JP5299159B2 - Imaging apparatus and program - Google Patents
Imaging apparatus and program Download PDFInfo
- Publication number
- JP5299159B2 JP5299159B2 JP2009187063A JP2009187063A JP5299159B2 JP 5299159 B2 JP5299159 B2 JP 5299159B2 JP 2009187063 A JP2009187063 A JP 2009187063A JP 2009187063 A JP2009187063 A JP 2009187063A JP 5299159 B2 JP5299159 B2 JP 5299159B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- defective pixel
- correction
- defective
- data
- pixels
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title abstract description 50
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 1158
- 238000012937 correction Methods 0.000 abstract description 899
- 238000003860 storage Methods 0.000 abstract description 164
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 161
- 238000000034 method Methods 0.000 description 129
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 80
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 53
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 19
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 15
- 230000006870 function Effects 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 5
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 4
- 238000013144 data compression Methods 0.000 description 3
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 2
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 125000002924 primary amino group Chemical group [H]N([H])* 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Abstract
Description
本発明は、撮像装置およびプログラムに関し、特に、欠陥画素補正機能を有するデジタルスチルカメラ等の撮像装置およびその欠陥画素補正のためのプログラムに関する。 The present invention relates to an imaging device and a program, and more particularly to an imaging device such as a digital still camera having a defective pixel correction function and a program for correcting the defective pixel.
デジタルスチルカメラに使用される撮像素子、例えばCCDでは、半導体の製造工程において、全ての画素が完全に同一性能で形成されるわけではなく、欠陥画素もできてしまう。しかし、製品の歩留まり上、所定の数以下の個数の欠陥画素があっても、良品のCCDとしてデジタルスチルカメラ等の商品に使用されるのが一般的である。このため、当該商品では、その欠陥画素のCCD上の縦横座標(アドレス)等(以下、欠陥画素データ)を予め商品に設けられた欠陥画素補正部の記憶部に格納しておき、撮影時に欠陥画素補正部において、撮像データにおける記憶部に格納された欠陥画素のアドレスに相当する画素データを、隣接する同じカラーフィルタの画素データで補間し、その後、静止画画像処理をする等の欠陥画素補正処理を実施することが考えられている。 In an image sensor, such as a CCD, used in a digital still camera, not all pixels are formed with completely the same performance in the semiconductor manufacturing process, and defective pixels are also formed. However, even if there are a predetermined number or less of defective pixels due to the product yield, it is generally used as a good CCD for a product such as a digital still camera. For this reason, in the product, the ordinate and abscissa (address) on the CCD of the defective pixel (hereinafter referred to as defective pixel data) are stored in advance in the storage unit of the defective pixel correction unit provided in the product, and the defect is detected at the time of shooting. In the pixel correction unit, the pixel data corresponding to the address of the defective pixel stored in the storage unit in the imaging data is interpolated with the pixel data of the same adjacent color filter, and then the defective pixel correction such as still image processing It is considered to carry out the processing.
また、CCDでは、上述した欠陥画素とは別に、暗電流特性の悪い画素(温度キズ)である欠陥画素も存在する。この暗電流による欠陥画素は、動的な欠陥要因であるので、上述したように欠陥画素補正処理を実施する際、露光秒時等の撮影パラメータによって、CCDにおいて補正対象とする欠陥画素(およびその数)を変更し、それに応じて欠陥画素補正することが考えられている(例えば、特許文献1参照)。 In addition to the above-described defective pixels, there are also defective pixels that have poor dark current characteristics (temperature scratches) in the CCD. Since the defective pixel due to the dark current is a dynamic defect factor, when the defective pixel correction process is performed as described above, the defective pixel (and its pixel) to be corrected in the CCD is determined by the shooting parameters such as the exposure time. It is considered to change the number) and correct defective pixels accordingly (see, for example, Patent Document 1).
ところで、このような撮像装置では、装置全体としての大きさ寸法を出来る限り小さくすることが要求されているとともに内部には種々の機能のための機構が収容されることから、欠陥画素補正処理のための欠陥画素補正部およびその記憶部の回路等の構成を大規模なものとすることができず、記憶部に格納することができる欠陥画素データの数(欠陥画素数)には限りがある。 By the way, in such an imaging apparatus, it is required to reduce the size of the entire apparatus as much as possible, and a mechanism for various functions is accommodated therein, so that defective pixel correction processing is performed. Therefore, the number of defective pixel data (defective pixel number) that can be stored in the storage unit is limited. .
このため、撮像素子において補正対象とする欠陥画素の数が、欠陥画素補正部の記憶部に登録可能な欠陥画素数(登録限度数)を超えてしまうと、補正対象とするすべての欠陥画素を補正することができなくなってしまう。 For this reason, if the number of defective pixels to be corrected in the imaging device exceeds the number of defective pixels (registration limit number) that can be registered in the storage unit of the defective pixel correcting unit, all defective pixels to be corrected are It becomes impossible to correct.
本発明は、上記の問題に鑑みて為されたもので、記憶部での登録限度数に拘らず、補正対象とするすべての欠陥画素を補正することを可能とする撮像装置およびその欠陥画素補正のためのプログラムを提供することを目的としている。 The present invention has been made in view of the above problems, and an imaging apparatus capable of correcting all defective pixels to be corrected regardless of the registration limit number in the storage unit and the defective pixel correction thereof It aims to provide a program for.
上記課題を解決するため、請求項1に係る発明は、複数の画素を有する撮像素子から出力された複数の電気信号に基づいて画像データを生成する画像生成手段を備え、該画像生成手段が、前記画像データの生成過程における画像生成データが入力されると、該画像生成データにおいて、記憶部に登録された前記撮像素子における各欠陥画素データに相当する画素データを補正する欠陥画素補正動作により、前記画像生成データの欠陥画素補正を行う欠陥画素補正部を有する撮像装置であって、前記画像生成手段は、欠陥画素の影響の変化の判断基準に対応付けた欠陥画素レベルに基づいて補正対象とする補正画素数を設定し、該補正画素数が、前記記憶部に登録可能な前記欠陥画素データの数である登録限度数を超えた場合、補正対象とする画素データを重複させることなく前記補正画素数の欠陥画素補正を行うべく、前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すとともに、前記画像生成データを、前記補正画素数を前記登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すことを特徴とする。
In order to solve the above-described problem, the invention according to
請求項2に係る発明は、複数の画素を有する撮像素子から出力された複数の電気信号に基づいて画像データを生成する画像生成手段を備え、該画像生成手段が、前記画像データの生成過程における画像生成データが入力されると、該画像生成データにおいて、記憶部に登録された前記撮像素子における各欠陥画素データに相当する画素データを補正する欠陥画素補正動作により、前記画像生成データの欠陥画素補正を行う欠陥画素補正部を有する撮像装置であって、前記画像生成手段は、欠陥画素の影響の変化の判断基準に対応付けた欠陥画素レベルに基づいて補正対象とする補正画素数を設定し、該補正画素数が、前記記憶部に登録可能な前記欠陥画素データの数である登録限度数を超えた場合、補正対象とする画素データを重複させることなく前記補正画素数の欠陥画素補正を行うべく、前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すとともに、前記画像生成データに対して、前記登録限度数の前記欠陥画素データを前記記憶部に登録して前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を行い、その後、前記画像生成データを、前記補正画素数が前記登録限度数を減算した差分を該登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、最初の前記欠陥画素補正動作での欠陥画素補正とは補正対象とする画素データが重複しないように各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すことを特徴とする。
The invention according to
請求項3に係る発明は、複数の画素を有する撮像素子から出力された複数の電気信号に基づいて画像データを生成する画像生成手段を備え、該画像生成手段が、前記画像データの生成過程における画像生成データが入力されると、該画像生成データにおいて、記憶部に登録された前記撮像素子における各欠陥画素データに相当する画素データを補正する欠陥画素補正動作により、前記画像生成データの欠陥画素補正を行う欠陥画素補正部を有する撮像装置であって、前記画像生成手段は、欠陥画素の影響の変化の判断基準に対応付けた欠陥画素レベルに基づいて補正対象とする補正画素数を設定し、該補正画素数が、前記記憶部に登録可能な前記欠陥画素データの数である登録限度数を超えた場合、補正対象とする画素データを重複させることなく前記補正画素数の欠陥画素補正を行うべく、前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すとともに、前記画像生成データに対して、前記欠陥画素レベルが高い方から順に前記登録限度数の前記欠陥画素データを前記記憶部に登録して前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を行い、その後、前記画像生成データを、前記補正画素数が前記登録限度数を減算した差分を該登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、最初の前記欠陥画素補正動作での欠陥画素補正とは補正対象とする画素データが重複しないように各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すことを特徴とする。
The invention according to
請求項4に係る発明は、請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の撮像装置であって、さらに、前記画像生成手段が適宜格納および読出することのできるメモリを備え、前記欠陥画素データは、前記撮像素子から出力される電気信号に基づいて前記欠陥画素レベルを判断し、該欠陥画素レベルが前記判断基準における設定条件に対応付けた補正判断値を超えた前記画素の前記撮像素子上の縦横座標に、対応する前記設定条件および前記欠陥画素レベルを関連付けて生成されて前記メモリに格納され、前記画像生成手段は、前記設定条件に適合する前記欠陥画素データを前記メモリから読み出して前記記憶部に登録することを特徴とする。
The invention according to
請求項5に係る発明は、請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載の撮像装置であって、前記欠陥画素データは、等分された前記分割画像データに対応する前記撮像素子上での区画毎に、前記撮像素子から出力される電気信号に基づいて前記欠陥画素レベルを判断し、該欠陥画素レベルが前記判断基準における設定条件に対応付けた補正判断値を超えた前記画素の前記撮像素子上の縦横座標に、対応する前記設定条件および前記欠陥画素レベルを関連付けて生成されて前記メモリに格納されていることを特徴とする。
The invention according to
請求項6に係る発明は、請求項1ないし請求項5のいずれか1項に記載の撮像装置であって、前記判断基準は露光時間であり、前記設定条件は露光時間として設定された数値であることを特徴とする。
The invention according to
請求項7に係る発明は、請求項1ないし請求項5のいずれか1項に記載の撮像装置であって、前記判断基準はISO感度であり、前記設定条件はISO感度として設定された数値であることを特徴とする。
The invention according to claim 7 is the imaging device according to any one of
請求項8に係る発明は、複数の画素を有する撮像素子から出力された複数の電気信号に基づいて画像データを生成する画像生成手段を備え、該画像生成手段が、前記画像データの生成過程における画像生成データが入力されると、該画像生成データにおいて、記憶部に登録された前記撮像素子における各欠陥画素データに相当する画素データを補正する欠陥画素補正動作により、前記画像生成データの欠陥画素補正を行う欠陥画素補正部を有する撮像装置の制御部に、前記欠陥画素補正部による欠陥画素を補正する機能を実現させるためのプログラムであって、前記画像生成手段に、欠陥画素の影響の変化の判断基準に対応付けた欠陥画素レベルに基づいて補正対象とする補正画素数を設定させる機能と、該補正画素数が、前記記憶部に登録可能な前記欠陥画素データの数である登録限度数を超えた場合、補正対象とする画素データを重複させることなく前記補正画素数の欠陥画素補正を行うべく、前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返させるとともに、前記画像生成データを、前記補正画素数を前記登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返させる機能と、を実現させることを特徴とする。 The invention according to claim 8 includes image generation means for generating image data based on a plurality of electrical signals output from an imaging device having a plurality of pixels, and the image generation means is in the generation process of the image data. When image generation data is input, defective pixels of the image generation data are obtained by a defective pixel correction operation that corrects pixel data corresponding to each defective pixel data in the image sensor registered in the storage unit in the image generation data. A program for causing a control unit of an imaging apparatus having a defective pixel correction unit to perform correction to realize a function of correcting defective pixels by the defective pixel correction unit. A function for setting the number of correction pixels to be corrected based on the defective pixel level associated with the determination criterion, and the number of correction pixels registered in the storage unit When the registration limit number, which is the number of defective pixel data, is exceeded, the defective pixel data in the storage unit is corrected in order to perform defective pixel correction of the corrected pixel number without overlapping pixel data to be corrected. While repeating the defective pixel correction operation in the defective pixel correction unit while changing the registration content, the image generation data, less than the decimal of the quotient obtained by dividing the correction pixel number by the registration limit number Dividing into a plurality of divided image data by equally dividing by the rounded-up value, and changing the registered content of the defective pixel data in the storage unit for each divided image data, the defective pixel correction in the defective pixel correction unit And a function of repeating the operation .
請求項9に係る発明は、複数の画素を有する撮像素子から出力された複数の電気信号に基づいて画像データを生成する画像生成手段を備え、該画像生成手段が、前記画像データの生成過程における画像生成データが入力されると、該画像生成データにおいて、記憶部に登録された前記撮像素子における各欠陥画素データに相当する画素データを補正する欠陥画素補正動作により、前記画像生成データの欠陥画素補正を行う欠陥画素補正部を有する撮像装置の制御部に、前記欠陥画素補正部による欠陥画素を補正する機能を実現させるためのプログラムであって、前記画像生成手段に、欠陥画素の影響の変化の判断基準に対応付けた欠陥画素レベルに基づいて補正対象とする補正画素数を設定させる機能と、該補正画素数が、前記記憶部に登録可能な前記欠陥画素データの数である登録限度数を超えた場合、補正対象とする画素データを重複させることなく前記補正画素数の欠陥画素補正を行うべく、前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返させるとともに、前記画像生成データに対して、前記登録限度数の前記欠陥画素データを前記記憶部に登録して前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を行わせ、かつ、その後、前記画像生成データを、前記補正画素数が前記登録限度数を減算した差分を該登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、最初の前記欠陥画素補正動作での欠陥画素補正とは補正対象とする画素データが重複しないように各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返させる機能と、を実現させることを特徴とする。 The invention according to claim 9 includes image generation means for generating image data based on a plurality of electrical signals output from an imaging device having a plurality of pixels, and the image generation means is in the generation process of the image data. When image generation data is input, defective pixels of the image generation data are obtained by a defective pixel correction operation that corrects pixel data corresponding to each defective pixel data in the image sensor registered in the storage unit in the image generation data. the control unit of the imaging apparatus having the defective pixel correction unit that performs correction, a program for realizing a function of correcting defective pixels by the defective pixel correction unit, the image generating means, a change in the influence of the defective pixel A function for setting the number of correction pixels to be corrected based on the defective pixel level associated with the determination criterion, and the number of correction pixels registered in the storage unit When the registration limit number, which is the number of defective pixel data, is exceeded, the defective pixel data in the storage unit is corrected in order to perform defective pixel correction of the corrected pixel number without overlapping pixel data to be corrected. The defective pixel correction operation in the defective pixel correction unit is repeated while changing registration contents, and the defective pixel data of the registration limit number is registered in the storage unit for the image generation data. A quotient obtained by causing the pixel correction unit to perform the defective pixel correction operation and then dividing the image generation data by a difference obtained by subtracting the registration limit number from the correction pixel number by the registration limit number. Are divided into a plurality of divided image data by dividing them by a value rounded up to the nearest decimal number, and the pixel data to be corrected do not overlap with the defective pixel correction in the first defective pixel correction operation. Characterized in that to realize a function of the Ru was repeated defective pixel correction operation in the defective pixel correction unit while changing the registration contents of the defective pixel data in the storage unit for each of the divided image data into .
請求項10に係る発明は、請求項8または請求項9に記載のプログラムであって、前記画像生成手段に、前記撮像素子から出力される電気信号に基づいて前記欠陥画素レベルを判断し、該欠陥画素レベルが前記判断基準における設定条件に対応付けた補正判断値を超えた前記画素の前記撮像素子上の縦横座標に、対応する前記設定条件および前記欠陥画素レベルを関連付けて生成されて前記メモリに格納された前記欠陥画素データのうち、前記設定条件に適合する前記欠陥画素データを前記メモリから読み出して前記記憶部に登録する機能を、実現させることを特徴とする。
The invention according to
請求項11に係る発明は、請求項8ないし請求項10のいずれか1項に記載のプログラムであって、前記欠陥画素データとして、等分された前記分割画像データに対応する前記撮像素子上での区画毎に、前記撮像素子から出力される電気信号に基づいて前記欠陥画素レベルを判断し、該欠陥画素レベルが前記判断基準における設定条件に対応付けた補正判断値を超えた前記画素の前記撮像素子上の縦横座標に、対応する前記設定条件および前記欠陥画素レベルを関連付けて生成されて前記メモリに格納する機能を、実現させることを特徴とする。 An invention according to an eleventh aspect is the program according to any one of the eighth to tenth aspects , wherein the defective pixel data is divided on the imaging element corresponding to the divided image data equally divided. For each section, the defective pixel level is determined based on the electrical signal output from the imaging device, and the defective pixel level of the pixel whose correction pixel value exceeds the correction determination value associated with the setting condition in the determination criterion A function of associating the corresponding setting condition and the defective pixel level with the vertical and horizontal coordinates on the image sensor and storing them in the memory is realized.
本発明に係る撮像装置によれば、設定した補正対象とする補正画素数が登録限度数を超える場合であっても、欠陥画素補正部での欠陥画素補正動作を繰り返すことにより、その超えた数の画素を2回目以降(設定条件によっては2回)の欠陥画素補正部での欠陥画素補正動作により補正するので、補正が必要とされる補正画素数と記憶部の登録限度数との関係に拘らず、撮像素子の全ての欠陥画素を補正することができる。 According to the imaging apparatus according to the present invention, even when the set number of correction pixels to be corrected exceeds the registration limit number, by repeating the defective pixel correction operation in the defective pixel correction unit, the number exceeding the number Are corrected by the defective pixel correction operation in the defective pixel correction unit for the second time or later (2 times depending on the setting conditions), so the relationship between the number of corrected pixels that need to be corrected and the registration limit number of the storage unit Regardless, all defective pixels of the image sensor can be corrected.
また、欠陥画素補正部での欠陥画素補正動作の繰り返しの際、補正対象とする画素データを重複させることなく補正画素数の欠陥画素補正を行うように、記憶部における欠陥画素データの登録内容を変更させるので、設定した補正画素数だけ補正すること、換言すると過不足なく適切に補正することができ、欠陥画素の補正不足や過補正に基因する画質の低下を防止することができる。 In addition, when repeating the defective pixel correction operation in the defective pixel correction unit, the registration content of the defective pixel data in the storage unit is set so that defective pixel correction of the number of corrected pixels is performed without overlapping pixel data to be corrected. Since the change is made, it is possible to correct only the set number of correction pixels, in other words, to correct appropriately without over- and under-correction, and to prevent the image quality from being deteriorated due to insufficient correction or over-correction of defective pixels.
上記した構成に加えて、さらに、前記画像生成手段が適宜格納および読出することのできるメモリを備え、前記欠陥画素データは、前記撮像素子から出力される電気信号に基づいて前記欠陥画素レベルを判断し、該欠陥画素レベルが前記判断基準における設定条件に対応付けた補正判断値を超えた前記画素の前記撮像素子上の縦横座標に、対応する前記設定条件および前記欠陥画素レベルを関連付けて生成されて前記メモリに格納され、前記画像生成手段は、前記設定条件に適合する前記欠陥画素データを前記メモリから読み出して前記記憶部に登録することとすると、欠陥画素補正部が、欠陥画素補正動作を繰り返す際、記憶部にはメモリから読み出された設定条件に適合する欠陥画素データが登録されているので、設定条件に適合する適切な欠陥画素補正を行うことができる。 In addition to the above-described configuration, the image generation unit further includes a memory that can be appropriately stored and read, and the defective pixel data is determined based on an electric signal output from the image sensor. The defective pixel level is generated by associating the corresponding setting condition and the defective pixel level with the vertical and horizontal coordinates on the image sensor of the pixel whose corrected pixel value exceeds the correction determination value associated with the setting condition in the determination criterion. Stored in the memory, and the image generation means reads out the defective pixel data conforming to the set condition from the memory and registers it in the storage unit, the defective pixel correction unit performs a defective pixel correction operation. When repeating, defective pixel data that matches the setting condition read from the memory is registered in the storage unit. Defective pixel correction can be performed.
上記した構成に加えて、前記画像生成手段は、設定した前記補正画素数が前記登録限度数を超えた場合、前記画像生成データを、前記補正画素数を前記登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すこととすると、欠陥画素補正部での欠陥画素補正に要する処理時間が入力されるデータ量に略比例することから、撮像素子の全ての欠陥画素を補正する際の処理時間を、欠陥画素補正部での欠陥画素補正動作の回数に拘らず、分割される前の画像生成データを欠陥画素補正部で欠陥画素補正処理させる場合と略等しいものとすることができる。 In addition to the configuration described above, the image generation means can be obtained by dividing the image generation data by dividing the correction pixel number by the registration limit number when the set correction pixel number exceeds the registration limit number. The fractional pixel is divided into a plurality of divided image data by dividing the value by rounding up the decimal number, and the defective pixel correction unit changes the registered content of the defective pixel data in the storage unit for each of the divided image data When the defective pixel correction operation in step S3 is repeated, since the processing time required for defective pixel correction in the defective pixel correction unit is substantially proportional to the amount of input data, when correcting all defective pixels of the image sensor Regardless of the number of defective pixel correction operations in the defective pixel correction unit, the processing time for the image generation data before being divided can be substantially equal to the case of performing defective pixel correction processing in the defective pixel correction unit. That.
上記した構成に加えて、前記画像生成手段は、設定した前記補正画素数が前記登録限度数を超えた場合、前記画像生成データに対して、前記登録限度数の前記欠陥画素データを前記記憶部に登録して前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を行い、その後、前記画像生成データを、前記補正画素数が前記登録限度数を減算した差分を該登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、最初の前記欠陥画素補正動作での欠陥画素補正とは補正対象とする画素データが重複しないように各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すこととすると、初めに撮像素子の全領域に対して登録限度数の欠陥画素の補正を行うことにより、より適切に欠陥画素補正をすることができ、その後の残りの補正画素数分の欠陥画素補正を各分割画像データに対して行うことにより、残りの補正画素数分の欠陥画素補正に要する処理時間の増大を抑制することができる。 In addition to the above-described configuration, the image generating means stores the defective pixel data of the registration limit number with respect to the image generation data when the set correction pixel number exceeds the registration limit number. The defective pixel correction unit performs the defective pixel correction operation, and then the image generation data is obtained by dividing the difference obtained by subtracting the registration limit number from the correction pixel number by the registration limit number. Each of the obtained quotients is divided into a plurality of divided image data by dividing the value by rounding up the decimal number, and each of the pixel data to be corrected does not overlap with the defective pixel correction in the first defective pixel correction operation. When the defective pixel correction operation in the defective pixel correction unit is repeated while changing the registration content of the defective pixel data in the storage unit for each divided image data, first, the entire area of the imaging element is applied. By correcting the defective pixels of the recording limit number, it is possible to correct the defective pixels more appropriately, and by performing defective pixel correction for the remaining number of corrected pixels on each divided image data, It is possible to suppress an increase in processing time required for correcting defective pixels for the number of correction pixels.
上記した構成に加えて、前記画像生成手段は、設定した前記補正画素数が前記登録限度数を超えた場合、前記画像生成データに対して、前記欠陥画素レベルが高い方から順に前記登録限度数の前記欠陥画素データを前記記憶部に登録して前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を行い、その後、前記画像生成データを、前記補正画素数が前記登録限度数を減算した差分を該登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、最初の前記欠陥画素補正動作での欠陥画素補正とは補正対象とする画素データが重複しないように各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すこととすると、初めに欠陥画素レベルが高い方から順に登録限度数だけ撮像素子の全領域に対して欠陥画素の補正を行うことにより、さらに適切に欠陥画素補正をすることができ、その後の残りの補正画素数分の欠陥画素補正を各分割画像データに対して行うことにより、残りの補正画素数分の欠陥画素補正に要する処理時間の増大を抑制することができる。 In addition to the above-described configuration, when the set number of corrected pixels exceeds the registration limit number, the image generation unit sets the registration limit number in order from the highest defective pixel level with respect to the image generation data. The defective pixel data is registered in the storage unit, the defective pixel correction unit performs the defective pixel correction operation, and then the image generation data is obtained by subtracting the registration limit number from the correction pixel number. Dividing by the value obtained by dividing the quotient obtained by dividing by the registration limit number into equal parts and dividing it into a plurality of divided image data. The defective pixel correction in the first defective pixel correction operation is a correction target. The defective pixel correction operation in the defective pixel correction unit is repeated while changing the registration content of the defective pixel data in the storage unit for each divided image data so that the pixel data to be overlapped does not overlap. First, the defective pixels can be corrected more appropriately by correcting the defective pixels with respect to the entire area of the image sensor by the registration limit number in order from the highest defective pixel level, and the remaining corrected pixels thereafter. By performing defect pixel correction for several divided image data on each divided image data, an increase in processing time required for defect pixel correction for the remaining number of corrected pixels can be suppressed.
上記した構成に加えて、前記欠陥画素データは、等分された前記分割画像データに対応する前記撮像素子上での区画毎に、前記撮像素子から出力される電気信号に基づいて前記欠陥画素レベルを判断し、該欠陥画素レベルが前記判断基準における設定条件に対応付けた補正判断値を超えた前記画素の前記撮像素子上の縦横座標に、対応する前記設定条件および前記欠陥画素レベルを関連付けて生成されて前記メモリに格納されていることとすると、設定条件に応じた各分割画像データでの欠陥画素データを適切に欠陥画素補正部の記憶部に登録することができ、かつ欠陥画素補正処理のための各欠陥画素データを効率よくメモリに格納することができる。 In addition to the above-described configuration, the defective pixel level is determined based on an electrical signal output from the image sensor for each section on the image sensor corresponding to the divided image data that has been equally divided. And correlating the corresponding setting condition and the defective pixel level with the vertical and horizontal coordinates on the image sensor of the pixel whose defective pixel level exceeds the correction determination value associated with the setting condition in the determination criterion. If it is generated and stored in the memory, the defective pixel data in each divided image data according to the setting condition can be appropriately registered in the storage unit of the defective pixel correction unit, and the defective pixel correction process Therefore, it is possible to efficiently store each defective pixel data for the memory in the memory.
上記した構成に加えて、前記判断基準は露光時間であり、前記設定条件は露光時間として設定された数値であることとすると、撮影時の露光時間に応じて適切に欠陥画素を補正することができる。 In addition to the above-described configuration, assuming that the determination criterion is an exposure time and the setting condition is a numerical value set as the exposure time, a defective pixel can be appropriately corrected according to the exposure time at the time of shooting. it can.
上記した構成に加えて、前記判断基準はISO感度であり、前記設定条件はISO感度として設定された数値であることとすると、撮影時のISO感度に応じて適切に欠陥画素を補正することができる。 In addition to the above-described configuration, if the determination criterion is ISO sensitivity and the setting condition is a numerical value set as ISO sensitivity, defective pixels can be corrected appropriately according to the ISO sensitivity at the time of shooting. it can.
以下に、本発明に係る撮像装置およびその撮像装置で実行される欠陥画素補正処理のためのプログラムの実施の形態を図面を参照しつつ説明する。 DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Embodiments of an imaging apparatus according to the present invention and a program for defective pixel correction processing executed by the imaging apparatus will be described below with reference to the drawings.
図1は、本発明の実施例1に係る撮像装置の一例としてのデジタルスチルカメラ(以下、「デジタルカメラ1」という)を示す説明図であり、(a)は正面図であり、(b)は上面図であり、(c)は背面図である。図2は、図1のデジタルカメラ1のシステム構成の概要を示すブロック図である。図3は、デジタルカメラ1に用いられるRGBフィルタを模式的に示す説明図である。図4は、各優先補正画素群PNにおけるRAM44に格納された欠陥画素のアドレス(CCD20上の縦横座標)のデータの個数(欠陥画素のデータ数)等を表で示す説明図である。
(デジタルカメラの外観構成)
実施例1のデジタルカメラ1では、図1に示すように、上面側に、レリーズボタン(シャッタボタン)2、電源ボタン3、撮影・再生切替ダイアル4が設けられ、正面(前面)側に、撮影レンズ系5を有する鏡胴ユニット6、ストロボ発光部(フラッシュ)7、光学ファインダ8が設けられている。
FIG. 1 is an explanatory view showing a digital still camera (hereinafter referred to as “
(Appearance structure of digital camera)
In the
また、デジタルカメラ1では、背面側に、液晶モニタ(LCD)9、前記光学ファインダ8の接眼レンズ部8a、広角側ズーム(W)スイッチ10、望遠側ズーム(T)スイッチ11、メニュー(MENU)ボタン12、確定ボタン(OKボタン)13等が設けられている。このデジタルカメラ1の側面内部には、撮影した画像データを保存するためのメモリカード14(図2参照)を収納するメモリカード収納部15が設けられている。なお、本発明に係る撮像装置の外観は、必ずしも実施例1に限定されるものではなく、他の外観を備えていてもよい。
(デジタルカメラのシステム構成)
デジタルカメラ1は、図2に示すように、鏡胴ユニット6の撮影レンズ系5を通して入射される被写体画像が受光面上に結像する固体撮像素子としてのCCD20、CCD20から出力される電気信号(アナログRGB画像信号)をデジタル信号に処理するアナログフロントエンド部21(以下、「AFE部21」という)、AFE部21から出力されるデジタル信号を処理する信号処理部22、データを一時的に格納するSDRAM23、制御プログラム等が記憶されたROM24、鏡胴ユニット6を駆動するモータドライバ25、後述する制御部28が適宜データを格納および読み出すことが可能とされたメモリとしてのRAM44等を備えている。
In the
(Digital camera system configuration)
As shown in FIG. 2, the
撮影レンズ系5は、ズームレンズやフォーカスレンズ等を有する。鏡胴ユニット6は、撮影レンズ系5、絞りユニット26、メカシャッタユニット27を有し、その撮影レンズ系5、絞りユニット26、メカシャッタユニット27の各駆動ユニットは、モータドライバ25によって駆動される。モータドライバ25は、信号処理部22の制御部(CPU)28からの駆動信号により駆動制御される。
The taking
CCD20は、結像された被写体像を電気信号(画像データ)に変換して出力する固体撮像素子である。このCCD20は、受光面全体が画素(ピクセル)と呼ばれる格子状の領域(以下、画素20a(図3参照)ともいう)に分割されており、デジタルデータである画素データの集合で構成される画像データを、電気信号として出力する。CCD20では、分割された各領域(画素)にベイヤー配列を構成するように色フィルタ(RGB、CYM等)が設けられており、実施例1では、図3に示すように、ベイヤー配列のRGB原色フィルタ(以下、「RGBフィルタ」という)が配置されている。このため、CCD20は、各画素20aからRGB3原色に対応した電気信号(アナログRGB画像信号)を出力する。なお、CCD20は、固体撮像素子としてのCMOS型イメージセンサ等で構成することもできる。
The
AFE部21は、CCD20を駆動するTG(タイミング信号発生部)30、CCD20から出力される電気信号(アナログRGB画像信号)をサンプリングするCDS(相関2重サンプリング部)31、CDS31にてサンプリングされた信号のゲインを調整するAGC(アナログ利得制御部)32、AGC32でゲイン調整された信号をデジタル信号(以下、「RAW−RGBデータ」という)に変換するA/D変換部33を有する。
The
信号処理部22は、CCDインターフェース(以下、「CCDI/F」という)34と、メモリコントローラ35と、YUV変換部36と、リサイズ処理部37と、表示出力制御部38と、データ圧縮部39と、メディアインターフェース(以下、「メディアI/F」という)40と、欠陥画素補正部42と、制御部(CPU)28と、を有する。
The
CCDI/F34は、AFE部21のTG30へ画面水平同期信号(HD)と画面垂直同期信号(VD)の出力を行い、これらの同期信号に合わせて、AFE部21のA/D変換部33から出力されるRAW−RGBデータを取り込む。メモリコントローラ35は、SDRAM23を制御する。YUV変換部36は、CCDI/F34にて取り込んだRAW−RGBデータを、表示や記録が可能なYUV形式の画像データに変換する。リサイズ処理部37は、表示や記録される画像データのサイズに合わせて画像サイズを変更する。表示出力制御部38は、画像データの表示出力を制御する。データ圧縮部39は、画像データをJPEG形式等で記録させるべくデータの変換を行う。メディアI/F40は、画像データをメモリカード14へ書き込み、またはメモリカード14に書き込まれた画像データを読み出す。欠陥画素補正部42は、CCD20にて取得された画像データが、信号処理部22内を伝播する過程において、欠陥画素の補正を行うものである。この欠陥画素の補正については、後に詳述する。制御部28は、操作部41からの操作入力情報等に応じて、ROM24に記憶された制御プログラムに基づいてデジタルカメラ1全体のシステム制御等を行う。
The CCD I /
操作部41は、デジタルカメラ1の外観表面に設けられているレリーズボタン2、電源ボタン3、撮影・再生切替ダイアル4、広角側ズームスイッチ10、望遠側ズームスイッチ11、メニューボタン12、確定ボタン13等(図1参照)であり、撮影者の操作に応じた所定の動作指示信号が制御部28に入力される。
The
SDRAM23には、CCDI/F34に取り込まれたRAW−RGBデータが保存されるとともに、YUV変換部36で変換処理されたYUVデータ(YUV形式の画像データ)が保存され、加えて、データ圧縮部39で圧縮処理されたJPEG形成などの画像データが保存される。なお、このYUVデータとは、輝度データ(Y)と、輝度データと青色(B)成分データの差分である色差(U)と、輝度データと赤色(R)成分データの差分である色差(V)の情報で色を表現する形式である。
(デジタルカメラのモニタリング動作、静止画撮影動作)
次に、前記したデジタルカメラ1のモニタリング動作と静止画撮影動作について説明する。このデジタルカメラ1は、静止画撮影モード時には、以下に説明するようなモニタリング動作を実行しながら静止画撮影動作が行われる。
The
(Digital camera monitoring and still image shooting)
Next, the monitoring operation and still image shooting operation of the
先ず、撮影者が電源ボタン3をONし、撮影・再生切替ダイアル4を撮影モードに設定することで、デジタルカメラ1が記録モードで起動する。制御部28は、電源ボタン3がONされて、撮影・再生切替ダイアル4が撮影モードに設定されたことを検知すると、モータドライバ25に制御信号を出力して、鏡胴ユニット6を撮影可能位置に移動させ、かつ、CCD20、AFE部21、信号処理部22、SDRAM23、ROM24、液晶モニタ9等を起動させる。
First, when the photographer turns on the
そして、鏡胴ユニット6の撮影レンズ系5が被写体に向けられることにより、撮影レンズ系5を通して入射される被写体画像がCCD20の各画素の受光面上に結像する。そして、CCD20から出力される被写体画像に応じた電気信号(アナログRGB画像信号)は、CDS31、AGC32を介してA/D変換部33に入力され、A/D変換部33により12ビット(bit)のRAW−RGBデータに変換される。
Then, the photographing
このRAW−RGBデータは、信号処理部22のCCDI/F34に取り込まれてメモリコントローラ35を介してSDRAM23に保存される。そして、SDRAM23から読み出されたRAW−RGBデータは、YUV変換部36でYUVデータ(YUV信号)に変換された後に、メモリコントローラ35を介してSDRAM23にYUVデータとして保存される。
This RAW-RGB data is taken into the CCD I /
そして、SDRAM23からメモリコントローラ35を介して読み出されるYUVデータは、表示出力制御部38を介して液晶モニタ(LCD)9へ送られ、液晶モニタ(LCD)9において撮影画像が表示される。その液晶モニタ(LCD)9に撮影画像を表示しているモニタリング時においては、CCDI/F34による画素数の間引き処理により1/30秒の時間で1フレームが読み出されている。このため、AFE部21および信号処理部22は、制御部28の制御下で画像生成手段として機能する。
The YUV data read from the
なお、このモニタリング動作時は、電子ファインダとして機能する液晶モニタ(LCD)9に撮影画像が表示されているだけで、まだレリーズボタン2が押圧(半押も含む)操作されていない状態である。
In this monitoring operation, the photographed image is only displayed on the liquid crystal monitor (LCD) 9 functioning as an electronic viewfinder, and the
この撮影画像の液晶モニタ(LCD)9への表示によって、撮影者は、静止画を撮影するための構図の確認等を行うことができる。なお、デジタルカメラ1では、表示出力制御部38からTVビデオ信号として出力して、ビデオケーブルを介して外部のTV(テレビ)(図示せず)に撮影画像を表示することもできる。
(欠陥画素とその検出方法)
デジタルスチルカメラに使用される撮像素子(上記したCCD20等)では、半導体の製造工程において、全ての受光素子が完全に同一性能で形成されるわけではなく、一部の受光素子に欠陥が生じてしまうことがある。この欠陥が生じてしまった受光素子に相当する画素を、以下では欠陥画素という。しかし、製品の歩留まり上、所定の数以下の個数の欠陥画素があっても、良品の撮像素子としてデジタルスチルカメラ等の商品に使用されるのが一般的である。このため、デジタルカメラ1では、その欠陥画素のCCD20上における縦横座標(アドレス)等(以下、欠陥画素データ)を予めRAM44等に格納しておき、撮影時に、撮像データにおけるRAM44等に格納された欠陥画素のアドレスに相当する画素データに対して欠陥画素補正処理を実施する。この欠陥画素は、例えば、画像全体の輝度値の平均値であるAE評価値が128程度の真白な画像を取得させ、当該画像データの各画素データにおいて、輝度値の128からの差異が所定の値よりも大きいか否かを判断することにより、検出することができる。ここで、輝度値が128よりも低いものを黒キズといい、輝度値が128よりも高いものを白キズという。
By displaying the photographed image on the liquid crystal monitor (LCD) 9, the photographer can check the composition for photographing the still image. Note that the
(Defective pixel and its detection method)
In an imaging device (such as the
また、上述の欠陥画素とは別に、暗電流特性の悪い画素(温度キズ)である欠陥画素も存在する。この温度キズは、暗電流が増えたり蓄積されたりする条件、すなわち撮像素子の温度が上昇したり露光時間が長くなったりするほど影響が大きくなるという動的な欠陥要因である。このため、この温度キズの欠陥画素では、通常1秒程度の露光では問題とならないが、露光時間が長くなるに従って暗電流の増加が大きくなり、それが画像データに重畳され、画像上において輝点となって見える。夜景撮影等の長時間露光撮影による画像において、点々の星状のノイズとして現れるものがこれである。この温度キズの欠陥画素は、300万画素の撮像素子に対して60個程度であり、個々の欠陥画素のアドレスをRAM44等に格納しておくことができる。しかし、温度キズの欠陥画素は、上述したように動的な欠陥要因であることから、露光秒時などの撮影パラメータによって補正しなければならない。この温度キズの欠陥画素は、例えば、遮光して真暗な画像を取得させ、当該画像データの各画素データにおいて、輝度値が所定の値よりも大きいか否かを判断することにより、検出することができる。
(欠陥画素の基本的な補正方法)
欠陥画素の補正は基本的に以下の方法で行われる。
In addition to the above-described defective pixels, there are also defective pixels that have poor dark current characteristics (temperature scratches). This temperature flaw is a dynamic defect factor in which the influence increases as the dark current increases or accumulates, that is, as the temperature of the image sensor increases or the exposure time increases. For this reason, a defective pixel having this temperature flaw usually does not cause a problem with exposure of about 1 second, but as the exposure time becomes longer, the increase in dark current increases, which is superimposed on the image data and becomes a bright spot on the image. Looks like. This is what appears as dotted star-like noise in an image obtained by long exposure photography such as night scene photography. There are about 60 defective pixels with temperature flaws with respect to an image sensor with 3 million pixels, and addresses of individual defective pixels can be stored in the
(Basic correction method for defective pixels)
Correction of defective pixels is basically performed by the following method.
先ず、デジタルカメラ1では、上記したように検出してRAM44等に格納した欠陥画素のアドレス(CCD20上の縦横座標)のデータを、信号処理部22の欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。その後、レリーズ2(図1参照)が押し下げられて、上述したようにCCD20により取得された画像データが信号処理部22内を伝播される過程において、当該画像データ(生成過程の画像データである画像生成データ)が欠陥画素補正部42へと送られる。欠陥画素補正部42では、当該画像データ(その各画素データ)において、記憶部43に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データを読み出し、その周辺のRGBフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間する。
First, in the
ここでいう周辺の画素とは、緑色(G)の場合、水平方向に隣接する両隣の画素または垂直方向に隣接する両隣の画素あるいは斜め方向に隣接する両隣の画素をいい、青色(B)や赤色(R)の場合、水平方向に隣接する両隣の画素または垂直方向に隣接する両隣の画素をいう。 In the case of green (G), the peripheral pixels here refer to both adjacent pixels adjacent in the horizontal direction, adjacent pixels adjacent to each other in the vertical direction, or adjacent pixels adjacent to each other in the diagonal direction, such as blue (B) and In the case of red (R), it means both adjacent pixels adjacent in the horizontal direction or adjacent pixels adjacent in the vertical direction.
実施例1では、基本的には、注目した欠陥画素(補正対象としての欠陥画素)の水平方向に隣接する両隣の画素データの平均値を、当該注目した欠陥画素の画素データとすることにより補間する。ここで、注目した欠陥画素が、画像データにおける左端または右端に位置していた場合は、水平方向に隣接する画素データを、当該注目した欠陥画素の画素データとすることにより補正する。 In the first embodiment, basically, interpolation is performed by using the average value of pixel data on both sides adjacent to each other in the horizontal direction of the target defective pixel (defective pixel to be corrected) as pixel data of the target defective pixel. To do. Here, when the noticed defective pixel is located at the left end or the right end in the image data, the pixel data adjacent to the horizontal direction is corrected as the pixel data of the noticed defective pixel.
また、実施例1では、RGBフィルタで見て同色の欠陥画素が、水平方向に2つ並んでいる場合(以下では、連続2画素の欠陥画素ともいう)であっても、補正することができる。この注目した連続2画素の欠陥画素を補正する場合、一方の欠陥画素が他方の欠陥画素とは逆側で隣接する画素データを、当該一方の欠陥画素の画素データとし、他方の欠陥画素が一方の欠陥画素とは逆側で隣接する画素データを、当該他方の欠陥画素の画素データとすることにより、補間する。ここで、注目した連続2画素の欠陥画素が、画像データにおける左端または右端に位置していた場合は、水平方向に隣接する画素データとそれに隣接する画素データとの2画素分の画素データを、当該注目した連続2画素の欠陥画素の画素データとすることにより補正する。 Further, in the first embodiment, even when two defective pixels of the same color viewed in the RGB filter are arranged in the horizontal direction (hereinafter also referred to as consecutive two defective pixels), correction can be performed. . When correcting the focused defective pixels of the two consecutive pixels, pixel data in which one defective pixel is adjacent to the other defective pixel on the opposite side is set as pixel data of the one defective pixel, and the other defective pixel is Interpolation is performed by using pixel data adjacent to the defective pixel as the pixel data of the other defective pixel. Here, when the defective pixel of the continuous two pixels of interest is located at the left end or the right end in the image data, the pixel data for two pixels of the pixel data adjacent in the horizontal direction and the pixel data adjacent thereto are Correction is performed by using pixel data of the defective pixels of the two consecutive pixels of interest.
ここで、欠陥画素補正部42の記憶部43では、登録可能な欠陥画素(その欠陥画素のアドレスデータ等)の個数(欠陥画素データの量)は有限であり、例えば、実施例1のデジタルカメラ1では512個である。これは、デジタルカメラ1では、一般の撮像装置と同様に、装置全体としての大きさ寸法を出来る限り小さくすることが要求されているとともに内部には種々の機能のための機構が収容されること等から、欠陥画素補正部42およびその記憶部43の回路等の構成を大規模なものとすることができず、記憶部43に登録(格納)することができる欠陥画素データの量(欠陥画素数)には限りがあることによる。このため、従来のデジタルスチルカメラ等では、撮像素子において、欠陥画素補正部の記憶部に登録(格納)可能な欠陥画素数を超える欠陥画素が存在する場合、その全てを欠陥画素補正することができなかった。
Here, in the
本願発明は、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)可能な欠陥画素数を超える欠陥画素が存在する場合であっても、その全てを欠陥画素補正することを可能とするものであって、欠陥画素補正部42により実行される欠陥画素補正処理内容が従来のものとは異なるものとされている。以下では、このことについて詳細に説明する。
(欠陥画素補正処理)
以下の説明では、理解容易のために、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)可能な欠陥画素数(登録限度数)を500としている。また、欠陥画素の影響の変化の判断基準を露光時間としかつその判断基準の設定条件を露光時間として設定された秒数とすべく、CCD20における欠陥画素の検出の際、遮光して真暗な画像(ダーク画像)を取得(撮影)させ、取得した当該画像(画像データ)における画素(画素データ)の輝度値を欠陥画素レベルとし、取得した当該画像(画像データ)において輝点として現れる輝度値(欠陥画素レベル)を補正判断値としている。実施例1では、欠陥画素レベル(輝度値)が240以上であると露光時間が2秒の場合に画像(画像データ)において輝点として現れることからその補正判断値を240〜255とし、欠陥画素レベル(輝度値)が220以上であると露光時間が4秒の場合に画像(画像データ)において輝点として現れることからその補正判断値を220〜239とし、欠陥画素レベル(輝度値)が200以上であると露光時間が8秒の場合に画像(画像データ)において輝点として現れることからその補正判断値を200〜219とし、欠陥画素レベル(輝度値)が180以上であると露光時間が16秒の場合に画像(画像データ)において輝点として現れることからその補正判断値を180〜199としている。実施例1では、当該欠陥画素レベル(輝度値)が高いものほど、補正優先度の高い欠陥画素(温度キズ)であるものとしている。なお、欠陥画素レベルとしての輝度値は、出力のフルスケールを255とした出力値を示しており、数値が大きくなるほど大きな(高い)出力であることを示している。
The present invention makes it possible to correct all defective pixels even when there are defective pixels exceeding the number of defective pixels that can be registered (stored) in the
(Defective pixel correction process)
In the following description, the number of defective pixels that can be registered (stored) in the
実施例1のデジタルカメラ1では、ROM24に記憶されたプログラムを、制御部28が実行して欠陥画素補正部42等を適宜制御することにより、本願発明に係る欠陥画素補正処理を行う。この欠陥画素補正処理は、基本的には、欠陥画素補正部42において一度の欠陥画素補正の動作により補正可能な欠陥画素数が、記憶部43に登録(格納)された欠陥画素数となることから、記憶部43に登録可能な欠陥画素数(登録限度数)を超える場合、記憶部43への登録内容を書き換えつつ欠陥画素補正部42での欠陥画素補正の動作を繰り返すことにより、撮像素子(CCD20)の全ての欠陥画素の補正を可能とするものである。この欠陥画素補正処理のために、露光時間に応じた補正する欠陥画素数が設定されている。この露光時間に応じた補正画素数の決定は以下のように行う。
In the
欠陥画素の数は撮像素子(センサ)の特性に依存する。例えば、CMOSでは、同条件下であってもCCDより10倍も多い欠陥画素が出現すると言われている。このため、実際にデジタルスチルカメラ(実施例1ではデジタルカメラ1)にセンサ(実施例1ではCCD20)を搭載した状態において、露光2秒で出現する欠陥画素の数、露光4秒で出現する欠陥画素の数、・・・・というように、設定された各露光時間で出現する欠陥画素の数を統計的に把握し、露光時間に応じて出現する欠陥画素の全てを補正するために充分だと判断できる数を、露光時間に応じた補正画素数として設定する。このため、上記した露光時間に対する補正判断値すなわち欠陥画素レベル(輝度値)の各数値は、露光時間に応じた補正画素数の設定のための目安であるということができる。この欠陥画素補正処理においては、欠陥画素レベルが高い画素から順に、露光時間に応じた補正画素数だけ、欠陥画素補正を行う。
The number of defective pixels depends on the characteristics of the image sensor (sensor). For example, in CMOS, it is said that 10 times more defective pixels appear than CCD even under the same conditions. Therefore, in the state where the sensor (
この実施例1では、露光時間が2秒の場合の補正画素数を200とし、露光時間が4秒の場合の補正画素数を500とし、露光時間が8秒の場合の補正画素数を700とし、露光時間が16秒の場合の補正画素数を1000としている(図4参照)。すなわち、統計的に、欠陥画素レベル(輝度値)が240〜255となる画素数が200以下であり、欠陥画素レベル(輝度値)が220〜239となる画素数が500以下であり、欠陥画素レベル(輝度値)が200〜219となる画素数が700以下であり、欠陥画素レベル(輝度値)が180〜199となる画素数が1000以下であることを意味している。 In the first embodiment, the correction pixel number when the exposure time is 2 seconds is 200, the correction pixel number when the exposure time is 4 seconds is 500, and the correction pixel number when the exposure time is 8 seconds is 700. The number of corrected pixels when the exposure time is 16 seconds is 1000 (see FIG. 4). That is, statistically, the number of pixels with a defective pixel level (luminance value) of 240 to 255 is 200 or less, the number of pixels with a defective pixel level (luminance value) of 220 to 239 is 500 or less, and the defective pixel This means that the number of pixels with a level (luminance value) of 200 to 219 is 700 or less, and the number of pixels with a defective pixel level (luminance value) of 180 to 199 is 1000 or less.
制御部28は、設定された露光時間に応じた補正画素数での欠陥画素補正処理のために、実施例1では、欠陥画素データとして、検出した欠陥画素のアドレス(CCD20上の縦横座標)のデータを、それぞれの欠陥画素レベルおよび設定された露光時間に関連付けて、以下のようにRAM44に格納する。なお、実施例1では、後述するように記憶部43に適宜登録するための欠陥画素データをRAM44に格納しているが、制御部28が適宜データを格納および読み出すことが可能とされたメモリであればよく、実施例1に限定されるものではない。
In the first embodiment, the
先ず、図4に示すように、CCD20の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に200個の画素を欠陥画素として検出し、第1優先補正画素群P1の欠陥画素のアドレスデータとして、RAM44に格納する。この第1優先補正画素群P1として検出された200個の欠陥画素は、そのまま露光時間が2秒の場合に補正する200個の欠陥画素となる。
First, as shown in FIG. 4, from among all the pixels of the
次に、CCD20の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に500個の画素を欠陥画素として検出し、その検出した500個の画素から、第1優先補正画素群P1の200個の欠陥画素を除いたものを欠陥画素として選出し、第2優先補正画素群P2の欠陥画素のアドレスデータとして、RAM44に格納する。これは、例えば、CCD20の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に500個の画素を検出する過程において、それらのうち第1優先補正画素群P1の200個の欠陥画素において最も低い欠陥画素レベルよりも低い欠陥画素レベルのものを選出することにより行う。このため、第2優先補正画素群P2の欠陥画素として、CCD20の全ての画素の中における欠陥画素レベルが高い500個の画素から、第1優先補正画素群P1の200個の欠陥画素を減算した、残りの300個の画素を検出することとなる。この第2優先補正画素群P2として検出された300個の欠陥画素は、第1優先補正画素群P1の200個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が4秒の場合に補正する500個の欠陥画素となる。また、本願発明に係る欠陥画素補正処理では、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)可能な欠陥画素数を、後述するように、欠陥画素レベルが高い方から順に補正優先度の高い欠陥画素として設定することから、実施例1では、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)可能な欠陥画素数が500であるので、露光時間が4秒の場合に補正する500個の欠陥画素が、そのまま補正優先度の高い欠陥画素となる。
Next, among all the pixels of the
次に、CCD20の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に700個の画素を欠陥画素として検出し、その検出した700個の画素から、第1優先補正画素群P1の200個の欠陥画素および第2優先補正画素群P2の300個の欠陥画素を除いたものを欠陥画素として選出し、第3優先補正画素群P3の欠陥画素のアドレスデータとして、RAM44に格納する。これは、例えば、CCD20の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に700個の画素を検出する過程において、それらのうち第2優先補正画素群P2の300個の欠陥画素において最も低い欠陥画素レベルよりも低い欠陥画素レベルのものを選出することにより行う。このため、第3優先補正画素群P3の欠陥画素として、CCD20の全ての画素の中における欠陥画素レベルが高い700個の画素から、第1優先補正画素群P1の200個の欠陥画素および第2優先補正画素群P2の300個の欠陥画素を減算した、残りの200個の画素を検出することとなる。この第3優先補正画素群P3として検出された200個の欠陥画素は、第1優先補正画素群P1の200個の欠陥画素および第2優先補正画素群P2の300個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が8秒の場合に補正する700個の欠陥画素となる。
Next, 700 pixels are detected as defective pixels in order from the pixel having the highest defective pixel level among all the pixels of the
次に、CCD20の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に1000個の画素を欠陥画素として検出し、その検出した1000個の画素から、第1優先補正画素群P1の200個の欠陥画素、第2優先補正画素群P2の300個の欠陥画素および第3優先補正画素群P3の200個の欠陥画素を除いたものを欠陥画素として選出し、第4優先補正画素群P4の欠陥画素のアドレスデータとして、RAM44に格納する。これは、例えば、CCD20の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に1000個の画素を検出する過程において、それらのうち第3優先補正画素群P3の200個の欠陥画素において最も低い欠陥画素レベルよりも低い欠陥画素レベルのものを選出することにより行う。このため、第4優先補正画素群P4の欠陥画素として、CCD20の全ての画素の中における欠陥画素レベルが高い1000個の画素から、第1優先補正画素群P1の200個の欠陥画素、第2優先補正画素群P2の300個の欠陥画素および第3優先補正画素群P3の200個の欠陥画素を減算した、残りの300個の画素を検出することとなる。この第4優先補正画素群P4として検出された300個の欠陥画素は、第1優先補正画素群P1の200個の欠陥画素、第2優先補正画素群P2の300個の欠陥画素および第3優先補正画素群P3の200個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が16秒の場合に補正する1000個の欠陥画素となる。
Next, 1000 pixels are detected as defective pixels in order from the pixel having the highest defective pixel level among all the pixels of the
なお、上記したように補正画素数を設定していることから、各優先補正画素群PN(N=1〜4)の各欠陥画素では、CCD20の全ての画素の中において、補正判断値すなわち設定の目安としての欠陥画素レベル(輝度値)の範囲にある欠陥画素レベルの画素の全てを漏らすことなく含むものではあるが、設定の目安としての欠陥画素レベル(輝度値)よりも小さな欠陥画素レベルの画素が含まれている場合はあり得る。
Since the number of correction pixels is set as described above, in each defective pixel of each priority correction pixel group P N (N = 1 to 4), among all the pixels of the
実施例1の制御部28では、上述したようにRAM44に格納した各優先補正画素群PN(N=1〜4)のアドレスデータ(図4参照)すなわち各欠陥画素データを利用して、欠陥画素補正処理を行う。図5は、この制御部28にて実行される実施例1の欠陥画素補正処理内容を示すフローチャートであり、図6は、図5のフローチャートにおけるステップS4の処理内容を示すフローチャートである。以下、図5のフローチャートの各ステップ(図6のフローチャートの各ステップも含む)について図4を用いて説明する。
The
ステップS1では、設定された露光時間を取得して、ステップS2へ進む。このステップS1では、レリーズ2が押し下げられて撮影動作が開始されると、それにより得ることが可能となる当該撮影時の露光時間の情報を取得する。この露光時間は、撮影モードや撮影現場の雰囲気等に応じて制御部28が設定する場合もあれば、操作部41(図2参照)への操作により設定される場合もあるが、撮影動作が開始されると当該撮影時の露光時間が決まることから、撮影動作の開始に伴って露光時間の情報を取得する。
In step S1, the set exposure time is acquired, and the process proceeds to step S2. In this step S1, when the
ステップS2では、ステップS1での設定された露光時間の取得に続き、取得した露光時間が8秒以上であるか否かを判定し、Yesの場合はステップS3へ進み、Noの場合はステップS4へ進む。このステップS2では、欠陥画素補正処理の内容の切り換え、すなわち欠陥画素補正部42による欠陥画素補正動作の回数の切り換えのために、ステップS1で取得した露光時間の長さ(数値)を判断している。これは、上述したように、露光時間に応じた補正画素数が予め設定されていることと、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)可能な欠陥画素数(登録限度数)には限度があることと、による。実施例1では、記憶部43に登録可能な欠陥画素数(登録限度数)が500であるのに対し、露光時間が4秒の場合の補正画素数が500に設定されかつ露光時間が8秒の場合の補正画素数が700に設定されていることから、露光時間が8秒以上であると設定された補正画素数が登録限度数を越えるので、欠陥画素補正部42による欠陥画素補正動作を2回とすべくステップS3へ進み、露光時間が4秒以下であると設定された補正画素数が登録限度数以下であるので、欠陥画素補正部42による欠陥画素補正動作を1回とすべくステップS4へ進む。
In Step S2, following the acquisition of the set exposure time in Step S1, it is determined whether or not the acquired exposure time is 8 seconds or more. If Yes, the process proceeds to Step S3. If No, Step S4 is performed. Proceed to In step S2, the length (numerical value) of the exposure time acquired in step S1 is determined in order to switch the content of the defective pixel correction process, that is, to switch the number of defective pixel correction operations by the defective
ステップS3では、ステップS2での露光時間が8秒以上であるとの判断に続き、補正優先度の高い欠陥画素の補正を実行して、ステップS4へ進む。このステップS3では、ステップS2にて露光時間が8秒以上であると判断したことから、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録可能な欠陥画素数(登録限度数)よりも多くの欠陥画素を補正する必要があるので、補正優先度の高い順すなわち欠陥画素レベル(輝度値)の大きい順から、記憶部43の登録限度数の欠陥画素を補正する。実施例1では、記憶部43の登録限度数が500であることから、第1優先補正画素群P1の200個の欠陥画素のアドレスデータと、第2優先補正画素群P2の300個の欠陥画素のアドレスデータと、を、RAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。その後、欠陥画素補正部42は、送られてきた画像データ(その各画素データ)において、記憶部43に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データを読み出し、その周辺のRGBフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間することにより、第1優先補正画素群P1の200個の欠陥画素と、第2優先補正画素群P2の300個の欠陥画素と、の合計500個の欠陥画素の補正を行う。ここで、当該500個の欠陥画素のアドレスデータは、その全てが記憶部43に登録可能であることから、欠陥画素補正部42では一度の欠陥画素補正動作で、補正優先度の高い500個の欠陥画素の全てを補正することができる。なお、各優先補正画素群PN(N=1〜4)の欠陥画素の個数の区切りが、記憶部43の登録限度数に対応していない場合、補正優先度の高い方から順に登録可能な登録限度数の欠陥画素のアドレスデータを、記憶部43への登録を可能とする状態で予めRAM44に格納しておくことが望ましい。
In step S3, following the determination that the exposure time in step S2 is 8 seconds or longer, correction of defective pixels having a high correction priority is executed, and the flow proceeds to step S4. In this step S3, since it is determined in step S2 that the exposure time is 8 seconds or more, there are more defective pixels than the number of defective pixels (registration limit number) that can be registered in the
ステップS4では、ステップS2での露光時間が8秒以上ではないとの判断、あるいは、ステップS3での補正優先度の高い欠陥画素の補正の実行に続き、露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、ステップS5へ進む。このステップS4では、ステップS1で取得した露光時間に応じた補正画素数の欠陥画素を補正するために、各優先補正画素群PN(N=1〜4)のアドレスデータをRAM44から適宜読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)することにより、露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行う(これを処理Aとする)。すなわち、実質的な補正画素数の設定を行う。以下では、この露光時間に応じた欠陥画素補正の準備(ステップS4)における処理内容を示す図6のフローチャートの各ステップについて説明する。
In step S4, following the determination that the exposure time in step S2 is not more than 8 seconds or the execution of correction of defective pixels having a high correction priority in step S3, preparation for defective pixel correction according to the exposure time is performed. To go to step S5. In step S4, address data of each priority correction pixel group P N (N = 1 to 4) is appropriately read out from the
ステップS11では、ステップS1で取得した露光時間が2秒であるか否かを判定し、Yesの場合はステップS12へ進み、Noの場合はステップS13へ進む。 In step S11, it is determined whether or not the exposure time acquired in step S1 is 2 seconds. If Yes, the process proceeds to step S12. If No, the process proceeds to step S13.
ステップS12では、ステップS11での露光時間が2秒であるとの判断に続き、2秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、処理A(ステップS4)を終了し、ステップS5(図5参照)へと進む。ここで、露光時間が2秒である場合、図5のフローチャートにおいて、ステップS1→ステップS2→ステップS4へと進んできている場面である。このステップS12では、2秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備として、第1優先補正画素群P1の200個の欠陥画素のアドレスデータ(図4参照)をRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。
In step S12, following the determination that the exposure time in step S11 is 2 seconds, preparation for defective pixel correction corresponding to the exposure time of 2 seconds is made, and the process A (step S4) is terminated, and step S5 is completed. Proceed to (see FIG. 5). Here, when the exposure time is 2 seconds, in the flowchart of FIG. 5, the process proceeds from step S1 to step S2 to step S4. In the step S12, preparation of the defective pixel correction corresponding to the 2-second exposure time, the
ステップS13では、ステップS11での露光時間が2秒ではないとの判断に続き、ステップS1で取得した露光時間が4秒であるか否かを判定し、Yesの場合はステップS14へ進み、Noの場合はステップS15へ進む。 In step S13, following the determination that the exposure time in step S11 is not 2 seconds, it is determined whether or not the exposure time acquired in step S1 is 4 seconds. If Yes, the process proceeds to step S14. In this case, the process proceeds to step S15.
ステップS14では、ステップS13での露光時間が4秒であるとの判断に続き、4秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、処理A(ステップS4)を終了し、ステップS5(図5参照)へと進む。ここで、露光時間が4秒である場合、図5のフローチャートにおいて、ステップS1→ステップS2→ステップS4へと進んできている場面である。このステップS14では、4秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備として、第1優先補正画素群P1の200個の欠陥画素のアドレスデータおよび第2優先補正画素群P2の300個の欠陥画素のアドレスデータ(図4参照)をRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。
In step S14, following the determination that the exposure time in step S13 is 4 seconds, preparation for defective pixel correction according to the exposure time of 4 seconds is made, and the process A (step S4) is terminated, and step S5 is completed. Proceed to (see FIG. 5). Here, when the exposure time is 4 seconds, in the flowchart of FIG. 5, it is a scene in which the process proceeds from step S1 to step S2 to step S4. In the step S14, preparation of the defective pixel correction corresponding to 4 seconds exposure time, the address data and 300 of the second priority correction pixel group P 2 of the first 200 defective pixel of the priority correction pixel group P 1 The defective pixel address data (see FIG. 4) is read from the
ステップS15では、ステップS13での露光時間が4秒ではないとの判断に続き、ステップS1で取得した露光時間が8秒であるか否かを判定し、Yesの場合はステップS16へ進み、Noの場合はステップS17へ進む。 In step S15, following the determination that the exposure time in step S13 is not 4 seconds, it is determined whether or not the exposure time acquired in step S1 is 8 seconds. If Yes, the process proceeds to step S16. In this case, the process proceeds to step S17.
ステップS16では、ステップS15での露光時間が8秒であるとの判断に続き、8秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、処理A(ステップS4)を終了し、ステップS5(図5参照)へと進む。ここで、露光時間が8秒である場合、図5のフローチャートにおいて、ステップS1→ステップS2→ステップS3→ステップS4へと進んできている場面であることから、補正優先度の高い500個の欠陥画素(第1優先補正画素群P1の200個の欠陥画素と、第2優先補正画素群P2の300個の欠陥画素と、の合計500個の欠陥画素)の補正が既に完了している。このため、ステップS16では、8秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備として、第3優先補正画素群P3の200個の欠陥画素のアドレスデータ(図4参照)をRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。
In step S16, following the determination in step S15 that the exposure time is 8 seconds, preparation for defective pixel correction corresponding to the exposure time of 8 seconds is made, and processing A (step S4) is terminated, and step S5 is completed. Proceed to (see FIG. 5). Here, when the exposure time is 8 seconds, 500 defects having a high correction priority are obtained in the flowchart of FIG. 5 because the process proceeds from step S1 to step S2 to step S3 to step S4. pixels (the 200 defective pixel of the first priority correction pixel group P 1, and 300 pieces of defective pixels of the second priority correction pixel group P 2, a total of 500 defective pixel) correction has already been completed . Therefore, in step S16, preparation of the defective pixel correction corresponding to 8 seconds exposure time, 200 defective pixel address data of the third priority correction pixel group P 3 (see FIG. 4) is read from the
ステップS17では、ステップS15での露光時間が8秒ではないとの判断に続き、16秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、処理A(ステップS4)を終了し、ステップS5(図5参照)へと進む。ここで、ステップS15において露光時間が8秒ではない場合、設定されている露光時間の上限である16秒に設定されていることとなる。この場合、図5のフローチャートにおいて、ステップS1→ステップS2→ステップS3→ステップS4へと進んできている場面であることから、補正優先度の高い500個の欠陥画素(第1優先補正画素群P1の200個の欠陥画素と、第2優先補正画素群P2の300個の欠陥画素と、の合計500個の欠陥画素)の補正が既に完了している。このため、ステップS17では、16秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備として、第3優先補正画素群P3の200個の欠陥画素のアドレスデータおよび第4優先補正画素群P4の300個の欠陥画素のアドレスデータ(図4参照)をRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。
In step S17, following the determination that the exposure time in step S15 is not 8 seconds, preparation for defective pixel correction corresponding to the exposure time of 16 seconds is performed, and the process A (step S4) is terminated, and step S5 is completed. Proceed to (see FIG. 5). Here, if the exposure time is not 8 seconds in step S15, it is set to 16 seconds which is the upper limit of the set exposure time. In this case, in the flowchart of FIG. 5, since the scene proceeds from
ステップS5では、ステップS4での露光時間に応じた欠陥画素補正の準備に続き、露光時間に応じた欠陥画素補正を実行して、図5のフローチャートを終了する。このステップS5では、欠陥画素補正部42は、送られてきた画像データ(その各画素データ)において、記憶部43に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データを読み出し、その周辺のRGBフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間することにより、ステップS4での露光時間に応じた欠陥画素補正の準備に応じた補正画素数の補正を行う。詳細には、露光時間が2秒の場合、第1優先補正画素群P1の200個の欠陥画素の補正を行い、露光時間が4秒の場合、第1優先補正画素群P1の200個の欠陥画素と第2優先補正画素群P2の300個の欠陥画素との合計500個の欠陥画素の補正を行い、露光時間が8秒の場合、第3優先補正画素群P3の200個の欠陥画素の補正を行い、露光時間が16秒の場合、第3優先補正画素群P3の200個と第4優先補正画素群P4の300個の欠陥画素との合計500個の欠陥画素の補正を行う。このとき、何れの場面であっても、欠陥画素のアドレスデータの全てを記憶部43に登録可能であることから、欠陥画素補正部42では一度の欠陥画素補正動作で、露光時間に応じた補正画素数の欠陥画素の全てを補正することができる。このため、ステップS5では、露光時間が2秒もしくは4秒の場合、1回目の欠陥画素補正部42での欠陥画素補正動作として、ステップS1で取得した露光時間に応じた補正画素数の補正を実行することとなり、露光時間が8秒もしくは16秒の場合、ステップS3に続く2回目の欠陥画素補正部42での欠陥画素補正動作として、ステップS1で取得した露光時間に応じた補正画素数から、ステップS3で実行した欠陥画素補正の補正画素数500を減算した残りの補正画素数の補正を、補正対象となる画素データを重複させることなく実行することとなる。
(高速な撮影処理での欠陥画素補正処理)
ここで、撮影モードや撮影現場の雰囲気等により、高速な撮影処理が必要な場合(例えば、連写等)、上記した欠陥画素補正処理の実行により欠陥画素補正部42で繰り返し(上記した実施例1では2回)欠陥画素補正動作を行うと、その欠陥画素補正の処理時間が問題となる。このため、本願発明に係る欠陥画素補正処理では、連写等の高速な撮影処理が必要な場合、欠陥画素レベルが高い画素(補正優先度の高い欠陥画素)を優先的に補正することを前提として、欠陥画素補正部42での欠陥画素補正動作を1回だけ行う。これは、欠陥画素レベルが高い画素は、欠陥画素として画像(画像データ)に表れやすい画素であることによる。この場合、例えば、図5のフローチャートにおいてステップS3で欠陥画素補正動作を実行した場合はステップS4へと進むことなく、欠陥画素補正処理を終了する。これにより、連写等の高速な撮影処理が必要な場合、欠陥画素補正に要する処理時間を短縮しつつ画像(画像データ)に出現し易い欠陥画素を補正することができる。
(本願発明の欠陥画素補正処理の作用)
本願発明の欠陥画素補正処理では、上述したように、撮像素子(CCD20)において補正対象とすべき欠陥画素の数が、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録可能な欠陥画素数を超える場合、当該記憶部43への登録内容を書き換えつつ、すなわち記憶部43における欠陥画素データの登録内容を変更しつつ、欠陥画素補正部42での欠陥画素補正の動作を繰り返すことから、撮像素子(CCD20)の全ての欠陥画素を補正することができる。詳細には、実施例1では、記憶部43に登録(格納)可能な登録限度数が500であるのに対し、露光時間に応じて必要な補正画素数を、露光時間が2秒の場合の補正画素数を200とし、露光時間が4秒の場合の補正画素数を500とし、露光時間が8秒の場合の補正画素数を700とし、露光時間が16秒の場合の補正画素数を1000としている(図4参照)ことから、露光時間が2秒もしくは4秒の場合、欠陥画素補正部42での欠陥画素補正動作として、ステップS1で取得した露光時間に応じた補正画素数の補正を実行し、露光時間が8秒もしくは16秒の場合、1回目の欠陥画素補正部42での欠陥画素補正動作としてステップS3にて500個の補正優先度の高い欠陥画素の補正を実行し、ステップS3に続く2回目の欠陥画素補正部42での欠陥画素補正動作として、ステップS1で取得した露光時間に応じた補正画素数から、ステップS3で実行した欠陥画素補正の補正画素数500を減算した残りの補正画素数の補正をステップS5にて実行する。このように、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録可能な欠陥画素数を超える場合(実施例1では露光時間が8秒もしくは16秒の場合)であっても、その超えた画素数を2回目(設定条件によっては複数回)の欠陥画素補正部42での欠陥画素補正動作により補正するので、補正が必要とされる欠陥画素数と記憶部43の登録限度数との関係に拘らず、撮像素子(CCD20)の全ての欠陥画素を補正することができる。
In step S5, following the preparation of defective pixel correction corresponding to the exposure time in step S4, defective pixel correction corresponding to the exposure time is executed, and the flowchart of FIG. 5 ends. In step S5, the defective
(Defective pixel correction processing in high-speed shooting processing)
Here, when a high-speed shooting process is necessary (for example, continuous shooting or the like) depending on the shooting mode, the atmosphere at the shooting site, or the like, the defective
(Operation of defective pixel correction processing of the present invention)
In the defective pixel correction process of the present invention, as described above, when the number of defective pixels to be corrected in the imaging device (CCD 20) exceeds the number of defective pixels that can be registered in the
また、露光時間に応じて補正対象とする画素数を変更していることから、露光時間に応じた必要な補正画素数だけ補正すること、換言すると過不足のなく適切に補正することができ、欠陥画素の補正不足や過補正に基因する画質の低下を防止することができる。これは、補正不足により、画像(画像データ)において出現する欠陥画素が補正されていないと、画像上にて当該欠陥画素が認識されてしまう虞があり、過補正により、画像(画像データ)において出現しない画素を欠陥画素として補正してしまうと、補正前の画像において問題とはならない画素(およびその周辺)であったにも拘らず当該画素の周辺を実質的に平滑化することによる空間解像度の劣化等を招いてしまう虞があることによる。 Further, since the number of pixels to be corrected is changed according to the exposure time, it is possible to correct only the necessary number of correction pixels according to the exposure time, in other words, it is possible to appropriately correct without excess or deficiency, It is possible to prevent image quality deterioration due to insufficient correction or overcorrection of defective pixels. This is because if defective pixels appearing in the image (image data) are not corrected due to insufficient correction, the defective pixels may be recognized on the image. If a non-appearing pixel is corrected as a defective pixel, the spatial resolution is obtained by substantially smoothing the periphery of the pixel even though it is not a problem pixel (and its periphery) in the image before correction. This is because there is a risk of causing deterioration or the like.
