JP5590523B2 - Optical coherence tomography device - Google Patents
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Description
本発明は、オプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置に関する。 The present invention relates to an optical coherence tomography apparatus.
オプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー(Optical Coherence Tomography; OCT)装置は、光の干渉現象を利用して人の眼等の断層像を撮影する装置である。 An optical coherence tomography (OCT) apparatus is an apparatus that captures a tomographic image of a human eye or the like using a light interference phenomenon.
OCT装置は、光源と、光源に接続された干渉計と、干渉計の出力光強度を測定して断層像を導出する断層像導出ユニットとを有している。OCT装置による断層像の撮影手順は、以下の通りである。まず、測定対象を、干渉計の一方のアーム(以下、計測アームと呼ぶ)に配置する。次に、干渉計の他方のアーム(以下、参照アームと呼ぶ)に設けた光遅延器を調節して、参照アームと計測アームの光路長が略等しくなるようにする。その後、光源の波長を変化させながら、干渉計の出力光強度を測定して、その測定結果に基づいて断層像を導出する。 The OCT apparatus includes a light source, an interferometer connected to the light source, and a tomographic image deriving unit that derives a tomographic image by measuring the output light intensity of the interferometer. The procedure for taking a tomographic image by the OCT apparatus is as follows. First, a measurement target is placed on one arm (hereinafter referred to as a measurement arm) of an interferometer. Next, an optical delay unit provided on the other arm of the interferometer (hereinafter referred to as a reference arm) is adjusted so that the optical path lengths of the reference arm and the measurement arm become substantially equal. Thereafter, the output light intensity of the interferometer is measured while changing the wavelength of the light source, and a tomographic image is derived based on the measurement result.
ところで、参照アームに設ける光遅延器は、光の進行方向に反射鏡を前後させて、その光路長を微調節する装置である。光遅延器は、このように反射鏡の機械的運動により光路長を調節するので、その操作性は必ずしも高くない。このため光遅延器は、OCT装置の操作性向上を妨げる一因になっている。又、光遅延器は精密な光学部品・機械部品で構成されるため高価であり、OCTシステムのコストアップの一因となっている。 By the way, the optical delay device provided in the reference arm is a device that finely adjusts the optical path length by moving the reflecting mirror back and forth in the light traveling direction. Since the optical delayer adjusts the optical path length by the mechanical movement of the reflecting mirror in this way, its operability is not necessarily high. For this reason, the optical delay device is one factor that hinders improvement in operability of the OCT apparatus. In addition, the optical delay device is expensive because it is composed of precision optical parts and mechanical parts, which contributes to the cost increase of the OCT system.
そこで、本発明の目的は、光遅延器による光路長の微調節を必要としないOCT装置を提供することである。 Therefore, an object of the present invention is to provide an OCT apparatus that does not require fine adjustment of the optical path length by an optical delay device.
上記の目的を達成するために、本発明の第1の観点によれば、時間と共に波長が変化する可変波長光を発生する可変波長光発生ユニットと、前記可変波長光を参照光と測定光に分岐し、前記測定光を測定対象に照射して後方散乱光を発生させ、前記後方散乱光と前記参照光を結合して干渉光を生成する干渉計ユニットと、前記干渉光の強度を測定し、測定した前記強度と前記波長の関係に基づいて前記測定対象の断層像を導出する断層像導出ユニットとを有するオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置において、前記干渉計ユニットは、前記可変波長光の波長に基づいて前記参照光の位相を変調することで、前記干渉光の強度を、前記参照光の光路長を変化させた場合の前記干渉光の強度にする光位相変調ユニットを有するオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置が提供される。 In order to achieve the above object, according to a first aspect of the present invention, a variable wavelength light generating unit that generates variable wavelength light whose wavelength changes with time, and the variable wavelength light as reference light and measurement light. Branching, irradiating the measurement light onto the measurement object to generate backscattered light, combining the backscattered light and the reference light to generate interference light, and measuring the intensity of the interference light In the optical coherence tomography apparatus having a tomogram deriving unit for deriving the tomogram of the measurement object based on the relationship between the measured intensity and the wavelength, the interferometer unit has a wavelength of the variable wavelength light. An optical phase modulation unit that modulates the phase of the reference light based on the intensity of the interference light to change the intensity of the interference light when the optical path length of the reference light is changed. Cal coherence tomography apparatus is provided.
本発明によれば、光遅延器による光路長の微調節を必要としないOCT装置を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide an OCT apparatus that does not require fine adjustment of the optical path length by an optical delay device.
以下、図面にしたがって本発明の実施の形態について説明する。但し、本発明の技術的範囲はこれらの実施の形態に限定されず、特許請求の範囲に記載された事項とその均等物まで及ぶものである。尚、図面が異なっても対応する部分には同一の符号を付し、その説明は省略する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. However, the technical scope of the present invention is not limited to these embodiments, but extends to the matters described in the claims and equivalents thereof. It should be noted that even if the drawings are different, corresponding parts are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.
図1は、本実施の形態のOCT装置2の構成を説明する概略図である。図1に示した実線は、下記各光学部材を接続する光ファイバーである。尚、本実施の形態は、1次元断層像を撮影するOCT装置に関するものであるが、本実施の形態を2次元断層像又は3次元画像を撮影するOCT装置に拡張することは容易である。このためには、例えば、後述する光照射/補足ユニット26にガルバノミラー等の光走査装置を設ければよい。
FIG. 1 is a schematic diagram illustrating the configuration of the
本実施の形態のOCT装置2は、図1に示すように、時間と共に波長が変化する可変波長光6を発生する可変波長光発生ユニット4を有している。また、OCT装置2は、可変波長光6を参照光8と測定光10に分岐し、測定光10を測定対象18に照射して後方散乱光12を発生させ、後方散乱光12と参照光8を結合して干渉光14a, 14bを生成する干渉計ユニット16を有している。また、OCT装置2は、干渉光14a, 14bの強度を測定し、測定した強度と可変波長光6の波長の関係に基づいて測定対象18の断層像を導出する断層像導出ユニット20を有している。
As shown in FIG. 1, the
そして、干渉計ユニット16は、可変波長光6の波長に基づいて参照光8の位相を変調することで、干渉光14a,14bの強度を、参照光6の光路長を変化させた場合の干渉光14a,14bの強度に実質的に等しくする光位相変調ユニット22を有している。
The
図2は、可変波長光発生ユニット4が生成する可変波長光6の波数(=2π/波長)の時間変化を説明する図である。図2の横軸は時間である。図2の縦軸は波数である。 FIG. 2 is a diagram for explaining the change over time of the wave number (= 2π / wavelength) of the variable wavelength light 6 generated by the variable wavelength light generation unit 4. The horizontal axis in FIG. 2 is time. The vertical axis in FIG. 2 is the wave number.
可変波長光6の波数は、図2に示すように、時間と共に連続的に変化する。このような可変波長光を発生する可変波長光発生ユニット4としては、例えば、共振器長が時間と共に変化するファイバーリング共振器と光利得媒体を有する波長スイープ光源がある。 As shown in FIG. 2, the wave number of the variable wavelength light 6 changes continuously with time. As the variable wavelength light generating unit 4 that generates such variable wavelength light, for example, there is a wavelength sweep light source having a fiber ring resonator whose optical length changes with time and an optical gain medium.
