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JP5157178B2 - Square chip resistor - Google Patents

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JP5157178B2
JP5157178B2 JP2007013321A JP2007013321A JP5157178B2 JP 5157178 B2 JP5157178 B2 JP 5157178B2 JP 2007013321 A JP2007013321 A JP 2007013321A JP 2007013321 A JP2007013321 A JP 2007013321A JP 5157178 B2 JP5157178 B2 JP 5157178B2
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JP
Japan
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resistor
trimming groove
back surface
insulating substrate
groove
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JP2007013321A
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JP2007235110A (en
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秀二 有賀
秀憲 齊藤
裕子 小林
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Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
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Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Description

本発明は各種電子機器に使用される角形チップ抵抗器に関するもので、特に両面に抵抗体を有し、かつ抵抗値の低い角形チップ抵抗器に関するものである。   The present invention relates to a rectangular chip resistor used in various electronic devices, and more particularly to a rectangular chip resistor having a resistor on both sides and having a low resistance value.

従来のこの種の角形チップ抵抗器は、図5に示すように、アルミナ等からなる絶縁基板1の上面および裏面に一対の上面電極2aおよび一対の裏面電極2bを形成し、そして前記一対の上面電極2a間および一対の裏面電極2b間にそれぞれ上面抵抗体3aおよび裏面抵抗体3bを形成し、その後、前記上面抵抗体3aおよび前記裏面抵抗体3bにそれぞれ上面トリミング溝4aおよび裏面トリミング溝4bを形成し、さらにその後、上面抵抗体3aおよび裏面抵抗体3bをそれぞれ上面保護層5aおよび裏面保護層5bで覆い、その後、絶縁基板1の両端部に上面電極2aと裏面電極2bを電気的に接続する側面電極6を形成し、さらにその後、側面電極6の表面にめっき層7を形成することにより製造していた。   As shown in FIG. 5, a conventional square chip resistor of this type is formed with a pair of upper surface electrodes 2a and a pair of rear surface electrodes 2b on the upper surface and the back surface of an insulating substrate 1 made of alumina or the like, and the pair of upper surface electrodes. An upper surface resistor 3a and a back surface resistor 3b are formed between the electrodes 2a and between the pair of back surface electrodes 2b, respectively, and thereafter, an upper surface trimming groove 4a and a back surface trimming groove 4b are formed in the upper surface resistor 3a and the back surface resistor 3b, respectively. After that, the upper surface resistor 3a and the back surface resistor 3b are covered with the upper surface protection layer 5a and the back surface protection layer 5b, respectively, and then the upper surface electrode 2a and the back surface electrode 2b are electrically connected to both ends of the insulating substrate 1. The side electrode 6 is formed, and then the plating layer 7 is formed on the surface of the side electrode 6.

なお、この出願の発明に関する先行技術文献情報としては、例えば、特許文献1、特許文献2が知られている。
特開平11−191502号公報 実開昭59−107102号公報
For example, Patent Document 1 and Patent Document 2 are known as prior art document information relating to the invention of this application.
Japanese Patent Laid-Open No. 11-191502 Japanese Utility Model Publication No.59-107102

特許文献1に開示されている従来の角形チップ抵抗器は、図5に示すように、絶縁基板1の上面と裏面にそれぞれ上面抵抗体3aと裏面抵抗体3bを設けているため、抵抗値が低くばらつきの少ない角形チップ抵抗器を得ることができるものであった。   As shown in FIG. 5, the conventional rectangular chip resistor disclosed in Patent Document 1 is provided with an upper surface resistor 3a and a back surface resistor 3b on the upper surface and the back surface of the insulating substrate 1, respectively. A square chip resistor having a low variation and a small variation can be obtained.

しかしながら、上記従来の技術では、上面トリミング溝4aと裏面トリミング溝4bの形成直後の平面図である図6、図7に示すように、上面トリミング溝4aと裏面トリミング溝4bが絶縁基板1の上面と裏面で重なる位置、あるいは接近する位置に存在するため、上面抵抗体3aをトリミングして上面トリミング溝4aを形成した後、裏面抵抗体3bをトリミングして裏面トリミング溝4bを形成すると、裏面トリミング溝4bを形成する際の発熱により上面トリミング溝4aの絶縁性が劣化し、これにより、角形チップ抵抗器のTCRが悪化するという課題を有していた。   However, in the above conventional technique, as shown in FIGS. 6 and 7 which are plan views immediately after the formation of the top surface trimming groove 4a and the back surface trimming groove 4b, the top surface trimming groove 4a and the back surface trimming groove 4b are formed on the top surface of the insulating substrate 1. Since the upper surface resistor 3a is trimmed to form the upper surface trimming groove 4a and then the rear surface resistor 3b is trimmed to form the rear surface trimming groove 4b, the rear surface trimming is performed. Due to the heat generated when the groove 4b is formed, the insulating property of the upper surface trimming groove 4a is deteriorated, which causes a problem that the TCR of the square chip resistor is deteriorated.

一方、特許文献2にはトリミングによって形成される局所的発熱箇所を表裏に分散させるとの記載があるが、トリミング溝形成に伴う発熱箇所を分散させる具体的な方法ならびに構成については開示されていないものである。   On the other hand, Patent Document 2 discloses that local heat generation points formed by trimming are dispersed on the front and back sides, but a specific method and configuration for dispersing heat generation points associated with the formation of trimming grooves are not disclosed. Is.

本発明は上記従来の課題を解決するもので、TCRが良好で抵抗値が安定している角形チップ抵抗器を提供することを目的とするものである。   The present invention solves the above-described conventional problems, and an object of the present invention is to provide a rectangular chip resistor having a good TCR and a stable resistance value.

上記目的を達成するために、本発明は以下の構成を有するものである。   In order to achieve the above object, the present invention has the following configuration.

本発明の請求項1に記載の発明は、絶縁基板と、前記絶縁基板の上面および裏面の両端部にそれぞれ設けられた一対の上面電極および一対の裏面電極と、前記一対の上面電極および一対の裏面電極とそれぞれ電気的に接続されるように設けられた上面抵抗体および裏面抵抗体と、前記上面抵抗体および裏面抵抗体にそれぞれ設けられた上面トリミング溝および裏面トリミング溝とを備え、前記上面トリミング溝と前記裏面トリミング溝を前記絶縁基板の上面と裏面で互いに重ならない位置に形成し、かつ前記上面トリミング溝と前記裏面トリミング溝を前記絶縁基板の中心に対して互いにほぼ点対称となる位置に形成し、かつ前記上面トリミング溝と前記裏面トリミング溝を前記絶縁基板の上面から見て表裏それぞれ逆方向に形成し、かつ前記上面トリミング溝の長さと前記裏面トリミング溝の長さがそれぞれ前記上面抵抗体の幅と前記裏面抵抗体の幅の半分未満となるように構成し、前記上面トリミング溝は前記上面抵抗体の長さ方向の辺から前記上面抵抗体の幅方向に伸びその終点から前記上面抵抗体の長さ方向の前記裏面トリミング溝から遠ざかる方向に伸びている形状であり、前記裏面トリミング溝は前記裏面抵抗体の長さ方向の辺から前記裏面抵抗体の幅方向に伸びその終点から前記裏面抵抗体の長さ方向の前記上面トリミング溝から遠ざかる方向に伸びている形状であり、前記上面トリミング溝の前記上面抵抗体の幅方向に伸びている部分と前記裏面トリミング溝の前記裏面抵抗体の幅方向に伸びている部分とは上面から見て異なる直線上に位置するもので、後から形成するトリミング溝の形成過程で生じる発熱が最初に形成したトリミング溝の絶縁性に影響することはなくなるため、TCRの悪化も抑えられて抵抗値が安定している角形チップ抵抗器を得ることができる。また、上面抵抗体と裏面抵抗体に電流が流れる発熱部分が絶縁基板の上面から見て互いに重ならない位置に形成されているため、角形チップ抵抗器において電流が流れて発熱する箇所は分散して形成されることになり、これにより、小形で、かつ高電力に対応可能な角形チップ抵抗器を得ることができるという作用効果を有するものである。また、上面トリミング溝と裏面トリミング溝を絶縁基板の中心に対して互いにほぼ点対称となる位置に形成しているため、トリミング工程で生じる発熱は絶縁基板の上下左右に均等に影響することになり、これにより、絶縁基板の一部分に発熱が集中してひずみが発生して形状が不安定になるという不具合も抑えられるという作用効果を有するものである。 According to the first aspect of the present invention, there is provided an insulating substrate, a pair of upper surface electrodes and a pair of back electrodes provided on both ends of the upper surface and the back surface of the insulating substrate, the pair of upper surface electrodes and the pair of upper surfaces. A top surface resistor and a back surface resistor provided so as to be electrically connected to the back surface electrode; and a top surface trimming groove and a back surface trimming groove respectively provided in the top surface resistor and the back surface resistor. forming the back surface trimming groove and trimming groove so as not to overlap each other in the upper surface and the back surface of the insulating substrate, and a position which is a substantially point-symmetric with respect to the center of the upper surface trimming groove and the insulating substrate to the back surface trimming groove And the upper surface trimming groove and the rear surface trimming groove are formed in opposite directions when viewed from the upper surface of the insulating substrate, and The length of the top surface trimming groove and the length of the back surface trimming groove are configured to be less than half the width of the top surface resistor and the width of the back surface resistor, respectively, and the top surface trimming groove is the length of the top surface resistor. Extending from the side of the direction in the width direction of the upper surface resistor, and extending from the end point in a direction away from the rear surface trimming groove in the length direction of the upper surface resistor, and the rear surface trimming groove of the rear surface resistor The upper surface resistance of the upper surface trimming groove is a shape extending from the side in the length direction in the width direction of the back surface resistor and extending from the end point in a direction away from the upper surface trimming groove in the length direction of the back surface resistor. a portion extending a portion extending in the width direction of the body width direction of the back resistor of the back trimming groove than those located on a straight line different from a top view, the shape later Since the heat generated in the process of forming the trimming groove does not affect the insulating property of the trimming groove formed first, a rectangular chip resistor with a stable resistance value can be obtained while suppressing the deterioration of TCR. . In addition, since the heat generating parts where current flows through the top resistor and back resistor are formed at positions where they do not overlap each other when viewed from the top surface of the insulating substrate, the locations where heat is generated when current flows in the square chip resistors are dispersed. As a result, it is possible to obtain a square chip resistor that is small in size and can handle high power. In addition, since the upper surface trimming groove and the rear surface trimming groove are formed at positions that are substantially point-symmetric with respect to the center of the insulating substrate, the heat generated in the trimming process affects the upper, lower, left, and right sides of the insulating substrate equally. Thus, there is an effect that the problem that heat is concentrated on a part of the insulating substrate and distortion is generated and the shape becomes unstable can be suppressed.

