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JP5486956B2 - Unlock detection circuit - Google Patents

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JP5486956B2
JP5486956B2 JP2010039012A JP2010039012A JP5486956B2 JP 5486956 B2 JP5486956 B2 JP 5486956B2 JP 2010039012 A JP2010039012 A JP 2010039012A JP 2010039012 A JP2010039012 A JP 2010039012A JP 5486956 B2 JP5486956 B2 JP 5486956B2
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耕一郎 赤堀
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Japan Radio Co Ltd
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Description

本発明は、PLL(Phase Locked Loop;位相同期ループ)回路におけるアンロック検出に関する。   The present invention relates to unlock detection in a PLL (Phase Locked Loop) circuit.

PLL回路は、通信機をはじめとして多くのシステムに用いられている。PLL回路には、基準信号源から出力される基準信号と、VCO(Voltage Controlled Oscillator;電圧制御発振器)から出力される出力信号との間に位相差が生じているか否かを判定するアンロック検出回路が用いられている(特許文献1)。   The PLL circuit is used in many systems including a communication device. In the PLL circuit, unlock detection is performed to determine whether or not there is a phase difference between a reference signal output from a reference signal source and an output signal output from a VCO (Voltage Controlled Oscillator). A circuit is used (Patent Document 1).

特許文献1によれば、図5に示すようなアンロック検出回路900が開示されている。アンロック検出回路900は、位相比較器901と、アンロック検出器902と、OR回路93とを具備する。
位相比較器901は、基準信号REFと、入力信号VCOとが入力され、基準信号REFと入力信号VCOとの位相差を検出し、検出結果を示す信号PDU及び信号PDDを出力する。また、位相比較器901は、基準信号REFの位相に対して入力信号VCOの位相が遅れている場合、信号PDUをH(High;ハイ)レベルにすると共に信号PDDをL(Low;ロー)レベルを維持する。また、位相比較器901は、基準信号REFの位相に対して入力信号VCOの位相が進んでいる場合、信号PDUをLレベルを維持すると共に信号PDDをHレベルにする。
According to Patent Document 1, an unlock detection circuit 900 as shown in FIG. 5 is disclosed. The unlock detection circuit 900 includes a phase comparator 901, an unlock detector 902, and an OR circuit 93.
The phase comparator 901 receives the reference signal REF and the input signal VCO, detects a phase difference between the reference signal REF and the input signal VCO, and outputs a signal PDU and a signal PDD indicating the detection result. In addition, when the phase of the input signal VCO is delayed with respect to the phase of the reference signal REF, the phase comparator 901 sets the signal PDU to H (High) level and sets the signal PDD to L (Low) level. To maintain. Further, when the phase of the input signal VCO is advanced with respect to the phase of the reference signal REF, the phase comparator 901 maintains the signal PDU at the L level and sets the signal PDD at the H level.

アンロック検出器902は、基準信号REFと、入力信号VCOと、位相比較器901の出力である信号PDUと信号PDDとが入力され、基準信号REFと入力信号VCOとそれぞれの位相差が生じるアンロック状態を検出する。また、アンロック検出器902は、信号QRと信号QSとを出力し、アンロック状態を検出すると信号QR及び信号QSの少なくとも一方をHレベルにする。
OR回路93は、アンロック検出器902が出力する信号QRと信号QSとの論理和演算の結果示す信号UNLOCK_OUTを出力する。
The unlock detector 902 receives the reference signal REF, the input signal VCO, the signal PDU and the signal PDD, which are the outputs of the phase comparator 901, and generates an phase difference between the reference signal REF and the input signal VCO. Detect lock status. The unlock detector 902 outputs the signal QR and the signal QS, and when detecting the unlocked state, at least one of the signal QR and the signal QS is set to the H level.
The OR circuit 93 outputs a signal UNLOCK_OUT indicating the result of the OR operation of the signal QR and the signal QS output from the unlock detector 902.

また、位相比較器901は、フリップフロップ91、92と、NAND回路94とを備えている。フリップフロップ91は、クロック端子CKに基準信号REFが入力され、入力端子DにHレベルの信号を示す電源電圧が入力され、基準信号REFの立ち下がりエッジにおいてHレベルの信号を記憶し、出力端子Qから記憶した信号を示す信号PDUを出力する。フリップフロップ92は、クロック端子CKに入力信号VCOが入力され、入力端子DにHレベルの信号を示す電源電圧が入力され、入力信号VCOの立ち下がりエッジにおいて、Hレベルの信号を記憶し、記憶した信号を示す信号PDDを出力端子Qから出力する。NAND回路94は、信号PDUと信号PDDとの否定論理積演算の結果を示す信号PD_RESETを出力する。また、フリップフロップ91、92は、リセット端子に信号PD_RESETが入力され、信号PD_RESETがLレベルのとき、リセットされて出力信号がLレベルになる。   The phase comparator 901 includes flip-flops 91 and 92 and a NAND circuit 94. In the flip-flop 91, the reference signal REF is input to the clock terminal CK, the power supply voltage indicating the H level signal is input to the input terminal D, the H level signal is stored at the falling edge of the reference signal REF, and the output terminal A signal PDU indicating the signal stored from Q is output. In the flip-flop 92, the input signal VCO is input to the clock terminal CK, the power supply voltage indicating the H level signal is input to the input terminal D, and the H level signal is stored at the falling edge of the input signal VCO. A signal PDD indicating the processed signal is output from the output terminal Q. The NAND circuit 94 outputs a signal PD_RESET indicating the result of the NAND operation of the signal PDU and the signal PDD. The flip-flops 91 and 92 are reset when the signal PD_RESET is input to the reset terminal and the signal PD_RESET is at the L level, and the output signal becomes the L level.

