JP5362444B2 - X-ray diagnostic imaging equipment - Google Patents
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Description
本発明は、X線発生器から照射されて被検体を透過するX線をX線平面検出器により検出してX線投影画像を生成するX線画像診断装置に係り、具体的には、X線投影画像に含まれるX線平面検出器の暗電流を補正する技術に関する。 The present invention relates to an X-ray diagnostic imaging apparatus that generates an X-ray projection image by detecting X-rays irradiated from an X-ray generator and transmitted through a subject with an X-ray flat panel detector. The present invention relates to a technique for correcting a dark current of an X-ray flat panel detector included in a line projection image.
X線画像診断装置は、X線発生器から被検体にX線を照射し、被検体を透過するX線をX線平面検出器により検出してX線投影画像を生成する。X線平面検出器(以下、X線FPDという。)としては、一般に、X線投影画像の画素に対応させて複数のX線検出素子を格子状に2次元配列して形成されている。X線検出素子としては、X線の入射量を光電変換素子により電流に変換し、その電流をコンデンサに蓄積させ、コンデンサの蓄積電荷を透過X線量として計測する構成のものが知られている。すなわち、2次元配列された複数のX線検出素子のコンデンサの蓄積電荷を読み出してX線投影画像を生成するようになっている。 The X-ray image diagnostic apparatus irradiates a subject with X-rays from an X-ray generator, detects X-rays transmitted through the subject with an X-ray flat panel detector, and generates an X-ray projection image. In general, an X-ray flat panel detector (hereinafter referred to as an X-ray FPD) is formed by two-dimensionally arranging a plurality of X-ray detection elements in a lattice pattern corresponding to the pixels of an X-ray projection image. As an X-ray detection element, one having a configuration in which an incident amount of X-rays is converted into a current by a photoelectric conversion element, the current is accumulated in a capacitor, and a charge accumulated in the capacitor is measured as a transmitted X-ray dose. That is, the X-ray projection image is generated by reading out the accumulated charges of the capacitors of a plurality of two-dimensionally arranged X-ray detection elements.
ところで、X線FPDのX線検出素子には、X線が照射されていないときでも光電変換素子に電流が流れて、コンデンサに電荷が蓄積されることが知られており、これを暗電流と称している。この暗電流による蓄積電荷はX線投影画像のノイズになり、画質が低下するという問題がある。 By the way, it is known that an X-ray detection element of an X-ray FPD causes a current to flow through a photoelectric conversion element even when X-rays are not irradiated, and charges are accumulated in a capacitor. It is called. The accumulated charge due to the dark current becomes noise in the X-ray projection image, and there is a problem that the image quality is deteriorated.
暗電流の問題を解消するために、従来、X線が入射されていないときにコンデンサに蓄えられている暗電流分の蓄積電荷を放電させて初期化することが知られている。しかし、これによれば、コンデンサを初期化してから実際に撮影するまでの時間が長くなれば、コンデンサに暗電流による電荷が蓄積されて、画質が低下するという問題が残る。 In order to solve the problem of dark current, it is conventionally known to initialize by discharging the accumulated charge for dark current stored in a capacitor when no X-rays are incident. However, according to this, if the time from the initialization of the capacitor to the actual photographing becomes long, the charge due to the dark current is accumulated in the capacitor and the image quality is deteriorated.
一方、X線投影画像を撮像する前に暗電流分の電荷量を読み出して、暗電流補正データを作成して記憶しておき、X線投影画像を生成する際にX線FPDにより検出された透過X線量から暗電流補正データを減算して、X線投影画像を補正することが提案されている(特許文献1)。 On the other hand, before capturing an X-ray projection image, the amount of charge for dark current is read out, dark current correction data is created and stored, and detected by the X-ray FPD when generating the X-ray projection image It has been proposed to correct the X-ray projection image by subtracting the dark current correction data from the transmitted X-ray dose (Patent Document 1).
ところで、暗電流はX線FPDの内部温度によって変化することから、X線FPDの内部温度ごとに暗電流補正データを記憶しておき、撮像時のX線FPDの温度に応じてX線投影画像を補正する必要がある。したがって、特許文献1の方法によれば、暗電流補正データの記憶領域が膨大になるという問題がある。
By the way, since the dark current varies depending on the internal temperature of the X-ray FPD, dark current correction data is stored for each internal temperature of the X-ray FPD, and an X-ray projection image is obtained according to the temperature of the X-ray FPD at the time of imaging. Need to be corrected. Therefore, according to the method of
そこで、特許文献2には、X線FPDの少なくとも2つの異なる温度における暗電流補正データをX線FPDの検出素子(画素)ごとに記憶しておき、内挿又は外挿による補間法により、撮影時のX線FPDの温度における暗電流補正データを算出することが提案されている。また、同文献には、暗電流補正の必要性をX線FPDの温度に基づいて判断することにより、暗電流補正の実行回数を低減して、X線撮影の煩わしさを回避することが提案されている。
Therefore, in
しかし、特許文献2に記載のように、X線FPDの異なる温度における2つの暗電流補正データをX線検出素子ごとに記憶しておき、補間法により撮影時のX線FPDの温度における暗電流補正データを算出する場合であっても、画素ごとに記憶領域が必要であるから、記憶装置が大型化してしまう問題がある。例えば、X線FPDが900万画素の場合、1つの温度における暗電流補正データの記憶容量が約18MBになり、2つの異なる温度の暗電流補正データを記憶する場合は約36MBの記憶容量が必要になる。
However, as described in
また、従来技術においては、X線FPDのX線検出素子の経年などによる特性変化については考慮していないから、X線検出素子の特性変化により例えば温度依存性の暗電流補正データが変化した場合は、誤差が大きくなるおそれがある。 Further, in the prior art, since the characteristic change due to the aging of the X-ray detection element of the X-ray FPD is not considered, for example, when the temperature-dependent dark current correction data changes due to the characteristic change of the X-ray detection element May increase the error.
本発明が解決しようとする第1の課題は、温度依存性の暗電流補正データの記憶容量を大幅に低減することにある。 The first problem to be solved by the present invention is to greatly reduce the storage capacity of temperature-dependent dark current correction data.
また、本発明が解決しようとする第2の課題は、X線FPDのX線検出素子の特性変化に対応して暗電流補正データを生成することにある。 A second problem to be solved by the present invention is to generate dark current correction data corresponding to a change in characteristics of the X-ray detection element of the X-ray FPD.
本発明は、被検体にX線を照射するX線発生器と、該X線発生器に対向して配置され前記被検体の透過X線を検出する平面型のX線検出器と、該X線検出器の温度を検出する温度検出器と、前記X線検出器の暗電流データを記憶する第1の記憶手段と、前記X線検出器の暗電流を計測して前記第1の記憶手段の暗電流データを更新する暗電流データ更新手段と、前記X線検出器から出力される透過X線データを前記第1の記憶手段の前記暗電流データに基づいて補正して前記被検体のX線投影画像を生成する画像生成手段とを備えてなるX線画像診断装置を対象とする。 The present invention includes an X-ray generator that irradiates a subject with X-rays, a planar X-ray detector that is disposed opposite to the X-ray generator and detects transmitted X-rays of the subject, and the X-ray detector A temperature detector for detecting a temperature of the X-ray detector; a first storage means for storing dark current data of the X-ray detector; and a first storage means for measuring a dark current of the X-ray detector. Dark current data updating means for updating the dark current data of the subject, and the transmitted X-ray data output from the X-ray detector is corrected based on the dark current data of the first storage means to correct the X of the subject. An X-ray diagnostic imaging apparatus including an image generation unit that generates a line projection image is an object.
