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JP5659852B2 - Equalizer, equalization method and program - Google Patents

Equalizer, equalization method and program Download PDF

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JP5659852B2 JP2011036843A JP2011036843A JP5659852B2 JP 5659852 B2 JP5659852 B2 JP 5659852B2 JP 2011036843 A JP2011036843 A JP 2011036843A JP 2011036843 A JP2011036843 A JP 2011036843A JP 5659852 B2 JP5659852 B2 JP 5659852B2
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  • Cable Transmission Systems, Equalization Of Radio And Reduction Of Echo (AREA)

Description

本発明は、入力信号の波形の劣化を等化する等化装置、等化方法及びプログラムに関するものである。   The present invention relates to an equalization apparatus, an equalization method, and a program for equalizing deterioration of a waveform of an input signal.

近年、通信速度の高速化に伴って伝送線路の帯域不足が顕在化してきている。この伝送線路の帯域不足によって波形が歪み、符号間干渉を引き起こす。符号間干渉とは、「0」または「1」のビット値を示す信号が伝送中に他の信号へ干渉することである。この符号間干渉によってアイ開口が小さくなるので、受信側へ入力された入力信号からビット値を判定することが難しくなる。   In recent years, a shortage of transmission line bandwidth has become apparent as the communication speed increases. Due to the insufficient bandwidth of the transmission line, the waveform is distorted, causing intersymbol interference. Intersymbol interference means that a signal indicating a bit value of “0” or “1” interferes with another signal during transmission. This intersymbol interference reduces the eye opening, making it difficult to determine the bit value from the input signal input to the receiving side.

この符号間干渉を解決する方法として、波形等化が挙げられる。波形等化とは、信号の波形の一部を意図的に変え、波形の歪みによって生じた他の信号への符号間干渉の影響を除去する技術である。   As a method for solving this intersymbol interference, waveform equalization can be mentioned. Waveform equalization is a technique for intentionally changing part of a signal waveform and removing the effect of intersymbol interference on other signals caused by waveform distortion.

この波形等化技術の一つとして、受信機側だけで処理を行う判定帰還型等化がある。判定帰還型等化では、入力信号の波形からその入力信号が示すビット値を判定する。そして、その判定の結果に基づき、次に受信側へ入力される入力信号から、既に受信した入力信号の波形の劣化の影響を除去する。   As one of the waveform equalization techniques, there is a decision feedback type equalization in which processing is performed only on the receiver side. In decision feedback equalization, the bit value indicated by the input signal is determined from the waveform of the input signal. Then, based on the determination result, the influence of the waveform deterioration of the already received input signal is removed from the input signal input to the receiving side next time.

図5に、符号間干渉によって劣化した入力信号の一例を示す。図5において、C0はメインタップ、C1はメインタップC0よりひとつ後のビットへの波形歪電圧である第1ポストタップ、C2は第2ポストタップ、C3は第3ポストタップ、C4は第4ポストタップ、t0,t1,t2,t3,t4は判定タイミングである。各判定タイミングの間隔は、1ビット間隔である。判定帰還型等化によれば、第1ポストタップC1以降の符号間干渉を除去可能である。 FIG. 5 shows an example of an input signal degraded by intersymbol interference. In FIG. 5, C 0 is the main tap, C 1 is the first post tap that is the waveform distortion voltage to the bit immediately after the main tap C 0 , C 2 is the second post tap, C 3 is the third post tap, C 4 is the fourth post-tap, and t 0 , t 1 , t 2 , t 3 , and t 4 are determination timings. Each determination timing interval is one bit interval. According to decision feedback equalization, intersymbol interference after the first post-tap C 1 can be removed.

一方、通信速度の高速化に伴い、受信機全体に占める判定帰還型等化回路の消費電力の割合が大きくなっている。このため、判定帰還型等化回路の低電力化が求められるようになってきた。判定帰還型等化回路の低電力化技術として、例えば非特許文献1に開示されているような電流積分型加算器(CIS)を用いることが提案されている。しかし、非特許文献1の方式では、第1ポストタップの制御を投機実行しているため、電流積分型加算器が2つ必要となっており、消費電力が大きいという問題があった。   On the other hand, as the communication speed increases, the ratio of power consumption of the decision feedback equalization circuit in the entire receiver increases. For this reason, the power reduction of the decision feedback type equalization circuit has been demanded. As a technique for reducing the power consumption of the decision feedback type equalization circuit, it has been proposed to use a current integration type adder (CIS) as disclosed in Non-Patent Document 1, for example. However, in the method of Non-Patent Document 1, since the control of the first post-tap is speculatively executed, two current integration type adders are necessary, and there is a problem that power consumption is large.

そこで、例えば非特許文献2に開示されている方式では、投機実行せずに判定器の閾値を動的に制御することで第1ポストタップの制御を行うようにしている。図6(A)は非特許文献2に開示された判定帰還型等化回路の構成を示す回路図、図6(B)はこの判定帰還型等化回路の詳細な構成を示す回路図である。   Therefore, for example, in the method disclosed in Non-Patent Document 2, the first post-tap is controlled by dynamically controlling the threshold value of the determiner without executing speculation. 6A is a circuit diagram showing a configuration of a decision feedback type equalizer circuit disclosed in Non-Patent Document 2, and FIG. 6B is a circuit diagram showing a detailed configuration of this decision feedback type equalizer circuit. .

非特許文献2に開示された判定帰還型等化回路は、入力信号DQと判定帰還型等化回路の出力とをそれぞれ積分して加算する電流積分型加算器であるIDFE500a〜500dと、IDFE500a〜500dの出力に異なる相の出力により閾値を調整し信号を判定するDFESA501a〜501dと、DFESA501a〜501dの出力を保持するSRラッチ502a〜502dとから構成される。図6(A)、図6(B)において、CK0,CK90,CK180,CK270は位相の異なる4相のクロック、Vrefは基準電圧、VBはバイアス電圧である。   The decision feedback equalization circuit disclosed in Non-Patent Document 2 includes IDFEs 500a to 500d, which are current integration type adders that integrate and add an input signal DQ and an output of the decision feedback equalization circuit, and IDFE 500a to The DFESAs 501a to 501d adjust the thresholds based on outputs of different phases to the output of 500d and determine signals, and SR latches 502a to 502d that hold the outputs of the DFESAs 501a to 501d. In FIGS. 6A and 6B, CK0, CK90, CK180, and CK270 are four-phase clocks having different phases, Vref is a reference voltage, and VB is a bias voltage.

図6(B)に示すように、IDFE500aは、ゲートに後述するAND回路からのクロックが入力され、ソースに電源電圧が与えられたPMOSトランジスタ503,504と、ゲートに基準電圧Vrefが入力され、ドレインがPMOSトランジスタ503のドレインに接続されたNMOSトランジスタ505と、ゲートに入力信号DQが入力され、ドレインがPMOSトランジスタ504のドレインに接続されたNMOSトランジスタ506と、ゲートにバイアス電圧VBが入力され、ドレインがNMOSトランジスタ505のソースに接続され、ソースが接地されたNMOSトランジスタ507と、ゲートにバイアス電圧VBが入力され、ドレインがNMOSトランジスタ506のソースに接続され、ソースが接地されたNMOSトランジスタ508と、一端がNMOSトランジスタ505のソースおよびNMOSトランジスタ507のドレインに接続され、他端がNMOSトランジスタ506のソースおよびNMOSトランジスタ508のドレインに接続された抵抗509と、クロックCK180とCK270とを入力とし、出力がPMOSトランジスタ503,504のゲートに接続されたAND回路510と、ゲートに信号H2が入力され、ドレインがPMOSトランジスタ503のドレインおよびNMOSトランジスタ505のドレインに接続されたNMOSトランジスタ511と、ゲートに信号H2と相補な信号H2bが入力され、ドレインがPMOSトランジスタ504のドレインおよびNMOSトランジスタ506のドレインに接続されたNMOSトランジスタ512と、ゲートにバイアス電圧VBが入力され、ドレインがNMOSトランジスタ511,512のソースに接続され、ソースが接地されたNMOSトランジスタ513と、一端がPMOSトランジスタ504のドレインおよびNMOSトランジスタ506,512のドレインに接続され、他端が接地された容量514と、一端がPMOSトランジスタ503のドレインおよびNMOSトランジスタ505,511のドレインに接続され、他端が接地された容量515とから構成される。図6(B)における信号H2とこれに相補な信号H2bは、他の相のSRラッチからフィードバックされる信号を表している。したがって、IDFE500aの場合、信号H2は、SRラッチ502cの出力D180である。   As shown in FIG. 6B, in the IDFE 500a, a clock from an AND circuit, which will be described later, is input to the gate, PMOS transistors 503 and 504 having a power supply voltage applied to the source, and a reference voltage Vref is input to the gate. An NMOS transistor 505 having a drain connected to the drain of the PMOS transistor 503, an input signal DQ input to the gate, an NMOS transistor 506 having a drain connected to the drain of the PMOS transistor 504, and a bias voltage VB input to the gate. An NMOS transistor 507 whose drain is connected to the source of the NMOS transistor 505 and whose source is grounded, a bias voltage VB is inputted to the gate, its drain is connected to the source of the NMOS transistor 506, and its source is grounded. The transistor 508, a resistor 509 having one end connected to the source of the NMOS transistor 505 and the drain of the NMOS transistor 507, and the other end connected to the source of the NMOS transistor 506 and the drain of the NMOS transistor 508, and the clocks CK180 and CK270 are input. An NMOS circuit 511 having an output connected to the gates of the PMOS transistors 503 and 504, an NMOS transistor 511 having a gate connected to the drain of the PMOS transistor 503 and the drain of the NMOS transistor 505; An NMOS transistor whose gate is supplied with a signal H2b complementary to the signal H2 and whose drain is connected to the drain of the PMOS transistor 504 and the drain of the NMOS transistor 506. 512, the bias voltage VB is input to the gate, the drain is connected to the sources of the NMOS transistors 511 and 512, the source is grounded, and one end of the drain of the PMOS transistor 504 and the NMOS transistors 506 and 512 A capacitor 514 connected to the drain and grounded at the other end, and a capacitor 515 having one end connected to the drain of the PMOS transistor 503 and the drains of the NMOS transistors 505 and 511 and the other end grounded. A signal H2 and a complementary signal H2b in FIG. 6B represent signals fed back from SR latches of other phases. Therefore, in the case of the IDFE 500a, the signal H2 is the output D180 of the SR latch 502c.

DFESA501aは、ゲートにクロックCK0が入力され、ソースに電源電圧が与えられたPMOSトランジスタ516と、ソースに電源電圧が与えられたPMOSトランジスタ517と、ゲートがPMOSトランジスタ517のゲートと接続され、ドレインがPMOSトランジスタ516,517のドレインと接続されたNMOSトランジスタ518と、ゲートにクロックCK0が入力され、ソースに電源電圧が与えられたPMOSトランジスタ519と、ソースに電源電圧が与えられたPMOSトランジスタ520と、ゲートがPMOSトランジスタ520のゲートおよびPMOSトランジスタ516,517のドレインと接続され、ドレインがPMOSトランジスタ519,520のドレインおよびNMOSトランジスタ518のゲートと接続されたNMOSトランジスタ521と、ゲートがPMOSトランジスタ503のドレインおよびNMOSトランジスタ505,511のドレインに接続され、ドレインがNMOSトランジスタ518のソースに接続されたNMOSトランジスタ522と、ゲートがPMOSトランジスタ504のドレインおよびNMOSトランジスタ506,512のドレインに接続され、ドレインがNMOSトランジスタ512のソースに接続されたNMOSトランジスタ523と、ゲートにクロックCK0が入力され、ドレインがNMOSトランジスタ522,523のソースに接続され、ソースが接地されたNMOSトランジスタ524と、ゲートに信号H1bが入力され、ドレインがNMOSトランジスタ518のソースに接続されたNMOSトランジスタ525と、ゲートに信号H1bと相補な信号H1が入力され、ドレインがNMOSトランジスタ521のソースに接続されたNMOSトランジスタ526と、ゲートにクロックCK0が入力され、ドレインがNMOSトランジスタ525,526のソースに接続され、ソースが接地されたNMOSトランジスタ527とから構成される。図6(B)における信号H1とこれに相補な信号H1bは、他の相のDFESAからフィードバックされる信号を表している。したがって、DFESA501aの場合、信号H1は、DFESA501dの出力P270である。
以上のような構成により、非特許文献2の方式では、電流積分型加算器を各相に1つずつ設けるだけで良いので、低電力化を実現できる。
The DFESA 501a has a gate connected to the gate of the PMOS transistor 517, a PMOS transistor 517 to which the power supply voltage is applied to the source, a PMOS transistor 517 to which the power supply voltage is applied to the source, and a drain connected to the gate of the PMOS transistor 517. An NMOS transistor 518 connected to the drains of the PMOS transistors 516 and 517, a PMOS transistor 519 to which the clock CK0 is input to the gate and a power supply voltage is applied to the source, a PMOS transistor 520 to which the power supply voltage is applied to the source, The gate is connected to the gate of PMOS transistor 520 and the drains of PMOS transistors 516 and 517, and the drains are the drains of PMOS transistors 519 and 520 and the gate of NMOS transistor 518. NMOS transistor 521 connected to the NMOS transistor 521, a gate connected to the drain of PMOS transistor 503 and the drains of NMOS transistors 505 and 511, an NMOS transistor 522 connected to the source of NMOS transistor 518, and a gate connected to PMOS transistor 504 The NMOS transistor 523 is connected to the drain of the NMOS transistor 506, 512, the drain is connected to the source of the NMOS transistor 512, the clock CK0 is input to the gate, and the drain is connected to the source of the NMOS transistor 522, 523. , The NMOS transistor 524 whose source is grounded, and the NM whose gate is supplied with the signal H1b and whose drain is connected to the source of the NMOS transistor 518. An S transistor 525, a signal H1 complementary to the signal H1b at the gate, an NMOS transistor 526 whose drain is connected to the source of the NMOS transistor 521, a clock CK0 is input to the gate, and the drains of the NMOS transistors 525 and 526 The NMOS transistor 527 is connected to the source and grounded. A signal H1 and a complementary signal H1b in FIG. 6B represent signals fed back from DFESA of other phases. Therefore, in the case of DFESA 501a, the signal H1 is the output P270 of DFESA 501d.
With the configuration as described above, in the method of Non-Patent Document 2, it is only necessary to provide one current integrating adder for each phase, so that low power can be realized.