干渉計ユニット16は、図1に示すように、可変波長光6を測定光6と参照光8に分岐する光分岐器24(例えば、方向性結合器)を有している。また、干渉計ユニット16は、測定光10を測定対象18に照射し且つ測定光10が測定対象18により後方散乱されて発生した後方散乱光12を補足する光照射/補足ユニット26を有している。また、干渉計ユニット6は、参照光8と後方散乱光12を結合して第1の干渉光14aと第2の干渉光14bを出射する光結合器28(例えば、分岐比が1:1の方向性結合器)を有している。ここで、第1の干渉光14aと第2の干渉光14bの強度は可変波長光6の波数に対して周期的に変化し、その位相はπずれている。
As shown in FIG. 1, the
光照射/補足ユニット26は、図1に示すように、光分岐器24により分岐されその光入射口aに入射した測定光10を、光入出射口bから出射させる光サーキュレータ46を有している。また、光照射/補足ユニット26は、光サーキュレータ46の光入出射口bから出射した測定光を平行光線に変換するコリメータレンズ60を有している。また、光照射/補足ユニット26は、この平行光線を集光して測定対象18に照射するフォーカシングレンズ62を有している。
As shown in FIG. 1, the light irradiation / supplementing
測定対象18に照射された測定光10は、測定対象18により後方散乱されて後方散乱光12になる。この後方散乱光12は、測定光が進行して来た光路を逆行して光サーキュレータ46の光入出射口bに入射し、光サーキュレータ46の光出射口cから出射する。
The
また、断層像導出ユニット20は、図1に示すように、第1の干渉光14aを受光してその光強度に対応する信号(例えば、光電流)を出力する第1の光検知器30(例えば、pinフォトダイオード)と、第2の干渉光14bを受光してその光強度に対応する信号(例えば、光電流)を出力する第2の光検知器32(例えば、pinフォトダイオード)とを有している。また、断層像導出ユニット20は、第1の光検知器30の出力と第2の光検知器32の出力の差を増幅する差動増幅器34を有している。また、断層像導出ユニット20は、差動増幅器34の出力をアナログデジタル変換するAD変換器36を有している。以上の構成により、断層像導出ユニット20は、第1の干渉光14aと第2の干渉光14bの強度の差を測定する。
Further, as shown in FIG. 1, the
また、断層像導出ユニット20は、AD変換器36の出力を得て、第1の干渉光14aの強度I+と第2の干渉光14bの強度I-の差を可変波長光6の波数に関してフーリエ変換し、その絶対値(または、その2乗)を算出する演算制御装置38を有している。上記絶対値は測定光の進行方向に沿った位置座標の関数であり、測定対象の後方散乱光強度の深さ方向の分布すなわち1次元断層像に対応している。
Further, the
演算制御装置38は、例えば、OCT装置2の動作を制御し且つ断層像を導出するプログラムがロードされたコンピュータであり、CPU(Central Processing Unit)40と主メモリ42(例えば、Random Access Memory)と補助メモリ44(例えば、磁気ディスク)を有している。
The arithmetic and control unit 38 is, for example, a computer loaded with a program for controlling the operation of the
―光位相変調ユニット―
光位相変調ユニット22は、図1に示すように、光位相変調器48とその制御ユニット50を有している。光位相変調器48は、制御ユニット50の出力信号52にしたがって入射光の位相を変調して出射する。光位相変調器48は、例えば、強誘電体結晶ニオブ酸リチウム(LiNbO3:LN)等の光学結晶からなる光導波路を有している。光位相変調器48は、このような光導波路に電圧を印加することでその屈折率を変化させ、出射光の位相を変調する。
―Optical phase modulation unit―
As shown in FIG. 1, the optical
制御ユニット50は、演算制御装置38の命令にしたがって、上記出力信号52を光位相変調器48に供給する。
The
光位相変調ユニット22は、参照光8の光路(参照光アーム56)に配置され、上述したように、可変波長光6の波長の変化に基づいて参照光8の位相を変調して、干渉光14a,14bの強度を、参照光8の光路長を変化させた場合の強度にする。
The optical
図3は、光位相変調ユニット22による変調前と変調後の参照光8の位相差φ(すなわち、位相変調量)と、可変波長光6の波数k(=2π/波長)の変化との関係を説明する図である。ここで、変調前の位相とは、ある位置(例えば、光変調器48の光出射口)における、光位相変調器48に電圧を印加する前の参照光8の電界強度の位相φaである。また、変調後の位相とは、同じ位置における、光位相変調器48に電圧を印加した後の参照光8の電界強度の位相φbである。そして、変調前と変調後の参照光8の位相差φとは、φaとφbの差φb−φaである。
FIG. 3 shows the relationship between the phase difference φ (that is, the phase modulation amount) of the reference light 8 before and after modulation by the optical
図3の縦軸は上記位相差φである。横軸は、可変波長光6の波数kである。尚、図3の破線は、可変波長光発生ユニット4が生成しない波長範囲の波数に対応する位相差φである。 The vertical axis in FIG. 3 is the phase difference φ. The horizontal axis represents the wave number k of the variable wavelength light 6. 3 is the phase difference φ corresponding to the wave number in the wavelength range that is not generated by the variable wavelength light generating unit 4.