本発明の第1の態様は、第1の課題を解決するため、X線画像診断装置において、前記暗電流データを前記X線検出器の温度に応じて補正する温度補正係数が記憶された第2の記憶手段を備え、前記暗電流データ更新手段は、前記X線検出器の温度を付して前記第1の記憶手段の前記暗電流データを更新し、前記画像生成手段は、前記透過X線データが出力されたときの前記X線検出器の温度と前記第1の記憶手段に記憶されている前記暗電流データに付された前記X線検出器の温度との差、及び前記第2の記憶手段に記憶されている前記温度補正係数に基づいて温度依存暗電流補正データを求める温度依存暗電流補正データ演算手段と、該手段により求めた温度依存暗電流補正データを用いて前記第1の記憶手段から読み出した前記暗電流データを補正する温度依存暗電流データ補正手段とを有し、該手段により補正された暗電流データに基づいて前記透過X線データを補正して前記被検体のX線投影画像を生成することを特徴とする。 According to a first aspect of the present invention, in order to solve the first problem, in the X-ray diagnostic imaging apparatus, a temperature correction coefficient for correcting the dark current data according to the temperature of the X-ray detector is stored. 2, the dark current data update means updates the dark current data of the first storage means with the temperature of the X-ray detector, and the image generation means includes the transmission X A difference between the temperature of the X-ray detector when the line data is output and the temperature of the X-ray detector attached to the dark current data stored in the first storage means; and the second Temperature-dependent dark current correction data calculating means for obtaining temperature-dependent dark current correction data based on the temperature correction coefficient stored in the storage means, and the first temperature-dependent dark current correction data obtained by the means. The dark current read from the storage means Temperature-dependent dark current data correcting means for correcting data, and correcting the transmitted X-ray data based on the dark current data corrected by the means to generate an X-ray projection image of the subject. It is characterized by.
すなわち、本発明の第1の態様では、後述するように、X線FPDの温度により変化する暗電流Iは、X線FPDの温度Tに比例して増加することに鑑み、X線FPDの製造時の出荷段階でX線FPDの暗電流の温度特性を計測し、その温度特性の傾きΔI0/ΔT0を温度補正係数の初期値α0として第2の記憶手段に記憶させておく。また、X線FPDの温度を検出する温度検出器を設け、暗電流データ更新手段は暗電流を計測して暗電流データを更新する際に、更新時のX線FPDの温度TRを付して第1の記憶手段の暗電流データを更新する。一方、画像生成手段は、実際の撮影時におけるX線FPDの温度TCを検出し、更新時と撮影時の温度の差(TC−TR)に温度補正係数α0を乗ずることにより、温度依存暗電流補正データITC=α0(TC−TR)を求めることができる。なお、温度補正係数α0は、本来的にはX線FPDの画素ごとに設定することが望ましいが、実用的にはX線FPDの温度分布は小さいことから、X線FPDの全画素の平均値を用いることができる。この場合、温度依存暗電流補正データITCは、各画素共通の1つのデータになる。 That is, in the first aspect of the present invention, as will be described later, in view of the fact that the dark current I that changes with the temperature of the X-ray FPD increases in proportion to the temperature T of the X-ray FPD, the manufacture of the X-ray FPD is performed. At the time of shipment, the temperature characteristics of the dark current of the X-ray FPD are measured, and the gradient ΔI 0 / ΔT 0 of the temperature characteristics is stored in the second storage means as the initial value α 0 of the temperature correction coefficient. Further, provided the temperature detector for detecting the temperature of the X-ray FPD, dark current data updating means in updating the dark current data by measuring the dark current, denoted by the temperature T R of the X-ray FPD Refreshed The dark current data in the first storage means is updated. On the other hand, the image generation means detects the temperature T C of the X-ray FPD during actual photographing, by multiplying the temperature correction coefficient alpha 0 the difference in temperature at the time of update at the shooting (T C -T R), can be determined temperature-dependent dark current correction data I TC = alpha 0 to (T C -T R). The temperature correction coefficient α 0 is desirably set for each pixel of the X-ray FPD. However, since the temperature distribution of the X-ray FPD is practically small, the average of all the pixels of the X-ray FPD is used. A value can be used. In this case, the temperature-dependent dark current correction data ITC is one data common to each pixel.
このようにして、温度依存の暗電流補正データITCにより、第1の記憶手段の暗電流データを増減補正し、その補正された暗電流データを用いて、実際の撮影時におけるX線FPDの各画素の検出出力を補正することにより、画質の向上したX線投影画像を得ることができる。このように、本発明によれば、温度補正係数α0を1つ記憶するだけで、X線FPDの各画素に対する温度依存性の暗電流補正データを求めることができるから、温度依存性の暗電流補正に必要な記憶容量を大幅に低減することができる。 In this way, the dark current data in the first storage means is corrected to increase or decrease by the temperature-dependent dark current correction data ITC , and the X-ray FPD at the time of actual imaging is used by using the corrected dark current data. By correcting the detection output of each pixel, an X-ray projection image with improved image quality can be obtained. As described above, according to the present invention, the temperature-dependent dark current correction data for each pixel of the X-ray FPD can be obtained by storing only one temperature correction coefficient α 0. The storage capacity required for current correction can be greatly reduced.
また、本発明の第2の態様は、第2の課題を解決するため、第1の態様に加えて、さらに、前記暗電流データ更新手段により更新された暗電流データと更新前の暗電流データとの差、及びそれらの暗電流データに付された前記X線検出器の温度の差に基づいて前記温度補正係数を算出して前記第2の記憶手段の前記温度補正係数を更新する温度補正係数更新手段を備えてなることを特徴とする。 Moreover, in order to solve the second problem, the second aspect of the present invention further includes dark current data updated by the dark current data updating means and dark current data before update in addition to the first aspect. And a temperature correction for updating the temperature correction coefficient of the second storage means by calculating the temperature correction coefficient based on the difference in temperature and the difference in temperature of the X-ray detector attached to the dark current data Coefficient updating means is provided.
すなわち、X線FPDは、X線検出素子の特性変化により、温度依存性の暗電流が変化することがある。そこで、適宜、更新された暗電流データと更新前の暗電流データとの差である暗電流の変化ΔIを、それらの暗電流データの計測時のX線FPDの温度変化ΔTで割って、温度補正係数α=ΔI/ΔTを求めて、第2の記憶手段の温度補正係数を更新する。これにより、X線検出素子が特性変化して温度依存性が変化した場合に対応して、暗電流補正データを生成できるから、暗電流補正の精度を向上できる。 That is, in the X-ray FPD, a temperature-dependent dark current may change due to a change in characteristics of the X-ray detection element. Accordingly, the change ΔI in dark current, which is the difference between the updated dark current data and the dark current data before update, is divided by the temperature change ΔT of the X-ray FPD at the time of measurement of the dark current data to obtain the temperature The correction coefficient α = ΔI / ΔT is obtained, and the temperature correction coefficient of the second storage unit is updated. Thereby, since the dark current correction data can be generated in response to a change in characteristics of the X-ray detection element and a change in temperature dependency, the accuracy of dark current correction can be improved.
また、X線FPDの暗電流は、非撮影状態(待機状態)においてX線検出素子のコンデンサに電荷が蓄積されることに起因するから、暗電流を計測して第1の記憶手段の暗電流データを更新してから、実際の撮影が行なわれるまでの経過時間に応じて、実際の暗電流データが変化してしまう。つまり、暗電流データを更新してからの経過時間に応じて暗電流を補正する必要がある。 Further, since the dark current of the X-ray FPD is caused by the accumulation of electric charges in the capacitor of the X-ray detection element in the non-imaging state (standby state), the dark current is measured and the dark current of the first storage unit is measured. The actual dark current data changes according to the elapsed time from the update of the data until the actual shooting is performed. That is, it is necessary to correct the dark current according to the elapsed time since the dark current data was updated.
そこで、本発明の第3の態様は、第1又は第2の態様に加えて、前記第1の記憶手段の前記暗電流データが更新されたときからの経過時間に応じて前記暗電流データを補正する経過時間補正係数が記憶された第3の記憶手段を備え、前記暗電流データ更新手段は、前記暗電流データの更新時刻を付して前記第1の記憶手段の前記暗電流データを更新し、前記画像生成手段は、前記第1の記憶手段に記憶されている前記暗電流データに付された更新時刻から前記透過X線データが出力されたときの時刻までの経過時間、及び前記第3の記憶手段に記憶されている前記経過時間補正係数に基づいて経過時間依存暗電流補正データを求める経過時間依存暗電流補正データ演算手段と、該手段により求めた経過時間依存暗電流補正データを用いて前記第1の記憶手段から読み出した前記暗電流データを補正する経過時間依存暗電流データ補正手段とを有し、該経過時間依存暗電流データ補正手段及び前記温度依存暗電流データ補正手段により補正された経過時間依存暗電流補正データと温度依存暗電流補正データに基づいて前記透過X線データを補正して前記被検体のX線投影画像を生成することを特徴とする。 Therefore, in a third aspect of the present invention, in addition to the first or second aspect, the dark current data is stored in accordance with an elapsed time from when the dark current data in the first storage means is updated. A third storage unit storing an elapsed time correction coefficient to be corrected; and the dark current data update unit updates the dark current data of the first storage unit with an update time of the dark current data. The image generation means includes an elapsed time from an update time attached to the dark current data stored in the first storage means to a time when the transmission X-ray data is output, and the first The elapsed time dependent dark current correction data calculating means for obtaining elapsed time dependent dark current correction data based on the elapsed time correction coefficient stored in the storage means 3, and the elapsed time dependent dark current correction data obtained by the means Using said Elapsed time dependent dark current data correcting means for correcting the dark current data read from one storage means, and the elapsed time corrected dark current data correcting means and the temperature dependent dark current data correcting means. The transmission X-ray data is corrected based on the time-dependent dark current correction data and the temperature-dependent dark current correction data to generate an X-ray projection image of the subject.
すなわち、本発明の第3の態様は、暗電流を計測して第1の記憶手段の暗電流データを更新してから、実際の撮影が行なわれるまでの経過時間に比例して暗電流が増加する経過時間依存性を有することに鑑み、X線FPDの製造時の出荷段階でX線FPDの暗電流の経過時間特性を計測し、その温度特性の傾きΔI0/ΔD0を経過時間補正係数の初期値β0として第3の記憶手段に記憶させておく。一方、暗電流データ更新手段は、暗電流データの更新時刻を付して第1の記憶手段の暗電流データを更新する。そして、画像生成手段は、暗電流データに付された更新時刻から透過X線データが出力された撮影時の時刻までの経過時間DCを算出し、その経過時間DCに経過時間補正係数β0を乗ずることにより、経過時間依存暗電流補正データIDC=β0DCを求めることができる。なお、経過時間依存暗電流補正データIDCは、本来的にはX線FPDの画素ごとに設定することが望ましいが、実用的にはX線FPDの画素の経過時間による暗電流の差は小さいことから、X線FPDの全画素の平均値を用いることができる。この場合、温度依存暗電流補正データIDCは、各画素共通の1つのデータになる。本発明の第3の態様によれば、経過時間補正係数を1つ記憶するだけで、経過時間依存性の暗電流補正データを求めることができるから、経過時間依存性の暗電流補正に必要な記憶容量を大幅に低減することができる。 That is, in the third aspect of the present invention, the dark current increases in proportion to the elapsed time from when the dark current is measured and the dark current data in the first storage means is updated until the actual photographing is performed. In view of having the elapsed time dependency, the elapsed time characteristic of the dark current of the X-ray FPD is measured at the shipment stage at the time of manufacturing the X-ray FPD, and the gradient ΔI 0 / ΔD 0 of the temperature characteristic is calculated as the elapsed time correction coefficient. advance and stored in the initial value beta 0 of the third storage means. On the other hand, the dark current data update means updates the dark current data in the first storage means with the update time of the dark current data. Then, the image generating means calculates the elapsed time D C from the update time attached to the dark current data and the time at the time of photographing the transmitted X-ray data is output, the elapsed time correction coefficient β to the elapsed time D C by multiplying the 0, it can be determined elapsed time dependent dark current correction data I DC = β 0 D C. Incidentally, the elapsed time-dependent dark current correction data I DC, it is desirable to set for each pixel of inherent in the X-ray FPD, the difference between the dark current due to the elapsed time of the pixels is practically X-ray FPD is small Therefore, the average value of all pixels of the X-ray FPD can be used. In this case, the temperature-dependent dark current correction data IDC is one data common to each pixel. According to the third aspect of the present invention, since the elapsed time-dependent dark current correction data can be obtained by storing only one elapsed time correction coefficient, it is necessary for the elapsed time-dependent dark current correction. The storage capacity can be greatly reduced.
さらに、X線FPDは、X線検出素子の特性変化により、経過時間依存性の暗電流が変化することがある。そこで、本発明の第3の態様に加えて、前記暗電流データ更新手段により更新された暗電流データと更新前の暗電流データとの差、及びそれらの暗電流データに付された前記更新時刻の差に基づいて前記経過時間補正係数を算出して前記第3の記憶手段の前記経過時間補正係数を更新する経過時間補正係数更新手段を備えて構成することができる。 Furthermore, in the X-ray FPD, an elapsed time-dependent dark current may change due to a change in characteristics of the X-ray detection element. Therefore, in addition to the third aspect of the present invention, the difference between the dark current data updated by the dark current data update means and the dark current data before update, and the update time attached to the dark current data. And an elapsed time correction coefficient updating unit that calculates the elapsed time correction coefficient based on the difference between the two and updates the elapsed time correction coefficient of the third storage unit.
これによれば、適宜、更新された暗電流データと更新前の暗電流データとの差である暗電流の変化ΔIを、経過時間Dで割って、経過時間補正係数β=ΔI/ΔDを求めて、第3の記憶手段の経過時間補正係数を更新する。これにより、X線検出素子の特性が変化して経過時間依存性の暗電流補正データが変化した場合に対応して、暗電流補正データを生成できるから、暗電流補正の精度を向上できる。 According to this, the elapsed time correction coefficient β = ΔI / ΔD is obtained by appropriately dividing the change ΔI in dark current, which is the difference between the updated dark current data and the dark current data before update, by the elapsed time D. Thus, the elapsed time correction coefficient of the third storage means is updated. Thereby, since the dark current correction data can be generated in response to a change in the elapsed time-dependent dark current correction data due to a change in the characteristics of the X-ray detection element, the accuracy of the dark current correction can be improved.
また、上記のいずれかの態様において、前記暗電流データ更新手段と前記温度補正係数更新手段と前記経過時間補正係数更新手段は、前記X線投影画像の非撮影時に更新を実行することが好ましい。さらに、前記暗電流データ更新手段と前記温度補正係数更新手段と前記温度補正係数更新手段は、前記X線投影画像の非撮影時に定期的(例えば、1分間隔)に更新を実行する。 In any one of the above aspects, it is preferable that the dark current data update unit, the temperature correction coefficient update unit, and the elapsed time correction coefficient update unit perform update when the X-ray projection image is not imaged. Further, the dark current data update unit, the temperature correction coefficient update unit, and the temperature correction coefficient update unit execute update periodically (for example, at intervals of 1 minute) when the X-ray projection image is not captured.
また、上記のいずれかの態様において、前記温度補正係数更新手段は、前記X線検出器の温度変化が設定された閾値を越えたときに更新を実行することが好ましい。さらに、前記暗電流データ更新手段により更新された暗電流データと更新前の暗電流データに付された前記X線検出器の温度の差があらかじめ設定された異常値を越えるときは、温度変化異常の警告を出力することができる。 In any one of the above aspects, it is preferable that the temperature correction coefficient updating unit performs updating when a temperature change of the X-ray detector exceeds a set threshold value. Further, when the difference in temperature of the X-ray detector attached to the dark current data updated by the dark current data update means and the dark current data before the update exceeds a preset abnormal value, a temperature change abnormality is detected. Can be output.
本発明によれば、温度依存性の暗電流補正データの記憶容量を大幅に低減することができるという、第1の効果が得られる。 According to the present invention, the first effect that the storage capacity of the temperature-dependent dark current correction data can be significantly reduced is obtained.
また、本発明によれば、X線FPDのX線検出素子の特性変化に対応して暗電流補正データを生成することができるという、第2の効果が得られる。 In addition, according to the present invention, the second effect that dark current correction data can be generated in response to a change in characteristics of the X-ray detection element of the X-ray FPD can be obtained.
以下、本発明のX線画像診断装置について実施形態に基づいて説明する。
(実施形態1)
本発明の実施形態1のX線画像診断装置は、図1に示すように、被検体100にX線を照射するX線発生器1と、X線発生器1に対向して配置され被検体100の透過X線を検出する平面型のX線検出器2と、X線検出器2の内部の温度を検出する温度検出器3と、X線投影画像等の情報を表示する画像表示装置4を備えて構成されている。
Hereinafter, an X-ray diagnostic imaging apparatus according to the present invention will be described based on embodiments.
(Embodiment 1)
As shown in FIG. 1, an X-ray image diagnostic apparatus according to
さらに、実施形態1のX線画像診断装置は、X線検出器2から出力される検出出力と、温度検出器3から出力されるX線検出器2の内部温度に基づいて、X線投影画像等の情報を生成する演算処理装置10を備えて構成されている。演算処理装置10は、プログラムの実行により実現される暗電流データ更新手段11と、温度補正係数更新手段12と、画像生成手段13を備えている。さらに、画像生成手段13は、暗電流補正データ演算手段14と、暗電流データ補正手段15を備えて構成されている。また、適宜計測されるX線検出器2の暗電流データを記憶する第1の記憶手段である暗電流データ記憶手段16と、X線検出器2の内部温度に応じて暗電流データを補正する温度補正係数が記憶される第2の記憶手段である温度補正係数記憶手段17が、データバス18を介して相互にデータ伝送可能に演算処理装置10に接続されている。
Furthermore, the X-ray diagnostic imaging apparatus of
このように構成される実施形態1のX線画像診断装置の各部の詳細構成について、動作とともに説明する。X線発生器1から被検体100に向けて照射されたX線は、被検体100のX線透過量に応じてX線検出器2に入射される。X線検出器2に入射されたX線は、X線検出器2の各X線検出素子により電気信号に変換されて、演算処理装置10に入力される。演算処理装置10は、画像生成手段13において後述する暗電流補正を施し、X線投影画像を生成して画像表示装置4に表示するようになっている。また、生成したX線投影画像を電子データの形で記録媒体に格納したり、フィルムなどのX線投影画像を形成することができる。
The detailed configuration of each part of the X-ray image diagnostic apparatus of
次に、本実施形態1の特徴である暗電流補正の詳細構成を、図2〜図4を参照して動作とともに説明する。本実施形態に用いるX線検出器2は、X線投影画像の画素に対応させて複数のX線検出素子を格子状に2次元配列して形成されている。また、本実施形態のX線検出素子は、X線の入射量をフォトダイオード等の光電変換素子により電流に変換し、その電流をコンデンサに蓄積させ、コンデンサの蓄積電荷を放電させて、その放電量を透過X線量として計測するようになっている。すなわち、2次元配列された複数のX線検出素子のコンデンサの蓄積電荷を読み出してX線投影画像を生成するようになっている。
Next, the detailed configuration of dark current correction, which is a feature of the first embodiment, will be described with reference to FIGS. The
ところで、X線検出器2のX線検出素子には、X線が照射されていないときでも光電変換素子に電流(暗電流)が流れる現象がある。この暗電流による蓄積電荷はX線投影画像のノイズになるから、非撮影状態におけるX線検出器2の各画素のコンデンサに蓄積された電荷を放電させ、その放電量を読み取って補正用の暗電流データを定期的又は周期的に更新している。そして、撮影時のX線検出器2の各画素の出力から、直前に更新された暗電流を除去することにより、X線投影画像の暗電流ノイズを除去することができる。
By the way, the X-ray detection element of the
しかし、暗電流データの更新によりコンデンサの蓄積電荷を放電させても、コンデンサにオフセット分の蓄積電荷(以下、オフセット成分という。)が残る。また、コンデンサの蓄積電荷を放電させてから実際に撮像するまでの経過時間に応じて、コンデンサに新たな電荷が蓄積される(以下、経過時間成分という。)。さらに、コンデンサの蓄積電荷に係る暗電流は、X線検出器2の内部温度に応じて変動する(以下、温度依存成分という。)。ここで、オフセット成分は一定値であるから、上述した暗電流データの更新により除去できる。また、経過時間成分は、後述するように、オフセット成分に対して小さいから、経過時間が短い範囲では問題とならない。一方、温度依存成分は、比較的大きいため、無視することはできない。 However, even if the accumulated charge of the capacitor is discharged by updating the dark current data, the accumulated charge corresponding to the offset (hereinafter referred to as an offset component) remains in the capacitor. Further, a new charge is accumulated in the capacitor according to the elapsed time from discharging the accumulated charge of the capacitor to actual imaging (hereinafter referred to as an elapsed time component). Further, the dark current related to the accumulated charge of the capacitor varies according to the internal temperature of the X-ray detector 2 (hereinafter referred to as a temperature dependent component). Here, since the offset component is a constant value, it can be removed by updating the dark current data described above. Further, since the elapsed time component is smaller than the offset component as will be described later, there is no problem in a range where the elapsed time is short. On the other hand, the temperature-dependent component is relatively large and cannot be ignored.
そこで、図3に示す非撮影時において、暗電流データ更新と温度補正係数更新処理を実行するようにしている(図3のステップS1〜S4)。なお、図3のS2〜S4は、必要に応じて実行する処理であるから、後述する。 Therefore, dark current data update and temperature correction coefficient update processing are executed during non-photographing shown in FIG. 3 (steps S1 to S4 in FIG. 3). Note that S2 to S4 in FIG. 3 are processes to be executed as necessary, and will be described later.
まず、図3のステップS1において、図1の暗電流データ更新手段11は、非撮影時におけるX線検出器2の各画素の暗電流を計測し、暗電流データ記憶手段16に記憶する。ここで、暗電流は、例えば図2に示すように、X線検出器2の内部温度によって変化する温度依存性を有する。図2の横軸はX線検出器2の内部温度を示し、縦軸は画素単位の暗電流量[count]を示している。ここで、[count]は、画素の輝度階層の階層数である。また、一般に、X線検出器2の内部温度は、20℃〜50℃の範囲に収まるが、図示例では、30℃〜40℃の例を示している。図2から明らかなように、X線検出器2の温度依存の暗電流ITは、X線検出器2の内部温度Tに比例して増加することが判った。
First, in step S1 of FIG. 3, the dark current
そこで、本実施形態では、X線検出器2の製造時の段階で、例えば出荷段階で、X線検出器2の暗電流ITと内部温度Tとの関係を計測し、その傾きΔIT/ΔTを温度補正係数αの初期値(α0)を得て、温度補正係数記憶手段17に記憶しておく。これにより、暗電流補正データ演算手段14は、次式(1)により、撮像時における暗電流補正データITCを求めることができる。
[数1]
ITC=α(TC−TR) (1)
ここで、TCは撮像時(補正時)のX線検出器2の内部温度、TRは暗電流更新時(最新)のX線検出器2の内部温度である。つまり、式(1)は、暗電流データ記憶手段16に記憶されている暗電流データに対して、温度変化ΔT=(TC−TR)に対応した温度依存性の暗電流補正データITCである。
Therefore, in this embodiment, at the stage during the production of the
[Equation 1]
I TC = α (T C -T R) (1)
Here, T C is the internal temperature of the
そこで、図3のステップS1に示すように、暗電流データ更新手段11は、非撮影時におけるX線検出器2の各画素のコンデンサに蓄積された電荷を放電させて、蓄積電荷を暗電流として周期的ないし定期的に計測して、暗電流データ記憶手段16の暗電流データを更新する。このとき、更新時のX線検出器2の内部温度TRの検出値を付して記憶する。なお、X線検出器2の各画素のコンデンサに蓄積される電荷が暗電流データ更新手段11によって読み出されても、コンデンサが完全に放電されるわけでなく、オフセット分が残る。このオフセット分は、図2の例では約2,500[count]である。
Therefore, as shown in step S1 of FIG. 3, the dark current
暗電流データ補正手段15は、次式(2)により、撮像時の暗電流データICを求めることができる。
[数2]
IC=IR+ITC (2)
ここで、IRは、暗電流データ記憶手段16に記憶されている最新の暗電流データの更新データであり、更新時のオフセット成分と温度依存成分の暗電流の和である。
Dark current data correction means 15, by the following equation (2), can be obtained dark current data I C at the time of imaging.
[Equation 2]
I C = I R + I TC (2)
Here, I R is the update data of the latest dark current data stored in the dark current
次に、図3のステップS2〜S4の処理について説明する。上述では、X線検出器2の暗電流の温度特性が、経年変化しないものとして、温度補正係数αを初期値(α0)のままで暗電流補正データを求めるものとして説明した。しかし、X線検出器2の温度依存性の暗電流は、使用時間に応じて、また使用環境に応じて経年変化することから、温度補正係数αを適宜更新する必要がある。そこで、本実施形態では、図3のステップS2〜S4において、温度補正係数αを更新するようにしている。
Next, the processing of steps S2 to S4 in FIG. 3 will be described. In the above description, it is assumed that the dark current temperature characteristic of the
図3のステップS2において、S1の暗電流データ更新処理において今回取得した温度検出器3の温度と、更新前の暗電流データに付された温度との変化ΔTを求め、そのΔTが異常に大きい場合(例えば、ΔT≧10℃)は、撮像不能と判断してステップS4に移行して、画像表示装置4に警告を表示(例えば、「FPD異常」)して、図3の処理を終了する。
一方、ステップS2の判断で、ΔTが異常でなければ、ステップS3に進んで、温度補正係数更新手段12は更新前と更新後の暗電流データの温度変化ΔT、及び暗電流の変化ΔIRに基づいて、次式(3)により、温度補正係数αを求めて、温度補正係数記憶手段17の記憶を更新して、図3の処理を終了する。なお、図3の処理は、非撮影時に定期的(例えば、1分間隔)に実行することができる。また、必要時に、実行させるようにすることもできる。また、温度補正係数αは、本来的にはX線検出器2の画素ごとに設定することが望ましいが、実用的にはX線検出器2の温度分布の偏差は小さいことから、X線検出器2の全画素の平均値を用いることができる。この場合、温度依存暗電流補正データITCは、各画素共通の1つのデータになる。
[数3]
α=ΔIR/ΔT (3)
In step S2 of FIG. 3, a change ΔT between the temperature of the
On the other hand, in the judgment of step S2, if not ΔT is abnormal, the routine proceeds to step S3, the temperature correction coefficient updating means 12 is the temperature change ΔT of the dark current data before and after update, and the change [Delta] I R of the dark current Based on the following equation (3), the temperature correction coefficient α is obtained, the storage of the temperature correction coefficient storage means 17 is updated, and the process of FIG. Note that the process of FIG. 3 can be executed periodically (for example, at an interval of 1 minute) during non-shooting. It can also be executed when necessary. In addition, it is desirable that the temperature correction coefficient α is originally set for each pixel of the
[Equation 3]
α = ΔI R / ΔT (3)