以上のように本発明の角形チップ抵抗器は、上面トリミング溝と裏面トリミング溝を絶縁基板の上面と裏面で互いに重ならない位置に形成しているため、両者のトリミング溝が互いに接近するということはなくなり、これにより、後から形成するトリミング溝の形成過程で生じる発熱が最初に形成したトリミング溝に影響することによって絶縁性が低下するということはなくなるため、TCRの悪化も抑えられて抵抗値が安定している角形チップ抵抗器を得ることができるという優れた効果を奏するものである。   As described above, in the rectangular chip resistor according to the present invention, the upper surface trimming groove and the rear surface trimming groove are formed at positions where they do not overlap each other on the upper surface and the back surface of the insulating substrate. As a result, the heat generated in the process of forming the trimming groove to be formed later does not deteriorate the insulation by affecting the trimming groove formed first, so that the TCR deterioration is suppressed and the resistance value is reduced. An excellent effect is obtained in that a stable rectangular chip resistor can be obtained.

以下、本発明の一実施の形態における角形チップ抵抗器について、図面を参照しながら説明する。   Hereinafter, a rectangular chip resistor according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は本発明の一実施の形態における角形チップ抵抗器の断面図、図2は同角形チップ抵抗器の仕掛かり品の平面図、図3(a)〜(d)および図4(a)〜(e)は同角形チップ抵抗器の製造方法を示す製造工程図である。   1 is a cross-sectional view of a rectangular chip resistor according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a plan view of a work piece of the rectangular chip resistor, FIGS. 3 (a) to 3 (d) and FIG. 4 (a). (E) is a manufacturing process figure which shows the manufacturing method of a equiangular chip resistor.

図1および図2に示すように、本発明の一実施の形態における角形チップ抵抗器は、純度約96%のアルミナからなる絶縁基板11の上面および裏面にそれぞれ一対の上面電極12aおよび一対の裏面電極12bを形成し、そして前記一対の上面電極12a間および一対の裏面電極12b間にそれぞれ上面抵抗体13aおよび裏面抵抗体13bを絶縁基板11の上面から見て互いに重なる位置に形成し、その後、上面抵抗体13aおよび裏面抵抗体13bにそれぞれ上面トリミング溝14aおよび裏面トリミング溝14bを形成し、さらにその後、上面抵抗体13aおよび裏面抵抗体13bをそれぞれ上面保護層15aおよび裏面保護層15bで覆い、その後、絶縁基板11の両端部に上面電極12aと裏面電極12bを電気的に接続する端面電極16を形成し、さらにその後、端面電極16の表面にめっき層17を形成することにより製造しているものである。ここで、前記上面トリミング溝14aと裏面トリミング溝14bは、図2に示すように、絶縁基板11の中心に対して互いにほぼ点対称となる位置に絶縁基板11の上面から見て表裏それぞれ逆方向に設けられ、さらに、上面トリミング溝14aの長さと裏面トリミング溝14bの長さはそれぞれ上面抵抗体13aの幅と裏面抵抗体13bの幅の半分未満となるように構成されているものである。また、図1および図2に示すように、上面トリミング溝14aと裏面トリミング溝14bとの間の最短距離dは、0.55mm以上となるように構成されているものである。そしてまた、めっき層17は、通常ニッケルめっき層とはんだまたは錫めっき層の2層構造で構成されているものである。   As shown in FIGS. 1 and 2, the rectangular chip resistor according to one embodiment of the present invention includes a pair of upper surface electrodes 12a and a pair of rear surfaces on an upper surface and a rear surface of an insulating substrate 11 made of alumina having a purity of about 96%. Forming an electrode 12b, and forming an upper surface resistor 13a and a back surface resistor 13b between the pair of upper surface electrodes 12a and between the pair of back surface electrodes 12b, respectively, at positions overlapping each other when viewed from the upper surface of the insulating substrate 11, An upper surface trimming groove 14a and a back surface trimming groove 14b are formed in the upper surface resistor 13a and the back surface resistor 13b, respectively, and then the upper surface resistor 13a and the back surface resistor 13b are covered with the upper surface protection layer 15a and the back surface protection layer 15b, respectively. Then, the end which electrically connects the upper surface electrode 12a and the back surface electrode 12b to the both ends of the insulating substrate 11 The electrode 16 is formed, Thereafter, those that are prepared by forming a plating layer 17 on the surface of the end face electrodes 16. Here, as shown in FIG. 2, the upper surface trimming groove 14 a and the rear surface trimming groove 14 b are opposite to each other when viewed from the upper surface of the insulating substrate 11 at positions that are substantially point-symmetric with respect to the center of the insulating substrate 11. Further, the length of the top surface trimming groove 14a and the length of the back surface trimming groove 14b are configured to be less than half the width of the top surface resistor 13a and the back surface resistor 13b, respectively. As shown in FIGS. 1 and 2, the shortest distance d between the upper surface trimming groove 14a and the rear surface trimming groove 14b is configured to be 0.55 mm or more. Further, the plating layer 17 is usually constituted by a two-layer structure of a nickel plating layer and a solder or tin plating layer.