光位相変調ユニット22は、図3に示すように、変調前と変調後の参照光8の(電界強度の)位相差φを、波数kに比例し2π(rad)に達すると0(rad)に戻る値になるように、参照光8を変調する。或いは、光位相変調ユニット22は、位相差φが、可変波長光6の波長λの波数k(=2π/λ)に比例し−2π(rad)に達すると0(rad)に戻る値になるように、参照光8を変調する。従って、位相差φは、次式で表すことができる。
As shown in FIG. 3, the optical
ここで、nは整数である。 Here, n is an integer.
ところで、上述したように、測定対象の断層像は、第1の干渉光14aの強度I+と第2の干渉光14bの強度I-の差ΔI(=I+−I-)を波数に関してフーリエ変換し得られる関数の絶対値(又は、その2乗)である。この干渉光強度の差ΔIは、次式で表されることが知られている(例えば、特許文献1)。但し、測定対象18は、反射面を一つだけ有するとする。
By the way, as described above, the tomographic image to be measured is obtained by calculating the difference ΔI (= I + −I − ) between the intensity I + of the first interference light 14 a and the intensity I − of the
ここで、Ir及びIsは、夫々、後方散乱12及び参照光8の強度である。また、Lrは、測定光10と後方散乱光12が走行する光路(計測アーム54)の光学長である。Lsは、参照光8が走行する光路(参照アーム56)の光学長である。
Here, I r and I s, respectively, the intensity of the
実際の測定対象は多数の反射面を有し、夫々の反射面が測定光を後方散乱する。そして、断層像導出ユニット20が導出する分布は、夫々の反射面からの後方散乱光のフーリエ変換の絶対値(又は、その2乗)の重ね合わせである。従って、式(2)を検討することにより、本OCT装置2の断層像を説明することができる。
An actual measurement object has a large number of reflection surfaces, and each reflection surface backscatters measurement light. The distribution derived by the
ここで、測定対象18において、測定光10の進路に沿った座標軸を考える。そして、測定対象18の反射面の位置座標をxとする。また、上記座標軸の原点に対応するLrをL0とする。すると、上記反射面の位置座標xに対応するLrは、L0+2xになる。従って、式(2)は、以下のようになる。
Here, a coordinate axis along the path of the
従来のOCT装置2は、光位相変調ユニット22を有していない。したがって、φは0(rad)になる。従来のOCT装置では、このようなΔIに対してL0−Lsが略零になるように、参照アーム56の光学長Lsを光遅延器で調節する。このようにL0−Lsを略零にしないと、波数kの係数が大きくなり過ぎて、ΔIが波数kに対して短周期で振動する。その結果、フーリエ変換の精度が低下する。
The
本実施の形態では、参照アーム56の光学長Lsを調節する代わりに、参照光8の位相を式(1)にしたがって変化させる。この場合、式(3)は以下のようになる。
In the present embodiment, instead of adjusting the optical length L s of the
従って、位相変調量の傾きmを調整することにより、L0−Ls+mを所望の値にすることができ、Lsを変えずに波数kの係数を調整することができる。例えば、波数に対する位相差変化量の傾きmが、波長が0.1nm増加した場合に位相差φを2π増加させる場合、参照アーム56の光学長Lsを24mm長くした場合と同じ効果を得ることができる。但し、可変波長光6の波長は1.55μmとする。尚、波数の増分Δkは、波長λの増分をΔλとすると、−2πΔλ/λ2で表すことができる。
Therefore, L 0 −L s + m can be set to a desired value by adjusting the slope m of the phase modulation amount, and the coefficient of the wave number k can be adjusted without changing L s . For example, when the slope m of the phase difference change amount with respect to the wave number increases the phase difference φ by 2π when the wavelength increases by 0.1 nm, the same effect as when the optical length L s of the
ここで、mは位相変調量φの傾きなので、位相変調器48の制御ユニット50により電気的に容易に調節することができる。従って、本OCT装置2の操作性は、光遅延器を用いる光位相変調ユニット22より格段に優れている。
Here, since m is the gradient of the phase modulation amount φ, it can be easily adjusted electrically by the
ところで、よく知られているように、余弦関数(cos(kx))のフーリエ変換の絶対値(又は、その2乗)は、余弦関数の変数kxに定数を加えても変化しない。すなわち、cos(kx)とcos(kx+c)のフーリエ変換の絶対値(又は、その2乗)は、同じ値になる(cは定数)。従って、位相変調量φは、以下の通りであってもよい。 As is well known, the absolute value (or its square) of the Fourier transform of the cosine function (cos (kx)) does not change even if a constant is added to the variable kx of the cosine function. That is, the absolute value (or its square) of the Fourier transform of cos (kx) and cos (kx + c) is the same value (c is a constant). Accordingly, the phase modulation amount φ may be as follows.
但し、cは定数である。 However, c is a constant.
すなわち、光位相変調ユニットは、変調前と変調後の参照光8の(電界強度の)位相差が、可変波長光6の波長λの波数(=2π/λ)の一次関数として変化し、2π(rad)又は−2π(rad)に達すると0(rad)に戻る値になるように、参照光8を変調すればよい。従って、波数掃引の初期値k0に対応する位相変調量φ0を自由に設定することができる。例えば、位相変調量φ0は、0(rad)であってもよい。 That is, in the optical phase modulation unit, the phase difference (of electric field strength) between the reference light 8 before and after modulation changes as a linear function of the wave number (= 2π / λ) of the wavelength λ of the variable wavelength light 6, and 2π The reference light 8 may be modulated so that the value returns to 0 (rad) when reaching (rad) or -2π (rad). Accordingly, the phase modulation amount φ 0 corresponding to the initial value k 0 of the wave number sweep can be freely set. For example, the phase modulation amount phi 0 may be 0 (rad).
以上のように、本実施の形態によれば、光位相変調ユニット22により、参照アーム56の光学長を擬似的に調整することができるので、光遅延器による光路長の微調節を必要としないOCT装置を提供することができる。
As described above, according to the present embodiment, since the optical length of the
(2)動 作
次に、OCT装置2の動作を説明する。
(2) Operation Next, the operation of the
まず、可変波長光発生ユニット4が、断層像導出ユニット20の命令にしたがって、
時間と共に波長が連続的に変化する可変波長光6を発生する。波長の初期値は、例えば1530nmである。一方、波長の最終値は、例えば、1570nmである。
First, the variable wavelength light generation unit 4 follows the command of the
A variable wavelength light 6 whose wavelength continuously changes with time is generated. The initial value of the wavelength is 1530 nm, for example. On the other hand, the final value of the wavelength is 1570 nm, for example.
次に、光分岐器24が、この可変波長光6を参照光8aと測定光10に分岐する。
Next, the optical branching
次に、光照射/補足ユニット26が、測定光10を測定対象18に照射して、後方散乱光12を発生させる。一方、光位相変調ユニット22は、上述したように、断層像導出ユニット20の命令にしたがって、可変波長光6の波長に基づいて参照光8aの位相を変調する。
Next, the light irradiation / supplementing
次に、光結合器28は、変調された参照光8bと後方散乱光12とを結合して第1の干渉光14aと第2の干渉光14bを生成する。
Next, the
次に、断層像導出ユニット20が、第1の干渉光14aの強度と第2の干渉光14bの強度を測定し、第1の干渉光14aと第2の干渉光14bの強度の差をフーリエ変換しその絶対値(または、絶対値の2乗)を求めることで、測定対象18の断層像を導出する。
Next, the
ここで、参照光8aの位相変調量の変化率mを調整することにより、参照アーム56の光学長を微調整することができる。すなわち、断層像の原点を移動することができる。
Here, the optical length of the
本実施の形態では、上述したように、可変波長光発生ユニット4が、時間と共に波長が連続的に変化する可変波長光を発生する。しかし、可変波長光発生ユニット4は、時間と共に波長が離散的に変化する可変波長光(例えば、時間と共に波長がステップ状に変化する光)を発生してもよい。その場合、この波長変化に対応して、光位相変調ユニット22も、参照光8aの位相を離散的に変調する。更に、可変波長光発生ユニット4は、離散的に変化する各波長を中心として、波長が小さく振動する可変波長光を発生してもよい。この場合にも、この波長変化に対応して、光位相変調ユニット22は、離散的に変化する位相を中心として、参照光8aの位相を小さく振動させる。
In the present embodiment, as described above, the variable wavelength light generation unit 4 generates variable wavelength light whose wavelength continuously changes with time. However, the variable wavelength light generating unit 4 may generate variable wavelength light whose wavelength changes discretely with time (for example, light whose wavelength changes stepwise with time). In this case, the optical
また、以上の例では、干渉光の強度差をフーリエ変換しているが、一方の干渉光の強度を直接フーリエ変換してもよい。 In the above example, the intensity difference of the interference light is Fourier transformed, but the intensity of one interference light may be directly Fourier transformed.
2・・・OCT装置
4・・・可変波長光発生ユニット
16・・・干渉計ユニット
20・・・断層像導出ユニット
22・・・光位相変調ユニット
2 ... OCT device 4 ... variable wavelength
Claims (3)
前記可変波長光を参照光と測定光に分岐し、前記測定光を測定対象に照射して後方散乱光を発生させ、前記後方散乱光と前記参照光を結合して干渉光を生成する干渉計ユニットと、
前記干渉光の強度を測定し、測定した前記強度と前記波長の関係に基づいて前記測定対象の断層像を導出する断層像導出ユニットとを有するオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置において、
前記干渉計ユニットは、変調前と変調後の前記参照光の位相差φが次式
φ=m・k−2π・n
(ただし、位相差φの単位はrad、mは0以外の調整可能な定数、kは波数、nは整数)で表されるように前記参照光を変調する光位相変調ユニットを有することを
特徴とするオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置。 A variable wavelength light generating unit for generating variable wavelength light whose wavelength changes with time;
An interferometer that splits the variable wavelength light into reference light and measurement light, irradiates the measurement light onto a measurement object to generate backscattered light, and combines the backscattered light and the reference light to generate interference light. Unit,
In an optical coherence tomography apparatus having a tomogram deriving unit that measures the intensity of the interference light and derives a tomogram of the measurement object based on the relationship between the measured intensity and the wavelength,
In the interferometer unit , the phase difference φ between the reference light before modulation and after modulation is expressed by the following equation:
φ = m · k-2π · n
(Wherein the unit of the phase difference φ is rad, m is an adjustable constant other than 0, k is the wave number, and n is an integer), and has an optical phase modulation unit that modulates the reference light. Optical coherence tomography device.
前記光位相変調ユニットは、前記参照光の前記位相差φが2π(rad)又は−2π(rad)に達すると0(rad)に戻るように、前記参照光を変調することを
特徴とするオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置。 The optical coherence tomography device according to claim 1,
The optical phase modulation unit, the phase difference between the reference light φ is urchin by Ru returns to 2 [pi (rad) or -2.pi. (rad) when reaches 0 (rad), characterized by modulating the reference beam Optical coherence tomography device.
前記干渉計ユニットは、前記可変波長光を前記測定光と前記参照光に分岐する光分岐器と、前記測定光を測定対象に照射し且つ前記測定光が前記測定対象により後方散乱されて発生した後方散乱光を捕捉する光照射/捕捉ユニットと、前記参照光と前記後方散乱光を
結合して前記干渉光を生成する光結合器とを有し、
前記光位相変調ユニットは、前記光分岐器と前記光結合光の間に配置されていることを、
特徴とするオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置。 The optical coherence tomography device according to claim 1 or 2,
The interferometer unit is generated by splitting the variable wavelength light into the measurement light and the reference light, irradiating the measurement light onto the measurement object, and the measurement light being backscattered by the measurement object has a light irradiation / acquisition units you capture backscattered light, and an optical coupler for generating the bonds to the interference light the backscattered light and the reference light,
The optical phase modulation unit is disposed between the optical splitter and the optical coupling light,
Features optical coherence tomography equipment.
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