J.F Bulzacchelli,et al.,“A 78mW 11.1Gb/s 5-Tap DFE Receiver with Digitally Calibrated Current Integrating Summers in 65nm CMOS”,ISSCC Dig.Tech.Papers,pp.368-367,Feb.,2009J.F Bulzacchelli, et al., “A 78mW 11.1Gb / s 5-Tap DFE Receiver with Digitally Calibrated Current Integrating Summers in 65nm CMOS”, ISSCC Dig.Tech.Papers, pp.368-367, Feb., 2009 Seung-Jun Bae,et al.,“A 40nm 7Gb/s/pin Single-ended Transceiver with Jitter and ISI Reduction Techniques for High-Speed DRAM Interface”,Symposium on VLSI Circuits,pp.193-194,June,2010Seung-Jun Bae, et al., “A 40nm 7Gb / s / pin Single-ended Transceiver with Jitter and ISI Reduction Techniques for High-Speed DRAM Interface”, Symposium on VLSI Circuits, pp.193-194, June, 2010

従来の多相クロックを用いた構成の電流積分型加算器(CIS)は、1ビット毎に入力信号を積分するので、1ビット幅のクロックを生成する必要がある。このため、非特許文献2に開示されている方式では、図6(B)に示すように、4相クロックから上記1ビット幅のクロックを生成するために、隣り合う相のクロック(図6(B)の例ではCK180とCK270)を入力とするAND回路510により1ビット分の長さのクロックを生成している。電流積分型加算器は、生成したクロックが例えばHighの期間に入力信号を電流積分している。   A conventional current integration type adder (CIS) using a multi-phase clock integrates an input signal for each bit, so that it is necessary to generate a clock having a 1-bit width. Therefore, in the method disclosed in Non-Patent Document 2, as shown in FIG. 6B, in order to generate the 1-bit clock from the four-phase clock, the clocks of adjacent phases (FIG. In the example of B), a clock having a length of 1 bit is generated by an AND circuit 510 having CK180 and CK270) as inputs. The current integration type adder integrates the input signal during a period when the generated clock is, for example, High.

非特許文献2に開示されている方式では、データレートを向上させた場合に次の問題が発生する。まず、非特許文献2に開示されている方式では、上記AND回路の出力波形は寄生抵抗と寄生容量により劣化するので、高速動作させるにはトランジスタのサイズ(W)を大きくし電流を多く流す必要があり、消費電力が増加するという問題があった。   In the method disclosed in Non-Patent Document 2, the following problem occurs when the data rate is improved. First, in the method disclosed in Non-Patent Document 2, the output waveform of the AND circuit is deteriorated by parasitic resistance and parasitic capacitance. Therefore, to operate at high speed, it is necessary to increase the transistor size (W) and to flow a large amount of current. There is a problem that power consumption increases.

また、非特許文献2に開示されている方式では、クロックの周期が短くなると積分時間が短くなるので、同じ出力振幅を得るために必要な電流が増加し、この電流を流すために電流積分型加算器のトランジスタのサイズ(W)を大きくする必要がある。このため、非特許文献2に開示されている方式では、電流積分型加算器のトランジスタを駆動する前段の回路の負荷が増大し、トランジスタを駆動するための消費電力が増加するという問題があった。   Further, in the method disclosed in Non-Patent Document 2, since the integration time is shortened when the clock cycle is shortened, the current required to obtain the same output amplitude is increased, and the current integration type is used to flow this current. It is necessary to increase the size (W) of the transistor of the adder. For this reason, the method disclosed in Non-Patent Document 2 has a problem that the load on the previous circuit for driving the transistor of the current integration type adder increases and the power consumption for driving the transistor increases. .

本発明は、上記消費電力が増加するという問題を解決するためになされたもので、低消費電力で符号間干渉を除去することができる等化装置、等化方法及びプログラムを提供することを目的とする。   The present invention has been made to solve the above-described problem of increase in power consumption, and an object thereof is to provide an equalization apparatus, an equalization method, and a program capable of removing intersymbol interference with low power consumption. And

本発明の等化装置は、n相(nは2以上の自然数)のクロックに応じて等化手段をn個備え、各等化手段は、所定のシンボル長の周期で変調された入力信号をサンプルホールドし信号を出力するサンプルホールド手段と、このサンプルホールド手段の出力信号と2ビット前からN(Nは2以上の自然数)ビット前までに受信した入力信号の判定結果信号TAP2〜TAPNの各々を電流積分して加算する電流積分型加算手段と、外部から入力される閾値量制御信号により閾値の量が制御され、1ビット前に受信した入力信号の判定結果信号TAP1により前記閾値の符号が制御され、この閾値を基に前記電流積分型加算手段の出力信号を判定して判定結果を出力する動的閾値制御判定手段と、この動的閾値制御判定手段の出力信号を、自等化手段と逆相のクロックを用いる等化手段の動的閾値制御判定手段へ判定結果信号TAP1として帰還する帰還手段と、前記動的閾値制御判定手段の出力に縦続接続され、それぞれ判定結果信号TAP2〜TAPNを出力する(N−1)個のラッチ手段とを備えることを特徴とするものである。   The equalization apparatus of the present invention includes n equalization means according to an n-phase (n is a natural number of 2 or more) clock, and each equalization means receives an input signal modulated with a period of a predetermined symbol length. Sample hold means for sample-holding and outputting a signal, and output signal of the sample-hold means, and input signal determination result signals TAP2 to TAPN received from 2 bits before to N (N is a natural number of 2 or more) bits Current integration type adding means for integrating the current and adding, and a threshold amount control signal input from the outside, and the threshold value is controlled by the input signal determination result signal TAP1 received one bit before. A control unit that determines the output signal of the current integration type adding unit based on the threshold value and outputs a determination result; and the output signal of the dynamic threshold control determination unit is self-equalized. A feedback means that feeds back as a determination result signal TAP1 to a dynamic threshold control determination means of an equalization means that uses a clock having a phase opposite to that of the stage, and is cascaded to the output of the dynamic threshold control determination means, and each of the determination result signals TAP2 to TAP2 And (N−1) latch means for outputting TAPN.

また、本発明の等化方法は、n相(nは2以上の自然数)のクロックに応じて並行して実行されるn個の等化ステップを備え、各等化ステップは、所定のシンボル長の周期で変調された入力信号をサンプルホールドするサンプルホールドステップと、このサンプルホールドステップで得られた出力信号と2ビット前からN(Nは2以上の自然数)ビット前までに受信した入力信号の判定結果信号TAP2〜TAPNの各々を電流積分して加算する電流積分型加算ステップと、外部から入力される閾値量制御信号により閾値の量を制御し、1ビット前に受信した入力信号の判定結果信号TAP1により前記閾値の符号を制御し、この閾値を基に前記電流積分型加算ステップで得られた出力信号を判定する動的閾値制御判定ステップと、この動的閾値制御判定ステップで得られた出力信号を、逆相のクロックを用いる等化ステップの動的閾値制御判定ステップへ判定結果信号TAP1として帰還する帰還ステップと、前記動的閾値制御判定ステップの出力を直列的に(N−1)回ラッチし、それぞれのラッチの出力を判定結果信号TAP2〜TAPNとして出力するラッチステップとからなることを特徴とするものである。   The equalization method of the present invention includes n equalization steps executed in parallel according to an n-phase (n is a natural number of 2 or more) clock, and each equalization step has a predetermined symbol length. A sample-and-hold step that samples and holds an input signal modulated with a period of, and an output signal obtained in this sample-and-hold step and an input signal received from 2 bits before to N (N is a natural number of 2 or more) bits before Current integration type addition step of integrating each of the determination result signals TAP2 to TAPN by current integration and a threshold amount control signal input from the outside, and the determination result of the input signal received one bit before A dynamic threshold control determination step of controlling the sign of the threshold by the signal TAP1, and determining an output signal obtained in the current integration type addition step based on the threshold; A feedback step that feeds back the output signal obtained in the value control determination step as a determination result signal TAP1 to a dynamic threshold control determination step in an equalization step using a reverse-phase clock; and an output of the dynamic threshold control determination step It is characterized by comprising latch steps that latch in series (N-1) times and output the outputs of the respective latches as determination result signals TAP2 to TAPN.

また、本発明の等化プログラムは、n相(nは2以上の自然数)のクロックに応じてn個の等化ステップをコンピュータに並行して実行させ、各等化ステップは、所定のシンボル長の周期で変調された入力信号をサンプルホールドするサンプルホールドステップと、このサンプルホールドステップで得られた出力信号と2ビット前からN(Nは2以上の自然数)ビット前までに受信した入力信号の判定結果信号TAP2〜TAPNの各々を電流積分して加算する電流積分型加算ステップと、外部から入力される閾値量制御信号により閾値の量を制御し、1ビット前に受信した入力信号の判定結果信号TAP1により前記閾値の符号を制御し、この閾値を基に前記電流積分型加算ステップで得られた出力信号を判定する動的閾値制御判定ステップと、この動的閾値制御判定ステップで得られた出力信号を、逆相のクロックを用いる等化ステップの動的閾値制御判定ステップへ判定結果信号TAP1として帰還する帰還ステップと、前記動的閾値制御判定ステップの出力を直列的に(N−1)回ラッチし、それぞれのラッチの出力を判定結果信号TAP2〜TAPNとして出力するラッチステップとからなることを特徴とするものである。   Further, the equalization program of the present invention causes the computer to execute n equalization steps in parallel according to an n-phase (n is a natural number of 2 or more) clock, and each equalization step has a predetermined symbol length. A sample-and-hold step that samples and holds an input signal modulated with a period of, and an output signal obtained in this sample-and-hold step and an input signal received from 2 bits before to N (N is a natural number of 2 or more) bits before Current integration type addition step of integrating each of the determination result signals TAP2 to TAPN by current integration and a threshold amount control signal input from the outside, and the determination result of the input signal received one bit before A dynamic threshold control determination step for controlling the sign of the threshold by the signal TAP1 and determining the output signal obtained in the current integration type addition step based on the threshold. A feedback step of feeding back the output signal obtained in this dynamic threshold control determination step as a determination result signal TAP1 to a dynamic threshold control determination step of an equalization step using a reverse phase clock; and the dynamic threshold control It comprises a latch step that latches the output of the determination step serially (N−1) times and outputs the output of each latch as determination result signals TAP2 to TAPN.

本発明によれば、多相クロック構成で、入力信号をサンプルホールドし入力信号を保持することで、電流積分型加算手段の積分時間を1ビット幅以上にすることが可能となる。このため、本発明では、1ビット幅のクロックを生成する必要が無くなり、1ビット幅のクロックを生成するための回路の電力を削減することが可能となる。また、本発明では、電流積分型加算手段の積分時間を1ビット幅以上にすることが可能であるため、同じ出力振幅を得るために必要な電流が減少し、電流積分型加算手段のトランジスタのサイズを小さくすることができ、電流積分型加算手段のトランジスタを駆動する前段の回路の負荷が小さくなるので、前段の回路の消費電力を削減することが可能となる。   According to the present invention, it is possible to make the integration time of the current integration type adding means 1 bit or more by sampling and holding the input signal and holding the input signal in a multiphase clock configuration. Therefore, in the present invention, it is not necessary to generate a 1-bit width clock, and the power of the circuit for generating the 1-bit width clock can be reduced. In the present invention, since the integration time of the current integration type adder can be set to 1 bit width or more, the current required to obtain the same output amplitude is reduced, and the transistor of the current integration type adder is reduced. The size can be reduced, and the load on the previous circuit for driving the transistor of the current integration type adding means is reduced, so that the power consumption of the previous circuit can be reduced.

本発明の実施の形態に係る等化装置の構成の1例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows an example of a structure of the equalization apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る等化装置のサンプルホールド部と電流積分型加算部の具体例を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the specific example of the sample hold part and current integration type addition part of the equalization apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る等化装置のサンプルホールド部と電流積分型加算部の動作を示すタイミングチャートである。It is a timing chart which shows operation | movement of the sample hold part and current integration type addition part of the equalization apparatus which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施の形態に係る等化装置の動的閾値制御判定ラッチ部の具体例を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the specific example of the dynamic threshold value control determination latch part of the equalization apparatus which concerns on embodiment of this invention. 符号間干渉によって劣化した入力信号の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the input signal degraded by intersymbol interference. 従来の判定帰還型等化回路の構成を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the structure of the conventional decision feedback type | mold equalization circuit.

以下に、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。図1は本発明の実施の形態に係る等化装置の構成の1例を示すブロック図である。本実施の形態の等化装置は、2相クロック構成であり、EVEN側の等化部1aとODD側の等化部1bとから構成される。等化部1aは、サンプルホールド部2aと、電流積分型加算部3aと、動的閾値制御判定ラッチ部4aと、インバータ5aと、ラッチ部6a−1〜6a−(N−1)とを備える。同様に、等化部1bは、サンプルホールド部2bと、電流積分型加算部3bと、動的閾値制御判定ラッチ部4bと、インバータ5bと、ラッチ部6b−1〜6b−(N−1)とを備える。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an example of the configuration of an equalization apparatus according to an embodiment of the present invention. The equalization apparatus of the present embodiment has a two-phase clock configuration, and includes an EVEN side equalization unit 1a and an ODD side equalization unit 1b. The equalization unit 1a includes a sample hold unit 2a, a current integration type addition unit 3a, a dynamic threshold control determination latch unit 4a, an inverter 5a, and latch units 6a-1 to 6a- (N-1). . Similarly, the equalization unit 1b includes a sample hold unit 2b, a current integration type addition unit 3b, a dynamic threshold control determination latch unit 4b, an inverter 5b, and latch units 6b-1 to 6b- (N-1). With.

なお、本実施の形態で扱う入力信号Din,Dinb、等化装置の出力信号DOeven,DObeven,DOodd,DObodd、判定結果信号TAPは、すべて差動信号である。また、サンプルホールド部2a,2b、電流積分型加算部3a,3b、動的閾値制御判定ラッチ部4a,4b、およびラッチ部6a−1〜6a−(N−1),6b−1〜6b−(N−1)の各構成の入出力信号もすべて差動信号である。なお、ラッチ部6a−1〜6a−(N−1),6b−1〜6b−(N−1)の回路は差動構成である必要はない。   Note that the input signals Din and Dinb handled in the present embodiment, the output signals DOeven, DObeven, DOodd, DObody, and the determination result signal TAP of the equalizer are all differential signals. Further, the sample hold units 2a and 2b, current integration type adders 3a and 3b, dynamic threshold control determination latch units 4a and 4b, and latch units 6a-1 to 6a- (N-1), 6b-1 to 6b- The input / output signals of each component of (N-1) are all differential signals. Note that the circuits of the latch units 6a-1 to 6a- (N-1) and 6b-1 to 6b- (N-1) do not need to have a differential configuration.

サンプルホールド部2aは、サンプルホールド部2aに入力された入力信号Dinとこれに相補な入力信号DinbとをクロックCKEの立ち上がりタイミングで保持し、保持した信号を電流積分型加算部3aへ出力する。また、サンプルホールド部2aは、クロックCKEの立ち下がりタイミングで入力信号Din,Dinbを通過させ電流積分型加算部3aへ出力する。   The sample hold unit 2a holds the input signal Din input to the sample hold unit 2a and the complementary input signal Dinb at the rising timing of the clock CKE, and outputs the held signal to the current integration type addition unit 3a. The sample hold unit 2a passes the input signals Din and Dinb at the falling timing of the clock CKE and outputs them to the current integration type addition unit 3a.

電流積分型加算部3aは、サンプルホールド部2aから出力された信号と、2ビット前からN(Nは2以上の自然数)ビット前までに受信した入力信号の判定結果信号TAP2〜TAPNのそれぞれの積分を、クロックCKEの立ち上がりタイミングから開始し、サンプルホールド部2aから出力された信号と判定結果信号TAP2〜TAPNとを加算する。判定結果信号TAP2〜TAPNの詳細については後述する。   Each of the current integration type adder 3a includes the signal output from the sample hold unit 2a and the determination result signals TAP2 to TAPN of the input signal received from 2 bits before to N (N is a natural number of 2 or more) bits before. The integration is started from the rising timing of the clock CKE, and the signal output from the sample hold unit 2a and the determination result signals TAP2 to TAPN are added. Details of the determination result signals TAP2 to TAPN will be described later.

電流積分型加算部3aは、この加算した信号を動的閾値制御判定ラッチ部4aに出力する。電流積分型加算部3aの入力信号は、クロックCKEの立ち上がりタイミングから立ち下がりタイミングまでの間積分され、立ち下がりタイミングからは電流積分型加算部3aの出力をプリチャージする。このプリチャージにより、電流積分型加算部3aの出力は電源電圧レベルとなる。   The current integration type adding unit 3a outputs the added signal to the dynamic threshold value control determination latch unit 4a. The input signal of the current integrating adder 3a is integrated from the rising timing to the falling timing of the clock CKE, and the output of the current integrating adder 3a is precharged from the falling timing. By this precharge, the output of the current integration type adder 3a becomes the power supply voltage level.

動的閾値制御判定ラッチ部4aは、閾値量制御信号CTLevenによって閾値の量が制御され、さらに1ビット前に受信した入力信号の判定結果を示す判定結果信号TAP1evenが入力され、その入力信号TAP1evenにより前記閾値の符号が動的に制御される。例えば判定結果信号TAP1evenが、1ビット前に受信した信号がHighであることを示している時は、閾値の符号がプラスに制御される。また、判定結果信号TAP1evenが、1ビット前に受信した信号がLowであることを示している時は、閾値の符号がマイナスに制御される。   The threshold value control signal CTLeven controls the amount of the threshold, and the dynamic threshold control determination latch unit 4a receives a determination result signal TAP1even indicating the determination result of the input signal received one bit before, and the input signal TAP1even The sign of the threshold is dynamically controlled. For example, when the determination result signal TAP1even indicates that the signal received one bit before is High, the sign of the threshold is controlled to be positive. Further, when the determination result signal TAP1even indicates that the signal received one bit before is Low, the sign of the threshold is controlled to be negative.

なお、本実施の形態の等化装置は2相のクロックに応じて等化部1a,1bを2つ設けた2相クロック構成なので、判定結果信号TAP1evenは、ODD側の等化部1bの動的閾値制御判定ラッチ部4bから等化部1bのインバータ5bを介して出力された信号である。   Note that since the equalization apparatus according to the present embodiment has a two-phase clock configuration in which two equalization units 1a and 1b are provided according to a two-phase clock, the determination result signal TAP1even is an operation of the equalization unit 1b on the ODD side. This signal is output from the target threshold value control determination latch unit 4b via the inverter 5b of the equalization unit 1b.

動的閾値制御判定ラッチ部4aは、上記のように制御された閾値を基に、クロックCKEの立ち下がりタイミングで、電流積分型加算部3aからの出力信号がHighかLowかを判定する。この動的閾値制御判定ラッチ部4aの判定結果信号は、ラッチ部6a−1へ出力される。さらに、動的閾値制御判定ラッチ部4aの出力は、判定結果信号TAP1oddとして、次のビットを受信する相の等化部の動的閾値制御判定ラッチ部へ出力される。   The dynamic threshold control determination latch unit 4a determines whether the output signal from the current integration type addition unit 3a is High or Low at the falling timing of the clock CKE based on the threshold value controlled as described above. The determination result signal of the dynamic threshold control determination latch unit 4a is output to the latch unit 6a-1. Further, the output of the dynamic threshold control determination latch unit 4a is output as a determination result signal TAP1odd to the dynamic threshold control determination latch unit of the phase equalization unit that receives the next bit.

本実施の形態の等化装置は2相クロック構成なので、判定結果信号TAP1oddは、ODD側の等化部1bの動的閾値制御判定ラッチ部4bへ出力される。EVEN側の等化部1aと同様に、ODD側の等化部1bの動的閾値制御判定ラッチ部4bでは、この判定結果信号TAP1oddを用いて閾値の符号が動的に制御されることになる。   Since the equalization apparatus of the present embodiment has a two-phase clock configuration, the determination result signal TAP1odd is output to the dynamic threshold control determination latch unit 4b of the equalization unit 1b on the ODD side. Similar to the EVEN side equalization unit 1a, the dynamic threshold value control determination latch unit 4b of the ODD side equalization unit 1b uses the determination result signal TAP1odd to dynamically control the sign of the threshold value. .

なお、動的閾値制御判定ラッチ部4aの出力と動的閾値制御判定ラッチ部4bの入力との間に奇数段のインバータを入れることが望ましい。クロックCKEの立ち上がりタイミングで動的閾値制御判定ラッチ部4aがプリチャージされ、動的閾値制御判定ラッチ部4aの2つの出力が両方ともHighになる。すなわち、奇数段のインバータの入力がHighになるため、奇数段のインバータの出力はLowになり、このインバータの出力が判定結果信号TAP1oddとして動的閾値制御判定ラッチ部4bへ入力される。動的閾値制御判定ラッチ部4bは、判定結果信号TAP1oddの差動信号両方がLowであるため、閾値制御を行わない。   Note that it is desirable to insert an odd number of inverters between the output of the dynamic threshold control determination latch unit 4a and the input of the dynamic threshold control determination latch unit 4b. The dynamic threshold value control determination latch unit 4a is precharged at the rising timing of the clock CKE, and both of the two outputs of the dynamic threshold value control determination latch unit 4a become High. That is, since the input of the odd-numbered inverter becomes High, the output of the odd-numbered inverter becomes Low, and the output of this inverter is input to the dynamic threshold control determination latch unit 4b as the determination result signal TAP1odd. The dynamic threshold control determination latch unit 4b does not perform threshold control because both differential signals of the determination result signal TAP1odd are Low.

したがって、動的閾値制御判定ラッチ部4bが正しい判定結果を出力するまでは閾値制御を行わないので、正しい判定結果が出力されるまでの間に間違った等化をすることを防ぐことができる。本実施の形態では、動的閾値制御判定ラッチ部4aの正相出力と逆相出力の各々にインバータ5aを1段ずつ挿入し、また動的閾値制御判定ラッチ部4bの正相出力と逆相出力の各々にインバータ5bを1段ずつ挿入している。   Accordingly, the threshold control is not performed until the dynamic threshold control determination latch unit 4b outputs a correct determination result, and therefore it is possible to prevent erroneous equalization before the correct determination result is output. In the present embodiment, one stage of the inverter 5a is inserted into each of the positive phase output and the negative phase output of the dynamic threshold control determination latch unit 4a, and the positive phase output and the negative phase output of the dynamic threshold control determination latch unit 4b. One stage of inverter 5b is inserted for each output.

ラッチ部6a−1は、クロックCKEの立ち下がりタイミングからクロックCKEの立ち上がりタイミングまでは動的閾値制御判定ラッチ部4aの出力を通過させ、通過させた信号を判定結果信号TAP2として次のラッチ部6a−2へ出力する。また、ラッチ部6a−1は、クロックCKEの立ち上がりタイミングで動的閾値制御判定ラッチ部4aの出力を保持し、保持した信号を判定結果信号TAP2として次のラッチ部6a−2へ出力する。   The latch unit 6a-1 passes the output of the dynamic threshold control determination latch unit 4a from the falling timing of the clock CKE to the rising timing of the clock CKE, and uses the passed signal as the determination result signal TAP2 for the next latch unit 6a. Output to -2. The latch unit 6a-1 holds the output of the dynamic threshold control determination latch unit 4a at the rising timing of the clock CKE, and outputs the held signal as the determination result signal TAP2 to the next latch unit 6a-2.

ラッチ部6a−2は、クロックCKEの立ち上がりタイミングからクロックCKEの立ち下がりタイミングまではラッチ部6a−1の出力を通過させ、通過させた信号を判定結果信号TAP3として次のラッチ部6a−3へ出力する。また、ラッチ部6a−2は、クロックCKEの立ち下がりタイミングでラッチ部6a−1の出力を保持し、保持した信号を判定結果信号TAP3として次のラッチ部6a−3へ出力する。   The latch unit 6a-2 passes the output of the latch unit 6a-1 from the rising timing of the clock CKE to the falling timing of the clock CKE, and uses the passed signal as the determination result signal TAP3 to the next latch unit 6a-3. Output. The latch unit 6a-2 holds the output of the latch unit 6a-1 at the falling timing of the clock CKE, and outputs the held signal as the determination result signal TAP3 to the next latch unit 6a-3.

