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JP5125978B2 - Sensor device - Google Patents

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JP5125978B2
JP5125978B2 JP2008267234A JP2008267234A JP5125978B2 JP 5125978 B2 JP5125978 B2 JP 5125978B2 JP 2008267234 A JP2008267234 A JP 2008267234A JP 2008267234 A JP2008267234 A JP 2008267234A JP 5125978 B2 JP5125978 B2 JP 5125978B2
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Description

本発明は、センサチップとこれを制御する制御チップとをケースに取り付けてなるセンサ装置に関する。   The present invention relates to a sensor device in which a sensor chip and a control chip for controlling the sensor chip are attached to a case.

従来より、この種のセンサ装置としては、ケースと、ケースに支持されて検出を行うセンサチップと、ケースに支持されてセンサチップの隣に配置され、センサチップの制御を行う制御チップと、これら両チップを結線し電気的に接続する接続部材と、ケース内に設けられ、接続部材および接続部材と両チップとの接続部位を封止する封止樹脂とを備えたものが提案されている(たとえば、特許文献1参照)。
特開2007−17352号公報
Conventionally, as this type of sensor device, there are a case, a sensor chip that is supported by the case for detection, a control chip that is supported by the case and arranged next to the sensor chip, and controls the sensor chip. A connection member that connects and electrically connects both chips, and a sealing resin that is provided in the case and seals a connection portion between the connection member and the connection member and the both chips has been proposed ( For example, see Patent Document 1).
JP 2007-17352 A

本発明者は、上記したような従来技術に基づき、センサ装置を試作し、これについて検討を行った。図5は、本発明者が試作した試作品としてのセンサ装置の概略断面構成を示す図である。   The inventor made a prototype of the sensor device based on the above-described conventional technology and examined it. FIG. 5 is a diagram showing a schematic cross-sectional configuration of a sensor device as a prototype manufactured by the inventor.

図5においては、ケース10は樹脂などよりなり、このケース10にはセンサチップ20および制御チップ30が支持されている。ここでは、ケース10には、セラミックや金属製のリードフレームなどよりなる基板60がインサート成形されており、両チップ20、30は、この基板60上に接着剤70を介して接着されることで、ケース10に支持されている。   In FIG. 5, the case 10 is made of resin or the like, and the sensor chip 20 and the control chip 30 are supported on the case 10. Here, a substrate 60 made of ceramic or metal lead frame or the like is insert-molded in the case 10, and both the chips 20 and 30 are bonded to the substrate 60 via an adhesive 70. It is supported by the case 10.

そして、センサチップ20と制御チップ30とは、ボンディングワイヤなどの接続部材40により結線されて電気的に接続されている。また、ケース10には、両チップ20、30を封止する封止樹脂50が設けられ、この封止樹脂50により接続部材40および接続部材40と両チップ20、30との接続部位が封止されている。   The sensor chip 20 and the control chip 30 are electrically connected by being connected by a connection member 40 such as a bonding wire. The case 10 is provided with a sealing resin 50 that seals both the chips 20 and 30, and the sealing resin 50 seals the connection member 40 and the connection part between the connection member 40 and both the chips 20 and 30. Has been.

この試作品において、特にセンサチップ20は温度や応力などの外部的要因により特性が変動しやすいため、部分的な接着により固定されている。つまり、センサチップ20は、その一面に接続部材40が接続されており、それとは反対側の他面が基板60に対向し、当該他面の一部が接着剤70を介して基板60に接着されている。   In this prototype, in particular, the sensor chip 20 is fixed by partial adhesion because its characteristics are likely to vary due to external factors such as temperature and stress. That is, the connection member 40 is connected to one surface of the sensor chip 20, the other surface opposite to the substrate 60 faces the substrate 60, and a part of the other surface is bonded to the substrate 60 via the adhesive 70. Has been.

ここで、センサチップ20と制御チップ30とは、熱伝導率が高いセラミックや金属よりなる同一の基板60に搭載されているため、制御チップ30で発熱した熱が、基板60を伝ってセンサチップ20まで容易に到達してしまい、特性変動の原因になる。   Here, since the sensor chip 20 and the control chip 30 are mounted on the same substrate 60 made of ceramic or metal having a high thermal conductivity, the heat generated by the control chip 30 travels through the substrate 60 and the sensor chip. It easily reaches 20 and causes characteristic fluctuations.

また、センサチップ20を固定している部材については、センサチップ20の一面上には封止樹脂50、センサチップ20の下すなわち他面側には、基板60、さらにその下にはケース10があり、センサチップ20の上下には、線膨張係数が異なる材料が複雑に入り組んでいる。そのため、温度変化によりセンサチップ20に応力が加わってしまい、特性変動を及ぼすという問題が生じる。   As for the member fixing the sensor chip 20, the sealing resin 50 is provided on one surface of the sensor chip 20, the substrate 60 is provided below the sensor chip 20, that is, the other surface side, and the case 10 is provided therebelow. In addition, materials having different linear expansion coefficients are intricately arranged above and below the sensor chip 20. For this reason, a stress is applied to the sensor chip 20 due to a temperature change, which causes a problem of characteristic fluctuation.

本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであり、センサチップとこれを制御する制御チップとをケースに取り付けてなるセンサ装置において、制御チップで発生した熱がセンサチップへ伝わりにくくするとともに、温度変化によりセンサチップに加わる応力を低減することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and in a sensor device in which a sensor chip and a control chip for controlling the sensor chip are attached to a case, heat generated by the control chip is hardly transmitted to the sensor chip, The object is to reduce the stress applied to the sensor chip due to temperature changes.

