JP5642301B2 - 走査型顕微鏡、および試料の光学検鏡画像形成のための方法 - Google Patents
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Description
追加文献として、非特許文献1、非特許文献2、非特許文献3、非特許文献4、特許文献4、特許文献5、特許文献6、特許文献7、特許文献8、特許文献9、特許文献10、特許文献11、特許文献12が参照される。
本発明に係る方法の好ましい実施形態において、照明光ビームの強度は、照明焦点がターゲット領域にわたって動かされる走査期間の範囲内で変更される。特に、励起光ビームと逆励起光ビームを交互に切り換えて出し入れすること(Zuschaltung/Abschaltung)によって、異なる観察量を画像形成することが可能である。マイクロ秒程度で励起光ビームと逆励起光ビームが切り換えられて出し入れされるならば、例えば光検出器での適切な同期化によって異なる量が列毎に検出可能である(光検出器の検出表面が行と列で成り立っていると仮定して)。
本発明を、図面を参照して以下にさらに詳細に説明する。
12 励起光源
14 励起光ビーム
15 逆励起光源
16 逆励起光ビーム
18 位相板
20 ミラー
22 ビームスプリッタ
24 照明光ビーム
26 ガルバノミラー装置
28 走査レンズ
30 管レンズ
32 ビームスプリッタ
34 対物レンズ
36 入射ひとみ
38 位置決め要素
40 試料
42 ライトシート
44 検出光学系
46 第1検出用対物レンズ
47 管レンズ系
48 中間画像
49 管レンズ
50 第2検出用対物レンズ
51 管レンズ
52 管レンズ
53 中間画像
54 検出表面
55 光検出器
56 試料用スライド
58 ビームスプリッタ
60 位置決め要素
62 照明焦点
64 励起焦点
66 逆励起焦点
68 動作面
70 収縮方向
O,O’,O” 光軸
Claims (20)
- 照明光ビーム(24)を発する照明ユニット(12,15)と、画像形成されるべき試料(40)に細長い照明焦点(62)を生成する対物レンズ(34)と、上記照明光ビーム(24)が上記対物レンズ(34)の入射ひとみ(36)に入射する入射方向を変更することによって、上記試料(40)の照明されるべきターゲット領域にわたって上記照明焦点(62)を動かす走査装置(20,22,26,28,30,38,58)と、を有する走査型顕微鏡において、
上記走査装置(20,22,26,28,30,38,58)が、上記対物レンズ(34)の光軸(O)に対し上記照明焦点(62)を傾けるために、上記照明光ビーム(24)を上記入射ひとみ(36)の、ひとみ中心からずれた部分領域に向け、上記部分領域の範囲内で上記照明光ビーム(24)の入射方向を変更し、それにより上記照明焦点(62)を上記ターゲット領域にわたって動かし、上記ターゲット領域を照明するライトシート(42)を生成することを特徴とする、走査型顕微鏡(10)。 - 上記走査装置(20,22,26,28,30,38,58)が、照明焦点(62)を動かすことによって形成されるライトシート(42)を生成するために、上記対物レンズ(34)の光軸(O)に対し平行にずれている入射平面の範囲内で照明光ビーム(24)の入射方向を変更することを特徴とする、請求項1に記載の走査型顕微鏡(10)。
- 上記照明光ビーム(24)が通過する上記入射ひとみ(36)の部分領域が上記入射ひとみ(36)の全範囲のほぼ0.1%〜50%を占め、上記対物レンズ(34)の光軸(O)に対する入射平面の平行ずれが上記入射ひとみ(36)の半径のほぼ4〜96%に等しいことを特徴とする、請求項2に記載の走査型顕微鏡(10)。
- 上記走査装置(20,22、26,28,30,38,58)が、上記照明光ビーム(24)のライトパスで上記照明ユニット(12,15)と上記対物レンズ(34)の間に配置された光学ずらし要素(20,22,58,59)を備えて構成され、これによって上記照明光ビーム(24)の入射平面が上記対物レンズ(34)の光軸(O)に対し平行にずらされることを特徴とする、請求項2又は3に記載の走査型顕微鏡(10)。
- 上記光学ずらし要素(59)がウェッジ形状に構成されていることを特徴とする、請求項4に記載の走査型顕微鏡(10)。
- 上記走査装置(20,22,26,28,30,38,58)が、上記光学ずらし要素(20,22,58,59)を上記照明光ビーム(24)のライトパスに導入し、また上記光学ずらし要素(20,22,58,59)を上記照明光ビーム(24)のライトパスから取り去るための位置決め要素(38,60)を備えて構成されることを特徴とする、請求項4又は5に記載の走査型顕微鏡(10)。
- 上記走査装置(20,22,26,28,30,38,58)が、上記照明ユニット(12,15)から発せられる上記照明光ビーム(24)を上記入射ひとみ(36)の、ひとみ中心からずれた部分領域に反射する少なくとも1つの可動ミラー(26)を備えて構成され、さらに上記照明光ビーム(24)の入射方向を変更するために上記ミラー(26)を動かす駆動装置を備えて構成されることを特徴とする、請求項1〜6のいずれか一項に記載の走査型顕微鏡(10)。
- 上記走査装置(20,22,26,28,30,38,58)の上記ミラーが上記対物レンズ(34)の光軸(O)に対してずれて配置されていることを特徴とする、請求項7に記載の走査型顕微鏡(10)。
- 上記走査装置(20,22,26,28,30,38,58)が、上記照明ユニット(12,15)から発せられる上記照明光ビーム(24)のビーム径を変更する光学ビーム調整要素であって、上記照明ユニット(12,15)と上記対物レンズ(34)の間で上記照明光ビーム(24)のライトパスに配置された光学ビーム調整要素を備えて構成されることを特徴とする、請求項1〜8のいずれか一項に記載の走査型顕微鏡(10)。
- 上記照明光ビーム(24)が、上記走査装置(20,22,26,28,30,38,58)に入る前に互いに重ね合わされる励起光ビーム(14)と逆励起光ビーム(16)とから組み合わされていて、上記対物レンズ(34)が、上記励起光ビーム(14)から励起焦点(64)を、上記逆励起光ビーム(16)から逆励起焦点(66)を生成し、これらが上記照明焦点(62)を生じるために互いに重ね合わされていることを特徴とする、請求項1〜9のいずれか一項に記載の走査型顕微鏡(10)。
- 上記逆励起焦点(66)が、ライトシート(42)を生成するために励起焦点(64)と逆励起焦点(66)から組み合わされた上記照明焦点(62)が動かされる平面(68)にて最小値を有し、その平面(68)の両側に夫々最大値を有する空間光度分布を有することを特徴とする、請求項10に記載の走査型顕微鏡(10)。
- 上記励起焦点(64)に重ね合わされた上記逆励起焦点(66)の空間強度分布を調整するために、上記逆励起光ビーム(16)のライトパスに配置された位相板(18)を有することを特徴とする、請求項11に記載の走査型顕微鏡(10)。
- 上記照明焦点(62)が上記ターゲット領域にわたって動かされる走査期間の範囲内で上記照明光ビーム(24)の強度を変更するための要素を有することを特徴とする、請求項1〜12のいずれか一項に記載の走査型顕微鏡(10)。
- 傾いた照明焦点(62)によって照らされたターゲット領域の、上記対物レンズ(34)によって生成された画像を中間撮像するための第1の部分光学系(46)と、上記第1の部分光学系(46)によって生成された中間画像(48)を、中間画像(48)に対し平行に配置された検出表面(54)上に画像形成するための第2の部分光学系(50)とを有する検出光学系(44)を設け、上記ターゲット領域の画像が、第1の部分光学系(46)の光軸(O’)に対し傾斜して配置されていることを特徴とする、請求項1〜13のいずれか一項に記載の走査型顕微鏡(10)。
- 試料(40)を光学検鏡画像形成するための方法であって、
照明光ビーム(24)を発するステップと、
対物レンズ(34)によって画像形成されるべき試料(40)に細長い照明焦点(62)を生成するステップと、
走査装置(20,22,26,28,30,38,58)によって、上記照明光ビーム(24)が上記対物レンズ(34)の入射ひとみ(36)に入射する入射方向が変更されることにより上記試料(40)の照らされるべきターゲット領域にわたって上記照明焦点(62)が動かされるステップと
を有する方法において、
上記走査装置(20,22,26,28,30,38,58)によって、上記対物レンズ(34)の光軸(O)に対して上記照明焦点(62)を傾かせるために、上記照明光ビーム(24)が上記入射ひとみ(36)の、ひとみ中心からずれた部分領域に向けられ、その部分領域の範囲内で上記照明光ビーム(24)の入射方向が変更され、それにより上記照明焦点(62)が上記ターゲット領域にわたって動かされ、上記ターゲット領域を照明するライトシート(42)が生成されることを特徴とする、方法。 - 照明焦点(62)を動かすことによって形成されるライトシート(42)を生成するために、上記対物レンズ(34)の光軸(O)に対し平行にずれた入射平面の範囲内で、上記照明光ビーム(24)の入射方向が変更されることを特徴とする、請求項15に記載の方法。
- 上記照明光ビーム(24)が励起光ビーム(14)と逆励起光ビーム(16)とから組み合わされ、励起焦点(64)が上記励起光ビーム(14)から生成され、逆励起焦点(66)が上記逆励起光ビーム(16)から生成され、これら両焦点は上記照明焦点(62)を生じるために互いに重ね合わされることを特徴とする、請求項15又は16に記載の方法。
- ライトシート(42)を生成するために上記励起焦点(64)と上記逆励起焦点(66)から組み合わされた上記照明焦点(62)が動かされる平面(68)にて最小値を有し、その平面(68)の両側で夫々最大値を有するように、上記逆励起焦点(66)の空間強度分布が調整されることを特徴とする、請求項17に記載の方法。
- 上記照明焦点(62)が上記ターゲット領域にわたって動かされる走査期間の範囲内で上記照明光ビーム(24)の強度が変更されることを特徴とする、請求項15〜18のいずれか一項に記載の方法。
- 上記励起光ビーム(14)と上記逆励起光ビーム(16)が交互に切り換えられて出し入れされることを特徴とする、請求項17又は18に記載の方法。
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Families Citing this family (49)
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JP2014056078A (ja) * | 2012-09-12 | 2014-03-27 | Canon Inc | 画像取得装置、画像取得システム及び顕微鏡装置 |
DE102012218920A1 (de) * | 2012-10-17 | 2014-04-17 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Vorrichtung zur Beleuchtung einer Probe |
DE102012110077A1 (de) * | 2012-10-23 | 2014-06-26 | Karlsruher Institut für Technologie | Mikroskop mit mindestens einem Beleuchtungsstrahl in Form einer Lichtscheibe |
US9874736B2 (en) * | 2013-04-29 | 2018-01-23 | The Regents Of The University Of California | Apparatus and method for an inclined single plane imaging microscope box (iSPIM box) |
DE102013105586B4 (de) * | 2013-05-30 | 2023-10-12 | Carl Zeiss Ag | Vorrichtung zur Abbildung einer Probe |
DE102013211426A1 (de) * | 2013-06-18 | 2014-12-18 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren und optische Vorrichtung zum mikroskopischen Untersuchen einer Vielzahl von Proben |
JP6210754B2 (ja) * | 2013-06-24 | 2017-10-11 | オリンパス株式会社 | 走査型光学顕微鏡 |
GB2520541A (en) | 2013-11-25 | 2015-05-27 | European Molecular Biology Lab Embl | Optical arrangement for imaging a sample |
US10061111B2 (en) | 2014-01-17 | 2018-08-28 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Systems and methods for three dimensional imaging |
DE102014102215A1 (de) | 2014-02-20 | 2015-08-20 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren und Anordnung zur Lichtblattmikroskopie |
EP2930549B1 (en) * | 2014-04-08 | 2023-05-03 | European Molecular Biology Laboratory | An optical arrangement and method for imaging a sample |
DE102014104977B4 (de) | 2014-04-08 | 2023-11-30 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Anordnung zur Lichtblattmikroskopie sowie Mikroskopobjektiv für die Lichtblattmikroskopie |
WO2015164843A1 (en) * | 2014-04-24 | 2015-10-29 | Vutara, Inc. | Galvo scanning mirror for super-resolution microscopy |
DE102014113827A1 (de) | 2014-09-24 | 2016-03-24 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Vorrichtung zur Abbildung einer Probe |
EP3035101A1 (en) * | 2014-12-17 | 2016-06-22 | Olympus Corporation | Scanning apparatus and confocal observation apparatus |
EP3237949B1 (en) * | 2014-12-23 | 2025-01-29 | Leica Microsystems CMS GmbH | Selective plane illumination microscopy instruments |
DE102015103802A1 (de) * | 2015-03-16 | 2016-09-22 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren und Anordnung zur lichtblattmikroskopischen Untersuchung einer Probe |
DE202016009206U1 (de) | 2015-04-13 | 2024-03-11 | Leica Microsystems CMS GmbH | Vorrichtung zum Untersuchen einer Probe |
EP3326018B1 (en) * | 2015-07-17 | 2025-03-19 | The Trustees of Columbia University in the City of New York | Systems and methods for three-dimensional imaging |
CN104991402B (zh) * | 2015-07-23 | 2018-01-09 | 中国科学院广州生物医药与健康研究院 | 一种自动对焦的装置及方法 |
JP6590366B2 (ja) * | 2015-09-25 | 2019-10-16 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡装置、オートフォーカス装置、及び、オートフォーカス方法 |
CN105467572B (zh) * | 2016-01-18 | 2018-06-01 | 北京大学 | 单波长实现多光子脉冲sted-spim显微系统 |
LU93021B1 (de) | 2016-04-08 | 2017-11-08 | Leica Microsystems | Verfahren und Mikroskop zum Untersuchen einer Probe |
US11137587B2 (en) * | 2016-06-03 | 2021-10-05 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Light sheet microscope and microscopic method using a light sheet microscope |
WO2018033582A1 (de) | 2016-08-15 | 2018-02-22 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Lichtblattmikroskop |
JP7021190B2 (ja) | 2016-08-15 | 2022-02-16 | ライカ マイクロシステムズ シーエムエス ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | ライトシート顕微鏡 |
EP3513235B1 (de) | 2016-09-16 | 2023-06-07 | Leica Microsystems CMS GmbH | Lichtmikroskop |
DE102016011227C5 (de) | 2016-09-19 | 2020-04-09 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Mikroskopsystem und Verfahren zur Abbildung einer Probe unter Verwendung eines Mikroskopsystems |
DE102016119268B3 (de) * | 2016-10-10 | 2017-12-21 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Schiefebenenmikroskop |
DE102017101829A1 (de) * | 2017-01-31 | 2018-08-02 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Anordnung zur Auflösungssteigerung eines Laser-Scanning-Mikroskops |
DE102017214189A1 (de) * | 2017-08-15 | 2019-02-21 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zum Betrieb einer Mikroskopieranordnung und Mikroskopieranordnung mit einem ersten Mikroskop und mindestens einem weiteren Mikroskop |
DE102018203247A1 (de) * | 2018-03-05 | 2019-09-05 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Optische Vorrichtung, optisches Modul und Mikroskop zum Abtasten großer Proben |
DE102018204940B4 (de) * | 2018-03-29 | 2023-03-30 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Optisches System mit verkippter Beleuchtungsebene und Verfahren zum Beleuchten eines Probenvolumens in einem optischen System mit verkippter Beleuchtungsebene |
US20200092468A1 (en) * | 2018-09-14 | 2020-03-19 | Umech Technologies, Llc | Multi-range imaging system and method |
ES2749742B2 (es) * | 2018-09-21 | 2021-04-06 | Univ Madrid Carlos Iii | Microscopio y procedimiento de haz láser plano para muestras extensas |
LU101084B1 (de) * | 2018-12-21 | 2020-06-22 | Abberior Instruments Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum punktförmigen Beleuchten einer Probe in einem Mikroskiop |
US20220260818A1 (en) * | 2019-02-27 | 2022-08-18 | Calico Life Sciences Llc | Oblique plane microscopy system and method |
DE102019109832B3 (de) * | 2019-04-12 | 2020-04-23 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Lichtblattmikroskop und Verfahren zum Erfassen einer Messgröße |
DE102019110157B4 (de) * | 2019-04-17 | 2021-06-17 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Fluoreszenz-Rastermikroskop und Verfahren zur Abbildung einer Probe |
CN110687670B (zh) * | 2019-10-16 | 2022-02-08 | 锘海生物科学仪器(上海)有限公司 | 平铺光片显微镜及其使用方法 |
CN110960198B (zh) * | 2019-11-06 | 2021-09-24 | 浙江大学 | 基于多维调节架的近红外二区共聚焦显微成像系统 |
KR20220115947A (ko) * | 2019-11-13 | 2022-08-19 | 유니버시티 오브 워싱톤 | 조명 대물렌즈와 컬렉션 대물렌즈의 비직교 배열을 가지는 오픈 탑 광 시트 마이크로스코피 |
FR3103894B1 (fr) * | 2019-12-03 | 2024-12-13 | Damae Medical | Dispositifs et procédés de microscopie à balayage linéaire |
EP3929567A1 (en) * | 2020-06-25 | 2021-12-29 | Leica Microsystems CMS GmbH | Method and device for optically examining a biological sample |
US20230314787A1 (en) * | 2020-07-31 | 2023-10-05 | The Board Of Regents Of The University Of Texas System | Systems and methods for live projection imaging for fluorescence microscopy |
DE102020213714A1 (de) | 2020-11-01 | 2022-05-05 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop und Verfahren zur Lichtfeldmikroskopie mit Lichtblattanregung sowie zur konfokalen Mikroskopie |
LT7019B (lt) | 2023-01-24 | 2023-08-25 | Vilniaus Gedimino technikos universitetas | Erdvinio mikroobjekto matmenų ir jo paviršiaus reljefo nustatymo sistema ir būdas |
CN117031720B (zh) * | 2023-09-28 | 2023-12-29 | 微纳动力(北京)科技有限责任公司 | 一种自动化集成光学装置及系统 |
Family Cites Families (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4416558C2 (de) | 1994-02-01 | 1997-09-04 | Hell Stefan | Verfahren zum optischen Messen eines Probenpunkts einer Probe und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
US5952668A (en) | 1994-07-15 | 1999-09-14 | Baer; Stephen C. | Resolution in microscopy and microlithography |
DE10055176B4 (de) * | 2000-11-08 | 2007-05-03 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Anordnung zur visuellen und quantitativen 3-D-Untersuchung von Proben |
DE10063276C2 (de) * | 2000-12-19 | 2002-11-07 | Leica Microsystems | Scanmikroskop |
DE10257423A1 (de) * | 2002-12-09 | 2004-06-24 | Europäisches Laboratorium für Molekularbiologie (EMBL) | Mikroskop |
JP2005003909A (ja) * | 2003-06-11 | 2005-01-06 | Japan Science & Technology Agency | 光学系の薄層斜光照明法 |
JP2005140925A (ja) * | 2003-11-05 | 2005-06-02 | Nikon Corp | 顕微鏡 |
DE102005027077C5 (de) | 2004-11-04 | 2021-01-28 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Lichtscheibenmikroskop |
WO2006058187A2 (en) | 2004-11-23 | 2006-06-01 | Robert Eric Betzig | Optical lattice microscopy |
DE102005007756B4 (de) | 2005-02-16 | 2022-09-29 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Scanmikroskop |
EP2453238B1 (en) | 2005-05-23 | 2016-12-21 | Harald F. Hess | Optical microscopy with phototransformable optical labels |
DE102006021317B3 (de) | 2006-05-06 | 2007-10-11 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Verfahren und Fluoreszenzlichtmikroskop zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer Struktur einer Probe |
US7776613B2 (en) | 2006-08-07 | 2010-08-17 | President And Fellows Of Harvard College | Sub-diffraction image resolution and other imaging techniques |
DE102007015063B4 (de) * | 2007-03-29 | 2019-10-17 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Optische Anordnung zum Erzeugen eines Lichtblattes |
DE102007045897A1 (de) | 2007-09-26 | 2009-04-09 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Verfahren zur mikroskopischen dreidimensionalen Abbildung einer Probe |
JP2009229715A (ja) | 2008-03-21 | 2009-10-08 | Olympus Corp | 顕微鏡 |
DE102008019957B4 (de) * | 2008-04-21 | 2015-04-30 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Verfahren zum Bestrahlen einer Probe mit Licht und Fluoreszenzlichtmikroskop mit einer Beleuchtungseinheit zum Bestrahlen einer Probe mit Licht |
DE102008024568A1 (de) | 2008-05-21 | 2009-12-03 | MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. | Verfahren zum räumlich hochauflösenden Abbilden einer interessierenden Struktur einer Probe |
JP2010015026A (ja) * | 2008-07-04 | 2010-01-21 | Olympus Corp | 超解像顕微鏡およびこれに用いる空間変調光学素子 |
GB0814039D0 (en) | 2008-07-31 | 2008-09-10 | Imp Innovations Ltd | Optical arrangement for oblique plane microscopy |
JP5208825B2 (ja) * | 2008-09-12 | 2013-06-12 | オリンパス株式会社 | 光学顕微鏡 |
DE102009044984A1 (de) * | 2009-09-24 | 2011-03-31 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Mikroskop |
WO2011059826A2 (en) * | 2009-10-29 | 2011-05-19 | California Institute Of Technology | Multiple-photon excitation light sheet illumination microscope |
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