JP5033238B2 - 研磨パッド及びその製造方法 - Google Patents
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- 238000005498 polishing Methods 0.000 title claims description 182
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title description 19
- 229920001410 Microfiber Polymers 0.000 claims description 63
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 49
- 239000004745 nonwoven fabric Substances 0.000 claims description 47
- 229920005749 polyurethane resin Polymers 0.000 claims description 18
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 11
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 11
- 229920002396 Polyurea Polymers 0.000 claims description 4
- 239000003658 microfiber Substances 0.000 claims description 3
- 229920006122 polyamide resin Polymers 0.000 claims 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 59
- 238000000034 method Methods 0.000 description 40
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 28
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 24
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 19
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 18
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 15
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 15
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 15
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 12
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 description 11
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 11
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 11
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 11
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 11
- ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylformamide Chemical compound CN(C)C=O ZMXDDKWLCZADIW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M Sodium hydroxide Chemical compound [OH-].[Na+] HEMHJVSKTPXQMS-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 9
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 9
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 7
- 230000015271 coagulation Effects 0.000 description 7
- 238000005345 coagulation Methods 0.000 description 7
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N Toluene Chemical compound CC1=CC=CC=C1 YXFVVABEGXRONW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 229920001634 Copolyester Polymers 0.000 description 5
- 238000005054 agglomeration Methods 0.000 description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 5
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 5
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000010828 elution Methods 0.000 description 5
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 5
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 5
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 5
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 5
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 5
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 5
- IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N Dimethylsulphoxide Chemical compound CS(C)=O IAZDPXIOMUYVGZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910018104 Ni-P Inorganic materials 0.000 description 4
- 229910018536 Ni—P Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 4
- 238000009960 carding Methods 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 4
- 239000012467 final product Substances 0.000 description 4
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 4
- 238000007517 polishing process Methods 0.000 description 4
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 4
- 150000003377 silicon compounds Chemical class 0.000 description 4
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 3
- 235000011121 sodium hydroxide Nutrition 0.000 description 3
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 3
- FXHOOIRPVKKKFG-UHFFFAOYSA-N N,N-Dimethylacetamide Chemical compound CN(C)C(C)=O FXHOOIRPVKKKFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 206010035039 Piloerection Diseases 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920002125 Sokalan® Polymers 0.000 description 2
- WNLRTRBMVRJNCN-UHFFFAOYSA-N adipic acid Chemical compound OC(=O)CCCCC(O)=O WNLRTRBMVRJNCN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 229910021641 deionized water Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 210000004209 hair Anatomy 0.000 description 2
- 230000007062 hydrolysis Effects 0.000 description 2
- 238000006460 hydrolysis reaction Methods 0.000 description 2
- 230000005371 pilomotor reflex Effects 0.000 description 2
- 239000002798 polar solvent Substances 0.000 description 2
- 239000004584 polyacrylic acid Substances 0.000 description 2
- -1 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 239000011527 polyurethane coating Substances 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 238000012876 topography Methods 0.000 description 2
- DNIAPMSPPWPWGF-VKHMYHEASA-N (+)-propylene glycol Chemical compound C[C@H](O)CO DNIAPMSPPWPWGF-VKHMYHEASA-N 0.000 description 1
- YPFDHNVEDLHUCE-UHFFFAOYSA-N 1,3-propanediol Substances OCCCO YPFDHNVEDLHUCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PXGZQGDTEZPERC-UHFFFAOYSA-N 1,4-cyclohexanedicarboxylic acid Chemical compound OC(=O)C1CCC(C(O)=O)CC1 PXGZQGDTEZPERC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GQSZUUPRBBBHRI-UHFFFAOYSA-N 2,2-dimethylbutane-1,4-diol Chemical compound OCC(C)(C)CCO GQSZUUPRBBBHRI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000531 Co alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004677 Nylon Substances 0.000 description 1
- 239000002202 Polyethylene glycol Substances 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 239000012042 active reagent Substances 0.000 description 1
- 235000011037 adipic acid Nutrition 0.000 description 1
- 239000001361 adipic acid Substances 0.000 description 1
- 230000001680 brushing effect Effects 0.000 description 1
- 238000003490 calendering Methods 0.000 description 1
- 239000003575 carbonaceous material Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 239000008367 deionised water Substances 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000007730 finishing process Methods 0.000 description 1
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 description 1
- 238000007756 gravure coating Methods 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- SLCVBVWXLSEKPL-UHFFFAOYSA-N neopentyl glycol Chemical compound OCC(C)(C)CO SLCVBVWXLSEKPL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001778 nylon Polymers 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 229920001225 polyester resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004645 polyester resin Substances 0.000 description 1
- 229920001223 polyethylene glycol Polymers 0.000 description 1
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 1
- 229920001451 polypropylene glycol Polymers 0.000 description 1
- 229920000166 polytrimethylene carbonate Polymers 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 239000000047 product Substances 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 description 1
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 1
- 238000001878 scanning electron micrograph Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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Description
(f1+f2)≧(f1+f2+f3+f4)/2 (I)
f2>f3>f4 (II)
f2>f1 (III)
(ここで、f1は研磨パッドの表面に0〜5゜未満の配向角度Θ2に配列され、一定の単位面積を有する極細繊維の総数であり、f2は研磨パッドの表面に5〜30゜未満の配向角度Θ2に配列され、一定の単位面積を有する極細繊維の総数であり、f3は研磨パッドの表面に30〜45゜未満の配向角度Θ2に配列され、一定の単位面積を有する極細繊維の総数であり、f4は研磨パッドの表面に45〜90゜の配向角度Θ2に配列され、一定の単位面積を有する極細繊維の総数である。)
高分子弾性体としては、ポリウレタン樹脂、ポリ尿素樹脂、ポリアクリル酸樹脂などが挙げられるが、仮工程、耐摩耗性、耐加水分解性などの点からポリウレタン樹脂が好ましい。
共焦点レーザー走査顕微鏡(Confocal Laser Scanning Microscope、以下「LSM」という)の設備の一種であるカールツァイス(Carl zeiss)社の製品LSM 5PASCALと、LSM用トポグラフィー(Topography)のソフトウェアパッケージを利用して測定した。
シリコンウエハーまたはディスク基板の100平方インチ面積を研磨パッドで研磨したとき、スクラッチ発生数を計数し、これを次の式に代入してスクラッチ発生数を計算した。
スクラッチ発生率(%)=(スクラッチ件数/100平方インチ)×100
但し、スクラッチ件数が100を超過する場合は100とする。
テクスチャ加工したディスク基板表面の10個所を任意に選定し、選定した各地点の表面粗さをJIS B0601方法によって測定した。次に、これらの平均値を算出した。
図1に示すように、アルカリ易溶解性共重合ポリエステルの海成分Sと、この海成分S内に分散配列されたポリエステル樹脂の島成分L300個とで構成された海島型複合繊維(島成分の単糸繊度:0.05デニール)を、50mmの長さに切断した。単繊維化し、カーディング及びクロスラッパー工程を経て、海島型複合単繊維の積層ウェブを製造した後、これをニードルパンチングして海島型複合繊維の不織布を製造した。