さらに、欠陥画素レベルが高い画素を優先的に補正することから、画像(画像データ)上において欠陥画素と認識され易い画素を優先的に補正することができるので、より効率的に画質を向上させることができる。 Furthermore, since pixels with a high defective pixel level are preferentially corrected, pixels that are easily recognized as defective pixels on the image (image data) can be preferentially corrected, so that the image quality can be improved more efficiently. be able to.
このため、本願発明に係る撮像装置のデジタルカメラ1では、記憶部43での登録限度数に拘らず、補正対象とするすべての欠陥画素を適切に補正することができる。これにより、暗電流が増えたり蓄積されたりする条件、例えば、撮像素子(CCD20)の温度が上昇したり露光時間が長い状況で撮影された画像(画像データ)であっても、その品質を向上させることができる。
For this reason, in the
なお、上記した実施例1では、欠陥画素の影響の変化の判断基準を露光時間とし、露光時間に応じた補正画素数が設定されている例を示したが、動的な欠陥要因である温度キズの影響が変化する要因を判断基準として補正画素数を設定するものであればよく、実施例1に限定されるものではない。例えば、ISO感度に応じた補正画素数の設定に基づいて欠陥画素補正処理を行うものとすることができる。この場合、露光時間と同様に、実際にデジタルスチルカメラ(実施例1ではデジタルカメラ1)にセンサ(実施例1ではCCD20)を搭載した状態において、ISO感度100で出現する欠陥画素の数、ISO感度200で出現する欠陥画素の数、・・・・というように、設定された各ISO感度で出現する欠陥画素の数を統計的に把握し、ISO感度に応じて出現する欠陥画素の全てを補正するために充分だと判断できる数を、ISO感度に応じた補正画素数として設定すればよい。この一例として、露光時間がISO100の補正画素数を200とし、ISO200の場合の補正画素数を500とし、ISO400の場合の補正画素数を700とし、ISO800の場合の補正画素数を1000とすることにより、上記した露光時間に対応して補正画素数が設定されている場合と同様に欠陥画素補正処理を行うことができる。この場合であっても、制御部28は、設定されたISO感度に応じた補正画素数での欠陥画素補正処理のために、検出した欠陥画素のアドレス(CCD20上の縦横座標)のデータを、RAM44に格納する。
In the first embodiment described above, an example is shown in which the exposure criterion is used as a criterion for determining the change in the influence of defective pixels, and the number of correction pixels corresponding to the exposure time is set. Any method may be used as long as the number of correction pixels is set based on a factor that changes the influence of scratches as a criterion, and is not limited to the first embodiment. For example, the defective pixel correction process can be performed based on the setting of the number of correction pixels according to the ISO sensitivity. In this case, as with the exposure time, the number of defective pixels appearing with
また、実施例1では、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録可能な欠陥画素数が500であり、かつ露光時間に応じた補正画素数の設定が露光時間16秒の場合の補正画素数1000を最大としていたが、各数値は例示であってこれらに限定されるものではない。すなわち、さらに多くの露光時間の設定がある場合には、それらに応じた欠陥画素数を適宜設定すればよく、記憶部43に登録可能な欠陥画素数や露光時間に対する補正画素数も撮像装置の各設定に応じて変化するものである。ここで、記憶部43に登録可能な欠陥画素数(登録限度数)に対して、露光時間に応じた補正画素数の設定の最大値が2倍を超える場合、ステップS3での1回目の欠陥画素補正部42での欠陥画素補正動作として登録限度数の補正を実行し、ステップS3に続く2回目の欠陥画素補正部42での欠陥画素補正動作として、ステップS1で取得した露光時間に応じた補正画素数に対応する各画素から、ステップS3で実行した欠陥画素補正の補正画素数に対応する各画素の補正の対象外となった各画素のうち登録限度数分の補正優先度の高い欠陥画素の補正を実行し、それに続く3回目の欠陥画素補正部42での欠陥画素補正動作として、ステップS1で取得した露光時間に応じた補正画素数から、上記した2回で実行した欠陥画素補正の補正画素数(登録限度数×2)を減算した残りの補正画素数の補正を実行する等のように、欠陥画素補正部42での登録限度数の画素の欠陥画素補正動作を((設定された補正画素数)/登録限度数)だけ繰り返した後に、残りの補正画素数の補正を実行すればよい。
In the first embodiment, the number of corrected pixels when the number of defective pixels that can be registered in the
次に、本発明の実施例2に係る撮像装置およびそこで行われる欠陥画素補正処理について説明する。この実施例2は、欠陥画素補正処理における処理内容の一部が実施例1とは異なる例である。この実施例2の撮像装置は、基本的な構成は上記した実施例1の撮像装置であるデジタルカメラ1と同様であることから、等しい構成の個所には同じ符号を付し、その詳細な説明は省略する。図7は、各優先補正画素群PNMにおけるRAM44に格納された欠陥画素のアドレス(CCD20上の縦横座標)のデータの個数(欠陥画素のデータ数)等を表で示す図4と同様の説明図である。図8は、取得した画像(画像データ)をS等分した様子を説明するための説明図であり、(a)は4分割した様子を示し、(b)は2分割した様子を示している。
Next, an image pickup apparatus according to
この実施例2の欠陥画素補正処理は、補正する必要のある欠陥画素の個数が記憶部43に登録可能な欠陥画素数(登録限度数)を超える場合であってもすべての当該欠陥画素の補正を可能としつつ、欠陥画素補正部42で欠陥画素補正動作を繰り返すことに伴って処理時間が増大することを抑制するものである。例えば、実施例1のデジタルカメラ1において、ハードウェアでの欠陥画素補正処理を行うブロックとしての欠陥画素補正部42へ10MBの画像データを入力した場合、当該画像データの欠陥画素補正に約80msの処理時間が必要になるものとし、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録可能な欠陥画素数500に対して、1500個の欠陥画素を補正するものとする。すると、欠陥画素補正部42では、先ず、10MBの画像データに対して、欠陥画素レベルが高い画素から順に500個の欠陥画素の補正を実行し、次に、10MBの画像データに対して、既に補正した500個を除いた中で欠陥画素レベルが高い画素から順に500個の欠陥画素の補正を実行し、最後に、10MBの画像データに対して、残りの500個の欠陥画素の補正を実行する。このことから、補正する必要のある欠陥画素のすべてを欠陥画素補正するために、欠陥画素補正部42での10MBの画像データに対する欠陥画素補正動作の3回分の処理時間(約80ms×3=約240ms)を要することとなる。
The defective pixel correction process according to the second embodiment corrects all the defective pixels even when the number of defective pixels that need to be corrected exceeds the number of defective pixels that can be registered in the storage unit 43 (registration limit number). In this case, the processing time is prevented from increasing as the defective
実施例2の欠陥画素補正処理では、撮像素子(CCD20)において、欠陥画素補正部の記憶部に登録(格納)可能な欠陥画素数を超える欠陥画素が存在する場合(設定した補正画素数が登録限度数を超える場合)であっても、その全てを欠陥画素補正することを可能としつつ、その欠陥画素補正に要する処理時間の増大を抑制するものである。 In the defective pixel correction process according to the second embodiment, in the imaging device (CCD 20), when there are defective pixels exceeding the number of defective pixels that can be registered (stored) in the storage unit of the defective pixel correction unit (the set number of corrected pixels is registered). Even when the number exceeds the limit number), it is possible to correct all of the defective pixels, while suppressing an increase in processing time required for the defective pixel correction.
先ず、実施例2の欠陥画素補正処理のために、実施例1と同様に、設定された各露光時間で出現する欠陥画素の数を統計的に把握し、露光時間に応じて出現する欠陥画素の全てを補正するために充分だと判断できる数を、露光時間に応じた補正画素数として設定する。この実施例2では、露光時間が2秒の場合の補正画素数を200とし、露光時間が4秒の場合の補正画素数を500とし、露光時間が8秒の場合の補正画素数を800とし、露光時間が16秒の場合の補正画素数を1200とし、露光時間が32秒の場合の補正画素数を2000としている(図7参照)。この露光時間に応じた補正画素数は、RAM44に格納されている。
First, for the defective pixel correction process of the second embodiment, as in the first embodiment, the number of defective pixels appearing at each set exposure time is statistically grasped, and the defective pixels appearing according to the exposure time. The number that can be determined to be sufficient to correct all of the above is set as the number of corrected pixels according to the exposure time. In the second embodiment, the correction pixel number when the exposure time is 2 seconds is 200, the correction pixel number when the exposure time is 4 seconds is 500, and the correction pixel number when the exposure time is 8 seconds is 800. The number of corrected pixels when the exposure time is 16 seconds is 1200, and the number of corrected pixels when the exposure time is 32 seconds is 2000 (see FIG. 7). The number of corrected pixels corresponding to the exposure time is stored in the
ここで、制御部28は、露光時間に応じた補正画素数の最大値が2000に設定されていることから、この2000個の欠陥画素のすべてを、記憶部43に登録可能な欠陥画素数が500である欠陥画素補正部42で補正するには、4回(2000/500)の欠陥画素補正動作を行う必要があることに基づいて、分割数Sの最大値を4に設定する。この分割数Sとは、図8に示すように、CCD20により取得された1つの画像データにおいて、欠陥画素補正部42での1回の欠陥画素補正動作における対象となる領域すなわちデータ量を設定するために当該画像データを等分する数であり、実施例2では1、2、4のいずれかに設定される。この分割は、欠陥画素補正部42による欠陥画素補正を可能とすべく画像データ(データ量)を等分する。この実施例2では、欠陥画素補正部42での欠陥画素補正動作が、基本的に注目した欠陥画素の水平方向に隣接する両隣の画素データの平均値を当該注目した欠陥画素の画素データとすることにより補間するものであることから、図8に示すように、画像データにおける等分線が水平方向となるように当該画像データを垂直方向に等分する。
Here, since the maximum value of the correction pixel number corresponding to the exposure time is set to 2000, the
制御部28は、設定された露光時間に応じた補正画素数での欠陥画素補正処理のために、実施例2では、検出した欠陥画素のアドレス(CCD20上の縦横座標)のデータを、それぞれの欠陥画素レベルおよび設定された露光時間に関連付けて、以下のようにRAM44に格納する。
In the second embodiment, the
実施例2での基本的な欠陥画素の検出方法は、実施例1と同様であるが、上述したように、分割数Sの最大値を4に設定したことから、4つの領域に分割した画像データ毎(以下、後述する分割画像データI41(分割画像A)、分割画像データI42(分割画像B)、分割画像データI43(分割画像C)、分割画像データI44(分割画像D)とする(図8(a)参照))に各優先補正画素群PNMを取得する。ここで、Nは、欠陥画素レベルが高い順からの優先番号を表すもの、すなわち各画像データにおいて補正対象となる各群の優先度を表すものであり、実施例1の第N優先補正画素群PNでのNに相当するものである。実施例2では、露光時間の設定が2、4、8、16、32秒の5つであることから、順に、1、2、3、4、5を当て嵌めている。また、Mは、各N番目の群において4分割されたいずれの分割画像A、B、C、Dに該当するものであるかを表すものであり、A、B、C、Dの順に1、2、3、4を当て嵌めている。 The basic method for detecting defective pixels in the second embodiment is the same as that in the first embodiment. However, as described above, since the maximum value of the number of divisions S is set to 4, an image divided into four areas is used. For each data (hereinafter, divided image data I 41 (divided image A), divided image data I 42 (divided image B), divided image data I 43 (divided image C), divided image data I 44 (divided image D), which will be described later. (See FIG. 8A)), each priority correction pixel group PNM is acquired. Here, N represents a priority number in order from the highest defective pixel level, that is, represents a priority of each group to be corrected in each image data. The Nth priority correction pixel group in the first embodiment. This corresponds to N in PN. In the second embodiment, there are five exposure time settings of 2, 4, 8, 16, and 32 seconds, so that 1, 2, 3, 4, and 5 are applied in order. M represents which of the divided images A, B, C, and D divided into four in each N-th group, and 1 in the order of A, B, C, and D. 2, 3, 4 are fitted.
先ず、図7に示すように、CCD20の全ての画素が4つの領域に分割された各分割画像A、B、C、D(図8(a)参照)において、それらの各画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に50個の画素を欠陥画素として検出し、分割画像Aでの第1優先補正画素群P11の欠陥画素のアドレスデータと、分割画像Bでの第1優先補正画素群P12の欠陥画素のアドレスデータと、分割画像Cでの第1優先補正画素群P13の欠陥画素のアドレスデータと、分割画像Dでの第1優先補正画素群P14の欠陥画素のアドレスデータとして、RAM44に格納する。ここで、第1優先補正画素群P11として検出された50個の欠陥画素と、第1優先補正画素群P12として検出された50個の欠陥画素と、第1優先補正画素群P13として検出された50個の欠陥画素と、第1優先補正画素群P14として検出された50個の欠陥画素とを合わせたものが、露光時間が2秒の場合に補正する200個の欠陥画素となる(第1優先補正画素群P1とする)。
First, as shown in FIG. 7, in each of the divided images A, B, C, and D (see FIG. 8A) in which all the pixels of the
次に、各分割画像A、B、C、Dの各画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に125個の画素を欠陥画素として検出し、その検出した125個の画素から、対応する各第1優先補正画素群P1M(M=1〜4)の50個の欠陥画素を除いたものを欠陥画素として選出し、第2優先補正画素群P2M(M=1〜4)の欠陥画素のアドレスデータとして、RAM44に格納する。これらの、第2優先補正画素群P21として検出された75個の欠陥画素と、第2優先補正画素群P22として検出された75個の欠陥画素と、第2優先補正画素群P23として検出された75個の欠陥画素と、第2優先補正画素群P24として検出された75個の欠陥画素とを合わせたもの(第2優先補正画素群P2とする)は、上記した第1優先補正画素群P1の200個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が4秒の場合に補正する500個の欠陥画素となる。また、本願発明に係る欠陥画素補正処理では、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)可能な欠陥画素数を、欠陥画素レベルが高い方から順に補正優先度の高い欠陥画素として設定することから、実施例2では、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)可能な欠陥画素数が500であるので、露光時間が4秒の場合に補正する500個の欠陥画素が、そのまま補正優先度の高い欠陥画素となる。この補正優先度の高い欠陥画素は、実施例1と同様に、連写等の高速な撮影処理が必要な場合に欠陥画素補正部42で欠陥画素補正動作を1回だけ行う際に用いられる。
Next, 125 pixels are detected as defective pixels in order from the pixel having the highest defective pixel level from among the pixels of each of the divided images A, B, C, and D, and corresponding from the detected 125 pixels. The first priority correction pixel group P 1M (M = 1 to 4) except 50 defective pixels is selected as a defective pixel, and the second priority correction pixel group P 2M (M = 1 to 4) is defective. It is stored in the
次に、各分割画像A、B、C、Dの各画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に200個の画素を欠陥画素として検出し、その検出した200個の画素から、対応する各第1優先補正画素群P1M(M=1〜4)の50個の欠陥画素および各第2優先補正画素群P2M(M=1〜4)の75個の欠陥画素を除いたものを欠陥画素として選出し、第3優先補正画素群P3M(M=1〜4)の欠陥画素のアドレスデータとして、RAM44に格納する。これらの、第3優先補正画素群P31として検出された75個の欠陥画素と、第3優先補正画素群P32として検出された75個の欠陥画素と、第3優先補正画素群P33として検出された75個の欠陥画素と、第3優先補正画素群P34として検出された75個の欠陥画素とを合わせたもの(第3優先補正画素群P3とする)は、上記した第1優先補正画素群P1の200個の欠陥画素および第2優先補正画素群P2の300個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が8秒の場合に補正する800個の欠陥画素となる。
Next, 200 pixels are detected as defective pixels in order from the pixel having the highest defective pixel level among the pixels of each of the divided images A, B, C, and D, and the corresponding pixels are detected from the detected 200 pixels. Excluding 50 defective pixels in each first priority correction pixel group P 1M (M = 1 to 4) and 75 defective pixels in each second priority correction pixel group P 2M (M = 1 to 4) The defective pixel is selected and stored in the
次に、各分割画像A、B、C、Dの各画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に300個の画素を欠陥画素として検出し、その検出した300個の画素から、対応する各第1優先補正画素群P1M(M=1〜4)の50個の欠陥画素、各第2優先補正画素群P2M(M=1〜4)の75個の欠陥画素および各第3優先補正画素群P3M(M=1〜4)の75個の欠陥画素を除いたものを欠陥画素として選出し、第4優先補正画素群P4M(M=1〜4)の欠陥画素のアドレスデータとして、RAM44に格納する。これらの、第4優先補正画素群P41として検出された100個の欠陥画素と、第4優先補正画素群P42として検出された100個の欠陥画素と、第4優先補正画素群P43として検出された100個の欠陥画素と、第4優先補正画素群P44として検出された100個の欠陥画素とを合わせたもの(第4優先補正画素群P4とする)は、上記した第1優先補正画素群P1の200個の欠陥画素、第2優先補正画素群P2の300個の欠陥画素および第3優先補正画素群P3の300個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が16秒の場合に補正する1200個の欠陥画素となる。
Next, among the pixels of each of the divided images A, B, C, and D, 300 pixels are detected as defective pixels in order from the pixel having the highest defective pixel level, and the corresponding pixels are detected from the detected 300 pixels. 50 defective pixels in each first priority correction pixel group P 1M (M = 1 to 4), 75 defective pixels in each second priority correction pixel group P 2M (M = 1 to 4), and each third priority A pixel excluding 75 defective pixels in the correction pixel group P 3M (M = 1 to 4) is selected as a defective pixel, and address data of defective pixels in the fourth priority correction pixel group P 4M (M = 1 to 4). Is stored in the
次に、各分割画像A、B、C、Dの各画素の中から、欠陥画素レベルが高い画素から順に500個の画素を欠陥画素として検出し、その検出した500個の画素から、対応する各第1優先補正画素群P1M(M=1〜4)の50個の欠陥画素、各第2優先補正画素群P2M(M=1〜4)の75個の欠陥画素、各第3優先補正画素群P3M(M=1〜4)の75個の欠陥画素および各第4優先補正画素群P4M(M=1〜4)の100個の欠陥画素を除いたものを欠陥画素として選出し、第5優先補正画素群P5M(M=1〜4)の欠陥画素のアドレスデータとして、RAM44に格納する。これらの、第5優先補正画素群P51として検出された200個の欠陥画素と、第5優先補正画素群P52として検出された200個の欠陥画素と、第5優先補正画素群P53として検出された200個の欠陥画素と、第5優先補正画素群P54として検出された200個の欠陥画素とを合わせたもの(第5優先補正画素群P5とする)は、上記した第1優先補正画素群P1の200個の欠陥画素、第2優先補正画素群P2の300個の欠陥画素、第3優先補正画素群P3の300個の欠陥画素および第4優先補正画素群P4の400個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が32秒の場合に補正する2000個の欠陥画素となる。
Next, among the pixels of each of the divided images A, B, C, and D, 500 pixels are detected as defective pixels in order from the pixel having the highest defective pixel level, and the corresponding pixels are detected from the detected 500 pixels. 50 defective pixels of each first priority correction pixel group P 1M (M = 1 to 4), 75 defective pixels of each second priority correction pixel group P 2M (M = 1 to 4), each third priority A pixel excluding 75 defective pixels of the correction pixel group P 3M (M = 1 to 4) and 100 defective pixels of each fourth priority correction pixel group P 4M (M = 1 to 4) is selected as a defective pixel. Then, it is stored in the
実施例2の制御部28では、上述したようにRAM44に格納した各優先補正画素群PNM(N=1〜5、M=1〜4)のアドレスデータ(図7参照)すなわち各欠陥画素データを利用して、欠陥画素補正処理を行う。図9は、この制御部28にて実行される実施例2の欠陥画素補正処理内容を示すフローチャートであり、図10は、図9のフローチャートにおけるステップS24の処理内容を示すフローチャートである。以下、図9のフローチャートの各ステップ(図10のフローチャートの各ステップも含む)について図7を用いて説明する。
In the
ステップS21では、設定された露光時間を取得して、ステップS22へ進む。このステップS21では、図5のフローチャートのステップS1と同様に、レリーズ2が押し下げられて撮影動作が開始されると、それにより得ることが可能となる当該撮影時の露光時間の情報を取得する。
In step S21, the set exposure time is acquired, and the process proceeds to step S22. In step S21, as in step S1 of the flowchart of FIG. 5, when the
ステップS22では、ステップS21での露光時間の取得に続き、取得した露光時間に応じた補正画素数を読み出して、ステップS23へ進む。このステップS22では、RAM44に格納された露光時間に応じた補正画素数を読み出す。
In step S22, following the acquisition of the exposure time in step S21, the number of corrected pixels corresponding to the acquired exposure time is read, and the process proceeds to step S23. In this step S22, the number of corrected pixels corresponding to the exposure time stored in the
ステップS23では、ステップS22での露光時間に応じた補正画素数の読み出しに続き、取得した露光時間に対応する分割数Sを設定して、ステップS24へ進む。このステップS23では、読み出した露光時間に応じた補正画素数を、記憶部43に登録可能な欠陥画素数(500)で除算し、その商が1以下であれば分割数Sを1に、商が1よりも大きく2以下であれば分割数Sを2に、商が2よりも大きければ分割数Sを4に設定する。すなわち、露光時間に応じた補正画素数のすべてを欠陥画素補正部42で補正するために必要となる欠陥画素補正動作の回数を、分割数S(S=1、2、4)として設定する。なお、基本的には、読み出した露光時間に応じた補正画素数を、記憶部43の登録限度数(実施例2では500)で除算し、その商の小数点以下を切り上げた値を分割数Sとするものであるが、実施例2では分割数Sの設定が1、2、4のいずれかとされていることから、切り上げた数値が3である場合であっても分割数Sは4に設定する。具体的には、露光時間が2秒の場合の分割数Sを1とし、露光時間が4秒の場合の分割数Sを1とし、露光時間が8秒の場合の分割数Sを2とし(図8(b)参照)、露光時間が16秒の場合の分割数Sを4とし、露光時間が32秒の場合の分割数Sを4としている(図8(a)参照)。また、このステップS23では、カウンタ数Cを1に設定する。このカウンタ数Cは、分割数Sで等分された各分割画像(分割数4の場合A、B、C、D(図8(a)参照)、分割数2の場合E、F(図8(b)参照))の画像データ(分割画像データISC(S:分割数、C:カウンタ数))の何れに該当するものであるかを表すものであり、A、B、C、D(もしくはE、F)の順に1、2、3、4(もしくは1、2)を当て嵌めている。このため、分割数Sが2の場合、画像データは、分割画像Eの分割画像データI21と分割画像Fの分割画像データI22とに分割され(図8(b)参照)、分割数Sが4の場合、画像データは、分割画像Aの分割画像データI41と、分割画像Bの分割画像データI42と、分割画像Cの分割画像データI43と、分割画像Dの分割画像データI44とに分割される(図8(a)参照)。
In step S23, following the readout of the number of corrected pixels corresponding to the exposure time in step S22, a division number S corresponding to the acquired exposure time is set, and the process proceeds to step S24. In this step S23, the number of corrected pixels corresponding to the read exposure time is divided by the number of defective pixels (500) that can be registered in the
ステップS24では、ステップS23での分割数Sの設定、あるいは、ステップS27でのカウンタ数Cのインクリメントに続き、その分割数Sおよび露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、ステップS25へ進む。このステップS24では、ステップS21で取得した露光時間に応じた補正画素数の画素を補正する(実質的に補正画素数を設定する)ために、各優先補正画素群PNM(N=1〜5、M=1〜4)のアドレスデータをRAM44から適宜読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)することにより、露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行う(これを処理Bとする)。以下では、この露光時間に応じた欠陥画素補正の準備(ステップS24)における処理内容を示す図10のフローチャートの各ステップについて説明する。
In step S24, following the setting of the division number S in step S23 or the increment of the counter number C in step S27, preparation for defective pixel correction according to the division number S and the exposure time is performed, and the flow proceeds to step S25. move on. In step S24, each of the priority correction pixel groups P NM (N = 1 to 5) is used to correct the pixels having the correction pixel number corresponding to the exposure time acquired in step S21 (substantially set the correction pixel number). , M = 1 to 4) is appropriately read out from the
ステップS31では、ステップS21で取得した露光時間が2秒であるか否かを判定し、Yesの場合はステップS32へ進み、Noの場合はステップS33へ進む。 In step S31, it is determined whether or not the exposure time acquired in step S21 is 2 seconds. If Yes, the process proceeds to step S32. If No, the process proceeds to step S33.
ステップS32では、ステップS31での露光時間が2秒であるとの判断に続き、2秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、処理B(ステップS24)を終了し、ステップS25(図9参照)へと進む。ここで、露光時間が2秒である場合、図9のフローチャートのステップS23において、分割数Sが1に設定されている場面である。このステップS32では、2秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備として、分割数1であることからそのまま画像データとなる分割画像データI11におけるすべての欠陥画素の補正のために、第1優先補正画素群P1M(M=1〜4)の各50個の欠陥画素のアドレスデータ(図7参照)の計200個の欠陥画素のアドレスデータをRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。
In step S32, following the determination that the exposure time in step S31 is 2 seconds, preparation for defective pixel correction corresponding to the exposure time of 2 seconds is made, and the process B (step S24) is terminated, and step S25 is completed. Proceed to (see FIG. 9). Here, when the exposure time is 2 seconds, the number of divisions S is set to 1 in step S23 of the flowchart of FIG. In the step S32, preparation of the defective pixel correction corresponding to the 2-second exposure time, to correct all of the defective pixel in the divided image data I 11 made directly to the image data since it is divided
ステップS33では、ステップS31での露光時間が2秒ではないとの判断に続き、ステップS21で取得した露光時間が4秒であるか否かを判定し、Yesの場合はステップS34へ進み、Noの場合はステップS35へ進む。 In step S33, following the determination that the exposure time in step S31 is not 2 seconds, it is determined whether or not the exposure time acquired in step S21 is 4 seconds. If yes, the process proceeds to step S34. In this case, the process proceeds to step S35.
ステップS34では、ステップS33での露光時間が4秒であるとの判断に続き、4秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、処理B(ステップS24)を終了し、ステップS25(図9参照)へと進む。ここで、露光時間が4秒である場合、図9のフローチャートのステップS23において、分割数Sが1に設定されている場面である。このステップS34では、4秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備として、分割数1であることからそのまま画像データとなる分割画像データI11におけるすべての欠陥画素の補正のために、第1優先補正画素群P1M(M=1〜4)の各50個の欠陥画素のアドレスデータおよび第2優先補正画素群P2M(M=1〜4)の各75個の欠陥画素のアドレスデータ(図7参照)、の計500個の欠陥画素のアドレスデータをRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。
In step S34, following the determination that the exposure time in step S33 is 4 seconds, preparation for defective pixel correction corresponding to the exposure time of 4 seconds is made, and the process B (step S24) is terminated, and step S25 is completed. Proceed to (see FIG. 9). Here, when the exposure time is 4 seconds, the division number S is set to 1 in step S23 of the flowchart of FIG. In the step S34, preparation of the defective pixel correction corresponding to 4 seconds exposure time, to correct all of the defective pixel in the divided image data I 11 made directly to the image data since it is divided
ステップS35では、ステップS33での露光時間が4秒ではないとの判断に続き、ステップS21で取得した露光時間が8秒であるか否かを判定し、Yesの場合はステップS36へ進み、Noの場合はステップS39へ進む。 In step S35, following the determination that the exposure time in step S33 is not 4 seconds, it is determined whether or not the exposure time acquired in step S21 is 8 seconds. If Yes, the process proceeds to step S36. In this case, the process proceeds to step S39.
ステップS36では、ステップS35での露光時間が8秒であるとの判断に続き、カウンタ数Cが1であるか否かを判定し、Yesの場合はステップS37へ進み、Noの場合はステップS38へ進む。これは、露光時間が8秒である場合、図9のフローチャートのステップS23において、分割数Sが2に設定されている場面であることから、後述するように、図9のフローチャートのステップS24からステップS27を経てステップS24へと戻る流れにおいてカウンタ数Cが1から2へと増加されて(ステップS27)分割画像Eおよび分割画像F(図8(b)参照)のそれぞれについて欠陥画素補正部42で欠陥画素補正動作を実行することとなるので、カウンタ数Cによって8秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備が異なることによる。
In step S36, following the determination that the exposure time in step S35 is 8 seconds, it is determined whether or not the counter number C is 1, the process proceeds to step S37 if Yes, and in step S38 if No. Proceed to This is a scene where the number of divisions S is set to 2 in step S23 of the flowchart of FIG. 9 when the exposure time is 8 seconds. As will be described later, from step S24 of the flowchart of FIG. In the flow returning to step S24 via step S27, the counter number C is increased from 1 to 2 (step S27), and the defective
ステップS37では、ステップS36でのカウンタ数Cが1であるとの判断に続き、8秒の露光時間に応じた分割画像E(図8(b)参照)の欠陥画素補正の準備を行って、処理B(ステップS24)を終了し、ステップS25(図9参照)へと進む。このステップS37では、8秒の露光時間に応じた分割画像E(図8(b)参照)の欠陥画素補正の準備として、画像データの半分となる分割画像データI21におけるすべての欠陥画素の補正のために、8秒の露光時間に対応する優先番号(N=1〜3)であって画像データが2分割された分割画像E(分割画像Aおよび分割画像B)に対応する番号(M=1、2)である第N優先補正画素群PNM(N=1〜3、M=1〜2)の各欠陥画素のアドレスデータ(図7参照)をRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。すなわち、第1優先補正画素群P1M(1〜2)の両50個の欠陥画素のアドレスデータ、第2優先補正画素群P2M(1〜2)の両75個の欠陥画素のアドレスデータおよび第3優先補正画素群P3M(1〜2)の両75個の欠陥画素のアドレスデータ(図7参照)、の計400個の欠陥画素のアドレスデータをRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。
In step S37, following the determination that the counter number C is 1 in step S36, preparation for defective pixel correction of the divided image E (see FIG. 8B) corresponding to an exposure time of 8 seconds is performed. The process B (step S24) is ended, and the process proceeds to step S25 (see FIG. 9). In the step S37, preparation for defective pixel correction of the divided image E corresponding to 8 seconds exposure time (see FIG. 8 (b)), the correction of all defective pixels in the divided image data I 21 to be half of the image data Therefore, a priority number (N = 1 to 3) corresponding to an exposure time of 8 seconds and a number corresponding to a divided image E (divided image A and divided image B) obtained by dividing the image data into two (M = 1, 2), the address data (see FIG. 7) of each defective pixel of the Nth priority correction pixel group P NM (N = 1 to 3, M = 1 to 2) is read from the
ステップS38では、ステップS36でのカウンタ数Cが1ではないとの判断に続き、8秒の露光時間に応じた分割画像F(図8(b)参照)の欠陥画素補正の準備を行って、処理B(ステップS24)を終了し、ステップS25(図9参照)へと進む。このステップS38では、8秒の露光時間に応じた分割画像F(図8(b)参照)の欠陥画素補正の準備として、画像データの半分となる分割画像データI22におけるすべての欠陥画素の補正のために、8秒の露光時間に対応する優先番号(N=1〜3)であって画像データが2分割された分割画像F(分割画像Cと分割画像D)に対応する番号(M=3、4)である第N優先補正画素群PNM(N=1〜3、M=3〜4)の各欠陥画素のアドレスデータ(図7参照)をRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。すなわち、第1優先補正画素群P1M(3〜4)の両50個の欠陥画素のアドレスデータ、第2優先補正画素群P2M(3〜4)の両75個の欠陥画素のアドレスデータおよび第3優先補正画素群P3M(3〜4)の両75個の欠陥画素のアドレスデータ(図7参照)、の計400個の欠陥画素のアドレスデータをRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。
In step S38, following the determination that the counter number C in step S36 is not 1, preparation for defective pixel correction of the divided image F (see FIG. 8B) corresponding to an exposure time of 8 seconds is performed. The process B (step S24) is ended, and the process proceeds to step S25 (see FIG. 9). In the step S38, the preparation of the defective pixel correction of the divided image F corresponding to 8 seconds exposure time (see FIG. 8 (b)), the correction of all defective pixels in the divided image data I 22 to be half of the image data Therefore, a priority number (N = 1 to 3) corresponding to an exposure time of 8 seconds and a number corresponding to divided image F (divided image C and divided image D) obtained by dividing the image data into two (M = 3 and 4), the address data (see FIG. 7) of each defective pixel of the N-th priority correction pixel group P NM (N = 1 to 3, M = 3 to 4) is read from the
ステップS39では、ステップS35での露光時間が8秒ではないとの判断に続き、ステップS21で取得した露光時間が16秒であるか否かを判定し、Yesの場合はステップS40へ進み、Noの場合はステップS41へ進む。 In step S39, following the determination that the exposure time in step S35 is not 8 seconds, it is determined whether or not the exposure time acquired in step S21 is 16 seconds. If Yes, the process proceeds to step S40. In this case, the process proceeds to step S41.
ステップS40では、ステップS39での露光時間が16秒であるとの判断に続き、16秒の露光時間に応じた各分割画像A、B、C、D(図8(a)参照)のいずれかの欠陥画素補正の準備を行って、処理B(ステップS24)を終了し、ステップS25(図9参照)へと進む。これは、露光時間が16秒である場合、図9のフローチャートのステップS23において、分割数Sが4に設定されている場面であることから、後述するように、図9のフローチャートのステップS24からステップS27を経てステップS24へと戻る流れにおいてカウンタ数Cが1から4へと順次増加されて(ステップS27)分割画像A、B、C、D(図8(a)参照)のそれぞれについて欠陥画素補正部42で欠陥画素補正動作を実行することとなるので、カウンタ数Cによって16秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備が異なることによる。このステップS40では、16秒の露光時間に応じた各分割画像A、B、C、D(図8(a)参照)のいずれかの欠陥画素補正の準備として、画像データの1/4となる分割画像データI4C(C=1〜4)におけるすべての欠陥画素の補正のために、16秒の露光時間に対応する優先番号(N=1〜4)であって画像データが4分割された各分割画像A、B、C、Dに対応する番号(順に、M=1、2、3、4)である第N優先補正画素群PNM(N=1〜4、M=1〜4)の各欠陥画素のアドレスデータ(図7参照)をRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。すなわち、カウンタ数Cが1のとき、分割画像データI41(分割画像A)の欠陥画素補正のために、第1優先補正画素群P11の50個の欠陥画素のアドレスデータ、第2優先補正画素群P21の75個の欠陥画素のアドレスデータ、第3優先補正画素群P31の75個の欠陥画素のアドレスデータおよび第4優先補正画素群P41の100個の欠陥画素のアドレスデータ、の計300個の欠陥画素のアドレスデータをRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録する。また、カウンタ数Cが2のとき、分割画像データI42(分割画像B)の欠陥画素補正のために、第1優先補正画素群P12の50個の欠陥画素のアドレスデータ、第2優先補正画素群P22の75個の欠陥画素のアドレスデータ、第3優先補正画素群P32の75個の欠陥画素のアドレスデータおよび第4優先補正画素群P42の100個の欠陥画素のアドレスデータ、の計300個の欠陥画素のアドレスデータをRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録する。さらに、カウンタ数Cが3のとき、分割画像データI43(分割画像C)の欠陥画素補正のために、第1優先補正画素群P13の50個の欠陥画素のアドレスデータ、第2優先補正画素群P23の75個の欠陥画素のアドレスデータ、第3優先補正画素群P33の75個の欠陥画素のアドレスデータおよび第4優先補正画素群P43の100個の欠陥画素のアドレスデータ、の計300個の欠陥画素のアドレスデータをRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録する。ついで、カウンタ数Cが4のとき、分割画像データI44(分割画像D)の欠陥画素補正のために、第1優先補正画素群P14の50個の欠陥画素のアドレスデータ、第2優先補正画素群P24の75個の欠陥画素のアドレスデータ、第3優先補正画素群P34の75個の欠陥画素のアドレスデータおよび第4優先補正画素群P44の100個の欠陥画素のアドレスデータ、の計300個の欠陥画素のアドレスデータをRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録する。
In step S40, following the determination that the exposure time in step S39 is 16 seconds, any one of the divided images A, B, C, and D (see FIG. 8A) corresponding to the exposure time of 16 seconds. In step S24, the process proceeds to step S25 (see FIG. 9). This is a scene in which the number of divisions S is set to 4 in step S23 of the flowchart of FIG. 9 when the exposure time is 16 seconds. As will be described later, from step S24 of the flowchart of FIG. In the flow returning to step S24 through step S27, the counter number C is sequentially increased from 1 to 4 (step S27), and defective pixels for each of the divided images A, B, C, and D (see FIG. 8A). Since the
ステップS41では、ステップS39での露光時間が16秒ではないとの判断に続き、32秒の露光時間に応じた各分割画像A、B、C、D(図8(a)参照)のいずれかの欠陥画素補正の準備を行って、処理B(ステップS24)を終了し、ステップS25(図9参照)へと進む。これは、ステップS39において露光時間が16秒ではない場合、設定されている露光時間の上限である32秒に設定されていることとなり、図9のフローチャートのステップS23において、分割数Sが4に設定されている場面であることから、後述するように、図9のフローチャートのステップS24からステップS27を経てステップS24へと戻る流れにおいてカウンタ数Cが1から4へと順次増加されて(ステップS27)分割画像A、B、C、D(図8(a)参照)のそれぞれについて欠陥画素補正部42で欠陥画素補正動作を実行することとなるので、カウンタ数Cによって32秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備が異なることによる。このステップS41では、32秒の露光時間に応じた各分割画像A、B、C、D(図8(a)参照)のいずれかの欠陥画素補正の準備として、画像データの1/4となる分割画像データI4C(C=1〜4)におけるすべての欠陥画素の補正のために、32秒の露光時間に対応する優先番号(N=1〜5)であって画像データが4分割された各分割画像A、B、C、Dに対応する番号(順に、M=1、2、3、4)である第N優先補正画素群PNM(N=1〜5、M=1〜4)の各欠陥画素のアドレスデータ(図7参照)をRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。すなわち、カウンタ数Cが1のとき、分割画像データI41(分割画像A)の欠陥画素補正のために、第1優先補正画素群P11の50個の欠陥画素のアドレスデータ、第2優先補正画素群P21の75個の欠陥画素のアドレスデータ、第3優先補正画素群P31の75個の欠陥画素のアドレスデータ、第4優先補正画素群P41の100個の欠陥画素のアドレスデータおよび第5優先補正画素群P51の200個の欠陥画素のアドレスデータ、の計500個の欠陥画素のアドレスデータをRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録する。また、カウンタ数Cが2のとき、分割画像データI42(分割画像B)の欠陥画素補正のために、第1優先補正画素群P12の50個の欠陥画素のアドレスデータ、第2優先補正画素群P22の75個の欠陥画素のアドレスデータ、第3優先補正画素群P32の75個の欠陥画素のアドレスデータ、第4優先補正画素群P42の100個の欠陥画素のアドレスデータ、および第5優先補正画素群P52の200個の欠陥画素のアドレスデータ、の計500個の欠陥画素のアドレスデータをRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録する。さらに、カウンタ数Cが3のとき、分割画像データI43(分割画像C)の欠陥画素補正のために、第1優先補正画素群P13の50個の欠陥画素のアドレスデータ、第2優先補正画素群P23の75個の欠陥画素のアドレスデータ、第3優先補正画素群P33の75個の欠陥画素のアドレスデータ、第4優先補正画素群P43の100個の欠陥画素のアドレスデータおよび第5優先補正画素群P53の200個の欠陥画素のアドレスデータ、の計500個の欠陥画素のアドレスデータをRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録する。ついで、カウンタ数Cが4のとき、分割画像データI44(分割画像D)の欠陥画素補正のために、第1優先補正画素群P14の50個の欠陥画素のアドレスデータ、第2優先補正画素群P24の75個の欠陥画素のアドレスデータ、第3優先補正画素群P34の75個の欠陥画素のアドレスデータ、第4優先補正画素群P44の100個の欠陥画素のアドレスデータおよび第5優先補正画素群P54の200個の欠陥画素のアドレスデータ、の計500個の欠陥画素のアドレスデータをRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録する。
In step S41, following the determination that the exposure time in step S39 is not 16 seconds, one of the divided images A, B, C, and D (see FIG. 8A) corresponding to the exposure time of 32 seconds. In step S24, the process proceeds to step S25 (see FIG. 9). This means that if the exposure time is not 16 seconds in step S39, it is set to 32 seconds, which is the upper limit of the set exposure time. In step S23 of the flowchart of FIG. Since it is a set scene, as will be described later, the counter number C is sequentially increased from 1 to 4 in the flow of returning from step S24 to step S27 in the flowchart of FIG. 9 (step S27). ) Since the defective
ステップS25では、ステップS24での分割数Sおよび露光時間に応じた欠陥画素補正の準備に続き、露光時間に応じた分割数Sでのカウンタ数Cに対応する分割画像の分割画像データISCに対して欠陥画素補正を実行して、ステップS26へ進む。このステップS25では、欠陥画素補正部42が、送られてきた画像データ(その各画素データ)のうちのカウンタ数Cに対応する分割画像データISCにおいて、記憶部43に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データを読み出し、その周辺のRGBフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間することにより、ステップS24での露光時間に応じた欠陥画素補正の準備に応じた補正画素数の補正を行う。
In step S25, following the preparation of defective pixel correction according to the division number S and the exposure time in step S24, the divided image data I SC of the divided image corresponding to the counter number C at the division number S according to the exposure time is obtained. On the other hand, defective pixel correction is executed, and the process proceeds to step S26. In the step S25, the defective
ステップS26では、ステップS25での露光時間に応じた分割数Sでのカウンタ数Cに対応する分割画像の分割画像データISCに対する欠陥画素補正の実行に続き、カウンタ数Cが分割数Sと等しいか否かを判定し、Yesの場合は図9のフローチャートを終了し、Noの場合はステップS27へ進む。このステップS26では、カウンタ数Cが露光時間に応じた分割数Sに等しいか否かを判断することにより、分割画像データISCに対して欠陥画素補正を実行するステップS25が繰り返されることにより、全ての分割画像すなわち分割される前の画像データのすべてに対して欠陥画素補正を行ったか否かを判断するものである。 In step S26, following the execution of the defective pixel correction for the divided image data I SC of the divided image corresponding to the counter number C in the divided number S corresponding to the exposure time in step S25, the counter number C is equal to the number of divisions S In the case of Yes, the flowchart of FIG. 9 is ended, and in the case of No, the process proceeds to Step S27. In step S26, by the counter number C is determined whether equal to the division number S corresponding to the exposure time, by Step S25 to perform defective pixel correction on the divided image data I SC is repeated, It is determined whether or not defective pixel correction has been performed on all divided images, that is, all image data before being divided.
ステップS27では、ステップS26でのカウンタ数Cが分割数Sと等しくないとの判断に続き、カウンタ数Cをインクリメント(C=C+1)して、ステップS24へと戻る。このステップS27では、分割される前の画像データのすべてに対して欠陥画素補正を行うために、ステップS25における分割画像データISCに対する欠陥画素補正の実行の回数(カウンタ数C)を1ずつ加算する。 In step S27, following the determination that the counter number C is not equal to the division number S in step S26, the counter number C is incremented (C = C + 1), and the process returns to step S24. In the step S27, in order to perform defective pixel correction for all of the image data before being divided, the number of execution of the defective pixel correction for the divided image data I SC in step S25 (the counter C) by adding 1 To do.
このように、実施例2の欠陥画素補正処理では、取得した露光時間に応じた補正画素数に対応して分割数Sを設定し(ステップS23)、画像(画像データ)を分割数Sで等分して、それぞれの分割画像データISCに対する欠陥画素補正部42での欠陥画素補正動作の繰り返しにより、補正対象となる画素データを重複させることなく画像データのすべてに対して欠陥画素補正を行う(ステップS25)。このとき、ステップS24において、ステップS25での欠陥画素補正の実行の回数(カウンタ数C)に応じた分割画像データISCにおける各欠陥画素のアドレスデータをRAM44に登録していることから、ステップS24→ステップS25→ステップS26→ステップS27へと進んでステップS24へと戻る流れが繰り返されることにより、分割される前の画像データのすべてに対して欠陥画素補正を行うことができる。これは、例えば、露光時間が32秒に設定されて(補正画素数は2000個)いる場合、ステップS21→ステップS22→ステップS23へと進むことにより、分割数Sが4とされて画像データを分割画像A、B、C、Dに等分する。その後、ステップS24で露光時間32秒に応じた分割画像Aの分割画像データI41の欠陥画素補正のための準備を行ってステップS25へと進むことにより、欠陥画素補正部42が、送られてきた画像データのうちの分割画像データI41において、記憶部43に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データ(第1優先補正画素群P11の50個の欠陥画素、第2優先補正画素群P21の75個の欠陥画素、第3優先補正画素群P31の75個の欠陥画素、第4優先補正画素群P41の100個の欠陥画素および第5優先補正画素群P51の200個の欠陥画素、の計500個の欠陥画素)を読み出し、その周辺のRGBフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間することにより、分割画像Aの露光時間32秒に応じた欠陥画素補正が終了する。その後、ステップS26へと進むがカウンタ数Cが1であって分割数S=4に等しくないことから、ステップS27へと進んでステップS24へと戻ることにより、露光時間32秒に応じた分割画像Bの分割画像データI42の欠陥画素補正のための準備を行う。その後、ステップS25へと進むことにより、欠陥画素補正部42が、送られてきた画像データのうちの分割画像データI42において、記憶部43に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データ(第1優先補正画素群P12の50個の欠陥画素、第2優先補正画素群P22の75個の欠陥画素、第3優先補正画素群P32の75個の欠陥画素、第4優先補正画素群P42の100個の欠陥画素および第5優先補正画素群P52の200個の欠陥画素、の計500個の欠陥画素)を読み出し、その周辺のRGBフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間することにより、分割画像Bの欠陥画素補正が終了する。上記した処理(テップS24→ステップS25→ステップS26→ステップS27へと進んでステップS24へと戻る流れ)を分割数Sである4回繰り返すと、その4回目のステップS26において、カウンタ数Cが4となっていることからステップS27へと進むことはなく図9のフローチャートを終了することにより、上記した分割画像Aおよび分割画像Bに加えて、分割画像Cおよび分割画像Dの欠陥画素補正が終了して分割される前の画像データのすべてに対して欠陥画素補正を行うことができる。このとき、何れの場面であっても、欠陥画素のアドレスデータの全てが記憶部43に登録可能であることから、欠陥画素補正部42では一度の欠陥画素補正動作で、露光時間に応じた分割数Sでのカウンタ数Cに対応する分割画像の分割画像データISCの欠陥画素の全てを補正することができる。
As described above, in the defective pixel correction process according to the second embodiment, the division number S is set in accordance with the correction pixel number corresponding to the acquired exposure time (step S23), and the image (image data) is divided by the division number S or the like. Thus, defective pixel correction is performed on all of the image data without duplicating the pixel data to be corrected by repeating the defective pixel correction operation in the defective
実施例2の欠陥画素補正処理では、撮像素子(CCD20)において補正対象とすべき欠陥画素の数が、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録可能な欠陥画素数(登録限度数)を超える場合(実施例2では露光時間が8秒、16秒あるいは32秒の場合)であっても、当該記憶部43への登録内容を書き換えつつ、すなわち記憶部43における欠陥画素データの登録内容を変更しつつ、欠陥画素補正部42での欠陥画素補正の動作を繰り返すことから、補正が必要とされる欠陥画素数と記憶部43の登録限度数との関係に拘らず、撮像素子(CCD20)の全ての欠陥画素を補正することができる。
In the defective pixel correction process of the second embodiment, the number of defective pixels to be corrected in the image sensor (CCD 20) exceeds the number of defective pixels (registration limit number) that can be registered in the
また、実施例2の欠陥画素補正処理では、欠陥画素補正部42での欠陥画素補正動作の回数に拘らず、元の画像データを欠陥画素補正部42で欠陥画素補正処理させる場合と略等しいものとすることができる。これは、欠陥画素補正部42では、元の画像データを分割数Sで等分したそれぞれの分割画像データISCに対して欠陥画素補正動作を行う(ステップS25)ことから、各欠陥画素補正動作(ステップS25)において元の画像データの1/Sのデータ量を処理すればよいため、各欠陥画素補正動作(ステップS25)における処理時間を、元の画像データに対する処理時間の略1/Sに近いものとすることができるので、元の画像データに対する欠陥画素補正動作での処理時間を1とすると、分割数Sに拘らず元の画像データの全ての欠陥画素補正に要する処理時間は、各分割画像データISCでの処理時間に分割数Sを乗算したもの((1/S)×分割数S=1)で表すことができ、双方を略等しいものとすることができることによる。このため、補正が必要とされる欠陥画素数と記憶部43の登録限度数との関係に拘らず、撮像素子(CCD20)の全ての欠陥画素を補正することができるとともに、欠陥画素補正部42で欠陥画素補正動作を繰り返すことに伴って処理時間が増大すること、すなわちその全ての欠陥画素補正に要する処理時間の増大を抑制することができる。
In addition, the defective pixel correction processing according to the second embodiment is substantially the same as the case where the defective
さらに、実施例2の欠陥画素補正処理では、露光時間に応じて補正する画素数を変更していることから、露光時間に応じた必要な補正画素数だけ補正することができ、欠陥画素の補正不足や過補正に基因する画質の低下を防止することができる。 Furthermore, in the defective pixel correction process according to the second embodiment, since the number of pixels to be corrected is changed according to the exposure time, it is possible to correct only the necessary number of correction pixels according to the exposure time. It is possible to prevent deterioration in image quality due to lack or overcorrection.
実施例2の欠陥画素補正処理では、欠陥画素レベルが高い画素を優先的に補正することから、画像(画像データ)上において欠陥画素と認識され易い画素を優先的に補正することができるので、より効率的に画質を向上させることができる。 In the defective pixel correction process according to the second embodiment, pixels having a high defective pixel level are preferentially corrected. Therefore, pixels that are easily recognized as defective pixels on an image (image data) can be preferentially corrected. The image quality can be improved more efficiently.
実施例2の欠陥画素補正処理では、分割数Sの最大値を4に設定し、それに伴って4つの領域に分割した画像データ毎(分割画像A、B、C、D(図8(a)参照))に各優先補正画素群PNMを取得してRAM44に格納するとともに、分割数Sを1、2、4に設定している(分割数Sの取り得る値を、その最大値の約数に設定している)ことから、露光時間に応じた補正画素数に適合する各欠陥画素のアドレスデータを適切に欠陥画素補正部42の記憶部43に登録することを可能としつつ、欠陥画素補正処理のためのデータ(各優先補正画素群PNM)を効率よくRAM44に格納することができる。
In the defective pixel correction process of the second embodiment, the maximum value of the division number S is set to 4, and the image data divided into four areas accordingly (divided images A, B, C, D (FIG. 8A) In addition, each priority correction pixel group P NM is acquired and stored in the
このため、本発明に係る撮像装置のデジタルカメラ1では、記憶部43での登録限度数に拘らず、補正対象とするすべての欠陥画素を適切に補正することができる。これにより、暗電流が増えたり蓄積されたりする条件、例えば、撮像素子(CCD20)の温度が上昇したり露光時間が長い状況で撮影された画像(画像データ)であっても、その品質を向上させることができる。
For this reason, in the
特に、実施例2の欠陥画素補正処理では、補正が必要とされる欠陥画素数と記憶部43の登録限度数との関係に拘らず、撮像素子(CCD20)の全ての欠陥画素を補正することができるとともに、欠陥画素補正部42で欠陥画素補正動作を繰り返すことに伴って処理時間が増大することを抑制することができる。
In particular, in the defective pixel correction process according to the second embodiment, all defective pixels of the image sensor (CCD 20) are corrected regardless of the relationship between the number of defective pixels that need to be corrected and the registration limit number in the
なお、上記した実施例2では、欠陥画素の影響の変化の判断基準を露光時間とし、露光時間に応じた補正画素数が設定されている例を示したが、動的な欠陥要因である温度キズの影響が変化する要因を基準として補正画素数を設定するものであれば、例えば、ISO感度に応じた補正画素数の設定に基づいて補正画素数を設定するものであってもよく、実施例2に限定されるものではない。 In the above-described second embodiment, an example in which the exposure time is used as the determination criterion for the change in the influence of the defective pixel and the number of correction pixels according to the exposure time is set. As long as the correction pixel number is set on the basis of the factor that the influence of scratches changes, for example, the correction pixel number may be set based on the setting of the correction pixel number according to the ISO sensitivity. It is not limited to Example 2.
また、実施例2では、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録可能な欠陥画素数が500であり、かつ露光時間に応じた補正画素数の設定が露光時間32秒の場合の補正画素数2000を最大としていたが、各数値は例示であってこれらに限定されるものではない。
In the second embodiment, the number of corrected pixels when the number of defective pixels that can be registered in the
さらに、実施例2では、分割数Sが取り得る値を、その最大値の約数に設定していたが、補正する必要のある欠陥画素のすべてを欠陥画素補正部42による欠陥画素補正動作で補正するために、その記憶部43に登録可能な欠陥画素数(登録限度数)に応じて分割数Sを設定するもの、すなわち少なくとも補正画素数を登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値を分割数Sとして設定するものであればよく、実施例2に限定されるものではない。例えば、実施例2では、露光時間が16秒である場合、補正画素数が1200に設定されており、かつ記憶部43の登録限度数が500であることから、欠陥画素補正部42による欠陥画素補正動作を3回行えば、1200個の欠陥画素のすべてを補正することができることとなるので、分割数Sを3に設定してもよい。この場合、予めRAM44に各欠陥画素のアドレスデータを格納する際、分割数Sが3、すなわち画像(画像データ)を3分割した状態での各欠陥画素のアドレスデータを格納しておく必要がある。
Furthermore, in Example 2, the value that the division number S can take is set to a divisor of the maximum value. However, all defective pixels that need to be corrected are corrected by the defective
実施例2では、露光時間に応じた補正画素数に対応して分割数Sを設定して、その分割数Sおよび露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行うものとしていたが、分割数Sの最大値で等分(実施例2では4)された領域の画像データ毎に各優先補正画素群PNMを取得してRAM44に格納していることから、分割数Sが最大値の約数(実施例2では、1または2)である場合(露光時間が2、4、8秒)、最大値で等分された画像データ毎の各優先補正画素群PNMを合わせることとなる(ステップS32、ステップS34、ステップS37およびステップS38参照)ので、分割数Sを常に最大値として欠陥画素補正の準備を行うものとしてもよい。
In the second embodiment, the division number S is set corresponding to the correction pixel number corresponding to the exposure time, and the preparation of defective pixel correction corresponding to the division number S and the exposure time is performed. Since each priority correction pixel group P NM is acquired and stored in the
実施例2では、分割数Sの最大値(実施例2では4)で等分された領域の画像データ毎に各優先補正画素群PNMを取得してRAM44に格納していたが、露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を可能とする、すなわち各欠陥画素のアドレスデータを欠陥画素補正部42の記憶部43に適宜登録することができるものであればよく、実施例2に限定されるものではない。
In the second embodiment, each priority correction pixel group P NM is acquired and stored in the
次に、本発明の実施例3に係る撮像装置およびそこで行われる欠陥画素補正処理について説明する。この実施例3は、欠陥画素補正処理における処理内容の一部が実施例1および実施例2とは異なる例である。この実施例3の撮像装置は、基本的な構成は上記した実施例1の撮像装置であるデジタルカメラ1と同様であることから、等しい構成の個所には同じ符号を付し、その詳細な説明は省略する。図11は、各優先補正画素群PN´もしくは各優先補正画素群PNM´におけるRAM44に格納された欠陥画素のアドレス(CCD20上の縦横座標)のデータの個数(欠陥画素のデータ数)等を表で示す図4および図7と同様の説明図である。
Next, an image pickup apparatus according to
先ず、実施例3の欠陥画素補正処理のために、実施例1と同様に、設定された各露光時間で出現する欠陥画素の数を統計的に把握し、露光時間に応じて出現する欠陥画素の全てを補正するために充分だと判断できる数を、露光時間に応じた補正画素数として設定する。この実施例3では、露光時間が2秒の場合の補正画素数を200とし、露光時間が4秒の場合の補正画素数を500とし、露光時間が8秒の場合の補正画素数を700とし、露光時間が16秒の場合の補正画素数を1000とし、露光時間が32秒の場合の補正画素数を1500としている(図11参照)。この露光時間に応じた補正画素数は、RAM44に格納されている。
First, for the defective pixel correction process of the third embodiment, as in the first embodiment, the number of defective pixels appearing at each set exposure time is statistically grasped, and the defective pixels appearing according to the exposure time. The number that can be determined to be sufficient to correct all of the above is set as the number of corrected pixels according to the exposure time. In the third embodiment, the number of corrected pixels when the exposure time is 2 seconds is 200, the number of corrected pixels when the exposure time is 4 seconds is 500, and the number of corrected pixels when the exposure time is 8 seconds is 700. The number of corrected pixels when the exposure time is 16 seconds is 1000, and the number of corrected pixels when the exposure time is 32 seconds is 1500 (see FIG. 11). The number of corrected pixels corresponding to the exposure time is stored in the
ここで、制御部28は、露光時間に応じた補正画素数の最大値を1500に設定しているとともに、記憶部43に登録可能な欠陥画素数が500であることから、この1500から500を減算した欠陥画素(1000)のすべてを欠陥画素補正部42で補正するには、2回の欠陥画素補正動作を行う必要があることに基づいて、分割数S´の最大値を2に設定する。この実施例3では、後述するように、記憶部43に登録可能な欠陥画素数(登録限度数)を超える数の画素を補正する場合、先ず欠陥画素補正部42において登録限度数の欠陥画素補正を行い、その後、残りの欠陥画素のすべてを欠陥画素補正するものであることから、実施例3での分割数S´とは、その残りの欠陥画素のすべてを処理時間の増大を抑制しつつ補正するために、CCD20により取得された1つの画像データにおいて、欠陥画素補正部42での1回の欠陥画素補正動作における対象となる領域すなわちデータ量を設定するために当該画像データを等分する数である。
Here, the
制御部28は、設定された露光時間に応じた補正画素数での欠陥画素補正処理のために、実施例3では、検出した欠陥画素のアドレス(CCD20上の縦横座標)のデータを、それぞれの欠陥画素レベルおよび設定された露光時間に関連付けて、以下のようにRAM44に格納する。
In the third embodiment, the
実施例3での基本的な欠陥画素の検出方法は、実施例1と同様であるが、上述したように、先ず欠陥画素補正部42において登録限度数の欠陥画素補正を行うため、最初に、CCD20の全ての画素の中から、欠陥画素レベルが高い順から登録限度数すなわち500個までの画素を検出し、上から200個を第1優先補正画素群P1´の欠陥画素のアドレスデータとして、RAM44に格納し、残りの300個を第2優先補正画素群P2´の欠陥画素のアドレスデータとして、RAM44に格納する。この第1優先補正画素群P1´として検出された200個の欠陥画素は、そのまま露光時間が2秒の場合に補正する200個の欠陥画素となり、第2優先補正画素群P2´として検出された300個の欠陥画素は、第1優先補正画素群P1´の200個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が4秒の場合に補正する500個の欠陥画素となる。また、実施例3では、この露光時間が4秒の場合に補正する500個の欠陥画素が、そのまま補正優先度の高い欠陥画素となる。
The basic defective pixel detection method in the third embodiment is the same as that in the first embodiment. However, as described above, first, the defective
次に、上述したように、分割数S´の最大値を2に設定したことから、2つの領域に分割した画像データ毎(以下、分割画像E、Fとする(図8(b)参照))に各優先補正画素群PNM´を取得する。ここで、Nは、実施例2と同様であるが(但し、既に第1優先補正画素群P1´と第2優先補正画素群P2´とが取得されていることから、取り得る値は3〜5)、Mは、実施例3では、各N番目の群においてどの分割画像E、Fのいずれに該当するものであるかを表すものであるので、E、Fの順に1、2を当て嵌めている。 Next, as described above, since the maximum value of the division number S ′ is set to 2, each image data divided into two regions (hereinafter referred to as divided images E and F (see FIG. 8B)). ), Each priority correction pixel group P NM ′ is acquired. Here, N is the same as that in the second embodiment (however, since the first priority correction pixel group P 1 ′ and the second priority correction pixel group P 2 ′ have already been acquired, possible values are 3 to 5) and M in the third embodiment indicate which of the divided images E and F corresponds to each of the N-th group. It is fitted.
両分割画像E、Fの各画素の中から、それぞれにおける第2優先補正画素群P2´の中の最も欠陥画素レベルが低いものよりも欠陥画素レベルが低いことを前提として、欠陥画素レベルが高い画素から順に100個の画素を欠陥画素として検出し、第3優先補正画素群P3M´(M=1、2)の欠陥画素のアドレスデータとして、RAM44に格納する。これらの、第3優先補正画素群P31´として検出された100個の欠陥画素と、第3優先補正画素群P32´として検出された100個の欠陥画素とを合わせたもの(第3優先補正画素群P3´とする)は、上記した第1優先補正画素群P1´の200個の欠陥画素および第2優先補正画素群P2´の300個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が8秒の場合に補正する700個の欠陥画素となる。
On the assumption that the defective pixel level is lower than the lowest defective pixel level in the second priority correction pixel group P 2 ′ in each of the divided images E and F, the defective pixel level is 100 pixels in order from the highest pixel are detected as defective pixels, and are stored in the
次に、両分割画像E、Fの各画素の中から、それぞれにおける第3優先補正画素群P3´(第3優先補正画素群P31´または第3優先補正画素群P32´)の中の最も欠陥画素レベルが低いものよりも欠陥画素レベルが低いことを前提として、欠陥画素レベルが高い画素から順に150個の画素を欠陥画素として検出し、第4優先補正画素群P4M´(M=1、2)の欠陥画素のアドレスデータとして、RAM44に格納する。これらの、第4優先補正画素群P41´として検出された150個の欠陥画素と、第4優先補正画素群P42´として検出された150個の欠陥画素とを合わせたもの(第4優先補正画素群P4´とする)は、上記した第1優先補正画素群P1´の200個の欠陥画素、第2優先補正画素群P2´の300個の欠陥画素および第3優先補正画素群P3´の200個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が16秒の場合に補正する1000個の欠陥画素となる。
Next, among the pixels of the divided images E and F, in the third priority correction pixel group P 3 ′ (third priority correction pixel group P 31 ′ or third priority correction pixel group P 32 ′) in each pixel. Assuming that the defective pixel level is lower than that having the lowest defective pixel level, 150 pixels are detected as defective pixels in order from the pixel with the highest defective pixel level, and the fourth priority correction pixel group P 4M ′ (M = 1, 2) is stored in the
次に、両分割画像E、Fの各画素の中から、それぞれにおける第3優先補正画素群P3´(第4優先補正画素群P41´または第4優先補正画素群P42´)の中の最も欠陥画素レベルが低いものよりも欠陥画素レベルが低いことを前提として、欠陥画素レベルが高い画素から順に250個の画素を欠陥画素として検出し、第5優先補正画素群P5M´(M=1、2)の欠陥画素のアドレスデータとして、RAM44に格納する。これらの、第5優先補正画素群P51´として検出された250個の欠陥画素と、第5優先補正画素群P52´として検出された250個の欠陥画素とを合わせたもの(第5優先補正画素群P5´とする)は、上記した第1優先補正画素群P1´の200個の欠陥画素、第2優先補正画素群P2´の300個の欠陥画素、第3優先補正画素群P3´の200個の欠陥画素および第4優先補正画素群P4´の200個の欠陥画素を加算することにより、露光時間が32秒の場合に補正する1500個の欠陥画素となる。
Next, among the pixels of the divided images E and F, in the third priority correction pixel group P 3 ′ (the fourth priority correction pixel group P 41 ′ or the fourth priority correction pixel group P 42 ′) in each pixel. Assuming that the defective pixel level is lower than the lowest defective pixel level, 250 pixels are detected as defective pixels in order from the pixel with the highest defective pixel level, and the fifth priority correction pixel group P 5M ′ (M = 1, 2) is stored in the
実施例3の制御部28では、上述したようにRAM44に格納した各優先補正画素群PNM´(N=1〜5、M=1、2)のアドレスデータ(図11参照)すなわち各欠陥画素データを利用して、欠陥画素補正処理を行う。図12は、この制御部28にて実行される実施例3の欠陥画素補正処理内容を示すフローチャートであり、図13は、図12のフローチャートにおけるステップS56の処理内容を示すフローチャートである。以下、図12のフローチャートの各ステップ(図13のフローチャートの各ステップも含む)について図11を用いて説明する。
In the
ステップS51では、設定された露光時間を取得して、ステップS52へ進む。このステップS51では、図5のフローチャートのステップS1と同様に、レリーズ2が押し下げられて撮影動作が開始されると、それにより得ることが可能となる当該撮影時の露光時間の情報を取得する。
In step S51, the set exposure time is acquired, and the process proceeds to step S52. In Step S51, as in Step S1 of the flowchart of FIG. 5, when the
ステップS52では、ステップS51での設定された露光時間の取得に続き、取得した露光時間が8秒以上であるか否かを判定し、Yesの場合はステップS53へ進み、Noの場合はステップS60へ進む。このステップS52では、欠陥画素補正処理の内容の切り換え、すなわち欠陥画素補正部42による欠陥画素補正動作の回数の切り換えのために、ステップS51で取得した露光時間の長さを判断している。実施例3では、記憶部43に登録(格納)可能な欠陥画素数が500であるのに対し、露光時間が4秒の場合の補正画素数が500に設定され、かつ露光時間が8秒の場合の補正画素数が700に設定されていることから、露光時間が8秒以上である場合の補正画素数が登録限度数を越えているので、欠陥画素補正部42による欠陥画素補正動作を2回とすべくステップS53へ進み、露光時間が4秒以下である場合の補正画素数が登録限度数以下であるので、欠陥画素補正部42による欠陥画素補正動作を1回とすべくステップS60へ進む。
In step S52, following the acquisition of the set exposure time in step S51, it is determined whether or not the acquired exposure time is 8 seconds or more. If Yes, the process proceeds to step S53. If No, step S60 is performed. Proceed to In step S52, the length of the exposure time acquired in step S51 is determined in order to switch the content of the defective pixel correction process, that is, to switch the number of defective pixel correction operations by the defective
ステップS53では、ステップS52での露光時間が8秒以上であるとの判断に続き、補正優先度の高い欠陥画素の補正を実行して、ステップS54へ進む。このステップS53では、ステップS52にて露光時間が8秒以上であると判断したことから、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録可能な欠陥画素数よりも多くの欠陥画素を補正する必要があるので、補正優先度の高い順すなわち欠陥画素レベル(輝度値)の大きい順から、記憶部43の登録限度数の欠陥画素を補正する。実施例3では、記憶部43の登録限度数が500であることから、第1優先補正画素群P1´の200個の欠陥画素のアドレスデータと、第2優先補正画素群P2´の300個の欠陥画素のアドレスデータと、を、RAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。その後、欠陥画素補正部42が、送られてきた画像データ(その各画素データ)において、記憶部43に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データを読み出し、その周辺のRGBフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間することにより、第1優先補正画素群P1´の200個の欠陥画素と、第2優先補正画素群P2´の300個の欠陥画素と、の合計500個の欠陥画素の補正を行う。
In step S53, following the determination that the exposure time in step S52 is 8 seconds or longer, correction of defective pixels having a high correction priority is executed, and the flow proceeds to step S54. In step S53, since it is determined in step S52 that the exposure time is 8 seconds or more, it is necessary to correct more defective pixels than the number of defective pixels that can be registered in the
ステップS54では、ステップS53での補正優先度の高い欠陥画素の補正の実行に続き、ステップS51で取得した露光時間に応じた補正画素数を読み出して、ステップS55へ進む。このステップS54では、RAM44に格納された露光時間に応じた補正画素数を読み出す。
In step S54, following the execution of correction of defective pixels having a high correction priority in step S53, the number of correction pixels corresponding to the exposure time acquired in step S51 is read, and the process proceeds to step S55. In step S54, the number of corrected pixels corresponding to the exposure time stored in the
ステップS55では、ステップS54での露光時間に応じた補正画素数の読み出しに続き、取得した露光時間に対応する分割数S´を設定して、ステップS56へ進む。このステップS55では、読み出した露光時間に応じた補正画素数から、記憶部43に登録可能な欠陥画素数(500)を減算した値を、当該欠陥画素数(500)で除算し、その商が1以下であれば分割数S´を1に、商が1よりも大きく2以下であれば分割数S´を2に設定する。すなわち、露光時間に応じた補正画素数のうち、ステップS53にて既に欠陥画素補正を行った補正優先度の高い欠陥画素の数を減算した残りの補正画素数のすべてを欠陥画素補正部42で補正するために必要となる欠陥画素補正動作の回数を、分割数S´(S=1、2)として設定する。具体的には、露光時間が8秒の場合の分割数S´を1とし、露光時間が16秒の場合の分割数S´を1とし、露光時間が32秒の場合の分割数S´を2としている(図8(b)参照)。なお、基本的には、読み出した露光時間に応じた補正画素数から、記憶部43の欠陥画素数(500)を減算した値を、当該欠陥画素数で除算し、その商の小数点以下を切り上げた値を分割数Sとするものである。また、このステップS55では、カウンタ数Cを1に設定する。このカウンタ数Cは、分割数S´で等分された各分割画像(E、F(図8(b)参照))の画像データ(分割画像データISC´(S:分割数、C:カウンタ数))の何れに該当するものであるかを表すものであり、E、Fの順に1、2を当て嵌めている。このため、分割数S´が2の場合、画像データは、分割画像Eの分割画像データI21´と分割画像Fの分割画像データI22´とに分割される(図8(b)参照)。
In step S55, following the readout of the number of corrected pixels corresponding to the exposure time in step S54, a division number S ′ corresponding to the acquired exposure time is set, and the process proceeds to step S56. In step S55, a value obtained by subtracting the number of defective pixels (500) that can be registered in the
ステップS56では、ステップS55での分割数S´の設定、あるいはステップS59でのカウンタ数Cのインクリメントに続き、その分割数S´および露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、ステップS57へ進む。このステップS56では、ステップS51で取得した露光時間に応じた補正画素数の画素を補正する(実質的に補正画素数を設定する)ために、各優先補正画素群PNM´(N=3〜5、M=1、2)のアドレスデータをRAM44から適宜読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)することにより、露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行う(これを処理Cとする)。以下では、この露光時間に応じた欠陥画素補正の準備(ステップS56)における処理内容を示す図13のフローチャートの各ステップについて説明する。なお、上述したように、この図13のフローチャートに進んでくる場合、図12のフローチャートにおいて、ステップS51→ステップS52→ステップS53→ステップS54→ステップS55へと進んできている場面であることから、補正優先度の高い500個の欠陥画素(第1優先補正画素群P1´の200個の欠陥画素と、第2優先補正画素群P2´の300個の欠陥画素と、の合計500個の欠陥画素)の補正が既に完了している。
In step S56, following the setting of the division number S ′ in step S55 or the increment of the counter number C in step S59, preparation for defective pixel correction is performed in accordance with the division number S ′ and the exposure time. Proceed to In this step S56, each of the priority correction pixel groups P NM ′ (N = 3 to 3) is corrected in order to correct the pixels with the correction pixel number corresponding to the exposure time acquired in step S51 (substantially set the correction pixel number). 5, M = 1, 2) is read from the
ステップS71では、ステップS51で取得した露光時間が8秒であるか否かを判定し、Yesの場合はステップS72へ進み、Noの場合はステップS73へ進む。 In step S71, it is determined whether or not the exposure time acquired in step S51 is 8 seconds. If Yes, the process proceeds to step S72. If No, the process proceeds to step S73.
ステップS72では、ステップS71での露光時間が8秒であるとの判断に続き、8秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、処理C(ステップS56)を終了し、ステップS57(図12参照)へと進む。ここで、露光時間が8秒である場合、図12のフローチャートのステップS55において、分割数S´が1に設定されている場面である。このステップS72では、8秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備として、分割数1であることからそのまま画像データとなる分割画像データI11´におけるすべての欠陥画素の補正のために、第3優先補正画素群P3M´(M=1、2)の各100個の欠陥画素のアドレスデータ(図11参照)の計200個の欠陥画素のアドレスデータをRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。
In step S72, following the determination that the exposure time in step S71 is 8 seconds, preparation for defective pixel correction corresponding to the exposure time of 8 seconds is made, and the process C (step S56) is terminated, and step S57 is completed. Proceed to (see FIG. 12). Here, when the exposure time is 8 seconds, the division number S ′ is set to 1 in step S55 of the flowchart of FIG. In this step S72, as preparation for defective pixel correction corresponding to an exposure time of 8 seconds, the number of divisions is 1, so that all defective pixels in the divided image data I 11 ′, which is image data as it is, are corrected for the first time. Address data of a total of 200 defective pixels of the address data (see FIG. 11) of each 100 defective pixels of the 3-priority correction pixel group P 3M ′ (M = 1, 2) is read from the
ステップS73では、ステップS71での露光時間が8秒ではないとの判断に続き、ステップS51で取得した露光時間が16秒であるか否かを判定し、Yesの場合はステップS74へ進み、Noの場合はステップS75へ進む。 In step S73, following the determination that the exposure time in step S71 is not 8 seconds, it is determined whether the exposure time acquired in step S51 is 16 seconds. If Yes, the process proceeds to step S74. In this case, the process proceeds to step S75.
ステップS74では、ステップS73での露光時間が16秒であるとの判断に続き、16秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、処理C(ステップS56)を終了し、ステップS57(図9参照)へと進む。ここで、露光時間が16秒である場合、図12のフローチャートのステップS55において、分割数S´が1に設定されている場面である。このステップS74では、16秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備として、分割数1であることからそのまま画像データとなる分割画像データI11´におけるすべての欠陥画素の補正のために、第3優先補正画素群P3M´(M=1、2)の各100個の欠陥画素のアドレスデータおよび第4優先補正画素群P4M´(M=1、2)の各150個の欠陥画素のアドレスデータ(図4参照)、の計500個の欠陥画素のアドレスデータをRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。
In step S74, following the determination that the exposure time in step S73 is 16 seconds, preparation for defective pixel correction corresponding to the exposure time of 16 seconds is made, and the process C (step S56) is terminated, and step S57 is completed. Proceed to (see FIG. 9). Here, when the exposure time is 16 seconds, the division number S ′ is set to 1 in step S55 of the flowchart of FIG. In this step S74, as preparation for defective pixel correction according to the exposure time of 16 seconds, the number of divisions is 1, so that all the defective pixels in the divided image data I 11 ′ as image data as they are are corrected. Address data of each 100 defective pixels of the 3 priority correction pixel group P 3M ′ (M = 1, 2) and 150 defective pixels of the 4th priority correction pixel group P 4M ′ (M = 1, 2). Address data (see FIG. 4) of a total of 500 defective pixels is read from the
ステップS75では、ステップS73での露光時間が16秒ではないとの判断に続き、カウンタ数Cが1であるか否かを判定し、Yesの場合はステップS76へ進み、Noの場合はステップS77へ進む。これは、ステップS73において露光時間が16秒ではない場合、設定されている露光時間の上限である32秒に設定されていることとなり、図12のフローチャートのステップS55において、分割数S´が2に設定されている場面であることから、後述するように、図12のフローチャートのステップS56からステップS59を経てステップS56へと戻る流れにおいてカウンタ数Cが1から2へと増加されて(ステップS59)分割画像Eおよび分割画像F(図8(b)参照)のそれぞれについて欠陥画素補正部42で欠陥画素補正動作を実行することとなるので、カウンタ数Cによって32秒の露光時間に応じた欠陥画素補正の準備が異なることによる。
In step S75, following the determination that the exposure time in step S73 is not 16 seconds, it is determined whether or not the counter number C is 1, the process proceeds to step S76 if Yes, and in step S77 if No. Proceed to This means that if the exposure time is not 16 seconds in step S73, the upper limit of the set exposure time is set to 32 seconds. In step S55 of the flowchart of FIG. Therefore, as will be described later, the counter number C is increased from 1 to 2 in the flow of returning from step S56 to step S59 in the flowchart of FIG. 12 (step S59). ) Since the defective
ステップS76では、ステップS75でのカウンタ数Cが1であるとの判断に続き、32秒の露光時間に応じた分割画像E(図8(b)参照)の欠陥画素補正の準備を行って、処理C(ステップS56)を終了し、ステップS57(図12参照)へと進む。このステップS76では、32秒の露光時間に応じた分割画像E(図8(b)参照)の欠陥画素補正の準備として、画像データの半分となる分割画像データI21´におけるすべての欠陥画素の補正のために、32秒の露光時間に対応する優先番号(N=3〜5)であって画像データが2分割された分割画像Eに対応する番号(M=1)である第N優先補正画素群PNM´(N=3〜5、M=1)の各欠陥画素のアドレスデータ(図11参照)をRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。すなわち、第3優先補正画素群P31´の100個の欠陥画素のアドレスデータ、第4優先補正画素群P41´の150個の欠陥画素のアドレスデータおよび第5優先補正画素群P51´の250個の欠陥画素のアドレスデータ(図11参照)、の計500個の欠陥画素のアドレスデータをRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。
In step S76, following the determination that the counter number C in step S75 is 1, preparation for defective pixel correction of the divided image E (see FIG. 8B) corresponding to the exposure time of 32 seconds is performed. The process C (step S56) is terminated, and the process proceeds to step S57 (see FIG. 12). In this step S76, as preparation for defective pixel correction of the divided image E (see FIG. 8B) corresponding to the exposure time of 32 seconds, all defective pixels in the divided image data I 21 ′ that is half of the image data are obtained. For correction, the Nth priority correction is a priority number (N = 3 to 5) corresponding to the exposure time of 32 seconds and a number (M = 1) corresponding to the divided image E obtained by dividing the image data into two. Address data (see FIG. 11) of each defective pixel of the pixel group P NM ′ (N = 3 to 5, M = 1) is read from the
ステップS77では、ステップS75でのカウンタ数Cが1ではないとの判断に続き、32秒の露光時間に応じた分割画像F(図8(b)参照)の欠陥画素補正の準備を行って、処理C(ステップS56)を終了し、ステップS57(図12参照)へと進む。このステップS77では、32秒の露光時間に応じた分割画像F(図8(b)参照)の欠陥画素補正の準備として、画像データの半分となる分割画像データI22´におけるすべての欠陥画素の補正のために、32秒の露光時間に対応する優先番号(N=3〜5)であって画像データが2分割された分割画像Fに対応する番号(M=2)である第N優先補正画素群PNM´(N=3〜5、M=2)の各欠陥画素のアドレスデータ(図11参照)をRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。すなわち、第3優先補正画素群P32´の100個の欠陥画素のアドレスデータ、第4優先補正画素群P42´の150個の欠陥画素のアドレスデータおよび第5優先補正画素群P52´の250個の欠陥画素のアドレスデータ(図11参照)、の計500個の欠陥画素のアドレスデータをRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。
In step S77, following the determination that the counter number C in step S75 is not 1, preparation for defective pixel correction of the divided image F (see FIG. 8B) corresponding to the exposure time of 32 seconds is performed. The process C (step S56) is terminated, and the process proceeds to step S57 (see FIG. 12). In this step S77, as preparation for defective pixel correction of the divided image F (see FIG. 8B) corresponding to the exposure time of 32 seconds, all defective pixels in the divided image data I 22 ′ which is half of the image data are obtained. For correction, the Nth priority correction is a priority number (N = 3 to 5) corresponding to the exposure time of 32 seconds and a number (M = 2) corresponding to the divided image F obtained by dividing the image data into two. Address data (see FIG. 11) of each defective pixel of the pixel group P NM ′ (N = 3 to 5, M = 2) is read from the
ステップS57では、ステップS56での分割数S´および露光時間に応じた欠陥画素補正の準備に続き、露光時間に応じた分割数S´でのカウンタ数Cに対応する分割画像の分割画像データISC´に対して欠陥画素補正を実行して、ステップS58へ進む。このステップS57では、欠陥画素補正部42が、送られてきた画像データ(その各画素データ)のうちのカウンタ数Cに対応する分割画像データISC´において、記憶部43に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データを読み出し、その周辺のRGBフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間することにより、ステップS56での露光時間に応じた欠陥画素補正の準備に応じた補正画素数の補正を行う。
In step S57, following the preparation of defective pixel correction according to the number of divisions S ′ and the exposure time in step S56, the divided image data I of the divided image corresponding to the counter number C at the number of divisions S ′ according to the exposure time. Defective pixel correction is executed for SC ′, and the process proceeds to step S58. In this step S57, the defective
ステップS58では、ステップS57での露光時間に応じた分割数S´でのカウンタ数Cに対応する分割画像の分割画像データISCに対する欠陥画素補正の実行に続き、カウンタ数Cが分割数S´と等しいか否かを判定し、Yesの場合は図12のフローチャートを終了し、Noの場合はステップS59へ進む。このステップS58では、カウンタ数Cが露光時間に応じた分割数S´に等しいか否かを判断することにより、分割画像データISC´に対して欠陥画素補正を実行するステップS57が繰り返されることで、全ての分割画像すなわち分割される前の画像データのすべてに対して欠陥画素補正を行ったか否かを判断するものである。 At step S58, the continued execution of the defective pixel correction for the divided image data I SC of the divided image corresponding to the counter number C in the divided number S'according to the exposure time in step S57, the count C division number S' If YES, the flowchart of FIG. 12 is terminated, and if NO, the process proceeds to step S59. In this step S58, it is determined whether or not the counter number C is equal to the division number S ′ corresponding to the exposure time, whereby step S57 for performing defective pixel correction on the divided image data I SC ′ is repeated. Thus, it is determined whether or not defective pixel correction has been performed on all the divided images, that is, all of the image data before being divided.
ステップS59では、ステップS58でのカウンタ数Cが分割数S´と等しくないとの判断に続き、カウンタ数Cをインクリメント(C=C+1)して、ステップS56へと戻る。このステップS59は、分割される前の画像データのすべてに対して欠陥画素補正を行うために、ステップS57における分割画像データISC´に対する欠陥画素補正の実行の回数(カウンタ数C)を1ずつ加算する。 In step S59, following the determination that the counter number C is not equal to the division number S ′ in step S58, the counter number C is incremented (C = C + 1), and the process returns to step S56. In this step S59, in order to perform defective pixel correction on all of the image data before division, the number of executions of defective pixel correction (counter number C) for the divided image data I SC ′ in step S57 is incremented by one. to add.
ステップS60では、ステップS52での露光時間が8秒以上ではないとの判断に続き、露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行って、ステップS61へ進む。このステップS60では、図5のフローチャートのステップS4と同様に、ステップS51で取得した露光時間に応じた補正画素数の画素を補正するために、各優先補正画素群PN´のアドレスデータをRAM44から適宜読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)することにより、露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行う。このステップS60では、露光時間が2秒の場合、露光時間に応じた欠陥画素補正の準備として、第1優先補正画素群P1´の200個の欠陥画素のアドレスデータ(図4参照)をRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。また、露光時間が4秒の場合、露光時間に応じた欠陥画素補正の準備として、第1優先補正画素群P1´の200個の欠陥画素のアドレスデータおよび第2優先補正画素群P2´の300個の欠陥画素のアドレスデータ(図4参照)をRAM44から読み出して、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録(格納)する。
In step S60, following the determination in step S52 that the exposure time is not 8 seconds or more, preparation for defective pixel correction according to the exposure time is performed, and the flow proceeds to step S61. In step S60, as in step S4 in the flowchart of FIG. 5, the address data of each priority correction pixel group P N ′ is stored in the
ステップS61では、ステップS60での露光時間に応じた欠陥画素補正の準備に続き、露光時間に応じた欠陥画素補正を実行して、図12のフローチャートを終了する。このステップS61では、欠陥画素補正部42が、送られてきた画像データ(その各画素データ)において、記憶部43に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データを読み出し、その周辺のRGBフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間することにより、ステップS60での露光時間に応じた欠陥画素補正の準備に応じた補正画素数の補正を行う。詳細には、露光時間が2秒の場合、第1優先補正画素群P1´の200個の欠陥画素の補正を行い、露光時間が4秒の場合、第1優先補正画素群P1´の200個の欠陥画素と第2優先補正画素群P2´の300個の欠陥画素との合計500個の欠陥画素の補正を行う。このとき、何れの場面であっても、欠陥画素のアドレスデータの全てが記憶部43に登録可能であることから、欠陥画素補正部42では一度の欠陥画素補正動作で、露光時間に応じた補正画素数の欠陥画素の全てを補正することができる。このため、ステップS61では、露光時間が2秒もしくは4秒の場合であって、1回目の欠陥画素補正部42での欠陥画素補正動作として、ステップS51で取得した露光時間に応じた補正画素数の補正を実行することとなる。
In step S61, following the preparation for defective pixel correction corresponding to the exposure time in step S60, defective pixel correction corresponding to the exposure time is executed, and the flowchart of FIG. 12 ends. In step S61, the defective
このように、実施例3の欠陥画素補正処理では、撮像素子(CCD20)において補正対象とする欠陥画素の数が、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録可能な欠陥画素数以内である場合(実施例3では露光時間が2秒あるいは4秒の場合)、ステップS51→ステップS52→ステップS60→ステップS61へと進んで、等分されていないそのままの画像(画像データ)に対して、欠陥画素補正部42で取得した露光時間に応じた補正画素数の欠陥画素補正動作を行う。このため、全体としての処理内容をより簡易なものとしつつ、露光時間に応じた補正画素数の欠陥画素補正を行うことができる。
As described above, in the defective pixel correction process according to the third embodiment, the number of defective pixels to be corrected in the image sensor (CCD 20) is within the number of defective pixels that can be registered in the
また、撮像素子(CCD20)において補正対象とする欠陥画素の数が、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録可能な欠陥画素数を超える場合(実施例3では露光時間が8秒、16秒あるいは32秒の場合)、ステップS51→ステップS52→ステップS53へと進んで、先ず、補正優先度の高い500個の欠陥画素(第1優先補正画素群P1´の200個の欠陥画素および第2優先補正画素群P2´の300個の欠陥画素)の補正を行い、その後、ステップS54→ステップS55→ステップS56→ステップS57へと進んで、取得した露光時間に応じた補正画素数のうちの補正をしていない残りの欠陥画素数に対応して分割数S´を設定し(ステップS55)、画像(画像データ)を分割数S´で等分して、それぞれの分割画像データISC´に対する欠陥画素補正部42での欠陥画素補正動作の繰り返しにより、補正対象となる画素データを重複させることなく画像データのすべてに対して欠陥画素補正を行う(ステップS57)。このとき、ステップS56において、ステップS57での欠陥画素補正の実行の回数(カウンタ数C)に応じた分割画像データISC´における各欠陥画素のアドレスデータをRAM44に格納していることから、ステップS56→ステップS57→ステップS58→ステップS59へと進んでステップS56へと戻る流れが繰り返されることにより、分割される前の画像データのすべてに対して欠陥画素補正を行うことができる。これは、例えば、露光時間が32秒に設定されて(補正画素数は1500個)いる場合、ステップS51→ステップS52→ステップS53→ステップS54→ステップS55へと進むことにより、分割数S´が2とされて画像データを分割画像E、Fに等分する。その後、ステップS56で露光時間32秒に応じた分割画像Eの分割画像データI21´の欠陥画素補正のための準備を行ってステップS57へと進むことにより、欠陥画素補正部42が、送られてきた画像データのうちの分割画像データI21´において、記憶部43に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データ(第3優先補正画素群P31´の100個の欠陥画素、第4優先補正画素群P41´の150個の欠陥画素および第5優先補正画素群P51´の250個、の計500個の欠陥画素)を読み出し、その周辺のRGBフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間して、分割画像Eの露光時間32秒に応じた欠陥画素補正が終了する。その後、ステップS58へと進むがカウンタ数Cが1であって分割数S´=2に等しくないことから、ステップS59へと進んでステップS56へと戻ることにより、露光時間32秒に応じた分割画像Fの分割画像データI22´の欠陥画素補正のための準備を行う。その後、ステップS57へと進むことにより、欠陥画素補正部42に、送られてきた画像データのうちの分割画像データI22´において、記憶部43に登録された欠陥画素のアドレスに相当する画素データ(第3優先補正画素群P32´の100個の欠陥画素、第4優先補正画素群P42´の150個の欠陥画素および第5優先補正画素群P52´の250個の欠陥画素、の計500個の欠陥画素)を読み出し、その周辺のRGBフィルタで見て同じ色に対応した画素データで補間して、分割画像Fの欠陥画素補正が終了する。その後、ステップS58へと進むと、カウンタ数Cが2となっていることからステップS59へと進むことはなく図12のフローチャートを終了することにより、上記した分割画像Eおよび分割画像Fの欠陥画素補正が終了し、分割される前の画像データのすべてに対して欠陥画素補正を行うことができる。このとき、何れの場面であっても、欠陥画素のアドレスデータの全てが記憶部43に登録可能であることから、欠陥画素補正部42では一度の欠陥画素補正動作で、露光時間に応じた分割数S´でのカウンタ数Cに対応する分割画像の分割画像データISC´の欠陥画素の全てを補正することができる。
When the number of defective pixels to be corrected in the image sensor (CCD 20) exceeds the number of defective pixels that can be registered in the
実施例3の欠陥画素補正処理では、撮像素子(CCD20)において補正対象とする欠陥画素の数が、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録可能な欠陥画素数を超える場合(実施例3では露光時間が8秒、16秒あるいは32秒の場合)であっても、当該記憶部43への登録内容を書き換えつつ、すなわち記憶部43における欠陥画素データの登録内容を変更しつつ、欠陥画素補正部42での欠陥画素補正の動作を繰り返すことから、補正が必要とされる欠陥画素数と記憶部43の登録限度数との関係に拘らず、撮像素子(CCD20)の全ての欠陥画素を補正することができる。
In the defective pixel correction process of the third embodiment, when the number of defective pixels to be corrected in the image sensor (CCD 20) exceeds the number of defective pixels that can be registered in the
また、実施例3の欠陥画素補正処理では、撮像素子(CCD20)において補正対象とする欠陥画素の数が、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録可能な欠陥画素数を超えない場合は、画像(画像データ)全体に対する欠陥画素補正部42での1回分の欠陥画素補正動作の処理時間で、より適切に欠陥画素補正をすることができる。これは、画像(画像データ)全体に対して欠陥画素補正部42が欠陥画素補正動作を行うことから、注目した欠陥画素の両隣の画素が存在する確率が高まることと、画像(画像データ)全体における各欠陥画素の分散具合に偏りがあった場合であっても当該偏りに拘らず確実に欠陥画素レベルの高い画素を優先的に補正することができることと、による。
In the defective pixel correction process of the third embodiment, when the number of defective pixels to be corrected in the image sensor (CCD 20) does not exceed the number of defective pixels that can be registered in the
さらに、実施例3の欠陥画素補正処理では、撮像素子(CCD20)において補正対象とする欠陥画素の数が、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録可能な欠陥画素数を超える場合であっても、画像(画像データ)全体に対する欠陥画素補正部42での略2回分の欠陥画素補正動作の処理時間で、より適切に欠陥画素補正をすることができる。すなわち、画像(画像データ)全体に対して、先ず、補正優先度の高い500個の欠陥画素の補正を行い、その後に、残りの各欠陥画素に対して分割数S´を設定し、元の画像データを分割数S´で等分したそれぞれの分割画像データISC´に対して欠陥画素補正動作を行う(ステップS57)ことから、画像(画像データ)全体に対して欠陥画素補正をすることによるより適切な補正が可能であるという効果と、元の画像データを分割数S´で等分して欠陥画素補正をすることによる処理時間の増大を抑制する効果と、の双方を調和させつつ得ることができる。
Furthermore, in the defective pixel correction process of the third embodiment, the number of defective pixels to be corrected in the image sensor (CCD 20) exceeds the number of defective pixels that can be registered in the
実施例3の欠陥画素補正処理では、露光時間に応じて補正する画素数を変更していることから、露光時間に応じた必要な補正画素数だけ補正することができ、欠陥画素の補正不足や過補正に基因する画質の低下を防止することができる。 In the defective pixel correction process according to the third embodiment, since the number of pixels to be corrected is changed according to the exposure time, it is possible to correct only the necessary number of correction pixels according to the exposure time. It is possible to prevent a deterioration in image quality due to overcorrection.
実施例3の欠陥画素補正処理では、欠陥画素レベルが高い画素を優先的に補正することから、画像(画像データ)上において欠陥画素と認識され易い画素を優先的に補正することができるので、より効率的に画質を向上させることができる。 In the defective pixel correction process according to the third embodiment, since pixels with high defective pixel levels are preferentially corrected, pixels that are easily recognized as defective pixels on an image (image data) can be preferentially corrected. The image quality can be improved more efficiently.
このため、本発明に係る撮像装置のデジタルカメラ1では、記憶部43での登録限度数に拘らず、補正対象とするすべての欠陥画素を適切に補正することができる。これにより、暗電流が増えたり蓄積されたりする条件、例えば、撮像素子(CCD20)の温度が上昇したり露光時間が長い状況で撮影された画像(画像データ)であっても、その品質を向上させることができる。
For this reason, in the
特に、実施例3の欠陥画素補正処理では、補正が必要とされる欠陥画素数と記憶部43の登録限度数との関係に拘らず、撮像素子(CCD20)の全ての欠陥画素をより適切に補正することができるとともに、欠陥画素補正部42で欠陥画素補正動作を繰り返すことに伴って処理時間が増大することを抑制することができる。
In particular, in the defective pixel correction process according to the third embodiment, all defective pixels of the image sensor (CCD 20) are more appropriately determined regardless of the relationship between the number of defective pixels that need correction and the registration limit number of the
なお、上記した実施例3では、欠陥画素の影響の変化の判断基準を露光時間として露光時間に応じた補正画素数が設定されている例を示したが、動的な欠陥要因である温度キズの影響が変化する要因を基準として補正画素数を設定するものであれば、例えば、ISO感度に応じた補正画素数の設定に基づいて補正画素数を設定するものであってもよく、実施例3に限定されるものではない。 In the above-described third embodiment, an example is shown in which the number of correction pixels corresponding to the exposure time is set with the exposure time as the criterion for determining the change in the influence of defective pixels. For example, the correction pixel number may be set based on the setting of the correction pixel number according to the ISO sensitivity. It is not limited to three.
また、実施例3では、欠陥画素補正部42の記憶部43に登録可能な欠陥画素数が500であり、かつ露光時間に応じた補正画素数の設定が露光時間32秒の場合の補正画素数1500を最大としていたが、各数値は例示であってこれらに限定されるものではない。ここで、設定した補正画素数が登録限度数の3倍以上である場合、少なくとも、当該補正画素数から登録限度数を減算した値(差分)を、登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値を分割数S´として設定すればよい。
Further, in the third embodiment, the number of corrected pixels when the number of defective pixels that can be registered in the
さらに、実施例3では、露光時間に応じた補正画素数に対応して分割数S´を設定して、その分割数S´および露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を行うものとしていたが、分割数S´の最大値で等分(実施例3では2)された領域の画像データ毎に各優先補正画素群PNM´を取得してRAM44に格納していることから、分割数S´が最大値の約数(実施例3では、1)である場合(露光時間が8、16秒)、最大値で等分された画像データ毎の各優先補正画素群PNM´を合わせることとなる(ステップS72およびステップS74参照)ので、分割数S´を常に最大値として欠陥画素補正の準備を行うものとしてもよい。
Furthermore, in the third embodiment, the division number S ′ is set corresponding to the number of correction pixels corresponding to the exposure time, and preparation for defective pixel correction corresponding to the division number S ′ and the exposure time is performed. Since each priority correction pixel group P NM ′ is acquired and stored in the
実施例3では、分割数S´の最大値(実施例3では2)で等分された領域の画像データ毎に各優先補正画素群PNM´を取得してRAM44に格納していたが、露光時間に応じた欠陥画素補正の準備を可能とする、すなわち各欠陥画素のアドレスデータを欠陥画素補正部42の記憶部43に適宜登録することができるものであればよく、実施例3に限定されるものではない。
In the third embodiment, each priority correction pixel group P NM ′ is acquired and stored in the
以上、本発明を各実施例に基づき詳述してきたが、これらの具体的な構成に限らず、本発明の趣旨を逸脱しない程度の設計的変更は、本発明の技術的範囲に含まれる。 As described above, the present invention has been described in detail based on the respective embodiments. However, the present invention is not limited to these specific configurations, and design changes that do not depart from the spirit of the present invention are included in the technical scope of the present invention.
なお、上記した各実施例では、各露光時間に応じた補正画素数を設定し、それを判断基準として各露光時間での欠陥画素を検出していたが、実際にデジタルスチルカメラ(デジタルカメラ1)にセンサ(CCD20)を搭載した状態において、設定された各露光時間における取得したダーク画像(画像データ)で輝点として現れる画素(画素データ)の輝度値を把握して、露光時間に応じて出現する輝点(画素)の全てを補正するために充分だと判断できる輝度値を、露光時間に応じた欠陥画素レベルの閾値(補正判断値)として設定し、その露光時間に応じた欠陥画素レベルを判断基準として各露光時間での欠陥画素を検出するものであってもよい。このことは、欠陥画素(温度キズ)の影響の変化の判断基準をISO感度とした場合であっても同様である。 In each of the above-described embodiments, the number of corrected pixels corresponding to each exposure time is set, and defective pixels at each exposure time are detected based on the correction pixel number. However, in actuality, a digital still camera (digital camera 1) is used. ) In the state where the sensor (CCD 20) is mounted, the luminance value of the pixel (pixel data) appearing as a bright spot in the acquired dark image (image data) at each set exposure time is grasped, and according to the exposure time. A luminance value that can be determined to be sufficient for correcting all of the appearing bright spots (pixels) is set as a threshold value (correction determination value) of a defective pixel level corresponding to the exposure time, and the defective pixel corresponding to the exposure time is set. A defective pixel at each exposure time may be detected using the level as a criterion. This is the same even when the ISO sensitivity is used as a criterion for determining the change in the influence of defective pixels (temperature scratches).
また、上記した各実施例では、撮像素子(CCD20)にRGBフィルタが設けられていたが、当該フィルタを設けずに構成されていてもよい。この場合、欠陥画素補正部42における欠陥画素補正では、色の区分けを考慮することなく、注目した欠陥画素に隣接する両隣の画素データの平均値を、当該注目した欠陥画素の画素データとすることにより補間すればよい。
In each of the above-described embodiments, the RGB filter is provided in the image sensor (CCD 20). However, the image sensor (CCD 20) may be configured without the filter. In this case, in the defective pixel correction in the defective
1 (撮像装置として)デジタルカメラ
21 (画像生成手段としての)アナログフロントエンド部
22 (画像生成手段としての)信号処理部
23 (画像生成手段としての)SDRAM
24 (画像生成手段としての)ROM
28 (画像生成手段としての)制御部
42 欠陥画素補正部
43 記憶部
44 (メモリとしての)RAM
ISC 分割画像データ
PN、PNM (欠陥画素データとしての)優先補正画素群
S、S´ 分割数
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 (As imaging device)
24 ROM (as image generation means)
28 Control unit (as image generation means) 42 Defective
I SC divided image data P N , P NM (as defective pixel data) priority correction pixel group S, S ′ number of divisions
Claims (11)
該画像生成手段が、前記画像データの生成過程における画像生成データが入力されると、該画像生成データにおいて、記憶部に登録された前記撮像素子における各欠陥画素データに相当する画素データを補正する欠陥画素補正動作により、前記画像生成データの欠陥画素補正を行う欠陥画素補正部を有する撮像装置であって、
前記画像生成手段は、欠陥画素の影響の変化の判断基準に対応付けた欠陥画素レベルに基づいて補正対象とする補正画素数を設定し、該補正画素数が、前記記憶部に登録可能な前記欠陥画素データの数である登録限度数を超えた場合、補正対象とする画素データを重複させることなく前記補正画素数の欠陥画素補正を行うべく、前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すとともに、前記画像生成データを、前記補正画素数を前記登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すことを特徴とする撮像装置。 Image generating means for generating image data based on a plurality of electrical signals output from an imaging device having a plurality of pixels;
When the image generation data in the image data generation process is input, the image generation unit corrects pixel data corresponding to each defective pixel data in the image sensor registered in the storage unit in the image generation data. An imaging apparatus having a defective pixel correction unit that performs defective pixel correction of the image generation data by a defective pixel correction operation,
The image generation unit sets the number of correction pixels to be corrected based on a defective pixel level associated with a criterion for determining a change in the influence of a defective pixel, and the correction pixel number can be registered in the storage unit. When the registration limit number that is the number of defective pixel data is exceeded, the registration content of the defective pixel data in the storage unit is determined so that defective pixel correction of the correction pixel number is performed without duplicating pixel data to be corrected. While repeating the defective pixel correction operation in the defective pixel correction unit, the image generation data is a value obtained by rounding up the decimal of the quotient obtained by dividing the number of corrected pixels by the registration limit number Dividing equally into a plurality of divided image data, and changing the registered content of the defective pixel data in the storage unit for each divided image data, the defective pixel in the defective pixel correction unit Imaging apparatus characterized by repeating the positive operation.
該画像生成手段が、前記画像データの生成過程における画像生成データが入力されると、該画像生成データにおいて、記憶部に登録された前記撮像素子における各欠陥画素データに相当する画素データを補正する欠陥画素補正動作により、前記画像生成データの欠陥画素補正を行う欠陥画素補正部を有する撮像装置であって、
前記画像生成手段は、欠陥画素の影響の変化の判断基準に対応付けた欠陥画素レベルに基づいて補正対象とする補正画素数を設定し、該補正画素数が、前記記憶部に登録可能な前記欠陥画素データの数である登録限度数を超えた場合、補正対象とする画素データを重複させることなく前記補正画素数の欠陥画素補正を行うべく、前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すとともに、前記画像生成データに対して、前記登録限度数の前記欠陥画素データを前記記憶部に登録して前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を行い、その後、前記画像生成データを、前記補正画素数が前記登録限度数を減算した差分を該登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、最初の前記欠陥画素補正動作での欠陥画素補正とは補正対象とする画素データが重複しないように各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すことを特徴とする撮像装置。 Image generating means for generating image data based on a plurality of electrical signals output from an imaging device having a plurality of pixels;
When the image generation data in the image data generation process is input, the image generation unit corrects pixel data corresponding to each defective pixel data in the image sensor registered in the storage unit in the image generation data. An imaging apparatus having a defective pixel correction unit that performs defective pixel correction of the image generation data by a defective pixel correction operation,
The image generation unit sets the number of correction pixels to be corrected based on a defective pixel level associated with a criterion for determining a change in the influence of a defective pixel, and the correction pixel number can be registered in the storage unit. When the registration limit number that is the number of defective pixel data is exceeded, the registration content of the defective pixel data in the storage unit is determined so that defective pixel correction of the correction pixel number is performed without duplicating pixel data to be corrected. The defective pixel correction operation in the defective pixel correction unit is repeated while changing, and the defective pixel data of the registration limit number is registered in the storage unit for the image generation data, and the defective pixel correction unit The defective pixel correction operation is performed, and then the image generation data is equal to or smaller than the quotient obtained by dividing the difference obtained by subtracting the registration limit number from the correction pixel number by the registration limit number. Divided into a plurality of divided image data by equally dividing the rounded-up value, and for each of the divided image data, the pixel data to be corrected does not overlap with the defective pixel correction in the first defective pixel correction operation. An imaging apparatus , wherein the defective pixel correction operation in the defective pixel correction unit is repeated while changing the registered content of the defective pixel data in a storage unit .
該画像生成手段が、前記画像データの生成過程における画像生成データが入力されると、該画像生成データにおいて、記憶部に登録された前記撮像素子における各欠陥画素データに相当する画素データを補正する欠陥画素補正動作により、前記画像生成データの欠陥画素補正を行う欠陥画素補正部を有する撮像装置であって、
前記画像生成手段は、欠陥画素の影響の変化の判断基準に対応付けた欠陥画素レベルに基づいて補正対象とする補正画素数を設定し、該補正画素数が、前記記憶部に登録可能な前記欠陥画素データの数である登録限度数を超えた場合、補正対象とする画素データを重複させることなく前記補正画素数の欠陥画素補正を行うべく、前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すとともに、前記画像生成データに対して、前記欠陥画素レベルが高い方から順に前記登録限度数の前記欠陥画素データを前記記憶部に登録して前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を行い、その後、前記画像生成データを、前記補正画素数が前記登録限度数を減算した差分を該登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、最初の前記欠陥画素補正動作での欠陥画素補正とは補正対象とする画素データが重複しないように各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返すことを特徴とする撮像装置。 Image generating means for generating image data based on a plurality of electrical signals output from an imaging device having a plurality of pixels;
When the image generation data in the image data generation process is input, the image generation unit corrects pixel data corresponding to each defective pixel data in the image sensor registered in the storage unit in the image generation data. An imaging apparatus having a defective pixel correction unit that performs defective pixel correction of the image generation data by a defective pixel correction operation,
The image generation unit sets the number of correction pixels to be corrected based on a defective pixel level associated with a criterion for determining a change in the influence of a defective pixel, and the correction pixel number can be registered in the storage unit. When the registration limit number that is the number of defective pixel data is exceeded, the registration content of the defective pixel data in the storage unit is determined so that defective pixel correction of the correction pixel number is performed without duplicating pixel data to be corrected. The defective pixel correction operation in the defective pixel correction unit is repeated while changing, and the defective pixel data of the registration limit number is sequentially stored in the storage unit with respect to the image generation data in descending order of the defective pixel level. register performs the defective pixel correction operation in the defective pixel correction unit, then the image generation data, wherein said correction difference number of pixels obtained by subtracting the number of the registration limit registration limit Pixel data is equally divided by a value obtained by rounding up a few following quotient obtained by dividing the number is divided into a plurality of divided image data, and defective pixel correction of the first of the defective pixel correction operations to be corrected the defective pixel correction operation characterized imaging device to repeat the but in the defective pixel correction unit while changing the registration contents of the defective pixel data in the storage unit for each of the divided image data so as not to overlap .
さらに、前記画像生成手段が適宜格納および読出することのできるメモリを備え、
前記欠陥画素データは、前記撮像素子から出力される電気信号に基づいて前記欠陥画素レベルを判断し、該欠陥画素レベルが前記判断基準における設定条件に対応付けた補正判断値を超えた前記画素の前記撮像素子上の縦横座標に、対応する前記設定条件および前記欠陥画素レベルを関連付けて生成されて前記メモリに格納され、
前記画像生成手段は、前記設定条件に適合する前記欠陥画素データを前記メモリから読み出して前記記憶部に登録することを特徴とする撮像装置。 The imaging apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein
Furthermore, the image generating means comprises a memory that can be stored and read as appropriate.
The defective pixel data is determined based on an electrical signal output from the image sensor, and the defective pixel level of the pixel that has exceeded the correction determination value associated with the setting condition in the determination criterion. The ordinate and abscissa on the image sensor are generated in association with the corresponding setting condition and the defective pixel level and stored in the memory,
It said image generating means, you characterized imaging device to register in the storage unit of the defective pixel data conforms to the setting conditions are read from the memory.
該画像生成手段が、前記画像データの生成過程における画像生成データが入力されると、該画像生成データにおいて、記憶部に登録された前記撮像素子における各欠陥画素データに相当する画素データを補正する欠陥画素補正動作により、前記画像生成データの欠陥画素補正を行う欠陥画素補正部を有する撮像装置の制御部に、前記欠陥画素補正部による欠陥画素を補正する機能を実現させるためのプログラムであって、
前記画像生成手段に、欠陥画素の影響の変化の判断基準に対応付けた欠陥画素レベルに基づいて補正対象とする補正画素数を設定させる機能と、
該補正画素数が、前記記憶部に登録可能な前記欠陥画素データの数である登録限度数を超えた場合、補正対象とする画素データを重複させることなく前記補正画素数の欠陥画素補正を行うべく、前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返させるとともに、前記画像生成データを、前記補正画素数を前記登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返させる機能と、
を実現させることを特徴とするプログラム。 Image generating means for generating image data based on a plurality of electrical signals output from an imaging device having a plurality of pixels;
When the image generation data in the image data generation process is input, the image generation unit corrects pixel data corresponding to each defective pixel data in the image sensor registered in the storage unit in the image generation data. A program for causing a control unit of an imaging apparatus having a defective pixel correction unit that performs defective pixel correction of the image generation data to realize a function of correcting a defective pixel by the defective pixel correction unit by a defective pixel correction operation. ,
A function of causing the image generation means to set the number of correction pixels to be corrected based on a defective pixel level associated with a determination criterion for a change in the influence of a defective pixel;
When the number of corrected pixels exceeds the registration limit number that is the number of defective pixel data that can be registered in the storage unit, defective pixel correction is performed for the number of corrected pixels without overlapping pixel data to be corrected. Therefore, the defective pixel correction operation in the defective pixel correction unit is repeated while changing the registration content of the defective pixel data in the storage unit, and the number of corrected pixels is set to the registration limit number. Dividing into a plurality of divided image data by equally dividing a fractional number obtained by dividing by a rounded up value, and changing the registration content of the defective pixel data in the storage unit for each divided image data A function of repeating the defective pixel correction operation in the defective pixel correction unit;
Program characterized Rukoto is realized.
該画像生成手段が、前記画像データの生成過程における画像生成データが入力されると、該画像生成データにおいて、記憶部に登録された前記撮像素子における各欠陥画素データに相当する画素データを補正する欠陥画素補正動作により、前記画像生成データの欠陥画素補正を行う欠陥画素補正部を有する撮像装置の制御部に、前記欠陥画素補正部による欠陥画素を補正する機能を実現させるためのプログラムであって、
前記画像生成手段に、欠陥画素の影響の変化の判断基準に対応付けた欠陥画素レベルに基づいて補正対象とする補正画素数を設定させる機能と、
該補正画素数が、前記記憶部に登録可能な前記欠陥画素データの数である登録限度数を超えた場合、補正対象とする画素データを重複させることなく前記補正画素数の欠陥画素補正を行うべく、前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返させるとともに、前記画像生成データに対して、前記登録限度数の前記欠陥画素データを前記記憶部に登録して前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を行わせ、かつ、その後、前記画像生成データを、前記補正画素数が前記登録限度数を減算した差分を該登録限度数で除算して得られた商の少数以下を切り上げた値で等分して複数の分割画像データに区分けし、最初の前記欠陥画素補正動作での欠陥画素補正とは補正対象とする画素データが重複しないように各該分割画像データ毎に前記記憶部における前記欠陥画素データの登録内容を変更しつつ前記欠陥画素補正部での前記欠陥画素補正動作を繰り返させる機能と、
を実現させることを特徴とするプログラム。 Image generating means for generating image data based on a plurality of electrical signals output from an imaging device having a plurality of pixels;
When the image generation data in the image data generation process is input, the image generation unit corrects pixel data corresponding to each defective pixel data in the image sensor registered in the storage unit in the image generation data. A program for causing a control unit of an imaging apparatus having a defective pixel correction unit that performs defective pixel correction of the image generation data to realize a function of correcting a defective pixel by the defective pixel correction unit by a defective pixel correction operation. ,
A function of causing the image generation means to set the number of correction pixels to be corrected based on a defective pixel level associated with a criterion for determining a change in the influence of a defective pixel;
When the number of corrected pixels exceeds the registration limit number that is the number of defective pixel data that can be registered in the storage unit, defective pixel correction is performed for the number of corrected pixels without overlapping pixel data to be corrected. Therefore, the defective pixel correction operation in the defective pixel correction unit is repeated while changing the registration content of the defective pixel data in the storage unit , and the registration limit number of the defective pixels is changed with respect to the image generation data. Data is registered in the storage unit to cause the defective pixel correction unit to perform the defective pixel correction operation, and then the image generation data is determined by subtracting the registration limit number from the correction pixel number. Dividing into a plurality of divided image data by equally dividing the value obtained by dividing the quotient obtained by dividing by the registration limit number into a plurality of divided image data, the defective pixel correction in the first defective pixel correction operation is a correction pair. A function to repeat the defective pixel correction operation in the defective pixel correction unit while changing the registration contents of the defective pixel data in the storage unit so that the pixel data do not overlap each said divided image data to,
A program characterized by realizing.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009187063A JP5299159B2 (en) | 2009-08-12 | 2009-08-12 | Imaging apparatus and program |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009187063A JP5299159B2 (en) | 2009-08-12 | 2009-08-12 | Imaging apparatus and program |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011041039A JP2011041039A (en) | 2011-02-24 |
JP5299159B2 true JP5299159B2 (en) | 2013-09-25 |
Family
ID=43768343
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009187063A Expired - Fee Related JP5299159B2 (en) | 2009-08-12 | 2009-08-12 | Imaging apparatus and program |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5299159B2 (en) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013021443A (en) * | 2011-07-08 | 2013-01-31 | Nikon Corp | Imaging apparatus |
US9279893B2 (en) | 2012-07-24 | 2016-03-08 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiation imaging control apparatus, radiation imaging system and radiation imaging apparatus, and method for controlling the same |
GB2522347B (en) * | 2012-07-24 | 2016-03-09 | Canon Kk | Imaging apparatus, radiation imaging apparatus, and method for controlling the same |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4313860B2 (en) * | 1998-07-01 | 2009-08-12 | キヤノン株式会社 | Defective pixel correction apparatus and defective pixel correction method |
JP2000196966A (en) * | 1998-12-28 | 2000-07-14 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | High-sensitivity image pickup device |
JP2002204396A (en) * | 2000-12-28 | 2002-07-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Pixel correction apparatus |
JP2003333435A (en) * | 2002-03-08 | 2003-11-21 | Canon Inc | Correcting device, image pickup device, correcting method, correcting computer program |
JP4323883B2 (en) * | 2003-06-30 | 2009-09-02 | キヤノン株式会社 | Image processing apparatus and control method thereof |
JP4584768B2 (en) * | 2005-05-18 | 2010-11-24 | Hoya株式会社 | Pixel defect correction device |
-
2009
- 2009-08-12 JP JP2009187063A patent/JP5299159B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011041039A (en) | 2011-02-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4662880B2 (en) | Imaging apparatus and imaging method | |
JP5523065B2 (en) | Imaging apparatus and control method thereof | |
JPWO2011155297A1 (en) | Imaging apparatus and image processing method | |
CN102883108B (en) | Picture pick-up device and control method, image processing equipment and method | |
JP2010074813A (en) | Imaging apparatus and imaging method | |
JP2005269373A (en) | Video signal processing system, and electronic video apparatus | |
JP2009201094A (en) | Imaging apparatus and imaging method | |
JP3854754B2 (en) | Imaging apparatus, image processing apparatus and method, and memory medium | |
JP6351271B2 (en) | Image composition apparatus, image composition method, and program | |
JP4985124B2 (en) | Image processing apparatus, image processing method, and image processing program | |
JP4167200B2 (en) | Signal processing apparatus, signal processing method, and digital camera | |
JP3980781B2 (en) | Imaging apparatus and imaging method | |
JP2004282686A (en) | Imaging apparatus | |
JP5299159B2 (en) | Imaging apparatus and program | |
JP5387341B2 (en) | Imaging device | |
JP5446955B2 (en) | Imaging device | |
JP2009055415A (en) | Camera | |
JP3767188B2 (en) | Electronic camera and signal correction method | |
JP2014230121A (en) | Imaging apparatus and pixel defect detection method | |
JP2006121165A (en) | Imaging apparatus and image forming method | |
JP2008124793A (en) | Imaging apparatus, and imaging method | |
JP4687619B2 (en) | Image processing apparatus, image processing method, and program | |
JP2013074368A (en) | Imaging apparatus and imaging method | |
JP6247513B2 (en) | Imaging apparatus, control method, and program | |
JP5241596B2 (en) | IMAGING DEVICE, IMAGING DEVICE CONTROL METHOD, AND PROGRAM |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120528 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130228 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130305 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130422 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130521 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130603 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5299159 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |