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JP5393209B2 - Deposition equipment - Google Patents

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JP5393209B2
JP5393209B2 JP2009058757A JP2009058757A JP5393209B2 JP 5393209 B2 JP5393209 B2 JP 5393209B2 JP 2009058757 A JP2009058757 A JP 2009058757A JP 2009058757 A JP2009058757 A JP 2009058757A JP 5393209 B2 JP5393209 B2 JP 5393209B2
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Japan
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film forming
shutter
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chamber
film
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JP2009058757A
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進 新井
恩奎 朴
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Ulvac Inc
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Ulvac Inc
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Description

本発明は成膜装置に関し、特に処理室が直列に接続されたインライン式成膜装置に関する。   The present invention relates to a film forming apparatus, and more particularly to an in-line film forming apparatus in which processing chambers are connected in series.

従来、複数の成膜室を有する成膜装置としては、枚葉式とインライン式のものがある。インライン式成膜装置としては、ロードロック室と3つの成膜室とをこの順で具備した真空処理装置が知られている(例えば、特許文献1参照)。この装置は、ロードロック室内及び3つの成膜室内に往路、復路の2つの搬送経路を設けていると共に、最後部の成膜室に往路である搬送経路から復路である第二の搬送経路に移載する移載機構を備えている。そして、基板キャリアを往路である搬送経路を第一の成膜室から第三の成膜室まで移動させて、三層成膜した後に移載機構により復路である搬送経路に移載させてロードロック室まで移動させている。   Conventionally, as a film forming apparatus having a plurality of film forming chambers, there are a single wafer type and an in-line type. As an in-line type film forming apparatus, a vacuum processing apparatus including a load lock chamber and three film forming chambers in this order is known (for example, see Patent Document 1). This apparatus is provided with two transfer paths, the forward path and the return path, in the load lock chamber and the three film formation chambers, and from the transfer path that is the forward path to the second transfer path that is the return path in the last film formation chamber. A transfer mechanism for transferring is provided. Then, the substrate carrier is moved from the first film formation chamber to the third film formation chamber through the forward transfer path, and after the three-layer film is formed, it is transferred to the transfer path as the return path by the transfer mechanism and loaded. It is moved to the lock room.

特開2005−340425号公報(請求項1及び図1参照)Japanese Patent Laying-Open No. 2005-340425 (refer to claim 1 and FIG. 1)

上記装置によれば、大型基板であっても一つの成膜装置において連続的に三層の膜を形成できるという利点がある。ところで、成膜装置においては、成膜手段はメンテナンスが必要であり、特にスパッタ法を実施する場合には、必要に応じてターゲットを交換しなければならない。このような場合に、上記のようなインライン式の成膜装置では、成膜手段を取り替えるために一度成膜室内を大気開放しなければならない。そうすると、搬送経路の途中に大気開放されている処理室があることから、基板を搬送することができないため、装置全体の稼働を停止しなければならない。   According to the above apparatus, there is an advantage that even a large substrate can form three layers of films continuously in one film forming apparatus. By the way, in the film forming apparatus, the film forming means needs maintenance, and in particular, when the sputtering method is performed, the target must be exchanged as necessary. In such a case, in the in-line type film forming apparatus as described above, the film forming chamber must be once opened to the atmosphere in order to replace the film forming means. Then, since there is a processing chamber that is open to the atmosphere in the middle of the transport path, the substrate cannot be transported, and the operation of the entire apparatus must be stopped.

そこで、本発明の課題は、上記従来技術の問題を解決することにあり、メンテナンス時においても装置全体の稼働を停止する必要のないインライン式成膜装置を提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to solve the above-described problems of the prior art, and to provide an in-line type film forming apparatus that does not require the operation of the entire apparatus to be stopped even during maintenance.

本発明の成膜装置は、少なくとも一の成膜処理室を含む複数の処理室を直列に接続してなり、前記成膜処理室は、基板が設置される基板設置部と、設置された前記基板に対して所定の成膜処理を行う成膜手段が設置された成膜手段設置部とからなり、これらの基板設置部と成膜手段設置部とは分離可能に構成されている成膜装置であって、前記基板設置部と前記成膜手段設置部とを隔絶し前記基板設置部内の真空を保持するシャッターを備え
前記シャッターは、複数の前記成膜処理室の前記基板設置部に亘って設けられた搬送手段上を移動することを特徴とする。本発明の成膜装置においては、前記基板設置部と前記成膜処理室とを隔絶し前記基板設置部内の真空を保持するシャッターを備えたことで、メンテナンス時においては、このシャッターにより基板設置部内の真空を保持し、成膜処理室を大気開放することができるので、装置全体の稼働を停止する必要がない。また、このように搬送手段上を移動するように構成することで、成膜処理室毎にシャッターを設けることなく、メンテナンスが必要な成膜処理室にシャッターを移動させて設置することができる。
The film forming apparatus of the present invention is formed by connecting a plurality of processing chambers including at least one film forming processing chamber in series, and the film forming processing chamber includes a substrate setting portion on which a substrate is set A film-forming apparatus comprising a film-forming means installation section in which a film-forming means for performing a predetermined film-forming process on the substrate is installed, and these substrate installation section and film-forming means installation section are configured to be separable And comprising a shutter for isolating the substrate installation section and the film forming means installation section and maintaining a vacuum in the substrate installation section ,
The shutter moves on a transfer unit provided across the substrate installation portions of the plurality of film forming chambers . In the film forming apparatus of the present invention, a shutter for isolating the substrate setting unit from the film forming process chamber and maintaining a vacuum in the substrate setting unit is provided. Therefore, it is not necessary to stop the operation of the entire apparatus. In addition, by being configured to move on the transfer unit in this way, the shutter can be moved and installed in a film formation chamber that requires maintenance without providing a shutter for each film formation chamber.

前記シャッターは、前記シャッターの一方面にその周方向に亘ってシール部材が設けられ、前記成膜処理室内壁には、基板設置位置と前記成膜手段設置部との間に、この成膜処理室の内側に向かって突出し、かつ周方向に亘って連続的に設けられ、前記シール部材が当接される突出部が設けてあることが好ましい。このような構成とすれば、簡易な構成で基板設置側を真空保持することができる。   The shutter is provided with a seal member on one surface of the shutter over the circumferential direction, and the film formation process is performed between the substrate installation position and the film formation unit installation part on the film formation process chamber inner wall. It is preferable that there is provided a protruding portion that protrudes toward the inside of the chamber and that is continuously provided in the circumferential direction and that contacts the seal member. With such a configuration, the substrate installation side can be held in vacuum with a simple configuration.

シャッターの移動機構の好ましい実施形態としては、前記シャッターの底面には、円柱状の棒状部材が底面の長手方向に沿って設けられると共に、前記シャッターはこの棒状部材の円周方向に回動自在に設けられ、前記搬送手段が、各基板設置部の床面に所定間隔で複数設けられ、前記棒状部材が係合するように中央部が凹部となったローラーからなり、前記シャッターは前記棒状部材によりこのローラー上を移動することが挙げられる。かかる構成であることで、シャッターを安定して移動させることができる。   As a preferred embodiment of the shutter moving mechanism, a cylindrical rod-shaped member is provided on the bottom surface of the shutter along the longitudinal direction of the bottom surface, and the shutter is rotatable in the circumferential direction of the rod-shaped member. A plurality of conveying means are provided at predetermined intervals on the floor surface of each substrate installation portion, and a roller having a concave portion at the center so that the rod-shaped member is engaged, and the shutter is formed by the rod-shaped member. Moving on this roller can be mentioned. With this configuration, the shutter can be moved stably.

また、前記搬送手段が、前記複数の処理室内に亘って設けられた基板搬送用の搬送経路であってもよい。このように構成すれば、シャッターの搬送系を新たに設ける必要がない。   Further, the transfer means may be a transfer path for transferring a substrate provided over the plurality of processing chambers. With this configuration, it is not necessary to newly provide a shutter transport system.

前記シャッターは、カーボン系材料と、カーボン系材料の周囲を覆うSUS板とからなるか、前記シール部材が設けられた他方面にリブを設けたことが好ましい。このように構成することで、軽量化できると共に剛性を保持することができる。   Preferably, the shutter is made of a carbon-based material and a SUS plate that covers the periphery of the carbon-based material, or a rib is provided on the other surface on which the seal member is provided. By comprising in this way, it can reduce in weight and can hold | maintain rigidity.

また、本発明の成膜装置は、その設置面積を低減すべく、前記基板は、前記成膜装置内において略垂直又は垂直に保持されることが好ましい。   In the film forming apparatus of the present invention, it is preferable that the substrate is held substantially vertically or vertically in the film forming apparatus in order to reduce the installation area.

本発明の成膜装置によれば、シャッターにより基板設置部を真空保持することができるので、メンテナンス時においても装置全体の稼働を停止する必要がないという優れた効果を奏する。   According to the film forming apparatus of the present invention, since the substrate installation portion can be held in vacuum by the shutter, there is an excellent effect that it is not necessary to stop the operation of the entire apparatus even during maintenance.

実施形態にかかるインライン式成膜装置の模式図である。It is a schematic diagram of the in-line type film-forming apparatus concerning embodiment. 実施形態にかかるインライン式成膜装置の一部拡大図である。It is a partial enlarged view of the in-line type film forming apparatus according to the embodiment. 実施形態にかかるシャッターの構成を示す模式図であり、(a)は、シャッターの正面図、(b)はシャッター搬送路における一部断面図である。It is a schematic diagram which shows the structure of the shutter concerning embodiment, (a) is a front view of a shutter, (b) is a partial cross section figure in a shutter conveyance path. 成膜室におけるシャッターの設置を説明するための成膜室の断面図である。It is sectional drawing of the film-forming chamber for demonstrating installation of the shutter in a film-forming chamber. 別のシャッターの成膜室における設置を説明するための図である。It is a figure for demonstrating installation in the film-forming chamber of another shutter.

本発明の実施形態について、まず図1を用いて説明する。図1は、本実施形態のインライン式成膜装置の構成を示す模式図である。   An embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a schematic diagram showing the configuration of the in-line type film forming apparatus of this embodiment.

インライン式成膜装置1は、基板Sに対して所定の処理を行う複数の処理室を備える。具体的には、インライン式成膜装置1の処理室としては、ロードロック室11、加熱室12、第一成膜室13、第二成膜室14、第三成膜室15が設けられ、これらがこの順でドアバルブ16を介して直列に接続されている。各室はそれぞれ独立に真空中で所定の処理を行うことが可能である。   The in-line film forming apparatus 1 includes a plurality of processing chambers that perform predetermined processing on the substrate S. Specifically, as the processing chamber of the in-line type film forming apparatus 1, a load lock chamber 11, a heating chamber 12, a first film forming chamber 13, a second film forming chamber 14, and a third film forming chamber 15 are provided. These are connected in series via the door valve 16 in this order. Each chamber can independently perform a predetermined treatment in a vacuum.

ロードロック室11は、図示しない真空ポンプが設けられ、ロードロック室11内を所定の真空度になるまで真空排気し、その真空度を保持することができるように構成されている。   The load lock chamber 11 is provided with a vacuum pump (not shown) so that the inside of the load lock chamber 11 is evacuated to a predetermined vacuum level and the vacuum level can be maintained.

加熱室12は、図示しない真空ポンプが設けられ、加熱室12内を所定の真空度になるまで真空排気し、その真空度を保持することができる。そして、加熱室12には、図示しない加熱手段がその中央部に設けられ、加熱室12内に設置された基板Sを所定の温度まで昇温できるように構成されている。   The heating chamber 12 is provided with a vacuum pump (not shown), and the inside of the heating chamber 12 can be evacuated to a predetermined degree of vacuum, and the degree of vacuum can be maintained. The heating chamber 12 is provided with a heating means (not shown) in the center thereof so that the temperature of the substrate S installed in the heating chamber 12 can be raised to a predetermined temperature.

第一成膜室13〜第三成膜室15は、それぞれ基板が設置される基板設置部131、141、151と、各成膜手段が設置される成膜手段設置部132、142、152とからなる。基板設置部131、141、151と成膜手段設置部132、142、152とは、それぞれ開口が設けられ、これらの開口を介して両室は連通して成膜処理を行う成膜空間133、143、153を形成している。基板設置部131、141、151には図示しない真空ポンプが設けられ、第一成膜室13〜第三成膜室15内、即ち成膜空間133、143、153を所定の真空度になるまで真空排気し、その真空度を保持することができるように構成されている。成膜手段としては、公知の成膜手段を用いることができ、例えば、スパッタ法により成膜する場合には、ターゲット及びスパッタガス導入手段を設置して、成膜することができるように構成されている。また、CVD法により成膜する場合には、成膜ガス導入手段を設置して、成膜することができるように構成されている。   The first film forming chamber 13 to the third film forming chamber 15 include substrate setting portions 131, 141, 151 where the substrates are respectively set, and film forming means setting portions 132, 142, 152 where the respective film forming means are set, Consists of. The substrate placement portions 131, 141, 151 and the film formation means placement portions 132, 142, 152 are each provided with openings, and both chambers communicate with each other through these openings to form a film formation space 133 for performing a film formation process, 143 and 153 are formed. The substrate placement units 131, 141, 151 are provided with a vacuum pump (not shown) until the inside of the first film formation chamber 13 to the third film formation chamber 15, that is, the film formation spaces 133, 143, 153 reaches a predetermined degree of vacuum. It is configured to be evacuated and to maintain the degree of vacuum. As the film forming means, a known film forming means can be used. For example, in the case of forming a film by a sputtering method, a target and a sputtering gas introducing means can be installed to form a film. ing. In addition, when a film is formed by the CVD method, a film forming gas introducing unit is provided so that the film can be formed.

本実施形態のインライン式成膜装置1は、基板Sを枠状の基板キャリア2によって略垂直に保持しながら、基板Sに対して処理を行う縦型搬送式の真空処理装置である。インライン式成膜装置1には、ロードロック室11から第三成膜室15にわたって、基板Sを搬送する互いに平行な第一搬送路21及び第二搬送路22が設けられている。第一搬送路21が成膜手段設置部132、142、152側に設けられている。基板Sの搬送手段は特に限定されないが、例えば、第一搬送路21及び第二搬送路22には、それぞれ2本のレールが敷設されて、基板キャリア2が、このレール上を基板キャリア2底部に設けられた車輪で移動できるように構成されていてもよい。具体的には、基板キャリア2の下面はラックが設けられ、ロードロック室11、加熱室12、第一成膜室13〜第三成膜室15にはモータの回転力で回転するピニオンギアが設けられているので、このラックとピニオンギアをかみ合わせて、モータの駆動力を基板キャリア2に伝達させて、基板キャリア2を搬送する。   The in-line type film forming apparatus 1 of the present embodiment is a vertical transfer type vacuum processing apparatus that processes a substrate S while holding the substrate S substantially vertically by a frame-shaped substrate carrier 2. The in-line type film forming apparatus 1 is provided with a first transfer path 21 and a second transfer path 22 that are parallel to each other and transfer the substrate S from the load lock chamber 11 to the third film formation chamber 15. The first transport path 21 is provided on the side of the film forming means installation unit 132, 142, 152. The transport means for the substrate S is not particularly limited. For example, two rails are laid on each of the first transport path 21 and the second transport path 22, and the substrate carrier 2 is placed on the bottom of the substrate carrier 2. You may be comprised so that it can move with the wheel provided in. Specifically, the lower surface of the substrate carrier 2 is provided with a rack, and the load lock chamber 11, the heating chamber 12, and the first film formation chamber 13 to the third film formation chamber 15 have pinion gears that are rotated by the rotational force of the motor. Since the rack and the pinion gear are engaged, the driving force of the motor is transmitted to the substrate carrier 2 to convey the substrate carrier 2.

さらにまた、第三成膜室15には、基板キャリア2を第一搬送路21及び第二搬送路22間で移動させることができる経路変更手段(図示せず)が設けられている。即ち、第三成膜室15は、成膜室であると共に基板をトラバースするためのトラバース室としても機能するものである。経路変更手段は、例えば、基板キャリア2の外枠に設けられた突起部に経路変更手段のフック部を係合させ、その状態で基板キャリア2を安定支持して、基板キャリア2を第一搬送路21及び第二搬送路22間で平行移動させて搬送路を変更させることができるように構成されている。   Furthermore, the third film forming chamber 15 is provided with path changing means (not shown) that can move the substrate carrier 2 between the first transport path 21 and the second transport path 22. That is, the third film forming chamber 15 functions as a film forming chamber and a traverse chamber for traversing the substrate. The path changing means, for example, engages the hook portion of the path changing means with a protrusion provided on the outer frame of the substrate carrier 2, stably supports the substrate carrier 2 in this state, and transports the substrate carrier 2 to the first state. It is comprised so that it can be translated between the path | route 21 and the 2nd conveyance path 22, and a conveyance path can be changed.

ところで、このインライン式成膜装置1の成膜室のメンテナンスを行う際、例えば第二成膜室14に設置されている成膜手段を交換する際に、成膜手段設置部142を開けると、第二成膜室14が大気開放され、基板設置部141内の真空を保持することができず、インライン式成膜装置1の稼働を停止しなければならないのでこれを防止する必要がある。   By the way, when performing the maintenance of the film forming chamber of the in-line type film forming apparatus 1, for example, when replacing the film forming device installed in the second film forming chamber 14, when the film forming device setting section 142 is opened, Since the second film formation chamber 14 is opened to the atmosphere, the vacuum in the substrate installation unit 141 cannot be maintained, and the operation of the in-line type film formation apparatus 1 has to be stopped, so this needs to be prevented.

そこで、本実施形態においては、インライン式成膜装置1は、メンテナンス時に各成膜室内の真空を保持するために、基板設置部131、141、151と成膜手段設置部132、142、152とを隔絶するシャッター3を備える。シャッター3は、成膜時等メンテナンス動作中以外は、第三成膜室15の下流側に設けられた収納室17に収納されている。そして、メンテナンス時には、シャッター3を、収納室17から第一成膜室13まで敷設されたシャッター搬送路31上を、メンテナンスが必要な成膜室、例えば第二成膜室14まで移動させてシャッター3により基板設置部141と成膜手段設置部142とを隔絶する。そして、このシャッター3により基板設置部141内の真空状態を保持しながら、成膜手段設置部142を開けて成膜手段を交換することができる。従って、メンテナンス中であっても基板Sが第二成膜室を通過できるように構成していることから、インライン式成膜装置1の稼働を停止させる必要がない。   Therefore, in the present embodiment, the in-line type film forming apparatus 1 includes the substrate setting units 131, 141, 151 and the film forming means setting units 132, 142, 152 in order to maintain the vacuum in each film forming chamber during maintenance. A shutter 3 is provided to isolate the. The shutter 3 is stored in a storage chamber 17 provided on the downstream side of the third film formation chamber 15 except during a maintenance operation such as during film formation. At the time of maintenance, the shutter 3 is moved on the shutter conveyance path 31 laid from the storage chamber 17 to the first film formation chamber 13 to a film formation chamber that requires maintenance, for example, the second film formation chamber 14. 3 separates the substrate installation unit 141 from the film forming unit installation unit 142. The film deposition means can be exchanged by opening the film deposition means installation section 142 while maintaining the vacuum state in the substrate installation section 141 by the shutter 3. Accordingly, since the substrate S is configured to be able to pass through the second film forming chamber even during maintenance, it is not necessary to stop the operation of the in-line type film forming apparatus 1.

以下、シャッター3について、図2〜図4も参照して説明する。図2は、インライン式成膜装置の一部拡大図である。図3は、シャッターの構成を示す模式図であり、(a)は、シャッターの正面図、(b)はシャッター搬送路における一部断面図である。また、図4は、成膜室におけるシャッターの設置を説明するための成膜室の断面図である。なお、以下、第二成膜室14のメンテナンスを行う場合について説明し、また、図2中基板キャリア2は省略した。   Hereinafter, the shutter 3 will be described with reference to FIGS. FIG. 2 is a partially enlarged view of the in-line film forming apparatus. 3A and 3B are schematic views showing the configuration of the shutter. FIG. 3A is a front view of the shutter, and FIG. 3B is a partial cross-sectional view of the shutter conveyance path. FIG. 4 is a cross-sectional view of the film forming chamber for explaining the installation of the shutter in the film forming chamber. Hereinafter, the case where maintenance of the second film forming chamber 14 is performed will be described, and the substrate carrier 2 is omitted in FIG.

シャッター3は、正面視において略矩形状であり、その一方面には、周方向に亘ってシール部材32が設けられている。このシール部材32は、後述するように第二成膜室14に設けられた突出部144に当接されるように構成されている。   The shutter 3 has a substantially rectangular shape when viewed from the front, and a seal member 32 is provided on one surface thereof in the circumferential direction. As will be described later, the seal member 32 is configured to come into contact with a protruding portion 144 provided in the second film forming chamber 14.

シャッター3の底面には、その長手方向に沿って円柱状の棒状部材33が設けられている。シャッター3は、棒状部材33の円周方向に回動自在となるように構成されている。   A cylindrical rod-shaped member 33 is provided on the bottom surface of the shutter 3 along the longitudinal direction thereof. The shutter 3 is configured to be rotatable in the circumferential direction of the rod-shaped member 33.

また、第二成膜室14の基板設置部141の床面には、ローラー34が所定の間隔を空けて固定部材35を介して並設されている。このローラー34上に棒状部材33が載置され、ローラー34の回転に伴って棒状部材33が移動されるように構成されている。具体的には、ローラー34は、断面視において棒状部材33が係合するように中央部が凹となった曲面状となっている。ローラー34の回転軸331は、固定部材35に回転自在に設置されると共に、この回転軸331の一端が図示しない駆動制御装置に接続されており、この駆動制御装置により回転軸331が回転される。この回転によりローラー34上に設置されたシャッター3が棒状部材33を介して回転方向に移動することができる。なお、本実施形態では、これらの複数のローラー34により、シャッター搬送路(搬送手段)31が構成されている。また、シャッター搬送路31を成膜室間に亘って設けるためにドアバルブ16も各成膜室間の所定の位置に設けられている。   In addition, rollers 34 are arranged in parallel on the floor surface of the substrate installation unit 141 of the second film formation chamber 14 via a fixing member 35 at a predetermined interval. A rod-shaped member 33 is placed on the roller 34, and the rod-shaped member 33 is moved as the roller 34 rotates. Specifically, the roller 34 has a curved shape with a concave central portion so that the rod-shaped member 33 engages in a cross-sectional view. The rotation shaft 331 of the roller 34 is rotatably installed on the fixed member 35, and one end of the rotation shaft 331 is connected to a drive control device (not shown), and the rotation shaft 331 is rotated by the drive control device. . By this rotation, the shutter 3 installed on the roller 34 can move in the rotation direction via the rod-shaped member 33. In the present embodiment, the plurality of rollers 34 constitute a shutter conveyance path (conveyance means) 31. Further, in order to provide the shutter transport path 31 between the film forming chambers, the door valve 16 is also provided at a predetermined position between the film forming chambers.

シャッター3の天井部には、マグネット36が装着されている。また、第二成膜室14の天井面には、シャッター搬送路31に対向する位置からやや外側に外れてこのマグネット36に対向するように別のマグネット36が設置されている。このマグネット36間の吸引力によりシャッター3は床面に対して略垂直に保持された状態で移動される。   A magnet 36 is mounted on the ceiling of the shutter 3. Further, another magnet 36 is installed on the ceiling surface of the second film forming chamber 14 so as to face the magnet 36 slightly outside from a position facing the shutter conveyance path 31. Due to the attractive force between the magnets 36, the shutter 3 is moved while being held substantially perpendicular to the floor surface.

シャッター3はこのシール部材32が設けられている面を第一搬送路21に向けるようにして設置される。基板設置部141の内壁面には、シャッター搬送路31よりも内側に成膜空間143に向かって突出した突出部144が設けられている。突出部144は、基板設置部141の内周方向に亘って連続的に設けられており、この突出部144にシール部材32が当接されるように構成されている。なお、床面に設けられた突出部144は、固定部材35を避けて設置されているので、シール部材32が当接されるように当接部144aが設けられている。成膜手段設置部142の、成膜手段設置部142と連通する開口が設けられた壁面の上部内側には、シャッター3の上部を突出部144に押圧するための押圧部材(例えばエアシリンダー)145が設けられている。   The shutter 3 is installed so that the surface on which the seal member 32 is provided faces the first conveyance path 21. On the inner wall surface of the substrate installation portion 141, a protruding portion 144 that protrudes toward the film forming space 143 is provided on the inner side of the shutter conveyance path 31. The protruding portion 144 is continuously provided over the inner circumferential direction of the substrate installation portion 141, and is configured such that the seal member 32 is in contact with the protruding portion 144. In addition, since the protrusion part 144 provided in the floor surface is installed avoiding the fixing member 35, the contact part 144a is provided so that the seal member 32 may contact | abut. A pressing member (for example, an air cylinder) 145 for pressing the upper portion of the shutter 3 against the protruding portion 144 is provided on the inner side of the upper surface of the wall surface of the film forming device installing section 142 provided with an opening communicating with the film forming device installing section 142. Is provided.

この移動可能なシャッター3を用いたメンテナンス動作について説明する。シャッター3は、上述のように駆動制御装置によりローラー34が回転して所定位置まで搬送される。そして、所定位置でシャッター3が停止すると、押圧部材(例えばエアシリンダー)145が、シャッター3の上部を押圧する。そうするとシャッター3は棒状部材33を支点として回動し突出部144に当接されるので、これによりシール部材32が突出部144(当接部144a)に当接され、その結果基板設置部141内がシャッター3によりシールされる。これにより、基板設置部141のシャッター3よりも内側は真空を保持することができる。従って、成膜手段設置部142を取り外したとしても、インライン式成膜装置1の稼働を停止させずに成膜手段設置部142内に設置された成膜手段を交換しながら、基板を第一成膜室13から第三成膜室15へ搬送することができる。   A maintenance operation using the movable shutter 3 will be described. As described above, the shutter 3 is conveyed to a predetermined position by the rotation of the roller 34 by the drive control device. When the shutter 3 stops at a predetermined position, a pressing member (for example, an air cylinder) 145 presses the upper part of the shutter 3. Then, the shutter 3 rotates with the rod-shaped member 33 as a fulcrum and comes into contact with the projecting portion 144, so that the seal member 32 is brought into contact with the projecting portion 144 (contact portion 144 a), and as a result, inside the substrate installation portion 141. Is sealed by the shutter 3. As a result, a vacuum can be maintained on the inner side than the shutter 3 of the substrate installation portion 141. Therefore, even if the film formation means installation unit 142 is removed, the first substrate is replaced while replacing the film formation means installed in the film formation means installation unit 142 without stopping the operation of the in-line type film formation apparatus 1. The film can be transferred from the film forming chamber 13 to the third film forming chamber 15.

具体例を用いて説明する。基板S上に、第一膜と、第一膜よりも厚い第二膜とをこの順でスパッタリング法により形成する場合には、第二膜を成膜するためのターゲットは、第一膜を成膜するためのターゲットよりも減りが早く、第一膜を成膜するためのターゲットより早くターゲット交換の必要がある。このような場合には、第一成膜室13に第一膜を成膜するためのターゲットを設置し、第二成膜室14に第二膜を成膜するためのターゲットを設置する。第三成膜室15にも第二膜を形成するためのターゲットを設置する。   This will be described using a specific example. When the first film and the second film thicker than the first film are formed on the substrate S in this order by the sputtering method, the target for forming the second film is the first film. It is necessary to replace the target earlier than the target for forming the first film. In such a case, a target for forming the first film is installed in the first film forming chamber 13, and a target for forming the second film is installed in the second film forming chamber 14. A target for forming the second film is also installed in the third film forming chamber 15.

そして、成膜装置を稼働し第一成膜室13と第二成膜室14とで成膜を行い、第二成膜室14においてターゲットを交換する必要が生じた時には、収納室17からシャッター3を第二成膜室14までシャッター搬送路31を介して移動させる。そして、上述のようにシャッター3を棒状部材33を支点として回動させて突出部144に当接させて基板設置部141内をシールし真空に保持する。そして、成膜手段設置部142を取り外してターゲットを交換する。この場合であっても、第一成膜室13で成膜された後に第三成膜室15へ移動する基板は真空が保持された状態で第二成膜室14を通過することができ、第三成膜室15内へ搬送されて第三成膜室15で第二膜を形成され、その後経路変更手段により経路を変更して第二成膜室14〜ロードロック室11を通過してインライン式成膜装置1外へ搬出される。このように、本実施形態においては、シャッター3を設けることで、メンテナンスが必要な成膜室があってもインライン式成膜装置1の稼働を停止せずにメンテナンスを行うことが可能である。   When the film forming apparatus is operated to form a film in the first film forming chamber 13 and the second film forming chamber 14 and it becomes necessary to replace the target in the second film forming chamber 14, the shutter is moved from the storage chamber 17 to the shutter. 3 is moved to the second film forming chamber 14 via the shutter conveyance path 31. Then, as described above, the shutter 3 is rotated with the rod-shaped member 33 as a fulcrum and is brought into contact with the protruding portion 144 to seal the inside of the substrate installation portion 141 and keep it in a vacuum. Then, the film forming means installation unit 142 is removed and the target is exchanged. Even in this case, the substrate moving to the third film forming chamber 15 after being formed in the first film forming chamber 13 can pass through the second film forming chamber 14 in a vacuum state. The second film is formed in the third film forming chamber 15 by being transferred into the third film forming chamber 15, and then the path is changed by the path changing means to pass through the second film forming chamber 14 to the load lock chamber 11. It is carried out of the in-line type film forming apparatus 1. As described above, in the present embodiment, by providing the shutter 3, it is possible to perform maintenance without stopping the operation of the in-line film forming apparatus 1 even if there is a film forming chamber that requires maintenance.

なお、ターゲットを交換し成膜手段設置部142を設置した後には、図示しない真空ポンプによりシャッター3と成膜手段設置部142とで構成された空間内を所望の真空状態とし、その後シャッター3をシャッター搬送路31を介して収納室17へ搬送し、第二成膜室14での成膜を開始する。   After replacing the target and installing the film formation means installation section 142, the space formed by the shutter 3 and the film formation means installation section 142 is brought into a desired vacuum state by a vacuum pump (not shown), and then the shutter 3 is moved. The film is transferred to the storage chamber 17 via the shutter transfer path 31 and film formation in the second film formation chamber 14 is started.

このようなシャッター3は、上述のように真空を保持することができるように高い剛性を有することが好ましい。例えば、シャッター3をカーボン材料(例えば、カーボンファイバー)等の剛性の高い材料で構成することが挙げられる。カーボン材料は薄くても剛性が高いためシャッター3用のスペースを多く必要とせず装置設置面積を増大させないという利点があるが、カーボン材料はガスを放出してしまう可能性があるので、例えばSUS板で板面を挟むか、又はその周囲全体を覆うことがより好ましい。また、シャッター3にリブ部材を設けてもよい。この場合、剛性を確保できるように構成されていればどのような形状のリブをどのように設置してもよい。このリブはもちろん設置本数なども限定されない。   Such a shutter 3 preferably has a high rigidity so that a vacuum can be maintained as described above. For example, the shutter 3 may be made of a highly rigid material such as a carbon material (for example, carbon fiber). Although the carbon material is thin and has high rigidity, there is an advantage that a large space for the shutter 3 is not required and the apparatus installation area is not increased. However, since the carbon material may release gas, for example, a SUS plate It is more preferable to sandwich the plate surface with or cover the entire periphery. Further, a rib member may be provided on the shutter 3. In this case, any shape of rib may be installed as long as it is configured to ensure rigidity. Of course, the number of ribs is not limited.

本実施形態においては、シャッター搬送路31を突出部144よりも外側に設けたが、突出部144よりも内側に設けてもよい。例えば、図5に示すように、突出部144と基板搬送路21との間にシャッター搬送路31を設ける。そして、別の押圧手段146によりシール部材32が突出部144に当接するように基板搬送路21側からシャッター3を押圧する。この場合、押圧手段146は、基板設置部141の天井部に開閉自在な開口部を設け、この開口部を介して基板設置部141外から基板設置部141内に導入することができるように構成されていることが好ましい。基板設置部141内に上述したような押圧手段145を設けると、基板設置部141内の他の部材、例えば基板搬送系等と干渉するからである。この押圧手段146は、例えばモータにより回転して押圧手段146を回転させてシャッター3を押圧するように構成していてもよい。   In the present embodiment, the shutter conveyance path 31 is provided outside the projecting portion 144, but may be provided inside the projecting portion 144. For example, as illustrated in FIG. 5, a shutter transport path 31 is provided between the protruding portion 144 and the substrate transport path 21. Then, the shutter 3 is pressed from the substrate transport path 21 side so that the sealing member 32 abuts against the protruding portion 144 by another pressing means 146. In this case, the pressing means 146 is configured so that an opening that can be freely opened and closed is provided in the ceiling of the substrate installation unit 141 and can be introduced into the substrate installation unit 141 from outside the substrate installation unit 141 through this opening. It is preferable that This is because if the pressing means 145 as described above is provided in the substrate installation portion 141, it interferes with other members in the substrate installation portion 141, such as a substrate transport system. The pressing unit 146 may be configured to press the shutter 3 by rotating the pressing unit 146 by, for example, a motor.

また、本実施形態では、シャッター3を移動させるためのシャッター搬送路31を設けたが、シャッター3を基板Sを搬送するための基板搬送路21及び22を介して搬送してもよい。この場合には基板設置部141内にさらにシャッター3を所定位置で設置するためのシャッター保持部を設けると共に、各基板設置部131、141、151内に経路変更手段を設ける。そして、基板搬送路21及び22からシャッター保持部へ経路変更手段を用いて移動させると共に、押圧手段146と同等の構成の押圧手段を基板設置部141に設け、この押圧手段によりシャッター3を突出部144に当接させ、押圧するように構成すればよい。また、シャッター3を基板搬送路21及び22を用いて搬送し、その状態で棒状部材33を支点として押圧できるように構成してもよい。この場合、基板搬送路21及び22をシャッター搬送路31と同様の構成とすると共に基板キャリア2をシャッター3と同様の構成とすれば、基板保持部を設ける必要がない。   In this embodiment, the shutter transport path 31 for moving the shutter 3 is provided, but the shutter 3 may be transported via the substrate transport paths 21 and 22 for transporting the substrate S. In this case, a shutter holding unit for installing the shutter 3 at a predetermined position is further provided in the substrate installation unit 141, and a path changing unit is provided in each of the substrate installation units 131, 141, 151. Then, the substrate transfer paths 21 and 22 are moved to the shutter holding unit by using the path changing unit, and the pressing unit having the same configuration as the pressing unit 146 is provided in the substrate setting unit 141, and the shutter 3 is projected by the pressing unit. What is necessary is just to comprise so that it may contact | abut to 144 and may be pressed. Alternatively, the shutter 3 may be transported using the substrate transport paths 21 and 22 so that the rod-shaped member 33 can be pressed as a fulcrum in that state. In this case, if the substrate transport paths 21 and 22 have the same configuration as the shutter transport path 31 and the substrate carrier 2 has the same configuration as the shutter 3, it is not necessary to provide a substrate holder.

本実施形態においては、シャッター3を収納するための収納室17を設けたが、収納室17を設けずに加熱室12やロードロック室11等の成膜を行わない室にシャッター3を収納しておき、メンテナンス時にシャッター3を移動させてもよい。   In the present embodiment, the storage chamber 17 for storing the shutter 3 is provided. However, the shutter 3 is stored in a chamber in which no film formation is performed, such as the heating chamber 12 and the load lock chamber 11 without providing the storage chamber 17. In addition, the shutter 3 may be moved during maintenance.

また、本実施形態において、シャッター3は移動式としたが、各成膜室13〜15上に収納部を設けて、上部からシャッター3を降下させ、その状態で突出部144に当接させて押圧し、真空を保持できるように構成してもよい。さらに、シャッター3を2以上備えるように構成しても良く、この場合シャッター用レールを2以上設けても良い。   In the present embodiment, the shutter 3 is movable. However, a storage unit is provided on each of the film forming chambers 13 to 15, the shutter 3 is lowered from the upper part, and is brought into contact with the protruding part 144 in that state. You may comprise so that it can press and hold | maintain a vacuum. Further, the shutter 3 may be provided with two or more shutters. In this case, two or more shutter rails may be provided.

また、本実施形態においては、シール部材32はシャッター3に設けられているがシール部材を突出部144側に設けられていてもよい。   In the present embodiment, the seal member 32 is provided on the shutter 3, but the seal member may be provided on the protruding portion 144 side.

また、本実施形態においては第三成膜室15をトラバース室としても機能するように構成したが、トラバース室を単独で有していても良く、また、このトラバース室にシャッター3を収納してもよい。成膜室の数なども制限されない。   In the present embodiment, the third film formation chamber 15 is configured to function as a traverse chamber. However, the traverse chamber may be provided alone, and the shutter 3 is accommodated in the traverse chamber. Also good. The number of film forming chambers is not limited.

本実施形態では、基板を床面に対して略垂直に保持するいわゆる縦型基板搬送型成膜装置を用いて説明したが、基板を床面に対して水平に保持するいわゆる横型基板搬送型成膜装置に適用してもよい。   In the present embodiment, the vertical substrate transfer type film forming apparatus that holds the substrate substantially perpendicular to the floor surface has been described. However, the so-called horizontal substrate transfer type device that holds the substrate horizontally with respect to the floor surface is described. You may apply to a membrane apparatus.

1 インライン式成膜装置
2 基板キャリア
3 シャッター
11 ロードロック室
12 加熱室
13 第一成膜室
14 第二成膜室
15 第三成膜室
16 ドアバルブ
17 収納室
21 第一搬送路
22 第二搬送路
31 シャッター搬送路
32 シール部材
33 棒状部材
34 ローラー
35 固定部材
131、141、151 基板設置部
132、142、152 成膜手段設置部
133、143、153 成膜空間
144 突出部
145 押圧手段
146 押圧手段
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 In-line type film-forming apparatus 2 Substrate carrier 3 Shutter 11 Load lock chamber 12 Heating chamber 13 First film-forming chamber 14 Second film-forming chamber 15 Third film-forming chamber 16 Door valve 17 Storage chamber 21 First transfer path 22 Second transfer Path 31 Shutter conveyance path 32 Seal member 33 Rod-shaped member 34 Roller 35 Fixing member 131, 141, 151 Substrate installation part 132, 142, 152 Film formation means installation part 133, 143, 153 Film formation space 144 Projection part 145 Press means 146 Press means

Claims (7)

少なくとも一の成膜処理室を含む複数の処理室を直列に接続してなり、前記成膜処理室は、基板が設置される基板設置部と、設置された前記基板に対して所定の成膜処理を行う成膜手段が設置された成膜手段設置部とからなり、これらの基板設置部と成膜手段設置部とは分離可能に構成されている成膜装置であって、
前記基板設置部と前記成膜手段設置部とを隔絶し前記基板設置部内の真空を保持するシャッターを備え
前記シャッターは、複数の前記成膜処理室の前記基板設置部に亘って設けられた搬送手段上を移動することを特徴とする成膜装置。
A plurality of processing chambers including at least one film forming processing chamber are connected in series, and the film forming processing chamber includes a substrate setting portion on which a substrate is set and a predetermined film forming on the set substrate. A film forming apparatus in which a film forming means for performing processing is installed, and the substrate installing section and the film forming means installing section are configured to be separable,
A shutter for isolating the substrate installation unit and the film forming unit installation unit and maintaining a vacuum in the substrate installation unit ;
The film forming apparatus characterized in that the shutter moves on a transfer means provided across the substrate installation portions of the plurality of film forming chambers .
前記シャッターは、前記シャッターの一方面にその周方向に亘ってシール部材が設けられ、
前記成膜処理室内壁には、基板設置位置と前記成膜手段設置部との間に、この成膜処理室の内側に向かって突出し、かつ周方向に亘って連続的に設けられ、前記シール部材が当接される突出部が設けてあることを特徴とする請求項1に記載の成膜装置。
The shutter is provided with a seal member on one surface of the shutter over the circumferential direction,
The wall of the film formation chamber is provided between the substrate installation position and the film formation means installation section so as to protrude toward the inside of the film formation chamber and continuously provided in the circumferential direction. The film forming apparatus according to claim 1, further comprising a protruding portion with which the member abuts.
前記シャッターの底面には、円柱状の棒状部材が底面の長手方向に沿って設けられると共に、前記シャッターはこの棒状部材の円周方向に回動自在に設けられ、
前記搬送手段が、各基板設置部の床面に所定間隔で複数設けられ、前記棒状部材が係合するように中央部が凹部となったローラーからなり、前記シャッターは前記棒状部材によりこのローラー上を移動することを特徴とする請求項1又は2に記載の成膜装置。
A cylindrical rod-shaped member is provided on the bottom surface of the shutter along the longitudinal direction of the bottom surface, and the shutter is rotatably provided in the circumferential direction of the rod-shaped member,
A plurality of the conveying means are provided at predetermined intervals on the floor surface of each substrate installation portion, and a roller having a concave portion at the center so that the rod-shaped member engages, and the shutter is mounted on the roller by the rod-shaped member. the deposition apparatus according to claim 1 or 2, characterized in that to move the.
前記搬送手段が、前記複数の処理室内に亘って設けられた基板搬送用の搬送経路であることを特徴とする請求項1〜のいずれか一項に記載の成膜装置。 The conveying means, the deposition apparatus according to any one of claims 1 to 3, characterized in that a conveying path for the substrate transport provided over the plurality of process chamber. 前記シャッターは、カーボン系材料と、カーボン系材料の周囲を覆うSUS板とからなることを特徴とする請求項1〜のいずれか一項に記載の成膜装置。 The shutter includes a carbon-based material, the film forming apparatus according to any one of claims 1 to 4, characterized in that it consists of a SUS plate covering the periphery of the carbon-based material. 前記シャッターは、前記シール部材が設けられた他方面にリブを設けたことを特徴とする請求項2〜のいずれか一項に記載の成膜装置。 The shutter, film forming apparatus according to any one of claims 2-5, characterized in that said sealing member has a rib on the other side provided. 前記基板は、前記成膜装置内において略垂直又は垂直に保持されることを特徴とする請求項1〜のいずれか一項に記載の成膜装置。 The substrate film forming apparatus according to any one of claims 1 to 6, characterized in that it is substantially vertically or vertically held within the film forming apparatus.
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