研磨条件
−ポリッシング機械:GNP Technology社のPoli−500 Polisher
−研磨時間:10分
−下方力:ウエハー表面で250g/cm2(3.5psi)
−研磨定盤速度:120rpm
−ウエハーキャリア速度:120rpm
−スラリー流動量:700ml/分
−スラリータイプ:Nalco 2371、DIWとスラリーを15:1の比で希釈させたシリカ系スラリー
実施例1で使用した海島型複合繊維の代わりに、単糸繊度が3デニールのポリアミド単繊維をカーディング及びクロスラッパー工程を経て、これらの積層ウェブを製造した後、これをニードルパンチングして不織布を製造した。
原糸断面を32個区画に区分するため、共重合ポリエステルの溶出成分と、スリット成分により区分されて三角形断面を有するポリアミドの繊維成分で構成された溶出型複合繊維(繊維成分の単糸繊度:0.05デニール)を50mmの長さに切断して単繊維化した。カーディング及びクロスラッパー工程を経て、分割型複合単繊維の積層ウェブを製造した。積層ウェブをニードルパンチングして分割型複合繊維の不織布を製造した。
実施例3で製造したシート物をポリウレタン固定加工処理しないで、そのままテクスチャ加工用研磨パッドとして使用した。
実施例4で製造したシート物をポリウレタン固定加工処理しないで、そのままテクスチャ加工用研磨パッドとして使用した。
2 表面に配列された極細繊維
3 研磨パッド
Θ1 極細繊維の立毛角度
Θ2 極細繊維の配向角度
S 海成分
I 島成分
A 高分子弾性体が含浸された不織布
B 高分子弾性体層
Claims (6)
- 極細糸からなる不織布と、この不織布内に含浸された高分子弾性体とを含み、表面に極細繊維が立毛し、表面に配列された極細繊維が下記式(I)〜(III)の条件を同時に満たすように研磨パッドの長手方向中心軸を基準に配向されている研磨パッド。
(f1+f2)≧(f1+f2+f3+f4)/2 (I)
f2>f3>f4 (II)
f2>f1 (III)
(式中、f1は研磨パッドの表面に0〜5゜未満の配向角度Θ2に配列され、一定の単位面積を有する極細繊維の総数であり、f2は研磨パッドの表面に5〜30゜未満の配向角度Θ2に配列され、一定の単位面積を有する極細繊維の総数であり、f3は研磨パッドの表面に30〜45゜未満の配向角度Θ2に配列され、一定の単位面積を有する極細繊維の総数であり、f4は研磨パッドの表面に45〜90゜の配向角度Θ2に配列され、一定の単位面積を有する極細繊維の総数である。) - 表面に配列された極細繊維の50%以上が不織布の長手方向に対して0〜30゜の配向角度Θ2に配列されている請求項1に記載の研磨パッド。
- 表面に立毛した極細繊維の70%以上が5〜30゜の立毛角度Θ1を有する請求項1に記載の研磨パッド。
- 極細繊維の単糸繊度は0.001〜0.3デニールを有する請求項1に記載の研磨パッド。
- 高分子弾性体はポリウレタン樹脂及びポリ尿素樹脂の中から選択された1種である請求項1に記載の研磨パッド。
- 極細繊維はポリアミド樹脂で構成される請求項1に記載の研磨パッド。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070063370A KR101084505B1 (ko) | 2007-06-27 | 2007-06-27 | 자기기록매체용 연마포 |
KR10-2007-0063370 | 2007-06-27 | ||
KR1020070085236A KR20090020725A (ko) | 2007-08-24 | 2007-08-24 | 연마패드 및 그의 제조방법 |
KR10-2007-0085236 | 2007-08-24 | ||
PCT/KR2008/003747 WO2009002124A1 (en) | 2007-06-27 | 2008-06-27 | Polishing pad and method of manufacturing the same |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010531241A JP2010531241A (ja) | 2010-09-24 |
JP5033238B2 true JP5033238B2 (ja) | 2012-09-26 |
Family
ID=40185829
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010514628A Expired - Fee Related JP5033238B2 (ja) | 2007-06-27 | 2008-06-27 | 研磨パッド及びその製造方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8308531B2 (ja) |
JP (1) | JP5033238B2 (ja) |
WO (1) | WO2009002124A1 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102009047926A1 (de) * | 2009-10-01 | 2011-04-14 | Siltronic Ag | Verfahren zum Polieren von Halbleiterscheiben |
JP5990830B2 (ja) * | 2012-02-29 | 2016-09-14 | 富士紡ホールディングス株式会社 | 研磨パッド及びその製造方法 |
MY196278A (en) * | 2016-11-16 | 2023-03-24 | Teijin Frontier Co Ltd | Polishing Pad and Method for Manufacturing Same |
CN110573547B (zh) * | 2017-05-12 | 2022-06-10 | 株式会社可乐丽 | 抛光层用聚氨酯、包含聚氨酯的抛光层及该抛光层的改性方法、抛光垫及抛光方法 |
CN111015536B (zh) * | 2019-12-17 | 2021-06-29 | 白鸽磨料磨具有限公司 | 一种涂附磨具的植砂方法及生产系统 |
CN117127408B (zh) * | 2023-09-05 | 2024-06-07 | 浙江聚康科技发展有限公司 | 一种化学机械抛光垫用复合材料及其制备方法和应用 |
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---|---|---|---|---|
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TW491757B (en) * | 2000-06-19 | 2002-06-21 | Kuraray Co | Abrasive sheet for texturing and method of producing same |
JP2002079472A (ja) * | 2000-06-19 | 2002-03-19 | Kuraray Co Ltd | テクスチャー加工用研磨シート及びその製造方法 |
JP3901939B2 (ja) * | 2000-12-05 | 2007-04-04 | 帝人コードレ株式会社 | 研磨用基布および研磨方法 |
JP2002273650A (ja) * | 2001-01-09 | 2002-09-25 | Toray Ind Inc | 研磨布 |
JP4423915B2 (ja) * | 2003-09-03 | 2010-03-03 | 東レ株式会社 | 研磨布およびそれを用いてなるテクスチャー加工方法 |
JP4455161B2 (ja) * | 2004-05-25 | 2010-04-21 | 旭化成せんい株式会社 | 研磨パッド用不織布および研磨パッド |
JP4645361B2 (ja) * | 2005-08-24 | 2011-03-09 | 東レ株式会社 | 研磨布 |
-
2008
- 2008-06-27 WO PCT/KR2008/003747 patent/WO2009002124A1/en active Application Filing
- 2008-06-27 JP JP2010514628A patent/JP5033238B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2008-06-28 US US12/663,155 patent/US8308531B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010531241A (ja) | 2010-09-24 |
WO2009002124A1 (en) | 2008-12-31 |
US8308531B2 (en) | 2012-11-13 |
US20100173573A1 (en) | 2010-07-08 |
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