JP5540838B2 - 反射光除去装置 - Google Patents
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Description
最初に、本発明の反射光除去装置に係る測定装置の構成を説明する。図1は、本発明の反射光除去装置に係る測定装置の一実施形態の構成を示す斜視図である。
次に、本発明の第1実施形態による反射光除去装置10の構成を説明する。図2は、本発明の第1実施形態による反射光除去装置の外観を示す斜視図である。図3は、前記第1実施形態による反射光除去装置の正面図である。図4は、前記第1実施形態による反射光除去装置を左側面から観た斜視図である。図5は、前記第1実施形態による反射光除去装置の横断面図である。
図2から図5を参照すると、反射光除去装置10には、出射光SLが第1開口1aに入射する。そして、第2開口1bを通過した出射光SLは、光反射体2で二方向に分断されるように反射されて、第2開口1bから通路1cには全く又は殆ど進入しない。
次に、本発明の第1実施形態の変形例による反射光除去装置20の構成を説明する。図6は、前記第1実施形態の変形例による反射光除去装置の横断面図である。
図6を参照すると、反射光除去装置20は、出射光SLが第1開口1aに入射する。そして、第2開口1bを通過した出射光SLは、光反射体2で二方向に分断されるように反射して、第2開口1bから通路1cには全く又は殆ど進入しない。
次に、本発明の第2実施形態による反射光除去装置30の構成を説明する。図7は、本発明の第2実施形態による反射光除去装置の外観を示す斜視図である。図8は、前記第2実施形態による反射光除去装置の正面図である。図9は、前記第2実施形態による反射光除去装置の横断面図である。
図7から図9を参照すると、反射光除去装置30は、出射光SLが第1開口1aに入射する。そして、第2開口1bを通過した出射光SLは、光吸収体5aで吸収されて、第2開口1bから通路1cには全く又は殆ど進入しない。
1a 第1開口
1b 第2開口
1c 通路
2 光反射体
3、4 第1光封鎖部(光封鎖部)
9 測定装置
10 反射光除去装置
Pc 浮遊微粒子
SL 出射光(シート状の光)
Claims (5)
- シート状の出射光を浮遊微粒子に照射して、これらの浮遊微粒子の散乱光を測定する測定装置に用いられる反射光除去装置であって、
前記出射光が入射する帯状の第1開口、この第1開口に対向する第2開口、及び前記第1開口から前記第2開口へと前記出射光が通過する通路を有する光導入部と、
前記光導入部の前記第2開口の奥に配置して、前記第2開口を通過した前記出射光が当該第2開口に進入しないように、当該出射光を所定の方向に反射する光反射体と、
この光反射体を内部に配置して、当該光反射体の反射光を包囲する内壁を有する光封鎖部と、
前記光封鎖部の内壁に設ける光吸収手段と、を備え、
前記光反射体は、その頂点が前記第2開口に対向し、前記第2開口を通過した前記出射光が二方向に分断されて反射されるように構成されていることを特徴とする反射光除去装置。 - 前記光反射体は、前記帯状の第1開口の長さ以上に延びていることを特徴とする請求項1に記載の反射光除去装置。
- 前記光導入部は、前記第1開口を設ける端部が前記光封鎖部の外部に突出していることを特徴とする請求項1又は2に記載の反射光除去装置。
- 前記光導入部は、前記第2開口を設ける端部が前記光封鎖部の内部に突出していることを特徴とする請求項1又は2に記載の反射光除去装置。
- 前記測定装置は、
シート状の光を出射する光源と、
この光源の出射光を浮遊微粒子に照射して、これらの浮遊微粒子の散乱光を撮像する撮像カメラと、
この撮像カメラの撮像データが送信されて、前記浮遊微粒子の散乱光を斑点状の画像データに変換する画像処理装置と、
この画像処理装置の前記画像データが送信されて、当該画像データから所定の粒径の前記浮遊微粒子の数を測定する本体と、を備えることを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の反射光除去装置。
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