また、アンロック検出器902は、フリップフロップ95、96を備えている。フリップフロップ95は、クロック端子CKに基準信号REFが入力され、入力端子Dに信号PDUが入力され、基準信号REFの立ち下がりエッジにおいて、入力端子Dに入力された信号を記憶し、記憶した信号を示す信号QRを出力端子Qから出力する。フリップフロップ96は、クロック端子CKに入力信号VCOが入力され、入力端子Dに信号PDDが入力され、入力信号VCOの立ち下がりエッジにおいて、入力端子Dに入力された信号を記憶し、記憶した信号を示す信号QSを出力端子Qから出力する。
上述の構成により、アンロック検出回路900は、構成する各ロジック回路が伝達遅延時間0の理想回路であれば、基準信号REFと入力信号VCOとの位相差情報を正確に検出できる。さらに、信号PD−RESETよりフリップフロップ91,92がリセットされた後、基準信号REFの立下りエッジが来て次の基準信号REFの立下りエッジが来る1周期以内、言い換えると、基準信号REFの位相角が2π以内に入力信号VCOの立下りエッジが来ない場合及び、逆に入力信号VCOの立下がりエッジが来て次の入力信号VCOの立下がりエッジが来る1周期以内、言い換えると入力信号VCOの位相角が2π以内に基準信号REFの立下りエッジが来ない場合、アンロック検出器902でアンロックとして検出し、UNLOCK_OUTからL論理のアンロック検出信号が出力される。
The unlock detector 902 includes flip-flops 95 and 96. The flip-flop 95 receives the reference signal REF at the clock terminal CK, the signal PDU at the input terminal D, stores the signal input to the input terminal D at the falling edge of the reference signal REF, and stores the stored signal. Is output from the output terminal Q. The flip-flop 96 receives the input signal VCO at the clock terminal CK, the signal PDD at the input terminal D, and stores the signal input at the input terminal D at the falling edge of the input signal VCO. Is output from the output terminal Q.
With the above-described configuration, the unlock detection circuit 900 can accurately detect the phase difference information between the reference signal REF and the input signal VCO if each logic circuit is an ideal circuit with a transmission delay time of zero. Further, after the flip-flops 91 and 92 are reset by the signal PD-RESET, the falling edge of the reference signal REF comes and the falling edge of the next reference signal REF comes within one cycle, in other words, the reference signal REF When the falling edge of the input signal VCO does not come within the phase angle of 2π, and conversely, within one cycle when the falling edge of the input signal VCO comes and the falling edge of the next input signal VCO comes, in other words, the input signal When the falling edge of the reference signal REF does not come within the phase angle of the VCO within 2π, the unlock detector 902 detects it as unlock and outputs an L logic unlock detection signal from UNLOCK_OUT.

特開2007−243736号公報JP 2007-243736 A

しかしながら、上述のアンロック検出回路の構成では、実際には構成する各ロジック回路に固有の伝達遅延が発生するため、正確な位相差を検出できないデッドゾーンが発生し、アンロック検出を正確にできなくなる問題があった。   However, in the configuration of the unlock detection circuit described above, a transmission delay inherent to each logic circuit that is actually generated occurs, so that a dead zone in which an accurate phase difference cannot be detected occurs, and unlock detection can be performed accurately. There was a problem that disappeared.

本発明は、上記問題を解決すべくなされたもので、その目的は、2つの信号間の位相差が正確に検出できないデッドゾーンに入ったときにおいても正確にアンロック検出が行なえるアンロック検出回路を提供することにある。   The present invention has been made to solve the above problem, and its purpose is to detect unlocking accurately even in a dead zone where the phase difference between two signals cannot be detected accurately. It is to provide a circuit.

(1)上記問題を解決するために、本発明は、論理値を基準信号の変化に応じて記憶する第1フリップフロップと、論理値を入力信号の変化に応じて記憶する第2フリップフロップと、当該第1及び第2フリップフロップの出力の否定論理積を算出するNAND回路とを備えた位相比較器と、前記第1フリップフロップの出力を前記基準信号の変化に応じて記憶する第3フリップフロップと、前記第2フリップフロップの出力を前記入力信号の変化に応じて記憶する第4フリップフロップとを備えた第1アンロック検出器と、前記NAND回路の出力を前記基準信号の変化に応じて記憶する第5フリップフロップと、前記NAND回路の出力を前記入力信号の変化に応じて記憶する第6フリップフロップとを備える第2アンロック検出器と、前記第3、第4、第5及び第6フリップフロップの出力の論理和を算出するOR回路とを具備し、前記NAND回路の出力に応じて前記第1及び第2フリップフロップがリセットされることを特徴とするアンロック検出回路である。   (1) In order to solve the above problem, the present invention includes a first flip-flop that stores a logical value according to a change in a reference signal, and a second flip-flop that stores a logical value according to a change in an input signal. A phase comparator including a NAND circuit that calculates a negative logical product of the outputs of the first and second flip-flops, and a third flip-flop that stores the output of the first flip-flop according to a change in the reference signal And a fourth flip-flop for storing the output of the second flip-flop according to the change of the input signal, and the output of the NAND circuit according to the change of the reference signal. A second flip-flop detector, and a sixth flip-flop that stores an output of the NAND circuit according to a change in the input signal; An OR circuit that calculates a logical sum of the outputs of the third, fourth, fifth, and sixth flip-flops, and the first and second flip-flops are reset according to the output of the NAND circuit. An unlock detection circuit characterized by the following.

(2)また、本発明は、上記記載の発明において、前記第1、第3及び第5フリップフロップは、前記基準信号の立ち下がりにおいて信号を記憶し、前記第2、第4及び第6フリップフロップは、前記入力信号の立ち下がりにおいて信号を記憶することを特徴とする。   (2) Further, according to the present invention, in the above-described invention, the first, third and fifth flip-flops store a signal at a falling edge of the reference signal, and the second, fourth and sixth flip-flops Is characterized in that the signal is stored at the falling edge of the input signal.

(3)また、本発明は、上記記載の発明において、前記第1フリップフロップと、前記第3フリップフロップとの間に第1遅延素子が設けられ、前記第2フリップフロップと、前記第4フリップフロップとの間に第2遅延素子が設けられたことを特徴とする。   (3) Further, according to the present invention, in the above-described invention, a first delay element is provided between the first flip-flop and the third flip-flop, and the second flip-flop and the fourth flip-flop are provided. A second delay element is provided between the first delay element and the second delay element.

この発明によれば、2つの信号間の約2π以上の位相差の発生を正確に検出することができる。   According to the present invention, it is possible to accurately detect the occurrence of a phase difference of about 2π or more between two signals.

本実施形態におけるアンロック検出回路100の構成とアンロック検出回路100に接続される回路を示す概略ブロック図である。2 is a schematic block diagram showing a configuration of an unlock detection circuit 100 and a circuit connected to the unlock detection circuit 100 in the present embodiment. FIG. 本実施形態におけるクロック同期回路104の一構成例を示す回路図である。2 is a circuit diagram showing a configuration example of a clock synchronization circuit 104 in the present embodiment. FIG. 本実施形態におけるアンロック検出回路100の一動作例を示すタイミングチャートである。6 is a timing chart illustrating an operation example of the unlock detection circuit 100 according to the present embodiment. 本実施形態におけるアンロック検出回路100の一動作例を示すタイミングチャートである。6 is a timing chart illustrating an operation example of the unlock detection circuit 100 according to the present embodiment. アンロック検出回路900の構成を示した図である。6 is a diagram showing a configuration of an unlock detection circuit 900. FIG. 位相比較器101の別の構成を示した図である。FIG. 6 is a diagram showing another configuration of the phase comparator 101.

