JP5521510B2 - 光偏向素子 - Google Patents
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Description
また、特許文献1〜4に開示の技術では、出射面を円弧とすると共に、薄い側面から光を非垂直に入射させる必要があり、光偏向素子の用途が限定されるという問題がある。また、面積の小さい側面から光を出射させることとなるので、開口面積が小さく、指向性を急峻にすることができないという課題がある。
また、非特許文献に開示の技術では、光の出射角は、出射面のテーパ角と、フォトニック結晶の屈折率とによって決定される。しかし、テーパ角はフォトニック結晶の光の進行方向の厚さに関係するため、大きくすることはできない。このため、入射光の周波数に対する出射角の可変範囲を大きくすることができない。また、出射角の可変範囲の中心角度は、出射面のテーパ角と中心周波数におけるフォトニック結晶の屈折率とにより固定され、入射光と平行な出射角を中心角度として偏向角を変化させることは困難である。
本発明は、上記の課題を解決するために成されたものであり、その目的は、光の出射面を入射面と平行にして、且つ、出射角の可変範囲を拡大することである。
この様に構成すると、光の入射方向を入射面の法線に平行とした場合には、光の出射角を、出射面の法線に対して、第1周波数では、正の側、第2周波数では負の側に、変化させることができる。光の入射方向を入射面の法線に対して傾斜した方向とした場合には、光の出射角は、出射面に対して光の入射方向を基準に、正、負の出射角の範囲に変化させることができる。
この様に構成すると、光の入射方向を入射面の法線に平行とした場合には、光の出射角を、中間周波数の光に対しては、出射面の法線方向とし、高帯域の周波数に対しては、この法線に対して正の側、低帯域の周波数に対しては、この法線に対して負の側に、変化させることができる。光の入射方向を入射面の法線に対して傾斜した方向とした場合には、光の出射角を、中間周波数の光に対しては、光の入射方向と同一方向とし、高帯域の周波数の光に対しては、出射面に対して、入射方向に対して正の側に、低帯域の周波数の光に対しては、出射面に対して、光の入射方向に対して、負の側に、変化させることができる。
また、屈折率の変化率がメタマテリアルに印加する電場、磁場、光を含む電磁波により変化するように、屈折率の分散特性のx軸方向の分布を決定するようにしても良い。このように構成することで、印加する電場、磁場、光を含む電磁波の大きさ、方向、偏波方向などにより、出射する電磁波の偏向角を変化させることができる。
また、孔や導体の島の断面形状は、円、楕円、正方形、四角形、多角形など任意である。また、孔やスリットは、金属層に形成されていれば良く、絶縁層には、必ずしも形成される必要はない。しかし、孔又はスリットは、全ての金属層及び全ての絶縁層を、z軸方向に貫通するように形成しても良い。この場合には、光偏向素子の製造も容易となる。また、金属層には、孔又はスリットの配列に対する補対構造、すなわち、孔又はスリットの部分が、金属導体とした島状となり、他の部分が誘電体とした構成であっても良い。また、孔とスリットは結合したものであっても良い。
これらの構造は、非特許文献1、2に開示されているように、絶縁層と金属層とを積層させた構造に、厚さ方向に柱状の孔を、面上において2次元周期構造に設けたものに近似している。この構造との差異は、本件発明は、x軸方向に沿って、孔やスリット、島の断面積が、所定の分布をしていることである。たとえば、孔や導体の島を形成する場合には、x軸方向にそって、その孔や島の断面積が、漸増する構成とする。逆に、スリットや導体のスリット形状の島で構成する場合には、x軸方向に、その断面積が、漸減する構成とする。要は、この構成を用いた場合には、第1周波数における屈折率が、x軸方向に、一定の変化率で、漸増するように、孔、スリット、導体の島の断面のx軸方向の分布を決定すれば良い。他に、この構成を用いた場合には、第1周波数における屈折率が、x軸方向に、一定の変化率で漸増するように、孔、スリット、導体の島の断面のx軸方向の分布を決定し、第2周波数における屈折率が、x軸方向に、一定の変化率で漸減するように、孔、スリット、導体の島の断面のx軸方向の分布を決定すれば良い。
