JP5258198B2 - リニアイオントラップ質量分析装置 - Google Patents
リニアイオントラップ質量分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5258198B2 JP5258198B2 JP2007019693A JP2007019693A JP5258198B2 JP 5258198 B2 JP5258198 B2 JP 5258198B2 JP 2007019693 A JP2007019693 A JP 2007019693A JP 2007019693 A JP2007019693 A JP 2007019693A JP 5258198 B2 JP5258198 B2 JP 5258198B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- linear
- electrode
- electrodes
- ion trap
- plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000005040 ion trap Methods 0.000 title claims description 136
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 160
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 31
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 17
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 16
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 13
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 claims description 7
- 238000004252 FT/ICR mass spectrometry Methods 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 15
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 15
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 7
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 7
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 101100204059 Caenorhabditis elegans trap-2 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
前記リニアイオントラップが、中心軸の周りに配置されている4又はそれ以上の偶数のリニア電極、及び、前記リニア電極間に配置されている1又はそれ以上の板状電極を含み、前記リニア電極が、ほぼ等間隔で前記中心軸とほぼ平行に配置され、蓄積された前記イオンが、所定の2つの前記リニア電極間の空間を通過して排出されるリニアイオントラップであることを特徴とする。
2・・・リニア電極
3a〜3d・・・板状電極
4、4’・・・押し戻し電極
6a〜6d・・・板状電極
8a〜8d・・・板状電極
20、40・・・質量分析装置
21、41・・・リニアイオントラップ
22、42・・・質量分離部
23、43・・・検出部
24、44・・・イオン生成部
25、45・・・制御部
26、46・・・処理部
30、50・・・リニア電極
31、31’、51・・・板状電極
32、32’、52・・・押し戻し電極
33、53・・・イオン源
34、54・・・イオン収束レンズ群
35、55・・・イオン
56〜59・・・扇形電場
Claims (11)
- リニアイオントラップと質量分離部と検出部とを含む質量分析装置であって、
前記リニアイオントラップが、中心軸の周りに配置されている4又はそれ以上の偶数の直線状のリニア電極、及び、前記リニア電極間に配置されている1又はそれ以上の板状電極を含み、前記リニア電極が、ほぼ等間隔で前記中心軸とほぼ平行に配置され、前記板状電極の少なくとも1つが、前記中心軸の方向に分割されており、蓄積された前記イオンが、所定の2つの前記リニア電極間であって、かつ、分割された前記板状電極間の空間を通過して排出されるリニアイオントラップであることを特徴とする質量分析装置。 - 前記板状電極の少なくとも1つが、前記中心軸の方向及び/若しくは半径方向に分割され、又は、前記中心軸に向かって曲率を有する形状である請求項1記載の質量分析装置。
- さらに、制御部を含み、前記制御部が、前記リニアイオントラップにイオンを蓄積する場合に、前記リニア電極に隣り合うリニア電極の位相が180度異なるように高周波電圧を印加し、蓄積された前記イオンを排出する場合に前記高周波電圧の印加を停止する制御を行う請求項1又は2に記載の質量分析装置。
- 前記制御部が、蓄積された前記イオンを排出する場合に、前記板状電極へ前記リニア電極の中心電位から正又は負のパルス電圧を印加する制御を行う請求項3記載の質量分析装置。
- 前記制御部が、蓄積された前記イオンを排出する場合に、前記イオンを空間的及び/又は時間的に収束させるように前記パルス電圧を印加する制御を行う請求項4記載の質量分析装置。
- 前記リニアイオントラップが、蓄積された前記イオンを前記中心軸とほぼ直交方向に排出可能であり、前記質量分離部が、前記リニアイオントラップの前記中心軸とほぼ直交方向に配置されている請求項1から5のいずれか一項に記載の質量分析装置。
- 前記質量分離部が、飛行時間型、フーリエ変換イオンサイクロトロン共鳴型、オービトラップ型、四重極型、及び、磁場型からなる群から選択される質量分離部を含む請求項1から6のいずれか一項に記載の質量分析装置。
- 前記飛行時間型質量分離部が、多重周回型であって、
前記リニアイオントラップのイオンの排出軌道と前記飛行時間型質量分離部の周回軌道とが一致するように配置されている請求項7記載の質量分析装置。 - 請求項1から8のいずれか一項に記載の質量分析装置を用いる質量分析方法であって、
前記リニア電極に隣り合うリニア電極の位相が180度異なるように高周波電圧を印加して前記リニアイオントラップにイオンを蓄積するステップ、及び、
前記高周波電圧の印加を停止するとともに、前記板状電極へ前記リニア電極の中心電位から正又は負のパルス電圧を印加して、蓄積された前記イオンを所定の2つ前記リニア電極間の空間を通過して排出するステップ、を含むことを特徴とする質量分析方法。 - リニアイオントラップであって、
中心軸の周りに配置されている4又はそれ以上の偶数の直線状のリニア電極、前記リニア電極間に配置されている1又はそれ以上の板状電極、及び、制御部を含み、
前記リニア電極が、等間隔で前記中心軸とほぼ平行に配置され、
前記板状電極の少なくとも1つが、前記中心軸の方向に分割されており、
前記制御部が、イオンを蓄積する場合に、前記リニア電極へ隣り合うリニア電極の位相が180度異なるように高周波電圧を印加し、蓄積された前記イオンを排出する場合に、前記高周波電圧の印加を停止して前記板状電極へ前記リニア電極の中心電位から正又は負のパルス電圧を印加する制御を行う制御部であり、
蓄積された前記イオンが、所定の2つの前記リニア電極間であって、かつ、分割された前記板状電極間の空間を通過して排出されることを特徴とするリニアイオントラップ。 - 前記板状電極の少なくとも1つが、前記中心軸の方向及び/若しくは半径方向に分割され、又は、前記中心軸に向かって曲率を有する形状である請求項10記載のリニアイオントラップ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007019693A JP5258198B2 (ja) | 2007-01-30 | 2007-01-30 | リニアイオントラップ質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007019693A JP5258198B2 (ja) | 2007-01-30 | 2007-01-30 | リニアイオントラップ質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008186730A JP2008186730A (ja) | 2008-08-14 |
JP5258198B2 true JP5258198B2 (ja) | 2013-08-07 |
Family
ID=39729621
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007019693A Active JP5258198B2 (ja) | 2007-01-30 | 2007-01-30 | リニアイオントラップ質量分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5258198B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112703579B (zh) | 2018-06-04 | 2025-01-28 | 印地安纳大学理事会 | 用于高通量电荷检测质谱分析的离子阱阵列 |
WO2019236143A1 (en) | 2018-06-04 | 2019-12-12 | The Trustees Of Indiana University | Apparatus and method for calibrating or resetting a charge detector |
