JP5655798B2 - 高炉装入物の厚み分布計測方法 - Google Patents
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Description
(1)高炉の直径方向における高炉装入物最表面のプロフィールを計測するスキャン式プロフィールメータを用いて1回の装入作業での高炉装入物の厚み分布を計測する方法であって、
高炉装入物の装入作業終了から次回装入作業開始までの間に高炉装入物最表面位置の計測装置を用いて高炉装入物最表面位置の計測を複数回行い、当該計測値を基に高炉装入物最表面位置の降下速度(以下、「降下速度」という。)を算出し、
前記降下速度に基づいて当該高炉装入物表面位置が予め定められた基準位置に到達する時刻よりプロフィール計測に要する時間だけ早い時刻(以下、「プロフィール計測開始時刻」という。)を算出し、
前記プロフィール計測開始時刻に前記スキャン式プロフィールメータにより高炉装入物のプロフィールの計測(以下、「第1計測」という。)を開始させ、
次なる高炉装入物の装入作業終了時刻に前記スキャン式プロフィールメータによる高炉装入物のプロフィール計測(以下、「第2計測」という。)を開始させ、
第1計測と第2計測の計測結果より1回の装入作業での高炉装入物の厚み分布を計測することを特徴とする高炉装入物の厚み分布計測方法。
(2)前記プロフィール計測に要する時間は、30秒〜50秒であることを特徴とする(1)に記載の高炉装入物の厚み分布計測方法。
(3)前記高炉装入物最表面位置の計測装置は、鎖により鉛直状に吊り下げられた重錐から構成され、前記重錐は高炉装入物最表面上に置かれ、前記鎖の長さに基づいて高炉装入物最表面の位置を計測することを特徴とする(1)又は(2)に記載の高炉装入物の厚み分布計測方法。
(4)上記(1)〜(3)に記載のスキャン式プロフィールメータを用いて1回の装入作業での高炉装入物の厚み分布を計測する方法において、
高炉装入物の装入作業終了時刻に高炉装入物最表面位置の計測装置の設定を開始し、当該装置の設定完了時刻に高炉装入物最表面位置の計測を開始するステップと、
前記高炉装入物最表面位置の計測値を基に高炉装入物最表面位置の降下速度(降下速度)を算出するステップと、
前記降下速度に基づいて当該高炉装入物表面位置が予め定められた基準位置に到達する時刻よりプロフィール計測に要する時間だけ早い時刻(プロフィール計測開始時刻)を算出するステップと、
前記プロフィール計測開始時刻に前記スキャン式プロフィールメータにより高炉装入物のプロフィールの計測(第1計測)を開始させるステップと、
前記第1計測が終了し、かつ、当該高炉装入物表面位置が予め定められた基準位置に到達したか経過した場合に、高炉装入物最表面位置の計測装置の退避を開始して当該装置の退避完了時刻に次なる高炉装入物の装入作業を開始し、
当該次なる高炉装入物の装入作業終了時刻に前記スキャン式プロフィールメータによる高炉装入物のプロフィール計測(第2計測)を開始させるステップと、
第1計測と第2計測の計測結果より1回の装入作業での高炉装入物の厚み分布を計測するステップとを有することを特徴とする高炉装入物の厚み計測方法。
前記降下速度に基づいて当該高炉装入物表面位置が予め定められた基準位置に到達する時刻よりプロフィール計測に要する時間だけ早い時刻(プロフィール計測開始時刻)を算出し、
前記プロフィール計測開始時刻に前記スキャン式プロフィールメータにより高炉装入物のプロフィールの計測(第1計測)を開始させ、
次なる高炉装入物の装入作業終了時刻に前記スキャン式プロフィールメータによる高炉装入物のプロフィール計測(第2計測)を開始させ、
第1計測と第2計測の計測結果より1回の装入作業での高炉装入物の厚み分布を計測することを特徴とする高炉装入物の厚み分布計測方法である。
高炉装入物最表面位置は時間の経過とともに時々刻々下降するが、ダンプを行うと、高炉装入物最表面位置は上昇する。また、高炉装入物最表面位置は、高炉装入物最表面位置の計測装置8により計測されている。
図2は、本発明の方法を説明するタイムチャートである。図2の上段には、高炉装入物最表面位置の計測装置8により計測した高炉装入物最表面の位置のグラフが描かれており、実線11はダンプ後の高炉装入物最表面位置の推移を示し、点線12はダンプ中の高炉装入物最表面位置の推移の推定を示している。これは、図2の中段に描かれているようにダンプ中には高炉装入物最表面位置は計測せず、ダンプ終了と同時に高炉装入物最表面位置を計測していることを区別するためである。
本発明では、高炉の直径方向における高炉装入物最表面のプロフィールを計測するスキャン式プロフィールメータを用いて1回の装入作業での高炉装入物の厚み分布を計測する。スキャン式プロフィールメータは、高炉内装入物の表面までの距離を測定するマイクロ波距離計を有し、このマイクロ波距離計のマイクロ波放射方向を高炉内装入物の表面において高炉の中心軸を通る直径方向に走査させ、高炉の直径方向における高炉装入物最表面の形状(プロフィール)を計測する装置である。
スキャン式プロフィールメータを用いて1回の装入作業での高炉装入物の厚み分布を計測するに際しては、第1計測と第2計測との間の間隔はできるだけ短い方が好ましい。第1計測と第2計測との間においても高炉内の状況は時々刻々変化するものであり、降下速度も変動するため、変動要因をできるだけ少なくして厚み分布をより正確に計測するためには、時間間隔が短い方が好ましいからである。そのため、装入前に行う第1計測は、できるかぎり装入開始の直前に完了することが好ましい。しかし従来においては、装入作業終了後において次回の装入作業開始時刻を正確に予測できないため、第1計測の途中で次なる高炉装入物の装入作業が開始されてしまうことがあった。このような場合には、1回の装入作業での高炉装入物の厚みを正確に計測できないという問題が生じる。
プロフィール計測開始時刻にスキャン式プロフィールメータにより高炉装入物のプロフィール計測を開始する。上記のように第1計測を開始するので、高炉装入物表面位置が基準位置に到達するのは第1計測が終了したときあるいはその後である。本発明においてより好ましくは、前記第1計測が終了する時刻と、当該高炉装入物表面位置が予め定められた基準位置に到達した時刻が同じであり、その時刻に高炉装入物最表面位置の計測装置の退避を開始して当該装置の退避完了時刻に次なる高炉装入物の装入作業を開始する。
次なる高炉装入物の装入作業終了時刻にスキャン式プロフィールメータによる高炉装入物のプロフィール計測を開始する。当該計測は、ダンプ直後の高炉装入物のプロフィール計測であり、第2計測と称し、この結果を第2計測結果と称する。高炉装入物の装入作業終了時刻にスキャン式プロフィールメータによる高炉装入物のプロフィール計測を開始すると最も好ましい。
第1計測結果と第2計測結果に基づき、1回の装入作業での高炉装入物の厚み分布を算出する。第1計測によって、厚み測定対象の装入物の下端位置が計測されており、第2計測によって厚み測定対象の装入物の上端位置が計測されている。ここにおいて、第1計測のタイミングから第2計測のタイミングの間にも、装入物の下端位置は降下を続けているので、降下についての補正を行う必要がある。降下速度がすでに計測されているので、第1計測と第2計測との時間間隔をΔtとして、以下のようにして装入物の厚み分布を算出することができる。
高炉装入物の厚み分布
=第2計測プロフィール分布−(第1計測プロフィール分布−降下速度×Δt)
本発明においてより具体的には、本発明の方法は以下のステップを有すると好ましい。
(A)高炉装入物の装入作業終了時刻に高炉装入物最表面位置の計測装置の設定を開始し、当該装置の設定完了時刻に高炉装入物最表面位置の計測を開始する。
(B)高炉装入物最表面位置の計測値を基に高炉装入物最表面位置の降下速度を算出する。
(C)前記降下速度に基づいて当該高炉装入物表面位置が予め定められた基準位置に到達する時刻よりプロフィール計測に要する時間だけ早い時刻であるプロフィール計測開始時刻を算出する。
(D)前記プロフィール計測開始時刻に前記スキャン式プロフィールメータにより高炉装入物のプロフィールの計測である第1計測を開始させる。
(E)前記第1計測が終了し、かつ、当該高炉装入物表面位置が予め定められた基準位置に到達したか経過した場合に、高炉装入物最表面位置の計測装置の退避を開始して当該装置の退避完了時刻に次なる高炉装入物の装入作業を開始する。
(F)当該次なる高炉装入物の装入作業終了時刻に前記スキャン式プロフィールメータによる高炉装入物のプロフィール計測である第2計測を開始させる。
(G)第1計測と第2計測の計測結果より高炉装入物の厚みを計測する。
高炉装入物最表面位置の計測装置として、通常は鎖9により鉛直状に吊り下げられた重錐10から構成された計測装置を用いている。本発明においては、高炉装入物最表面位置の計測装置としてスキャン式プロフィールメータを用いても良い。装入と装入の間の時間帯にスキャン式プロフィールメータを用いた計測を2回以上行い、2回の計測の時間間隔とプロフィールの差に基づいて、高炉の直径方向xの各位置における降下速度を計測することができる。このようにして求めた降下速度を用いることにより、直径方向で降下速度が異なる場合には、1回の装入作業での高炉装入物の厚み分布をより正確に算出することが可能となる。基準位置に到達する時刻を算出するための降下速度としては鎖9により鉛直状に吊り下げられた重錐10から構成された計測装置を用い、第1計測と第2計測の計測結果より1回の装入作業での高炉装入物の厚み分布を計測するする際に用いる降下速度としてはスキャン式プロフィールメータに基づく降下速度としても良い。
高炉装入物の厚み分布
=第2計測プロフィール分布−(第1計測プロフィール分布−降下速度×Δt)
として1回の装入作業での高炉装入物の厚み分布を算出した結果を図4に示す。第1計測と第2計測は同じスキャン方式を用いているので、直径方向のいずれの位置においてもΔtは同じ値となり、上記式を用いることができた。
2:第1ホッパー
3:第2ホッパー
4:集合シュート
5:炉体
6:高炉装入物最表面形状
7:プロフィールメータ
8:高炉装入物最表面位置の計測装置
9:鎖
10:重錐
11:装入作業終了後の高炉装入物最表面の推定位置
12:装入作業中の高炉装入物最表面の推定位置
Claims (4)
- 高炉の直径方向における高炉装入物最表面のプロフィールを計測するスキャン式プロフィールメータを用いて1回の装入作業での高炉装入物の厚み分布を計測する方法であって、
高炉装入物の装入作業終了から次回装入作業開始までの間に高炉装入物最表面位置の計測装置を用いて高炉装入物最表面位置の計測を複数回行い、当該計測値を基に高炉装入物最表面位置の降下速度(以下、「降下速度」という。)を算出し、
前記降下速度に基づいて当該高炉装入物表面位置が予め定められた基準位置に到達する時刻よりプロフィール計測に要する時間だけ早い時刻(以下、「プロフィール計測開始時刻」という。)を算出し、
前記プロフィール計測開始時刻に前記スキャン式プロフィールメータにより高炉装入物のプロフィールの計測(以下、「第1計測」という。)を開始させ、
次なる高炉装入物の装入作業終了時刻に前記スキャン式プロフィールメータによる高炉装入物のプロフィール計測(以下、「第2計測」という。)を開始させ、
第1計測と第2計測の計測結果より1回の装入作業での高炉装入物の厚み分布を計測することを特徴とする高炉装入物の厚み分布計測方法。 - 前記プロフィール計測に要する時間は、30秒〜50秒であることを特徴とする請求項1に記載の高炉装入物の厚み分布計測方法。
- 前記高炉装入物最表面位置の計測装置は、鎖により鉛直状に吊り下げられた重錐から構成され、前記重錐は高炉装入物最表面上に置かれ、前記鎖の長さに基づいて高炉装入物最表面の位置を計測することを特徴とする請求項1又は2に記載の高炉装入物の厚み分布計測方法。
- 高炉装入物の装入作業終了時刻に高炉装入物最表面位置の計測装置の設定を開始し、当該装置の設定完了時刻に高炉装入物最表面位置の計測を開始するステップと、
前記高炉装入物最表面位置の計測値を基に高炉装入物最表面位置の降下速度(降下速度)を算出するステップと、
前記降下速度に基づいて当該高炉装入物表面位置が予め定められた基準位置に到達する時刻よりプロフィール計測に要する時間だけ早い時刻(プロフィール計測開始時刻)を算出するステップと、
前記プロフィール計測開始時刻に前記スキャン式プロフィールメータにより高炉装入物のプロフィールの計測(第1計測)を開始させるステップと、
前記第1計測が終了し、かつ、当該高炉装入物表面位置が予め定められた基準位置に到達したか経過した場合に、高炉装入物最表面位置の計測装置の退避を開始して当該装置の退避完了時刻に次なる高炉装入物の装入作業を開始し、
当該次なる高炉装入物の装入作業終了時刻に前記スキャン式プロフィールメータによる高炉装入物のプロフィール計測(第2計測)を開始させるステップと、
第1計測と第2計測の計測結果より1回の装入作業での高炉装入物の厚み分布を計測するステップとを有することを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の高炉装入物の厚み分布計測方法。
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