の値となるように、及び前記受光部における前記第2波長の複数の光の受光結果それぞれが所定範囲の値となるように、前記照射部による照射を制御する制御部を更に備える付記1又は2に記載の指示具位置検出装置。
(付記4) 表示装置の表示面の第1方向一側から前記第1方向に照射した第1波長の複数の光を前記表示面の前記第1方向他側で受光した受光結果と、前記表示面の第1方向に交差する第2方向一側から前記第2方向に照射した第2波長の複数の光を前記表示面の前記第2方向他側で受光した受光結果と、を取得し、
指示具において前記第1波長の光と前記第2波長の光とを受光したときの各光の受光強度を取得し、
前記受光結果と、前記受光強度の取得結果と、に基づいて、前記表示装置に対する前記指示具の位置を検出する、処理をコンピュータに実行させる指示具位置検出プログラム。
(付記5) 前記指示具の位置を検出する処理では、前記受光結果から検出される前記指示具の位置候補が複数あった場合に、前記受光強度の取得結果に基づいて、前記複数の位置候補の1つを選択し、前記指示具の位置とすることを特徴とする付記4に記載の指示具位置検出プログラム。
(付記6) 前記第1波長の複数の光の受光結果それぞれが所定範囲の値となるように、及び前記第2波長の複数の光の受光結果それぞれが所定範囲の値となるように、各波長の光の照射を制御する処理を前記コンピュータに更に実行させることを特徴とする付記4又は5に記載の指示具位置検出プログラム。
In addition, the following additional notes are disclosed regarding the above description.
(Supplementary Note 1) A plurality of lights having a first wavelength are emitted from one side of the display surface of the display device in the first direction toward the first direction, and the second direction intersects the first direction of the display surface. An irradiation unit for irradiating a plurality of lights having a second wavelength different from the first wavelength in the second direction from the side;
A light receiving unit that receives a plurality of lights having the first wavelength on the other side in the first direction of the display surface and receives a plurality of lights having the second wavelength on the other side in the second direction of the display surface. When,
A light-receiving intensity detector that is provided on the indicator and receives the light of the first wavelength and the light of the second wavelength and detects the light-receiving intensity of each light;
An indicator position detection device comprising: a position detection unit that detects a position of the indicator relative to the display device based on a light reception result of the light receiving unit and a detection result of the light reception intensity detection unit.
(Supplementary Note 2) When there are a plurality of position candidates of the pointing tool detected from the light reception result of the light receiving unit, the position detection unit, based on the detection result of the light reception intensity detection unit, The indicator position detecting device according to
(Supplementary Note 3) Each of the light receiving results of the plurality of lights having the first wavelength in the light receiving unit has a value within a predetermined range, and each of the light receiving results of the plurality of lights having the second wavelength in the light receiving unit has a predetermined range. The pointing device position detection apparatus according to
(Additional remark 4) The light reception result which received the some light of the 1st wavelength irradiated to the said 1st direction from the 1st direction one side of the display surface of a display apparatus on the said 1st direction other side of the said display surface, and the said display A light receiving result obtained by receiving a plurality of lights having a second wavelength irradiated in the second direction from one side in the second direction intersecting the first direction of the surface on the other side in the second direction of the display surface;
Obtaining the received light intensity of each light when receiving the light of the first wavelength and the light of the second wavelength in the indicator,
A pointing tool position detection program for causing a computer to execute a process of detecting the position of the pointing tool with respect to the display device based on the light reception result and the acquisition result of the light reception intensity.