次に、図3(a)〜(d)および図4(a)〜(e)に基づいて、本発明の一実施の形態における角形チップ抵抗器の製造方法について説明する。   Next, based on FIGS. 3A to 3D and FIGS. 4A to 4E, a method of manufacturing a rectangular chip resistor in one embodiment of the present invention will be described.

まず、図3(a)に示すように、一次分割溝11aと二次分割溝11bを有する純度約96%のアルミナからなるシート状の絶縁基板11cを準備し、一次分割溝11aを跨ぐようにシート状の絶縁基板11cの上面に、銀または銅を主成分とする導電性ペーストからなる複数の上面電極12aをスクリーン印刷法で形成し、ピーク温度850℃のプロファイルで焼成することにより上面電極12aを安定な膜とする。なお、図示していないが、シート状の絶縁基板11cの裏面にも複数の裏面電極12bを上面電極12aと同様の手法で形成する。なお、この裏面電極12bは前記上面電極12aより先に形成してもよいものである。   First, as shown in FIG. 3A, a sheet-like insulating substrate 11c made of alumina having a purity of about 96% having a primary division groove 11a and a secondary division groove 11b is prepared, and straddling the primary division groove 11a. A plurality of upper surface electrodes 12a made of a conductive paste mainly composed of silver or copper are formed on the upper surface of the sheet-like insulating substrate 11c by a screen printing method, and are fired with a profile having a peak temperature of 850 ° C. Is a stable membrane. Although not shown, a plurality of back surface electrodes 12b are formed on the back surface of the sheet-like insulating substrate 11c in the same manner as the top surface electrode 12a. The back electrode 12b may be formed before the top electrode 12a.

次に、図3(b)に示すように、複数の上面電極12aと電気的に接続されるようにシート状の絶縁基板11cの上面に酸化ルテニウム、銀パラジウム系合金、銅ニッケル合金等からなる上面抵抗体13aをスクリーン印刷法で形成し、ピーク温度850℃〜900℃のプロファイルで焼成することにより上面抵抗体13aを安定な膜とする。なお、図示していないが、シート状の絶縁基板11cの裏面にも裏面抵抗体13bを上面抵抗体13aと同様の手法で形成し、そして上面抵抗体13aと裏面抵抗体13bが絶縁基板11の上面から見て互いに重ならない位置となるように形成する。なお、この裏面抵抗体13bは前記上面抵抗体13aより先に形成してもよいものである。   Next, as shown in FIG. 3B, the upper surface of the sheet-like insulating substrate 11c is made of ruthenium oxide, a silver palladium alloy, a copper nickel alloy or the like so as to be electrically connected to the plurality of upper surface electrodes 12a. The upper surface resistor 13a is formed by a screen printing method and baked with a profile having a peak temperature of 850 ° C. to 900 ° C., thereby making the upper surface resistor 13a a stable film. Although not shown, a back surface resistor 13b is formed on the back surface of the sheet-like insulating substrate 11c in the same manner as the top surface resistor 13a, and the top surface resistor 13a and the back surface resistor 13b are formed on the insulating substrate 11. They are formed so that they do not overlap each other when viewed from above. The back surface resistor 13b may be formed before the top surface resistor 13a.

次に、図3(c)に示すように、上面抵抗体13aの全体を覆うようにプリコートガラス(図示せず)を形成した後、上面抵抗体13aの抵抗値を所望の値に調整するために、レーザーを用いて上面抵抗体13aに上面トリミング溝14aを形成する。   Next, as shown in FIG. 3C, after forming pre-coated glass (not shown) so as to cover the entire upper surface resistor 13a, the resistance value of the upper surface resistor 13a is adjusted to a desired value. Then, the upper surface trimming groove 14a is formed in the upper surface resistor 13a using a laser.

次に、図3(d)に示すように、裏面抵抗体13bの全体を覆うようにプリコートガラス(図示せず)を形成した後、裏面抵抗体13bの抵抗値を所望の値に調整するために、レーザーを用いて裏面抵抗体13bに裏面トリミング溝14bを形成する。ここで、裏面トリミング溝14bは、シート状の絶縁基板11cの上面と裏面で上面トリミング溝14aと互いに重ならない位置に形成し、好ましくは上面トリミング溝14aと裏面トリミング溝14bが絶縁基板11の中心に対して互いにほぼ点対称となる位置に形成し、さらに、上面トリミング溝14aと裏面トリミング溝14bは絶縁基板11の上面から見て表裏それぞれ逆方向となる位置に形成し、さらにまた、上面トリミング溝14aの長さと裏面トリミング溝14bの長さはそれぞれ上面抵抗体13aの幅と裏面抵抗体13bの幅の半分未満となるように形成し、また、上面トリミング溝14aと裏面トリミング溝14bとの間の最短距離dは、0.55mm以上となるように形成する。なお、前記上面トリミング溝14aと裏面トリミング溝14bは形成順序を逆にしてもよいものである。   Next, as shown in FIG.3 (d), after forming precoat glass (not shown) so that the whole back surface resistor 13b may be covered, in order to adjust the resistance value of the back surface resistor 13b to a desired value. In addition, the back surface trimming groove 14b is formed in the back surface resistor 13b using a laser. Here, the back surface trimming groove 14b is formed at a position where the top surface and the back surface of the sheet-like insulating substrate 11c do not overlap with the top surface trimming groove 14a, and preferably the top surface trimming groove 14a and the back surface trimming groove 14b are the center of the insulating substrate 11. The upper surface trimming groove 14a and the back surface trimming groove 14b are formed at positions opposite to each other when viewed from the upper surface of the insulating substrate 11, and the upper surface trimming is further performed. The length of the groove 14a and the length of the back surface trimming groove 14b are formed to be less than half of the width of the top surface resistor 13a and the back surface resistor 13b, respectively. The shortest distance d between them is formed to be 0.55 mm or more. The top surface trimming groove 14a and the back surface trimming groove 14b may be formed in reverse order.

次に、図4(a)に示すように、上面抵抗体13aと上面トリミング溝14aのすべてを覆うように、樹脂からなる上面保護層15aを形成し、ピーク温度200℃のプロファイルで硬化することにより上面保護層15aを安定な膜とする。なお、図示していないが、シート状の絶縁基板11cの裏面にも裏面保護層15bを上面保護層15aと同様の手法で形成する。なお、この裏面保護層15bは前記上面保護層15aより先に形成してもよいものである。   Next, as shown in FIG. 4A, an upper surface protective layer 15a made of resin is formed so as to cover all of the upper surface resistor 13a and the upper surface trimming groove 14a, and cured with a profile having a peak temperature of 200 ° C. Thus, the upper surface protective layer 15a is made a stable film. Although not shown, the back surface protective layer 15b is formed on the back surface of the sheet-like insulating substrate 11c in the same manner as the upper surface protective layer 15a. The back surface protective layer 15b may be formed before the upper surface protective layer 15a.

次に、図4(b)に示すように、シート状の絶縁基板11cを一次分割溝11aに沿って分割することにより、短冊状の基板11dを得る。   Next, as shown in FIG. 4B, a strip-shaped substrate 11d is obtained by dividing the sheet-like insulating substrate 11c along the primary dividing groove 11a.

次に、図4(c)に示すように、上面電極12aと裏面電極(図示せず)を電気的に接続するように端面電極16を導電性ペーストの塗布またはスパッタにより形成する。   Next, as shown in FIG. 4C, the end face electrode 16 is formed by applying a conductive paste or sputtering so as to electrically connect the top electrode 12a and the back electrode (not shown).

次に、図4(d)に示すように、短冊状の基板11dを二次分割溝11bに沿って分割することにより、個片状基板11eを得る。   Next, as shown in FIG. 4D, the strip-shaped substrate 11d is divided along the secondary dividing grooves 11b to obtain the individual substrate 11e.

最後に、図4(e)に示すように、バレルめっき法を用いて端面電極16の表面にニッケルとはんだまたは錫からなる2層構造のめっき層17を形成することにより、本発明の一実施の形態における角形チップ抵抗器が得られるものである。   Finally, as shown in FIG. 4 (e), a two-layered plating layer 17 made of nickel and solder or tin is formed on the surface of the end face electrode 16 by using barrel plating, thereby implementing one embodiment of the present invention. A rectangular chip resistor in the form of is obtained.

上記製造方法により製造された本発明の一実施の形態における角形チップ抵抗器と従来の角形チップ抵抗器とのTCR試験結果を(表1)に示す。なお、不良率は、抵抗値75mΩの角形チップ抵抗器を従来品と本発明品それぞれ1000個ずつ製造し、そしてこれらの角形チップ抵抗器のすべてについて、TCRを測定し、このTCRが250ppm/℃以上のものを不良品と判定し、従来品と本発明品のそれぞれについて不良品の割合を算出することにより計算した。   Table 1 shows the TCR test results of the rectangular chip resistor and the conventional rectangular chip resistor according to the embodiment of the present invention manufactured by the above manufacturing method. The defect rate is as follows: 1,000 square chip resistors each having a resistance value of 75 mΩ were manufactured for each of the conventional product and the present invention product, and TCR was measured for all of these square chip resistors, and this TCR was 250 ppm / ° C. The above items were determined as defective products, and the ratio of defective products was calculated for each of the conventional product and the present invention product.

Figure 0005157178
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(表1)から明らかなように、上面トリミング溝14aと裏面トリミング溝14bとの間の最短距離dが0.50mm以下である従来の角形チップ抵抗器では、不良率が0.5%〜1.3%であったものが、上面トリミング溝14aと裏面トリミング溝14bとの間の最短距離dが0.55mm以上である本発明の一実施の形態における角形チップ抵抗器では不良率は0%であった。すなわち、厚みが0.55mm以上の絶縁基板を用いて製造されていた比較的大きいサイズの角形チップ抵抗器においては、上面トリミング溝14aと裏面トリミング溝14bが絶縁基板11の上面と裏面で互いに重なる位置に形成されていても、後から形成するトリミング溝の形成過程で生じる発熱が最初に形成したトリミング溝の絶縁性に影響することはなくTCRの不良品は生じなかったが、例えば1005サイズ以下の微小サイズの角形チップ抵抗器においては、絶縁基板11の厚みが0.35mmであるため、上面トリミング溝14aと裏面トリミング溝14bが絶縁基板11の上面と裏面で互いに重なる位置に形成されている場合は、両者のトリミング溝間の最短距離が0.35mmとなり、これにより、TCRの不良率は1.3%と高くなるものである。そこで、厚みが0.35mmの絶縁基板を用いて製造する1005サイズ以下の角形チップ抵抗器においても、上面トリミング溝14aと裏面トリミング溝14bを絶縁基板11の上面と裏面で互いに重ならない位置に形成して両者のトリミング溝間の最短距離を0.55mm以上とすれば、後から形成するトリミング溝の形成過程で生じる発熱が最初に形成したトリミング溝の絶縁性に影響することはなくなるため、TCRの悪化が抑えられて不良率がゼロになるものである。また、上面抵抗体13aと裏面抵抗体13bに電流が流れる発熱部分が絶縁基板11の上面から見て互いに重ならない位置に形成されているため、角形チップ抵抗器において電流が流れて発熱する箇所は分散して形成されることになり、これにより、小形で、かつ高電力に対応可能な角形チップ抵抗器を得ることができるものである。   As apparent from Table 1, in the conventional rectangular chip resistor in which the shortest distance d between the upper surface trimming groove 14a and the rear surface trimming groove 14b is 0.50 mm or less, the defect rate is 0.5% to 1%. In the rectangular chip resistor according to the embodiment of the present invention in which the shortest distance d between the upper surface trimming groove 14a and the rear surface trimming groove 14b is 0.55 mm or more, the defect rate is 0%. Met. That is, in a relatively large size square chip resistor manufactured using an insulating substrate having a thickness of 0.55 mm or more, the upper surface trimming groove 14a and the back surface trimming groove 14b overlap each other on the upper surface and the back surface of the insulating substrate 11. Even if it is formed at the position, the heat generated in the process of forming the trimming groove to be formed later does not affect the insulating property of the trimming groove that was formed first, and no defective TCR occurred. Since the thickness of the insulating substrate 11 is 0.35 mm, the top surface trimming groove 14a and the back surface trimming groove 14b are formed at positions where they overlap each other on the top surface and the back surface of the insulating substrate 11. In this case, the shortest distance between the two trimming grooves is 0.35 mm. % Are those with higher. Therefore, even in a rectangular chip resistor of 1005 size or less manufactured using an insulating substrate having a thickness of 0.35 mm, the upper surface trimming groove 14a and the rear surface trimming groove 14b are formed at positions where the upper surface and the rear surface of the insulating substrate 11 do not overlap each other. If the shortest distance between the two trimming grooves is 0.55 mm or more, heat generated in the process of forming the trimming groove to be formed later does not affect the insulating property of the trimming groove formed first. Deterioration is suppressed and the defect rate becomes zero. In addition, since the heat generating portions where current flows through the upper surface resistor 13a and the back surface resistor 13b are formed at positions where they do not overlap each other when viewed from the upper surface of the insulating substrate 11, the portion where the current flows in the rectangular chip resistor generates heat. Thus, a rectangular chip resistor that is small in size and can handle high power can be obtained.

以上の結果から、本発明の一実施の形態における角形チップ抵抗器においては、上面トリミング溝14aと裏面トリミング溝14bを絶縁基板11の上面と裏面で互いに重ならない位置に形成して、両者のトリミング溝14a,14bが互いに接近しないようにしているため、後から形成するトリミング溝の形成過程で生じる発熱が最初に形成したトリミング溝の絶縁性に影響することはなくなり、これにより、TCRの悪化も抑えられて抵抗値が安定している角形チップ抵抗器が得られることがわかる。   From the above results, in the rectangular chip resistor according to the embodiment of the present invention, the top surface trimming groove 14a and the back surface trimming groove 14b are formed at positions where they do not overlap each other on the top surface and the back surface of the insulating substrate 11, Since the grooves 14a and 14b are kept away from each other, the heat generated in the process of forming a trimming groove to be formed later does not affect the insulating property of the trimming groove formed first, thereby causing deterioration in TCR. It can be seen that a square chip resistor that is suppressed and has a stable resistance value can be obtained.

また、本発明の一実施の形態における角形チップ抵抗器においては、上面トリミング溝14aと裏面トリミング溝14bを絶縁基板11の中心に対して互いにほぼ点対称となる位置に形成しているため、トリミング工程で生じる発熱は絶縁基板11の上下左右に均等に影響することになり、これにより、絶縁基板11の一部分に発熱が集中してひずみが発生し、形状が不安定になるという不具合も抑えられるという効果を有し、また、上面抵抗体13aと裏面抵抗体13bに電流が流れる発熱部分が絶縁基板の上面から見て互いに重ならない位置に形成されているため、角形チップ抵抗器において電流が流れて発熱する箇所は分散して形成されることになり、これにより、小形で、かつ高電力に対応可能な角形チップ抵抗器を得ることができるという効果を有するものである。   In the rectangular chip resistor according to the embodiment of the present invention, the top surface trimming groove 14a and the back surface trimming groove 14b are formed at positions that are substantially point-symmetric with respect to the center of the insulating substrate 11. The heat generated in the process uniformly affects the upper, lower, left and right sides of the insulating substrate 11, thereby suppressing the problem that the heat is concentrated on a part of the insulating substrate 11 to cause distortion and the shape becomes unstable. In addition, since the heat generating portions where the current flows through the top resistor 13a and the back resistor 13b are formed at positions where they do not overlap each other when viewed from the top surface of the insulating substrate, the current flows in the rectangular chip resistor. The locations that generate heat will be formed in a dispersed manner, which makes it possible to obtain a square chip resistor that is small and can handle high power. It is those having the effect that.

そしてまた、本発明の一実施の形態における角形チップ抵抗器においては、上面抵抗体13aと裏面抵抗体13bを絶縁基板11の上面から見て互いに重なる位置に形成しているため、省スペースで抵抗値の低い角形チップ抵抗器を得ることができるという効果を有するものである。   In addition, in the rectangular chip resistor according to the embodiment of the present invention, the top surface resistor 13a and the back surface resistor 13b are formed at positions overlapping each other when viewed from the top surface of the insulating substrate 11, so that the space-saving resistor is provided. This has the effect that a square chip resistor having a low value can be obtained.

さらに、本発明の一実施の形態における角形チップ抵抗器においては、上面トリミング溝14aと裏面トリミング溝14bを絶縁基板11の上面から見て表裏それぞれ逆方向に形成し、かつ上面トリミング溝14aの長さと裏面トリミング溝14bの長さがそれぞれ上面抵抗体13aの幅と裏面抵抗体13bの幅の半分未満となるように構成しているため、両者のトリミング溝14a,14bが互いに接近するということはなく、これにより、後から形成するトリミング溝の形成過程で生じる発熱が最初に形成したトリミング溝の絶縁性に影響することはないため、TCRの悪化も抑えられて抵抗値が安定している角形チップ抵抗器を得ることができるという効果を有するものである。   Furthermore, in the rectangular chip resistor according to the embodiment of the present invention, the upper surface trimming groove 14a and the rear surface trimming groove 14b are formed in opposite directions when viewed from the upper surface of the insulating substrate 11, and the length of the upper surface trimming groove 14a is increased. And the length of the back surface trimming groove 14b are less than half the width of the upper surface resistor 13a and the width of the back surface resistor 13b, respectively, so that the trimming grooves 14a and 14b of both are close to each other. Thus, since the heat generated in the process of forming the trimming groove to be formed later does not affect the insulating property of the trimming groove that is formed first, the square shape whose resistance value is stable while suppressing the deterioration of the TCR is suppressed. It has the effect that a chip resistor can be obtained.

さらにまた、本発明の一実施の形態における角形チップ抵抗器においては、上面トリミング溝14aと裏面トリミング溝14bとの間の最短距離が0.55mm以上となるように構成しているため、両者のトリミング溝14a,14bが互いに接近するということはなく、これにより、後から形成するトリミング溝の形成過程で生じる発熱が最初に形成したトリミング溝の絶縁性に影響することはないため、TCRの悪化も抑えられて抵抗値が安定している角形チップ抵抗器を得ることができるという効果を有するものである。   Furthermore, in the rectangular chip resistor according to the embodiment of the present invention, the shortest distance between the upper surface trimming groove 14a and the rear surface trimming groove 14b is 0.55 mm or more. Since the trimming grooves 14a and 14b do not approach each other, heat generated in the process of forming a trimming groove to be formed later does not affect the insulating property of the trimming groove that is formed first. Therefore, a square chip resistor having a stable resistance value can be obtained.

本発明に係る角形チップ抵抗器は、上面トリミング溝と裏面トリミング溝を絶縁基板の上面と裏面で互いに重ならない位置に形成することにより、後から形成するトリミング溝の形成過程で生じる発熱が最初に形成したトリミング溝の絶縁性に影響しないようにして、TCRの悪化を抑えたものであり、特に低い抵抗値で高精度が要求される角形チップ抵抗器に適用することにより有用となるものである。   In the rectangular chip resistor according to the present invention, the upper surface trimming groove and the rear surface trimming groove are formed at positions where they do not overlap each other on the upper surface and the back surface of the insulating substrate, so that heat generated in the process of forming the trimming groove to be formed later is first generated. The TCR is prevented from deteriorating so as not to affect the insulating properties of the formed trimming groove, and is particularly useful when applied to a rectangular chip resistor that requires high accuracy with a low resistance value. .

本発明の一実施の形態における角形チップ抵抗器の断面図Sectional drawing of the square chip resistor in one embodiment of this invention 同角形チップ抵抗器の仕掛かり品の平面図Plan view of work-in-progress of equiangular chip resistors (a)〜(d)同角形チップ抵抗器の製造方法を示す製造工程図(A)-(d) Manufacturing process figure which shows the manufacturing method of a equiangular chip resistor (a)〜(e)同角形チップ抵抗器の製造方法を示す製造工程図(A)-(e) Manufacturing process figure which shows the manufacturing method of a equiangular chip resistor 従来の角形チップ抵抗器の断面図Cross-sectional view of a conventional square chip resistor 同角形チップ抵抗器の仕掛かり品の平面図Plan view of work-in-progress of equiangular chip resistors 同角形チップ抵抗器の仕掛かり品の平面図Plan view of work-in-progress of equiangular chip resistors

符号の説明Explanation of symbols

11 絶縁基板
12a 上面電極
12b 裏面電極
13a 上面抵抗体
13b 裏面抵抗体
14a 上面トリミング溝
14b 裏面トリミング溝
11 Insulating substrate 12a Top surface electrode 12b Back surface electrode 13a Top surface resistor 13b Back surface resistor 14a Top surface trimming groove 14b Back surface trimming groove

Claims (1)

絶縁基板と、前記絶縁基板の上面および裏面の両端部にそれぞれ設けられた一対の上面電極および一対の裏面電極と、前記一対の上面電極および一対の裏面電極とそれぞれ電気的に接続されるように設けられた上面抵抗体および裏面抵抗体と、前記上面抵抗体および裏面抵抗体にそれぞれ設けられた上面トリミング溝および裏面トリミング溝とを備え、前記上面トリミング溝と前記裏面トリミング溝を前記絶縁基板の上面と裏面で互いに重ならない位置に形成し、かつ前記上面トリミング溝と前記裏面トリミング溝を前記絶縁基板の中心に対して互いにほぼ点対称となる位置に形成し、かつ前記上面トリミング溝と前記裏面トリミング溝を前記絶縁基板の上面から見て表裏それぞれ逆方向に形成し、かつ前記上面トリミング溝の長さと前記裏面トリミング溝の長さがそれぞれ前記上面抵抗体の幅と前記裏面抵抗体の幅の半分未満となるように構成し、前記上面トリミング溝は前記上面抵抗体の長さ方向の辺から前記上面抵抗体の幅方向に伸びその終点から前記上面抵抗体の長さ方向の前記裏面トリミング溝から遠ざかる方向に伸びている形状であり、前記裏面トリミング溝は前記裏面抵抗体の長さ方向の辺から前記裏面抵抗体の幅方向に伸びその終点から前記裏面抵抗体の長さ方向の前記上面トリミング溝から遠ざかる方向に伸びている形状であり、前記上面トリミング溝の前記上面抵抗体の幅方向に伸びている部分と前記裏面トリミング溝の前記裏面抵抗体の幅方向に伸びている部分とは上面から見て異なる直線上に位置する角形チップ抵抗器。 An insulating substrate, a pair of upper surface electrodes and a pair of back electrodes provided on both ends of the upper surface and the back surface of the insulating substrate, and the pair of upper surface electrodes and the pair of back electrodes, respectively, are electrically connected a top resistor and backside resistive body provided, and a said top resistor and the back resistors on the upper surface trimming grooves and the back surface trimming grooves provided respectively, the rear surface trimming groove and the upper surface trimming groove of the insulating substrate Forming the upper surface trimming groove and the rear surface trimming groove at positions that are substantially point-symmetric with respect to the center of the insulating substrate; and forming the upper surface trimming groove and the rear surface. Trimming grooves are formed in opposite directions when viewed from the top surface of the insulating substrate, and the length of the top surface trimming groove and the back surface are formed. The length of the trimming groove is configured to be less than half of the width of the upper surface resistor and the width of the back surface resistor, and the upper surface trimming groove extends from the side in the length direction of the upper surface resistor. Extending in the width direction of the upper surface resistor and extending in the direction away from the back surface trimming groove in the length direction of the upper surface resistor, the back surface trimming groove extending from the side in the length direction of the back surface resistor to the back surface It extends in the width direction of the upper surface trimming groove in the upper surface trimming groove, extending in the width direction of the resistor, extending from the end point in a direction away from the upper surface trimming groove in the length direction of the back surface resistor. A square chip resistor in which the portion and the portion of the back surface trimming groove extending in the width direction of the back surface resistor are located on different straight lines when viewed from above .
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