次に、本実施形態による撮像時の画像データ処理について、図4に示したフローチャートに沿って説明する。図4の処理は、画像生成手段13における処理である。まず、X線検出器2の内部温度TCを温度検出器3から取り込み(S11)、暗電流データ記憶手段16に記憶されている暗電流データIRに対応するX線検出器2の内部温度TRとの差ΔT=(TC−TR)を求め、予め定めた閾値γ内か否かを判断する(S12)。ΔT≦γであれば、ステップS19に進んで、X線検出器2から出力される画像データを、暗電流データ記憶手段16に記憶されている暗電流データIRにより補正してX線投影画像を生成して画像表示装置4に出力して、処理を終了する。
Next, image data processing at the time of imaging according to the present embodiment will be described along the flowchart shown in FIG. The process of FIG. 4 is a process in the
一方、ステップS2の判断で、ΔT>γであれば、ステップS13に進み、ΔTが異常か否か判断し、異常であれば図3のステップS2,S3と同様に警告を表示して処理を終了する(S13,S17)。ステップS13の判断でΔTが異常でなければ、ステップS14〜S16の処理を実行する。すなわち、温度変化が異常でなければ、前記式(1)により、撮像時の暗電流補正データITCを算出する(S14)。そして、前記式(2)により、暗電流データ記憶手段16に記憶されている暗電流データIRを暗電流補正データITCにより補正して、撮像時の暗電流データICを求める(S15)。次いで、X線検出器2から出力される画像データを、補正された暗電流データICにより補正してX線投影画像を生成して画像表示装置4に出力して、処理を終了する。
On the other hand, if ΔT> γ is determined in step S2, the process proceeds to step S13, where it is determined whether ΔT is abnormal. If it is abnormal, a warning is displayed as in steps S2 and S3 of FIG. The process ends (S13, S17). If ΔT is not abnormal in the determination in step S13, the processes in steps S14 to S16 are executed. That is, if the temperature change is not abnormal, the dark current correction data I TC at the time of imaging is calculated by the equation (1) (S14). Then, according to the equation (2), the dark current data I R stored in the dark current data storage means 16 is corrected by the dark current correction data I TC, obtaining the dark current data I C at the time of imaging (S15) . Then, the image data output from the
このようにして、暗電流補正データITCにより、暗電流データIRを増減補正し、その補正された暗電流データICを用いて、実際の撮影時におけるX線検出器2の各画素の検出出力を補正しているから、温度依存性を除去した画質の向上したX線投影画像を得ることができる。特に、本実施形態によれば、温度補正係数α0(又はα)を1つ記憶するだけで、X線検出器2の各画素に対する温度依存性の暗電流補正データを求めることができるから、暗電流補正に必要な記憶容量を大幅に低減することができる。
In this way, the dark by the current correction data I TC, corrected increase or decrease the dark current data I R, using the corrected dark current data I C was, the
また、本実施形態によれば、X線検出器2のX線検出素子の特性変化により、温度依存性の暗電流が変化しても、適宜、温度補正係数αを更新していることから、X線検出素子が特性変化により温度依存性が変化した場合でも、暗電流補正の精度を向上できる。
Further, according to the present embodiment, even if the temperature-dependent dark current changes due to the characteristic change of the X-ray detection element of the
(実施形態2)
図5に、本発明のX線画像診断装置の実施形態2の全体構成図を示す。本実施形態が、図1の実施形態1と相違する点は、演算処理装置10に経過時間補正係数更新手段19を設けたこと、及び、経過時間補正係数記憶手段20を設けたことにある。その他の構成は実施形態1と同様であることから、同一の符号を付して説明を省略する。
(Embodiment 2)
FIG. 5 shows an overall configuration diagram of
本実施形態は、暗電流データを更新してから撮影するまでの経過時間によっては、実際の暗電流が暗電流データ記憶手段16に記憶されている暗電流データから変化してしまうことを考慮したものである。すなわち、非撮影状態(待機状態)におけるX線検出素子のコンデンサに蓄積される電荷が時間経過につれて増加すると、暗電流データを更新してから実際に撮影が行なわれるときの暗電流データが異なってしまうから、本実施形態では経過時間に応じて暗電流データを補正するようにしていることを特徴とする。
In the present embodiment, it is considered that the actual dark current changes from the dark current data stored in the dark current
ここで、経過時間に依存する暗電流は、例えば図6に示すような特性を有する。図6の横軸は前回の更新時からの経過時間[s]を示し、縦軸は画素単位の暗電流量[count]を示している。図示例では、0〜300[s]の例を示している。図から明らかなように、X線検出器2の経過時間依存の暗電流IDは、経過時間D[s]に比例して増加することが判った。
Here, the dark current depending on the elapsed time has characteristics as shown in FIG. 6, for example. The horizontal axis in FIG. 6 represents the elapsed time [s] from the previous update, and the vertical axis represents the dark current amount [count] in pixel units. In the example of illustration, the example of 0-300 [s] is shown. As can be seen from the figure, the elapsed time dependent dark current ID of the
そこで、本実施形態では、X線検出器2の製造時の段階で、例えば出荷段階で、X線検出器2の暗電流IDと経過時間Dとの関係を計測し、その傾きΔID/ΔDを経過時間補正係数βの初期値(β0)を得て、経過時間補正係数記憶手段20に記憶しておく。これにより、暗電流補正データ演算手段14は、次式(4)により、経過時間依存の暗電流補正データIDCを求めることができる。
[数4]
IDC=β・DC (4)
ここで、DCは最新の暗電流データの更新時刻から撮像時(補正時)までの経過時間である。
Therefore, in the present embodiment, the relationship between the dark current ID of the
[Equation 4]
I DC = β · D C (4)
Here, D C is the time elapsed from the update time of the most recent dark current data until the time of imaging (at the time correction).
そこで、図7のステップS21に示すように、暗電流データ更新手段11は、非撮影時におけるX線検出器2の各画素の暗電流を計測して、暗電流データ記憶手段16に記憶されている暗電流データを更新する。このとき、更新時のX線検出器2の内部温度TRを付して記憶する点は、実施形態1と同様である。また、前回更新時から今回更新時までの経過時間ΔDを付して記憶する。これにより、暗電流データ補正手段15は、式(4)と次式(5)により、撮像時の経過時間依存の暗電流データICを求めることができる。
[数5]
IC=IR+IDC (5)
ここで、IRは、暗電流データ記憶手段16に記憶されている最新の暗電流データの更新データである。
Therefore, as shown in step S21 of FIG. 7, the dark current
[Equation 5]
I C = I R + I DC (5)
Here, I R is the update data of the latest dark current data stored in the dark current
次に、図7のステップS22〜S24の処理は、図3のステップS2〜S4の処理と同様である。また、ステップS25の処理は、温度補正係数αの更新と同様、経過時間補正係数βについてもX線検出器2の使用時間に応じて、また使用環境に応じて経年変化することを考慮して設けたステップである。すなわち、経過時間補正係数更新手段19は、前回更新から今回更新までの経過時間ΔD、及び前回更新時(R−1)と今回更新時(R)の暗電流の変化ΔID=(IR−IR−1)に基づいて、次式(6)により、経過時間補正係数βを求めて、経過時間補正係数記憶手段20の記憶を更新して、図7の処理を終了する。
[数6]
β=ΔID/ΔD (6)
Next, the processes in steps S22 to S24 in FIG. 7 are the same as the processes in steps S2 to S4 in FIG. Further, in the process of step S25, as with the update of the temperature correction coefficient α, the elapsed time correction coefficient β is also considered to change over time according to the usage time of the
[Equation 6]
β = ΔI D / ΔD (6 )
なお、図7の処理は、非撮影時に定期的(例えば、1分間隔)に実行することができる。また、必要時に、実行させるようにすることもできる。また、経過時間補正係数βは、本来的にはX線検出器2の画素ごとに設定することが望ましいが、実用的にはX線検出器2の経過時間による各画素のばらつきは小さいことから、X線検出器2の全画素の平均値を用いることができる。この場合、経過時間依存の暗電流補正データIDCは、各画素共通の1つのデータになる。
Note that the processing in FIG. 7 can be executed periodically (for example, at an interval of 1 minute) during non-shooting. It can also be executed when necessary. In addition, the elapsed time correction coefficient β is desirably set for each pixel of the
次に、本実施形態による撮像時の画像データ処理について、図8に示したフローチャートに沿って説明する。図8の処理は、画像生成手段13における処理である。まず、暗電流データ記憶手段16に記憶されている暗電流データの前回更新時からの撮影時までの経過時間DCを算出する(S31)。算出した経過時間DCが予め定めた閾値δ内か否かを判断する(S32)。DC≦δであれば、ステップS36に進んで、X線検出器2から出力される画像データを、暗電流データ記憶手段16に記憶されている暗電流データIRにより補正してX線投影画像を生成して画像表示装置4に出力して、処理を終了する。
Next, image data processing at the time of imaging according to the present embodiment will be described with reference to the flowchart shown in FIG. The process of FIG. 8 is a process in the
一方、ステップS32の判断で、DC>δであれば、ステップS33に進み、前記式(4)により、撮像時の暗電流補正データIDCを算出する。そして、前記式(5)により、暗電流データ記憶手段16に記憶されている暗電流データIRを暗電流補正データIDCにより補正して、撮像時の暗電流データICを求める(S34)。次いで、X線検出器2から出力される画像データを、補正された暗電流データICにより補正してX線投影画像を生成して画像表示装置4に出力して、処理を終了する。
On the other hand, if D C > δ is determined in step S32, the process proceeds to step S33, and dark current correction data I DC at the time of imaging is calculated by the above equation (4). Then, from the equation (5), the dark current data I R stored in the dark current data storage means 16 is corrected by the dark current correction data I DC, obtaining the dark current data I C at the time of imaging (S34) . Then, the image data output from the
このように、本実施形態によれば、暗電流データ更新手段11は、暗電流データの更新時刻を付して暗電流データ記憶手段16の暗電流データを更新し、画像生成手段13は、暗電流データに付された更新時刻から透過X線データが出力された撮影時の時刻までの経過時間DCを算出し、その経過時間DCに経過時間補正係数β0(又はβ)を乗ずることにより、経過時間依存の暗電流補正データIDC=βDCを求めるようにしているから、経過時間補正係数βを1つ記憶するだけで、経過時間依存性の暗電流補正データを求めることができ、経過時間依存性の暗電流補正に必要な記憶容量を大幅に低減することができる。
Thus, according to the present embodiment, the dark current
また、X線検出素子の特性変化により、経過時間依存性の暗電流が変化することがあるが、本実施形態によれば、暗電流データ更新手段11により更新された暗電流データと更新前の暗電流データとの差、及びそれらの暗電流データに付された更新時刻の差に基づいて、経過時間補正係数βを算出して更新していることから、X線検出素子の経過時間依存性の暗電流補正データが変化した場合に対応して、暗電流補正データを生成できるから、暗電流補正の精度を向上できる。
Further, the elapsed time-dependent dark current may change due to the characteristic change of the X-ray detection element. According to this embodiment, the dark current data updated by the dark current
図8には、図4のS14、S15の温度依存性の暗電流補正データITCによる暗電流データの補正ステップを記載していないが、図4と図8の撮影時の画像データ処理の双方を行うことにより、温度依存性の暗電流補正と経過時間依存性の暗電流補正を行なえるから、一層、暗電流補正の精度を向上できる。 FIG. 8 does not describe the dark current data correction step based on the temperature-dependent dark current correction data I TC of S14 and S15 in FIG. 4, but both the image data processing at the time of shooting in FIGS. By performing the above, temperature-dependent dark current correction and elapsed time-dependent dark current correction can be performed, so that the accuracy of dark current correction can be further improved.
本実施形態の経過時間補正係数βの更新には、式(6)のように、前回更新時と今回更新時の暗電流の差(ΔID)を用いているので、経過時間補正係数βの更新値には温度依存による暗電流成分が誤差として含まれてくることになる。しかし、図2、図6を対比して分かるように、経過時間成分は温度依存成分に比べて暗電流データに及ぼす影響が小さい。そこで、図4のフローチャートのステップS12の判断で、温度変化ΔTが閾値内のときは、図8の経過時間成分による補正を実行する。そして、図4のフローチャートのステップS12の判断で、温度変化ΔTが閾値を超えるときは、同図のステップS14〜15で温度依存成分による補正を実行し、経過時間成分による補正を省略することが望ましい。 The update of the elapsed time correction coefficient β according to the present embodiment uses the difference (ΔI D ) in dark current between the previous update and the current update as shown in Equation (6). The updated value includes a temperature-dependent dark current component as an error. However, as can be seen by comparing FIG. 2 and FIG. 6, the elapsed time component has less influence on the dark current data than the temperature-dependent component. Therefore, when the temperature change ΔT is within the threshold value in the determination of step S12 in the flowchart of FIG. 4, correction using the elapsed time component of FIG. 8 is executed. Then, when the temperature change ΔT exceeds the threshold in the determination of step S12 in the flowchart of FIG. 4, the correction by the temperature dependent component is executed in steps S14 to S15 in the same figure, and the correction by the elapsed time component may be omitted. desirable.
1 X線発生器
2 X線検出器
3 温度検出器
4 画像表示装置
10 演算処理装置
11 暗電流データ更新手段
12 温度補正係数更新手段
13 画像生成手段
14 暗電流補正データ演算手段
15 暗電流データ補正手段
16 暗電流データ記憶手段
17 温度補正係数記憶手段
18 データバス
19 経過時間補正係数更新手段
20 経過時間補正係数記憶手段
DESCRIPTION OF
Claims (7)
前記暗電流データを前記X線検出器の温度に応じて補正する温度補正係数が記憶された第2の記憶手段を備え、
前記暗電流データ更新手段は、前記X線検出器の温度を付して前記第1の記憶手段の前記暗電流データを更新し、
前記画像生成手段は、前記透過X線データが出力されたときの前記X線検出器の温度と前記第1の記憶手段に記憶されている前記暗電流データに付された前記X線検出器の温度との差、及び前記第2の記憶手段に記憶されている前記温度補正係数に基づいて温度依存暗電流補正データを求める温度依存暗電流補正データ演算手段と、該手段により求めた温度依存暗電流補正データを用いて前記第1の記憶手段から読み出した前記暗電流データを補正する温度依存暗電流データ補正手段とを有し、該手段により補正された暗電流データに基づいて前記透過X線データを補正して前記被検体のX線投影画像を生成し、
前記暗電流データ更新手段により更新された暗電流データと更新前の暗電流データとの差、及びそれらの暗電流データに付された前記X線検出器の温度の差に基づいて前記温度補正係数を算出して前記第2の記憶手段の前記温度補正係数を更新する温度補正係数更新手段を備えてなることを特徴とするX線画像診断装置。 An X-ray generator for irradiating the subject with X-rays, a flat-type X-ray detector disposed opposite to the X-ray generator for detecting transmitted X-rays of the subject, and the X-ray detector A temperature detector for detecting temperature; first storage means for storing dark current data of the X-ray detector; and dark current data of the first storage means by measuring dark current of the X-ray detector. And an X-ray projection image of the subject by correcting the transmitted X-ray data output from the X-ray detector based on the dark current data of the first storage means. In an X-ray diagnostic imaging apparatus comprising an image generating means for generating,
A second storage means for storing a temperature correction coefficient for correcting the dark current data according to the temperature of the X-ray detector;
The dark current data update means updates the dark current data of the first storage means with the temperature of the X-ray detector,
The image generation means includes the temperature of the X-ray detector when the transmission X-ray data is output and the X-ray detector attached to the dark current data stored in the first storage means. Temperature-dependent dark current correction data calculating means for obtaining temperature-dependent dark current correction data based on the difference from the temperature and the temperature correction coefficient stored in the second storage means, and the temperature-dependent darkness obtained by the means Temperature-dependent dark current data correction means for correcting the dark current data read from the first storage means using current correction data, and the transmitted X-rays based on the dark current data corrected by the means Correcting the data to generate an X-ray projection image of the subject ;
The temperature correction coefficient based on the difference between the dark current data updated by the dark current data updating means and the dark current data before the update, and the temperature difference of the X-ray detector attached to the dark current data An X-ray image diagnostic apparatus comprising temperature correction coefficient updating means for calculating the temperature correction coefficient of the second storage means and calculating the temperature correction coefficient .
前記第1の記憶手段の前記暗電流データが更新されたときからの経過時間に応じて前記暗電流データを補正する経過時間補正係数が記憶された第3の記憶手段を備え、
前記暗電流データ更新手段は、前記暗電流データの更新時刻を付して前記第1の記憶手段の前記暗電流データを更新し、
前記画像生成手段は、前記第1の記憶手段に記憶されている前記暗電流データに付された更新時刻から前記透過X線データが出力されたときの時刻までの経過時間、及び前記第3の記憶手段に記憶されている前記経過時間補正係数に基づいて経過時間依存暗電流補正データを求める経過時間依存暗電流補正データ演算手段と、該手段により求めた経過時間依存暗電流補正データを用いて前記第1の記憶手段から読み出した前記暗電流データを補正する経過時間依存暗電流データ補正手段とを有し、該経過時間依存暗電流データ補正手段及び前記温度依存暗電流データ補正手段により補正された経過時間依存暗電流補正データと温度依存暗電流補正データに基づいて前記透過X線データを補正して前記被検体のX線投影画像を生成することを特徴とするX線画像診断装置。 The X-ray diagnostic imaging apparatus according to claim 1 , further comprising:
A third storage means for storing an elapsed time correction coefficient for correcting the dark current data according to an elapsed time from when the dark current data of the first storage means is updated;
The dark current data update means updates the dark current data of the first storage means with an update time of the dark current data,
The image generation means includes an elapsed time from an update time attached to the dark current data stored in the first storage means to a time when the transmission X-ray data is output, and the third Using elapsed time dependent dark current correction data calculating means for obtaining elapsed time dependent dark current correction data based on the elapsed time correction coefficient stored in the storage means, and using elapsed time dependent dark current correction data obtained by the means And an elapsed time dependent dark current data correcting unit that corrects the dark current data read from the first storage unit, and is corrected by the elapsed time dependent dark current data correcting unit and the temperature dependent dark current data correcting unit. The transmitted X-ray data is corrected based on the elapsed time-dependent dark current correction data and the temperature-dependent dark current correction data to generate an X-ray projection image of the subject. X-ray image diagnostic apparatus according to.
前記暗電流データ更新手段により更新された暗電流データと更新前の暗電流データとの差、及びそれらの暗電流データに付された前記更新時刻の差に基づいて前記経過時間補正係数を算出して前記第3の記憶手段の前記経過時間補正係数を更新する経過時間補正係数更新手段を備えたことを特徴とするX線画像診断装置。 The X-ray diagnostic imaging apparatus according to claim 2 ,
The elapsed time correction coefficient is calculated based on the difference between the dark current data updated by the dark current data update means and the dark current data before update, and the difference in the update time attached to the dark current data. An X-ray diagnostic imaging apparatus comprising: elapsed time correction coefficient updating means for updating the elapsed time correction coefficient of the third storage means.
前記暗電流データ更新手段と前記温度補正係数更新手段と前記経過時間補正係数更新手段は、前記X線投影画像の非撮影時に更新を実行することを特徴とするX線画像診断装置。 The X-ray diagnostic imaging apparatus according to claim 3 ,
The X-ray diagnostic imaging apparatus, wherein the dark current data updating unit, the temperature correction coefficient updating unit, and the elapsed time correction coefficient updating unit execute updating when the X-ray projection image is not imaged.
前記温度補正係数更新手段は、前記X線検出器の温度変化が設定された閾値を越えたときに更新を実行することを特徴とするX線画像診断装置。 The X-ray diagnostic imaging apparatus according to claim 3 ,
The X-ray diagnostic imaging apparatus according to claim 1, wherein the temperature correction coefficient updating unit executes updating when a temperature change of the X-ray detector exceeds a set threshold value.
前記暗電流データ更新手段と前記温度補正係数更新手段と前記温度補正係数更新手段は、前記X線投影画像の非撮影時に定期的に更新を実行することを特徴とするX線画像診断装置。 The X-ray diagnostic imaging apparatus according to claim 3 ,
The X-ray diagnostic imaging apparatus characterized in that the dark current data updating unit, the temperature correction coefficient updating unit, and the temperature correction coefficient updating unit periodically update when the X-ray projection image is not imaged.
前記温度補正係数更新手段は、前記暗電流データ更新手段により更新された暗電流データと更新前の暗電流データに付された前記X線検出器の温度の差があらかじめ設定された異常値を越えるときは、温度変化異常の警告を出力することを特徴とするX線画像診断装置。 The X-ray diagnostic imaging apparatus according to claim 1 or 2 ,
The temperature correction coefficient updating means has a temperature difference between the dark current data updated by the dark current data updating means and the dark current data before update exceeding the preset abnormal value. An X-ray diagnostic imaging apparatus characterized by outputting a warning of abnormal temperature change.
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