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JP5227441B2 - Processing equipment - Google Patents

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JP5227441B2
JP5227441B2 JP2011092158A JP2011092158A JP5227441B2 JP 5227441 B2 JP5227441 B2 JP 5227441B2 JP 2011092158 A JP2011092158 A JP 2011092158A JP 2011092158 A JP2011092158 A JP 2011092158A JP 5227441 B2 JP5227441 B2 JP 5227441B2
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processed
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泰昌 岩田
彰彦 中村
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Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
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Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
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Description

本発明は、被処理体の表面に対して処理液を用いた処理を行なう処理装置および処理方法、ならびに該処理に好適に用いられる表面処理治具に関する。   The present invention relates to a processing apparatus and a processing method for performing processing using a processing liquid on the surface of an object to be processed, and a surface processing jig suitably used for the processing.

近年、ICカードや携帯電話の薄型化、小型化、軽量化が要求されており、この要求を満たすためには組み込まれる半導体チップについても薄型の半導体チップとしなければならない。このため半導体チップの基になる半導体ウェハの厚さ(膜厚)は現状では125μm〜150μmであるが、次世代のチップ用には25μm〜50μmにしなければならないと言われている。   In recent years, IC cards and mobile phones have been required to be thinner, smaller, and lighter. In order to satisfy this requirement, a semiconductor chip to be incorporated must be a thin semiconductor chip. For this reason, the thickness (film thickness) of the semiconductor wafer on which the semiconductor chip is based is currently 125 μm to 150 μm, but it is said that it must be 25 μm to 50 μm for the next generation chip.

上記膜厚の半導体ウェハを得る方法の一つとして、以下の薄化方法を挙げることができる。この方法では、まず、半導体ウェハとサポートプレートなどの板材とを、両面に接着層を有するテープまたは接着剤を介して貼り付ける。このサポートプレートは、薄化された半導体ウェハを保護する役割をはたす。ついで、サポートプレートにより保護されている状態で、グラインダーなどにより半導体ウェハの研磨を行なうことにより薄化された半導体ウェハが形成される。最後に、この薄化された半導体ウェハからサポートプレートを剥がす。   As one method for obtaining a semiconductor wafer having the above thickness, the following thinning method can be exemplified. In this method, first, a semiconductor wafer and a plate material such as a support plate are attached via a tape or adhesive having adhesive layers on both sides. The support plate serves to protect the thinned semiconductor wafer. Next, a thinned semiconductor wafer is formed by polishing the semiconductor wafer with a grinder or the like while being protected by the support plate. Finally, the support plate is peeled off from the thinned semiconductor wafer.

しかしながら、上記薄化方法のうち、サポートプレートと半導体ウェハとを接着剤を介して貼り付ける方法を採用する場合、半導体ウェハからサポートプレートを分離した後に接着剤が半導体ウェハに残存してしまうことがある。そのため、接着剤を除去して半導体ウェハの上面を清浄な面にしなくてはならない。ここで、上記薄化された半導体ウェハは、一般的にダイシングフレームに固定されたダイシングテープに貼り付けられた状態にてダイシングされ、個々のチップに分割される。上記薄化された半導体ウェハは、サポートプレートと貼り合わされた状態でダイシングテープに貼り付けられた後、サポートプレートの剥離、そして半導体ウェハ上の接着剤の除去が行われることがある。ダイシングテープを用いる場合、通常、その表面積は半導体ウェハと比して大きいため、半導体ウェハの外周には、ダイシングテープの露出面が位置することとなる。このような半導体ウェハに対して、被処理体を回転させつつ処理液(溶剤)を滴下する方法や、半導体ウェハを浸漬させるという通常の洗浄処理を施すと、ダイシングテープの露出面をもこの処理液で処理してしまうこととなる。つまり、洗浄処理を施したい面は半導体ウェハの表面のみであるにもかかわらず、半導体ウェハの外周に設けられているダイシングテープの露出面にまでも同様の処理が行なわれてしまうのである。このときの処理液の種類によっては、ダイシングテープの劣化が懸念され、それゆえ、ダイシングテープの保護を図りつつ半導体ウェハ上の接着剤を除去する処理方法の開発が望まれている。   However, among the above thinning methods, when the method of attaching the support plate and the semiconductor wafer via the adhesive is employed, the adhesive may remain on the semiconductor wafer after the support plate is separated from the semiconductor wafer. is there. Therefore, the adhesive must be removed to make the upper surface of the semiconductor wafer clean. Here, the thinned semiconductor wafer is generally diced in a state of being attached to a dicing tape fixed to a dicing frame, and divided into individual chips. The thinned semiconductor wafer may be attached to a dicing tape in a state of being attached to a support plate, and then the support plate may be peeled off and the adhesive on the semiconductor wafer may be removed. When a dicing tape is used, since the surface area is usually larger than that of a semiconductor wafer, the exposed surface of the dicing tape is located on the outer periphery of the semiconductor wafer. When such a semiconductor wafer is subjected to a method of dripping a treatment liquid (solvent) while rotating the object to be processed or a normal cleaning process of immersing the semiconductor wafer, the exposed surface of the dicing tape is also treated. It will be treated with liquid. That is, although the surface to be cleaned is only the surface of the semiconductor wafer, the same processing is performed even on the exposed surface of the dicing tape provided on the outer periphery of the semiconductor wafer. Depending on the type of processing liquid at this time, there is a concern about deterioration of the dicing tape, and therefore, it is desired to develop a processing method for removing the adhesive on the semiconductor wafer while protecting the dicing tape.

本発明は、上記問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、被処理面と、被処理面の外周に配置された他の露出面とに、それぞれ別々の処理を施すことができる処理装置および処理方法、ならびに、表面処理治具を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and the object of the present invention is to perform separate processing on the surface to be processed and other exposed surfaces arranged on the outer periphery of the surface to be processed. A processing apparatus, a processing method, and a surface processing jig are provided.

本発明にかかる処理装置は、
第2被処理面と、該第2被処理面の外周に配置された第1被処理面とを含む被処理面を有する被処理体に対して処理を行なう処理装置であって、
前記被処理体を載置する載置部と、
第1被処理面と第2被処理面との略境界に第1処理液を供給する第1供給部と、第2被処理面に第2処理液を供給する第2供給部と、を含む処理治具と、を含むことを特徴としている。
The processing apparatus according to the present invention includes:
A processing apparatus for performing processing on a target object having a target surface including a second target surface and a first target surface disposed on an outer periphery of the second target surface,
A mounting section for mounting the object to be processed;
A first supply unit that supplies the first processing liquid to a substantially boundary between the first processing surface and the second processing surface; and a second supply unit that supplies the second processing liquid to the second processing surface. And a processing jig.

本発明にかかる処理装置は、第1被処理面と第2被処理面との略境界に第1処理液を供給する第1供給部と、第2被処理面に第2処理液を供給する第2供給部とを有する処理治具を含む。上記境界に供給された第1処理液は、第1被処理面を覆うことにより保護する。ここで、第2被処理面に供給される第2処理液は、第1被処理面に達するが、第1被処理面は第1処理液により保護されているため、この第2処理液による第1被処理面に対する影響を低下することができる。つまり、第1被処理面に対する第2処理液の影響を低下させた状態で、第2被処理面に、所望の処理を施すことができる。その結果、本発明にかかる処理装置によれば、別々の処理条件を満たすことが要求される被処理面を複数有する被処理体であっても、各被処理面に対して処理条件を満たす処理を実現し得る処理装置を提供することができる。   A processing apparatus according to the present invention supplies a first processing liquid to a substantially boundary between a first processing surface and a second processing surface, and supplies a second processing liquid to the second processing surface. And a processing jig having a second supply unit. The first processing liquid supplied to the boundary is protected by covering the first surface to be processed. Here, the second processing liquid supplied to the second processing surface reaches the first processing surface, but the first processing surface is protected by the first processing liquid. The influence on the first processed surface can be reduced. That is, desired processing can be performed on the second processing surface in a state where the influence of the second processing liquid on the first processing surface is reduced. As a result, according to the processing apparatus of the present invention, even for a target object having a plurality of processing surfaces that are required to satisfy different processing conditions, processing that satisfies the processing conditions for each processing surface. Can be provided.

なお、本発明において。「略境界」とは、第1被処理面と第2被処理面との境界および境界付近のことをいう。   In the present invention. The “substantially boundary” means the boundary between the first processed surface and the second processed surface and the vicinity of the boundary.

本発明にかかる処理装置において、前記載置部は、前記被処理体を回転させる回転手段を備えることが好ましい。これにより、第1処理液、第2処理液のそれぞれを遠心力により被処理体の外側へ広げることができ、効率よく被処理体を処理することができる。   In the processing apparatus according to the present invention, it is preferable that the placement unit includes a rotation unit that rotates the object to be processed. Thereby, each of a 1st process liquid and a 2nd process liquid can be spread to the outer side of a to-be-processed object with a centrifugal force, and a to-be-processed object can be processed efficiently.

本発明にかかる処理装置において、さらに、前記第2被処理面を処理する予備処理治具を含むことが好ましい。この態様によれば、予備処理を行なうことで、第2被処理面をより清浄な面とすることができる。   The processing apparatus according to the present invention preferably further includes a preliminary processing jig for processing the second processed surface. According to this aspect, the second process surface can be made a cleaner surface by performing the preliminary process.

本発明にかかる処理装置において、前記予備処理治具は、前記第2被処理面に対向する対向面を有し、該対向面と該第2被処理面との間に供給手段から供給された予備処理液を保持して第2被処理面を処理する処理部を備え、この予備処理治具は離間維持手段により第2被処理面に対して離間した状態を維持されていることが好ましい。この態様によれば、第2被処理面と離間された状態を維持しつつ、第2被処理面に対して予備処理液の供給と、供給された予備処理液の回収を行なうことができる予備処理治具を含む。そのため、第2被処理面と、第2被処理面と対向する対向面との間のみに予備処理液を保持することができ、第2被処理面以外に予備処理液が飛散することを抑制した状態で、第2被処理面に予備処理を施すことができる。   In the processing apparatus according to the present invention, the preliminary processing jig has a facing surface facing the second processing surface, and is supplied from a supply means between the facing surface and the second processing surface. It is preferable that a processing unit that holds the preliminary processing liquid and processes the second processing surface is provided, and the preliminary processing jig is maintained in a state of being separated from the second processing surface by the separation maintaining means. According to this aspect, it is possible to supply the preliminary processing liquid to the second processing surface and recover the supplied preliminary processing liquid while maintaining a state of being separated from the second processing surface. Includes processing jig. Therefore, the pretreatment liquid can be held only between the second surface to be processed and the facing surface opposite to the second surface to be processed, and the scattering of the pretreatment liquid to other than the second surface is suppressed. In this state, preliminary processing can be performed on the second processed surface.

本発明にかかる処理方法は、
第2被処理面と、該第2被処理面の外周に配置された第1被処理面とからなる被処理面を有する被処理体に対して処理を行なう処理方法であって、
前記被処理体を回転させ、
前記第1被処理面と前記第2被処理面との略境界に第1処理液を供給しつつ、前記第2被処理面に第2処理液を供給する第1処理工程を含むことを特徴としている。
The processing method according to the present invention includes:
A processing method for performing processing on a target object having a target surface consisting of a second target surface and a first target surface disposed on the outer periphery of the second target surface,
Rotating the object to be processed;
A first processing step of supplying a second processing liquid to the second processing surface while supplying a first processing liquid to a substantially boundary between the first processing surface and the second processing surface; It is said.

そのため、第1処理液は回転による遠心力をうけて境界より外側に拡散し、第1被処理面を覆うことにより保護することとなる。同時に、第2被処理面に供給された第2処理液も滴下された位置から被処理面の全域に拡散することとなる。上記のように第1被処理面は第1処理液により保護されているため、拡散される第2処理液による影響が低下される。このように、本発明にかかる処理方法によれば、別々の処理条件が要求される複数の被処理面を有する被処理体に対して良好な処理を行なうことができる。   Therefore, the first treatment liquid receives a centrifugal force due to rotation, diffuses outside the boundary, and protects the first treatment surface by covering the first treatment surface. At the same time, the second processing liquid supplied to the second processing surface also diffuses from the dropped position to the entire processing surface. As described above, since the first processing surface is protected by the first processing liquid, the influence of the diffused second processing liquid is reduced. Thus, according to the processing method concerning this invention, a favorable process can be performed with respect to the to-be-processed object which has a several to-be-processed surface where separate process conditions are requested | required.

本発明にかかる処理方法において、前記第1処理工程では、前記第1被処理面が第1処理液に覆われた後に、前記第2処理液を前記第2被処理面に供給することが好ましい。この態様によれば、第1被処理面を確実に保護することができる。   In the processing method according to the present invention, in the first processing step, the second processing liquid is preferably supplied to the second processing surface after the first processing surface is covered with the first processing liquid. . According to this aspect, the first surface to be processed can be reliably protected.

本発明にかかる処理方法において、前記第1処理工程では、第2処理液の供給を停止した後に、第3処理液を第2被処理面に供給することが好ましい。この態様によれば、第3処理液として、第2処理液と比して揮発性の高い処理液を用いた場合には、被処理体の乾燥性を高めることができる。   In the processing method according to the present invention, it is preferable that in the first processing step, the third processing liquid is supplied to the second surface to be processed after the supply of the second processing liquid is stopped. According to this aspect, when a processing liquid having higher volatility than the second processing liquid is used as the third processing liquid, it is possible to improve the drying property of the object to be processed.

本発明にかかる処理方法において、前記第1処理工程では、前記第2処理液および/または第3処理液の供給を停止した後に、引き続き被処理体を回転させつつ前記第1処理液の供給を行なうことが好ましい。この態様によれば、第1被処理面の保護を確実に行なうことができる。第2処理液および/または第3処理液は、その供給を停止した後に、第2被処理面上に残存することがある。本態様にかかる処理方法では、第2処理液および/または第3処理液の供給停止後、引き続き第1処理液の供給を行なうことで、上記の残存している各処理液が、第1被処理面に直接付着することを抑制できるのである。   In the treatment method according to the present invention, in the first treatment step, after the supply of the second treatment liquid and / or the third treatment liquid is stopped, the supply of the first treatment liquid is continued while rotating the object to be treated. It is preferable to do so. According to this aspect, the first treated surface can be reliably protected. The second processing liquid and / or the third processing liquid may remain on the second target surface after the supply is stopped. In the processing method according to this aspect, the supply of the first processing liquid is continued after the supply of the second processing liquid and / or the third processing liquid is stopped, so that each of the remaining processing liquids becomes the first target liquid. Direct adhesion to the treated surface can be suppressed.

本発明にかかる処理方法において、前記第1被処理面への前記第1処理液の供給を停止した後、引き続き前記被処理体を回転させることが好ましい。この態様によれば、被処理体を確実に乾燥させることができる。   In the processing method according to the present invention, it is preferable that the processing target is continuously rotated after the supply of the first processing liquid to the first processing surface is stopped. According to this aspect, the object to be processed can be reliably dried.

本発明にかかる処理方法において、前記第1処理工程の前に、前記第2被処理面を予備処理液で処理する予備処理工程を含むことが好ましい。この態様によれば、第2被処理面をより清浄な面とすることができる。   In the treatment method according to the present invention, it is preferable that a pretreatment step of treating the second surface to be treated with a pretreatment liquid is included before the first treatment step. According to this aspect, the second surface to be processed can be made a cleaner surface.

本発明にかかる処理方法において、前記予備処理工程は、
第2被処理面に対して離間して維持され、前記第2被処理面に対向する対向面を有し、該対向面と前記第2被処理面との間に供給された予備処理液を保持して該第2被処理面を処理する処理部を備える表面処理治具を用い、
前記予備処理液を前記表面処理治具に供給するとともに、該表面処理治具に供給された予備処理液を回収しつつ、該予備処理液が表面処理治具から拡散しないようにして第2被処理面を処理することが好ましい。
In the processing method according to the present invention, the preliminary processing step includes:
A pretreatment liquid that is maintained apart from the second surface to be processed and has an opposing surface that faces the second surface to be processed, and is supplied between the opposing surface and the second surface to be processed. Using a surface treatment jig that includes a processing unit that holds and processes the second processed surface,
The pretreatment liquid is supplied to the surface treatment jig, and the pretreatment liquid supplied to the surface treatment jig is recovered while the pretreatment liquid is not diffused from the surface treatment jig. It is preferable to treat the treated surface.

この態様によれば、第1被処理面と比して第2被処理面に対する処理の必要性が高い場合に、予備処理治具を用いて第2被処理面に対して予備処理を行なうことができる。その結果、効率のよい処理を実現することができる。   According to this aspect, when the need for processing on the second processed surface is higher than that on the first processed surface, the preliminary processing is performed on the second processed surface using the preliminary processing jig. Can do. As a result, efficient processing can be realized.

本発明にかかる表面処理治具は、第2被処理面と、該第2被処理面の外周に配置された第1被処理面とを含む被処理面を有する被処理体に対して、処理液で処理を行なう際に用いられる表面処理治具であって、
前記第1被処理面と前記第2被処理面との略境界に、第1処理液を供給する第1供給部と、第2被処理面に第2処理液を供給する第2供給部と、を含むことを特徴としている。
The surface treatment jig according to the present invention treats a target object having a target surface including a second target surface and a first target surface disposed on the outer periphery of the second target surface. A surface treatment jig used when processing with a liquid,
A first supply unit that supplies a first processing liquid to a substantially boundary between the first processing surface and the second processing surface; a second supply unit that supplies a second processing liquid to the second processing surface; It is characterized by including.

本発明に係る表面処理治具は、第1被処理面と第2被処理面との境界に第1処理液を供給する第1供給部と、第2被処理面に第2処理液を供給する第2供給部とを含むことができる。そのため、互いに異なる処理が要求されている第1被処理面と第2被処理面とを有する被処理体に対して良好な処理を行なうことができる。   The surface treatment jig according to the present invention supplies a first treatment liquid to the boundary between the first treatment surface and the second treatment surface, and a second treatment liquid to the second treatment surface. And a second supply unit. Therefore, it is possible to perform a good process on a target object having a first target surface and a second target surface for which different processes are required.

本発明に係る処理装置は、第2被処理面と第2被処理面の外周に配置された第1被処理面とを有する被処理体に対して、第2被処理面と第1被処理面との境界に第1処理液を供給する第1供給部と、第2被処理面に第2処理液を供給する第2供給部とを有する処理治具を有することで、第1被処理面と第2被処理面とで別々の処理を行なうことができる。   The processing apparatus which concerns on this invention is a 2nd to-be-processed surface and a 1st to-be-processed object with respect to the to-be-processed object which has a 2nd to-be-processed surface and the 1st to-be-processed surface arrange | positioned on the outer periphery of a 2nd to-be-processed surface. By having a processing jig having a first supply unit for supplying the first processing liquid to the boundary with the surface and a second supply unit for supplying the second processing liquid to the second processing surface, the first processing target Separate processing can be performed on the surface and the second surface to be processed.

本実施形態にかかる処置装置の要部を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the principal part of the treatment apparatus concerning this embodiment. (a)は、図1のA部をより詳細に示す断面図であり、(b)は、処理治具を示す平面図である。(A) is sectional drawing which shows the A section of FIG. 1 in detail, (b) is a top view which shows a processing jig. (a)は、他の態様にかかる処理治具を詳細に示す断面図であり、(b)は、処理治具を示す平面図である。(A) is sectional drawing which shows the processing jig concerning another aspect in detail, (b) is a top view which shows a processing jig. 本実施形態にかかる処理装置に用いられる予備処理治具をより詳細に示す断面図である。It is sectional drawing which shows the preliminary processing jig used for the processing apparatus concerning this embodiment in detail. (a)は、第1の態様にかかる予備処理治具の平面形状を示す平面図であり、(b)は、第2の態様にかかる予備処理治具の平面形状を示す平面図である。(A) is a top view which shows the planar shape of the pretreatment jig | tool concerning a 1st aspect, (b) is a top view which shows the planar shape of the pretreatment jig | tool concerning a 2nd aspect. 本実施形態にかかる処理装置で処理される被処理体の一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows an example of the to-be-processed object processed with the processing apparatus concerning this embodiment. 本実施形態にかかる処理装置で処理される被処理体の一例を示す平面図である。It is a top view which shows an example of the to-be-processed object processed with the processing apparatus concerning this embodiment.

以下、図面を参照しつつ本発明の実施形態について説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

(処理装置)
まず、本実施形態にかかる処理装置100について図面を参照しつつ説明する。図1は、本実施形態に係る処理装置100の要部を示す断面図であり、図2(a)は、図1のA部をより詳細に示す断面図である。図2(b)は、処理装置100に含まれる処理治具を、被処理体側から平面視したときの平面図である。この実施形態では、被処理体が円形の場合について説明する。
(Processing equipment)
First, the processing apparatus 100 according to the present embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a main part of the processing apparatus 100 according to the present embodiment, and FIG. 2A is a cross-sectional view illustrating a part A of FIG. FIG. 2B is a plan view when the processing jig included in the processing apparatus 100 is viewed from the side of the object to be processed. In this embodiment, a case where the object to be processed is circular will be described.

本実施形態にかかる処理装置100は、第2被処理面18bと、第2被処理面18bの外周に配置された第1被処理面18aとを有する被処理体18を処理対象とする。処理装置100は、被処理体18が載置される載置部10と、処理液にて被処理体18を処理する処理治具20と、を含む。処理治具20は、第1被処理面18aと第2被処理面18bとの略境界に処理液を供給する第1供給部と、第2被処理面18bに第2処理液を供給する第2供給部とを含んでなる。ここで、略境界とは、第1被処理面18bと第2被処理面18aとの境界およびその周囲を意味する。さらに、処理装置100には、載置部10および被処理体18を囲むように洗浄カップ16が設けられている。   The processing apparatus 100 according to the present embodiment treats the target object 18 having the second target surface 18b and the first target surface 18a disposed on the outer periphery of the second target surface 18b. The processing apparatus 100 includes a placement unit 10 on which the target object 18 is placed and a processing jig 20 that processes the target object 18 with a processing liquid. The processing jig 20 includes a first supply unit that supplies a processing liquid to a substantially boundary between the first processing surface 18a and the second processing surface 18b, and a second processing liquid that supplies the second processing liquid to the second processing surface 18b. 2 supply parts. Here, the substantially boundary means the boundary between the first processed surface 18b and the second processed surface 18a and the periphery thereof. Furthermore, the processing apparatus 100 is provided with a cleaning cup 16 so as to surround the placement unit 10 and the target object 18.

載置部10は、被処理体18をたとえば吸引することで保持することができる。また、載置部10は、載置部10の中心を軸として回転可能な回転軸12の上に設けられている。また、回転軸12には、回転軸12を回転させるモーター14が取り付けられている。   The mounting part 10 can hold | maintain the to-be-processed object 18, for example by attracting | sucking. The placement unit 10 is provided on a rotating shaft 12 that can rotate around the center of the placement unit 10. A motor 14 that rotates the rotary shaft 12 is attached to the rotary shaft 12.

処理治具20には、処理治具20に第1処理液を供給する第1供給手段30と、処理治具20に第2処理液を供給する第2供給手段40とが接続されている。第1供給手段30は、第1処理液が保持されたタンク34や、タンク34に接続された供給配管32などとからなり、処理治具20に供給配管32が接続されている。同様に、第2供給手段40は、第2処理液が保持されたタンク44や、タンク44に接続された供給配管42などからなり、処理治具20に供給配管42が接続されている。   Connected to the processing jig 20 are a first supply means 30 for supplying the first processing liquid to the processing jig 20 and a second supply means 40 for supplying the second processing liquid to the processing jig 20. The first supply means 30 includes a tank 34 in which the first processing liquid is held, a supply pipe 32 connected to the tank 34, and the like, and the supply pipe 32 is connected to the processing jig 20. Similarly, the second supply means 40 includes a tank 44 that holds the second processing liquid, a supply pipe 42 connected to the tank 44, and the like, and the supply pipe 42 is connected to the processing jig 20.

次に、処理治具20の具体的な構成について、図2を参照しつつ説明する。図2(a)および図2(b)に示すように、処理治具20は、第1処理液を被処理体18に供給する環状の管22、および第2処理液を被処理体18に供給するノズル46を含む。管22には、供給配管32が接続されている。図2(b)に示すように、管22において、被処理体18と対向する位置に、供給口24が設けられている。この供給口24からは、第1被処理面18aと第2被処理面18bとの略境界に第1処理液が供給される。供給口24としては、管22に設けられた穴、またはノズル(図示せず)であってもよい。図2(b)では、供給口24が管22に設けられた穴である場合を示す。   Next, a specific configuration of the processing jig 20 will be described with reference to FIG. As shown in FIGS. 2A and 2B, the processing jig 20 includes an annular tube 22 that supplies the first processing liquid to the object to be processed 18, and the second processing liquid to the object to be processed 18. A supply nozzle 46 is included. A supply pipe 32 is connected to the pipe 22. As shown in FIG. 2B, a supply port 24 is provided in the tube 22 at a position facing the object 18 to be processed. From the supply port 24, the first processing liquid is supplied to a substantially boundary between the first processing surface 18a and the second processing surface 18b. The supply port 24 may be a hole provided in the tube 22 or a nozzle (not shown). FIG. 2B shows a case where the supply port 24 is a hole provided in the tube 22.

本実施形態における処理治具20では、供給口24が複数設けられている場合を図示している。この供給口24の個数は、第2被処理面18bの大きさにより適宜決定することができる。また、複数の供給口24が設けられている場合には、隣接する供給口24間の距離は、等しいことが好ましい。供給口24が等間隔になるよう設けられていることで、前記境界への第1処理液の供給を均一に行なうことができる。なお、本実施形態で示す処理治具20では、管22の環形状を安定させるために、十字型の支持管26を設けている。本実施形態にかかる処理治具20では、この支持管26の略中心に供給配管32が接続されており、支持管26を通過して、管22に処理液が供給される。   In the processing jig 20 in the present embodiment, a case where a plurality of supply ports 24 are provided is illustrated. The number of the supply ports 24 can be appropriately determined depending on the size of the second processed surface 18b. When a plurality of supply ports 24 are provided, the distance between adjacent supply ports 24 is preferably equal. By providing the supply ports 24 at equal intervals, the first processing liquid can be supplied uniformly to the boundary. In the processing jig 20 shown in the present embodiment, a cross-shaped support tube 26 is provided in order to stabilize the ring shape of the tube 22. In the processing jig 20 according to the present embodiment, a supply pipe 32 is connected to substantially the center of the support pipe 26, and the processing liquid is supplied to the pipe 22 through the support pipe 26.

さらに、ノズル46には、供給配管42が接続されている。このノズル46からは、第2被処理面に第2処理液が供給されるようになっている。ノズル46の位置は、第2被処理面18bの中心に第2処理液を供給できる位置であることが好ましい。これは、第2処理液を第2被処理面18bに均一に広げることができるためである。   Further, a supply pipe 42 is connected to the nozzle 46. From this nozzle 46, the 2nd processing liquid is supplied to the 2nd processed surface. The position of the nozzle 46 is preferably a position where the second processing liquid can be supplied to the center of the second processing target surface 18b. This is because the second processing liquid can be uniformly spread on the second processing surface 18b.

なお、処理治具20は、第1被処理面18aと第2被処理面18bとの略境界に第1処理液を供給できる限り、上記構造に限定されることはない。他の態様にかかる処理治具80の一例を、図3を参照しつつ説明する。図3(a)は、処理治具80を詳細に説明する断面図である。図3(b)は、処理治具80を被処理体18側から平面視した場合の平面図である。   The processing jig 20 is not limited to the above structure as long as the first processing liquid can be supplied to the approximate boundary between the first processing surface 18a and the second processing surface 18b. An example of the processing jig 80 according to another aspect will be described with reference to FIG. FIG. 3A is a cross-sectional view illustrating the processing jig 80 in detail. FIG. 3B is a plan view when the processing jig 80 is viewed in plan from the object 18 side.

図3(a)および図3(b)に示すように、他の態様の処理治具80は、中心部81から放射状に伸びる複数の管82と、ノズル46とを含む。この管82は、供給配管32に接続され、先端にはノズル84が設けられている。このノズル84から、第1処理液が第1被処理面18aと第2被処理面18bとの略境界に供給されるようになっている。なお、図3に示す処理治具80では、管82として、L字型の管を採用している。具体的には、中心部81から第1被処理面18aと第2被処理面18bとの略境界の位置に至るまでは、第2被処理面18bと平行になるよう伸びた管と、略境界の位置から第2被処理面18bに対して直交する方向に伸びた管とが結合した形状を有する。ここで、第2被処理面81bと前記中心部81とはほぼ一致するようになっている。ノズル84の位置は、第1被処理面18aと第2被処理面18bとの境界の位置に応じて適宜決定されることとなる。管82の個数は、第2被処理面18bの大きさにより適宜決定される。なお、第2供給部の構成は、上述した構成と同様とすることができる。   As shown in FIGS. 3A and 3B, the processing jig 80 according to another aspect includes a plurality of pipes 82 extending radially from the central portion 81 and nozzles 46. The pipe 82 is connected to the supply pipe 32, and a nozzle 84 is provided at the tip. From this nozzle 84, the 1st process liquid is supplied to the approximate boundary of the 1st processed surface 18a and the 2nd processed surface 18b. In the processing jig 80 shown in FIG. 3, an L-shaped tube is used as the tube 82. Specifically, from the central portion 81 to the position of the substantially boundary between the first processed surface 18a and the second processed surface 18b, a tube extending in parallel with the second processed surface 18b, It has a shape in which a pipe extending in a direction orthogonal to the second processing surface 18b from the boundary position is coupled. Here, the second processed surface 81b and the central portion 81 are substantially coincident with each other. The position of the nozzle 84 is appropriately determined according to the position of the boundary between the first processed surface 18a and the second processed surface 18b. The number of the tubes 82 is appropriately determined depending on the size of the second processed surface 18b. The configuration of the second supply unit can be the same as the configuration described above.

また、上記処理治具20、80から被処理体に供給される第1処理液の角度は、任意に設定してもよい。この角度は、処理治具における管に供給口、ノズルを設ける位置、および管に供給する第1処理液の圧力を調整することにより調整することができる。   The angle of the first processing liquid supplied from the processing jigs 20 and 80 to the object to be processed may be arbitrarily set. This angle can be adjusted by adjusting the position where the supply port and the nozzle are provided in the tube in the processing jig and the pressure of the first processing liquid supplied to the tube.

本実施形態にかかる処理装置100は、さらに、第2被処理面18bを予備処理する予備処理治具を含むことができる。予備処理治具を含む処理装置110について、図4を参照しつつ説明する。なお、図4は、図1のA部に相当する箇所の断面図である。   The processing apparatus 100 according to the present embodiment can further include a preliminary processing jig for preliminary processing the second processing surface 18b. The processing apparatus 110 including the preliminary processing jig will be described with reference to FIG. 4 is a cross-sectional view of a portion corresponding to part A in FIG.

図4に示すように、処理装置110は、予備処理治具50と、予備処理治具50に予備処理液を供給する供給手段60と、予備処理治具50に供給された予備処理液を回収する回収手段70とを含む。なお、図4では、予備処理治具50と、処理治具20とが組み合わされて構成されている場合を例として説明する。また、予備処理液と第2処理液とを同一の処理液を用いる場合、予備処理治具50への供給手段60として、上述の第2供給手段40を用いることが好ましい。以下の説明では、予備処理液が、第2処理液と同一である場合を例として説明する。そのため、供給手段60についての説明はここでは省略する。なお、第2処理液と予備処理液とが異なる場合、供給手段60は、第2供給手段40と同じ構成であってよい。   As shown in FIG. 4, the processing apparatus 110 collects the preliminary processing jig 50, the supply means 60 for supplying the preliminary processing liquid to the preliminary processing jig 50, and the preliminary processing liquid supplied to the preliminary processing jig 50. And collecting means 70. In FIG. 4, a case where the preliminary processing jig 50 and the processing jig 20 are combined is described as an example. When the same processing liquid is used for the preliminary processing liquid and the second processing liquid, it is preferable to use the above-described second supply means 40 as the supply means 60 to the preliminary processing jig 50. In the following description, a case where the pretreatment liquid is the same as the second treatment liquid will be described as an example. Therefore, the description about the supply means 60 is abbreviate | omitted here. When the second processing liquid and the preliminary processing liquid are different, the supply unit 60 may have the same configuration as the second supply unit 40.

回収手段70は、予備処理治具50から予備処理液を吸引するポンプ(図示せず)および回収した予備処理液を貯留するタンク(図示せず)などを含んでいる。そして、回収手段70は、回収配管72により予備処理治具50に接続されている。   The recovery means 70 includes a pump (not shown) for sucking the pretreatment liquid from the pretreatment jig 50, a tank (not shown) for storing the collected pretreatment liquid, and the like. The recovery means 70 is connected to the preliminary processing jig 50 by a recovery pipe 72.

また、上記予備処理治具50を有する処理装置110は、予備処理治具50を被処理体18と離間した状態を維持する離間維持手段76を含む。   The processing apparatus 110 having the preliminary processing jig 50 includes a separation maintaining unit 76 that maintains the preliminary processing jig 50 in a state of being separated from the workpiece 18.

以下に、予備処理治具50が具体的構成について説明する。予備処理治具50は、供給された予備処理液を保持し、被処理面18bを処理するための処理部52を有している。この処理部52は、予備処理治具50が際に、被処理面18aに対向する対向面52aを有する。つまり、上記予備処理治具50によれば、処理部52と対向面52aとの間に、予備処理液を保持することができる。   Hereinafter, the specific configuration of the pretreatment jig 50 will be described. The preliminary processing jig 50 has a processing section 52 for holding the supplied preliminary processing liquid and processing the surface to be processed 18b. The processing unit 52 has a facing surface 52a that faces the surface to be processed 18a when the preliminary processing jig 50 is located. That is, according to the preliminary processing jig 50, the preliminary processing liquid can be held between the processing unit 52 and the facing surface 52a.

処理部52には、第1貫通孔56および第2貫通孔58が設けられている。第1貫通孔56は、予備処理液を処理部52に供給するための孔であり、第2貫通孔58は、供給された予備処理液を回収するための孔である。このように、予備処理治具50は、第2被処理面18bに処理液を供給すると同時に、供給された処理液を回収することができる。そのため、対向面52aと第2被処理面18bとの間に、予備処理液が保持されることとなる。その結果、第2被処理面18b以外に予備処理液が飛散することが抑制された状態で第2被処理面18bの予備処理を行なうことができるのである。   The processing unit 52 is provided with a first through hole 56 and a second through hole 58. The first through hole 56 is a hole for supplying the pretreatment liquid to the processing unit 52, and the second through hole 58 is a hole for recovering the supplied pretreatment liquid. As described above, the preliminary processing jig 50 can collect the supplied processing liquid at the same time as supplying the processing liquid to the second processing surface 18b. Therefore, the preliminary processing liquid is held between the facing surface 52a and the second processing surface 18b. As a result, the pretreatment of the second surface to be treated 18b can be performed in a state where the pretreatment liquid is suppressed from being scattered other than the second surface to be treated 18b.

なお、第1貫通孔56と第2貫通孔58の個数、配置については、被処理体に応じて適宜決定することができる。第1貫通孔56および第2貫通孔58の平面形状は、円形、楕円形または矩形であることができ、処理液の流れを妨げない限り特に制限されることはない。このことは、第1貫通孔56および第2貫通孔58の開口径、数についても同様である。   In addition, the number and arrangement of the first through holes 56 and the second through holes 58 can be appropriately determined according to the object to be processed. The planar shapes of the first through hole 56 and the second through hole 58 can be circular, elliptical, or rectangular, and are not particularly limited as long as they do not hinder the flow of the processing liquid. The same applies to the opening diameters and the numbers of the first through holes 56 and the second through holes 58.

さらに、前記処理部52は、対向面52aから被処理体18に向かって突出する突出部54を備えることが好ましい。突出部54は、対向面52aの周縁に設けられていることが好ましい。処理部52は、突出部54を備えることにより、供給された処理液を被処理面18bとの間により確実に保持することができる。処理液の保持は、処理液の表面張力を利用して行われる。   Furthermore, it is preferable that the processing unit 52 includes a protruding portion 54 that protrudes from the facing surface 52a toward the object 18 to be processed. The protrusion 54 is preferably provided on the periphery of the facing surface 52a. The processing unit 52 includes the protrusion 54, so that the supplied processing liquid can be reliably held between the processing surface 18b. The treatment liquid is retained by utilizing the surface tension of the treatment liquid.

離間維持手段76は、表面処理治具50と被処理面18bとの距離を所定の距離に維持することにより、前記処理部52に、処理液を保持することができるようになっている。また、離間維持手段76は、表面処理治具50を、被処理面18bと平行な方向および被処理面18bに対して上下の方向に移動させることを可能とする機構を備えていてもよい。離間維持手段76は、具体的には、表面処理治具50を保持するアームなどにより実現することができる。   The separation maintaining means 76 can hold the processing liquid in the processing section 52 by maintaining the distance between the surface processing jig 50 and the surface 18b to be processed at a predetermined distance. Further, the separation maintaining means 76 may include a mechanism that allows the surface treatment jig 50 to move in a direction parallel to the surface to be processed 18b and in a vertical direction with respect to the surface to be processed 18b. Specifically, the separation maintaining means 76 can be realized by an arm or the like that holds the surface treatment jig 50.

また、突出部54の対向面52a、第2被処理面18bと対向する面は、平面である場合、離間維持手段56により突出部24と第2被処理面18bとの距離が、0.5mm以上、3mm以下に維持されることが好ましく、0.5〜1.5mmの範囲であることがより好ましい。なお、突出部24と被処理面18aとの距離は接触しない範囲で限りなく0mmに近づいてもよい。これにより、予備処理液を確実に保持することができる。   In addition, when the facing surface 52a of the protruding portion 54 and the surface facing the second processed surface 18b are flat surfaces, the distance between the protruding portion 24 and the second processed surface 18b is 0.5 mm by the separation maintaining means 56. As described above, it is preferably maintained at 3 mm or less, and more preferably in the range of 0.5 to 1.5 mm. In addition, the distance between the protrusion 24 and the surface to be processed 18a may be as close to 0 mm as long as it does not contact. As a result, the pretreatment liquid can be reliably held.

上記予備処理治具50における処理部52が処理することができる面積は、第2被処理面18bの面積と比して小さいことが好ましい。ここで、予備処理治具50の平面形状の二例について、図5を参照しつつ説明する。この平面形状は、予備処理治具50において処理部52が処理することができる面の形状にほぼ一致する。なお、図5では、処理治具20の図示は省略する。図5(a)は、第2被処理面18bの上方に配置された第1の態様にかかる予備処理治具50aを示す平面図であり、図5(b)は、第2の態様にかかる予備処理治具50bを示す平面図である。   The area that can be processed by the processing section 52 in the preliminary processing jig 50 is preferably smaller than the area of the second processing surface 18b. Here, two examples of the planar shape of the pretreatment jig 50 will be described with reference to FIG. This planar shape substantially matches the shape of the surface that can be processed by the processing unit 52 in the preliminary processing jig 50. In FIG. 5, the processing jig 20 is not shown. Fig.5 (a) is a top view which shows the pretreatment jig | tool 50a concerning the 1st aspect arrange | positioned above the 2nd to-be-processed surface 18b, FIG.5 (b) concerns on a 2nd aspect. It is a top view which shows the pretreatment jig | tool 50b.

図5(a)に示すように、第1の態様にかかる予備処理治具50aは、円形の平面形状を有する。予備処理治具50aには、第1貫通孔56と、第2貫通孔58とが設けられている。第1貫通孔56を通じて、予備処理治具50の処理部への処理液の供給が行われ、第2貫通孔58を通じて供給された処理液の回収が行なわれる。このとき、この予備処理治具50aは、第2被処理面18bが円形状である場合に用いることが好ましい。そして、この予備処理治具50aを離間維持手段76により、第2被処理面18bの略中心から第2被処理面18bに対して平行に移動させることにより第2被処理面18bを処理することができる。また、矢印が示す方向に被処理体18を回転させることにより、第2被処理面18b全体を容易に処理することができる。   As shown in FIG. 5A, the pretreatment jig 50a according to the first aspect has a circular planar shape. The pretreatment jig 50a is provided with a first through hole 56 and a second through hole 58. The processing liquid is supplied to the processing portion of the preliminary processing jig 50 through the first through hole 56, and the processing liquid supplied through the second through hole 58 is recovered. At this time, the pretreatment jig 50a is preferably used when the second surface to be treated 18b has a circular shape. Then, the second processing surface 18b is processed by moving the preliminary processing jig 50a from the approximate center of the second processing surface 18b in parallel to the second processing surface 18b by the separation maintaining means 76. Can do. Further, by rotating the object 18 in the direction indicated by the arrow, the entire second object surface 18b can be easily processed.

図5(b)に示すように、第2の態様にかかる予備処理治具50bは、長方形状であって、その角が丸まっている平面形状を有する。第2の態様にかかる予備処理治具50bには、第1の態様にかかる予備処理治具50aと同様の機能を有する第1貫通孔56と第2貫通孔58とが設けられている。図5(b)に示すように、第2被処理面18bが円形である場合には、予備処理治具50bの平面形状における長手方向の長さが、第2被処理面18bの半径と略同一であることが好ましい。この場合には、たとえば、矢印が示す方向に被処理体を回転させつつ処理を行なうことで、第2被処理面18bの全域に処理を施すことができる。   As shown in FIG. 5B, the pretreatment jig 50b according to the second aspect is rectangular and has a planar shape with rounded corners. The pretreatment jig 50b according to the second aspect is provided with a first through hole 56 and a second through hole 58 having functions similar to those of the pretreatment jig 50a according to the first aspect. As shown in FIG. 5B, when the second processing surface 18b is circular, the length in the longitudinal direction of the planar shape of the preliminary processing jig 50b is substantially equal to the radius of the second processing surface 18b. It is preferable that they are the same. In this case, for example, by performing the processing while rotating the object to be processed in the direction indicated by the arrow, the entire surface of the second processed surface 18b can be processed.

予備処理治具50としては、第2被処理面18bに対する予備処理液の供給と、供給された予備処理液の回収を行い、予備処理治具50と第2被処理面18bとの間に処理液を保持できる限り、図5に示した形状に限定されることはなく、例えば矩形であってもよい。同様に、第1貫通孔56および第2貫通孔58の開口形状、開口径、個数、配置は、予備処理液の流れを妨げない限り、いずれも図5に示したものに限定されない。   As the pretreatment jig 50, the pretreatment liquid is supplied to the second surface to be treated 18b and the supplied pretreatment liquid is collected, and the treatment is performed between the pretreatment jig 50 and the second surface to be treated 18b. As long as the liquid can be retained, the shape is not limited to the shape shown in FIG. Similarly, the opening shape, opening diameter, number, and arrangement of the first through hole 56 and the second through hole 58 are not limited to those shown in FIG. 5 as long as they do not hinder the flow of the pretreatment liquid.

なお、上記処理装置110においては、第2処理液を予備処理治具50の第2貫通孔58aから第2被処理面に供給するようにしてもよく、これにより処理装置をコンパクトにすることができる。   In the processing apparatus 110, the second processing liquid may be supplied to the second surface to be processed from the second through hole 58a of the preliminary processing jig 50, thereby making the processing apparatus compact. it can.

本実施形態にかかる処理装置100は、第1被処理面18aと、第2被処理面18bとの略境界に第1処理液を供給する第1供給部と、第2被処理面18bに第2処理液を供給する第2供給部とを有する処理治具20を含む。上記境界に供給された第1処理液は、第1被処理面18aを覆うことにより保護する。ここで、第2被処理面18bに供給される第2処理液は、第1被処理面18aに達するが、第1被処理面18aは第1処理液により保護されているため、この第2処理液による第1被処理面18aに対する影響を低下することができる。その結果、本実施形態にかかる処理装置100によれば、別々の処理条件を満たすことが要求される第1被処理面18aと第2被処理面18bとを有する被処理体18であっても、各被処理面に要求される処理条件を満たす処理を実現し得る。また、被処理体18を回転させることができるため、その遠心力により第1処理液および第2処理液を被処理体18の外側へ広げることができ、効率よく被処理体18を処理することができる。   The processing apparatus 100 according to the present embodiment includes a first supply unit that supplies a first processing liquid to a substantially boundary between the first processing surface 18a and the second processing surface 18b, and a second processing surface 18b. 2 includes a processing jig 20 having a second supply part for supplying the processing liquid. The first processing liquid supplied to the boundary is protected by covering the first processing surface 18a. Here, the second processing liquid supplied to the second processing surface 18b reaches the first processing surface 18a. However, since the first processing surface 18a is protected by the first processing liquid, The influence with respect to the 1st to-be-processed surface 18a by a process liquid can be reduced. As a result, according to the processing apparatus 100 according to the present embodiment, even the processing target 18 having the first processing surface 18a and the second processing surface 18b that are required to satisfy different processing conditions. Thus, it is possible to realize processing satisfying the processing conditions required for each surface to be processed. Moreover, since the to-be-processed object 18 can be rotated, the 1st process liquid and the 2nd process liquid can be spread outside the to-be-processed body 18 with the centrifugal force, and the to-be-processed object 18 is processed efficiently. Can do.

また、処理装置110は、第2被処理面18bを処理することができる予備処理治具50を備える。この場合には、予備処理治具50を用いて第2被処理面18bの予備処理を行なうことができる。その結果、効率のよい処理を実現することができる。   In addition, the processing apparatus 110 includes a preliminary processing jig 50 that can process the second processed surface 18b. In this case, the preliminary processing of the second processed surface 18b can be performed using the preliminary processing jig 50. As a result, efficient processing can be realized.

(処理方法)
次に、本実施形態にかかる処理方法について説明する。なお、以下の説明では、上述の処理装置を用いて、本実施形態にかかる処理方法を行なう場合を説明するが、この処理装置に限定されることはない。
(Processing method)
Next, a processing method according to the present embodiment will be described. In the following description, a case where the processing method according to the present embodiment is performed using the above-described processing apparatus will be described, but the present invention is not limited to this processing apparatus.

本実施形態にかかる処理方法により好適に処理される被処理体は、円形の第2被処理面18bと第2被処理面18bの外周に配置された第1被処理面18aとからなる被処理面を有する。本実施形態にかかる処理では、まず、被処理体18を載置部10に配置する。載置部10には、吸引機構が設けられており、被処理体18を保持することができる。本実施形態にかかる処理では、2工程に分けた処理を行なう場合を例として説明する。   An object to be processed that is preferably processed by the processing method according to the present embodiment includes a circular second processed surface 18b and a first processed surface 18a disposed on the outer periphery of the second processed surface 18b. Has a surface. In the process according to the present embodiment, first, the object 18 is placed on the placement unit 10. The placement unit 10 is provided with a suction mechanism and can hold the object 18 to be processed. In the processing according to this embodiment, a case where processing divided into two steps is performed will be described as an example.

(a)予備処理工程
本実施形態にかかる処理方法では、まず、第2被処理面18bに対して予備処理を行なう。この予備処理は、上述の予備処理治具50を用いて行なわれることが好ましい。まず、離間維持手段76により予備処理治具50を被処理体18の上方に離間して配置し、所定の距離に維持する。このとき、予備処理治具50の処理部52と、第2被処理面18bとの距離は、たとえば、3mm以下であるように維持されていることが好ましい。これにより、処理液を予備処理治具50の対向面52aとの間に、処理液を保持することが容易となる。
(A) Preliminary processing step In the processing method according to this embodiment, first, preliminary processing is performed on the second surface to be processed 18b. This pretreatment is preferably performed using the pretreatment jig 50 described above. First, the pretreatment jig 50 is spaced apart from the workpiece 18 by the separation maintaining means 76 and maintained at a predetermined distance. At this time, it is preferable that the distance between the processing portion 52 of the preliminary processing jig 50 and the second processed surface 18b is maintained to be, for example, 3 mm or less. Thereby, it becomes easy to hold | maintain a processing liquid between the opposing surfaces 52a of the preliminary processing jig 50. FIG.

次に、処理液の供給手段60から予備処理治具50(処理部52)に処理液を供給する。この処理液の供給では、予備処理治具50の第1貫通孔56を通じて、予備処理液が供給されることとなる。予備処理液の供給と共に、供給された予備処理液の回収が回収手段70により行われる(以下、「供給・回収処理」と称する)。この予備処理液の回収は、予備処理治具50の第2貫通孔58を介して回収配管側に吸引することで行われる。そして、第2被処理面18bと、予備処理治具50との間で生じる予備処理液の表面張力を利用して、処理液を保持することができる。なお、上記供給・回収処理における処理液の供給量および回収量は、上記表面張力を保ち、表面処理治具20から処理液が拡散しなければよく、例えばほぼ同じ量等に調整すればよい。   Next, the processing liquid is supplied from the processing liquid supply means 60 to the preliminary processing jig 50 (processing section 52). In the supply of the processing liquid, the preliminary processing liquid is supplied through the first through hole 56 of the preliminary processing jig 50. Along with the supply of the preliminary processing liquid, the recovered preliminary processing liquid is recovered by the recovery means 70 (hereinafter referred to as “supply / recovery processing”). The recovery of the preliminary processing liquid is performed by suctioning the recovery processing pipe 50 through the second through hole 58 of the preliminary processing jig 50. The processing liquid can be held by utilizing the surface tension of the preliminary processing liquid generated between the second surface to be processed 18 b and the preliminary processing jig 50. Note that the supply amount and the recovery amount of the processing liquid in the supply / recovery process may be adjusted to, for example, substantially the same amount as long as the surface tension is maintained and the processing liquid does not diffuse from the surface processing jig 20.

この処理液の供給・回収処理は、予備処理治具50を第2被処理面18bに対して平行に移動させながら行なうことができる。このとき、予備処理治具50を第2被処理面18bの略中心から外縁に向かって移動させることが好ましい。このように、予備処理治具50を移動させることで、予備処理治具50の処理部52の処理面が、第2被処理面18bと比して小さい場合であっても、第2被処理面18bの全域に処理を施すことができる。   The supply / recovery processing of the processing liquid can be performed while moving the preliminary processing jig 50 in parallel with the second processing surface 18b. At this time, it is preferable to move the preliminary processing jig 50 from the approximate center of the second processed surface 18b toward the outer edge. Thus, even if the processing surface of the processing unit 52 of the preliminary processing jig 50 is smaller than the second processing surface 18b by moving the preliminary processing jig 50, the second processing target is processed. Processing can be applied to the entire surface 18b.

さらに、被処理体18を、その表面の略中心を通る垂線を軸として回転させつつ、供給・回収処理を行なってもよい。この場合、被処理体18の回転速度は、10rpm以上、100rpm以下であることが好ましい。上記範囲内であれば、処理部22と第2被処理面18bとの間に予備処理液を保持することができるため、第2被処理面18b以外の領域に予備処理液が拡散することを抑制できる。また、被処理体18を回転させることで予備処理のスピードを高め、効率化を図ることもできる。この予備処理工程は、第2被処理面18bが第1被処理面18aと比して、特に処理に必要性が求められている場合に有効である。なお、この予備処理工程は、最終処理工程のみで十分な場合には、行なわなくてもよい。   Further, the supply / recovery process may be performed while rotating the object 18 about a vertical line passing through the approximate center of the surface. In this case, the rotational speed of the workpiece 18 is preferably 10 rpm or more and 100 rpm or less. If it is within the above range, the preliminary processing liquid can be held between the processing unit 22 and the second processed surface 18b, so that the preliminary processing liquid diffuses to a region other than the second processed surface 18b. Can be suppressed. Further, by rotating the object 18 to be processed, it is possible to increase the speed of the preliminary processing and increase the efficiency. This preliminary processing step is effective when the second processed surface 18b is particularly required for processing as compared with the first processed surface 18a. This preliminary processing step may not be performed when only the final processing step is sufficient.

さらに、上記予備処理工程の後には、被処理体に残存する予備処理液を吸引する吸引工程を追加してもよい。この吸引工程は、例えばノズルをポンプ等で吸引する構成で対応することができる。   Furthermore, after the pretreatment step, a suction step for sucking the pretreatment liquid remaining on the object to be processed may be added. This suction step can be handled by, for example, a configuration in which the nozzle is sucked by a pump or the like.

(b)最終処理工程
次に、予備処理工程を終えた被処理体18に対して、仕上げの処理である最終処理を施す。この最終処理工程は、処理治具20で行うことができる。最終処理工程では、第1被処理面18aが第1処理液により覆われた状態で、第2被処理面18bに対して第2処理液を用いた処理が行われる。具体的には、被処理体18を回転させ、第1被処理面18aと、第2被処理面18bとの略境界に第1処理液を供給しつつ、第2被処理面18bに対して第2処理液を供給する。以下、第1被処理面18aと第2被処理面18bとの略境界に対して第1処理液を供給することを「第1供給」と称し、第2処理面に対して第2処理液を供給することを、「第2供給」と称する。
(B) Final processing step Next, the final processing, which is a finishing process, is performed on the workpiece 18 that has finished the preliminary processing step. This final processing step can be performed by the processing jig 20. In the final processing step, the processing using the second processing liquid is performed on the second processing surface 18b in a state where the first processing surface 18a is covered with the first processing liquid. Specifically, the object to be processed 18 is rotated to supply the first processing liquid to the substantially boundary between the first surface to be processed 18a and the second surface to be processed 18b, and to the second surface to be processed 18b. A second treatment liquid is supplied. Hereinafter, supplying the first processing liquid to the substantially boundary between the first processing surface 18a and the second processing surface 18b is referred to as "first supply", and the second processing liquid is supplied to the second processing surface. Is referred to as “second supply”.

第1供給では、第1処理液は被処理体18の回転による遠心力を受けて境界から外側、つまり、第1被処理面18aの全面に広がる。その結果、第1被処理面18aを、第1処理液で覆うことができる。つまり、第1被処理面18aは、第1処理液からなる膜に覆われることとなる。一方、第2供給では、第2被処理面18bに供給された第2処理液が、被処理体18の回転による遠心力のため、供給された位置から外側へと拡散し、第1被処理面18aの上にまで拡散する。しかしながら、第1被処理面18aは、第1処理液に覆われているため、第2処理液が第1被処理面18aに直接接触することが防止され、第2処理液による劣化等の影響が低下することとなる。   In the first supply, the first processing liquid receives a centrifugal force generated by the rotation of the object to be processed 18 and spreads outward from the boundary, that is, the entire surface to be processed 18a. As a result, the first processing surface 18a can be covered with the first processing liquid. That is, the first processing surface 18a is covered with the film made of the first processing liquid. On the other hand, in the second supply, the second processing liquid supplied to the second processing surface 18b diffuses outward from the supplied position due to the centrifugal force generated by the rotation of the processing target 18, and the first processing target. It diffuses over the surface 18a. However, since the first processing surface 18a is covered with the first processing liquid, the second processing liquid is prevented from coming into direct contact with the first processing surface 18a, and the deterioration due to the second processing liquid is affected. Will be reduced.

この最終処理工程では、第1供給を行ない、第1被処理面18aが第1処理液に覆われた後に、第2供給を行なうことが好ましい。これにより、第1被処理面を確実に保護することができる。   In this final processing step, it is preferable to perform the first supply and perform the second supply after the first surface to be processed 18a is covered with the first processing liquid. Thereby, a 1st to-be-processed surface can be protected reliably.

また、最終処理工程では、第2供給を終了した後に、第1供給を終了することが好ましい。より好ましくは、第2供給を終了した後に、第2被処理面18b上に残存している第2処理液を除去し、その後に第1供給を終了することが好ましい。上記第2処理液の除去は、例えば被処理体を回転させ、遠心力により被処理体から拡散させ、振り切ることにより行うことができる。この態様によれば、第1供給を引き続き行っているため、第1被処理面18aが第1処理液により保護され、第2被処理面18b上に残存する第2処理液が第1被処理面に与える影響を低下させることができる。第2処理液の材料によっては、第1被処理面18aの劣化が引き起こされるが、この劣化を防止することができる。   In the final processing step, it is preferable to end the first supply after the second supply is completed. More preferably, after the second supply is finished, it is preferable to remove the second treatment liquid remaining on the second surface to be treated 18b and then finish the first supply. The removal of the second treatment liquid can be performed, for example, by rotating the object to be treated, diffusing from the object to be treated by centrifugal force, and shaking off. According to this aspect, since the first supply is continuously performed, the first processing surface 18a is protected by the first processing liquid, and the second processing liquid remaining on the second processing surface 18b is the first processing target. The influence on the surface can be reduced. Depending on the material of the second treatment liquid, the first treated surface 18a may be deteriorated, but this deterioration can be prevented.

また、最終処理工程では、第2供給を停止した後、第1供給を終了する前に、第2被処理面18bに第2処理液とは異なる第3処理液を供給し、第2被処理面18bを処理してもよい。例えば、第3処理液として第2処理液と比して揮発性の高い処理液を用いる場合には、被処理体の乾燥を促進することができ好ましい。さらに、すべての処理液の供給を停止した後に、引き続き被処理体を回転させることが好ましい。これにより、被処理体18の乾燥を効率よく行なうことができる。   In the final processing step, after the second supply is stopped and before the first supply is finished, a third processing liquid different from the second processing liquid is supplied to the second processing surface 18b, so that the second processing target is processed. The surface 18b may be processed. For example, when a treatment liquid having higher volatility than the second treatment liquid is used as the third treatment liquid, it is preferable because drying of the object to be treated can be promoted. Furthermore, it is preferable that the object to be processed is continuously rotated after the supply of all the processing liquids is stopped. Thereby, the to-be-processed object 18 can be dried efficiently.

第1処理液および第2処理液としては互いに溶解しえない処理液を用いてもよいし、溶解しえる処理液を用いてもよい。互いに溶解しえない処理液を用いる場合には、第2処理液は、第1処理液からなる膜の上を伝って被処理体の外側に拡散し、第1被処理面18aへの損傷等の影響を抑制することができる。他方、溶解しえる処理液を用いる場合には、第1被処理面18a上で第2供給液が第1供給液により希釈されることとなる。この希釈により、第1被処理面18aに対する第2処理液の影響を低下させることができる。以上の工程により、本実施形態にかかる処理方法により被処理体18を処理することができる。   As the first treatment liquid and the second treatment liquid, a treatment liquid that cannot dissolve each other may be used, or a treatment liquid that can be dissolved may be used. In the case of using treatment liquids that cannot dissolve each other, the second treatment liquid travels on the film made of the first treatment liquid and diffuses to the outside of the object to be treated, causing damage to the first treatment surface 18a, etc. The influence of can be suppressed. On the other hand, when a processing solution that can be dissolved is used, the second supply liquid is diluted with the first supply liquid on the first surface to be processed 18a. By this dilution, it is possible to reduce the influence of the second processing liquid on the first surface to be processed 18a. Through the above steps, the object 18 can be processed by the processing method according to the present embodiment.

本実施形態にかかる処理方法では、別々の処理条件が要求される複数の被処理面(第1被処理面18aおよび第2被処理面18b)を有する被処理体18に対して良好な処理を行なうことができる。   In the processing method according to this embodiment, good processing is performed on the target object 18 having a plurality of target surfaces (first target surface 18a and second target surface 18b) that require different processing conditions. Can be done.

次に、本実施形態にかかる処理方法により特に良好に処理される被処理体の例について説明する。なお、被処理体18は、以下に例示する被処理体に限定されないことは言うまでもない。   Next, an example of an object to be processed that is particularly well processed by the processing method according to the present embodiment will be described. Needless to say, the object 18 is not limited to the object illustrated below.

本実施形態にかかる処理方法により良好に処理される被処理体18は、支持体であるダイシングテープの上に設けられ、薄化された半導体ウェハである。このように薄化された半導体ウェハは、その薄化プロセスにおいて、半導体ウェハの表面に接着剤が残存することがある。このような半導体ウェハの接着剤の除去処理において、本実施形態にかかる処理装置を用いることができるのである。   The object 18 to be processed satisfactorily by the processing method according to the present embodiment is a thinned semiconductor wafer provided on a dicing tape as a support. In such a thinned semiconductor wafer, an adhesive may remain on the surface of the semiconductor wafer in the thinning process. In such a semiconductor wafer adhesive removal process, the processing apparatus according to this embodiment can be used.

以下の説明では、まず、半導体ウェハの薄化プロセスについて図6、図7を参照しつつ説明した後、本実施形態にかかる処理方法を用いる利点について説明する。図6(a)〜図6(d)は、半導体ウェハの薄化プロセスを説明する断面図である。図7は、薄化プロセスにより形成された被処理体18の平面図を示す。ここでは、孔有りサポートプレート90を用いた例について説明する。   In the following description, first, the thinning process of a semiconductor wafer will be described with reference to FIGS. 6 and 7, and then the advantages of using the processing method according to the present embodiment will be described. FIG. 6A to FIG. 6D are cross-sectional views illustrating a semiconductor wafer thinning process. FIG. 7 shows a plan view of the object 18 formed by the thinning process. Here, the example using the support plate 90 with a hole is demonstrated.

まず、図6(a)に示すように、接着剤92を介して、サポートプレート90と、半導体ウェハ94aとを貼り付ける。この半導体ウェハ94aは、薄化する前のものである。ついで、図6(b)に示すように、半導体ウェハ94aを研磨し、薄膜の半導体ウェハ94を形成する。半導体ウェハ94aの研磨は、各種公知の技術により行なうことができる。ついで、図6(c)に示すように、半導体ウェハ94の接着剤92と接していない面をダイシングテープ(支持体)96と貼り合わせる。このとき、ダイシングテープ96は、剥離された後における半導体ウェハ94の強度を補填し、取り扱いを容易にする役割を果たす。なお、ダイシングテープ96の周囲には、ダイシングフレーム(固定具)98が設けられている。このダイシングフレーム98は、ダイシングテープ96の弛みを防止する。その後、サポートプレート90の孔から接着剤92を溶かす溶剤を供給し、接着剤92を溶かした後に、サポートプレート90を除去する。このとき、接着剤92は、完全に除去されず半導体ウェハ94上に残存することとなる。図6(d)に示すように、残存した接着剤92を残存接着剤93として示す。このように、残存接着剤93を有する半導体ウェハ94とダイシングテープ96との積層体が被処理体18に相当することとなる。   First, as shown in FIG. 6A, a support plate 90 and a semiconductor wafer 94a are attached via an adhesive 92. This semiconductor wafer 94a is before thinning. Next, as shown in FIG. 6B, the semiconductor wafer 94a is polished to form a thin-film semiconductor wafer 94. Polishing of the semiconductor wafer 94a can be performed by various known techniques. Next, as shown in FIG. 6C, the surface of the semiconductor wafer 94 that is not in contact with the adhesive 92 is bonded to a dicing tape (support) 96. At this time, the dicing tape 96 plays a role of making up the strength of the semiconductor wafer 94 after being peeled and facilitating handling. A dicing frame (fixing tool) 98 is provided around the dicing tape 96. The dicing frame 98 prevents the dicing tape 96 from loosening. Thereafter, a solvent for dissolving the adhesive 92 is supplied from the hole of the support plate 90, and after the adhesive 92 is dissolved, the support plate 90 is removed. At this time, the adhesive 92 is not completely removed and remains on the semiconductor wafer 94. As shown in FIG. 6D, the remaining adhesive 92 is shown as the remaining adhesive 93. As described above, the laminated body of the semiconductor wafer 94 having the residual adhesive 93 and the dicing tape 96 corresponds to the object to be processed 18.

図7に、このように形成された被処理体18の平面図を示す。図7に示されるように、残存接着剤93が設けられた半導体ウェハ94が第2被処理面18bに相当し、半導体ウェハ94の外周に配置されたダイシングテープ96が第1被処理面18aに相当する。   In FIG. 7, the top view of the to-be-processed object 18 formed in this way is shown. As shown in FIG. 7, the semiconductor wafer 94 provided with the remaining adhesive 93 corresponds to the second processed surface 18b, and the dicing tape 96 disposed on the outer periphery of the semiconductor wafer 94 is formed on the first processed surface 18a. Equivalent to.

半導体ウェハ94の外周に配置されているダイシングテープ96は、残存接着剤93の除去に用いられる溶剤(処理液)が付着することで、劣化してしまうことがある。ダイシングテープ96の劣化は、その弛みを引き起こす。そして、ダイシングテープ96の弛みは、薄化され強度が低下している半導体ウェハ94の割れを引き起こすことがある。そのため、ダイシングテープ96を劣化させることなく、半導体ウェハ94上の残存接着剤93を除去する必要がある。つまり、同一の処理を施すことができない複数の被処理面を有する被処理体に対して、処理を行なわなくてはならないのである。   The dicing tape 96 disposed on the outer periphery of the semiconductor wafer 94 may be deteriorated by adhesion of a solvent (treatment liquid) used for removing the residual adhesive 93. The deterioration of the dicing tape 96 causes the slack. Then, the slack of the dicing tape 96 may cause a crack in the semiconductor wafer 94 that has been thinned and reduced in strength. Therefore, it is necessary to remove the remaining adhesive 93 on the semiconductor wafer 94 without deteriorating the dicing tape 96. That is, processing must be performed on a target object having a plurality of target surfaces that cannot be subjected to the same processing.

本実施形態にかかる処理方法を、半導体ウェハ94上の残存接着剤93の除去に用いる場合には、半導体ウェハ94とダイシングテープ96の露出面との略境界に第1処理液である純水(第1処理液)を供給しつつ、半導体ウェハ94に接着剤を溶解する溶剤(第2処理液)を供給する。これにより、ダイシングテープ96の露出面に対しては、純水で覆われるという保護処理を施すことができ、半導体ウェハ94に対しては、残存接着剤の除去処理を施すことができる。その結果、ダイシングテープ96を劣化させることなく、残存接着剤93の除去を良好に行なうことができる。   When the treatment method according to the present embodiment is used to remove the residual adhesive 93 on the semiconductor wafer 94, pure water (first treatment liquid) is provided substantially at the boundary between the semiconductor wafer 94 and the exposed surface of the dicing tape 96. While supplying the first processing liquid, a solvent (second processing liquid) for dissolving the adhesive is supplied to the semiconductor wafer 94. Thereby, the exposed surface of the dicing tape 96 can be protected by being covered with pure water, and the remaining adhesive can be removed from the semiconductor wafer 94. As a result, it is possible to satisfactorily remove the remaining adhesive 93 without deteriorating the dicing tape 96.

さらに、本実施形態に係る処理方法にて説明したように、図6および図7に示す被処理体に対して、最終処理工程と、予備処理工程とを組み合わせた処理を行なうことで、効率よく残存接着剤93の除去処理を行なうことができる。これは、予備処理工程において、半導体ウェハ94上の残存接着剤を除去することで、最終処理工程時に供給しなくてはならない溶剤(第2処理液)の供給量を減らすことができるためである。   Furthermore, as described in the processing method according to the present embodiment, the processing object shown in FIGS. 6 and 7 is efficiently processed by combining the final processing step and the preliminary processing step. The residual adhesive 93 can be removed. This is because the amount of the solvent (second processing liquid) that must be supplied during the final processing step can be reduced by removing the residual adhesive on the semiconductor wafer 94 in the preliminary processing step. .

図6および図7に示す被処理体18を処理する場合には、第1処理液として、純水を用いることが好ましく、第2処理液としては、親水性溶剤または疎水性溶剤を用いることが好ましい。親水性溶剤としては、アルカリ水溶液、メタノール、イソプロピルアルコール(IPA)などのアルコールを用いることができる。疎水性溶剤としては、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)を用いることができる。   When the object 18 shown in FIGS. 6 and 7 is processed, pure water is preferably used as the first processing liquid, and a hydrophilic solvent or a hydrophobic solvent is used as the second processing liquid. preferable. As the hydrophilic solvent, an alcohol aqueous solution, an alcohol such as methanol, isopropyl alcohol (IPA), or the like can be used. As the hydrophobic solvent, propylene glycol monomethyl ether acetate (PGMEA) can be used.

以上のように、本実施形態にかかる処理方法によれば、薄膜の半導体ウェハ94を形成する過程で、生じる残存接着剤93の除去を良好に行なうことができる。なお、上述した処理方法では、予備処理工程と、最終処理工程とを組み合わせた例について説明したが、これに限定されることはない。被処理体18に要求される処理内容によっては、上述の最終処理工程に相当する処理のみで足りることもある。   As described above, according to the processing method of the present embodiment, it is possible to satisfactorily remove the residual adhesive 93 that is generated in the process of forming the thin-film semiconductor wafer 94. In the processing method described above, the example in which the preliminary processing step and the final processing step are combined has been described. However, the present invention is not limited to this. Depending on the processing content required for the workpiece 18, only the processing corresponding to the above-described final processing step may be sufficient.

(実施例1〜8、比較例1〜3)
以下に、本実施形態にかかる処理方法の実施例および比較例について説明する。本実施例では、被処理体として、アクリル系樹脂からなる接着剤を有する8インチウェハをダイシングフレームに張られたポリオレフィン製のダイシングテープ上に貼り付けた被処理体を準備した。被処理体に関する詳細な条件は下記のとおりである。
(Examples 1-8, Comparative Examples 1-3)
Examples of the processing method according to this embodiment and comparative examples will be described below. In this example, an object to be processed was prepared by attaching an 8-inch wafer having an adhesive made of an acrylic resin on a polyolefin dicing tape stretched on a dicing frame. Detailed conditions regarding the object to be processed are as follows.

上記被処理体を回転させ、2つのタイプの処理治具を用いて被処理体を処理した。第1の処理治具としては、上記処理治具20に相当するものであり、第1処理液を供給する管に8つの孔が形成されているものを用い、第2の処理治具としては、上記処理治具80に相当するものであり、ノズルを4つ備えるものを用い、第3の処理治具としては、被処理体に第1処理液を供給するノズルを2つ有するものを用いた。   The object to be processed was rotated, and the object to be processed was processed using two types of processing jigs. The first processing jig corresponds to the processing jig 20 described above, and a pipe in which eight holes are formed in the pipe for supplying the first processing liquid is used. As the second processing jig, , Which corresponds to the above processing jig 80 and has four nozzles, and the third processing jig has two nozzles for supplying the first processing liquid to the object to be processed. It was.

実施例1では第1の処理治具を用いて処理し、実施例2では第2の処理治具を用いて処理し、実施例3〜8では第3の処理治具を用いて処理し、比較例1〜3では単なる第2処理液のみで処理した。また、実施例3〜5では1つのノズルのみから第1処理液を供給し、実施例6〜8では2つのノズルから第1処理液を供給した。   Example 1 is processed using the first processing jig, Example 2 is processed using the second processing jig, Examples 3 to 8 are processed using the third processing jig, In Comparative Examples 1-3, it processed only with the 2nd process liquid. In Examples 3 to 5, the first processing liquid was supplied from only one nozzle, and in Examples 6 to 8, the first processing liquid was supplied from two nozzles.

また、上記各処理治具には、第1処理液として純水を1000ml/min、第2処理液としてPGMEAを150ml/minの条件の供給し、3分間の処理時間で被処理体を処理した。なお、この処理時間は、表1に示す回転数で被処理体を回転させながら、第2処理液を供給し、供給停止するまでの時間である。その後、第1処理液を供給したまま回転数1000rpmで5秒間被処理体を回転させ、第1処理液の供給を停止し、さらに被処理体を回転数1500rpmで30秒間回転させ、乾燥させた。なお、第1処理液は、第2処理液を供給する前に供給して、ダイシングテープに第1処理液の膜を形成した。   Each processing jig is supplied with pure water as the first processing liquid at 1000 ml / min and PGMEA as the second processing liquid at 150 ml / min, and the object to be processed is processed in a processing time of 3 minutes. . Note that this processing time is the time from when the second processing liquid is supplied and the supply stopped while rotating the object to be processed at the number of rotations shown in Table 1. Thereafter, the object to be treated was rotated at a rotation speed of 1000 rpm for 5 seconds while the first treatment liquid was supplied, the supply of the first treatment liquid was stopped, and the object to be processed was further rotated at a rotation speed of 1500 rpm for 30 seconds to be dried. . The first processing liquid was supplied before supplying the second processing liquid, and a film of the first processing liquid was formed on the dicing tape.

乾燥後の被処理体におけるダイシングテープの弛み量を測定した。その評価結果は表1に示す。なお、弛み量は、元のダイシングテープの面を基準として測定した、弛んだダイシングテープの基準面からの距離である。   The amount of slack of the dicing tape in the object to be treated after drying was measured. The evaluation results are shown in Table 1. The amount of slack is a distance from the reference surface of the slack dicing tape measured with reference to the surface of the original dicing tape.

Figure 0005227441
Figure 0005227441

表1から明らかなように、実施例1ないし8では、比較例1ないし3と比較して、大幅にダイシングテープの弛み量が小さくなっていることが判った。また、実施例1ないし8および比較例1ないし3において、半導体ウェハ上の残存接着剤が除去されていることが判った。これにより、本発明にかかる処理方法によれば、ダイシングテープを保護しつつ半導体ウェハを処理液で処理することができることが確認された。上記残存接着剤はFT−IRにて測定することにより確認した。   As is clear from Table 1, in Examples 1 to 8, it was found that the amount of slackness of the dicing tape was significantly reduced as compared with Comparative Examples 1 to 3. In Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 to 3, it was found that the residual adhesive on the semiconductor wafer was removed. Thereby, according to the processing method concerning this invention, it was confirmed that a semiconductor wafer can be processed with a processing liquid, protecting a dicing tape. The residual adhesive was confirmed by measuring with FT-IR.

本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。   The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications are possible within the scope shown in the claims, and embodiments obtained by appropriately combining technical means disclosed in different embodiments. Is also included in the technical scope of the present invention.

本発明にかかる処理装置は、処理液を用いた洗浄装置、塗布装置に応用することができる。   The processing apparatus according to the present invention can be applied to a cleaning apparatus and a coating apparatus using a processing liquid.

10 載置部
12 回転軸
14 モーター
16 洗浄槽
18 被処理体
18a 第1被処理面
18b 第2被処理面
20,80 処理治具
22,82 管
24,84 供給口(第1供給部)
30 第1供給手段
32,42 供給配管
34,44 タンク
40 第2供給手段
46 ノズル(第2供給部)
50、50a、50b 予備処理治具(表面処理治具)
52 処理部
52a 対向面
54 突出部
56 第1貫通孔
58 第2貫通孔
60 供給手段
70 回収手段
100、110 処理装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Mounting part 12 Rotating shaft 14 Motor 16 Cleaning tank 18 Processed object 18a 1st to-be-processed surface 18b 2nd to-be-processed surface 20,80 Processing jig 22,82 Tube 24,84 Supply port (1st supply part)
30 1st supply means 32, 42 Supply piping 34, 44 Tank 40 2nd supply means 46 Nozzle (2nd supply part)
50, 50a, 50b Pretreatment jig (surface treatment jig)
52 treatment part 52a opposing surface 54 protrusion part 56 1st through-hole 58 2nd through-hole 60 supply means 70 collection | recovery means 100,110 processing apparatus

Claims (1)

第2被処理面と、該第2被処理面の外周に配置された第1被処理面とを含む被処理面を有する被処理体に対して処理を行なう処理装置であって、
前記被処理体を載置する載置部と、
第1被処理面と第2被処理面との略境界に第1処理液を供給する第1供給部と、第2被処理面に第2処理液を供給する第2供給部と、を含む処理治具と、
第2被処理面を予備処理液にて予備処理する予備処理治具とを含み、
上記予備処理治具における処理部上の第2被処理面の対向面には、複数の貫通孔が設けられており、上記複数の貫通孔のうちの一部が上記予備処理液を回収するための貫通孔であり、予備処理治具における第2被処理面の対向面の周縁のみに、対向面から第2被処理面に向かって突出する突出部を有することを特徴とする処理装置。
A processing apparatus for performing processing on a target object having a target surface including a second target surface and a first target surface disposed on an outer periphery of the second target surface,
A mounting section for mounting the object to be processed;
A first supply unit that supplies the first processing liquid to a substantially boundary between the first processing surface and the second processing surface; and a second supply unit that supplies the second processing liquid to the second processing surface. A processing jig;
A pretreatment jig for pretreating the second treated surface with a pretreatment liquid,
A plurality of through holes are provided in a surface opposite to the second processing surface on the processing unit in the preliminary processing jig, and a part of the plurality of through holes collects the preliminary processing liquid. holes der of is, only the periphery of the opposing surfaces of the second surface to be processed in the preliminary processing jig process according to claim Rukoto to have a protrusion protruding from the surface facing toward the second surface to be processed apparatus.
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