すなわち、偶数番目の判定結果信号TAP(例えばTAP2,TAP4,・・・・)を出力する奇数番目のラッチ部6a(例えば6a−1,6a−3,・・・・)は、クロックCKEの立ち下がりタイミングで前段の動的閾値制御判定ラッチ部4aの出力または前段の偶数番目のラッチ部6a(例えば6a−2,6a−4,・・・・)の出力を通過させ、クロックCKEの立ち上がりタイミングで前段の動的閾値制御判定ラッチ部4aの出力または前段の偶数番目のラッチ部6aの出力を保持する。   That is, the odd-numbered latch unit 6a (for example, 6a-1, 6a-3,...) That outputs the even-numbered determination result signal TAP (for example, TAP2, TAP4,...) Outputs the rising edge of the clock CKE. The output of the preceding dynamic threshold control determination latch unit 4a or the output of the even-numbered latch unit 6a (for example, 6a-2, 6a-4,...) Is passed at the falling timing, and the rising timing of the clock CKE The output of the preceding dynamic threshold control determination latch unit 4a or the output of the even-numbered latch unit 6a of the previous stage is held.

一方、奇数番目の判定結果信号TAP(例えばTAP3,TAP5,・・・・)を出力する偶数番目のラッチ部6aは、クロックCKEの立ち上がりタイミングで前段の奇数番目のラッチ部6aの出力を通過させ、クロックCKEの立ち下がりタイミングで前段の奇数番目のラッチ部6aの出力を保持する。   On the other hand, the even-numbered latch unit 6a that outputs the odd-numbered determination result signal TAP (for example, TAP3, TAP5,...) Passes the output of the odd-numbered latch unit 6a in the preceding stage at the rising timing of the clock CKE. The output of the odd-numbered latch unit 6a in the previous stage is held at the falling timing of the clock CKE.

本実施の形態のように2相クロックを用いた場合、等化部1aの各ラッチ部6a−1〜6a−(N−1)から出力された判定結果信号TAP2〜TAPNのうち、偶数番目の判定結果信号TAP(例えばTAP2,TAP4,・・・・)は、同じ相の等化部1aの電流積分型加算部3aへ出力される。図1の例では、ラッチ部6a−1の出力が同じ相の等化部1aの電流積分型加算部3aへ出力されるため、この出力を判定結果信号TAP2evenと記している。また、各ラッチ部6a−1〜6a−(N−1)から出力された判定結果信号TAP2〜TAPNのうち、奇数番目の判定結果信号TAP(例えばTAP3,TAP5,・・・・)は、逆相の等化部1bの電流積分型加算部3bへ出力される。図1の例では、ラッチ部6a−2の出力が等化部1bへ出力されるため、この出力を判定結果信号TAP3oddと記している。   When a two-phase clock is used as in the present embodiment, among the determination result signals TAP2 to TAPN output from the latch units 6a-1 to 6a- (N-1) of the equalization unit 1a, The determination result signal TAP (for example, TAP2, TAP4,...) Is output to the current integration type addition unit 3a of the equalization unit 1a having the same phase. In the example of FIG. 1, since the output of the latch unit 6a-1 is output to the current integration type addition unit 3a of the equalization unit 1a of the same phase, this output is denoted as a determination result signal TAP2even. Of the determination result signals TAP2 to TAPN output from the latch units 6a-1 to 6a- (N-1), odd-numbered determination result signals TAP (for example, TAP3, TAP5,...) Are reversed. It is output to the current integration type addition unit 3b of the phase equalization unit 1b. In the example of FIG. 1, since the output of the latch unit 6a-2 is output to the equalization unit 1b, this output is described as a determination result signal TAP3odd.

同様に、等化部1bの各ラッチ部6b−1〜6b−(N−1)から出力された判定結果信号TAP2〜TAPNのうち、偶数番目の判定結果信号TAPは、同じ相の等化部1bの電流積分型加算部3bへ出力される。図1の例では、ラッチ部6b−1の出力が同じ相の等化部1bの電流積分型加算部3bへ出力されるため、この出力を判定結果信号TAP2oddと記している。また、各ラッチ部6b−1〜6b−(N−1)から出力された判定結果信号TAP2〜TAPNのうち、奇数番目の判定結果信号TAPは、逆相の等化部1aの電流積分型加算部3aへ出力される。図1の例では、ラッチ部6b−2の出力が等化部1aへ出力されるため、この出力を判定結果信号TAP3evenと記している。   Similarly, among the determination result signals TAP2 to TAPN output from the latch units 6b-1 to 6b- (N-1) of the equalization unit 1b, the even-numbered determination result signal TAP is the equalization unit of the same phase. 1b is output to the current integration type adder 3b. In the example of FIG. 1, since the output of the latch unit 6b-1 is output to the current integration type addition unit 3b of the equalization unit 1b of the same phase, this output is described as a determination result signal TAP2odd. Of the determination result signals TAP2 to TAPN output from the latch units 6b-1 to 6b- (N-1), the odd-numbered determination result signal TAP is the current integration type addition of the reverse phase equalization unit 1a. Is output to the unit 3a. In the example of FIG. 1, since the output of the latch unit 6b-2 is output to the equalization unit 1a, this output is described as a determination result signal TAP3even.

このようにして判定結果信号TAP2〜TAPNを入出力すればよい。4相クロック構成の場合の判定結果信号TAP2〜TAPNの入出力方法は、例えば文献「Robert Payne,et al.,“A 6.25Gb/s binary adaptive DFE with first post-cursor tap cancellation for serial backplane communications”,IEEE International Solid-State Circuits Conference,pp.68-69,February,2005」に記載されている。4相以上のクロック構成の場合の判定結果信号TAP2〜TAPNの入出力も、4相クロック構成の場合と同様である。   In this way, the determination result signals TAP2 to TAPN may be input / output. The input / output method of the determination result signals TAP2 to TAPN in the case of a four-phase clock configuration is, for example, the document “Robert Payne, et al.,“ A 6.25 Gb / s binary adaptive DFE with first post-cursor tap cancellation for serial backplane communications ”. IEEE International Solid-State Circuits Conference, pp. 68-69, February, 2005 ”. The input / output of the determination result signals TAP2 to TAPN in the case of a four-phase or more clock configuration is the same as in the case of the four-phase clock configuration.

図2にサンプルホールド部2a,2bと電流積分型加算部3a,3bの回路の具体例を示す。サンプルホールド部2a,2bは、一般的なPMOSスイッチで構成されている。つまり、サンプルホールド部2aは、ゲートにクロックCKEが入力され、ソースに正相入力信号Dinが入力され、ドレインがサンプルホールド部2aの正相出力端子となるPMOSトランジスタ200と、ゲートにクロックCKEが入力され、ソースに逆相入力信号Dinbが入力され、ドレインがサンプルホールド部2aの逆相出力端子となるPMOSトランジスタ201とから構成される。サンプルホールド部2bの構成は、サンプルホールド部2aと同様である。   FIG. 2 shows a specific example of the circuits of the sample hold units 2a and 2b and the current integration type adders 3a and 3b. The sample hold units 2a and 2b are configured by general PMOS switches. That is, in the sample hold unit 2a, the clock CKE is input to the gate, the positive phase input signal Din is input to the source, the drain is the positive phase output terminal of the sample hold unit 2a, and the clock CKE is the gate. The PMOS transistor 201 is input, the negative phase input signal Dinb is input to the source, and the drain is the negative phase output terminal of the sample hold unit 2a. The configuration of the sample hold unit 2b is the same as that of the sample hold unit 2a.

電流積分型加算部3aは、クロックCKEによって制御されるリセットスイッチ300と、サンプルホールド部2aの出力信号SHOとこれに相補な出力信号SHObを積分するメインタップ用積分回路301と、判定結果信号TAP2〜TAPNを積分する積分回路302−1〜302−(N−1)と、出力信号Doutとこれに相補な出力信号Doutbとの間にオフセットをつけるオフセット回路303とから構成されている。電流積分型加算部3bの構成は、電流積分型加算部3aと同様である。   The current integration type adder 3a includes a reset switch 300 controlled by the clock CKE, a main tap integration circuit 301 for integrating the output signal SHO of the sample hold unit 2a and an output signal SHOb complementary thereto, and a determination result signal TAP2 ~ Integral circuits 302-1 to 302- (N-1) for integrating TAPN, and an offset circuit 303 for providing an offset between the output signal Dout and a complementary output signal Doutb. The configuration of the current integration type addition unit 3b is the same as that of the current integration type addition unit 3a.

リセットスイッチ300は、ゲートにクロックCKEが入力され、ソースに電源電圧が与えられ、ドレインがNMOSトランジスタ301のドレインに接続されたPMOSトランジスタ304と、ゲートにクロックCKEが入力され、ソースに電源電圧が与えられ、ドレインがNMOSトランジスタ302のドレインに接続されたPMOSトランジスタ305と、ゲートにクロックCKEが入力され、ソースがNMOSトランジスタ301のドレインに接続され、ドレインがNMOSトランジスタ302のドレインに接続されたPMOSトランジスタ306とから構成される。なお、PMOSトランジスタ306は無くてもよい。   In the reset switch 300, the clock CKE is input to the gate, the power supply voltage is applied to the source, the PMOS transistor 304 whose drain is connected to the drain of the NMOS transistor 301, the clock CKE is input to the gate, and the power supply voltage is input to the source. A PMOS transistor 305 having a drain connected to the drain of the NMOS transistor 302, a clock CKE inputted to the gate, a source connected to the drain of the NMOS transistor 301, and a PMOS connected to the drain of the NMOS transistor 302. And a transistor 306. Note that the PMOS transistor 306 may be omitted.

メインタップ用積分回路301は、ゲートがサンプルホールド回路2aの出力に接続され、ドレインがリセットスイッチ300の出力であるPMOSトランジスタ304,305のドレインに接続された入力差動対のNMOSトランジスタ307,308と、入力がNMOSトランジスタ307,308のソースに接続され、クロックCKEによって制御されるISSスイッチ309と、一端がNMOSトランジスタ307のソースに接続され、他端がNMOSトランジスタ308のソースに接続された抵抗310と、一端がISSスイッチ309の出力に接続され、他端が接地された定電流源311,312とから構成される。ISSスイッチ309は、ゲートにクロックCKEが入力され、ドレインがNMOSトランジスタ307,308のソースに接続され、ソースが電流源311,312に接続されたNMOSトランジスタ313,314から構成される。   The main tap integrating circuit 301 has an input differential pair of NMOS transistors 307 and 308 whose gate is connected to the output of the sample hold circuit 2a and whose drain is connected to the drains of the PMOS transistors 304 and 305, which are the outputs of the reset switch 300. And an ISS switch 309 whose input is connected to the sources of the NMOS transistors 307 and 308 and controlled by the clock CKE, and a resistor whose one end is connected to the source of the NMOS transistor 307 and whose other end is connected to the source of the NMOS transistor 308. 310 and constant current sources 311 and 312 having one end connected to the output of the ISS switch 309 and the other end grounded. The ISS switch 309 includes NMOS transistors 313 and 314 having a gate that receives the clock CKE, a drain connected to the sources of the NMOS transistors 307 and 308, and sources connected to the current sources 311 and 312.

積分回路302−1は、TAP制御信号から生成されたセレクタ信号Sign2に応じて判定結果信号TAP2の符号を制御するセレクタ回路315−1と、ゲートにセレクタ回路315−1の出力が入力され、ドレインがリセットスイッチ300の出力であるPMOSトランジスタ304,305のドレインに接続された入力差動対のNMOSトランジスタ316−1,317−1と、入力がNMOSトランジスタ316−1,317−1のソースに接続され、クロックCKEによって制御されるISSスイッチ318−1と、一端がISSスイッチ318−1の出力に接続され、他端が接地された定電流源319−1とから構成される。ISSスイッチ318−1は、ゲートにクロックCKEが入力され、ドレインがNMOSトランジスタ316−1,317−1のソースに接続され、ソースが電流源319−1に接続されたNMOSトランジスタ320−1から構成される。セレクタ回路315−1は、セレクタ信号Sign2に応じて判定結果信号TAP2を通過させたり反転させたりすることにより、判定結果信号TAP2の符号を制御する。セレクタ信号Sign2は、サンプルホールド部2aの出力信号と判定結果信号TAP2とが加算されたときにポストタップが除去されるように電流積分型加算部3aを制御する。すなわち、図5のC2のタイミングが第2ポストタップの電圧であり、C2がゼロとなるようにセレクタ信号Sign2が決定される。 The integrating circuit 302-1 has a selector circuit 315-1 that controls the sign of the determination result signal TAP2 in accordance with the selector signal Sign2 generated from the TAP control signal, and the output of the selector circuit 315-1 is input to the gate. Are the input differential pair NMOS transistors 316-1 and 317-1 connected to the drains of the PMOS transistors 304 and 305, which are outputs of the reset switch 300, and the input is connected to the sources of the NMOS transistors 316-1 and 317-1. ISS switch 318-1 controlled by clock CKE, and constant current source 319-1 having one end connected to the output of ISS switch 318-1 and the other end grounded. The ISS switch 318-1 includes an NMOS transistor 320-1 having a gate that receives the clock CKE, a drain connected to the sources of the NMOS transistors 316-1 and 317-1, and a source connected to the current source 319-1. Is done. The selector circuit 315-1 controls the sign of the determination result signal TAP2 by passing or inverting the determination result signal TAP2 in accordance with the selector signal Sign2. The selector signal Sign2 controls the current integration type adder 3a so that the post tap is removed when the output signal of the sample hold unit 2a and the determination result signal TAP2 are added. That is, the timing of the C 2 in FIG. 5 is a voltage of the second post-tap, C 2 is the selector signal Sign2 so that zero is determined.

同様に、積分回路302−(N−1)は、TAP制御信号から生成されたセレクタ信号SignNに応じて判定結果信号TAPNの符号を制御するセレクタ回路315−(N−1)と、ゲートにセレクタ回路315−(N−1)の出力が入力され、ドレインがリセットスイッチ300の出力であるPMOSトランジスタ304,305のドレインに接続された入力差動対のNMOSトランジスタ316−(N−1),317−(N−1)と、入力がNMOSトランジスタ316−(N−1),317−(N−1)のソースに接続され、クロックCKEによって制御されるISSスイッチ318−(N−1)と、一端がISSスイッチ318−(N−1)の出力に接続され、他端が接地された定電流源319−(N−1)とから構成される。ISSスイッチ318−(N−1)は、ゲートにクロックCKEが入力され、ドレインがNMOSトランジスタ316−(N−1),317−(N−1)のソースに接続され、ソースが電流源319−(N−1)に接続されたNMOSトランジスタ320−(N−1)から構成される。セレクタ回路315−(N−1)は、セレクタ信号SignNに応じて判定結果信号TAPNを通過させたり反転させたりすることにより、判定結果信号TAPNの符号を制御する。セレクタ信号SignNは、サンプルホールド部2aの出力信号と判定結果信号TAPNとが加算されたときにポストタップが除去されるように電流積分型加算部3aを制御する。   Similarly, the integration circuit 302- (N-1) includes a selector circuit 315- (N-1) that controls the sign of the determination result signal TAPN in accordance with the selector signal SignN generated from the TAP control signal, and a selector at the gate. The output of the circuit 315- (N-1) is inputted, and the NMOS transistors 316- (N-1), 317 of the input differential pair whose drains are connected to the drains of the PMOS transistors 304, 305 which are the outputs of the reset switch 300. -(N-1), an ISS switch 318- (N-1) whose input is connected to the sources of NMOS transistors 316- (N-1), 317- (N-1) and controlled by the clock CKE; A constant current source 319- (N-1) is connected to the output of the ISS switch 318- (N-1) and the other end is grounded. In the ISS switch 318- (N-1), the clock CKE is input to the gate, the drain is connected to the sources of the NMOS transistors 316- (N-1) and 317- (N-1), and the source is the current source 319-. An NMOS transistor 320- (N-1) connected to (N-1). The selector circuit 315- (N-1) controls the sign of the determination result signal TAPN by passing or inverting the determination result signal TAPN in accordance with the selector signal SignN. The selector signal SignN controls the current integration type adder 3a so that the post tap is removed when the output signal of the sample hold unit 2a and the determination result signal TAPN are added.

以下に、図3のタイミングチャートを使って、サンプルホールド部2a,2bと電流積分型加算部3a,3bの動作を説明する。図3に示すT1は電流積分型加算部3aの積分期間を示し、T2は電流積分型加算部3aのプリチャージ期間を示している。T1,T2は1ビット幅である。CKEbは、等化部1b側で使用されるクロックである。なお、4相クロック構成の場合はクロックの立ち上がりから立ち下がりまでの時間が2ビット幅あるので、4ビット幅のクロックとなる。動的閾値制御判定ラッチ部4aについては、T1がプリチャージ期間になる。   Hereinafter, the operations of the sample hold units 2a and 2b and the current integration type adders 3a and 3b will be described with reference to the timing chart of FIG. 3 indicates the integration period of the current integration type adder 3a, and T2 indicates the precharge period of the current integration type adder 3a. T1 and T2 are 1 bit wide. CKEb is a clock used on the equalizer 1b side. In the case of a four-phase clock configuration, the time from the rising edge to the falling edge is 2 bits wide, so that the clock is 4 bits wide. For the dynamic threshold control determination latch unit 4a, T1 is the precharge period.

クロックCKEの立ち上がりタイミングで、サンプルホールド部2aが入力信号Din,Dinbを保持し、それと同時にリセットスイッチ300がオフとなり、ISSスイッチ309,318−1〜318−(N−1)がオンとなる。このとき、電流積分型加算部3aのメインタップ積分回路301は、サンプルホールド部2aの出力信号SHO,SHObの電圧に応じた電流を流す。また、積分回路302−1〜積分回路302−(N−1)は、それぞれ判定結果信号TAP2〜TAPNに応じて電流を流す。このため、出力配線321,322に存在する寄生容量に溜まった電荷と、出力配線321,322に接続された次段のゲート容量に溜まった電荷とが、グランドに放出される。   At the rising timing of the clock CKE, the sample hold unit 2a holds the input signals Din and Dinb, and at the same time, the reset switch 300 is turned off and the ISS switches 309, 318-1 to 318- (N-1) are turned on. At this time, the main tap integration circuit 301 of the current integration type adder 3a passes a current according to the voltages of the output signals SHO and SHOb of the sample hold unit 2a. In addition, the integration circuit 302-1 to the integration circuit 302- (N-1) flow currents according to the determination result signals TAP2 to TAPN, respectively. For this reason, the charges accumulated in the parasitic capacitances existing in the output wirings 321 and 322 and the charges accumulated in the next-stage gate capacitance connected to the output wirings 321 and 322 are released to the ground.

電流積分型加算部3aの出力配線321,322では各積分回路301,302−1〜302−(N−1)の電流が加算される。そして、その加算された電流に応じた信号が出力信号Dout,Doutbとして生成されることになる。オフセット回路303は、正相出力信号Doutと逆相出力信号Doutbとの間のオフセットを発生させる。各積分回路301,302−1〜302−(N−1)は、クロックCKEの立ち下がりのタイミングまで電流を流すことにより、それぞれ入力された信号を積分する。電流積分型加算部3aの各積分回路301,302−1〜302−(N−1)の電流量は、ポストタップの量で決定される。   In the output wirings 321 and 322 of the current integration type adder 3a, the currents of the integration circuits 301, 302-1 to 302- (N-1) are added. Then, signals corresponding to the added current are generated as output signals Dout and Doutb. The offset circuit 303 generates an offset between the normal phase output signal Dout and the negative phase output signal Doutb. Each of the integrating circuits 301, 302-1 to 302- (N-1) integrates the input signals by causing current to flow until the falling timing of the clock CKE. The amount of current in each of the integration circuits 301, 302-1 to 302- (N-1) of the current integration type adder 3a is determined by the amount of post-tap.

クロックCKEの立ち下がりタイミングでは、サンプルホールド部2aが入力信号Din,Dinbを通過させ、リセットスイッチ300がオンとなり、ISSスイッチ309,318−1〜318−(N−1)がオフとなる。これにより、電流積分型加算部3aの出力信号Dout,Doutbが電源電圧のレベルになるまで、出力配線321,322に電荷が蓄積される。   At the falling timing of the clock CKE, the sample hold unit 2a passes the input signals Din and Dinb, the reset switch 300 is turned on, and the ISS switches 309, 318-1 to 318- (N-1) are turned off. As a result, electric charges are accumulated in the output wirings 321 and 322 until the output signals Dout and Doutb of the current integration type adder 3a reach the power supply voltage level.

このように、電流積分型加算部3aは、クロックCKEの立ち上がりタイミングから次の立ち下がりタイミングまでは、サンプルホールド部2aの出力信号SHO,SHObと判定結果信号TAP2〜TAPNの積分を行う。また、電流積分型加算部3aは、クロックCKEの立ち下がりタイミングから次の立ち上がりタイミングまでは、出力のプリチャージを行う。   As described above, the current integration type adder 3a integrates the output signals SHO and SHOb of the sample hold unit 2a and the determination result signals TAP2 to TAPN from the rising timing of the clock CKE to the next falling timing. The current integration type adder 3a precharges the output from the falling timing of the clock CKE to the next rising timing.

定電流源311,312,319−1〜319−(N−1)は、EVEN側の電流積分型加算部3aとODD側の電流積分型加算部3bで共有化することが望ましい。電流積分型加算部3a,3bにはプリチャージ期間があり、プリチャージ期間は定電流源を使わないので、定電流源が無駄になってしまう。プリチャージ期間において定電流源をオフにすると、積分期間において、元の状態に戻るまで時間が掛かり定電流を流せる時間が短くなる可能性がある。   The constant current sources 311, 312, 319-1 to 319- (N-1) are preferably shared by the current integration type adder 3a on the EVEN side and the current integration type adder 3b on the ODD side. The current integration type adders 3a and 3b have a precharge period, and since the constant current source is not used during the precharge period, the constant current source is wasted. If the constant current source is turned off during the precharge period, it may take a long time to return to the original state during the integration period, and the time during which the constant current can flow may be shortened.

しかし、本実施の形態のような2相クロック構成であれば、EVEN側の電流積分型加算部3aとODD側の電流積分型加算部3bが交互に動作するため、定電流源311,312,319−1〜319−(N−1)を共有化させることができる。つまり、定電流源311,312は、電流積分型加算部3aのISSスイッチ309に接続されると共に、電流積分型加算部3bのISSスイッチ309にも接続されている。また、定電流源319−1〜319−(N−1)は、電流積分型加算部3aのISSスイッチ318−1〜318−(N−1)に接続されると共に、電流積分型加算部3bのISSスイッチ318−1〜318−(N−1)にも接続されている。   However, in the case of the two-phase clock configuration as in the present embodiment, the current integration type adder 3a on the EVEN side and the current integration type adder 3b on the ODD side operate alternately, so that the constant current sources 311, 312, 319-1 to 319- (N-1) can be shared. That is, the constant current sources 311 and 312 are connected to the ISS switch 309 of the current integration type addition unit 3a and also to the ISS switch 309 of the current integration type addition unit 3b. The constant current sources 319-1 to 319-(N−1) are connected to the ISS switches 318-1 to 318-(N−1) of the current integration type addition unit 3 a and the current integration type addition unit 3 b. ISS switches 318-1 to 318- (N-1).

このように、EVEN側の電流積分型加算部3aとODD側の電流積分型加算部3bで定電流源311,312,319−1〜319−(N−1)を共有化することにより、定電流源311,312,319−1〜319−(N−1)をオフさせる必要がなくなり、定電流源311,312,319−1〜319−(N−1)の効率を向上させることができる。3相以上のクロック構成の場合でも、逆相のクロックで動作している相の電流積分型加算部と組み合わせることで定電流源を共有化することができる。各定電流源311,312,319−1〜319−(N−1)の電流は、サンプルホールド部2aの出力信号と判定結果信号TAP2−Nの積分された電圧が加算されたときにポストタップが除去されるように決定される。電流積分型加算部3bの動作は、クロックCKEの代わりにクロックCKEbを用いること以外は電流積分型加算部3aと同様であるので、説明は省略する。   In this way, the constant current sources 311, 312, 319-1 to 319-(N−1) are shared by the current integration type addition unit 3 a on the EVEN side and the current integration type addition unit 3 b on the ODD side. It is not necessary to turn off the current sources 311, 312, 319-1 to 319- (N-1), and the efficiency of the constant current sources 311, 312, 319-1 to 319- (N-1) can be improved. . Even in the case of a three-phase or more clock configuration, a constant current source can be shared by combining with a current integrating adder of a phase operating with a reverse phase clock. The currents of the constant current sources 311, 312, 319-1 to 319- (N-1) are post-tap when the output voltage of the sample hold unit 2a and the integrated voltage of the determination result signal TAP2-N are added. Is determined to be removed. Since the operation of the current integration type adder 3b is the same as that of the current integration type adder 3a except that the clock CKEb is used instead of the clock CKE, the description thereof is omitted.

図4に動的閾値制御判定ラッチ部4aの具体的な回路を示す。動的閾値制御判定ラッチ部4aは、CMOS型センスアンプ回路400と、閾値調整回路401と、基準電圧発生回路402とから構成されている。   FIG. 4 shows a specific circuit of the dynamic threshold control determination latch unit 4a. The dynamic threshold control determination latch unit 4a includes a CMOS sense amplifier circuit 400, a threshold adjustment circuit 401, and a reference voltage generation circuit 402.

CMOS型センスアンプ回路400は、ゲートに電圧電圧VDDが与えられるNMOSトランジスタ403,404と、ゲートに電流積分型加算部3aの出力信号Dout,Doutbが入力され、ドレインがNMOSトランジスタ403,404のソースに接続されるNMOSトランジスタ405,406と、ゲートにクロックCKEが入力され、ドレインがNMOSトランジスタ405,406のソースに接続され、ソースが接地されたNMOSトランジスタ407と、ゲートにクロックCKEが入力され、ソースに電圧電圧VDDが与えられ、ドレインがNMOSトランジスタ403のドレインに接続されたPMOSトランジスタ408と、ゲートにクロックCKEが入力され、ソースに電圧電圧VDDが与えられたPMOSトランジスタ409と、ソースに電源電圧VDDが与えられ、ドレインがPMOSトランジスタ409のドレインに接続されたPMOSトランジスタ410と、ゲートにクロックCKEが入力され、ソースに電圧電圧VDDが与えられ、ドレインがNMOSトランジスタ404のドレインに接続されたPMOSトランジスタ411と、ゲートにクロックCKEが入力され、ソースに電圧電圧VDDが与えられたPMOSトランジスタ412と、ソースに電源電圧VDDが与えられ、ドレインがPMOSトランジスタ412のドレインに接続されたNMOSトランジスタ413と、ゲートにクロックCKEが入力され、ソースがPMOSトランジスタ410のゲートに接続され、ドレインがPMOSトランジスタ413のゲートに接続されたPMOSトランジスタ414と、ゲートがPMOSトランジスタ410のゲートおよびPMOSトランジスタ414のソースに接続され、ドレインがPMOSトランジスタ409,410のドレインに接続され、ソースがNMOSトランジスタ403のドレインおよびPMOSトランジスタ408のドレインに接続されたNMOSトランジスタ415と、ゲートがPMOSトランジスタ413のゲートおよびPMOSトランジスタ414のドレインに接続され、ドレインがPMOSトランジスタ412,413のドレインに接続され、ソースがNMOSトランジスタ404のドレインおよびPMOSトランジスタ411のドレインに接続されたNMOSトランジスタ416とから構成される。   In the CMOS type sense amplifier circuit 400, the NMOS transistors 403 and 404 to which the voltage voltage VDD is applied to the gate, the output signals Dout and Doutb of the current integration type adder 3a are input to the gate, and the drains are the sources of the NMOS transistors 403 and 404 Are connected to the NMOS transistors 405 and 406, and the gate is input with the clock CKE, the drain is connected with the sources of the NMOS transistors 405 and 406, the source is grounded, and the gate is input with the clock CKE. A PMOS transistor 408 whose source is supplied with the voltage voltage VDD and whose drain is connected to the drain of the NMOS transistor 403, and a PMOS transistor whose gate is supplied with the clock voltage CKE and whose source is supplied with the voltage voltage VDD. 409, a PMOS transistor 410 whose source is supplied with a power supply voltage VDD, a drain connected to the drain of the PMOS transistor 409, a gate receiving a clock CKE, a source receiving the voltage voltage VDD, and a drain NMOS transistor The PMOS transistor 411 connected to the drain of 404, the PMOS transistor 412 to which the clock CKE is input to the gate, the voltage voltage VDD is applied to the source, the power supply voltage VDD is applied to the source, and the drain is the drain of the PMOS transistor 412 The NMOS transistor 413 connected to the gate, the clock CKE is input to the gate, the source is connected to the gate of the PMOS transistor 410, and the drain is connected to the gate of the PMOS transistor 413. The transistor 414 has a gate connected to the gate of the PMOS transistor 410 and the source of the PMOS transistor 414, a drain connected to the drains of the PMOS transistors 409 and 410, and a source connected to the drain of the NMOS transistor 403 and the drain of the PMOS transistor 408. The NMOS transistor 415 has a gate connected to the gate of the PMOS transistor 413 and the drain of the PMOS transistor 414, a drain connected to the drains of the PMOS transistors 412 and 413, and a source connected to the drain of the NMOS transistor 404 and the drain of the PMOS transistor 411. And an NMOS transistor 416 connected thereto.

閾値調整回路401は、ゲートに正相側の判定結果信号TAP1evenが入力され、ドレインがNMOSトランジスタ403のドレインおよびPMOSトランジスタ408のドレインに接続されたNMOSトランジスタ417と、ゲートに逆相側の判定結果信号TAP1evenが入力され、ドレインがNMOSトランジスタ404のドレインおよびPMOSトランジスタ411のドレインに接続されたNMOSトランジスタ418と、ゲートに逆相側の判定結果信号TAP1evenが入力され、ドレインがNMOSトランジスタ403のドレインおよびPMOSトランジスタ408のドレインに接続されたNMOSトランジスタ419と、ゲートに正相側の判定結果信号TAP1evenが入力され、ドレインがNMOSトランジスタ404のドレインおよびPMOSトランジスタ411のドレインに接続されたNMOSトランジスタ420と、ゲートに基準電圧発生回路402から出力される逆相側の基準電圧Vrefが入力され、ドレインがNMOSトランジスタ417,418のソースに接続され、ソースがNMOSトランジスタ405,406のソースおよびNMOSトランジスタ407のドレインに接続されたNMOSトランジスタ421と、ゲートに基準電圧発生回路402から出力される正相側の基準電圧Vrefが入力され、ドレインがNMOSトランジスタ419,420のソースに接続され、ソースがNMOSトランジスタ405,406のソースおよびNMOSトランジスタ407のドレインに接続されたNMOSトランジスタ422とから構成される。   In the threshold adjustment circuit 401, the determination result signal TAP1even on the positive phase side is input to the gate, the NMOS transistor 417 whose drain is connected to the drain of the NMOS transistor 403 and the drain of the PMOS transistor 408, and the determination result on the negative phase side to the gate The signal TAP1even is input, the drain is connected to the drain of the NMOS transistor 404 and the drain of the PMOS transistor 411, the negative phase determination result signal TAP1even is input to the gate, the drain is the drain of the NMOS transistor 403, The NMOS transistor 419 connected to the drain of the PMOS transistor 408, the determination result signal TAP1even on the positive phase side is input to the gate, and the drain is the NMOS transistor The NMOS transistor 420 connected to the drain of 04 and the drain of the PMOS transistor 411, the reference voltage Vref on the opposite phase side output from the reference voltage generating circuit 402 is input to the gate, and the drain is connected to the sources of the NMOS transistors 417 and 418. The NMOS transistor 421 is connected, the source is connected to the sources of the NMOS transistors 405 and 406 and the drain of the NMOS transistor 407, and the reference voltage Vref on the positive phase side output from the reference voltage generation circuit 402 is input to the gate. Is connected to the sources of the NMOS transistors 419 and 420, and the source is connected to the sources of the NMOS transistors 405 and 406 and the drain of the NMOS transistor 407. .

以下に、動的閾値制御判定ラッチ部4aの動作を説明する。基準電圧発生回路402は、閾値量制御信号CTLevenに応じた基準電圧Vrefを発生し、閾値調整回路401に出力する。閾値調整回路401は、基準電圧発生回路402から出力された基準電圧Vrefに応じてCMOS型センスアンプ回路400の閾値量を制御する。また、CMOS型センスアンプ回路400の閾値の符号は、1ビット前に受信した信号の判定結果を示す判定結果信号TAP1evenに応じて決定される。上記のとおり、閾値調整回路401は、判定結果信号TAP1evenが、1ビット前に受信した信号がHighであることを示している時は、閾値の符号をプラスに制御する。また、閾値調整回路401は、判定結果信号TAP1evenが、1ビット前に受信した信号がLowであることを示している時は、閾値の符号をマイナスに制御する。   Hereinafter, the operation of the dynamic threshold control determination latch unit 4a will be described. The reference voltage generation circuit 402 generates a reference voltage Vref corresponding to the threshold amount control signal CTLeven and outputs it to the threshold adjustment circuit 401. The threshold adjustment circuit 401 controls the threshold amount of the CMOS sense amplifier circuit 400 according to the reference voltage Vref output from the reference voltage generation circuit 402. The sign of the threshold value of the CMOS sense amplifier circuit 400 is determined according to the determination result signal TAP1even indicating the determination result of the signal received one bit before. As described above, when the determination result signal TAP1even indicates that the signal received one bit before is High, the threshold adjustment circuit 401 controls the sign of the threshold to be plus. The threshold adjustment circuit 401 controls the sign of the threshold to be negative when the determination result signal TAP1even indicates that the signal received one bit before is Low.

CMOS型センスアンプ回路400は、クロックCKEの立ち下がりタイミングで、電流積分型加算部3aの出力信号DoutがHighかLowかを判定する。このとき、CMOS型センスアンプ回路400は、閾値調整回路401により制御された閾値を基に、電流積分型加算部3aの出力信号Doutを判定する。すなわち、CMOS型センスアンプ回路400は、電流積分型加算部3aの出力信号Doutが閾値を超える場合、Highレベルの出力信号Voutとこれに相補なLowレベルの出力信号Voutbとを出力する。また、CMOS型センスアンプ回路400は、電流積分型加算部3aの出力信号Doutが閾値以下の場合、Lowレベルの出力信号VoutおよびHighレベルの出力信号Voutbを出力する。なお、前記閾値量は、第一ポストタップの量から決定される。図5のC1のタイミングが第1ポストタップの電圧であり、C1がゼロとなるように閾値量制御信号が決定される。 The CMOS sense amplifier circuit 400 determines whether the output signal Dout of the current integration type adder 3a is High or Low at the falling timing of the clock CKE. At this time, the CMOS-type sense amplifier circuit 400 determines the output signal Dout of the current integration type adder 3a based on the threshold value controlled by the threshold value adjustment circuit 401. That is, when the output signal Dout of the current integration type adder 3a exceeds the threshold value, the CMOS type sense amplifier circuit 400 outputs a high level output signal Vout and a complementary low level output signal Voutb. Further, when the output signal Dout of the current integration type adder 3a is equal to or less than the threshold value, the CMOS sense amplifier circuit 400 outputs a low level output signal Vout and a high level output signal Voutb. The threshold amount is determined from the amount of the first post tap. The threshold value control signal is determined so that the timing of C 1 in FIG. 5 is the voltage of the first post-tap and C 1 becomes zero.

クロックCKEの立ち上がりタイミングからはCMOS型センスアンプ回路400のプリチャージが開始される。このプリチャージにより、動的閾値制御判定ラッチ部4aの出力信号Vout,Voutbの電圧は電源電圧となる。
等化部1bの動的閾値制御判定ラッチ部4bの動作は、クロックCKEの代わりにクロックCKEbを用いること以外は動的閾値制御判定ラッチ部4aと同様であるので、説明は省略する。
The precharge of the CMOS type sense amplifier circuit 400 is started from the rising timing of the clock CKE. By this precharge, the voltages of the output signals Vout and Voutb of the dynamic threshold value control determination latch unit 4a become the power supply voltage.
Since the operation of the dynamic threshold control determination latch unit 4b of the equalization unit 1b is the same as that of the dynamic threshold control determination latch unit 4a except that the clock CKEb is used instead of the clock CKE, the description thereof is omitted.

本実施の形態の例では基準電圧発生回路402をクロックの1相ごとに設けているが、N相クロック構成の場合、基準電圧発生回路402を共通化してもよい。また、本実施の形態の動的閾値制御判定ラッチ部4aは基準電圧Vrefにより閾値が制御されるが、非特許文献2に示されているような電流により閾値が制御される動的閾値制御判定ラッチ部を用いてもよい。   In the example of this embodiment, the reference voltage generation circuit 402 is provided for each phase of the clock. However, in the case of an N-phase clock configuration, the reference voltage generation circuit 402 may be shared. The dynamic threshold control determination latch unit 4a according to the present embodiment controls the threshold by the reference voltage Vref. However, the dynamic threshold control determination by which the threshold is controlled by the current as shown in Non-Patent Document 2 is used. A latch portion may be used.

なお、本実施の形態では、等化部を2つ設けているが、等化部を複数備えたn相(nは2以上の自然数)の構成としてもよい。また、等化部の各回路は上記の動作を満たす回路であれば、本実施の形態の構成に限らない。   In this embodiment, two equalization units are provided, but an n-phase (n is a natural number of 2 or more) configuration including a plurality of equalization units may be employed. Further, each circuit of the equalization unit is not limited to the configuration of the present embodiment as long as the circuit satisfies the above operation.

本実施の形態において、等化装置内の処理は専用のハードウェアによって実現されるもの以外に、コンピュータによって実行されるものであってもよい。この場合、等化装置は、CPU、記憶装置およびインタフェースを備えたコンピュータと、これらのハードウェア資源を制御するプログラムによって実現することができる。このようなコンピュータにおいて、本発明の等化方法を実現させるための等化プログラムは、フレキシブルディスク、光磁気ディスク、DVD、CDなどの記録媒体に記録された状態で提供される。CPUは、記録媒体から読み込んだプログラムを記憶装置に書き込み、プログラムに従って本実施の形態で説明した処理を実行する。   In the present embodiment, the processing in the equalization apparatus may be executed by a computer in addition to that realized by dedicated hardware. In this case, the equalization apparatus can be realized by a computer having a CPU, a storage device, and an interface, and a program for controlling these hardware resources. In such a computer, an equalization program for realizing the equalization method of the present invention is provided in a state of being recorded on a recording medium such as a flexible disk, a magneto-optical disk, a DVD, or a CD. The CPU writes the program read from the recording medium into the storage device, and executes the processing described in this embodiment according to the program.

上記の実施の形態の一部又は全部は、以下の付記のようにも記載されうるが、以下には限られない。   A part or all of the above embodiments can be described as in the following supplementary notes, but is not limited thereto.

(付記1)n相(nは2以上の自然数)のクロックに応じて等化手段をn個備え、各等化手段は、所定のシンボル長の周期で変調された入力信号をサンプルホールドし信号を出力するサンプルホールド手段と、このサンプルホールド手段の出力信号と2ビット前からN(Nは2以上の自然数)ビット前までに受信した入力信号の判定結果信号TAP2〜TAPNの各々を電流積分して加算する電流積分型加算手段と、外部から入力される閾値量制御信号により閾値の量が制御され、1ビット前に受信した入力信号の判定結果信号TAP1により前記閾値の符号が制御され、この閾値を基に前記電流積分型加算手段の出力信号を判定して判定結果を出力する動的閾値制御判定手段と、この動的閾値制御判定手段の出力信号を、自等化手段と逆相のクロックを用いる等化手段の動的閾値制御判定手段へ判定結果信号TAP1として帰還する帰還手段と、前記動的閾値制御判定手段の出力に縦続接続され、それぞれ判定結果信号TAP2〜TAPNを出力する(N−1)個のラッチ手段とを備えることを特徴とする等化装置。   (Supplementary note 1) n equalization means are provided according to an n-phase (n is a natural number of 2 or more) clock, and each equalization means samples and holds an input signal modulated with a period of a predetermined symbol length. Current-integrating each of the output signal of the sample-and-hold means and the determination result signals TAP2 to TAPN of the input signal received from 2 bits before to N (N is a natural number of 2 or more) bits before The amount of the threshold is controlled by the current integration type adding means for adding and the threshold amount control signal input from the outside, and the sign of the threshold is controlled by the determination result signal TAP1 of the input signal received one bit before. A dynamic threshold control determination unit that determines an output signal of the current integration type adding unit based on a threshold value and outputs a determination result; and an output signal of the dynamic threshold control determination unit is reversed in phase with the self-equalization unit A feedback unit that feeds back as a determination result signal TAP1 to a dynamic threshold control determination unit of an equalization unit using a clock and a cascade connection to the output of the dynamic threshold control determination unit output the determination result signals TAP2 to TAPN, respectively ( N-1) Equalizing device comprising: latch means.

(付記2)付記1記載の等化装置において、2相のクロックに応じた前記等化手段を2個備え、前記サンプルホールド手段は、入力信号をクロックの立ち上がりタイミングで保持し、入力信号を前記クロックの立ち下がりタイミングで通過させ、前記電流積分型加算手段は、前記クロックの立ち上がりタイミングから次の立ち下がりタイミングまで前記サンプルホールド手段の出力信号と前記判定結果信号TAP2〜TAPNの電流積分および加算を行い、前記クロックの立ち下がりタイミングから次の立ち上がりタイミングまで出力のプリチャージを行い、前記動的閾値制御判定手段は、前記クロックの立ち下がりタイミングで前記電流積分型加算手段の出力信号を判定し、前記クロックの立ち上がりタイミングから次の立ち下がりタイミングまで出力のプリチャージを行い、前記ラッチ手段は、前記クロックの立ち下がりタイミングから次の立ち上がりタイミングまで入力信号を通過させ、前記クロックの立ち上がりタイミングで入力信号を保持し、前記判定結果信号TAP2〜TAPNのうち、偶数番目の判定結果信号を自等化手段の前記電流積分型加算手段へ出力し、奇数番目の判定結果信号を自等化手段と逆相のクロックを用いる等化手段の前記電流積分型加算手段へ出力することを特徴とする等化装置。   (Supplementary note 2) The equalization apparatus according to supplementary note 1, comprising two equalization means corresponding to a two-phase clock, wherein the sample and hold means holds an input signal at the rising timing of the clock, The current integration type adding means performs current integration and addition of the output signal of the sample hold means and the determination result signals TAP2 to TAPN from the rising timing of the clock to the next falling timing. Performing precharge of the output from the falling timing of the clock to the next rising timing, and the dynamic threshold control determining means determines the output signal of the current integration type adding means at the falling timing of the clock, The next falling timing from the rising timing of the clock The latch means passes the input signal from the falling timing of the clock to the next rising timing, holds the input signal at the rising timing of the clock, and determines the determination result signals TAP2 to TAP2. Among the TAPN, the even-numbered determination result signal is output to the current integration type adding unit of the self-equalizing unit, and the odd-numbered determination result signal is output from the current of the equalizing unit using a clock having a phase opposite to that of the self-equalizing unit An equalizer for outputting to an integral type adding means.

(付記3)付記1または付記2記載の等化装置において、前記帰還手段は、奇数段のインバータからなることを特徴とする等化装置。   (Additional remark 3) The equalization apparatus of Additional remark 1 or Additional remark 2 WHEREIN: The said feedback means consists of an odd number of inverters, The equalizing apparatus characterized by the above-mentioned.

(付記4)付記1乃至3のいずれか1項に記載の等化装置において、前記電流積分型加算手段は、前記サンプルホールド手段の出力信号を電流積分する第1の積分回路と、前記判定結果信号TAP2〜TAPNの各々を電流積分して、この積分結果を前記第1の積分回路の出力に加算する(N−1)個の第2の積分回路と、クロックに応じて決まる所定のプリチャージ期間に前記第1、第2の積分回路の出力をプリチャージする第1のスイッチと、前記プリチャージ期間において前記第1、第2の積分回路を流れる電流をオフにする第2のスイッチとを備えることを特徴とする等化装置。   (Appendix 4) In the equalization apparatus according to any one of appendices 1 to 3, the current integration type adder includes a first integration circuit that integrates an output signal of the sample hold unit, and the determination result. Each of the signals TAP2 to TAPN is subjected to current integration, and this integration result is added to the output of the first integration circuit (N-1) second integration circuits, and a predetermined precharge determined according to the clock A first switch for precharging the outputs of the first and second integration circuits during a period, and a second switch for turning off the current flowing through the first and second integration circuits during the precharge period. An equalizing apparatus comprising:

(付記5)付記4記載の等化装置において、前記電流積分型加算手段の第1、第2の積分回路の定電流源を、自等化手段と逆相のクロックを用いる等化手段の電流積分型加算手段の第1、第2の積分回路と共有することを特徴とする等化装置。   (Supplementary note 5) In the equalization apparatus according to supplementary note 4, the constant current sources of the first and second integration circuits of the current integration type addition means are used as currents of the equalization means using a clock having a phase opposite to that of the self-equalization means An equalizing apparatus which is shared with the first and second integrating circuits of the integral type adding means.

(付記6)付記1乃至5のいずれか1項に記載の等化装置において、前記動的閾値制御判定手段は、閾値を基に前記電流積分型加算手段の出力信号を判定して判定結果を出力するCMOS型センスアンプ回路と、前記閾値量制御信号に応じた基準電圧を発生する基準電圧発生回路と、前記基準電圧に応じて前記CMOS型センスアンプ回路の閾値量を制御すると共に、前記判定結果信号TAP1に応じて前記閾値の符号を制御する閾値調整回路とを備えることを特徴とする等化装置。   (Supplementary note 6) In the equalization apparatus according to any one of supplementary notes 1 to 5, the dynamic threshold value control determining unit determines an output signal of the current integration type adding unit based on the threshold value, and determines a determination result. A CMOS type sense amplifier circuit that outputs, a reference voltage generation circuit that generates a reference voltage according to the threshold amount control signal, a threshold amount of the CMOS type sense amplifier circuit according to the reference voltage, and the determination An equalization apparatus comprising: a threshold adjustment circuit that controls a sign of the threshold according to a result signal TAP1.

(付記7)n相(nは2以上の自然数)のクロックに応じて並行して実行されるn個の等化ステップを備え、各等化ステップは、所定のシンボル長の周期で変調された入力信号をサンプルホールドするサンプルホールドステップと、このサンプルホールドステップで得られた出力信号と2ビット前からN(Nは2以上の自然数)ビット前までに受信した入力信号の判定結果信号TAP2〜TAPNの各々を電流積分して加算する電流積分型加算ステップと、外部から入力される閾値量制御信号により閾値の量を制御し、1ビット前に受信した入力信号の判定結果信号TAP1により前記閾値の符号を制御し、この閾値を基に前記電流積分型加算ステップで得られた出力信号を判定する動的閾値制御判定ステップと、この動的閾値制御判定ステップで得られた出力信号を、逆相のクロックを用いる等化ステップの動的閾値制御判定ステップへ判定結果信号TAP1として帰還する帰還ステップと、前記動的閾値制御判定ステップの出力を直列的に(N−1)回ラッチし、それぞれのラッチの出力を判定結果信号TAP2〜TAPNとして出力するラッチステップとからなることを特徴とする等化方法。   (Supplementary note 7) n equalization steps executed in parallel according to an n-phase (n is a natural number of 2 or more) clock, each equalization step being modulated with a period of a predetermined symbol length A sample hold step for sample-holding an input signal, and an output signal obtained in this sample hold step and input signal determination result signals TAP2 to TAPN received from 2 bits before to N (N is a natural number of 2 or more) bits before The current integration type adding step for integrating each of the currents and adding, and the amount of the threshold is controlled by a threshold amount control signal input from the outside, and the threshold value is determined by the determination result signal TAP1 of the input signal received one bit before A dynamic threshold control determination step for controlling a sign and determining an output signal obtained in the current integration type addition step based on the threshold, and the dynamic threshold control determination step. A feedback step for feeding back the output signal obtained in step 1 as a determination result signal TAP1 to a dynamic threshold control determination step of an equalization step using a reverse phase clock, and an output of the dynamic threshold control determination step in series An equalization method comprising: (N-1) latching steps and latching steps for outputting the outputs of the respective latches as determination result signals TAP2 to TAPN.

(付記8)n相(nは2以上の自然数)のクロックに応じてn個の等化ステップをコンピュータに並行して実行させ、各等化ステップは、所定のシンボル長の周期で変調された入力信号をサンプルホールドするサンプルホールドステップと、このサンプルホールドステップで得られた出力信号と2ビット前からN(Nは2以上の自然数)ビット前までに受信した入力信号の判定結果信号TAP2〜TAPNの各々を電流積分して加算する電流積分型加算ステップと、外部から入力される閾値量制御信号により閾値の量を制御し、1ビット前に受信した入力信号の判定結果信号TAP1により前記閾値の符号を制御し、この閾値を基に前記電流積分型加算ステップで得られた出力信号を判定する動的閾値制御判定ステップと、この動的閾値制御判定ステップで得られた出力信号を、逆相のクロックを用いる等化ステップの動的閾値制御判定ステップへ判定結果信号TAP1として帰還する帰還ステップと、前記動的閾値制御判定ステップの出力を直列的に(N−1)回ラッチし、それぞれのラッチの出力を判定結果信号TAP2〜TAPNとして出力するラッチステップとからなることを特徴とする等化プログラム。   (Supplementary note 8) In accordance with an n-phase clock (n is a natural number of 2 or more), n equalization steps are executed in parallel by the computer, and each equalization step is modulated with a period of a predetermined symbol length. A sample hold step for sample-holding an input signal, and an output signal obtained in this sample hold step and input signal determination result signals TAP2 to TAPN received from 2 bits before to N (N is a natural number of 2 or more) bits before The current integration type adding step for integrating each of the currents and adding, and the amount of the threshold is controlled by a threshold amount control signal input from the outside, and the threshold value is determined by the determination result signal TAP1 of the input signal received one bit before A dynamic threshold control determination step for controlling a sign and determining an output signal obtained in the current integration type addition step based on the threshold, and the dynamic threshold control A feedback step that feeds back the output signal obtained in the constant step to the dynamic threshold control determination step of the equalization step using a reverse phase clock as a determination result signal TAP1, and the output of the dynamic threshold control determination step in series And (N-1) times, and an latch program for outputting the outputs of the respective latches as determination result signals TAP2 to TAPN.

本発明は、入力信号の波形の劣化を等化する技術に適用することができる。   The present invention can be applied to a technique for equalizing the deterioration of the waveform of an input signal.

1a,1b…等化部、2a,2b…サンプルホールド部、3a,3b…電流積分型加算部、4a,4b…動的閾値制御判定ラッチ部、5a,5b…インバータ、6a−1〜6a−(N−1),6b−1〜6b−(N−1)…ラッチ部、200,201,304〜306,408〜414…PMOSトランジスタ、300…リセットスイッチ、301,302−1〜302−(N−1)…積分回路、303…オフセット回路、307,308,313,314,316−1〜316−(N−1)1,317−1〜317−(N−1),320−1〜320−(N−1),403〜407,415〜422…NMOSトランジスタ、309,318−1〜318−(N−1)…ISSスイッチ、310…抵抗、311,312,319−1〜319−(N−1)…定電流源、315−1〜315−(N−1)…セレクタ回路、321,322…出力配線、400…CMOS型センスアンプ回路、401…閾値調整回路、403…基準電圧発生回路。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1a, 1b ... Equalization part, 2a, 2b ... Sample hold part, 3a, 3b ... Current integration type addition part, 4a, 4b ... Dynamic threshold control determination latch part, 5a, 5b ... Inverter, 6a-1-6a- (N-1), 6b-1 to 6b- (N-1)... Latch section, 200, 201, 304 to 306, 408 to 414 ... PMOS transistor, 300 ... Reset switch, 301, 302-1 to 302- ( N-1) ... integration circuit, 303 ... offset circuit, 307, 308, 313, 314, 316-1-316- (N-1) 1, 317-1 to 317- (N-1), 320-1 320- (N-1), 403 to 407, 415 to 422 ... NMOS transistor, 309, 318-1 to 318- (N-1) ... ISS switch, 310 ... resistor, 311, 312, 319-1 to 31 -(N-1) ... constant current source, 315-1 to 315- (N-1) ... selector circuit, 321, 322 ... output wiring, 400 ... CMOS sense amplifier circuit, 401 ... threshold adjustment circuit, 403 ... reference Voltage generation circuit.

Claims (8)

n相(nは2以上の自然数)のクロックに応じて等化手段をn個備え、
各等化手段は、
所定のシンボル長の周期で変調された入力信号をサンプルホールドし信号を出力するサンプルホールド手段と、
このサンプルホールド手段の出力信号と2ビット前からN(Nは2以上の自然数)ビット前までに受信した入力信号の判定結果信号TAP2〜TAPNの各々を電流積分して加算する電流積分型加算手段と、
外部から入力される閾値量制御信号により閾値の量が制御され、1ビット前に受信した入力信号の判定結果信号TAP1により前記閾値の符号が制御され、この閾値を基に前記電流積分型加算手段の出力信号を判定して判定結果を出力する動的閾値制御判定手段と、
この動的閾値制御判定手段の出力信号を、自等化手段と逆相のクロックを用いる等化手段の動的閾値制御判定手段へ判定結果信号TAP1として帰還する帰還手段と、
前記動的閾値制御判定手段の出力に縦続接続され、それぞれ判定結果信号TAP2〜TAPNを出力する(N−1)個のラッチ手段とを備えることを特徴とする等化装置。
n equalization means are provided according to an n-phase (n is a natural number of 2 or more) clock,
Each equalization means
Sample-and-hold means for sampling and holding an input signal modulated with a period of a predetermined symbol length and outputting a signal;
Current integration type adding means for current integrating and adding each of the output signal of the sample hold means and determination result signals TAP2 to TAPN of the input signal received from 2 bits before to N (N is a natural number of 2 or more) bits before When,
The amount of threshold is controlled by a threshold amount control signal input from the outside, the sign of the threshold is controlled by a determination result signal TAP1 of the input signal received one bit before, and the current integration type adding means based on this threshold Dynamic threshold control determination means for determining the output signal of and outputting the determination result;
Feedback means for feeding back the output signal of the dynamic threshold control determination means as a determination result signal TAP1 to the dynamic threshold control determination means of the equalization means using a clock having a phase opposite to that of the self-equalization means;
An equalization apparatus comprising: (N-1) latch means cascaded to the output of the dynamic threshold control judgment means and outputting judgment result signals TAP2 to TAPN, respectively.
請求項1記載の等化装置において、
2相のクロックに応じた前記等化手段を2個備え、
前記サンプルホールド手段は、入力信号をクロックの立ち上がりタイミングで保持し、入力信号を前記クロックの立ち下がりタイミングで通過させ、
前記電流積分型加算手段は、前記クロックの立ち上がりタイミングから次の立ち下がりタイミングまで前記サンプルホールド手段の出力信号と前記判定結果信号TAP2〜TAPNの電流積分および加算を行い、前記クロックの立ち下がりタイミングから次の立ち上がりタイミングまで出力のプリチャージを行い、
前記動的閾値制御判定手段は、前記クロックの立ち下がりタイミングで前記電流積分型加算手段の出力信号を判定し、前記クロックの立ち上がりタイミングから次の立ち下がりタイミングまで出力のプリチャージを行い、
前記ラッチ手段は、前記クロックの立ち下がりタイミングから次の立ち上がりタイミングまで入力信号を通過させ、前記クロックの立ち上がりタイミングで入力信号を保持し、前記判定結果信号TAP2〜TAPNのうち、偶数番目の判定結果信号を自等化手段の前記電流積分型加算手段へ出力し、奇数番目の判定結果信号を自等化手段と逆相のクロックを用いる等化手段の前記電流積分型加算手段へ出力することを特徴とする等化装置。
The equalization apparatus according to claim 1,
Two equalizing means corresponding to two-phase clocks are provided,
The sample hold means holds the input signal at the rising timing of the clock, passes the input signal at the falling timing of the clock,
The current integration type adding means performs current integration and addition of the output signal of the sample hold means and the determination result signals TAP2 to TAPN from the rising timing of the clock to the next falling timing, and from the falling timing of the clock Precharge the output until the next rise timing,
The dynamic threshold control determining means determines the output signal of the current integration type adding means at the falling timing of the clock, precharges the output from the rising timing of the clock to the next falling timing,
The latch means allows an input signal to pass from the falling timing of the clock to the next rising timing, holds the input signal at the rising timing of the clock, and even-numbered determination result among the determination result signals TAP2 to TAPN. A signal is output to the current integration type addition unit of the self-equalization unit, and an odd-numbered determination result signal is output to the current integration type addition unit of the equalization unit using a clock having a phase opposite to that of the self-equalization unit. Equalizing device characterized.
請求項1または2記載の等化装置において、
前記帰還手段は、奇数段のインバータからなることを特徴とする等化装置。
The equalization apparatus according to claim 1 or 2,
The equalizer is characterized in that the feedback means comprises an odd number of stages of inverters.
請求項1乃至3のいずれか1項に記載の等化装置において、
前記電流積分型加算手段は、
前記サンプルホールド手段の出力信号を電流積分する第1の積分回路と、
前記判定結果信号TAP2〜TAPNの各々を電流積分して、この積分結果を前記第1の積分回路の出力に加算する(N−1)個の第2の積分回路と、
クロックに応じて決まる所定のプリチャージ期間に前記第1、第2の積分回路の出力をプリチャージする第1のスイッチと、
前記プリチャージ期間において前記第1、第2の積分回路を流れる電流をオフにする第2のスイッチとを備えることを特徴とする等化装置。
The equalization apparatus according to any one of claims 1 to 3,
The current integration type adding means includes:
A first integrating circuit for current integrating the output signal of the sample and hold means;
(N-1) second integration circuits that integrate each of the determination result signals TAP2 to TAPN with current and add the integration result to the output of the first integration circuit;
A first switch for precharging the outputs of the first and second integrating circuits during a predetermined precharge period determined according to a clock;
An equalizing apparatus comprising: a second switch for turning off a current flowing through the first and second integration circuits in the precharge period.
請求項4記載の等化装置において、
前記電流積分型加算手段の第1、第2の積分回路の定電流源を、自等化手段と逆相のクロックを用いる等化手段の電流積分型加算手段の第1、第2の積分回路と共有することを特徴とする等化装置。
The equalization apparatus according to claim 4,
The constant current sources of the first and second integrating circuits of the current integrating type adding means are the first and second integrating circuits of the current integrating type adding means of the equalizing means using a clock having a phase opposite to that of the self-equalizing means. Equalizing device characterized by sharing with.
請求項1乃至5のいずれか1項に記載の等化装置において、
前記動的閾値制御判定手段は、
閾値を基に前記電流積分型加算手段の出力信号を判定して判定結果を出力するCMOS型センスアンプ回路と、
前記閾値量制御信号に応じた基準電圧を発生する基準電圧発生回路と、
前記基準電圧に応じて前記CMOS型センスアンプ回路の閾値量を制御すると共に、前記判定結果信号TAP1に応じて前記閾値の符号を制御する閾値調整回路とを備えることを特徴とする等化装置。
The equalization apparatus according to any one of claims 1 to 5,
The dynamic threshold control determination means includes
A CMOS type sense amplifier circuit that determines an output signal of the current integration type adding means based on a threshold value and outputs a determination result;
A reference voltage generating circuit for generating a reference voltage according to the threshold amount control signal;
An equalization apparatus comprising: a threshold adjustment circuit that controls a threshold amount of the CMOS sense amplifier circuit according to the reference voltage and controls a sign of the threshold according to the determination result signal TAP1.
n相(nは2以上の自然数)のクロックに応じて並行して実行されるn個の等化ステップを備え、
各等化ステップは、
所定のシンボル長の周期で変調された入力信号をサンプルホールドするサンプルホールドステップと、
このサンプルホールドステップで得られた出力信号と2ビット前からN(Nは2以上の自然数)ビット前までに受信した入力信号の判定結果信号TAP2〜TAPNの各々を電流積分して加算する電流積分型加算ステップと、
外部から入力される閾値量制御信号により閾値の量を制御し、1ビット前に受信した入力信号の判定結果信号TAP1により前記閾値の符号を制御し、この閾値を基に前記電流積分型加算ステップで得られた出力信号を判定する動的閾値制御判定ステップと、
この動的閾値制御判定ステップで得られた出力信号を、逆相のクロックを用いる等化ステップの動的閾値制御判定ステップへ判定結果信号TAP1として帰還する帰還ステップと、
前記動的閾値制御判定ステップの出力を直列的に(N−1)回ラッチし、それぞれのラッチの出力を判定結果信号TAP2〜TAPNとして出力するラッチステップとからなることを特徴とする等化方法。
n equalization steps executed in parallel according to a clock of n phases (n is a natural number of 2 or more),
Each equalization step is
A sample-and-hold step for sample-holding an input signal modulated with a period of a predetermined symbol length;
Current integration in which each of the output signal obtained in this sample and hold step and the input signal determination result signals TAP2 to TAPN received from N bits before N (N is a natural number greater than or equal to 2) bits before current integration is added. A type addition step;
The threshold amount is controlled by a threshold amount control signal input from the outside, the sign of the threshold is controlled by the determination result signal TAP1 of the input signal received one bit before, and the current integration type adding step based on this threshold A dynamic threshold control determination step for determining the output signal obtained in step ii,
A feedback step of feeding back the output signal obtained in the dynamic threshold control determination step as a determination result signal TAP1 to the dynamic threshold control determination step of the equalization step using a reverse phase clock;
An equalization method comprising: a latch step that latches the output of the dynamic threshold control determination step in series (N−1) times and outputs the output of each latch as determination result signals TAP2 to TAPN. .
n相(nは2以上の自然数)のクロックに応じてn個の等化ステップをコンピュータに並行して実行させ、
各等化ステップは、
所定のシンボル長の周期で変調された入力信号をサンプルホールドするサンプルホールドステップと、
このサンプルホールドステップで得られた出力信号と2ビット前からN(Nは2以上の自然数)ビット前までに受信した入力信号の判定結果信号TAP2〜TAPNの各々を電流積分して加算する電流積分型加算ステップと、
外部から入力される閾値量制御信号により閾値の量を制御し、1ビット前に受信した入力信号の判定結果信号TAP1により前記閾値の符号を制御し、この閾値を基に前記電流積分型加算ステップで得られた出力信号を判定する動的閾値制御判定ステップと、
この動的閾値制御判定ステップで得られた出力信号を、逆相のクロックを用いる等化ステップの動的閾値制御判定ステップへ判定結果信号TAP1として帰還する帰還ステップと、
前記動的閾値制御判定ステップの出力を直列的に(N−1)回ラッチし、それぞれのラッチの出力を判定結果信号TAP2〜TAPNとして出力するラッチステップとからなることを特徴とする等化プログラム。
According to the clock of n phase (n is a natural number of 2 or more), n equalization steps are executed in parallel by the computer,
Each equalization step is
A sample-and-hold step for sample-holding an input signal modulated with a period of a predetermined symbol length;
Current integration in which each of the output signal obtained in this sample and hold step and the input signal determination result signals TAP2 to TAPN received from N bits before N (N is a natural number greater than or equal to 2) bits before current integration is added. A type addition step;
The threshold amount is controlled by a threshold amount control signal input from the outside, the sign of the threshold is controlled by the determination result signal TAP1 of the input signal received one bit before, and the current integration type adding step based on this threshold A dynamic threshold control determination step for determining the output signal obtained in step ii,
A feedback step of feeding back the output signal obtained in the dynamic threshold control determination step as a determination result signal TAP1 to the dynamic threshold control determination step of the equalization step using a reverse phase clock;
An equalization program comprising: a latch step which latches the output of the dynamic threshold control determination step in series (N-1) times and outputs the output of each latch as determination result signals TAP2 to TAPN. .
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