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JP5388239B2 - 電気機器 - Google Patents

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JP5388239B2 JP2011278475A JP2011278475A JP5388239B2 JP 5388239 B2 JP5388239 B2 JP 5388239B2 JP 2011278475 A JP2011278475 A JP 2011278475A JP 2011278475 A JP2011278475 A JP 2011278475A JP 5388239 B2 JP5388239 B2 JP 5388239B2
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Description

本発明は、過電流保護手段を有する電気機器に関する。
携帯情報端末などの電気機器では、通常、電源回路の短絡などが原因で生じる過電流を抑制する過電流保護手段が設けられている。過電流保護手段としては、温度に応じて抵抗値が変化するサーミスタを用いて過電流による温度変化を検知し、その温度変化に基づいて、過電流を抑制するものが知られている(特許文献1参照)。
特開2003−319025号公報
電気機器の外部から混入した金属片や電気機器の内部で脱落したネジ部品などの金属物が配線に接触した場合、その金属物と配線の結合が不安定だったり、金属物が比較的大きな抵抗値(例えば、数Ω〜十数Ω程度)を有していたりすると、電源回路が完全な短絡とはならずに、比較的小さな過電流が生じることがある。この場合、サーミスタと短絡箇所との間の距離や伝導率によっては、サーミスタが過電流による温度変化を検知できなかったり、過電流による温度変化を検知するまでに時間がかかったりする。このため、過電流を正確または迅速に抑制することができない。
本発明の目的は、過電流を正確かつ迅速に抑制することが可能な電気機器を提供することである。
本発明による電気機器は、内蔵基板と、前記内蔵基板に配置され、温度を検知するサーミスタを用いて前記内蔵基板への電力供給を制御する保護回路と、を備えた電気機器において、前記内蔵基板に配置され、前記内蔵基板で発生した熱を前記サーミスタに伝導させるための熱伝導層をさらに備える。
本発明によれば、過電流を正確または迅速に抑制することが可能になる。
本発明の第一の実施形態の電気機器に備わった電気回路基板の構成を示す図である。 本発明の第一の実施形態の電気機器に備わった過熱検知保護回路の構成を示す図である。 本発明の第二の実施形態の電気機器に備わった過電流検知保護回路の構成を示す図である。 本発明の第三の実施形態の電気機器に備わった過電流・過熱検知保護回路の構成を示す図である。 本発明の第四の実施形態の電気機器に備わった熱伝導層の構成を示す図である。
以下、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。なお、以下の説明では、同じ機能を有するものには同じ符号を付け、その説明を省略する場合がある。
図1は、本発明の第一の実施形態の電気機器に備わった内蔵基板である電気回路基板100の構成を示す図である。図1に示すように、電気回路基板100では、多層構造を有し、第一層101〜第六層106が積層されている。
第一層101は、回路素子などの電気部品が実装される実装部201と、実装部201以外の領域である良熱伝導部202とを有する熱伝導層である。良熱伝導部202は、良熱伝導体(例えば、銅板)で形成される。
第二層102〜第五層105は、信号線が配線されている。
第六層106は、第一層101と同様に、実装部201と良熱伝導部202とを有する熱伝導層である。
なお、良熱伝導部202を有する熱伝導層は、図1では、電気回路基板100の上面および下面の両方に形成されているが、実際には、電気回路基板100の上面および下面の少なくとも一方に形成されていればよい。
図2は、電気機器の電気回路基板100に設置されている、過電流から電気機器を保護する保護回路の一例である過熱検知保護回路の構成を示す図である。
図2に示す過熱検知保護回路は、温度を検知するサーミスタを用いて電気回路基板100に設置されている負荷回路11への電力供給を制御する保護回路の一例である。なお、負荷回路11は、電源端子Vccおよび接地端子GNDの間に設けられている。また、電源端子Vccは、例えば、電気機器に搭載された電池(図示せず)に接続されている。
図2に示すように、過熱検知保護回路は、FET(Field effect transistor:電界効果トランジスタ)12と、トランジスタ13と、温度検知回路14と、ゲート制御回路15とを有する。
FET12は、負荷回路11および接地端子GNDの間に設けられる。より具体的には、FET12は、Nチャネル型であり、そのドレインが負荷回路11と接続され、そのソースが接地端子GNDと接続される。
FET12のゲートは、NPN型のトランジスタ13を介して接地端子GNDと接続される。トランジスタ13のベースは、温度検知回路14と接続される。
温度検知回路14は、温度に応じて抵抗値が変化するサーミスタの温度に応じた制御電圧をトランジスタ13のベースに出力する。
より具体的には、温度検知回路14では、電源端子Vcc、抵抗14A、ダイオード14B、サーミスタ14C、接地端子GNDが順番に直列に接続され、抵抗14Aおよびダイオード14Bの間にトランジスタ13のベースが接続されている。なお、ダイオード14Bは、順方向に接続されている。
サーミスタ14Cは、温度が高いほど抵抗値が大きくなるPTC(positive temperature coefficient)サーミスタである。また、サーミスタ14Cは、FET12の近傍に配置されることが望ましい。
ゲート制御回路15は、FET12のゲートと接続され、そのゲートに印加するゲート電圧を制御することで、FET12のオン/オフを切り替える。
次に過熱検知保護回路の動作を説明する。
先ず、ユーザが電気機器に備わったスイッチ(図示せず)をオンしたことなどにより、電気機器が起動されると、ゲート制御回路15は、FET12のゲートにゲート電圧を印加して、FET12をオンにする。これにより、電源端子Vccから負荷回路11に電力が供給される。
その後、サーミスタ14Cの抵抗値が温度に応じて変化し、その抵抗値の変化に追従して、温度検出回路14からトランジスタ13のベースに出力される制御電圧が変化する。これにより、FET12のゲート電圧も変化して、負荷回路11に流れる負荷電流も変化する。したがって、FET12はサーミスタ14Cと熱結合状態となる。
このような状態において、電源端子Vccと接地端子GNDとが金属物などによって短絡し、過電流が発生すると、その過電流によって生じた熱は、熱伝導層である第一層101および第六層106の良熱伝導部202を経由してサーミスタ14Cに速やかに伝導され、サーミスタ14Cの温度が迅速かつ大幅に上昇する。この場合、サーミスタ14Cの抵抗値が大幅に上昇し、トランジスタ13のベースに出力される制御電圧が高くなり、トランジスタ13の抵抗値が低くなる。このため、FET12に印加される電圧が低くなり、FET12がオフになり、負荷回路11に流れる電流が停止または低減されるため、過電流が抑制される。
以上の動作の説明から分かるように、FET12およびトランジスタ13は、温度検出回路14から出力された制御電圧を用いて、電気回路基板100(より具体的には、負荷回路11)への電力供給を制御する制御部として機能することになる。
以上説明したように本実施形態によれば、サーミスタ14に熱を速やかに伝導させる熱伝導層が設けられているので、過電流を正確かつ迅速に抑制することが可能になる。
次に第二の実施形態を説明する。
本実施形態では、保護回路の別の例である過電流検知保護回路について説明する。図3は、本実施形態の過電流検知保護回路の構成を示す図である。
図3において、過電流検知保護回路は、図2に示した過熱検知保護回路に加えて、過電流検知回路21をさらに有する。
過電流検知回路21は、電気回路基板100に設置された負荷回路11に流れる負荷電流を検知し、その負荷電流に応じた制御信号をゲート制御回路15に出力する。
より具体的には、過電流検知回路21は、負荷電流が予め定められた閾値以上か否かを検知する。負荷電流が閾値以上の場合、過電流検知回路21は、負荷電流の停止を示す制御信号をゲート制御回路15に出力する。
ゲート制御回路15は、負荷電流の停止を示す制御信号を受け付けると、FET12に対するゲート電圧の印加を停止して、負荷電流を停止させる。
以上のように本実施形態では、FET12およびトランジスタ13に加えて、ゲート制御回路15および過電流検知回路21が制御部として機能し、制御部は、温度検出回路14から出力された制御電圧に加えて、負荷回路11に流れる負荷電流をさらに用いて、電気回路基板100への電力供給を制御することになる。
本実施形態でも、第一の実施形態と同様に、サーミスタ14に熱を速やかに伝導させる熱伝導層が設けられているので、過電流を正確かつ迅速に抑制することが可能になる。
また、過電流検知回路21でも過電流を検出することができるので、より正確に電流を抑制することが可能になる。
次に第三の実施形態を説明する。
本実施形態では、保護回路の別の例である過電流・過熱検知保護回路について説明する。図4は、本実施形態の過電流検知保護回路の構成を示す図である。
図4において、過電流・過熱検知保護回路は、図2に示した過熱検知保護回路に加えて、温度検知回路31〜33と、過電流・過熱検知制御回路34とを有する。
温度検知回路31〜33のそれぞれは、サーミスタを備え、そのサーミスタを用いて、温度を検出する。
より具体的には、温度検知回路31〜33のそれぞれは、電源端子Vcc、抵抗41、ダイオード42、サーミスタ43、接地端子GNDが順番に直列に接続され、抵抗41およびダイオード42の間から電圧を過電流・過熱検知制御回路34に出力される。なお、ダイオード42は、順方向に接続されている。サーミスタ43は、PTCサーミスタでもよいし、温度が高いほど抵抗値が小さいNTC(negative temperature coefficient)サーミスタでもよい。
なお、図4では、温度検知回路を新たに3つ加えたが、実際には、一つ以上加えればよい。また、各温度検知回路31〜33のサーミスタ43は、それぞれ別の箇所に設置されることが望ましい。
以上のような構成の場合、温度検知回路31〜33のそれぞれは、サーミスタ43の温度に応じた制御電圧を過電流・過熱検知制御回路34に出力することになる。
過電流・過熱検知制御回路34は、負荷回路11に流れる負荷電流を検出する。また、過電流・過熱検知制御回路34は、その負荷電流と、温度検知回路31〜33から受け付けた制御電圧とに応じた制御信号をゲート制御回路15に出力することで、負荷回路11への電力供給を制御する。
したがって、本実施形態では、FET12およびトランジスタ13に加えて、ゲート制御回路15および過電流・過熱検知制御回路34が制御部として機能し、制御部は、制御電圧と負荷電流とに基づいて、電気回路基板100への電力供給を制御することになる。
以下、過電流・過熱検知制御回路34が行う具体的な処理について説明する。
過電流・過熱検知制御回路34は、先ず、各制御電圧と負荷電流とを一定時間にわたって集計して、各制御電圧と負荷電流のそれぞれに対する統計的な数値である統計値を算出する。統計値は、例えば、各制御電圧と負荷電流との一定時間における最大値、最小値、平均値および標準偏差と、各集計値の単位時間当たりの変化量の最大値、最小値、平均値および標準偏差との少なくともいずれか一つである。
続いて、過電流・過熱検知制御回路34は、各統計値に基づいて、電源端子Vccおよび接地端子GNDが短絡したか否かを判断するための閾値を算出して自回路に設定する。閾値には、負荷電流に対する閾値である過電流閾値、制御電圧に対する閾値である過熱閾値、負荷電流の変化量に対する閾値である電流変化量閾値、および、制御電圧の変化量に対する閾値である熱変化量閾値がある。
なお、過電流・過熱検知制御回路34は、閾値を、統計値の予め定められた定数倍や、複数の種類の統計値を組み合わせることで算出する。また、各閾値は、一定時間ごとに更新されてもよい。また、過熱閾値や熱変化量閾値は、温度検知回路31〜33のそれぞれに対して算出されることが望ましい。また、過熱閾値および熱変化量閾値は、第一閾値の一例であり、過電流閾値および電流変化量閾値は、第二の閾値の一例である。
閾値を設定すると、過電流・過熱検知制御回路34は、それらの閾値と、制御電圧および負荷電流とに基づいて、負荷回路11への電力供給を制御する。
例えば、負荷電流が過電流閾値以上、制御電圧が過熱閾値以上、負荷電流の変化量が電流変化量閾値以上、または、制御電圧の変化量が熱変化量閾値以上になった場合、過電流・過熱検知制御回路34は、負荷電流の停止を示す制御信号をゲート制御回路15に出力して、ゲート制御回路15にFET12をオフにさせる。
また、負荷電流が過電流閾値以上、かつ、負荷電流の変化量が電流変化量閾値以上の場合、または、制御電圧が過熱閾値以上、かつ、制御電圧の変化量が熱変化量閾値以上になった場合に、過電流・過熱検知制御回路34は負荷電流の停止を示す制御信号をゲート制御回路15に出力してもよい。
本実施形態でも、第一の実施形態と同様に、サーミスタ14に熱を速やかに伝導させる熱伝導層が設けられているので、過電流を正確かつ迅速に抑制することが可能になる。
また、本実施形態によれば、負荷電流や、温度に依存した制御電圧の統計値に基づいて閾値が算出されるので、電気機器の使用環境などに応じて閾値を設定することが可能になり、過電流をより正確に検出することが可能になる。
次に第四の実施形態を説明する。
図5は、本実施形態の電気機器の熱伝導層に含まれる良熱伝導体の配置例を示す図である。
第一〜第三の実施形態では、熱伝導層である第一層101および第六層106では、電気部品が実装されている実装部201以外が良熱伝導体で形成されていたが、図5では、良熱伝導体302が、熱伝導層300のほぼ全面にわたり、サーミスタ301を中心に放射状に配置されている。なお、図5では、サーミスタ301の数を2つとし、サーミスタ301以外の電気部品については記載を省略している。なお、サーミスタ301は、図3に示したサーミスタ14Cおよび43に対応する。
本実施形態では、サーミスタ301に熱を速やかに伝導させつつ、熱伝導層の熱容量の増加を軽減することが可能になる。
以上説明した各実施形態において、図示した構成は単なる一例であって、本発明はその構成に限定されるものではない。
11 負荷回路
12 FET
13 トランジスタ
14、31〜33 温度検知回路
14A、41 抵抗
14B、42 ダイオード
14C、43 サーミスタ
15 ゲート制御回路
21 過電流検知回路
34 過電流・過熱検知制御回路
101〜106 第一層〜第六層
201 実装部
202 良熱伝導部

Claims (7)

  1. 内蔵基板と、前記内蔵基板に設置されたサーミスタを用いて前記内蔵基板への電力供給を制御する保護回路と、を備えた電気機器において、
    前記内蔵基板は、当該内蔵基板で発生した熱を前記サーミスタに伝導させるための熱伝導層を備え
    前記熱伝導層では、良熱伝導体が前記サーミスタを中心とした放射状に形成されていることを特徴とする電気機器。
  2. 前記熱伝導層は、前記内蔵基板の上面および下面の少なくとも一方に形成されている、請求項1に記載の電気機器。
  3. 前記良熱伝導体は、銅である、請求項または記載の電気機器。
  4. 前記保護回路は、
    前記サーミスタを備え、当該サーミスタの温度に応じた制御電圧を出力する温度検知部と、
    前記制御電圧を用いて、前記電力供給を制御する制御部と、を有する請求項1ないしのいずれか1項に記載の電気機器。
  5. 前記制御部は、前記制御電圧の統計的な数値に応じた第一の閾値を算出し、前記第一の閾値と前記制御電圧とに基づいて、前記電力供給を制御する、請求項に記載の電気機器。
  6. 前記制御部は、前記内蔵基板に流れる負荷電流を検知し、前記負荷電流をさらに用いて、前記電力供給を制御する、請求項またはに記載の電気機器。
  7. 前記制御部は、前記負荷電流の統計的な数値に応じた第二の閾値を算出し、前記第二の閾値と前記負荷電流とに基づいて、前記電力供給を制御する、請求項に記載の電気機器。
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