<発明の概要>
発明者は、図5に示すアンロック検出回路900が基準信号REFと入力信号VCOとの間に位相差が生じたこと(アンロック状態)を検出できない場合について解析した結果、次の原因を見出した。アンロック検出回路900は、内部の信号PD_RESETの立ち下がりと、入力される基準信号REF又は入力信号VCOの立ち下がりとがある間隔で連続して生じると、位相比較器901が基準信号REFと入力信号VCOとの位相差の関係を正しく出力せず、アンロック状態を正しく検出することができない。
そこで、発明者は、新たなアンロック検出器を設計して正確に位相差を検出することができた。以下、詳しく説明する。
<Outline of the invention>
The inventor has analyzed the case where the unlock detection circuit 900 shown in FIG. 5 cannot detect that a phase difference has occurred between the reference signal REF and the input signal VCO (unlock state), and found the following cause. It was. In the unlock detection circuit 900, when the falling of the internal signal PD_RESET and the falling of the input reference signal REF or the input signal VCO occur continuously at a certain interval, the phase comparator 901 inputs the reference signal REF. The phase difference relationship with the signal VCO is not output correctly, and the unlocked state cannot be detected correctly.
Therefore, the inventor has designed a new unlock detector and has been able to accurately detect the phase difference. This will be described in detail below.

以下、本発明の一実施形態によるアンロック検出回路100を図面を参照して説明する。
図1は、本実施形態におけるアンロック検出回路100の構成とアンロック検出回路100に接続される回路を示す概略ブロック図である。また、アンロック検出回路100は、基準信号REFと入力信号VCOとが入力され、基準信号REFと入力信号VCOとに約2π以上の位相差が生じているか否かを検出し、検出した結果を示す信号ALMXをクロック同期回路104を介して出力する。また、アンロック検出回路100は、信号PDUと信号PDDとを出力する。信号PDUと信号PDDとは、それぞれの値の組み合わせにより入力信号VCOが基準信号REFに対して位相が進んでいるか或いは遅れているか示す。
Hereinafter, an unlock detection circuit 100 according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a schematic block diagram showing a configuration of an unlock detection circuit 100 and a circuit connected to the unlock detection circuit 100 in the present embodiment. Further, the unlock detection circuit 100 receives the reference signal REF and the input signal VCO, detects whether or not a phase difference of about 2π or more is generated between the reference signal REF and the input signal VCO, and the detected result is detected. The signal ALMX shown is output via the clock synchronization circuit 104. The unlock detection circuit 100 outputs a signal PDU and a signal PDD. The signal PDU and the signal PDD indicate whether the phase of the input signal VCO is advanced or delayed with respect to the reference signal REF depending on the combination of the values.

クロック同期回路104は、アンロック検出回路100から信号ALMXが入力され、外部よりリセット信号RSTとクロック信号CLKが入力され、クロック信号CLKに同期した信号UNLOCK_OUTを出力する。
なお、リセット信号RSTは、アンロック検出回路100が動作する前に外部よりHレベルのパルスが入力され、クロック同期回路104をリセットする。
The clock synchronization circuit 104 receives the signal ALMX from the unlock detection circuit 100, receives the reset signal RST and the clock signal CLK from the outside, and outputs a signal UNLOCK_OUT synchronized with the clock signal CLK.
The reset signal RST resets the clock synchronization circuit 104 by inputting an H level pulse from outside before the unlock detection circuit 100 operates.

アンロック検出回路100は、位相比較器101と、アンロック検出器102(第1アンロック検出器)と、アンロック検出器103(第2アンロック検出器)と、OR回路12、13とNOR回路14とを具備している。
位相比較器101は、フリップフロップ1(第1フリップフロップ)と、フリップフロップ2(第2フリップフロップ)と、遅延素子3と、NAND回路4とを備えている。フリップフロップ1は、クロック端子CKに基準信号REFが入力され、入力端子DにHレベル(論理値)の信号を示す電源電圧が入力され、基準信号REFの立ち下がりにおいて入力端子Dに入力された信号を記憶し、記憶した信号を示す信号PDUを出力端子Qから出力する。フリップフロップ2は、クロック端子CKに入力信号VCOが入力され、入力端子DにHレベルの信号を示す電源電圧が入力され、入力信号VCOの立ち下がりにおいて入力端子Dに入力された信号を記憶し、記憶した信号を示す信号PDDを出力端子Qから出力する。
The unlock detection circuit 100 includes a phase comparator 101, an unlock detector 102 (first unlock detector), an unlock detector 103 (second unlock detector), OR circuits 12, 13 and NOR. Circuit 14.
The phase comparator 101 includes a flip-flop 1 (first flip-flop), a flip-flop 2 (second flip-flop), a delay element 3, and a NAND circuit 4. In the flip-flop 1, the reference signal REF is input to the clock terminal CK, the power supply voltage indicating an H level (logic value) signal is input to the input terminal D, and is input to the input terminal D at the falling edge of the reference signal REF. The signal is stored, and a signal PDU indicating the stored signal is output from the output terminal Q. The flip-flop 2 receives the input signal VCO at the clock terminal CK, the power supply voltage indicating the H level signal at the input terminal D, and stores the signal input to the input terminal D at the falling edge of the input signal VCO. The signal PDD indicating the stored signal is output from the output terminal Q.

NAND回路4は、信号PDUと信号PDDとの否定論理積演算の結果を示す信号DLINを遅延素子3に出力する。遅延素子3は、入力される信号DLINを遅延させて信号PD_RESETとして出力する。
また、フリップフロップ1、2は、リセット端子Rに信号PD_RESETが入力され、信号PD_RESETがLレベルのとき、リセットされて出力がLレベルになる。
位相比較器101は、上述の構成により、入力信号VCOの位相が基準信号REFの位相より遅れている場合、信号PDUにその位相差に比例したパルス幅を有するパルスを出力し、入力信号VCOの位相が基準信号REFの位相より進んでいる場合、信号PDDにその位相差に比例した幅を有するパルスを出力する。
The NAND circuit 4 outputs a signal DLIN indicating the result of the NAND operation of the signal PDU and the signal PDD to the delay element 3. The delay element 3 delays the input signal DLIN and outputs it as a signal PD_RESET.
The flip-flops 1 and 2 are reset when the signal PD_RESET is input to the reset terminal R and the signal PD_RESET is at the L level, and the output becomes the L level.
When the phase of the input signal VCO is delayed with respect to the phase of the reference signal REF, the phase comparator 101 outputs a pulse having a pulse width proportional to the phase difference to the signal PDU. When the phase is ahead of the phase of the reference signal REF, a pulse having a width proportional to the phase difference is output to the signal PDD.

アンロック検出器102は、フリップフロップ5(第1フリップフロップ)と、フリップフロップ6(第6フリップフロップ)と、遅延素子7、8とを備えている。遅延素子7は、信号PDUを遅延させ、フリップフロップ5の入力端子Dに信号PDUAとして出力する。遅延素子8は、信号PDDを遅延させ、フリップフロップ6の入力端子Dに信号PDDAとして出力する。
フリップフロップ5は、クロック端子CKに基準信号REFが入力され、入力端子Dに信号PDUAが入力され、基準信号REFの立ち下がりにおいて入力端子Dに入力されている信号を記憶し、記憶した信号を示す信号QRを出力端子Qから出力する。
The unlock detector 102 includes a flip-flop 5 (first flip-flop), a flip-flop 6 (sixth flip-flop), and delay elements 7 and 8. The delay element 7 delays the signal PDU and outputs it to the input terminal D of the flip-flop 5 as the signal PDUA. The delay element 8 delays the signal PDD and outputs it as a signal PDDA to the input terminal D of the flip-flop 6.
The flip-flop 5 receives the reference signal REF at the clock terminal CK, the signal PDUA at the input terminal D, stores the signal input at the input terminal D at the falling edge of the reference signal REF, and stores the stored signal. The signal QR shown is output from the output terminal Q.

フリップフロップ6は、クロック端子CKに入力信号VCOが入力され、入力端子Dに信号PDDAが入力され、入力信号VCOの立ち下がりにおいて入力端子Dに入力されている信号を記憶し、記憶した信号を示す信号QSを出力端子Qから出力する。
信号QR及び信号QSは、Hレベルのときアンロック状態を検出したことを示し、Lレベルのときアンロック状態を検出していないことを示す。
The flip-flop 6 receives the input signal VCO at the clock terminal CK, the signal PDDA at the input terminal D, stores the signal input to the input terminal D at the falling edge of the input signal VCO, and stores the stored signal. The signal QS shown is output from the output terminal Q.
The signal QR and the signal QS indicate that the unlocked state is detected when the signal is at the H level, and indicate that the unlocked state is not detected when the signal is at the L level.

アンロック検出器103は、フリップフロップ10(第5フリップフロップ)と、フリップフロップ11(第6フリップフロップ)を備える。フリップフロップ10は、クロック端子CKに基準信号REFが入力され、入力端子Dに反転された信号PD_RESETが入力され、基準信号REFの立ち下がりにおいて入力端子Dに入力されている信号を記憶し、記憶した信号を示す信号QERを出力端子Qから出力する。   The unlock detector 103 includes a flip-flop 10 (fifth flip-flop) and a flip-flop 11 (sixth flip-flop). The flip-flop 10 receives the reference signal REF at the clock terminal CK, the inverted signal PD_RESET at the input terminal D, and stores the signal input to the input terminal D at the falling edge of the reference signal REF. A signal QER indicating the processed signal is output from the output terminal Q.

フリップフロップ11は、クロック端子CKに入力信号VCOが入力され、入力端子Dに反転された信号PD_RESETが入力され、入力信号VCOの立ち下がりにおいて入力端子Dに入力されている信号を記憶し、記憶した信号を示す信号QESを出力端子Qから出力する。
信号QER及び信号QESは、Hレベルのときアンロック状態を検出したことを示し、Lレベルのときアンロック状態を検出していないことを示す。
The flip-flop 11 receives the input signal VCO at the clock terminal CK, the inverted signal PD_RESET at the input terminal D, and stores the signal input to the input terminal D at the falling edge of the input signal VCO. A signal QES indicating the processed signal is output from the output terminal Q.
The signal QER and the signal QES indicate that the unlocked state is detected when the signal is at the H level, and indicate that the unlocked state is not detected when the signal is the L level.

OR回路12は、アンロック検出器103が出力する信号QERと信号QESとの論理和演算の結果を出力する。OR回路13は、アンロック検出器102が出力する信号QRと信号QSとの論理和演算の結果を出力する。NOR回路14は、OR回路12の出力と、OR回路13の出力との否定論理和演算の結果を示す信号ALMXを出力する。
信号ALMXは、Lレベルのときアンロック状態を検出したことを示し、Hレベルのときアンロック状態を検出していないことを示す。
The OR circuit 12 outputs a logical sum operation result of the signal QER and the signal QES output from the unlock detector 103. The OR circuit 13 outputs a result of a logical sum operation between the signal QR output from the unlock detector 102 and the signal QS. The NOR circuit 14 outputs a signal ALMX indicating the result of a negative OR operation between the output of the OR circuit 12 and the output of the OR circuit 13.
The signal ALMX indicates that the unlocked state is detected when it is at the L level, and indicates that the unlocked state is not detected when it is at the H level.

ここで、遅延素子3の遅延時間は、位相比較器101が基準信号REFと入力信号VCOが同位相でもPDU,PDDに必要十分な幅のパルスを出力する時間であり、シミュレーションやタイミング解析により予め定められた値である。
また、遅延素子3は、フリップフロップ10において、NAND回路4を介して入力されるフリップフロップ1が出力する信号と、基準信号REFとの間のレーシングを回避する役割もある。また、遅延素子3は、フリップフロップ11において、NAND回路4を介して入力されるフリップフロップ2が出力する信号と、入力信号VCOとの間のレーシングを回避する役割もある。
Here, the delay time of the delay element 3 is a time during which the phase comparator 101 outputs a pulse having a sufficient and sufficient width to the PDU and PDD even when the reference signal REF and the input signal VCO are in phase, and is previously calculated by simulation and timing analysis. It is a defined value.
Further, the delay element 3 also has a role of avoiding racing between the signal output from the flip-flop 1 input via the NAND circuit 4 and the reference signal REF in the flip-flop 10. Further, the delay element 3 also has a role of avoiding the racing between the signal output from the flip-flop 2 input via the NAND circuit 4 and the input signal VCO in the flip-flop 11.

また、遅延素子7は、フリップフロップ5において、フリップフロップ1から出力される信号PDUと、基準信号REFとのレーシングを回避するために設けられている。遅延素子7の遅延時間は、シミュレーション、タイミング解析などの結果から定められる。
また、遅延素子8は、フリップフロップ6において、フリップフロップ2から出力される信号PDDと、入力信号VCOとのレーシングを回避するために設けられている。遅延素子8の遅延時間は、遅延素子7と同様に、シミュレーション、タイミング解析などの結果から定められる。
The delay element 7 is provided in the flip-flop 5 in order to avoid racing between the signal PDU output from the flip-flop 1 and the reference signal REF. The delay time of the delay element 7 is determined from the results of simulation, timing analysis, and the like.
The delay element 8 is provided in the flip-flop 6 to avoid racing between the signal PDD output from the flip-flop 2 and the input signal VCO. Similarly to the delay element 7, the delay time of the delay element 8 is determined from the results of simulation, timing analysis, and the like.

図2は、本実施形態におけるクロック同期回路104の一構成例を示す回路図である。図示するようにクロック同期回路104は、フリップフロップ17、19、21と、NAND回路15と、NOT回路18と、NOR回路20、NOT回路31とを備えている。フリップフロップ17、19、21それぞれには、外部から入力されるクロック信号CLKがクロック端子CKに入力されている。
NAND回路15は、アンロック検出回路100が出力する信号ALMXと、NOT回路18の出力との否定論理積演算の結果をフリップフロップ17の入力端子Dに出力する。フリップフロップ17は、クロック信号CLKの立ち上がりにおいて、NAND回路15が出力する信号を記憶し、記憶した信号をNOT回路18に出力する。
FIG. 2 is a circuit diagram illustrating a configuration example of the clock synchronization circuit 104 according to the present embodiment. As illustrated, the clock synchronization circuit 104 includes flip-flops 17, 19, 21, a NAND circuit 15, a NOT circuit 18, a NOR circuit 20, and a NOT circuit 31. In each of the flip-flops 17, 19, and 21, a clock signal CLK input from the outside is input to the clock terminal CK.
The NAND circuit 15 outputs, to the input terminal D of the flip-flop 17, the result of the NAND operation of the signal ALMX output from the unlock detection circuit 100 and the output of the NOT circuit 18. The flip-flop 17 stores the signal output from the NAND circuit 15 at the rising edge of the clock signal CLK, and outputs the stored signal to the NOT circuit 18.

NOT回路18は、フリップフロップ17の出力する信号を反転し、反転した信号をフリップフロップ19の入力端子Dに出力する。フリップフロップ19は、クロック信号CLKの立ち上がりにおいて、NOT回路18が出力する信号を記憶し、記憶した信号をNOR回路20に出力する。
NOR回路20は、NOT回路18が出力する信号と、フリップフロップ19が出力する信号との否定論理和演算の結果を出力する。NOT回路31は、NOR回路20の出力する信号を反転し、反転した信号をフリップフロップ21の入力端子Dに出力する。フリップフロップ21は、クロック信号CLKの立ち上がりにおいて、NOT回路31が出力する信号を記憶し、記憶した信号を信号UNLOCK_OUTとして出力する。
The NOT circuit 18 inverts the signal output from the flip-flop 17 and outputs the inverted signal to the input terminal D of the flip-flop 19. The flip-flop 19 stores the signal output from the NOT circuit 18 at the rising edge of the clock signal CLK, and outputs the stored signal to the NOR circuit 20.
The NOR circuit 20 outputs a result of a negative OR operation between the signal output from the NOT circuit 18 and the signal output from the flip-flop 19. The NOT circuit 31 inverts the signal output from the NOR circuit 20 and outputs the inverted signal to the input terminal D of the flip-flop 21. The flip-flop 21 stores the signal output from the NOT circuit 31 at the rising edge of the clock signal CLK, and outputs the stored signal as the signal UNLOCK_OUT.

また、フリップフロップ17は、リセット端子Rに信号ALMXが入力され、信号ALMXがHレベルのときリセットされて出力する信号がLレベルになる。フリップフロップ19、21は、リセット端子Rにリセット信号RSTが入力され、リセット信号RSTがHレベルのときリセットされて出力する信号がLレベルになる。
クロック同期回路104は、上述の構成により、基準信号REF或いは入力信号VCOが変化するタイミングで出力される信号ALMXを、クロック信号CLKに同期させて信号UNLOCK_OUTとして出力する。
The flip-flop 17 is reset when the signal ALMX is input to the reset terminal R and the signal ALMX is at the H level, and the signal to be output becomes the L level. The flip-flops 19 and 21 are reset when the reset signal RST is input to the reset terminal R and the reset signal RST is at the H level, and the output signal becomes the L level.
With the above-described configuration, the clock synchronization circuit 104 outputs the signal ALMX output at the timing when the reference signal REF or the input signal VCO changes as the signal UNLOCK_OUT in synchronization with the clock signal CLK.

また、クロック同期回路104において、初段のフリップフロップ17とNAND回路15とにより信号ALMX検出回路を構成し、フリップフロップ17、19、21によりシフトレジスタを構成している。また、クロック同期回路104は、NOR回路20の反転した出力により、入力された信号ALMXのパルス幅を少なくともクロック信号CLKの2周期分のパルス幅に引き伸ばしてクロック信号CLKに同期させた信号UNLOCK_OUTを生成する。   In the clock synchronization circuit 104, the first-stage flip-flop 17 and the NAND circuit 15 constitute a signal ALMX detection circuit, and the flip-flops 17, 19, and 21 constitute a shift register. Further, the clock synchronization circuit 104 extends the pulse width of the input signal ALMX to at least two cycles of the clock signal CLK by the inverted output of the NOR circuit 20 and synchronizes the signal UNLOCK_OUT with the clock signal CLK. Generate.

以下、図3、図4のタイミングチャートを参照して、本実施形態におけるアンロック検出回路100の動作を説明する。ここでは、入力信号VCOの位相が基準信号REFの位相より進んでいる「進み位相」と、入力信号VCOの位相が基準信号REFの位相より遅れている「遅れ位相」との2つの場合に分けて説明する。   The operation of the unlock detection circuit 100 in this embodiment will be described below with reference to the timing charts of FIGS. Here, there are two cases: a “leading phase” in which the phase of the input signal VCO is ahead of the phase of the reference signal REF and a “lagging phase” in which the phase of the input signal VCO is behind the phase of the reference signal REF. I will explain.

<進み位相の検出>
図3は、本実施形態におけるアンロック検出回路100の一動作例を示すタイミングチャートである。なお、進み位相とは、入力信号VCOの周波数が基準信号REFの周波数より高い場合のことである。また、エッジE1〜E13は、入力信号VCOの立ち下がりエッジを示している。
入力信号VCOの立ち下がりから基準信号REFの立ち下がりまでの時間、即ち、位相差をφとし、入力信号VCOの周期をTとし、遅延素子3の遅延時間とtとし、遅延素子8の遅延時間とtとする。更に以下の4つの場合に分けて説明する。
[1]φ≧T−t
[2]T−t>φ≧T−t−t
[3]T−t−t>φ≧T−2t
[4]T−2t>φ
<Lead phase detection>
FIG. 3 is a timing chart illustrating an operation example of the unlock detection circuit 100 according to the present embodiment. The lead phase is a case where the frequency of the input signal VCO is higher than the frequency of the reference signal REF. Edges E1 to E13 indicate falling edges of the input signal VCO.
Time from the fall of the input signal VCO to the fall of the reference signal REF, namely, the phase difference as a phi, the period of the input signal VCO and T V, the delay time t of the delay element 3, the delay of the delay elements 8 and time and t D. Further, the following four cases will be described separately.
[1] φ ≧ T V −t
[2] T V −t> φ ≧ T V −t−t D
[3] T V −t T D > φ ≧ T V −2t
[4] T V -2t> φ

[1]φ≧T−tの場合(例えば、図3において立ち下がりエッジE3、E6の場合)
アンロック検出器102において、フリップフロップ6は、入力信号VCOの立ち下がりにおいて、Hレベルの信号PDDAが入力されて、Hレベルの信号QSを出力する。一方、アンロック検出器103において、フリップフロップ11は、入力信号VCOの立ち下がりにおいて、位相比較器101から出力されたHレベルの信号PD_RESETが入力されて、Lレベルの信号QESを出力する。
その結果、アンロック検出回路100は、NOR回路14からアンロック状態を示すLレベルの信号ALMXを出力する。
[1] When φ ≧ T V −t (for example, when falling edges E3 and E6 in FIG. 3)
In the unlock detector 102, the flip-flop 6 receives the H level signal PDDA and outputs the H level signal QS at the falling edge of the input signal VCO. On the other hand, in the unlock detector 103, the flip-flop 11 receives the H level signal PD_RESET output from the phase comparator 101 at the falling edge of the input signal VCO, and outputs the L level signal QES.
As a result, the unlock detection circuit 100 outputs an L level signal ALMX indicating the unlock state from the NOR circuit 14.

[2]T−t>φ≧T−t−tの場合(例えば、図3において、立ち下がりエッジE9の場合)
アンロック検出器102において、フリップフロップ6は、入力信号VCOの立ち下がりにおいて、Hレベルの信号PDDAが入力されて、Hレベルの信号QSを出力する。一方、アンロック検出器103において、フリップフロップ11は、入力信号VCOの立ち下がりにおいて、Lレベルの信号PD_RESETが入力されて、Hレベルの信号QESを出力する。
その結果、アンロック検出回路100は、NOR回路14からアンロック状態を示すLレベルの信号ALMXを出力する。
[2] When T V −t> φ ≧ T V −t−T D (for example, in the case of the falling edge E9 in FIG. 3)
In the unlock detector 102, the flip-flop 6 receives the H level signal PDDA and outputs the H level signal QS at the falling edge of the input signal VCO. On the other hand, in the unlock detector 103, the flip-flop 11 receives the L level signal PD_RESET at the falling edge of the input signal VCO and outputs the H level signal QES.
As a result, the unlock detection circuit 100 outputs an L level signal ALMX indicating the unlock state from the NOR circuit 14.

[3]T−t−t>φ≧T−2tの場合(例えば、図3において立ち下がりエッジE12の場合)
アンロック検出器102において、フリップフロップ6は、入力信号VCOの立ち下がりにおいて、Lレベルの信号PDDAが入力されて、Lレベルの信号QSを出力する。一方、アンロック検出器103において、フリップフロップ11は、入力信号VCOの立ち下がりにおいて、Lレベルの信号PD_RESETが入力されて、Hレベルの信号QESを出力する。
その結果、アンロック検出回路100は、NOR回路14からアンロック状態を示すLレベルの信号ALMXを出力する。
[3] In the case of T V −t D > φ ≧ T V −2t (for example, in the case of the falling edge E12 in FIG. 3)
In the unlock detector 102, the flip-flop 6 receives the L level signal PDDA and outputs the L level signal QS at the falling edge of the input signal VCO. On the other hand, in the unlock detector 103, the flip-flop 11 receives the L level signal PD_RESET at the falling edge of the input signal VCO, and outputs the H level signal QES.
As a result, the unlock detection circuit 100 outputs an L level signal ALMX indicating the unlock state from the NOR circuit 14.

[4]T−2t>φの場合(例えば、図3において立ち下がりエッジE5の場合)
アンロック検出器102において、フリップフロップ6は、入力信号VCOの立ち下がりにおいて、Lレベルの信号PDDAが入力されて、Lレベルの信号QSを出力する。一方、アンロック検出器103において、フリップフロップ11は、入力信号VCOの立ち下がりにおいて、Hレベルの信号PD_RESETが入力されて、Lレベルの信号QESを出力する。
その結果、アンロック検出回路100は、NOR回路14からアンロック状態を示さないHレベルの信号ALMXを出力する。
[4] When T V -2t> φ (for example, in the case of the falling edge E5 in FIG. 3)
In the unlock detector 102, the flip-flop 6 receives the L level signal PDDA and outputs the L level signal QS at the falling edge of the input signal VCO. On the other hand, in the unlock detector 103, the flip-flop 11 receives the H level signal PD_RESET at the falling edge of the input signal VCO and outputs the L level signal QES.
As a result, the unlock detection circuit 100 outputs an H level signal ALMX that does not indicate the unlock state from the NOR circuit 14.

以上のように、アンロック検出回路100は、入力信号VCOと基準信号REFとの相対的な位相差φがφ≧T−2tを満たす場合、アンロック検出器102或いはアンロック検出器103の少なくとも一方がアンロック状態を検出することができるので、アンロック検出器102、103の出力の論理和演算結果を出力することにより、検出したアンロック状態をクロック同期回路104に出力することができる。 As described above, when the relative phase difference φ between the input signal VCO and the reference signal REF satisfies φ ≧ T V −2t, the unlock detection circuit 100 determines whether the unlock detector 102 or the unlock detector 103 Since at least one of the unlock states can be detected, the detected unlock state can be output to the clock synchronization circuit 104 by outputting the logical sum operation result of the outputs of the unlock detectors 102 and 103. .

<遅れ位相の検出>
図4は、本実施形態におけるアンロック検出回路100の一動作例を示すタイミングチャートである。なお、遅れ位相とは、入力信号VCOの周波数が基準信号REFの周波数より低い場合のことである。また、エッジE21〜32は、参照信号REFの立ち下がりエッジを示している。
ここで、基準信号REFの立ち下がりから入力信号VCOの立ち下がりまでの時間、即ち、位相差をφとし、基準信号REFの周期をTとし、遅延素子3の遅延時間をtとし、遅延素子7の遅延時間をtとする。更に以下の4つの場合に分けて説明する。
[5]φ≧T−t
[6]T−t>φ≧T−t−t
[7]T−t−t>φ≧T−2t
[8]T−2t>φ
<Detection of delayed phase>
FIG. 4 is a timing chart showing an operation example of the unlock detection circuit 100 in the present embodiment. Note that the delayed phase is a case where the frequency of the input signal VCO is lower than the frequency of the reference signal REF. Edges E21 to E32 indicate falling edges of the reference signal REF.
Here, the time from the fall of the reference signal REF and the fall of the input signal VCO, i.e., a phase difference phi, the period of the reference signal REF and T R, the delay time of the delay element 3 and t, the delay element 7 delay time of the t D. Further, the following four cases will be described separately.
[5] φ ≧ T R −t
[6] T R −t> φ ≧ T R −t−t D
[7] T R −t−T D > φ ≧ T R −2t
[8] T R -2t> φ

[5]φ≧T−tの場合(例えば、図4において立ち下がりエッジE23、E26の場合)
アンロック検出器102において、フリップフロップ5は、基準信号REFの立ち下がりエッジにおいて、Hレベルの信号PDUAを記憶してHレベルの信号QRを出力する。一方、アンロック検出器103において、フリップフロップ10は、基準信号REFの立ち下がりエッジにおいて、Hレベルの信号PD_RESETが入力されてLレベルの信号QERを出力する。
その結果、アンロック検出回路100は、NOR回路14からアンロック状態を示すLレベルの信号ALMXを出力する。
[5] When φ ≧ T R −t (for example, when falling edges E23 and E26 in FIG. 4)
In the unlock detector 102, the flip-flop 5 stores the H level signal PDUA and outputs the H level signal QR at the falling edge of the reference signal REF. On the other hand, in the unlock detector 103, the flip-flop 10 receives the H level signal PD_RESET and outputs the L level signal QER at the falling edge of the reference signal REF.
As a result, the unlock detection circuit 100 outputs an L level signal ALMX indicating the unlock state from the NOR circuit 14.

[6]T−t>φ≧T−t−tの場合(例えば、図4において立ち下がりエッジE29の場合)
アンロック検出器102において、フリップフロップ5は、基準信号REFの立ち下がりエッジにおいて、Hレベルの信号PDUAを記憶してHレベルの信号QRを出力する。一方、アンロック検出器103において、フリップフロップ10は、基準信号REFの立ち下がりエッジにおいて、Lレベルの信号PD_RESETが入力されてHレベルの信号QERを出力する。
その結果、アンロック検出回路100は、NOR回路14からアンロック状態を示すLレベルの信号ALMXを出力する。
[6] In the case of T R −t> φ ≧ T R −t D (for example, in the case of the falling edge E29 in FIG. 4)
In the unlock detector 102, the flip-flop 5 stores the H level signal PDUA and outputs the H level signal QR at the falling edge of the reference signal REF. On the other hand, in the unlock detector 103, the flip-flop 10 receives the L level signal PD_RESET at the falling edge of the reference signal REF and outputs the H level signal QER.
As a result, the unlock detection circuit 100 outputs an L level signal ALMX indicating the unlock state from the NOR circuit 14.

[7]T−t−t>φ≧T−2tの場合(例えば、図4において立ち下がりエッジ32の場合)
アンロック検出器102において、フリップフロップ5は、基準信号REFの立ち下がりエッジにおいて、Lレベルの信号PDUAを記憶してLレベルの信号QRを出力する。一方、アンロック検出器103において、フリップフロップ10は、基準信号REFの立ち下がりエッジにおいて、Lレベルの信号PD_RESETが入力されてHレベルの信号QERを出力する。
その結果、アンロック検出回路100は、NOR回路14からアンロック状態を示すLレベルの信号ALMXを出力する。
[7] In the case of T R −t D t> φ ≧ T R −2t (for example, in the case of the falling edge 32 in FIG. 4)
In the unlock detector 102, the flip-flop 5 stores the L level signal PDUA and outputs the L level signal QR at the falling edge of the reference signal REF. On the other hand, in the unlock detector 103, the flip-flop 10 receives the L level signal PD_RESET at the falling edge of the reference signal REF and outputs the H level signal QER.
As a result, the unlock detection circuit 100 outputs an L level signal ALMX indicating the unlock state from the NOR circuit 14.

[8]T−2t>φの場合(例えば、図4において立ち下がりエッジE25の場合)
アンロック検出器102において、フリップフロップ5は、基準信号REFの立ち下がりエッジにおいて、Lレベルの信号PDUAを記憶してLレベルの信号QRを出力する。一方、アンロック検出器103において、フリップフロップ10は、基準信号REFの立ち下がりエッジにおいて、Hレベルの信号PD_RESETが入力されてLレベルの信号QERを出力する。
その結果、アンロック検出回路100は、NOR回路14からアンロック状態を示さないHレベルの信号ALMXを出力する。
[8] When T R −2t> φ (for example, falling edge E25 in FIG. 4)
In the unlock detector 102, the flip-flop 5 stores the L level signal PDUA and outputs the L level signal QR at the falling edge of the reference signal REF. On the other hand, in the unlock detector 103, the flip-flop 10 receives the H level signal PD_RESET and outputs the L level signal QER at the falling edge of the reference signal REF.
As a result, the unlock detection circuit 100 outputs an H level signal ALMX that does not indicate the unlock state from the NOR circuit 14.

以上のように、アンロック検出回路100は、入力信号VCOと基準信号REFとの相対的な位相差φがφ≧T−2tを満たす場合、アンロック検出器102或いはアンロック検出器103の少なくとも一方がアンロック状態を検出することができるので、アンロック検出器102、103の出力の論理和演算結果を出力することにより、検出したアンロック状態をクロック同期回路104に出力することができる。 As described above, when the relative phase difference φ between the input signal VCO and the reference signal REF satisfies φ ≧ T R −2t, the unlock detection circuit 100 determines whether the unlock detector 102 or the unlock detector 103 Since at least one of the unlock states can be detected, the detected unlock state can be output to the clock synchronization circuit 104 by outputting the logical sum operation result of the outputs of the unlock detectors 102 and 103. .

また、入力信号VCO或いは基準信号REFの立ち下がりにおいて信号PD_RESETがLレベルの場合のアンロック検出は、図5に示したアンロック検出回路900では正確に行えずPLL回路が不安定になる原因となっていた。
本実施形態のアンロック検出回路100は、アンロック検出器103を具備したことにより、入力信号VCO或いは基準信号REFの立ち下がりにおいて信号PD_RESETがLレベルの場合のアンロック検出を正確に行うことができる。
Further, the unlock detection when the signal PD_RESET is at the L level at the falling edge of the input signal VCO or the reference signal REF cannot be accurately performed by the unlock detection circuit 900 shown in FIG. 5, and the PLL circuit becomes unstable. It was.
The unlock detection circuit 100 according to the present embodiment includes the unlock detector 103, so that the unlock detection can be accurately performed when the signal PD_RESET is at the L level at the falling edge of the input signal VCO or the reference signal REF. it can.

また、アンロック検出回路100は、入力信号VCOと基準信号REFとの相対的な位相差φに基づいてアンロック状態の検出を行っているので、入力信号VCOと基準信号REFとそれぞれの周波数に関わらず広帯域に亘って動作することができる。   Further, since the unlock detection circuit 100 detects the unlock state based on the relative phase difference φ between the input signal VCO and the reference signal REF, the unlock detection circuit 100 detects the frequency of the input signal VCO and the reference signal REF. Regardless, it can operate over a wide band.

なお、本発明は、以上述べた実施形態に限定されない。例えば、位相比較器101の構成において、フリップフロップの構成を図6に示したようにNAND回路の組合せで置き換えても良い。   The present invention is not limited to the embodiment described above. For example, in the configuration of the phase comparator 101, the configuration of the flip-flop may be replaced with a combination of NAND circuits as shown in FIG.

1、2、5、6、10、11、17、19、21…フリップフロップ
3、7、8、97、119…遅延素子
4、15…NAND回路
12、13…OR回路
14…NOR回路
18、30、31、98…NOT回路
20…NOR回路
100…アンロック検出回路
101…位相比較器
102、103…アンロック検出器
104…クロック同期回路
110、111、112、113、114、115、116、117、118…NAND回路
91、92、95、96…フリップフロップ
93…OR回路
94…AND回路
900…アンロック検出回路
901…位相比較器
902…アンロック検出器
1, 2, 5, 6, 10, 11, 17, 19, 21 ... flip-flops 3, 7, 8, 97, 119 ... delay elements 4, 15 ... NAND circuit 12, 13 ... OR circuit 14 ... NOR circuit 18, 30, 31, 98 ... NOT circuit 20 ... NOR circuit 100 ... Unlock detection circuit 101 ... Phase comparator 102, 103 ... Unlock detector 104 ... Clock synchronization circuit 110, 111, 112, 113, 114, 115, 116, 117, 118 ... NAND circuit 91, 92, 95, 96 ... flip-flop 93 ... OR circuit 94 ... AND circuit 900 ... unlock detection circuit 901 ... phase comparator 902 ... unlock detector

Claims (4)

論理値を基準信号の変化に応じて記憶する第1フリップフロップと、論理値を入力信号の変化に応じて記憶する第2フリップフロップと、当該第1及び第2フリップフロップの出力の否定論理積を算出するNAND回路とを備えた位相比較器と、
前記第1フリップフロップの出力を前記基準信号の変化に応じて記憶する第3フリップフロップと、前記第2フリップフロップの出力を前記入力信号の変化に応じて記憶する第4フリップフロップとを備えた第1アンロック検出器と、
前記NAND回路の出力を前記基準信号の変化に応じて記憶する第5フリップフロップと、前記NAND回路の出力を前記入力信号の変化に応じて記憶する第6フリップフロップとを備える第2アンロック検出器と、
前記第3、第4、第5及び第6フリップフロップの出力の論理和を算出するOR回路とを具備し、
前記NAND回路の出力に応じて前記第1及び第2フリップフロップがリセットされる
ことを特徴とするアンロック検出回路。
A first flip-flop that stores a logical value according to a change in the reference signal, a second flip-flop that stores a logical value according to a change in the input signal, and a negative logical product of the outputs of the first and second flip-flops A phase comparator comprising a NAND circuit for calculating
A third flip-flop for storing the output of the first flip-flop according to a change in the reference signal; and a fourth flip-flop for storing the output of the second flip-flop according to a change in the input signal. A first unlock detector;
Second unlock detection comprising: a fifth flip-flop for storing the output of the NAND circuit according to a change in the reference signal; and a sixth flip-flop for storing the output of the NAND circuit according to a change in the input signal. And
An OR circuit for calculating a logical sum of the outputs of the third, fourth, fifth and sixth flip-flops,
An unlock detection circuit, wherein the first and second flip-flops are reset in accordance with an output of the NAND circuit.
前記第1、第3及び第5フリップフロップは、前記基準信号の立ち下がりにおいて信号を記憶し、
前記第2、第4及び第6フリップフロップは、前記入力信号の立ち下がりにおいて信号を記憶する
ことを特徴とする請求項1に記載のアンロック検出回路。
The first, third and fifth flip-flops store signals at the falling edge of the reference signal;
The unlock detection circuit according to claim 1, wherein the second, fourth, and sixth flip-flops store a signal at a falling edge of the input signal.
前記第1フリップフロップと、前記第3フリップフロップとの間に第1遅延素子が設けられ、
前記第2フリップフロップと、前記第3フリップフロップとの間に第2遅延素子が設けられた
ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のアンロック検出回路。
A first delay element is provided between the first flip-flop and the third flip-flop;
The unlock detection circuit according to claim 1, wherein a second delay element is provided between the second flip-flop and the third flip-flop.
前記第5フリップフロップ及び前記第6フリップフロップと、前記NAND回路との間に第3遅延素子が設けられたA third delay element is provided between the fifth and sixth flip-flops and the NAND circuit.
ことを特徴する請求項1から請求項3のいずれか1項に記載のアンロック検出回路。The unlock detection circuit according to any one of claims 1 to 3, wherein the unlock detection circuit is provided.
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