また、屈折率の分散特性を、x座標に関して、変形、移動させる方法としては、絶縁層を、誘電率、透磁率、又は厚さが、電場、磁場、光を含む電磁波により変化する物質とし、絶縁層に、電場、磁場、電磁波を印加する状態変化手段を有し、状態変化手段により、絶縁層の誘電率、透磁率又は厚さを変化させることで、屈折率の分散特性を変動させるようにしても良い。また、金属層間に、電場、磁場などにより引力を発生させて、金属層間の距離を変化させるようにしても良い。
この結果、入射する電磁波の平面波のx軸方向の波数分布が、一定の変化率で変化することにより、この変化率に応じた偏向角で、電磁波は、この光偏向素子から出射されることになる。
絶縁層と金属層を積層した構造における厚さが、x座標に係わらず一定であっても、すなわち、光の入射面と出射面とが平行な平面であっても、出射する電磁波を入射する電磁波光の向きと異なる向きに偏向させることができる。また、本構成のメタマテリアルの屈折率は、分散特性を有している。すなわち、波数、屈折率、位相速度は、原点を通らない非線形の周波数の関数となる。その結果、それらの値のx軸方向の変化率を、周波数の関数として、変化させることができる。この結果、入射する電磁波の周波数を変化させることで、出射する電磁波の偏向角を変化させることができる。
また、メタマテリアルに電場、磁場、光を含む電磁波を印加することで、屈折率の分散特性を変化させて、屈折率のx軸方向の変化率を、変化させることができる。このようにて、外部から物理量を印加することで、出射する電磁波の偏向角を変化させることができる。
また、他の発明では、入射電磁波の周波数が変化しなくとも、外部から印加する電場、磁場、光を含む電磁波の大きさ、向き、偏波方向などにより、絶縁層、金属層、孔やスリットに充填された物質の誘電率や透磁率を変化させることで、波数のx軸方向に関する分布における変化率を、これらの物理量により変化させることができ、出射電磁波の偏向角を変化させることができる。
以下、本発明の原理について説明する。
本実施例の偏向素子100は、図1.Aの断面図に示すように、誘電体層10と金属層20との積層構造をしている。偏向素子100の一方の面が光を入射させる長方形状の入射面30、他方の面が光を出射させる長方形状の出射面31となっている。入射面30と出射面31は平行である。図1.A、1.Bに示すように、入射面30上において、入射面の長方形の一つの角に原点oをとり、長辺方向にx軸、それに垂直な短辺方向にy軸、両軸に垂直で偏向素子100の厚さ方向にz軸をとる。その偏向素子100には、図1.Bの平面図に示すように、2次元格子状に、z軸に垂直な断面が円形で、z軸方向に軸を有する円筒形状の孔40が、多数、形成されている。その孔40の半径rは、x軸方向にはx座標の変位に応じて、漸増している。すなわち、r(x)は、単調増加関数である。隣接する孔40の中心間のx軸方向の距離dx (x軸方向の配列周期)は、座標x、座標yの値に係わらず、一定である。
孔40が開けられた上記の積層構造において入射面30に垂直なz軸方向に伝搬する電磁波の波数kの分散特性k(ω)は、模式的に表現すると、図2のようになる。kが正の領域(第1象限)は右手系の分散特性、kが負の領域(第2象限)は左手系の分散特性を示している。各分散特性のパラメータは、孔40の半径rのy軸方向の配列周期dy に対する比率R=r/dy である。この比率Rが大きい程、すなわち、配列周期dy に占める孔40の断面積が大きくなる程、同一のk、又は、同一のωの値で比較すると、波数kの周波数ωに対する変化率dk/dωは、小さくなっている。
まずは、光偏向素子100を右手系で構成し、y軸方向の配列周期dy をx軸方向に沿って、一定とした場合について説明する。
孔40の半径rを変化させると、波数の分散特性は、図4のように、変化する。これらの特性は、FDTD法によりマックスウェルの方程式を解析することにより、詳細に求めることができる。解析から言えることは、孔40の半径rを大きくする程、同一周波数では、波数の周波数に対する変化率dk/dωは、小さくなる。y軸方向の配列周期dy は、x座標に係わらず一定であるので、この光偏向素子100のパスバンドの下端周波数ωL (k=0での値)は、x座標に係わらず一定である。そして、入射電磁波の任意の周波数ωにおける波数k(ω)は、孔40の半径rが小さくなるほど、大きくなる。したがって、孔40の半径rと、周波数ωを与えれば、波数k(ω,r)は、一意的に決定される。
ただし、a(ω)は、各周波数ωについて、図5における波数kのxに関する分布特性のxに対する変化率である。
すなわち、図5の波数kのxに関する特性の変化率の周波数特性a( ω)は、図4における波数kの周波数特性から、オフセットq( ω−ωL )を減算した周波数特性の変化量の基本となっている基本関数p(ω−ωL )で決定される。半径rをxに対して、増加するように設定した場合には、p(ω−ωL )は負値で、半径rのxに対する変化率が大きい程、pの絶対値は大きくなる。
孔40の半径rが小さい程、y軸方向の配列周期dy を小さくした場合の光偏向素子110のの平面図を図8に示す。すなわち、x座標が大きくなるに連れて、y軸方向の配列周期dy (x)を大きくすると共に、半径rの配列周期dy に対する比率R(x)=r(x)/dy (x)を、大きくしている。すなわち、配列周期dy の増加率dy /dxよりも、半径rの増加率dr/dxを大きくする。
光偏向素子を左手系で構成した場合には、波数k(ω)の分散特性は、図2の波数kが負の領域で示される特性となり、図11で示す特性となる。実際には、1積層については、図7のような特性となる。また、この場合には、右手系の(b)の場合と同様に、同一周波数ωでは、孔40の半径rが大きくなるほど、波数kの絶対値は小さくなる。したがって、波数kのx軸方向の分布は、図12のようになり、周波数ωが小さい程、その変化率dk/dxは、符号が正で、絶対値が大きくなる。したがって、右手系の(b)の場合で述べたことと同様な結果が得られる。ただし、(3)式の波数k(ω,x)を表す関数、p( ω−ωL )、q( ω−ωL )は、それぞれ、p( ω−ωH )、q( ω−ωH )となり、(4)〜(8)式、及び、偏向角を表す(11)式中のωL は、ωH である。x1 及びx3 の位置における伝搬時間を表す(9)、(10)式も、そのまま成立する。しかし、左手系では、波数kが負であり、位相速度vも負値となる。この結果、t1 、t3 も負値となり、偏向角α(ω)を表す(11)式も、そのまま、成立して、次式となる。
孔40の半径rが大きい程、y軸方向の配列周期dy を小さくした場合の光偏向素子120の平面図を図13に示す。この場合にも、孔40の比率R(x)=r(x)/dy (x)を、xの増加に伴い増大することを保持する条件で、配列周期dy (x)をx軸方向に小さくする。y軸方向の配列周期dy (x)を小さくすると、パスバンドの上端周波数ωH が大きくなる。したがって、図11に対応する波数kの分散特性は、配列周期dy を小さくするに連れて、周波数ωが高い方に平行移動する。そして、xの関数である配列周期dy (x)を適正に設定することで、図13に示すように、x軸方向の全位置における波数kの分散特性を、周波数ωM で一致するように、dy (x)を設計することができる。
また、左手系の方が右手系よりも、波数kの周波数ωに対する変化率dk/dωを大きくすることができるために、左手系で構成する方が、偏向角α(ω)の周波数ωに対する変化率dα(ω)/dωを大きくすることができる。
上記の(b)の右手系の素子と、(d)の左手系の素子とを、x軸方向に2分した左領域と右領域とに用いても良い。この場合には、波数kが零となる周波数ωL より高い周波数では、左手系の素子は、入射電磁波をカットオフし、右手系の素子だけが機能して、(b)の右手系の素子の場合と同一となる。したがって、偏向角α(ω)を正とし、周波数を増大させるに連れて、偏向角α(ω)を大きくすることができる。また、周波数ωL より低い周波数では、右手系の素子は、入射電磁波をカットオフし、左手系の素子だけが機能して、(d)の左手系の素子の場合と同一となり、偏向角α(ω)を負とすることができる。もちろん、(c)、(e)場合のように、配列周期dy (x)をxに関して、変化させた場合においても、x軸方向について、2分された1/2の領域を左手系、他の半分の領域が左手系と右手系との混在、逆に、2分された1/2が右手系、他の半分が右手系と左手系との混在する素子としても良い。この場合には、波数kの分散特性は、波数の正の領域と負の領域とで連続させるようにする必要がある。
上記の(b)〜(e)の場合は、入射電磁波の周波数を変化させることで、偏向角を変化させるようにしている。周波数を変化させる代わりに、孔40に電界、磁界、光を含む電磁波により、誘電率や透磁率を変化させることができる材料を充填させる。例えば、電界により誘電率が変化する液晶を充填する。このようにすると、電界を印加することで、波数k(ω,x)の分散特性を、全xの範囲において、全体的に、周波数の高い方、又は、低い方に、平行移動させることができる。その時の波数の分布は、特性を固定して、周波数を変化させた場合と同一となる。その結果、入射電磁波の固定された周波数に対して波数kのx軸方向の分布を、外部電界の大きさにより変化させることができる。その結果として、偏向角αも、外部電界により、変化させることができる。金属層間の距離を静電力により変化させた場合も、同様に、電界を印加することで、波数k(ω,x)の分散特性を、全xの範囲において、全体的に、周波数の高い方、又は、低い方に、平行移動させることができる。この結果として、偏向角αも、外部電界により、変化させることができる。
最下の絶縁層10としての絶縁体基板に、SiO2 基板を用いた。そのSiO2 基板上に、金属層20としてのAl膜と、絶縁層10としてSiO2 膜を、積層した。製膜技術を用いて、金属層20と絶縁層10とを交互に5層乃至20層の範囲で、多数、積層させる。金属層20の厚さは、媒質内波長の1/50=0.02倍である20nmとし、絶縁層10の厚さは、媒質内波長の4/50=0.08倍である80nmとした。
2.1 )基本構成
まず、基本となるFSS のパターンを設計する。FSS パターンとしては半波長ホールアレーを基本とする。この場合、FSS パターンのx軸方向の配列周期dx 及びy軸方向の配列周期dy は、入射光の媒質内波長と一致させ1μmとした。そして、孔40の半径rは、媒質内波長の1/4である250nmとした。これにより、パスバンド上端波長(真空中波長)が、1.5μm、上端周波数(ωH /2π)が200THzの左手系のFSS スタックができる。積層膜の寸法とあわせて図16に基本パターンの1周期分の構成図を示す。
本実施例は、上記した(d)の場合の実施例である。入射波長による媒質内波数の変動量を、素子内のx軸方向に分布させるために、x軸方向に沿って、異なる傾きdk/dωの分散特性を有するFSS パターンを設計する。傾きの大小は、FSS スタックのパスバンドの帯域幅の大小と逆比例しているため、異なる帯域幅をもつFSS スタックを用意すればよい。基本パターンに対し、孔40の半径rを小さくすると狭帯域となり、周波数変動に対する媒質内波数の変化率dk/dωが大きくなり、逆に孔40の半径rを大きくすると、パスバンドは広帯域となり、周波数変動に対する波数の変動率dk/dωは小さくなる。したがって、孔40の半径rを一方向(例えば左から右)へ徐々に拡大させたパターンを作成することにより、光偏向素子が作成できる。このとき、y軸方向の配列周期dy をxに関して一定としているので、理論的には、すべてのパターンにおいてパスバンド上端が同一の共振周波数となるので、ビームの周波数をパスバンド上端から下端へスイープすると、出射光は出射面31の法線(z軸方向、入射光の進行方向)に対して、x軸の正の方向に偏向させることができる。本実施例では、入射光の中心を光偏向素子の入射面30の中心部とし、その位置での孔40の半径rを250nmと、xが増加するに連れて、この半径rを、この値から増大させて、ビームの右端位置x1 において、300nmとし、xが減少するに連れて、この値から、ビームの左端位置x3 において、200nmとした。この間は、半径rは、xに関して増加関数で変化させた。
3)ホールアレーの加工
積層構造に、フォトリソグラフィーでパターニングし、異方性エッチング技術を用いホールアレーを作成する。
1)バスバンド中心の調整
x軸方向に分布した媒質内の波数kの分散特性において、同一波数の時に同一周波数をとる点をパスバンドの中心に位置させると、ビームの周波数をパスバンド上端から下端へスイープすることにより、出射光を出射面31の法線(z軸)に対して、x軸の負の方向への偏向から、x軸の正の方向への偏向へと、偏向角を、連続的に変化させることができる。そのために、すべてのパターンでパスバンド中央の周波数を一致させるためFSS パターンのy軸方向の配列周期dy を、x軸方向にそって、一定の分布となるように調節する。FSS パターンのy軸方向の配列周期dy を狭くすると、共振波長が短くなるため、パスバンドの中心周波数は大きくなり、波数の分散特性は、全体的に、周波数軸方向の上方に移動する。逆にFSS パターンのy軸方向の配列周期dy を広くすると、共振波長が大きくなり、パスバンド中心の周波数は小さくなり、波数の分散特性は、全体的に、周波数軸方向の下方に移動する。
したがって、一般には、配列周期dy (x)は次式で表される。
パターン設計手法は実施例1、2と同様に行うことができる。基板の樹脂をポリエチレン、誘電率2.3のものを使うと、基板屈折率は1.5となる。周波数60GHzを対象とすると真空中の波長は5mm、したがってFSS パターンの基本配列周期dy (xs )は、5mm/1.5の3.33mmとなる。基本となる孔径はその半分の1.67mmとなる。
低損失樹脂フィルム基板にエッチングでFSS パターンを描き、それを5枚30枚積層させる。フィルムの厚みはフィルム材料の媒質内波長の1/4以下の0.83mm以下のものを用いる。可能であれば、媒質内波長の1/10以下などの薄いものを用いることにより広帯域設計が容易になる。
固定周波数走査をおこなうためには、樹脂基板に多孔性の樹脂材料をもちい、1)で作成した素子に液晶を含浸させる。あるいは、実施例1、2と同様に、FSS パターンの孔40を基板ごと空孔とし、その空孔部に液晶を充填する。または、図17に示すように、実施例1、2の光偏向素子において、隣接する金属層20間に電圧を印加して、それらの間隔を変化させるようにする。この場合には、誘電体層10は、空間とするか、弾性変形が可能な弾性体で構成すれば良い。又は、誘電体層10を電圧により厚さが変化する圧電体で構成しても良い。このようにしても、出射光を、電圧により偏向させることができる。
孔40のz軸に垂直な断面形状は、円形の他、正方形でも良い。また、図18の(a)に示すように、断面積が大きくなるにしたがって、y軸方向に長軸を有する楕円形状としても良い。また、(b)に示すように、x軸上の一部の領域に孔とスリットが形成されたものでも良い。また、(c)、(d)に示すように、金属層20において、(a)、(b)の孔に該当する部分だけ金属を残して、他は、誘電体層10を露出させても良い。すなわち、上記の実施例1、2、3において、金属層10をパターンを、補対構造としても良い。
20…金属層
30…入射面
31…出射面
40…孔
100,110…光偏向素子
Claims (14)
- 絶縁層と金属層とを厚さ方向のz軸方向に周期的に積層した光偏向素子において、
前記絶縁層の面上において、z軸に垂直な方向にx軸、z軸とx軸に垂直な方向にy軸をとるとき、z軸方向に伝搬する電磁波に対して、前記電磁波の存在範囲において、第1周波数に関して前記x軸方向に沿って屈折率が、一定の変化率で増加し、前記第1周波数と異なる第2周波数に関して前記x軸方向に沿って、屈折率が、一定の変化率で減少するように、前記屈折率の分散特性を前記x軸方向に沿って変化させた特性としたメタマテリアル素子から成ることを特徴とする光偏向素子。 - 絶縁層と金属層とを厚さ方向のz軸方向に周期的に積層した光偏向素子において、
前記絶縁層の面上において、z軸に垂直な方向にx軸、z軸とx軸に垂直な方向にy軸をとるとき、z軸方向に伝搬する電磁波に対して、第1周波数に関して前記x軸方向に沿って屈折率が、前記電磁波の存在範囲において、一定の変化率で、増加、又は、減少するように、屈折率の分散特性を前記x軸方向に沿って変化させた特性としたメタマテリアル素子から成り、
前記屈折率の前記変化率が前記メタマテリアル素子に印加する電場、磁場、光を含む電磁波により変化するように、前記屈折率の分散特性の前記x軸方向の分布が決定されている
ことを特徴とする光偏向素子。 - 絶縁層と金属層とを厚さ方向のz軸方向に周期的に積層した光偏向素子において、
前記絶縁層の面上において、z軸に垂直な方向にx軸、z軸とx軸に垂直な方向にy軸をとるとき、z軸方向に伝搬する電磁波に対して、第1周波数に関して前記x軸方向に沿って屈折率が、前記電磁波の存在範囲において、一定の変化率で、増加、又は、減少するように、屈折率の分散特性を前記x軸方向に沿って変化させた特性としたメタマテリアル素子から成り、
前記メタマテリアル素子は、少なくとも全ての前記金属層において同一位置に、前記x軸上の同一x座標に関しては前記y軸方向の周期が等周期であって、そのy軸方向の周期は前記x軸方向において、漸次、変化すると共に、前記x軸方向には、前記z軸に垂直な断面積が、漸次、変化した、前記z軸方向に貫通した孔又はスリット、又は、導体の島状の配列を有する
ことを特徴とする光偏向素子。 - 絶縁層と金属層とを厚さ方向のz軸方向に周期的に積層した光偏向素子において、
前記絶縁層の面上において、z軸に垂直な方向にx軸、z軸とx軸に垂直な方向にy軸をとるとき、z軸方向に伝搬する電磁波に対して、第1周波数に関して前記x軸方向に沿って屈折率が、前記電磁波の存在範囲において、一定の変化率で、増加、又は、減少するように、屈折率の分散特性を前記x軸方向に沿って変化させた特性としたメタマテリアル素子から成り、
前記メタマテリアル素子は、少なくとも全ての前記金属層において同一位置に、前記x軸上の同一x座標に関しては前記y軸方向の周期が等周期であって、前記x軸方向には、前記z軸に垂直な断面積が、漸次、変化した、前記z軸方向に貫通した孔又はスリット、又は、導体の島状の配列を有し、
前記孔又はスリットには、又は、導体の島状を除く部分は、誘電率又は透磁率が、電場、磁場、光を含む電磁波により変化する物質が充填されている
ことを特徴とする光偏向素子。 - 絶縁層と金属層とを厚さ方向のz軸方向に周期的に積層した光偏向素子において、
前記絶縁層の面上において、z軸に垂直な方向にx軸、z軸とx軸に垂直な方向にy軸をとるとき、z軸方向に伝搬する電磁波に対して、第1周波数に関して前記x軸方向に沿って屈折率が、前記電磁波の存在範囲において、一定の変化率で、増加、又は、減少するように、屈折率の分散特性を前記x軸方向に沿って変化させた特性としたメタマテリアル素子から成り、
前記絶縁層は、誘電率、透磁率、又は厚さが、電場、磁場、光を含む電磁波により変化する物質とし、前記絶縁層に、電場、磁場、電磁波を印加する状態変化手段を有し、
前記状態変化手段により、前記絶縁層の誘電率、透磁率又は厚さを変化させることで、前記屈折率の分散特性を変動させる
ことを特徴とする光偏向素子。 - 前記光偏向素子の前記電磁波の通過周波数帯域を、所定の中間周波数を境界として高帯域と低帯域とに2分するとき、前記第1周波数を前記高帯域の周波数とし、前記第2周波数を前記低帯域の周波数とし、前記中間周波数に関して前記x軸方向に沿って屈折率が変化しないように、前記屈折率の分散特性を前記x軸方向に沿って変化させた特性としたことを特徴とする請求項1に記載の光偏向素子。
- 前記屈折率の前記変化率が前記電磁波の周波数により変化するように、前記屈折率の分散特性の前記x軸方向の分布が決定されていることを特徴とする請求項1乃至請求項6の何れか1項に記載の光偏向素子。
- 前記屈折率の前記変化率が前記メタマテリアル素子に印加する電場、磁場、光を含む電磁波により変化するように、前記屈折率の分散特性の前記x軸方向の分布が決定されていることを特徴とする請求項1、請求項3乃至請求項6の何れか1項に記載の光偏向素子。
- 前記メタマテリアル素子は、少なくとも全ての前記金属層において、同一位置に、前記x軸上の同一x座標に関しては、前記y軸方向に等周期で、前記x軸方向には、前記z軸に垂直な断面積が、漸次、変化した、前記z軸方向に貫通した孔又はスリット、 又は、導体の島状の配列を有することを特徴とする請求項1、請求項2、請求項5、又は、請求項6に記載の光偏向素子。
- 前記孔又はスリットは、全ての前記金属層及び全ての絶縁層を、z軸方向に貫通していることを特徴とする請求項3、請求項4、又は、請求項9に記載の光偏向素子。
- 前記孔又はスリット、又は、導体の島状の配列の前記y軸方向の周期は、前記x軸方向において、漸次、変化していることを特徴とする請求項4又は請求項9に記載の光偏向素子。
- 前記孔又はスリットには、又は、導体の島状を除く部分は、誘電率又は透磁率が、電場、磁場、光を含む電磁波により変化する物質が充填されていることを特徴とする請求項9に記載の光偏向素子。
- 前記物質は、液晶であることを特徴とする請求項4又は請求項12に記載の光偏向素子。
- 前記絶縁層は、誘電率、透磁率、又は厚さが、電場、磁場、光を含む電磁波により変化する物質とし、前記絶縁層に、電場、磁場、電磁波を印加する状態変化手段を有し、
前記状態変化手段により、前記絶縁層の誘電率、透磁率又は厚さを変化させることで、前記屈折率の分散特性を変動させることを特徴とする請求項1乃至請求項4、請求項6の何れか1項に記載の光偏向素子。
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