CN112673452B (zh) * | 2018-06-04 | 2024-08-23 | 印地安纳大学理事会 | 用于在静电线性离子阱中捕获离子的设备和方法 |
KR102742962B1 (ko) | 2018-11-20 | 2024-12-16 | 더 트러스티즈 오브 인디애나 유니버시티 | 단일 입자 질량 분석을 위한 오비트랩 |
CA3137876A1 (en) | 2019-04-23 | 2020-10-29 | The Trustees Of Indiana University | Identification of sample subspecies based on particle charge behavior under structural change-inducing sample conditions |
CA3156003A1 (en) | 2019-09-25 | 2021-04-01 | The Trustees Of Indiana University | APPARATUS AND METHOD FOR PERFORMING CHARGE DETECTION MASS SPECTROMETRY IN PULSE MODE |
AU2021216003A1 (en) | 2020-02-03 | 2022-07-14 | The Trustees Of Indiana University | Time-domain analysis of signals for charge detection mass spectrometry |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3495512B2 (ja) * | 1996-07-02 | 2004-02-09 | 株式会社日立製作所 | イオントラップ質量分析装置 |
JP3683761B2 (ja) * | 1999-11-10 | 2005-08-17 | 日本電子株式会社 | 飛行時間型質量分析装置 |
GB2404784B (en) * | 2001-03-23 | 2005-06-22 | Thermo Finnigan Llc | Mass spectrometry method and apparatus |
GB2418775B (en) * | 2003-03-19 | 2008-10-15 | Thermo Finnigan Llc | Obtaining tandem mass spectrometry data for multiple parent ions in an ion population |
JP4659395B2 (ja) * | 2004-06-08 | 2011-03-30 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置及び質量分析方法 |
US7456396B2 (en) * | 2004-08-19 | 2008-11-25 | Thermo Finnigan Llc | Isolating ions in quadrupole ion traps for mass spectrometry |
-
2007
- 2007-01-30 JP JP2007019693A patent/JP5258198B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008186730A (ja) | 2008-08-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5258198B2 (ja) | リニアイオントラップ質量分析装置 | |
EP1367631B1 (en) | Mass spectrometer | |
US8003934B2 (en) | Methods and apparatus for ion sources, ion control and ion measurement for macromolecules | |
JP5455653B2 (ja) | イオンを解離するための化学構造に敏感ではない方法および装置 | |
US10014168B2 (en) | Ion guiding device and ion guiding method | |
US10573504B2 (en) | Orthogonal acceleration time-of-flight mass spectrometry | |
US20230154741A1 (en) | Instrument for separating ions including an electrostatic linear ion trap to simultaneously trap multiple ions | |
US8946623B2 (en) | Introduction of ions into kingdon ion traps | |
GB2477007A (en) | Electrostatic trap mass spectrometer | |
CN103493173A (zh) | 质量分析器和质量分析方法 | |
JP2011119279A (ja) | 質量分析装置およびこれを用いる計測システム | |
US6759652B2 (en) | Ion trap mass analyzing apparatus | |
JPH08507640A (ja) | イオン銃及びこれを使用する質量分析計 | |
JP2023156331A (ja) | 電荷検出器を較正または再設定する装置および方法 | |
KR102740725B1 (ko) | 정전기 선형 이온 트랩에서 이온을 포획하기 위한 장치 및 방법 | |
KR102742958B1 (ko) | 실시간 분석 및 신호 최적화를 통한 전하 검출 질량 분광분석법 | |
JP5922750B2 (ja) | イオン軸方向空間分布の収束方法と装置 | |
EP1796821A2 (en) | Methods and apparatus for controlling ion current in an ion transmission device | |
US20250006483A1 (en) | Method of optimizing geometric and electrostatic parameters of an electrostatic linear ion trap (elit) | |
JP2012084299A (ja) | タンデム型飛行時間型質量分析計 | |
Agarwal et al. | A review on analyzers for mass spectrometry | |
GB2448413A (en) | A mass spectrometer comprising an electrostatic ion trap | |
US7763849B1 (en) | Reflecting ion cyclotron resonance cell | |
US9129790B2 (en) | Orthogonal acceleration TOF with ion guide mode | |
JP2011034981A (ja) | 質量分析装置およびこれを用いる計測システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100125 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20100125 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20100125 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20100224 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20100224 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110615 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110621 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110817 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120223 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120423 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20121108 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130208 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20130218 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130328 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130423 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160502 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 5258198 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |