JP5216244B2 - データリフレッシュ装置、及びデータリフレッシュ方法 - Google Patents
データリフレッシュ装置、及びデータリフレッシュ方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5216244B2 JP5216244B2 JP2007145358A JP2007145358A JP5216244B2 JP 5216244 B2 JP5216244 B2 JP 5216244B2 JP 2007145358 A JP2007145358 A JP 2007145358A JP 2007145358 A JP2007145358 A JP 2007145358A JP 5216244 B2 JP5216244 B2 JP 5216244B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- refresh
- storage area
- equal
- error
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/07—Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
- G06F11/08—Error detection or correction by redundancy in data representation, e.g. by using checking codes
- G06F11/10—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's
- G06F11/1008—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices
- G06F11/1068—Adding special bits or symbols to the coded information, e.g. parity check, casting out 9's or 11's in individual solid state devices in sector programmable memories, e.g. flash disk
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C2029/0411—Online error correction
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
Description
本発明は上述した実施の形態に限定されず、種々変形して実施可能である。例えば、上述の説明では、各ページの書き込み回数に基づいてリフレッシュ周期を変更している。しかしながら、複数ページからなるブロックごとにリフレッシュ周期を設定・変更してもよい。この場合、ブロックごとにデータ書き込み回数及び消去回数を記憶しておく。記憶された書き込み回数及び消去回数に応じて、対応するブロックのリフレッシュ周期を変更する。特に、データの消去をブロック単位で行うフラッシュメモリ(たとえばNAND型フラッシュメモリ)の場合、データの書き込み、消去が頻繁に行われるブロックでデータが破壊される危険性が高い。ブロックごとにリフレッシュ周期を設定・変更することで、データの消去回数にも応じたデータ保護が可能になる。
Claims (12)
- 複数の記憶領域からなる記憶装置に記憶されたデータのリフレッシュを行うデータリフレッシュ装置であって、
前記記憶領域に記憶されたデータに発生しているエラーの個数を検出するエラー検出手段と、
前記記憶領域に記憶されたデータのエラー訂正を行い、訂正データを前記記憶領域のいずれかに書き込むリフレッシュ手段と、
前記記憶領域に対する書き込み回数が多い程、前記リフレッシュ手段の動作周期を短く制御するリフレッシュ制御手段と、を備え、
前記リフレッシュ手段は前記エラー検出手段により検出されたエラーの個数と前記書き込み回数とに応じて異なるリフレッシュ動作を行うデータリフレッシュ装置。 - 前記リフレッシュ手段は前記書き込み回数が所定回数以上ではなく、ある記憶領域のエラーの個数が第1所定数以上ではない場合、リフレッシュ動作を行わない請求項1記載のデータリフレッシュ装置。
- 前記リフレッシュ手段は前記書き込み回数が所定回数以上ではなく、ある記憶領域のエラーの個数が第1所定数以上であり、前記第1所定数以上の第2所定数以上ではない場合、前記訂正データを前記ある記憶領域に書き込み、前記ある記憶領域のエラーの個数が前記第2所定数以上である場合、前記訂正データを前記ある記憶領域とは異なる他の記憶領域に書き込む請求項1または請求項2記載のデータリフレッシュ装置。
- 前記リフレッシュ手段は前記書き込み回数が所定回数以上の場合、エラーの個数に関わらずある記憶領域の訂正データを前記ある記憶領域とは異なる他の記憶領域に書き込む請求項1乃至請求項3のいずれか一項記載のデータリフレッシュ装置。
- 前記エラー検出手段は、前記記憶領域に記憶された誤り訂正符号に基づいて前記エラーの個数を検出する請求項1乃至請求項4のいずれか一項記載のデータリフレッシュ装置。
- 前記リフレッシュ手段は、前記記憶領域に記憶された誤り訂正符号に基づいて前記エラー訂正を行う請求項1乃至請求項5のいずれか一項記載のデータリフレッシュ装置。
- 複数の記憶領域からなる記憶装置に記憶されたデータのリフレッシュを行うデータリフレッシュ装置に用いられるデータリフレッシュ方法であって、
前記記憶領域に記憶されたデータに発生しているエラーの個数を検出するエラー検出ステップと、
前記記憶領域に記憶されたデータのエラー訂正を行い、訂正データを前記記憶領域のいずれかに書き込むリフレッシュステップと、
前記記憶領域に対する書き込み回数が多い程、前記リフレッシュステップの動作周期を短く制御するリフレッシュ制御ステップと、
を備え、
前記リフレッシュステップの動作は前記エラー検出ステップで検出されたエラーの個数と前記書き込み回数とに応じて異なるデータリフレッシュ方法。 - 前記リフレッシュステップは前記書き込み回数が所定回数以上ではなく、ある記憶領域のエラーの個数が第1所定数以上ではない場合、リフレッシュ動作を行わない請求項7記載のデータリフレッシュ方法。
- 前記リフレッシュステップは前記書き込み回数が所定回数以上ではなく、ある記憶領域のエラーの個数が第1所定数以上であり、前記第1所定数以上の第2所定数以上ではない場合、前記訂正データを前記ある記憶領域に書き込み、前記ある記憶領域のエラーの個数が前記第2所定数以上である場合、前記訂正データを前記ある記憶領域とは異なる他の記憶領域に書き込む請求項7または請求項8記載のデータリフレッシュ方法。
- 前記リフレッシュステップは前記書き込み回数が所定回数以上の場合、エラーの個数に関わらずある記憶領域の訂正データを前記ある記憶領域とは異なる他の記憶領域に書き込む請求項7乃至請求項9のいずれか一項記載のデータリフレッシュ方法。
- 前記エラー検出ステップは、前記記憶領域に記憶された誤り訂正符号に基づいて前記エラーの個数を検出する請求項7乃至請求項10のいずれか一項記載のデータリフレッシュ方法。
- 前記リフレッシュステップは、前記記憶領域に記憶された誤り訂正符号に基づいて前記エラー訂正を行う請求項7乃至請求項11のいずれか一項記載のデータリフレッシュ方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007145358A JP5216244B2 (ja) | 2007-05-31 | 2007-05-31 | データリフレッシュ装置、及びデータリフレッシュ方法 |
US12/129,754 US8161346B2 (en) | 2007-05-31 | 2008-05-30 | Data refresh apparatus and data refresh method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007145358A JP5216244B2 (ja) | 2007-05-31 | 2007-05-31 | データリフレッシュ装置、及びデータリフレッシュ方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013039679A Division JP2013137792A (ja) | 2013-02-28 | 2013-02-28 | 電子機器及びその制御方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008299621A JP2008299621A (ja) | 2008-12-11 |
JP5216244B2 true JP5216244B2 (ja) | 2013-06-19 |
Family
ID=40089658
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007145358A Expired - Fee Related JP5216244B2 (ja) | 2007-05-31 | 2007-05-31 | データリフレッシュ装置、及びデータリフレッシュ方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8161346B2 (ja) |
JP (1) | JP5216244B2 (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101413736B1 (ko) | 2007-09-13 | 2014-07-02 | 삼성전자주식회사 | 향상된 신뢰성을 갖는 메모리 시스템 및 그것의웨어-레벨링 기법 |
JP4648461B2 (ja) * | 2009-01-30 | 2011-03-09 | 株式会社東芝 | 磁気ディスク装置及び同装置における暗号鍵更新方法 |
US8161355B2 (en) | 2009-02-11 | 2012-04-17 | Mosys, Inc. | Automatic refresh for improving data retention and endurance characteristics of an embedded non-volatile memory in a standard CMOS logic process |
US8756474B2 (en) * | 2011-03-21 | 2014-06-17 | Denso International America, Inc. | Method for initiating a refresh operation in a solid-state nonvolatile memory device |
US9129699B2 (en) * | 2011-04-28 | 2015-09-08 | Hitachi, Ltd. | Semiconductor storage apparatus and method including executing refresh in a flash memory based on a reliability period using degree of deterioration and read frequency |
US8918699B2 (en) | 2012-07-31 | 2014-12-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Non-volatile semiconductor storage apparatus |
US9626517B2 (en) * | 2013-01-23 | 2017-04-18 | Seagate Technology Llc | Non-deterministic encryption |
DE102014104717B4 (de) * | 2014-04-03 | 2019-08-01 | Hyperstone Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Datenerneuerung für eine Erhöhung der Zuverlässigkeit von Flashspeichern |
US10353598B2 (en) * | 2014-10-06 | 2019-07-16 | Sandisk Technologies Llc | System and method for refreshing data in a memory device |
JP2016099935A (ja) * | 2014-11-26 | 2016-05-30 | 株式会社ジャパンディスプレイ | データ通信装置、データ通信システム |
WO2017152392A1 (zh) | 2016-03-09 | 2017-09-14 | 华为技术有限公司 | 一种闪存设备的刷新方法和装置 |
US10199115B2 (en) * | 2016-06-20 | 2019-02-05 | Qualcomm Incorporated | Managing refresh for flash memory |
CN107748722B (zh) * | 2017-09-30 | 2020-05-19 | 华中科技大学 | 一种保证固态硬盘中数据持续性的自适应数据刷新方法 |
JP7219397B2 (ja) * | 2019-01-18 | 2023-02-08 | 富士通株式会社 | 情報処理装置、記憶制御装置および記憶制御プログラム |
JP2023124630A (ja) * | 2022-02-25 | 2023-09-06 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | メモリ装置およびメモリ制御方法 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0612613B2 (ja) * | 1986-03-18 | 1994-02-16 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
JPH0283645A (ja) | 1988-09-20 | 1990-03-23 | Hitachi Ltd | 情報カード制御装置 |
WO1992013344A1 (en) * | 1991-01-22 | 1992-08-06 | Fujitsu Limited | Error correction processing device and error correction method |
JP3176019B2 (ja) * | 1995-04-05 | 2001-06-11 | 株式会社東芝 | 不揮発性半導体記憶部を含む記憶システム |
JP3177207B2 (ja) * | 1998-01-27 | 2001-06-18 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレ−ション | リフレッシュ間隔制御装置及び方法、並びにコンピュータ |
AU7313600A (en) * | 1999-09-17 | 2001-04-24 | Hitachi Limited | Storage where the number of error corrections is recorded |
JP3812933B2 (ja) * | 2001-04-19 | 2006-08-23 | シャープ株式会社 | ファイルシステムおよびその制御方法 |
JP4059472B2 (ja) * | 2001-08-09 | 2008-03-12 | 株式会社ルネサステクノロジ | メモリカード及びメモリコントローラ |
JP2004152194A (ja) * | 2002-10-31 | 2004-05-27 | Ricoh Co Ltd | メモリデータ保護方法 |
US7613880B2 (en) * | 2002-11-28 | 2009-11-03 | Renesas Technology Corp. | Memory module, memory system, and information device |
US6853602B2 (en) * | 2003-05-09 | 2005-02-08 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Hiding error detecting/correcting latency in dynamic random access memory (DRAM) |
US7012835B2 (en) * | 2003-10-03 | 2006-03-14 | Sandisk Corporation | Flash memory data correction and scrub techniques |
JP2006004560A (ja) * | 2004-06-18 | 2006-01-05 | Elpida Memory Inc | 半導体記憶装置及びその誤り訂正方法 |
JP2006079229A (ja) | 2004-09-08 | 2006-03-23 | Hanshin Electric Co Ltd | フラッシュメモリマイクロコンピュータのデータ保全方法および保全装置 |
-
2007
- 2007-05-31 JP JP2007145358A patent/JP5216244B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-05-30 US US12/129,754 patent/US8161346B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008299621A (ja) | 2008-12-11 |
US8161346B2 (en) | 2012-04-17 |
US20080301525A1 (en) | 2008-12-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5216244B2 (ja) | データリフレッシュ装置、及びデータリフレッシュ方法 | |
US8732553B2 (en) | Memory system and control method thereof | |
KR101730510B1 (ko) | 메타데이터 태그를 통한 불규칙적인 패리티 분포 검출 | |
EP2372549B1 (en) | Emerging bad block detection | |
JP4059472B2 (ja) | メモリカード及びメモリコントローラ | |
JP2008198310A (ja) | ビットエラーの修復方法および情報処理装置 | |
US20100241796A1 (en) | Memory system protected from errors due to read disturbance and reading method thereof | |
TWI633428B (zh) | 資料儲存裝置與記憶體裝置之資料處理方法 | |
TW201545167A (zh) | 在非揮發性記憶體中處理錯誤更正碼的方法及其非揮發性儲存裝置 | |
JP2019192316A (ja) | 不揮発性記憶装置、メモリ制御装置、及びメモリ制御方法 | |
JP4866107B2 (ja) | 不揮発性記憶装置及びその書き込み判定方法 | |
JP2008009944A (ja) | メモリコントローラ | |
JP4775969B2 (ja) | 不揮発性記憶装置 | |
CN101308706B (zh) | 适用于闪存的数据写入方法及错误修正编解码方法 | |
JP2017182850A (ja) | 不揮発性記憶装置、集積回路装置、電子機器及び不揮発性記憶装置の制御方法 | |
JP2008191701A (ja) | エラー回復処理方法および情報処理装置 | |
JP2008310896A (ja) | 不揮発性記憶装置、不揮発性記憶システムおよび不揮発性記憶装置の制御方法 | |
JP2013137792A (ja) | 電子機器及びその制御方法 | |
JP2002244932A (ja) | 制御装置 | |
JP4742553B2 (ja) | 記憶装置 | |
JP2011018371A (ja) | メモリ記憶装置 | |
JP6054753B2 (ja) | 半導体装置及びデータアクセス方法 | |
JP2006221334A (ja) | メモリコントローラ、フラッシュメモリシステム及びフラッシュメモリの制御方法 | |
US10019186B2 (en) | Data maintenance method for error control and data storage device using the same | |
JP2006127441A (ja) | メモリコントローラ、フラッシュメモリシステム及びフラッシュメモリの制御方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100202 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120417 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120424 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20120529 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120622 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130108 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130115 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130205 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130304 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160308 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |