JP5585102B2

JP5585102B2 - Active matrix display panel substrate and liquid crystal display panel using the same

Info

Publication number: JP5585102B2
Application number: JP2010020299A
Authority: JP
Inventors: 俊司北浜
Original assignee: Casio Computer Co Ltd
Current assignee: Casio Computer Co Ltd
Priority date: 2010-02-01
Filing date: 2010-02-01
Publication date: 2014-09-10
Anticipated expiration: 2030-02-01
Also published as: JP2011158707A

Description

この発明は、検査用の薄膜トランジスタが設けられたアクティブマトリクス型表示パネル用基板とこれを用いた液晶表示パネルに関する。 The present invention relates to an active matrix display panel substrate provided with a thin film transistor for inspection and a liquid crystal display panel using the same.

近年、携帯電話機やＰＤＡ（Personal Digital Assistance）等のモバイル電子機器の小型薄型化を促進するため、その表示パネルとして液晶表示パネルが採用されている。そして、液晶表示パネルのうちでも、高精細な表示品質が得られるアクティブマトリクス型の液晶表示パネルが多用されている。 In recent years, a liquid crystal display panel has been adopted as a display panel in order to promote a reduction in size and thickness of mobile electronic devices such as mobile phones and PDAs (Personal Digital Assistance). Among liquid crystal display panels, active matrix liquid crystal display panels that can obtain high-definition display quality are frequently used.

上記液晶表示パネルの製造に際しては、通常、ドライバ等の実装部品を取り付ける前に信号電圧を入出力するためのソース配線及びゲート配線の断線やショートの有無を検査する。この検査を円滑に効率良く実施するため、従来、複数の配線を一括に共通接続した検査専用回路をアクティブマトリクス型液晶表示パネルの薄膜トランジスタが形成されている基板に設ける特許文献１に示されるような方策が用いられている。 In manufacturing the above-mentioned liquid crystal display panel, the source wiring and gate wiring for inputting / outputting signal voltages are usually inspected for disconnection or short circuit before mounting a mounting component such as a driver. In order to carry out this inspection smoothly and efficiently, a conventional circuit dedicated for inspection in which a plurality of wirings are commonly connected together is provided on a substrate on which a thin film transistor of an active matrix type liquid crystal display panel is formed, as shown in Patent Document 1 Measures are used.

特開平１０−７３５１６号公報JP-A-10-73516

上記液晶表示パネルの場合、検査が終了した後、検査専用回路を切除する必要があり、その作業に要する工数が製造コストをアップさせる原因となっている。 In the case of the liquid crystal display panel, after the inspection is completed, it is necessary to cut out the inspection dedicated circuit, and the man-hour required for the work increases the manufacturing cost.

本発明の目的は、ソース配線及びゲート配線と検査専用回路との間に検査用スイッチング素子を設けることで、表示検査終了後も検査専用回路を切除することなく配線の検査を実施できるアクティブマトリクス型基板とこれを用いた液晶表示パネルを提供することである。 An object of the present invention is to provide an inspection switching element between the source wiring and the gate wiring and the inspection dedicated circuit, so that an active matrix type capable of inspecting the wiring without removing the inspection dedicated circuit even after the display inspection is completed. A substrate and a liquid crystal display panel using the same are provided.

本発明の請求項１に記載されたアクティブマトリクス型表示パネル用基板の発明は、透明基板上の表示領域内に、互いに平行に延在させて配設された複数のソースラインと、
前記表示領域内に、互いに平行に前記ソースラインに交差するように延在させて配設された複数のゲートラインと、
前記複数のゲートライン及び前記複数のソースラインとの各交差点に一つ配置され、前記複数のゲートライン及び複数のソースラインに接続された駆動用スイッチング素子と、
前記複数のゲートライン及び前記複数のソースラインとの各交差点に一つ配置され、前記薄膜トランジスタを介して前記複数のゲートライン及び前記複数のソースラインに接続された画素電極と、を備えるアクティブマトリクス型表示パネル用基板であって、
前記透明基板上の表示領域を除いた領域である非表示領域に、
検査を行うための検査信号電圧を出力する検査出力配線と、
前記ソースライン又は前記ゲートラインと前記検査出力配線との間の導通をオン・オフする検査用スイッチング素子と、
検査用スイッチング素子のオン・オフを制御する信号電圧を出力する検査制御配線と、
前記複数のソースラインとそれぞれ接続される複数のソース出力配線と、
前記複数のゲートラインとそれぞれ接続される複数のゲート出力配線と、が引き回し配設され、
前記検査出力配線は、
前記複数のソース出力配線及び前記複数のゲート出力配線のうち、どちらか一方について、前記透明基板の基板端面に最も近接して引き回された１本の出力配線と前記基板端面との間に引き回し配設されている１本の基板欠け検知用検査出力配線を含み、
前記検査出力配線のうち、該１本の基板欠け検知用検査出力配線を除く残りの前記検査出力配線は、
前記複数のソース出力配線と前記複数のゲート出力配線のうち、どちらか一方について、前記透明基板の基板端面から最も離れて引き回された１本の出力配線と前記表示領域との間に引き回し配設されていること、を特徴とするものである。 The active matrix display panel substrate according to claim 1 of the present invention includes a plurality of source lines arranged in parallel to each other in a display region on a transparent substrate,
A plurality of gate lines disposed in the display region so as to extend in parallel with each other and intersect the source line;
One switching element disposed at each intersection of the plurality of gate lines and the plurality of source lines, and connected to the plurality of gate lines and the plurality of source lines,
An active matrix type including one pixel electrode disposed at each intersection of the plurality of gate lines and the plurality of source lines and connected to the plurality of gate lines and the plurality of source lines via the thin film transistor A display panel substrate,
In a non-display area that is an area excluding the display area on the transparent substrate,
Inspection output wiring for outputting an inspection signal voltage for performing inspection,
A switching element for inspection that turns on and off conduction between the source line or the gate line and the inspection output wiring;
Inspection control wiring for outputting a signal voltage for controlling on / off of the switching element for inspection;
A plurality of source output lines respectively connected to the plurality of source lines;
And a plurality of gate output wirings connected to the plurality of gate lines, respectively,
The inspection output wiring is
Wherein the plurality of source output lines and the plurality of gate output line, for either, routing between the transparent substrate 1 output wirings which are routed closest to the substrate end face of the substrate end face Including one inspection chip wiring for detecting chipping of a substrate,
Among the inspection output wirings, the remaining inspection output wirings excluding the one substrate chip detection inspection output wiring are:
Among the plurality of source output lines and the plurality of gate output line, for either, routing distribution between the display area one output line and which is routed farthest from the substrate end face of said transparent substrate It is characterized by being provided.

好ましくは、前記検査出力配線は複数本配設され、
前記検査用スイッチング素子は、前記ソースラインと前記複数の検査出力配線のうち１本との間の導通をオン・オフする第１の検査用スイッチング素子と、
前記ゲートラインと前記複数の検査出力配線の残りのうちの１本との間の導通をオン・オフする第２の検査用スイッチング素子と、を含む。
好ましくは、前記検査用スイッチング素子は、前記ソースラインと前記複数の検査出力配線のうち１本である第１の検査出力配線との間の導通をオン・オフする第１の検査用スイッチング素子と、
前記ゲートラインのうち一部のものと前記複数の検査出力配線のうち前記第１の検査出力配線を除いた中の１本である第２の検査出力配線との間の導通をオン・オフする第２の検査用スイッチング素子と、
前記ソース出力配線と前記複数の検査出力配線のうち前記第１乃至第２の検査出力配線を除いた中の１本である第３の検査出力配線との間の導通をオン・オフする第３の検査用スイッチング素子と、
前記ゲートラインのうち他の一部のものと前記複数の検査出力配線のうち前記第１乃至第３の検査出力配線を除いた中の１本である第４の検査出力配線との間の導通をオン・オフする第４の検査用スイッチング素子とを含む。
好ましくは、前記透明基板の前記非表示領域には、表示信号電圧及び走査信号電圧を出力する駆動制御装置が搭載される矩形状の駆動制御装置搭載領域が設けられ、
前記駆動制御装置搭載領域には、前記検査出力配線と接続し、入力された前記検査信号電圧を前記検査出力配線に供給する検査端子部と、
前記複数のソース出力配線とそれぞれ接続し、入力された前記表示信号電圧を前記各ソース出力配線にそれぞれ供給する複数のソース出力端子が配列されたソース出力端子部と、
前記複数のゲート出力配線とそれぞれ接続し、入力された前記走査信号電圧を前記各ゲート出力配線にそれぞれ供給する複数のゲート出力端子が配列されたゲート出力端子部と、が配置され、
前記ソース出力端子部及び前記ゲート出力端子部は前記駆動制御装置搭載領域の前記表示領域と対向する辺と平行な直線上に設置され、
前記検査端子部は、前記駆動制御装置搭載領域の前記平行な直線と交差する二つの縁辺のうち一方の縁辺から、前記ソース出力端子部及び前記ゲート出力端子部の前記平行な直線と交差する各端部のうち前記一方の縁辺に最も近い端部よりも離れて配置され、且つ前記二つの縁辺のうち他方の縁辺から、前記各端部のうち前記他方の縁辺に最も近い端部よりも離れて配置されている。
好ましくは、前記検査端子部は前記基板欠け検知用検査出力配線と接続された基板欠け検知用検査端子部を含む。
好ましくは、前記画素電極が赤、緑、青のうちの何れかの色を表示する画素に対応し、赤、緑、青の各色に対応する画素電極がデルタ配列されている。 Preferably, a plurality of the inspection output wirings are disposed,
The inspection switching element includes: a first inspection switching element that turns on / off conduction between the source line and one of the plurality of inspection output wirings;
And a second inspection switching element for turning on / off conduction between the gate line and one of the remaining plurality of inspection output wirings.
Preferably, the inspection switching element includes a first inspection switching element that turns on / off conduction between the source line and a first inspection output wiring that is one of the plurality of inspection output wirings. ,
ON / OFF of conduction between a part of the gate lines and the second inspection output wiring which is one of the plurality of inspection output wirings except the first inspection output wiring. A second inspection switching element;
A third for turning on / off the conduction between the source output wiring and the third inspection output wiring that is one of the plurality of inspection output wirings except the first and second inspection output wirings. Switching element for inspection,
Conduction between another part of the gate line and the fourth inspection output wiring which is one of the plurality of inspection output wirings except the first to third inspection output wirings. And a fourth switching element for inspection.
Preferably, the non-display region of the transparent substrate is provided with a rectangular drive control device mounting region on which a drive control device that outputs a display signal voltage and a scanning signal voltage is mounted,
The drive control device mounting region is connected to the inspection output wiring, and an inspection terminal portion that supplies the input inspection signal voltage to the inspection output wiring;
A plurality of source output terminals connected to the plurality of source output wirings, and a plurality of source output terminals for supplying the input display signal voltages to the source output wirings, respectively;
A plurality of gate output terminals connected to each of the plurality of gate output wirings and arranged to supply the input scanning signal voltage to each of the gate output wirings;
The source output terminal portion and the gate output terminal portion are installed on a straight line parallel to a side facing the display region of the drive control device mounting region,
The inspection terminal section intersects the parallel straight lines of the source output terminal section and the gate output terminal section from one of the two edges intersecting the parallel straight line of the drive control device mounting region. Of the two edges, the second edge is located farther from the edge closest to the other edge than the edge closest to the first edge. Are arranged.
Preferably, the inspection terminal portion includes a substrate chipping detection inspection terminal portion connected to the substrate chipping detection inspection output wiring.
Preferably, the pixel electrode corresponds to a pixel displaying any one of red, green, and blue, and the pixel electrodes corresponding to each color of red, green, and blue are arranged in a delta arrangement.

本発明の請求項７に記載されたアクティブマトリクス型表示パネル用基板の発明は、透明基板上の表示領域内に、互いに平行に延在させて配設された複数のソースラインと、
前記表示領域内に、互いに平行に前記ソースラインに交差するように延在させて配設された複数のゲートラインと、
前記複数のゲートライン及び前記複数のソースラインとの各交差点に一つ配置され、前記複数のゲートライン及び複数のソースラインに接続された駆動用スイッチング素子と、
前記複数のゲートライン及び前記複数のソースラインとの各交差点に一つ配置され、前記薄膜トランジスタを介して前記複数のゲートライン及び前記複数のソースラインに接続された画素電極と、を備えるアクティブマトリクス型表示パネル用基板であって、
前記透明基板上の表示領域を除いた領域である非表示領域に、
検査を行うための検査信号電圧を出力する検査出力配線と、
前記ソースライン又は前記ゲートラインと前記検査出力配線との間の導通をオン・オフする検査用スイッチング素子と、
検査用スイッチング素子のオン・オフを制御する信号電圧を出力する検査制御配線と、
前記複数のソースラインとそれぞれ接続される複数のソース出力配線と、
前記複数のゲートラインとそれぞれ接続される複数のゲート出力配線と、が引き回し配設され、
前記検査出力配線は、
前記複数のソース出力配線及び前記複数のゲート出力配線のうち、どちらか一方について、前記透明基板の基板端面に最も近接して引き回された１本の出力配線と前記基板端面との間に引き回し配設されている１本の基板欠け検知用検査出力配線を含み、
前記検査出力配線のうち、該１本の基板欠け検知用検査出力配線を除く残りの前記検査出力配線は、
前記複数のソース出力配線と前記複数のゲート出力配線のうち、どちらか一方について、前記透明基板の基板端面から最も離れて引き回された１本の出力配線と前記表示領域との間に引き回し配設されていることを特徴とするアクティブマトリクス型表示パネル用基板と、全ての前記画素電極と対向するコモン電極が形成された対向基板と、で液晶を挟持してなる。

An active matrix display panel substrate according to a seventh aspect of the present invention includes a plurality of source lines arranged in a display region on a transparent substrate so as to extend in parallel with each other;
A plurality of gate lines disposed in the display region so as to extend in parallel with each other and intersect the source line;
One switching element disposed at each intersection of the plurality of gate lines and the plurality of source lines, and connected to the plurality of gate lines and the plurality of source lines,
An active matrix type including one pixel electrode disposed at each intersection of the plurality of gate lines and the plurality of source lines and connected to the plurality of gate lines and the plurality of source lines via the thin film transistor A display panel substrate,
In a non-display area that is an area excluding the display area on the transparent substrate,
Inspection output wiring for outputting an inspection signal voltage for performing inspection,
A switching element for inspection that turns on and off conduction between the source line or the gate line and the inspection output wiring;
Inspection control wiring for outputting a signal voltage for controlling on / off of the switching element for inspection;
A plurality of source output lines respectively connected to the plurality of source lines;
And a plurality of gate output wirings connected to the plurality of gate lines, respectively,
The inspection output wiring is
Wherein the plurality of source output lines and the plurality of gate output line, for either, routing between the transparent substrate 1 output wirings which are routed closest to the substrate end face of the substrate end face Including one inspection chip wiring for detecting chipping of a substrate,
Among the inspection output wirings, the remaining inspection output wirings excluding the one substrate chip detection inspection output wiring are:
Among the plurality of source output lines and the plurality of gate output line, for either, routing distribution between the display area one output line and which is routed farthest from the substrate end face of said transparent substrate A liquid crystal is sandwiched between an active matrix display panel substrate, which is provided, and a counter substrate on which a common electrode facing all the pixel electrodes is formed.

好ましくは、前記アクティブマトリクス型表示パネル用基板の前記非表示領域に、前記コモン電極にコモン信号電圧を出力するコモン出力配線が更に引き回し配設されており、前記アクティブマトリクス型表示パネル用基板と前記対向基板間には、前記コモン電極と前記コモン出力配線を導通接続する基板間導通部材が更に設けられている。Preferably, a common output wiring for outputting a common signal voltage to the common electrode is further arranged in the non-display area of the active matrix display panel substrate, and the active matrix display panel substrate and the active matrix display panel substrate Between the opposing substrates, an inter-substrate conducting member for conducting and connecting the common electrode and the common output wiring is further provided.

本発明のアクティブマトリクス型表示パネル用基板とこれを用いた液晶表示パネルによれば、表示検査終了後に検査専用回路を切除する必要がなく、正確な表示検査を少ない工数で実施することができる。 According to the active matrix display panel substrate and the liquid crystal display panel using the same of the present invention, it is not necessary to cut out the inspection-dedicated circuit after the display inspection is completed, and an accurate display inspection can be performed with less man-hours.

本発明の一実施形態としてのアクティブマトリクス型液晶表示パネル用基板を示す平面図である。It is a top view which shows the board | substrate for active matrix type liquid crystal display panels as one Embodiment of this invention. 上記基板における画素と配線の接続構成を部分的に拡大して示す詳細説明図である。It is detailed explanatory drawing which expands partially and shows the connection structure of the pixel and wiring in the said board | substrate. 図１のIII−III線に沿って切断した模式的断面図で、上記基板を用いた液晶表示パネルの一部の断面構造を示している。It is typical sectional drawing cut | disconnected along the III-III line | wire of FIG. 1, The partial cross-section of the liquid crystal display panel using the said board | substrate is shown. 本発明の一実施形態としてのアクティブマトリクス型液晶表示パネル用基板の比較例を示す平面図である。It is a top view which shows the comparative example of the board | substrate for active matrix type liquid crystal display panels as one Embodiment of this invention.

まず、本発明の一実施形態としてのアクティブマトリクス型液晶表示パネル用基板を用いた液晶表示パネルの全体構成について、図１に基づき説明する。 First, an overall configuration of a liquid crystal display panel using an active matrix liquid crystal display panel substrate as an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

本実施形態の液晶表示パネル用基板１は、アクティブマトリクス型液晶表示パネルに用いられる一対の基板のうち画素をオン・オフするスイッチング素子が設けられる片側の基板（以下、駆動側基板という）であり、これに対向配置される他方の基板（以下、対向側基板という）２との間に液晶層３（図３参照）を介在させた状態で挟持することにより、画素ｐが中央部の表示領域Ｄｄ内にマトリクス状に配置されてなるアクティブマトリクス型液晶表示パネルを構成する。これら一対の基板１、２は共に矩形をなす透明のガラス基板からなり、駆動側基板１には一辺を対向側基板２の対応する一辺から適長だけ突出させた突出縁部１０１が形成されている。 The liquid crystal display panel substrate 1 of the present embodiment is a substrate on one side (hereinafter referred to as a drive side substrate) provided with a switching element for turning on / off pixels among a pair of substrates used in an active matrix type liquid crystal display panel. By sandwiching the liquid crystal layer 3 (see FIG. 3) between the substrate 2 and the other substrate 2 (hereinafter referred to as a counter substrate), the pixel p is displayed in the central display area. An active matrix type liquid crystal display panel arranged in a matrix in Dd is configured. Each of the pair of substrates 1 and 2 is made of a transparent glass substrate having a rectangular shape, and the driving side substrate 1 is formed with a protruding edge portion 101 having one side protruding from the corresponding side of the opposite side substrate 2 by an appropriate length. Yes.

本実施形態の液晶表示パネルは、フルカラー表示を行うアクティブマトリクス型液晶表示パネルであり、赤、緑、青の各色画素Ｒ、Ｇ、Ｂが、行方向には２画素置きに一列に、列方向には１．５ｗ（ｗ＝１画素幅）ずつずらしてジグザグに、それぞれ配列されている（以下、デルタ配列という）。従って、駆動側基板１には、図２に示されるように、デルタ配列された各画素ｐに対応する画素エリア毎に、各画素ｐに対する表示信号電圧の印加をオン・オフするスイッチング素子としての駆動用薄膜トランジスタ（以下、駆動用ＴＦＴ（Thin Film Transistor）という）４が、１行毎に画素エリア内の設置サイドを交互に変えてそれぞれ配設されている。 The liquid crystal display panel of the present embodiment is an active matrix type liquid crystal display panel that performs full-color display, and the red, green, and blue color pixels R, G, and B are arranged in a column every two pixels in the row direction, in the column direction. Are arranged in a zigzag manner with a shift of 1.5 w (w = 1 pixel width) (hereinafter referred to as a delta arrangement). Therefore, as shown in FIG. 2, the driving side substrate 1 has a switching element for turning on / off the application of the display signal voltage to each pixel p for each pixel area corresponding to each pixel p arranged in a delta arrangement. A driving thin film transistor (hereinafter referred to as a driving TFT (Thin Film Transistor)) 4 is arranged for each row by alternately changing the installation side in the pixel area.

デルタ配列された隣接する画素ｐ同士の画素エリア間のうちの行方向の画素エリア間には、それぞれ、同一行に並ぶ各画素ｐを走査するための複数のゲートライン５が、互いに平行に直線に延在させて配設されている。列方向の画素エリア間には、それぞれ、同色の各画素ｐに表示信号電圧を供給するためのソースライン６が、互いに平行に複数のゲートライン５に交差する方向に延在させて配設されている。 A plurality of gate lines 5 for scanning the pixels p arranged in the same row are linearly parallel to each other between the pixel areas in the row direction among the pixel areas of adjacent pixels p arranged in a delta arrangement. It is extended and arranged. Between the pixel areas in the column direction, source lines 6 for supplying display signal voltages to the respective pixels p of the same color are arranged so as to extend in parallel to each other and cross the plurality of gate lines 5. ing.

また、本実施形態では上述のゲートライン５及びソースライン６にそれぞれ走査信号電圧と表示信号電圧を供給するために配設されたゲート出力配線７とソース出力配線８が、表示領域Ｄｄを除く非表示領域Ｄｕのうちの表示領域Ｄｄを囲む周辺部にそれぞれ引き回し配設されている。 Further, in the present embodiment, the gate output line 7 and the source output line 8 provided for supplying the scanning signal voltage and the display signal voltage to the gate line 5 and the source line 6 described above, respectively, except for the display area Dd. Each of the display areas Du is routed around the periphery of the display area Dd.

非表示領域Ｄｕのうちの突出縁部１０１には、各画素ｐをオン・オフ駆動する駆動制御装置素子がＣＯＧ（Chip On Glass）方式により直接搭載される。この駆動制御装置の二点鎖線で示した矩形状の駆動制御装置搭載領域９には、走査信号を出力するためのゲート出力端子部１１と一対のソース出力端子部１２ａ、１２ｂが駆動制御装置搭載領域９の前記表示領域Ｄｄと対向する辺と平行な直線上に設置されている。 A drive control device element for driving each pixel p on and off is directly mounted on the protruding edge 101 in the non-display area Du by a COG (Chip On Glass) method. In the drive control device mounting area 9 having a rectangular shape indicated by a two-dot chain line of the drive control device, a gate output terminal portion 11 for outputting a scanning signal and a pair of source output terminal portions 12a and 12b are mounted on the drive control device. The region 9 is installed on a straight line parallel to the side facing the display region Dd.

即ち、各ゲートライン５からゲート出力配線７が前記ゲート出力端子部１１に向けてそれぞれ引き出され、その各先端部に形成された出力端子がゲート出力端子部１１に駆動制御装置搭載領域９の前記表示領域Ｄｄと対向する辺と平行な直線上に沿って多数配列されている。 That is, the gate output wiring 7 is led out from each gate line 5 toward the gate output terminal portion 11, and the output terminal formed at each tip thereof is connected to the gate output terminal portion 11 in the drive control device mounting region 9. Many are arranged along a straight line parallel to the side facing the display area Dd.

また、ソースライン６からは、それぞれ、ソース出力配線８が１本置きに一方の側もしくは他方の側に引き出され、一方の側（図中上側）に引き出されたソース出力配線８ａは表示領域Ｄｄの外周に沿って延在させた後、一方のソース出力端子部１２ａに向けて引き回され、その各先端部が出力端子としてソース出力端子部１２ａに駆動制御装置搭載領域９の前記表示領域Ｄｄと対向する辺と平行な直線上に沿って多数配列されている。同様に他方の側（図中下側）に引き出されたソース出力配線８ｂは表示領域Ｄｄの一方の側に引き出されたソース出力配線８ａが配設された側とは反対側の外周に沿って延在させた後、他方のソース出力端子部１２ｂに向けて引き回され、その各先端部が出力端子としてソース出力端子部１２ｂに駆動制御装置搭載領域９の前記表示領域Ｄｄと対向する辺と平行な直線上に沿って多数配列されている。このように各ソースライン６を表示領域Ｄｄの両サイドに分割して引き出し、各サイドをソース出力配線８ａ、８ｂとして引き回す構成となっている。 Further, every other source output wiring 8 is led out from the source line 6 to one side or the other side, and the source output wiring 8a led out to one side (upper side in the figure) is connected to the display region Dd. After extending along the outer periphery of the display area Dd, the display area Dd of the drive control device mounting area 9 is routed toward one source output terminal section 12a, and each of its tip ends as an output terminal on the source output terminal section 12a. Are arranged along a straight line parallel to the opposite side. Similarly, the source output wiring 8b drawn to the other side (lower side in the figure) is along the outer periphery on the side opposite to the side where the source output wiring 8a drawn to one side of the display area Dd is disposed. After extending, it is routed toward the other source output terminal portion 12b, and each tip portion thereof is connected to the source output terminal portion 12b as an output terminal and the side facing the display region Dd of the drive control device mounting region 9. Many are arranged along a parallel straight line. In this manner, each source line 6 is divided into both sides of the display region Dd and drawn, and each side is drawn as source output wirings 8a and 8b.

さらに、対向側基板２のコモン電極にコモン信号電圧を供給するためのコモン出力配線１４が、表示領域Ｄｄの突出縁部１０１側を除く３方の外周に沿って引き回し配設されている。このコモン出力配線１４は、表示領域Ｄｄの外周の上述したソース出力配線８ａ、８ｂよりも内側（表示領域Ｄｄに近い側）を引き回され、その両端部が前記駆動制御装置搭載領域９に向けてそれぞれ延出されている。これら両端部の各先端にはコモン出力端子パッド１４１、１４１がそれぞれ形成され、前記駆動制御装置搭載領域９内の所定位置に配設されている。 Further, common output wirings 14 for supplying a common signal voltage to the common electrode of the opposite substrate 2 are arranged along the outer periphery of the three sides excluding the protruding edge portion 101 side of the display region Dd. The common output wiring 14 is routed on the inner side (side closer to the display area Dd) of the outer periphery of the display area Dd than the above-described source output wirings 8a and 8b, and both ends thereof are directed toward the drive control device mounting area 9. Respectively. Common output terminal pads 141 and 141 are formed at the tips of these both ends, respectively, and are arranged at predetermined positions in the drive control device mounting area 9.

このように、コモン出力配線１４の両端に出力端子パッド１４１、１４１を設け、両端からコモン信号電圧を印加する構成とすることにより、表示領域Ｄｄの周囲３方にわたる長い距離を引き回されたコモン出力配線１４を介するためにコモン信号の電圧が降下して信号に所謂なまりが発生するのを防止することができる。 As described above, by providing the output terminal pads 141 and 141 at both ends of the common output wiring 14 and applying the common signal voltage from both ends, the common that has been routed over a long distance around three sides around the display region Dd is provided. It is possible to prevent the so-called rounding of the signal from occurring due to the voltage drop of the common signal due to the output wiring 14.

そして、前記ソース出力配線８ａ、８ｂと前記コモン出力配線１４の間に検査用スイッチング素子としての複数のＴＦＴ１５が配置され、前記ソース出力配線８ａ、８ｂの外側に、検査用のゲート信号電圧を供給するための配線１８ａ、１８ｂが引き回し配設されている。 A plurality of TFTs 15 as inspection switching elements are arranged between the source output wirings 8a and 8b and the common output wiring 14, and a gate signal voltage for inspection is supplied to the outside of the source output wirings 8a and 8b. Wiring lines 18a and 18b for routing are provided.

まず、検査用ＴＦＴ１５は、全てのゲートライン５とソースライン６とのそれぞれに対応させて１個ずつ配設されている。そして、これら検査用ＴＦＴ１５をオン・オフ制御する信号電圧を供給する検査用制御配線１６は、前記コモン出力配線１４の直ぐ外側に略併行させて引き回し配設され、各検査用ＴＦＴ１５のゲート電極が前記検査用制御配線１６ａにそれぞれ電気接続されている。 First, one inspection TFT 15 is arranged corresponding to each of all the gate lines 5 and the source lines 6. The inspection control wiring 16 for supplying a signal voltage for controlling on / off of these inspection TFTs 15 is arranged so as to be almost parallel to the outside of the common output wiring 14, and the gate electrodes of the inspection TFTs 15 are arranged. Each is electrically connected to the inspection control wiring 16a.

検査用制御配線１６の外側で前記ソース出力配線８ａ、８ｂの内側には、赤、緑、青の検査用各色ソース配線１７ｒ、１７ｇ、１７ｂが配設されている。ここで、本実施例では検査用赤色ソース配線１７ｒが表示領域Ｄｄのソースライン６が引き出された両サイドのうち一方に１ライン配設されており、検査用青色ソース配線１７ｂは、表示領域Ｄｄのソースライン６が引き出された両サイドのうち他方に１ライン配設されている。検査用緑色ソース配線１７ｇは両サイドにそれぞれ１ラインずつ計２ラインが配設されている。 Red, green, and blue inspection color source lines 17r, 17g, and 17b are disposed outside the inspection control line 16 and inside the source output lines 8a and 8b. Here, in the present embodiment, the inspection red source wiring 17r is arranged on one of both sides from which the source line 6 of the display area Dd is drawn, and the inspection blue source wiring 17b is connected to the display area Dd. One line is arranged on the other side of both sides from which the source line 6 is drawn. The inspection green source wiring 17g has a total of two lines, one line on each side.

これら、検査用各色ソース配線１７ｒ、１７ｇ、１７ｂは、表示領域Ｄｄ内の列方向の画素間に互いに平行に複数のゲートライン５に交差する方向に配設されている各色ソースライン６のそれぞれと、１個の検査用ＴＦＴ１５を介して電気接続されている。この場合、赤色と青色の検査用ソース配線１７ｒ、１７ｂと接続するソースライン６のうち一部は、赤色と青色の検査用ソース配線１７ｒ、１７ｂと、ソース出力配線８ａ或いは８ｂ及び検査用ＴＦＴ１５を介して電気接続され、赤色と青色の検査用ソース配線１７ｒ、１７ｂと接続するソースライン６の残りは、赤色と青色の検査用ソース配線１７ｒ、１７ｂと、ソース出力配線８ａ或いは８ｂを介すことなく、検査用ＴＦＴ１５のみを介して直接電気接続されている。検査用緑色ソース配線１７ｇと接続する全ての緑色画素のソースライン６は、検査用緑色ソース配線１７ｇと、各ソース出力配線８ａ或いは８ｂ及び検査用ＴＦＴ１５を介して電気接続されている。 Each of the inspection color source lines 17r, 17g, 17b is connected to each of the color source lines 6 arranged in the direction intersecting with the plurality of gate lines 5 in parallel between the pixels in the column direction in the display region Dd. Electrical connection is made through one inspection TFT 15. In this case, some of the source lines 6 connected to the red and blue inspection source wirings 17r and 17b include the red and blue inspection source wirings 17r and 17b, the source output wiring 8a or 8b, and the inspection TFT 15. The remainder of the source line 6 that is electrically connected to the red and blue inspection source wirings 17r and 17b is routed through the red and blue inspection source wirings 17r and 17b and the source output wiring 8a or 8b. There is no direct electrical connection through the inspection TFT 15 alone. The source lines 6 of all the green pixels connected to the inspection green source wiring 17g are electrically connected to the inspection green source wiring 17g through the source output wirings 8a or 8b and the inspection TFT 15.

そして、ソース出力配線８ａ、８ｂのそれぞれと基板端面との間に、それぞれ、検査用ゲート配線１８ａ、１８ｂが配設されている。各検査用ゲート配線１８ａ、１８ｂは、それぞれ、一方の各端部が突出縁部１０１とは反対側の基板縁部（以下、反突出側縁部という）にまで引き回され、これら双方の引き回し端部１８１ａ、１８１ｂが反突出側縁部において平行に延在している。これら検査用ゲート配線１８ａ、１８ｂの各引き回し端部１８１ａ、１８１ｂは、それぞれ、１本置きの各ゲートライン５と、各ゲートライン５に対応させて配設されている各検査用ＴＦＴ１５を介し電気接続されている。本例では、奇数番目のゲートライン５ｏが検査用ゲート配線１８ａの引き回し端部１８１ａに、偶数番目のゲートライン５ｅが他方の検査用ゲート配線１８ｂの引き回し端部１８１ｂに、それぞれ、検査用ＴＦＴ１５ｇを介して電気接続されている。 Inspection gate wirings 18a and 18b are disposed between the source output wirings 8a and 8b and the substrate end surface, respectively. Each of the inspection gate wirings 18a and 18b is routed to one end of the substrate opposite to the projecting edge 101 (hereinafter referred to as the non-projecting side edge). Ends 181a and 181b extend in parallel at the non-projecting side edge. The routing end portions 181a and 181b of the inspection gate wirings 18a and 18b are electrically connected to every other gate line 5 and each inspection TFT 15 arranged corresponding to each gate line 5, respectively. It is connected. In this example, the odd-numbered gate lines 5o are connected to the routing end 181a of the inspection gate wiring 18a, and the even-numbered gate lines 5e are connected to the routing end 181b of the other inspection gate wiring 18b, respectively. Is electrically connected.

上述した検査用各色ソース配線１７ｒ、１７ｇ、１７ｂ及び検査用ゲート配線１８ａ、１８ｂの検査信号電圧が供給される側（出力側）の各端部は、それぞれ、前記駆動制御装置搭載領域９に向けて延出され、検査用各色ソース配線１７ｒ、１７ｇ、１７ｂ及び検査用ゲート配線１８ａ、１８ｂの各先端部に形成された出力パッド１７１ｒ、１７１ｇ、１７１ｂ及び１８２ａ、１８２ｂが駆動制御装置搭載領域９内にそれぞれ配設されている。また、検査用制御配線１６は、前述したコモン出力配線１４と同様に、表示領域Ｄｄの周囲３方にわたる長い距離を引き回されている。そのため、両端部が前記駆動制御装置搭載領域９に向けて延出され、両端部に形成された出力端子パッド１６１、１６１が駆動制御装置搭載領域９内に配設され、その両端部に形成された出力端子パッド１６１，１６１の両方から検査用信号を印加する構成とすることで検査用ＴＦＴ制御信号の電圧降下を防ぎ、検査用ＴＦＴ制御信号に所謂なまりが発生するのを防止している。 Each end portion (output side) to which the inspection signal voltage is supplied to each of the inspection color source wirings 17r, 17g, 17b and the inspection gate wirings 18a, 18b described above is directed to the drive control device mounting region 9 respectively. The output pads 171r, 171g, 171b and 182a, 182b formed at the tip ends of the test color source lines 17r, 17g, 17b and the test gate lines 18a, 18b are provided in the drive control device mounting area 9. Respectively. In addition, the inspection control wiring 16 is routed over a long distance over three directions around the display area Dd, like the common output wiring 14 described above. Therefore, both end portions extend toward the drive control device mounting area 9, and output terminal pads 161 and 161 formed at both end portions are disposed in the drive control device mounting area 9, and are formed at both end portions thereof. The configuration in which the inspection signal is applied from both of the output terminal pads 161 and 161 prevents the voltage drop of the inspection TFT control signal and prevents the so-called rounding of the inspection TFT control signal.

図３に示すように、上述の駆動側基板１には画素ｐに対応する画素エリアごとに透明な画素電極１９が配設され、各画素電極１９は画素エリア毎に配置されている前記駆動用ＴＦＴ４と、当該駆動用ＴＦＴ４のドレイン電極（不図示）を介してそれぞれ導通接続されている。各駆動用ＴＦＴ４は、ソース電極（不図示）を介して対応する前記ソースライン６とそれぞれ導通接続されている。なお、図示してはいないが、それら画素電極１９を覆って透明な保護絶縁膜と配向膜とが一様に順次積層されている。 As shown in FIG. 3, a transparent pixel electrode 19 is provided for each pixel area corresponding to the pixel p on the driving side substrate 1 described above, and each pixel electrode 19 is arranged for each pixel area. The TFT 4 is electrically connected to each other via a drain electrode (not shown) of the driving TFT 4. Each driving TFT 4 is electrically connected to the corresponding source line 6 via a source electrode (not shown). Although not shown, a transparent protective insulating film and an alignment film are uniformly and sequentially laminated so as to cover the pixel electrodes 19.

一方、対向側基板２には、画素ｐに対応する画素エリア毎に各色のカラーフィルタ２１が配設され、各画素エリア間にはブラックマトリクス２２が設置されている。これらカラーフィルタ２１とブラックマトリクス２２を覆って平坦化保護膜２３が一様に被着され、この上に透明な一続きのコモン電極２４が設置されている。なお、このコモン電極２４上にも、図示されていないが、透明配向膜が一様に被着されている。 On the other hand, on the opposite substrate 2, a color filter 21 of each color is provided for each pixel area corresponding to the pixel p, and a black matrix 22 is provided between the pixel areas. A flattening protective film 23 is uniformly deposited so as to cover the color filter 21 and the black matrix 22, and a transparent series of common electrodes 24 is provided thereon. Although not shown, the transparent alignment film is uniformly deposited on the common electrode 24 as well.

上記駆動側基板１と対向側基板２とは、それぞれの電極形成面を対向させ、所定の間隙を保ち枠状シール材２５により接合されている。これら一対の基板１、２間の枠状シール材２５により囲まれた空間には液晶３０１が封入されて液晶層３が形成されている。そして、駆動側基板１のコモン出力配線１４と枠状シール材２５の外部に延出されたコモン電極２４の端部とが、銀ペースト等の導電材料からなる基板間導通部材としてのクロス材２６により導通接続されている。 The drive-side substrate 1 and the opposite-side substrate 2 are bonded to each other by a frame-shaped sealing material 25 with their electrode formation surfaces facing each other and maintaining a predetermined gap. Liquid crystal 301 is sealed in a space surrounded by the frame-shaped sealing material 25 between the pair of substrates 1 and 2 to form the liquid crystal layer 3. Then, the cross material 26 as the inter-substrate conductive member in which the common output wiring 14 of the drive side substrate 1 and the end of the common electrode 24 extending to the outside of the frame-shaped sealing material 25 are made of a conductive material such as silver paste. Are connected by conduction.

つぎに、上述のようにして構成された本実施形態の液晶表示パネルに対して実施される点灯表示検査の手順について、以下に説明する。 Next, the procedure of the lighting display inspection performed on the liquid crystal display panel of the present embodiment configured as described above will be described below.

まず、検査用制御配線１６を通じて各検査用ＴＦＴ１５のゲート電極にオン信号電圧を供給し、全ての検査用ＴＦＴ１５をオンする。 First, an ON signal voltage is supplied to the gate electrode of each inspection TFT 15 through the inspection control wiring 16 to turn on all the inspection TFTs 15.

これと同時に、コモン出力配線１４を通じて対向側基板２のコモン電極２４に所定のコモン電圧を印加する。 At the same time, a predetermined common voltage is applied to the common electrode 24 of the opposite substrate 2 through the common output wiring 14.

またこれと同時に、全ての検査用ＴＦＴ１５をオンした状態のまま、一方の検査用ゲート配線１８ａを通じて奇数番目のゲートライン５ｏにゲート検査信号電圧を供給すると共に、赤、青のうちの何れか一方の例えば検査用赤色ソース配線１７ｒを通じて赤色画素を接続したソースライン６に赤色を表示するためのオン信号電圧を供給し、奇数番目の行の赤色画素Ｒをオン（点灯表示）する。この表示から、赤色用ソースライン６の断線と、赤色画素と隣接する画素に接続された青色用ソースライン６又は緑色用ソースライン６と赤色用ソースライン６とのショート、奇数番目のゲートライン５ｏの断線、及び、奇数番目のゲートライン５ｏに隣接する偶数番目のゲートライン５ｅと奇数番目のゲートライン５ｏとのショートの有無を判定する。すなわち、奇数行の赤色画素の何れかが点灯されていなければ断線が、隣接する青色又は緑色の画素及び偶数行の赤色画素が同時点灯されていればショートが、それぞれ発生していると判定される。 At the same time, the gate inspection signal voltage is supplied to the odd-numbered gate line 5o through one inspection gate wiring 18a while all the inspection TFTs 15 are turned on, and one of red and blue is supplied. For example, an on signal voltage for displaying red is supplied to the source line 6 to which the red pixel is connected through the inspection red source wiring 17r, and the red pixels R in the odd-numbered rows are turned on (lighted display). From this display, the disconnection of the red source line 6 and the short circuit between the blue source line 6 or the green source line 6 and the red source line 6 connected to the pixel adjacent to the red pixel, the odd-numbered gate line 5o. And whether there is a short circuit between the even-numbered gate line 5e and the odd-numbered gate line 5o adjacent to the odd-numbered gate line 5o. That is, if any of the odd-numbered red pixels is not lit, it is determined that a disconnection has occurred, and if an adjacent blue or green pixel and an even-numbered red pixel are lit simultaneously, a short circuit has occurred. The

次に、ゲート検査信号電圧を供給する配線を切り替え、全ての検査用ＴＦＴ１５をオンした状態のまま他方の検査用ゲート配線１８ｂを通じて偶数番目のゲートライン５ｅにゲート検査信号電圧を供給し、偶数番目の行の赤色画素Ｒをオン（点灯表示）する。この表示から、赤色用ソースラインの断線と、赤色画素と隣接する画素に接続された青色用ソースライン６又は緑色用ソースライン６と赤色用ソースライン６とのショート、偶数番目のゲートライン５ｅの断線、及び、偶数番目のゲートライン５ｅに隣接する奇数番目のゲートライン５ｏと偶数番目ゲートライン５ｅとのショートの有無を判定する。なお、この場合のショートの有無は、既に実施した奇数番目のゲートライン５ｏに係る赤色画素の点灯表示検査において検出されているから、そのショートの有無を確認することになる。 Next, the wiring for supplying the gate inspection signal voltage is switched, and the gate inspection signal voltage is supplied to the even-numbered gate line 5e through the other inspection gate wiring 18b while all the inspection TFTs 15 are turned on. The red pixel R in the row is turned on (lit display). From this display, the disconnection of the red source line, the blue source line 6 or the green source line 6 connected to the pixel adjacent to the red pixel, and the red source line 6 are short-circuited, and the even-numbered gate line 5e. Whether or not there is a disconnection and a short circuit between the odd-numbered gate line 5o and the even-numbered gate line 5e adjacent to the even-numbered gate line 5e is determined. In this case, since the presence or absence of a short circuit is detected in the lighting display inspection of the red pixel related to the odd-numbered gate line 5o, the presence or absence of the short circuit is confirmed.

上述した一連の点灯表示検査を、青色画素及び緑色画素についても、同様に実施する。これにより、全てのゲートライン５及びソースライン６の断線と隣接ライン間のショートの有無が的確に判定される。これら一連の検査を終えた後は、検査合格品はそのまま製品として仕上げ工程に送られる。すなわち、検査用制御配線１６にオン信号を供給しなければ検査用ＴＦＴ１５を通じて各種検査信号電圧が画素に印加されることも表示信号電圧がリークすることもないから、検査用ＴＦＴ１５や各種検査用配線１６〜１８を切除しなくても表示品質に悪影響が及ぶ虞はなく、従って、それら各種検査用配線１６〜１８を切除する手間が省かれる。 The series of lighting display inspections described above is performed in the same manner for blue pixels and green pixels. As a result, the disconnection of all the gate lines 5 and the source lines 6 and the presence or absence of a short circuit between adjacent lines are accurately determined. After these series of inspections are completed, the products that have passed the inspection are sent as they are to the finishing process. That is, unless an ON signal is supplied to the inspection control wiring 16, various inspection signal voltages are not applied to the pixels through the inspection TFT 15 and the display signal voltage does not leak. There is no possibility that the display quality will be adversely affected even if 16 to 18 are not cut out, and therefore the labor of cutting off these various inspection wirings 16 to 18 is saved.

また、各検査用パッド１７１ｒ、１７１ｂ、１７１ｇ、１８２ａ、１８２ｂを駆動制御装置搭載領域９内に設けたため、突出縁部１０１の駆動制御装置搭載領域９を除いた領域面積を小さくすることが出来る。 In addition, since the test pads 171r, 171b, 171g, 182a, and 182b are provided in the drive control device mounting area 9, the area of the protruding edge portion 101 excluding the drive control device mounting area 9 can be reduced.

また、各検査用パッド１７１ｒ、１７１ｂ、１７１ｇ、１８２ａ、１８２ｂを駆動制御装置搭載領域９内に設けたため、駆動制御装置が搭載されると、各検査用パッド１７１ｒ、１７１ｂ、１７１ｇ、１８２ａ、１８２ｂは駆動制御装置に覆われ完全に外部と遮断されることとなり、液晶表示パネルを駆動させた際に外部から何かの拍子で検査用パッド１７１ｒ、１７１ｂ、１７１ｇ、１８２ａ、１８２ｂに過電流が流れる可能性そのものを低くすることが出来、検査用パッドや検査用配線由来の表示品質への悪影響をさらに防ぐことができる。 In addition, since the inspection pads 171r, 171b, 171g, 182a, 182b are provided in the drive control device mounting area 9, when the drive control device is mounted, the inspection pads 171r, 171b, 171g, 182a, 182b are It is covered with the drive control device and completely cut off from the outside, and when the liquid crystal display panel is driven, an overcurrent can flow to the test pads 171r, 171b, 171g, 182a, 182b with some beat from the outside Therefore, the adverse effect on the display quality derived from the inspection pad and the inspection wiring can be further prevented.

以上のように、本実施形態のアクティブマトリクス型液晶表示パネル用基板では、全てのゲートライン５とソースライン６とのそれぞれが個々に検査用ＴＦＴ１５を介して対応する各種検査用配線１６〜１８と電気接続する構成となっているから、各検査用ＴＦＴ１５のゲート電極へのオン信号電圧の印加を停止するだけで、全てのゲートライン５及びソースライン６と各種検査用配線１６〜１８との電気接続が遮断される。従って、検査終了後は、検査用ＴＦＴ１５及び各種検査用配線１６〜１８を切除する必要が無く、その分検査作業工数が低減され、延いてはこの液晶表示パネル用基板を用いたアクティブマトリクス型液晶表示パネルの製造工数が低減される。 As described above, in the active matrix type liquid crystal display panel substrate of this embodiment, each of the gate lines 5 and the source lines 6 individually corresponds to the various inspection wirings 16 to 18 via the inspection TFT 15. Since it is configured to be electrically connected, the electrical connection between all the gate lines 5 and source lines 6 and the various inspection wirings 16 to 18 can be achieved simply by stopping the application of the ON signal voltage to the gate electrode of each inspection TFT 15. The connection is interrupted. Therefore, it is not necessary to cut off the inspection TFT 15 and the various inspection wirings 16 to 18 after the inspection is completed, thereby reducing the number of inspection work steps, and the active matrix type liquid crystal using this liquid crystal display panel substrate. The number of manufacturing steps for the display panel is reduced.

次に本実施形態の比較例について、図４に基づき説明する。なお、上記実施形態と同一の構成要素については同一の符号を付して、その説明を省略する。 Next, a comparative example of this embodiment will be described with reference to FIG. In addition, the same code | symbol is attached | subjected about the component same as the said embodiment, and the description is abbreviate | omitted.

本比較例の液晶表示パネル４１は、検査用ゲート配線４８ａ，４８ｂがソース出力配線８ａ，８ｂと枠状シール材２５との間に引き回し配設されている点が上述の実施形態と異なっている。従って本比較例では、全ての検査用配線、つまり検査用制御配線１６、赤、緑、青の検査用各色ソース配線１７ｒ、１７ｇ、１７ｂ及び検査用ゲート配線４８ａ、４８ｂがソース出力配線８ａ、８ｂと枠状シール材２５との間に引き回し配設されている。 The liquid crystal display panel 41 of this comparative example is different from the above-described embodiment in that the inspection gate wirings 48a and 48b are routed between the source output wirings 8a and 8b and the frame-shaped sealing material 25. . Therefore, in this comparative example, all the inspection wirings, that is, the inspection control wiring 16, the red, green, and blue inspection color source wirings 17r, 17g, and 17b and the inspection gate wirings 48a and 48b are the source output wirings 8a and 8b. And the frame-shaped sealing material 25.

ここで、配設する検査用配線の配線長を長くすればするほど検査電圧が降下し信号がなまってしまい、アクティブマトリクス型液晶表示パネルの検査を正確に行うことが出来なくなるおそれがある。従って本比較例では枠状シール材２５に沿って表示領域Ｄｄの近くに検査用ゲート配線４８ａ，４８ｂと、検査用各色ソース配線１７ｒ、１７ｇ、１７ｂと、検査用制御配線１６と、を引き回し配設することで各検査用配線の配線長を出来るだけ短くしている。 Here, the longer the wiring length of the inspection wiring to be arranged, the lower the inspection voltage and the more the signal is lost, which may make it impossible to accurately inspect the active matrix liquid crystal display panel. Therefore, in this comparative example, the inspection gate wirings 48a, 48b, the inspection color source wirings 17r, 17g, 17b, and the inspection control wiring 16 are routed around the display region Dd along the frame-shaped sealing material 25. The wiring length of each inspection wiring is made as short as possible.

また、本発明の様な検査では、各ソースライン６及び各ゲートライン５に接続された多数または全ての画素に対して同時に電流を印加して点灯させてパネル検査を行う場合がある。この場合、液晶表示パネルの通常駆動時に各出力配線から各ソースライン６及び各ゲートライン５に印加する電流よりも、検査時には、より大きな電流を各検査用配線から各ソースライン６及び各ゲートライン５に印加する必要がある。ところで配線長を長くするとその配線長に比例して配線抵抗は大きくなるが、配線抵抗値が大きくなると、一定の電流値においてその配線に流れる電圧が高くなり消費電力が増えることは既知の事実である。ここで、例えば配線αと配線β（同じ材料で出来ており、断面積は等しい）とがあり、通常駆動時にソースライン６又はゲートライン５に印加する電流と同じ量の電流を配線αに印加したときの消費電力と、配線長をａメートル長くした配線αにソースライン６又はゲートライン５に印加する電流と同じ量の電流を印加したときの消費電力とを比較し消費電力増加分ΔＷ_αを導出し、検査時に検査配線に印加する電流と同じ量の電流を配線βに印加したときの消費電力と、配線長をａメートル長くした配線βに検査配線に印加する電流と同じ量の電流を印加したときの消費電力とを比較し消費電力増加分ΔＷ_βを導出したとする。このとき、オームの法則により消費電力増加分ΔＷは配線を長くすることによる抵抗値の増加分と印加電流値の二乗との積で表わすことができる。ここでは配線αを長くした分の長さと、配線βを長くした分の長さがそれぞれａメートルなので、抵抗値増加分は等しくなり、消費電力増加分は電流値の２乗に比例するので消費電力増加分ΔＷ_αとΔＷ_βとを比較するとΔＷ_βの方が大きくなる。従って配線に印加される電流が多ければ多いほど該配線の配線長を長くして配線抵抗を増加させたときの消費電力増加分が大きくなる。このことから、電流を多く印加する方の配線は配線長を短くし、抵抗値を下げることで消費電力を出来るだけ抑制することが求められる。比較例のアクティブマトリクス型の液晶表示パネルでは検査時の検査配線長を出来るだけ短くするため、検査用制御配線１６、赤、緑、青の検査用各色ソース配線１７ｒ、１７ｇ、１７ｂ及び検査用ゲート配線４８ａ、４８ｂをソース出力配線８ａ、８ｂをソース出力配線８ａ，８ｂよりも表示領域Ｄｄに近い領域に引き回している。上記のように検査配線を引き回し配設することで検査時の消費電力が抑制されている。 In the inspection as in the present invention, there are cases where a panel inspection is performed by applying a current to a large number or all of the pixels connected to each source line 6 and each gate line 5 and lighting them. In this case, at the time of inspection, a larger current is applied from each inspection wiring to each source line 6 and each gate line than the current applied to each source line 6 and each gate line 5 from each output wiring during normal driving of the liquid crystal display panel. 5 must be applied. By the way, when the wiring length is increased, the wiring resistance increases in proportion to the wiring length. However, when the wiring resistance value increases, it is a known fact that the voltage flowing through the wiring increases at a constant current value and the power consumption increases. is there. Here, for example, there are a wiring α and a wiring β (made of the same material and having the same cross-sectional area), and the same amount of current as that applied to the source line 6 or the gate line 5 during normal driving is applied to the wiring α. and power consumption when the wire length a meter long and the increase in power consumption ΔW compares the power consumption when the same and the amount of current is applied to the wiring current applied to the source lines 6 or the gate line 5 in α was _α And the power consumption when the same amount of current as the current applied to the inspection wiring at the time of inspection is applied to the wiring β, and the same amount of current as the current applied to the inspection wiring to the wiring β whose wiring length is increased by a meter It is assumed that the power consumption increase ΔW _β is derived by comparing the power consumption when the power is applied. At this time, according to Ohm's law, the increase in power consumption ΔW can be expressed by the product of the increase in resistance due to the length of the wiring and the square of the applied current value. In this case, the length of the wiring α and the length of the wiring β are a meter, so the increase in resistance value is equal, and the increase in power consumption is proportional to the square of the current value. When the power increase ΔW _α and ΔW _β are compared, ΔW _β is larger. Therefore, the more current applied to the wiring, the greater the power consumption increase when the wiring resistance is increased by increasing the wiring length of the wiring. For this reason, it is required to reduce power consumption as much as possible by shortening the wiring length and lowering the resistance value of the wiring to which more current is applied. In the active matrix type liquid crystal display panel of the comparative example, in order to make the inspection wiring length at the time of inspection as short as possible, the inspection control wiring 16, the red, green and blue inspection color source wirings 17r, 17g, 17b and the inspection gate The wirings 48a and 48b are routed to an area closer to the display area Dd than the source output wirings 8a and 8b. As described above, the power consumption at the time of inspection is suppressed by routing the inspection wiring.

上記のように各検査用配線を引き回したために、各検査用配線はゲート出力配線７とソース出力配線８ａ，８ｂとの間に引き回されることとなり、各検査用配線と接続される各出力パッドは、出力パッド１７１ｇ、１７１ｒ、１８２ａが駆動制御装置搭載領域９内のゲート出力端子部１１とソース出力端子部１２ａとの間の領域に配置されるように、また出力パッド１７１ｇ、１７１ｂ、１８２ｂが、駆動制御装置搭載領域９内のゲート出力端子部１１とソース出力端子部１２ｂとの間の領域に配置されるように形成される。 Since each inspection wiring is routed as described above, each inspection wiring is routed between the gate output wiring 7 and the source output wirings 8a and 8b, and each output connected to each inspection wiring. The pads are arranged such that the output pads 171g, 171r, 182a are disposed in the region between the gate output terminal portion 11 and the source output terminal portion 12a in the drive control device mounting region 9, and the output pads 171g, 171b, 182b. Is formed in a region between the gate output terminal portion 11 and the source output terminal portion 12b in the drive control device mounting region 9.

また、各検査用配線がゲート出力配線７とソース出力配線８ａ，８ｂとの間に引まわされている状態で、検査用配線ゲート出力端子部１１と前記ソース出力端子部１２ａ，１２ｂを、前記駆動制御装置搭載領域の前記表示領域と対向する辺と平行な直線上に設置し、出力パッド１７１ｇ、１７１ｒ、１８２ａ、１８２ｂを、前記駆動制御装置搭載領域の前記平行な直線と交差する二つの縁辺のうち一方の縁辺から、前記ソース出力端子部１２ａ，１２ｂ及び前記ゲート出力端子部１１の前記平行な直線と交差する各端部のうち前記一方の縁辺に最も近い端部よりも離れて配置し、且つ前記二つの縁辺のうち他方の縁辺から、前記各端部のうち前記他方の縁辺に最も近い端部よりも離れて配置したため、各検査用配線の配線長を出来るだけ短くすることが出来る。 Further, in a state where each inspection wiring is drawn between the gate output wiring 7 and the source output wirings 8a and 8b, the inspection wiring gate output terminal portion 11 and the source output terminal portions 12a and 12b are connected to each other. Two edges that are installed on a straight line parallel to the side facing the display area of the drive control device mounting area and intersect the output pads 171g, 171r, 182a, and 182b with the parallel straight line of the drive control device mounting area Of the source output terminal portions 12a and 12b and the gate output terminal portion 11 are arranged away from the edge closest to the one of the edges that intersect the parallel straight line. In addition, the wiring length of each inspection wiring is made as short as possible because it is arranged away from the other edge of the two edges than the end closest to the other edge of the ends. Rukoto can be.

このような比較例のアクティブマトリクス表示装置においては全ての検査用配線、つまり検査用制御配線１６、赤、緑、青の検査用各色ソース配線１７ｒ、１７ｇ、１７ｂ及び検査用ゲート配線４８ａ、４８ｂをソース出力配線８ａ、８ｂと枠状シール材２５との間に引き回し配設したため、製造工程において何らかの理由で基板端面が欠け、ソース出力配線８ａ、８ｂの少なくとも何れか一方に断線が生じたとしても、その内側に配設された検査用ゲート配線４８ａ、４８ｂには断線が生じないことがある。この場合、検査工程でソース出力配線８ａ、８ｂが断線しているのにも係わらず、検査用ゲート配線４８ａ，４８ｂには断線が生じていないことから不良品を良品として検出してしまう可能性が高くなってしまう。 In the active matrix display device of this comparative example, all the inspection wirings, that is, the inspection control wiring 16, the red, green, and blue inspection color source wirings 17r, 17g, and 17b and the inspection gate wirings 48a and 48b are provided. Even if the substrate end face is chipped for some reason in the manufacturing process and at least one of the source output wirings 8a and 8b is broken because the wiring is arranged between the source output wirings 8a and 8b and the frame-shaped sealing material 25. In some cases, disconnection does not occur in the inspection gate wirings 48a and 48b disposed on the inner side. In this case, although the source output wirings 8a and 8b are disconnected in the inspection process, the inspection gate wirings 48a and 48b are not disconnected, so that a defective product may be detected as a non-defective product. Becomes higher.

一方、図１に示す本実施形態のアクティブマトリクス型液晶表示パネル用基板では、ソース出力配線８ａ、８ｂそれぞれと基板端面との間に検査用ゲート配線１８ａ、１８ｂを配設した。この場合、製造工程において何らかの理由で基板端面が欠け、ソース出力配線８ａ、８ｂの少なくとも何れか一方に断線が生じると、その外側に配設された検査用ゲート配線１８ａ、１８ｂのうち、ソース出力配線８ａ、８ｂにおいて断線が生じた箇所に近い部分も断線する可能性が高い。このため、点灯表示検査の際ソース出力配線８ａ、８ｂそれぞれが基板欠けにより断線しているかどうかを比較例の場合と比べて精度良く検出することができる。これと同時に、検査用ゲート配線１８ａ、１８ｂ以外の各検査用配線、即ち、検査用制御配線１６、及び赤、緑、青の検査用各色ソース配線１７ｒ、１７ｇ、１７ｂをソース出力配線８ａ，８ｂよりも表示領域Ｄｄに近い領域に引き回しているので、上述の検査時の消費電力を抑制することができる。 On the other hand, in the active matrix type liquid crystal display panel substrate of the present embodiment shown in FIG. 1, the inspection gate wirings 18a and 18b are disposed between the source output wirings 8a and 8b and the substrate end surface. In this case, if the substrate end face is chipped for some reason in the manufacturing process and disconnection occurs in at least one of the source output wirings 8a and 8b, the source output among the inspection gate wirings 18a and 18b disposed outside the source output wirings 8a and 8b. In the wirings 8a and 8b, there is a high possibility that a portion near the portion where the disconnection has occurred is also disconnected. For this reason, it is possible to accurately detect whether or not the source output wirings 8a and 8b are disconnected due to chipping in the lighting display inspection as compared with the comparative example. At the same time, each inspection wiring other than the inspection gate wirings 18a and 18b, that is, the inspection control wiring 16, and the red, green, and blue inspection color source wirings 17r, 17g, and 17b are connected to the source output wirings 8a and 8b. Since the area is closer to the display area Dd than the display area Dd, the power consumption during the above-described inspection can be suppressed.

また、本実施形態では検査用緑色ソース配線１７ｇは表示領域Ｄｄのソースライン６が引き出された両サイドにそれぞれ１ラインずつ計２ライン配設されているが、一方のサイドにだけ配設してもよい。また検査用赤色ソース配線１７ｒまたは検査用青色ソース配線１７ｂを両サイドにそれぞれ１ラインずつ配設してもよい。 Further, in this embodiment, the inspection green source wiring 17g is provided on each side of the display area Dd from which the source line 6 is drawn, with two lines in total, but only on one side. Also good. Further, the inspection red source wiring 17r or the inspection blue source wiring 17b may be arranged on each side by one line.

なお、本発明は、上記２例の実施形態に限定されるものではなく、種々の変形が可能である。例えば、本発明は、デルタ配列のカラー液晶表示パネルに限らず、ストライプ配列のカラー液晶表示パネルやモノクロ表示の液晶表示パネル、或いは、例えば有機ＥＬディスプレイパネル等のような液晶表示パネル以外の表示パネル等、種々のアクティブマトリクス型表示パネルに広く適用可能であることは勿論である。 The present invention is not limited to the above-described two embodiments, and various modifications can be made. For example, the present invention is not limited to a delta color liquid crystal display panel, but a stripe color liquid crystal display panel, a monochrome display liquid crystal display panel, or a display panel other than a liquid crystal display panel such as an organic EL display panel. Of course, the present invention can be widely applied to various active matrix display panels.

１液晶表示パネル用基板（駆動側基板、透明基板）
２対向側基板（透明基板）
３液晶層
４駆動用薄膜トランジスタ（駆動用ＴＦＴ、駆動用スイッチング素子）
５ｏ奇数番目ゲートライン
５ｅ偶数番目ゲートライン
６ソースライン
７ゲート出力配線
８ａ、８ｂソース出力配線
９駆動制御装置搭載領域
１１ゲート出力端子部
１２ａ、１２ｂソース出力端子部
１４コモン出力配線
１５検査用ＴＦＴ（検査用スイッチング素子）
１６検査用制御配線
１７ｒ、１７ｇ、１７ｂ検査用ソース配線（赤色、緑色、青色）（検査出力配線）
１８ａ、１８ｂ、
４８ａ，４８ｂ検査用ゲート配線（検査制御配線、基板欠け検知用検査出力配線）
１９画素電極
２１カラーフィルタ
２２ブラックマトリクス
２３平坦化保護膜
２４コモン電極
２５枠状シール材
２６クロス材（基板間導通部材） 1 Liquid crystal display panel substrate (drive-side substrate, transparent substrate)
2 Opposite side substrate (transparent substrate)
3 Liquid crystal layer 4 Thin film transistor for driving (driving TFT, switching element for driving)
5o Odd-numbered gate line 5e Even-numbered gate line 6 Source line 7 Gate output wiring 8a, 8b Source output wiring 9 Drive control device mounting region 11 Gate output terminal portion 12a, 12b Source output terminal portion 14 Common output wiring 15 Inspection TFT ( Switching element for inspection)
16 Inspection control wiring 17r, 17g, 17b Inspection source wiring (red, green, blue) (inspection output wiring)
18a, 18b,
48a, 48b Inspection gate wiring (inspection control wiring, inspection output wiring for substrate chipping detection)
19 Pixel electrode 21 Color filter 22 Black matrix 23 Flattening protective film 24 Common electrode 25 Frame-shaped sealing material 26 Cross material (inter-substrate conducting member)

Claims

In the display area on the transparent substrate, a plurality of source lines arranged to extend in parallel with each other;
A plurality of gate lines disposed in the display region so as to extend in parallel with each other and intersect the source line;
One switching element disposed at each intersection of the plurality of gate lines and the plurality of source lines, and connected to the plurality of gate lines and the plurality of source lines,
An active matrix type including one pixel electrode disposed at each intersection of the plurality of gate lines and the plurality of source lines and connected to the plurality of gate lines and the plurality of source lines via the thin film transistor A display panel substrate,
In a non-display area that is an area excluding the display area on the transparent substrate,
Inspection output wiring for outputting an inspection signal voltage for performing inspection,
A switching element for inspection that turns on and off conduction between the source line or the gate line and the inspection output wiring;
Inspection control wiring for outputting a signal voltage for controlling on / off of the switching element for inspection;
A plurality of source output lines respectively connected to the plurality of source lines;
And a plurality of gate output wirings connected to the plurality of gate lines, respectively,
The inspection output wiring is
Wherein the plurality of source output lines and the plurality of gate output line, for either, routing between the transparent substrate 1 output wirings which are routed closest to the substrate end face of the substrate end face Including one inspection chip wiring for detecting chipping of a substrate,
Among the inspection output wirings, the remaining inspection output wirings excluding the one substrate chip detection inspection output wiring are:
Among the plurality of source output lines and the plurality of gate output line, for either, routing distribution between the display area one output line and which is routed farthest from the substrate end face of said transparent substrate An active matrix display panel substrate, characterized in that it is provided.

A plurality of the inspection output wirings are disposed,
The inspection switching element includes: a first inspection switching element that turns on / off conduction between the source line and one of the plurality of inspection output wirings;
2. The active switching device according to claim 1, further comprising: a second inspection switching element that turns on / off conduction between the gate line and one of the remaining plurality of inspection output wirings. Matrix type display panel substrate.

The inspection switching element includes: a first inspection switching element that turns on / off conduction between the source line and a first inspection output wiring that is one of the plurality of inspection output wirings;
ON / OFF of conduction between a part of the gate lines and the second inspection output wiring which is one of the plurality of inspection output wirings except the first inspection output wiring. A second inspection switching element;
A third for turning on / off the conduction between the source output wiring and the third inspection output wiring that is one of the plurality of inspection output wirings except the first and second inspection output wirings. Switching element for inspection,
Conduction between another part of the gate line and the fourth inspection output wiring which is one of the plurality of inspection output wirings except the first to third inspection output wirings. The active matrix display panel substrate according to claim 2, further comprising: a fourth inspection switching element that turns on and off.

The non-display region of the transparent substrate is provided with a rectangular drive control device mounting region on which a drive control device that outputs a display signal voltage and a scanning signal voltage is mounted,
The drive control device mounting region is connected to the inspection output wiring, and an inspection terminal portion that supplies the input inspection signal voltage to the inspection output wiring;
A plurality of source output terminals connected to the plurality of source output wirings, and a plurality of source output terminals for supplying the input display signal voltages to the source output wirings, respectively;
A plurality of gate output terminals connected to each of the plurality of gate output wirings and arranged to supply the input scanning signal voltage to each of the gate output wirings;
The source output terminal portion and the gate output terminal portion are installed on a straight line parallel to a side facing the display region of the drive control device mounting region,
The inspection terminal section intersects the parallel straight lines of the source output terminal section and the gate output terminal section from one of the two edges intersecting the parallel straight line of the drive control device mounting region. Of the two edges, the second edge is located farther from the edge closest to the other edge than the edge closest to the first edge. 4. The active matrix display panel substrate according to claim 3, wherein the substrate is an active matrix display panel.

5. The substrate for an active matrix type display panel according to claim 4, wherein the inspection terminal portion includes an inspection terminal portion for substrate chipping detection connected to the inspection output wiring for substrate chipping detection.

2. The pixel electrode corresponding to a pixel displaying any one of red, green, and blue, and the pixel electrodes corresponding to each color of red, green, and blue are arranged in a delta arrangement. The active matrix display panel substrate according to any one of claims 5 to 5.

A liquid crystal is sandwiched between the active matrix display panel substrate according to any one of claims 1 to 6 and a counter substrate on which a common electrode facing all the pixel electrodes is formed. LCD panel.

In the non-display region of the active matrix display panel substrate, a common output wiring for outputting a common signal voltage to the common electrode is further routed and arranged between the active matrix display panel substrate and the counter substrate. The liquid crystal display panel according to claim 7, further comprising an inter-substrate conducting member that conducts and connects the common electrode and the common output wiring.