JP5505284B2 - Exposure dose calculation device - Google Patents
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- 238000004364 calculation method Methods 0.000 title claims description 31
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 28
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 22
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 19
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 12
- 238000012015 optical character recognition Methods 0.000 description 38
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 description 10
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000004980 dosimetry Methods 0.000 description 2
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Description
この発明は、表面線量簡易換算法により被曝線量を演算する被曝線量演算装置に関する。 The present invention relates to an exposure dose calculation apparatus that calculates an exposure dose by a surface dose simple conversion method.
X線撮影装置やX線透視装置等のX線検査装置においては、被検者のX線被曝線量を管理することが必要となる。このため、従来においては、線量計をX線検査装置に付設してX線量を計測していた。これに対し、近年、表面線量簡易換算法が利用されている。この表面線量簡易換算法は、X線条件やX線焦点入射表面間距離(FSD/focus−surface distance)から、X線を被検体に照射したときの被検体の被曝量を算出するための方法であり、NDD(Non Dosimeter Dosimetry)法とも呼称される。 In an X-ray inspection apparatus such as an X-ray imaging apparatus or an X-ray fluoroscopic apparatus, it is necessary to manage the X-ray exposure dose of the subject. For this reason, conventionally, the X-ray dose was measured by attaching a dosimeter to the X-ray inspection apparatus. On the other hand, in recent years, a simple surface dose conversion method has been used. This surface dose simple conversion method is a method for calculating the exposure dose of a subject when the subject is irradiated with X-rays from the X-ray conditions and the distance between the X-ray focal point incidence surfaces (FSD / focus-surface distance). And is also referred to as NDD (Non Dosimetry Dosimetry) method.
特許文献1においては、透過X線の画像データのヒストグラムを作成し、このヒストグラムの体厚に関連する特徴量から、FSD値を推定するFSD推定手段と、そのFSD推定手段により求めたFSD値に基づいて、所定の表面線量換算式により被検者の表面入射線量を演算する表面線量演算手段とを備えることにより、線量計を用いることなく精度の高い被曝線量を求めることができるX線診断装置が提案されている。
In
また、特許文献2においては、X線条件設定部により設定されたX線条件と、X線発生部から被検体での位置情報と、被検体に照射するX線の照射角度とに基づいて線量分布演算部によりX線照射野内を第1段階、第2段階のように順次複数の領域に細分化し、これら細分化毎に、それぞれ細分化した各領域ごとの各X線照射線量を求め、これらX線照射線量を合わせてX線照射野全体の線量分布を求めて表示部に表示することにより、リアルタイム性を損なわずに、高精度にX線照射野全体の線量分布を求めることが可能な被曝線量算出方法が提案されている。
In
このような表面線量簡易換算法を利用して被曝線量を演算する方式は、被検者に対する被曝線量を管理する上で有効なものである。一方、現在稼働中のX線検査装置においては、被曝線量を算出する機構を備えていないものも多数存在する。そのようなX線検査装置において表面線量簡易換算法を利用して被曝線量を演算する被曝線量の算出システムを付加するためには、装置を制御するための制御用のソフトウエアおよびハードウエアの更新が必要となる。しかしながら、このようなソフトウエアおよびハードウエアの更新は、X線検査装置が最新のものでない限り、現実的ではない。このため、従来、被曝線量の管理が行われないままX線検査が実行される場合があるという問題があった。 The method of calculating the exposure dose using such a simple surface dose conversion method is effective in managing the exposure dose to the subject. On the other hand, there are many X-ray inspection apparatuses that are currently in operation that do not have a mechanism for calculating an exposure dose. In such an X-ray inspection apparatus, in order to add an exposure dose calculation system that calculates the exposure dose using the surface dose simple conversion method, control software and hardware for controlling the apparatus are updated. Is required. However, such software and hardware updates are not practical unless the X-ray inspection apparatus is up-to-date. For this reason, conventionally, there has been a problem that X-ray inspection may be performed without managing the exposure dose.
この発明は上記課題を解決するためになされたものであり、被曝線量を算出する機構を備えない従来のX線検査装置に対して、その構成に変更を加えることなく被曝線量を演算する機能を付加することが可能な被曝線量演算装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the above-described problem, and has a function of calculating an exposure dose without changing the configuration of a conventional X-ray inspection apparatus that does not include a mechanism for calculating the exposure dose. An object of the present invention is to provide an exposure dose calculation device that can be added.
請求項1に記載の発明は、表面線量簡易換算法により被曝線量を演算する被曝線量演算装置であって、X線検査装置におけるX線条件を表示する表示部を撮影するための撮影部と、前記撮影部により撮影したX線条件を表示する表示部の画像に対してOCR処理を実行することにより、前記表示部に表示されたX線条件を認識するOCR処理部と、前記OCR処理部において認識されたX線条件に基づいて、被曝線量を演算する線量演算部とを備えたことを特徴とする。
The invention according to
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、前記撮影部により撮影したX線条件を表示する表示部の画像における、OCR処理を実行すべきOCR処理領域を指定する処理領域指定部を備える。 According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, in the image of the display unit that displays the X-ray conditions imaged by the imaging unit, a processing region that specifies an OCR processing region in which the OCR processing is to be performed A designation part is provided.
請求項3に記載の発明は、請求項2に記載の発明において、前記処理領域指定部は、オペレータが入力手段を操作して設定した領域をOCR処理領域として指定する。 According to a third aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, the processing area designating unit designates an area set by the operator operating the input means as an OCR processing area.
請求項4に記載の発明は、請求項2に記載の発明において、前記X線条件は、X線管の管電圧、X線管の管電流およびX線照射時間の少なくとも一つを含み、前記処理領域指定部は、前記撮影部により撮影したX線条件を表示する表示部の画像におけるX線管の管電圧、X線管の管電流またはX線照射時間の単位を表す文字の配置情報を利用することにより、OCR処理を実行すべきOCR処理領域を指定する。
The invention according to
請求項1に記載の発明によれば、X線検査装置の表示部に表示されるX線条件を利用して、被曝線量を演算することが可能となる。このため、被曝線量を算出する機構を備えない従来のX線検査装置に対して、その構成に変更を加えることなく被曝線量を演算する機能を付加することが可能となる。 According to the first aspect of the present invention, the exposure dose can be calculated using the X-ray condition displayed on the display unit of the X-ray inspection apparatus. For this reason, it is possible to add a function for calculating the exposure dose to a conventional X-ray inspection apparatus that does not include a mechanism for calculating the exposure dose without changing the configuration.
請求項2に記載の発明によれば、OCR処理を実行すべきOCR処理領域を指定することにより、OCR処理を迅速かつ正確に実行することが可能となる。 According to the second aspect of the present invention, it is possible to execute the OCR processing quickly and accurately by designating the OCR processing area where the OCR processing is to be executed.
請求項3に記載の発明によれば、オペレータが入力手段を操作して設定した領域をOCR処理領域として指定することにより、OCR処理領域を正確に設定することができ、OCR処理を迅速かつ正確に実行することが可能となる。 According to the third aspect of the present invention, the OCR processing area can be set accurately by designating the area set by the operator operating the input means as the OCR processing area, and the OCR processing can be performed quickly and accurately. Can be executed.
請求項4に記載の発明によれば、X線管の管電圧、X線管の管電流またはX線照射時間の単位を表す文字に配置情報を利用してOCR処理領域を指定することにより、OCR処理領域を自動的に設定することが可能となる。
According to the invention described in
以下、この発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図1は、この発明の第1実施形態に係る被曝線量演算装置10をX線検査装置とともに示す概要図である。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic diagram showing an exposure
この発明に係る被曝線量演算装置10を適用するX線検査装置は、患者4を載置するテーブル3と、X線管1と、このX線管1に付与する管電圧等を制御する高電圧発生部6と、X線検出器としてのフラットパネルディテクタ2と、画像処理部7と、装置全体を制御する制御部5と、X線検査時のX線条件やX線検査時の撮影画像を表示する表示部8とを備える。このX線検査装置においては、X線管1からテーブル3上の患者4に向けてX線を照射し、患者4を通過したX線をフラットパネルディテクタ2により検出し、画像処理部7において検出されたX線を画像処理し、画像処理されたX線画像を表示部8に表示する構成を有する。
An X-ray inspection apparatus to which an exposure
また、この発明に係る被曝線量演算装置10は、表面線量簡易換算法により被曝線量を演算するものであり、X線検査装置における表示部8に表示されたX線条件をカメラ11により撮影し、その画像をOCR(Optical Character Recognition/光学文字認識)処理することでX線条件を認識し、このX線条件に基づいて被曝線量を計算するものである。
Further, the exposure
すなわち、この発明に係る被曝線量演算装置10は、X線検査装置における表示部8を撮影するための撮影部としてのカメラ11と、カメラ11により撮影した表示部8の画像におけるOCR処理を実行すべきOCR処理領域を指定する処理領域指定部12と、カメラ11により撮影したX線条件を表示する表示部10の画像のうち処理領域指定部12により指定されたOCR処理領域に対してOCR処理を実行することにより、表示部8に表示されたX線条件を認識するOCR処理部13と、OCR処理部13において認識されたX線条件に基づいて被曝線量を演算する線量演算部14と、カメラ11により撮影した表示部8におけるX線条件の画像やOCR処理部13において認識されたX線条件等を表示するX線条件表示部15と、キーボード16およびマウス17等からなる入力部とを備える。
That is, the exposure
この発明に係る被曝線量演算装置10において被曝線量の演算を行う場合には、最初に、X線検査装置における表示部8に表示されたX線条件をカメラ11により撮影する。すなわち、一般的なX線検査装置においてX線撮影を行う場合には、X線撮影時のX線管1の管電圧、X線管1の管電流およびX線管1によるX線照射時間等のX線条件が表示部8に表示される。また、X線検査装置においてX線透視を行う場合には、X線透視時のX線管1の管電圧、X線管1の管電流および透視を実行中である旨の表示等のX線条件が表示部8に表示される。この発明に係る被曝線量演算装置10においては、これらのX線条件をカメラ11により撮影する構成となっている。
When the exposure
図2は、カメラ11により撮影された表示部8の画像を示す模式図である。ここで、図2(a)はX線撮影を実行する場合のカメラ11により撮影された表示部8の画像を示し、図2(b)はX線透視を実行する場合のカメラ11により撮影された表示部8の画像を示している。
FIG. 2 is a schematic diagram showing an image of the
X線撮影を実行する場合には、図2(a)に示すように、表示部8には、管電圧として100kVの表示が、管電流として200mA表示が、X線照射時間として25msの表示がなされている。これに対して、処理領域指定部12が、OCR処理を実行すべきOCR処理領域を指定する。このときには、カメラ11により撮影された表示部8におけるX線条件の画像をX線条件表示部15に表示する。そして、オペレータがマウス17等の入力部を操作することにより、管電圧の表示領域21と、管電流の表示領域22と、X線照射時間の表示領域23とを、各々、指定する。
When performing X-ray imaging, as shown in FIG. 2A, the
なお、この管電圧の表示領域21と、管電流の表示領域22と、X線照射時間の表示領域23の指定は、表示部8における管電圧、管電流およびX線照射時間の表示位置の設定等が変更されない限り、一度だけ実行すれば十分である。
The tube
管電圧の表示領域21と、管電流の表示領域22と、X線照射時間の表示領域23とが指定されれば、OCR処理部13によりそれらの領域21、22、23の画像に対してOCR処理を行う。OCR処理部13は、領域21、22、23について光学文字認識を実行し、各領域21、22、23に表示された文字列を認識し、被曝線量演算部14に送信する。被曝線量演算装置10は、それらの文字列から、X線撮影時のX線管1の管電圧、X線管1の管電流およびX線管1によるX線照射時間の情報を得る。そして、線量演算装置10は、それらの管電圧、管電流およびX線照射時間から、表面線量簡易換算法により被曝線量を演算する。
If a tube
なお、この場合においては、X線管1の焦点から患者4の体表面までの距離であるFSD(Focus−Surface Distance)のデータが必要となる。このSFDのデータは、X線検査を実行する前に、オペレータがキーボード16等の入力部を操作して入力すればよい。また、オペレータがキーボード16等の入力部を操作して検査部位を入力し、その検査部位から体厚を測定することにより、FSDのデータを算出してもよい。また、FSDのデータを、X線検査装置毎に固有の値としてもよい。
In this case, FSD (Focus-Surface Distance) data that is the distance from the focal point of the
このような構成を採用することにより、X線検査装置の表示部8に表示されるX線条件を利用して、被曝線量を表面線量簡易換算法により演算することが可能となる。このため、被曝線量を算出する機構を備えない従来のX線検査装置に対して、装置に変更を加えることなく被曝線量を演算する機能を付加することが可能となる。
By adopting such a configuration, it becomes possible to calculate the exposure dose by a simple surface dose conversion method using the X-ray conditions displayed on the
なお、X線撮影を行う場合には、図2(a)に示すように、各領域21、22、23に表示された文字列から、X線撮影時のX線管1の管電圧、X線管1の管電流およびX線管1によるX線照射時間の情報を得ている。これに対して、X線透視を行う場合には、X線照射時間についての情報は表示部8には表示されない。この場合においては、表示部8に表示される透視状態を示すマークを利用して透視時間を認識するようにすればよい。
In the case of performing X-ray imaging, as shown in FIG. 2A, the tube voltage of the
すなわち、図2(b)に示すように、X線透視の実行中には、X線撮影の場合と同様、表示部1には、管電圧として100FkVの表示と、管電流として2.5mA表示とがなされるとともに、X線透視を実行中にはそれを示す黒丸等のマークが表示部8に表示される。このため、管電圧の表示領域24と、管電流の表示領域25とに基づいて管電圧と管電流とを認識するとともに、透視状態を示す表示領域26に黒丸等のマークが表示された時間を認識することにより、線量演算部14において透視時間を認識して被曝線量を演算すればよい。
That is, as shown in FIG. 2B, during X-ray fluoroscopy, the
なお、上述した実施形態においては、処理領域指定部12は、オペレータがマウス17等の入力部を操作することにより設定した領域21、22、23、24、25、26をOCR処理領域として指定している。これに対して、処理領域指定部12が、カメラ11により撮影した表示部8の画像におけるX線管1の管電圧、X線管1の管電流およびX線照射時間等の単位を表す文字の配置情報を利用することにより、OCR処理を実行すべきOCR処理領域を指定するようにしてもよい。
In the above-described embodiment, the processing
図3は、このような実施形態を適用した場合の、カメラ11により撮影された表示部8の画像を示す模式図である。なお、図2の場合と同様、図3(a)はX線撮影を実行する場合のカメラ11により撮影された表示部8の画像を示し、図3(b)はX線透視を実行する場合のカメラ11により撮影された表示部8の画像を示している。
FIG. 3 is a schematic diagram showing an image of the
例えば、X線撮影時においては、カメラ11により撮影された表示部8の画像を画像処理することにより、図3(a)に示すように、管電圧の単位を表すkVの文字の領域31の配置と、管電流の単位を表すmAの文字の領域32の配置と、X線照射時間を表すmsの文字の領域の配置を認識する。そして、処理領域指定部12は、それらの領域31、32、33の配置情報に基づき、それらの領域31、32、33の直前の領域を、各々、管電圧の表示領域21、管電流の表示領域22およびX線照射時間の表示領域23として指定する。
For example, at the time of X-ray imaging, the image of the
このようにして管電圧の表示領域21と、管電流の表示領域22と、X線照射時間の表示領域23とが指定されれば、上述した実施形態と同様、OCR処理部13によりそれらの領域21、22、23の画像に対してOCR処理を行った後、管電圧、管電流およびX線照射時間の情報を線量演算装置10に送信し、表面線量簡易換算法により被曝線量を演算する。
When the tube
なお、図3(b)に示すX線透視の場合においては、管電圧の単位を表すFkVの文字の領域34の配置と、管電流の単位を表すmAの文字の領域35の配置とは認識可能であるが、透視状態を示す黒丸等のマークには単位はない。この場合においては、「透視」の文字を表す領域36の配置情報から、透視状態を示す表示領域26を指定すればよい。
In the case of the X-ray fluoroscopy shown in FIG. 3B, the arrangement of the
次に、この発明のさらに他の実施形態について説明する。図4は、この発明のさらに他の実施形態に係る被曝線量演算装置10をX線検査装置とともに示す概要図である。なお、図1に示す実施形態と同一の部材については、同一の符号を付して詳細な説明を省略する。
Next, still another embodiment of the present invention will be described. FIG. 4 is a schematic diagram showing an exposure
図1に示す実施形態においては、FSDのデータを、オペレータがキーボード16等の入力部を操作することにより設定している。これに対して、図4に示す実施形態においては、X線管1に対して超音波距離計9を付設し、この超音波距離計9の信号に基づいて、FSDのデータを得るようにしている。このような構成を採用した場合においては、FSDのデータを自動的に得ることができることから、オペレータの操作を省略することが可能となる。
In the embodiment shown in FIG. 1, FSD data is set by an operator operating an input unit such as a
1 X線管
2 フラットパネルディテクタ
3 テーブル
4 患者
5 制御部
6 高電圧発生部
7 画像処理部
8 表示部
9 超音波距離計
10 被曝線量演算装置
11 カメラ
12 処理領域指定部
13 OCR処理部
14 線量演算部
15 X線条件表示部
16 キーボード
17 マウス
21 管電圧の表示領域
22 管電流の表示領域
23 X線照射時間の表示領域
24 管電圧の表示領域
25 管電流の表示領域
26 透視状態を示す表示領域
DESCRIPTION OF
Claims (4)
X線検査装置におけるX線条件を表示する表示部を撮影するための撮影部と、
前記撮影部により撮影したX線条件を表示する表示部の画像に対してOCR処理を実行することにより、前記表示部に表示されたX線条件を認識するOCR処理部と、
前記OCR処理部において認識されたX線条件に基づいて、被曝線量を演算する線量演算部と、
を備えたことを特徴とする被曝線量演算装置。 An exposure dose calculation device that calculates an exposure dose by a surface dose simple conversion method,
An imaging unit for imaging a display unit for displaying X-ray conditions in the X-ray inspection apparatus;
An OCR processing unit that recognizes an X-ray condition displayed on the display unit by performing an OCR process on an image of a display unit that displays the X-ray condition captured by the imaging unit;
A dose calculation unit that calculates an exposure dose based on the X-ray condition recognized in the OCR processing unit;
An apparatus for calculating an exposure dose.
前記撮影部により撮影したX線条件を表示する表示部の画像における、OCR処理を実行すべきOCR処理領域を指定する処理領域指定部を備える被曝線量演算装置。 The exposure dose calculation apparatus according to claim 1,
An exposure dose calculation apparatus comprising a processing region designating unit that designates an OCR processing region in which an OCR process is to be performed in an image of a display unit that displays an X-ray condition photographed by the photographing unit.
前記処理領域指定部は、オペレータが入力手段を操作して設定した領域をOCR処理領域として指定する被曝線量演算装置。 In the exposure dose calculation apparatus according to claim 2,
The treatment area designating unit designates an area set by an operator by operating an input means as an OCR process area.
前記X線条件は、X線管の管電圧、X線管の管電流またはX線照射時間の少なくとも一つを含み、
前記処理領域指定部は、前記撮影部により撮影したX線条件を表示する表示部の画像におけるX線管の管電圧、X線管の管電流およびX線照射時間の単位を表す文字の配置情報を利用することにより、OCR処理を実行すべきOCR処理領域を指定する被曝線量演算装置。
In the exposure dose calculation apparatus according to claim 2,
The X-ray condition includes at least one of an X-ray tube voltage, an X-ray tube current, or an X-ray irradiation time,
The processing area designating unit is a character arrangement information representing a unit of an X-ray tube voltage, an X-ray tube current, and an X-ray irradiation time in an image of a display unit that displays an X-ray condition imaged by the imaging unit. An exposure dose calculation device that designates an OCR processing region in which OCR processing is to be performed by using the OCR.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010270177A JP5505284B2 (en) | 2010-12-03 | 2010-12-03 | Exposure dose calculation device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010270177A JP5505284B2 (en) | 2010-12-03 | 2010-12-03 | Exposure dose calculation device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012115592A JP2012115592A (en) | 2012-06-21 |
JP5505284B2 true JP5505284B2 (en) | 2014-05-28 |
Family
ID=46499173
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010270177A Active JP5505284B2 (en) | 2010-12-03 | 2010-12-03 | Exposure dose calculation device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5505284B2 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2014077427A1 (en) * | 2012-11-15 | 2014-05-22 | Seen Dong June | System and apparatus of digital medical image for x-ray system |
JP5902878B1 (en) * | 2013-03-15 | 2016-04-13 | メディガイド リミテッド | Medical device guidance system |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2770164B2 (en) * | 1996-03-15 | 1998-06-25 | 株式会社プラスミック | Odds image reading device |
JP2005037976A (en) * | 2003-07-15 | 2005-02-10 | Kowa Co | Medical information processing apparatus, medical information processing apparatus control method, and medical information processing apparatus control program |
JP2007058480A (en) * | 2005-08-24 | 2007-03-08 | Astmax Co Ltd | Display data analyzer |
US7764766B2 (en) * | 2007-03-01 | 2010-07-27 | Shimadzu Corporation | X-ray apparatus |
JP2009142497A (en) * | 2007-12-14 | 2009-07-02 | Hitachi Medical Corp | X-ray diagnostic apparatus |
-
2010
- 2010-12-03 JP JP2010270177A patent/JP5505284B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2012115592A (en) | 2012-06-21 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130227 |
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