(Additional remark 5) In the process which detects the position of the said indicator, when there exist multiple position candidates of the said indicator detected from the said light reception result, based on the acquisition result of the said light reception intensity, these several position candidates The indicator position detection program according to
(Supplementary Note 6) Each of the light reception results of the plurality of lights having the first wavelength has a value in a predetermined range, and each of the light reception results of the plurality of lights of the second wavelength has a value in the predetermined range. 6. The pointing tool position detection program according to
10 表示モニタ(表示装置)
10a 画面(表示面)
20 マトリクス方式検出ユニット(指示具位置検出装置の一部)
22X1 X軸赤外線発光部(照射部)
22Y1 Y軸赤外線発光部(照射部)
22X2 X軸赤外線受光部(受光部)
22Y2 Y軸赤外線受光部(受光部)
30 指示具(指示具位置検出装置の一部)
36X X軸赤外線受光素子(受光強度検出部の一部)
36Y Y軸赤外線受光素子(受光強度検出部の一部)
38 受光レベル変換部(受光強度検出部の一部)
70 検出・制御装置(指示具位置検出装置の一部)
78 位置検出部
10 Display monitor (display device)
10a screen (display surface)
20 Matrix type detection unit (part of pointing device position detection device)
22X1 X-axis infrared light emitter (irradiator)
22Y1 Y-axis infrared light emitter (irradiator)
22X2 X-axis infrared receiver (receiver)
22Y2 Y-axis infrared receiver (receiver)
30 Pointer (part of the pointer position detector)
36X X-axis infrared light receiving element (part of received light intensity detector)
36Y Y-axis infrared light receiving element (part of received light intensity detector)
38 Received light level converter (part of received light intensity detector)
70 Detection / control device (part of pointing device position detection device)
78 Position detector
Claims (4)
前記表示面の前記第1方向他側で、前記第1波長の複数の光を受光するとともに、前記表示面の前記第2方向他側で、前記第2波長の複数の光を受光する受光部と、
指示具に設けられ、前記第1波長の光と前記第2波長の光とを受光し、各光の受光強度を検出する受光強度検出部と、
前記受光部の受光結果と、前記受光強度検出部の検出結果と、に基づいて、前記表示装置に対する前記指示具の位置を検出する位置検出部と、を備える指示具位置検出装置。 From the first direction side of the display surface of the display device, a plurality of lights having the first wavelength are emitted toward the first direction, and from the second direction side intersecting the first direction of the display surface, An irradiation unit configured to irradiate a plurality of lights having a second wavelength different from the one wavelength in the second direction;
A light receiving unit that receives a plurality of lights having the first wavelength on the other side in the first direction of the display surface and receives a plurality of lights having the second wavelength on the other side in the second direction of the display surface. When,
A light-receiving intensity detector that is provided on the indicator and receives the light of the first wavelength and the light of the second wavelength and detects the light-receiving intensity of each light;
An indicator position detection device comprising: a position detection unit that detects a position of the indicator relative to the display device based on a light reception result of the light receiving unit and a detection result of the light reception intensity detection unit.
指示具において前記第1波長の光と前記第2波長の光とを受光したときの各光の受光強度を取得し、
前記受光結果と、前記受光強度の取得結果と、に基づいて、前記表示装置に対する前記指示具の位置を検出する、処理をコンピュータに実行させる指示具位置検出プログラム。 A light reception result of receiving a plurality of lights having a first wavelength irradiated in the first direction from the first direction side of the display surface of the display device on the other side in the first direction of the display surface, and a first of the display surface A light reception result obtained by receiving a plurality of lights having a second wavelength irradiated in the second direction from one side in the second direction intersecting the direction on the other side in the second direction of the display surface, and
Obtaining the received light intensity of each light when receiving the light of the first wavelength and the light of the second wavelength in the indicator,
A pointing tool position detection program for causing a computer to execute a process of detecting the position of the pointing tool with respect to the display device based on the light reception result and the acquisition result of the light reception intensity.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011286322A JP5751163B2 (en) | 2011-12-27 | 2011-12-27 | Pointer position detection device and pointer position detection program |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011286322A JP5751163B2 (en) | 2011-12-27 | 2011-12-27 | Pointer position detection device and pointer position detection program |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013134705A JP2013134705A (en) | 2013-07-08 |
JP5751163B2 true JP5751163B2 (en) | 2015-07-22 |
Family
ID=48911331
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5751163B2 (en) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114385024B (en) * | 2020-10-22 | 2024-09-03 | 青岛海信商用显示股份有限公司 | Inspection method and system for infrared touch module |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5294792A (en) * | 1991-12-31 | 1994-03-15 | Texas Instruments Incorporated | Writing tip position sensing and processing apparatus |
JPH05341251A (en) * | 1992-06-05 | 1993-12-24 | Fujitsu Ltd | Position detecting device using projection type liquid crystal display device |
JP3219309B2 (en) * | 1992-07-13 | 2001-10-15 | 株式会社日立製作所 | Work management system and input device |
-
2011
- 2011-12-27 JP JP2011286322A patent/JP5751163B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2013134705A (en) | 2013-07-08 |
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