上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明では、ケース(10)にセンサチップ(20)と制御チップ(30)とを設け、両チップ(20、30)を接続部材(40)で結線し電気的に接続し、この接続部材(40)および接続部材(40)と両チップ(20、30)との接続部位を封止樹脂(50)で封止してなるセンサ装置において、センサチップ(20)における制御チップ(30)寄りの部位の一面に、接続部材(40)が接続されるとともに、センサチップ(20)における当該制御チップ(30)寄りの部位の他面が接着剤(70)を介してケース(10)に直接接着されることでセンサチップ(20)はケース(10)上に固定されており、封止樹脂(50)は、制御チップ(30)側からセンサチップ(20)側に延びるとともに、当該封止樹脂(50)におけるセンサチップ(20)側の端部は、接着剤(70)における制御チップ(30)側の端部とは反対側の端部と同じ位置となっており、ケース(10)のうち接着剤(70)の直下に位置する部位は、封止樹脂(50)と同一の樹脂材料よりなることを特徴とする。   In order to achieve the above object, according to the first aspect of the present invention, the sensor chip (20) and the control chip (30) are provided in the case (10), and both the chips (20, 30) are connected by the connecting member (40). In the sensor device formed by connecting and electrically connecting, and sealing the connection member (40) and the connection part between the connection member (40) and both the chips (20, 30) with a sealing resin (50). The connection member (40) is connected to one surface of the chip (20) near the control chip (30), and the other surface of the sensor chip (20) near the control chip (30) is bonded to the adhesive ( 70), the sensor chip (20) is fixed on the case (10) by being directly bonded to the case (10), and the sealing resin (50) is attached to the sensor chip from the control chip (30) side. (20) Extend to the side In addition, the end of the sealing resin (50) on the sensor chip (20) side is at the same position as the end of the adhesive (70) opposite to the end of the control chip (30) side. The portion of the case (10) located immediately below the adhesive (70) is made of the same resin material as the sealing resin (50).

それによれば、従来の基板に比べて熱伝導率が小さい樹脂よりなるケース(10)に、センサチップ(20)が直接接着されているので、その隣の制御チップ(30)で発生した熱はセンサチップ(20)へ伝わりにくく、また、センサチップ(20)の一面側と他面側すなわちセンサチップ(20)の上側と下側とで、同一の樹脂材料で同一の位置まで封止が行われているので、温度変化によりセンサチップ(20)に加わる応力の差が、極力低減される。   According to this, since the sensor chip (20) is directly bonded to the case (10) made of a resin having a lower thermal conductivity than that of the conventional substrate, the heat generated in the adjacent control chip (30) is It is difficult to transmit to the sensor chip (20), and sealing is performed to the same position with the same resin material on one side and the other side of the sensor chip (20), that is, on the upper side and the lower side of the sensor chip (20). Therefore, the difference in stress applied to the sensor chip (20) due to temperature change is reduced as much as possible.

そのため、本発明によれば、制御チップ(30)で発生した熱がセンサチップ(20)へ伝わりにくくするとともに、温度変化によりセンサチップ(20)に加わる応力を低減することができる。   Therefore, according to the present invention, heat generated in the control chip (30) can be hardly transmitted to the sensor chip (20), and stress applied to the sensor chip (20) due to temperature change can be reduced.

ここで、請求項2に記載の発明のように、ケース(10)のうち接着剤(70)の直下に位置する部位を構成する樹脂材料、および、封止樹脂(50)を構成する樹脂材料は、ともにエポキシ樹脂であるものにできる。
また、請求項3に記載の発明のように、封止樹脂(50)におけるセンサチップ(20)側の端部は、当該端部よりも制御チップ(30)側に位置する封止樹脂(50)の部分が当該端部を越えてはみ出すのを防止するダム部(51)として構成されているものとしてもよい。
Here, like invention of Claim 2, the resin material which comprises the site | part located in the case (10) just under an adhesive agent (70), and the resin material which comprises sealing resin (50) Can be both epoxy resins.
Further, as in the third aspect of the invention, the end portion of the sealing resin (50) on the sensor chip (20) side is closer to the control chip (30) side than the end portion. ) Portion may be configured as a dam portion (51) that prevents the portion from protruding beyond the end portion.

それによれば、封止樹脂(50)におけるセンサチップ(20)側の端部がダム部(51)として構成されているため、当該端部よりも制御チップ(30)側に位置する封止樹脂(50)の部分が、ダム部(51)にて堰き止められ、ダム部(51)よりも外側にはみ出さないから、封止樹脂(50)におけるセンサチップ(20)側の端部の位置を精度よく規定することができる。   According to this, since the end part on the sensor chip (20) side in the sealing resin (50) is configured as the dam part (51), the sealing resin located closer to the control chip (30) than the end part. Since the part (50) is blocked by the dam part (51) and does not protrude outside the dam part (51), the position of the end part on the sensor chip (20) side in the sealing resin (50) Can be defined with high accuracy.

なお、特許請求の範囲およびこの欄で記載した各手段の括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示す一例である。   In addition, the code | symbol in the bracket | parenthesis of each means described in the claim and this column is an example which shows a corresponding relationship with the specific means as described in embodiment mentioned later.

以下、本発明の実施形態について図に基づいて説明する。なお、以下の各実施形態相互において、互いに同一もしくは均等である部分には、説明の簡略化を図るべく、図中、同一符号を付してある。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the following embodiments, parts that are the same or equivalent to each other are given the same reference numerals in the drawings in order to simplify the description.

(第1実施形態)
図1は、本発明の第1実施形態に係るセンサ装置S1の概略断面構成を示す図である。本実施形態のセンサ装置は、圧力センサ、加速度センサ、角速度センサなどの各種のセンサに採用されるが、ここでは、熱式流量センサに適用したものとして説明する。
(First embodiment)
FIG. 1 is a diagram showing a schematic cross-sectional configuration of the sensor device S1 according to the first embodiment of the present invention. The sensor device according to the present embodiment is employed in various sensors such as a pressure sensor, an acceleration sensor, and an angular velocity sensor. Here, the sensor device will be described as applied to a thermal flow sensor.

本実施形態のセンサ装置S1は、大きくは、ケース10と、ケース10に支持されて検出を行うセンサチップ20と、ケース10に支持されセンサチップ20の制御を行う制御チップ30と、これら両チップ20、30を結線し電気的に接続する接続部材40と、ケース10内に設けられ、接続部材40および接続部材40と両チップ20、30との接続部位を封止する封止樹脂50と、を備えて構成されている。   The sensor device S1 of the present embodiment mainly includes a case 10, a sensor chip 20 that is supported by the case 10 and performs detection, a control chip 30 that is supported by the case 10 and controls the sensor chip 20, and both these chips. A connecting member 40 for connecting and electrically connecting 20 and 30; and a sealing resin 50 provided in the case 10 for sealing the connecting member 40 and a connecting portion between the connecting member 40 and both the chips 20 and 30; It is configured with.

ここで、ケース10は、エポキシ樹脂よりなるもので、図1中の下部に底面、上方に開口した容器形状をなす。このケース10の底面には、センサチップ20および制御チップ30が支持されている。   Here, the case 10 is made of an epoxy resin, and has a container shape having a bottom surface in the lower part and an upward opening in FIG. A sensor chip 20 and a control chip 30 are supported on the bottom surface of the case 10.

センサチップ20は、シリコン半導体などの半導体基板に一般的な半導体プロセスにより、センシング部21を形成したものである。ここでは、センシング部21は、センサチップ20における他の部位に比べて薄肉部となっており、この薄肉部に熱式流量素子が形成されたものである。薄肉部の中央で発熱した熱が大気中に伝わり、流体により薄肉部の周囲上に移動し、その熱を感知することで流量を検出するようになっている。   The sensor chip 20 is obtained by forming a sensing unit 21 on a semiconductor substrate such as a silicon semiconductor by a general semiconductor process. Here, the sensing part 21 is a thin part compared with the other site | part in the sensor chip 20, The thermal type flow element is formed in this thin part. Heat generated at the center of the thin part is transmitted to the atmosphere, and moves to the periphery of the thin part by the fluid, and the flow rate is detected by sensing the heat.

制御チップ30は、センサチップ20の隣に配置され配線部材40を介してセンサチップ20と電気的に接続されており、センサチップ20に対して電気信号を入出力することで、センサチップ20の制御および信号の取り出しなどを行うものである。   The control chip 30 is disposed next to the sensor chip 20 and is electrically connected to the sensor chip 20 via the wiring member 40. By inputting / outputting electric signals to / from the sensor chip 20, the control chip 30 Control and signal extraction are performed.

また、ケース10の底面側には、従来と同様のセラミックの板材や金属製のリードフレームなどよりなる基板60がインサート成形されている。そして、この基板60には、制御チップ30が樹脂よりなる接着剤70を介して接着されており、それにより、制御チップ60は、ケース10に固定されて支持されている。この接着剤70は、樹脂よりなるが、たとえばポッティングやシートとして配置される。   Further, on the bottom surface side of the case 10, a substrate 60 made of a ceramic plate material, a metal lead frame or the like similar to the conventional one is insert-molded. The control chip 30 is bonded to the substrate 60 via an adhesive 70 made of resin, whereby the control chip 60 is fixed and supported by the case 10. The adhesive 70 is made of resin, and is disposed, for example, as potting or a sheet.

ここで、配線部材40は、金やアルミなどのワイヤボンディングにより形成されたワイヤであるが、それ以外にもリボンなどの配線状のものであってもよい。この配線部材40は、制御チップ30における基板60の接着面とは反対側の面に接続され、両チップ20、30の間を跨いで、センサチップ20の一面に接続されている。   Here, the wiring member 40 is a wire formed by wire bonding such as gold or aluminum, but may be a wiring shape such as a ribbon. The wiring member 40 is connected to the surface of the control chip 30 opposite to the bonding surface of the substrate 60, and is connected to one surface of the sensor chip 20 across both the chips 20 and 30.

また、ケース10には、導電金属製のリード80がインサート成形されており、制御チップ30は、このリード80に対しても配線部材40にて結線され、電気的に接続されている。リード80は、外部と電気的に接続されるようになっており、これにより、制御チップ30は、外部と電気的な信号のやり取りが可能となっている。   In addition, a lead 80 made of conductive metal is insert-molded in the case 10, and the control chip 30 is also connected to the lead 80 by the wiring member 40 and is electrically connected thereto. The lead 80 is electrically connected to the outside, so that the control chip 30 can exchange electrical signals with the outside.

ここで、センサチップ20と接続部材40との接続についてみてみると、センサチップ20は、センシング部21とは反対側の部位を制御チップ20側に位置させている。そして、接続部材40は、センサチップ20におけるセンシング部21以外の部位、すなわちセンサチップ20における制御チップ20寄りの部位の一面に、接続されている。   Here, looking at the connection between the sensor chip 20 and the connection member 40, the sensor chip 20 positions the part opposite to the sensing unit 21 on the control chip 20 side. The connection member 40 is connected to a part of the sensor chip 20 other than the sensing unit 21, that is, one surface of the sensor chip 20 near the control chip 20.

そして、センサチップ20における制御チップ30寄りの部位の他面が、接着剤70を介して、樹脂よりなるケース10に直接接着されている。それによって、センサチップ20はケース10上に固定され、ケース10に支持されている。なお、センサチップ20を接着する接着剤70と制御チップ30を接着する接着剤70とは、同一のものでもよいし、異なるものでもよい。   The other surface of the sensor chip 20 near the control chip 30 is directly bonded to the case 10 made of resin via an adhesive 70. Thereby, the sensor chip 20 is fixed on the case 10 and supported by the case 10. The adhesive 70 that bonds the sensor chip 20 and the adhesive 70 that bonds the control chip 30 may be the same or different.

そして、封止樹脂50は、ポッティングにより設けられるが、両チップ20、30上を、制御チップ30側からセンサチップ20側に延びている。それとともに、当該封止樹脂50におけるセンサチップ20側の端部は、センサチップ20をケース10に接着する接着剤70における制御チップ30側の端部とは反対側の端部(図1中の接着剤70における右側の端部)と同じ位置となっている。   The sealing resin 50 is provided by potting, and extends on both the chips 20 and 30 from the control chip 30 side to the sensor chip 20 side. At the same time, the end on the sensor chip 20 side of the sealing resin 50 is the end opposite to the end on the control chip 30 side in the adhesive 70 that bonds the sensor chip 20 to the case 10 (in FIG. 1). It is the same position as the right end of the adhesive 70.

この封止樹脂50とセンサチップ20を接着している接着剤70との配置関係について、より具体的に述べる。つまり、封止樹脂50は、制御チップ30上では、接続部材40および制御チップ30における接続部材40との接続部位を封止しつつ、制御チップ30から両チップ20、30の間を越えてセンサチップ20の一面上にまで連続して設けられている。   The arrangement relationship between the sealing resin 50 and the adhesive 70 that bonds the sensor chip 20 will be described more specifically. That is, the sealing resin 50 seals the connection member 40 and the connection part of the control chip 30 with the connection member 40 on the control chip 30, while passing between the control chip 30 and the two chips 20, 30. The chip 20 is continuously provided on one surface.

そして、センサチップ20の一面上を封止する封止樹脂50は、接続部材40およびセンサチップ20における接続部材40との接続部位を封止しつつ、センサチップ20における制御チップ30側の端部20aとこれとは反対側の端部20bとの中間まで延びており、当該両端部20a、20bの中間に、封止樹脂50におけるセンサチップ20側の端部が位置する。   The sealing resin 50 that seals one surface of the sensor chip 20 seals the connection member 40 and the connection portion of the sensor chip 20 with the connection member 40, while the end of the sensor chip 20 on the control chip 30 side. 20a and the end 20b on the opposite side extend to the middle, and the end on the sensor chip 20 side of the sealing resin 50 is located in the middle between the both ends 20a, 20b.

ここで、センサチップ20における制御チップ30側の端部20aと封止樹脂50におけるセンサチップ20側の端部との距離L1を、センサチップ上を封止する樹脂の長さL1とする。本実施形態では、この長さL1は、そのままセンサチップ上を封止する封止樹脂50の長さL1に相当する。   Here, the distance L1 between the end 20a on the control chip 30 side in the sensor chip 20 and the end on the sensor chip 20 side in the sealing resin 50 is the length L1 of the resin that seals the sensor chip. In the present embodiment, this length L1 corresponds to the length L1 of the sealing resin 50 that seals the sensor chip as it is.

一方、図1におけるセンサチップ20の下側すなわちセンサチップ20の他面側では、接着剤70は、ケース10とセンサチップ20との間に充填されており、センサチップ20における制御チップ30側の端部20aとこれとは反対側の端部20bとの間に接着剤70が位置している。   On the other hand, on the lower side of the sensor chip 20 in FIG. 1, that is, on the other side of the sensor chip 20, the adhesive 70 is filled between the case 10 and the sensor chip 20. The adhesive 70 is located between the end 20a and the end 20b opposite to the end 20a.

そして、センサチップ20における制御チップ30側の端部20aと、接着剤70における制御チップ30側の端部とは反対側の端部との距離L2を、センサチップ下を封止する樹脂の長さL2とする。ここでは、長さL2は、センサチップ下に位置する接着剤70の長さL2に相当する。このとき、本実施形態では、両樹脂の長さL1とL2とは、同じ長さとされている。   The distance L2 between the end 20a of the sensor chip 20 on the control chip 30 side and the end of the adhesive 70 opposite to the end of the control chip 30 is the length of the resin that seals the bottom of the sensor chip. Let L2. Here, the length L2 corresponds to the length L2 of the adhesive 70 located below the sensor chip. At this time, in this embodiment, the lengths L1 and L2 of both resins are the same length.

ここで、これら両長さL1とL2とが同じ長さであるとは、完全同一であること以外にも、±10%以下の誤差を含んで同一であることを意味する。これは、封止樹脂50および接着剤70の形成工程における加工誤差による。   Here, the fact that these two lengths L1 and L2 are the same length means that they are the same including an error of ± 10% or less in addition to being completely identical. This is due to processing errors in the process of forming the sealing resin 50 and the adhesive 70.

すなわち、上述のように、封止樹脂50は樹脂のポッティングにより配置されて硬化されるものであり、接着剤70は樹脂のポッティングによる配置・硬化、もしくは成形された樹脂のシートとして配置されるものである。このような封止樹脂50および接着剤70の形成工程における加工誤差により、両長さL1とL2とが完全に同一であることを狙ったとしても、一般に両長さL1、L2の間で±10%以内の寸法誤差が生じる。   That is, as described above, the sealing resin 50 is disposed and cured by resin potting, and the adhesive 70 is disposed and cured by resin potting or disposed as a molded resin sheet. It is. Even if the two lengths L1 and L2 are aimed to be completely the same due to processing errors in the process of forming the sealing resin 50 and the adhesive 70, generally, the lengths L1 and L2 are ± Dimensional error within 10% occurs.

そのため、本実施形態では、両長さL1、L2の大きさの違いが±10%以下ならば、同一とみなす。こうして、センサチップ20の一面側と他面側すなわち図1におけるセンサチップ20の上側では封止樹脂50、下側では接着剤70というように、センサチップ20の上下において、センサチップ20における制御チップ30側の端部20aから同一の位置まで樹脂50、70による封止が行われている。   Therefore, in the present embodiment, if the difference between the lengths L1 and L2 is ± 10% or less, they are regarded as the same. Thus, the control chip in the sensor chip 20 above and below the sensor chip 20 such as the sealing resin 50 on one side and the other side of the sensor chip 20, that is, the adhesive resin 70 on the upper side of the sensor chip 20 in FIG. Sealing with the resins 50 and 70 is performed from the end portion 20a on the 30 side to the same position.

さらに、本実施形態では、ケース10のうちセンサチップ20を接着する接着剤70の直下に位置する部位を、センサチップ20の直上に位置する封止樹脂50と同一の樹脂材料よりなるものとしている。   Furthermore, in the present embodiment, a portion of the case 10 that is located immediately below the adhesive 70 that bonds the sensor chip 20 is made of the same resin material as the sealing resin 50 that is located immediately above the sensor chip 20. .

ここで、ケース10のうち接着剤70の直下に位置する部位とは、センサチップ20を接着する接着剤70をケース10に投影した領域に位置するケース10の部分である。そして、ケース10のうち接着剤70の直下に位置する部位を構成する樹脂材料と、封止樹脂50を構成する樹脂材料とが同一であるとは、これら両者50、70の樹脂材料における組成や物性が同一であることを意味する。本実施形態では、ともに同一のエポキシ樹脂よりなる。   Here, the portion of the case 10 that is located immediately below the adhesive 70 is a portion of the case 10 that is located in a region where the adhesive 70 that bonds the sensor chip 20 is projected onto the case 10. And the resin material which comprises the site | part located just under the adhesive agent 70 in case 10 and the resin material which comprises the sealing resin 50 are the same in the composition in the resin material of these both 50 and 70, It means that the physical properties are the same. In this embodiment, both are made of the same epoxy resin.

それにより、ケース10のうちセンサチップ20を接着する接着剤70の直下に位置する部位と、センサチップ20を挟んで接着剤70の直上に位置する封止樹脂50とは、同一の樹脂材料よりなるから、線膨張係数も互いに同一のものとなる。   As a result, the portion of the case 10 that is located immediately below the adhesive 70 that bonds the sensor chip 20 and the sealing resin 50 that is positioned directly above the adhesive 70 across the sensor chip 20 are made of the same resin material. Therefore, the linear expansion coefficients are also the same.

なお、本実施形態では、ケース10のうちセンサチップ20を接着する接着剤70の直下に位置する部位だけではなく、ケース10全体を構成する樹脂材料と、封止樹脂50とが同一のものとなっている。   In the present embodiment, the resin material constituting the entire case 10 and the sealing resin 50 are the same, as well as the portion of the case 10 that is located directly below the adhesive 70 that bonds the sensor chip 20. It has become.

もちろん、それ以外にも、ケース10のうち当該接着剤70の直下に位置する部位のみが、部分的に封止樹脂50と同一の樹脂材料により構成され、それ以外のケース10の部位は封止樹脂50とは異なる樹脂材料により構成されていてもよい。たとえば、本実施形態では、ケース10の全体を構成する樹脂材料および封止樹脂50は、ともにエポキシ樹脂であり、その線膨脹係数は約10ppmである。   Of course, in addition to this, only a portion of the case 10 located immediately below the adhesive 70 is partially made of the same resin material as the sealing resin 50, and the other portions of the case 10 are sealed. The resin 50 may be made of a different resin material. For example, in this embodiment, the resin material and the sealing resin 50 constituting the entire case 10 are both epoxy resins, and the linear expansion coefficient thereof is about 10 ppm.

センサ装置S1の製造方法について述べる。基板60およびリード80がインサート成形されたエポキシ樹脂よりなるケース10を用意し、センサチップ20は、このケース10の樹脂部分に対して直接に接着剤70を介して接着し、制御チップ30は、このケース10における基板60に接着剤70を介して接着する。こうして、センサ装置S1ができあがる。   A method for manufacturing the sensor device S1 will be described. A case 10 made of an epoxy resin in which a substrate 60 and leads 80 are insert-molded is prepared, and the sensor chip 20 is directly bonded to a resin portion of the case 10 via an adhesive 70. The case 10 is bonded to the substrate 60 via an adhesive 70. Thus, the sensor device S1 is completed.

その後、金やアルミなどのワイヤボンディングを行い、配線部材40としてのワイヤによって、制御チップ30とリード80との間、および、制御チップ30とセンサチップ20の一面とを結線する。その後、ポッティングにより、上記した接着剤70との配置関係を満足するように、封止樹脂50を配置し、これを硬化させる。   Thereafter, wire bonding such as gold or aluminum is performed, and the control chip 30 and the lead 80 and the control chip 30 and one surface of the sensor chip 20 are connected by a wire as the wiring member 40. Thereafter, the sealing resin 50 is arranged by potting so as to satisfy the arrangement relationship with the adhesive 70 described above, and is cured.

ところで、本実施形態によれば、まず、制御チップ30が搭載されている基板60がセンサチップ20下まで到達しておらず、センサチップ20は、基板60に比べて熱伝導率が小さい樹脂よりなるケース10に、直接接着されている。そのため、制御チップ30で発生した熱は、ケース10により断熱され、センサチップ20には伝わりにくい。   By the way, according to the present embodiment, first, the substrate 60 on which the control chip 30 is mounted does not reach below the sensor chip 20, and the sensor chip 20 is made of a resin having a lower thermal conductivity than the substrate 60. The case 10 is directly bonded. Therefore, the heat generated in the control chip 30 is insulated by the case 10 and hardly transmitted to the sensor chip 20.

たとえば、本実施形態において、基板60がセラミックの場合、その熱伝導率は10W/mK程度であり、基板60が銅などの金属の場合、その熱伝導率は100W/mK以上であるのに対し、ケース10を構成するエポキシ樹脂の熱伝導率は、0.5W/mK程度であり、大変小さい。   For example, in this embodiment, when the substrate 60 is ceramic, its thermal conductivity is about 10 W / mK, whereas when the substrate 60 is a metal such as copper, its thermal conductivity is 100 W / mK or more. The thermal conductivity of the epoxy resin constituting the case 10 is about 0.5 W / mK, which is very small.

また、センサチップ20の上下を同一の樹脂材料で同一の位置まで封止しているので、センサチップ20の上側と下側とで応力のバランスが取れており、樹脂材料の線膨張係数が実質同一となっているため、温度変化によりセンサチップ20に加わる応力の差が、極力低減される。つまり、温度変化の際に、センサチップ20に応力がほとんどかからない構造となる。なお、線膨張係数については樹脂材料中のフィラー量を調整することなどにより、可能である。   Further, since the upper and lower sides of the sensor chip 20 are sealed to the same position with the same resin material, the stress is balanced between the upper side and the lower side of the sensor chip 20, and the linear expansion coefficient of the resin material is substantially equal. Since they are the same, the difference in stress applied to the sensor chip 20 due to temperature changes is reduced as much as possible. In other words, the sensor chip 20 is hardly stressed when the temperature changes. The linear expansion coefficient can be adjusted by adjusting the amount of filler in the resin material.

また、センサチップ20を接着している接着剤70についても、センサチップ20の直上の封止樹脂50および直下のケース10と線膨張係数を合わせることが好ましい。しかし、センサチップ20の直上の封止樹脂50の厚さは500μm程度、直下のケース10の厚さは1mm程度であるのに対し、この接着剤70の厚みは数十μm程度と大幅に小さいため、この接着剤70については、線膨張係数を合わせなくても実質的に影響はない。   In addition, it is preferable that the linear expansion coefficient of the adhesive 70 bonding the sensor chip 20 is matched with that of the sealing resin 50 directly above the sensor chip 20 and the case 10 directly below. However, the thickness of the sealing resin 50 immediately above the sensor chip 20 is about 500 μm, and the thickness of the case 10 immediately below is about 1 mm, whereas the thickness of the adhesive 70 is significantly small, about several tens of μm. Therefore, the adhesive 70 is not substantially affected even if the linear expansion coefficient is not matched.

このように、本実施形態によれば、制御チップ30で発生した熱がセンサチップ20へ伝わりにくくするとともに、温度変化によりセンサチップ20に加わる応力を低減することができる。   Thus, according to this embodiment, the heat generated in the control chip 30 can be made difficult to be transmitted to the sensor chip 20, and the stress applied to the sensor chip 20 due to a temperature change can be reduced.

(第2実施形態)
図2は、本発明の第2実施形態に係るセンサ装置S2の概略断面構成を示す図である。本実施形態は、上記第1実施形態に比べて、封止樹脂50を変形したことが相違するものであり、ここでは、その相違点を中心に述べることとする。
(Second Embodiment)
FIG. 2 is a diagram showing a schematic cross-sectional configuration of the sensor device S2 according to the second embodiment of the present invention. This embodiment is different from the first embodiment in that the sealing resin 50 is deformed, and here, the difference will be mainly described.

図2に示されるように、本実施形態では、封止樹脂50におけるセンサチップ20側の端部を、ダム部51として構成している。そして、このダム部51によって、ダム部51よりも制御チップ30側に位置する封止樹脂50の部分がダム部51を越えてはみ出すのを防止するようにしている。   As shown in FIG. 2, in this embodiment, the end portion of the sealing resin 50 on the sensor chip 20 side is configured as a dam portion 51. The dam portion 51 prevents the portion of the sealing resin 50 located closer to the control chip 30 than the dam portion 51 from protruding beyond the dam portion 51.

このダム部51は、封止樹脂50の一部であり、封止樹脂50およびセンサチップ20の直下に位置するケース10の部分と同一の樹脂、ここではエポキシ樹脂よりなるものである。この場合、ダム部51と、当該ダム部51よりも制御チップ30側に位置する封止樹脂50の部分とでは、ダム部51の方を先に配置する。   The dam portion 51 is a part of the sealing resin 50, and is made of the same resin as the case 10 located immediately below the sealing resin 50 and the sensor chip 20, here, an epoxy resin. In this case, the dam part 51 and the part of the sealing resin 50 located closer to the control chip 30 than the dam part 51 are arranged first.

このとき、ポッティングによりダム部51の樹脂を先に配置し、その後、そのダム部51よりも制御チップ30側に位置する封止樹脂50の部分を配置するが、ダム部51を先に硬化させた後、後者の部分をポッティングしてもよいし、ダム部51を硬化させず後者の部分をポッティングした後、全体を同時に硬化してもよい。   At this time, the resin of the dam part 51 is arranged first by potting, and then the part of the sealing resin 50 located on the control chip 30 side than the dam part 51 is arranged, but the dam part 51 is cured first. After that, the latter part may be potted, or the entire part may be cured simultaneously after potting the latter part without curing the dam part 51.

本実施形態によれば、封止樹脂50におけるセンサチップ20側の端部がダム部51として構成されているため、当該端部としてのダム部51よりも制御チップ30側に位置する封止樹脂50の部分が、ダム部51にて堰き止められ、ダム部51よりも外側にはみ出すのを防止できる。そのため、封止樹脂50におけるセンサチップ20側の端部の位置を精度よく規定することができる。   According to the present embodiment, since the end portion on the sensor chip 20 side in the sealing resin 50 is configured as the dam portion 51, the sealing resin located closer to the control chip 30 than the dam portion 51 as the end portion. 50 portions are blocked by the dam portion 51 and can be prevented from protruding outside the dam portion 51. Therefore, the position of the end portion on the sensor chip 20 side in the sealing resin 50 can be accurately defined.

(第3実施形態)
図3は、本発明の第3実施形態に係るセンサ装置S3の概略断面構成を示す図である。本実施形態は、上記第1実施形態に比べて、センサチップ20下を封止する樹脂の構成が相違するものであり、ここでは、その相違点を中心に述べることとする。
(Third embodiment)
FIG. 3 is a diagram showing a schematic cross-sectional configuration of a sensor device S3 according to the third embodiment of the present invention. This embodiment is different from the first embodiment in the configuration of the resin that seals the bottom of the sensor chip 20, and here, the difference will be mainly described.

上記第1実施形態では、センサチップ下を封止する樹脂の長さL2は、センサチップ下に位置する接着剤70の長さL2に相当した。それに対して、本実施形態では、図3に示されるように、センサチップ下を封止する樹脂の長さL2の分よりも、センサチップ20を接着する接着剤70の長さが短いものであり、その分、封止樹脂50がセンサチップ20の下側に入り込んでいる。   In the first embodiment, the length L2 of the resin that seals under the sensor chip corresponds to the length L2 of the adhesive 70 that is located under the sensor chip. On the other hand, in this embodiment, as shown in FIG. 3, the length of the adhesive 70 that bonds the sensor chip 20 is shorter than the length L2 of the resin that seals the bottom of the sensor chip. Yes, the sealing resin 50 enters the lower side of the sensor chip 20 correspondingly.

つまり、本実施形態では、センサチップ下を封止する樹脂の長さL2は、センサチップ20の下すなわち他面側にてセンサチップ20とケース10との間に入り込んだ封止樹脂50と、接着剤70とを合わせた長さとされている。   That is, in the present embodiment, the length L2 of the resin that seals the bottom of the sensor chip is equal to the sealing resin 50 that has entered between the sensor chip 20 and the case 10 below the sensor chip 20, that is, on the other surface side. The combined length with the adhesive 70 is set.

この場合も、上記第1実施形態と同様に、制御チップ30で発生した熱がセンサチップ20へ伝わりにくくするとともに、温度変化によりセンサチップ20に加わる応力を低減することができる。   Also in this case, similarly to the first embodiment, heat generated in the control chip 30 can be hardly transmitted to the sensor chip 20, and stress applied to the sensor chip 20 due to a temperature change can be reduced.

なお、本実施形態におけるセンサチップ20の直下に位置し、センサチップ20を接着する接着剤70は、封止樹脂50と同じ樹脂材料であってもよい。この場合、接着剤70は、センサチップ20の下側において、上記第2実施形態に示したようなダム部の機能が期待できる。   Note that the adhesive 70 that is located immediately below the sensor chip 20 and adheres the sensor chip 20 in the present embodiment may be the same resin material as the sealing resin 50. In this case, the adhesive 70 can be expected to have the function of the dam portion as shown in the second embodiment on the lower side of the sensor chip 20.

(第4実施形態)
図4は、本発明の第4実施形態に係るセンサ装置S4の概略断面構成を示す図である。本実施形態は、上記第3実施形態に比べて、センサチップ20下に位置するケース10の構成が相違するものであり、ここでは、その相違点を中心に述べることとする。
(Fourth embodiment)
FIG. 4 is a diagram showing a schematic cross-sectional configuration of a sensor device S4 according to the fourth embodiment of the present invention. The present embodiment is different from the third embodiment in the configuration of the case 10 located below the sensor chip 20, and here, the difference will be mainly described.

図4に示されるように、センサチップ20下に位置するケース10の部分に、センサチップ20側に突出する突起11を設けた、この突起11の先端とセンサチップ20との間に接着剤70を介在させて接着固定を行っている。これにより、センサチップ20の下に容易に封止樹脂50を回り込ませることができる。   As shown in FIG. 4, a protrusion 11 that protrudes toward the sensor chip 20 is provided in a portion of the case 10 located below the sensor chip 20, and an adhesive 70 is provided between the tip of the protrusion 11 and the sensor chip 20. Adhesive fixation is carried out with intervening. Thereby, the sealing resin 50 can be easily wound under the sensor chip 20.

(他の実施形態)
なお、ケース10のうち接着剤70の直下に位置する部位は、封止樹脂50と同一の樹脂材料よりなるものであればよく、上記したエポキシ樹脂以外の樹脂にて同一の樹脂であってもよい。
(Other embodiments)
In addition, the part located in the case 10 just under the adhesive 70 should just consist of the same resin material as the sealing resin 50, and even if it is the same resin with resin other than the above-mentioned epoxy resin. Good.

また、制御チップ30で発生した熱がセンサチップ20へ伝わりにくくするなっているため、上記実施形態のように、センサチップ20が熱式流量素子である場合に特に有効であるが、もちろん、センサチップ20としては、それ以外にも、圧力検出素子、加速度検出素子などであってもよい。   In addition, since heat generated in the control chip 30 is difficult to be transmitted to the sensor chip 20, it is particularly effective when the sensor chip 20 is a thermal flow element as in the above embodiment. In addition, the chip 20 may be a pressure detection element, an acceleration detection element, or the like.

本発明の第1実施形態に係るセンサ装置の概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the sensor apparatus which concerns on 1st Embodiment of this invention. 本発明の第2実施形態に係るセンサ装置の概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the sensor apparatus which concerns on 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3実施形態に係るセンサ装置の概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the sensor apparatus which concerns on 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第4実施形態に係るセンサ装置の概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the sensor apparatus which concerns on 4th Embodiment of this invention. 本発明者が試作した試作品としてのセンサ装置の概略断面図である。It is a schematic sectional drawing of the sensor apparatus as a prototype which this inventor made as a prototype.

符号の説明Explanation of symbols

10 ケース
20 センサチップ
30 制御チップ
40 接続部材
50 封止樹脂
51 ダム部
70 接着剤
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Case 20 Sensor chip 30 Control chip 40 Connection member 50 Sealing resin 51 Dam part 70 Adhesive

Claims (3)

ケース(10)と、
前記ケース(10)に支持されて検出を行うセンサチップ(20)と、
前記ケース(10)に支持されて前記センサチップ(20)の隣に配置され、前記センサチップ(20)の制御を行う制御チップ(30)と、
前記センサチップ(20)と前記制御チップ(30)とを結線し電気的に接続する接続部材(40)と、
前記ケース(10)内に設けられ、前記接続部材(40)および前記接続部材(40)と前記両チップ(20、30)との接続部位を封止する封止樹脂(50)と、を備え、
前記センサチップ(20)における前記制御チップ(30)寄りの部位の一面に、前記接続部材(40)が接続されるとともに、前記センサチップ(20)における当該制御チップ(30)寄りの部位の他面が接着剤(70)を介して前記ケース(10)に直接接着されることで前記センサチップ(20)は前記ケース(10)上に固定されており、
前記封止樹脂(50)は、前記制御チップ(30)側から前記センサチップ(20)側に延びるとともに、当該封止樹脂(50)における前記センサチップ(20)側の端部は、前記接着剤(70)における前記制御チップ(30)側の端部とは反対側の端部と同じ位置となっており、
前記ケース(10)のうち前記接着剤(70)の直下に位置する部位は、前記封止樹脂(50)と同一の樹脂材料よりなることを特徴とするセンサ装置。
Case (10);
A sensor chip (20) supported by the case (10) for detection;
A control chip (30) supported by the case (10) and disposed next to the sensor chip (20) to control the sensor chip (20);
A connecting member (40) for connecting and electrically connecting the sensor chip (20) and the control chip (30);
A sealing resin (50) that is provided in the case (10) and seals the connection member (40) and the connection part between the connection member (40) and the two chips (20, 30). ,
The connection member (40) is connected to one surface of the sensor chip (20) near the control chip (30), and other parts of the sensor chip (20) near the control chip (30). The sensor chip (20) is fixed on the case (10) by directly bonding the surface to the case (10) via an adhesive (70),
The sealing resin (50) extends from the control chip (30) side to the sensor chip (20) side, and an end of the sealing resin (50) on the sensor chip (20) side is bonded to the sealing resin (50). It is in the same position as the end on the opposite side to the end on the control chip (30) side in the agent (70),
A part of the case (10) located immediately below the adhesive (70) is made of the same resin material as the sealing resin (50).
前記ケース(10)のうち前記接着剤(70)の直下に位置する部位を構成する樹脂材料、および、前記封止樹脂(50)を構成する樹脂材料は、ともにエポキシ樹脂であることを特徴とする請求項1に記載のセンサ装置。   In the case (10), a resin material constituting a portion located immediately below the adhesive (70) and a resin material constituting the sealing resin (50) are both epoxy resins. The sensor device according to claim 1. 前記封止樹脂(50)における前記センサチップ(20)側の端部は、当該端部よりも前記制御チップ(30)側に位置する前記封止樹脂(50)の部分が当該端部を越えてはみ出すのを防止するダム部(51)として構成されていることを特徴とする請求項1または2に記載のセンサ装置。   The end of the sealing resin (50) on the side of the sensor chip (20) is such that the portion of the sealing resin (50) located on the control chip (30) side of the end exceeds the end. The sensor device according to claim 1, wherein the sensor device is configured as a dam portion (51) that prevents protrusion.
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