JP5455769B2 - Electropolishing equipment - Google Patents
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Description
本発明は電解研磨装置に関し、被測定部材(被研磨部材)を効率的に研磨することができるように工夫したものである。 The present invention relates to an electrolytic polishing apparatus, which is devised so that a member to be measured (member to be polished) can be efficiently polished.
金属部品に加工や溶接をすることにより発生する残留応力は、割れ等の原因となることがある。また、残留応力は圧縮応力となると、疲労破壊を抑制したり対摩耗性を向上させたりするので、機械部品によっては積極的に付与することもある。 Residual stress generated by processing or welding a metal part may cause cracking or the like. Further, when the residual stress becomes a compressive stress, fatigue fracture is suppressed or wear resistance is improved, so that it may be positively applied depending on mechanical parts.
このような残留応力の大きさや深さを非破壊で検査する方法として、X線応力測定方法がある。
X線応力測定方法とは、被測定部材に応力が作用すると結晶に弾性変形が生じて結晶格子面の間隔の収縮(圧縮応力の場合)や膨張(引っ張り応力の場合)となって現れるため、X線回折を利用して格子面間隔を測定することにより、残留応力を測定する方法である。
As a method for inspecting the magnitude and depth of such residual stress in a nondestructive manner, there is an X-ray stress measurement method.
The X-ray stress measurement method means that when a stress acts on the member to be measured, the crystal is elastically deformed and appears as contraction (in the case of compressive stress) or expansion (in the case of tensile stress) of the crystal lattice plane interval. This is a method of measuring residual stress by measuring the lattice spacing using X-ray diffraction.
上記のX線応力測定方法を実施する際には、被測定部材の表面が平滑であることが必要である。また、深さ方向の各部分での残留応力を測定するために、被測定部材を測定深さまで研磨して、その深さ位置でX線応力測定をする必要がある。 When carrying out the above X-ray stress measurement method, the surface of the member to be measured needs to be smooth. Further, in order to measure the residual stress in each part in the depth direction, it is necessary to polish the member to be measured to the measurement depth and perform X-ray stress measurement at the depth position.
ここで、X線応力測定のために、被測定部材の表面を平滑にしたり、所定深さまで研磨したりする従来の手法を図3、図4を参照して説明する。 Here, a conventional method of smoothing the surface of the member to be measured or polishing to a predetermined depth for measuring the X-ray stress will be described with reference to FIGS.
図3及び図4に示すように、金属から成る被測定部材(被研磨部材)1の表面に、ガムテープ等で形成した底面が平面となっている皿状のマスキング部材2を貼付する。マスキング部材2の底面には、例えば直径が8〜10mmの孔2aを形成しており、この孔2aの部分において、被測定部材1の表面が露出するようになっている。
As shown in FIGS. 3 and 4, a dish-
このようなマスキング部材2の内部に、電解液3を入れるとともに、直流電源4により、被測定部材1に正電圧(+電圧)を印加し、ピンセット5に負電圧(−電圧)を印加する。
電解液3としては、例えば塩化アンモニウム過飽和水溶液や、塩酸とアルコールとの混合液を採用している。
The electrolytic solution 3 is placed inside the
As the electrolytic solution 3, for example, an ammonium chloride supersaturated aqueous solution or a mixed solution of hydrochloric acid and alcohol is employed.
作業者はゴム手袋をして、ピンセット5で綿6を把持し、ピンセット5を電解液3中に浸漬しつつ、孔2aから露出した被測定部材1の表面を綿6で擦る。
このように、ピンセット5を電解液3中に浸漬することにより通電がされて、孔2aから露出した被測定部材1の電解研磨が行われる。また、孔2aから露出した被測定部材1の表面を綿6で擦ることにより、電解研磨に伴い発生する不導体膜を除去することができ、継続した電圧印加を確保して電解研磨を促進している。
The operator wears rubber gloves, grips the cotton 6 with the
In this way, the
上記の作業により被測定部材(被研磨部材)1のうち、孔2aから露出する部分の表面が電解研磨されたら、電解液3をマスキング部材2から排出し、更にマスキング部材2を被測定部材1から取り外し、被測定部材1の表面を洗浄してから、被測定部材1の表面のうち電解研磨した部分に対してX線応力測定をする。
When the surface of the portion exposed from the
その後、再び図3及び図4のような状態をセッティングして、被測定部材1の表面のうち、前回において電解研磨をした部分に、今回の新たなマスキング部材2の孔2aを位置合わせして、前回と同様にして、同じ部分を電解研磨して所定深さ(例えば100μm、または、0.25mm)まで深くする。
被測定部材1のうち孔2aから露出した部分が、電解研磨により深くなり、別の装置により計測した深さが所定深さになったら、電解液3をマスキング部材2から排出し、更にマスキング部材2を被測定部材1から取り外し、被測定部材1の表面を洗浄してから、被測定部材1の表面のうち電解研磨した部分に対してX線応力測定をする。
Thereafter, the state as shown in FIGS. 3 and 4 is set again, and the
When the portion of the member to be measured 1 exposed from the
その後、同様な操作を繰り返し、深さ方向の異なる複数の深さ位置において、X線応力測定をする。 Thereafter, the same operation is repeated, and X-ray stress measurement is performed at a plurality of depth positions having different depth directions.
ところで図3,図4に示す従来技術では、人間の手でピンセット5を握り、ピンセット5の先に把持した綿6で被測定部材1の表面を擦っているため、面倒で疲労の大きな作業になっていた。
By the way, in the prior art shown in FIGS. 3 and 4, since the
また研磨量は、電流値と通電時間によって推定しているが、ピンセット5を作業者が握って作業しているため、通電量が一定化しなかったり、不導体膜の除去が一定または均一でなかったりすることがあり、推定した通りに研磨量が得られなかったり、研磨面が平坦にならないことがある。この場合には、所定の深さまで研磨するのに、図3,図4に示すセッティング状態を複数回行う必要があることもあった。
The polishing amount is estimated based on the current value and the energization time. However, since the operator holds the
更に、上記の電解研磨をするには、直流電源4が設置されている試験室に、被測定部材1を搬入してきて試験を行わなければならず、簡易に電解研磨を行うことはできなかった。 Furthermore, in order to perform the above-described electrolytic polishing, the member to be measured 1 must be carried into the test chamber in which the DC power supply 4 is installed and the test must be performed, and the electrolytic polishing cannot be easily performed. .
本発明は、上記従来技術に鑑み、人間による作業を極力省き、効率的な研磨(研磨時間の短縮、研磨面の平滑化)を可能とする電解研磨装置を提供することを目的とする。 An object of the present invention is to provide an electropolishing apparatus that eliminates human work as much as possible and enables efficient polishing (reduction of polishing time and smoothing of a polished surface).
上記課題を解決する本発明の構成は、
一方の開口端縁にシール材が施されており、前記シール材が被研磨部材の表面に接する状態で前記被研磨部材の表面に配置されると共に、内部空間に電解液が注入される筒型容器と、
前記筒型容器の内部に配置されて、前記被研磨部材の表面を擦る摺動部材と、
前記筒型容器に設置されると共に、前記摺動部材を摺動させる摺動手段と、
を有し、
前記摺動手段は、モータと、モータの回転力を前記摺動部材に伝達する回転軸とで構成され、
前記回転軸には、前記電解液を攪拌する攪拌部材が取り付けられていることを特徴とする。
この場合において、
前記被研磨部材に正電圧を印加すると共に、前記電解液に負電圧を印加する直流電源を更に備えていることを特徴とする。
The configuration of the present invention for solving the above problems is as follows.
A cylindrical shape in which a sealing material is applied to one opening edge, the sealing material is disposed on the surface of the member to be polished in contact with the surface of the member to be polished, and an electrolyte is injected into the internal space A container,
A sliding member disposed inside the cylindrical container and rubbing the surface of the member to be polished;
A sliding means installed in the cylindrical container and sliding the sliding member;
I have a,
The sliding means includes a motor and a rotating shaft that transmits the rotational force of the motor to the sliding member,
A stirring member for stirring the electrolytic solution is attached to the rotating shaft .
And have you in this case,
The apparatus further comprises a direct current power source for applying a positive voltage to the member to be polished and applying a negative voltage to the electrolytic solution.
本発明によれば、摺動部材により被測定部材(被研磨部材)の表面を摺動部材により擦っているため、研磨面の不導体膜が除去され、安定した給電が可能となり、効率的な研磨(研磨時間の短縮、研磨面の平滑化)が可能となり、また、作業者の負担が軽減できる。 According to the present invention, since the surface of the member to be measured (the member to be polished) is rubbed by the sliding member by the sliding member, the non-conductive film on the polishing surface is removed, stable power feeding is possible, and efficient Polishing (shortening the polishing time and smoothing the polishing surface) is possible, and the burden on the operator can be reduced.
以下、本発明の実施の形態について、実施例に基づき詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail based on examples.
図1は本発明の実施例1に係る電解研磨装置10を示す。この電解研磨装置10は、金属から成る被測定部材(被研磨部材)1の電解研磨領域1aを電解研磨する装置である。
FIG. 1 shows an
電解研磨装置10の円筒型容器11は、被測定部材1の表面に立てた状態で配置されるものであり、円筒型容器11の一方の開口端縁(図1では下側の開口端縁)には、シール材12が配置されている。
シール材12としては、ゴム材や油粘土等を使用することができ、このシール材12を備えているため、被測定部材1の表面が平面でない場合であっても、シール材12が被測定部材1の表面に密着状態で接するため、後述する電解液の漏れを防ぐことができる。
The
As the sealing
円筒型容器11の他方の端面(図1では上側端面)には、蓋材13が配置され、この蓋材13の上には、モータ14が配置されている。回転軸15は蓋材13を貫通して、モータ14のモータ軸に連結されている。回転軸15の下端には、スポンジや耐熱綿などの摺動部材16が取り付けられている。
このため、摺動部材16は、円筒型容器11の内部に配置されることとなり、モータ14の回転が回転軸15を介して伝達されてくることにより、摺動部材16が回転して被測定部材1の表面のうち円筒型容器11の内部に露出した部分(電解研磨領域1aの表面)を擦る。
なお、摺動部材15としては、摺動して被測定部材(被研磨部材)1を擦ってもその表面に傷をつけることがない程度に軟らかく、しかも後述する電解液を含浸する材質のものを採用している。
A
For this reason, the sliding
The sliding
更に、回転軸15には、プロペラ状またはスクリュー状の攪拌部材17が取り付けられている。
電解研磨をするときには、円筒型容器11の内部に電解液18を注入する。電解液18としては、例えば塩化アンモニウム過飽和水溶液や、塩酸とアルコールとの混合液を用いる。
Further, a propeller-like or screw-like stirring
When electrolytic polishing is performed, an
直流電源19は、被測定部材1に正電圧(+電圧)を印加し、電解液18に負電圧(−電圧)を印加する。
The
電解研磨を行うときには、モータ14により、摺動部材16を回転させて電解研磨領域1aの表面を擦って不導体膜を連続的且つ効果的に除去し、電圧印加をして通電することにより電解研磨領域1aの表面を電解研磨する。また、攪拌部材17により電解液18を攪拌してその濃度の均一化を図っている。
電解研磨量は電流値と研磨時間(電流通電時間)により推定することができる。このとき、
(1)摺動部材16を回転させて電解研磨領域1aの表面を擦って不導体膜を連続的且つ効果的に除去していること、
(2)攪拌部材17により、電解液18を攪拌してその濃度を均一化していること、
により、上記推定による電解研磨量はより正確なものとなる。しかも、電解液18が電解研磨領域1aの表面にムラなく接触するため、研磨面は平坦になる(深さが一定になる)。
When performing electropolishing, the
The amount of electrolytic polishing can be estimated from the current value and the polishing time (current conduction time). At this time,
(1) The sliding
(2) The
Thus, the amount of electropolishing by the above estimation becomes more accurate. Moreover, since the
このように電解研磨領域1aに発生する不導体膜の除去が確実に行われるため、安定した給電が可能となり、効率的な研磨、即ち、研磨時間の短縮や研磨面の平滑化を図ることが可能となる。
また研磨を自動的に行うことができ、作業者の疲労が軽減される。
Thus, since the non-conductive film generated in the
In addition, polishing can be performed automatically, and operator fatigue is reduced.
上記の作業により被測定部材1の電解研磨領域1aの表面が電解研磨されたら、電解液18を円筒型容器11の内部から排出し、更に円筒型容器11を含む電解研磨装置10を被測定部材1から取り外し、被測定部材1の表面を洗浄してから、電解研磨された電解研磨領域1aの表面に対してX線応力測定をする。
When the surface of the
上記のX線応力測定をした後、再び図1のような状態をセッティングして、被測定部材1の電解液研磨領域1aを、円筒型容器11の内部に臨ませ、前回と同様にして、同じ部分を電解研磨して所定深さ(例えば100μm、または、0.25mm)まで深くする。
被測定部材1の電解研磨領域1aが、電解研磨により深くなり、所定深さになったら、電解液18を円筒型容器11の内部から排出し、更に円筒型容器11を含む電解研磨装置10を被測定部材1から取り外し、被測定部材1の表面を洗浄してから、電解研磨された電解研磨領域1aの表面に対してX線応力測定をする。
その後、同様な操作を繰り返し、深さ方向の異なる複数の深さ位置において、X線応力測定をする。
このようにして、深さ方向の各位置において、X線応力測定をすることができる。
After the above X-ray stress measurement, the state as shown in FIG. 1 is set again, and the electrolytic
When the
Thereafter, the same operation is repeated, and X-ray stress measurement is performed at a plurality of depth positions having different depth directions.
In this way, X-ray stress measurement can be performed at each position in the depth direction.
しかも、ポータブルタイプの電解研磨装置10を、被測定部材1が存在する所に持っていって、その現場において電解研磨及びX線応力測定をすることも可能となる。
In addition, the portable
本実施例1において、被測定部材(被研磨部材)1をSUS316ブロック材とし、円筒型容器11の内部の直径を8mmとし、印加電圧を10Vとし、電解液18を塩化アンモニウム過飽和水溶液とし、研磨時間を2分として、実証的に動作したときの研磨状態は次の通りであった。
深さ方向の電解研磨量は2.53mm。
研磨面の表面粗さは、算術平均粗さRaが0.68[μm]、最大高さ粗さRzが3.8[μm]であった。
In this Example 1, the member to be measured (member to be polished) 1 is a SUS316 block material, the inside diameter of the
The amount of electropolishing in the depth direction is 2.53 mm.
The surface roughness of the polished surface was an arithmetic average roughness Ra of 0.68 [μm] and a maximum height roughness Rz of 3.8 [μm].
ちなみに、摺動部材16により擦ることなく、電解液18を攪拌するだけとし、他の条件を上記例と同様にして、実証的に動作した場合における研磨状態は、次の通りであった。
深さ方向の電解研磨量は0.06mm。
研磨面の表面粗さは、算術平均粗さRaが0.94[μm]、最大高さ粗さRzが5.3[μm]であった。
Incidentally, the polishing state when the
The depth of electropolishing in the depth direction is 0.06 mm.
As for the surface roughness of the polished surface, the arithmetic average roughness Ra was 0.94 [μm], and the maximum height roughness Rz was 5.3 [μm].
更に、摺動部材16により擦ることなく、しかも電解液18を攪拌せず、他の条件を上記例と同様にして、実証的に動作した場合における研磨状態は、次の通りであった。
深さ方向の電解研磨量は0.03mm。
研磨面の表面粗さは、算術平均粗さRaが1.39[μm]、最大高さ粗さRzが7.0[μm]であった。
Further, the polishing state in the case of empirically operating without rubbing by the sliding
The amount of electropolishing in the depth direction is 0.03 mm.
The surface roughness of the polished surface was an arithmetic average roughness Ra of 1.39 [μm] and a maximum height roughness Rz of 7.0 [μm].
上記の実証的な動作状態から分かるように、本実施例1では、摺動部材16により電解研磨領域1aの表面を擦ると共に攪拌部材17により電解液18を攪拌することにより、不導体膜が効果的に除去されて給電が安定すると共に電解液18の濃度が均一化し、大きな研磨量が得られることが分かる。また表面粗さも最も小さいことが分かる。
As can be seen from the above-described empirical operating state, in Example 1, the nonconductive film is effective by rubbing the surface of the
なお上記例では、モータ14により摺動部材16を回転させるようにしているが、他の機械機構を採用して、摺動部材16を往復移動させるようにすることも可能である。
また、電解液貯溜用のタンクや、電解液を給排する機構を備えた電解液給排装置を、円筒型容器11に付設し、研磨をする際には電解液給排装置から円筒型容器11内に電解液18を供給し、研磨を終わったときには、円筒型容器11内の電解液18を電解液給排装置側に吸引するように構成することも可能である。
In the above example, the sliding
In addition, an electrolytic solution storage tank and an electrolytic solution supply / discharge device having a mechanism for supplying / discharging the electrolytic solution are attached to the
次に本発明の応用例である実施例2に係るエッチング装置100を、図2を参照して説明する。
このエッチング装置100を使用する前提を先に説明する。
Next, an
The premise of using this
例えば、羽根車の製造過程において羽根の一部に変形が生じたときには、ガスバーナーにて加熱し整形を行うことがある。このような整形をした場合には、加熱による鋭敏化の有無(範囲)を確認するため、当該部について数多くのスンプ組織試験を実施する必要がある。
金属材料(例えばステンレス鋼)の鋭敏化度を検出する方法の一つとして、しゅう酸エッチング試験方法がある(JIS G 0571)。
この試験方法では、試験溶液温度を20〜50℃とし、試験溶液を10%しゅう酸試験溶液とし、試験時間を1A/90sec/1cm2として、試験部分をエッチングし、エッチングした現れた粒界面に対してスンプ組織試験をしている。
For example, when a part of the blades is deformed during the manufacturing process of the impeller, the shape may be formed by heating with a gas burner. When such shaping is performed, in order to confirm the presence or absence (range) of sensitization by heating, it is necessary to perform a number of sump tissue tests on the part.
One method for detecting the degree of sensitization of a metal material (for example, stainless steel) is an oxalic acid etching test method (JIS G 0571).
In this test method, the test solution temperature is set to 20 to 50 ° C., the test solution is set to 10% oxalic acid test solution, the test time is set to 1 A / 90 sec / 1 cm 2 , and the test portion is etched. A sump tissue test is being conducted.
図2に戻り、エッチング装置100について説明をする。このエッチング装置100は、試料101のエッチング領域101aをエッチングする装置である。
エッチング装置100の円筒型容器102は、試料101の表面に立てた状態で配置されるものであり、円筒型容器102の一方の開口端縁(図2では下側の開口端縁)には、シール材103が配置されている。
シール材103としては、ゴム材や油粘土等を使用することができ、このシール材103を備えているため、試料101の表面が平面でない場合であっても、シール材103が試料101の表面に密着状態で接するため、後述するエッチング溶液の漏れを防ぐことができる。
Returning to FIG. 2, the
The
As the sealing
円筒型容器102の他方の端面側(図2では上側端面側)には、エッチング溶液供給管104a,104bが接続されており、このエッチング溶液供給管104a,104bを介して、10%しゅう酸溶液であるエッチング溶液105を円筒型容器102内に供給する。
また、円筒型容器102の中心部には、エッチング溶液排出管106が配置されており、円筒型容器102内に貯溜されたエッチング溶液105を、円筒型容器102の外部に排出する。
Etching
Further, an etching
エッチング溶液排出管106の下方にはプロペラ状またはスクリュー状の回転部材107が配置されており、この回転部材107は、図示しない回転機構により回転する。回転部材107が回転すると、エッチング溶液105は、試料101の表面のうち円筒型容器102内に臨む部分、つまりエッチング領域101aの表面に向けて、流される。
A propeller-like or screw-like rotating
制御部108は、試料101に通電しつつ、エッチング溶液105の温度を検出すると共に、エッチング領域101aがエッチング溶液105に晒されている時間を計測する。これにより、エッチング領域101aの表面がエッチングされる。しかも、回転部材107の回転により、エッチング溶液105をエッチング領域に向けて流しているため、良好なエッチングができる。
The
このエッチング装置100を、検査対象物である羽根の当該部に取り付けることにより、容易且つ確実にエッチングを行うことができる。
エッチングが完了したら、エッチング装置100を取り外し、当該部を洗浄してから、スンプ組織試験を行う。
Etching can be performed easily and reliably by attaching the
When the etching is completed, the
1 被測定部材(被研磨部材)
2 マスキング部材
3 電解液
4 直流電源
5 ピンセット
6 綿
10 電解研磨装置
11 円筒型容器
12 シール材
13 蓋材
14 モータ
15 回転軸
16 摺動部材
17 攪拌部材
18 電解液
19 直流電源
100 エッチング装置
101 試料
101a エッチング領域
102 円筒型容器
103 シール材
104a,104b エッチング溶液供給管
105 エッチング溶液
106 エッチング溶液排出管
107 回転部材
108 制御部
1 member to be measured (member to be polished)
DESCRIPTION OF
Claims (2)
前記筒型容器の内部に配置されて、前記被研磨部材の表面を擦る摺動部材と、
前記筒型容器に設置されると共に、前記摺動部材を摺動させる摺動手段と、
を有し、
前記摺動手段は、モータと、モータの回転力を前記摺動部材に伝達する回転軸とで構成され、
前記回転軸には、前記電解液を攪拌する攪拌部材が取り付けられていることを特徴とする電解研磨装置。 A cylindrical shape in which a sealing material is applied to one opening edge, the sealing material is disposed on the surface of the member to be polished in contact with the surface of the member to be polished, and an electrolyte is injected into the internal space A container,
A sliding member disposed inside the cylindrical container and rubbing the surface of the member to be polished;
A sliding means installed in the cylindrical container and sliding the sliding member;
I have a,
The sliding means includes a motor and a rotating shaft that transmits the rotational force of the motor to the sliding member,
An electropolishing apparatus , wherein a stirring member for stirring the electrolytic solution is attached to the rotating shaft .
前記被研磨部材に正電圧を印加すると共に、前記電解液に負電圧を印加する直流電源を更に備えていることを特徴とする電解研磨装置。 In claim 1,
An electropolishing apparatus further comprising a direct current power source for applying a positive voltage to the member to be polished and applying a negative voltage to the electrolytic solution .
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